JP6091807B2 - 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 - Google Patents
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 title claims description 147
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 39
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 126
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 37
- 230000006870 function Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
Description
110 センサ
120 ラインメモリ
130 補正値算出部
140 ダイナミック欠陥判定部
150 第1のエッジ近傍欠陥判定部
1511 第1の差分算出部
1512 第2の差分算出部
152 判定部
160 第2のエッジ近傍欠陥判定部
161 差分算出部
162 判定部
170 セレクタ
Claims (9)
- 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出する第1の差分算出部と、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出する第2の差分算出部と、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第1の条件は、前記中心画素の画素値が前記第1の最大値よりも大きい場合には、前記中心画素の画素値から前記第1の最大値を減じた値が第1の閾値よりも大きいという条件である、
欠陥画素判定装置。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出する第1の差分算出部と、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出する第2の差分算出部と、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第1の条件は、前記中心画素の画素値が前記第1の最小値よりも小さい場合には、前記第1の最小値から前記中心画素の画素値を減じた値が第1の閾値よりも大きいという条件である、
欠陥画素判定装置。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出する第1の差分算出部と、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出する第2の差分算出部と、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第2の条件は、前記第1の差分値が第2の閾値よりも小さいという条件である、
欠陥画素判定装置。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出する第1の差分算出部と、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出する第2の差分算出部と、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第3の条件は、前記第2の差分値が第3の閾値よりも小さいという条件である、
欠陥画素判定装置。 - 前記中心画素が欠陥画素であるか否かの判定は、前記中心画素を基準として前記第1の画素群および前記第2の画素群を所定角度回転して得られる複数パターンに対してなされる、
請求項1〜4のいずれか一項に記載の欠陥画素判定装置。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出するステップと、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出するステップと、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップと、
を含み、
前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップにおいては、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第1の条件は、前記中心画素の画素値が前記第1の最大値よりも大きい場合には、前記中心画素の画素値から前記第1の最大値を減じた値が第1の閾値よりも大きいという条件である、
欠陥画素判定方法。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出するステップと、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出するステップと、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップと、
を含み、
前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップにおいては、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第1の条件は、前記中心画素の画素値が前記第1の最小値よりも小さい場合には、前記第1の最小値から前記中心画素の画素値を減じた値が第1の閾値よりも大きいという条件である、
欠陥画素判定方法。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出するステップと、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出するステップと、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップと、
を含み、
前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップにおいては、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第2の条件は、前記第1の差分値が第2の閾値よりも小さいという条件である、
欠陥画素判定方法。 - 中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第1の画素群の画素値のうち第1の最大値と第1の最小値との第1の差分値を算出するステップと、
前記中心画素と同色レイヤであって前記中心画素に隣接する第2の画素群の画素値のうち第2の最大値と第2の最小値との第2の差分値を算出するステップと、
前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係と前記第1の差分値と前記第2の差分値とに基づいて、前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップと、
を含み、
前記中心画素が欠陥画素であるか否かを判定するステップにおいては、前記第1の最大値または前記第1の最小値と前記中心画素の画素値との関係が第1の条件を満たし、かつ、前記第1の差分値が第2の条件を満たし、かつ、前記第2の差分値が第3の条件を満たす場合に、前記中心画素が欠陥画素であると判定し、
前記第3の条件は、前記第2の差分値が第3の閾値よりも小さいという条件である、
欠陥画素判定方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012188468A JP6091807B2 (ja) | 2012-08-29 | 2012-08-29 | 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 |
KR1020130059927A KR101945408B1 (ko) | 2012-08-29 | 2013-05-27 | 결함 화소 판정 장치 및 결함 화소 판정 방법 |
US14/010,978 US9258555B2 (en) | 2012-08-29 | 2013-08-27 | Apparatus and method for determining defect pixel |
CN201310384874.7A CN103685988B (zh) | 2012-08-29 | 2013-08-29 | 用于确定缺陷像素的设备和方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012188468A JP6091807B2 (ja) | 2012-08-29 | 2012-08-29 | 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014049780A JP2014049780A (ja) | 2014-03-17 |
JP6091807B2 true JP6091807B2 (ja) | 2017-03-08 |
Family
ID=50609077
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012188468A Active JP6091807B2 (ja) | 2012-08-29 | 2012-08-29 | 欠陥画素判定装置および欠陥画素判定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6091807B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10796416B2 (en) * | 2018-06-06 | 2020-10-06 | Adobe Inc. | Recolored collage generation based on color hue distances |
KR102604109B1 (ko) * | 2020-12-09 | 2023-11-21 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4108278B2 (ja) * | 2001-01-24 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置およびそれを用いた撮像装置 |
JP3662514B2 (ja) * | 2001-05-02 | 2005-06-22 | 松下電器産業株式会社 | 欠損画素検出補正装置、欠損画素検出補正方法、欠損画素検出補正プログラム、および、映像信号処理装置 |
JP2006148351A (ja) * | 2004-11-17 | 2006-06-08 | Olympus Corp | 欠陥画素補正装置 |
JP4916275B2 (ja) * | 2006-10-30 | 2012-04-11 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 欠陥画素補正回路、それを用いた画像処理システムおよび欠陥画素補正方法 |
-
2012
- 2012-08-29 JP JP2012188468A patent/JP6091807B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014049780A (ja) | 2014-03-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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