KR101767761B1 - 전기강판의 점적율 실험장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치는 복수 개의 시편들을 적층시켜 수용하는 시편 수용부; 상기 복수 개의 시편들이 가압시편이 되도록 가압하는 가압부; 상기 가압부에 구비되고, 광을 이용하여 상기 가압시편의 높이를 측정하는 높이 측정부; 상기 가압 시편의 중량을 측정하는 중량 측정부; 상기 높이 및 상기 중량에 기초하여 상기 가압시편의 점적율을 산출하는 점적율 산출부; 및 상기 점적율을 사용자에게 표시하는 표시부를 포함한다.

Description

전기강판의 점적율 실험장치{Space factor test Device}
본 발명은 전기강판의 점적율 실험장치에 관한 것이다.
일반적으로, 전기강판의 점적율 시험은 시편을 적층하여 센터링을 맞춘 상태에서 일정압력을 가한 후 그 두께를 측정하고, 무게를 측정하여 점적율 계산식을 이용하여 판정된다.
종래에는 점적율 측정을 위해 복수 개의 시편을 적층하고 압력을 가하는 과정에서 일정 시험 압력을 작업자가 수작업으로 유압잭을 이용하여 조정을 함으로써 정확한 시험압력 유지가 곤란한 문제점이 있었다.
또한, 작업자의 피로도가 가중될 뿐 아니라, 시편 정렬을 작업자가 수작업에 의해 눈대중으로 함으로써, 정렬 불량으로 인한 시험 데이터 신뢰도 저하가 발생되었다.
대한민국 공개특허공보 제10-2012-0075159호 (발명의 명칭: 전기강판의 점적율 시험장치)
본 발명의 목적은 종래의 문제점을 해결하기 위한 전기강판의 점적율 시험장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치는 복수 개의 시편들을 적층시켜 수용하는 시편 수용부; 상기 복수 개의 시편들이 가압시편이 되도록 가압하는 가압부; 상기 가압부에 구비되고, 광을 이용하여 상기 가압시편의 높이를 측정하는 높이 측정부; 상기 가압 시편의 중량을 측정하는 중량 측정부; 상기 높이 및 상기 중량에 기초하여 상기 가압시편의 점적율을 산출하는 점적율 산출부; 및 상기 점적율을 사용자에게 표시하는 표시부를 포함한다.
따라서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치는 종래의 수작업에서 발생되는 측정 오차를 줄여 시험의 신뢰성을 높이고, 작업시 발생되는 안전사고의 위험을 최소화할 수 있다는 이점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치를 나타낸 장치도이다.
도 2는 도 1에 도시된 A를 확대한 확대도이다.
도 3은 도 2의 정면도이다.
도 4는 복수 개의 시편들이 가압된 상태를 나타낸 예시도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할 때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시 예에 따른 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치 및 방법을 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치를 나타낸 장치도이고, 도 2는 도 1에 도시된 A를 확대한 확대도이고, 도 3은 도 2의 정면도이며, 도 4는 복수 개의 시편들이 가압된 상태를 나타낸 예시도이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치(100)는 시편 수용부(200), 가압부(300), 높이 측정부(400), 점적율 산출부(500) 및 표시부(600)를 포함한다.
상기 시편 수용부(200)는 복수 개의 시편들(P1~Pn)을 적층시켜 수용한다. 보다 구체적으로, 상기 시편수용부(200)는 상기 복수 개의 시편들(P1~Pn)이 위치하는 베이스 플레이트(210) 및 상기 복수 개의 시편(P1~Pn)들이 고정되도록 상기 베이스 플레이트(210)의 표면에 하나 이상 형성된 이탈방지부재(211)를 포함할 수 있다.
상기 이탈방지부재(211)는 상기 베이스 플레이트(210)의 상부 방향으로 돌출된 구조를 가지며, 복수 개의 시편들(P1~Pn)이 적층된 상태에서 가압될 경우, 베이트 플레이트(210)에서 이탈을 방지하기 기능을 수행하기도 한다. 상기 이탈방지부재(211)는 돌출길이는 복수 개의 시편들(P1~Pn)이 적층된 높이(T)와 동일한 높이를 갖을 수 있다(도 4를 참조).
또한, 상기 베이스 플레이트(210)는 광을 반사시키기 위한 반사홈(212)이 구비될 수 있으며, 상기 반사홈(212)은 상기 베이스 플레이트(210)의 모서리에 각각 형성된다.
상기 반사홈(212)은 하기에서 후술할 높이 측정부(400)에서 조사된 광을 반사시키는 기능을 한다. 상기 높이 측정부(400)는 아래에서 보다 상세하게 설명하도록 한다.
상기 가압부(300)는 상기 복수 개의 시편들(P1~Pn)이 가압시편이 되도록 상기 복수 개의 시편들(P1~Pn)을 가압한다.
보다 구체적으로, 상기 가압부(300)는 가압판(310) 및 실린더(320)를 포함할 수 있다.
상기 가압판(310)는 육면체 형상의 구조체로서, 하부면의 크기는 시편의 크기와 동일할 수 있다. 상기 가압판(310)은 일정거리로 이격된 2개의 중공(H)이 형성되며, 각 중공(H) 내에는 접촉센서(311, 312)가 구비될 수 있다. 상기 접촉센서(311, 312)는 상기 가압판(310)의 하부면이 시편의 표면에 균일하게 접촉되었는지를 확인하는 기능을 하는 유닛으로, 가압판(310)이 시편에 접촉되면, 접촉센서(311, 312)는 발광하게 된다. 상기 접촉센서(311, 312)는 전류를 상기 가압판에 인가하여 저항의 크기로 접촉여부를 판단한다.
따라서, 복수 개의 시편들(P1~Pn)이 균일하게 배열 및 적층되지 못할 경우, 접촉센서(311, 312)는 발광하지 않으므로, 작업자는 시편의 배열상태 및 적층상태를 눈으로 용이하게 확인할 수 있다.
상기 실린더(320)는 상기 가압판(310)의 상부면과 연결되며, 상기 가압판(310)을 수직방향으로 상하 이동시키는 기능을 한다. 상기 실린더(320)는 유압식 또는 공압식으로 동작될 수 있으며, 실린더의 동작은 공지된 기술임으로, 보다 상세한 사항은 생략하도록 한다.
다음으로, 상기 높이 측정부(400)는 상기 가압부(300) 구비되고, 광을 이용하여 상기 가압시편의 높이(T1)를 측정하는 기능을 한다.
보다 구체적으로, 상기 높이 측정부(400)는 지지플레이트(410) 및 광센서부 (420)를 포함할 수 있다.
상기 지지플레이트(410)는 상기 가압판의 상부면과 기계적으로 연결되며, 표면에 상기 광센서부(420)를 수용하는 수용홈(411)이 형성되며, 상기 광 센서부(420)는 억지끼움 방식 또는 볼트 및 너트를 이용하여 수용홈과 체결된다.
상기 광 센서부(420)는 상기 반사홈으로 광을 조사한 후, 반사홈에서 반사된 반사광을 수신하여, 상기 광의 초기 조사시점 및 광의 최종 수신 시점이 포함된 광 정보를 제공하는 기능을 한다.
이때, 상기 광이 조사되는 시점은 상기 가압부가 동작되는 시점과 동일한 시점일 수 있으며, 상기 광의 최종 수신 시점은 상기 가압부의 가압동작이 완료된 시점과 동일한 시점일 수 있다. 이때, 상기 광 정보는 점적율 산출부로 제공된다.
다음으로, 상기 중량 측정부(500)는 상기 가압시편의 중량을 측정하는 기능을 한다.
한편, 상기 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치(100)는 매니퓰레이터(미도시)를 더 포함할 수 있으며, 상기 매니퓰레이터(미도시)는 가압시편을 중량 측정부로 이송시키는 기능을 한다. 상기 매니퓰레이터(미도시)는 외팔보 형태일 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
다음으로, 상기 점적율 산출부(600)는 높이 측정부에서 측정된 광 정보 및 중량 측정부에서 측정한 중량값을 이용하여 상기 가압시편의 점적율을 산출하는 기능을 한다.
보다 구체적으로, 상기 점적율 산출부(600)는 두께 산출부(610) 및 점적율 계산부(620)를 포함할 수 있다.
상기 두께 산출부(610)는 광 센서에서 제공된 광 정보에 기초하여 가압 시편의 두께를 산출한다.
상기 점적율 계산부는 가압시편의 중량, 가압시편의 가압두께, 시편의 질량, 폭, 길이에 기초하여 가압시편의 점적율을 산출한다.
여기서, 가압시편의 가압두께 및 가압시편의 중량은 변수인자이며, 시편의 질량, 폭, 길이는 고정인자일 수 있다.
다음으로, 표시부(700)는 점적율 산출부(600)에서 산출된 점적율을 사용자에게 표시한다.
상기 표시부(700)는 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diodes) 디스플레이, PDP(Plasma Display Panel) 등과 같은 다양한 형태의 디스플레이로 구현될 수 있다. 표시부(700) 내에는 a-si TFT, LTPS(low temperature poly silicon) TFT, OTFT(organic TFT) 등과 같은 형태로 구현될 수 있는 구동 회로, 백라이트 유닛 등도 함께 포함될 수 있다.
따라서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전기강판의 점적율 시험장치는 종래의 수작업에서 발생되는 측정 오차를 줄여 시험의 신뢰성을 높이고, 작업시 발생되는 안전사고의 위험을 최소화할 수 있다는 이점이 있다.
참고로, 본 발명에 제시한 점적율 산출부(600)는 컴퓨팅 디바이스일 수 있으며, 상기 컴퓨팅 디바이스는 적어도 하나의 프로세싱 유닛 및 메모리를 포함할 수 있다.
여기서, 프로세싱 유닛은 예를 들어 중앙처리장치(CPU), 그래픽처리장치(GPU), 마이크로프로세서, 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC), Field programmable Gate Arrays(FPGA) 등을 포함할 수 있으며, 복수의 코어를 가질 수 있다.
상기 메모리는 휘발성 메모리(예를 들어, RAM 등), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM, 플래시 메모리 등) 또는 이들의 조합일 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 추가적인 스토리지를 포함할 수 있다. 스토리지는 자기 스토리지, 광학 스토리지 등을 포함하지만 이것으로 한정되지 않는다.
상기 스토리지에는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예를 구현하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 명령이 저장될 수 있고, 운영 시스템, 애플리케이션 프로그램 등을 구현하기 위한 다른 컴퓨터 판독 가능한 명령도 저장될 수 있다. 스토리지에 저장된 컴퓨터 판독 가능한 명령은 프로세싱 유닛에 의해 실행되기 위해 메모리에 로딩될 수 있다.
한편, 컴퓨팅 디바이스는 네트워크을 통하여 다른 디바이스와 통신할 수 있게 하는 통신접속(들)을 포함할 수 있다. 여기서, 통신 접속(들)은 모뎀, 네트워크 인터페이스 카드(NIC), 통합 네트워크 인터페이스, 무선 주파수 송신기/수신기, 적외선 포트, USB 접속 또는 컴퓨팅 디바이스를 다른 컴퓨팅 디바이스에 접속시키기 위한 다른 인터페이스를 포함할 수 있다. 또한, 통신 접속(들) 은 유선 접속 또는 무선 접속을 포함할 수 있다.
상술한 컴퓨팅 디바이스의 각 구성요소는 버스 등의 다양한 상호접속(예를 들어, 주변 구성요소 상호접속(PCI), USB, 펌웨어(IEEE 1394), 광학적 버스 구조 등)에 의해 접속될 수도 있고, 네트워크에 의해 상호접속될 수도 있다.
이상에서 실시 예를 들어 본 발명을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시 예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다.
따라서 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술적 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술적 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호범위는 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술적 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 전기강판의 점적율 시험장치 200: 시편수용부
210: 베이스 플레이트 211: 이탈방지부재
212: 반사홈
300: 가압부 310: 가압판
311, 312: 접촉센서 320: 실린더
400: 높이 측정부 410: 지지플레이트
411: 홈 420: 광 센서부
500: 중량 측정부 600: 점적율 산출부
610: 두께 계산부 620: 점적율 계산부
700; 표시부

Claims (5)

  1. 복수 개의 시편들을 적층시켜 수용하는 시편 수용부;
    상기 복수 개의 시편들이 가압시편이 되도록 가압하는 가압부;
    상기 가압부에 구비되고, 광을 이용하여 상기 가압시편의 높이를 측정하는 높이 측정부;
    상기 가압시편의 중량을 측정하는 중량 측정부;
    상기 가압시편의 높이 및 중량에 기초하여 상기 가압시편의 점적율을 산출하는 점적율 산출부; 및
    상기 점적율을 사용자에게 표시하는 표시부를 포함하고,
    상기 가압부는, 적어도 하나 이상의 중공이 형성되고, 상기 중공 내에 접촉센서가 구비된 가압판을 포함하는 전기강판의 점적율 시험장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 시편 수용부는,
    상기 복수 개의 시편들이 위치하는 베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트의 표면에 형성된 하나 이상의 이탈방지부재를 포함하고,
    상기 이탈방지부재는,
    상기 복수 개의 시편들이 상기 가압부에 의해 가압될 경우, 상기 베이스 플레이트의 외부로 이탈되는 것을 방지하는 전기강판의 점적율 시험장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트는,
    상기 광을 반사시키는 반사홈이 하나 이상 구비된 전기강판의 점적율 시험장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 높이 측정부는,
    상기 반사홈으로 광을 조사하여 반사된 광을 수신하는 한 후, 상기 광의 초기 조사시점 및 광의 최종 수신 시점이 포함된 광 정보를 제공하는 광 센서부를 포함하는 전기강판의 점적율 시험장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 점적율 산출부는,
    상기 광 센서부에서 제공된 광 정보에 기초하여 상기 가압시편의 가압두께를 산출하는 두께 산출부; 및
    상기 가압시편의 중량 및 가압두께, 시편의 질량, 폭, 길이에 기초하여 상기 가압시편의 점적율을 계산하는 점적율 계산부를 포함하는 전기강판의 점적율 시험장치.
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KR20190047959A (ko) * 2017-10-30 2019-05-09 한양대학교 산학협력단 경도 측정장치
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