KR101843731B1 - Light emitting device - Google Patents

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Abstract

실시예에 따른 발광소자는, 지지 기판과, 지지 기판상에 형성된 제1 전극층과, 제1 전극층 상에 형성되며 제1 반도체층, 제2 반도체층 및 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함한 발광 구조물과, 발광 구조물 상에 형성된 투광성 전극층과, 투광성 전극층 상에 형성된 제3 반도체층, 및 제3 반도체층 상에 형성된 광 추출 구조를 포함한다.A light emitting device according to an embodiment includes a support substrate, a first electrode layer formed on the support substrate, and a second electrode layer formed on the first electrode layer, the first semiconductor layer, the second semiconductor layer, A light emitting structure including an active layer to be disposed, a light transmitting electrode layer formed on the light emitting structure, a third semiconductor layer formed on the light transmitting electrode layer, and a light extracting structure formed on the third semiconductor layer.

Description

발광소자{Light emitting device}[0001]

실시예는 발광소자에 관한 것이다. An embodiment relates to a light emitting element.

LED(Light Emitting Diode; 발광 다이오드)는 화합물 반도체의 특성을 이용해 전기 신호를 적외선, 가시광선 또는 빛의 형태로 변환시키는 소자로, 가정용 가전제품, 리모콘, 전광판, 표시기, 각종 자동화 기기 등에 사용되고, 점차 LED의 사용 영역이 넓어지고 있는 추세이다.LED (Light Emitting Diode) is a device that converts electrical signals into infrared, visible light or light using the characteristics of compound semiconductors. It is used in household appliances, remote controls, display boards, The use area of LED is becoming wider.

보통, 소형화된 LED는 PCB(Printed Circuit Board) 기판에 직접 장착하기 위해서 표면실장소자(Surface Mount Device)형으로 만들어지고 있고, 이에 따라 표시소자로 사용되고 있는 LED 램프도 표면실장소자 형으로 개발되고 있다. 이러한 표면실장소자는 기존의 단순한 점등 램프를 대체할 수 있으며, 이것은 다양한 칼라를 내는 점등표시기용, 문자표시기 및 영상표시기 등으로 사용된다.In general, miniaturized LEDs are made of a surface mounting device for mounting directly on a PCB (Printed Circuit Board) substrate, and an LED lamp used as a display device is also being developed as a surface mounting device type . Such a surface mount device can replace a conventional simple lighting lamp, which is used for a lighting indicator for various colors, a character indicator, an image indicator, and the like.

이와 같이 LED의 사용 영역이 넓어지면서, 생활에 사용되는 전등, 구조 신호용 전등 등에 요구되는 휘도가 높이지는 바, LED의 발광휘도를 증가시키는 것이 중요하다. As the use area of the LED is widened as described above, it is important to increase the luminance of the LED as the brightness required for a lamp used in daily life and a lamp for a structural signal is increased.

수직형 발광소자는 특성상 활성층에서 생성된 광이 상부로 집중되어 배광 패턴이 넓게 형성되기 어렵다. 또한, 상부의 GaN 층과 공기 사이의 계면에서 전반사가 발생하여 광 추출 효율이 저하될 수 있다.The light emitted from the active layer is concentrated on the upper portion of the vertical light emitting device, and thus the light distribution pattern is hardly formed. In addition, total reflection may occur at the interface between the upper GaN layer and the air, and the light extraction efficiency may be lowered.

공개번호 10-2005-0123028 에서는 광 추출 효율을 향상시키기 위해서 발광 구조물 상부에 광 추출 구조를 형성하는 러프니스를 포함한 수직형 발광소자를 개시한다.Open No. 10-2005-0123028 discloses a vertical type light emitting device including a roughness in which a light extracting structure is formed on a light emitting structure to improve light extraction efficiency.

또한, 공개번호 10-2008-0043649 에서는 발광 효율을 개선하기 위해서 발광 구조물 상부의 n-GaN 층이 소정의 두께를 갖도록 형성된 발광 소자를 개시한다.In addition, Publication No. 10-2008-0043649 discloses a light emitting device in which an n-GaN layer on a light emitting structure is formed to have a predetermined thickness to improve light emitting efficiency.

상술한 바와 같이 배광 패턴을 넓게 형성하기 위해서 발광소자에 포함된 반도체층을 두껍게 형성하면, 반도체층의 성장 단계에서 불균일한 성장 및 깨짐 현상 등이 발생하여 신뢰성이 저하될 수 있다.If the semiconductor layer included in the light emitting device is formed thick to form the light distribution pattern as described above, uneven growth and cracking may occur at the growth stage of the semiconductor layer, and reliability may be lowered.

또한, 배광 패턴을 넓게 형성하기 위해서 발광소자의 상부에 소정의 투광성 구조물을 형성하는 경우, 상술한 바와 같은 광 추출 구조를 형성하기 어려워서 광 추출 효율이 저하될 수 있다.In addition, when a predetermined light-transmitting structure is formed on the light emitting device to form a wide light distribution pattern, it is difficult to form the light extracting structure as described above, so that the light extracting efficiency may be lowered.

실시예는 배광패턴이 넓고, 광 추출 효율이 개선된 발광소자를 제공한다.The embodiment provides a light emitting device having a wide light distribution pattern and improved light extraction efficiency.

실시예에 따른 발광소자는, 지지 기판과, 지지 기판상에 형성된 제1 전극층과, 제1 전극층 상에 형성되며 제1 반도체층, 제2 반도체층 및 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함한 발광 구조물과, 발광 구조물 상에 형성된 투광성 전극층과, 투광성 전극층 상에 형성된 제3 반도체층, 및 제3 반도체층 상에 형성된 광 추출 구조를 포함한다.A light emitting device according to an embodiment includes a support substrate, a first electrode layer formed on the support substrate, and a second electrode layer formed on the first electrode layer, the first semiconductor layer, the second semiconductor layer, A light emitting structure including an active layer to be disposed, a light transmitting electrode layer formed on the light emitting structure, a third semiconductor layer formed on the light transmitting electrode layer, and a light extracting structure formed on the third semiconductor layer.

실시예에 따른 발광소자는 소정의 두께를 갖는 투광성 전극층을 포함하여 배광 패턴이 널게 형성되며, 아울러 투광성 전극층 상에 제3 반도체층이 형성되어 광 추출 구조가 용이하게 형성되어 광 추출 효율이 개선될 수 있다.The light emitting device according to the embodiment includes a light transmitting electrode layer having a predetermined thickness to form a light distribution pattern and a third semiconductor layer is formed on the light transmitting electrode layer to easily form a light extracting structure, .

도 1은 실시예에 따른 발광소자의 단면도,
도 2a는 실시예에 따른 발광소자의 단면도,
도 2b는 실시예에 따른 발광소자의 단면도,
도 3은 실시예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지의 사시도,
도 4는 실시예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지의 단면도,
도 5는 실시예에 따른 발광소자를 포함한 발광소자 패키지의 단면도,
도 6 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 조명 장치를 도시한 사시도,
도 7은 도 6의 조명 장치의 C - C' 단면을 도시한 단면도,
도 8은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도, 그리고
도 9는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.
1 is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment,
2A is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment,
2B is a cross-sectional view of the light emitting device according to the embodiment,
3 is a perspective view of a light emitting device package including a light emitting device according to an embodiment,
4 is a cross-sectional view of a light emitting device package including a light emitting device according to an embodiment,
5 is a sectional view of a light emitting device package including a light emitting device according to an embodiment,
6 is a perspective view showing a lighting device including a light emitting device according to an embodiment,
FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line C-C 'of the illumination device of FIG. 6,
8 is an exploded perspective view of a liquid crystal display device including a light emitting device according to an embodiment, and
9 is an exploded perspective view of a liquid crystal display device including a light emitting device according to an embodiment.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 따라서, 몇몇 실시예에서, 잘 알려진 공정 단계들, 잘 알려진 소자 구조 및 잘 알려진 기술들은 본 발명이 모호하게 해석되는 것을 피하기 위하여 구체적으로 설명되지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Thus, in some embodiments, well known process steps, well known device structures, and well-known techniques are not specifically described to avoid an undesirable interpretation of the present invention. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

본 발명에 따른 실시 예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 “상(위) 또는 하(아래)(on or under)”으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향 뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case of being described as being formed "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.The terminology used herein is for the purpose of illustrating embodiments and is not intended to be limiting of the present invention. In the present specification, the singular form includes plural forms unless otherwise specified in the specification. It is noted that the terms "comprises" and / or "comprising" used in the specification are intended to be inclusive in a manner similar to the components, steps, operations, and / Or additions.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않은 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms (including technical and scientific terms) used herein may be used in a sense commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Also, commonly used predefined terms are not ideally or excessively interpreted unless explicitly defined otherwise.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기와 면적은 실제크기나 면적을 전적으로 반영하는 것은 아니다. The thickness and size of each layer in the drawings are exaggerated, omitted, or schematically shown for convenience and clarity of explanation. Also, the size and area of each component do not entirely reflect actual size or area.

비록 제1, 제2 등의 용어가 여러 가지 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이러한 요소들. 성분들. 영역들. 층들 및/또는 지역들은 이러한 용어에 의해 한정되어서는 안 될 것이다.Although the terms first, second, etc. may be used to describe various elements, components, regions, layers and / or regions, these elements. Ingredients. Areas. Layers and / or regions should not be limited by these terms.

또한, 실시 예에서 발광소자의 구조를 설명하는 과정에서 언급하는 각도와 방향은 도면에 기재된 것을 기준으로 한다. 명세서에서 발광소자를 이루는 구조에 대한 설명에서, 각도에 대한 기준점과 위치관계를 명확히 언급하지 않은 경우, 관련 도면을 참조하도록 한다.Further, the angle and direction mentioned in the description of the structure of the light emitting device in the embodiment are based on those shown in the drawings. In the description of the structure of the light emitting device in the specification, reference points and positional relationship with respect to angles are not explicitly referred to, refer to the related drawings.

도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 발광소자(100)는, 지지 기판(110)과, 지지 기판(110)상에 형성된 제1 전극(120)과, 제1 전극(120) 상에 형성되며 제1 반도체층(132), 제2 반도체층(136) 및 제1 반도체층(132)과 제2 반도체층(136) 사이에 배치되는 활성층(134)을 포함한 발광 구조물(130)과, 발광 구조물(130) 상에 형성된 투광성 전극층(140)과, 투광성 전극층(140) 상에 형성된 제3 반도체층(150), 및 제3 반도체층 상에 형성된 광 추출 구조(160)를 포함한다.1 and 2, a light emitting device 100 according to an embodiment includes a support substrate 110, a first electrode 120 formed on the support substrate 110, a first electrode 120 formed on the first electrode 120, A light emitting structure 130 including a first semiconductor layer 132, a second semiconductor layer 136, and an active layer 134 disposed between the first semiconductor layer 132 and the second semiconductor layer 136; A light-transmitting electrode layer 140 formed on the light-emitting structure 130, a third semiconductor layer 150 formed on the light-transmitting electrode layer 140, and a light extracting structure 160 formed on the third semiconductor layer.

지지기판(110)은 열전도성이 우수한 물질을 이용하여 형성할 수 있으며, 또한 전도성 물질로 형성할 수 있는데, 금속 물질 또는 전도성 세라믹을 이용하여 형성할 수 있다. 지지기판(110)은 단일층으로 형성될 수 있고, 이중 구조 또는 그 이상의 다중 구조로 형성될 수 있다.The support substrate 110 may be formed using a material having a high thermal conductivity, or may be formed of a conductive material, such as a metal material or a conductive ceramic. The support substrate 110 may be formed of a single layer, and may be formed of a double structure or a multiple structure.

즉, 지지기판(110)은 금속, 예를 들어 금(Au), 니켈(Ni), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu), 알루미늄(Al), 탄탈륨(Ta), 은(Ag), 백금(Pt), 크롬(Cr) 중에서 선택된 어느 하나로 형성하거나 둘 이상의 합금으로 형성할 수 있으며, 서로 다른 둘 이상의 물질을 적층하여 형성할 수 있다. 또한 지지기판(110)은 규소(Si), 게르마늄(Ge), 비소화갈륨(GaAs), 산화아연(ZnO), 실리콘카바이드(SiC), 실리콘게르마늄(SiGe), 질화갈륨(GaN), 갈륨(Ⅲ)옥사이드(Ga2O3)와 같은 캐리어 웨이퍼로 구현될 수 있다. That is, the support substrate 110 may be formed of a metal such as Au, Ni, W, Mo, Cu, Al, Ta, (Ag), platinum (Pt), and chromium (Cr), or may be formed of two or more alloys, or two or more different materials may be laminated. The support substrate 110 may also be formed of one or more materials selected from the group consisting of silicon (Si), germanium (Ge), gallium arsenide (GaAs), zinc oxide (ZnO), silicon carbide (SiC), silicon germanium (SiGe), gallium nitride ⅲ) it can be implemented with a carrier wafer such as oxide (Ga 2 O 3).

이와 같은 지지기판(110)은 발광소자(100)에서 발생하는 열의 방출을 용이하게 하여 발광소자(100)의 열적 안정성을 향상시킬 수 있다.The support substrate 110 facilitates the emission of heat generated in the light emitting device 100, thereby improving the thermal stability of the light emitting device 100.

지지기판(100) 상에는 확산 방지층(114)이 형성될 수 있다. 확산 방지층(114)은 금속의 확산을 방지하는 물질로 형성될 수 있으며, 예를 들어, 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 텅스텐(W), 니켈(Ni), 루테늄(Ru), 몰리브덴(Mo), 이리듐(Ir), 로듐(Rh), 탄탈(Ta), 하프늄(Hf), 지르코늄(Zr), 니오브(Nb), 바나듐(V), 철(Fe), 티타늄(Ti) 중 적어도 하나 또는 둘 이상의 합금을 포함할 수 있고, 이에 한정하지 아니한다.A diffusion barrier layer 114 may be formed on the support substrate 100. The diffusion barrier layer 114 may be formed of a material that prevents diffusion of metals and may be formed of a metal such as platinum (Pt), palladium (Pd), tungsten (W), nickel (Ni), ruthenium (Ru), molybdenum At least one of iridium (Ir), rhodium (Rh), tantalum (Ta), hafnium (Hf), zirconium (Zr), niobium (Nb), vanadium (V), iron (Fe) Or may include, but is not limited to, two or more alloys.

확산 방지층(114)은 발광 소자(100)의 제조 공정상 발생할 수 있는 깨짐, 또는 박리와 같은 기계적 손상을 최소화할 수 있다. 또한, 확산 방지층(114)은 지지기판(110) 또는 결합층(112)을 구성하는 금속 물질이 발광 구조물(130)으로 확산되는 것을 방지할 수 있다.The diffusion preventing layer 114 can minimize mechanical damage such as cracking or peeling that may occur in the manufacturing process of the light emitting device 100. The diffusion preventing layer 114 may prevent diffusion of the metal material constituting the supporting substrate 110 or the coupling layer 112 into the light emitting structure 130.

확산 방지층(114)은 스퍼터링 증착 방법을 사용하여 형성할 수 있다. 스퍼터링 증착 방법을 사용할 경우, 이온화된 원자를 전기장에 의해 가속시켜, 전도층(120)의 소스 재료(source material)에 충돌시키면, 소스 재료의 원자들이 튀어나와 증착된다. 또한, 실시예에 따라 전기 화학적인 금속 증착 방법이나, 유테틱 메탈을 이용한 본딩 방법 등을 사용할 수도 있다. 실시예에 따라 확산 방지층(114)은 복수의 레이어로 형성될 수도 있다. The diffusion barrier layer 114 may be formed using a sputter deposition method. When a sputter deposition method is used, ions of the source material are sputtered and deposited when the ionized atoms are accelerated by an electric field to impinge on the source material of the conductive layer 120. In addition, an electrochemical metal deposition method, a bonding method using a eutectic metal, or the like may be used according to the embodiment. The diffusion preventing layer 114 may be formed of a plurality of layers according to an embodiment.

지지기판(110)과 확산 방지층(114) 사이에는 지지기판(110)과 확산 방지층(114)의 결합을 위하여 결합층(112)이 형성될 수 있다. 결합층(112)은 예를 들어, 금(Au), 주석(Sn), 인듐(In), 은(Ag), 니켈(Ni), 나이오븀(Nb), 알루미늄(Au), 팔라듐(Pd), 및 구리(Cu) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.A bonding layer 112 may be formed between the supporting substrate 110 and the diffusion preventing layer 114 for bonding the supporting substrate 110 and the diffusion preventing layer 114 to each other. The bonding layer 112 may be formed of, for example, Au, Sn, In, Ag, Ni, Nb, Au, Pd, , And copper (Cu).

한편, 확산 방지층(114) 상에는 제1 전극(120)이 형성될 수 있으며, 제1 전극(120)은 오믹층(ohmic layer)(미도시), 반사층(reflective layer)(미도시), 본딩층(bonding layer)(미도시) 중 적어도 한 층을 포함할 수 있다. 예를 들어 제1 전극(120)은 오믹층/반사층/본딩층의 구조이거나, 오믹층/반사층의 적층 구조이거나, 반사층(오믹 포함)/본딩층의 구조일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 예컨대, 제1 전극(120)은 본딩층상에 반사층 및 오믹층이 순차로 적층된 형태일 수 있다.A first electrode 120 may be formed on the diffusion barrier layer 114. The first electrode 120 may include an ohmic layer (not shown), a reflective layer (not shown), a bonding layer and a bonding layer (not shown). For example, the first electrode 120 may be a structure of an ohmic layer / a reflection layer / a bonding layer, a laminate structure of an ohmic layer / a reflection layer, or a structure of a reflection layer (including an ohmic layer) / a bonding layer. For example, the first electrode 120 may be formed by sequentially stacking a reflective layer and an ohmic layer on a bonding layer.

반사층(미도시)은 오믹층(미도시) 및 전도층(미도시) 사이에 배치될 수 있으며, 반사특성이 우수한 물질, 예를들어 은(Ag), 니켈(Ni), 알루미늄(Al), 루비듐(Rh), 팔라듐(Pd), 이리듐(Ir), 루테늄(Ru), 마그네슘(Mg), 아연(Zn), 백금(Pt), 금(Au), 하프늄(Hf) 및 이들의 선택적인 조합으로 구성된 물질 중에서 형성되거나, 상기 금속 물질과 IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성할 수 있다. 또한 반사층(미도시)은 IZO/Ni, AZO/Ag, IZO/Ag/Ni, AZO/Ag/Ni 등으로 적층할 수 있다. 또한 반사층(미도시)을 발광 구조물(130)(예컨대, 제1 반도체층(132)과 오믹 접촉하는 물질로 형성할 경우, 오믹층(미도시)은 별도로 형성하지 않을 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective layer (not shown) may be disposed between an ohmic layer (not shown) and a conductive layer (not shown), and may be formed of a material having excellent reflective properties, such as silver (Ag), nickel (Ni) (Rh), Pd, Ir, ruthenium, magnesium, zinc, platinum, gold, hafnium and combinations thereof. Or a transparent conductive material such as IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, or the like. Further, the reflective layer (not shown) can be laminated with IZO / Ni, AZO / Ag, IZO / Ag / Ni, AZO / Ag / Ni and the like. In addition, when a reflective layer (not shown) is formed of a material that is in ohmic contact with the light emitting structure 130 (for example, the first semiconductor layer 132), an ohmic layer (not shown) may not be formed separately, Do not.

오믹층(미도시)은 발광 구조물(130)의 하면에 오믹 접촉되며, 층 또는 복수의 패턴으로 형성될 수 있다. 오믹층(미도시)은 투광성 전극층과 금속이 선택적으로 사용될 수 있으며, 예를 들어, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni, Ag, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 하나 이상을 이용하여 단층 또는 다층으로 구현할 수 있다. 오믹층(미도시)은 제1 반도체층(132)에 캐리어의 주입을 원활히 하기 위한 것으로, 반드시 형성되어야 하는 것은 아니다.The ohmic layer (not shown) is in ohmic contact with the lower surface of the light emitting structure 130, and may be formed of a layer or a plurality of patterns. The ohmic layer (not shown) may be formed of a transparent electrode layer and a metal. For example, ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), IZTO (indium zinc tin oxide) ), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IrO x , RuO x , RuO x / Ni, Ag, Ni / IrO x / Au, and Ni / IrO x / Au / ITO. The ohmic layer (not shown) is provided for facilitating the injection of carriers into the first semiconductor layer 132, and is not necessarily formed.

또한 제1 전극(120)은 본딩층(미도시)을 포함할 수 있으며, 이때 본딩층(미도시)은 배리어 금속(barrier metal), 또는 본딩 금속, 예를 들어, 티타늄(Ti), 금(Au), 주석(Sn), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 갈륨(Ga), 인듐(In), 비스무트(Bi), 구리(Cu), 은(Ag) 또는 Ta(탄탈륨) 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며 이에 한정하지 않는다. The first electrode 120 may also include a bonding layer (not shown), wherein the bonding layer (not shown) may include a barrier metal or a bonding metal such as titanium (Ti), gold At least one of Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag or Ta, But is not limited thereto.

한편, 제1 전극(120)과 후술하는 발광 구조물(130) 사이에는 전류제한층(CBL:Current Blocking Layer)(122)이 형성될 수 있다. Meanwhile, a current blocking layer (CBL) 122 may be formed between the first electrode 120 and the light emitting structure 130 described later.

전류제한층(122)은 전기 절연성을 갖는 재질, 제1 전극(120) 또는 결합층(112)보다 전기 전도성이 낮은 재질, 및 제1 반도체층(132)과 쇼트키 접촉을 형성하는 재질 중 적어도 하나를 이용하여 형성될 수 있으며, 예를 들어 SiO2, SiOx, SiOxNy, Si3N4, Al2O3, TiOx, TiO2, 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The current confining layer 122 is made of a material having electric insulation property, a material having a lower electrical conductivity than the first electrode 120 or the bonding layer 112, and a material having at least a material having a Schottky contact with the first semiconductor layer 132 And may include at least one of SiO 2 , SiO x , SiO x N y , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , TiO x , and TiO 2 , for example.

제1 전극(120)과 발광 구조물(130) 사이에 전류제한층(122)이 형성됨으로써, 전류 군집현상이 방지될 수 있다. 한편, 전류제한층(122)은 제3 반도체층(160)상에 형성될 수 있는 제2 전극(170)과 수직방향으로 적어도 일 영역이 중첩되게 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다. The current confining layer 122 is formed between the first electrode 120 and the light emitting structure 130, thereby preventing the current crowding phenomenon. Meanwhile, the current confining layer 122 may be formed to overlap at least one region in the vertical direction with respect to the second electrode 170, which may be formed on the third semiconductor layer 160, but is not limited thereto.

전류제한층(122)은 제1 반도체층(132)의 하면 에지를 따라 형성되며, 링 형상, 루프 형상 또는 프레임 형상으로 형성될 수 있다. 전류제한층(122)은 ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, SiO2, SiOx, SiOxNy, Si3N4, Al2O3, TiO2 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 전류제한층(122)의 내측부는 제1 반도체층(132) 아래에 배치되고, 외측부는 발광 구조물(130)의 측면보다 더 외측에 배치된다. The current confining layer 122 is formed along the bottom edge of the first semiconductor layer 132 and may be formed in a ring shape, a loop shape, or a frame shape. Current confined layer 122 is an ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO, SiO 2, SiO x, SiO x N y, Si 3 N 4, at least one of Al 2 O 3, TiO 2 . The inner portion of the current confining layer 122 is disposed below the first semiconductor layer 132 and the outer portion is disposed further outward than the side surface of the light emitting structure 130. [

전류제한층(122)이 제1 반도체층(132)의 하면 에지를 따라 형성됨으로써, 발광구조물(130)의 스크라이빙 공정 시, 제1 전극(120)까지 시각되는 것을 방지하고 발광구조물(130)의 쇼트를 방지하는 보호층 역할을 할 수 있다. 제1 전극(120) 상에는 발광 구조물(130)이 형성될 수 있다. 발광 구조물(130)은 적어도 제1 반도체층(132), 활성층(134) 및 제2 반도체층(136)을 포함할 수 있고, 제1 반도체층(132)과 제2 반도체층(136) 사이에 활성층(134)이 개재된 구성으로 이루어질 수 있다.Since the current confining layer 122 is formed along the bottom edge of the first semiconductor layer 132, it is possible to prevent the first electrode 120 from being visualized during the scribing process of the light emitting structure 130, ) Can be prevented from being short-circuited. The light emitting structure 130 may be formed on the first electrode 120. The light emitting structure 130 may include at least a first semiconductor layer 132, an active layer 134 and a second semiconductor layer 136 and may be formed between the first semiconductor layer 132 and the second semiconductor layer 136 And an active layer 134 interposed therebetween.

제1 반도체층(132)은 활성층(134)에 정공을 주입하도록 p형 반도체층으로 구현될 수 있다. 제1 반도체층(132)은 예를들어, InxAlyGa1 -x- yN (0=x=1, 0=y=1, 0=x+y=1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN(Gallium nitride), AlN(Aluminium nitride), AlGaN(Aluminium gallium nitride), InGaN(Indium gallium nitride), InN(Indium nitride), InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, 마그네슘(Mg), 아연(Zn), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 바륨(Ba) 등의 p형 도펀트가 도핑될 수 있다.The first semiconductor layer 132 may be implemented as a p-type semiconductor layer to inject holes into the active layer 134. The first semiconductor layer 132 may be a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0 = x = 1, 0 = y = 1, 0 = x + y = 1) For example, gallium nitride (GaN), aluminum nitride (AlN), aluminum gallium nitride (AlGaN), indium gallium nitride (InGaN), indium nitride (InN), InAlGaN, AlInN, A p-type dopant such as zinc (Zn), calcium (Ca), strontium (Sr), barium (Ba) or the like can be doped.

상기 제1 반도체층(132) 상에는 활성층(134)이 형성될 수 있다. 활성층(134)은 3족-5족 원소의 화합물 반도체 재료를 이용하여 단일 또는 다중 양자 우물 구조, 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 등으로 형성될 수 있다.The active layer 134 may be formed on the first semiconductor layer 132. The active layer 134 may be formed of a single or multiple quantum well structure, a quantum-wire structure, a quantum dot structure, or the like using a compound semiconductor material of Group 3-V group elements.

활성층(134)이 양자우물구조로 형성된 경우 예컨데, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0 ≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 우물층과 InaAlbGa1 -a- bN (0≤a≤1, 0 ≤b≤1, 0≤a+b≤1)의 조성식을 갖는 장벽층을 갖는 단일 또는 다중 양자우물구조를 갖을 수 있다. 우물층은 장벽층의 밴드 갭보다 작은 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.Well active layer 134 has a composition formula in this case formed of a quantum well structure, for example, In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0 ≤y≤1, 0≤x + y≤1) gateul a single or multiple quantum well structure having a barrier layer having a compositional formula of layers and in a Al b Ga 1 -a- b N (0≤a≤1, 0 ≤b≤1, 0≤a + b≤1) . The well layer may be formed of a material having a band gap smaller than the band gap of the barrier layer.

활성층(134)의 위 또는/및 아래에는 도전성 클래드층(미도시)이 형성될 수 있다. 도전성 클래드층(미도시)은 AlGaN계 반도체로 형성될 수 있으며, 상기 활성층(134)의 밴드 갭보다는 큰 밴드 갭을 가질 수 있다.A conductive clad layer (not shown) may be formed on and / or below the active layer 134. The conductive clad layer (not shown) may be formed of an AlGaN-based semiconductor and may have a band gap larger than that of the active layer 134.

한편, 활성층(134)과 제1 반도체층(132) 사이에 중간층(미도시)이 형성될 수 있으며, 중간층(미도시)은 고 전류 인가시 제2 반도체층(136)으로부터 활성층(134)으로 주입되는 전자가 활성층(134)에서 재결합되지 않고 제1 반도체층(132)으로 흐르는 현상을 방지하는 전자 차단층(Electron blocking layer)일 수 있다. 중간층(미도시)은 활성층(134)에 포함된 장벽층의 밴드갭보다 큰 밴드갭을 가질 수 있으며, p 형 AlGaN 과 같은 Al 을 포함한 반도체층으로 형성될 수 있고, 이에 한정하지 아니한다. 중간층(미도시)은 활성층(134)보다 상대적으로 큰 밴드갭을 가짐으로써, 제2 반도체층(136)으로부터 주입된 전자가 활성층(134)에서 재결합되지 않고 제1 반도체층(132)으로 주입되는 현상을 방지할 수 있다. 이에 따라 활성층(134)에서 전자와 정공의 재결합 확률을 높이고 누설전류를 방지할 수 있다.An intermediate layer (not shown) may be formed between the active layer 134 and the first semiconductor layer 132 and an intermediate layer (not shown) may be formed from the second semiconductor layer 136 to the active layer 134 An electron blocking layer may be used to prevent injected electrons from being recombined in the active layer 134 and flowing to the first semiconductor layer 132. The intermediate layer (not shown) may have a bandgap larger than the bandgap of the barrier layer included in the active layer 134, and may be formed of a semiconductor layer containing Al, such as p-type AlGaN, but is not limited thereto. Electrons injected from the second semiconductor layer 136 are injected into the first semiconductor layer 132 without being recombined in the active layer 134 because the middle layer has a relatively larger band gap than the active layer 134 The phenomenon can be prevented. Accordingly, the probability of recombination of electrons and holes in the active layer 134 can be increased and a leakage current can be prevented.

활성층(134) 상에는 제2 반도체층(136)이 위치할 수 있다. 제2 반도체층(136)은 n형 반도체층으로 구현될 수 있으며, 활성층(134)에 전자를 제공할 수 있다. 제2 반도체층(136)은 예를 들어, InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN(Gallium nitride), AlN(Aluminium nitride), AlGaN(Aluminium gallium nitride), InGaN(Indium gallium nitride), InN(Indium nitride), InAlGaN, AlInN 등에서 선택될 수 있으며, 예를 들어, 규소(Si), 게르마늄(Ge), 주석(Sn), 셀레늄(Se), 텔루늄(Te) 등의 n형 도펀트가 도핑될 수 있다.The second semiconductor layer 136 may be located on the active layer 134. The second semiconductor layer 136 may be formed of an n-type semiconductor layer and may provide electrons to the active layer 134. The second semiconductor layer 136 may be a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + For example, gallium nitride (GaN), aluminum nitride (AlN), aluminum gallium nitride (AlGaN), indium gallium nitride (InGaN), indium nitride (InN), InAlGaN and AlInN. Type dopants such as silicon (Si), germanium (Ge), tin (Sn), selenium (Se), and tellurium (Te).

제2 반도체층(136) 상에는 소정의 두께를 갖는 투광성 전극층(140)이 배치될 수 있다. A transparent electrode layer 140 having a predetermined thickness may be disposed on the second semiconductor layer 136.

투광성 전극층(140)은 전기 전도성 및 광 투과성을 갖는 재질로 형성되며, In, 또는 Zn 을 포함할 수 있고, 예컨대 ITO, IZO(In-ZnO), GZO(Ga-ZnO), AZO(Al-ZnO), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The light transmitting electrode layer 140 is formed of a material having electric conductivity and light transmission property and may include In or Zn and may be made of ITO, IZO (In-ZnO), GZO (Ga-ZnO), AZO ), At least one of AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), IrO x , RuO x , RuO x / ITO, Ni / IrO x / Au, and Ni / IrO x / Au / ITO .

제2 반도체층(136) 상에 소정의 두께를 갖는 투광성 전극층(140)이 형성됨으로써, 활성층(134)으로부터 생성된 광이 상부 방향으로 집중되어 진행하지 않고 측방향으로 진행할 수 있음으로써, 배광 패턴이 넓어질 수 있다. 따라서, 발광소자(100)의 발광 지향각이 넓어지고 발광소자(100)의 발광 효율이 개선될 수 있다. Since the light transmitting electrode layer 140 having a predetermined thickness is formed on the second semiconductor layer 136, the light generated from the active layer 134 can proceed in the lateral direction without progressing in the upward direction, Can be widened. Accordingly, the light emission directing angle of the light emitting device 100 can be widened and the light emitting efficiency of the light emitting device 100 can be improved.

한편, 배광 패턴을 넓게 형성하기 위해 발광 구조물(130)이 두껍게 형성되면 발광 구조물(130)의 성장이 어려워질 수 있으며 아울러 발광 구조물(130)의 균열 발생 가능성이 높아질 수 있어서 발광소자(100)의 신뢰성이 저하될 수 있다. 따라서, 배광 패턴을 넓게 형성하기 위해 투광성 전극층(140)을 두껍게 형성할 경우 발광 구조물(130)을 두껍게 형성하는 경우에 비해 발광 구조물(130)의 성장이 용이하며 또한 발광소자(100)의 신뢰성이 개선될 수 있다.If the light emitting structure 130 is formed thick to broadly form the light distribution pattern, the growth of the light emitting structure 130 may be difficult and the possibility of cracking of the light emitting structure 130 may be increased. Reliability may be deteriorated. Therefore, when the light transmitting electrode layer 140 is formed thick to broadly form the light distribution pattern, the light emitting structure 130 can be easily grown and the reliability of the light emitting device 100 is improved compared with the case where the light emitting structure 130 is thickly formed. Can be improved.

또한, 투광성 전극층(140)의 결정구조는 제2 반도체층(136), 및 후술하는 제3 반도체층(150)의 결정 구조와 유사하게 형성되어 투광성 전극층(140)과 제2 반도체층(136), 및 제3 반도체층(150) 사이의 계면에서 전반사가 거의 발생하지 않음으로써, 발광소자(100)의 발광 효율의 저하를 발생함이 없이 배광 패턴을 넓게 형성할 수 있다.The crystal structure of the translucent electrode layer 140 is similar to the crystal structure of the second semiconductor layer 136 and the third semiconductor layer 150 to be described later to form the translucent electrode layer 140 and the second semiconductor layer 136, The total reflection at the interface between the third semiconductor layer 150 and the third semiconductor layer 150 is hardly generated, so that the light distribution pattern can be formed wider without lowering the luminous efficiency of the light emitting device 100.

또한, 투광성 전극층(140)은 제2 전극(170)으로부터 제공되는 전류가 고루 퍼지게 하는 전류 스프레딩(current spreading) 효과에 기여할 수 있으며, 따라서 활성층(134)에 전류가 고르게 공급되어 발광소자(100)의 발광 효율이 개선될 수 있다.The transmissive electrode layer 140 may contribute to the current spreading effect that uniformly spreads the current supplied from the second electrode 170. Accordingly, the current is uniformly supplied to the active layer 134, Can be improved.

또한, 투광성 전극층(140)이 제2 반도체층(136)과 제3 반도체층(150) 사이에 형성됨으로써, 제3 반도체층(150) 상에 광 추출 구조(160)를 형성하기 위해 소정의 에칭 공정을 수행할 때 에칭 깊이가 깊게 형성되어 활성층(134)이 손상되는 것을 방지할 수 있으며, 따라서 발광소자(100)의 신뢰성을 개선할 수 있다.The light-transmitting electrode layer 140 is formed between the second semiconductor layer 136 and the third semiconductor layer 150 to form a light extraction structure 160 on the third semiconductor layer 150, It is possible to prevent the active layer 134 from being damaged due to a deep etched depth formed in the process, thereby improving the reliability of the light emitting device 100.

한편, 투광성 전극층(140)은 소정의 도펀트로 도핑될 수 있으며, 예컨대 마그네슘(Mg), 아연(Zn), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 바륨(Ba)과 같은 p 형 도펀트, 또는 규소(Si), 게르마늄(Ge), 주석(Sn), 셀레늄(Se), 텔루늄(Te) 등의 n형 도펀트로 도핑될 수 있고, 이에 한정하지 아니한다. 투광성 전극층(140)에 소정의 도펀트가 도핑됨으로써, 투광성 전극층(140)의 통전 효율이 개선될 수 있다.The light transmitting electrode layer 140 may be doped with a predetermined dopant and may be a p-type dopant such as magnesium (Mg), zinc (Zn), calcium (Ca), strontium (Sr), barium Type dopants such as silicon (Si), germanium (Ge), tin (Sn), selenium (Se), and tellurium (Te). By doping the light-transmitting electrode layer 140 with a predetermined dopant, the efficiency of the light-transmitting electrode layer 140 can be improved.

한편, 투광성 전극층(140)이 지나치게 얇게 형성될 경우 오믹 접촉 형성이 어려워질 수 있고, 지나치게 두껍게 형성될 경우 배광 패턴의 확장 효과가 증가되지 않을 수 있으므로, 투광성 전극층(140)의 두께는 0.05 um 내지 500um 일 수 있다.On the other hand, when the light transmitting electrode layer 140 is formed to be too thin, ohmic contact formation may be difficult, and when the light transmitting electrode layer 140 is formed too thick, the light distribution pattern expansion effect may not be increased. 500um.

투광성 전극층(140) 상에는 제3 반도체층(150)이 형성될 수 있다.The third semiconductor layer 150 may be formed on the transparent electrode layer 140.

제3 반도체층(150)은 제1 및 제2 반도체층(132, 136)과 동일한 재질로 형성될 수 있으며, 예컨대 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤≤)의 조성식을 갖는 반도체 재료, 예를 들어 GaN(Gallium nitride), AlN(Aluminium nitride), AlGaN(Aluminium gallium nitride), InGaN(Indium gallium nitride), InN(Indium nitride), InAlGaN, AlInN 등을 포함할 수 있고, 이에 한정하지 아니한다. The third semiconductor layer 150 are first and second semiconductor layers (132, 136) and may be formed of the same material, such as In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤ (GaN), AlN (Aluminum nitride), AlGaN (Aluminum gallium nitride), InGaN (Indium gallium nitride), InN Indium nitride, InAlGaN, AlInN, and the like.

제3 반도체층(150)은 상술한 바와 같은 재질을 포함하여, 투광성 전극층(140)에 비해 후술하는 광 추출 구조(160)의 형성이 더욱 용이할 수 있다. 투광성 전극층(140) 상에 제3 반도체층(150)이 형성되고 제3 반도체층(150)은 투광성 전극층(140)에 비해 광 추출 구조(160)의 형성이 더욱 용이한 재질을 포함함으로써, 투광성 전극층(140) 형성에 의한 배광 패턴 확장 효과 및 광 추출 구조(160) 형성에 의한 광 추출 효과가 동시에 달성될 수 있다.The third semiconductor layer 150 includes the above-described material, so that the light extracting structure 160 described later can be formed more easily than the light transmitting electrode layer 140. The third semiconductor layer 150 is formed on the light transmitting electrode layer 140 and the third semiconductor layer 150 includes a material that is easier to form the light extracting structure 160 than the light transmitting electrode layer 140, The light distribution pattern expansion effect by the formation of the electrode layer 140 and the light extraction effect by the light extraction structure 160 can be achieved at the same time.

한편, 제3 반도체층(150)은 광 추출 구조(160)의 형성을 위해서 500nm 이상, 및 공정상의 용이를 위해 10um 이하의 두께를 가질 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다.Meanwhile, the third semiconductor layer 150 may have a thickness of not less than 500 nm for forming the light extracting structure 160, and not more than 10 um for ease of processing, but is not limited thereto.

한편, 제3 반도체층(150)은 소정의 도펀트로 도핑될 수 있으며, 예컨대 마그네슘(Mg), 아연(Zn), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 바륨(Ba)과 같은 p 형 도펀트, 또는 규소(Si), 게르마늄(Ge), 주석(Sn), 셀레늄(Se), 텔루늄(Te) 등의 n형 도펀트로 도핑될 수 있고, 이에 한정하지 아니한다. The third semiconductor layer 150 may be doped with a predetermined dopant and may include a p-type dopant such as magnesium (Mg), zinc (Zn), calcium (Ca), strontium (Sr) Or doped with an n-type dopant such as silicon (Si), germanium (Ge), tin (Sn), selenium (Se) or tellurium (Te).

한편, 제3 반도체층(150)이 GaN 을 포함할 경우, 제3 반도체층(150)의 상면은 N-face 일 수 있으며, 제3 반도체층(150)의 상면이 N-face 로 형성될 경우 광 추출 구조(160)의 형성이 더욱 용이해질 수 있다.When the third semiconductor layer 150 includes GaN, the upper surface of the third semiconductor layer 150 may be N-face, and when the upper surface of the third semiconductor layer 150 is formed of N-face The formation of the light extracting structure 160 can be made easier.

상술한 제1 반도체층(132), 활성층(134), 중간층(미도시), 제2 반도체층(136), 투광성 전극층(140), 및 제3 반도체층(150)은 예를 들어, 유기금속 화학 증착법(MOCVD; Metal Organic Chemical Vapor Deposition), 화학 증착법(CVD; Chemical Vapor Deposition), 플라즈마 화학 증착법(PECVD; Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition), 분자선 성장법(MBE; Molecular Beam Epitaxy), 수소화물 기상 성장법(HVPE; Hydride Vapor Phase Epitaxy), 스퍼터링(Sputtering), E-beam 등의 방법을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first semiconductor layer 132, the active layer 134, the intermediate layer (not shown), the second semiconductor layer 136, the light-transmitting electrode layer 140, and the third semiconductor layer 150 may be formed of, for example, (MOCVD), Chemical Vapor Deposition (CVD), Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD), Molecular Beam Epitaxy (MBE), Hydride Vapor Deposition (HVPE), sputtering, E-beam, or the like. However, the present invention is not limited thereto.

또한, 제1 내지 제3 반도체층(132, 136, 150) 및 투광성 전극층(140) 내의 도전형 도펀트의 도핑 농도는 균일 또는 불균일하게 형성될 수 있다. 즉, 제1 내지 제3 반도체층(132, 136, 150) 및 투광성 전극층(140)은 다양한 도핑 농도 분포를 갖도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Further, the doping concentrations of the conductive dopants in the first to third semiconductor layers 132, 136, and 150 and the light-transmitting electrode layer 140 can be uniform or non-uniform. That is, the first to third semiconductor layers 132, 136, and 150 and the light-transmitting electrode layer 140 may be formed to have various doping concentration distributions, but the present invention is not limited thereto.

또한, 제1 반도체층(132)이 n 형 반도체층으로 구현되고, 제2 반도체층(136)이 p형 반도체층으로 구현될 수 있으며, 투광성 전극층(140) 및 제3 반도체층(180) 또한 n 형 또는 p 형 도펀트로 도핑될 수 있다. 이에 따라, 발광 소자(100)는 npnp, nppn, pnpn 접합 구조와 같은 임의의 접합 구조를 가질 수 있다.The first semiconductor layer 132 may be an n-type semiconductor layer and the second semiconductor layer 136 may be a p-type semiconductor layer. The light-transmitting electrode layer 140 and the third semiconductor layer 180 may also be formed of and may be doped with an n-type or p-type dopant. Accordingly, the light emitting device 100 may have any bonding structure such as npnp, nppn, and pnpn junction structures.

제3 반도체층(150)의 상부에는 광 추출 구조(160) 및 제2 전극(170)이 형성될 수 있다.The light extracting structure 160 and the second electrode 170 may be formed on the third semiconductor layer 150.

광 추출 구조(160)는 제3 반도체층(150)의 상부 표면의 일부 또는 전체 영역에 형성될 수 있다. 광 추출 구조(160)는 제3 반도체층(150)의 상면의 적어도 일 영역에 대해 에칭을 수행함으로써 형성될 수 있으며 이에 대해 한정하지 않는다. 상기 에칭 과정은 습식 또는/및 건식 에칭 공정을 포함하며, 에칭 과정을 거침에 따라서, 제3 반도체층(150)의 상면은 광 추출 구조(160)를 형성하는 요철부를 포함할 수 있다. The light extracting structure 160 may be formed on a part or all of the upper surface of the third semiconductor layer 150. The light extracting structure 160 may be formed by performing etching on at least one region of the upper surface of the third semiconductor layer 150 and is not limited thereto. The etch process may include a wet etch process and / or a dry etch process. As the etch process is performed, the upper surface of the third semiconductor layer 150 may include recesses and protrusions forming the light extracting structure 160.

요철부는 규칙적인 형상 및 배열을 갖도록 형성될 수 있으며, 불규칙한 형상 및 배열을 갖도록 형성될 수도 있고, 이에 대해 한정하지는 않는다. 요철부는 평탄하지 않는 상면으로서, 랜덤한 형상의 수개의 요철이 배열되거나 소정의 패턴을 형성하여 텍스쳐(texture) 패턴, 요철 패턴, 평탄하지 않는 패턴(uneven pattern) 중 적어도 하나를 포함할 수 있고, 이에 한정하지 아니한다.The concave and convex portions may be formed to have regular shapes and arrangements, and may be formed to have irregular shapes and arrangements, but the invention is not limited thereto. The concave-convex portion is a non-flat upper surface, and may include at least one of a texture pattern, a concavo-convex pattern, and an uneven pattern, in which a plurality of random irregularities are arranged or a predetermined pattern is formed, But not limited thereto.

요철부는 측 단면이 원기둥, 다각기둥, 원뿔, 다각뿔, 원뿔대, 다각뿔대 등 다양한 형상을 갖도록 형성될 수 있으며, 바람직하게 뿔 형상을 포함한다.The concave-convex portion may be formed to have various shapes such as a cylinder, a polygonal column, a cone, a polygonal pyramid, a truncated cone, a polygonal pyramid, and the like, preferably including a horn shape.

한편, 상기 광 추출 구조(160)는 PEC(photo electro chemical) 등의 방법으로 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다. 광 추출 구조(160)가 제3 반도체층(150)의 상부면에 형성됨에 따라서 활성층(134)으로부터 생성된 빛이 제3 반도체층(150)의 상부면으로부터 전반사되어 재흡수되거나 산란되는 것이 방지될 수 있으므로, 발광소자(100)의 광 추출 효율의 향상에 기여할 수 있다.Meanwhile, the light extracting structure 160 may be formed by a photoelectrochemical (PEC) method or the like, but is not limited thereto. The light extracting structure 160 is formed on the upper surface of the third semiconductor layer 150 so that the light generated from the active layer 134 is totally reflected from the upper surface of the third semiconductor layer 150 to be resorbed or scattered The light extraction efficiency of the light emitting device 100 can be improved.

제2 전극(170)은 적어도 하나의 패드 또는/및 소정 패턴을 갖는 전극을 포함할 수 있다. 제2 전극(170)은 제3 반도체층(150)의 상면 중 센터 영역, 외측 영역 또는 모서리 영역에 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 제2 전극(170)은 제3 반도체층(150)의 위가 아닌 다른 영역에 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The second electrode 170 may include at least one pad or / and an electrode having a predetermined pattern. The second electrode 170 may be disposed in the center region, the outer region, or the edge region of the upper surface of the third semiconductor layer 150, but the present invention is not limited thereto. The second electrode 170 may be disposed in a region other than the upper portion of the third semiconductor layer 150, but the present invention is not limited thereto.

제2 전극(170)은 전도성 물질, 예를들어 In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, Ti, Ag, Cr, Mo, Nb, Al, Ni, Cu, 및 WTi 중에서 선택된 금속 또는 합금을 이용하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.The second electrode 170 may be formed of a conductive material such as In, Co, Si, Ge, Au, Pd, Pt, Ru, Re, Mg, Zn, Hf, Ta, Rh, Ir, W, , Mo, Nb, Al, Ni, Cu, and WTi.

한편, 상술한 바와 같이 제2 전극(170)은 전류제한층(122)과 수직방향으로 적어도 일 영역이 중첩되게 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다.Meanwhile, as described above, the second electrode 170 may be formed to overlap at least one region perpendicular to the current confining layer 122, but is not limited thereto.

도 2는 실시예에 따른 발광소자의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of a light emitting device according to an embodiment.

도2 를 참조하면, 실시예에 따른 발광소자는 지지 기판(210)과, 지지 기판(210)상에 형성된 제1 전극(220)과, 제1 전극(220) 상에 형성되며 제1 반도체층(232), 제2 반도체층(236) 및 제1 반도체층(232)과 제2 반도체층(236) 사이에 배치되는 활성층(234)을 포함한 발광 구조물(230)과, 발광 구조물(230) 상에 형성된 투광성 전극층(240)과, 투광성 전극층(240) 상에 형성된 제3 반도체층(250)과, 제3 반도체층(250) 상에 형성된 광 추출 구조(260), 및 투광성 전극층의 일 면 상에 형성된 제2 전극(270)을 포함한다.Referring to FIG. 2, the light emitting device according to the embodiment includes a support substrate 210, a first electrode 220 formed on the support substrate 210, a first electrode 220 formed on the first electrode 220, A light emitting structure 230 including a first semiconductor layer 232, a second semiconductor layer 236 and an active layer 234 disposed between the first semiconductor layer 232 and the second semiconductor layer 236; A light extracting structure 260 formed on the third semiconductor layer 250 and a light extracting structure 260 formed on one surface of the light transmitting electrode layer 240. The light extracting structure 260 is formed on the light transmitting electrode layer 240, And a second electrode 270 formed on the second electrode 270.

지지 기판(210), 제1 전극(220), 발광 구조물(230), 투광성 전극층(240), 제3 반도체층(250), 및 광 추출 구조(260)에 관한 설명은 상술한 바와 같으므로 생략한다.The description of the supporting substrate 210, the first electrode 220, the light emitting structure 230, the light transmitting electrode layer 240, the third semiconductor layer 250, and the light extracting structure 260 is as described above, do.

제2 전극(270)은 투광성 전극층(240)의 일 면 상에 형성될 수 있다.The second electrode 270 may be formed on one side of the light-transmitting electrode layer 240.

예컨대, 도 2a 에 도시된 바와 같이 제2 전극(270)은 투광성 전극층(240)의 측면에 형성될 수 있다. 한편, 제2 전극(270)은 투광성 전극층(240)의 측면 뿐 아니라 투광성 전극층(240)의 상면 또는 제2 반도체층(236)의 일 영역까지 연장되게 형성될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다.For example, as shown in FIG. 2A, the second electrode 270 may be formed on a side surface of the light-transmitting electrode layer 240. The second electrode 270 may extend to the upper surface of the light-transmitting electrode layer 240 or one region of the second semiconductor layer 236 as well as the side surface of the light-transmitting electrode layer 240, but is not limited thereto.

한편, 도 2b 에 도시된 바와 같이 투광성 전극층(240)은 발광 구조물(230)의 측방향으로 돌출되게 연장되어 형성된 돌출부(242)를 포함할 수 있으며, 제2 전극(270)은 돌출부(242)의 적어도 일 면 상에 형성될 수 있다.2B, the light transmitting electrode layer 240 may include a protrusion 242 protruding laterally from the light emitting structure 230, and the second electrode 270 may include protrusions 242, As shown in FIG.

예컨대, 도 2b 에 도시된 바와 같이 제2 전극(270)은 돌출부(242)의 노출된 측면 및 하면 상에 형성될 수 있다.For example, as shown in FIG. 2B, the second electrode 270 may be formed on the exposed side surfaces and the bottom surface of the protrusion 242.

또한, 제3 반도체층(250)은 돌출부(242)와 적어도 일 영역이 중첩되도록 측방향으로 연장되게 형성될 수 있다.In addition, the third semiconductor layer 250 may be formed to extend laterally so as to overlap at least one region with the protruding portion 242.

제2 전극(270)이 투광성 전극층(240)의 측면, 또는 하면에 형성되어 제2 전극(270)과 활성층(234)이 수직적으로 중첩되지 않고 활성층(234)의 발광 영역을 가리지 않음으로써, 활성층(270)에서 생성된 광이 제2 전극(270)에 의해 흡수 및 반사되는 것이 방지될 수 있다.The second electrode 270 is formed on the side surface or the bottom surface of the light transmitting electrode layer 240 so that the second electrode 270 and the active layer 234 are not vertically overlapped with each other and do not block the light emitting region of the active layer 234, The light generated in the second electrode 270 can be prevented from being absorbed and reflected by the second electrode 270.

아울러, 투광성 전극층(240) 돌출부(242)를 포함하여 측방향으로 연장되게 형성되며 제3 반도체층(250) 또한 측방향으로 연장되게 형성됨으로써, 활성층(234)에서 생성된 광이 측방향으로 더욱 용이하게 진행할 수 있으며, 따라서 발광소자(200)의 배광 패턴이 더욱 확장될 수 있다.In addition, the light-transmitting electrode layer 240 is formed to extend laterally, including the protruding portion 242, and the third semiconductor layer 250 is formed so as to extend in the lateral direction. Thus, light generated in the active layer 234 can be diffused in the lateral direction So that the light distribution pattern of the light emitting device 200 can be further expanded.

도 3 내지 도 5은 실시예에 따른 발광소자 패키지를 나타낸 사시도 및 단면도이다.3 to 5 are a perspective view and a cross-sectional view illustrating a light emitting device package according to an embodiment.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 발광소자 패키지(300)는 캐비티(320)가 형성된 몸체(310), 몸체(310)에 실장되는 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)과, 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)과 전기적으로 연결되는 발광소자(330), 및 발광소자(330)를 덮도록 캐비티(320)에 충진되는 봉지재(미도시)를 포함할 수 있다. 3 to 5, the light emitting device package 300 includes a body 310 having a cavity 320 formed therein, first and second lead frames 340 and 350 mounted on the body 310, A light emitting device 330 electrically connected to the first and second lead frames 340 and 350 and an encapsulant (not shown) encapsulated in the cavity 320 to cover the light emitting device 330.

몸체(310)는 폴리프탈아미드(PPA:Polyphthalamide)와 같은 수지 재질, 실리콘(Si), 알루미늄(Al), 알루미늄 나이트라이드(AlN), 액정폴리머(PSG, photo sensitive glass), 폴리아미드9T(PA9T), 신지오택틱폴리스티렌(SPS), 금속 재질, 사파이어(Al2O3), 베릴륨 옥사이드(BeO), 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board) 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 몸체(310)는 사출 성형, 에칭 공정 등에 의해 형성될 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다. The body 310 may be made of a resin material such as polyphthalamide (PPA), silicon (Si), aluminum (Al), aluminum nitride (AlN), photo sensitive glass (PSG), polyamide 9T (SPS), a metal material, sapphire (Al 2 O 3 ), beryllium oxide (BeO), and a printed circuit board (PCB). The body 310 may be formed by injection molding, etching, or the like, but is not limited thereto.

몸체(310)의 내면은 경사면이 형성될 수 있다. 이러한 경사면의 각도에 따라 발광소자(330)에서 방출되는 광의 반사각이 달라질 수 있으며, 이에 따라 외부로 방출되는 광의 지향각을 조절할 수 있다. The inner surface of the body 310 may be formed with an inclined surface. The reflection angle of the light emitted from the light emitting device 330 can be changed according to the angle of the inclined surface, thereby controlling the directivity angle of the light emitted to the outside.

광의 지향각이 줄어들수록 발광소자(330)에서 외부로 방출되는 광의 집중성은 증가하고, 반대로 광의 지향각이 클수록 발광소자(330)에서 외부로 방출되는 광의 집중성은 감소한다.Concentration of the light emitted to the outside from the light emitting device 330 increases as the directivity angle of the light decreases. Conversely, as the directivity angle of the light increases, the concentration of light emitted from the light emitting device 330 decreases.

한편, 몸체(310)에 형성되는 캐비티(320)를 위에서 바라본 형상은 원형, 사각형, 다각형, 타원형 등의 형상일 수 있으며, 모서리가 곡선인 형상일 수도 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The shape of the cavity 320 formed in the body 310 may be circular, square, polygonal, elliptical, or the like, and may have a curved shape, but the present invention is not limited thereto.

발광소자(330)는 제1 리드 프레임(340) 상에 실장되며, 예를 들어, 적색, 녹색, 청색, 백색 등의 빛을 방출하는 발광소자 또는 자외선을 방출하는 UV(Ultra Violet) 발광소자일 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 또한, 발광소자(330)는 한 개 이상 실장될 수 있다.The light emitting device 330 is mounted on the first lead frame 340 and may be a light emitting device that emits light such as red, green, blue, or white, or a UV (Ultra Violet) However, the present invention is not limited thereto. In addition, one or more light emitting elements 330 may be mounted.

또한, 발광소자(330)는 그 전기 단자들이 모두 상부 면에 형성된 수평형 타입(Horizontal type)이거나, 또는 상, 하부 면에 형성된 수직형 타입(Vertical type), 또는 플립 칩(flip chip) 모두에 적용 가능하다.The light emitting device 330 may be a horizontal type or a vertical type formed on an upper surface or a flip chip formed on an upper surface or a lower surface, Applicable.

봉지재(미도시)는 발광소자(330)를 덮도록 캐비티(320)에 충진될 수 있다.The encapsulant (not shown) may be filled in the cavity 320 to cover the light emitting device 330.

봉지재(미도시)는 실리콘, 에폭시, 및 기타 수지 재질로 형성될 수 있으며, 캐비티(320) 내에 충진한 후, 이를 자외선 또는 열 경화하는 방식으로 형성될 수 있다.The encapsulant (not shown) may be formed of silicon, epoxy, or other resin material. The encapsulant may be filled in the cavity 320 and then UV or heat cured.

또한 봉지재(미도시)는 형광체를 포함할 수 있으며, 형광체는 발광소자(330)에서 방출되는 광의 파장에 종류가 선택되어 발광소자 패키지(300)가 백색광을 구현하도록 할 수 있다. In addition, the encapsulant (not shown) may include a phosphor, and the phosphor may be selected to be a wavelength of light emitted from the light emitting device 330 so that the light emitting device package 300 may emit white light.

이러한 형광체는 발광소자(330)에서 방출되는 광의 파장에 따라 청색 발광 형광체, 청록색 발광 형광체, 녹색 발광 형광체, 황녹색 발광 형광체, 황색 발광 형광체, 황적색 발광 형광체, 오렌지색 발광 형광체, 및 적색 발광 형광체중 하나가 적용될 수 있다. The phosphor may be one of a blue light emitting phosphor, a blue light emitting phosphor, a green light emitting phosphor, a yellow light emitting phosphor, a yellow light emitting phosphor, a yellow red light emitting phosphor, an orange light emitting phosphor, and a red light emitting phosphor depending on the wavelength of light emitted from the light emitting device 330 Can be applied.

즉, 형광체는 발광소자(330)에서 방출되는 제1 빛을 가지는 광에 의해 여기 되어 제2 빛을 생성할 수 있다. 예를 들어, 발광소자(330)가 청색 발광 다이오드이고 형광체가 황색 형광체인 경우, 황색 형광체는 청색 빛에 의해 여기되어 황색 빛을 방출할 수 있으며, 청색 발광 다이오드에서 발생한 청색 빛 및 청색 빛에 의해 여기 되어 발생한 황색 빛이 혼색됨에 따라 발광소자 패키지(300)는 백색 빛을 제공할 수 있다. That is, the phosphor may be excited by the light having the first light emitted from the light emitting device 330 to generate the second light. For example, when the light emitting element 330 is a blue light emitting diode and the phosphor is a yellow phosphor, the yellow phosphor may be excited by blue light to emit yellow light, and blue light and blue light emitted from the blue light emitting diode As the excited yellow light is excited, the light emitting device package 300 can provide white light.

이와 유사하게, 발광소자(330)가 녹색 발광 다이오드인 경우는 magenta 형광체 또는 청색과 적색의 형광체를 혼용하는 경우, 발광소자(330)가 적색 발광 다이오드인 경우는 Cyan형광체 또는 청색과 녹색 형광체를 혼용하는 경우를 예로 들 수 있다.Similarly, when the light emitting element 330 is a green light emitting diode, a magenta phosphor or a blue and red phosphor are mixed, and when the light emitting element 330 is a red light emitting diode, a cyan phosphor or a mixture of blue and green phosphors For example.

이러한 형광체는 YAG계, TAG계, 황화물계, 실리케이트계, 알루미네이트계, 질화물계, 카바이드계, 니트리도실리케이트계, 붕산염계, 불화물계, 인산염계 등의 공지된 형광체일 수 있다.Such a fluorescent material may be a known fluorescent material such as a YAG, TAG, sulfide, silicate, aluminate, nitride, carbide, nitridosilicate, borate, fluoride or phosphate.

제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P), 알루미늄(Al), 인듐(In), 팔라듐(Pd), 코발트(Co), 실리콘(Si), 게르마늄(Ge), 하프늄(Hf), 루테늄(Ru), 철(Fe) 중에서 하나 이상의 물질 또는 합금을 포함할 수 있다. 또한, 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)은 단층 또는 다층 구조를 가지도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first and second lead frames 340 and 350 may be formed of a metal material such as titanium, copper, nickel, gold, chromium, tantalum, (Pt), tin (Sn), silver (Ag), phosphorus (P), aluminum (Al), indium (In), palladium (Pd), cobalt (Co), silicon (Si), germanium , Hafnium (Hf), ruthenium (Ru), and iron (Fe). In addition, the first and second lead frames 340 and 350 may be formed to have a single layer or a multilayer structure, but the present invention is not limited thereto.

제1 제2 리드 프레임(340, 350)은 서로 이격되어 서로 전기적으로 분리된다. 발광소자(330)는 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)상에 실장되며, 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)은 발광소자(330)와 직접 접촉하거나 또는 솔더링 부재(미도시)와 같은 전도성을 갖는 재료를 통해서 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 발광소자(330)는 와이어 본딩을 통해 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다. 따라서 제1 및 제2 리드 프레임(340, 350)에 전원이 연결되면 발광소자(330)에 전원이 인가될 수 있다. 한편, 수개의 리드 프레임(미도시)이 몸체(310)내에 실장되고 각각의 리드 프레임(미도시)이 발광소자(330)와 전기적으로 연결될 수 있으며, 이에 한정하지 아니한다.The first and second lead frames 340 and 350 are separated from each other and electrically separated from each other. The light emitting device 330 is mounted on the first and second lead frames 340 and 350 and the first and second lead frames 340 and 350 are in direct contact with the light emitting device 330, And may be electrically connected through a conductive material such as a conductive material. In addition, the light emitting device 330 may be electrically connected to the first and second lead frames 340 and 350 through wire bonding, but is not limited thereto. Accordingly, when power is supplied to the first and second lead frames 340 and 350, power may be applied to the light emitting device 330. Meanwhile, a plurality of lead frames (not shown) may be mounted in the body 310 and each lead frame (not shown) may be electrically connected to the light emitting device 330, but is not limited thereto.

한편, 도 10을 참조하면, 실시예에 따른 발광소자 패키지(300)는 광학 시트(380)를 포함할 수 있으며, 광학 시트(380)는 베이스부(382) 및 프리즘 패턴(384)을 포함할 수 있다.10, the light emitting device package 300 according to the embodiment may include an optical sheet 380, and the optical sheet 380 may include a base portion 382 and a prism pattern 384 .

베이스부(382)는 프리즘 패턴(384)를 형성하기 위한 지지체로서 열적 안정성이 우수하고 투명한 재질로 이루어진 것으로, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리카보네이트, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리스틸렌, 및 폴리에폭시로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나로 이루어질 수 있으나 이에 한정하지 않는다.The base portion 382 is made of a transparent material having excellent thermal stability as a support for forming the prism pattern 384 and is made of, for example, polyethylene terephthalate, polycarbonate, polypropylene, polyethylene, polystyrene, But the present invention is not limited thereto.

또한, 베이스부(382)는 형광체(미도시)를 포함할 수 있다. 일 예로 베이스부(382)를 형성하는 재질에 형광체(미도시)를 골고루 분산시킨 상태에서 이를 경화하여 베이스부(382)를 형성할 수 있다. 이와 같이 베이스부(382)를 형성하는 경우는 형광체(미도시)는 베이스부(382) 전체에 균일하게 분포될 수 있다. Further, the base portion 382 may include a phosphor (not shown). For example, the base portion 382 can be formed by curing the phosphors (not shown) evenly dispersed in the material forming the base portion 382. When the base portion 382 is formed as described above, the phosphor (not shown) can be uniformly distributed throughout the base portion 382.

한편, 베이스부(382) 상에는 광을 굴절하고, 집광하는 입체 형상의 프리즘 패턴(384)이 형성될 수 있다. 프리즘 패턴(384)을 구성하는 물질은 아크릴 레진일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.On the other hand, a three-dimensional prism pattern 384 for refracting light and condensing light can be formed on the base portion 382. The material constituting the prism pattern 384 may be acrylic resin, but is not limited thereto.

프리즘 패턴(384)은 베이스부(382)의 일 면에서 일 방향을 따라 상호 인접하여 평행하게 배열된 복수의 선형 프리즘을 포함하며, 선형 프리즘의 축 방향에 대한 수직 단면은 삼각형일 수 있다.The prism patterns 384 include a plurality of linear prisms arranged in parallel with one another along one direction on one side of the base portion 382 and the vertical section with respect to the axial direction of the linear prism may be triangular.

프리즘 패턴(384)은 광을 집광하는 효과가 있기 때문에, 도 6c 의 발광소자 패키지(300)에 광학 시트(380)를 부착하는 경우는 광의 직진성이 향상되어 발광소자 패키지(300)의 광의 휘도가 향상될 수 있다.When the optical sheet 380 is attached to the light emitting device package 300 of FIG. 6C, the straightness of light is improved and the luminance of light of the light emitting device package 300 is increased Can be improved.

한편, 프리즘 패턴(384)에는 형광체(미도시)가 포함될 수 있다.On the other hand, the prism pattern 384 may include a phosphor (not shown).

형광체(미도시)는 분산된 상태로 프리즘 패턴(384)을 형성하는, 예를 들면 아크릴 레진과 혼합하여 페이스트 또는 슬러리 상태로 만든 후, 프리즘 패턴(384)을 형성함으로써 프리즘 패턴(384) 내에 균일하게 포함될 수 있다.The fluorescent material (not shown) is dispersed in the prism pattern 384 to form a prism pattern 384 by mixing it with, for example, acrylic resin to form a paste or a slurry state, .

이와 같이 프리즘 패턴(384)에 형광체(미도시)가 포함되는 경우는 발광소자 패키지(300)의 광의 균일도 및 분포도가 향상됨은 물론, 프리즘 패턴(384)에 의한 광의 집광효과 외에 형광체(미도시)에 의한 광의 분산효과가 있기 때문에 발광소자 패키지(300)의 지향각을 향상시킬 수 있다.When a phosphor (not shown) is included in the prism pattern 384, the uniformity and distribution of light of the light emitting device package 300 is improved, and a phosphor (not shown) is used in addition to the light focusing effect by the prism pattern 384. [ The directivity angle of the light emitting device package 300 can be improved.

실시 예에 따른 발광소자 패키지(300)는 복수개가 기판 상에 어레이되며, 발광소자 패키지(300)의 광 경로 상에 광학 부재인 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트 등이 배치될 수 있다. 이러한 발광소자 패키지, 기판, 광학 부재는 라이트 유닛으로 기능할 수 있다. 또 다른 실시 예는 상술한 실시 예들에 기재된 발광소자 또는 발광소자 패키지를 포함하는 표시 장치, 지시 장치, 조명 시스템으로 구현될 수 있으며, 예를 들어, 조명 시스템은 램프, 가로등을 포함할 수 있다. A light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, and the like, which are optical members, may be disposed on a light path of the light emitting device package 300. Such a light emitting device package, a substrate, and an optical member can function as a light unit. Still another embodiment may be implemented as a display device, an indicating device, and a lighting system including the light emitting device or the light emitting device package described in the above embodiments. For example, the lighting system may include a lamp and a streetlight.

도 6은 실시예에 따른 발광소자 패키지를 포함하는 조명장치를 도시한 사시도이며, 도 7은 도 6의 조명장치의 C-C' 단면을 도시한 단면도이다.FIG. 6 is a perspective view illustrating a lighting device including a light emitting device package according to an embodiment, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line C-C 'of the lighting device of FIG.

도 6 및 도 7을 참조하면, 조명장치(400)는 몸체(410), 몸체(410)와 체결되는 커버(430) 및 몸체(410)의 양단에 위치하는 마감캡(450)을 포함할 수 있다.6 and 7, the lighting apparatus 400 may include a body 410, a cover 430 coupled to the body 410, and a finishing cap 450 positioned at opposite ends of the body 410 have.

몸체(410)의 하부면에는 발광소자 모듈(440)이 체결되며, 몸체(410)는 발광소자 패키지(444)에서 발생된 열이 몸체(410)의 상부면을 통해 외부로 방출할 수 있도록 전도성 및 열발산 효과가 우수한 금속재질로 형성될 수 있다.The light emitting device module 440 is coupled to a lower surface of the body 410. The body 410 is electrically conductive so that heat generated from the light emitting device package 444 can be emitted to the outside through the upper surface of the body 410. [ And a metal material having an excellent heat dissipation effect.

발광소자 패키지(444)는 PCB(442) 상에 다색, 다열로 실장되어 어레이를 이룰 수 있으며, 동일한 간격으로 실장되거나 또는 필요에 따라서 다양한 이격 거리를 가지고 실장될 수 있어 밝기 등을 조절할 수 있다. 이러한 PCB(442)로 MPPCB(Metal Core PCB) 또는 FR4 재질의 PCB 등을 사용할 수 있다.The light emitting device package 444 may be mounted on the PCB 442 in a multi-color, multi-row manner to form an array. The light emitting device package 444 may be mounted at equal intervals or may be mounted with various distances as required. As the PCB 442, MPPCB (Metal Core PCB) or FR4 material PCB can be used.

커버(430)는 몸체(410)의 하부면을 감싸도록 원형의 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않음은 물론이다.The cover 430 may be formed in a circular shape so as to surround the lower surface of the body 410, but is not limited thereto.

커버(430)는 내부의 발광소자 모듈(440)을 외부의 이물질 등으로부터 보호한다. 또한, 커버(430)는 발광소자 패키지(444)에서 발생한 광의 눈부심을 방지하고, 외부로 광을 균일하게 방출할 수 있도록 확산입자를 포함할 수 있으며, 또한 커버(430)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 프리즘 패턴 등이 형성될 수 있다. 또한 커버(430)의 내면 및 외면 중 적어도 어느 한 면에는 형광체가 도포될 수도 있다. The cover 430 protects the internal light emitting device module 440 from foreign substances or the like. The cover 430 may include diffusion particles to prevent glare of light generated in the light emitting device package 444 and uniformly emit light to the outside and may include at least one of an inner surface and an outer surface of the cover 430 A prism pattern or the like may be formed on one side. Further, the phosphor may be coated on at least one of the inner surface and the outer surface of the cover 430.

한편, 발광소자 패키지(444)에서 발생한 광은 커버(430)를 통해 외부로 방출되므로 커버(430)는 광 투과율이 우수하여야 하며, 발광소자 패키지(444)에서 발생한 열에 견딜 수 있도록 충분한 내열성을 구비하고 있어야 하는바, 커버(430)는 폴리에틸렌 테레프탈레이트(Polyethylen Terephthalate; PET), 폴리카보네이트(Polycarbonate; PC) 또는 폴리메틸 메타크릴레이트(Polymethyl Methacrylate; PMMA) 등을 포함하는 재질로 형성되는 것이 바람직하다.Since the light generated in the light emitting device package 444 is emitted to the outside through the cover 430, the cover 430 should have a high light transmittance and sufficient heat resistance to withstand the heat generated in the light emitting device package 444 The cover 430 is preferably made of a material including polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), or polymethyl methacrylate (PMMA) .

마감캡(450)은 몸체(410)의 양단에 위치하며 전원장치(미도시)를 밀폐하는 용도로 사용될 수 있다. 또한 마감캡(450)에는 전원핀(452)이 형성되어 있어, 실시예에 따른 조명장치(400)는 기존의 형광등을 제거한 단자에 별도의 장치 없이 곧바로 사용할 수 있게 된다.The finishing cap 450 is located at both ends of the body 410 and can be used for sealing the power supply unit (not shown). In addition, the fin 450 is formed on the finishing cap 450, so that the lighting device 400 according to the embodiment can be used immediately without a separate device on the terminal from which the conventional fluorescent lamp is removed.

도 8은 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다.8 is an exploded perspective view of a liquid crystal display device including a light emitting device according to an embodiment.

도 8은 에지-라이트 방식으로, 액정표시장치(500)는 액정표시패널(510)과 액정표시패널(510)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(570)을 포함할 수 있다.8, the liquid crystal display device 500 may include a backlight unit 570 for providing light to the liquid crystal display panel 510 and the liquid crystal display panel 510 in an edge-light manner.

액정표시패널(510)은 백라이트 유닛(570)으로부터 제공되는 광을 이용하여 화상을 표시할 수 있다. 액정표시패널(510)은 액정을 사이에 두고 서로 대향하는 컬러 필터 기판(512) 및 박막 트랜지스터 기판(514)을 포함할 수 있다.The liquid crystal display panel 510 can display an image using the light provided from the backlight unit 570. The liquid crystal display panel 510 may include a color filter substrate 512 and a thin film transistor substrate 514 facing each other with a liquid crystal therebetween.

컬러 필터 기판(512)은 액정표시패널(510)을 통해 디스플레이되는 화상의 색을 구현할 수 있다.The color filter substrate 512 can realize the color of an image to be displayed through the liquid crystal display panel 510.

박막 트랜지스터 기판(514)은 구동 필름(517)을 통해 다수의 회로부품이 실장되는 인쇄회로 기판(518)과 전기적으로 접속되어 있다. 박막 트랜지스터 기판(514)은 인쇄회로 기판(518)으로부터 제공되는 구동 신호에 응답하여 인쇄회로 기판(518)으로부터 제공되는 구동 전압을 액정에 인가할 수 있다.The thin film transistor substrate 514 is electrically connected to a printed circuit board 518 on which a plurality of circuit components are mounted via a driving film 517. The thin film transistor substrate 514 may apply a driving voltage provided from the printed circuit board 518 to the liquid crystal in response to a driving signal provided from the printed circuit board 518. [

박막 트랜지스터 기판(514)은 유리나 플라스틱 등과 같은 투명한 재질의 다른 기판상에 박막으로 형성된 박막 트랜지스터 및 화소 전극을 포함할 수 있다. The thin film transistor substrate 514 may include a thin film transistor and a pixel electrode formed as a thin film on another substrate of a transparent material such as glass or plastic.

백라이트 유닛(570)은 빛을 출력하는 발광소자 모듈(520), 발광소자 모듈(520)로부터 제공되는 빛을 면광원 형태로 변경시켜 액정표시패널(510)로 제공하는 도광판(530), 도광판(530)으로부터 제공된 빛의 휘도 분포를 균일하게 하고 수직 입사성을 향상시키는 다수의 필름(550, 566, 564) 및 도광판(530)의 후방으로 방출되는 빛을 도광판(530)으로 반사시키는 반사 시트(540)로 구성된다.The backlight unit 570 includes a light emitting device module 520 that outputs light, a light guide plate 530 that changes the light provided from the light emitting device module 520 into a surface light source and provides the light to the liquid crystal display panel 510, A plurality of films 550, 566, and 564 that uniformly distribute the luminance of light provided from the light guide plate 530 and improve vertical incidence, and a reflective sheet (not shown) that reflects light emitted to the rear of the light guide plate 530 to the light guide plate 530 540).

발광소자 모듈(520)은 복수의 발광소자 패키지(524)와 복수의 발광소자 패키지(524)가 실장되어 어레이를 이룰 수 있도록 PCB기판(522)을 포함할 수 있다.The light emitting device module 520 may include a PCB substrate 522 for mounting a plurality of light emitting device packages 524 and a plurality of light emitting device packages 524 to form an array.

한편, 백라이트 유닛(570)은 도광판(530)으로부터 입사되는 빛을 액정 표시 패널(510) 방향으로 확산시키는 확산필름(566)과, 확산된 빛을 집광하여 수직 입사성을 향상시키는 프리즘필름(550)으로 구성될 수 있으며, 프리즘필름(550)를 보호하기 위한 보호필름(564)을 포함할 수 있다.The backlight unit 570 includes a diffusion film 566 for diffusing light incident from the light guide plate 530 toward the liquid crystal display panel 510 and a prism film 550 for enhancing vertical incidence by condensing the diffused light And may include a protective film 564 for protecting the prism film 550. [

도 9는 실시예에 따른 발광소자를 포함하는 액정표시장치의 분해 사시도이다. 다만, 도 8에서 도시하고 설명한 부분에 대해서는 반복하여 상세히 설명하지 않는다.9 is an exploded perspective view of a liquid crystal display device including a light emitting device according to an embodiment. However, the parts shown and described in Fig. 8 are not repeatedly described in detail.

도 9는 직하 방식으로, 액정표시장치(600)는 액정표시패널(610)과 액정표시패널(610)로 빛을 제공하기 위한 백라이트 유닛(670)을 포함할 수 있다.9, the liquid crystal display 600 may include a liquid crystal display panel 610 and a backlight unit 670 for providing light to the liquid crystal display panel 610 in a direct-down manner.

액정표시패널(610)은 도 8에서 설명한 바와 동일하므로, 상세한 설명은 생략한다.The liquid crystal display panel 610 is the same as that described with reference to FIG. 8, and thus a detailed description thereof will be omitted.

백라이트 유닛(670)은 복수의 발광소자 모듈(623), 반사시트(624), 발광소자 모듈(623)과 반사시트(624)가 수납되는 하부 섀시(630), 발광소자 모듈(623)의 상부에 배치되는 확산판(640) 및 다수의 광학필름(660)을 포함할 수 있다.The backlight unit 670 includes a plurality of light emitting element modules 623, a reflective sheet 624, a lower chassis 630 in which the light emitting element module 623 and the reflective sheet 624 are accommodated, And a plurality of optical films 660 disposed on the diffuser plate 640.

발광소자 모듈(623) 복수의 발광소자 패키지(622)와 복수의 발광소자 패키지(622)가 실장되어 어레이를 이룰 수 있도록 PCB기판(621)을 포함할 수 있다.The light emitting device module 623 may include a PCB substrate 621 for mounting a plurality of light emitting device packages 622 and a plurality of light emitting device packages 622 to form an array.

반사 시트(624)는 발광소자 패키지(622)에서 발생한 빛을 액정표시패널(610)이 위치한 방향으로 반사시켜 빛의 이용 효율을 향상시킨다.The reflective sheet 624 reflects light generated from the light emitting device package 622 in a direction in which the liquid crystal display panel 610 is positioned, thereby improving light utilization efficiency.

한편, 발광소자 모듈(623)에서 발생한 빛은 확산판(640)에 입사하며, 확산판(640)의 상부에는 광학 필름(660)이 배치된다. 광학 필름(660)은 확산 필름(666), 프리즘필름(650) 및 보호필름(664)를 포함하여 구성될 수 있다.The light emitted from the light emitting element module 623 is incident on the diffusion plate 640 and the optical film 660 is disposed on the diffusion plate 640. The optical film 660 may be configured to include a diffusion film 666, a prism film 650, and a protective film 664.

한편, 실시예에 따른 발광소자는 상기한 바와 같이 설명된 실시예들의 구성과 방법이 한정되게 적용될 수 있는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.Meanwhile, the light emitting device according to the embodiment is not limited to the configuration and method of the embodiments described above, but the embodiments may be modified so that all or some of the embodiments may be selectively And may be configured in combination.

또한, 이상에서는 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, It will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the present invention.

100 : 발광소자 110 : 지지 기판
120 : 제1 전극 130 : 발광 구조물
132 : 제1 반도체층 134 : 활성층
136 : 제2 반도체층 140 : 투광성 전극층
150 : 제3 반도체층 160: 광 추출 구조
170: 제2 전극
100: light emitting element 110: support substrate
120: first electrode 130: light emitting structure
132: first semiconductor layer 134: active layer
136: second semiconductor layer 140: translucent electrode layer
150: third semiconductor layer 160: light extracting structure
170: second electrode

Claims (17)

지지 기판;
상기 지지 기판상에 형성된 제1 전극층;
상기 제1 전극층 상에 형성되며 제1 반도체층, 제2 반도체층 및 상기 제1 반도체층과 상기 제2 반도체층 사이에 배치되는 활성층을 포함한 발광 구조물;
상기 발광 구조물 상에 형성되며 소정의 두께를 갖는 투광성 전극층;
상기 투광성 전극층 상에 형성된 제3 반도체층; 및
상기 제3 반도체층 상에 형성된 광 추출 구조;를 포함하며,
상기 투광성 전극층은 n 형 또는 p 형 도펀트로 도핑되는 발광소자.
A support substrate;
A first electrode layer formed on the supporting substrate;
A light emitting structure formed on the first electrode layer and including a first semiconductor layer, a second semiconductor layer, and an active layer disposed between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer;
A light transmitting electrode layer formed on the light emitting structure and having a predetermined thickness;
A third semiconductor layer formed on the light-transmitting electrode layer; And
And a light extraction structure formed on the third semiconductor layer,
Wherein the light-transmitting electrode layer is doped with an n-type or p-type dopant.
제1항에 있어서,
상기 투광성 전극층은,
In, Zn, ITO, IZO(In-ZnO), GZO(Ga-ZnO), AZO(Al-ZnO), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), IrOx, RuOx, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하며,
상기 투광성 전극층은,
0.05 um 내지 500 um 의 두께를 갖는 발광소자.
The method according to claim 1,
The light-
(In-Zn ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), IrO x , RuO x , RuO x , RuO x , x / ITO, Ni / IrO x / Au, and Ni / IrO x / Au / ITO,
The light-
Lt; RTI ID = 0.0 > um < / RTI >
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 투광성 전극층은,
마그네슘(Mg), 아연(Zn), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 바륨(Ba), 규소(Si), 게르마늄(Ge), 주석(Sn), 셀레늄(Se), 텔루늄(Te) 중 어느 하나의 도펀트로 도핑되는 발광소자.
The method according to claim 1,
The light-
(Mg), zinc (Zn), calcium (Ca), strontium (Sr), barium (Ba), silicon (Si), germanium (Ge), tin (Sn), selenium (Se) ≪ / RTI > is doped with either one of the dopants.
제1항에 있어서,
상기 제3 반도체층은,
상기 제1 반도체층 및 상기 제2 반도체층 중 적어도 하나와 동일한 재질로 형성되며,
상기 제3 반도체층은,
GaN(Gallium nitride), AlN(Aluminium nitride), AlGaN(Aluminium gallium nitride), InGaN(Indium gallium nitride), InN(Indium nitride), InAlGaN, 및 AlInN 중 적어도 하나를 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
Wherein the second semiconductor layer is formed of the same material as at least one of the first semiconductor layer and the second semiconductor layer,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
Wherein at least one of GaN (Gallium nitride), AlN (Aluminum nitride), AlGaN (Indium Gallium nitride), InGaN (Indium gallium nitride), InN (Indium nitride), InAlGaN, and AlInN is contained.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제3 반도체층은,
500 nm 내지 10um 의 두께를 갖는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
And a thickness of 500 nm to 10 [mu] m.
제1항에 있어서,
상기 제3 반도체층은,
n 형 또는 p 형 도펀트로 도핑되며,
상기 제3 반도체층은,
마그네슘(Mg), 아연(Zn), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 바륨(Ba), 규소(Si), 게르마늄(Ge), 주석(Sn), 셀레늄(Se), 텔루늄(Te) 중 어느 하나의 도펀트로 도핑되는 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
doped with an n-type or p-type dopant,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
(Mg), zinc (Zn), calcium (Ca), strontium (Sr), barium (Ba), silicon (Si), germanium (Ge), tin (Sn), selenium (Se) ≪ / RTI > is doped with either one of the dopants.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제3 반도체층은,
상면이 N-face 로 형성된 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
And an upper surface thereof is an N-face.
제1항에 있어서,
상기 광 추출 구조는,
소정의 거칠기를 갖는 요철부를 포함한 발광소자.
The method according to claim 1,
The light extracting structure includes:
A light emitting device comprising a concavo-convex portion having a predetermined roughness.
제1항에 있어서,
상기 제3 반도체층, 또는 상기 투광성 전극층의 적어도 일 면 상에 형성된 제2 전극;을 더 포함하는 발광소자.
The method according to claim 1,
And a second electrode formed on at least one side of the third semiconductor layer or the light transmitting electrode layer.
제13항에 있어서,
상기 제2 전극은,
상기 투광성 전극층의 측면 상에 형성되며,
상기 투광성 전극층은 상기 발광 구조물의 측방향으로 돌출된 돌출부를 포함하는 발광소자.
14. The method of claim 13,
Wherein the second electrode comprises:
A transparent electrode layer formed on the side surface of the transparent electrode layer,
Wherein the light transmitting electrode layer includes a protruding portion protruding laterally of the light emitting structure.
삭제delete 제14항에 있어서,
상기 제2 전극은 상기 돌출부의 적어도 일 면 상에 형성되는 발광소자.
15. The method of claim 14,
And the second electrode is formed on at least one surface of the protrusion.
제14항에 있어서,
상기 제3 반도체층은,
적어도 일 영역이 상기 돌출부와 수직적으로 중첩되도록 측방향으로 연장되게 형성되는 발광소자.
15. The method of claim 14,
Wherein the third semiconductor layer comprises:
Wherein at least one region is formed to extend laterally so as to vertically overlap with the protrusion.
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