CN104142206B - 一种mems电容式压力传感器及其制作方法 - Google Patents

一种mems电容式压力传感器及其制作方法 Download PDF

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Abstract

一种MEMS电容式压力传感器,其通过将桥式电路中感应电容开孔处理制作成参考电容,因为感应电容和参考电容的结构几乎相同,故,两电容温度系数一致,该两电容受温度影响程度相同,而桥式电路之输出检测信号为一差分信号,故桥式电路所输出的检测信号不受温度参数的影响,该检测信号在桥式电路部分就实现了自动温度校正,具有上述结构的压力传感器无需设置温度补偿模块,便可精准测量外界气压,液压和水压等变化。该压力传感器无需温度补偿模块的同时,该压力传感器的感应电容与参考电容均叠加在集成的基础电路上层,压力传感器面积大幅缩小。

Description

一种MEMS电容式压力传感器及其制作方法
【技术领域】
本发明涉及微机电领域,特别涉及一种能够实现自动温度校正的电容式压力传感器,以及该传感器之制作方法。
【背景技术】
微机电系统(Microelectro Mechanical Systems,简称MEMS)是在微电子技术基础上发展起来的多学科交叉的前沿研究领域,是一种采用半导体工艺制造微型机电器件的技术。与传统机电器件相比,MEMS器件在耐高温、小体积、低功耗方面具有十分明显的优势。经过几十年的发展,已成为世界瞩目的重大科技领域之一,它涉及电子、机械、材料、物理学、化学、生物学、医学等多种学科与技术,具有广阔的应用前景。
压力传感器作为MEMS器件之一,相对于传统的机械传感器,其具有尺寸小,控制精度高等优点,故,该压力传感器被广泛地使用在各大电子领域,例如:轮胎压力监测压力传感器,发动机机油压力传感器,汽车刹车系统空气压力传感器等。
压力传感器是一种将压力信号转换为电信号的换能器。根据工作原理的不同分为压阻式压力传感器和电容式压力传感器。电容式压力传感器是利用电容敏感元件,将被测压力转换成与之成一定关系的电量输出的压力传感器,其原理为通过压力改变顶部电极和底部电极之间的电容,以此来测量压力。与压阻式压力传感器相比具有动态响应快,灵敏度高等优点,其分辨率较好的同时,具有低温漂移和适于批量生产的特点。然而,测压时,电容变化量较小,其特性曲线有较严重的非线性,且受温度变化的影响,因此,在环境温度变化较大时,除了需要进行非线性校正外,还需要进行温度补偿,因此,对于每一个电容,进行线性化校正与温度漂移补偿就变得非常重要。在现有的压力传感器均设置有温度补偿电路模块,从而减弱温度对压力传感器之检测精度的影响,如图1所示,现有压力传感器50包括一桥式电路51,基础电路52以及温度补偿模块53,基础电路52用于处理桥式电路51传输过来的检测数据,温度补偿模块53用于实现对检测数据的温度补偿。但这种设置温度补偿模块的方式不仅增加了传感器的体积,也提高了传感器的成本。
【发明内容】
为克服目前电容式压力传感器之温度补偿模块所带来的精度低,体积大,成本高以及现有电容式压力传感器的兼容性差等缺点,本发明提供一种能够实现自动温度校正,体积小,成本低,兼容性好的电容式压力传感器以及该压力传感器的制作方法。
本发明提供一种MEMS电容式压力传感器,该压力传感器包括一桥式电路与基础电路,桥式电路与基础电路相连接,该桥式电路包括感应电容和参考电容,感应电容感应外界环境之压力变化,参考电容感应的压力参数与外界环境之压力参数保持一致。
优选地,该参考电容包括一压力腔,该压力腔与外界连通。
优选地,该参考电容包括下极板,感应薄膜层及密封层,感应薄膜层位于下极板与密封层之间,且感应薄膜层与下极板之间包括一压力腔,该压力腔通过参考电容上设置的通孔与外界连通。
优选地,感应电容包括一压力腔,该压力腔与外界隔绝。
优选地,该压力传感器包括一衬底,该衬底内部集成了基础电路,基础电路之上集成了感应电容和参考电容,该感应电容与参考电容构成桥式电路。
优选地,该感应电容包括一下极板,一感应薄膜层,位于下极板与感应薄膜层之间的压力腔,以及覆盖于感应薄膜层上的密封层,该感应电容与参考电容的温度参数一致。
本发明还提供一种MEMS电容式压力传感器的制造方法,其包括步骤:
S1:提供一衬底;及
S2:在衬底之上制作感应电容与参考电容,该感应电容感应外界环境之压力变化,该参考电容感应的压力参数与外界环境之压力参数保持一致。
优选地,在步骤S2中,制作感应电容与参考电容的步骤包括:制作一感应电容压力腔和一参考电容压力腔,该感应电容压力腔为密闭空间,该参考电容压力腔与外界连通。
优选地,在步骤S2中,制作感应电容与参考电容的步骤包括:
S21:在衬底上放置至少二间隔设置的牺牲层;
S22:在二牺牲层上放置一感应薄膜层,感应薄膜层将二牺牲层密封;
S23:将感应薄膜层进行蚀刻,使感应薄膜层对应于二牺牲层处形成间隔排布的释放孔;
S24:通过释放孔将密封于感应薄膜层与衬底之间的二牺牲层腐蚀掉,该腐蚀方法为氧气等离子体灰化(O2Asher)或HF蒸汽(Vapor HF);
S25:使用二氧化硅,氮化硅,氮氧化硅,碳化硅以及碳氧化硅等材质中的一种或多种将感应薄膜层进行密封,形成一密封层,使衬底与感应薄膜层之间至少形成二压力腔,一压力腔对应于感应电容,一压力腔对应于参考电容。
优选地,步骤S2进一步包括:
S26:将对应于参考电容之密封层进行开孔,该孔贯穿密封层与感应薄膜层,使该压力腔与外界连通。
本发明通过将桥式电路中感应电容开孔处理制作成参考电容,参考电容的牺牲层腐蚀后所留下的空间与外界环境相通,其电容值大小不受外界环境压力参数的影响。感应电容感应外界气压,液压和水压等,并通过改变上极板与下极板之间的距离来改变自身的电容值,并形成检测信号。因为感应电容和参考电容的结构几乎相同,故,两电容温度系数一致,该两电容受温度影响程度相同,而桥式电路之输出检测信号为一差分信号,故桥式电路所输出的检测信号不受温度参数的影响,该检测信号在桥式电路部分就实现了自动温度校正,具有上述结构的压力传感器无需设置温度补偿模块,便可精准测量外界气压,液压和水压等变化。该压力传感器无需温度补偿模块的同时,该压力传感器的感应电容与参考电容均叠加在集成的基础电路上层,压力传感器面积大幅缩小。
【附图说明】
图1是现有技术电容式压力传感器之电路模块图。
图2是本发明电容式压力传感器之电路模块图。
图3是本发明电容式压力传感器结构示意图。
图4是本发明电容式压力传感器之剖视图。
图5是本发明电容式压力传感器之衬底结构示意图。
图6是本发明电容式压力传感器在衬底上制作开口的结构示意图。
图7是本发明电容式压力传感器设置牺牲层的结构示意图。
图8是本发明电容式压力传感器设置感应薄膜层的结构示意图。
图9是本发明电容式压力传感器之感应薄膜层处理结构示意图。
图10是本发明电容式压力传感器之释放孔的蚀刻处理结构示意图。
图11是本发明电容式压力传感器释放牺牲层的结构示意图。
图12是本发明电容式压力传感器之密封结构示意图。
图13是本发明电容式压力传感器之第一开孔制作结构示意图。
图14是本发明电容式压力传感器之第二开孔制作结构示意图。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的,技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施实例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图2,电容式压力传感器10包括一桥式电路16与一基础电路15,桥式电路16与基础电路15相连接,桥式电路16用于检测外部环境压力(气压,水压以及液压等)之变化,基础电路15用于处理桥式电路16所检测到的信号。该基础电路15包括一模/数转化模块17,一有限脉冲响应滤波模块18,一可编程只读存储模块19,一数/模转换模块20,一低通滤波模块21,一数据控制模块22,以及正负电源端子VDD和GND。电源端子VDD与GND为压力传感器10提供电源。桥式电路16检测外部环境压力之变化,并将所检测之信号依次通过模/数转化模块17、有限脉冲响应滤波模块18、可编程只读存储模块19、数/模转换模块20和低通滤波模块21后传输到Vout端,由Vout端将所检测并经过处理之信号输出至外部电路。数据控制模块22与可编程只读存储模块19连接的同时,接有一测试端口Test_in,供压力传感器10进行测试等操作。
该桥式电路16功能为检测外部环境压力(气压,水压以及液压等)之变化,该桥式电路16包括两组电容,一组为感应电容161,163,另一组为参考电容165,167,两感应电容161,163的结构参数相同,两参考电容165,167的结构参数相同。
模/数转化模块17作用为实现模拟-数字信号转换,桥式电路16对外界环境之检测信号为一模拟信号,传输至模/数转化模块17后,模/数转化模块17将该模拟信号转换数字信号并传递给有限脉冲响应滤波模块18。
有限脉冲响应滤波模块18作用为滤除干扰信号,同时,有限脉冲响应滤波模块18具有较为严格的线性相位特性,系统稳定,故信号经过有限脉冲响应滤波模块18后,可抑制模拟滤波器所无法克服的电压漂移,温度漂移和噪声等问题。
可编程只读存储模块19是一种存储记忆晶片,它允许可编程只读存储模块19编程器的硬件将数据写入设备中,使用者可根据设计需要写入相应的程序,但该种写入操作次数仅为一次。
数/模转换模块20是与模/数转化模块17相逆的一个信号处理过程,即将数字信号转换为模拟信号,数/模转换模块20把可编程只读存储模块19传输过来的数字信号转化成模拟信号后传输给低通滤波模块21。
低通滤波模块21对数/模转换模块20传输过来的模拟信号进行滤波处理,过滤掉不必要的信号成分,同时将过滤之后的信号输出Vout信号端,由Vout端将所检测并经过处理之信号输出至外部电路。
数据控制模块22用于对可编程只读存储模块19中数据进行记录,调整与校验,同时该模块与测试端口Test_in相连接,该测试接口Test_in供压力传感器进行测试等操作。
请参阅图3,压力传感器10包括一衬底11,该衬底11内部集成了基础电路15,该衬底11之上叠加有感应电容161,163以及参考电容165,167,该感应电容161,163和参考电容165,167构成桥式电路16,并与基础电路15电性连接。电容所构成的桥式电路16检测外部环境压力的变化,并将该检测信号传输给集成于衬底11的基础电路15。因为,感应电容161,163的结构参数相同,参考电容165,167的结构参数相同,以下均以感应电容161与参考电容165为例,对电容的具体结构以及电容的制作工艺进行说明。
请参阅图4,感应电容161和参考电容165基于一衬底11之上,该衬底11包括上极板连接通道111,下极板112,212以及下极板连接通道113,该上极板连接通道111,以及下极板连接通道113均内嵌于衬底11中,下极板112,212位于衬底11表面,下极板连接通道113与下极板112,212相连接。由于感应电容161和参考电容165结构对称且相近,故,以下先对感应电容161进行说明。
感应电容161位于衬底11之上,包括一感应薄膜层13,该感应薄膜层13上设置有释放孔131,该释放孔131贯穿感应薄膜层13,感应薄膜层13两端与上极板连接通道111相连接,且与衬底11之间存在一压力腔(未标号),该压力腔为牺牲层12通过感应薄膜层13上设置的释放孔131被腐蚀之后所留下的空间,该空间处于密闭状态。感应薄膜层13之上还设置有一密封层14,该密封层14与衬底11相配合将感应薄膜层13密封起来,仅通过密封层14上设置的第一通孔141将部分感应薄膜层13暴露于外界环境,该第一通孔141贯穿密封层14。
在如上所述结构中,感应薄膜层13与下极板112之间构成一感应电容161,感应薄膜层13相当于感应电容161之上极板,下极板112相当于感应电容161之下极板,上极板与下极板之间为一密闭的压力腔,其空气压强保持不变(理想情况下),该电容之大小由上下极板之间的距离以及制作该电容的材质决定,已制造的压力传感器之材质不可改变,故该感应电容161容值由感应薄膜层13与下极板112之间的距离所决定。该感应电容161通过感应薄膜层13暴露在外界环境的部分来感应外界环境所引起的气压,水压,液压等的变化,当外界环境中气压,水压,液压等存在一定变化时,感应薄膜层13与下极板112之间产生一定的微小位移,该微小位移将引起感应电容161的电容值产生一定变化,故,该感应电容161之电容值为一检测外界环境压力的检测信号。
参考电容165和感应电容161结构相近,在与其相对称的结构上再设置一第二通孔243即可形成一参考电容165,该第二通孔243贯穿密封层14与感应薄膜层23。感应薄膜层23相当于参考电容165之上极板,下极板212相当于参考电容165之下极板,上极板与下极板之间包括一压力腔(未标号),该压力腔通过第二通孔243与外界相连通,由于参考电容165两极板之间为一与外界环境相连通的空间,故,该电容的容值大小不受外界环境压力影响而保持不变。
感应电容161,163和参考电容165,167电性连接构成桥式电路16,该桥式电路16通过上极板连接通道111和下极板连接通道113与基础电路15相连接,因为感应电容161,163和参考电容165,167的结构几乎相同,故,两种电容温度系数一致,该两种电容受温度影响程度相同,而桥式电路16之输出检测信号为一差分信号,故桥式电路16所输出的检测信号不受温度参数的影响。该检测信号通过上极板连接通道111和下极板连接通道113后将信号传输给基础电路15,通过基础电路15对检测信号进行处理后形成最终的电信号从Vout端输出。
在电容式压力传感器10制作中,衬底11和密封层14为绝缘介质,该绝缘介质可以是二氧化硅,氮化硅,氮氧化硅,碳化硅以及碳氧化硅等材质中的一种或多种。上极板连接通道111,下极板112和下极板连接通道113均为导电材料,下极板112可选用多晶锗硅,多晶硅,非晶锗硅,非晶硅等导电的非金属,或者铝,钛、氮化钛、铜或钨等金属,以及上述导电非晶属和金属组合的复合薄膜。下极板连接通道113可为导电金属铝,铜或钨等。感应薄膜层13,23可选用多晶锗硅,多晶硅,非晶锗硅,非晶硅,或者导电的非金属和绝缘介质的复合薄膜等。第一通孔141和释放孔131之截面形状可为任意形状。此外,感应电容161,163和参考电容165,167个数也可为多个。
本发明还提供上述压力传感器10之制作方法,其步骤如下:
S1:请参阅图5,提供一衬底11,并对该衬底11进行平整处理。该衬底11包括上极板连接通道111,感应电容下极板112,参考电容下极板212以及下极板连接通道113,该上极板连接通道111,以及下极板连接通道113均内嵌于衬底11中,感应电容下极板112和参考电容下极板212位于衬底11表面,下极板连接通道113分别与感应电容下极板112,参考电容下极板212相连接。上极板连接通道111和下极板连接通道113与集成于衬底11底部的基础电路15相连接。
S2:请参阅图6,在步骤S1中提供的衬底11上制作至少四个开口115,通过机械加工或化学腐蚀等工艺在上极板连接通道111处制作开口115。
S3:请参阅图7,在衬底11上放置至少一对牺牲层12,该牺牲层12位于下极板112,212上方,其材料可为碳基材料,如光刻胶(Photoresist)、聚酰亚胺(Polymide)、非晶碳(Armorphous Carbon)等,也可以是二氧化硅材料。
S4:请参阅图8,在牺牲层12和衬底11上方放置一感应电容感应薄膜层13,以及参考电容薄膜层23,该感应电容感应薄膜层13,和参考电容薄膜层23将步骤S2中所设置的开口115填充平整,使上极板连接通道111与感应薄膜层13,23电性连接,牺牲层12被密封在衬底11与感应薄膜层13,23之间。
S5:请参阅图9,用机械加工或化学腐蚀工艺将感应薄膜层13,23的两端除去,以便于感应薄膜层13,23的密封。
S6:请参阅图10,将位于下极板112,212上方的感应薄膜层13,23进行蚀刻,使感应薄膜层13,23上形成间隔设置的释放孔131。
S7:请参阅图11,通过释放孔131将密封于感应薄膜层13,23与衬底11之间的牺牲层12腐蚀掉,形成一压力腔,当牺牲层材料为光刻胶(Photoresist)、聚酰亚胺(Polymide)、非晶碳(Armorphous Carbon)等,牺牲层腐蚀的方法优选为氧气等离子体灰化(O2Asher),当牺牲层材料为二氧化硅时,该腐蚀方法优选为HF蒸汽(Vapor HF)法。
S8:请参阅图12,使用二氧化硅,氮化硅,氮氧化硅,碳化硅以及碳氧化硅等材质中的一种或多种将感应薄膜层13,23进行密封,形成一密封层14。此时,牺牲层12被腐蚀所留下的空间也处于密闭状态。
S9:请参阅图13,对密封层14进行开孔处理,在密封层上设置第一通孔141,该第一通孔141贯穿密封层14。
上述步骤即完成了叠加在衬底11之上的感应电容161的制作,叠加在衬底11之上的参考电容163之制作步骤仅需在以上基础上再加一步骤S10:请参阅图14,在密封层14进行再次开孔,该孔为第二通孔243,其贯穿于密封层14与感应薄膜层23,第二通孔243使牺牲层12腐蚀后所留下的空间与外界相通。至此,在衬底11上形成了至少一感应电容161与一参考电容165.
感应电容163和参考电容167的制作工艺与上述感应电容161和参考电容165相同,且该感应电容161,163以及参考电容165,167的制作可以同时进行,也可逐一进行。
相对于现有技术,本发明通过将桥式电路16中感应电容161,163开孔处理制作成参考电容165,167,参考电容165,167的牺牲层12腐蚀后所留下的空间与外界环境相通,其电容值大小不受外界环境压力参数的影响。感应电容161,163感应外界气压,液压和水压等,并通过改变上极板与下极板之间的距离来改变自身的电容值,并形成检测信号。因为感应电容161,163和参考电容165,167的结构几乎相同,故,两电容温度系数一致,该两电容受温度影响程度相同,而桥式电路16之输出检测信号为一差分信号,故桥式电路16所输出的检测信号不受温度参数的影响,该检测信号在桥式电路16部分就实现了自动温度校正,具有上述结构的压力传感器无需设置温度补偿模块,便可精准测量外界气压,液压和水压等变化。该压力传感器无需温度补偿模块的同时,该压力传感器的感应电容161,163与参考电容165,167均叠加在集成的基础电路15上层,压力传感器10面积大幅缩小。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的原则之内所作的任何修改,等同替换和改进等均应包含本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种MEMS电容式压力传感器,该压力传感器包括一桥式电路与基础电路,桥式电路与基础电路相连接,其特征在于:该桥式电路包括感应电容和参考电容,感应电容感应外界环境之压力变化,参考电容感应的压力参数与外界环境之压力参数保持一致;
其中,该参考电容包括一压力腔,该参考电容的压力腔与外界连通;感应电容包括一压力腔,该感应电容的压力腔与外界隔绝。
2.如权利要求1所述的一种MEMS电容式压力传感器,其特征在于:该参考电容包括下极板,感应薄膜层及密封层,感应薄膜层位于下极板与密封层之间,且感应薄膜层与下极板之间包括一压力腔,该压力腔通过参考电容上设置的通孔与外界连通。
3.如权利要求1所述的一种MEMS电容式压力传感器,其特征在于:该压力传感器包括一衬底,该衬底内部集成了基础电路,基础电路之上集成了感应电容和参考电容,该感应电容与参考电容构成桥式电路。
4.如权利要求2所述的一种MEMS电容式压力传感器,其特征在于:该感应电容包括一下极板,一感应薄膜层,位于下极板与感应薄膜层之间的压力腔,以及覆盖于感应薄膜层上的密封层,该感应电容与参考电容的温度参数一致。
5.一种MEMS电容式压力传感器的制造方法,其特征在于:
S1:提供一衬底;及
S2:在衬底之上制作感应电容与参考电容,该感应电容感应外界环境之压力变化,该参考电容感应的压力参数与外界环境之压力参数保持一致。
6.如权利要求5所述的一种MEMS电容式压力传感器的制造方法,其特征在于:在步骤S2中,制作感应电容与参考电容的步骤包括:制作一感应电容压力腔和一参考电容压力腔,该感应电容压力腔为密闭空间,该参考电容压力腔与外界连通。
7.如权利要求5所述的一种MEMS电容式压力传感器的制造方法,其特征在于:在步骤S2中,制作感应电容与参考电容的步骤包括:
S21:在衬底上放置至少二间隔设置的牺牲层;
S22:在二牺牲层上放置一感应薄膜层,感应薄膜层将二牺牲层密封;
S23:将感应薄膜层进行蚀刻,使感应薄膜层对应于二牺牲层处形成间隔排布的释放孔;
S24:通过释放孔将密封于感应薄膜层与衬底之间的二牺牲层腐蚀掉,该腐蚀方法为氧气等离子体灰化或HF蒸汽;
S25:使用二氧化硅,氮化硅,氮氧化硅,碳化硅以及碳氧化硅等材质中的一种或多种将感应薄膜层进行密封,形成一密封层,使衬底与感应薄膜层之间至少形成二压力腔,一压力腔对应于感应电容,一压力腔对应于参考电容。
8.如权利要求5所述的一种MEMS电容式压力传感器的制造 方法,其特征在于:步骤S2进一步包括:
S26:将对应于参考电容之密封层进行开孔,该孔贯穿密封层与感应薄膜层,使该压力腔与外界连通。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI610406B (zh) * 2015-02-09 2018-01-01 精材科技股份有限公司 晶片封裝體與其製備方法
CN104848982B (zh) * 2015-05-29 2018-01-19 歌尔股份有限公司 准差分电容式mems压力传感器及其制造方法
CN105181186B (zh) * 2015-05-29 2017-10-03 歌尔股份有限公司 一种压力传感元件及其制造方法
CN105043603A (zh) * 2015-06-04 2015-11-11 东南大学 一种带自检测装置的电容式压力传感器及其制备方法
CN105092113A (zh) * 2015-09-11 2015-11-25 东南大学 一种微机电系统电容式压力传感器及其制备方法
CN106698328A (zh) * 2015-11-12 2017-05-24 上海丽恒光微电子科技有限公司 压力传感器及其制备方法
CN107949824B (zh) 2016-06-15 2021-07-20 深圳市汇顶科技股份有限公司 压力检测装置、方法、触控设备及电子终端
CN106092153B (zh) * 2016-07-28 2018-05-01 歌尔股份有限公司 一种环境传感器及其制造方法
CN108362408B (zh) * 2018-03-08 2021-07-02 苏州敏芯微电子技术股份有限公司 压力传感器及其制造方法
CN109300880A (zh) 2018-09-26 2019-02-01 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种传感器中电容结构的制备方法、传感器
CN112857628B (zh) * 2021-04-02 2022-05-17 厦门市敬微精密科技有限公司 一种mems电容式压力传感器芯片及其制造工艺
CN114669463B (zh) * 2021-04-24 2023-06-20 单保祥 包括柔性屈曲构件的换能器
CN114279626A (zh) * 2021-12-06 2022-04-05 北京晨晶精仪电子有限公司 一种基于薄膜电容器的气体真空度检测方法及系统
CN114199421A (zh) * 2021-12-13 2022-03-18 上汽大众汽车有限公司 一种差分电容式压力传感器及其用以精确测量管道流体压力的方法
CN115594145B (zh) * 2022-12-13 2023-05-09 苏州敏芯微电子技术股份有限公司 电容式压力传感器及其制作方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4398426A (en) * 1981-07-02 1983-08-16 Kavlico Corporation Linear capacitive pressure transducer system
CN85108622A (zh) * 1984-10-12 1987-01-28 罗斯蒙德公司 用于脆性材料制成的电容传感器的电路
US5316619A (en) * 1993-02-05 1994-05-31 Ford Motor Company Capacitive surface micromachine absolute pressure sensor and method for processing
CN101360451A (zh) * 2005-12-23 2009-02-04 凯维力科公司 多功能稳定传感器电路

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4398426A (en) * 1981-07-02 1983-08-16 Kavlico Corporation Linear capacitive pressure transducer system
CN85108622A (zh) * 1984-10-12 1987-01-28 罗斯蒙德公司 用于脆性材料制成的电容传感器的电路
US5316619A (en) * 1993-02-05 1994-05-31 Ford Motor Company Capacitive surface micromachine absolute pressure sensor and method for processing
CN101360451A (zh) * 2005-12-23 2009-02-04 凯维力科公司 多功能稳定传感器电路

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