KR101965674B1 - Driving method for organic light emitting display - Google Patents

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Abstract

본 발명은 열화 예측 데이터의 정확도를 높임과 아울러, 적은 메모리 사용으로도 열화 예측이 가능한 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치는, 유기 발광 다이오드 및 상기 유기 발광 다이오드를 발광시키는 화소 회로로 구성된 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널; 상기 복수의 화소 구동을 위한 스캔 신호, 및 구동 전압을 공급하는 게이트 드라이버; 드라이빙 구동 시 상기 복수의 화소에 데이터 전압 및 기준 전압을 공급하는 데이터 드라이버; 상기 게이트 드라이버, 상기 데이터 드라이버를 동작하도록 제어하는 타이밍 컨트롤러; 열화 예측 모델 데이터가 저장된 메모리; 및 스트레스 평균 데이터를 필터링하고 비트 쉬프트 연산을 수행하여 현재 프레임의 평균 스트레스 데이터를 생성하는 열화 예측부;를 포함한다.
The present invention relates to an organic light emitting display device capable of improving the accuracy of degradation prediction data and capable of predicting deterioration even with a small amount of memory, and a driving method thereof.
An organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel including a plurality of pixels including an organic light emitting diode and a pixel circuit for emitting the organic light emitting diode; A gate driver for supplying a scan signal and a drive voltage for driving the plurality of pixels; A data driver for supplying a data voltage and a reference voltage to the plurality of pixels during driving driving; A timing controller for controlling the gate driver and the data driver to operate; A memory in which degradation prediction model data is stored; And a deterioration predictor for filtering average stress data and performing a bit shift operation to generate average stress data of a current frame.

Description

유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법{DRIVING METHOD FOR ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting display device,

본 발명은 유기 발광 디스플레이 장치에 관한 것으로, 열화 예측 데이터의 정확도를 높임과 아울러, 적은 메모리 사용으로도 열화 예측이 가능한 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an organic light emitting display device, and more particularly, to an organic light emitting display device capable of improving the accuracy of degradation prediction data and capable of predicting deterioration even with a small amount of memory, and a driving method thereof.

도 1은 종래 기술에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 화소 구조를 설명하기 위한 회로도이다.1 is a circuit diagram illustrating a pixel structure of an organic light emitting display device according to a related art.

도 1을 참조하면, 상기 디스플레이 패널의 각 화소는, 스위칭 TFT(ST1), 드라이빙 TFT(DT), 커패시터(Cst) 및 유기 발광 다이오드(OLED)를 구비한다.Referring to FIG. 1, each pixel of the display panel includes a switching TFT ST1, a driving TFT DT, a capacitor Cst, and an organic light emitting diode OLED.

스위칭 TFT(ST1)은 게이트 라인(GL)에 공급되는 스캔 신호(scan, 또는 게이트 신호)에 따라 스위칭되어, 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 드라이빙 TFT(DT)에 공급한다.The switching TFT ST1 is switched in accordance with a scan signal (scan or gate signal) supplied to the gate line GL and supplies the data voltage Vdata supplied to the data line DL to the driving TFT DT .

드라이빙 TFT(DT)는 스위칭 TFT(ST1)로부터 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 따라 스위칭되어, 전원 라인(PL)에 공급되는 제1 구동 전원(VDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 데이터 전류(Ioled)를 제어한다.The driving TFT DT is switched in accordance with the data voltage Vdata supplied from the switching TFT ST1 to switch the data current flowing from the first driving power supply VDD supplied to the power supply line PL to the organic light emitting diode OLED (Ioled).

커패시터(Cst)는 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 단자와 소스 단자 사이에 접속되어 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 단자에 공급되는 데이터 전압(Vdata)에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 드라이빙 TFT(DT)를 턴-온(turn-on)시킨다.The capacitor Cst is connected between the gate terminal and the source terminal of the driving TFT DT and stores a voltage corresponding to the data voltage Vdata supplied to the gate terminal of the driving TFT DT, DT) of the signal.

유기 발광 다이오드(OLED)는 드라이빙 TFT(DT)의 소스 단자와 캐소드 전원(VSS) 사이에 전기적으로 접속되어 드라이빙 TFT(DT)로부터 공급되는 데이터 전류(Ioled)에 의해 발광한다.The organic light emitting diode OLED is electrically connected between the source terminal of the driving TFT DT and the cathode power supply VSS and emits light by the data current Ioled supplied from the driving TFT DT.

이러한, 종래 기술에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 각 화소는, 데이터 전압(Vdata)에 따른 드라이빙 TFT(DT)의 스위칭을 이용하여 제1 구동 전원(VDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 데이터 전류(Ioled)의 크기를 제어하여 유기 발광 다이오드(OLED)를 발광시킴으로써 소정의 영상을 표시한다.Each pixel of the organic light emitting display device according to the related art uses a data current Vdata flowing from the first driving power supply VDD to the organic light emitting diode OLED by switching the driving TFT DT according to the data voltage Vdata. And controls the size of the organic light emitting diode OLED to display a predetermined image.

TFT의 제조 공정의 불균일성에 따라서, 따라 드라이빙 TFT(DT)의 문턱 전압(Vth)/이동도(mobility) 특성이 화소 마다 다르게 나타나는 문제점이 있다. 이에 따라, 일반적인 유기 발광 디스플레이 장치에서는 각 화소의 드라이빙 TFT(DT)에 동일한 데이터 전압(Vdata)을 인가하더라도 유기 발광 다이오드(OLED)에 흐르는 전류의 편차로 인해 균일한 화질을 구현할 수 없다는 문제점이 있다. 이를 개선하기 위해, 제품의 출하 전에 전체 화소를 센싱하여 드라이빙 TFT(DT)의 문턱 전압(Vth)/이동도(mobility) 특성을 보상하고 있다.There is a problem that the threshold voltage Vth / mobility characteristic of the driving TFT DT varies depending on the pixel depending on the non-uniformity of the manufacturing process of the TFT. Accordingly, even when the same data voltage (Vdata) is applied to the driving TFT DT of each pixel in a general organic light emitting display device, there is a problem that a uniform image quality can not be realized due to a deviation of a current flowing through the organic light emitting diode OLED . To improve this, all the pixels are sensed before shipment of the product to compensate the threshold voltage (Vth) / mobility characteristic of the driving TFT (DT).

도 2 및 도 3는 종래 기술에 따른 OLED 열화 예측 방식을 이용한 열화 보상 방법을 설명하기 위한 도면이다.2 and 3 are diagrams for explaining a deterioration compensation method using the OLED deterioration prediction method according to the related art.

도 2를 참조하면, 초기 보상을 통해 전체 화소를 보상하더라도, 화상의 표시를 위한 구동이 장시간 이루어지는 경우 유기 발광 다이오드(OLED)의 광 효율 저하 및 드라이빙 TFT(DT)의 문턱전압/이동도의 변화로 인해 화소들의 휘도 저하 및 편차가 발생한다. 화소의 휘도 저하는 잔상과 같은 화질 불균일을 초래하며 이를 개선하기 위한 방법으로, 내부 보상, 외부 보상 및 열화 예측 보상 방법이 제안되고 있다.Referring to FIG. 2, even if all the pixels are compensated through initial compensation, if the driving for displaying an image is performed for a long time, the light efficiency of the organic light emitting diode OLED and the change in the threshold voltage / mobility of the driving TFT DT The brightness of the pixels is lowered and a deviation occurs. The degradation of the luminance of a pixel results in image quality nonuniformity such as afterimage, and a method for compensating internal compensation, external compensation and deterioration prediction has been proposed as a method for improving the image quality.

도 3을 참조하면, 상기 열화 예측 보상 방법은 영상 데이터 및 시간 경과로 인해 OLED 화소에 가해지는 스트레스의 정도를 예측하고, 열화 예측 결과에 따라 OLED 화소에 인가되는 데이터 신호를 보상하여 열화에 의한 화질 불균일 문제를 해결하고 있다.Referring to FIG. 3, the degradation prediction / compensation method estimates the degree of stress applied to OLED pixels due to image data and time lapse, compensates a data signal applied to OLED pixels according to the degradation prediction result, The problem of non-uniformity is solved.

이러한, 종래 기술에 따른 열화 예측 방식은 입력 영상 데이터에 따른 누적 스트레스 데이터를 이용하여 열화 수준을 예측하게 되는데, 장시간 구동이 지속되는 경우 누적 스트레스 데이터의 사이즈가 증가되어 큰 사이즈의 메모리가 필요하고, 제조비용을 증가시키는 단점이 있다.The degradation prediction method according to the related art predicts the deterioration level by using the accumulated stress data according to the input image data. When the continuous driving is continued, the size of the accumulated stress data increases, The manufacturing cost is increased.

또한, 메모리의 증가를 줄이기 위해, 제한된 비트(bit)로 누적 스트레스 데이터를 생성하고, 누적 횟수를 제안함으로 인해 보상 데이터의 정확도가 낮아지는 문제점이 있다. 따라서, 낮은 정확도의 보상 데이터를 사용함으로 인해 화질이 저하되고, 유기 발광 다이오드(OLED)의 수명이 감소되는 문제점이 있다.Also, in order to reduce the increase of the memory, there is a problem that the accuracy of the compensation data is lowered because cumulative stress data is generated with a limited bit and the cumulative number of times is proposed. Therefore, the use of low-accuracy compensation data degrades image quality and reduces the lifetime of the organic light emitting diode (OLED).

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 열화 예측 데이터의 정확도를 높일 수 있는 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.An object of the present invention is to provide an organic light emitting display device and a method of driving the same that can improve the accuracy of degradation prediction data.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 적은 메모리 사용으로도 열화 예측이 가능한 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.An object of the present invention is to provide an organic light emitting display device capable of predicting deterioration even with a small memory use and a driving method thereof.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 구동 시간 지속에 의한 화질 저하를 방지할 수 있는 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an organic light emitting display device and a method of driving the same, which can prevent image quality deterioration due to driving time duration.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 열화 예측 보상 방식의 적용에 따른 제조비용의 증가를 방지할 수 있는 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an organic light emitting display device and a driving method thereof that can prevent an increase in manufacturing cost due to application of a deterioration prediction compensation method.

위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Other features and advantages of the invention will be set forth in the description which follows, or may be obvious to those skilled in the art from the description and the claims.

상술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치는, 유기 발광 다이오드 및 상기 유기 발광 다이오드를 발광시키는 화소 회로로 구성된 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널; 상기 복수의 화소 구동을 위한 스캔 신호, 및 구동 전압을 공급하는 게이트 드라이버; 드라이빙 구동 시 상기 복수의 화소에 데이터 전압 및 기준 전압을 공급하는 데이터 드라이버; 상기 게이트 드라이버, 상기 데이터 드라이버를 동작하도록 제어하는 타이밍 컨트롤러; 열화 예측 모델 데이터가 저장된 메모리; 및 스트레스 평균 데이터를 필터링하고 비트 쉬프트 연산을 수행하여 현재 프레임의 평균 스트레스 데이터를 생성하는 열화 예측부;를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an organic light emitting display device including: a display panel including a plurality of pixels including an organic light emitting diode and a pixel circuit for emitting the organic light emitting diode; A gate driver for supplying a scan signal and a drive voltage for driving the plurality of pixels; A data driver for supplying a data voltage and a reference voltage to the plurality of pixels during driving driving; A timing controller for controlling the gate driver and the data driver to operate; A memory in which degradation prediction model data is stored; And a deterioration predictor for filtering average stress data and performing a bit shift operation to generate average stress data of a current frame.

상술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법은, 유기 발광 다이오드를 발광시키는 화소 회로로 구성된 복수의 화소를 포함 디스플레이 패널과, 상기 디스플레이 패널을 구동시키는 구동 회로로 구성된 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, n프레임의 영상 데이터에 따른 스트레스 평균 데이터를 필터링하고 비트 쉬프트 연산을 수행하여 현재 프레임의 평균 스트레스 데이터를 생성하는 단계; 프레임 카운트 값을 근사화하여 비트 값으로 변환함과 아울러, 상기 프레임 카운트 값의 근사화에 따른 오차를 보정하기 위한 보정 비트를 생성하는 단계; 입력된 비트수를 라이트 비트 쉬프트(right bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 줄이거나, 또는 입력된 비트수를 레프트 비트 쉬프트(left bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 증가시키는 단계; 및 비트 쉬프트 연산이 이루어진 평균 스트레스 값을 이용하여 복수의 화소에 형성된 유기 발광 다이오드의 열화를 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of driving an organic light emitting display device including a display panel including a plurality of pixels including a pixel circuit for emitting an organic light emitting diode, The method comprising: filtering average stress data according to image data of n frames and performing bit shift operation to generate average stress data of a current frame; Converting the frame count value into a bit value by approximating the frame count value, and generating a correction bit for correcting an error caused by the approximation of the frame count value; The number of input bits is shifted by a right bit to reduce the lower bits of the number of input bits or the number of input bits is left bit shifted to increase the lower bits of the number of input bits step; And compensating degradation of the organic light emitting diode formed in the plurality of pixels by using an average stress value obtained by performing a bit shift operation.

본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법은 열화 예측 데이터의 정확도를 높일 수 있다.The organic light emitting display device and the driving method thereof according to the embodiment of the present invention can improve the accuracy of the degradation prediction data.

본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법은 적은 메모리 사용으로도 정확한 열화 예측을 가능케 한다.The organic light emitting display device and the driving method thereof according to the embodiment of the present invention enable precise deterioration prediction even with a small memory use.

본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법은 구동 시간 지속에 의한 화질 저하를 방지할 수 있다.The organic light emitting display device and the driving method thereof according to the embodiment of the present invention can prevent deterioration of image quality due to the duration of driving time.

본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법은 열화 예측 보상 방식의 적용에 따른 제조비용의 증가를 방지할 수 있다.The organic light emitting display device and the driving method thereof according to the embodiment of the present invention can prevent an increase in manufacturing cost due to the application of the deterioration prediction compensation method.

이 밖에도, 본 발명의 실시 예들을 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 이점들이 새롭게 파악될 수도 있을 것이다.In addition, other features and advantages of the present invention may be newly understood through embodiments of the present invention.

도 1은 종래 기술에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 화소 구조를 설명하기 위한 회로도이다.
도 2 및 도 3는 종래 기술에 따른 OLED 열화 예측 방식을 이용한 열화 보상 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 데이트 드라이버 및 화소 구조를 설명하기 위한 회로도이다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부를 나타내는 위한 도면이다.
도 7은 도 6에 도시된 에러 수정부를 나타내는 도면이다.
도 8은 비트 쉬프트 연산에서 오차가 발생하는 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 비트 쉬프트 연산에 의한 오차를 보정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부의 적용을 통해 열화 예측 데이터의 정확도를 높이는 효과를 설명하기 위한 도면이다.
1 is a circuit diagram illustrating a pixel structure of an organic light emitting display device according to a related art.
2 and 3 are diagrams for explaining a deterioration compensation method using the OLED deterioration prediction method according to the related art.
4 is a view schematically showing an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention.
5 is a circuit diagram illustrating a data driver and a pixel structure of an OLED display according to an embodiment of the present invention.
6 is a diagram showing a deterioration predictor according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing the error correction unit shown in FIG. 6. FIG.
8 is a diagram for explaining an example in which an error occurs in a bit shift operation.
FIG. 9 is a diagram for explaining a method of correcting an error by a bit shift operation.
10 is a diagram for explaining the effect of increasing the accuracy of the degradation prediction data by applying the degradation prediction unit according to the embodiment of the present invention.

본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. It should be noted that, in the specification of the present invention, the same reference numerals as in the drawings denote the same elements, but they are numbered as much as possible even if they are shown in different drawings.

한편, 본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다. Meanwhile, the meaning of the terms described in the present specification should be understood as follows.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다.The word " first, "" second," and the like, used to distinguish one element from another, are to be understood to include plural representations unless the context clearly dictates otherwise. The scope of the right should not be limited by these terms.

"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.It should be understood that the terms "comprises" or "having" does not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다.It should be understood that the term "at least one" includes all possible combinations from one or more related items. For example, the meaning of "at least one of the first item, the second item and the third item" means not only the first item, the second item or the third item, but also the second item and the second item among the first item, Means any combination of items that can be presented from more than one.

이하, 본 발명에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of a method of driving an organic light emitting display according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치의 데이트 드라이버 및 화소 구조를 설명하기 위한 회로도이다.FIG. 4 is a schematic view of an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a data driver and pixel structure of an OLED display device according to an embodiment of the present invention.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 유기 발광 디스플레이 장치는 디스플레이 패널(100) 및 패널 구동부를 포함하여 구성된다.Referring to FIGS. 4 and 5, an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention includes a display panel 100 and a panel driver.

상기 디스플레이 패널(100)은 복수의 게이트 라인(GL), 복수의 데이터 라인(DL), 복수의 구동 전원 라인(PL), 복수의 기준 전압 라인(RL) 및 복수의 화소(P)를 포함한다.The display panel 100 includes a plurality of gate lines GL, a plurality of data lines DL, a plurality of driving power lines PL, a plurality of reference voltage lines RL, and a plurality of pixels P .

상기 복수의 화소(P) 각각은 디스플레이 패널(100)에 정의된 화소 영역에 형성되고, 복수의 화소(P)는 유기 발광 다이오드(OLED)와 상기 유기 발광 다이오드(OLED)를 구동시키기 위한 화소 회로를 포함한다.Each of the plurality of pixels P is formed in a pixel region defined in the display panel 100. The plurality of pixels P include an organic light emitting diode OLED and a pixel circuit for driving the organic light emitting diode OLED. .

제1 구동 전원(VDD)이 공급되는 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 전극과 소스 전극 간에 접속된 커패시터(Cst)에 데이터 전압(Vdata)과 기준 전압(Vref)의 차 전압(Vdata - Vref)을 충전하고, 커패시터(Cst)의 충전 전압에 따라 제1 구동 전원(VDD)으로부터 드라이빙 TFT(DT)를 통해 제2 구동 전원(VSS)으로 흐르는 데이터 전류(Ioled)로 유기 발광 다이오드(OLED)를 발광시킨다.The differential voltage Vdata-Vref between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref is charged to the capacitor Cst connected between the gate electrode and the source electrode of the driving TFT DT to which the first driving power supply VDD is supplied And emits the organic light emitting diode OLED with the data current Ioled flowing from the first driving power supply VDD to the second driving power supply VSS through the driving TFT DT according to the charging voltage of the capacitor Cst .

상기 복수의 화소(P) 각각은 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소, 및 백색 화소 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 하나의 영상을 표시하는 하나의 단위 화소는 인접한 적색 화소, 녹색 화소, 및 청색 화소로 이루어지거나, 인접한 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소, 및 백색 화소로 이루어질 수 있다.Each of the plurality of pixels P may be any one of a red pixel, a green pixel, a blue pixel, and a white pixel. One unit pixel for displaying one image may be composed of adjacent red pixels, green pixels, and blue pixels, or may be composed of adjacent red pixels, green pixels, blue pixels, and white pixels.

상기 복수의 게이트 라인(GL)과 은 디스플레이 패널(100) 내에서 제1 방향(예로서, 수평 방향)으로 나란히 형성될 수 있다. 이때, 게이트 라인(GL)에는 패널 구동부의 게이트 드라이버(300)로부터 스캔 신호(scan, 게이트 구동 신호)가 인가된다.And the plurality of gate lines GL may be formed in parallel in the first direction (e.g., the horizontal direction) in the display panel 100. At this time, a scan signal (scan, gate drive signal) is applied to the gate line GL from the gate driver 300 of the panel driver.

상기 복수의 데이터 라인(DL)은 상기 복수의 게이트 라인(GL) 및 과 교차하도록 제2 방향(예로서, 수직 방향)으로 형성될 수 있다. 이때, 데이터 라인(DL)에는 패널 구동부의 데이터 드라이버(200)로부터 데이터 전압(Vdata)이 공급된다. 데이터 전압(Vdata)은 해당 화소(P)의 드라이빙 TFT(DT)의 문턱 전압(Vth)의 쉬프트에 대응되는 보상 전압이 부가된 전압 레벨을 가지며, 상기 보상 전압에 대해서는 후술하기로 한다.The plurality of data lines DL may be formed in a second direction (e.g., a vertical direction) so as to intersect with the plurality of gate lines GL. At this time, the data voltage Vdata is supplied from the data driver 200 of the panel driver to the data line DL. The data voltage Vdata has a voltage level to which a compensation voltage corresponding to the shift of the threshold voltage Vth of the driving TFT DT of the pixel P is added and the compensation voltage will be described later.

상기 복수의 기준 전압 라인(RL)은 상기 복수의 데이터 라인(DL) 각각과 나란하게 형성된다. 이러한, 기준 전압 라인(RL)에는 상기 데이터 드라이버(200)로부터 디스플레이 기준 전압(Vref) 또는 프리차징 전압(Vpre)이 선택적으로 공급될 수 있다. 이때, 상기 디스플레이 기준 전압(Vref)은 각 화소(P)의 데이터 충전 기간 동안 각 기준 전압 라인(RL)에 공급되다.The plurality of reference voltage lines RL are formed in parallel with the plurality of data lines DL. The display reference voltage Vref or the precharging voltage Vpre may be selectively supplied from the data driver 200 to the reference voltage line RL. At this time, the display reference voltage Vref is supplied to each reference voltage line RL during the data charging period of each pixel P.

상기 복수의 구동 전원 라인(PL)은 상기 게이트 라인(GL)과 나란하게 형성될 수 있으며, 제1 구동 전원(VDD)을 화소(P)에 공급한다.The plurality of driving power supply lines PL may be formed in parallel with the gate lines GL and supply the first driving power VDD to the pixels P. [

도 5에 도시된 바와 같이, 복수의 화소(P) 각각은 데이터 충전 기간 동안에 데이터 전압(Vdata)과 기준 전압(Vref)의 차 전압(Vdata - Vref)을 상기 커패시터(Cst)에 충전하고, 상기 발광 기간 동안 커패시터(Cst)의 충전 전압에 따라 데이터 전류(Ioled)를 유기 발광 다이오드(OLED)에 공급하는 화소 회로(PC)를 포함한다.5, each of the plurality of pixels P charges the capacitor Cst with a difference voltage Vdata-Vref between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref during a data charging period, And a pixel circuit PC for supplying the data current Ioled to the organic light emitting diode OLED according to the charging voltage of the capacitor Cst during the light emission period.

각 화소(P)의 화소 회로(PC)는 스위칭 TFT(ST1), 드라이빙 TFT(DT), 및 커패시터(Cst)를 포함하여 구성된다.The pixel circuit PC of each pixel P is configured to include a switching TFT ST1, a driving TFT DT, and a capacitor Cst.

여기서, 상기 TFT들(ST1, DT)은 N형 TFT로서 a-Si TFT, poly-Si TFT, Oxide TFT, Organic TFT 등이 될 수 있다. 그러나, 이에 한정되지 않고, 상기 TFT들(ST1, DT)은 P형 TFT로 형성될 수도 있다.Here, the TFTs ST1 and DT may be an a-Si TFT, a poly-Si TFT, an oxide TFT, an organic TFT, or the like as an n-type TFT. However, the present invention is not limited thereto, and the TFTs ST1 and DT may be formed of a P-type TFT.

상기 스위칭 TFT(ST1)는 게이트 라인(GL)에 접속된 게이트 전극, 데이터 라인(DL)에 접속된 소스 전극(제1 전극) 및 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 전극과 연결된 제1 노드(n1)에 접속된 드레인 전극(제2 전극)을 포함한다.The switching TFT ST1 has a gate electrode connected to the gate line GL, a source electrode (first electrode) connected to the data line DL and a first node n1 connected to the gate electrode of the driving TFT DT. (Second electrode) connected to the drain electrode.

이러한, 스위칭 TFT(ST1)는 게이트 라인(GL)에 공급되는 게이트 온 전압 레벨의 스캔 신호에 따라 턴-온(turn-on)되어, 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 제1 노드(n1) 즉, 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 전극에 공급한다.The switching TFT ST1 is turned on in response to a scan signal having a gate-on voltage level supplied to the gate line GL to turn on the data voltage Vdata supplied to the data line DL To the gate electrode of one node n1, that is, the driving TFT DT.

상기 커패시터(Cst)는 상기 드라이빙 TFT(DT)의 게이트 전극과 드레인 전극 사이, 즉, 상기 제1 노드(n1) 및 제2 노드(n2) 사이에 접속되어 있다. 이러한, 커패시터(Cst)는 제1 노드(n1) 및 제2 노드(n2) 각각에 공급되는 전압의 차 전압을 충전한 후, 충전된 전압에 따라 상기 드라이빙 TFT(DT)를 스위칭시킨다.The capacitor Cst is connected between the gate electrode and the drain electrode of the driving TFT DT, that is, between the first node n1 and the second node n2. The capacitor Cst charges the difference voltage between the voltages supplied to the first node n1 and the second node n2, and then switches the driving TFT DT according to the charged voltage.

상기 드라이빙 TFT(DT)는 상기 스위칭 TFT(ST1)의 드레인 전극과 상기 커패시터(Cst)의 제1 전극에 공통으로 접속된 게이트 전극을 포함한다. 그리고, 상기 드라이빙 TFT(DT)는 상기 구동 전원 라인(PL)에 접속된 소스 전극을 포함한다. 또한, 상기 드라이빙 TFT(DT)는 상기 제2 스위칭 TFT(ST2)의 드레인 전극과 상기 커패시터(Cst)의 제2 전극 및 상기 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드에 공통으로 접속된 드레인 전극을 포함한다.The driving TFT DT includes a gate electrode commonly connected to the drain electrode of the switching TFT (ST1) and the first electrode of the capacitor (Cst). The driving TFT DT includes a source electrode connected to the driving power supply line PL. The driving TFT DT includes a drain electrode of the second switching TFT ST2, a second electrode of the capacitor Cst, and a drain electrode commonly connected to an anode of the organic light emitting diode OLED .

이러한, 상기 드라이빙 TFT(DT)는 발광 기간마다 상기 커패시터(Cst)의 전압에 의해 턴-온됨으로써 제1 구동 전원(VDD)에 의해 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류 량을 제어한다.The driving TFT DT controls the amount of current flowing to the organic light emitting diode OLED by the first driving power supply VDD by being turned on by the voltage of the capacitor Cst every light emitting period.

상기 유기 발광 다이오드(OLED)는 상기 화소 회로(PC), 즉 드라이빙 TFT(DT)로부터 공급되는 데이터 전류(Ioled)에 의해 발광하여 데이터 전류(Ioled)에 대응되는 휘도를 가지는 단색 광을 방출한다.The organic light emitting diode OLED emits monochromatic light having a luminance corresponding to the data current Ioled by the data current Ioled supplied from the pixel circuit PC, i.e., the driving TFT DT.

이를 위해, 상기 유기 발광 다이오드(OLED)는 화소 회로(PC)의 제2 노드(n2)에 접속된 애노드 전극(미도시), 애노드 전극 상에 형성된 유기층(미도시), 및 유기층 상에 형성되어 제2 구동 전원(VSS)이 공급되는 캐소드 전극(미도시)을 포함한다.The organic light emitting diode OLED includes an anode electrode (not shown) connected to the second node n2 of the pixel circuit PC, an organic layer (not shown) formed on the anode electrode, and an organic layer And a cathode electrode (not shown) to which the second driving power supply VSS is supplied.

유기층은 정공 수송층/유기 발광층/전자 수송층의 구조 또는 정공 주입층/정공 수송층/유기 발광층/전자 수송층/전자 주입층의 구조를 가지도록 형성될 수 있다. 나아가, 상기 유기층은 상기 유기 발광층의 발광 효율 및/또는 수명 등을 향상시키기 위한 기능층을 더 포함하여 이루어질 수 있다. 이때, 상기 제2 구동 전원(VSS)은 라인 형태로 형성된 제2 구동 전원 라인(미도시)을 통해 상기 유기 발광 다이오드(OLED)의 캐소드 전극에 공급될 수 있다.The organic layer may have a structure of a hole transporting layer / an organic light emitting layer / an electron transporting layer or a structure of a hole injecting layer / a hole transporting layer / an organic light emitting layer / an electron transporting layer / an electron injecting layer. Further, the organic layer may further include a functional layer for improving the luminous efficiency and / or lifetime of the organic light emitting layer. At this time, the second driving power source VSS may be supplied to the cathode electrode of the organic light emitting diode OLED through a second driving power line (not shown) formed in a line shape.

상기 패널 구동부는 데이터 드라이버(200), 게이트 드라이버(300), 타이밍 컨트롤러(400), 열화 예측 모델 데이터가 저장된 메모리(500) 및 화소들의 열화를 예측하여 열화 예측 데이터를 생성하는 열화 예측부(600)를 포함하여 구성된다.The panel driver includes a data driver 200, a gate driver 300, a timing controller 400, a memory 500 storing deterioration prediction model data, and a deterioration prediction unit 600 for generating deterioration prediction data ).

본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부(600)는 유기 발광 다이오드(OLED)를 구동시키기 위한 화소 회로의 구조에 제한 없이 적용될 수 있다. 도 5를 참조하여 설명한 화소 구조는 본 발명에 적용가능 한 여러 실시 예들 중에서 하나를 설명한 것이다.The deterioration predictor 600 according to the embodiment of the present invention can be applied without limitation to the structure of the pixel circuit for driving the organic light emitting diode OLED. The pixel structure described with reference to FIG. 5 describes one of various embodiments applicable to the present invention.

여기서, 메모리(500)에 저장된 열화 예측 모델 데이터는, 사전에 디스플레이 패널의 구동 실험을 통해 시간 및 입력 데이터 의한 휘도에 따른 유기 발광 다이오드(OLED)의 열화 특성을 파악하여 생성된 것으로, 제조 단계에서 장시간에 걸쳐 다수의 디스플레이 패널을 샘플링하여 얻어진 결과이다.Here, the deterioration prediction model data stored in the memory 500 is generated by grasping deterioration characteristics of the organic light emitting diode OLED according to luminance with time and input data through driving experiments of the display panel in advance, This is a result obtained by sampling a plurality of display panels over a long period of time.

따라서, 본 발명에서는 메모리(500)에 저장된 열화 예측 모델 데이터의 신뢰를 전제로 하며, 열화 예측 모델 데이터에 기초하여 구동 시간 및 입력 데이터에 따른 유기 발광 다이오드(OLED)의 열화를 예측하여 보상을 수행한다.Therefore, in the present invention, it is assumed that the deterioration predictive model data stored in the memory 500 is reliable, and the deterioration of the organic light emitting diode OLED according to the driving time and the input data is predicted based on the deterioration prediction model data do.

상기 게이트 드라이버(300)는 복수의 게이트 라인(GL) 및 에 연결되어 타이밍 컨트롤러(400)의 모드 제어에 따라 동작한다.The gate driver 300 is connected to a plurality of gate lines GL and operates according to the mode control of the timing controller 400.

상기 게이트 드라이버(300)는 상기 타이밍 컨트롤러(400)로부터 공급되는 게이트 제어 신호(GCS)에 따라 1 수평 기간마다 게이트 온 전압 레벨의 스캔 신호(scan)를 생성한다. 생성된 스캔 신호(scan)를 복수의 게이트 라인(GL)에 순차적으로 공급한다.The gate driver 300 generates a scan signal (scan) having a gate-on voltage level for each horizontal period according to a gate control signal GCS supplied from the timing controller 400. And sequentially supplies the generated scan signal (scan) to the plurality of gate lines GL.

스캔 신호(scan)는 각 화소(P)의 데이터 충전 기간 동안 게이트 온 전압 레벨을 가지고, 각 화소(P)의 발광 기간 동안 게이트 오프 전압 레벨을 갖는다. 이러한, 게이트 드라이버(300)는 스캔 신호(scan)를 순차적으로 출력하는 쉬프트 레지스터일 수 있다.The scan signal (scan) has a gate-on voltage level during a data charging period of each pixel P and has a gate-off voltage level during a light-emitting period of each pixel P. The gate driver 300 may be a shift register that sequentially outputs a scan signal (scan).

한편, 상기 게이트 드라이버(300)는 집적 회로(IC) 형태로 형성되거나, 각 화소(P)의 트랜지스터 형성 공정과 함께 디스플레이 패널(100)의 기판에 집적되어 형성될 수도 있다.The gate driver 300 may be formed in the form of an integrated circuit (IC), or integrated with a substrate of the display panel 100 together with a transistor forming process of each pixel P.

상기 게이트 드라이버(300)는 복수의 구동 전원 라인(PL1 내지 PLm) 각각에 연결되어 외부의 전원 공급부(미도시)로부터 공급되는 구동 전원(VDD)을 복수의 구동 전원 라인(PL1 내지 PLm)에 공급한다.The gate driver 300 is connected to each of a plurality of driving power lines PL1 to PLm and supplies driving power VDD supplied from an external power supply unit to a plurality of driving power lines PL1 to PLm do.

상기 타이밍 컨트롤러(400)는 타이밍 동기 신호(TSS)에 기초하여 데이터 드라이버(200)와 상기 게이트 드라이버(300) 각각을 동작시킨다.The timing controller 400 operates the data driver 200 and the gate driver 300 based on the timing synchronization signal TSS.

상기 타이밍 동기 신호(TSS)는 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 데이터 인에이블(DE), 클럭(DCLK) 등이 될 수 있다. 상기 게이트 제어 신호(GCS)는 게이트 스타트 신호, 및 복수의 클럭 신호 등으로 이루어질 수 있으며, 데이터 제어 신호(DCS)는 데이터 스타트 신호, 데이터 쉬프트 신호, 및 데이터 출력 신호 등으로 이루어질 수 있다.The timing synchronization signal TSS may be a vertical synchronization signal Vsync, a horizontal synchronization signal Hsync, a data enable DE, a clock DCLK, or the like. The gate control signal GCS may include a gate start signal and a plurality of clock signals. The data control signal DCS may be a data start signal, a data shift signal, a data output signal, or the like.

타이밍 컨트롤러(400)는 열화 예측부(600)로부터 제공된 열화 예측 데이터에 기초하여 외부로부터 입력되는 입력 데이터(Idata)를 보정하고, 보정된 화소 데이터를 생성한다. 이후, 열화 예측 방식에 의해 보정된 화소 데이터(DATA)를 상기 데이터 드라이버(200)에 공급한다.The timing controller 400 corrects input data (Idata) input from the outside based on the deterioration predictive data provided from the deterioration predictor 600, and generates corrected pixel data. Thereafter, the pixel data (DATA) corrected by the deterioration prediction method is supplied to the data driver (200).

이때, 상기 각 화소(P)에 공급될 화소 데이터(DATA)는 각 화소(P)의 구동 트랜지스터(DT)의 문턱 전압/이동도를 보상하기 위한 보상 전압이 반영된 전압 레벨을 갖는다.The pixel data DATA to be supplied to each pixel P has a voltage level at which a compensation voltage for compensating the threshold voltage / mobility of the driving transistor DT of each pixel P is reflected.

상기 입력 데이터(Idata)는 하나의 단위 화소에 공급될 적색, 녹색, 및 청색의 입력 데이터로 이루어질 수 있다. 그리고, 상기 단위 화소가 적색 화소, 녹색 화소, 및 청색 화소로 이루어진 경우, 하나의 화소 데이터(DATA)는 적색, 녹색, 또는 청색의 데이터일 수 있다.The input data Idata may be input data of red, green, and blue to be supplied to one unit pixel. When the unit pixel is composed of a red pixel, a green pixel, and a blue pixel, one pixel data (DATA) may be red, green, or blue data.

반면에, 상기 단위 화소가 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소 및 백색 화소로 이루어진 경우, 하나의 화소 데이터(DATA)는 적색, 녹색, 청색, 또는 백색의 데이터일 수 있다.On the other hand, when the unit pixel is composed of a red pixel, a green pixel, a blue pixel and a white pixel, one pixel data (DATA) may be data of red, green, blue or white.

데이터 드라이버(200)는 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dn)에 연결되어 타이밍 컨트롤러(400)의 모드 제어에 따라 동작한다. 각 화소에 데이터 전압을 충전시키는 데이터 충전 기간 및 유기 발광 다이오드(OLED)를 발광시키는 발광 기간으로 구동할 수 있다.The data driver 200 is connected to the plurality of data lines D1 to Dn and operates according to the mode control of the timing controller 400. [ A data charging period for charging each pixel with a data voltage and a light emitting period for emitting an organic light emitting diode (OLED).

이러한, 데이터 드라이버(200)는 데이터 전압 생성부(210) 및 스위칭부(240)를 포함하여 구성된다.The data driver 200 includes a data voltage generating unit 210 and a switching unit 240.

상기 데이터 전압 생성부(210)는 입력되는 상기 화소 데이터(DATA)를 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 데이터 라인(DL)에 공급한다. 이를 위해, 상기 데이터 전압 생성부(210)는 샘플링 신호를 생성하는 쉬프트 레지스터, 샘플링 신호에 따라 화소 데이터(DATA)를 래치하는 래치부, 복수의 기준 감마 전압을 이용하여 복수의 계조 전압을 생성하는 계조 전압 생성부, 복수의 계조 전압 중에서 래치된 화소 데이터(DATA)에 대응되는 계조 전압을 데이터 전압(Vdata)으로 선택하여 출력하는 디지털-아날로그 변환부(DAC), 및 상기 데이터 전압(Vdata)을 출력하는 출력부를 포함하여 구성될 수 있다.The data voltage generator 210 converts the input pixel data DATA into a data voltage Vdata and supplies the data voltage to the data line DL. To this end, the data voltage generator 210 includes a shift register for generating a sampling signal, a latch for latching pixel data (DATA) according to a sampling signal, a plurality of gradation voltages using a plurality of reference gamma voltages A digital-to-analog converter (DAC) for selecting and outputting a gradation voltage corresponding to pixel data (DATA) latched in a plurality of gradation voltages as a data voltage (Vdata) And an output unit for outputting the output signal.

상기 스위칭부(240)는 복수의 제1 스위치(240a) 및 복수의 제2 스위치(240b)를 포함하여 구성된다.The switching unit 240 includes a plurality of first switches 240a and a plurality of second switches 240b.

복수의 제1 스위치(240a)는 드라이빙 모드 시, 데이터 전압(Vdata) 또는 프리차징 전압(Vpre_d)를 스위칭하여 데이터 라인(DL)에 공급한다. 복수의 제2 스위치(240b)는 디스플레이 기준 전압(Vref) 또는 프리차징 전압(Vpre)을 스위칭하여 기준 전압 라인(RL)에 공급 한다.The plurality of first switches 240a switches the data voltage Vdata or the precharging voltage Vpre_d to supply the data voltage to the data line DL in the driving mode. The plurality of second switches 240b switches the display reference voltage Vref or the precharging voltage Vpre and supplies the switching voltage to the reference voltage line RL.

도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부를 나타내는 위한 도면이고, 도 7은 도 6에 도시된 에러 수정부를 나타내는 도면이다.FIG. 6 is a diagram illustrating a deterioration predictor according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a diagram illustrating the error corrector shown in FIG.

도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부(600)는 영상 데이터에 따른 스트레스 데이터를 지속적으로 누적하고, 상기 메모리(500)에 저장된 열화 예측 모델 데이터를 통해 현재 시점에서의 유기 발광 다이오드(OLED)의 열화 정도를 예측한다.6 and 7, the degradation predicting unit 600 according to an embodiment of the present invention continuously accumulates stress data according to image data, The degree of deterioration of the organic light emitting diode (OLED) is predicted.

이를 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부(600)는 에러 수정부(610), 에버리지 필터(620), 메모리(630)를 포함한다.To this end, the degradation predicting unit 600 according to the embodiment of the present invention includes an error correction unit 610, an averaging filter 620, and a memory 630.

여기서, 상기 에러 수정부(610)는 프레임 카운터(612), 비트 카운터(614) 및 에러 보정부(616)을 포함한다. 상기 에버리지 필터(620)는 비트 감축부(622) 및 비트 확장부(624)를 포함한다.Here, the error correction unit 610 includes a frame counter 612, a bit counter 614, and an error correction unit 616. The averaging filter 620 includes a bit reduction unit 622 and a bit expansion unit 624.

상기 에러 수정부(610)의 프레임 카운터(612)는 매 프레임 또는 특정 프레임 간격으로 1씩 증가하는 카운터로써, 매 프레임 또는 일정 개수 단위의 프레임을 카운터하고, 프레임 카운트 정보를 비트 카운터(614) 및 에러 보상부(616)에 제공한다. The frame counter 612 of the error correction unit 610 is a counter that increments by one at every frame or at a specific frame interval. The frame counter 612 counts every frame or a predetermined number of frames, And provides it to the error compensator 616. [

비트 카운터(614)는 프레임 카운터(612)로부터 입력된 프레임 카운트 값의 유효한 최대 비트수를 카운트 한다.The bit counter 614 counts the maximum number of valid bits of the frame count value input from the frame counter 612.

예를 들면, 프레임 카운트 값이 십진수 12일 때, 이를 2진수로 변환 하면 1100이 되고, 이때 프레임 카운트 값 12의 최대 비트수는 4가 된다. 즉, 프레임 카운트 값 12를 표시하기 위해서 4비트를 사용하는 것이다.For example, when the frame count value is a decimal number 12, converting it to a binary number results in 1100, and the maximum number of bits of the frame count value 12 is 4 at this time. That is, four bits are used to indicate the frame count value 12.

다른 예로서, 프레임 카운트 값이 십진수 16일 때, 이를 2진수로 변환 하면 10000이 되고, 이때 프레임 카운트 값 16의 최대 비트수는 5가 된다. 즉, 프레임 카운트 값 16를 표시하기 위해서 5비트를 사용하는 것이다.As another example, when the frame count value is a decimal number 16, it is converted to binary number 10000, and the maximum number of bits of the frame count value 16 is 5 at this time. That is, five bits are used to indicate the frame count value 16.

앞에서 설명한 바와 같이, 프레임 카운터(612)의 프레임 카운트 값이 16~31이면 비트 카운터(614)의 출력 값은 5가 되고, 프레임 카운트 값이 32~63이면 비트 카운터(614)의 출력 값은 6가 되고, 프레임 카운트 값이 32~63이면 비트 카운터(614)의 출력 값은 6가 되고, frame counter 값이 64~127이면 bit counter는 7이 된다.As described above, if the frame counter value of the frame counter 612 is 16 to 31, the output value of the bit counter 614 is 5. If the frame count value is 32 to 63, the output value of the bit counter 614 is 6 . If the frame counter value is 32 to 63, the output value of the bit counter 614 is 6. If the frame counter value is 64 to 127, the bit counter is 7.

이러한, 에러 보상부(616)는 실시간 연산을 위해 프레임 카운터의 출력 값(n)을 근사화 시키기 때문에 오차가 존재할 수 있다. 따라서, 보다 정확한 스트레스 데이터의 평균 값을 산출하기 위해서 보정 비트를 추가한다.Since the error compensator 616 approximates the output value n of the frame counter for real-time calculation, an error may exist. Therefore, a correction bit is added to calculate the average value of the more accurate stress data.

에러 보상부(616)은 프레임 카운터(612)이 출력 값을 이용하여 에러 보정 비트를 출력하는 것으로, 1 또는 0을 출력한다. 비트를 보정하는 경우 에러 보정 비트 값으로 1을 출력하고, 비트를 보정하지 않는 경우 에러 보정 비트를 0으로 출력한다.The error compensator 616 outputs 1 or 0 as the frame counter 612 outputs the error correction bits using the output value. When correcting the bit, 1 is outputted as the error correction bit value, and when the bit is not corrected, the error correction bit is outputted as 0.

메모리(630)에는 현재까지의 평균 스트레스 데이터가 누적되어 저장되며, 현재가 n 번째 프레임일 경우, n-1 번째 프레임까지의 평균 스트레스 데이터를 에버리지 필터(620)에 제공한다.The average stress data up to the present is accumulated and stored in the memory 630. When the current frame is the nth frame, average stress data up to the (n-1) th frame is provided to the average filter 620. [

에버리지 필터(620)는 에러 수정부(610)에서 제공된 프레임 카운트 값 및 비트수를 감축 또는 확장시키고, 상기 메모리(630)에서 제공된 n-1 번째 프레임까지의 평균 스트레스 데이터에 기초하여 유기 발광 다이오드(OLED)의 보상을 위한 평균 스트레스 값을 산출하여 출력한다.The averaging filter 620 reduces or expands the frame count value and the number of bits provided by the error correction unit 610 and outputs the average count value to the organic light emitting diode (OLED) based on the average stress data up to the n- OLED) and outputs the calculated average stress value.

이어서, 에버리지 필터(620)의 비트 감축부(622)는 나눗셈 연산을 수행하는 것으로, 상기 에러 수정부(610)에서 입력된 비트수를 라이트 비트 쉬프트(right bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 줄인다. 즉, 7비트가 입력되면 6비트로 줄이고, 5비트가 입력되면 4비트로 줄여 비트수를 감축한다.Subsequently, the bit reduction unit 622 of the averaging filter 620 performs a division operation. The number of bits input from the error correction unit 610 is right-bit-shifted to generate a sub- Reduce the bit. That is, when 7 bits are input, the number is reduced to 6 bits. When 5 bits are inputted, the number of bits is reduced to 4 bits to reduce the number of bits.

에버리지 필터(620)의 비트 확장부(624)는 곱셈 연산을 수행하는 것으로, 상기 에러 수정부(610)에서 입력된 비트수를 레프트 비트 쉬프트(left bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 증가시킨다. 즉, 7비트가 입력되면 8비트로 증가시키고, 5비트가 입력되면 6비트로 증가시켜 비트수를 확장한다.The bit expander 624 of the average filter 620 multiplies the number of bits input from the error corrector 610 by a left bit shift and outputs the lower bits of the number of input bits . That is, when 7 bits are input, the number of bits is increased to 8 bits. When 5 bits are inputted, the number of bits is increased to 6 bits to expand the number of bits.

에버리지 필터(620)를 통해 아래의 수학식 1과 같이, 스트레스 데이터의 평균을 값을 산출하다.The average value of the stress data is calculated through the Average filter 620 as shown in Equation (1) below.

[수학식 1][Equation 1]

Figure 112012105627097-pat00001
Figure 112012105627097-pat00001

상기 수학식 1에서, α는 1/n에 해당되는 값으로 0부터 1사이의 값을 갖는다. 프레임 수가 적어 α 값이 클 경우, 평균 값은 현재 입력 값에 영향을 크게 받을 수 있다. 반대로, 프레임 수가 많아 α 값이 작을 수록 현재입력 값보다 이전 평균값에 영향을 받을 수 있다.In Equation (1),? Is a value corresponding to 1 / n and has a value between 0 and 1. If the number of frames is small and the value of α is large, the average value may be greatly affected by the current input value. In contrast, as the number of frames is large and the value of alpha is small, the previous average value may be influenced by the current input value.

즉, 시간이 경과에 따라서 프레임 개수(frame number)가 커질수록 입력 값이 이전 평균값과 크게 다르더라도 전체 평균값의 변화에는 크게 영향을 미치지 않음을 의미한다.That is, as the frame number increases with time, the input value does not significantly affect the change of the average value even if the input value is significantly different from the previous average value.

이러한, 연산은 필수적으로 나눗셈 연산이 포함되어 있기 때문에 실시간 하드웨어의 구현에 어려움이 있다. 따라서, 디스플레이 장치에 적용할 때 제약이 있다.Such an operation is necessarily difficult to implement in real time hardware because it includes division operation. Therefore, there are restrictions when applied to a display device.

그러나, 상기 프레임 개수(n) 값이 2의 X승(제곱수)로 구성되어 있다면, 근사식을 적용하여 상기 X만큼 비트를 쉬프트 시켜, 간단하게 1/n의 연산이 가능하다. 하지만, 상기 n 값이 2의 제곱수가 아닌 경우, 근사식을 적용하면 결과 값에 오차가 크게 발생될 수 있다.However, if the value of the number of frames (n) is composed of X power of 2 (multiplication factor), an approximate expression is applied to shift the bits by the X, and the operation of 1 / n can be simply performed. However, when the value of n is not a power of 2, an error may be caused to a large extent by applying an approximation formula.

본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부(600)에서 비트 쉬프트 연산을 이용한 나눗셈 및 곱셈 연산을 수행하여, 간단한 연산으로 스트레스 데이터의 평균 필터링 값, 즉, 현재 프레임에서 유기 발광 다이오드(OLED)의 보상을 위한 열화 예측 데이터에 기초가 되는 평균 스트레스 데이터를 생성한다.The degradation predicting unit 600 according to the embodiment of the present invention performs a division and a multiplication operation using a bit shift operation and calculates a mean filtering value of the stress data by a simple operation, that is, a compensation value of the OLED The average stress data based on the degradation prediction data is generated.

여기서, 비트 쉬프트 연산은 상술한 바와 같이, 프레임의 개수가 2의 제곱에 해당하지 않는 경우에 결과 값에 오차가 발생할 수 있음으로, 비트 쉬프트 연산에 따른 연산 오차를 줄이기 위해 에러 보정 비트를 추가한다.Here, as described above, since an error may occur in the result value when the number of frames does not correspond to the square of 2, an error correction bit is added to reduce an operation error according to the bit shift operation .

도 8은 비트 쉬프트 연산에서 오차가 발생하는 예를 설명하기 위한 도면이고, 도 9는 비트 쉬프트 연산에 의한 오차를 보정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 8 is a view for explaining an example in which an error occurs in a bit shift operation, and FIG. 9 is a diagram for explaining a method of correcting an error by a bit shift operation.

도 8 및 도 9를 참조하면, 단순하게 비트 쉬프트 연산만을 수행할 경우, 현재의 입력 값보다 이전의 평균값에 영향을 많이 받아 연산에 오차가 발생할 수 있다.Referring to FIGS. 8 and 9, when only a bit shift operation is performed, an error may occur in an operation due to a large influence on an average value before a current input value.

따라서, 에러 보정 비트를 추가하여 주기적으로 쉬프트를 적게 하여, 즉, n 값을 줄여 현재 입력 값에 영향을 크게 받도록 조절한다.Therefore, an error correction bit is added to reduce the shift periodically, that is, to reduce the value of n, thereby adjusting the current input value to a large extent.

예를 들면, 5비트 라이트 쉬프트(5bit right shift)를 연산을 할 때, 오차가 많이 나타나는 구간에서 5비트가 아닌 4비트 쉬프트 연산을 통해 입력 값을 평균 값보다 더 많이 반영되도록 하여 오차를 줄일 수 있다.For example, when a 5-bit right shift operation is performed, the input value is reflected more than the average value through the 4-bit shift operation rather than the 5-bit shift in the section where the error appears, have.

구체적으로, 프레임 넘버 17은 2진수로 변환하면 5비트이지만, 5비트로 표시되는 32보다 17에 더 가까우므로 이러한 경우에는 4비트로 쉬프트 연산을 수행한다.Specifically, the frame number 17 is 5 bits when converted into a binary number, but is closer to 17 than 32, which is represented by 5 bits. Therefore, the shift operation is performed to 4 bits in this case.

이와 마찬가지로, 프레임 넘버 33에 경우 6비트로 표시해야 하지만, 6비트로 표시되는 64보다 5비트로 표시되는 32에 더 가까우므로 이러한 경우에는 5비트로 쉬프트 연산을 수행한다.Likewise, the frame number 33 should be 6 bits, but it is closer to 32, which is represented by 5 bits than 64, which is expressed by 6 bits. In this case, the shift operation is performed to 5 bits.

본 발명은 프레임 넘버 n이 충분히 클 경우, 비트 쉬프트 연산 만으로 영상 데이터에 따른 스트레스 데이터의 평균 값을 산출할 수 있고, 산출된 스트레스 데이터의 평균 값에 기초하여, 유기 발광 다이오드(OLED)의 열화 예측 데이터를 생성할 수 있다.In the present invention, when the frame number n is sufficiently large, the average value of the stress data according to the image data can be calculated only by the bit shift operation. Based on the average value of the calculated stress data, the degradation prediction of the organic light emitting diode Data can be generated.

도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 열화 예측부의 적용을 통해 열화 예측 데이터의 정확도를 높이는 효과를 설명하기 위한 도면이다.10 is a diagram for explaining the effect of increasing the accuracy of the degradation prediction data by applying the degradation prediction unit according to the embodiment of the present invention.

도 10을 참조하면, 상술한 열화 예측부를 통해 열화 예측 데이터의 정확도를 높이고, 적은 메모리 사용으로도 정확한 열화 예측을 수행할 수 있다. 또한, 구동 시간 지속에 의한 화질 저하를 방지할 수 있고, 메모리의 사이즈를 줄여 열화 예측 보상 방식의 적용에 따른 제조비용의 증가를 방지할 수 있다.Referring to FIG. 10, it is possible to increase the accuracy of the degradation prediction data through the degradation prediction unit described above, and to perform accurate degradation prediction even with a small memory use. In addition, it is possible to prevent image quality deterioration due to the duration of the driving time, and to reduce the size of the memory, thereby preventing an increase in manufacturing cost due to application of the degradation prediction compensation method.

본 발명이 속하는 기술분야의 당 업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention can be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents are to be construed as being included within the scope of the present invention do.

100: 디스플레이 패널 200: 데이터 드라이버
300: 게이트 드라이버 400: 타이밍 컨트롤러
500: 메모리 600: 열화 예측부
610: 에러 수정부 620: 에버리지 필터
630: 메모리
100: display panel 200: data driver
300: Gate driver 400: Timing controller
500: memory 600: deterioration prediction unit
610: Error correction unit 620: Averaging filter
630: Memory

Claims (9)

유기 발광 다이오드 및 상기 유기 발광 다이오드를 발광시키는 화소 회로로 구성된 복수의 화소를 포함하는 디스플레이 패널;
상기 복수의 화소 구동을 위한 스캔 신호, 및 구동 전압을 공급하는 게이트 드라이버;
드라이빙 구동 시 상기 복수의 화소에 데이터 전압 및 기준 전압을 공급하는 데이터 드라이버;
상기 게이트 드라이버, 상기 데이터 드라이버를 동작하도록 제어하는 타이밍 컨트롤러;
열화 예측 모델 데이터가 저장된 메모리; 및
스트레스 평균 데이터를 필터링하고 비트 쉬프트 연산을 수행하여 현재 프레임의 평균 스트레스 데이터를 생성하는 열화 예측부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치.
1. A display device comprising: a display panel including a plurality of pixels each comprising an organic light emitting diode and a pixel circuit for emitting the organic light emitting diode;
A gate driver for supplying a scan signal and a drive voltage for driving the plurality of pixels;
A data driver for supplying a data voltage and a reference voltage to the plurality of pixels during driving driving;
A timing controller for controlling the gate driver and the data driver to operate;
A memory in which degradation prediction model data is stored; And
And a deterioration predictor for filtering the stress average data and performing a bit shift operation to generate average stress data of a current frame.
제1 항에 있어서,
상기 열화 예측부는,
프레임 카운트 값을 근사화하여 비트 값으로 변환함과 아울러, 상기 프레임 카운트 값의 근사화에 따른 오차를 보정하기 위한 보정 비트를 생성하는 에러 수정부; 및
입력된 비트수를 라이트 비트 쉬프트(right bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 줄이는 비트 감축부 및 입력된 비트수를 레프트 비트 쉬프트(left bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 증가시키는 비트 확장부로 구성된 에버리지 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the degradation prediction unit comprises:
An error correction unit for converting the frame count value into a bit value by approximating and generating a correction bit for correcting an error caused by the approximation of the frame count value; And
A bit reduction unit for reducing the lower bits of the number of input bits by right bit shift of the number of input bits and a left bit shift of the number of input bits to increase the lower bits of the number of input bits And a bit expanding unit for expanding the organic EL display device.
제2 항에 있어서,
상기 에버리지 필터는,
프레임 카운트 값 및 비트수를 감축 또는 확장시키고, n-1 번째 프레임까지의 평균 스트레스 데이터에 기초하여 유기 발광 다이오드의 보상을 위한 평균 스트레스 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치.
3. The method of claim 2,
The above-
Frame count value and the number of bits, and calculates an average stress value for compensation of the organic light emitting diode based on the average stress data up to the (n-1) th frame.
제1 항에 있어서,
프레임의 개수가 2의 제곱에 해당하지 않는 경우, 비트 쉬프트 연산에 따른 연산 오차를 줄이기 위해 에러 보정 비트를 추가하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치.
The method according to claim 1,
Wherein when the number of frames does not correspond to a square of 2, an error correction bit is added to reduce an operation error due to a bit shift operation.
제4 항에 있어서,
n비트 라이트 쉬프트를 연산을 할 때, 오차가 많이 나타나는 구간에서 n-1비트 쉬프트 연산을 적용하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치.
5. The method of claim 4,
wherein an n-1 bit shift operation is applied in an interval in which an error occurs when an n-bit write shift operation is performed.
유기 발광 다이오드를 발광시키는 화소 회로로 구성된 복수의 화소를 포함 디스플레이 패널과, 상기 디스플레이 패널을 구동시키는 구동 회로로 구성된 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
n프레임의 영상 데이터에 따른 스트레스 평균 데이터를 필터링하고 비트 쉬프트 연산을 수행하여 현재 프레임의 평균 스트레스 데이터를 생성하는 단계;
프레임 카운트 값을 근사화하여 비트 값으로 변환함과 아울러, 상기 프레임 카운트 값의 근사화에 따른 오차를 보정하기 위한 보정 비트를 생성하는 단계;
입력된 비트수를 라이트 비트 쉬프트(right bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 줄이거나, 또는 입력된 비트수를 레프트 비트 쉬프트(left bit shift)시켜 입력된 비트수의 하위 비트를 증가시키는 단계; 및
비트 쉬프트 연산이 이루어진 평균 스트레스 값을 이용하여 복수의 화소에 형성된 유기 발광 다이오드의 열화를 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법.
A method of driving an organic light emitting display device including a display panel including a plurality of pixels constituted by a pixel circuit for emitting an organic light emitting diode and a driving circuit for driving the display panel,
filtering average stress data according to image data of n frames and performing bit shift operation to generate average stress data of a current frame;
Converting the frame count value into a bit value by approximating the frame count value, and generating a correction bit for correcting an error caused by the approximation of the frame count value;
The number of input bits is shifted by a right bit to reduce the lower bits of the number of input bits or the number of input bits is left bit shifted to increase the lower bits of the number of input bits step; And
And compensating deterioration of the organic light emitting diode formed on the plurality of pixels by using an average stress value obtained by performing a bit shift operation.
제6 항에 있어서,
프레임 카운트 값 및 비트수를 감축 또는 확장시키고,
n-1 번째 프레임까지의 평균 스트레스 데이터에 기초하여 상기 유기 발광 다이오드의 보상을 위한 평균 스트레스 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법.
The method according to claim 6,
The frame count value and the number of bits are reduced or expanded,
and calculating an average stress value for compensation of the organic light emitting diode based on average stress data up to the (n-1) th frame.
제7 항에 있어서,
프레임의 개수가 2의 제곱에 해당하지 않는 경우, 비트 쉬프트 연산에 따른 연산 오차를 줄이기 위해 에러 보정 비트를 추가하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법.
8. The method of claim 7,
Wherein when the number of frames does not correspond to a square of 2, an error correction bit is added to reduce an operation error due to a bit shift operation.
제8 항에 있어서,
n비트 라이트 쉬프트를 연산을 할 때, 오차가 많이 나타나는 구간에서 n-1비트 쉬프트 연산을 적용하는 것을 특징으로 하는 유기 발광 디스플레이 장치의 구동 방법.
9. The method of claim 8,
wherein when an n-bit write shift operation is performed, an n-1 bit shift operation is applied in an interval where a large amount of error is present.
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