KR101903685B1 - 단말, 터치 제어 유닛, 터치스크린, 스크린 프로텍터, 작동 검출 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 단말, 터치 제어 유닛, 터치 스크린, 스크린 프로텍터, 작동 검출 장치 및 방법에 대해 개시하며, 단말 제어 분야에 속한다. 단말은: 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선(conducting wire)을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합된다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 전극 노드 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 터치 조작에 따라 제어된다.

Description

단말, 터치 제어 유닛, 터치스크린, 스크린 프로텍터, 작동 검출 장치 및 방법{TERMINAL, TOUCH CONTROL UNIT, TOUCHSCREEN, SCREEN PROTECTOR, OPERATION DETECTION APPARATUS AND METHOD}

본 발명은 단말 제어 분야에 관한 것이며, 특히 단말, 터치 제어 유닛, 터치 스크린, 스크린 프로텍터, 작동 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.

전자 기술의 지속적인 발전으로 터치스크린을 포함하는 스마트폰, 태블릿 컴퓨터, 및 이북 리더와 같은 단말이 점점 대중화되고 있다.

사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행하여 단말을 제어할 때, 사용자의 손가락이 터치스크린 상에 표시되는 콘텐츠를 방해하기 쉽다. 사용자의 터치 조작으로 초래되는 스크린의 방해를 최소화하기 위해, 기존의 단말에 있어서는 일반적으로 단말의 터치스크린 외부에 독립적인 터치 키를 배치하고 있으며, 이러한 터치 키를 메뉴 키, 리턴 키, 및 홈 키와 같은 공통으로 사용되는 기능 키로서 대응해서 설정된다. 터치스크린과 유사한 구조에서, 터치 키는 완전한 커패시턴스 노드를 포함할 수 있고, 커패시턴스 노드는 서로 절연되어 있는 2층의 콘덕터를 포함할 수 있다. 사용자가 터치 키를 터치하면, 커패시턴스 노드의 상층 콘덕터와 손가락 사이에서 전하 전달이 발생하고 이에 따라 커패시턴스 노드의 커패시턴스가 변하게 되며, 단말은 커패시턴스의 변화에 따라 사용자가 터치 키 상에서 터치 제어 작동을 수행하고 있다는 것을 검출하고 그런 다음 터치 키에 대응하는 기능 명령을 수행할 수 있다.

본 발명을 실시하는 프로세스에서, 종래기술에는 적어도 다음과 같은 문제가 있다는 것이 발견되었다:

터치스크린 밖에 배치된 기존의 터치 키는 일반적으로 단말의 공간을 비교적 크게 차지하고 가격도 높으며 대응하는 기능이 제한되어 있는 독립적인 터치 검출 컴포넌트이다. 그러므로 사용자 경험이 좋지 않다.

터치스크린 밖에 배치된 터치 키는 일반적으로 단말의 공간을 비교적 크게 차지하고 가격도 높으며 대응하는 기능이 제한되어 있으며, 그에 따라 사용자 경험이 좋지 않은 독립적인 터치 검출 컴포넌트인 종래기술의 문제를 해결하기 위해, 본 발명의 실시예는 단말, 터치 제어 유닛, 터치 스크린, 스크린 프로텍터, 작동 검출 장치 및 방법을 제공한다. 기술적 솔루션은 다음과 같다:

제1 관점에 따라, 단말이 제공되며, 여기서 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선(conducting wire)을 포함하며,

상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며;

상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용되며,

상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있으며,

상기 제어기는, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있다.

제1 관점의 제1 가능한 실시 방식에서, 상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있으며,

상기 제어기는, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

제1 관점 또는 제1 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제1 관점의 제2 가능한 실시 방식에서, 상기 제어기는, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있으며,

상기 제어기는, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,

상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제1 관점의 제3 가능한 실시 방식에서, 상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있으며, 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르며,

상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있으며,

상기 제어기는, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

제2 관점에 따라, 터치 제어 유닛이 제공되며, 터치스크린 및 제어기를 포함하는 단말에 적용되며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 상기 검출 전극과 상기 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며,

상기 검출 전극은 상기 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 상기 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때, 상기 제어기가 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성할 수 있도록, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되어 있으며,

상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 지시하는 데 사용된다.

제2 관점의 제1 가능한 실시 방식에서, 상기 유도 전극은 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제2 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제2 관점의 제2 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 전극은 단일 전극이고, 상기 N개의 유도 서브전극은 도선을 사용하여 검출 전극에 개별적으로 연결되어 있다.

제2 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제2 관점의 제3 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하면, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터는 미리 설정된 비율 내에 있다.

제2 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제2 관점의 제4 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 전극은 N개의 검출 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극은 도선을 사용하여 일대일 대응 방식으로 상기 N개의 유도 서브전극에 연결된다.

제2 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제2 관점의 제5 가능한 실시 방식에서, 각각의 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않는다.

제2 관점 또는 제2 관점의 제1 내지 제5 가능한 실시 방식 중 어느 하나를 참조해서, 제2 관점의 제6 가능한 실시 방식에서, 상기 터치스크린 상에서 커패시턴스 노드를 관통하는, 도선 중 일부의 폭은 ≤ 1 mm이다.

제2 관점 또는 제2 관점의 제1 내지 제5 가능한 실시 방식 중 어느 하나를 참조해서, 제2 관점의 제7 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터는 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르다.

제3 관점에 따라, 터치스크린이 제공되며, 상기 터치스크린은:

제2 관점 또는 제2 관점의 가능한 실시 방식 중 어느 하나에 따른 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함한다.

제4 관점에 따라, 스크린 프로텍터가 제공되고, 터치스크린의 상부 표면을 덮도록 구성되어 있으며, 상기 스크린 프로텍터는:

제2 관점 또는 제2 관점의 가능한 실시 방식 중 어느 하나에 따른 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함한다.

제5 관점에 따라, 단말에 적용되는 작동 검출 장치가 제공되며, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며, 상기 작동 검출 장치는:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있는 파라미터 획득 모듈 - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있는 검출 모듈; 및

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있는 이벤트 생성 모듈

을 포함한다.

제5 관점의 제1 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 모듈은:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하도록 구성되어 있는 제1 검출 유닛;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제2 검출 유닛; 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제1 결정 유닛

을 포함한다.

제5 관점 또는 제5 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제5 관점의 제2 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 모듈은:

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 상기 제1 결정 유닛이 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있는 제3 검출 유닛

을 더 포함하며,

상기 제1 결정 유닛은, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,

상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제5 관점의 제3 가능한 실시 방식에서, 상기 검출 모듈은:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있는 제4 검출 모듈 - 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다름 - ;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제5 검출 유닛; 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제2 결정 유닛

을 포함한다.

제6 관점에 따라, 단말에 적용되는 작동 검출 방법이 제공되며 단말에 적용되며, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며, 상기 방법은:

상기 단말이, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하는 단계 - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;

상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계 - ; 및

상기 단말이, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하는 단계

를 포함한다.

제6 관점의 제1 가능한 실시 방식에서, 상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계는:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하는 단계; 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계

를 포함한다.

제6 관점 또는 제6 관점의 제1 가능한 실시 방식을 참조해서, 제6 관점의 제2 가능한 실시 방식에서, 상기 방법은:

상기 단말이, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하는 단계; 및

상기 단말이, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하는 단계

를 더 포함하며,

상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제6 관점의 제3 가능한 실시 방식에서, 상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계는:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하는 단계 - 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다름 - ; 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계

를 포함한다.

본 발명의 실시예에서 제공하는 기술적 솔루션은 다음과 같은 이로운 효과를 가져 온다:

터치스크린의 터치 영역 밖에 검출 전극이 배치되고 터치 영역 내에 유도 전극이 배치되며, 검출 전극과 유도 전극은 도선(conducting wire)을 사용해서 연결된다. 사용자가 검출 전극을 작동시키면, 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 변경되고 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것을 검출하면 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 전극 노드 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

본 발명의 실시예의 기술적 솔루션을 더 명확하게 설명하기 위해, 이하에서는 본 발명의 실시예를 설명하는 데 필요한 첨부된 도면에 대해 간략하게 설명한다. 당연히, 이하의 실시예의 첨부된 도면은 본 발명의 일부의 실시예에 지나지 않으며, 당업자라면 창조적 노력 없이 첨부된 도면으로부터 다른 도면을 도출해낼 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 단말에 대한 개략적인 구조도이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 단말에 대한 개략적인 구조도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 터치스크린에 대한 개략적인 구조도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 스크린 프로텍터에 대한 개략적인 구조도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 작동 검출 장치에 대한 개략적인 구조도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 작동 검출 장치에 대한 개략적인 구조도이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 작동 검출 방법에 대한 방법 흐름도이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 작동 검출 방법에 대한 방법 흐름도이다.

본 발명의 목적, 기술적 솔루션, 및 이점을 더 명확하게 하기 위해, 이하에서는 첨부 도면을 참조해서 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.

도 1을 참조하면, 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 단말에 대한 개략적인 구조도이다. 단말(100)은 터치스크린(110), 터치스크린(110)에 연결되어 있는 제어기(120), 적어도 하나의 터치 제어 유닛(130)을 포함한다. 상기 터치 제어 유닛(130)은: 검출 전극(132), 유도 전극(134), 및 검출 전극(132)과 유도 전극(134)을 연결하는 도선(conducting wire)(136)을 포함한다.

검출 전극(132)은 터치스크린(110)의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극(134)은 터치스크린(110)의 터치 영역 내에 위치하며, 유도 전극(134)은 터치스크린(110) 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드(112)에 결합되어 있다.

제어기(120)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(120)의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드(120)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(120)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(120)의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드(120)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 검출 전극(132)이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(120)는, 검출 전극(132)이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있다.

검출 전극 및 유도 전극 모두는 전도성 재료로 제조된다. 사용자가 터치스크린 밖의 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 검출 전극 내의 전하가 전달되고, 따라서 유도 전극 내의 전하 역시 그에 따라 전달된다. 검출 전극 내의 전하가 전달될 때, 유도 전극에 결합되어 있고 터치스크린 상에 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 역시 변화된다. 터치스크린에 결합되어 있는 제어기는 터치스크린 상의 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 스캔하고, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드가 변하는 것이 검출될 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 및 이러한 커패시턴스 노드들의 위치에 따라, 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지 또는 사용자가 터치스크린을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지를 결정할 수 있다. 제어기가 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정하면, 제어기는 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작에 대응하는 터치 이벤트를 생성하며, 이에 따라 단말은 그 터치 이벤트에 따라 대응하는 제어 작동을 실행한다.

본 발명의 이 실시예에서, 사용자가 검출 전극을 터치한 것을 제1 제어기가 검출할 때 생성되는 터치 이벤트는 사용자가 유도 전극이 위치하는 터치 영역 상에서 터치 조작을 수행할 때 생성되는 터치 이벤트와는 다르고, 즉 검출 전극은 독립적인 터치 키고, 대응하는 제어 명령을 가지며, 이것은 유도 전극이 위치하는 터치스크린 영역에 표시되는 콘텐츠와는 무관하다는 것에 유의해야 한다.

또한, 터치 제어 유닛은 단말의 터치스크린 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 터치스크린 내부에 배치될 수 있다.

대안으로, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면을 덮은 스크린 프로텍터 상에 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 스크린 프로텍터의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 스크린 프로텍터 내부에 배치될 수 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 단말에 따르면, 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 접속된다. 사용자가 검출 전극을 작동시킬 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 변화 값이 변하게 되고, 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

도 1에 도시된 전술한 단말에 대해 더 상세히 설명하기 위해, 도 2를 참조하면, 도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 단말에 대한 개략적인 구조도이다. 단말(200)은 터치스크린(210), 터치스크린(210)에 연결되어 있는 제어기(220), 적어도 하나의 터치 제어 유닛(230)을 포함한다. 상기 터치 제어 유닛(230)은: 검출 전극(232), 유도 전극(234), 및 검출 전극(232)과 유도 전극(234)을 연결하는 도선(236)을 포함한다.

검출 전극(232)은 터치스크린(210)의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극(234)은 터치스크린(210)의 터치 영역 내에 위치하며, 유도 전극(234)은 터치스크린(210) 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 결합되어 있다.

제어기(220)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(120)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 검출 전극(232)이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(220)는, 검출 전극(132)이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있다.

검출 전극 및 유도 전극 모두는 전도성 재료로 제조된다. 사용자가 터치스크린 밖의 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 검출 전극 내의 전하가 전달되고, 따라서 유도 전극 내의 전하 역시 그에 따라 전달된다. 검출 전극 내의 전하가 전달될 때, 유도 전극에 결합되어 있고 터치스크린 상에 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 역시 변화된다. 터치스크린에 결합되어 있는 제어기는 터치스크린 상의 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 스캔하고, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드가 변하는 것이 검출될 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 및 이러한 커패시턴스 노드들의 위치에 따라, 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지 또는 사용자가 터치스크린을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지를 결정할 수 있다. 제어기가 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정하면, 제어기는 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작에 대응하는 터치 이벤트를 생성하며, 이에 따라 단말은 그 터치 이벤트에 따라 대응하는 제어 작동을 실행한다.

본 발명의 이 실시예에서, 사용자가 검출 전극을 터치한 것을 제1 제어기가 검출할 때 생성되는 터치 이벤트는 사용자가 유도 전극이 위치하는 터치 영역 상에서 터치 조작을 수행할 때 생성되는 터치 이벤트와는 다르고, 즉 검출 전극은 독립적인 터치 키고, 대응하는 제어 명령을 가지며, 이것은 유도 전극이 위치하는 터치스크린 영역에 표시되는 콘텐츠와는 무관하다는 것에 유의해야 한다.

또한, 터치 제어 유닛은 단말의 터치스크린 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 터치스크린 내부에 배치될 수 있다.

대안으로, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면을 덮은 스크린 프로텍터 상에 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 스크린 프로텍터의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 스크린 프로텍터 내부에 배치될 수 있다.

선택적으로, 제어기(220)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있자.

제어기(220)는, 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

또한, 제어기(220)는, 검출 전극(232)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기는, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 검출 전극(232)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,

유도 전극(234)은 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드(212)는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

예를 들어, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 크고, 커패시턴스 노드에 인접한 다른 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 작을 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화가 유도 전극 내의 전하 전달에 의해 야기되는 것으로 간주할 수 있고, 따라서 유도 전극에 연결된 검출 전극이 사용자의 터치 조작을 수신한 것으로 결정할 수 있다.

실제의 애플리케이션에서, 사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행하고, 터치 영역이 단지 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드를 포함할 때, 제어기는 검출 전극이 사용자 작동을 수신하는 것으로 부정확하게 간주할 수 있고, 이에 의해 오류 검출이 초래된다. 제어기의 오류 검출의 가능성을 감소시키고 검출 정확성을 더 높일 목적으로, 유도 전극은 N개의 부분으로 분할될 수 있고, 여기서 각 부분은 도선을 사용하여 동일한 검출 전극에 개별적으로 연결되고, 모든 부분은 서로 다른 커패시턴스 노드에 개별적으로 결합되고, 이러한 커패시턴스 노드들은 서로 인접하지 않다. 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 이러한 커패시턴스 노드들에 인접한 다른 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이, 사용자가 터치스크린 상에서 이러한 커패시턴스 노드에 대해 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 대신, 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정할 수 있다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 유도 전극은 3개의 유도 서브전극을 포함하고, 3개의 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 대응하는 커패시턴스 변화 값은 도 3에서 파선의 원 안에 표시된 값이다. 단말에 의해 설정된 제1 미리 설정된 값은 20이다. 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 모든 커패시턴스 변화 값이 20을 초과하는 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 따라서 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

또한, 유도 전극에 의해 야기되는, 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 유도 전극과 검출 전극의 영역 크기 및 유도 전극과 검출 전극 사이의 임피던스에 의해 결정된다. 터치 제어 유닛이 설정될 때, 터치 제어 유닛에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정값으로 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 모든 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 결정된 비율에 일치한다. 그러므로 검출 정확성이 더 향상된다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 10:9:8에 일치하는 각각 50, 45, 및 40인 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 그러므로 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

선택적으로, 제어기(220)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있으며, 상기 미리 결정된 값은 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)가 터치 조작을 수신할 때 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 값과는 다르다.

제어기(200)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(200)는: 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드(212)에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

사용자가 손가락을 이용해서 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 상대적으로 고정되어 있고, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있다. 그러므로 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은, 사용자가 터치스크린 상의 터치 영역 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르며, 이에 의해 사용자가 터치 영역 상에서 수행되는 작동과 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 작동을 구별하는 효과를 달성한다.

예를 들어, 사용자가 손가락을 이용하여 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 100이면, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 50이다. 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 대략 50인 것으로 검출되고, 인접하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 20보다 낮을 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행한 것으로 결정할 수 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 단말에 따르면, 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 접속된다. 사용자가 검출 전극을 작동시킬 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 변화 값이 변하게 되고, 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 단말에 따르면, 유도 전극은 N개의 유도 서브전극으로 분할되고, 여기서 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않다. N개의 유도 서브전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 단말에 따르면, 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정된다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

도 4를 참조하면, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도를 도시하고 있다. 터치 제어 유닛(330)은 터치스크린(310) 및 제어기(320)를 포함하는 단말(300)에 적용되며, 예를 들어, 단말(300)은 도 1 또는 도 2에 도시된 단말일 수 있으며, 터치 제어 유닛(330)은:

검출 전극(332), 유도 전극(334), 및 검출 전극(332)과 유도 전극(334)을 연결하는 도선(336)

을 포함한다.

검출 전극(332)은 터치스크린(310)의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극(334)은 터치스크린(310)의 터치 영역 내에 위치하며, 유도 전극(334)은 터치스크린(310) 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되어 있으며, 이에 따라 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 값에 따라 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때, 단말(300) 내의 제어기(320)는 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하고, 여기서 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

검출 전극 및 유도 전극 모두는 전도성 재료로 제조된다. 사용자가 터치스크린 밖의 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 검출 전극 내의 전하가 전달되고, 따라서 유도 전극 내의 전하 역시 그에 따라 전달된다. 검출 전극 내의 전하가 전달될 때, 유도 전극에 결합되어 있고 터치스크린 상에 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 역시 변화된다. 터치스크린에 결합되어 있는 제어기는 터치스크린 상의 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 스캔하고, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드가 변하는 것이 검출될 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 및 이러한 커패시턴스 노드들의 위치에 따라, 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지 또는 사용자가 터치스크린을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지를 결정할 수 있다. 제어기가 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정하면, 제어기는 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작에 대응하는 터치 이벤트를 생성하며, 이에 따라 단말은 그 터치 이벤트에 따라 대응하는 제어 작동을 실행한다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 단말의 터치스크린의 터치 영역 밖에 검출 전극이 배치하고, 터치 영역 내에 유도 전극이 배치하고, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 연결된다. 사용자가 검출 전극을 작동시키면, 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 변경되고 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것을 검출하면 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 전극 노드 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

도 4에 도시된 전술한 터치 제어 유닛에 대해 더 설명하기 위해 도 5를 참조한다. 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도를 도시하고 있다. 터치 제어 유닛(330)은 터치스크린(310) 및 제어기(320)를 포함하는 단말(300)에 적용되며, 예를 들어, 단말(300)은 도 1 또는 도 2에 도시된 단말일 수 있으며, 터치 제어 유닛(330)은:

검출 전극(332), 유도 전극(334), 및 검출 전극(332)과 유도 전극(334) 연결하는 도선(336)

을 포함한다.

검출 전극(332)은 단말(300)의 터치스크린(310)의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극(334)은 터치스크린(310)의 터치 영역 내에 위치하며, 유도 전극(334)은 터치스크린(310) 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되어 있으며, 이에 따라 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 값에 따라 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때, 단말(300) 내의 제어기(320)는 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하고, 여기서 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(320)는, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있다.

검출 전극 및 유도 전극 모두는 전도성 재료로 제조된다. 사용자가 터치스크린 밖의 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 검출 전극 내의 전하가 전달되고, 따라서 유도 전극 내의 전하 역시 그에 따라 전달된다. 검출 전극 내의 전하가 전달될 때, 유도 전극에 결합되어 있고 터치스크린 상에 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 역시 변화된다. 터치스크린에 결합되어 있는 제어기는 터치스크린 상의 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 스캔하고, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드가 변하는 것이 검출될 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 및 이러한 커패시턴스 노드들의 위치에 따라, 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지 또는 사용자가 터치스크린을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지를 결정할 수 있다. 제어기가 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정하면, 제어기는 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작에 대응하는 터치 이벤트를 생성하며, 이에 따라 단말은 그 터치 이벤트에 따라 대응하는 제어 작동을 실행한다.

터치 제어 유닛은 단말의 터치스크린 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 터치스크린 내부에 배치될 수 있다는 것에 유의해야 한다.

대안으로, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면을 덮은 스크린 프로텍터 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 스크린 프로텍터의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 스크린 프로텍터 내부에 배치될 수 있다.

유도 전극(334)은 N개의 유도 서브전극(3342)을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신하는 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

검출 전극(332)은 단일 전극이고, N개의 유도 서브전극(3342)은 도선(336)을 사용하여 검출 전극(332)에 개별적으로 연결되어 있다.

예를 들어, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 크고, 커패시턴스 노드에 인접한 다른 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 작을 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화가 유도 전극 내의 전하 전달에 의해 야기되는 것으로 간주할 수 있고, 따라서 유도 전극에 연결된 검출 전극이 사용자의 터치 조작을 수신한 것으로 결정할 수 있다.

실제의 애플리케이션에서, 사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행하고, 터치 영역이 단지 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드를 포함할 때, 제어기는 검출 전극이 사용자 작동을 수신하는 것으로 부정확하게 간주할 수 있고, 이에 의해 오류 검출이 초래된다. 제어기의 오류 검출의 가능성을 감소시키고 검출 정확성을 더 높일 목적으로, 유도 전극은 N개의 부분으로 분할될 수 있고, 여기서 각 부분은 도선을 사용하여 동일한 검출 전극에 개별적으로 연결되고, 모든 부분은 서로 다른 커패시턴스 노드에 개별적으로 결합되고, 이러한 커패시턴스 노드들은 서로 인접하지 않다. 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 이러한 커패시턴스 노드들에 인접한 다른 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이, 사용자가 터치스크린 상에서 이러한 커패시턴스 노드에 대해 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 대신, 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정할 수 있다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 유도 전극은 3개의 유도 서브전극을 포함하고, 단말에 의해 설정된 제1 미리 설정된 값은 20이다. 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 모든 커패시턴스 변화 값이 20을 초과하는 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 따라서 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

또한, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신을 수신할 때, N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터는 미리 설정된 비율 내에 있다.

제어기(320)는: 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하며, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

유도 전극에 의해 야기되는, 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 유도 전극과 검출 전극의 영역 크기 및 유도 전극과 검출 전극 사이의 임피던스에 의해 결정된다. 터치 제어 유닛이 설정될 때, 터치 제어 유닛에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정값으로 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 모든 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 결정된 비율에 일치한다. 그러므로 검출 정확성이 더 향상된다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 10:9:8에 일치하는 각각 50, 45, 및 40인 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 그러므로 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

선택적으로, 제어기(332)가 터치 조작을 수신할 때, 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하며, 상기 미리 결정된 값은 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르다.

사용자가 손가락을 이용해서 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 상대적으로 고정되어 있고, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있다. 그러므로 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은, 사용자가 터치스크린 상의 터치 영역 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르며, 이에 의해 사용자가 터치 영역 상에서 수행되는 작동과 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 작동을 구별하는 효과를 달성한다.

예를 들어, 사용자가 손가락을 이용하여 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 100이면, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 50이다. 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 대략 50인 것으로 검출되고, 인접하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 20보다 낮을 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행한 것으로 결정할 수 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 검출 전극은 단말의 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극은 터치 영역 내에 위치하며, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 접속된다. 사용자가 검출 전극을 작동시킬 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 변화 값이 변하게 되고, 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 유도 전극은 N개의 유도 서브전극으로 분할되고, 여기서 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않다. N개의 유도 서브전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정된다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

도 4에 도시된 전술한 터치 제어 유닛을 더 상세히 설명하기 위해, 도 6을 참조하면, 도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 터치 제어 유닛에 대한 개략적인 구조도를 도시하고 있다. 터치 제어 유닛(330)은 터치스크린(310) 및 제어기(320)를 포함하는 단말(300)에 적용되며, 예를 들어, 단말(300)은 도 1 또는 도 2에 도시된 단말일 수 있으며, 터치 제어 유닛(330)은:

검출 전극(332), 유도 전극(334), 및 검출 전극(332)과 유도 전극(334)을 연결하는 도선(336)

을 포함한다.

검출 전극(332)은 단말(300)의 터치스크린(310)의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극(334)은 터치스크린(310)의 터치 영역 내에 위치하며, 유도 전극(334)은 터치스크린(310) 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되어 있으며, 이에 따라 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 값에 따라 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때, 단말(300) 내의 제어기(320)는 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하고, 여기서 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(320)는, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있다.

검출 전극 및 유도 전극 모두는 전도성 재료로 제조된다. 사용자가 터치스크린 밖의 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 검출 전극 내의 전하가 전달되고, 따라서 유도 전극 내의 전하 역시 그에 따라 전달된다. 검출 전극 내의 전하가 전달될 때, 유도 전극에 결합되어 있고 터치스크린 상에 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 역시 변화된다. 터치스크린에 결합되어 있는 제어기는 터치스크린 상의 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 스캔하고, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드가 변하는 것이 검출될 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값, 및 이러한 커패시턴스 노드들의 위치에 따라, 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지 또는 사용자가 터치스크린을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인지를 결정할 수 있다. 제어기가 이러한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화가 사용자가 검출 전극을 터치함으로써 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정하면, 제어기는 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작에 대응하는 터치 이벤트를 생성하며, 이에 따라 단말은 그 터치 이벤트에 따라 대응하는 제어 작동을 실행한다.

터치 제어 유닛은 단말의 터치스크린 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 터치스크린 내부에 배치될 수 있다는 것에 유의해야 한다.

대안으로, 터치 제어 유닛은 터치스크린의 상부 표면을 덮은 스크린 프로텍터 상에 직접 배치될 수 있으며, 예를 들어, 터치 제어 유닛 내의 유도 전극이 터치스크린 상의 커패시턴스 노드에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛은 스크린 프로텍터의 상부 표면 또는 하부 표면 또는 스크린 프로텍터 내부에 배치될 수 있다.

유도 전극(334)은 N개의 유도 서브전극(3342)을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있다.

제어기(320)는 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신하는 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

예를 들어, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 크고, 커패시턴스 노드에 인접한 다른 노드의 커패시턴스 변화 값이 비교적 작을 때, 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화가 유도 전극 내의 전하 전달에 의해 야기되는 것으로 간주할 수 있고, 따라서 유도 전극에 연결된 검출 전극이 사용자의 터치 조작을 수신한 것으로 결정할 수 있다.

실제의 애플리케이션에서, 사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행하고, 터치 영역이 단지 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드를 포함할 때, 제어기는 검출 전극이 사용자 작동을 수신하는 것으로 부정확하게 간주할 수 있고, 이에 의해 오류 검출이 초래된다. 제어기의 오류 검출의 가능성을 감소시키고 검출 정확성을 더 높일 목적으로, 유도 전극은 N개의 부분으로 분할될 수 있고, 여기서 모든 부분은 서로 다른 커패시턴스 노드에 개별적으로 결합되고, 이러한 커패시턴스 노드들은 서로 인접하지 않다. 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 이러한 커패시턴스 노드들에 인접한 다른 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 유도 전극의 N개의 부분에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이, 사용자가 터치스크린 상에서 이러한 커패시턴스 노드에 대해 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 대신, 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 터치 조작에 의해 야기되는 커패시턴스 변화인 것으로 결정할 수 있다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 유도 전극은 3개의 유도 서브전극을 포함하고, 단말에 의해 설정된 제1 미리 설정된 값은 20이다. 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 모든 커패시턴스 변화 값이 20을 초과하는 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 따라서 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

또한, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신을 수신할 때, N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터는 미리 설정된 비율 내에 있다.

제어기(320)는: 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하며, 상기 N개의 유도 서브전극(3342)에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있다.

유도 전극에 의해 야기되는, 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 유도 전극과 검출 전극의 영역 크기 및 유도 전극과 검출 전극 사이의 임피던스에 의해 결정된다. 터치 제어 유닛이 설정될 때, 터치 제어 유닛에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정값으로 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 모든 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 결정된 비율에 일치한다. 그러므로 검출 정확성이 더 향상된다.

도 3에 도시된 커패시턴스 변화 값에 대한 개략적인 도면을 참조하면, 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 획득하는 단계 이후에, 제어기는 3개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 10:9:8에 일치하는 각각 50, 45, 및 40인 것으로 검출하고, 이러한 3개의 커패시턴스 노드에 인접한 다른 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값 중 어느 것도 20을 초과하지 않는 것으로 검출하며, 그러므로 사용자가 유도 전극에 대응하는 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다.

또한, 검출 전극(332)은 N개의 검출 서브전극(3322)을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극(3322)은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극(3322)은 도선(226)을 사용하여 일대일 대응 방식으로 상기 N개의 유도 서브전극(3322)에 연결된다.

도 5에서, 사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행하고, 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 변화될 때, 유도 서브전극의 변화 역시 그에 따라 커플링 효과하에 전달된다. 모든 유도 서브전극이 동일한 검출 전극에 연결되어 있으면, 다른 유도 서브전극의 변화도 그에 따라 전달되고, 이것은 모든 다른 유도 서브전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 변하게 하며, 이에 의해 오류 검출이 초래된다. 이러한 상황을 회피할 목적으로, 검출 전극 역시 서로 절연되어 있는 N개의 검출 서브전극으로서 배치될 수 있으며, 여기서 각각의 검출 전극은 그에 따라서 하나의 유도 서브전극에 접속되고, 이에 따라 유도 서브전극의 전하가 사용자가 터치스크린 상에서 수행하는 터치 조작으로 인해 전달되며, 터치 제어 전극 내의 다른 유도 서브전극에서의 전하는 변하지 않는다. 그러므로 오류 검출 상황이 발생하지 않으며 검출 정확성이 더 향상된다.

사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때 터치 영역이 모든 N개의 검출 서브전극을 덮을 수 있을 정도로, N개의 검출 서브전극을 포함하는 검출 전극의 크기가 충분히 작아야 한다는 것에 유의해야 한다.

실제의 애플리케이션에서, 검출 서브전극의 수 및 유도 서브전극의 수는 엄격하게 같을 필요는 없다. 예를 들어, 검출 서브전극의 수가 유도 서브전극의 수보다 작도록 설정될 수도 있으며, 여기서 하나의 검출 서브전극은 복수의 유도 서브전극에 대응해서 접속될 수 있고, 검출 서브전극의 수가 유도 서브전극의 수보다 크도록 설정될 수도 있으며, 여기서 복수의 검출 서브전극이 하나의 유도 서브전극에 대응해서 접속될 수도 있고, 복수의 검출 서브전극이 복수의 유도 서브전극에 교차 접속되도록 설정될 수도 있다.

또한, 각각의 유도 서브전극(3342)의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않는다.

터치스크린 상의 하나의 커패시턴스 노드의 크기는 사람의 손가락에 비해 상대적으로 작다. 그러므로 사용자가 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때, 터치스크린 상에서 사용자의 손가락의 접촉 영역이 상대적으로 크며, 이것은 복수의 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값의 변화를 동반한다. 그러므로 오류 검출을 감소하기 위해, 유도 서브전극의 영역은 가능한 한 작게 설정될 수 있으므로, 각각의 유도 서브전극에 의해 영향을 받는 커패시턴스 노드는 가능한 한 적다. 우선적으로, 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역보다 작도록 설정될 수 있다.

또한, 터치스크린(310) 상에서 커패시턴스 노드를 관통하는, 도선(336) 중 일부의 폭은 ≤ 1 mm이다.

본 발명의 이 실시예에서, 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 전하 전달 역시 도선 상에서 발생한다. 도선의 폭이 비교적 넓으면, 도선이 통과하는 커패시턴스 노드는 영향을 받으며, 이것은 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값의 변화를 초래한다. 도선이 터치스크린 상에서 커패시턴스 노드에 영향을 주는 것을 방지할 목적으로, 유도 전극은 터치 영역의 가장자리에 배치될 수 있다. 대안으로, 유도 전극이 터치 영역의 비 가장자리 위치 상에 배치되면, 커패시턴스 노드를 통과하는, 도선의 부분의 폭은 가능한 한 작게 설정될 수 있다. 우선적으로, 도선의 이 일부의 폭은 1 mm보다 작도록 설정될 수 있다.

선택적으로, 검출 전극(332)이 터치 조작을 수신할 때, 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 정해진 값에 일치하며, 여기서 상기 미리 결정된 값은 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르다.

사용자가 손가락을 이용해서 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 상대적으로 고정되어 있고, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있다. 그러므로 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은, 사용자가 터치스크린 상의 터치 영역 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르며, 이에 의해 사용자가 터치 영역 상에서 수행되는 작동과 사용자가 검출 전극 상에서 수행하는 작동을 구별하는 효과를 달성한다.

예를 들어, 사용자가 손가락을 이용하여 터치스크린 상에서 터치 조작을 수행할 때 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 100이면, 터치 제어 유닛 내에 있는 모든 유도 서브전극과 검출 전극의 영역 크기 및 도선의 임피던스는 고정 값에 설정될 수 있으며, 이에 따라 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행할 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 50이다. 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 대략 50인 것으로 검출되고, 인접하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 20보다 낮을 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행한 것으로 결정할 수 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 단말의 터치스크린의 터치 영역 밖에 검출 전극이 배치하고, 터치 영역 내에 유도 전극이 배치하고, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 연결된다. 사용자가 검출 전극을 작동시키면, 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 변경되고 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합된 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것을 검출하면 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 전극 노드 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 유도 전극은 N개의 유도 서브전극으로 분할되고, 여기서 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않다. N개의 유도 서브전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정된다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 검출 전극이 N개의 검출 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극은 도선을 사용하여 일대일 대응 방식으로 N개의 유도 서브전극에 연결되며, 이것은 커패시턴스 노드의 커플링 효과하에 N개의 유도 서브전극 중 하나에서 전하 전달이 발생할 때 다른 유도 서브전극이 영향을 받는 것을 방지한다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

마지막으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치 제어 유닛에 따르면, 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않으며, 유도 전극이 터치스크린의 터치 영역의 비 가장자리 영역 상에 위치할 때, 도선의 폭은 1mm보다 작거나 같도록 설정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

도 7을 참조하면, 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 터치스크린(410)에 대한 개략적인 구조도이다. 터치스크린(410)은 도 1 또는 도 2에 도시된 단말(400)에 적용될 수 있으며, 터치스크린(410)은 적어도 하나의 터치 제어 유닛(430)을 포함한다.

터치 제어 유닛(430)은 도 4 내지 도 63 중 어느 하나에 도시된 터치 제어 유닛이다.

도 7에 도시된 바와 같이, 터치 제어 유닛(430)은 검출 전극(432), 유도 전극(434), 및 도선(436)을 포함한다. 터치 제어 유닛(430)은 터치스크린(410)의 상부 표면에 직접 배치될 수 있다. 실제의 애플리케이션에서, 터치 제어 유닛(430) 내의 유도 전극(434)이 터치스크린(410) 상의 커패시턴스 노드(412)에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛(430)은 터치스크린(410)의 하부 표면 또는 터치스크린(410)의 내부에 배치될 수도 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치스크린에 따르면, 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 접속된다. 사용자가 검출 전극을 작동시킬 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 변화 값이 변하게 되고, 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치스크린에 따르면, 유도 전극은 N개의 유도 서브전극으로 분할되고, 여기서 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않다. N개의 유도 서브전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치스크린에 따르면, 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치스크린에 따르면, 검출 전극이 N개의 검출 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극은 도선을 사용하여 일대일 대응 방식으로 N개의 유도 서브전극에 연결되며, 이것은 커패시턴스 노드의 커플링 효과하에 N개의 유도 서브전극 중 하나에서 전하 전달이 발생할 때 다른 유도 서브전극이 영향을 받는 것을 방지한다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

마지막으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 터치스크린에 따르면, 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않으며, 유도 전극이 터치스크린의 터치 영역의 비 가장자리 영역 상에 위치할 때, 도선의 폭은 1mm보다 작거나 같도록 설정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

도 8을 참조하면, 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 스크린 프로텍터(540)에 대한 개략적인 구조도이다. 스크린 프로텍터(540)는 터치스크린(510)을 포함하는 단말(500)에 적용될 수 있으며, 스크린 프로텍터(540)는 적어도 하나의 터치 제어 유닛(530)을 포함한다.

터치 제어 유닛(530)은 도 4 내지 도 6 중 어느 하나에 도시된 터치 제어 유닛이다.

도 8에 도시된 바와 같이, 터치 제어 유닛(530)은 검출 전극(532), 유도 전극(534), 및 도선(536)을 포함한다. 터치 제어 유닛(530)은 스크린 프로텍터(540)의 상부 표면에 직접 배치될 수 있다. 실제의 애플리케이션에서, 터치 제어 유닛(530) 내의 유도 전극(534)이 단말(500)의 터치스크린(510) 상의 커패시턴스 노드(512)에 절연되어 결합되어 있으면, 터치 제어 유닛(540)은 스크린 프로텍터(540)의 하부 표면 또는 스크린 프로텍터(540)의 내부에 배치될 수도 있다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 스크린 프로텍터에 따르면, 검출 전극은 단말의 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 유도 전극은 터치 영역 내에 위치하며, 검출 전극과 유도 전극은 도선을 사용하여 접속된다. 사용자가 검출 전극을 작동시킬 때, 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 변화 값이 변하게 되고, 이에 따라 제어기는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하고, 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때 대응하는 터치 이벤트를 생성할 수 있다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 스크린 프로텍터에 따르면, 유도 전극은 N개의 유도 서브전극으로 분할되고, 여기서 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않다. N개의 유도 서브전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드들의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하지 않는 것으로 검출될 때, 제어기는 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것으로 결정할 수 있다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 스크린 프로텍터에 따르면, 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값은 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정된다. 그러므로 오작동이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 스크린 프로텍터에 따르면, 검출 전극이 N개의 검출 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극은 도선을 사용하여 일대일 대응 방식으로 N개의 유도 서브전극에 연결되며, 이것은 커패시턴스 노드의 커플링 효과하에 N개의 유도 서브전극 중 하나에서 전하 전달이 발생할 때 다른 유도 서브전극이 영향을 받는 것을 방지한다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

마지막으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 스크린 프로텍터에 따르면, 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않으며, 유도 전극이 터치스크린의 터치 영역의 비 가장자리 영역 상에 위치할 때, 도선의 폭은 1mm보다 작거나 같도록 설정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 감소하고, 검출 정확성이 더 향상된다.

도 9를 참조하면, 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 작동 검출 장치에 대한 개략적인 구조도이다. 적용되는 작동 검출 장치는 단말에 적용되며, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합된다. 상기 작동 검출 장치는:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있는 파라미터 획득 모듈(601) - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있는 검출 모듈(602); 및

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있는 이벤트 생성 모듈(603)

을 포함한다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 장치에 따르면, 터치스크린의 터치 영역에 배치되어 있는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 및 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 터치스크린의 터치 영역 밖에 배치된 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것이 검출될 때, 대응하는 터치 이벤트가 생성된다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

도 9에 대응하는 전술한 실시예에 대해 더 상세히 설명하기 위해, 도 10을 참조하면, 도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 작동 검출 장치를 도시한다.

작동 검출 장치는 단말에 적용되며, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며, 상기 작동 검출 장치는:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있는 파라미터 획득 모듈(601) - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있는 검출 모듈(602); 및

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있는 이벤트 생성 모듈(603)

을 포함한다.

선택적으로, 상기 검출 모듈(602)은:

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하도록 구성되어 있는 제1 검출 유닛(602a);

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제2 검출 유닛(602b); 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제1 결정 유닛(602c)

을 포함한다.

또한, 상기 검출 모듈(602)은:

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 상기 제1 결정 유닛이 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있는 제3 검출 유닛(602d)

을 더 포함하며,

상기 제1 결정 유닛(602c)은, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,

상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2이다.

선택적으로, 상기 검출 모듈(602)은,

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있는 제4 검출 모듈(602e) - 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다름 - ;

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제5 검출 유닛(602f); 및

상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제2 결정 유닛(602g)

을 포함한다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 장치에 따르면, 터치스크린의 터치 영역에 배치되어 있는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 및 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 터치스크린의 터치 영역 밖에 배치된 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것이 검출될 때, 대응하는 터치 이벤트가 생성된다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 장치에 따르면, 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것은, N개의 유도 전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하는 것이 검출될 때 결정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 더 감소하고, 검출 정확성이 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 장치에 따르면, 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것은, N개의 유도 전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정되는 것이 검출될 때 결정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 더 감소하고, 검출 정확성이 향상된다.

도 11을 참조하면, 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 작동 검출 방법에 대한 방법 흐름도이다. 방법은 단말에 적용될 수 있고, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합된다. 작동 검출 방법은:

단계 702: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다.

단계 704: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출한다.

단계 706: 단말은, 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성한다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 방법에 따르면, 터치스크린의 터치 영역에 배치되어 있는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 및 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 터치스크린의 터치 영역 밖에 배치된 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것이 검출될 때, 대응하는 터치 이벤트가 생성된다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

도 11에 대응하는 전술한 실시예에 대해 더 상세히 설명하기 위해, 도 12를 참조하면, 도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 작동 검출 방법에 대한 방법 흐름도를 도시한다. 방법은 단말에 적용될 수 있고, 상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합된다. 작동 검출 방법은:

단계 802: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득한다.

커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용된다. 단말은 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함한다. 터치 제어 유닛의 구조에 대해서는 도 1 또는 도 2를 참조하며, 이에 대해서는 여기서 설명하지 않는다.

단계 804: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출한다.

단계 806: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정한다.

상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지가 검출되며; 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계가 실행되며, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N ≥ 2이다.

터치 제어 유닛 내의 검출 전극이 사용자 작동을 수신하는 것을 단말이 검출하는 프로세스에 대해서는 도 2에 대응하는 실시예에서의 설명을 참조하면 되므로 이에 대해서는 여기서 설명하지 않는다.

단계 808: 단말은 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출한다.

상기 미리 결정된 값은 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르다.

단계 810: 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 단말은 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정한다.

단말이 터치 제어 유닛 내의 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 프로세스에 대해서는 도 2에 대응하는 실시예에서의 설명을 참조하면 되므로 이에 대해서는 여기서 설명하지 않는다.

단계 812: 단말은 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성한다.

결론적으로, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 방법에 따르면, 터치스크린의 터치 영역에 배치되어 있는 유도 전극에 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 및 커패시턴스 노드에 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화에 따라, 터치스크린의 터치 영역 밖에 배치된 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것이 검출될 때, 대응하는 터치 이벤트가 생성된다. 터치스크린 상의 기존의 커패시턴스 노드는 터치스크린 밖에 배치된 검출 전극 상에서 사용자가 수행하는 터치 조작을 식별하는 데 사용되며, 단말은 그 터치 조작에 따라 제어된다. 이것은 단말의 키의 수를 더 증가시킬 수 있으면서 매우 작은 공간을 차지하고 매우 낮은 비용을 쓰는 필요성만으로 단말의 제어 방식을 확장할 수 있다. 그러므로 사용자 경험은 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 방법에 따르면, 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것은, N개의 유도 전극에 대응하는 모든 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하고, 다른 인접한 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 조건을 충족하는 것이 검출될 때 결정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 더 감소하고, 검출 정확성이 향상된다.

또한, 본 발명의 이 실시예에서 제공하는 작동 검출 방법에 따르면, 사용자가 검출 전극 상에서 터치 조작을 수행하는 것은, N개의 유도 전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있도록 설정되는 것이 검출될 때 결정된다. 그러므로 오류 검출의 가능성이 더 감소하고, 검출 정확성이 향상된다.

당업자라면 본 발명의 방법의 단계 중 일부 또는 전부는 관련 하드웨어에 명령을 내리는 컴퓨터 프로그램에 의해 구현될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 프로그램은 컴퓨터가 판독 가능한 저장 매체에 저장될 수 있다. 프로그램이 실행되면, 프로그램은 본 발명의 임의의 실시예에서 설명된 방법을 실행한다. 저장 매체는 리드 온리 메모리, 랜덤 액세스 메모리, 자기디스크, 또는 광디스크가 될 수 있다.

전술한 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적 실시예에 지나지 않으며, 본 발명의 보호 범위를 제한하려는 것이 아님은 물론이다. 창조적 노력 없이 당업자에 의해 이루어지는 어떠한 변형, 등가의 대체, 또는 개선이라도 본 발명의 보호 범위 내에 있게 된다.

Claims (22)

1. 단말로서,
   상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선(conducting wire)을 포함하며,
   상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며;
   상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있으며, 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용되며,
   상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있으며,
   상기 제어기는, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있는, 단말.
2. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있으며,
   상기 제어기는, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는, 단말.
3. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있으며,
   상기 제어기는, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,
   상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2인, 단말.
4. 제1항에 있어서,
   상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있으며, 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다르며,
   상기 제어기는 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있으며,
   상기 제어기는, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는, 단말.
5. 터치스크린 및 제어기를 포함하는 단말에 적용되는 터치 제어 유닛으로서,
   상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 상기 검출 전극과 상기 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며,
   상기 검출 전극은 상기 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 상기 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하고, 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는 것을 검출할 때, 상기 제어기가 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성할 수 있도록, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되어 있으며,
   상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 지시하는 데 사용되는, 터치 제어 유닛.
6. 제5항에 있어서,
   상기 유도 전극은 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2인, 터치 제어 유닛.
7. 제6항에 있어서,
   상기 검출 전극은 단일 전극이고, 상기 N개의 유도 서브전극은 도선을 사용하여 검출 전극에 개별적으로 연결되어 있는, 터치 제어 유닛.
8. 제6항에 있어서,
   상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하면, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터는 미리 설정된 비율 내에 있은, 터치 제어 유닛.
9. 제6항에 있어서,
   상기 검출 전극은 N개의 검출 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 검출 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 검출 서브전극은 도선을 사용하여 일대일 대응 방식으로 상기 N개의 유도 서브전극에 연결되는, 터치 제어 유닛.
10. 제6항에 있어서,
    각각의 유도 서브전극의 영역은 2개의 커패시턴스 노드의 영역을 초과하지 않는, 터치 제어 유닛.
11. 제6항에 있어서,
    상기 터치스크린 상에서 커패시턴스 노드를 관통하는, 도선 중 일부의 폭은 ≤ 1 mm인, 터치 제어 유닛.
12. 제6항에 있어서,
    상기 검출 전극이 터치 조작을 수신할 때, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터는 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다른, 터치 제어 유닛.
13. 터치스크린으로서,
    제5항에 따른 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하는 터치스크린.
14. 터치스크린의 상부 표면을 덮도록 구성되어 있는 스크린 프로텍터로서,
    제5항에 따른 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하는 스크린 프로텍터.
15. 단말에 적용되는 작동 검출 장치로서,
    상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며, 상기 작동 검출 장치는,
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하도록 구성되어 있는 파라미터 획득 모듈 - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하도록 구성되어 있는 검출 모듈; 및
    상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하도록 구성되어 있는 이벤트 생성 모듈
    을 포함하는 작동 검출 장치.
16. 제15항에 있어서,
    상기 검출 모듈은,
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하도록 구성되어 있는 제1 검출 유닛;
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제2 검출 유닛; 및
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제1 결정 유닛
    을 포함하는, 작동 검출 장치.
17. 제16항에 있어서,
    상기 검출 모듈은,
    상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 상기 제1 결정 유닛이 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하도록 구성되어 있는 제3 검출 유닛
    을 더 포함하며,
    상기 제1 결정 유닛은, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하도록 구성되어 있으며,
    상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2인, 작동 검출 장치.
18. 제15항에 있어서,
    상기 검출 모듈은,
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하도록 구성되어 있는 제4 검출 모듈 - 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다름 - ;
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하도록 구성되어 있는 제5 검출 유닛; 및
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하도록 구성되어 있는 제2 결정 유닛
    을 포함하는, 작동 검출 장치.
19. 단말에 적용되는 작동 검출 방법으로서,
    상기 단말은 터치스크린, 터치스크린에 연결되어 있는 제어기, 및 적어도 하나의 터치 제어 유닛을 포함하며, 상기 터치 제어 유닛은 검출 전극, 유도 전극, 및 검출 전극과 유도 전극을 연결하는 도선을 포함하며, 상기 검출 전극은 터치스크린의 터치 영역 밖에 위치하고, 상기 유도 전극은 터치스크린의 터치 영역 내에 위치하며, 상기 유도 전극은 터치스크린 상의 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 결합되며,
    상기 단말이, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터를 획득하는 단계 - 상기 커패시턴스 변화 파라미터는 일정한 기간 동안 대응하는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값을 지시하는 데 사용됨 - ;
    상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계 - ; 및
    상기 단말이, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한다는 것이 검출 결과일 때, 터치 조작을 지시하는 데 사용되는 터치 이벤트를 생성하는 단계
    를 포함하는 작동 검출 방법.
20. 제19항에 있어서,
    상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계는,
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 큰지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하는 단계; 및
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 크고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제1 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계
    를 포함하는, 작동 검출 방법.
21. 제19항에 있어서,
    상기 작동 검출 방법은,
    상기 단말이, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하기 전에, N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있는지를 검출하는 단계; 및
    상기 단말이, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변환 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 설정된 비율 내에 있을 때, 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계를 실행하는 단계
    를 더 포함하며,
    상기 유도 전극은 상기 N개의 유도 서브전극을 포함하고, 상기 N개의 유도 서브전극은 서로 절연되어 있으며, 상기 N개의 유도 서브전극에 개별적으로 결합되어 있는 커패시턴스 노드는 서로 인접하지 않으며, N은 정수이고 N ≥ 2인, 작동 검출 방법.
22. 제19항에 있어서,
    상기 단말이 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터 및 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 따라 상기 검출 전극이 터치 조작을 수신하는지를 검출하는 단계는,
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하는지를 검출하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같은지를 검출하는 단계 - 상기 미리 결정된 값은 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드가 터치 조작을 수신할 때 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 값과는 다름 - ; 및
    상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 미리 결정된 값에 일치하고, 상기 적어도 하나의 커패시턴스 노드에 인접한 노드의 커패시턴스 변화 파라미터에 포함되어 있는 커패시턴스 변화 값이 제2 미리 설정된 임계값보다 작거나 같을 때, 검출 전극이 터치 조작을 수신한 것으로 결정하는 단계
    를 포함하는, 작동 검출 방법.

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