KR101935657B1 - Apparatus for determining authenticity of an object and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

진위 판정 장치는, 베이스, 상기 베이스의 상면에 형성되며, 외부로부터 입사되는 자연광을 이용하여 구조색을 갖는 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 회절 패턴 및 상기 베이스의 하면에 형성되며, 외부로부터 간섭광이 조사될 경우 선택적으로 진위 감별을 위한 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 회절 패턴을 포함한다. 이로써, 진위 판정 장치는, 심미감을 확보하면서 동시에 진위 판정의 정확도를 확보할 수 있다.The truth determining apparatus comprises a base, a first diffraction pattern formed on an upper surface of the base and capable of realizing a first image having a structural color using natural light incident from the outside, and a diffraction pattern formed on a bottom surface of the base, And a second diffraction pattern capable of selectively implementing a second image for authenticity discrimination when light is irradiated. Thus, the authenticity determining device can secure the esthetics and at the same time ensure the accuracy of the authenticity determination.

Description

진위 판정 장치 및 이의 제조 방법{APPARATUS FOR DETERMINING AUTHENTICITY OF AN OBJECT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an authenticity determination apparatus and a method for manufacturing the same,

본 발명은 진위 판정 장치 및 이의 제조 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는 본 발명은 대상체의 진위를 용이하게 판정할 수 있는 진위 판정 장치 및 상기 진위 판정 장치의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a truth determining apparatus and a method of manufacturing the same. More particularly, the present invention relates to an authenticity determination apparatus capable of easily determining authenticity of a subject and a method of manufacturing the authenticity determination apparatus.

소프트웨어, CD, DVD, 유가증권, 양주, 약품 등과 같은 고가 물품의 위조 행위가 큰 사회적 문제로 대두되고 있다. 위조되어 생산된 물품은 대부분 낮은 품질을 가지기 때문에 위와 같은 위조 행위에 의해서 해당 기업은 많은 노력을 기울여 얻게 된 신뢰를 실추 당하는 등 막대한 피해를 입고 있다. 이러한 위조 문제를 해결하기 위해서 기업들은 위조를 곤란하게 하는 기술 또는 진품과 위조품을 판정하는 기술 등을 제품에 부여함으로써 위조품의 유통방지에 노력을 기울이고 있다.Forgery of high-priced items such as software, CDs, DVDs, securities, liquor, and medicines is becoming a major social problem. Since most forged products are of low quality, the company has suffered tremendous damage as a result of forgery such as the loss of trust that the company has devoted much effort to. In order to solve such counterfeiting problems, companies are making efforts to prevent the distribution of counterfeit goods by giving them products that make it difficult to counterfeit or a technique to judge genuine goods and counterfeit goods.

위조 방지를 위하여, RFID, 홀로그램, 은선, OVI (optically variable ink), QR코드, 전자태그 등 다양한 위조방지 기술이 개발되었으며, 최근에는 자력을 이용하여 색이 변화하는 특수잉크, 빛을 비추면 무늬가 드러나는 형광잉크, 특정 파장에서 빛을 내는 특수용지 등을 이용하여 위조를 방지하는 기술이 제안/개발 되었다.Various anti-counterfeiting technologies such as RFID, hologram, silver wire, optically variable ink (OVI), QR code, and electronic tag have been developed to prevent forgery. In recent years, special inks that change color by using magnetic force, A technique for preventing forgery by using a fluorescent ink that emits light at a specific wavelength, a special paper which emits light at a specific wavelength, and the like have been proposed / developed.

하지만 이러한 기술은 위조방지를 위한 기술은 상대적으로 고가의 소재개발이 필요하며, 진위 판별을 위해 특수한 장치를 필요로 하는 단점이 있다. 또한 기존의 제품에 적용하기 위해서는 심미성을 훼손시키기도 하며, 이러한 문제는 고가의 사치성 제품 등에 적용하기에는 문제로 작용한다.However, these techniques have a disadvantage in that a technique for preventing counterfeiting is required to develop a relatively expensive material and a special device is required for authenticity discrimination. In addition, it may damage the aesthetics to be applied to existing products, and this problem is a problem to be applied to expensive luxury products.

본 발명은 심미성을 가지며, 진위 판별이 쉽고, 위조방지를 위한 기술의 복제가 어려운 진위 판정 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide an authenticity determination apparatus having aesthetic, easy identification of authenticity, and difficult copying of technology for preventing forgery.

본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 베이스, 상기 베이스의 상면에 형성되며, 외부로부터 입사되는 자연광을 이용하여 구조색을 갖는 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 회절 패턴 및 상기 베이스의 하면에 형성되며, 외부로부터 간섭광이 조사될 경우 선택적으로 진위 감별을 위한 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 회절 패턴을 포함한다.The truth determination apparatus according to an embodiment of the present invention includes a base, a first diffraction pattern formed on an upper surface of the base and capable of realizing a first image having a structural color using natural light incident from the outside, And a second diffraction pattern capable of selectively implementing a second image for authenticity discrimination when interference light is irradiated from the outside.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 회절 패턴은 상기 자연광을 이용하여 구조색을 갖는 제3 이미지를 구현하도록 구비될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the second diffraction pattern may be provided to realize a third image having a structural color using the natural light.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 회절 패턴 상에 균일하게 형성된 반사층을 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, a reflective layer uniformly formed on the second diffraction pattern may be further included.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 및 제2 회절 패턴들 중 적어도 하나를 덮도록 구비된 보호층을 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, a protective layer may be further provided to cover at least one of the first and second diffraction patterns.

여기서, 상기 보호층은 상기 베이스보다 낮은 굴절율을 갖는 물질을 포함할 수 있다.Here, the protective layer may include a material having a refractive index lower than that of the base.

예를 들면, 상기 보호층 및 상기 베이스는 0.3 이상의 굴절율 차이를 가질 수 있다.For example, the protective layer and the base may have a refractive index difference of 0.3 or more.

또한, 상기 보호층은 접착성 수지 물질을 포함할 수 있다.In addition, the protective layer may include an adhesive resin material.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 회절 패턴은 그 에지 영역에 제4 이미지를 구현할 수 있는 마크 패턴을 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the second diffraction pattern may include a mark pattern capable of implementing a fourth image in the edge region.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치에 의한 이미지를 촬상한 사진들이다.1 is a sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view for explaining a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a sectional view for explaining a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a photograph of an image taken by the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 첨부된 도면에 있어서, 대상물들의 크기와 양은 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대 또는 축소하여 도시한 것이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. In the accompanying drawings, the sizes and the quantities of objects are shown enlarged or reduced from the actual size for the sake of clarity of the present invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "구비하다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 단계, 기능, 구성요소 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 다른 특징들이나 단계, 기능, 구성요소 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprise", "comprising", and the like are intended to specify that there is a feature, step, function, element, or combination of features disclosed in the specification, Quot; or " an " or < / RTI > combinations thereof.

한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

진위 판정 장치Authenticity determination device

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다. 1 is a sectional view for explaining an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 베이스(110), 제1 회절 패턴(120) 및 제2 회절 패턴(130)을 포함한다. 상기 진위 판정 장치는 외부로부터 입사되는 광을 이용하여 특정 이미지를 구현함으로써, 상기 이미지를 이용하여 상기 진위 판정 장치가 부착된 대상물의 진위 판정을 할 수 있다.Referring to FIG. 1, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a base 110, a first diffraction pattern 120, and a second diffraction pattern 130. The authenticity determination apparatus realizes a specific image using light incident from the outside, so that the authenticity determination of the object attached with the truth determination apparatus can be made using the image.

상기 베이스(110)는 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(120, 130)을 지지하는 지지체로 기능한다. 한편, 상기 베이스(110)의 상면 및 하면에 각각 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(120, 130)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 베이스(110)의 상면 및 하면이 패터닝되어 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(120, 130)이 형성될 수 있다. 따라서, 상기 베이스(110) 및 상기 제1 및 제2 회절 패턴들(120, 130)은 일체로 형성될 수 있다.The base 110 functions as a support for supporting the first and second diffraction patterns 120 and 130. The first and second diffraction patterns 120 and 130 may be formed on the upper surface and the lower surface of the base 110, respectively. That is, the top and bottom surfaces of the base 110 are patterned to form the first and second diffraction patterns 120 and 130. Therefore, the base 110 and the first and second diffraction patterns 120 and 130 may be integrally formed.

상기 베이스(110)는 제1 굴절율을 갖는 물질로 이루어질 수 있다. 상기 베이스(110)는 광투과성 물질로 이루어질 수 있다.The base 110 may be made of a material having a first refractive index. The base 110 may be made of a light-transmitting material.

상기 제1 회절 패턴(120)은, 상기 베이스(110)의 상면에 형성된다. 상기 제1 회절 패턴(120)은 외부로부터 입사되는 자연광을 이용하여 구조색을 갖는 제1 이미지를 구현할 수 다. 상기 제1 회절 패턴(120)은 특정한 무늬 또는 글자 등을 구조색으로 구현할 수 있다. 예를 들면, 상기 구조색은 7개의 색깔을 갖는 무지개색일 수 있다.The first diffraction pattern 120 is formed on the upper surface of the base 110. The first diffraction pattern 120 may realize a first image having a structural color using natural light incident from the outside. The first diffraction pattern 120 may embody a specific pattern or letter as a structural color. For example, the structural color may be rainbow with seven colors.

상기 제1 회절 패턴(120)을 향하여 입사된 자연광은 산란 및 회절을 통하여 상기 구조색을 갖는 무늬 또는 글자로 이루어진 제1 이미지를 구현할 수 있다.The natural light incident toward the first diffraction pattern 120 can realize a first image composed of a pattern or letter having the structural color through scattering and diffraction.

상기 제1 회절 패턴(120)은 핫 엠보싱 공정, 나노인프린팅 공정 또는 몰딩 공정을 통하여 상기 베이스의 상면에 형성될 수 있다.The first diffraction pattern 120 may be formed on the upper surface of the base through a hot embossing process, a nano-imprinting process, or a molding process.

상기 제2 회절 패턴(130)은 상기 베이스(110)의 하면에 형성된다. 상기 제2 회절 패턴(130)은 상기 자연광을 이용하여 제2 이미지 및 간섭광을 이용하여 제3 이미지를 구현할 수 있다. 즉, 상기 자연광이 조사될 경우, 제2 이미지를 구현되는 반면에, 상기 간섭광이 조사될 경우, 제3 이미지가 구현될 수 있다.The second diffraction pattern 130 is formed on the lower surface of the base 110. The second diffraction pattern 130 may implement the third image using the second image and the interference light using the natural light. That is, when the natural light is irradiated, a second image is realized, whereas when the interference light is irradiated, a third image can be realized.

즉, 자연광 상태에서 나안으로 확인할 경우, 상기 제2 회절 패턴(130)에 의하여 제2 이미지가 구현될 수 있다. 상기 제2 이미지는 다양한 색깔을 갖는 구조색을 갖는 특정 글자 또는 무늬를 포함할 수 있다. 이로써, 상기 진위 판정 장치는 우수한 심미감을 갖는 이미지를 구현할 수 있다.That is, when the natural light state is checked, the second image can be realized by the second diffraction pattern 130. The second image may include a specific letter or pattern having a structural color having various colors. Thus, the authenticity determining apparatus can realize an image having an excellent esthetics.

반면에, 외부로부터 엘이디 광원 또는 스마트폰 플래쉬 라이트 등과 같은 간섭광이 조사될 경우 상기 제2 회전 패턴(130)은 선택적으로 진위 감별을 위한 제3 이미지를 구현할 수 있다. 상기 제3 이미지의 예로는 특정 회사의 로고 또는 상표에 해당할 수 있다. On the other hand, when an interference light such as an LED light source or a smartphone flashlight is irradiated from the outside, the second rotation pattern 130 may selectively implement a third image for authenticity discrimination. Examples of the third image may correspond to a logo or a trademark of a specific company.

결과적으로 위조 판정 장치는, 제1 내지 제3 이미지를 포함하는 복수의 진위 판정용 이미지를 구현함으로써, 진위 판정의 신뢰성을 개선할 수 있다.As a result, the forgery determination apparatus can improve the reliability of the truth determination by implementing a plurality of images for truth determination including the first to third images.

예를 들면, 도 1의 (c)와 같이 구조색을 이용하여 특정 브랜드의 로고 및 글자를 형성할 수 있으며, 이는 자연광 상태에서 나안에 의해 쉽게 관찰되며 특수한 구조에 의해 형성되는 신비로운 색감은 쉽게 위조가 어려우며, 진위 판별에 사용이 가능하다. For example, as shown in FIG. 1 (c), a logo and a letter of a specific brand can be formed by using a structural color, which is easily observed by natural light in a natural state, and a mysterious color formed by a special structure is easily falsified And it can be used for authenticity discrimination.

한편, 이러한 특유의 구조색을 갖는 제1 회절 패턴(120) 상에 도 1의 (b)와 같이 간섭빛을 조사할 경우, 제2 회절 패턴(130)으로 숨겨져 있던 로고 패턴이 나타나며 도 1의 (d)와 같이 진위 판정을 확실하게 할 수 있다.On the other hand, when interference light is irradiated onto the first diffraction pattern 120 having such a specific structure color as shown in FIG. 1 (b), a logo pattern hidden by the second diffraction pattern 130 appears, the authenticity judgment can be made as in the case of (d).

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다. 2 is a cross-sectional view illustrating an authenticity determination apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는 도 2의 (a)와 같이 투과형 방식으로 구동될 수 있다. 이와 다르게, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는 도 2의 (b) 및 (c)와 같이 반사형 방식으로 구동될 수 있다.Referring to FIG. 2, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention may be driven in a transmissive manner as shown in FIG. 2 (a). Alternatively, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention may be driven in a reflection-type manner as shown in Figs. 2 (b) and 2 (c).

도 2의 (b) 및 (c)에 도시된 것과 같이 상기 제1 및 제2 회절 패턴들 중 어느 일면 상에 반사층(140)이 추가적으로 형성될 수 있다. 상기 반사층(130)의 형성 위치는 조절될 수 있다. As shown in FIGS. 2 (b) and 2 (c), a reflection layer 140 may be additionally formed on either one of the first and second diffraction patterns. The formation position of the reflective layer 130 may be adjusted.

도 2의 (b)에 도시된 바와 같이, 자연광이 조사될 경우, 제2 회절 패턴(130)에 의한 제3 이미지는 구현되지 않으며, 간섭광이 조사될 경우에만, 제2 회절 패턴(130)에 의한 제2 이미지는 구현될 수 있다. 2 (b), when natural light is irradiated, the third image by the second diffraction pattern 130 is not realized, and only when the interference light is irradiated, the second diffraction pattern 130 is irradiated, Lt; / RTI > can be implemented.

이와 다르게, 도 2의 (c)와 같이 자연광이 조사될 경우, 제1 및 제2 회절 패턴들(120, 130) 각각에 의한 구조색을 갖는 제1 및 3 이미지들이 각각 구현될 수도 있다.Alternatively, when natural light is irradiated as shown in FIG. 2C, first and third images having a structure color by the first and second diffraction patterns 120 and 130, respectively, may be implemented.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치를 설명하기 위한 단면도들이다.3 is a sectional view for explaining a truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치는, 베이스(110), 제1 회절 패턴(120), 제2 회절 패턴(140) 및 적어도 하나의 보호층(152, 153)을 포함한다. 3, the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a base 110, a first diffraction pattern 120, a second diffraction pattern 140, and at least one protective layer 152, 153, .

상기 보호층(152, 153)은 제1 또는 제2 회절 패턴(120, 130)에 대한 물리적 복제를 방지할 수 있다. 상기 보호층(152, 153)은, 상기 베이스(110)와 다른 굴절율 갖는 물질로 이루어질 수 있다. 특히, 상기 진위 판정 장치가 투과형 방식으로 구동될 경우, 상기 베이스(110)보다 0.3 이상 낮은 굴절율을 갖는 물질로 이루어질 수 있다. 이로써, 상기 진위 판정 장치가, 입사되는 광을 보다 많은 양으로 투과시킴으로써, 이미지를 보다 선명하게 구현할 수 있다.The protective layers 152 and 153 may prevent physical duplication of the first or second diffraction patterns 120 and 130. The protective layers 152 and 153 may be made of a material having a refractive index different from that of the base 110. Particularly, when the authenticity determination apparatus is driven in a transmissive system, it may be made of a material having a refractive index lower by 0.3 or more than the base 110. Thereby, the truth determining apparatus transmits the incident light in a larger amount, so that the image can be more clearly realized.

한편, 상기 보호층(152, 153)은 접착성 수지로 이루어질 수 있다. 이 경우, 상기 보호층(152, 153)을 이용하여 상기 진위 판정 장치가 특정 대상체에 용이하게 부착될 수 있다.Meanwhile, the protective layers 152 and 153 may be made of an adhesive resin. In this case, the authenticity determination device can be easily attached to a specific object using the protective layers 152 and 153. [

본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 회절 패턴(130)은 그 에지 영역에 제4 이미지를 구현할 수 있는 마크 패턴(135)을 더 포함할 수 있다. 상기 마크 패턴(135)은 특정 위치에만 형성되면, 특정 상표와 같은 제4 이미지를 구현할 수 있다. 이로써, 상기 제4 이미지는 숨겨진 이미지에 해당하며, 진위 판정 이미지로서 부가적으로 이용될 수 있다.In one embodiment of the present invention, the second diffraction pattern 130 may further include a mark pattern 135 capable of implementing a fourth image in its edge region. If the mark pattern 135 is formed only at a specific position, a fourth image such as a specific trademark can be implemented. Thereby, the fourth image corresponds to a hidden image, and can additionally be used as a truth determination image.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 진위 판정 장치에 의한 이미지를 촬상한 사진들이다.4 is a photograph of an image taken by the truth determining apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 베이스 상면에 제1 회절 패턴을 형성하고, 베이스 하면에 제2 회절 패턴을 형성한 진위 판정 장치를 준비하였다. 상기 진위 판정 장치에 대하여 자연광이 조사되어 나안으로 관찰된 경우 구조색을 갖는 샤넬 무늬가 이미지로 표시되었다. 한편, 간섭광(coherent light)이 조사될 경우, 제2 회절 패턴에 의한 숨겨진 광학 마크가 형성되며 진위판별이 가능하였다.4, a first diffraction pattern is formed on the upper surface of the base, and a second diffraction pattern is formed on the lower surface of the base. The chanel pattern having a structural color was displayed as an image when natural light was irradiated to the truth determining apparatus and observed inward. On the other hand, when the coherent light is irradiated, a hidden optical mark by the second diffraction pattern is formed and true / false discrimination is possible.

110 : 베이스 120 : 제1 회절 패턴
130 : 제2 회절 패턴 140 : 반사층
152, 153 : 보호층110: Base 120: 1st diffraction pattern
130: second diffraction pattern 140: reflective layer
152, 153: protective layer

Claims (8)

베이스;
상기 베이스의 상면에 형성되며, 외부로부터 입사되는 자연광을 이용하여 구조색을 갖는 제1 이미지를 구현할 수 있는 제1 회절 패턴; 및
상기 베이스의 하면에 형성되며, 외부로부터 간섭광이 조사될 경우 선택적으로 진위 감별을 위한 제2 이미지를 구현할 수 있는 제2 회절 패턴을 포함하고,
상기 제2 회절 패턴은 상기 자연광을 이용하여 상기 제2 이미지와 다르고 구조색을 갖는 제3 이미지를 추가적으로 구현하도록 구비된 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.Base;
A first diffraction pattern formed on an upper surface of the base and capable of realizing a first image having a structural color using natural light incident from the outside; And
And a second diffraction pattern formed on a lower surface of the base and capable of selectively implementing a second image for discriminating authenticity when an interference light is irradiated from the outside,
Wherein the second diffraction pattern further comprises a third image which is different from the second image and has a structural color by using the natural light. 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 제2 회절 패턴 상에 균일하게 형성된 반사층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.The apparatus according to claim 1, further comprising a reflection layer uniformly formed on the second diffraction pattern. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 회절 패턴들 중 적어도 하나를 덮도록 구비된 보호층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.The apparatus according to claim 1, further comprising a protective layer covering at least one of the first and second diffraction patterns. 제4항에 있어서, 상기 보호층은 상기 베이스보다 낮은 굴절율을 갖는 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.5. The apparatus according to claim 4, wherein the protective layer comprises a material having a refractive index lower than that of the base. 제4항에 있어서, 상기 보호층 및 상기 베이스는 0.3 이상의 굴절율 차이를 갖는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.5. The apparatus according to claim 4, wherein the protective layer and the base have a refractive index difference of 0.3 or more. 제4항에 있어서, 상기 보호층은 접착성 수지 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.The truth deciding apparatus according to claim 4, wherein the protective layer comprises an adhesive resin material. 제1항에 있어서, 상기 제2 회절 패턴은 그 에지 영역에 제4 이미지를 구현할 수 있는 마크 패턴을 포함하는 것을 특징으로 하는 진위 판정 장치.2. The apparatus according to claim 1, wherein the second diffraction pattern includes a mark pattern capable of implementing a fourth image in the edge region.
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