KR101951447B1 - 이중 안테나 모드를 구비하는 nfc 안테나의 인증 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 피시험 장치인 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법은, 상기 피시험 장치에서 테스트할 점을 결정하는 단계, 시험 장치가 설정한 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계, 상기 각 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정(preset)조건에 부합되는지 여부를 개별적으로 판단하는 단계, '예'인 경우, 상기 테스트할 점을 기준점으로 결정하는 단계, '아니오'인 경우, 새로운 테스트할 점을 결정하는 단계 및 상기 시험 장치가 설정한 상기 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계를 계속 수행하는 단계를 포함한다.

Description

이중 안테나 모드를 구비하는 NFC 안테나의 인증 테스트 방법{METHOD FOR AUTHENTICATION TEST FOR NFC ANTENNA HAVING DUAL ANTENNA MODE}

본 발명은 통신 분야에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 이중 안테나 모드를 구비하는 NFC 안테나의 인증 테스트 방법에 관한 것이다.

모바일 장치의 근거리 통신 기능의 발전에 따라, NFC 기능은 더 많은 휴대 장치에 설치되며, 더 나아가 NFC 안테나 설계에 대한 연구가 점점 더 주목 받고 있다. 전통적인 NFC안테나는 휴대폰에서 적용 시, 일반적으로 FPC코일(코일 NFC 방사체가 사각형 또는 원형 등이 될 수 있다)은 휴대폰의 금속기판 (PCB보드 혹은 배터리)의 상단에 위치하며, 동시에 금속기판이 NFC안테나에 미치는 부정적인 영향을 줄이기 위하여 FPC코일과 금속기판 사이에 페라이트 시트를 추가하고 있으며, 이러한 NFC안테나 설계 방안은 휴대 장치의 후면 케이스가 비금속 재질인 경우에 적합하다.

메탈 후면 케이스를 가진 휴대 장치에 관해서, 메탈 후면 케이스가 NFC안테나 차폐에 미치는 부정적인 영향의 극복을 위해 메탈 후면 케이스에 1개의 개구부를 만들어 놓고, 만들어진 개구부를 통해 슬릿 및 메탈 후면 케이스의 가장자리가 서로 전도되도록 함과 동시에 FPC코일이 개구된 주위를 감싸게 한다. 이때 FPC코일은 개구된 슬릿과 서로 교차하거나(공고번호 CN102405556B), 개구된 슬릿과 교차하지 않아도 무방하다(공고번호 CN105024162A). 이러한 3가지 NFC안테나 설계 방안은 공통적인 특징을 갖는바, NFC안테나는 단 하나의 모드만 가진다는 것이다.

한편, NFC기능을 보유한 휴대 장치의 출시 전에 일반적으로 NFC EMVCo, NFC Forum 및 선속량의 절대값 크기 측정 등과 같은 인증이 필요하다.

전기와 자기는 상호 전환될 수 있기 때문에, 정보 교환의 성공여부는 두 개의 코일간에 발생하는 전압 또는 전류로 묘사될 수 있고, 실제 인증 시스템 중 일부 항목은 측정되는 안테나에서 생성되는 전압 값, 전류 값 또는 상대 파형 등의 데이터 값으로 판단이 된다.

인증 시스템은 안테나를 측정하여 테스트 대상인 휴대 장치의 NFC안테나 성능을 측정하여 측정된 휴대폰의 NFC안테나가 인증표준에서 요구하는 요구 사항을 충족하는지 여부를 평가한다. 측정된 휴대 장치의 NFC안테나가 인증 시스템 범위 내에서 측정된 항목의 요구가 있을 시, 해당 휴대 장치가 서술된 인증 사항을 통과했다고 볼 수 있다.

특히, 상기 인증을 통과하기 위해, 측정된 NFC 안테나 및 측정 시스템에서 측정 안테나 코일의 상대 공간 위치가 정해진 요구사항을 만족하거나, 측정을 통해 획득된 NFC 안테나의 자속 절대값이 인증에서 요구되는 기준값을 만족해야 한다. 서술된 NFC안테나는 하나의 안테나 모드만 가지고 있기 때문에, 측정된 안테나와 측정 안테나 간의 상대 공간 위치는 매우 용이하게 확인 할 수 있다. 일반적으로 NFC안테나 코일의 중심 위치는 NFC 안테나의 기준점 위치로 선정하면 된다.

여기에서 중요한 것은 실제 측정 시스템 중에 측정된 NFC 안테나가 인증을 통과할 수 있는지 이며, 일반적으로 두 개의 코일 간에 생성되는 전압, 전류 또는 상대적인 파형 등의 데이터가 요구되는 기준 값을 만족하는지 판단하면 된다. 그러나 서로 다른 테스트 점에서 요구되는 기준값은 상이한바, 본 발명은 두 개의 코일 간에 통과된 자속의 크기를 사용하여 기준점 데이터를 선택할 것이다.

최근에 제안된 전체 메탈 후면 케이스의 NFC안테나는 메탈 후면 케이스의 두 개의 개구부를 포함한다. 1개의 슬릿을 사용하거나(개구부의 폭은 1mm정도로 좁힐 수 있고, 개구부의 크기와 비슷하거나 상동), 두 개의 개구부가 서로 도전 또는 연결(이 방안은 "두 개 개구부 - 슬릿"방안이라고 부를 수 있다)시킬 수 있으며, 이는 공고번호 CN102405556B의 특허 문서와 공개번호CN105024162A의 특허 문서에 개시된 슬릿이 메탈 후면 케이스의 주변부로 개방되어야 한다는 단점을 해결할 수 있다. "두 개 개구부 - 슬릿"의 방안 중, NFC안테나는 한 개 개구부만 감싸는 방식을 사용한다. 예를 들어 공고번호 CN104979625A와 CN204857966의 특허 문서에서 서술한 것과 같이, 약어로 0자형 NFC 안테나라고 한다. 또한 동시에 두 개의 개구부를 감싸는 방식 역시 적용할 수 있다. 예를 들어, 공고번호 CN105006654A의 특허 문서에서 서술 한 것과 같으며, 약어로 8자형 NFC 안테나라고 한다.

하지만 0자형이든 8자형 NFC안테나이든, 이런 종류의 "두 개 개구부 - 슬릿"의 NFC안테나는 모두 두 개의 안테나 모드를 지닌다. 게다가 이러한 두 개의 모드의 자기장 방향은 반대이거나, 한쪽의 위상 차이가 180° 난다.

도 1은 메탈 후면 케이스를 포함하는 휴대 장치의 NFC안테나는 0자형에서 NFC안테나 코일의 전류 및 메탈 후면 케이스의 와류 회로 분포도이며, 도 2는 메탈 후면 케이스 상단 20mm의 자기장 분포도 이다.

도 3은 메탈 후면 케이스를 포함하는 휴대 장치의 NFC 안테나가 8자형일 때, NFC안테나 코일상의 전류 및 메탈 후면 케이스의 와류 회로 분포도이다. 도 4는 메탈 후면 케이스 상단 20mm의 자기장 분포도이다. 도 1 내지 4에서 확인할 수 있듯이, 메탈 후면 케이스 상단 개구부 주변의 와류는 아래 개구부 주위을 흐르며, 와류의 방향은 반대이다. 이는 0자형이든 8자형 NFC 안테나이든 모두 자기장 방향이 반대되거나, 위상의 차이가 180°인 두 개의 모드를 가진다. 즉, O 자형 또는 8 자형 NFC 안테나는 두 안테나 모드의 반대 방향 또는 180 °의 위상 차이에서 자기장을 갖는다.

0자형과 8자형 NFC 안테나는 두 개의 안테나 모드(약어로 모드1과 모드2)이며, 이 특징은 도 2 및 도 4에서 더욱 명확하게 볼 수 있다. 모드1과 모드2의 자기장 분산 방향은 정반대이며, 모드 1과 모드 2의 교차점에 0점이 존재한다(0 자형 안테나의 모드 1 과 모드 2의 교차점은 0 자형 안테나와 슬릿의 교차점이며, 8자형 안테나의 모드 1과 모드 2이 교차점은 8자형 안테나의 교차점이다). 우리는 이곳을 NFC안테나의 자기장이 0인 점이라고 부른다. 이 두 개의 모드의 자기장의 분산 방향이 완전히 반대이기 때문에, EMVCo, Forum인증 측정 시, NFC안테나가 시험 장치의 참조 측정 코일과 충분한 또는 양호하게 커플링되어야 한다.

NFC 안테나의 성능을 보장하기 위해, EMVCo의 인증 시스템 중에서 여러 가지 테스트 점을 정의했다. 도 5와 같이, 측정 안테나 코일(3) 거리h=20mm와 측정 안테나 코일(3)의 평행 평면을 측정 영점 평면이라고 명명하는 경우, 측정 영점 평면에서 측정 안테나코일(3)의 중심점에 해당되는 점이 (측정 안테나 코일 중심점은 측정 0평면의 투사점, 즉 테스트 영점 평면 투사점) 원점이다. 도 중에 표시된 3D좌표 방향으로 측정 안테나 코일(3)이 도시 된 바와 같이, 3D 직각 좌표계를 설정되고, 총29개의 테스트 점은 동일한 테스트 평면의 상이한 위치 및 상이한 테스트 평면에 분포된다.

그 중, 측정 안테나 코일의 반지름 R=35mm, Z=0mm, 10mm, 40mm의 측정 평면의 반지름 r1=15mm의 원 1개, z=30mm의 측정 평면상의 반지름 r2=25mm의 원 1개, z=20mm의 측정 평면상에 r1=15mm와 r2=25mm의 원 2개가 있다. 특히, 세 개의 숫자 "a", "b", "c"를 사용하여 구체적인 측정 위치를 표시한다. 첫 번째 숫자"a"는 도 z축 방향거리를 표시하며, 0/1/2/3/4/값을 취한다. 대표 테스트 점을 구분하자면 Z＝0mm/10mm/20mm/30mm/40mm의 측정 평면 위에 위치한다. 두 번째 숫자 "b"는 원의 반지름을 표시하며 0/1/2의 값을 취한다. 대표 테스트 점을 구분하자면 반지름r＝0mm/15mm/25mm의 원 위에 위치한다. 세 번째 숫자 "c"는 x축 간의 각도를 표시하며, 0/3/6/9의 값을 취한다, 대표 테스트 점이 존재하는 축의 방향과 x축 방향의 각도는 0°/90°/180°/270°이다(반시계 방향을 정방향으로 한다).

예를 들어 테스트 점(3 2 9)는 이 테스트 점의 위치가 z=30mm의 측정 평면에 위치하는 것을 의미하며, 반지름 r=25mm의 원 위와 x축 정방향으로 270°의 교차점을 만든다.

어떤 특정 테스트 점에서 측정 요구가 통과할 수 있는지 여부는 측정된 NFC안테나와 원형 측정 코일 간의 결합 강도에 의해서 결정된다. 이 결합 강도 역시 측정된 NFC안테나의 자기장이 원형 측정 코일의 자속에 의해 설명 될 수 있다. 통과된 자속의 절대값이 클수록 커플링 강도가 강하며, 결합 강도가 필요한 임계값에 도달하기만 하면 측정 요구는 통과할 수 있다.

또한, 각 측정점에 요구하는 임계값이 서로 다르며, 테스트 점과 거리 측정 영점 평면이 가까울수록(z값이 작을수록) 임계값이 커진다.

동일한 측정 평면의 테스트 점은 원의 반지름이 작을수록(r값이 작을수록) 요구하는 임계값은 커진다. 어떤 특정 측정 평면에서 분포된 동심원의 테스트 점에는 동일한 임계값이 필요하다

측정된 NFC안테나가 위의 모든 테스트 점에서 인증 기준을 만족하는 경우에만, NFC안테나가 EMVCo의 인증을 통과했다고 말할 수 있다.

"2 개의 개구부와 1 개의 슬릿"의 NFC안테나가 가지는 두 개의 안테나 모드 때문에, NFC EMVCo, NFC Forum의 인증이 진행될 시, 어떻게 시스템 중의 측정 안테나와 참조 안테나를 인증 하는지와 NFC 안테나의 공간의 상호 위치의 배정을 하는지, 기준점을 선택하는 것이 하나의 어려운 문제가 될 수 있다. 만약 NFC 안테나와 안테나 측정의 상호 위치 선택이 부정확하다면, 또는 측정된 NFC 안테나가 측정 안테나 중의 자속 절대값을 만족시킬 수 없다면, 측정된 NFC 안테나 자체의 성능이 얼마나 좋게 나오는지와 상관 없이, EMVCo, Forum인증을 통과할 수 있는 방법이 없다.

이를 해결하기 위해 NFC 인증 기구는 EMVCo의 시험 장치를 빠르게 업데이트 시키고 있으며, 업데이트 전의 시험 장치를 "구식" 시험 장치라고 명칭하고, 업데이트 후의 시험 장치를 "신규"시험 장치라고 명칭하도록 하겠다. 특히 구식 시험 장치에는 1개의 원형 측정 코일 및 1개의 직사각형 참조 안테나가 존재하며, 신규 시험 장치에는 1개 원형 측정 코일만 존재한다. 구식과 신규 시험 장치 간의 차이 때문에, 기준점을 선택하는 것의 어려움이 늘어났다. 어떻게 정확한 기준점을 선택하는지에 관해, 구식과 신규 시험 장치에 대해 구분하여 논의하도록 한다.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 NFC 안테나의 인증을 위한 구식과 신규 시험 장치에서 정확한 기준점을 선택할 수 있는 이중 안테나 모드를 구비하는 NFC 안테나의 인증 테스트 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

본 발명의 일 실시 예에 따른 피시험 장치인 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법은, 상기 피시험 장치에서 테스트할 점을 결정하는 단계, 시험 장치가 설정한 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계, 상기 각 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정(preset)조건에 부합되는지 여부를 개별적으로 판단하는 단계, '예'인 경우, 상기 테스트할 점을 기준점으로 결정하는 단계, '아니오'인 경우, 새로운 테스트할 점을 결정하는 단계 및 상기 시험 장치가 설정한 상기 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계를 계속 수행하는 단계를 포함한다.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 장치는 2개의 개구 및 하나의 슬릿이 설치되며, 상기 피시험 장치에서 테스트할 점을 결정하는 단계는, 상기 피시험 장치에서 자기장 영점을 결정하는 단계 및 상기 피시험 장치 상의 슬릿 및 그 연장선 상에서 제1점과 제2점을 결정하는 단계를 더 포함하고, 상기 제1점에서 상기 자기장 영점까지의 거리(M)와 상기 제2점에서 상기 자기장 영점까지의 거리(N)는 조건 M+2a>60mm, N-2b<10mm을 만족시키며, 상기 a는 상기 제1점 거리에서 먼 개구의 중심점으로부터 자기장 영점까지의 거리이고, 상기 b는 상기 제1점과의 거리가 가까운 개구의 중심점으로부터 자기장 영점까지의 거리이며, 상기 슬릿 및 그 연장선 상의 상기 제1점과 제2점 사이에서 테스트할 점을 결정하는 것일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 시험 장치는 기준 안테나를 더 포함하며, 상기 기준 안테나의 중심점을 상기 테스트할 점과 중첩시켜 상기 기준 안테나의 위치를 결정할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는, 상기 피시험 장치를 테스트 안테나 코일과 평행하게 설치하는 단계 및 상기 피시험 장치 상의 슬릿의 길이 방향을 상기 시험 장치에 미리 설정된 삼차원 직각 좌표계 중의 X축 방향 또는 Y축 방향 중 어느 하나 이상의 방향과 평행하게 설치하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는, 상기 테스트할 점을 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면 상의 테스트 점과 중첩시키는 단계를 더 포함하며, 상기 개별적으로 판단하는 단계는, 상기 중첩시킨 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정 조건을 만족시키는지 여부를 판단하는 단계를 더 포함하고, 상기 기준점으로 결정하는 단계는, '예'인 경우, 상기 테스트할 점을 기타 테스트 평면의 테스트 점과 계속 중첩시키는 단계를 더 포함할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는, 상기 테스트할 점을 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면 상의 테스트 점과 중첩시키는 단계를 더 포함하며, 상기 개별적으로 판단하는 단계는, 상기 중첩시킨 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정 조건을 만족시키는지 여부를 판단하는 단계를 더 포함하고, 상기 새로운 테스트할 점을 기준점으로 결정하는 단계는, '아니오'인 경우, 상기 테스트 점이 소재하는 테스트 평면에서 반경이 영점인 원 상의 점을 기준점으로 하여, 상기 원 상의 기준점에 따라 상기 테스트 점에 이르는 방향으로 상기 테스트할 점을 이동시켜 새로운 테스트할 점을 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 기타 테스트 평면 상의 테스트 점 중, 대응되는 사전 설정 조건을 만족하지 않는 테스트 점이 존재하는 경우, 상기 테스트 점의 사방을 따라 새로운 테스트할 점을 결정할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면은 Z=30mm 및/또는 Z=40mm일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 테스트할 점이 상기 테스트 점과 중첩 시, 상기 테스트 점에 대응하는 파라미터를 획득하며, 상기 파라미터는 전압, 전류 또는 파형 곡선 중 어느 하나 이상일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 피시험 장치의 금속 후면 하우징은 2개의 개구 및 상기 2개의 개구를 연결하는 슬릿이 설치되며, 상기 NFC안테나는 0자형으로 하나의 개구를 둘러싸거나 또는 8자형으로 2개의 개구를 둘러쌀 수 있다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, NFC 안테나의 인증 정확성 및 인증 효율을 향상시킬 수 있다는 효과가 있다

또한, 측정 요구 사항을 충족시키기 어려운 테스트 점부터 측정을 진행한 이후 비교적 측정 요구 사항을 충족시키기 쉬운 테스트 점을 측정하기 때문에, 기준점의 선택 효율을 더욱 향상 시킬 수 있다는 효과가 있다.

또한, 안테나 코일의 거리 측정은 비교적 먼 측정점으로 측정 진행 과정에서 테스트할 점의 이동 방향이 명확해지고, 기준점의 선택 정확도 및 선택 효율이 향상된다는 효과가 있다.

또한, NFC 안테나 및 시험 장치의 안테나 코일, 참조 안테나 사이 간 최상의 상대 위치를 선정 할 수 있고, 인증 통과가 가능한 NFC 안테나로 인하여 최상의 상대 위치로 이동하지 못해 발생 할 수 있는 인증 실패를 회피 할 수 있으며, 이 때문에 인증 정확성과 효율이 향상될 수 있다는 효과가 있다.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해 될 수 있을 것이다.

도1은 0자형 NFC안테나 상의 전류 및 메탈 후면 케이스의 와류 분포도이다.
도2는 도1의 안테나 메탈 후면 케이스 상단 20mm부분의 자속 분포도이다.
도3은 8자형NFC안테나 상의 전류 및 메탈후면케이스의 와류 분포도이다.
도4는 도3의 안테나 메탈 후면 케이스 상단 20mm부분의 자속 분포도 이다.
도5는 테스트 점 및 측정 안테나 코일의 상대 위치 표시도이다.
도6은 본 발명 실시예1의 방법 프로세스도다.
도7은 신규 시험 장치의 측정 안테나 코일과 피시험 장치의 공간 상대 위치 측면 표시도이다.
도8은 신규 시험 장치의 측정 안테나 코일과 NFC안테나의 공간 상대 위치를 볼 수 있는 표시도이다.
도9는 구식 시험 장치의 측정 안테나 코일, reference 안테나와 피시험 장치의 공간 상대위치 측면 표시도이다.
도10은 구식 시험 장치의 안테나코일, reference 안테나와 NFC 안테나의 공간 상대 위치를 볼 수 있는 표시도 이다.
도 11은 본 발명 실시 예1에 따른 테스트할 점의 선택 범위 표시도 이다.
도12는 본 발명 실시 예2에 따른 테스트할 점 장치의 구조 표시도이다.
도13(a)는 실시 예2에 따른 테스트할 점o와 테스트할 점(3 2 3)이 다시 합쳐 질 시, NFC안테나의 자기장 통과 측정 안테나 코일의 자속 분포도이다.
도 13(b)는 실시 예2에 따른 테스트 점o와 대기 포인트(3 0 0)이 다시 합쳐질 시, NFC안테나의 자기장 통과 측정 안테나 코일의 자속 분포도이다.
도13(c)는 실시 예2에 따른 테스트할 점o와 테스트할 점(3 2 9)이 다시 합쳐 질 시, NFC안테나의 자기장 통과 측정 안테나 코일의 자속 분포도이다.
도14(a)는 실시 예2에 따른 테스트할 점p와 테스트 점(3 2 3)이 다시 합쳐 질 시, NFC안테나의 자기장 통과측정 안테나 코일의 자속 분포도 이다.
도14(b) 실시 예2에 따른 테스트할 점p와 테스트 점(3 2 9)이 다시 합칠 시, NFC안테나의 자기장이 측정 안테나 코일의 자력 선속 분포도를 통과하는 모습을 도시한 도다.
도15(a)는 실시 예2에 따른 테스트 점q테스트 점(3 2 3)이 다시 합칠 시, NFC안테나의 자기장이 측정 안테나 코일의 자력 선속 분포도를 통과하는 모습을 도시한 도다.
도15(b)는 실시 예2에 따른 테스트 점q와 테스트 점(3 2 9)이 다시 합칠 시, NFC안테나의 자기장이 측정 안테나 코일의 자력 선속 분포도를 통과하는 모습을 도시한 도다.
도16(a)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 가능한 상대 위치 표시도 1이다.
도16(b)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 가능한 상대 위치 표시도 2이다.
도16(c)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 가능한 상대 위치 표시도 3이다.
도16(d)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 가능한 상대 위치 표시도 4이다.
도17(a)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 불가능한 상대 위치 표시도 1이다.
도17(b)는 참고 안테나와 피시험 장치 간에 불가능한 상대 위치 표시도 2이다.

이하, 첨부된 도를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도와 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다. 본 명세서에서 사용된 용어는 실시 예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다.

본 명세서에서 사용되는 "포함한다 (comprises)" 및/또는 "포함하는 (comprising)"은 언급된 구성 요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성 요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.

한편, 피시험 장치는 NFC 안테나이며, 시험 장치는

도 6을 참고 하면，일종의 이중 안테나 모드를 가지는 NFC안테나의 인증 측정 방법이 있다. 아래와 같이 포함한다.

피시험 장치에 테스트할 점을 확정한다.

시험 장치가 설정한 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시킨다.

각 테스트 점의 대응되는 데이터가 균일하게 대응 사전 설정 조건을 만족시키는지 여부를 구분하여 판단한다.

만약 맞다면，서술된 테스트할 점을 기준점으로 한다.

만약 아니라면, 새로운 테스트할 점을 확정한다.

시험 장치에 설정된 각 테스트 점에 근거하여, 피시험 장치를 이동하고, 테스트할 점이 순서와 각 테스트 점에 근거해 종합되는 순서를 계속 반복한다.

상시 서술한 묘사에서 알 수 있듯이, 본 발명은 다음와 같은 효과가 있다. 정확하게 피시험 장치상의 NFC안테나와 시험 장치의 측정 안테나 코일, 참고 안테나 간 최적의 상대 위치를 선택할 수 있으며, 원래 인증 통과 가능한 안테나가 상대위치로 이동되지 않아 인증 실패하는 것을 회피하게 하여, 인증의 정확성을 향상 시킨다.

또한, 서술된 시험 장치는 신규 방식의 시험 장치며, 서술된 피시험 장치는 두 개의 개구부와 과 한 개의 슬릿이 있다, 서술된"측정 대기 중인 장치에 테스트할 점을 확정한다"는 구체적으로 아래와 같다.

피시험 장치에 자기장 영점을 확정한다.

피시험 장치의 슬릿 및 연장선상에 제1점과 제2점이 결정된다. 서술된 제1점에서 자기장 영점의 거리M과 서술된 제2점에서 자기장 영점의 거리N은 다음과 같이 서술된 조건을 만족시킨다. M + 2a> 60mm, N-2b <10mm, 그 중, a는 서술된 제1점 거리에서 비교적 가까운 중심부에서 자기장 영점까지의 거리이다. N과 서술된 제1점 거리는 비교적 가까운 개구의 중심부에서 자기장 영점의 거리이다;

서술된 슬롯 및 연장선상에 서술된 제1점과 제2점간에 확정된 테스트할 점을 결정한다.

또한, 상기 내용과 같이 시험 장치는 구형 시험 장치며, 참조 안테나의 중심점과 테스트할 점이 중첩되면, 참조 안테나의 위치를 결정한다.

상기 내용으로 알 수 있듯, 피시험 NFC안테나가 통과하는 안테나 코일 측정의 자기력 선속의 절대값은 반드시 0보다 커야 하며, 테스트할 점의 범위 및 이동 범위를 선정하며, 해당 범위 내에서 테스트할 점을 결정한다. 또한 정확하고 신속하게 피시험 장치상의 기준점을 선정하여, 인증 정확성 및 인증 효율을 향상시킨다.

또한, 피시험 장치를 이동시킬 때, 피시험 장치와 측정 안테나 코일은 평행해야 하며, 피시험 장치 상 갭의 길이 방향과 시험 장치에 미리 설정된 3 차원 직각 좌표계에서 X 축 방향 또는 Y 축 방향과 평행하게 설정된다.

또한, 상기 내용과 같이 테스트할 점은 순서와 각 측정 점의 겹침에 의거한다. 먼저 테스트할 점과 원거리 측정 시 안테나 코일의 하나 혹은 두 개 측정 평면 상의 측정 점을 겹친다. 테스트 점에 대응하는 수치가 사전 설정 조건을 충족하는지에 대한 여부를 결정한다. 만약 그렇다면, 계속해서 테스트 점과 기타 측정평면의 테스트 점을 겹친다.

위의 설명에서 알 수 있듯이, 먼저 안테나 코일의 거리측정을 비교적 먼 테스트 점으로 측정 진행 후, 나머지 테스트 점 측정 진행하는 방법을 통하여, 기준점의 선택 효율을 더욱 향상 시킬 수 있다.

또한, 만약 상기 내용의 테스트 점 중 한 테스트 점에 대응하는 수치가 사전 설정조건을 충족하지 못한다면, 상기 내용의 한 테스트 점이 있는 측정 평면에서 반경이 0 인 원상의 점이 기준점이며, 기준점에서 테스트 점 쪽 방향을 기준으로, 다른 테스트 점으로 이동하고, 측정할 신규 테스트할 점을 결정할 수 있다.

이상 설명한 바와 같이, 테스트 점의 이동 방향을 명확하게 함으로써, 기준점의 선택 정확성 및 선택 효율을 더욱 향상시킬 수 있다.

또한, 만약 다른 측정 평면상의 테스트 점 중 대응하는 사전 설정 조건을 충족시키지 못하는 테스트 점이 있으면, 테스트 점의 4 차원 방향을 따라 새로운 테스트 점이 결정된다.

또한, 원거리 측정 시 안테나 코일의 하나 혹은 두 개 측정 평면은 Z = 30mm 및 / 또는 Z = 40mm 측정 평면이다.

또한, 테스트할 점과 테스트 점이 겹칠 시, 대응 하는 테스트 점 수치를 얻을 수 있다. 서술하는 수치 란 전압, 전류 또는 파형곡선이다.

또한, 피시험 장치의 금속 후방 케이스 위에 2 개의 개구부와 2 개의 개구부를 연결하는 슬릿이 형성되고, NFC 안테나는 O 자 형상으로 1개의 개구 또는 8자 형상으로 2 개의 개구부 주위를 둘러싸고 있다.

실시 예 1

본 발명의 실시 예1은 다음과 같다. 본 발명에서 제안하는 측정 방법은 이중 안테나 패턴의 NFC 안테나 인증을 가진다. 2 개의 안테나 패턴 (즉, 방사 패턴)을 임의로 갖는 NFC 안테나 시스템을 적용한다. 또한, 이중 안테나 패턴을 갖는 NFC 안테나의 피시험 장치에는 2 개의 개구부와 1 개의 슬릿이 있다, 이 슬릿은 각각 2 개의 개구부와 연결된다. 즉 상기 설명된 "2 개구부 1 슬릿 방법과 같다. 그 중, 슬릿의 폭이 개구부의 의 직경보다 작거나 같은 경우, 도 6과 같이, 상기 방법은 이하 절차에 포함된다:

피시험 장치 상에 설정 된 테스트 점에 따라, 우선 테스트할 점과 원거리 측정 시 안테나 코일의 하나 혹은 두개 측정 평면 상의 테스트 점이 겹칠 때까지 피시험 장치를 이동한다; 즉 대기 테스트 점과 Z = 30mm 혹은 40mm 측정 평면 상의 테스트 점과 겹쳐진다.

기준점을 결정하기 위해 Z = 30mm 또는 40mm 평면 상의 테스트 점을 먼저 선택하는 이유는 이 두 평면에서 측정 표준을 통과하기가 더 어렵기 때문이다.

그와 동시에, 겹치는 테스트 점의 수치를 얻는다, 즉 테스트할 점과 테스트 점이 겹칠 때, 테스트 점에 대응하는 수치를 얻고, 테스트 점에 대응하는 수치가 기타 사전 설정 조건에 균일하게 충족하는지 판단 해야 된다; 수치는 전압, 전류 혹은 파형 곡선이며, 다른 유형의 수치 일 수 있다.

만약 그렇지 않다면, 테스트 점 중 한 테스트 점에 대응하는 수치가 사전 설정조건을 충족하지 못한다고 가정하면, 한 테스트 점이 있는 측정 평면에서 반경이 0 인 원상의 점이 기준점이며, 기준점에서 테스트 점 쪽 방향을 근거로, 다른 테스트 점으로 이동하고, 측정 할 신규 포인트를 얻습니다; 그런 다음 테스트할 점과 원거리 측정 시 안테나 코일의 하나 혹은 두 개 측정 평면 상의 측정 점을 겹친다.

만약 그렇다면, 즉시 테스트 점에 대응하는 수치가 기타 사전 설정 조건에 균일하게 충족해야 하고, 시험 장치를 재 이동해야 한다, 서술내용과 같이 테스트 점은 다른 측정 평면상의 테스트 점과 겹쳐야 되고, 그 즉시 계속해서 테스트할 점과 다른 측정 평면상의 테스트 점은 겹쳐야 한다.

동시에, 겹칠 때 기타 측정 평면상의 테스트 점에 대응하는 수치를 얻으며, 각 테스트 점에 대응하는 수치가 해당 사전 설정 조건을 균일하게 충족하는지 판단한다.

만약 그렇다면, 테스트할 점을 기준점으로 확정한다;

만약 그렇지 않다면, 테스트 점의 4 차원 방향을 따라 새로운 테스트 점이 결정된다.

시험 장치 상에 설정 된 각 테스트 점에 따라, 테스트할 점과 원거리 측정 시 안테나 코일의 하나 혹은 두 개의 측정 평면 상의 테스트 점이 겹칠 때까지 피시험 장치를 이동 진행하는 절차이다.

우선적으로, 상기 과정 중, 장치를 이동시킬 때, 시험 장치와 측정안테나 코일은 평행해야 하며, 피시험 장치 상 슬릿의 길이는 시험 장치에 미리 설정된 3 차원 직각 좌표계에서 X 축 방향 또는 Y 축 방향과 평행하게 설정된다.

측정안테나 코일 (3)과 NFC 안테나 (2)의 위치는 도 7 및 도 8과 같이 분배되며, 직사각형 참조안테나(4)의 구식시험 장치 포함, 측정안테나 코일(3), 참조 안테나(4)와 피시험 장치(1)의 해당 위치는 도 9와 같고, 측정 안테나 코일(3), 참조 안테나(4)와 NFC안테나(2)의 해당 위치는 도 10과 같다. NFC 안테나 코일은 0자형 혹은 8자형이 가능하며, 도 7 내지 도 10에서, NFC안테나는 0자형으로 예를 든다.

또한, 보다 신속하게 기준점을 결정하기 위해서, 측정 점을 결정할 때의 범위 내에서 선택한다.

구체적으로, 피시험 장치를 획득 할 때, 즉시 피시험 장치상의 NFC 안테나의 분포에 따라, 자기장의 영점을 결정 할 수 있다(보통 슬릿 포인트에서 떨어져 있다). 만약 O자형 안테나라면, 자기장의 영점은 0자형 안테나와 슬릿의 교차점이며, 만약 8자형 안테나라면, 자기장의 영점은 일반적으로 8자형 안테나의 교차점이다.

이번 실시 예로는 O 자형 안테나를 예를 들었고, 도 11에 표시 된 바와 같이, 점 E를 자기장 영점으로 하고, 갭 및 연장선상에서 제 1 점 D 및 제 2 점 F를 결정하고, 제 1 점 D에서 자기장의 영점인 E의 거리 M과 제 2 점 F에서 자기장 영점 E의 거리N은 하기 조건 M + 2a> 60㎜, N-2b <10㎜을 충족한다.

그 중에서도, a는 상기 제1점의 비교적 먼 거리의 개구의 중심점으로부터 자기장의 영점까지 거리이며, b는 상기 제1점의 비교적 가까운 거리의 개구의 중심점으로부터 자기장의 영점까지의 거리이다. 이 경우, 안테나 패턴의 전장은 개구부의 중심이기 때문에 수직 슬릿의 선은 축과 대칭으로 분포한다. 그러므로, 2a는 즉 제1점의 비교적 먼 거리의 안테나 패턴의 자기장을 덮는 거리를 표시하는 것이며, 2b는 즉 제1점의 비교적 짧은 거리의 안테나 패턴의 자기장을 덮는 거리를 표시하는 것이다. 60mm와 10mm는 안테나 코일의 측정 반경과 측정 평면상의 원의 반경을 기준으로 구한 값이며, 60은 2 Φ R- (R-r2)의 값이고, 10은 R-r2의 값이다.

두 조건은 테스트할 점과 반경 25mm에 위치한 원 상의 테스트 점을 구분하여 표시하며, 두 포인트가 겹칠 시, 안테나 코일 측정은 NFC 안테나 두 안테나 패턴의 자기장을 동시에 덮을 수 없으며, 두 개의 NFC 안테나의 패턴의 자기장 또한 동시에 덮을 수 없다. 즉 NFC 안테나는 안테나 코일 측정을 통하여 자기력 선속의 절대값을 0이 되지 않도록 한다.

슬릿의 폭과 개구부의 직경이 동일한 경우, NFC 안테나가 8 자형이면, 코일 양측의 중심점을 개구부의 중심점으로 구분하고, NFC 안테나가 O자형인 경우, NFC 안테나 코일의 중심점은 NFC 안테나 주위의 개구부의 중심점으로 하며, 개구부의 중심점으로부터 개구부 주변의 거리에 대응하며, 다른 개구부의 중심점에 따라 결정 결정된다.

또한, 제1점 및 제2점은 도 11에 도시된 바와 같이 장치상에 위치하며, 장치 외부에 위치 할 수도 있다, 즉 도 11의 좌측에 위치 한다. 다만 우선, 일반적으로 첫 번째 및 두 번째 점은 장치상에서 선택되고, 다음으로는 장치상에서 직접 테스트할 점을 표기 할 수 있다.

참조 안테나를 포함하지 않는 시험 장치, 즉 신식 시험 장치의 경우, 제1점과 제2점을 결정한 후, 슬릿 및 연장선상의 제1점 및 제2점 사이에서 테스트할 점을 결정할 수 있다. 즉, D 점과 F 점 사이에서 테스트할 점을 결정한다.

참조 안테나를 포함하는 시험 장치의 경우, 즉, 구식 시험 장치의 경우, 위에서 언급 한 새로운 시험 장치에서 결정한 테스트할 점을 기초로, 참조 안테나의 중심점과 테스트할 점이 겹쳐짐에 따라, 참조 안테나의 위치를 먼저 결정한다. 후속 측정 단계와 신식 시험 장치는 기본적으로 동일하고, 새 테스트 점이 결정되면, 참조 안테나도 그에 따라 이동한다.

본 실시 예 중, 먼저 테스트할 점의 선택범위를 결정하고, 해당 범위 내에서 테스트할 점을 결정하며, 정확하고 신속하게 피시험 장치 상에서 기준점을 선택하여, 인증 정확성을 높인다;

둘째, 먼저 안테나 코일의 거리측정을 비교적 먼 테스트 점으로 (예: Z = 30mm 또는 40mm 상 측정 평면의 테스트 점) 측정 진행 후, 나머지 테스트 점을 측정하는 방법을 통하여 진행한다. 우선 비교적 측정 요구사항을 충족시키기 어려운 테스트 점부터 측정을 진행한 이후, 비교적 측정 요구사항을 충족시키기 쉬운 테스트 점을 측정하여, 기준점의 선택 효율을 더욱 향상 시킬 수 있다.

안테나 코일의 거리측정을 비교적 먼 테스트 점으로 측정 진행 과정 중, 테스트할 점의 이동 방향이 명확 해지고, 기준점의 선택 정확도 및 선택 효율이 더 향상된다.

실시 예 2

본 실시 예는 상기 상술한 실시 예의 구체적 응용 시나리오이다.

EMVCo의 인증 측정 중, 특히, 이중 안테나 패턴을 갖는 NFC 안테나의 경우, Z = 30mm와 40mm의 측정 평면 내 에서의 테스트 점은 다른 평면 내에 떨어지는 테스트 점보다 측정 요구 사항을 통과하는 것이 더 어렵다,

따라서, 본 실시 예는 Z = 30mm를 사용하는 측정 평면 상의 테스트 점이며 예를 들어 어떻게 핸드폰상에서 정확한 기준점을 선택하는가 에 대한 이론 상의 내용을 기술한 것이다.

또한, 본 실시 예에서는 O자형 NFC 안테나를 예로 들어 분석과 설명을 진행하며, O자형 및 8자형 NFC 안테나는 모두 이중 안테나 패턴의 특성을 가지므로, O자형 NFC안테나로부터 얻은 결론 또한 8자형 NFC 안테나에도 적용된다.

도 12에 표기된 내용과 같이 피시험 장치의 "2 개의 개구부 및 1 개의 슬릿"을 가정한다면, 슬릿의 방향과 Y축의 방향은 평행하다. 이 때 또한 도 12에 표기된 내용과 같이 위쪽 방향을 X축 정 방향, 도 12에 표기된 내용과 같이 좌측 방향을 Y축 정 방향으로 가설하면, 시험 장치의 길이 방향에 따라 간격이 설정되기 때문에, 일시적으로 피시험 장치 폭 방향의 중간에 위치하며, 측정의 어려운 점은 핸드폰의 길이 방향을 따라 테스트 점에 나타난다.

따라서, 이하의 설명에서는, (3 2 3), (3 0 0), (3 2 9) 3 개의 테스트 점을 한 예로, 일시적인 자기력 선속의 절대 값은 측정 요건을 충족하는지에 대한 근거를 설명하도록 한다.

피시험 장치 상 테스트할 점o, p, q의 3 포인트가 있다고 가정하고, 그 중, 테스트할 점 O를 정확한 기준점으로 한다. 구체적으로는, 테스트할 점O 구분하여 (3 2 3), (3 0 0), (3 2 9)의 3 개의 테스트 점을 사용하여 겹치도록 시험 장치를 이동시킨다, 도13(a), 13(b) 및 13(c)에 표시된 내용과 같이, 도13(a), 13(b) 및 13(c) 상, 두 개의 개구부 상에 NFC 안테나의 자기장 강도 분포를 곡선으로 표시하고, 음영부분은 NFC 안테나의 자기장 진입 안테나 코일의 자기력 선속을 측정한 것이다. 도면 좌측을 안테나패턴의 제1패턴으로 가정하고(패턴1), 도면 우측의 안테나 패턴을 제2패턴(패턴2)으로 가정한다면(도 13(a)에서 확인이 가능함), 테스트할 점 O와 테스트 점(3 2 3)이 겹칠 때, 제2패턴의 전장이 측정 안테나 코일을 통과한다면, 통과한 자기력 선속의 절대 값은 Φ1으로 표기하도록 한다.

도 13 (b)에서 알 수 있듯이, 테스트할 점0과 테스트 점 (3 0 0)이 겹치면, 기본적으로 제2패턴의 전장이 안테나 코일 측정 통과 시, 여기서 우리는 자기력 선속의 절대값을 Φ2로 표기 한다. 도 13(c)에서 볼 수 있듯이, 테스트할 점 O와 테스트 점(3 2 9)가 겹칠 때, 대부분의 NFC 안테나 제1패턴의 전장과 모든 제2패턴의 전장은 안테나 코일 측정을 통과했다, 제1패턴과 제2패턴의 전장방향이 상반되기 때문에, 이번 안테나 코일 측정을 통과한 자기력 선속의 절대값을 Φ3 ＝|제1패턴의 자기력선속 - 제2패턴의 자기력선속| 으로 표기한다. φ2의 값이 비교적 크고 φ1과 φ3의 값이 비교적 작기, 때문에 상대적으로 말해서 테스트 점 (3 0 0)이 테스트 점 (3 2 3)와 (3 2 9)보다 쉽게 통과한다는 것을 쉽게 확인 할 수 있다.

테스트할 점을 정확하게 선택 시 (즉, 기준점 0), φ1와 φ3의 값은 요구 사항을 정확히 동시에 충족 할 수 있으며, 이때 φ1와 φ3의 값 또한 매우 근접한다.

그러나 만약 테스트할 점을 불명확하게 선택한다면, 테스트 점 (3 2 3) 와 (3 2 9)은 동시에 요구 사항을 충족시킬 수 없을 것이다.

도 14 (a) 및 14 (b)의 테스트할 점 p와 테스트 점 (3 2 3)및 (3 2 9)와 겹칠 시, NFC 안테나의 자기장이 안테나 코일의 자기력 선속을 통과하는 분포를 구분하여 표기 한다.

도13 (a)와 비교하면, 도 14 (a) 상의 제1패턴의 자기장이 안테나 코일의 자기력 선속을 통과하는 Φ1 양이 증가하기 때문에, 해당 측정 요구사항을 통과 할 수 있다. 하지만 도 14 (b) 상에서는, 제1패턴의 자기장 및 제2패턴의 자기장이 거의 모든 안테나 코일 측정을 통과하고, 두 개 역방향 전장의 중첩은 당시 안테나 코일 측정의 자기력 선속 절대값 φ3이 매우 작은 상태로의 통과를 초래했으며, 심지어 측정 요구사항을 충족 할 수 없게 하였다.

도 15 (a) 및 15 (b)의 테스트할 점 q와 테스트 점 (3 2 3)및 (3 2 9)와 겹칠 시, NFC 안테나의 자기장이 안테나 코일의 자기력 선속을 통과하는 분포를 구분하여 표기 한다. 마찬가지로, 도 15 (a) 시의 상황은 측정 요구 사항을 충족시킬 수 없고, 도15 (b) 시의 상황은 측정 요구 사항을 충족시킬 수 있다.

상기 분석을 통하여, 표 1의 결과를 얻을 수 있다.

	측정점(3 2 3)	측정점(3 0 0)	측정점(3 2 9)
대기 측정점 0	통과	통과	통과
대기 측정점 p	통과	통과	실패 (정/부 자기력 선속이 작음)
대기 측정점q	실패 (자기력 선속이 작음)	통과	통과

따라서, 만약 p 점을 테스트할 점으로 선정했을 경우, 다음에 테스트할 점을 결정할 때, 안테나 코일의 자기력 선속을 통과하는 제1패턴의 전장이 감소되는 것을 고려해야 된다. 즉, 새로운 테스트할 점은 p점의 오른쪽에 있어야 한다. 즉, 새로운 테스트할 점은 테스트할 점p의 Y축 마이너스 방향이며, (3 0 0)에서 (3 2 9)까지의 방향에 따라, 테스트할 점을 이동하고, 새로운 테스트할 점을 얻을 수 있다.

만약 q점이 테스트할 점으로 선정 될 경우, 다음 테스트할 점을 결정할 때, 안테나 코일의 자기력 선속을 통과하는 제2패턴의 자기장이 증가하는 것을 고려해야 된다. 즉, 새로운 테스트할 점은 q점의 왼쪽에 있어야 한다. 즉, 새로운 테스트할 점은 테스트할 점q의 Y축 정 방향이며, (3 0 0)에서 (3 2 3)까지의 방향에 따라, 테스트할 점을 이동하고, 새로운 테스트할 점을 얻는다.

동일하게, 갭 방향과 X축 방향이 평행 한 경우에 대해, 상기 테스트 점 (3 2 3), (3 2 9)를 (3 2 0), (3 2 6)으로 각각 구분하여 수정 할 필요가 있다.

실시 예 3

본 실시 예는 실시 예2의 확장이다.

오래 된 시험 장치는 새로운 시험 장치와 비교하여, 직사각형 참조 안테나를 더 포함하며, 측정 진행 시, 우선 참조 안테나를 피시험 장치상에 고정해야 한다. 그것의 작동 원리는 참조 안테나가 우선 피시험 장치 내의 NFC 안테나와 결합한 후, 하나의 개체로써 안테나 코일 측정과 정보 교환을 하여야 한다. 그러므로, 참조 안테나와 NFC 안테나 사이는 먼저 충분한 결합을 보장해야 되며, 또한 NFC 안테나를 통한 참조 안테나의 자기력 선속 절대값이 충분히 커지도록 보장해야 된다. 도 16(a) 내지 16(d)는 "2 개 개구부 하나의 슬릿"이며 검사 대기 장치1의 길이 방향을 따라 분포 될 때, 참조 안테나와 피시험 장치(1)의 후면 케이스 사이는 진행이 가능 한 상대 위치도 이다; 가능한 이유는 참조 안테나와 피시험 장치 내의 NFC 안테나가 충분한 결합력을 가지기 때문이다. 도 17(a) 및 도 17(b)는 참조 안테나와 피시험 장치의 후방 케이스 사이의 진행이 불가능 한 상대 위치도이다.

도 17(a)에 표기된 상황이 진행이 불가능한 원인은 제 1 패턴과 제 2 패턴이 거의 동일한 자기장으로 참조 안테나에 들어가기 때문이다. 두 개 패턴의 자기장 방향이 반대인 이유로 인해 참조안테나를 통과하는 자기력 선속의 절대 값은 0에 근접하다.

도 17 (b)에 표기된 상황이 진행이 불가능한 원인은 제 1 패턴과 제 2 패턴이 모두 참조 안테나의 외부에 있기 때문이다. 즉, 참조 안테나에 들어오는 자기장이 거의 없다.

이 밖에, 도 16 (a) 내지 16 (d)와 도 17 (a) 내지 17 (b) 내의 "十"자 기호의 위치가 참조 안테나의 기하학적 중심점을 나타내며, 이는 상기 서술한 신식 시험 장치 내 피시험 장치상 표기 된 테스트할 점의 위치와 같다. 즉 오래된 시험 장치를 사용할 때, 피시험 장치와 참조 안테나는 같이 테스트 점을 따라 움직일 것이다(참조 안테나는 피시험 장치와 같이 고정되어 있기 때문이다). 예를 들어, 테스트 점 (3 2 3)를 측정할 때 참조 안테나의 기하학적 중심점 (즉, " 十 " 문자 부호의 위치)이 테스트 점 (3 2 3)과 겹쳐진다.

도 16(a) 내지 도16(d) 상에 설명 된 참조 안테나와 피시험 장치(또는 NFC 안테나) 간의 상대적 위치 관계는 구식 시험 장치를 사용하기 위한 충분한 조건이며, 실제 측정 과정 내 하기 조건 또한 반드시 만족해야 한다.

참조 안테나와 NFC 안테나(즉, 피시험 장치)를 "NFC 안테나 전체"로 보며, 또한 안테나 코일 측정과 충분한 결합을 만족시킨다.

구식 시험 장치를 사용할 때는 참조 안테나 및 피시험 장치의 NFC 안테나 전체이고, 신식 시험 장치의 피시험 장치 혹은 NFC 안테나 자체와 동일하다,

그러므로, 신식 시험 장치는 초기 테스트할 점의 방법에 따라 결정될 수 있으며, 참조 안테나와 피시험 장치간의 상대위치를 결정한다. 즉 참조 안테나의 중심점과 신식 시험 장치에서 결정 될 테스트할 점은 겹친다.

본 발명에 의해 제안된 EMVCo의 측정 방법은 2 가지 패턴을 갖는 임의의 NFC 안테나 시스템에 적용하는 것에 대한 것이다. 즉 다시 말해 금속 후방 케이스의 2 개의 개구부 사이 슬릿의 폭이 매우 좁지만, 본 슬릿의 크기는 개구부의 크기는 매우 근사하다. 또한 NFC 코일이 개구부와 슬릿 사이에 어떻게 돌아서 진행되든, 측정 대기 NFC 안테나 시스템은 두개의 자기장 방향이 상반 된 패턴을 가지고 있고, 전부 본 발명에 의해 제안 된 측정 방법의 범위 내에 있다.

비록 본 발명에 사용 된 실시 예는 금속 후면 케이스 상의 2 개의 개구부는 금속 후면 케이스의 길이 방향을 따라 분포되어 있지만, 만약 2 개의 개구부의 금속 후방 케이스의 폭 방향을 따라 분포되어 있다면, 본 발명에서 제안한 방법은 여전히 유효하다.

또한, 이 경우 NFC EMVCo에 대해 제안 된 측정 방법은 NFC Forum 측정 시스템에도 완벽히 적용된다.

이는 Forum 측정 시스템 상에는 구형EMVCo 측정 시스템과 피시험 장치 상에 같이 부착 된 참조안테나가 없기 때문이다. 그러므로 Forum의 측정 시스템과 새로운 신식 EMVCo 측정 시스템이 더 가깝다.

비록 EMVCo과 Forum에 대한 측정항목의 요구 사항은 다르지만, Forum의 시험 장치상에서 최상의 기준점을 찾을 수 있으며 NFC 안테나(2)와 참조 안테나(4) 사이의 가장 좋은 결합을 측정 할 수 있다, 따라서 본 안건은 EMVCo에 대한 최상의 기준점을 찾는 방법을 찾도록 제안되었으며 Forum 측정 시스템에도 완벽히 적용된다

상기 내용을 요약하면, 본 발명에서 제안하는 측정 방법은 이중 안테나 패턴의 NFC 안테나 인증을 가진다, 우선 테스트할 점의 범위를 선정하고, 그 범위 내에서 테스트할 점을 결정하며, 정확하고 신속하게 피시험 장치상의 기준점을 선정 하여, 인증 정확성 및 인증 효율을 향상시킬 수 있다.

둘째, 먼저 안테나 코일의 거리측정을 비교적 먼 테스트 점으로 측정 진행 후, 나머지 테스트 점을 측정하는 방법을 통하여 진행한다. 즉, 우선 비교적 측정 요구 사항을 충족시키기 어려운 테스트 점부터 측정을 진행한 이후, 비교적 측정 요구 사항을 충족시키기 쉬운 테스트 점을 측정하여, 기준점의 선택 효율을 더욱 향상 시킬 수 있다.

안테나 코일의 거리측정을 비교적 먼 테스트 점으로 측정 진행 과정 중, 테스트할 점의 이동 방향이 명확해지고, 기준점의 선택 정확도 및 선택 효율이 더 향상된다.

본 발명은 정확하고 신속한 피시험 장치의 NFC 안테나 및 측정장치의 안테나 코일, 참조 안테나 사이 간 최상의 상대 위치를 선정할 수 있고, 원래 인증 통과가 가능한 NFC 안테나로 인하여 최상의 상대 위치로 이동하지 못해 발생 할 수 있는 인증 실패를 피 할 수 있다. 이 때문에 인증 정확성과 효율이 향상된다.

상기 내용은 본 발명의 실시 예에 불과하며, 본 발명의 특허 범위는 제한되지 않는다, 본 발명 설명서 및 첨부된 도면의 내용을 이용하여 관련 기술영역 내 동일 변환, 혹은 직접적인 혹은 간접적인 운용 시, 해당 모든 내용은 동일한 이유로 본 발명의 특허 보호 범위 내에 포함된다.

이상 첨부된 도를 참조하여 본 발명의 실시 예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.

1: 피시험 장치
2: NFC 안테나
3: 측정 안테나 코일
4: 참조 안테나。

Claims (10)

1. 피시험 장치인 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법에 있어서,
   상기 피시험 장치에서 테스트할 점을 결정하는 단계;
   시험 장치가 설정한 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계;
   상기 각 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정(preset)조건에 부합되는지 여부를 개별적으로 판단하는 단계;
   '예'인 경우, 상기 테스트할 점을 기준점으로 결정하는 단계;
   '아니오'인 경우, 새로운 테스트할 점을 결정하는 단계; 및
   상기 시험 장치가 설정한 상기 각 테스트 점에 따라, 상기 테스트할 점이 순서대로 상기 각 테스트 점과 중첩될 때까지 상기 피시험 장치를 이동시키는 단계를 계속 수행하는 단계;
   를 포함하는 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
2. 제1항에 있어서,
   상기 피시험 장치는 2개의 개구 및 하나의 슬릿이 설치되며,
   상기 피시험 장치에서 테스트할 점을 결정하는 단계는,
   상기 피시험 장치에서 자기장 영점을 결정하는 단계; 및
   상기 피시험 장치 상의 슬릿 및 그 연장선 상에서 제1점과 제2점을 결정하는 단계;
   를 더 포함하고,
   상기 제1점에서 상기 자기장 영점까지의 거리(M)와 상기 제2점에서 상기 자기장 영점까지의 거리(N)는 조건 M+2a>60mm, N-2b<10mm을 만족시키며,
   상기 a는 상기 제1점 거리에서 먼 개구의 중심점으로부터 자기장 영점까지의 거리이고, 상기 b는 상기 제1점과의 거리가 가까운 개구의 중심점으로부터 자기장 영점까지의 거리이며,
   상기 슬릿 및 그 연장선 상의 상기 제1점과 제2점 사이에서 테스트할 점을 결정하는 것임을 특징으로 하는
   이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
3. 제2항에 있어서,
   상기 시험 장치는 기준 안테나를 더 포함하며,
   상기 기준 안테나의 중심점을 상기 테스트할 점과 중첩시켜 상기 기준 안테나의 위치를 결정하는,
   이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
4. 제1항에 있어서,
   상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는,
   상기 피시험 장치를 테스트 안테나 코일과 평행하게 설치하는 단계; 및
   상기 피시험 장치 상의 슬릿의 길이 방향을 상기 시험 장치에 미리 설정된 삼차원 직각 좌표계 중의 X축 방향 또는 Y축 방향 중 어느 하나 이상의 방향과 평행하게 설치하는 단계;
   를 더 포함하는 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
5. 제1항에 있어서,
   상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는,
   상기 테스트할 점을 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면 상의 테스트 점과 중첩시키는 단계;
   를 더 포함하며,
   상기 개별적으로 판단하는 단계는,
   상기 중첩시킨 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정 조건을 만족시키는지 여부를 판단하는 단계;
   를 더 포함하고,
   상기 기준점으로 결정하는 단계는,
   '예'인 경우, 상기 테스트할 점을 기타 테스트 평면의 테스트 점과 계속 중첩시키는 단계;
   를 더 포함하는 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
6. 제1항에 있어서,
   상기 피시험 장치를 이동시키는 단계는,
   상기 테스트할 점을 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면 상의 테스트 점과 중첩시키는 단계;
   를 더 포함하며,
   상기 개별적으로 판단하는 단계는,
   상기 중첩시킨 테스트 점에 대응되는 파라미터가 모두 대응되는 사전 설정 조건을 만족시키는지 여부를 판단하는 단계;
   를 더 포함하고,
   상기 새로운 테스트할 점을 기준점으로 결정하는 단계는,
   '아니오'인 경우, 상기 테스트 점이 소재하는 테스트 평면에서 반경이 영점인 원 상의 점을 기준점으로 하여, 상기 원 상의 기준점에 따라 상기 테스트 점에 이르는 방향으로 상기 테스트할 점을 이동시켜 새로운 테스트할 점을 결정하는 단계;
   를 더 포함하는 이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
7. 제5항에 있어서,
   기타 테스트 평면 상의 테스트 점 중, 대응되는 사전 설정 조건을 만족하지 않는 테스트 점이 존재하는 경우, 상기 테스트 점의 사방을 따라 새로운 테스트할 점을 결정하는,
   이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
8. 제5항에 있어서,
   상기 테스트 안테나 코일에서 이격된 하나 또는 2개의 테스트 평면은 Z=30mm 및/또는 Z=40mm인,
   이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
9. 제1항에 있어서,
   상기 테스트할 점이 상기 테스트 점과 중첩 시, 상기 테스트 점에 대응하는 파라미터를 획득하며,
   상기 파라미터는 전압, 전류 또는 파형 곡선 중 어느 하나 이상인,
   이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.
10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 피시험 장치의 금속 후면 하우징은 2개의 개구 및 상기 2개의 개구를 연결하는 슬릿이 설치되며,
    상기 NFC안테나는 0자형으로 하나의 개구를 둘러싸거나 또는 8자형으로 2개의 개구를 둘러싸는,
    이중 안테나 모드를 구비한 NFC 안테나의 인증 테스트 방법.

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