KR101963994B1 - 압력 검출 장치, 방법, 터치 제어 기기 및 전자 단말기 - Google Patents

Abstract

본 발명의 실시예는 압력 검출 장치, 방법, 터치 제어 기기 및 전자 단말기를 제공하고, 장치는 제1 검출 커패시턴스; 및 상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하되, 제1 검출 커패시턴스는 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 기준 검출 전극을 포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극을 동일한 면에 설치함으로써, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 상기 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하고, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 그 중에 포함하는 디스플레이 기기가 초래하는 간섭 신호와 같은 간섭 신호를 제거시켜 압력 검출의 감광도를 증가시키고 온도 드리프트를 억제시킨다.

Description

압력 검출 장치, 방법, 터치 제어 기기 및 전자 단말기{Force Detection Apparatus And Method, Touch Device And Electronic Terminal}

본 발명의 실시예는 터치 제어 기술분야에 관한 것으로서, 특히는 압력 검출 장치, 방법, 터치 제어 기기 및 전자 단말기에 관한 것이다.

터치 제어 기술을 스마트 단말기에 응용하면, 사용자는 손 동작만으로 단말기의 동작을 실현할 수 있으므로, 기존의 기계식 버튼에서 벗어나, 인간-기계 인터페이스의 상호 작용을 더욱 직접적으로 이루어지게 된다.

그러나, 터치 제어 기술의 발전에 따라, 커패시턴스 터치 제어를 예로 들면, 단순한 손가락 터치 제어는 더이상 사용자의 더욱 많은 차원의 입력 수요를 만족시키지 못하기에, 커패시턴스 터치 제어 스크린에 압력 검출 기술(Force Touch)을 추가하여 입력 차원을 증가함으로써, 터치 스크린이 손가락 압력 정보를 감지하고, 경압 및 중압의 힘을 감지하며, 상이한 해당 기능을 조절하여, 더욱 양호한 사용자 경험을 제공한다. 예를 들면, 터치 스크린의 압력 검출 기술에서, 일반적으로 센서를 통해 유효 접지 커패시턴스 변화를 검출하고, 디스플레이 기기와 결부하여 터치 제어 디스플레이를 실현한다.

선행기술의 한가지 경우에서, 장치의 미들 프레임 상표면에 일 층의 OCA 접착제를 설치하고, 상기 OCA 접착제 상표면에 압력 검출 전극을 설치하며, 손가락의 압력을 받을 시, 압력 검출 전극의 유효 접지 커패시턴스는 커지고, 구체적으로, 압력 검출 전극은 디스플레이 기기 중의 공통 기준 전극층(Vcom층)의 거리가 받는 손의 가압이 작아지는 것과 대응되기에, 유효 접지 커패시턴스가 커지는 것을 초래한다.

선행기술의 다른 한가지 경우에서, 디스플레이 기기 하표면에 OCA 접착제를 설치하고, 상기 OCA 접착제 하표면에 압력 검출 전극을 설치하며, 압력 검출 전극은 휴대폰 미들 프레임의 거리가 받는 손의 가압이 작아지는 것과 대응되게, 유효 접지 커패시턴스이 커지는 것을 초래한다. 유효 접지 커패시턴스의 변화크기를 검출하는 것을 통해 손가락 가압의 압력 기를 산출할 수 있다.

그러나, 기타 부하 접지 커패시턴스가 더 존재하고, 상기 부하 접지 커패시턴스는 압력 검출 전극과 미들 프레임 사이에 형성되며, 상기 부하 접지 커패시턴스는 유효 접지 커패시턴스의 검출에 대해 부정적인 영향을 조성하여 유효 접지 커패시턴스를 간섭한다. 또한, 디스플레이 기기의 존재는 유효 접지 커패시턴스를 간섭하기에, 상기 간섭들은 유효 접지 커패시턴스 검출의 감광도에 대해 부정적인 영향을 초래하고, 진일보로 압력 검출의 감광도를 감소시킨다.

상기 디스플레이 기기의 간섭을 해결하기 위하여, 선행기술 중 일 층의 차폐층을 증가하여 해결하고, 상기 차폐층은 디스플레이 기기와 압력 검출 전극 사이에 설치되지만, 일 층의 차폐층을 증가하면 비용의 증가 및 디스플레이 스크린 전체의 두꺼워지는 것을 초래한다. 상기 부하 접지 커패시턴스의 간섭에 대해 선행기술은 관련되는 기술적 해결 수단을 제공하지 못하였다.

본 발명의 실시예는 압력 검출 장치, 방법, 터치 제어 기기 및 전자 단말기를 제공하여, 적어도 선행기술이 존재하는 상기 문제를 해결하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 실시예의 목적을 실현하기 위하여, 본 발명은의 실시예는, 제1 검출 커패시턴스; 및 상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하되, 제1 검출 커패시턴스는 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 기준 검출 전극을 포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극을 동일한 면에 설치함으로써, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 상기 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하는, 압력 검출 장치를 제공한다.

본 발명의 실시예는, 압력 검출 전극을 포함하는 제1 검출 커패시턴스와 기준 검출 전극을 포함하는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극은 동일한 면에 설치되어 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하는 검출 단계; 및

압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하는 것을 통해 상기 압력의 세기를 결정하는 단계를 포함하는, 압력 검출 방법을 더 제공한다.

본 발명의 실시예는, 본 발명의 실시예 중 어느 한 항에 따른 압력 검출 장치를 포함하는, 터치 제어 기기를 더 제공한다.

본 발명의 실시예는, 본 발명의 실시예 중 어느 한 항에 따른 터치 제어 기기를 포함하는, 전자 단말기를 더 제공한다.

본 발명의 실시예에서, 제1 검출 커패시턴스는 상기 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 상기 기준 검출 전극포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극은 동일한 면에 설치되기에, 압력 검출의 간섭 신호를 동시에 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 커플링시켜, 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스가 포함하는 디스플레이 기기가 초래하는 간섭 신호와 같은 간섭 신호를 제거하고, 제품의 두께를 증가할 필요가 없는 전제하에 압력 검출의 감광도를 증가시켰다.

이와 동시에, 온도 변화가 일어날 시, 한편으로는, 기준 검출 전극과 압력 검출 전극이 동일한 면에 배치되기에, 서로간의 거리가 비교적 가깝고, 다른 한편으로는, 상기 온도 변화가 동시에 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 피드백되기에, 온도 변화가 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 대한 영향은 상당하기에, 차분 처리 시, 상기 영향은 서로 상쇄됨으로써, 온도 드리프트를 억제시킨다.

도1은 본 발명의 실시예1에 따른 압력 검출 장치의 평면 모식도이다.
도2는 본 발명의 실시예2에 따른 압력 검출 장치의 평면 모식도이다.
도3은 본 발명의 실시예3에 따른 압력 검출 장치의 평면 모식도이다.
도4는 본 발명의 실시예4에 따른 압력 검출 장치의 구조 모식도이다.
도5는 본 발명의 실시예5에 따른 압력 검출 장치의 구조 모식도이다.
도6은 본 발명의 실시예6에 따른 압력 검출 장치의 등가 회로 구조 모식도이다.
도7은 본 발명의 실시예7에 따른 압력 검출 장치의 구조 모식도이다.
도8은 본 발명의 실시예8에 따른 압력 검출 장치의 등가 회로 구조 모식도이다.
도9는 본 발명의 실시예9에 따른 차분 회로의 구조 모식도이다.
도10은 본 발명의 실시예10에 따른 압력 검출 방법의 흐름 모식도이다.

이하, 도면 및 실시예를 결부하여 본 발명의 실시형태를 상세하게 설명하여, 본 발명은 어떻게 기술수단을 사용하여 기술적 과제를 해결하고, 기술효과를 실현하는 지에 대한 과정을 충분히 이해시키며, 이에 따라 실시한다.

본 발명의 하기 실시예 중의 주요 사상은, 압력 검출 장치는 제1 검출 커패시턴스; 및 상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하되, 제1 검출 커패시턴스는 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 기준 검출 전극을 포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극을 동일한 면에 설치함으로써, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 상기 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하는 것이다.

본 발명의 하기 실시예는, 디스플레이 기기에 의해 발생되는 간섭을 예로 들어 본 발명의 기술적 해결수단을 해석하지만, 설명해야 할 것은, 기타 간섭원이 더 있을 수 있고, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다.

본 발명의 하기 실시예에서, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극이 동일한 면에 설치되기에, 압력 검출의 간섭 신호는 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 동시에 커플링되고, 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리함으로써, 디스플레이 기기에 의해 초래되는 간섭 신호와 같은 여기서 포함하는 간섭 신호를 제거하고, 제품의 두께를 증가할 필요가 없는 전제하에 압력 검출의 감광도를 증가한다.

이와 동시에, 온도 변화가 일어날 시, 한편으로는, 기준 검출 전극과 압력 검출 전극이 동일한 면에 배치되기에, 서로간의 거리가 비교적 가깝고, 다른 한편으로는, 상기 온도 변화가 동시에 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 피드백되고, 온도 변화가 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 대한 영향은 상당하기에, 차분 처리 시, 상기 영향은 서로 상쇄됨으로써, 온도 드리프트를 억제한다.

예를 들면, Cx는 제1 검출 커패시턴스를 표시하고, Cref는 제2 검출 커패시턴스를 표시하며, 온도가 T1이라고 가설할 시, Cx-Cref=ΔC이고; 온도가 T2로 변화할 시, Cx와 Cref는 모두 변화하며, 각각 Cx+ΔCx와 Cref+ΔCref이며, 또한, Cx와 Cref의 전극은 아주 근접하기에 ΔCx

ΔCref이고, 따라서, Cx+ΔCx-(Cref+ΔCref)=Cx+ -Cref+(ΔCx-ΔCref)

ΔC이므로, 온도 드리프트에 대해 매우 강한 억제 기능이 있다.

도1은 본 발명의 실시예1의 압력 검출 장치의 평면 모식도이다. 도1에서 도시된 바와 같이, 기준 검출 전극(101)과 압력 검출 전극(102)은 동일한 면에 위치하고, 복수개의 압력 검출 전극은 하나의 압력 검출 전극 어레이를 형성하며, 기준 검출 전극은 압력 검출 전극 어레이의 주위에 설치된다. 본 실시예에서, 기준 검출 전극(101)의 갯수는 1개이고, 대응되게 9개의 압력 검출 전극(102)이 있으며, 상기 기준 검출 전극(101)은 직사각형 형상의 환형 전극이고, 9개의 압력 검출 전극(102)을 둘러싸는 압력 검출 전극 어레이이다.

도2는 본 발명의 실시예2의 압력 검출 장치의 평면 모식도이다. 상기 실시예1과 상이한 것은, 기준 검출 전극(101)은 직사각형 전극이고, 9개의 압력 검출 전극(102)에 의해 형성되는 압력 검출 전극 어레이의 우측 상단에 위치한다.

도3은 본 발명의 실시예3의 압력 검출 장치의 평면 모식도이다. 상기 실시예1과 상이한 것은, 기준 검출 전극(101)은 스트립 전극이고, 9개의 압력 검출 전극(102)에 의해 형성되는 압력 검출 전극 어레이의 상단에 위치한다.

상기 도1 내지 도3의 실시예는 단지 예시적으로 하나의 기준 검출 전극이 복수개의 압력 검출 전극에 대응되는 것을 설명하나, 복수개의 기준 검출 전극으로 압력 검출 전극에 대응될 수도 있다.

기준 검출 전극의 형상과 설치 위치는 상기 도1 내지 도3의 특정된 정황에 한정되지 않고, 기타 정황이 있을 수도 있다. 예를 들면, 기준 검출 전극의 형상은 직사각형 , 원형, 제형, 스트립형 또는 임의의 규칙 또는 불 규칙적인 도형일 수 있다. 예를 들면, 차분 검출하는 경우를 고려하여, 기준 검출 전극이 압력 검출 전극에 대한 영향을 최소로 감소하고, 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크게 하며, 예를 들어, 기준 검출 전극의 면적을 압력 검출 전극의 면적보다 약간 작게 설계하는 것을 통해 실현한다.

기준 검출 전극의 설치 위치는 도1 내지 도3의 실시예와 같이 압력 검출 전극 어레이의 주위에 설치할 수 있고, 기타 실시예에서, 어느 한 모퉁이 위치, 어느 한 가장자리 위치, 복수개의 모퉁이 위치, 복수개의 가장자리 위치에 설치할 수도 있다. 주위에 설치할 경우, 압력 검출 장치가 힘을 받아 변형될 시, 기준 검출 전극에 의해 형성되는 제2 검출 커패시턴스의 변형은 상대적으로 비교적 작기에, 기준 검출 전극과 압력 검출 전극의 면적은 동일할 수 있다.

이 밖에, 기준 검출 전극은 압력 검출 전극 어레이의 중간에 설치할 수도 있고, 예를 들면, 복수개의 압력 검출 전극에 관통 설치하며, 예를 들면, 도1 내지 도3의 실시예에서 제1열 압력 검출 전극(102)과 제2열 압력 검출 전극(102) 사이에 하나의 기준 검출 전극을 설치하고, 제2열 압력 검출 전극(102)과 제3열 압력 검출 전극(102) 사이에 다른 하나의 검출 전극을 설치하며, 이때, 바람직하게는, 하나의 기준 검출 전극의 면적은 하나의 압력 검출 전극의 면적보다 작기에 기준 검출 전극이 압력 검출 전극에 대한 영향을 최소화한다.

상기 도1 내지 도3의 기준 검출 전극과 압력 검출 전극의 평면 배치 모식도는 자기 커패시턴스 검출에 적용할 수 있고, 상호 커패시턴스 검출에 적용할 수도 있다.

도4는 본 발명의 실시예4의 압력 검출 장치의 구조 모식도이다. 도4에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 자기 커패시턴스 검출을 예로 들며, 압력 검출 전극(102)은 각각 제1 전기 전도면(103) 및 제2 전기 전도면(104)과 커플링되고, 각각 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)를 형성하며, 제1 검출 커패시턴스는 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)를 포함하고, 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)는 직렬 연결되며; 기준 검출 전극(101)은 각각 제1 전기 전도면(103) 및 제2 전기 전도면(104)과 커플링되고, 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)를 형성하며, 제2 검출 커패시턴스는 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)를 포함하고, 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)는 직렬 연결된다.

본 실시예에서, 제1 전기 전도면(103)은 공통 기준 전극이고, 공통 기준 전극은 디스플레이 기기(109)와 압력 검출 전극(102)의 공용이며, 자기 커패시턴스 검출이기에, 압력 검출 전극(102)은 펌핑 신호TX를 수신하여야 한다. 제2 전기 전도면(104)은 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 미들 프레임이다.

본 실시예에서, 전도성 미들 프레임(104) 내측에는 OCA접착제(111)가 설치되어 있고, OCA접착제(111)의 상표면에는 압력 검출 전극(102)이 접착되어 있다. 상기 압력 검출 장치가 설치되어 있는 단말기는 상기 디스플레이 기기(109)를 포함하고, 상기 디스플레이 기기(109)와 압력 검출 전극(102) 사이에 간극(110)이 형성되며, 커버 플레이트(113)가 압력을 받을 시, 상기 간극(110)의 크기는 압력 변화에 따라 변화하고, 나아가 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값의 변화를 발생한다.

설명해야 하는 것은, 기타 실시예에서, 제2 전기 전도면(104)은 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 백케이싱일 수도 있고, 여기서 더 반복하여 도면을 설명하지 않는다.

기타 실시예에서, 상기 제1 전기 전도면은 공통 기준 전극이고, 제2 전기 전도면은 상기 압력 검출 장치, 단말기의 전도성 구조로부터 선택할 수 있으며, 또는, 제2 전기 전도면은 상기 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 백케이싱 또는 전도성 미들 프레임이고, 상기 제1 전기 전도면은 압력 검출 장치, 단말기의 전도성 구조로부터 선택할 수 있다.

도5는 본 발명의 실시예5의 압력 검출 장치의 구조 모식도이다. 도5에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 여전히 자기 커패시턴스 검출을 예로 들어 설명한다.

상기 실시예와 상이한 것은, 제1 전기 전도면(103)은 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 미들 프레임이고, 제2 전기 전도면(104)는 공통 기준 전극이다. 즉 본 실시예에서, 압력 검출 전극(102)은 각각 제1 전기 전도면(103)인 전도성 미들 프레임과 제2 전기 전도면(104)인 공통 기준 전극과 커플링되고, 각각 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)를 형성하며, 제1 검출 커패시턴스는 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)를 포함하고, 제1 유효 검출 커패시턴스(105)와 제1 부하 검출 커패시턴스(106)는 직렬 연결되며; 기준 검출 전극(101)은 각각 제1 전기 전도면(103)인 전도성 미들 프레임과 제2 전기 전도면(104)인 공통 기준 전극과 커플링되고, 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)를 형성하며, 제2 검출 커패시턴스는 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)를 포함하고, 제2 유효 검출 커패시턴스(107)와 제2 부하 검출 커패시턴스(108)는 직렬 연결된다.

본 실시예에서, 디스플레이 기기(109)의 하표면에는 OCA 접착제(111)가 설치되어 있고, OCA 접착제(111)의 하표면에는 압력 검출 전극(102)이 접착되어 있으며, 압력 검출 전극(102)과 전도성 미들 프레임 사이에 간극(110)을 형성하고, 커버 플레이트(113)가 압력을 받을 시, 상기 간극(110)의 크기는 압력의 변화에 따라 변화하며, 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값 변화를 발생한다.

설명해야 하는 것은, 기타 실시예에서, 제1 전기 전도면(103)은 압력 검출 장치의 단말기의 전도성 백케이싱일 수도 있고, 여기서 더 반복하여 도면을 설명하지 않는다.

도6은 본 발명의 실시예6의 압력 검출 장치의 등가 회로 구조 모식도이다. 도6에 도시된 바와 같이, 제1 검출 커패시턴스(100)는 차분 회로의 순방향 입력단(Vin+)과 연결되고, 제2 검출 커패시턴스(200)는 차분 회로의 역방향 입력단(Vin-)과 연결되며, 상기 차분 회로는 완전 차분 증폭기로 실현할 수 있고, 양방향 싱글 엔드 증폭기로 실현할 수도 있으며, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다. 바람직하게는 완전 차분 증폭기는 비교적 양호하게 공통모드 잡음을 억제할 수 있다.

본 실시예에서, 디스플레이 기기(109)와 제1 전기 전도면은 제1 커플링 커패시턴스(100A)를 형성하고, 디스플레이 기기와 제2 전기 전도면은 제2 커플링 커패시턴스(200A)를 형성하며, 압력 검출 시, 제1 커플링 커패시턴스(100A)와 제2 커플링 커패시턴스(200A)의 커패시턴스 값은 동일하고, 제1 커플링 커패시턴스(100A)와 제1 검출 커패시턴스(100)는 직렬 연결되며, 제2 커플링 커패시턴스(200)와 제2 검출 커패시턴스(200A)는 직렬 연결되어, 압력 검출에 대한 간섭 신호를 동시에 제1 검출 커패시턴스(100)와 제2 검출 커패시턴스(200)에 커플링한다. 제1 커플링 커패시턴스(100A)와 제2 커플링 커패시턴스(200A)를 통해 동시에 디스플레이 기기의 간섭 전압(Vn)의 간섭을 커플링하는 것은, 제1 커플링 커패시턴스(100A)와 제2 커플링 커패시턴스(200A)의 커패시턴스 값이 동일하기에, 후속의 차분 처리 시 상기 간섭은 제거된다.

본 실시예에서, 상기 제1 검출 커패시턴스(100)에는 제1 조절 커패시턴스(100C)가 전기적으로 연결되어 있고, 상기 제2 검출 커패시턴스(200)에는 제2 조절 커패시턴스(200C)가 전기적으로 연결되어 있으며, 상기 제1 조절 커패시턴스(100C), 상기 제2 조절 커패시턴스(200C)에 대한 조절에 의해, 상기 제1 검출 커패시턴스(100)와 상기 제2 검출 커패시턴스(200)가 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 상기 제2 검출 커패시턴스를 조절하는 커패시턴스 값의 크기 매칭 관계를 조절하고, 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값이 상기 제2 검출 커패시턴스보다 크거나, 같거나 작은 커패시턴스 값을 포함한다. 기타 실시예에서, 동시에 상기 제1 조절 커패시턴스(100C), 상기 제2 조절 커패시턴스(200C)가 배치되어 있지 않고, 그 중의 하나를 선택하여 배치할 수도 있다.

구체적으로, 설계상에서, 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 약간 크게 설계하고, 손가락 가압으로 인해 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값이 커지는 경우, 회로는 하나의 정의 전압 출력을 얻고, 압력 계산 유닛은 정의 전압 크기에 의해 압력의 세기를 산출하여, 압력 감응을 실현한다. 동시에, 제1 조절 커패시턴스(100C) 및/또는 제2 조절 커패시턴스(200C)를 통해, 압력이 없을 경우, 차분 회로의 출력을 0으로 한다. 예를 들면, 제1 조절 커패시턴스(100C)를 단독적으로 조절하고, 및/또는, 장착 오차가 존재하는 것을 고려하여, 제2 조절 커패시턴스(200C)를 동시에 조절하여, 압력이 없을 경우, 차분 회로의 출력을 0으로 한다.

본 실시예에서, 선택 가능하게는, 상기 제1 검출 커패시턴스(100)와 제1 스위치 회로(100B)는 전기적으로 연결되고, 및/또는, 제2 검출 커패시턴스(200)와 제2 스위치 회로(200B)는 전기적으로 연결되며, 압력 검출 시, 제1 스위치 회로(100B)를 통해 상기 제1 검출 커패시턴스(100)에 대해 충전/방전 처리하고, 제2 스위치 회로(200B)를 통해 각각 제2 검출 커패시턴스(200)에 대해 충전/방전 처리한다.

본 실시예에서, 선택 가능하게는, 상기 순방향단은 제3 스위치 회로(100D)를 전기적으로 연결하고, 상기 역방향단은 제4 스위치 회로(200D)를 전기적으로 연결하며, 상기 제1 검출 커패시턴스는 상기 제3 스위치 회로(100D)를 통해 상기 순방향단과 전기적으로 연결하고, 상기 제2 검출 커패시턴스는 제4 스위치 회로(200D)를 통해 상기 역방향단과 전기적으로 연결된다.

제1 스위치 회로(100B), 제2 스위치 회로(200B)는 폐합하고, 제3 스위치 회로(100D), 제4 스위치 회로(200D)은 꺼지며, 상기 제1 검출 커패시턴스(100), 제2 검출 커패시턴스(200)를 Vtx까지 충전한다. 제1 스위치 회로(100B), 제2 스위치 회로(200B)는 꺼지며, 제3 스위치 회로(100D), 제4 스위치 회로(200D)는 폐합하며, 상기 제1 검출 커패시턴스(100), 제2 검출 커패시턴스(200)는 방전 상태에 진입하고, 이때, 설계 시 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크게 하기에, 압력이 존재하지 않을 경우, 제1 조절 커패시턴스(100C)와 제2 조절 커패시턴스(200C)를 조절하는 것을 통해, 차분 회로의 출력을 0으로 하고; 압력이 존재하여 압력 검출 시, 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값 변화는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값 변화보다 크기에, 차분 회로는 정의 전압을 출력하고, 압력 계산 유닛은 정의 전압 크기에 의해 압력의 세기를 산출하며, 압력 감응을 실현한다.

설명해야 하는 것은, 설계 시 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 작게 할 수도 있고, 및 제1 조절 커패시턴스 및/또는 제2 조절 커패시턴스의 조절을 통해, 압력 검출 시, 차분 회로가 출력하는 부의 전압에 의해 압력 세기를 산출하며, 여기서 더 반복하여 도면을 설명하지 않는다.

설명해야 하는 것은, 기타 실시예에서, 상기 제1 스위치 회로(100B), 제2 스위치 회로(200B), 제1 조절 커패시턴스(100C), 제2 조절 커패시턴스(200C)는 반드시 압력 검출 장치에 포함되는 구조일 필요가 없고, 독립적인 압력 검출 장치일 수도 있으며, 압력 검출 장치에 포함되지 않을 수 있다. 기타 실시예에서, 동시에 제1 스위치 회로(100B), 제2 스위치 회로(200B), 제1 조절 커패시턴스(100C), 제2 조절 커패시턴스(200C)가 배치되어 있지 않고, 실제 요구에 의해 그 중의 하나를 선택하여 배치할 수도 있다.

도7은 본 발명의 실시예7의 압력 검출 장치의 구조 모식도이다. 도7에 도시된 바와 같이, 본 실시예는 상호 커패시턴스 검출을 예로 들어 설명하고, 압력 검출 장치는 압력 구동 전극(112)을 더 포함한다.

본 실시예에서, 압력 검출 전극(102)과 압력 구동 전극(112)은 커플링되고, 제1 유효 상호 커패시턴스를 형성하며, 제1 유효 상호 커패시턴스는 제1 검출 커패시턴스(100)로서 작용하고; 기준 검출 전극(101)과 압력 구동 전극(112)은 커플링되며, 제2 유효 상호 커패시턴스를 형성하고, 제2 유효 상호 커패시턴스는 제2 검출 커패시턴스(200)로서 작용한다.

상기 실시예와 상이한 것은, 디스플레이 기기(109) 하표면에 한 층의 압력 구동 전극(112)을 설치하고, 상기 압력 구동 전극(112)과 압력 검출 전극(102) 사이에 간극(110)을 형성한다.

설명해야 하는 것은, 상기 압력 검출 전극과 압력 구동 전극의 설치 위치는 교체할 수 있고, 대응되게, 압력 검출 전극과 기준 검출 전극이 동일한 면에 설치되는 것만 보장하면 되는데, 여기서 더 반복하여 도면을 설명하지 않는다.

이밖에, 본 실시예에서, 2층 전극 즉 압력 구동 전극과 압력 검출 전극을 예로 들어 설명하고, 본 발명의 해결수단을 복수층 전극에 응용할 시, 압력 검출 전극과 기준 검출 전극이 동일한 면에 설치되는 것만 보장하면 되는데, 여기서 더 반복하여 도면을 설명하지 않는다.

도8은 본 발명의 실시예8의 압력 검출 장치의 등가 회로 구조 모식도이다. 도8에 도시된 바와 같이, 상기 도6에 도시된 실시예와 상이한 것은, 본 실시예에서 도7의 정황에 한하여, 제1 조절 커패시턴스(100C)와 제2 커패시턴스(200C)를 제1 검출 커패시턴스(100)와 제2 검출 커패시턴스(200)의 양단에 직접적으로 가교 결합하도록 조절할 수 있고, 제1 검출 커패시턴스(100)와 제2 검출 커패시턴스(200)는 각각 상호 커패시턴스이고 자기 커패시턴스이 아니며, 제1 커플링 커패시턴스(100A), 제2 커플링 커패시턴스(200A)는 각각 제1 검출 커패시턴스(100), 제2 검출 커패시턴스(200A)에 커플링되고, 차분 회로 입력단의 일측에 근접한다.

도9는 본 발명의 실시예9의 차분 회로의 구조 모식도이다. 도9에 도시된 바와 같이, 커패시턴스 차이 값으로부터 전압 차이 값의 변환을 실현하기 위한 TIA 회로; 전압 차이 값 신호 중의 간섭을 여과하고, 회로의 간섭 방지 능력을 증가하기 위한 로우 패스 필터 회로인 LPF; 비교적 작은 전압 차이 값 신호를 더욱 큰 전압 차이 값 신호로 적분하여 SNR을 향상시키기 위한 INT 회로; 및 전압 차이 값 신호의 디지털 양자화를 실현하여, 압력 계산 모듈이 전압 차이 값 디지털 신호에 기반하여 압력 산출을 편리하게 하기 위한 ADC 회로를 포함할 수 있다.

도10은 본 발명의 실시예10의 압력 검출 방법 흐름 모식도이다. 도10에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 압력 검출 전극과 기준 검출 전극이 동일한 면에 설치되고, 압력 검출에 대한 간섭 신호는 동시에 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 커플링되며, 구체적으로, 예를 들면, 디스플레이 기기와 제1 전기 전도면은 제1 커플링 커패시턴스를 형성하고, 디스플레이 기기와 제2 전기 전도면은 제2 커플링 커패시턴스를 형성하며, 제1 커플링 커패시턴스와 제1 검출 커패시턴스는 직렬 연결되고, 제2 커플링 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스는 직렬 연결되며, 압력 검출 시 제1 커플링 커패시턴스와 제2 커플링 커패시턴스의 커패시턴스 값은 동일하여, 압력 검출의 간섭 신호가 동시에 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 커플링되도록 한다. 자기 커패시턴스 검출에 있어서, 본 실시예에서, 제1 전기 전도면, 제2 전기 전도면의 설치는 상기 도4 또는 도5에 도시된 실시예를 참조할 수 있고, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다. 상호 커패시턴스 검출에 있어서, 제1 전기 전도면, 제2 전기 전도면의 설치는 도7에서 도시된 실시예를 참조할 수 있으며, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다.

본 실시예에서 검출 방법은 구체적으로 하기의 단계를 포함한다.

S1001: 압력 검출 전극을 포함하는 제1 검출 커패시턴스와 기준 검출 전극을 포함하는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극은 동일한 면에 설치되어 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 한다.

본 실시예에서, 자기 커패시턴스 검출에 있어서, 본 단계S1001는 하기의 단계를 포함할 수 있다.

S1011A: 압력 검출 전극이 각각 제1 전기 전도면 및 제2 전기 전도면과 커플링되어 형성된 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 제1 검출 커패시턴스는 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스를 포함한다.

본 실시예에서, 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결된다.

S1021A: 기준 검출 전극이 각각 제1 전기 전도면 및 제2 전기 전도면과 커플링되어 형성된 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 제2 검출 커패시턴스는 상기 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스를 포함한다.

본 실시예에서, 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결된다.

상호 커패시턴스 검출에 있어서, 단계S1001은 하기의 단계를 포함할 수 있다.

S1011B: 압력 검출 전극과 압력 구동 전극이 커플링되어 형성된 제1 유효 상호 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 제1 유효 상호 커패시턴스는 제1 검출 커패시턴스로서 작용한다.

S1021B: 기준 검출 전극과 압력 구동 전극이 커플링되어 형성된 제2 유효 상호 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 제2 유효 상호 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스로서 작용한다.

S1002: 압력 검출 시 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 상기 간섭 신호를 제거함으로써 압력의 세기를 결정한다.

본 실시예에서, 단계S1002는 구체적으로 상기 제1 검출 커패시턴스를 통해 차분 회로의 순방향단과 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검출 커패시턴스를 통해 차분 회로의 역방향단과 전기적으로 연결되어, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리한다. 구체적으로, 예를 들면 상기 제1 검출 커패시턴스는 제3 스위치 회로를 통해 상기 순방향단과 전기적으로 연결되고, 상기 순방향단은 상기 제3 스위치 회로를 전기적으로 연결하며, 상기 제2 검출 커패시턴스는 제4 스위치 회로를 통해 상기 역방향단과 전기적으로 연결되고, 상기 역방향단은 상기 제4 스위치 회로를 전기적으로 연결하여, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리한다.

차분 처리 시, N개의 기준 검출 전극, M개의 압력 검출 전극이 있고, N과 M은 모두 0의 정수보다 크면,

(1) N=1, M>1일 경우, 복수개의 압력 검출 전극이 대응되는 제1 검출 커패시턴스는 일일이 상기 하나의 기준 검출 전극이 대응되는 제2 검출 커패시턴스와 차이 값을 계산한다.

(2)N=2, M>1일 경우, N개의 기준 검출 전극이 대응되는 제2 검출 커패시턴스와 M개의 압력 검출 전극 중 N개의 압력 검출 전극이 대응되는 제1 검출 커패시턴스를 차이 값 처리하여, M개의 압력 검출 전극이 대응되는 제1 검출 커패시턴스의 차이 값 처리를 완성한다.

(3)N=M일 경우, 즉 각 하나의 압력 검출 전극이 하나의 기준 검출 전극과 대응될 경우, M개의 압력 검출 전극이 대응되는 제1 검출 커패시턴스는 각각 N개의 압력 검출 커패시턴스와 1대1의 커패시턴스 차이 값 처리를 한다.

본 실시예에서, 압력 검출 시 스위치 회로를 통해 상기 제1 검출 커패시턴스 및/또는 제2 검출 커패시턴스에 대해 충전/방전 처리하고, 스위치 회로가 제1 검출 커패시턴스, 제2 검출 커패시턴스를 충/방전 처리하는 관련 설명은 도6에 도시된 실시예를 참조하고, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다.

다른 한 실시예에서, 단계1001 이전에, 상기 제1 검출 커패시턴스와 전기적으로 연결되는 제1 조절 커패시턴스를 통해, 및/또는, 상기 제2 검출 커패시턴스와 전기적으로 연결되는 제2 조절 커패시턴스를 통해, 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크거나, 같거나 작게 조절하는 것을 포함할 수 있다. 상기 커패시턴스 값의 크기 매칭 관계는 구체적으로 충/방전 처리 단계 이전에 할 수도 있다.

본 실시예에서, 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값 크기 설치 방법에 관련된 설명은 상기 도6에 도시된 실시예를 참조하고, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다.

본 실시예에서, 관련 방법의 구체적 실현은 상기 장치의 실시예를 참조하고, 여기서 더 반복하여 설명하지 않는다.

본 발명의 실시예는 상기 임의의 실시예의 압력 검출 장치의 터치 제어 기기를 사용하거나, 및 예를 들면, 스마트폰, 태블릿, 스마트 TV 등과 같은 상기 터치 제어 기기를 사용하는 전자 단말기를 더 제공한다.

설명해야 하는 것은, 상기 실시예에서, 동일한 면은 동일평면 내부일 수 있고, 동일 곡면 내부일 수도 있다.

본원 발명의 실시예에 의해 제공되는 장치는 컴퓨터 프로그램을 통해 실현할 수 있다. 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는, 상기 유닛 및 모듈 획분 방식은 단지 여러 획분 방식 중의 한가지이고, 기타 유닛 또는 모듈로 획분하거나 획분하지 않으면, 상기 기능이 있는 정보 대상은 응당 모두 본원 발명의 보호범위 내에 속해야 하는 것을 이해할 수 있다.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에 있어서, 본원 발명의 실시예는 방법, 장치(기기), 또는 컴퓨터 프로그램 제품으로 제공할 수 있는 것을 알 수 있다. 따라서, 본원 발명은 완전 하드웨어 실시예, 완전 소프트웨어 실시예, 또는 소프트웨어와 하드웨어를 커플링하는 실시예의 형식을 사용할 수 있다. 또한, 본원 발명은 하나 또는 복수의 컴퓨터 프로그램머블 코드를 포함하는 하나 또는 복수개의 컴퓨터 사용 가능한 저장 매체(자기 디스크 저장 장치, CD-ROM, 광 메모리 등을 포함하되 이에 한정되지 않는다.)에서 실시되는 컴퓨터 프로그램 제품의 형식을 사용할 수 있다.

본원 발명은 본원 발명 실시예의 방법, 장치(기기)와 컴퓨터 프로그램 제품에 의한 흐름도 및/또는 블록도를 참조하여 설명한 것이다. 컴퓨터 프로그램 인스트럭션으로 흐름도 및/또는 블록도 중의 각 흐름 및/또는 블록을 실현하거나, 및 흐름도 및/또는 블록도 중의 각 하나의 흐름 및/또는 블록의 커플링 커패시턴스을 할 수 있는 것을 이해하여야 한다. 이러한 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들을 통용 컴퓨터, 전용 컴퓨터, 임베디드 프로세서 또는 기타 프로그래머블 데이터 처리 장치에 제공하여 하나의 기계를 생산함으로써, 컴퓨터 또는 기타 프로그래머블 데이터 처리 장치가 수행하는 인스트럭션을 통해 흐름도의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 및/또는 블록도의 하나의 블록 또는 복수개의 블록에서 지정된 기능의 장치를 생산하도록 한다.

이러한 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그래머블 데이터 처리 장치를 가이드하여 특정 방식으로 작업하는 컴퓨터 판독 가능한 메모리에 저장함으로써, 상기 컴퓨터 판독 가능한 메모리 중의 인스트럭션이 인스트럭션 장치를 포함하는 제조품을 생산할 수 있도록 하고, 상기 인스트럭션 장치는 흐름도의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 및/또는 블록도의 하나의 블록 또는 복수개의 블록에서 지정된 기능을 실현한다.

이러한 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그래머블 데이터 처리 장치에 로드됨으로써, 컴퓨터 또는 기타 프로그래머블 데이터 처리 장치에서 일련의 동작 단계를 수행하도록 하여 컴퓨터가 실현하는 처리를 생산하여, 컴퓨터 또는 기타 프로그래머블 장치에서 집행하는 인스트럭션이 흐름도의 하나의 흐름 또는 복수개의 흐름 및/또는 블록도의 하나의 블록 또는 복수개의 블록에서 지정된 기능을 실현하기 위한 단계를 제공할 수 있다.

비록 이미 본 발명의 바람직한 실시예를 서술하였지만, 본 기술분야의 통상의 기술자는 기본적인 진보성 개념을 인지하고 있다면 이러한 실시예가 별도의 변경 및 보정을 진행할 수 있다는 것을 알고 있다. 그러므로, 첨부된 청구항은 구체적인 실시예 및 본 특허청구범위에 속하는 모든 변경 및 보정을 포함하는 것으로 해석하고자 한다. 당연히, 본 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않는 전제하에서 본 발명에 대해 여러가지 개선 및 변형을 진행할 수 있다. 이로써, 본 발명의 이러한 보정 및 변형이 본 특허청구범위 및 그 동등한 기술 범위에 속하면, 본 발명도 이러한 보정 및 변형을 이에 포함하려고 한다.

Claims (26)

1. 압력 검출 장치에 있어서, 상기 압력 검출 장치는 디스플레이 기기의 하표면에 설치되어 압력의 세기를 검출하고,
   적어도 하나의 압력 구동 전극;
   제1 검출 커패시턴스; 및
   상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분(differential) 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하되,
   제1 검출 커패시턴스는 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 기준 검출 전극을 포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극을 동일한 면에 설치함으로써, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 상기 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하고,
   하나의 상기 기준 검출 전극의 면적은 하나의 상기 압력 검출 전극의 면적보다 작으므로, 압력 검출시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값이 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크도록 하고,
   상기 압력 검출 장치는 제1 조절 커패시턴스와 제2 조절 커패시턴스 중의 하나를 더 포함하고, 상기 제1 조절 커패시턴스는 상기 제1 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하고, 상기 제2 조절 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하는 것을 특징으로 하는 압력 검출 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 압력 검출 전극은 각각 제1 전기 전도면 및 제2 전기 전도면과 커플링되어 각각 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스를 형성하며, 상기 제1 검출 커패시턴스는 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스를 포함하고, 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결되며, 상기 기준 검출 전극은 각각 상기 제1 전기 전도면 및 상기 제2 전기 전도면과 커플링되어 각각 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스를 형성하며, 상기 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결되고, 상기 제2 검출 커패시턴스는 상기 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
3. 제2항에 있어서, 상기 제1 전기 전도면은 공통 기준 전극이고, 및/또는, 제2 전기 전도면은 상기 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 백케이싱 또는 전도성 미들 프레임이거나, 또는
   상기 제1 전기 전도면은 상기 압력 검출 장치를 포함하는 단말기의 전도성 백케이싱 또는 전도성 미들 프레임이고, 및/또는, 상기 제2 전기 전도면은 공통 기준 전극인 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
4. 제2항에 있어서, 상기 제1 전기 전도면과 상기 압력 검출 장치의 단말기에 포함된 디스플레이 기기는 제1 커플링 커패시턴스를 형성하며, 상기 디스플레이 기기와 상기 제2 전기 전도면은 제2 커플링 커패시턴스를 형성하고, 압력 검출 시, 제1 커플링 커패시턴스와 제2 커플링 커패시턴스의 커패시턴스 값은 동일하며,
   상기 제1 커플링 커패시턴스와 상기 제1 검출 커패시턴스는 직렬 연결되고, 제2 커플링 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스는 직렬 연결되어 압력 검출에 대한 간섭 신호를 동시에 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 커플링되도록 하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
5. 제1항에 있어서, 압력 구동 전극을 더 포함하되, 상기 압력 검출 전극과 상기 압력 구동 전극은 커플링되어 제1 유효 상호 커패시턴스를 형성하고, 상기 제1 유효 상호 커패시턴스는 상기 제1 검출 커패시턴스로서 작용하며,
   상기 기준 검출 전극과 상기 압력 구동 전극은 커플링되어 제2 유효 상호 커패시턴스를 형성하고, 상기 제2 유효 상호 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스로서 작용하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
6. 제1항에 있어서, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제1 스위치 회로는 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제1 스위치 회로를 통해 상기 제1 검출 커패시턴스에 대해 충전/방전 처리하고, 및/또는,
   제2 검출 커패시턴스와 제2 스위치 회로는 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제2 스위치 회로를 통해 상기 제2 검출 커패시턴스에 대해 충전/방전 처리하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
7. 삭제
8. 삭제
9. 제1항에 있어서, 차분 회로(differential circuit)를 포함하고, 상기 차분 회로는 순방향단과 역방향단을 구비하며, 상기 제1 검출 커패시턴스와 상기 순방향단은 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검출 커패시턴스와 상기 역방향단은 전기적으로 연결되어, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 순방향단은 제3 스위치 회로를 전기적으로 연결하고, 상기 역방향단은 제4 스위치 회로를 전기적으로 연결하며, 상기 제1 검출 커패시턴스는 상기 제3 스위치 회로를 통해 상기 순방향단과 전기적으로 연결하고, 상기 제2 검출 커패시턴스는 제4 스위치 회로를 통해 상기 역방향단과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 장치.
11. 압력 검출 장치에 의하여 압력을 검출하는 방법에 있어서, 상기 압력 검출 장치는 디스플레이 기기의 하표면에 설치되어 압력의 세기를 검출하고, 상기 압력 검출 장치는 적어도 하나의 압력 구동 전극; 제1 검출 커패시턴스; 및 상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분(differential) 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하고,
    하나의 기준 검출 전극의 면적은 하나의 상기 압력 검출 전극의 면적보다 작으므로, 압력 검출시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값이 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크도록 하고, 상기 압력 검출 장치는 제1 조절 커패시턴스와 제2 조절 커패시턴스 중의 하나를 더 포함하고, 상기 제1 조절 커패시턴스는 상기 제1 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하고, 상기 제2 조절 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하고,
    상기 압력 검출 방법은,
    압력 검출 전극을 포함하는 제1 검출 커패시턴스와 기준 검출 전극을 포함하는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극은 동일한 면에 설치되어 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하는 검출 단계; 및
    압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하는 것을 통해 상기 압력의 세기를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
12. 제11항에 있어서, 상기 압력 검출 전극을 포함하는 제1 검출 커패시턴스와 기준 검출 전극을 포함하는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하는 단계는,
    압력 검출 전극이 각각 제1 전기 전도면 및 제2 전기 전도면과 커플링되어 형성된 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 제1 검출 커패시턴스는 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스를 포함하며, 상기 제1 유효 검출 커패시턴스와 제1 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결되는 단계; 및
    기준 검출 전극이 각각 제1 전기 전도면 및 제2 전기 전도면과 커플링되어 형성된 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하고, 상기 제2 검출 커패시턴스는 상기 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스를 포함하며, 상기 제2 유효 검출 커패시턴스와 제2 부하 검출 커패시턴스는 직렬 연결되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
13. 제12항에 있어서, 상기 압력 검출 장치의 단말기에 포함된 디스플레이 기기와 상기 제1 전기 전도면은 제1 커플링 커패시턴스를 형성하며, 상기 디스플레이 기기와 상기 제2 전기 전도면은 제2 커플링 커패시턴스를 형성하고, 상기 제1 커플링 커패시턴스와 상기 제1 검출 커패시턴스는 직렬 연결되며, 제2 커플링 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스는 직렬 연결되고, 압력 검출 시 제1 커플링 커패시턴스와 제2 커플링 커패시턴스의 커패시턴스 값은 동일하여, 압력 검출에 대한 간섭 신호가 동시에 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 커플링되도록 하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
14. 제11항에 있어서, 압력 검출 전극을 포함하는 제1 검출 커패시턴스와 기준 검출 전극을 포함하는 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하는 단계는,
    제1 유효 상호 커패시턴스는 상기 제1 검출 커패시턴스로서 작용하고, 상기 압력 검출 전극과 압력 구동 전극이 커플링되어 형성된 제1 유효 상호 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하는 단계; 및
    제2 유효 상호 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스로서 작용하고, 상기 기준 검출 전극과 상기 압력 구동 전극이 커플링되어 형성된 제2 유효 상호 커패시턴스의 커패시턴스 값을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
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17. 제11항에 있어서, 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 상기 압력의 세기를 결정하는 단계는,
    상기 제1 검출 커패시턴스와 차분 회로의 순방향단이 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검출 커패시턴스와 차분 회로의 역방향단이 전기적으로 연결되는 것을 통해, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
18. 제17항에 있어서, 상기 제1 검출 커패시턴스와 차분 회로의 순방향단이 전기적으로 연결되고, 상기 제2 검출 커패시턴스와 차분 회로의 역방향단이 전기적으로 연결되는 것을 통해, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하는 단계는,
    상기 제1 검출 커패시턴스는 제3 스위치 회로를 통해 상기 순방향단과 전기적으로 연결되고, 상기 순방향단은 상기 제3 스위치 회로를 전기적으로 연결하며, 상기 제2 검출 커패시턴스는 제4 스위치 회로를 통해 상기 역방향단과 전기적으로 연결되고, 상기 역방향단은 상기 제4 스위치 회로를 전기적으로 연결하여, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 차분 처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 압력 검출 방법.
19. 압력 검출 장치를 포함하는 터치 제어 기기에 있어서,
    상기 압력 검출 장치는 디스플레이 기기의 하표면에 설치되어 압력의 세기를 검출하고,
    적어도 하나의 압력 구동 전극;
    제1 검출 커패시턴스; 및
    상기 제1 검출 커패시턴스와의 커패시턴스 값을 차분 처리하여 간섭 신호를 제거하기 위한 제2 검출 커패시턴스를 포함하되,
    제1 검출 커패시턴스는 압력 검출 전극을 포함하고, 제2 검출 커패시턴스는 기준 검출 전극을 포함하며, 상기 압력 검출 전극과 상기 기준 검출 전극을 동일한 면에 설치함으로써, 상기 제1 검출 커패시턴스와 제2 검출 커패시턴스에 압력 검출에 대해 간섭을 형성하는 상기 간섭 신호가 동시에 커플링되어 있도록 하고,
    하나의 상기 기준 검출 전극의 면적은 하나의 상기 압력 검출 전극의 면적보다 작으므로, 압력 검출시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값이 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값보다 크도록 하고,
    상기 압력 검출 장치는 제1 조절 커패시턴스와 제2 조절 커패시턴스 중의 하나를 더 포함하고, 상기 제1 조절 커패시턴스는 상기 제1 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제1 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하고, 상기 제2 조절 커패시턴스는 상기 제2 검출 커패시턴스에 전기적으로 연결되어 압력 검출 시 상기 제2 검출 커패시턴스의 커패시턴스 값을 조절하는 것을 특징으로 하는, 터치 제어 기기.
20. 제19항에 따른 터치 제어 기기를 포함하는 것을 특징으로 하는, 전자 단말기.
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