KR101833814B1 - 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법 - Google Patents

디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법 Download PDF

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KR101833814B1
KR101833814B1 KR1020130053854A KR20130053854A KR101833814B1 KR 101833814 B1 KR101833814 B1 KR 101833814B1 KR 1020130053854 A KR1020130053854 A KR 1020130053854A KR 20130053854 A KR20130053854 A KR 20130053854A KR 101833814 B1 KR101833814 B1 KR 101833814B1
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이병진
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엘에스산전 주식회사
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Abstract

본 명세서는 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리하는 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법에 관한 것이다. 이를 위하여 본 명세서에 따른 디지털 보호 계전기는, 사용자 입력에 대응하는 신호를 전달하는 HMI와 연동하는 디지털 보호 계전기에 있어서, 실제 동작 수행 중에 사용하는 제1 메모리; 자기 진단 동작 중에 사용하는 제2 메모리; 및 상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택될 때, 상기 제1 메모리에 저장된 다양한 정보를 상기 제2 메모리에 복사하고, 상기 제1 메모리에서 상기 제2 메모리로 전환하고, 상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및 상태값을 수신하고, 상기 수신된 복수의 계측값과 상태값 및, 상기 제2 메모리에 복사된 다양한 정보를 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행하여 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리에 기록하는 제어부;를 포함한다.

Description

디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법{DIGITAL PROTECTION RELAY AND SELF TEST METHOD THEREOF}
본 명세서는 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법에 관한 것으로, 특히 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리하는 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 디지털 보호 계전기는, 모터, 전동기 등과 같은 부하단에 전원을 공급 또는 차단하도록 제어하며, 상기 부하단에 흐르는 전류에 있어서 과전류, 단락 전류 등과 같은 사고 전류 발생 시 상기 부하단을 보호할 수 있는 계전기이다.
한국 특허 출원 번호 제10-2005-0054273호
본 명세서의 목적은, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리하는 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법을 제공하는 데 있다.
본 명세서의 다른 목적은, 자기 진단 기능의 수행으로 인해 발생하는 여러 가지 동작에 따른 결과를 별도로 저장 및 관리하는 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법을 제공하는 데 있다.
본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기는, 사용자 입력에 대응하는 신호를 전달하는 HMI와 연동하는 디지털 보호 계전기에 있어서, 실제 동작 수행 중에 사용하는 제1 메모리; 자기 진단 동작 중에 사용하는 제2 메모리; 및 상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택될 때, 상기 제1 메모리에 저장된 다양한 정보를 상기 제2 메모리에 복사하고, 상기 제1 메모리에서 상기 제2 메모리로 전환하고, 상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및 상태값을 수신하고, 상기 수신된 복수의 계측값과 상태값 및, 상기 제2 메모리에 복사된 다양한 정보를 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행하여 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리에 기록하는 제어부;를 포함한다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, CT/PT로부터 전달되는 전력 계통의 전압값과 전류값을 계측한 값을 수신하는 디지털 신호 처리 장치; 및 DI/DO로부터 전달된 접점의 상태 데이터 및, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록을 수신하는 DI/DO 제어부;를 더 포함할 수 있다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, 상기 다양한 정보는, 상기 CT/PT로부터 전달된 전력 계통의 전압값과 전류값을 계측한 값, 상기 DI/DO로부터 전달된 접점의 상태 데이터 및, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 중 하나 이상을 포함할 수 있다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, 상기 자기 진단 기능은, 계전 동작, 계측 동작, 접점 감시 동작 및, 접점 제어 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, 상기 자기 진단 기능 수행 결과는, 누적 계측치, 전력, 전력량, 이벤트 기록 및, 차단기 진단 누적값 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, 상기 제어부는, 상기 자기 진단 기능이 종료될 때, 상기 메모리의 동작 상태를 실제 동작 모드로 변환하고, 상기 제2 메모리에서 상기 제1 메모리로 전환하며, 임의의 실제 동작을 수행하고, 상기 수행 결과를 상기 제1 메모리에 기록할 수 있다.
본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기의 자기 진단 방법은, 실제 동작 수행 중에 사용하는 제1 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 제2 메모리를 포함하는 디지털 보호 계전기의 자기 진단 방법에 있어서, 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택될 때, 제1 메모리에 저장된 다양한 정보를 제2 메모리에 복사하고, 상기 제1 메모리에서 상기 제2 메모리로 전환하는 단계; HMI를 통한 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및 상태값을 수신하는 단계; 상기 수신된 복수의 계측값과 상태값 및, 상기 제2 메모리에 복사된 다양한 정보를 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행하는 단계; 및 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리에 기록하는 단계;를 포함한다.
본 명세서와 관련된 일 예로서, 상기 자기 진단 기능이 종료될 때, 상기 메모리의 동작 상태를 실제 동작 모드로 변환하고, 상기 제2 메모리에서 상기 제1 메모리로 전환하는 단계; 및 임의의 실제 동작을 수행하고, 상기 수행 결과를 상기 제1 메모리에 기록하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법은, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리함으로써, 실제 동작과 동일한 동작 수행을 할 수 있도록 보장하고, 상기 동작 수행으로 인해 발생하는 오류를 방지할 수 있다.
또한, 본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기 및 그의 자기 진단 방법은, 자기 진단 기능의 수행으로 인해 발생하는 여러 가지 동작에 따른 결과를 별도로 저장 및 관리함으로써, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리에서의 데이터 오류를 방지하고, 디지털 보호 계전기의 자기 진단 기능 수행 및 실제 동작에의 신뢰성을 보장할 수 있다.
도 1은 본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 디지털 보호 계전기의 자기 진단 방법을 나타낸 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 따른 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 명세서의 실시예에 따른 디지털 보호 계전기(10)의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 디지털 보호 계전기(10)는, 디지털 신호 처리 장치(110), DI/DO 제어부(120), 제1 메모리(130), 제2 메모리(140) 및, 제어부(150)로 구성된다. 도 1에 도시된 디지털 보호 계전기(10)의 구성 요소 모두가 필수 구성 요소인 것은 아니며, 도 1에 도시된 구성 요소보다 많은 구성 요소에 의해 디지털 보호 계전기(10)가 구현될 수도 있고, 그보다 적은 구성 요소에 의해서도 디지털 보호 계전기(10)가 구현될 수도 있다.
상기 디지털 신호 처리 장치(Digital Signal Processor : DSP)(110)는, 상기 도 1에 도시한 바와 같이, CT(전류 변성기 : Current Transformer)/PT(전압 변성기 : Power Transformer)(20)와 연결한다.
또한, 상기 디지털 신호 처리 장치(110)는, 상기 CT/PT(20)로부터 전달되는 전력 계통(또는, 부하단)의 전압값, 전류값 등을 계측한 값을 수신한다.
또한, 상기 디지털 신호 처리 장치(110)는, 상기 수신된 계측값(예를 들어, 상기 전압값, 상기 전류값 등 포함)을 상기 제어부(150)에 전달한다.
또한, 상기 디지털 신호 처리 장치(110)는, 상기 제어부(150)로부터 전달되는 상기 CT/PT(20)를 제어하기 위한 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 제어 신호를 상기 CT/PT(20)에 전달한다.
상기 DI/DO 제어부(Digital Input/Digital Output Controller)(120)는, 상기 도 1에 도시한 바와 같이, DI/DO(30)와 연결한다.
또한, 상기 DI/DO 제어부(120)는, 상기 DI/DO(30)로부터 전달되는 접점(DI/DO)의 상태 데이터, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 등을 수신한다.
또한, 상기 DI/DO 제어부(120)는, 상기 수신된 접점의 상태 데이터, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 등을 상기 제어부(150)에 전달한다.
또한, 상기 DI/DO 제어부(120)는, 상기 제어부(150)로부터 전달되는 접점을 제어하기 위한 제어 신호를 수신하고, 상기 수신된 제어 신호를 상기 DI/DO(30)에 전달한다.
상기 제1 메모리(130)는, 상기 디지털 보호 계전기(10)가 실제 동작을 수행할 때 사용하는 메모리이다.
또한, 상기 제1 메모리(130)는, 상기 디지털 보호 계전기(10)가 동작하는데 필요한 데이터와 프로그램 등을 저장한다.
또한, 상기 제1 메모리(130)는, 플래시 메모리 타입(Flash Memory Type), 하드 디스크 타입(Hard Disk Type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(Multimedia Card Micro Type), 카드 타입의 메모리(예를 들면, SD 또는 XD 메모리 등), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크, 램(Random Access Memory : RAM), SRAM(Static Random Access Memory), 롬(Read-Only Memory : ROM), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PROM(Programmable Read-Only Memory) 중 적어도 하나의 저장매체를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1 메모리(130)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 상기 계측값(예를 들어, 상기 전압값, 상기 전류값 등 포함), 상기 접점의 상태 데이터, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 등을 포함하는 다양한 정보를 저장한다.
또한, 상기 제1 메모리(130)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 미리 설정된 자기 진단 모드로 전환 시, 상기 제1 메모리(130)에 미리 저장된 상기 다양한 정보를 상기 제2 메모리(140)에 복사(또는, 기록/쓰기 기능)한다. 이때, 상기 제1 메모리(130)는, 메모리의 동작 상태가 상기 자기 진단 모드인 경우, 대기 상태를 유지할 수 있다.
또한, 상기 제1 메모리(130)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 미리 설정된 실제 동작 모드로 전환 시, 임의의 실제 동작의 수행 결과를 기록한다.
상기 제2 메모리(140)는, 상기 디지털 보호 계전기(10)가 자기 진단 기능을 수행할 때 사용하는 메모리이다.
또한, 상기 제2 메모리(140)는, 플래시 메모리 타입, 하드 디스크 타입, 멀티미디어 카드 마이크로 타입, 카드 타입의 메모리(예를 들면, SD 또는 XD 메모리 등), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크, 램(RAM), SRAM, 롬(ROM), EEPROM, PROM 중 적어도 하나의 저장매체를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제2 메모리(140)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 상기 미리 설정된 자기 진단 모드로 전환 시, 상기 제1 메모리(130)에 미리 저장된(또는, 기록된) 상기 다양한 정보를 복사하여 상기 제2 메모리(140)에 기록한다.
또한, 상기 제2 메모리(140)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 기록한다. 여기서, 상기 자기 진단 기능 수행 결과는, 누적 계측치, 전력, 전력량, 이벤트 기록 및, 차단기 진단 누적값 등을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제2 메모리(140)는, 상기 제어부(150)의 제어에 의해, 메모리의 동작 상태가 실제 동작 모드인 경우, 대기 상태를 유지할 수 있다.
이와 같이, 상기 본 명세서의 실시예에서는, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리(예를 들어, 상기 제1 메모리(130))와 자기 진단 동작 수행 중에 사용하는 메모리(예를 들어, 상기 제2 메모리(140))를 각각 별도의 하드웨어 구성으로 구비하는 예를 설명하고 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 소프트웨어적으로 하나의 메모리 영역을 실제 동작 수행 중 사용하는 메모리 영역과 자기 진단 동작 수행 중 사용하는 메모리 영역으로 나누어 사용할 수도 있다.
상기 제어부(Central Processing Unit : CPU)(150)는, 상기 디지털 보호 계전기(10)의 전반적인 제어 기능을 수행한다.
또한, 상기 제어부(150)는, HMI(Human Machine Interface)(40), 상기 디지털 신호 처리 장치(110), 상기 DI/DO 제어부(120), 상기 제1 메모리(130) 및, 상기 제2 메모리(140) 등과 연결한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 디지털 신호 처리 장치(110)로부터 전달되는 상기 계측값(예를 들어, 상기 전압값, 상기 전류값 등 포함)을 상기 제1 메모리(130)에 저장한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 계측값을 근거로 산출한 전력, 전력량 등의 값을 상기 제1 메모리(130)에 저장한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 DI/DO 제어부(120)로부터 전달되는 상기 접점의 상태 데이터, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 등을 상기 제1 메모리(130)에 저장한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 CT/PT(20) 또는 상기 DI/DO(30)를 제어하기 위한 제어 신호를 생성하고, 상기 생성된 제어 신호를 상기 디지털 신호 처리 장치(110) 또는 상기 DI/DO 제어부(120)를 통해 해당 CT/PT(20) 또는 DI/DO(30)에 전달한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 HMI(40)를 통해, 임의의 사용자 입력에 따른 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택될 때(또는, 상기 HMI(40)를 통해 상기 사용자 입력에 따른 상기 자기 진단 기능에 대응하는 자기 진단 기능 신호를 수신할 때), 메모리의 동작 상태를 자기 진단 모드로 변환(또는, 실제 동작 모드 상태에서 상기 자기 진단 모드 상태로 변환/전환)하고, 상기 제1 메모리(130)에 미리 저장된 상기 다양한 정보를 상기 제2 메모리(140)에 복사하고, 상기 제1 메모리(130)에서 상기 제2 메모리(140)로 전환한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 HMI(40)를 통해, 상기 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및/또는 상태값을 수신한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 수신된 복수의 계측값 및/또는 상태값을 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행한다. 이때, 상기 제어부(150)는, 상기 계측값 및/또는 상태값과 함께 상기 제2 메모리(140)에 복사된 상기 다양한 정보를 근거로 상기 자기 진단 기능을 수행할 수도 있다. 여기서, 상기 자기 진단 기능은, 계전 동작, 계측 동작, 접점 감시 동작 및, 접점 제어 등을 포함한다.
즉, 상기 제어부(150)는, 상기 수신된 복수의 계측값 및/또는 상태값 및/또는, 상기 다양한 정보를 근거로 가상의 전력 계통 감시 제어를 위한 각종 값들에 대한 동작을 수행한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리(140)에 기록(또는, 저장)한다. 여기서, 상기 자기 진단 기능 수행 결과는, 누적 계측치, 전력, 전력량, 이벤트 기록 및, 차단기 진단 누적값 등을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어부(150)는, 상기 자기 진단 기능 수행 결과의 상기 제2 메모리(140) 저장이 완료되거나 또는, 상기 HMI(40)를 통한 상기 사용자 입력에 따라 자기 진단 기능이 종료되면, 상기 메모리의 동작 상태를 실제 동작 모드로 변환하고, 상기 제2 메모리(140)에서 상기 제1 메모리(130)로 전환한다.
또한, 상기 제어부(150)는, 임의의 실제 동작을 수행하고, 상기 수행 결과를 상기 제1 메모리(130)에 기록한다.
이와 같이, 자기 진단 기능 동작의 수행으로 인해 발생하는 각종 계전 동작, 계측값, 접점 상태 변화에 대한 기록값 등이 사용 영역 구분이 없는 메모리에 기록되고, 이후에 실제 전력 계통에서의 동작 시에도 계속 남아 있게 되어, 이를 이용한 실제 동작에 영향을 주게 되어 의도하지 않은 전력량 계측치 오류, 차단기 수명 진단을 위한 수명 진단값 오류 및, 접점 동작 상태 이벤트 기록에 따른 해석의 오류 등을 발생시키는 방식에 비해서, 실제 동작을 위한 메모리와 자기 진단을 위한 메모리를 별도로 각각 관리하여 실제 동작 메모리에서의 데이터 오류를 방지할 수 있다. 또한, 이벤트 기록시 자기 진단 시작과 끝남에 대한 기록을 남겨서, 그 사이에 있는 각종 기록들은 사용자가 자기 진단 결과로 확인하고 판단할 수 있도록 구성할 수 있다.
이와 같이, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리할 수 있다.
또한, 이와 같이, 자기 진단 기능의 수행으로 인해 발생하는 여러 가지 동작에 따른 결과를 별도로 저장 및 관리할 수 있다.
이하에서는, 본 명세서에 따른 디지털 보호 계전기의 자기 진단 방법을 도 1 내지 도 2를 참조하여 상세히 설명한다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 디지털 보호 계전기의 자기 진단 방법을 나타낸 흐름도이다.
먼저, 제어부(150)는, 상기 제어부(150)가 포함된 디지털 보호 계전기(10)와 연결된 HMI(40)를 통해, 임의의 사용자 입력에 따른 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택(또는, 수행)될 때, 메모리의 동작 상태를 자기 진단 모드로 변환하고, 제1 메모리(130)에 저장된 다양한 정보를 제2 메모리(140)에 복사(또는, 쓰기 기능/기록)하고, 상기 제1 메모리(130)에서 상기 제2 메모리(140)로 전환한다. 여기서, 상기 제1 메모리(130)는, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리이고, 상기 제2 메모리(140)는, 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리일 수 있다. 이때, 상기 다양한 정보는, 디지털 신호 처리 장치(110)를 통해 CT/PT(20)로부터 전달된 전력 계통(또는, 부하단)의 전압값 및/또는 전류값을 계측한 값 및, 상기 DI/DO 제어부(120)를 통해 DI/DO(30)로부터 전달된 접점의 상태 데이터 및, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 등을 포함한다(S210).
이후, 상기 제어부(150)는, 상기 HMI(40)를 통해, 상기 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및/또는 상태값을 수신한다(S220).
이후, 상기 제어부(150)는, 상기 수신된 복수의 계측값 및/또는 상태값을 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행한다. 이때, 상기 제어부(150)는, 상기 계측값 및/또는 상태값과 함께 상기 제2 메모리(140)에 복사된 상기 다양한 정보를 근거로 상기 자기 진단 기능을 수행할 수도 있다. 여기서, 상기 자기 진단 기능은, 계전 동작, 계측 동작, 접점 감시 동작 및, 접점 제어 등을 포함한다(S230).
이후, 상기 제어부(150)는, 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리(140)에 기록(또는, 저장)한다. 여기서, 상기 자기 진단 기능 수행 결과는, 누적 계측치, 전력, 전력량, 이벤트 기록 및, 차단기 진단 누적값 등을 포함할 수 있다(S240).
이후, 상기 제어부(150)는, 상기 자기 진단 기능 수행 결과의 상기 제2 메모리(140) 저장이 완료되거나 또는, 자기 진단 기능이 종료되면, 상기 메모리의 동작 상태를 실제 동작 모드로 변환하고, 상기 제2 메모리(140)에서 상기 제1 메모리(130)로 전환한다(S250).
이후, 상기 제어부(150)는, 임의의 실제 동작을 수행하고, 상기 수행 결과를 상기 제1 메모리(130)에 기록한다(S260).
이와 같이, 상기 디지털 보호 계전기(10)는, 상기와 같은 동작 및 구성들을 통해, 상기 제1 메모리(130)에는 실제 동작한 값들을 기록하고, 상기 제2 메모리(140)에는 실제 동작한 값에 추가하여 자기 진단 기능을 통해 이루어진 각종 동작들에 대한 기록을 더해 기록하여, 임의의 사용자가 자기 진단 기능이 실제 동작과 동일하게 수행되었음을 확인할 수 있다.
본 명세서의 실시예는 앞서 설명한 바와 같이, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리와 자기 진단 동작 중에 사용하는 메모리를 분리하여 관리하여, 실제 동작과 동일한 동작 수행을 할 수 있도록 보장하고, 상기 동작 수행으로 인해 발생하는 오류를 방지할 수 있다.
또한, 본 명세서의 실시예는 앞서 설명한 바와 같이, 자기 진단 기능의 수행으로 인해 발생하는 여러 가지 동작에 따른 결과를 별도로 저장 및 관리하여, 실제 동작 수행 중에 사용하는 메모리에서의 데이터 오류를 방지하고, 디지털 보호 계전기의 자기 진단 기능 수행 및 실제 동작에의 신뢰성을 보장할 수 있다.
전술한 내용은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10: 디지털 보호 계전기 20: CT/PT
30: DI/DO 40: HMI
110: 디지털 신호 처리 장치 120: DI/DO 제어부
130: 제1 메모리 140: 제2 메모리
150: 제어부

Claims (6)

  1. 사용자 입력에 대응하는 신호를 전달하는 HMI와 연동하는 디지털 보호 계전기에 있어서,
    실제 동작 수행 중에 사용하는 제1 메모리;
    자기 진단 동작 중에 사용하는 제2 메모리; 및
    상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 미리 설정된 자기 진단 기능이 선택될 때, 자기 진단 모드로 변환하고, 상기 제1 메모리에 저장된 정보를 상기 제2 메모리에 복사하고, 상기 제1 메모리에서 상기 제2 메모리로 전환하고, 상기 HMI를 통한 상기 사용자 입력에 따른 복수의 계측값 및 상태값을 수신하고, 상기 수신된 복수의 계측값과 상태값 및, 상기 제2 메모리에 복사된 정보를 근거로 미리 설정된 자기 진단 기능을 수행하여 상기 자기 진단 기능 수행 결과를 상기 제2 메모리에 기록하는 제어부;를 포함하며,
    상기 제어부는,
    상기 자기 진단 기능이 종료될 때, 상기 자기 진단 모드로부터 실제 동작 모드로 변환하고, 상기 제2 메모리에서 상기 제1 메모리로 전환하여, 임의의 실제 동작을 수행하고, 상기 수행 결과를 상기 제1 메모리에 기록하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 계전기.
  2. 제1항에 있어서,
    CT/PT로부터 전달되는 전력 계통의 전압값과 전류값을 계측한 값을 수신하는 디지털 신호 처리 장치; 및
    DI/DO로부터 전달된 접점의 상태 데이터 및, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록을 수신하는 DI/DO 제어부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 계전기.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 메모리에 저장된 정보 또는 상기 제2 메모리에 복사된 정보는,
    상기 CT/PT로부터 전달된 전력 계통의 전압값과 전류값을 계측한 값, 상기 DI/DO로부터 전달된 접점의 상태 데이터 및, 상기 접점의 변경에 따른 이벤트 기록 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 계전기.
  4. 제1항에 있어서, 상기 자기 진단 기능은,
    계전 동작, 계측 동작, 접점 감시 동작 및, 접점 제어 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 계전기.
  5. 제1항에 있어서, 상기 자기 진단 기능 수행 결과는,
    누적 계측치, 전력, 전력량, 이벤트 기록 및, 차단기 진단 누적값 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 계전기.
  6. 삭제
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