KR101935659B1

KR101935659B1 - Apparatus for determining authenticity of an object and method of manufacturing the same

Info

Publication number: KR101935659B1
Application number: KR1020170041965A
Authority: KR
Inventors: 이헌; 최학종
Original assignee: 고려대학교 산학협력단
Priority date: 2017-03-31
Filing date: 2017-03-31
Publication date: 2019-01-04
Also published as: KR20180111267A

Abstract

진위 판정 장치는, 제1 회절 패턴이 표면에 형성되며, 상기 제1 회절 패턴으로부터 형성된 제1 회절광을 이용하여 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 패턴 구조물, 상기 제1 회절 패턴과 마주보도록 제2 회절 패턴이 그 표면에 형성되며, 상기 제2 회절 패턴으로부터 형성된 제2 회절광을 이용하여 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 패턴 구조물 및 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들 사이에 개재되며, 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들을 상호 결합시키는 본딩 구조물을 포함한다.The truth determining apparatus includes a first pattern structure having a first diffraction pattern formed on a surface thereof and capable of realizing a first image using first diffraction light formed from the first diffraction pattern, A second pattern structure formed on the surface of the second diffraction pattern and capable of implementing a second image using the second diffraction light formed from the second diffraction pattern, and a second pattern structure interposed between the first and second pattern structures, And a bonding structure for bonding the first and second pattern structures to each other.

Description

BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an authenticity determination apparatus and a method for manufacturing the same,

본 발명은 진위 판정 장치 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는 본 발명은 대상체의 진위를 용이하게 판정할 수 있는 진위 판정 장치 및 상기 진위 판정 장치의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a truth determining apparatus and a method of manufacturing the same. More particularly, the present invention relates to an authenticity determination apparatus capable of easily determining authenticity of a subject and a method of manufacturing the authenticity determination apparatus.

소프트웨어, CD, DVD, 유가증권, 양주, 약품 등과 같은 고가 물품의 위조 행위가 큰 사회적 문제로 대두되고 있다. 위조되어 생산된 물품은 대부분 낮은 품질을 가지기 때문에 위와 같은 위조 행위에 의해서 해당 기업은 많은 노력을 기울여 얻게 된 신뢰를 실추 당하는 등 막대한 피해를 입고 있다. 이러한 위조 문제를 해결하기 위해서 기업들은 위조를 곤란하게 하는 기술 또는 진품과 위조품을 판정하는 기술 등을 제품에 부여함으로써 위조품의 유통방지에 노력을 기울이고 있다.Forgery of high-priced items such as software, CDs, DVDs, securities, liquor, and medicines is becoming a major social problem. Since most forged products are of low quality, the company has suffered tremendous damage as a result of forgery such as the loss of trust that the company has devoted much effort to. In order to solve such counterfeiting problems, companies are making efforts to prevent the distribution of counterfeit goods by giving them products that make it difficult to counterfeit or a technique to judge genuine goods and counterfeit goods.

위조 방지를 위해 제품에 부여되는 대표적인 것으로서는 홀로그램(hologram)을 들 수 있다. 홀로그램은 입체상을 재현하는 간섭 줄무늬를 기록한 매체로서 홀로그래피의 원리를 이용하여 만들어진다. 그러나, 홀로그램으로 기록될 수 있는 정보에는 한계가 있기 때문에 정교한 홀로그램을 제작하기가 어려운 문제점이 있었다. 이러한 문제점은 디지털 스캐너와 같은 홀로그램 복제 기구 등에 의해 홀로그램이 복제되기 시작하면서 더욱 부각되게 되었다.A hologram is a typical example given to a product for preventing forgery. A hologram is a medium on which interference fringes reproducing stereoscopic images are recorded, and is made using the principle of holography. However, since there is a limit to the information that can be recorded with the hologram, it is difficult to produce a precise hologram. This problem becomes more apparent when holograms are being copied by a hologram copying mechanism such as a digital scanner.

상기 홀로그램을 이루는 패턴들은, 광의 굴절 현상 및 회절 현상 및 간섭 현상 등을 이용하여 특정 이미지를 구현할 수 있다. The patterns constituting the hologram can implement a specific image by using refraction, diffraction and interference phenomena of light.

보다 상세하게는, 빛이 서로 다른 굴절률을 갖는 물질을 통과할 때에는 굴절이 발생한다. 또한, 서로 다른 굴절률을 갖는 계면 나노 및 마이크로 크기의 거칠기가 형성될 시 복수의 회절 현상 또한 발생한다. 이러한 굴절, 회절이 이루어진 광들 사이의 위상차에 의한 보강/상쇄 간섭이 발생한다. 이에 따라 서로 다른 굴절률을 갖는 물질들 사이의 계면을 통과한 빛은 특이한 이미지를 나타낸다. 따라서, 특이한 형상을 형성하는 계면을 갖는 구조물은 특이한 이미지를 구현할 수 있다.More specifically, refraction occurs when light passes through a material having a different refractive index. Further, when interfacial nano- and micro-sized roughnesses having different refractive indices are formed, a plurality of diffraction phenomena also occurs. The enhancement / destructive interference due to the phase difference between the refracted and diffracted light occurs. Accordingly, light passing through the interface between materials having different refractive indices represents a unique image. Therefore, a structure having an interface forming a specific shape can realize a unique image.

기존의 이러한 구조는 고체 매질 상에 설계된 요철을 형성하여 일반적으로 자연에서 가장 낮은 굴절률을 갖는 공기와의 계면을 형성하고 이를 통해 특정한 이미지를 구현함으로써, 상기 이미지를 이용하여 특정 제품의 진위 여부를 판정할 수 있다. 하지만 이러한 기술은 몰딩 공정을 통하여 쉽게 복제가 가능하며 때문에 위조방지 등에 상대적으로 취약한 문제를 갖고 있다.Such an existing structure forms an uneven surface designed on a solid medium to form an interface with air having the lowest refractive index in nature and realizes a specific image thereby to determine whether the specific product is true or false using the image can do. However, these techniques are easily replicated through the molding process and thus have a problem of being relatively vulnerable to counterfeiting prevention.

따라서, 복제를 지극히 어렵게 하는 동시에 심미감을 개선시킬 수 있는 진위 판정 장치에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다.Accordingly, researches on the authenticity determination apparatus that can extremely improve the reproduction and the esthetic sense are being actively carried out.

본 발명의 일 목적은 복제를 지극히 어렵게 하는 동시에 심미감을 개선시킬 수 있는 진위 판정 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an authenticity determination device capable of making reproduction extremely difficult and at the same time improving a sense of beauty.

본 발명의 다른 목적은 복제를 지극히 어렵게 하는 동시에 심미감을 개선시킬 수 있는 진위 판정 장치의 제조 방법을 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide a method of manufacturing a truth determining apparatus capable of making it extremely difficult to reproduce and at the same time improving a sense of beauty.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 회절 패턴이 표면에 형성되며, 상기 제1 회절 패턴으로부터 형성된 제1 회절광을 이용하여 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 패턴 구조물, 상기 제1 회절 패턴과 마주보도록 제2 회절 패턴이 그 표면에 형성되며, 상기 제2 회절 패턴으로부터 형성된 제2 회절광을 이용하여 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 패턴 구조물 및 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들 사이에 개재되며, 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들을 상호 결합시키는 본딩 구조물을 포함한다.The truth determination apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure having a first diffraction pattern formed on a surface thereof and capable of realizing a first image using first diffraction light formed from the first diffraction pattern, A second pattern structure having a second diffraction pattern formed on a surface thereof so as to face the first diffraction pattern and capable of realizing a second image using the second diffraction light formed from the second diffraction pattern, And a bonding structure interposed between the pattern structures and bonding the first and second pattern structures to each other.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어짐에 따라 간섭성광(coherent light)에 대한 반투과 특성을 가질 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure is formed of a material having a refractive index higher than that of the first and second pattern structures, and thus may have a transflective property with respect to coherent light.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은, 본딩층 및 상기 제1 회절광 또는 상기 제2 회절광에 대한 반사율을 조절할 수 있는 반사율 조절 부재를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure may include a bonding layer and a reflectance adjusting member capable of adjusting reflectance of the first diffracted light or the second diffracted light.

여기서, 상기 반사율 조절 부재는, 상기 본딩층 및 상기 제1 회절 패턴 사이 또는 상기 본딩층 및 제2 회절 패턴 사이의 계면에 형성되고 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어진 고굴절층을 포함할 수 있다.Here, the reflectance control member may be formed of a material which is formed at an interface between the bonding layer and the first diffraction pattern or between the bonding layer and the second diffraction pattern and has a refractive index higher than that of the first and second pattern structures And a high-refraction layer.

이와 다르게, 상기 반사율 조절 부재는, 상기 본딩층 내에 분산된 금속 나노 파티클들을 포함할 수 있다.Alternatively, the reflectance control member may include metal nanoparticles dispersed in the bonding layer.

한편, 상기 반사율 조절 부재는, 상기 본딩층 및 상기 제1 회절 패턴 사이 또는 상기 본딩층 및 제2 회절 패턴 사이의 계면에 형성된 광반사층을 포함할 수 있다.The reflectance adjusting member may include a light reflection layer formed between the bonding layer and the first diffraction pattern or an interface between the bonding layer and the second diffraction pattern.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은, 본딩층 및 상기 제1 회절광 또는 상기 제2 회절광으로부터 특정 파장의 빛을 추출하는 색 조절 부재를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure may include a bonding layer and a color adjusting member for extracting light of a specific wavelength from the first diffracted light or the second diffracted light.

여기서, 상기 색 조절 부재는 상기 본딩층 내에 혼합된 컬러 필터 물질을 포함할 수 있다.Here, the color control member may include a color filter material mixed in the bonding layer.

이와 다르게, 상기 색 조절 부재는, 상기 본딩층 및 상기 제1 회절 패턴 사이 또는 상기 본딩층 및 제2 회절 패턴 사이의 계면에 형성된 컬러필터층을 포함할 수 있다.Alternatively, the color control member may include a color filter layer formed on the interface between the bonding layer and the first diffraction pattern or between the bonding layer and the second diffraction pattern.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 상기 제1 또는 제2 패턴 구조물은, 상기 제1 회절 패턴이 형성된 반대면 상에 형성된 컬러 필터층을 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.The authenticity determination device according to an embodiment of the present invention is characterized in that the first or second pattern structure includes a color filter layer formed on the opposite surface on which the first diffraction pattern is formed.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은, 광투과 특성을 갖는 본딩층을 포함함으로써, 상기 제1 및 제2 이미지를 합하여 하나의 진위 판정 이미지를 표시할 수 있도록 구비될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure may include a bonding layer having a light transmission property so that the first and second images may be combined to display one true-true determination image.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은, 상기 제1 및 제2 패턴 구조물보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어짐에 따라 간섭성광(coherent light)에 대한 반투과 특성을 본딩층 및 상기 본딩층과 제2 회절 패턴 사이에 형성되며, 상기 제2 회절광을 반사시키는 반사층을 포함하여, 상기 제1 및 제2 이미지를 합하여 하나의 진위 판정 이미지를 표시할 수 있도록 구비될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure is formed of a material having a refractive index higher than that of the first and second pattern structures, so that the transflective property of coherent light can be improved, And a reflection layer formed between the first diffraction pattern and the second diffraction pattern and reflecting the second diffracted light so that the first and second images can be combined to display a single truth determination image.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치의 제조 방법에 따르면, 제1 회절 패턴이 표면에 형성되며, 상기 제1 회절 패턴으로부터 형성된 제1 회절광을 이용하여 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 패턴 구조물이 형성된다. 한편, 제2 회절 패턴이 그 표면에 형성되며, 상기 제2 회절 패턴으로부터 형성된 제2 회절광을 이용하여 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 패턴 구조물이 형성된다. 이후, 상기 제1 회절 패턴과 마주보도록 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들 사이에 개재되며, 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들을 상호 결합시키는 본딩 구조물이 형성된다.According to the method for manufacturing the truth determination apparatus according to the embodiment of the present invention, the first diffraction pattern is formed on the surface, and the first diffraction light generated from the first diffraction pattern is used to form the first image A pattern structure is formed. On the other hand, a second diffraction pattern is formed on the surface thereof, and a second pattern structure capable of realizing a second image using the second diffraction light formed from the second diffraction pattern is formed. Thereafter, a bonding structure is formed which is interposed between the first and second pattern structures to face the first diffraction pattern, and which bonds the first and second pattern structures to each other.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩층 및 상기 제1 회절 패턴 사이 또는 상기 본딩층 및 제2 회절 패턴 사이의 계면에 형성된 광반사층이 형성될 수 있다.In one embodiment of the present invention, a light reflection layer may be formed between the bonding layer and the first diffraction pattern or between the bonding layer and the second diffraction pattern.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물은, 본딩 물질 및 분산된 금속 나노 파티클들을 포함할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the bonding structure may include a bonding material and dispersed metal nanoparticles.

본 발명의 실시예들에 따른 진위 판정 장치는, 서로 다른 회절 패턴이 형성되어 제1 이미지 및 제2 이미지를 각각 제1 패턴 구조물 및 제2 패턴 구조물을 포함함으로써, 상기 진위 판정 장치는 복합 이미지를 구현할 수 있다.The truth determining apparatus according to the embodiments of the present invention may be configured such that different diffraction patterns are formed to include a first pattern structure and a second pattern structure respectively as a first image and a second image, Can be implemented.

결과적으로, 상기 진위 판정 장치가 개선된 진위 판정도를 확보할 수 있다. 나아가, 상기 진위 판정 장치가 제1 및 제2 이미지를 포함하는 복합 이미지를 구현함에 따라 상기 진위 판정 장치의 대한 복제가 어려워질 수 있다.As a result, the authenticity determination apparatus can secure an improved authenticity determination degree. Furthermore, since the authenticity determination apparatus implements the composite image including the first and second images, duplication of the authenticity determination apparatus may be difficult.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 4a는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다.
도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판장 장치에 의한 이미지를 촬상한 사진들이다.
도 5a 내지 도 5c는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.
도 6a 내지 도 6c는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.
도 7은 제1 패턴 구조물 및 제2 패턴 구조물을 형성하는 공정을 설명하기 위한 단면도들이다.1 is a cross-sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view illustrating an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.
4A is a cross-sectional view illustrating an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4B is a photograph of an image taken by the authenticity boarding device according to an embodiment of the present invention.
5A to 5C are cross-sectional views illustrating a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.
6A to 6C are cross-sectional views illustrating a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view illustrating a process of forming the first pattern structure and the second pattern structure.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 첨부된 도면에 있어서, 대상물들의 크기와 양은 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대 또는 축소하여 도시한 것이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. In the accompanying drawings, the sizes and the quantities of objects are shown enlarged or reduced from the actual size for the sake of clarity of the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "구비하다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 단계, 기능, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 다른 특징들이나 단계, 기능, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprise", "comprising", and the like are intended to specify that there is a feature, step, function, element, or combination of features disclosed in the specification, Quot; or " an " or < / RTI > combinations thereof.

한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

진위 판정 장치Authenticity determination device

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 1 is a cross-sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 패턴 구조물(110), 제2 패턴 구조물(120) 및 본딩 구조물(130)을 포함한다. 상기 진위 판정 장치는 외부로부터 입사되는 광을 이용하여 특정 이미지를 구현함으로써, 상기 이미지를 이용하여 상기 진위 판정 장치가 부착된 대상물의 진위 판정을 할 수 있다.Referring to FIG. 1, a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure 110, a second pattern structure 120, and a bonding structure 130. The authenticity determination apparatus realizes a specific image using light incident from the outside, so that the authenticity determination of the object attached with the truth determination apparatus can be made using the image.

상기 제1 패턴 구조물(110)은 그 표면에 제1 회절 패턴(115)을 포함한다. 상기 제1 회전 패턴(115)은 그 표면을 향하여 입사되어 광이 회절됨으로써 제1 회절광을 형성한다. 상기 제1 회절광은 상호 보강 또는 상쇄 간섭을 일으킴으로써 제1 이미지를 구현할 수 있다. 상기 제1 이미지는 특정 로고, 회사 표장 등과 같은 진위 판정용 이미지에 해당할 수 있다.The first pattern structure 110 includes a first diffraction pattern 115 on its surface. The first rotating pattern 115 is incident on the surface thereof to diffract the light to form the first diffracted light. The first diffracted light may implement a first image by causing mutual reinforcement or destructive interference. The first image may correspond to an authenticity determination image such as a specific logo, a company mark, or the like.

상기 제1 패턴 구조물(110)은 제1 굴절율을 갖는 제1 물질로 이루어질 수 있다. 상기 제1 물질은 예를 들면, 쿼츠와 같은 실리콘 산화물로 이루어질 수 있다.The first pattern structure 110 may be formed of a first material having a first refractive index. The first material may be, for example, silicon oxide such as quartz.

상기 제2 패턴 구조물(120)은 그 표면에 제2 회절 패턴(125)을 포함한다. 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(110, 120)은 서로 마주보도록 구비된다. 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(110, 120)의 형상은 구현하고자 이미지에 따라 변경될 수 있다.The second pattern structure 120 includes a second diffraction pattern 125 on its surface. The first and second diffraction patterns 110 and 120 are provided to face each other. The shape of the first and second diffraction patterns 110 and 120 may be changed according to an image to be implemented.

상기 제2 패턴 구조물(120)은 제2 굴절율을 갖는 제2 물질로 이루어질 수 있다. 상기 제1 및 제2 물질들은 서로 동일한 물질, 예를 들면, 쿼츠와 같은 실리콘 산화물로 이루어질 수 있다. 이와 다르게 상기 제1 및 제2 물질들은 서로 다른 물질로 이루어질 수 있다.The second pattern structure 120 may be formed of a second material having a second refractive index. The first and second materials may be made of the same material, for example, silicon oxide such as quartz. Alternatively, the first and second materials may be made of different materials.

상기 제2 회전 패턴(120)은 그 표면을 향하여 입사되어 광이 회절됨으로써 제2 회절광을 형성한다. 상기 제2 회절광은 상호 보강 또는 상쇄 간섭을 일으킴으로써 제2 이미지를 구현할 수 있다. 상기 제2 이미지는 특정 로고, 회사 표장 등과 같은 진위 판정용 이미지에 해당할 수 있다. 상기 제1 및 제2 이미지들은 서로 다른 이미지를 포함함에 따라, 상기 진위 판정 장치는 복합 이미지를 구현할 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 이미지는 특정 회사의 로고에 해당하며, 상기 제2 이미지는 특정 상표에 해당할 수 있다. The second rotation pattern 120 is incident on the surface thereof to diffract the light to form the second diffracted light. The second diffracted light may cause a mutual reinforcement or destructive interference to realize a second image. The second image may correspond to an image for authenticity determination such as a specific logo, a company mark, or the like. As the first and second images include different images, the authenticity determination apparatus can implement a composite image. For example, the first image corresponds to a logo of a specific company, and the second image may correspond to a specific trademark.

상기 본딩 구조물(130)은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120) 사이에 개재된다. 상기 본딩 구조물(130)은 열경화성 수지 또는 광경화성 수지를 포함할 수 있다. 이로써, 상기 수지들이 경화됨에 따라, 상기 본딩 구조물(130)은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120)을 상호 본딩할 수 있다. 따라서, 상기 본딩 구조물(130)은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120)을 견고하게 결합시킬 수 있다.The bonding structure 130 is interposed between the first and second pattern structures 110 and 120. The bonding structure 130 may include a thermosetting resin or a photocurable resin. Thereby, as the resins are cured, the bonding structure 130 may bond the first and second pattern structures 110 and 120 together. Accordingly, the bonding structure 130 may firmly couple the first and second pattern structures 110 and 120.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물(130)은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물(110, 120)보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어질 수 있다. 이로써, 상기 본딩 구조물(130)에 입사되는 간섭성광(coherent light)에 대하여 상기 본딩 구조물은 반투과 특성을 가질 수 있다. 이로써, 상기 제1 패턴 구조물(110)은 그 상부를 향하여 반사된 반사광을 이용하여 제1 이미지를 구현하며, 반대로 제2 패턴 구조물(120)은 상기 본딩 구조물(130)을 투과한 투과광을 이용하여 그 하부로 제2 이미지를 구현할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the bonding structure 130 may be formed of a material having a refractive index higher than that of the first and second pattern structures 110 and 120. Thus, the bonding structure may have a semi-transmissive property with respect to coherent light incident on the bonding structure 130. In this case, the first pattern structure 110 implements the first image using the reflected light reflected toward the upper portion of the first pattern structure 110, while the second pattern structure 120 implements the first image using the transmitted light transmitted through the bonding structure 130 And a second image can be implemented thereunder.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩 구조물(130)은, 본딩층(131) 및 상기 제1 회절광 또는 상기 제2 회절광에 대한 반사율을 조절할 수 있는 반사율 조절 부재(136)를 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the bonding structure 130 includes a bonding layer 131 and a reflectance control member 136 capable of adjusting reflectance of the first diffraction light or the second diffraction light .

상기 본딩층(131)은, 열경화성 수지 또는 광경화성 수지를 포함할 수 있다. 이로써, 상기 수지들이 경화됨에 따라, 상기 본딩 구조물(130)은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120)을 상호 본딩할 수 있다.The bonding layer 131 may include a thermosetting resin or a photocurable resin. Thereby, as the resins are cured, the bonding structure 130 may bond the first and second pattern structures 110 and 120 together.

상기 반사율 조절 부재(136)는, 상기 본딩층(131) 및 상기 제1 회절 패턴(115) 사이에 구비될 수 있다. 이와 다르게, 도시되어 있지 않지만 상기 반사율 조절 부재(136)는, 상기 본딩층(131) 및 제2 회절 패턴(125) 사이의 계면에 형성될 수 있다. 상기 반사율 조절 부재(136)는 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어진 고굴절 물질로 이루어질 수 있다. 상기 고굴절 물질은 티타늄 산화물, 구리 산화물, 철 산화물, 크롬 산화물 등과 같은 금속 산화물 물질로 이루어질 수 있다. 이로써, 상기 본딩층(131) 및 상기 제1 회절 패턴(115) 사이에 형성된 반사율 조절 부재(136)은 외부로 입사되는 입사광을 전반사시킬 수 있다. 이로써, 상기 반사율 조절 부재(136)는 상기 제1 회절광의 반사율을 조절할 수 있다. The reflectance adjusting member 136 may be provided between the bonding layer 131 and the first diffraction pattern 115. Alternatively, although not shown, the reflectance control member 136 may be formed at the interface between the bonding layer 131 and the second diffraction pattern 125. [ The reflectance control member 136 may be made of a high-refraction material made of a material having a refractive index higher than that of the first and second pattern structures. The high refractive index material may be a metal oxide material such as titanium oxide, copper oxide, iron oxide, chromium oxide, or the like. Accordingly, the reflectance adjusting member 136 formed between the bonding layer 131 and the first diffraction pattern 115 can totally reflect the incident light incident to the outside. Thus, the reflectance adjusting member 136 can adjust the reflectance of the first diffracted light.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 2 is a sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 패턴 구조물(110), 제2 패턴 구조물(120) 및 본딩 구조물(130)을 포함한다. 상기 본딩 구조물에 포함된 반사율 조절부재를 제외한 나머지 구성요소들은 도 1을 참조로 설명한 진위 판정 장치의 구성 요소들과 실질적으로 동일하다.Referring to FIG. 2, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure 110, a second pattern structure 120, and a bonding structure 130. The remaining components except for the reflectance control member included in the bonding structure are substantially the same as those of the authenticity determination apparatus described with reference to Fig.

상기 본딩 구조물(130)은 본딩층 및 반사율 조절 부재를 포함할 수 있다. The bonding structure 130 may include a bonding layer and a reflectance control member.

상기 반사율 조절 부재는 상기 본딩층 내에 분산된 금속 나노 파티클들(132)을 포함한다. 즉, 상기 금속 나노 파티클들(132)이 입사되는 입사광을 반사시킬 수 있다. 이로써, 상기 반사율 조절 부재는 상기 제1 회절광의 반사율을 조절할 수 있다. The reflectance control member includes metal nanoparticles 132 dispersed in the bonding layer. That is, the metal nanoparticles 132 can reflect the incident light. Thus, the reflectance adjusting member can adjust the reflectance of the first diffracted light.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 3 is a cross-sectional view illustrating an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 패턴 구조물, 제2 패턴 구조물 및 본딩 구조물을 포함한다. 상기 본딩 구조물에 포함된 반사율 조절부재를 제외한 나머지 구성요소들은 도 1을 참조로 설명한 진위 판정 장치의 구성 요소들과 실질적으로 동일하다.Referring to FIG. 3, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure, a second pattern structure, and a bonding structure. The remaining components except for the reflectance control member included in the bonding structure are substantially the same as those of the authenticity determination apparatus described with reference to Fig.

상기 반사율 조절 부재는 상기 본딩층(130) 및 상기 제2 회절 패턴(125) 사이의 계면에 형성된 광반사층(139)을 포함한다. The reflectance adjusting member includes a light reflecting layer 139 formed on an interface between the bonding layer 130 and the second diffraction pattern 125.

상기 광반사층(139)은 상부에서 내부로 입사되는 입사광을 전체적으로 반사시킬 수 있다. 이로써, 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 일 방향으로 구현할 수 있다. 예를 들면, 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 제1 패턴 구조물(110)의 상부로 구현할 수 있다. The light reflection layer 139 may totally reflect the incident light incident from the top to the inside. Thereby, the authenticity determination apparatus can implement the first image and the second image in one direction. For example, the truth determining apparatus may implement a first image and a second image on top of the first pattern structure 110.

도 4a는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 4A is a cross-sectional view illustrating an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4a를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 패턴 구조물(110), 제2 패턴 구조물(120) 및 본딩 구조물을 포함한다. 상기 본딩 구조물에 포함된 반사율 조절부재를 제외한 나머지 구성요소들은 도 1을 참조로 설명한 진위 판정 장치의 구성 요소들과 실질적으로 동일하다.Referring to FIG. 4A, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure 110, a second pattern structure 120, and a bonding structure. The remaining components except for the reflectance control member included in the bonding structure are substantially the same as those of the authenticity determination apparatus described with reference to Fig.

상기 본딩 구조물은 본딩층, 광반사층(139) 및 색 조절 부재(133)를 포함할 수 있다. The bonding structure may include a bonding layer, a light reflecting layer 139, and a color adjusting member 133.

상기 광반사층(139)은, 상부에서 내부로 입사되는 입사광을 전체적으로 반사시킬 수 있다. 이로써, 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 일 방향으로 구현할 수 있다. 예를 들면, 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 제1 패턴 구조물(110)의 상부로 구현할 수 있다. The light reflection layer 139 can totally reflect the incident light incident from the top to the inside. Thereby, the authenticity determination apparatus can implement the first image and the second image in one direction. For example, the truth determining apparatus may implement a first image and a second image on top of the first pattern structure 110.

상기 색 조절 부재(133)는 상기 본딩층 내에 분산된 컬러 필터용 안료 물질을 포함한다. 상기 색 조절 부재(133)는 상기 제2 회절 패턴으로부터 생성된 상기 제2 회절광의 색상을 조절할 수 있다. 이로써 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 일 방향으로 구현하면서, 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 특정 색을 갖는 제2 이미지를 제1 패턴 구조물(110)의 상부로 구현할 수 있다.The color adjusting member 133 includes pigment material for a color filter dispersed in the bonding layer. The color adjusting member 133 may adjust the hue of the second diffraction light generated from the second diffraction pattern. Thus, while the truth determining apparatus implements the first image and the second image in one direction, the truth determining apparatus can implement a first image and a second image having a specific color on top of the first pattern structure 110 .

도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치에 의한 이미지를 촬상한 사진들이다. FIG. 4B is a photograph of an image taken by the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.

도 4b를 참조하면, 상부의 호랑이 무늬의 회절상을 갖는 패턴과 하부의 KU, Benz 로고의 회절상을 갖는 패턴사이에 붉은색, 파란색, 노란색의 컬러필터링 물질이 존재하며, 이렇게 제작된 진위 판정 장치에 백색 간섭광을 조사하면 백색의 호랑이 무늬와 특정색(붉은색, 파란색, 노란색)을 갖는 로고를 동시에 형성하는 광학 마크가 형성되며 확실한 진위판별이 가능하였다.Referring to FIG. 4B, red, blue, and yellow color filtering materials are present between a pattern having an upper torn pattern diffraction pattern and a pattern having a diffraction pattern of a lower KU, Benz logo. When the white interference light is irradiated, an optical mark that forms a white tiger pattern and a logo having a specific color (red, blue, and yellow) is formed at the same time, and a true authenticity can be discriminated.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도이다. 5 is a cross-sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 제1 패턴 구조물(110), 제2 패턴 구조물(120) 및 본딩 구조물(130)을 포함한다. 상기 본딩 구조물에 포함된 반사율 조절부재를 제외한 나머지 구성요소들은 도 1을 참조로 설명한 진위 판정 장치의 구성 요소들과 실질적으로 동일하다.Referring to FIG. 5, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first pattern structure 110, a second pattern structure 120, and a bonding structure 130. The remaining components except for the reflectance control member included in the bonding structure are substantially the same as those of the authenticity determination apparatus described with reference to Fig.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는 제1 컬러 필터층(141)을 더 포함할 수 있다. The authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention may further include a first color filter layer 141. [

상기 제1 컬러 필터층(141)은, 상기 제1 회절 패턴(115)이 형성된 반대면 상에 형성될 수 있다. 나아가, 상기 제2 컬러 필터층(142)은, 상기 제2 회절 패턴(125)이 형성된 반대면 상에 추가적으로 형성될 수 있다. The first color filter layer 141 may be formed on the opposite surface on which the first diffraction pattern 115 is formed. Furthermore, the second color filter layer 142 may be additionally formed on the opposite surface on which the second diffraction pattern 125 is formed.

이로써, 상기 제1 컬러 필터층(141)은 상기 제1 회절 패턴(115)으로부터 생성된 상기 제1 회절광의 색상을 조절할 수 있다. 상기 제2 컬러 필터층(142)은, 상기 제2 회절 패턴(125)이 형성된 제2 회절광의 색상을 조절할 수 있다.Thus, the first color filter layer 141 can adjust the hue of the first diffraction light generated from the first diffraction pattern 115. The second color filter layer 142 may adjust the hue of the second diffraction light on which the second diffraction pattern 125 is formed.

이로써 상기 진위 판정 장치는 제1 이미지 및 제2 이미지를 서로 다른 방향으로 구현한다. 나아가, 상기 진위 판정 장치는 특정 색을 갖는 제1 이미지 및 제2 이미지를 각각 구현할 수 있다.Thus, the truth determining apparatus implements the first image and the second image in different directions. Further, the truth determining apparatus may implement a first image and a second image, respectively, having a specific color.

도 6a 내지 도 5c는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.6A to 5C are sectional views for explaining a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 상기 본딩 구조물은, 광투과 특성을 갖는 본딩층을 포함한다. 이로써, 상기 진위 판정 장치는 일 방향에서 이지를 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 진위 판정 장치는 투과형 이미지를 구현할 수 있다.The authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention is characterized in that the bonding structure includes a bonding layer having light transmittance characteristics. Thus, the authenticity determination apparatus can implement an image in one direction. In this case, the authenticity determination apparatus can implement a transmission type image.

이때, 제1 이미지 및 제2 이미지가 합쳐져서 하나의 진위 판정 이미지가 구현될 수 있다. 이로써, 다른 부분 이미지를 하나의 진위 판정 이미지를 표시할 수 있도록 구비된다. 제1 회절 패턴 및 제2 회절 패턴이 각각의 이미지들을 개별적으로 구현함으로써, 진위 판정 장치의 복제시 제1 회절 패턴(115) 또는 제2 회절 패턴(125)의 손상이 쉽게 발생할 수 있다. 이로써, 진위 판정 장치의 복제가 어려워질 수 있다. At this time, the first image and the second image may be combined to implement one authenticity determination image. Thus, the other partial images are provided so as to be able to display one authenticity determination image. The first diffraction pattern 115 and the second diffraction pattern 125 can be easily damaged when the authenticity determination apparatus replicates by separately implementing the first diffraction pattern and the second diffraction pattern. As a result, duplication of the authenticity determination apparatus may become difficult.

도 6a 내지 도 6c는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.6A to 6C are cross-sectional views illustrating a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 상기 본딩 구조물은, 광투과 특성을 갖는 본딩층을 포함한다. 이로써, 상기 진위 판정 장치는 일 방향에서 이미지를 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 진위 판정 장치는 반사형 이미지를 구현할 수 있다.The authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention is characterized in that the bonding structure includes a bonding layer having light transmittance characteristics. Thus, the authenticity determination apparatus can implement an image in one direction. In this case, the truth determining apparatus can implement a reflection type image.

상기 본딩 구조물(130)은, 본딩층 및 광반사층(139)을 포함한다. The bonding structure 130 includes a bonding layer and a light reflecting layer 139.

상기 본딩층은 상기 제1 및 제2 패턴 구조물보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 이루어짐에 따라 간섭성광(coherent light)에 대한 반투과 특성을 가진다. Since the bonding layer is made of a material having a higher refractive index than the first and second pattern structures, the bonding layer has a transflective property with respect to coherent light.

상기 광반사층(139)은 상기 본딩층과 제2 회절 패턴(125) 사이에 형성된다. 상기 광반사층은 상기 제2 회절광을 반사시키도록 구비된다. 이로써, 상기 제1 및 제2 이미지가 합쳐져서 하나의 진위 판정 이미지이 표시될 수 있다.The light reflecting layer 139 is formed between the bonding layer and the second diffraction pattern 125. The light reflection layer is provided to reflect the second diffraction light. Thereby, the first and second images may be combined so that one authenticity determination image is displayed.

진위 판정 장치의 제조 방법Manufacturing method of authenticity judging device

도 7은 제1 패턴 구조물 및 제2 패턴 구조물을 형성하는 공정을 설명하기 위한 단면도들이다.7 is a cross-sectional view illustrating a process of forming the first pattern structure and the second pattern structure.

도 1 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치의 제조 방법에 따르면, 제1 회절 패턴(115)이 표면에 형성되며, 상기 제1 회절 패턴(115)으로부터 형성된 제1 회절광을 이용하여 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 패턴 구조물(110)을 형성한다. 1 and 7, according to an embodiment of the present invention, a first diffraction pattern 115 is formed on a surface, and a first diffraction pattern 115 formed from the first diffraction pattern 115 The first pattern structure 110 capable of realizing the first image is formed by using the first diffraction light.

제2 회절 패턴(125)이 그 표면에 형성되며, 상기 제2 회절 패턴(125)으로부터 형성된 제2 회절광을 이용하여 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 패턴 구조물(120)을 형성한다.A second diffraction pattern 125 is formed on the surface thereof and a second pattern structure 120 capable of realizing a second image using the second diffraction light formed from the second diffraction pattern 125 is formed.

상기 제1 패턴 구조물(110) 및 제2 패턴 구조물(120)은, 핫 엠보싱 공정, 나노 임프린팅 리소그래피 공정, 몰딜 공정을 통하여 형성될 수 있다. 상기 제1 패턴 구조물(110) 및 제2 패턴 구조물(120)은 개별적으로 형성될 수 있다.The first pattern structure 110 and the second pattern structure 120 may be formed through a hot embossing process, a nanoimprint lithography process, or a molding process. The first pattern structure 110 and the second pattern structure 120 may be formed separately.

이어서, 상기 제1 회절 패턴(115)과 마주보도록 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120) 사이에 개재되며, 상기 제1 및 제2 패턴 구조물들(110, 120)을 상호 결합시키는 본딩 구조물(130)을 형성한다. 이로써, 제1 패턴 구조물(110), 제2 패턴 구조물(120) 및 본딩 구조물(130)을 포함하는 진위 판정 장치기 제조된다. The first and second pattern structures 110 and 120 are then interposed between the first and second pattern structures 110 and 120 to face the first diffraction pattern 115, Thereby forming a bonding structure 130. Thereby, a truth determining device including the first pattern structure 110, the second pattern structure 120, and the bonding structure 130 is manufactured.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 본딩층(130) 및 상기 제1 회절 패턴(115) 사이 또는 상기 본딩층(130) 및 제2 회절 패턴(125) 사이의 계면에 형성된 광반사층(139, 도 3 참조)이 추가적으로 형성될 수 있다. 상기 광반사층은, 화학적 기상증착 공정 또는 물리적 기상증착 공정을 통하여 형성될 수 있다.The light reflection layer 139 formed on the interface between the bonding layer 130 and the first diffraction pattern 115 or the interface between the bonding layer 130 and the second diffraction pattern 125 may be formed on the light reflection layer 139, 3) may be additionally formed. The light reflecting layer may be formed through a chemical vapor deposition process or a physical vapor deposition process.

한편, 상기 본딩 구조물(130)은, 본딩 물질 및 분산된 금속 나노 파티클들을 포함하는 혼합물을 경화시켜 광반사율을 조절할 수 있다.Meanwhile, the bonding structure 130 may control the light reflectance by curing the mixture containing the bonding material and the dispersed metal nanoparticles.

Claims

A first pattern structure having a first diffraction pattern formed on a surface thereof and capable of realizing a first image using first diffraction light formed from the first diffraction pattern;
A second pattern structure having a second diffraction pattern formed on a surface thereof so as to face the first diffraction pattern and capable of realizing a second image using a second diffraction light formed from the second diffraction pattern; And
A bonding structure interposed between the first and second pattern structures to bond the first and second pattern structures together,
Wherein the bonding structure includes a bonding layer and a reflectance adjusting member capable of adjusting a reflectance of the first diffracted light or the second diffracted light,
Wherein the reflectance control member comprises metallic nanoparticles dispersed in the bonding layer and made of a metal oxide having a higher refractive index than the first and second pattern structures.

delete

The apparatus according to claim 1, wherein the bonding structure includes a bonding layer and a color adjusting member for extracting light of a specific wavelength from the first diffracted light or the second diffracted light.

8. The apparatus according to claim 7, wherein the color control member comprises color filter material mixed in the bonding layer.

8. The apparatus according to claim 7, wherein the color adjusting member includes a color filter layer formed between the bonding layer and the first diffraction pattern or at an interface between the bonding layer and the second diffraction pattern.

The apparatus according to claim 1, wherein the first or second pattern structure includes a color filter layer formed on an opposite surface on which the first diffraction pattern is formed.

delete

The method of claim 1, wherein the bonding structure comprises a material having a refractive index higher than that of the first and second pattern structures so that a transflective property for coherent light is formed between the bonding layer and the bonding layer, And a reflective layer formed between the diffraction patterns for reflecting the second diffracted light so that the first and second images can be combined to display one authenticity determination image.

Forming a first pattern structure on a surface of which a first diffraction pattern is formed and using the first diffraction light formed from the first diffraction pattern to form a first image;
Forming a second pattern structure on the surface of which a second diffraction pattern is formed and using the second diffraction light formed from the second diffraction pattern to form a second image; And
And forming a bonding structure interposed between the first and second pattern structures to face the first diffraction pattern to bond the first and second pattern structures together,
Wherein the bonding structure comprises a bonding layer made of a bonding material and metal nanoparticles dispersed in the bonding layer and made of a metal oxide having a higher refractive index than the first and second pattern structures. Gt;

delete