KR101801990B1 - Ｒｆ 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위한 다차원 ｒｆ 시험 치구 및 방법 - Google Patents
Ｒｆ 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위한 다차원 ｒｆ 시험 치구 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101801990B1 KR101801990B1 KR1020127014589A KR20127014589A KR101801990B1 KR 101801990 B1 KR101801990 B1 KR 101801990B1 KR 1020127014589 A KR1020127014589 A KR 1020127014589A KR 20127014589 A KR20127014589 A KR 20127014589A KR 101801990 B1 KR101801990 B1 KR 101801990B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- wireless device
- guides
- test
- test fixture
- base plate
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0821—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning rooms and test sites therefor, e.g. anechoic chambers, open field sites or TEM cells
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/10—Radiation diagrams of antennas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0892—Details related to signal analysis or treatment; presenting results, e.g. displays; measuring specific signal features other than field strength, e.g. polarisation, field modes, phase, envelope, maximum value
Abstract
무선 디바이스의 RF 특성을 시험하기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. 무선 디바이스는 시험 치구의 수평면의 x-위치 및 y-위치에 배치된다. RF 안테나 커플러는 수직면의 x-위치 및 y-위치에 배치된다. 무선 디바이스 및 RF 안테나 커플러의 배치는 무선 디바이스를 시험하기 위한 허용되는 RF 특성들에 대응한다. 무선 디바이스 및 RF 안테나 커플러의 위치들이 식별된다. 식별된 위치들은 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 수행하는데 사용된다.
Description
통신의 사용 및 발전은 최근 수년간 거의 기하급수적으로 성장하였다. 그 성장은 서비스 제공자와 소비자 모두가 이용할 수 있는 더 신뢰할 만한 프로토콜 및 더 나은 통신 하드웨어와 함께 더 큰 네트워크에 의해 촉진되고 있다. 특히, 무선 헤드세트, PDA(personal digital assistant), 넷북, 랩톱, 무선 카드, 및 다른 유사한 요소 등의 새로운 무선 디바이스들이 거의 끊임없이 출시되고 있다.
무선 디바이스들은 표준 설정 기구(standard setting organization; SSO), 정부, 산업 그룹, 회사, 서비스 제공자, 또는 다른 적절한 관계자(party)에 의해 설정된 통신 표준, 및 기술적 요구사항과의 적합성(compliance)을 보증하기 위해 다양한 형태의 시험을 거칠 필요가 있다. 예를 들면, 미국 연방 통신 위원회(Federal Communications Commission; FCC)는 휴대폰에 의해 방출될 수 있는 무선 주파수(RF) 에너지를 규제한다. 무선 디바이스 또는 무선 디바이스 모델에 대한 시험을 수행하는 것은 상이한 안테나 패턴 방사, 각각의 무선 디바이스 내의 안테나 배치, 및 다수의 무선 디바이스들에 대한 반복 시험의 필요성 때문에 시간 소모적이고 어려울 수 있다.
일 실시예는 무선 디바이스의 RF 특성들을 시험하기 위한 시스템 및 방법을 제공한다. 무선 디바이스는 시험 치구의 수평면의 x-위치 및 y-위치에 배치될 수 있다. 시험 치구의 수직 서포트에 기대어 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분이 배치될 수 있다. RF 안테나 커플러가 수직면의 x-위치 및 y-위치에 배치될 수 있고, 무선 디바이스 및 RF 안테나 커플러의 배치는 무선 디바이스를 시험하기 위한 허용되는 RF 특성에 대응할 수 있다. 무선 디바이스를 고정하기 위해 베이스 플레이트 상에 복수의 가이드들이 배치될 수 있고, 복수의 가이드들은 우측 가이드, 좌측 가이드, 및 전방 가이드를 포함하고, 복수의 가이드들은 무선 디바이스의 에지들에 기대어 접할 수 있다. 무선 디바이스의 RF 특성을 측정하기 위해 RF 안테나 커플러를 고정하는 백 플레이트가 배치될 수 있다. 무선 디바이스 및 RF 안테나 커플러의 위치들이 식별될 수 있고, 식별된 위치들은 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 수행하는 데 사용될 수 있다.
복수의 가이드들, 백 플레이트, 및 수직 서포트가 각각의 위치들에 고정될 수 있다.
무선 디바이스의 RF 특성을 결정하기 위해 RF 시험이 수행될 수 있고, 위치들은 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 무선 디바이스에 대한 RF 안테나 커플러의 에어 갭 및 배치에 대응할 수 있다.
위치들의 식별은 시험 치구의 컴포넌트들의 위치들을 감지하고 감지된 위치들을 사용자에게 표시하는 것에 의해 전자적으로 수행될 수 있다.
커넥터들을 사용하여 복수의 가이드들 및 수직 서포트를 고정할 수 있다.
백 플레이트는 수평 가이드에 접동 가능하게(slidably) 연결되고, 백 플레이트는 수직면의 x-방향으로 배치되도록 동작 가능하고, 수평 가이드는 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 및 회동 가능하게(pivotally) 연결되고, 수평 가이드는 수직면의 y-방향으로 배치되도록 동작 가능할 수 있다.
식별은 시험 치구 상의 표지들을 사용하여 수행될 수 있다.
유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 복수의 가이드들 각각에 대한 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직 서포트에 대한 위치, 수직면에서의 수평 가이드의 y-위치, 수평 가이드의 방사상 위치, 및 수직면에서의 백 플레이트의 x-위치가 지시될 수 있다.
무선 디바이스의 동시 시험을 위해 베이스 플레이트에 제2 RF 안테나 커플러가 배치될 수 있고, 전자 디스플레이가 위치들을 지시할 수 있다.
고정은 복수의 가이드들, 수직 서포트, 수평 가이드, 및 백 플레이트를 통하여 멈춤 나사들을 사용하여 수행될 수 있다.
차후의 시험을 위해 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 위치들이 자동으로 결정될 수 있다. 유사한 무선 디바이스에 대한 시험을 수행하는 사용자 선택에 응답하여 위치들에 시험 치구가 자동으로 재배치될 수 있다.
복수의 가이드들, 백 플레이트, 및 수직 서포트가 각각의 위치들에 고정될 수 있다.
무선 디바이스의 RF 특성을 결정하기 위해 RF 시험이 수행될 수 있고, 위치들은 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 무선 디바이스에 대한 RF 안테나 커플러의 에어 갭 및 배치에 대응할 수 있다.
위치들의 식별은 시험 치구의 컴포넌트들의 위치들을 감지하고 감지된 위치들을 사용자에게 표시하는 것에 의해 전자적으로 수행될 수 있다.
커넥터들을 사용하여 복수의 가이드들 및 수직 서포트를 고정할 수 있다.
백 플레이트는 수평 가이드에 접동 가능하게(slidably) 연결되고, 백 플레이트는 수직면의 x-방향으로 배치되도록 동작 가능하고, 수평 가이드는 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 및 회동 가능하게(pivotally) 연결되고, 수평 가이드는 수직면의 y-방향으로 배치되도록 동작 가능할 수 있다.
식별은 시험 치구 상의 표지들을 사용하여 수행될 수 있다.
유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 복수의 가이드들 각각에 대한 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직 서포트에 대한 위치, 수직면에서의 수평 가이드의 y-위치, 수평 가이드의 방사상 위치, 및 수직면에서의 백 플레이트의 x-위치가 지시될 수 있다.
무선 디바이스의 동시 시험을 위해 베이스 플레이트에 제2 RF 안테나 커플러가 배치될 수 있고, 전자 디스플레이가 위치들을 지시할 수 있다.
고정은 복수의 가이드들, 수직 서포트, 수평 가이드, 및 백 플레이트를 통하여 멈춤 나사들을 사용하여 수행될 수 있다.
차후의 시험을 위해 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 위치들이 자동으로 결정될 수 있다. 유사한 무선 디바이스에 대한 시험을 수행하는 사용자 선택에 응답하여 위치들에 시험 치구가 자동으로 재배치될 수 있다.
다른 실시예는 무선 디바이스의 RF 시험을 수행하기 위한 시험 치구를 제공한다. 시험 치구는 무선 디바이스의 일부를 지지하도록 동작 가능한 베이스 플레이트를 포함할 수 있고, 복수의 가이드들 사이에 무선 디바이스를 고정하기 위해 베이스 플레이트에 복수의 가이드들이 연결될 수 있다. 시험 치구는 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결된 수직 가이드들을 포함할 수 있다. 시험 치구는 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 연결된 수평 가이드를 포함할 수 있고, 수평 가이드는 슬롯을 포함할 수 있다. 시험 치구는 슬롯을 따라서 수평 가이드에 접동 가능하게 연결된 백 플레이트를 포함할 수 있고, 백 플레이트는 무선 디바이스의 RF 시험을 위해 RF 안테나 커플러를 고정하도록 동작 가능할 수 있다.
수평 가이드는 RF 안테나 커플러를 각을 이루어 배치하기 위해 수직 가이드들에 회동 가능하게 연결될 수 있고, 복수의 가이드들은 무선 디바이스의 에지들에 접할 수 있고, 복수의 가이드들은 전방 가이드, 좌측 가이드, 및 우측 가이드를 포함할 수 있다.
시험 치구는 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부재를 배치하도록 동작 가능한 수직 서포트를 더 포함할 수 있고, 베이스 플레이트는 복수의 가이드들을 고정하기 위한 격자 눈금선들을 포함할 수 있고, 베이스 플레이트, 수평 가이드 및 수직 가이드들은 복수의 가이드들, 백 플레이트, 및 수평 가이드의 위치들을 지시하기 위한 표지들을 포함할 수 있다.
시험 치구는, 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 복수의 가이드들 각각에 대한 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직면에서의 수평 가이드의 y-위치, 수평 가이드의 방사상 위치 및 수평면에서의 백 플레이트 및 부착된 RF 안테나 커플러의 x-위치를 지시하는 지시자들을 더 포함할 수 있다.
수평 가이드는 RF 안테나 커플러를 각을 이루어 배치하기 위해 수직 가이드들에 회동 가능하게 연결될 수 있고, 복수의 가이드들은 무선 디바이스의 에지들에 접할 수 있고, 복수의 가이드들은 전방 가이드, 좌측 가이드, 및 우측 가이드를 포함할 수 있다.
시험 치구는 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부재를 배치하도록 동작 가능한 수직 서포트를 더 포함할 수 있고, 베이스 플레이트는 복수의 가이드들을 고정하기 위한 격자 눈금선들을 포함할 수 있고, 베이스 플레이트, 수평 가이드 및 수직 가이드들은 복수의 가이드들, 백 플레이트, 및 수평 가이드의 위치들을 지시하기 위한 표지들을 포함할 수 있다.
시험 치구는, 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 복수의 가이드들 각각에 대한 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직면에서의 수평 가이드의 y-위치, 수평 가이드의 방사상 위치 및 수평면에서의 백 플레이트 및 부착된 RF 안테나 커플러의 x-위치를 지시하는 지시자들을 더 포함할 수 있다.
또 다른 실시예는 무선 디바이스의 RF 시험을 수행하기 위한 시험 치구를 제공한다. 시험 치구는 무선 디바이스의 일부를 지지하도록 동작 가능한 베이스 플레이트를 포함할 수 있고, 복수의 가이드들 사이에 수평면의 x-방향 및 y-방향으로 무선 디바이스를 고정하기 위해 복수의 가이드들이 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결될 수 있다. 시험 치구는 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결된 수직 가이드들을 포함할 수 있다. 시험 치구는 수평 가이드를 수직면의 y-방향으로 배치하기 위해 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 연결된 수평 가이드를 포함할 수 있고, 수평 가이드는 슬롯을 포함할 수 있다. 시험 치구는 RF 안테나 커플러를 고정하도록 동작 가능한 백 플레이트를 포함할 수 있고, 백 플레이트는 백 플레이트를 수직면의 x-방향으로 배치하기 위해 슬롯을 따라서 수평 가이드에 접동 가능하게 연결될 수 있고, 시험 치구는 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 시험 치구 및 무선 디바이스의 컴포넌트들의 위치들을 지시하기 위한 지시자들을 포함할 수 있다.
시험 치구는 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분을 고정하도록 동작 가능한 하나 이상의 수직 서포트를 더 포함할 수 있고, 수직 가이드들은 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결될 수 있고, 수평 가이드는 수직 가이드들 사이에 회동 가능하게 연결될 수 있다.
복수의 가이드들은 무선 디바이스를 고정하기 위한 몰드로 대체 가능할 수 있고, 몰드는 베이스 플레이트에 연결될 수 있다.
시험 치구는 RF 안테나 커플러와 통신하는 시험 기구를 포함할 수 있다. 시험 치구는 시험 기구와 통신하는 논리를 포함할 수 있다. 시험 치구는 논리와 통신하는 하나 이상의 모터를 포함할 수 있고, 모터는 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 최적의 위치를 결정하기 위해 논리에 의해 분석되고 시험 기구에 의해 수행되는 측정들에 응답하여 RF 시험 중에 측정되는 RF 특성을 측정하기 위한 최적의 위치에 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 백 플레이트에 연결될 수 있다.
시험 치구는 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분을 고정하도록 동작 가능한 하나 이상의 수직 서포트를 더 포함할 수 있고, 수직 가이드들은 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결될 수 있고, 수평 가이드는 수직 가이드들 사이에 회동 가능하게 연결될 수 있다.
복수의 가이드들은 무선 디바이스를 고정하기 위한 몰드로 대체 가능할 수 있고, 몰드는 베이스 플레이트에 연결될 수 있다.
시험 치구는 RF 안테나 커플러와 통신하는 시험 기구를 포함할 수 있다. 시험 치구는 시험 기구와 통신하는 논리를 포함할 수 있다. 시험 치구는 논리와 통신하는 하나 이상의 모터를 포함할 수 있고, 모터는 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 최적의 위치를 결정하기 위해 논리에 의해 분석되고 시험 기구에 의해 수행되는 측정들에 응답하여 RF 시험 중에 측정되는 RF 특성을 측정하기 위한 최적의 위치에 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 백 플레이트에 연결될 수 있다.
본 발명의 예시적인 실시예들이, 여기에 참고로 통합되어 있는 첨부된 도면들을 참조하여 아래에 상세히 설명된다.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 2는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다.
도 3은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 4는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다.
도 5는 예시적인 실시예에 따른 방사상 가이드를 도시한 것이다.
도 6은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 7은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 밑에서 보고 도시한 것이다.
도 8은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 이용하여 RF 시험을 수행하기 위한 프로세스의 흐름도이다.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 2는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다.
도 3은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 4는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다.
도 5는 예시적인 실시예에 따른 방사상 가이드를 도시한 것이다.
도 6은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다.
도 7은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 밑에서 보고 도시한 것이다.
도 8은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 이용하여 RF 시험을 수행하기 위한 프로세스의 흐름도이다.
예시적인 실시예들은 무선 디바이스의 RF 시험을 수행하기 위한 시험 치구 및 방법을 제공한다. 무선 디바이스는 무선 통신을 위해 구성된 임의의 디바이스 또는 장치이다. 무선 디바이스들은 휴대폰, PDA, 블랙베리(BlackBerry®) 디바이스, 통신이 가능한 MP3 플레이어, EVDO 카드, 무선 카드, 넷북, 랩톱, 태블릿, 전자책 리더, GPS(global positioning system), 또는 무선 통신을 위해 구성된 다른 컴퓨팅 또는 통신 디바이스를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 무선 통신을 송수신하기 위한 무선 디바이스의 RF 특성들 및 성능을 시험하고 측정하는 동안에 무선 디바이스를 고정하기 위해 시험 치구가 이용될 수 있다. 이 시험 치구는 시험을 위한 허용되는 RF 특성들을 달성하기 위해 무선 디바이스 및 하나 이상의 RF 안테나 커플러들을 이상적인 또는 최적의 상대적 위치들에 배치할 수 있다. 허용되는 RF 특성들은 시험 파라미터, 요건, 무선 디바이스, 및 시험 시스템에 기초하여 무선 디바이스에 대하여 수동으로 또는 자동으로 결정되는 최적의 측정치들이다. 예를 들면, 허용되는 RF 특성들은 최선의 이용 가능한 정보에 기초하여 시험 기사에 의해 선택될 수 있다. 가장 빈번하게 시험되는 RF 특성들은 송신기, 변조, 스펙트럼, 및 수신기 측정치들을 포함할 수 있다. 송신기 측정치들은 무선 디바이스의 RF 출력 전력을 평가할 수 있고, 이것들은 최대 출력 송신 전력 및 최소 출력 전력을 포함할 수 있다. 변조 측정치들은 실제 변조 벡터와 이상적인 기준 벡터를 비교할 수 있고, 이것들은 오류 벡터 크기, 위상 오류, 주파수 오류, 크기 오류, 및 파형 품질을 포함할 수 있다. 스펙트럼 측정치들은 반송파 주파수 밖에 있는 에너지의 양을 측정할 수 있고, 이것들은 인접 채널 전력 및 인접 채널 누설 전력비를 포함할 수 있다. 수신기 측정치들은 RF 시험 기구에 의해 보내진 출력 신호와 무선 디바이스에 의해 수신된 신호를 비교할 수 있고, 이것들은 비트 오류율, 프레임 소거율, 및 블록 오류율을 포함할 수 있다.
무선 디바이스들은 W-CDMA(wideband code division multiple access), CDMA, GSM(global system for mobile communications), GPRS(general packet radio service), EGPRS(enhanced GPRS), HSDPA(high-speed downlink packet access), EVDO(evolution-data optimized), 와이파이(WiFi), 블루투스(Bluetooth), GPS, 와이맥스(WiMAX), PCS(personal communications service), 아날로그, 및 무선 LAN을 포함하여 임의의 수의 무선 통신 표준, 프로토콜, 또는 포맷들을 관련 하드웨어, 소프트웨어, 및 펌웨어와 함께 이용할 수 있다.
특히, 이 시험 치구는 상이한 모델 유형들이 반복 가능하게 시험되게 할 수 있다. 예를 들면, 이 시험 치구는 특정한 모델의 50개 휴대폰들의 세트를 시험하도록 구성될 수 있다. 이 시험 치구가 처음에 구성된 후에, 그 동일한 모델, 구성, 또는 사이즈 또는 형상의 다수의 무선 디바이스들("유사 디바이스들")이 이 시험 치구를 이용하여 시험될 수 있다. 이 시험 치구는 나중에 이 시험 치구를 재구성하기 위해 시험 중에 이용되는 각각의 컴포넌트들의 배치를 지시할 수 있다. 이 시험 치구는 사용자가 무선 디바이스의 RF 특성들을 시험하기 위해 무선 디바이스의 통신 요소들에 관하여 RF 안테나 커플러를 배치하게 할 수 있다. 예를 들어, 랩톱의 RF 시험은 RF 안테나 커플러에 의해 측정되는 최적의 무선 송신 특성들을 보증하기 위해 덮개(lid)가 특정한 각도로 배치될 것을 요구할 수 있다. 결과로서, 무선 디바이스들의 다수의 시험이 다수의 무선 디바이스들에 대해 효율적으로 일관되게 높은 정확도로 수행될 수 있어 비용, 시간, 및 어려움을 감소시킨다.
이 시험 치구는 무선 디바이스의 RF 특성들을 시험하는 정부 단체, SSO, 회사, 연구 및 개발 그룹, 산업 규제자 등에 의해 이용될 수 있다. 이 시험 치구는 임의의 특수한 도구 또는 값비싼 훈련 없이 구성될 수 있다. 예를 들면, 시험 치구의 컴포넌트들을 배치하고 고정하기 위해 나일론 멈춤 나사(nylon set screw)가 이용될 수 있다. 이 시험 치구는 다수의 무선 디바이스들을 위해 이용될 수 있는 범용의 시험 스탠드, 플랫폼, 또는 치구를 제공하여, 각각의 무선 디바이스를 시험하기 위해 요구될 수 있는 장비 및 실험실 비용을 감소시킨다. 이 시험 치구는 다수의 관계자들(OEM, 서비스 제공자, 정부 단체)에 의해 무선 디바이스에 대한 시험이 반복되게 할 수 있다. 특히, RF 시험을 일관되게 재현할 수 있는 것은 적합성 실패 또는 통신 실패와 같은 중요한 조사 결과(findings)가 측정되거나 시험될 때 중요할 수 있다. RF 시험은 무선 디바이스로 및 그로부터의 통신을 포함할 수 있다.
도 1은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다. 도 1은 시험 치구(100)의 일 실시예를 예시한다. 이 시험 치구(100)는 사용자가 무선 디바이스에 대한 RF 시험 및 RF 특성 분석을 수행할 수 있게 하도록 구성된 스탠드, 플랫폼, 또는 도구이다. RF 시험은 송신 강도, 무선 디바이스의 안테나 감도, 신호 품질, 및 기타 유사한 측정치들을 측정하는 것을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 시험 치구(100)는 베이스 플레이트(102), 좌측 가이드(104), 전방 가이드(106), 우측 가이드(108), 멈춤 나사들(110), 수직 격자 눈금선들(112), 수평 격자 눈금선들(114), y-지시자들(116), x-지시자들(118), 수직 서포트(120), 스톱(122), 수직 가이드들(124), 홈들(126), 수평 가이드(128), 슬롯(130), 백 플레이트(132), RF 안테나 커플러(134), x-지시자들(136), 및 y-지시자들(138)("컴포넌트들")을 포함할 수 있다.
구체적으로 설명되지는 않았지만, 시험 치구(100)는 RF 격리 챔버, 룸, 또는 박스에 설치되거나 놓일 수 있다. RF 격리 박스는 불필요한 간섭을 막고 RF 시험의 정확성을 보증하기 위해 무선 주파수 신호가 무선 디바이스, 시험 치구(100), 및 RF 안테나 커플러(134)에 도달하지 못하게 한다. 다른 실시예에서, 시험 치구(100)는 RF 시험을 수행하기 위해 격리되거나 차폐된 룸에서 이용될 수 있다. 무선 디바이스 또는 RF 안테나 커플러(134)는 신호 생성기, 기록 디바이스, 논리 요소, 및 신호 분석기를 포함할 수 있는 시험 세트, 시스템, 디바이스(들), 기구, 또는 다른 시험 장비("시험 기구")에 연결될 수 있다. 일례에서, 시험 기구는 로데 슈바르츠(Rohde & Schwarz) CMU200, 애질런트(Agilent) 8960, 또는 다른 유사한 시험 기구일 수 있다. 적절한 또는 선택된 삽입 손실을 갖는 RF 케이블(도시되지 않음)이 시험 기구를 무선 디바이스의 RF 포트에 연결할 수 있다. 다른 실시예에서는, RF 케이블이 시험 기구와, 시험 치구(100)를 수용하는 RF 차폐 챔버 사이에 연결될 수 있다. 예를 들면, RF 케이블은 RF 안테나 커플러(134)에 연결될 수 있다.
송신하기 위한 시험 기구의 RF 전력 레벨, 송신하기 위한 시험 기구의 최대 송신 외부 전력 제한, 신호를 수신하기 위한 시험 기구의 RF 전력 레벨, 비트 오류율(BER)/프레임 오류율(FER) 제한, 및 각 대역에 대한 낮은, 중간, 및 높은 채널들을 포함하는 RF 채널들을 포함하여, 무선 디바이스 및/또는 시험 기구의 다양한 파라미터들은 적용 가능한 무선 표준 및 수행되는 시험에 따라서 변할 수 있다.
베이스 플레이트(102)는 무선 디바이스의 일부를 지지하거나 유지하기 위한 지지 구조물 또는 프레임워크이다. 예를 들면, 베이스 플레이트(102)는 무선 디바이스의 하부 또는 키보드를 지지할 수 있다. 베이스 플레이트(102)는 격자형, 벌집형, 서양 장기판형, 또는 다른 구조일 수 있다. 사용자는 또한 무선 디바이스의 구성 및 시험 요건에 기초하여 무선 디바이스를 베이스 플레이트(102) 상에 아래로 향하여 배치할 수 있다. 예를 들면, 무선 디바이스의 키보드가 베이스 플레이트(102) 상에 배치될 수 있다. 예시적인 실시예들에서, 시험 치구(100)는 정확한 RF 시험 결과를 제공하기 위해 완전히 비도전성 또는 비금속 요소들로 구성된다. 시험 치구(100)의 컴포넌트들 중 임의의 컴포넌트 내의 금속은 무선 디바이스 또는 RF 안테나 커플러(134)에 의해 생성된 RF 신호를 불리하게 반사 또는 흡수하여, 시험의 결과에 영향을 미칠 수 있다. 베이스 플레이트(102) 및 시험 치구(100)는 큰 랩톱, 복잡한 형상의 GPS 디바이스, 및 가장 작은 휴대폰을 수용하는 임의의 사이즈를 가질 수 있다.
시험 치구(100)를 구성하거나 그것에 부착되는 컴포넌트들은 하나의 재료 또는 다수의 재료로부터 몰딩, 제조, 또는 생성될 수 있다. 예를 들면, 시험 치구(100)는 완전히 플라스틱, 복합 재료, 나무, 고무, 나일론, 또는 시험 치구(100) 상에 배치된 무선 디바이스에 대해 수행되는 시험을 최대화하거나 강화하는 임의의 수의 재료로 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 시험 치구는 아세탈(듀퐁에 의해 제조된 델린(Delrin), 호모폴리머 아세탈 등), 열가소성 물질로 형성된다. 아세탈 및 기타 유사한 열가소성 물질들은 전자기 에너지를 흡수하여 RF 시험의 유효성을 최대화하는 능력을 갖는다. 일 실시예에서, 멈춤 나사들(110)은 나일론으로 만들어진다. 시험 치구(100) 및 컴포넌트들은 컴퓨터 수치 제어(Computer Numerical Control; CNC) 머신을 이용하여 만들어지거나, 개별 부품들로부터 몰딩되거나, 수공구들(hand tools)을 이용하여 맞춤 제작될 수 있다.
일 실시예에서, 무선 디바이스는 베이스 플레이트(102) 상에 배치된다. 좌측 가이드(104), 전방 가이드(106), 및 우측 가이드(108)(또는 이하에서 "가이드들"이라고 함)는 제거 가능할 수 있고 또는 베이스 플레이트(102)에 접동 가능하게 부착될 수 있다. 가이드들은 무선 디바이스를 지지하는 서포트들 또는 스톱들이다. 특히, 가이드들은 무선 디바이스를 고정하고 무선 디바이스가 시험 중에 미끄러지거나 이동하지 못하게 할 수 있다.
가이드들은 무선 디바이스를 시험 치구(100)에 물리적으로 고정할 수 있다. 가이드들은 임의의 수의 형상을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 가이드들은 직사각형 형상이다. 다른 실시예에서, 가이드들은 둥글게 된 에지들을 갖는 평평하게 된 타원 형상이고 무선 디바이스에 접하기 위한 고무 복합 재료로 만들어진다. 가이드들은 또한 무선 디바이스의 코너를 수용하도록 L 형상이거나, 둥글게 되거나, 또는 반원형일 수 있고 또는 다른 독특한 형상들일 수 있다.
다른 실시예에서, 시험 치구(100)는 베이스 플레이트(102) 상에 유사하게 배치될 수 있는 후방 가이드를 포함할 수 있다. 베이스 플레이트(102)는 수평면에 배치되거나 참조될 수 있다. 수평면의 x 및 y 방향은 각각 수평 격자 눈금선들(114) 및 수직 격자 눈금선들(112)뿐만 아니라 x-지시자들(118) 및 y-지시자들(116)에 대응한다. 결과로서, 시험되는 무선 디바이스는, 좌측 가이드(104), 전방 가이드(106) 및 우측 가이드(108)처럼, 수평면의 x 및 y 방향으로 배치될 수 있다.
멈춤 나사들(110)은 베이스 플레이트(102) 및 대응하는 시험 치구(100)로부터 가이드들을 완전히 제거하기 위하여 가이드들에 의해 정의된 구멍들 또는 슬롯들을 관통할 수 있다. 다른 실시예에서, 멈춤 나사들(110)은 (가이드들의 연결을 완전히 풀지 않고) 단지 느슨하게 되어, 가이드들이 베이스 플레이트 상에서 이동되거나 배치되게 할 수 있다. 일 실시예에서, 가이드들은 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)을 따라서 이동되어 무선 디바이스와 둘 이상의 측면에서 접하거나 그것을 지지하여 두 방향으로의 움직임을 막을 수 있다. 예를 들면, 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)은 가이드들을 커넥터들을 이용하여 베이스 플레이트에 부착하기 위해 이용되는 수직 및 수평 홈들, 레일들, 관통 구멍들, 마킹들, 또는 돌출부들일 수 있다. 예를 들면, 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)은 가이드들을 제자리에 고정하기 위해 멈춤 나사들(110) 또는 다른 커넥터들을 수용하는 사이즈로 만들어질 수 있다. 대안적으로, 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)은 완전히 외장용(cosmetic)일 수 있다.
일 실시예에서, 가이드들은 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114) 내에서 접동 가능하게 이동하도록 아래에 구성된 피팅된 익스텐션들(fitted extensions)을 포함할 수 있다. 멈춤 나사들(110)은 특정한 예이지만, 요소들을 시험 치구(100)에 고착시키기 위해 이용될 수 있는 임의의 수의 부착 디바이스들 또는 커넥터들을 대표한다. 일 실시예에서, 멈춤 나사들(110)은 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)에 죄어질 수 있는 나일론 나사들이다. 멈춤 나사들(110)은 또한 수직 서포트(120), 수직 가이드들(124), 수평 가이드(128), 및 백 플레이트(132)와 함께 이용될 수 있다.
다른 실시예에서, 멈춤 나사들(110)은 시험 치구(100)의 갖가지 컴포넌트들이 시험을 위해 배치된 후 고정되거나 고착되게 하는 클립, 클램프, 볼트, 나사, 못, 은못, 접착제, 나무못, 벨크로, 또는 다른 부착 요소를 포함할 수 있는 다른 커넥터들로 대체될 수 있다. y-지시자들(116) 및 x-지시자들(118)은 베이스 플레이트(102) 상의 무선 디바이스 및 가이드들의 위치를 지시하는 시각적 지시자들 또는 표지들이다. y-지시자들(116) 및 x-지시자들(118)은 에지들 상에 또는 베이스 플레이트(102) 전체에 걸쳐서 포함될 수 있다. y-지시자들(116) 및 x-지시자들(118)은 베이스 플레이트(102) 상에 또는 하나 이상의 가이드들 상에 기입되거나, 에칭되거나, 새겨지거나, 출력되거나, 또는 다른 방법으로 표시된 정보를 나타낼 수 있다. 다른 실시예들에서, y-지시자들(116) 및 x-지시자들(118)은 디지털 리드아웃(digital read-outs), 스크린, 또는 전자 정보를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, x-지시자들(118)은 숫자일 수 있고 y-지시자들(116)은 문자일 수 있다. x-지시자들(118) 및 y-지시자들(116)은 영어 또는 계량 단위들을 포함할 수 있는 하위 지시자들(sub-indicators) 또는 입도들(levels of granularity)을 제공할 수 있다. 예를 들면, x-지시자들(118)은 베이스 플레이트(102)에 걸쳐서 센티미터들을 나타내는 숫자들일 수 있고 각 센티미터 사이의 밀리미터들을 나타내는 표지들 또는 지시자들을 더 포함할 수 있다. x-지시자들(118)은 베이스 플레이트(102)의 전체에 걸쳐서 더 라벨링될 수 있다. 유사하게, y-지시자들(116)은 추가적인 입도들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 그 문자들은 유사하게 센티미터 또는 다른 더 큰 측정 단위들을 나타낼 수 있고 라인들, 표지들, 또는 문자들 A-1, A-2, A-3, A-4, A-5, A-6, ..., A-N과 같은 지시자들을 포함할 수 있고, 또는 A.1, A.2. A.3, ...A.N은 y-지시자들(116)을 포함하는 각 문자 사이의 밀리미터들을 지시할 수 있다. 결과로서, 시험 치구(100)의 베이스 플레이트(102) 및 표지들 또는 지시자들을 분석하거나 고찰하는 것에 의해, 사용자는 무선 디바이스 또는 컴포넌트들의 정확한 위치를 결정할 수 있다. 시험 치구(100)의 각 컴포넌트 또는 측정 스케일에 대하여 상이한 표지들 또는 지시자 세트들 또는 명칭들(nomenclatures)이 이용될 수 있다.
가이드들 및 무선 디바이스의 위치들을 결정하는 것은 무선 디바이스 모델의 차후의 시험을 위해 시험 치구(100)를 재구성하기 위해 특히 중요할 수 있다. x-지시자들(118) 및 y-지시자들(116)은 컴포넌트들의 정확한 배치를 지시하는 것에 의해 시험이 훨씬 더 간단히 수행되고 반복될 수 있게 한다. 예를 들면, 서비스 제공자는 시험 치구를 사용하여 무선 디바이스를 배치하고, 에어 갭의 사이즈를 정하고, 다른 방법으로 무선 디바이스의 시험을 수행하기 위해 OEM에 의해 설계된 시험 구성을 사용할 수 있다. 유사한 무선 디바이스들에 대한 반복 가능한 구성들과 관련하여 시험 치구(100)의 만능형(universal fit)을 사용하여 논쟁과 잘못된 전달(miscommunication)이 최소화된다.
다른 실시예에서, 가이드들은 가이드들 또는 무선 디바이스의 정확한 위치 또는 로케이션을 표시하거나 다른 방법으로 지시하는 디지털 또는 아날로그 카운터, 지시자 또는 센서를 포함할 수 있다. 예를 들면, 사용자는 가이드들 각각을 시험 위치로 이동시키기 전에 베이스 플레이트(102) 상의 특정한 또는 디폴트 위치에 배치할 수 있다. 가이드들은 하나 이상의 디폴트(또는 제로) 위치들로부터 시험 위치로의 가이드들의 움직임을 기계적으로 또는 전자적으로 측정할 수 있다. 카운터는 베이스 플레이트(102) 상의 무선 디바이스뿐만 아니라 가이드들 각각의 정확한 위치를 지시하는 정보를 제공할 수 있다. 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114) 내의 새김눈들 또는 홈들은 각각의 가이드가 이동될 때 그 각각의 가이드 상의 카운터를 증가시키거나 감소시킬 수 있다. 유사하게, y-지시자들(116) 및 x-지시자들(118)은 가이드들 각각에 대응하는 위치 또는 로케이션 정보 또는 표시를 증가시키거나 감소시킬 수 있다.
다른 실시예에서, 베이스 플레이트(102)는 무선 디바이스 모델의 차후의 시험을 위해 또는 유사한 사이즈, 형상, 및/또는 구성의 무선 디바이스를 위해 나중에 필요에 따라 컴포넌트들을 재배치하기 위해 컴포넌트들 각각의 정확한 위치를 결정하는 베이스 플레이트(102)의 바닥 부분 내에 또는 바닥 부분 상에 분산 배치된 하나 이상의 센서를 포함할 수 있다. 예를 들면, 가이드들은 정확한 위치를 결정하여 출력하기 위해 베이스 플레이트 내의 전자석 센서 어레이에 의해 측정되거나 감지되는 자석, RFID 칩, 또는 다른 기준 표지를 포함할 수 있다. 시험 기구 또는 외부에 연결된 컴퓨팅 디바이스 또는 논리 요소가 컴포넌트들의 위치들을 기록할 수 있고 시험 치구(100)를 자동으로 또는 수동으로 재구성하기 위해 이용될 수 있다.
추가의 실시예들에서 설명되는 바와 같이, 베이스 플레이트(102)는 무선 디바이스의 RF 특성을 시험하기 위해 RF 안테나 커플러(134)가 고정되게 또는 일시적으로 부착되거나, 설치되거나, 내장될 수 있도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 많은 경우에, 휴대폰들은 무선 디바이스의 맨 아래 왼쪽 부분에 트랜스시버를 갖는다. 그 결과, RF 안테나 커플러(134)는 무선 디바이스의 시험을 수행하기 위해 베이스 플레이트(102) 내에 평평하게 또는 실질적으로 평평하게 설치되거나 삽입될 수 있다. 예를 들면, RF 안테나 커플러(134)의 위치는 베이스 플레이트(102)의 오른쪽 위 코너에 배치될 때 x-지시자들(118) 및 y-지시자들(116)의 10-G에 대응할 수 있다. RF 안테나 커플러(134)는 무선 디바이스의 RF 특성, 성능, 및 측정치를 측정하기 위해 유선 또는 무선 연결을 통하여 하나 이상의 시험 디바이스, 시스템, 장비, 또는 다른 요소들에 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 베이스 플레이트(102)는 무선 디바이스의 시험을 수행하기 위하여 RF 안테나 커플러(134) 및 상호 연결된 와이어들 또는 케이블들이 위 또는 아래로부터 설치될 수 있게 하는 하나 이상의 제거 가능한 섹션들 또는 녹 아웃들(knock outs)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 베이스 플레이트(102)는 베이스 플레이트(102)의 4분면들 각각에 부착 가능한 섹션들은 물론 베이스 플레이트(102)의 중간에 또는 에지들을 따라 제거 가능한 섹션들을 포함할 수 있다. 이 제거 가능한 부분들 또는 섹션들은 스너그 핏(snug fit)을 보증하기 위해 RF 안테나 커플러(134)의 사이즈 및 형상에 기초하여 베이스 플레이트(102)에 부착되거나 그로부터 제거될 수 있고, 또는 멈춤 나사(110)를 사용하여 또는 탭, 클립, 접착제, 자물쇠, 벨크로, 바이어싱된 요소(biased elements), 및 클램프 등의 다른 유사한 부착 메커니즘을 사용하여 부착될 수 있다. 그 결과, RF 안테나 커플러(134)는 베이스 플레이트(102)의 중간에 설치될 수 있고 수평 가이드(128), 수직 가이드들(124), 및 백 플레이트(132)를 사용하지 않고 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위해 가이드들이 이동된다.
일 실시예에서, 우측 가이드(108)는 영구히 고정된 가이드로서 베이스 플레이트(102)에 고정 가능하게 부착된다. 대안적으로, 우측 가이드(108)는 무선 디바이스에 접하여 그것을 고정하도록 베이스 플레이트(102) 상에 유사하게 이동되거나 배치될 수 있다. 우측 가이드(108)는 또한 수직 가이드들(124)이 시험되는 무선 디바이스에 기초하여 베이스 플레이트(102)의 길이를 이리저리 접동 가능하게 이동될 수 있게 하도록 구성되거나 충분히 좁을 수 있다. 일 실시예에서, 가이드들은 다양한 유형의 무선 디바이스들을 고정하기 위해 교환 가능하고 다양한 사이즈를 가질 수 있다. 예를 들면, 거의 모든 사이즈의 무선 디바이스를 수용하도록 가이드들 중 3개는 더 길고 네 번째 가이드는 더 짧을 수 있다. 가이드들의 립(lip)은 가이드의 일부가 무선 디바이스의 에지 부분 위 또는 아래에 배치되게 할 수 있다. 립은 (위로부터 설치될 때) 안정성을 위해 또는 무선 디바이스를 가이드들 또는 몰드 내에 넣을 때 시험을 위해 적당한 에어 갭(5mm 등)을 보증하기 위해 이용될 수 있다.
일 실시예에서, 수직 서포트(120)는 우측 가이드(108) 또는 베이스 플레이트(102)에 부착될 수 있다. 수직 서포트(120)는 수평면으로부터 z 방향으로(수직으로 또는 어떤 각도로) 연장하는 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분을 고정하거나 지지하도록 구성된 가이드이다. 수직 서포트(120)는 무선 디바이스의 덮개, 스크린, 안테나, 또는 다른 수직의 연장하는 또는 힌지된(고정된 또는 이동 가능한) 컴포넌트를 정확히 배치하기 위해 우측 가이드(108)에 고정될 수 있다. 예를 들면, 일부 경우에, 넷북은 LCD 스크린의 주변 내에 또는 주위에 내장되는 안테나를 포함할 수 있다. 그 결과, LCD 스크린은 베이스 플레이트(102)에 대해 90도가 아닐 수 있는 각도로 스크린을 시험하기 위해 고정되게 배치될 필요가 있을 수 있다. 예를 들면, 일부 경우에 최적의 RF 시험 위치는, 스크린이 약간 기울어지는 것을 요구하는, 80도 각도일 수 있다. 수직 서포트(120) 및 대응하는 스톱(122)은 무선 디바이스의 덮개, 스크린, 안테나, 또는 다른 수직으로 연장하는 컴포넌트를 배치하기 위한 스톱을 제공한다. 수직 서포트(120)는 무선 디바이스를 정확히 배치하기 위한 추가적인 기준점을 제공한다. 예를 들면, LCD 스크린은 최선의 RF 시험 측정치를 얻기 위해 80도 각도로 배치될 필요가 있을 수 있다. 일부 경우에, 시험 결과를 최적화하기 위해 GPS 유닛 등의 무선 디바이스들이 한쪽 단부에 의지하여 세워질 수 있다. 가이드들 및 수직 서포트는 당연히 불안정한 위치의 GPS 유닛을 시험 중에 안정시키고 고정할 수 있다.
일 실시예에서, 스톱(122)은 멈춤 나사들(110) 중 하나이다. 다른 실시예에서, 스톱(122)은 스크린의 긁힘 또는 다른 손상을 방지하기 위해 사용되는 패딩된 은못(padded dowel)일 수 있다. 대안적으로 스톱(122)은 무선 디바이스의 덮개 또는 스크린을 고정하기 위해 수직 서포트(120)를 통과하는 클립일 수 있다. 수직 서포트(120)는 우측 가이드(108)의 영구적인 부분일 수 있고 또는 필요에 따라 유사하게 부착될 수 있다. 다른 실시예에서, 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분 또는 다른 구조물을 지지하기 위해 또는 무선 디바이스의 스크린 배치가 다수의 시험에 걸쳐 일관되는 것을 보증하기 위해 좌측 가이드(104) 상에 또는 직접 베이스 플레이트(102) 상에 다른 수직 서포트들이 배치될 수 있다.
수직 가이드들(124), 수평 가이드(128) 및 백 플레이트(132)는 RF 안테나 커플러(134)를 배치하는 방법을 제공한다. 수직 가이드들(124)은 RF 안테나 커플러(134)를 배치하기 위해 사용되는 익스텐션들이다. 수직 가이드들(124)은 베이스 플레이트(102)의 수평면에 수직인 수직면 또는 그 수평면의 z 방향을 나타낸다. 백 플레이트(132)는 RF 시험을 위해 RF 안테나 커플러(134)를 시험 치구(100)의 수평 가이드(128) 또는 다른 컴포넌트에 연결하기 위한 커넥터이다. 백 플레이트(132)는 RF 안테나 커플러(134)에 부착될 때 무선 디바이스의 RF 특성을 시험하기 위해 무선 디바이스의 안테나 또는 통신 컴포넌트의 옆에 최적의 위치에 RF 안테나 커플러(134)를 적당히 배치하기 위해 수직면의 x 및 y 방향(뿐만 아니라 다양한 실시예들에서 z 방향)으로 이동될 수 있다.
일 실시예에서, 수직 가이드들(124)은 베이스 플레이트(102)에 고정 가능하게 설치될 수 있다. 다른 실시예에서, 수직 가이드들(124)은 무선 디바이스의 트랜스시버와 RF 안테나 커플러(134) 사이에 적당한 에어 갭이 생기는 것을 보증하기 위해 수평면의 y 방향을 따라 접동 가능하게 설치될 수 있다. 무선 디바이스와 RF 안테나 커플러(134) 사이의 거리의 약간의 편차조차 RF 특성 및 성능의 측정치에 영향을 미칠 수 있다. 시험 치구(100)는 무선 디바이스와 RF 안테나 커플러(134) 사이의 적당한 에어 갭을 보증하기 위해 특히 유용하다. 수직 가이드들(124), 수평 가이드(128), 백 플레이트(132), 및 RF 안테나 커플러(134)는 RF 안테나 커플러(134)를 무선 디바이스의 RF 특성을 측정하기 위한 시험 위치(test site) 가까이에 가져오는 효과적인 방법을 제공한다.
일 실시예에서 홈들(126)은 수평 가이드들(128)이 수직면의 y 방향으로 올려지고 내려질 수 있게 한다. 도시된 바와 같이, 수평 가이드(128)는 슬롯(130)을 정의하는 단일 요소일 수 있고, 이것은 RF 안테나 커플러(134) 및 상호 연결된 백 플레이트(132)가 슬롯(130)의 길이를 따라 배치될 수 있게 한다. 그 결과, 수평 가이드(128)는 RF 안테나 커플러(134)를 수직으로 배치하기 위해 수직면의 y 방향으로 위아래로 이동될 수 있다. 유사하게, 백 플레이트(132) 및 대응하는 RF 안테나 커플러(134)는 수평 가이드(128)에 접동 가능하게 또는 이동 가능하게 배치되거나 부착될 수 있다. 예를 들면, 수평 가이드(128)는 유사하게 백 플레이트(132) 또는 RF 안테나 커플러(134)가 수평 가이드(128)의 길이를 따라 접동 가능하게 배치될 수 있게 하는 홈들을 포함할 수 있다. 도시된 바와 같이, 수평 가이드(128)는 수평 가이드(128)를 배치하기 위해 홈들(126) 내에 접동 가능하게 맞도록 구성된 돌출하는 에지들을 포함할 수 있다. 백 플레이트(132) 또는 RF 안테나 커플러(134)는 유사하게 슬롯(130)의 홈들에서 이용될 수 있는 돌출부들 또는 몰딩된 에지들을 포함할 수 있다. 수평 가이드(128) 및 백 플레이트(132)는 또한 멈춤 나사들(110) 또는 다른 컴포넌트들을 사용하여 설정 또는 배치될 수 있다.
일 실시예에서, x-지시자들(136)은 알파, 베타, 감마 등을 포함하는 알파벳에 대한 그리스 기호들을 나타낸다. x-지시자들(136)은 유사하게 이전에 논의된 바와 같이 입도들을 포함할 수 있다. y-지시자들(138)은 로마 숫자들에 대응할 수 있다. y-지시자들(138)은 수평 가이드들(124) 상에 기입되거나, 새겨지거나, 몰딩되거나, 에칭되거나, 다른 방법으로 표시되어 RF 안테나 커플러(134)가 완전히 수평이거나 원하는 대로 배치되는 것을 보증할 수 있다. 전술한 바와 같이, x-지시자들(136) 및 y-지시자들(138)은 수평 가이드(128), RF 안테나 커플러(134), 또는 백 플레이트(132)의 정확한 위치를 지시하는 LCD 리드아웃 등의 전자 디스플레이를 포함할 수 있다. 지시자들 또는 적용 가능한 표지들은 또한 차후의 시험을 위해 시험 치구(100)를 재구성하기 위해 사용자에 의해 기입되거나 상호 연결된 디바이스에 전자적으로 전달될 수 있다.
일 실시예에서, 수평 가이드(128)는 각각의 단부의 하나의 지점에서 수직 가이드들(124)에 부착 가능할 수 있다. 플라스틱 봉이 수평 가이드(128)를 수직 가이드들(124)에 회동 가능하게(pivotally) 고정할 수 있다. 그 결과, 수평 가이드는 무선 디바이스를 시험하기 위해 회전되거나 회전식으로 설치될 수 있다. 예를 들면, LCD 스크린이 70도 각도로 배치되고 스톱(122)에 기대어 배치되는 시험 중에 수직 가이드들(124)은 전방 가이드(106) 쪽으로 약간 미끄러지게 될 수 있고 수평 가이드(128)는 LCD 스크린의 각도를 흉내내도록 회전되거나 수직 가이드들(124)에 고정 가능하게 부착될 수 있다. 일부 경우에, 무선 디바이스의 안테나 또는 트랜스시버는 LCD 스크린의 어떤 부분에 또는 그 부분을 따라 배치될 수 있고, 따라서 스크린의 각도가 RF 시험에 영향을 줄 수 있다. 일부 경우에, RF 안테나 커플러(134)가 LCD 스크린의 각도와 일치하는 것을 보증하는 것이 중요할 수 있다.
대안적으로, 시험 효과를 최대화하기 위해 임의의 수의 각도 위치들이 이용될 수 있다. 그 결과, RF 시험은 무선 디바이스의 RF 특성을 최선으로 시험하기 위해 최적의 전송 각도들이 이용되는 것을 보증할 수 있다. 다른 실시예에서, RF 시험은 고정되게 부착된 수직 가이드들을 갖는 수직면 내에서만 일어날 수 있다. 아래에 더 설명되는 바와 같이, RF 안테나 커플러(134), 백 플레이트(132), 또는 수평 가이드(128)의 일부는 수직 가이드들(124)에 회전식으로 또는 회동 가능하게 설치될 수 있다. 또한 단일의 수직 가이드가 백 플레이트(132) 및 RF 안테나 커플러(134)를 배치하기 위해 수평 가이드(128)를 T 또는 교차 형상(또는 다른 구성)으로 고정할 수 있다.
도 2는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다. 도 2는 또한 수직 가이드들(124)의 뒤로부터 시험 치구(100)를 예시한다. 특히, 도 2는 백 플레이트(132)를 RF 안테나 커플러(134)에 부착하기 위해 사용될 수 있는 설치용 나사들(135) 및 우측 가이드(108)에 및 대안적으로 베이스 플레이트(102)에 연결된 수직 서포트(120)를 예시한다. 설치용 나사들(135)은 멈춤 나사들(110) 또는 다른 유사한 커넥터들의 보다 작은 구현일 수 있다.
도 2는 또한 어떻게 멈춤 나사들(110)이 백 플레이트(132)를 수평 가이드(128)에 연결하기 위해 사용될 수 있는지를 예시한다. 수평 가이드(128)는 백 플레이트(132)를 수평 가이드(128)에 부착하기 위해 알려진 거리만큼 분리된 임의의 수의 관통 구멍들 또는 포트들을 포함할 수 있다. 알려진 바와 같이, 슬롯(130)의 사이즈는 RF 안테나 커플러(134)의 폭에 대응할 수 있다. 슬롯(130)의 사이즈 및 수평 가이드(128)의 구성은 RF 안테나 커플러(134)의 수평 또는 수직 배치에 기초하여 변할 수 있다. 예를 들면, 수평 가이드(128)를 구성하는 아암들(arms)은 RF 안테나 커플러(134)를 수평으로보다는 수직으로 배치하기 위해 더 분리될 수 있다.
다른 실시예들에서, 수평 가이드(128)는 백 플레이트(132) 및 RF 안테나 커플러(134)를 고정 가능하게 부착하기 위한 단일 컴포넌트(슬롯(130)이 없는)일 수 있다. 대안적으로, 수평 가이드(128)의 아암들은 RF 안테나 커플러(134)의 사이즈 또는 배치에 대응하여 슬롯(130) 사이즈가 증가되거나 감소될 수 있게 하는 개별 요소들일 수 있다. 도 2는 또한 무선 디바이스를 배치하기 위해 덮개 또는 스크린의 하나 이상의 측면들에서 사용될 수 있는 스톱(122)을 예시한다. 도 1 및 2에 도시된 바와 같이 가이드들뿐만 아니라 백 플레이트(132)는 상이한 요소들을 시험 치구(100)에 고정하기 위하여 멈춤 나사들(110)이 통과하는 슬롯 또는 구멍을 포함할 수 있다. 슬롯들은 가이드들 및 백 플레이트(132)가 배치되고 고정될 수 있게 하는 추가적인 여유(leeway)를 제공할 수 있다. 슬롯들은 수직 격자 눈금선들(112) 및 수평 격자 눈금선들(114)과 잘 정렬되지 않을 수 있는 이상한 형상의 무선 디바이스들에 특히 유용하여 시험 치구(100)에 추가된 적응성을 제공할 수 있다.
도 3은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다. 도 3은 시험 치구(300)의 대안적인 실시예를 예시한다. 시험 치구(300)는 다양한 구성의 시험이 전혀 다른 유형의 무선 디바이스들에 대해 수행되게 할 수 있는 다양한 요소들 및 컴포넌트들을 포함할 수 있다. 시험 치구(300)는 도 1의 시험 치구(100)의 컴포넌트들 중 다수를 묘사한다. 그 참조들은 도 3의 시험 치구(300)에 관하여 유사하게 사용된다.
또한, 시험 치구(300)는 방사상 가이드들(136), 방사상 스톱들(137), 몰드(139), 수평 가이드들(140 및 142), 및 슬롯들(144)을 포함할 수 있다. 방사상 가이드들(136)은 수평 가이드(128)를 회전식으로 또는 회동 가능하게 지지하기 위한 지지 부재이다. 도시된 바와 같이, 방사상 가이드들(136)은 수직 가이드들(124)에 접동 가능하게 설치될 수 있다. 멈춤 나사들(110)은 유사하게 방사상 가이드들(136)이 수직면의 y 방향으로 배치될 수 있게 한다. y-지시자들(138)은 시험 중에 수평 가이드(128)가 수평이 되는 것을 보증하기 위해 방사상 가이드(136)의 정확한 배치를 지시할 수 있다. 전술한 바와 같이, 홈들(126)은 방사상 가이드들(136)이 접동 가능하게 배치될 수 있게 한다.
다른 실시예들에서, 홈들(126)은 벨트, 베어링, 래더(ladders), 핀 등과 같은 다른 고정 또는 이동 메커니즘들로 대체될 수 있다. 수평 가이드(128)는 어느 한쪽 단부에서 수평 가이드(128)에 연결될 수 있는 또는 수평 가이드(128)를 관통할 수 있는 익스텐션, 은못, 봉 또는 다른 요소들을 사용하여 방사상 가이드들(136)에 고정될 수 있다. 방사상 가이드들(136)에 관하여 수평 가이드(128)를 회전식으로 배치하기 위해 임의의 수의 패스너 또는 고정 메커니즘 또는 피처(features)가 사용될 수 있다. 방사상 스톱들(137)은 수평 가이드(128)를 고정된 위치 또는 각도 변위에 고정하는 스톱 또는 위치 요소이다. 예를 들면, 방사상 스톱들(137)은 사용자가 수평 가이드(128)를 이동시키고, 그 후 제자리에 고정하기 위해 방사상 스톱들(137)을 누르고 놓아주는 것에 의해 수평 가이드(128)를 각을 이루어 배치할 수 있게 하는 바이어싱된 핀들을 나타낼 수 있다. 방사상 스톱들(137)은 대안적으로 수평 가이드(128)를 제자리에 고정하기 위해 멈춤 나사들(110) 또는 다른 커넥터들이 배치될 수 있는 포트들 또는 구멍들일 수 있다.
그 결과, 수평 가이드(128) 및 대응하는 RF 안테나 커플러(134) 및 백 플레이트(132)는 무선 디바이스 유형들에 걸쳐 RF 시험을 최적화하기 위해 각을 이루어 배치될 수 있다. 회동 가능하게 설치된 수평 가이드(128)는 안테나, RF 트랜스시버, 또는 다른 통신 요소를 통합하는 덮개, 플립업(flip-up) 스크린, 안테나 또는 다른 수직으로 연장하는 부분을 포함할 수 있는 랩톱, 노트북, 또는 다른 요소들을 시험할 때 특히 유용할 수 있다. 수평 가이드(128)의 각도를 조절하는 것은 시험 기구와 관련된 RF 안테나 커플러(134)와 시험되는 무선 디바이스 사이의 상대 거리(즉, 에어 갭), 각도, 및 방위를 감소시키거나 증가시킬 수 있다. 수평 가이드(128)는 측정되거나 시험되는 RF 특성을 최적화하도록 배치될 수 있다.
일 실시예에서, 수직 가이드들(124)은 베이스 플레이트(102)의 외부 에지에 접동 가능하게 설치될 수 있다(수평면의 y 방향으로의 움직임). 그 결과, 수직 가이드들(124) 및 그에 대응하여 RF 안테나 커플러(134)는 수평면의 x, y 및 z 축에서 베이스 플레이트(102)의 길이를 따라 어디에나 배치될 수 있다. 또한, 그러한 구성은 가이드들을 재배치하거나 시험 치구(300)를 분해하는 일 없이 수직 가이드들(124)이 좌측 가이드(104) 또는 우측 가이드(108)를 넘어 이동되게 할 수 있다. 무선 디바이스의 위, 아래, 인접하거나, 근접한 다수의 위치들에서 RF 특성들을 측정하기 위해 설명된 실시예들의 조합이 이용될 수 있다.
수평 가이드들(140 및 142)은 수평 가이드(128)와 유사할 수 있다. 예를 들면 각각은 슬롯을 정의하고 x 및 y 지시자들을 포함할 수 있을 뿐만 아니라 수평 가이드들(140 및 142)을 고정하기 위해 멈춤 나사들(110)이 배치되거나 조여질 수 있는 관통 구멍들, 포트들, 또는 슬롯들을 포함할 수 있다. 무선 디바이스를 시험하기 위해 수평 가이드들(140 및 142) 및 백 플레이트들과 관련하여 임의의 수의 RF 커플러, 트랜스시버, 안테나, 또는 통신 요소들이 이용될 수 있다. 수평 가이드들(140 및 142)은 다수의 RF 안테나 커플러들이, 무선 디바이스의 상이한 위치들에 배치될 수 있는 송신기, 수신기, 또는 안테나 등의 무선 디바이스의 통신 요소들을 동시에 시험하게 할 수 있다. 예를 들면, GPS 디바이스는 GPS 트랜스시버뿐만 아니라 블루투스, 셀룰러, 및 AM/FM 트랜스시버를 포함할 수 있고, 이들 각각은 RF 특성 및 무선 적합성을 결정하기 위해 시험될 수 있다.
일 실시예에서, 수평 가이드들(140 및 142)은 수평 가이드들(140 및 142)이 서로 더 가깝게 배치될 수 있게 하는 보다 좁은 아암들을 포함한다. 수평 가이드들(140, 142 및 128)에 의해 정의된 슬롯들은 시험을 위해 사용되는 RF 안테나 커플러(134)의 사이즈 및 시험을 위해 요구되는 또는 시험 직원 또는 디바이스들에 의해 결정되는 RF 안테나 커플러(134)의 배치에 대응할 수 있다.
일 실시예에서, RF 안테나 커플러들은 도 1의 백 플레이트(132) 등의 하나 이상의 백 플레이트들을 사용하여 수평 가이드들(140 및 142)에 설치된다. RF 안테나 커플러들과 인터페이스하는 와이어들 또는 케이블들은 수평 가이드들(140 및 142)의 아래 및 베이스 플레이트(102)의 위를 지나서 상호 연결된 시험 기구의 한 위치로 연장할 수 있다. 수평 가이드들(140 및 142)은 무선 디바이스를 시험하기 위한 최적의 위치에 대응하도록 좌측 가이드(104) 및 우측 가이드(108)의 길이들을 따라서 이동되거나 배치될 수 있다. 수평 가이드들(140 및 142)은 그 후 멈춤 나사들(110)을 사용하여 또는 여기에 설명되었거나 이 기술 분야에 공지된 다른 방법들, 디바이스들 또는 요소들을 사용하여 고정될 수 있다. 슬롯들(144)은 가이드들, 수평 가이드들(140 및 142), 및 몰드(139)를 각자의 컴포넌트들에 연결하기 위한 추가적인 여유를 제공할 수 있다.
몰드(139)는 무선 디바이스의 특정 모델을 수용하도록 구성된 지지 요소이다. 몰드(139)는 시험 중에 무선 디바이스가 안전하고 안정되게 넣어질 수 있게 한다. 예를 들면, 몰드(139)는 RF 시험을 수행하기 위해 블랙베리의 특정 모델을 수용하도록 사이즈가 정해질 수 있다. 몰드(139)는 무선 디바이스 전체를 지지할 수 있다. 예를 들면, 몰드 상의 하부 립(bottom lip)은 시험을 위한 무선 디바이스가 위로 향하여 놓일 경우 그 무선 디바이스의 하부 에지에 접할 수 있고 무선 디바이스가 아래로 향하여 놓일 경우 그 무선 디바이스의 상부 에지에 접할 수 있다. 몰드(139)는 유사하게 아세탈로 구성될 수 있다. 몰드(139)의 형상은 무선 디바이스의 외부 치수에 의해 결정될 수 있다. 몰드(139)의 방위는 무선 디바이스의 내부 또는 외부 및 최적의 위치의 배치에 의해 결정될 수 있다. 몰드(139)는 여기에 설명된 무선 디바이스들 중 임의의 무선 디바이스를 지지하도록 사이즈가 정해지고 구성될 수 있다.
수평 가이드들(140 및 142) 및 그들 각각의 아암들 또는 서포트들은 무선 디바이스가 몰드(139)에 놓일 때 그 무선 디바이스를 지지할 수 있다. 일 실시예에서, 수평 가이드들(140 및 142)은 필요한 RF 안테나 커플러의 사이즈에 맞추어 조절될 수 있는 분리 가능한 아암들을 포함한다. 몰드(139) 및/또는 가이드들은 바람직하게는 시험 중에 무선 디바이스가 안전하게 또는 편안하게 유지되도록 사이즈가 정해진다. 몰드(139)는 확인 또는 검증을 위해 RF 시험의 반복성 및 차후의 재현을 위해 시험 중에 각각의 무선 디바이스가 균일하게 고정되는(위치 및 로케이션) 것을 보증한다. 일 실시예에서, 시험 치구(300)에 고정된 몰드(139)의 정확한 위치 및 로케이션은 기록되고 차후에 OEM 및 서비스 제공자 양자에 의해 RF 시험 결과들을 확인하는 데 사용될 수 있다. 예를 들면, RF 시험 중에 서비스 제공자에 의해 결정된 실패는 몰드(139) 및 시험 치구 상의 몰드(139)의 정확한 위치의 표시들을 사용하는 OEM에 의해 반복될 수 있다. 그 결과, 각 관계자는 협력을 촉진하기 위해 시험 위치들 및 결과들을 정확히 복제하고, 문제가 발생할 때 오류를 결정하기 위한 논거(venues)를 제공할 수 있다. 그 결과 다수의 관계자들에 의해 시간과 노력이 절감되고 다수의 디바이스들을 시험하기 위해 단일 시험 치구가 사용될 수 있다.
몰드(139)의 에지는 사용자가 시험을 수행한 후에 무선 디바이스를 쉽게 제거할 수 있게 하는 컷아웃(cut-out)을 포함할 수 있다. 또한, 시험 후에 무선 디바이스를 제거하기 위해 무선 디바이스 아래의 레버와 같은 다른 팝아웃(pop-out) 메커니즘이 몰드(139)와 통합될 수 있다.
시험 치구(300)는 임의의 수의 몰드들과 호환될 수 있다. 예를 들면, GPS 디바이스를 위한 몰드는 더 넓고 더 직사각형일 수 있는 반면 아이폰과 같은 휴대폰을 위한 몰드들은 길고 좁을 것이다. 전술한 바와 같이, 가이드들 및 특히 좌측 가이드(104) 및 우측 가이드(108)는 무선 디바이스의 시험을 수행하기 위해 요구될 수 있는 수평 가이드들(140 및 142)의 분리를 수용하기에 족할 만큼 길 수 있다. 대안적으로, 사용자의 현재의 시험 요구에 적응하기 위해 다수의 가이드들이 서로의 옆에 배치될 수 있다. 수평 가이드들(140 및 142) 및 몰드(139)는 이전에는 다수의 시험 치구를 요구한 무선 디바이스들에 대한 시험을 수행하는 효과적인 방법을 제공한다. 그 결과, 어느 날 시험 치구(300)가 노트북의 모델을 시험하기 위해 사용될 수 있고 그 후 노트북에 대한 시험이 끝난 몇 시간 후에, 시험 치구(300)는 휴대폰의 특정 모델을 시험하도록 구성될 수 있다.
몰드들뿐만 아니라, 수평 가이드들(140, 142 및 128)을 포함하는 가이드들은 부품들을 혼합하고 매칭시키기 위해 독립적으로 판매되거나 배포될 수 있다. 예를 들면, RF 안테나 커플러(134)의 특정 사이즈를 수용하는 수평 가이드들은, 필요에 따라, 시험 치구(300)와 쉽게 통합되어 사용될 수 있다. 또한, 몰드(139)는 새로이 출시된 무선 디바이스들을 위해 생성되어 수주 또는 수개월이 아니라 수일 내에 전면적인(full-scale) RF 시험이 일어나게 할 수 있다. 몰드(139) 및 수평 가이드들(140 및 142)은 하나 이상의 RF 안테나 커플러와 무선 디바이스 및 대응하는 안테나 또는 통신 요소들 사이에 적당한 에어 갭이 생기는 것을 보증한다. 가이드들뿐만 아니라 몰드(139)의 길이, 폭, 높이, 형상, 및 사이즈는 시험되는 무선 디바이스에 기초하여 변할 수 있다. 예를 들면, 무선 GPS 디바이스는 더 두꺼울 수 있고 RF 시험 중에 GPS를 최선으로 고정하기 위해 더 높은 가이드들을 요구할 수 있다.
그 결과, 적합성 시험은 임의의 수의 무선 디바이스들에 대해 더 간단하고 더 낮은 비용으로 쉽게 수행될 수 있다. 시험 치구(300)는 다수의 무선 디바이스들에 대해 사용될 수 있고 사용자가 시험 치구(300)를 이해하고 그것을 무선 디바이스들을 위해 재구성하는 데 필요한 시간은 최소이다. 베이스 플레이트(102) 상의 x-지시자들(118) 및 y-지시자들(116)뿐만 아니라 수평 가이드들(140, 142 및 128)은 사용자가 후속의 시험을 위해 각 요소의 정확한 로케이션 또는 위치를 결정하게 할 수 있다. 예를 들면, 사용자는 각각의 가이드, 몰드(139), 다수의 RF 안테나 커플러들 및 시험 치구(300)의 다른 컴포넌트들의 배치를 기록하여 일관성 및 반복성을 위해 그 시험 구성 및 배치를 쉽게 재현할 수 있다.
일 실시예에서, 수평 가이드들(140 및 142) 또는 베이스 플레이트(102)에 설치된 RF 안테나 커플러들이 유사한 측정 및 시험을 수행하는 것과 동시에 RF 안테나 커플러(134)가 무선 디바이스의 RF 특성을 측정 및 시험할 수 있도록 수직 가이드들(124)은 앞으로 미끄러지게 될 수 있다. 전술한 바와 같이, 각 요소를 어떤 위치 또는 로케이션에 배치하고 이동시키기 위해 시험 치구(300)의 컴포넌트들 중 임의의 컴포넌트가 전기 또는 기계 요소들에 연결될 수 있다. 예를 들면, 웜 기어(worm gears), 벨트, 모터, 플라스틱 체인, 드라이브 또는 다른 요소들이 각 요소를 무선 디바이스의 시험을 수행하기 위한 최적의 위치로 원격으로 이동시킬 수 있다. 예를 들면, 모듈러 드라이브 및 배치 메커니즘이 시험 치구에 일시적으로 연결되고 그 후 불필요한 간섭을 막기 위해 전면적인 RF 시험 중에 제거될 수 있다. 다른 실시예에서, 드라이브 요소들은 RF 간섭을 막는 재료로 차폐되거나 봉입될 수 있다.
전술한 바와 같이, 자체 구성 모드에서, 시험 치구(300), 무선 디바이스, 및 시험 기구는 무선 디바이스에 및 RF 안테나 커플러(134)에 정보를 송신하고 그들로부터 정보를 수신하기 위한 최적의 위치를 결정하도록 구성될 수 있다. 일부 경우에, 송신 및 수신과 같은, 시험의 상이한 요소들에 대해 상이한 위치들이 사용될 수 있다. 예를 들면, 무선 디바이스는 안테나들을 포함할 수 있고 그들 중 하나는 무선 통신을 송신하기 위해 사용되고 다른 것은 무선 통신을 수신하기 위해 사용된다. 대안적으로, 모든 시험을 수행하기 위해 단일 로케이션이 이용될 수 있다.
시험 치구(300)는 풀 사이즈 랩톱과 가장 작은 휴대폰 모두를 수용하도록 사이즈가 정해지고 구성될 수 있어 제품 라인들, 테스트 배치들(test batches), 디바이스 모델들, 또는 통신 표준들에 걸쳐 시험하기 위해 요구되는 시험 치구들 및 시험 기구들을 최소화한다.
도 4는 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 뒤에서 도시한 것이다. 도 4는 시험 치구(300)의 다른 뷰를 제공하고 시험 치구(300)의 적응성 및 유용성을 이해하기 위한 목적으로 도시되어 있다.
도 5는 예시적인 실시예에 따른 방사상 가이드(145)를 도시한 것이다. 도 5는 도 4에 도시된 방사상 가이드들(136)의 상세한 구현을 예시한다. 방사상 가이드(145)는 방사상 스톱들(137)뿐만 아니라 익스텍션(146) 및 포트(148)를 포함할 수 있다. 방사상 스톱들(137)은 수평 가이드를 배치하고 고정하기 위해 사용되는 익스텍션들이다. 방사상 스톱들(137)은 수평 가이드를 원하는 위치로 미끄러지게 하거나 회전시키기 위하여 밀어질 수 있는 로킹 또는 바이어싱된 핀들을 포함할 수 있다. 포트(148)는 그 주위에 수평 가이드가 회전하는 피벗 핀이다.
일 실시예에서, 수평 가이드들의 익스텍션들, 핀들, 피벗들 또는 다른 요소들이 원하는 위치로 회전하기 위하여 포트(148) 내에 배치될 수 있다. 익스텐션(146)은 방사상 가이드(145)가 수직 가이드들을 따라 위아래로 미끄러질 수 있게 하는 연장 부재이다.
일 실시예에서, 익스텍션(146)은 방사상 가이드(145)가 단지 수직 가이드의 홈의 최상 부분으로부터 삽입되거나 제거되고 또는 수직 가이드가 베이스 플레이트에 연결되어 있지 않을 때 수직 가이드의 최하 부분으로부터 삽입되거나 제거될 수 있도록 형상화될 수 있다. 전술한 바와 같이 시험 치구의 컴포넌트들을 접동 가능하게 연결하기 위해 다른 홈들 및 익스텐션 형상들이 유사하게 사용될 수 있다.
도 6은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 도시한 것이다. 도 6은 시험 치구(600)의 다른 실시예를 예시한다. 시험 치구(600)는 RF 시험을 수행하기 위해 사용될 수 있다. 전술한 요소들에 더하여, 도 6 및 7의 시험 치구(600)는 컷아웃(150), 관통 구멍들(152), 설치용 관통 구멍들(154), 슬릿들(156), 및 케이블 컷아웃들(158)을 더 포함할 수 있다. 시험 치구(600)는 RF 시험을 신속하고 반복 가능하게 수행하기 위한 시험 스탠드를 제공한다. 시험 치구(600)는 대안적으로 페인팅, 커스터마이제이션, 조립, 수리, 또는 다른 활동 중에 무선 디바이스를 고정하기 위해 사용될 수 있다. 시험 치구(600)는 실질적으로 수직으로 연장하는 부분을 포함하지 않고, 수평면에서 시험될 수 있는 무선 디바이스들을 위해 특히 유용하다.
관통 구멍들(152)은 임의의 수 및 유형의 커넥터들을 사용하여 가이드들, 몰드들, 또는 다른 요소들을 베이스 플레이트(102)에 부착하기 위한 구멍들 또는 포트들이다. 관통 구멍들(152)은 전술한 격자 눈금선들 또는 홈들을 대신하거나 보충하는 것이다. 예를 들면, 멈춤 나사들(110)은 이 관통 구멍들(152)을 통하여 베이스 플레이트(102)에 부착될 수 있다. 설치용 관통 구멍들(154)은 시험 치구(100)가 시험 플랫폼, RF 챔버, 또는 다른 요소에 설치될 수 있게 하는 관통 구멍들이다. 설치용 관통 구멍들(154)은 멈춤 나사들(110) 또는 다른 부착 요소들 또는 커넥터들과 함께 사용될 수 있다. 설치용 관통 구멍들(154)은 또한 도 1의 수직 가이드들(124)과 같은 가이드들을 베이스 플레이트(102)에 부착하기 위해 사용될 수 있다.
전술한 바와 같이, 몰드(139) 등의 몰드들은 임의의 수의 디바이스 유형들을 고정하기 위해 사용될 수 있다. 몰드(139)는 열린, 닫힌, 측면 또는 단부에 의지하여 배치되는 등의 임의의 수의 구성으로 무선 디바이스를 고정할 수 있다. 예를 들면, 몰드(139)는 시험을 위해 열린 위치로 몰드(139)에 놓이는 삼성 모델 플립 폰(flip phone)을 고정할 수 있다.
몰드(139)는 베이스 플레이트(102) 내에 배치된 RF 안테나 커플러(134) 바로 위쪽에 무선 디바이스를 배치하기 위해 이동될 수 있다. 몰드(139)는 RF 안테나 커플러(134)에 의해 측정되는 측정치 및 RF 특성을 최대화하기 위해 최적의 위치에 배치될 수 있다. 슬릿들(156)은 무선 디바이스를 최적의 위치에 배치하기 위해 몰드(139) 내에 정의된다. 몰드(139)는 몰드의 다양한 위치들에 및 다양한 형상으로 슬릿들(156)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 몰드(139)는 멈춤 나사들(110)을 사용하여 몰드(139)를 베이스 플레이트에 고정하기 위해 몰드(139)의 각 4분면에 반원형인 슬릿들을 포함할 수 있다. 다수의 슬릿들(156)은 추가적인 여유를 제공하고 몰드(139) 상의 위치에 관계없이 몰드(139)가 베이스 플레이트에 고정될 수 있는 것을 보증할 수 있다.
도 6에 도시된 바와 같이, 백 플레이트(132)는 RF 안테나 커플러(134)를 컷아웃(150) 내의 원하는 위치에 고정하도록 사이즈가 정해질 수 있다. 컷아웃(150)은 베이스 플레이트(102) 내에 정의된 공간이다. 컷아웃(150)은 임의의 수의 형상들을 사용할 수 있다. 예를 들면, 컷아웃(150)은 RF 안테나 커플러(134)를 임의의 수의 위치들 또는 정렬들로 수용하도록 도 7에 더 도시된 바와 같이 사이즈가 정해지고 형상화될 수 있다. 컷아웃은 베이스 플레이트(102)의 x 축 또는 y 축을 따라 배치될 수 있는 RF 안테나 커플러들의 다양한 사이즈를 수용할 수 있다. 컷아웃(150) 및 백 플레이트(132)는 또한 이상한 또는 독특한 형상의 RF 안테나 커플러들을 수용할 수 있다. 백 플레이트(132)는 멈춤 나사들 또는 다른 커넥터들을 사용하여 베이스 플레이트(102)에 고정될 수 있다.
도 7은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 밑에서 보고 도시한 것이다. 도시된 바와 같이, 백 플레이트(132)는 베이스 플레이트(102)의 바닥에 부착된다. 일 실시예에서, 베이스 플레이트(102)는 시험 중에 베이스 플레이트(102)가 표면 상에 평평하게 있을 수 있도록 컷아웃(150)을 둘러싸는 영역에서 리세스된다. 예를 들면, 설치용 나사들(135)에 의해 RF 안테나 커플러에 부착된 백 플레이트(132)는 시험 치구(600)를 불균형하게 하지 않고 멈춤 나사들(110)을 사용하여 관통 구멍들(152)을 통하여 베이스 플레이트(102)에 부착될 수 있다. 베이스 플레이트(102)의 리세스된 영역의 사이즈 및 형상은 백 플레이트(132) 및/또는 RF 안테나 커플러에 대응할 수 있다. 다른 실시예에서, RF 안테나 커플러는 베이스 플레이트(102)에 컷아웃(150) 내에 직접 삽입되거나 연결될 수 있다.
케이블 컷아웃들(158)은 시험 치구(600)가 사용 중일 때 RF 안테나 커플러에 연결된 와이어 또는 케이블들을 커버하거나, 수용하거나, 둘러싸는 베이스 플레이트(102)의 리세스된 부분이다. 컷아웃(150) 및 케이블 컷아웃들(158)은 베이스 플레이트(102)의 영구적인 부분일 수 있고 또는 특정한 형태의 RF 시험을 위해 필요에 따라 제거 가능한 베이스 플레이트(102)의 부분들을 포함할 수 있다.
도 8은 예시적인 실시예에 따른 시험 치구를 이용하여 RF 시험을 수행하기 위한 프로세스의 흐름도이다. 일 실시예에서, 도 8의 프로세스는 RF 검사 치구를 사용하는 기사, 실험실 기술자, 또는 다른 사용자 등의 사용자에 의해 구현될 수 있다. 도 8의 프로세스는 시험 치구의 베이스 플레이트 상에 무선 디바이스를 배치하는 것에 의해 시작될 수 있다(단계 802). 일 실시예에서, 무선 디바이스는 우측 가이드 등의 하나 이상의 가이드들에 기대어 평평하게 놓일 수 있다. 무선 디바이스는 단일의 평평한 컴포넌트 또는 넷북과 같은 힌지된 디바이스일 수 있다. 무선 디바이스는 대안적으로 임의의 수의 물리적 구성을 가질 수 있고 또는 에지에서 아래로 향하여 또는 RF 시험을 수행하기에 유용한 임의의 위치로 배치될 수 있다.
다음으로, 사용자는 무선 디바이스들의 에지들을 지지하기 위해 다수의 가이드들을 배치한다(단계 804). 일 실시예에서, 가이드들은 무선 디바이스를 지지하는 위치로 격자 눈금선들을 따라 접동 가능하게 이동되고 그 후 특정한 위치에서 더 고정될 수 있다. 다른 실시예에서, 가이드들은 필요에 따라 베이스 플레이트에 추가되거나 그로부터 제거될 수 있다. 또 다른 실시예에서, RF 시험을 수행하기 위해 직접 베이스 플레이트에 또는 하나 이상의 가이드들에 몰드가 부착될 수 있다(단계 802 및 804는 대안적으로 배치된 몰드 내에 무선 디바이스가 넣어질 때 통합될 수 있다). 시험 치구는 시험을 수행하기 위해 필요한 만큼의 수의 가이드들을 포함할 수 있다. 가이드들은 멈춤 나사, 못, 클램프, 놓아줄 때 가이드들을 부착하는 탄성체 고정물(elastomeric fixtures)을 사용하여, 또는 임의의 수의 다른 요소들을 사용하여 베이스 플레이트에 고정될 수 있다.
다음으로, 사용자는 무선 디바이스를 시험하기 위한 최적의 위치에 대응하도록 RF 안테나 커플러를 배치한다(단계 806). 안테나 커플러는 백 플레이트 또는 커넥터 상에 설치되거나 부착될 수 있다. 백 플레이트는 수평 가이드에 접동 가능하게 연결될 수 있고, 수평 가이드는 하나 이상의 수직 가이드들에 또는 베이스 플레이트 상의 가이드들에 접동 가능하게 연결된다. 그 결과, RF 안테나 커플러 또는 RF 안테나 커플러들은 시험을 수행하기 위해 수평 및 수직면의 x, y, 및 z 방향으로 수평으로, 수직으로, 및 회전식으로 배치될 수 있다. RF 안테나 커플러의 최적의 위치는 시행착오, 설계 또는 제조 정보, 집중 구현, 또는 RF 측정에 기초한 논리 결정을 사용하여 결정될 수 있다.
다른 실시예에서, 가이드들 및 RF 안테나 커플러의 움직임은 하나 이상의 전자, 수력, 또는 기계 요소에 의해 제어될 수 있다. 예를 들면, 웜 기어, 벨트, 노브, 수력학, 기력학, 모터, 또는 다른 적당한 컴포넌트들이 가이드들 및/또는 RF 안테나 커플러를 배치할 수 있다. 일 실시예에서, RF 및 기계적 간섭을 감소시키기 위해 모든 전기 컴포넌트들이 후드(hood) 밖에 차폐되거나 배치된다. 예를 들면, 플라스틱 드라이브 포트들이 상호 연결된 논리를 갖는 모터가 유사한 디바이스들의 차후의 시험을 위해 시험 치구의 컴포넌트들의 위치들을 결정하게 할 수 있다. 유사하게, 그 드라이브 포트들은 가이드들 또는 몰드를 RF 시험을 수행하기 위한 최적의 위치들 또는 로케이션들로 이동시키도록 구성된 컴퓨터 또는 논리 디바이스에 연결된 모터들에 의해 이동될 수 있다. 가이드들은 수동으로 또는 시험 치구를 위해 선택 가능한 자동 구성 또는 고정 모드에 기초하여 이동될 수 있다. 예를 들면, 특정한 무선 디바이스 또는 모델을 시험하기 위해 시험 치구를 자동으로 재구성하기 위해 각각의 컴포넌트의 정확한 좌표들이 저장될 수 있다.
시험 치구를 제어하기 위한 논리 및 다른 컴포넌트들은 RF 시험을 실행할 수 있는 금속 또는 전자 컴포넌트들의 영향 없이 시험 치구의 구성이 발생할 수 있도록 시험 치구와 통합되거나 외부에서 시험 치구에 연결될 수 있다. 일 실시예에서, RF 안테나 커플러는 이상적인 또는 허용되는 환경 또는 특성 하에 무선 디바이스를 시험하기 위해 소프트웨어 또는 하드웨어 최적화 논리를 실행하는 컴퓨터화된 모터들을 사용하여 자동으로 배치될 수 있다. 예를 들면, 외부 논리가 이상적인 에어 갭을 사용하는 최적의 위치, RF 안테나 커플러가 송신을 측정하기 위한 최적의 각도, 및 무선 디바이스에 또는 그로부터 패킷, 데이터, 정보, 또는 통신을 송신하기 위한 최적의 RF 안테나 커플러 위치를 결정할 수 있고, 이에 대해서는 아래에 더 설명된다.
다음으로, 사용자는 가이드들, 무선 디바이스, 및/또는 RF 커플러(들)의 위치를 식별한다(단계 808). 이 상이한 요소들의 위치 또는 로케이션은 베이스 플레이트, 수직 가이드들, 수평 가이드, 및 다른 컴포넌트들 상의 표지들을 판독, 분석, 또는 평가하는 것에 의해 수행될 수 있다. 예를 들면, 사용자는 시험 치구의 각각의 요소의 좌표들을 기록할 수 있다. 사용자는 또한 개별 멈춤 나사들의 로케이션들 또는 위치들을 표시할 수 있다. 다른 실시예에서, 이 상이한 컴포넌트들의 위치는 전자적으로 결정되고 디스플레이에 의해 또는 별도의 통신 또는 컴퓨팅 디바이스로의 통신에 의해 표시될 수 있다.
다음으로, 사용자는 RF 안테나 커플러에 연결된 시험 기구들을 사용하여 무선 디바이스의 시험을 수행한다(단계 810). 무선 디바이스에 대하여 임의의 수의 시험이 수행될 수 있다. 그 후, 무선 디바이스는 시험 치구로부터 제거될 수 있고 다수의 무선 디바이스들에 대한 평균 성능을 결정하기 위해 다른 유사한 디바이스(즉, 동일 모델의 디바이스)가 시험될 수 있다. 대안적으로, 시험 치구는 필요에 따라 다른 무선 디바이스들을 시험하기 위해 재구성될 수 있다.
다른 실시예에서, RF 안테나 커플러(134)는 시험 치구의 베이스 플레이트 내에 내장될 수 있다. RF 안테나 커플러가 베이스 플레이트 내에 내장되거나 일시적으로 배치되는 구성은 일부 모델의 휴대폰, PDA(personal digital assistant), 태블릿, 전자 리더, 또는 다른 디바이스 등의 디바이스들이 수직 가이드들에 의해 지지되는 RF 안테나 커플러를 이용하지 않고도 검사되게 할 수 있다. RF 안테나 커플러는 베이스 플레이트에 고정 가능하게 부착될 수 있고 또는 시험을 최적화하기 위해 그리고 무선 디바이스의 사이즈, 형상, RF 특성, 및 안테나 구성을 수용하기 위해 베이스 플레이트의 다수의 미리 구성된 위치들 내에 배치될 수 있다. 전술한 바와 같이, RF 안테나 커플러는 적층된 구성으로 다른 가이드들과 함께 사용될 수 있다.
송신기 시험
송신기 시험 중에, 시험 기구의 RF 입력/출력 포트와 시험되는 무선 디바이스 상의 RF 포트 사이에 RF 케이블이 연결될 수 있다. 시험 기구에서 업링크 채널들(즉, 낮은, 중간 및 높은 채널들)에 대하여 RF 케이블에 대한 삽입 손실 값들이 설정될 수 있다. 다음으로, 시험 기구는, 예를 들면, 업링크 및 다운링크 채널들, 및 채널 구성들을 구성하는 것을 포함하여, 디바이스가 등록하게 하도록 구성될 수 있다.
시험 기구의 RF 전력 레벨은 최대 송신 출력 전력 측정치에 대한 적당한 무선 표준에 기초하여 설정될 수 있다. 다음으로, 무선 디바이스로부터 호 또는 통신이 시작될 수 있다. 시험 기구는 특정한 레벨 및 구성을 위해 최대 송신 출력 전력을 측정하고 기록한다. 최대 송신 출력 전력은 기준 송신 측정치로서 이용될 수 있다. 그 후 중간 채널, 높은 채널, 및 기타 대역들에 대해 필요에 따라 송신기 시험의 부분들이 반복될 수 있다.
최적의 위치
전술한 프로세스에 더하여, 다음의 단계들이 또한 수행될 수 있다. 다수의 RF 시험을 수행하기 위한 최적의 또는 허용되는 위치 또는 "스위트 스팟(sweet spot)"을 반복적으로 결정하기 위해 다음의 단계들 각각에 대해 RF 안테나 커플러, 백 플레이트, 가이드들, 및 멈춤 나사들 또는 커넥터들의 x, y, 및 각도 위치들을 적어 두거나 기록할 수 있다. 백 플레이트 및 연결된 RF 안테나 커플러는 디바이스 덮개, 키보드, 또는 무선 디바이스의 다른 부분을 포함하여, 무선 디바이스의 왼쪽 윗부분 근처에 배치될 수 있다. 최대 송신 출력 전력 판독치가 취해지고 기록될 수 있다.
다음으로, 백 플레이트 또는 RF 안테나 커플러가 오른쪽으로 1 센티미터 또는 밀리미터 등, 오른쪽으로 하나 이상의 측정치 이동될 수 있다. 백 플레이트 및 RF 안테나 커플러가 무선 디바이스의 부분의 오른쪽 코너에 있을 때까지 백 플레이트 및 RF 안테나 커플러가 이동될 때마다 측정이 수행된다. 다음으로, 백 플레이트 및 RF 안테나 커플러는 무선 디바이스의 맨 왼쪽 부분으로 다시 이동되고 측정을 하고 백 플레이트 및 RF 안테나 커플러를 이동시키는 것으로 돌아가기 전에 한 측정 단위 낮추어진다. 이 프로세스는 최대 송신 출력 전력 판독치가 최대 판독치로부터 10 dB 떨어질 때까지 수행될 수 있다. 최고의 최대 송신 전력 판독치에 대응하는 위치는 최초 최적의 위치로서 표시된다. 설명된 시험 치구는 위치 최적화가 한 번 수행되고 그 후 시험 치구의 표시자들, 몰드들, 가이드들, 스톱들, 멈춤 나사들, 및 다른 요소들을 사용하여 다수의 디바이스들에 대하여 반복되게 할 수 있다.
다른 실시예에서는, 최적의 로케이션 또는 위치를 결정하기 위해 일정한 간격을 둔(아래로 이동하기 전에 각 측면에서 하나) 또는 랜덤 위치들에서 측정이 수행될 수 있다. 예를 들면, 삼각 측량, 보간, 추정, 간섭, 설계 및 이력 정보, 랜덤 샘플링 또는 다른 자동화된 기법들을 포함하여 이동하여 측정을 수행하는 유사한 프로세스가 사용될 수 있다. 최적의 위치의 결정은 RF 시험 중에 측정된 무선 디바이스의 RF 특성을 최적화하도록 구성된 알고리즘 또는 논리에 의해 구현될 수 있다. 그 결과, RF 안테나 커플러(들)에 관한 무선 디바이스의 이상적인 위치가 수행되고 그 후 유사한 무선 디바이스들을 시험하기 위해 재사용될 수 있다.
일 실시예에서, 프로세스는 시험 기구, 디지털 논리, 행렬 형태로 RF 측정치들을 저장하는 데이터베이스, 스텝 모터, 또는 시험 치구의 기어, 드라이브 포트, 또는 벨트에 외부에서 또는 내부에서 연결될 수 있는 다른 요소들을 사용하여 전자적으로 수행될 수 있다. 그 결과, RF 안테나 커플러의 최적의 위치는 수동 프로세스를 이용하지 않고 더 정확하게 결정될 수 있다. RF 간섭을 막기 위해 각 위치 또는 로케이션에서 시험 및 측정을 수행하는 것 사이에 RF 챔버는 닫힐 수 있고 이동 요소들은 오프될 수 있다.
최적의 위치를 결정하기 위한 프로세스는 베이스 플레이트에 연결되는 수평 가이드들, 커넥터들, 몰드(또는 다른 맞춤형 치구) 및 RF 안테나 커플러들에 대해 유사하게 수행될 수 있다. 또한, 몰드, 무선 디바이스, 및 멈춤 나사들의 위치들을 적어 두거나 기록할 수 있다. 최적의 측정들과 컴포넌트들의 위치를 연결하거나 관련시키는 것은 전자적으로 또는 수동으로 수행될 수 있다.
하나의 대안적인 실시예에서, RF 안테나 커플러는 베이스 플레이트 내에 내장된다. 그 결과 시험을 수행하기 위해 고정된 RF 안테나 커플러에 관련한 무선 디바이스의 최적의 배치 및 에어 갭을 결정하기 위해 위치들 사이에 몰드 전체가 이동될 수 있다.
결정된 최적의 위치는 또한 아래 설명되는 수신기 시험을 위해 사용될 수 있다. 일부 경우에, 무선 디바이스의 송신 및 수신 컴포넌트들은 개별적으로 배치되어 대응하는 유형의 RF 통신을 위한 최적의 위치의 다수의 결정을 요구할 수 있다.
수신기 시험
일 실시예에서, 일단 RF 케이블이 이미 연결되었다면 송신기 시험 후에 수신기 시험이 수행될 수 있다. 시험 기구에서 다운링크 채널들(즉, 낮은, 중간 및 높은 채널들)에 대하여 RF 케이블에 대한 삽입 손실 값들이 설정될 수 있다. 시험은 BER을 측정하도록 구성될 수 있다. 다음으로, BER이 측정된다. 일부 경우에, 적당한 무선 표준에 대한 BER/FER 측정 중에, 시험 기구에 대한 RF 전력 레벨은 BER/FER 한계에 도달할 때까지 감소된다. 예로서, WCDMA BER 한계는 RF 전력 레벨이 -104 dBm으로 설정되었을 때 .1%이다. RF 전력 레벨은 .1%의 BER 판독치가 달성될 때까지 -104 dBm의 시작 RF 전력 레벨로부터 1 dB 간격의 감소로 감소될 수 있다. RF 전력 레벨은 기록되고 무선 디바이스에 대한 BER 및 FER 측정치들과 관련될 수 있다. 다음으로, 중간-채널 및 높은 채널 및 필요에 따라 다른 대역들에 대해 수신 측정의 단계들이 수행될 수 있다.
예시적인 실시예들은 시험 치구가 다수의 무선 디바이스들을 시험하는 데 사용되게 할 수 있다. 특히, RF 안테나 커플러는 최적의 x, y, 및 z 방향 및 위치에 이상적으로 배치될 수 있다. 그 결과, 각각의 새로운 무선 디바이스에 대해 새로운 시험 치구가 구매되거나 맞춤 제작되지 않아도 된다. 특히, 가이드들, 몰드 및/또는 RF 안테나 커플러가 배치될 수 있고 새로운 디바이스가 시험될 수 있다. 또한, 시험 치구는 무선 디바이스 또는 유사한 제조 또는 모델을 재시험하기 위해 지시자들 또는 다른 정보에 따라 재구성될 수 있다. RF 시험을 수행하거나 또는 어떤 이유로든 무선 디바이스를 고정하기 위해 여기에 설명된 실시예들, 특징들, 방법들, 및 컴포넌트 중 임의의 것을 조합하거나 다른 방법으로 사용할 수 있다.
앞의 상세한 설명은 본 발명을 구현하기 위한 소수의 실시예들에 관한 것이고 범위가 제한적인 것으로 의도되어 있지 않다. 다음의 청구항들은 개시된 발명의 다수의 실시예들을 더 상세하게 제시한다.
Claims (22)
- 무선 디바이스의 무선 주파수(RF) 특성을 시험하기 위한 방법으로서,
상기 무선 디바이스를 시험 치구의 수평면의 x-위치 및 y-위치에 배치하는 단계;
상기 시험 치구의 수직 서포트에 기대어 상기 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분을 배치하는 단계;
RF 안테나 커플러를 수직면의 x-위치 및 y-위치에 배치하는 단계 - 상기 무선 디바이스 및 상기 RF 안테나 커플러의 배치는 상기 무선 디바이스를 시험하기 위한 허용되는 RF 특성에 대응함 -;
상기 무선 디바이스를 고정하기 위해 베이스 플레이트 상에 복수의 가이드들을 배치하는 단계 - 상기 복수의 가이드들은 우측 가이드, 좌측 가이드, 및 전방 가이드를 포함하고, 상기 복수의 가이드들은 상기 무선 디바이스의 에지들에 기대어 접함 -;
상기 무선 디바이스의 상기 RF 특성을 측정하기 위해 상기 RF 안테나 커플러를 고정하는 백 플레이트를 배치하는 단계; 및
상기 무선 디바이스 및 상기 RF 안테나 커플러의 위치들을 식별하는 단계 - 상기 식별된 위치들은 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 수행하는 데 사용됨 -
를 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 복수의 가이드들, 상기 백 플레이트, 및 상기 수직 서포트를 각각의 상기 위치들에 고정하는 단계를 더 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제4항에 있어서,
상기 무선 디바이스의 상기 RF 특성을 결정하기 위해 RF 시험을 수행하는 단계 - 상기 위치들은 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 상기 무선 디바이스에 대한 상기 RF 안테나 커플러의 에어 갭 및 배치에 대응함 - 를 더 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제1항에 있어서,
상기 위치들을 식별하는 단계는 상기 시험 치구의 컴포넌트들의 위치들을 감지하고 상기 감지된 위치들을 사용자에게 표시하는 것에 의해 전자적으로 수행되는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제4항에 있어서,
커넥터들을 사용하여 상기 복수의 가이드들 및 상기 수직 서포트를 고정하는 단계를 더 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제1항에 있어서,
상기 백 플레이트는 수평 가이드에 접동 가능하게(slidably) 연결되고, 상기 백 플레이트는 상기 수직면의 x-방향으로 배치되도록 동작 가능하고, 상기 수평 가이드는 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 및 회동 가능하게(pivotally) 연결되고, 상기 수평 가이드는 상기 수직면의 y-방향으로 배치되도록 동작 가능한 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제1항에 있어서,
상기 식별하는 단계는 상기 시험 치구 상의 표지들을 사용하여 수행되는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제8항에 있어서,
상기 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 상기 복수의 가이드들 각각에 대한 상기 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직 서포트에 대한 위치, 상기 수직면에서의 상기 수평 가이드의 y-위치, 상기 수평 가이드의 방사상 위치, 및 상기 수직면에서의 백 플레이트의 x-위치를 지시하는 단계를 더 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제10항에 있어서,
상기 무선 디바이스의 동시 시험을 위해 상기 베이스 플레이트에 제2 RF 안테나 커플러를 배치하는 단계를 더 포함하고, 전자 디스플레이가 상기 위치들을 지시하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제1항에 있어서,
상기 고정은 상기 복수의 가이드들, 수직 서포트, 수평 가이드, 및 상기 백 플레이트를 통하여 멈춤 나사들을 사용하여 수행되는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 제1항에 있어서,
상기 차후의 시험을 위해 상기 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 상기 위치들을 자동으로 결정하는 단계; 및
유사한 무선 디바이스에 대한 시험을 수행하는 사용자 선택에 응답하여 상기 위치들에 상기 시험 치구를 자동으로 재배치하는 단계를 더 포함하는 무선 주파수 특성 시험 방법. - 무선 디바이스의 RF 시험을 수행하기 위한 시험 치구로서,
무선 디바이스의 일부를 지지하도록 동작 가능한 베이스 플레이트 - 복수의 가이드들 사이에 상기 무선 디바이스를 고정하기 위해 상기 베이스 플레이트에 상기 복수의 가이드들이 연결됨 -;
상기 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결된 수직 가이드들;
상기 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 연결된 수평 가이드 - 상기 수평 가이드는 슬롯을 포함함 -; 및
상기 슬롯을 따라서 상기 수평 가이드에 접동 가능하게 연결된 백 플레이트 - 상기 백 플레이트는 상기 무선 디바이스의 상기 RF 시험을 위해 RF 안테나 커플러를 고정하도록 동작 가능함 -
를 포함하는 시험 치구. - 제14항에 있어서,
상기 수평 가이드는 상기 RF 안테나 커플러를 각을 이루어 배치하기 위해 상기 수직 가이드들에 회동 가능하게 연결되고, 상기 복수의 가이드들은 상기 무선 디바이스의 에지들에 접하고, 상기 복수의 가이드들은 전방 가이드, 좌측 가이드, 및 우측 가이드를 포함하는 시험 치구. - 제14항에 있어서,
상기 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부재를 배치하도록 동작 가능한 수직 서포트를 더 포함하고, 상기 베이스 플레이트는 상기 복수의 가이드들을 고정하기 위한 격자 눈금선들을 포함하고, 상기 베이스 플레이트, 상기 수평 가이드 및 상기 수직 가이드들은 상기 복수의 가이드들, 상기 백 플레이트, 및 상기 수평 가이드의 위치들을 지시하기 위한 표지들을 포함하는 시험 치구. - 제14항에 있어서,
유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 상기 복수의 가이드들 각각에 대한 수평면에서의 x-위치 및 y-위치, 수직면에서의 상기 수평 가이드의 y-위치, 상기 수평 가이드의 방사상 위치 및 상기 수평면에서의 상기 백 플레이트 및 부착된 RF 안테나 커플러의 x-위치를 지시하는 지시자들을 더 포함하는 시험 치구. - 무선 디바이스의 RF 시험을 수행하기 위한 시험 치구로서,
무선 디바이스의 일부를 지지하도록 동작 가능한 베이스 플레이트 - 복수의 가이드들 사이에 수평면의 x-방향 및 y-방향으로 상기 무선 디바이스를 고정하기 위해 상기 복수의 가이드들이 상기 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결됨 -;
상기 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결된 수직 가이드들;
수평 가이드를 수직면의 y-방향으로 배치하기 위해 상기 수직 가이드들 사이에 접동 가능하게 연결된 수평 가이드 - 상기 수평 가이드는 슬롯을 포함함 -; 및
RF 안테나 커플러를 고정하도록 동작 가능한 백 플레이트 - 상기 백 플레이트는 상기 백 플레이트를 상기 수직면의 x-방향으로 배치하기 위해 상기 슬롯을 따라서 상기 수평 가이드에 접동 가능하게 연결되고, 상기 시험 치구는 유사한 무선 디바이스들의 차후의 시험을 위해 상기 시험 치구 및 상기 무선 디바이스의 컴포넌트들의 위치들을 지시하기 위한 지시자들을 포함함 -
를 포함하는 시험 치구. - 제18항에 있어서,
상기 무선 디바이스의 수직으로 연장하는 부분을 고정하도록 동작 가능한 하나 이상의 수직 서포트를 더 포함하고, 상기 수직 가이드들은 상기 베이스 플레이트에 접동 가능하게 연결되고, 상기 수평 가이드는 상기 수직 가이드들 사이에 회동 가능하게 연결되는 시험 치구. - 제18항에 있어서,
상기 복수의 가이드들은 상기 무선 디바이스를 고정하기 위한 몰드로 대체 가능하고, 상기 몰드는 상기 베이스 플레이트에 연결될 수 있는, 시험 치구. - 제18항에 있어서,
상기 RF 안테나 커플러와 통신하는 시험 기구;
상기 시험 기구와 통신하는 논리; 및
상기 논리와 통신하는 하나 이상의 모터 - 상기 모터는 최대 송신 출력 전력 판독치가 최고가 되게 하는 최적의 위치를 결정하기 위해 상기 논리에 의해 분석되고 상기 시험 기구에 의해 수행되는 측정들에 응답하여 RF 시험 중에 측정되는 RF 특성을 측정하기 위한 상기 최적의 위치에 상기 RF 안테나 커플러를 배치하기 위해 상기 백 플레이트에 연결됨 -
를 더 포함하는 시험 치구. - 삭제
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US12/613,324 | 2009-11-05 | ||
| US12/613,324 US8810460B2 (en) | 2009-11-05 | 2009-11-05 | Multidimensional RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing |
| PCT/US2010/055438 WO2011056966A1 (en) | 2009-11-05 | 2010-11-04 | Multidimensional rf test fixture and method for securing a wireless device for rf testing |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20120102686A KR20120102686A (ko) | 2012-09-18 |
| KR101801990B1 true KR101801990B1 (ko) | 2017-11-27 |
Family
ID=43924856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020127014589A KR101801990B1 (ko) | 2009-11-05 | 2010-11-04 | Ｒｆ 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위한 다차원 ｒｆ 시험 치구 및 방법 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US8810460B2 (ko) |
| KR (1) | KR101801990B1 (ko) |
| CN (1) | CN102687410B (ko) |
| WO (1) | WO2011056966A1 (ko) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7783819B2 (en) | 2008-03-31 | 2010-08-24 | Intel Corporation | Integrating non-peripheral component interconnect (PCI) resources into a personal computer system |
| US8810460B2 (en) * | 2009-11-05 | 2014-08-19 | Atc Logistics & Electronics, Inc. | Multidimensional RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing |
| US9571211B2 (en) * | 2010-11-05 | 2017-02-14 | Atc Logistics & Electronics, Inc. | Wireless enclosure for testing electronic devices |
| NL2006821C2 (en) | 2011-05-20 | 2012-11-21 | Communicatie Techniek Hoogland B V | Method for monitoring and/or correcting signal quality in a branched bidirectional telecommunications network, and related system, command and evaluation unit and corrective and measuring unit. |
| US9285419B2 (en) * | 2011-06-30 | 2016-03-15 | Apple Inc. | Test probe alignment structures for radio-frequency test systems |
| US20130033279A1 (en) * | 2011-08-01 | 2013-02-07 | James Sozanski | Electromagnetic Test Enclosure |
| US9319908B2 (en) * | 2011-10-12 | 2016-04-19 | Apple Inc. | Methods for reducing path loss while testing wireless electronic devices with multiple antennas |
| TWI465734B (zh) * | 2011-11-15 | 2014-12-21 | Kinpo Elect Inc | 關聯於安規認證的測試系統及其方法 |
| US20130200915A1 (en) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Peter G. Panagas | Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling |
| US20130262192A1 (en) * | 2012-03-29 | 2013-10-03 | ATC Logistics & Electronics | System and method for receiving quality issue log |
| US20130257468A1 (en) * | 2012-04-03 | 2013-10-03 | Octoscope Inc. | Stackable Electromagnetically Isolated Test Enclosures |
| CN104935386B (zh) * | 2014-03-21 | 2018-09-11 | 中兴通讯股份有限公司 | 终端天线耦合测试系统 |
| US9502748B2 (en) * | 2014-07-18 | 2016-11-22 | Auden Techno Corp. | Holder for antenna testing |
| US20160209235A1 (en) * | 2015-01-15 | 2016-07-21 | Jesus T. Fortu | Apparatus, method, and system for calibrating one or more motion sensors |
| KR101632276B1 (ko) * | 2015-02-17 | 2016-06-21 | 주식회사 감마누 | Pim 자동 측정장치 |
| US9843853B2 (en) | 2015-08-29 | 2017-12-12 | Bragi GmbH | Power control for battery powered personal area network device system and method |
| US9854372B2 (en) * | 2015-08-29 | 2017-12-26 | Bragi GmbH | Production line PCB serial programming and testing method and system |
| US10104458B2 (en) | 2015-10-20 | 2018-10-16 | Bragi GmbH | Enhanced biometric control systems for detection of emergency events system and method |
| US9806828B2 (en) | 2016-02-24 | 2017-10-31 | Frontier Engineering, Llc | Radio frequency generator automated test system |
| CN105959450B (zh) * | 2016-06-24 | 2019-01-22 | 珠海市魅族科技有限公司 | 夹具、自动化测试机械臂及自动化测试系统 |
| US10344960B2 (en) | 2017-09-19 | 2019-07-09 | Bragi GmbH | Wireless earpiece controlled medical headlight |
| TWI673501B (zh) * | 2018-09-05 | 2019-10-01 | 矽品精密工業股份有限公司 | 測試治具 |
| US10725080B2 (en) | 2018-09-25 | 2020-07-28 | National Instruments Corporation | Correlation of device-under-test orientations and radio frequency measurements |
| US10942214B2 (en) * | 2018-09-25 | 2021-03-09 | National Instruments Corporation | Hardware timed over-the-air antenna characterization |
| US11742595B2 (en) * | 2018-11-27 | 2023-08-29 | Morita Tech Co., Ltd. | Testing device |
| KR102310907B1 (ko) * | 2019-12-30 | 2021-10-07 | 주식회사 한화 | 자이로 교정 시험을 위한 가변형 다축 고정용 치구 |
| US11222186B2 (en) | 2020-05-22 | 2022-01-11 | Andy L. MULLEN | System and method for accurate bulk scanning of RFID tags |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000002732A (ja) * | 1998-04-17 | 2000-01-07 | Advantest Corp | 電波可視化方法及び装置 |
| US20080129614A1 (en) * | 2005-02-04 | 2008-06-05 | Rohde & Schwartz Gmbh & Co. Kg | Antenna Combiner With a Try Square |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5300879A (en) * | 1990-06-18 | 1994-04-05 | Nec Corporation | Bidimensional electromagnetic emission level monitoring equipment |
| JP2956718B2 (ja) * | 1991-07-23 | 1999-10-04 | 日本電気株式会社 | 電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム |
| US5214374A (en) | 1991-12-12 | 1993-05-25 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Dual level test fixture |
| FR2692048B1 (fr) | 1992-06-09 | 1996-09-06 | Everett Charles Tech | Montage d'essai. |
| SE502575C2 (sv) * | 1994-07-29 | 1995-11-13 | Anders Eriksson | Förfarande och system vid kretskort |
| US5945836A (en) | 1996-10-29 | 1999-08-31 | Hewlett-Packard Company | Loaded-board, guided-probe test fixture |
| US6025729A (en) | 1997-09-11 | 2000-02-15 | Delaware Capital Formation, Inc. | Floating spring probe wireless test fixture |
| US6021315A (en) | 1997-11-19 | 2000-02-01 | Cellular Technical Services Co., Inc. | System and method for testing of wireless communication devices |
| US6249248B1 (en) * | 1998-04-17 | 2001-06-19 | Advantest Corporation | Radio wave visualizing method and apparatus |
| FR2797327B1 (fr) * | 1999-08-03 | 2001-11-09 | France Telecom | Procede et dispositif de mesure en champ proche de rayonnements radioelectriques non controles |
| CN100365420C (zh) * | 2003-02-26 | 2008-01-30 | 松下电器产业株式会社 | 无线电通信装置用比吸收率测定装置 |
| JP4481578B2 (ja) * | 2003-02-28 | 2010-06-16 | パナソニック株式会社 | 電磁波測定装置およびその方法 |
| US7102517B2 (en) * | 2004-08-20 | 2006-09-05 | International Business Machines Corporation | Test fixture for evaluating RF identification system and related methods |
| US7165003B2 (en) | 2004-09-22 | 2007-01-16 | Research In Motion Limited | Method and system for testing assembled mobile devices |
| US7081869B2 (en) | 2004-10-13 | 2006-07-25 | Research In Motion Limited | Test fixture for assembled wireless devices |
| US7773964B2 (en) | 2004-10-25 | 2010-08-10 | Qualcomm Incorporated | Systems, methods and apparatus for determining a radiated performance of a wireless device |
| CN1913402B (zh) * | 2005-08-11 | 2010-10-13 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种智能天线故障检测的方法 |
| US7876276B1 (en) * | 2006-08-02 | 2011-01-25 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Antenna near-field probe station scanner |
| US8810460B2 (en) * | 2009-11-05 | 2014-08-19 | Atc Logistics & Electronics, Inc. | Multidimensional RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing |
| US8405559B2 (en) * | 2009-11-05 | 2013-03-26 | ATC Logistics & Electronics, Inc | RF test fixture and method for securing a wireless device for RF testing |
-
2009
- 2009-11-05 US US12/613,324 patent/US8810460B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-11-04 KR KR1020127014589A patent/KR101801990B1/ko active IP Right Grant
- 2010-11-04 WO PCT/US2010/055438 patent/WO2011056966A1/en active Application Filing
- 2010-11-04 CN CN201080060719.4A patent/CN102687410B/zh active Active
-
2013
- 2013-11-01 US US14/070,248 patent/US9453865B2/en active Active
-
2016
- 2016-08-30 US US15/251,890 patent/US10234494B2/en active Active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000002732A (ja) * | 1998-04-17 | 2000-01-07 | Advantest Corp | 電波可視化方法及び装置 |
| US20080129614A1 (en) * | 2005-02-04 | 2008-06-05 | Rohde & Schwartz Gmbh & Co. Kg | Antenna Combiner With a Try Square |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN102687410A (zh) | 2012-09-19 |
| US9453865B2 (en) | 2016-09-27 |
| US20110102276A1 (en) | 2011-05-05 |
| US20140071001A1 (en) | 2014-03-13 |
| US10234494B2 (en) | 2019-03-19 |
| US8810460B2 (en) | 2014-08-19 |
| WO2011056966A1 (en) | 2011-05-12 |
| CN102687410B (zh) | 2015-09-23 |
| US20160370426A1 (en) | 2016-12-22 |
| KR20120102686A (ko) | 2012-09-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101801990B1 (ko) | Ｒｆ 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위한 다차원 ｒｆ 시험 치구 및 방법 | |
| KR101751311B1 (ko) | Ｒｆ 시험을 위해 무선 디바이스를 고정하기 위한 ｒｆ 시험 치구 및 방법 | |
| Schmid et al. | Automated E-field scanning system for dosimetric assessments | |
| CN101399864B (zh) | 一种移动终端待机电流的测试系统及方法 | |
| CN101605350A (zh) | 基于多种无线接入技术空间性能测试系统及其测试方法 | |
| CN101217322A (zh) | 无线usb调制解调器空中性能的测试系统和测试方法 | |
| CN102638320A (zh) | 终端测试仪表的射频信号校准参数的确定方法和设备 | |
| US9285419B2 (en) | Test probe alignment structures for radio-frequency test systems | |
| CN106162722A (zh) | 一种互干扰快速测试方法与系统 | |
| CN103575996B (zh) | 天线检测装置 | |
| CN101217323A (zh) | 无线usb调制解调器空中性能的测试系统和测试方法 | |
| CN208421158U (zh) | 一种ic测试治具 | |
| Fan et al. | Measurement uncertainty investigation in the multi-probe OTA setups | |
| CN107483122A (zh) | 功率测试系统、功率补偿方法及装置 | |
| CN212381261U (zh) | 一种用于手机辐射性能的测试系统 | |
| CN101183923A (zh) | 一种零中频方案指标优化的实现方法 | |
| CN208588819U (zh) | 一种电阻率测试仪标准片的定位装置 | |
| Ofli et al. | The uncertainties and repeatability limitations of transmitter and receiver performance assessments posed by head phantoms | |
| CN206161831U (zh) | 射频读卡器安装机构及电能表检定装置 | |
| CN116743272A (zh) | 一种基带信号发生模块调测装置及方法 | |
| Wiles | Pre-compliance over-the-air performance testing on wireless devices | |
| User Manual | OTA Phantoms User Manual V 1.1 | |
| Wiles | Over-the-air performance test and measurement requirements on wireless devices | |
| CN102937677A (zh) | 一种移动pos无线性能量产测试方法 | |
| Ofli et al. | Challenges in complex transmitter development in view of the increasing RF requirements (OTA, SAR, HAC) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E90F | Notification of reason for final refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |