KR101945408B1 - 결함 화소 판정 장치 및 결함 화소 판정 방법 - Google Patents

Abstract

결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있도록 하는 기술을 제공한다. 중심 화소와 동색 레이어로서 중심 화소에 인접한 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값 및 제1 최소값의 제1 차분값을 산출하는 제1 차분 산출부(1511)와, 중심 화소와 동색 레이어로서 중심 화소에 인접한 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값 및 제2 최소값의 제2 차분값을 산출하는 제2 차분 산출부(1512)와, 제1 최대값 또는 제1 최소값과, 중심 화소의 화소값과의 관계와, 제1 차분값과 제2 차분값에 기초하여 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 판정부(152)를 구비한 결함 화소 판정 장치(10)가 제공된다.

Description

결함 화소 판정 장치 및 결함 화소 판정 방법{Apparatus and method for determining defect pixel}

본 발명은, 결함 화소 판정 장치 및 결함 화소 판정 방법에 관한 것이다.

종래, 카메라 센서의 결함 보정 기술로서는 스태틱형과 다이나믹형이 존재한다. 스태틱형은, 출하 시에 올 블랙, 올 화이트 화상을 입력하여 결함 화소를 검출하고 결함 화소의 위치를 메모리에 축적한다. 사용 시에는 메모리로부터 결함 화소의 위치를 독출하고 결함 화소의 주변 화소를 이용하여 산출한 값으로 결함 화소의 화소값을 치환한다.

이러한 스태틱형은, 최근 화소 수 증가에 따라 결함 화소의 위치를 기억하기 위해 대용량 메모리가 필요해지고 출하 시에 결함 검출 행정이 필요해 짐에 따라 비용상승 요인이 된다는 문제가 있으며, 또한 온도 변화나 오랜 시간이 경과한 변화에 의해 나타나는 결함에는 대응할 수 없다는 점도 문제이다. 이러한 배경으로 다이나믹형 결함 보정에 대한 요구가 높아지고 있다.

다이나믹형 결함 보정 기술로서는, 예를 들면 하기의 특허문헌에 기재된 기술이 있다.

일본 공개특허 공보 제2009-290653호 일본 공개특허 공보 제2011-135566호 일본 공개특허 공보 제2008-067158호

그러나 특허문헌 1에 개시된 방법은 결함 보정에 대한 일반적인 방법으로, 해당 화소 근방 8개 화소에 대한 화소값의 평균값과 해당 화소의 화소값과의 차분값을 보는 것만으로는 부작용이 크며, 실제로 근방 화소의 화소값 모두가 해당 화소의 화소값에서 멀어지는 등의 조건을 추가할 필요가 잇다. 그러한 경우에는 결함 화소와 가까운 값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 결함 화소를 결함으로 판정할 수 없어 결함 화소가 남게 된다.

특허문헌 2에 개시된 방법은, 특허문헌 1에 개시된 방법과는 다른 결함 화소 판정 방법인데, 결함의 판정 조건이 설정 윈도우 내에서 해당 화소의 화소값이 최대값인 경우로 한정되어 있으며 결함 화소와 가까운 값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 결함 화소를 결함으로 충분히 판정할 수 없어 결함 화소가 남게 되는 경우가 있다.

특허문헌 3에 개시된 방법은 특허문헌 1에 개시된 방법 및 특허문헌 2에 개시된 방법과는 다른 결함 화소 판정 방법인데, 부작용을 줄이는 설정으로 하면, 역시 결함 화소와 가까운 값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 결함 화소를 결함으로 충분히 판정할 수 없어 결함 화소가 남게 되는 경우가 있다.

따라서 본 발명은, 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우에도, 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있게 하는 기술을 제공하고자 하는 것이다.

본 발명의 일 실시 예에 의하면, 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값 및 제1 최소값의 제1 차분값을 산출하는 제1 차분 산출부와, 상기 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값 및 제2 최소값의 제2 차분값을 산출하는 제2 차분 산출부와, 상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과, 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와, 상기 제1 차분값과 상기 제2 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 판정부를 구비한 결함 화소 판정 장치가 제공된다.

상기 구성에 의하면, 결함 화소가 해당 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있게 된다. 특히 중심 화소에 대해 수평 방향 또는 수직 방향 근방에 엣지가 존재하는 경우라도 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있게 된다.

상기 판정부는, 상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고, 또한 상기 제1 차분값이 제2 조건을 충족하고, 또한 상기 제2 차분값이 제3 조건을 충족하는 경우, 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정해도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 제1 조건, 제2 조건 및 제3 조건을 충족하는 경우에 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정할 수 있다.

상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최대값보다 큰 경우에, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 제1 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최대값보다 큰 경우에는, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 제1 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제1 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최소값보다 작은 경우에, 상기 제1 화소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최소값보다 작은 경우에는 상기 제1 최소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제1 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 제2 조건은, 상기 제1 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 제1 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제2 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 제3 조건은, 상기 제2 차분값이 제3 임계값보다 작다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 제2 차분값이 제3 임계값보다 작다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제3 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부의 판정은, 상기 중심 화소를 기준으로 하여 상기 제1 화소군 및 상기 제2 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수의 패턴에 대해 이루어져도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 1개의 패턴뿐만 아니라 해당 복수의 패턴에 대해 결함을 판정함으로써 보다 고정밀도로 결함을 판정할 수 있게 된다.

본 발명의 다른 실시 예에 의하면, 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 화소군에서 네 귀퉁이의 어느 한 화소를 제외한 화소군의 화소값 중 최대값과 최소값의 차분값을 산출하는 차분 산출부아, 상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와 상기 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 판정부를 구빈한 결함 화소 판정 장치가 제공된다.

상기 구성에 의하면, 결함 화소가 해당 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있게 된다. 특히 중심 화소에 대해 수평 방향 또는 수직 방향 근방에 엣지가 존재하는 경우라도 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있게 된다.

상기 판정부는, 상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고 또한 상기 차분값이 제2 조건을 충족하는 경우에 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정해도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 제1 조건 및 제2 조건을 충족하는 경우에 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정할 수 있다.

상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최대값보다 큰 경우에, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최대값보다 큰 경우에는, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건을 충족하는 지에 따라 상기 제1 조건을 충족하는 지를 판정할 수 있다.

상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최소값보다 작은 경우에, 상기 최소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 밴 값이 제1 임계값보다 크다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최소값보다 작은 경우에는, 상기 최소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제1 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 제2 조건은, 상기 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건이어도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 상기 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건을 충족하는지에 따라 상기 제2 조건을 충족하는지를 판정할 수 있다.

상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부의 판정은, 상기 중심 화소를 기준으로 하여 상기 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대해 이루어져도 좋다. 상기 구성에 의하면, 상기 판정부는 1개의 패턴뿐만 아니라 해당 복수의 패턴에 대해 결함을 판정함으로써 보다 고정밀도로 결함을 판정할 수 있게 된다.

또한 본 발명의 또 다른 실시 예에 의하면, 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값 및 제1 최소값의 제1 차분값을 산출하는 단계와, 상기 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값 및 제2 최소값의 제2 차분값을 산출하는 단계와, 상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과, 상기 중심 화소의 화소값의 관계와, 상기 제1 차분값과 상기 제2 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 단계를 포함하는 결함 화소 판정 방법이 제공된다.

또한 본 발명의 또 다른 실시 예에 의하면, 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 화소군에서 네 귀퉁이의 어느 한 화소를 제외한 화소군의 화소값 중 최대값과 최소값의 차분값을 산출하는 단계와, 상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와 상기 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 단계를 포함하는 결함 화소 판정 방법이 제공된다.

상기 방법들에 의하면, 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있게 된다. 특히 중심 화소에 대해 수평 방향 또는 수직 방향 엣지가 존재하는 경우에도 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있게 된다.

상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도 해당 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있게 하는 기술을 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 적용할 수 있는 4원색 센서의 구성 예를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예가 해결하고자 하는 기술적인 과제를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치의 기능 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 도 3 중 제1 엣지 근방 결함 판정부의 상세 구성을 도시한 도면이다.
도 5는 도 3 중 제1 엣지 근방 결함 판정부가 갖는 상세 기능을 도시한 도면이다.
도 6은 도 3 중 제2 엣지 근방 결함 판정부의 상세 구성을 도시한 도면이다.
도 7은 도 3 중 제2 엣지 근방 결함 판정부가 갖는 상세 기능을 도시한 도면이다.
도 8은 결함 판정의 종류와 보정값과의 관계에 대한 일 예를 도시한 도면이다.

이하에 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대해 상세히 설명하기로 한다. 아울러 본 명세서 및 도면에서 실질적으로 동일한 기능 구성을 갖는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 붙임으로써 중복 설명을 생략한다.

또한 본 명세서 및 도면에서 실질적으로 동일한 기능 구성을 갖는 복수의 구성요소를, 동일한 부호 뒤에 다른 알파벳을 붙여 구별하는 경우도 있다. 단, 실질적으로 동일한 기능 구성을 갖는 복수의 구성요소 각각을 특별히 구별할 필요가 없는 경우 동일 부호만을 붙인다.

우선, 본 발명의 실시 예에 적용할 수 있는 센서의 종류에 대해 설명하기로 한다. 도 1은 본 발명의 일 실시 예에 적용할 수 있는 4원색 센서의 구성 예를 도시한 도면이다. 아울러 도 1을 이용한 설명에서는 본 발명의 실시 예에 적용할 수 있는 센서로서 4원색 센서(110A)를 예로 들어 설명하는데, 후술하는 바와 같이 본 발명의 실시 예에 적용할 수 있는 센서는 4원색 센서(110A)로 한정되지는 않는다.

도 1에 도시한 바와 같이 4원색 센서(110A)는 A, B, C, D로 나타나는 4개의 컬러 필터가 2×2 화소를 단위로 하여 나열되어 있는 센서이다. 그러나 4개의 컬러 필터는 각각 다른 파장 영역의 광을 검출하는 것이라면 그 구성은 특별히 한정되지는 않는다. 예를 들면 4개의 컬러 필터는 R, G, B의 3원색의 화소에 화이트 화소를 더한 구성이어도 좋고, 상기 3원색의 화소에 적외광 화소를 더한 구성이어도 좋고, 가시광 영역을 4등분하여 얻어지는 각각의 파장 영역의 광을 각각 검출해도 좋다.

이상, 본 발명의 실시 예에 적용할 수 있는 센서의 종류에 대해 설명하였다. 계속해서 본 발명의 실시 예가 해결하고자 하는 과제를 설명하기로 한다. 도 2는, 본 발명의 일 실시 예가 해결하고자 하는 기술적인 과제를 도시한 도면이다. 여기서 종래의 다이나믹 결함 판정 방법은, 동색 레이어 3×3 중에서 중심 화소가 고립되어 있는 것을 조건으로 한다. 동색 레이어란, 예를 들면 도 1에 도시한 4원색 센서(110A)에서는 동일 종류의 컬러 필터에 상당한다. 따라서 3×3 화소군 중에 1 화소라도 중심 화소와 같거나 매우 가까운 값을 갖는 화소가 존재하는 경우, 해당 중심 화소는 결함으로 판정되지 않는다.

즉, 종래의 다이나믹 결함 판정 방법에 의하면, 평탄부를 중심으로 대부분의 결함 화소를 판정 및 제거할 수 있는데, 도 2에 도시된 바와 같이 화상(M1)에서 화상(M2)로 결함 보정이 되었다면, 결함 화소와 같은 레벨의 엣지가 근방에 있는 경우에는 그 결함 화소(예를 들면, 도 2에 도시한 결함 화소(R1), (R2) 등)는 결함 화소로 판정되지 않기 때문에 결함 보정이 된 후에도 제거되지 않고 남는다는 문제가 있었다.

예를 들면, 도 2에 도시한 예에서는 결함 화소(R1)와 동색 레이어로 결함 화소(R1)의 오른쪽에 존재하는 3화소(보다 상세하게는, 결함 화소(R1)와 동색 레이어로 결함 화소(R1)의 오른쪽 위에 존재하는 1 화소, 오른쪽에 존재하는 1 화소 및 오른쪽 아래에 존재하는 1 화소의 합계 3 화소)는 결함 화소(R1)와 같은 화소값을 가지고 있으며, 결함 화소(R1)는 결함 화소로 판정되지 않는다. 또한 결함 화소(R2)와 동색 레이어로 결함 화소(R2)의 왼쪽 위의 1 화소는 결함 화소(R2)와 같은 화소값을 가지고 있으며 결함 화소(R2)는 결함 화소로 판정되지 않는다.

그래서 본 발명의 실시형태에서는, 결함 화소가 해당 결함 화소의 화소값과 가까운 화소값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 경우라도, 해당 결함 화소를 결함 화소라고 고정밀도로 판정 가능하게 하는 기술에 대해 설명한다.

계속해서 본 발명의 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치(10)의 기능 구성에 대해 설명하기로 한다. 도 3은, 본 발명의 일 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치의 기능 구성을 도시한 도면이다. 도 3에 도시한 바와 같이 결함 화소 판정 장치(10)는 센서(110), 라인 메모리(120), 보정값 산출부(130), 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150), 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 및 셀렉터(170)를 구비한다. 이하, 결함 화소 판정 장치(10)가 구비한 각 기능 블록의 기능에 대해 차례대로 상세히 설명하기로 한다.

센서(110)는, 외부로부터의 광을 촬상 소자의 수광 평면에 결상시키고, 결상된 광을 전하량으로 광전 변환하고, 해당 전하량을 전기신호로 변환하는 이미지 센서로 구성된다. 이미지 센서의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 CCD(charge coupled device)이어도 좋고, CMOS(complementary metal oxide semiconductor)이어도 좋다. 아울러 도 3에 도시된 예에서 센서(110)는 결함 화소 판정 장치(10)의 내부에 존재하는데, 센서(110)는 결함 화소 판정 장치(10)의 외부에 존재해도 좋다.

여기서 본 발명의 실시 예에서는, 센서(110)의 구성 예로서, 2×2 화소 중 각 색 1 화소만 존재하는 4원색 센서(110A)를 이용하는데, 센서(110)의 구성은, 후술하는 바와 같이 상기 예로 한정되지는 않는다. 센서(110)로부터의 RAW 신호는 라인 메모리(120)에 의해 축적되어 보정값 산출부(130), 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150), 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 및 셀렉터(170)에서 독출된다. 예를 들면 RAW 신호는 화상 신호로서 5라인씩 독출된다. 아울러 도 3에 도시된 예에서, 라인 메모리(120)는 결함 화소 판정 장치(10)의 내부에 존재하는데, 라인 메모리(120)는 결함 화소 판정 장치(10)의 외부에 존재해도 좋다.

보정값 산출부(130)는 결함 화소의 화소값에 대한 보정이 이루어지는 경우, 보정 후 화소값(이하, “보정값”이라고도 표기함)를 산출한다. 여기서 예를 들면, 도 3에 도시한 예에서 결함을 판정하는 기능 블록으로서 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)가 존재하고 있다. 이와 같이 결함을 판정하는 기능 블록이 결함 화소 판정 장치(10)의 내부에 여러 개 존재하는 경우, 보정값 산출부(130)는 각각의 결함 판정에 대응하는 보정값을 산출하고 해당 보정값을 셀렉터(170)에 공급해도 좋다. 보정값의 구체적인 예에 대해서는 도 8을 참조하여 후술하기로 한다. 아울러 결함 화소에 대한 보정을 할 필요가 없는 경우 등에는 결함 화소 판정 장치(10)는 보정값 산출부(130)를 구비하지 않아도 좋다.

다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)는, 라인 메모리(120)에서 공급되는 화상 신호를 구성하는 복수의 화소로부터 중심 화소를 차례대로 선택하여 해당 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정한다. 다이나믹 결함 판정부(140)는, 종래의 다이나믹 결함 판정에 의한 결함 판정 조건을 이용하여 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정한다. 아울러 결함 화소 판정 장치(10)는 다이나믹 결함 판정부(140)를 구비하지 않아도 좋다.

여기서 상기에 개시된 바와 같이, 종래의 다이나믹 결함 판정 방법에 의하면, 결함 화소와 동일한 레벨의 엣지가 근방에 존재하는 경우, 그 결함 화소는 결함 화소로 판정되지 않았다. 반면 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)는 결함 화소와 동일한 레벨의 엣지가 근방에 있는 경우라도 그 결함 화소를 결함 화소로 판정할 수 있다.

구체적으로, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)는, 중심 화소에 대해 수평 방향 또는 수직 방향 근방에 엣지가 존재하는 경우라도 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있다. 또한 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)는, 중심 화소에 대해 경사 방향 근방에 엣지가 존재하는 경우라도 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있다.

아울러 도 3에 도시한 예에서, 결함 화소 판정 장치(10)는 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 모두를 구비하였으나, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 중 적어도 어느 하나를 구비하면 된다. 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각이 갖는 상세한 기능에 대해서는 후술하기로 한다.

셀렉터(170)는, 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각에서 공급되는 판정 결과에 근거하여 보정값 산출부(130)에 의해 산출된 각 보정값으로부터 몇 개의 보정값을 선택한다. 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각에서 공급되는 판정 결과와 셀렉터(170)에 의해 선택되는 보정값과의 관계에 대해서는, 도 8을 참조하여 후술하기로 한다.

셀렉터(170)에 의해서 선택된 보정값은, 예를 들면 결함 화소 판정 장치(10)의 회부에 존재하는 다른 장치에 출력되고, 해당 다른 장치에서 해당 결함 화소가 해당 보정값으로 보정되어도 좋다. 아울러 보정값을 선택할 필요가 없는 경우 등에는(예를 들면 다이나믹 결함 판정부(140)가 존재하지 않고 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)만 존재하는 경우 등), 결함 화소 판정 장치(10)는 셀렉터(170)를 구비하지 않아도 좋다.

또한 도 3에 도시한 바와 같이, 보정값 산출부(130), 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)를 병렬로 설치함으로써 라인 메모리(120)를 중복 설치할 필요가 없어 라인 메모리(120)의 메모리 사이즈를 줄일 수 있게 된다.

이상, 본 발명의 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치(10)의 기능 구성에 대해 설명하였다.

계속해서, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)의 상세 구성을 설명하기로 한다. 도 4는, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)의 상세 구성을 도시한 도면이다. 또한 도 5는, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)가 갖는 상세 기능을 도시한 도면이다. 도 4에 도시한 바와 같이, 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)는 제1 차분 산출부(1511), 제2 차분 산출부(1512) 및 판정부(152)를 구비한다.

이하의 설명에서는 도 5에 도시한 바와 같이 중심 화소를 중심 화소(Pc)로 나타내고, 중심 화소(Pc)와 동색 레이어로서 중심 화소(Pc)에 인접한 화소군을 제1 화소군(화소(P1), 화소(P2), 화소(P4), 화소(P6) 및 화소(P7))과 제2 화소군(화소(P3), 화소(P5) 및 화소(P8))으로 나눈다.

또한 도 5의 (수학식 1)에 도시한 바와 같이 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값을 Pmax=MAX(P1, P2, P4, P6, P7)로 도시하고, 도 5의 (수학식 2)에 도시한 바와 같이 제1 화소군의 화소값 중 제1 최소값을 Pmin=MIN(P1, P2, P4, P6, P7)으로 도시한다. 따라서 제1 최대값과 제1 최소값의 제1 차분값은 Pmax-Pmin으로 도시한다.

또한 도 5의 (조건 3)에 도시한 바와 같이 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값을, MAX(P3, P5, P8)로 도시하고, 제2 화소군의 화소값 중 제2 최소값을 MIN(P3, P5, P8)으로 도시한다. 또한 도 5의 (조건 3)에 도시한 바와 같이 제2 최대값과 제2 최소값의 제2 차분값을 MAX(P3, P5, P8)-MIN(P3, P5, P8)으로 도시한다.

여기서 제1 차분 산출부(1511)는 Pmax-Pmin를 산출한다. 또한 제2 차분 산출부(1512)는 MAX(P3, P5, P8)- MIN(P3, P5, P8)을 산출한다. 판정부(152)는 Pmax 또는 Pmin 및 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계와, Pmax-Pmin 및 MAX(P3, P5, P8)-MIN(P3, P5, P8)에 기초하여 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부를 판정한다.

이러한 결함 화소의 판정 방법에 의하면, 중심 화소(Pc)에 대해 수평 방향 또는 수직 방향 근방에 엣지가 존재하는 경우에도 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있다. 해당 판정 방법은, 중심 화소(Pc)가 흰색 결함(hot pixel)인 경우에 대해서도 적용 가능하고, 중심 화소(Pc)가 검은색 결함(cold pixel)인 경우에 대해서도 적용 가능하다.

아울러 도 5에는, 중심 화소(Pc)의 오른쪽에 수직 방향의 엣지가 존재하는 경우를 도시하였으나, 중심 화소(Pc)의 왼쪽에 수직 방향의 엣지가 존재하는 경우, 중심 화소(Pc)의 위쪽에 수평 방향의 엣지가 존재하는 경우 및 중심 화소(Pc)의 아래쪽에 수평 방향의 엣지가 존재하는 경우에 대해서도 해당 방법을 적용할 수 있다.

해당 방법을 상기 경우에 적용하려면, 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부의 판정이, 중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 제1 화소군(화소(P1), 화소(P2), 화소(P4), 화소(P6) 및 화소(P7))및 제2 화소군(화소(P3), 화소(P5) 및 화소(P8))을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대해 이루어진다. 예를 들면 소정 각도가 90도인 경우에는, 90도씩 회전하여 얻어지는 4개의 패턴에 대해 판정이 이루어지면 된다. 이와 같이 해당 방법을 복수의 패턴에 대해 적용함으로써 보다 고정밀도로 결함을 판정할 수 있게 된다.

해당 복수의 패턴에 대한 판정이 이루어지는 경우, 판정부(152)는 해당 복수의 패턴 중 적어도 어느 하나의 패턴에서 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정한 경우에는, 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정하면 된다. 또한 판정부(152)는, 해당 복수의 패턴 모두에서 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정하는 경우에는, 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정하면 된다.

중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 제1 화소군 및 제2 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대한 판정이 이루어지는 경우에는, 제1 화소군 및 제2 화소군이 소정 각도 회전된 후 상기 방법에서의 판정과 동일한 판정이 이루어져도 좋다. 또는 제1 화소군 및 제2 화소군 자체는 회전시키지 않고 상기 방법에서의 판정과 다른 판정(예를 들면, 중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 대상의 화소 자체를 소정 각도 회전시킨 후의 화소로 한 후의 판정)이 이루어져도 좋다.

어떠한 경우에 판정부(152)가 중심 화소(Pc)를 결함 화소로 판정할지에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 판정부(152)는 Pmax 또는 Pmin과 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고, 또한 Pmax-Pmin이 제2 조건을 충족하고, 또한 MAX(P3, P5, P8)-MIN(P3, P5, P8)이 제3 조건을 충족하는 경우에 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정해도 좋다.

예를 들면, 도 5의 (수식 3) 및 (조건 1)에 도시한 바와 같이, 제1 조건은, 중심 화소(Pc)의 화소값이 Pmax보다 큰 경우에는 중심 화소(Pc)의 화소값에서 Pmax를 뺀 값(Pc-Pmax)이 제1 임계값(TH1)보다 크다는 조건이어도 좋다. 또한 도 5의 (수식 3) 및 (조건 1)에 도시한 바와 같이 제1 조건은, 중심 화소(Pc)의 화소값이 Pmin보다 작은 경우에는 Pmin에서 중심 화소(Pc)의 화소값을 뺀 값(Pmin-Pc)이 제1 임계값(TH1)보다 크다는 조건이어도 좋다.

또한 예를 들면 도 5의 (조건 2)에 도시한 바와 같이 제2 조건은, Pmax-Pmin이 제2 임계값(TH2)보다 작다는 조건이어도 좋다. 또한 예를 들면, 도 5의 (조건 3)에 도시한 바와 같이 제3 조건은 MAX(P3, P5, P8)- MIN(P3, P5, P8)이 제3 임계값(TH3)보다 작다는 조건이어도 좋다.

아울러 예를 들면, 판정부(152)는 Pmax 또는 Pmin과 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계가 상기 제1 조건을 충족하지 않는 경우, 또는 Pmax-Pmin이 상기 제2 조건을 충족하지 않는 경우, 또는 MAX(P3, P5, P8)-MIN(P3, P5, P8)이 상기 제3 조건을 충족하지 않는 경우에는 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정해도 좋다.

이상, 본 발명의 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치(10)가 구비한 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)의 상세 기능에 대해 설명하였다.

계속해서 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)의 상세 기능에 대해 설명하기로 한다. 도 6은, 도 3 중 제2 엣지 근방 결함 판정부의 상세 구성을 도시한 도면이다. 또한 도 7은, 도 3 중 제2 엣지 근방 결함 판정부가 갖는 상세 기능을 도시한 도면이다. 도 6에 도시한 바와 같이 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)는 차분 산출부(161) 및 판정부(162)를 구비한다.

이하의 설명에서는, 도 7에 도시한 바와 같이 중심 화소를 중심 화소(Pc)로 나타내고, 중심 화소(Pc)와 동색 레이어로써 중심 화소(Pc)에 인접한 화소군에서 네 귀퉁이의 어느 한 화소(화소(P1))를 제외한 제거후의 화소군(화소(P2), 화소(P3), 화소(P4) 및 화소(P5), 화소(P6), 화소(P7) 및 화소(P8))을 상정한다.

또한 도 7의 (수학식 4)에 도시한 바와 같이 제거 후 화소군의 화소값 중 최대값을 Pmax=MAX(P2, P3, P4, P5, P6, P7, P8)로 도시하고, 도 7의 (수학식 5)에 도시한 바와 같이 제거 후 화소군의 화소값 중 최소값을 Pmin=MIN(P2, P3, P4, P5, P6, P7, P8)으로 도시한다. 따라서 최대값과 최소값의 차분값은 Pmax-Pmin으로 도시한다.

여기서 차분 산출부(161)는 Pmax-Pmin를 산출한다. 또한 판정부(162)는 Pmax 또는 Pmin 및 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계와, Pmax-Pmin에 기초하여 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부를 판정한다.

이러한 결함 화소의 판정 방법에 의하면, 중심 화소(Pc)에 대해 경사 방향 근방에 에지가 존재하는 경우에도 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부를 판정할 수 있다. 해당 판정 방법은, 중심 화소(Pc)가 흰색 결함(hot pixel)인 경우에 대해서도 적용 가능하고, 중심 화소(Pc)가 검은색 결함(cold pixel)인 경우에 대해서도 적용 가능하다.

아울러 도 7에는, 중심 화소(Pc)의 왼쪽 위에 경사 방향의 엣지가 존재하는 경우를 도시하였으나, 중심 화소(Pc)의 오른쪽 위에 경사 방향의 엣지가 존재하는 경우, 중심 화소(Pc)의 왼쪽 아래에 경사 방향의 엣지가 존재하는 경우 및 중심 화소(Pc)의 오른쪽 아래에 경사 방향의 엣지가 존재하는 경우에 대해서도 해당 방법을 적용할 수 있다.

해당 방법을 상기 경우에 적용하려면, 중심 화소(Pc)가 결함 화소인지 여부의 판정이, 중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 제거 후의 화소군(P2, P3, P4, P5, P6, P7, P8)을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대해 이루어진다. 예를 들면 소정 각도가 90도인 경우에는, 90도씩 회전하여 얻어지는 4개의 패턴에 대해 판정이 이루어지면 된다. 이와 같이 해당 방법을 복수의 패턴에 대해 적용함으로써 보다 고정밀도로 결함을 판정할 수 있게 된다.

해당 복수의 패턴에 대한 판정이 이루어지는 경우, 판정부(162)는 해당 복수의 패턴 중 적어도 어느 하나의 패턴에서 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정한 경우에는, 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정하면 된다. 또한 판정부(162)는, 해당 복수의 패턴 모두에서 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정하는 경우에는, 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정하면 된다.

중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 제거 후의 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대한 판정이 이루어지는 경우에는, 제거 후의 화소군이 소정 각도 회전된 후 상기 방법에서의 판정과 동일한 판정이 이루어져도 좋다. 또는 제거 후의 화소군 자체는 회전시키지 않고 상기 방법에서의 판정과 다른 판정(예를 들면, 중심 화소(Pc)를 기준으로 하여 대상의 화소 자체를 소정 각도 회전시킨 후의 화소로 한 후의 판정)이 이루어져도 좋다.

어떠한 경우에 판정부(162)가 중심 화소(Pc)를 결함 화소로 판정할지에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 판정부(162)는 Pmax 또는 Pmin과 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고, 또한 Pmax-Pmin이 제2 조건을 충족하는 경우에 중심 화소(Pc)가 결함 화소라고 판정해도 좋다.

예를 들면, 도 7의 (수식 3) 및 (조건 1)에 도시한 바와 같이, 제1 조건은, 중심 화소(Pc)의 화소값이 Pmax보다 큰 경우에는 중심 화소(Pc)의 화소값에서 Pmax를 뺀 값(Pc-Pmax)이 제1 임계값(TH1)보다 크다는 조건이어도 좋다. 또한 도 7의 (수식 3) 및 (조건 1)에 도시한 바와 같이 제1 조건은, 중심 화소(Pc)의 화소값이 Pmin보다 작은 경우에는 Pmin에서 중심 화소(Pc)의 화소값을 뺀 값(Pmin-Pc)이 제1 임계값(TH1)보다 크다는 조건이어도 좋다.

또한 예를 들면 도 7의 (조건 2)에 도시한 바와 같이 제2 조건은, Pmax-Pmin이 제2 임계값(TH2)보다 작다는 조건이어도 좋다. 또한 예를 들면, 도 5에 도시한 제1 임계값(TH1)과 도 7에 도시한 제2 임계값(TH2)은 동일해도 좋고 달라도 좋다.

아울러 예를 들면, 판정부(162)는 Pmax 또는 Pmin과 중심 화소(Pc)의 화소값과의 관계가 상기 제1 조건을 충족하지 않는 경우, 또는 Pmax-Pmin이 상기 제2 조건을 충족하지 않는 경우, 중심 화소(Pc)가 결함 화소는 아니라고 판정해도 좋다.

이상, 본 발명의 실시 예에 관한 결함 화소 판정 장치(10)가 구비한 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)의 상세 기능에 대해 설명하였다.

여기서 상술한 바와 같이 보정값 산출부(130)에 의한 보정값 산출 방법에 대해서는 특별히 한정되지 않는다. 이하에서는 보정값 산출부(130)에 의한 보정값 산출 방법의 일 예에 대해 설명하기로 한다. 도 8은, 결함 판정의 종류와 보정값과의 관계에 대한 일 예를 도시한 도면이다. 아울러 보정값 산출부(130)에 의한 보정값 산출 방법은 도 8에 도시한 예로 한정되지 않는다.

상술한 바와 같이 결함 화소로 판정된 화소의 화소값은, 예를 들면 보정값 산출부(130)에 의해 산출된 보정값으로 치환된다. 도 8에 도시한 바와 같이 보정값 값은, 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 중 어느 기능 블록에 의해 결함 판정(즉, 중심 화소(Pc)가 결함 화소라는 판정)이 이루어졌는지에 따라 달라도 좋다.

예를 들면, 다이나믹 결함 판정부(140)에 의해 결함 판정이 이루어진 경우에는, 중심 화소(Pc)의 상하좌우 4화소(화소(P2), 화소(P4), 화소(P5) 및 화소(P7))의 평균값이 보정값으로 사용되어도 좋다.

또한 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)에 의해 결함 판정이 이루어진 경우, 엣지가 중심 화소(Pc)의 왼쪽 또는 오른쪽에 존재하는 경우에는 중심 화소(Pc)의 상하 2 화소(화소(P2) 및 화소(P7))의 평균값이 보정값으로서 사용되어도 좋고, 엣지가 중심 화소(Pc)의 위 또는 아래에 존재하는 경우에는, 중심 화소(Pc)의 좌우 2 화소(화소(P4) 및 화소(P5))의 평균값이 보정값으로서 사용되어도 좋다.

제1 엣지 근방 결함 판정부(150)에 의해 결함 판정이 이루어지고 또한 엣지가 중심 화소(Pc)의 왼쪽 또는 오른쪽에 존재하는 것은, 엣지의 방향이 수평 방향인 경우이다. 한편 제1 엣지 근방 결함 판정부(150)에 의해 결함 판정이 이루어지고 또한 엣지가 중심 화소(Pc) 위 또는 아래에 존재하는 것은, 엣지의 방향이 수직 방향인 경우이다. 그래서 엣지의 방향이 수평 방향 및 수직 방향 중 어느 쪽인지를 판정하는 기능 블록을 설치하고, 셀렉터(170)는, 상기 기능 블록에 의해 판정된 엣지의 방향에서 엣지가 중심 화소(Pc)의 왼쪽 또는 오른쪽에 존재하는지, 위 또는 아래에 존재하는지를 판정해도 좋다.

또한 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)에 의해 결함 판정이 이루어진 경우, 엣지가 중심 화소(Pc)의 왼쪽 위, 오른쪽 위, 왼쪽 아래 및 오른쪽 아래 중 어느 한 쪽에 존재하는 경우, 중심 화소(Pc)의 상하좌우 4화소(화소(P2), 화소(P4), 화소(P5) 및 화소(P7))의 평균값이 보정값으로서 사용되어도 좋다.

도 8에 도시한 예에서는, 사용되는 보정값을 상하 2 화소 평균, 좌우 2 화소 평균, 상하좌우 4 화소 평균의 3 종류 중 하나이다. 이 경우, 보정값 산출부(130)는 이 3 종류의 보정값을 산출하여 셀렉터(170)에 공급하고, 셀렉터(170)는 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각에 의한 판정 결과에 기초하여 보정값을 선택하고 다른 장치로 출력한다. 셀렉터(170)는 어느 결함 판정도 이루어지지 않은 경우에는 입력 화소값을 그대로 출력하면 된다.

셀렉터(170)에는 다이나믹 결함 판정부(140), 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각에 의한 판정 결과가 동시에 공급될 수 있기 때문에 셀렉터(170)가 복수의 결함 판정을 검출하는 경우도 있을 수 있다. 그러한 경우를 상정하여 판정 결과를 참조하는 순서를 미리 결정해 두고, 셀렉터(170)는 최초로 검출한 결함 판정에 대응하는 보정값을 선택해도 좋다. 이 판정 결과를 참조하는 순서는, 예를 들면 도 8에 도시한 바와 같이 다이나믹 결함 판정, 엣지 근방 결함 판정 1(제1 엣지 근방 결함 판정부(150)에 의한 판정 결과) 및 엣지 근방 결함 판정 2(제2 엣지 근방 결함 판정부(160)에 의한 판정 결과)의 순서이어도 좋지만, 특별히 한정되지는 않는다.

이상, 보정값 산출부(130)에 의한 보정값 산출 방법의 일 예에 대해 설명하였다.

본 발명의 실시 예에 의하면, 중심 화소와 동일 레벨의 값을 갖는 엣지 근방에 존재하는 결함 화소도 결함 화소로 판정하여 보정 및 제거를 할 수 있다. 상기 보정 및 제거는, 종래의 다이나믹 결함 보정으로는 제거할 수 없었다. 예비 실험의 결과에서는, 종래의 다이나믹 결함 보정과 본 발명 실시 예의 엣지 근방 결함 보정을 조합함으로써 99% 이상의 높은 결함 제거율을 달성하였으며, 또 중요한 화상 정보를 결함으로 오판정하여 보정함으로써 화상에 데미지를 주는 부작용도 최소한으로 억제되었다.

제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160) 각각은 대소 비교, 가감산 및 시프트 연산만으로 구성될 수 있기 때문에 곱셈 및 나눗셈을 필요로 하지 않는다. 연산 지연 등도 최소한으로 억제되어 회로 규모 증가는 매우 적다. 또한 제1 엣지 근방 결함 판정부(150) 및 제2 엣지 근방 결함 판정부(160)는 다이나믹 결함 판정부(140)에서 사용하는 소정 라인(예를 들면 5라인)의 신호를 공용으로 사용할 수 있기 때문에 라인 메모리(120)의 추가도 불필요하다. 이상으로부터 본 발명의 실시 예는 실장이 용이하다는 이점을 가진다.

이상, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태에 대해 상세히 설명하였으나, 본 발명은 상기 예로 한정되지 않는다. 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 기술적 사상의 범주 내에서 각종 변경 예 또는 수정 예를 생각해 낼 수 있는 것은 분명하며, 이들에 대해서도 당연히 본 발명의 기술적 범위에 속하는 것으로 이해된다.

예를 들면, 보정값으로서는, 도 8에 도시한 예에 기재된 보정값을 이용할 필요는 없으며, 보정값 산출에 사용되는 화소의 범위는 5×5 보다 큰 커널 사이즈까지 넓히거나 중심 화소(Pc)와는 다른 색 화소의 화소값을 보정값의 산출에 사용해도 좋다. 본 발명의 실시 형태의 요점은, 엣지 근방의 동일 레벨의 결함 판정 방법을 제공하는데 있다.

또한 본 발명의 실시 예에서는 4원색 센서를 이용하는 경우를 주로 설명하였으나, 2×2 화소 안에 각 색 1 화소 씩 존재한다는 점에서는 3원색 베이어(bayer) 센서의 R, B 신호도 동일하며, 여기에 본 발명의 실시 예를 적용해도 기술적인 문제는 발생하지 않는다. 그러나 3원색 베이어 센서에서는 2×2 화소 중에 2 화소 존재하는 G 신호를 사용하여 디모자이킹 하기 때문에 최종 화상의 해상도가 높아 결함 보정의 부작용으로서 해상도 저하가 없는지 검토하는 것이 좋다. 또한 G 신호를 참조하여 결함의 판정 정밀도도 상승할 가능성이 있다는 점에 유의해야 한다.

10: 결함 화소 판정 장치
110: 센서
120: 라인 메모리
130: 보정값 산출부
140: 다이나믹 결함 판정부
150: 제1 엣지 근방 결함 판정부
1511: 제1 차분 산출부
1512: 제2 차분 산출부
152: 판정부
160: 제2 엣지 근방 결함 판정부
161: 차분 산출부
162: 판정부
170: 셀렉터

Claims (17)

1. 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값 및 제1 최소값의 제1 차분값을 산출하는 제1 차분 산출부;
   상기 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값 및 제2 최소값의 제2 차분값을 산출하는 제2 차분 산출부; 및
   상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과, 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와, 상기 제1 차분값과 상기 제2 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 판정부;를 포함하고,
   상기 제2 화소군은 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 상기 중심 화소의 오른쪽, 왼쪽, 위쪽 및 아래쪽 중 하나의 화소들이고,
   상기 제1 화소군은 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 상기 제2 화소군의 화소들을 제외한 화소들인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
2. 제 1항에 있어서, 상기 판정부는,
   상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고, 또한 상기 제1 차분값이 제2 조건을 충족하고, 또한 상기 제2 차분값이 제3 조건을 충족하는 경우, 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
3. ◈청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

   제 2항에 있어서,
   상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최대값보다 큰 경우에, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 제1 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
4. ◈청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

   제 2항에 있어서,
   상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 제1 최소값보다 작은 경우에, 상기 제1 최소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
5. ◈청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

   제 2항에 있어서,
   상기 제2 조건은, 상기 제1 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
6. ◈청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

   제2항에 있어서,
   상기 제3 조건은, 상기 제2 차분값이 제3 임계값보다 작다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
7. 제 1항에 있어서,
   상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부의 판정은, 상기 중심 화소를 기준으로 하여 상기 제1 화소군 및 상기 제2 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수의 패턴에 대해 이루어 지는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
8. 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 네 귀퉁이의 어느 한 화소를 제외한 화소군의 화소값 중 최대값과 최소값의 차분값을 산출하는 차분 산출부; 및
   상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와 상기 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 판정부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
9. 제 8항에 있어서, 상기 판정부는,
   상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계가 제1 조건을 충족하고 또한 상기 차분값이 제2 조건을 충족하는 경우에 상기 중심 화소를 결함 화소로 판정하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
10. ◈청구항 10은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 9항에 있어서,
    상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최대값보다 큰 경우에, 상기 중심 화소의 화소값에서 상기 최대값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
11. ◈청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 9항에 있어서,
    상기 제1 조건은, 상기 중심 화소의 화소값이 상기 최소값보다 작은 경우에, 상기 최소값에서 상기 중심 화소의 화소값을 뺀 값이 제1 임계값보다 크다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
12. ◈청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 9항에 있어서,
    상기 제2 조건은, 상기 차분값이 제2 임계값보다 작다는 조건인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
13. ◈청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 9항에 있어서,
    상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부의 판정은, 상기 중심 화소를 기준으로 하여 상기 화소군을 소정 각도 회전하여 얻어지는 복수 패턴에 대해 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
14. 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제1 화소군의 화소값 중 제1 최대값 및 제1 최소값의 제1 차분값을 산출하는 단계;
    상기 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 제2 화소군의 화소값 중 제2 최대값 및 제2 최소값의 제2 차분값을 산출하는 단계; 및
    상기 제1 최대값 또는 상기 제1 최소값과, 상기 중심 화소의 화소값의 관계와, 상기 제1 차분값과 상기 제2 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 단계;를 포함하고,
    상기 제2 화소군은 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 상기 중심 화소의 오른쪽, 왼쪽, 위쪽 및 아래쪽 중 하나의 화소들이고,
    상기 제1 화소군은 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 상기 제2 화소군의 화소들을제외한 화소들인 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 방법.
15. 중심 화소와 동색 레이어로서 상기 중심 화소에 인접한 화소들 중 네 귀퉁이의 어느 한 화소를 제외한 화소군의 화소값 중 최대값과 최소값의 차분값을 산출하는 단계; 및
    상기 최대값 또는 상기 최소값과 상기 중심 화소의 화소값과의 관계와 상기 차분값에 기초하여 상기 중심 화소가 결함 화소인지 여부를 판정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 방법.
16. ◈청구항 16은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 1항에 있어서,
    상기 중심 화소의 위쪽 및 아래쪽 화소들의 평균값 또는 상기 중심 화소의 오른쪽 및 왼쪽 화소들의 평균값을 상기 중심 화소의 보정값으로 치환하는 보정값 산출부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
17. ◈청구항 17은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

    제 8항에 있어서,
    상기 중심 화소의 상하좌우 화소들의 평균값을 상기 중심 화소의 보정값으로 치환하는 보정값 산출부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소 판정 장치.
    
    

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