KR101692404B1 - Semiconductor light emitting device for uv curing - Google Patents

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KR101692404B1 KR1020160015508A KR20160015508A KR101692404B1 KR 101692404 B1 KR101692404 B1 KR 101692404B1 KR 1020160015508 A KR1020160015508 A KR 1020160015508A KR 20160015508 A KR20160015508 A KR 20160015508A KR 101692404 B1 KR101692404 B1 KR 101692404B1
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황성민
박중서
조인성
임원택
신선혜
김두수
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주식회사 소프트에피
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Abstract

The present disclosure relates to a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing. The semiconductor light emitting device comprises a semiconductor light emitting device chip which includes an active layer, and emits light including ultraviolet light in the active layer; and an encapsulant which covers at least a part of the semiconductor light emitting device chip, and includes a wavelength conversion material that emits light having a peak wavelength different from light emitted from the semiconductor light emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip. At least 50% of light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used for ultraviolet curing. So, the loss of a ultraviolet ray can be minimized.

Description

자외선 경화를 위한 반도체 발광소자{SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DEVICE FOR UV CURING}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing,

본 개시(Disclosure)는 전체적으로 자외선 경화에 사용되는 반도체 발광소자에 대한 것으로, 특히 자외선 경화 성능을 유지하면서 다양한 색을 발광하는 자외선 경화에 사용되는 반도체 발광소자에 관한 것이다.The present disclosure relates to a semiconductor light emitting device used for ultraviolet curing as a whole, and more particularly to a semiconductor light emitting device used for ultraviolet curing which emits various colors while maintaining ultraviolet curing performance.

여기서는, 본 개시에 관한 배경기술이 제공되며, 이들이 반드시 공지기술을 의미하는 것은 아니다(This section provides background information related to the present disclosure which is not necessarily prior art). Herein, the background art relating to the present disclosure is provided, and these are not necessarily meant to be known arts.

도 1은 종래의 반도체 발광소자 칩의 일 예를 나타내는 도면이다.1 is a view showing an example of a conventional semiconductor light emitting device chip.

반도체 발광소자 칩은 성장기판(10; 예: 사파이어 기판), 성장기판(10) 위에, 버퍼층(20), 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(30; 예: n형 GaN층), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(40; 예; INGaN/(In)GaN MQWs), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(50; 예: p형 GaN층)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 전류 확산을 위한 투광성 전도막(60)과, 본딩 패드로 역할하는 전극(70)이 형성되어 있고, 식각되어 노출된 제1 반도체층(30) 위에 본딩 패드로 역할하는 전극(80: 예: Cr/Ni/Au 적층 금속 패드)이 형성되어 있다. 도 1과 같은 형태의 반도체 발광소자를 특히 레터럴 칩(Lateral Chip)이라고 한다. 여기서, 성장기판(10) 측이 외부와 전기적으로 연결될 때 장착면이 된다.The semiconductor light emitting device chip includes a buffer layer 20, a first semiconductor layer 30 (e.g., an n-type GaN layer) 30 having a first conductivity, An active layer 40 (e.g., INGaN / (In) GaN MQWs) that generates light through recombination of holes, and a second semiconductor layer 50 (e.g., a p-type GaN layer) having a second conductivity different from the first conductivity A light transmitting conductive film 60 for current diffusion and an electrode 70 serving as a bonding pad are formed on the first semiconductor layer 30 and the first semiconductor layer 30 is etched to serve as a bonding pad Electrode 80 (e.g., a Cr / Ni / Au laminated metal pad) is formed. The semiconductor light emitting device of the type shown in FIG. 1 is called a lateral chip in particular. Here, when the growth substrate 10 side is electrically connected to the outside, it becomes a mounting surface.

도 2는 미국 등록특허공보 제7,262,436호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 다른 예를 나타내는 도면이다. 설명의 편의를 위해 도면기호를 변경하였다.2 is a view showing another example of the semiconductor light-emitting device chip disclosed in U.S. Patent No. 7,262,436. For ease of explanation, the drawing symbols have been changed.

반도체 발광소자 칩은 성장기판(10), 성장기판(10) 위에, 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(30), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(40), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(50)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 성장기판(10) 측으로 빛을 반사시키기 위한 3층으로 된 전극막(90, 91, 92)이 형성되어 있다. 제1 전극막(90)은 Ag 반사막, 제2 전극막(91)은 Ni 확산 방지막, 제3 전극막(92)은 Au 본딩층일 수 있다. 식각되어 노출된 제1 반도체층(30) 위에 본딩 패드로 기능하는 전극(80)이 형성되어 있다. 여기서, 전극막(92) 측이 외부와 전기적으로 연결될 때 장착면이 된다. 도 2와 같은 형태의 반도체 발광소자 칩을 특히 플립 칩(Flip Chip)이라고 한다. 도 2에 도시된 플립 칩의 경우 제1 반도체층(30) 위에 형성된 전극(80)이 제2 반도체층 위에 형성된 전극막(90, 91, 92)보다 낮은 높이에 있지만, 동일한 높이에 형성될 수 있도록 할 수도 있다. 여기서 높이의 기준은 성장기판(10)으로부터의 높이일 수 있다. The semiconductor light emitting device chip includes a growth substrate 10, a growth substrate 10, a first semiconductor layer 30 having a first conductivity, an active layer 40 for generating light through recombination of electrons and holes, And a second semiconductor layer 50 having a second conductivity different from that of the second semiconductor layer 50 are deposited in this order on the substrate 10, and three layers of electrode films 90, 91, and 92 for reflecting light toward the growth substrate 10 are formed have. The first electrode film 90 may be an Ag reflective film, the second electrode film 91 may be an Ni diffusion prevention film, and the third electrode film 92 may be an Au bonding layer. An electrode 80 functioning as a bonding pad is formed on the first semiconductor layer 30 exposed by etching. Here, when the electrode film 92 side is electrically connected to the outside, it becomes a mounting surface. The semiconductor light emitting device chip of the type shown in FIG. 2 is called a flip chip. In the case of the flip chip shown in FIG. 2, the electrodes 80 formed on the first semiconductor layer 30 are lower in height than the electrode films 90, 91, and 92 formed on the second semiconductor layer, . Here, the height reference may be a height from the growth substrate 10.

도 3은 종래의 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면이다.3 is a view showing an example of a conventional semiconductor light emitting device.

반도체 발광소자(100)는 리드 프레임(110, 120), 베이스(130), 그리고 캐비티(140) 내에 수직형 반도체 발광소자 칩(150; Vertical Type Light Emitting Chip)이 구비되어 있고, 캐비티(140)는 파장 변환재(160)를 함유하는 봉지재(170)로 채워져 있다. 수직형 반도체 발광소자 칩(150)의 하면이 리드 프레임(110)에 전기적으로 직접 연결되고, 상면이 와이어(180)에 의해 리드 프레임(120)에 전기적으로 연결되어 있다. 수직형 반도체 발광소자 칩(150)에서 나온 광의 일부가 파장 변환재(160)를 여기 시켜 다른 색의 광을 만들어 두 개의 서로 다른 광이 혼합되어 백색광을 만들 수 있다. 예를 들어 반도체 발광소자 칩(150)은 청색광을 만들고 파장 변환재(160)에 여기 되어 만들어진 광은 황색광이며, 청색광과 황색광이 혼합되어 백색광을 만들 수 있다. 도 3은 수직형 반도체 발광소자 칩(150)을 사용한 반도체 발광소자를 보여주고 있지만 , 도 1 및 도 2에 도시된 반도체 발광소자 칩을 사용하여 도 3과 같은 형태의 반도체 발광소자를 제조할 수도 있다. 최근에는 반도체 발광소자의 크기가 소형화되는 경향이 있으며, 이에 도 3과 같은 형태의 반도체 발광소자보다 칩 크기의 패키지(CSP : Chip Scale Package)에 대한 개발이 활발히 진행되고 있다. 예를 들어 일본 공개특허공보 제2014-179586호에는 CSP에 대한 일 예를 보여주고 있다.The semiconductor light emitting device 100 is provided with lead frames 110 and 120, a base 130, and a vertical type light emitting chip 150 in the cavity 140, Is filled with an encapsulant 170 containing the wavelength conversion material 160. The lower surface of the vertical type semiconductor light emitting device chip 150 is electrically connected directly to the lead frame 110 and the upper surface thereof is electrically connected to the lead frame 120 by the wire 180. A part of the light emitted from the vertical type semiconductor light emitting device chip 150 excites the wavelength conversion material 160 to produce light of a different color, and two different lights may be mixed to form white light. For example, the semiconductor light emitting device chip 150 generates blue light, and the light generated by exciting the wavelength conversion material 160 is yellow light, and blue light and yellow light may be mixed to form white light. FIG. 3 shows a semiconductor light emitting device using the vertical semiconductor light emitting device chip 150, but it is also possible to manufacture the semiconductor light emitting device of FIG. 3 using the semiconductor light emitting device chip shown in FIGS. 1 and 2 have. In recent years, the size of the semiconductor light emitting device tends to be miniaturized. Accordingly, a chip size package (CSP) has been developed more actively than a semiconductor light emitting device having the shape shown in FIG. For example, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2014-179586 shows an example of CSP.

도 4는 미국 공개특허공보 제2013-0313445호에 개시된 자외선 경화(curing) 장치의 일 예를 보여주는 도면이다. 4 is a view showing an example of an ultraviolet curing apparatus disclosed in U.S. Patent Publication No. 2013-0313445.

경화 장치는 박스 모양의 하우징 내부에 자외선 광원(예: 자외선 램프, 자외선 반도체 발광소자)을 켠 후 하우징 내부로 자외선 경화 물질을 바른 손톱을 넣음으로써 자외선에 의한 경화가 이루어진다. 장시간의 자외선 노출은 인체에 해로운 영향을 줄 수 있으므로 타이머를 이용하여 경화시간을 적절히 조절하는 것을 바람직하다. 자외선의 경우 시감도가 매우 낮아서 사용자가 인지하는 광은 경화에 관여하는 자외선이 아니라 자외선보다 파장이 긴 영역에서 발광하는 가시광선 영역의 광이다. 그러나 종래의 자외선 경화에 사용되는 반도체 발광소자에서 발광하는 가시광선 영역의 광은 의도된 것이 아니라 반도체 발광소자에 사용된 반도체 발광소자 칩의 결정 결함이나 구조 결함에 의해 발생하는 것이기 때문에 사용자가 인식하는 가시광선 영역의 광의 색감이 일정하지 않다. 또한 결정 결함이나 구조 결함에 의해 발생하는 가시광선 영역의 광은 주로 청자색 또는 황색 혹은 이들의 혼합색으로 사용자에게 위화감을 주는 문제도 있다.The curing device is cured by ultraviolet light by turning on an ultraviolet light source (for example, an ultraviolet lamp or an ultraviolet light emitting device) inside a box-shaped housing, and then placing a nail with an ultraviolet curing material inside the housing. Exposure to ultraviolet rays for a long time may have a detrimental effect on the human body, so it is preferable to appropriately adjust the curing time using a timer. In the case of ultraviolet rays, the visibility is so low that the light perceived by the user is not the ultraviolet rays involved in curing but the light in the visible light region emitting in a wavelength region longer than ultraviolet rays. However, since the light in the visible light region emitted from the semiconductor light emitting device used in the conventional ultraviolet curing is not intended, it is caused by crystal defects or structural defects of the semiconductor light emitting device chip used in the semiconductor light emitting device, The color tone of the light in the visible light region is not constant. In addition, the light in the visible light region generated by crystal defects or structural defects is mainly bluish purple or yellow or a mixed color thereof, which causes the user to feel discomfort.

본 개시는 종래의 자외선 경화 장치에 사용되는 반도체 발광소자의 제조 원가를 최소화하면서도 사용자에게 일정한 색감을 제공하고 더 나아가 경화를 위한 자외선의 손실을 최소화한 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자를 제공하고자 한다.The present disclosure provides a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing that minimizes the manufacturing cost of a semiconductor light emitting device used in a conventional ultraviolet curing apparatus and provides a uniform color to a user and further minimizes loss of ultraviolet rays for curing.

이에 대하여 '발명을 실시하기 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described later in the Specification for Enforcement of the Invention.

여기서는, 본 개시의 전체적인 요약(Summary)이 제공되며, 이것이 본 개시의 외연을 제한하는 것으로 이해되어서는 아니된다(This section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).SUMMARY OF THE INVENTION Herein, a general summary of the present disclosure is provided, which should not be construed as limiting the scope of the present disclosure. of its features).

본 개시에 따른 하나의 태양에 의하면(According to one aspect of the present disclosure), 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에 있어서, 활성층을 포함하는 반도체 발광소자 칩;으로서, 활성층에서 자외선을 포함하는 광을 발광하는 반도체 발광소자 칩; 그리고, 반도체 발광소자 칩의 적어도 일부를 덮고 있는 봉지재;로서, 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광과 다른 색을 발광하게 하는 파장 변환재를 포함하는 봉지재;를 포함하며, 반도체 발광소자 칩에서 발광하는 광 중에서 50% 이상은 자외선 경화에 사용되는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자가 제공된다.According to one aspect of the present disclosure, there is provided a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing, comprising: a semiconductor light emitting device chip including an active layer, wherein light emitted from the active layer A semiconductor light emitting device chip; An encapsulant covering at least a part of the semiconductor light-emitting device chip, the encapsulant including a wavelength conversion material that emits light of a color different from light emitted from the semiconductor light-emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light-emitting device chip; And more than 50% of the light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used for ultraviolet curing. The present invention also provides a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing.

이에 대하여 '발명을 실시하기 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described later in the Specification for Enforcement of the Invention.

도 1은 종래의 반도체 발광소자 칩의 일 예를 나타내는 도면,
도 2는 미국 등록특허공보 제7,262,436호에 제시된 반도체 발광소자 칩의 다른 예를 나타내는 도면,
도 3은 종래의 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 4는 미국 공개특허공보 제2013-0313445호에 개시된 자외선 경화(curing) 장치의 일 예를 보여주는 도면,
도 5는 파장 변환재에 의해 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 손실을 구하는 계산식의 일 예를 보여주는 도면,
도 6은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 일 예를 보여주는 도면,
도 7은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에서 자외선 경화에 적합하면서 백색광을 얻을 수 있는 이유를 설명하는 도면,
도 8은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 다른 예를 보여주는 도면,
도 9는 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 또 다른 예를 보여주는 도면.
1 is a view showing an example of a conventional semiconductor light emitting device chip,
2 is a view showing another example of the semiconductor light-emitting device chip disclosed in U.S. Patent No. 7,262,436,
3 is a view showing an example of a conventional semiconductor light emitting device,
4 is a diagram showing an example of an ultraviolet curing apparatus disclosed in U.S. Patent Application Publication No. 2013-0313445,
5 is a view showing an example of a calculation formula for obtaining the loss of light emitted from the semiconductor light emitting device chip by the wavelength conversion material,
6 is a view showing an example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure;
7 is a view for explaining the reason why white light can be obtained while being suitable for ultraviolet curing in a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure,
8 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure,
9 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure.

이하, 본 개시를 첨부된 도면을 참고로 하여 자세하게 설명한다(The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)). The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 파장 변환재에 의해 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 손실을 구하는 계산식의 일 예를 보여주는 도면이다.5 is a diagram showing an example of a calculation formula for obtaining loss of light emitted from the semiconductor light emitting device chip by the wavelength conversion material.

도 5(a)와 같이 적색(200), 녹색(210) 및 청색(220) 세 가지 색의 광을 혼합할 때 적색(200)의 색좌표와 밝기를 (x1, y1), Y1 이라 하고 녹색(210)의 색좌표와 밝기를 (x2, y2), Y2 이라 하고 청색(220)의 색좌표와 밝기를 (x3, y3), Y3 이라 하고 세 가지 색의 광이 혼합된 결과(230)의 색좌표와 밝기를 (xt, yt), Yt 이라 하면, 도 5(b)와 같은 계산식에 따라 세 가지 색의 밝기의 비율 Y1:Y2:Y3(=1)을 얻을 수 있다. 세 가지 색의 밝기 비율로부터 각각의 광의 비율을 시감도 곡선을 이용하여 환산할 수 있다. 세 가지 색의 광의 비율을 P1:P2:P3 라 하고 사용된 파장 변환재의 변환 효율을 η라 하고, Y1:Y2:Y3 를 얻기 위한 파장 변환재에 의한 발광(P1 + P2)의 비율 α라고 하고, 파장 변환재에 의한 광의 손실(Po Loss)을 α'라 하면 도 5(c)의 계산식을 통해 α'을 얻을 수 있다. 도 5(d)는 P1, P2 및 P3와 P'1, P'2 및 P'3의 관계를 보여주는 도면이다. 5 (a), the color coordinates and brightness of the red light 200 are represented by (x 1 , y 1 ) and Y 1 when the light of three colors of red 200, green 210 and blue 220 is mixed. The color coordinates and brightness of green 210 are represented by (x 2 , y 2 ) and Y 2 , the color coordinates and brightness of blue 220 are represented by (x 3 , y 3 ), and Y 3 , the result Y (230) color coordinates and brightness of the (x t, y t), Y if as t, Figure 5 (b) the ratio of brightness of the three colors in accordance with the calculation, such as the 1: Y 2: Y 3 ( = 1) can be obtained. The ratio of each light from the brightness ratio of the three colors can be converted using the visibility curve. The ratio of light of three colors is P 1 : P 2 : P 3 And the ratio of the light emission (P 1 + P 2 ) by the wavelength converting material for obtaining Y 1 : Y 2 : Y 3 is defined as?, And the loss of light due to the wavelength conversion material (Po Loss) is? ',?' Can be obtained through the calculation formula of FIG. 5 (c). 5 (d) is a view showing the relationship between P 1 , P 2 and P 3 and P ' 1 , P' 2 and P ' 3 .

도 6은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 일 예를 보여주는 도면이다.6 is a view showing an example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure.

자외선 경화를 위한 반도체 발광소자(300)는 활성층(311)을 포함하는 반도체 발광소자 칩(310) 및 반도체 발광소자 칩(310)의 적어도 일부분을 덮고 있는 봉지제(320)를 포함한다. 반도체 발광소자 칩(310)은 플립 칩, 래터럴 칩 및 수직 칩 중 하나일 수 있다. 도 6에서는 플립 칩의 단면도를 도시하고 있다. 또한 CSP 형태의 반도체 발광소자를 도시하고 있지만 도 3과 같은 패키지 형태의 반도체 발광소자도 가능하다. 반도체 발광소자 칩(310)은 전극(312)을 포함한다. 활성층(311)은 자외선을 포함하는 광을 발광한다. 예를 들어 반도체 발광소자 칩(310)은 380nm 이상 내지 410nm 이하 파장대의 자외선을 발광할 수 있다. 바람직하게는 385nm 파장의 자외선을 발광한다. 385nm 파장의 자외선이 바람직한 이유는 도 7에서 설명한다. 봉지재(320)는 반도체 발광소자 칩(310)에서 나오는 광에 반응하여 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광과 다른 색을 발광하게 하는 파장 변환재(321)를 포함한다. 파장 변환재(321)의 종류와 특성은 도 7 내지 도 8에서 설명한다. 다만 파장 변환재(321)에 의해 반도체 발광소자 칩(310)에서 나오는 광의 손실은 20% 이하가바람직하다. 광의 손실이 20% 이상인 경우에는 자외선 경화의 효율이 떨어지기 때문에 바람직하지 않다. 즉 반도체 발광소자 칩(310)에서 나오는 경화를 위한 자외선의 80%이상은 파장 변환재(321)에 반응하지 않는 것이 바람직하다. 실험적으로 자외선 경화를 위해서는 적어도 반도체 발광소자 칩(320)에서 나오는 경화를 위한 자외선의 50% 이상은 파장 변환재(321)에 반응하지 않는 것이 바람직하다. 도 6(b)는 봉지재(220)의 다양한 위치를 보여준다.The semiconductor light emitting device 300 for ultraviolet curing includes a semiconductor light emitting device chip 310 including the active layer 311 and an encapsulant 320 covering at least a part of the semiconductor light emitting device chip 310. The semiconductor light emitting device chip 310 may be one of a flip chip, a lateral chip, and a vertical chip. 6 is a cross-sectional view of the flip chip. In addition, although a CSP type semiconductor light emitting device is shown, a package type semiconductor light emitting device as shown in FIG. 3 is also possible. The semiconductor light emitting device chip 310 includes an electrode 312. The active layer 311 emits light including ultraviolet rays. For example, the semiconductor light emitting device chip 310 may emit ultraviolet light having a wavelength range of 380 nm to 410 nm. And preferably emits ultraviolet light having a wavelength of 385 nm. The reason why ultraviolet rays of 385 nm wavelength is preferable is explained in Fig. The encapsulant 320 includes a wavelength conversion material 321 that emits light of a different color from light emitted from the semiconductor light emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip 310. The types and characteristics of the wavelength conversion material 321 will be described with reference to FIGS. 7 to 8. FIG. However, the loss of light emitted from the semiconductor light emitting device chip 310 by the wavelength converting material 321 is preferably 20% or less. When the loss of light is 20% or more, the efficiency of ultraviolet curing is deteriorated, which is not preferable. That is, it is preferable that 80% or more of ultraviolet rays for curing emitted from the semiconductor light emitting device chip 310 does not react with the wavelength converting material 321. Experimentally, it is preferable that at least 50% of ultraviolet rays for curing from the semiconductor light emitting device chip 320 do not react with the wavelength converting material 321 for ultraviolet curing. FIG. 6 (b) shows various positions of the sealing material 220.

도 7은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에서 자외선 경화를 위한 자외선의 손실이 적은 상태로 백색광을 얻을 수 있는 이유를 설명하는 도면이다.7 is a view for explaining the reason why white light can be obtained in a state where loss of ultraviolet rays for ultraviolet curing is small in a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure.

도 7(a)는 400nm 파장의 자외선을 발광하는 반도체 발광소자 칩과 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 황색을 발광하게 하는 황색 파장 변환재를 사용한 반도체 발광소자의 특징을 보여준다. 400nm 파장의 색좌표(400)는 (0.178, 0.051)이며, 황색 파장 변환재를 사용하는 양에 따라 반도체 발광소자는 색좌표 상에서 #1(410)에서 #10(411)로 색좌표가 변한다. 황색 파장 변환재는 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 도 7(b)와 같은 발광 스펙트럼을 갖는 광을 발광한다. 즉 피크 파장(420)이 565nm이며, 상대적 강도가 60%인 양단 지점(421, 422)이 515nm와 610nm의 파장을 각각 갖는다. 양단 지점 중 515nm 파장(421)의 색좌표는 (0.66576, 0.33401)이고 610nm 파장(422)의 색좌표는 (0.03885, 0.81202)이다. 즉 적색광과 녹색광이 나오는 것을 알 수 있다. 반도체 발광소자 칩에서 나오는 청색과 황색 파장 변환재에서 나오는 적색 및 녹색의 3 색 광이 혼합되어 백색광을 얻을 수 있다. 반도체 발광소자에서 나오는 광의 색좌표가 (0.275, 0.2450)인 경우를 얻기 위해서 반도체 발광소자 칩에서는 나오는 밝기를 Y3, 파장 변환재에 의해 나오는 녹색 광의 밝기를 Y1 그리고 파장 변환재에 의해 나오는 적색 광의 밝기를 Y2라 하였을 때, 도 5에서 설명한 계산식에 따라 파장 변환재에 의한 광 손실(Po Loss) α'을 얻을 수 있다. 하기 표는 반도체 발광소자에서 나오는 광의 색좌표에 따른 광 손실을 보여주는 시뮬레이션 자료이다. 도 7(c)는 [표 1]을 그래프로 표시한 것이다.7 (a) shows a characteristic of a semiconductor light emitting device using a yellow wavelength conversion material which emits yellow light in response to light emitted from a semiconductor light emitting device chip and a semiconductor light emitting device chip which emits ultraviolet rays of 400 nm wavelength. The color coordinates 400 of the 400 nm wavelength are (0.178, 0.051), and the color coordinates of the semiconductor light emitting device change from # 1 410 to # 10 (411) on the chromaticity coordinates according to the amount of use of the yellow wavelength conversion material. The yellow wavelength conversion material emits light having an emission spectrum as shown in FIG. 7 (b) in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip. That is, both ends 421 and 422 having a peak wavelength 420 of 565 nm and a relative intensity of 60% have wavelengths of 515 nm and 610 nm, respectively. The color coordinates of the 515 nm wavelength 421 at both ends are (0.66576, 0.33401) and the color coordinates of the 610 nm wavelength 422 are (0.03885, 0.81202). That is, red light and green light. The white light can be obtained by mixing the three colors of red and green light emitted from the blue and yellow wavelength conversion material from the semiconductor light emitting device chip. In order to obtain the case where the color coordinates of the light emitted from the semiconductor light emitting device is (0.275, 0.2450), the brightness emitted from the semiconductor light emitting device chip is Y3, the brightness of the green light emitted by the wavelength converting material is Y1, and the brightness of red light emitted by the wavelength converting material Y2, a light loss (Po_Loss) due to the wavelength conversion material can be obtained according to the equation described in Fig. The following table is simulation data showing the light loss according to the color coordinates of the light emitted from the semiconductor light emitting device. 7 (c) is a graph showing [Table 1].

번호number zz xx yy Po Loss(%)Po Loss (%) #1#One 0.3870.387 0.3060.306 0.30700.3070 20.520.5 #2#2 0.480.48 0.2750.275 0.24500.2450 13.613.6 #3# 3 0.5640.564 0.2470.247 0.18900.1890 8.78.7 #4#4 0.570.57 0.2450.245 0.18500.1850 8.48.4 #5# 5 0.5820.582 0.2410.241 0.17700.1770 7.87.8 #6# 6 0.7120.712 0.1980.198 0.09000.0900 2.12.1 #7# 7 0.7320.732 0.1910.191 0.07700.0770 1.41.4 #8#8 0.7470.747 0.1860.186 0.06700.0670 0.830.83 #9# 9 0.750.75 0.1850.185 0.06500.0650 0.720.72 #10# 10 0.7680.768 0.1790.179 0.05300.0530 0.100.10

#1(410)에서 약 20.5%의 광 손실이 발생한다. 이는 색좌표 상에서는 백색에 해당한다. 즉 자외선 경화에 사용되는 400nm 파장의 광을 20.5% 손실하는 대신에 반도체 발광소자는 백색광을 발광한다는 것을 보여준다. 도 7(d)는 파장 변환재의 변환율(CR(Conversion Rate))에 대한 시뮬레이션 자료(430)와 실험 자료(431) 그리고 광의 손실(432)을 반도체 발광소자의 색좌표(z)에 대하여 보여주는 그래프이다. 반도체 발광소자가 백색광을 발광하는 #1(410)의 영역에서는 파장 변환재에 의한 광의 손실이 CR보다 크지만 z 좌표가 낮은 즉 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 색좌표에 가까워질수록 광의 손실과 CR이 거의 유사한 값을 갖게 된다. 이것은 파장 변환재의 양이 증가하면 파장 변환재의 변환에 의한 광의 손실이 증가하고, 파장 변환재의 양이 적으면 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 대부분은 파장 변환재와 반응하지 않고 그냥 통과하기 때문이다. 도 7(e)는 반도체 발광소자의 색좌표 z와 색순도(440, Color Purity)가 선형으로 비례함을 보여주며, 동시에 CR(441)은 색순도(440)와 반비례함을 보여준다. 색순도가 60% 이하인 경우에도 반도체 발광소자는 백색광이 충분히 발현되는 것을 확인하였다. 또한 백색광의 색순도가 50% 이하인 경우에도 종래의 백색광을 발광하는 반도체 발광소자를 사용하는 것과 차이가 없었다. 따라서 도 7(c) 내지 도 7(e)를 통해 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 약 80%가 경화에 사용되어도 나머지 약 20%가 파장 변환재와 반응하여 충분히 반도체 발광소자는 백색광을 발광할 수 있는 것을 보여준다. 도 7(f)는 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광의 파장에 따른 파장 변환재의 변환율과 색순도 사이의 관계를 보여준다. 385nm 파장의 광을 발광하는 반도체 발광소자 칩(450)이 낮은 변환율에서도 높은 색순도를 얻을 수 있는 것을 보여준다. 파장 변환재의 변환율이 낮을수록 광의 손실이 적기 때문에 동일한 수준의 색순도를 얻기 위해서는 낮은 파장의 자외선을 발광하는 반도체 발광소자 칩을 사용하는 것이 바람직하다. 또한 385nm 파장의 자외선을 발광하는 반도체 발광소자 칩을 사용하는 경우에는 반도체 발광소자가 발광하는 백색광의 색순도가 10% 내지 40%이어도 광의 손실이 400nm 파장의 자외선을 발광하는 반도체 발광소자 칩을 사용하는 경우보다 크지 않기 때문에 시인성과 광의 손실을 고려하며 색순도 10% 내지 40%가 바람직하다.And light loss of about 20.5% occurs in # 1 (410). This corresponds to white on the color coordinate system. That is, the semiconductor light emitting device emits white light instead of 20.5% loss of light having a wavelength of 400 nm used for ultraviolet curing. 7D is a graph showing simulation data 430, experimental data 431 and loss of light 432 of the wavelength conversion material CR (Conversion Rate) with respect to the color coordinate z of the semiconductor light emitting device . In the region of # 1 410 where the semiconductor light emitting device emits white light, the loss of light due to the wavelength conversion material is larger than CR but the z coordinate is lower, that is, the closer to the color coordinate of the light emitted from the semiconductor light emitting device chip, They have almost similar values. This is because if the amount of the wavelength conversion material increases, the loss of light due to the conversion of the wavelength conversion material increases, and if the amount of the wavelength conversion material is small, most of the light emitted from the semiconductor light emitting device chip passes through without passing through the wavelength conversion material. 7E shows that the chromaticity coordinate z and the color purity 440 of the semiconductor light emitting device are linearly proportional to each other while the CR 441 is inversely proportional to the color purity 440. Even when the color purity was 60% or less, it was confirmed that the semiconductor light emitting element was sufficiently exposed to white light. Further, even when the color purity of the white light is 50% or less, there is no difference from using the conventional semiconductor light emitting element that emits white light. 7 (c) to 7 (e), even when about 80% of the light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used for curing, the remaining about 20% of the light reacts with the wavelength converting material, . FIG. 7 (f) shows the relationship between the conversion ratio and the color purity of the wavelength converting material according to the wavelength of light emitted from the semiconductor light emitting device chip. The semiconductor light-emitting device chip 450 that emits light having a wavelength of 385 nm can obtain high color purity even at a low conversion rate. It is preferable to use a semiconductor light emitting device chip which emits ultraviolet rays of a low wavelength to obtain the same level of color purity since the loss of light is small as the conversion rate of the wavelength conversion material is low. When a semiconductor light emitting device chip that emits ultraviolet rays having a wavelength of 385 nm is used, a semiconductor light emitting device chip that emits ultraviolet light having a wavelength of 400 nm even if the color purity of the white light emitted by the semiconductor light emitting device is 10% to 40% It is preferable that the color purity is 10% to 40%, considering visibility and light loss.

도 8은 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 다른 예를 보여주는 도면이다.8 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure.

자외선 경화 장치에 사용되는 반도체 발광소자가 백색광을 발광하는 경우 사용자의 시인성을 높이는 장점이 있지만, 사용자에게 심미감을 느끼게 하는 광으로는 부족하다. 자외선 경화 장치에 사용되는 반도체 발광소자가 청색계열의 시안(Cyan)이나, 녹색계열의 연두색 혹은 적색계열의 핑크(Pink)색 등 유색광을 발광하는 경우 미용에 사용되는 자외선 경화 장치는 사용자에게 높은 호감을 줄 수 있을 것이다. 이에 도 8(a)와 같이 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 피크 파장의 색좌표가 (0.178, 0.575)인 녹색을 발광하게 하는 녹색 파장 변환재를 사용하면, 점선(500)을 따라 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자가 발광할 수 있기 때문에 색순도가 높은 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자를 얻을 수 있다. 다만 이 경우에도 파장 변환재에 의해 변환되지 않는 자외선이 적어도 50% 이상이 되어야 한다. 도 8(b)는 파장 변환재에 의한 자외선의 광 손실(510) 및 CR(511)과 반도체 발광소자의 색좌표 z 사이의 관계를 보여준다. 도 8(c)는 색좌표에서 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 적색을 발광하게 하는 적색 파장 변환재를 사용한 경우 반도체 발광소자가 점선(520)을 따라 발광하는 것을 보여주며, 또한 파장 변환재에 의한 자외선의 광 손실(530) 및 CR(531)과 반도체 발광소자의 색좌표 z 사이의 관계를 보여준다. 도 7 내지 도 8에서 사용하는 파장 변환재로서 백색광을 얻기 위해서는 도 7에 기재된 황색 파장 변환재와 같이 발광 스펙트럼이 넓은 것을 사용하는 것이 바람직하지만, 도 8에 기재된 적색 또는 녹색과 같이 색순도가 높은 광을 얻기 위해서는 발광 스펙트럼이 좁은 것을 사용하는 것이 바람직하다. 예를 들어 발광스펙트럼이 30nm 이하인 양자점 파장 변환재(Quantum Dot Phosphor)를 사용하는 것이 바람직하다. 파장 변환재로 많이 사용되는 것으로는 YAG(Garmet) 형광체, 실리케이트 형광체, 나이트라이드 형광체, 루악(LuAG) 형광체 등이 있다. YAG 형광체는 변환효율이 가장 좋으며 발광스펙트럼이 넓어서 청색 LED로 백색 LED를 만드는데 가장 널리 사용되고, 나이트라이드 형광체는 적색계열을 내는데 효과적이며, 루악 형광체는 자외선을 광원으로 사용시 효과적으로 발색이 가능한 장점이 있다. 도 8에서 설명하는 것을 제외하고는 도 6에 설명한 반도체 발광소자와 실질적으로 동일하다.Although a semiconductor light emitting element used in an ultraviolet curing apparatus has an advantage of enhancing the visibility of a user when white light is emitted, it is insufficient for the user to feel aesthetically pleasing. When the semiconductor light emitting element used in the ultraviolet curing apparatus emits colored light such as blue cyan or green system green or pink based color, the ultraviolet curing apparatus used for cosmetics has a high It will give you a good feeling. 8 (a), when a green wavelength conversion material that emits green light having a peak wavelength of (0.178, 0.575) in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used, ultraviolet curing A semiconductor light emitting element for ultraviolet curing with high color purity can be obtained. In this case, however, ultraviolet rays not converted by the wavelength conversion material should be at least 50%. 8 (b) shows the relationship between the optical loss 510 of the ultraviolet light by the wavelength converting material and the chromaticity coordinate z of the semiconductor light emitting element, and the CR 511. 8 (c) shows that the semiconductor light emitting device emits light along the dotted line 520 when a red wavelength conversion material that emits red light in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used in the color coordinate system. Further, And the relationship between the CR 531 and the chromaticity coordinate z of the semiconductor light emitting device. In order to obtain white light as the wavelength converting material used in Figs. 7 to 8, it is preferable to use a material having a broad emission spectrum like the yellow wavelength conversion material described in Fig. 7, but it is preferable to use a material having a high color purity such as red or green It is preferable to use one having a narrow emission spectrum. For example, it is preferable to use a quantum dot wavelength conversion material having an emission spectrum of 30 nm or less. As the wavelength converting material, there are YAG (Garmet) phosphor, silicate phosphor, nitride phosphor and LuAG phosphor. YAG phosphors have the best conversion efficiency and wide emission spectrum. They are most widely used for making white LEDs with blue LEDs. Nitride phosphors are effective for emitting red light, and phosphor phosphors are effective for effective coloring when ultraviolet rays are used as a light source. Is substantially the same as the semiconductor light emitting element described in Fig. 6, except for that described in Fig.

도 9는 본 개시에 따른 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자의 또 다른 예를 보여주는 도면이다.9 is a view showing another example of a semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to the present disclosure.

자외선 경화 장치에 있어서, 사용자의 시인성을 높이는 것으로 청자색광이 사용될 수 있다. 그러나 종래의 자외선 경화 장치에 사용되는 반도체 발광소자에서 나오는 청자색광은 의도되지 않은 것으로 제품마다 균일하지 못한 문제가 있었다. 반도체 발광소자 칩의 활성층(600)이 다중양자우물(Multi Quantum Well, MQW) 구조를 가짐으로서 의도적으로 자색에서 청색광에 이르는 발광을 한다. 활성층(600)은 제1 반도체층(610)과 제2 반도체층(520) 사이에 위치한다. 전자(630)은 제1 반도체층(610)에서 제2 반도체층(620) 방향으로 이동한다. 제1 반도체층(610) 측으로 청색 발광 양자우물(601)이 위치하고 제2 반도체층(620) 측으로 자외선 발광 양자우물(602)이 위치하며 청색 발광 양자우물(601)과 자외선 발광 양자우물(602) 사이에 조절 장벽층(603)이 위치한다. 조절 장벽층(603)에 실리콘(Si)을 도핑하여 주 발광인 자외선 발광 양자우물(602)로 전자가 잘 이동하고 보조 발광인 청색 발광 양자우물(601)에는 정공이 잘 이동하지 않도록 한다. 따라서 실리콘(Si)의 도핑 농도를 조절하여 청색광과 자외선 발광의 양을 조절할 수 있다. 자외선 경화를 위해 50% 이상의 자외선이 발광하는 것이 바람직하다. 또한 청자색광이 사용자에게 불쾌감을 줄 수 있는 경우, 적색, 황색, 혹은 녹색계열의 파장 변환재를 사용하여 다양한 색을 발광하게 할 수도 있다. 도 9에서 설명하는 것을 제외하고는 도 6에 설명한 반도체 발광소자와 실질적으로 동일하다.In the ultraviolet curing apparatus, blue violet light can be used for enhancing the visibility of the user. However, the blue-violet light emitted from the semiconductor light emitting device used in the conventional ultraviolet curing apparatus is not intended, and therefore, there is a problem in that it is not uniform for each product. The active layer 600 of the semiconductor light-emitting device chip has a multi-quantum well (MQW) structure, thereby intentionally emitting light from purple to blue light. The active layer 600 is located between the first semiconductor layer 610 and the second semiconductor layer 520. The electrons 630 move from the first semiconductor layer 610 to the second semiconductor layer 620. The blue light emitting quantum well 601 is located on the first semiconductor layer 610 side and the ultraviolet light emitting quantum well 602 is located on the second semiconductor layer 620 side and the blue light emitting quantum well 601 and the ultraviolet light emitting quantum well 602 are located, The control barrier layer 603 is located between the barrier layers. Silicon (Si) is doped into the control barrier layer 603 so that electrons move well to the ultraviolet light quantum well 602 as the main emission and the holes are prevented from moving well in the blue light emitting quantum well 601 which is auxiliary light emission. Therefore, it is possible to control the amount of blue light and ultraviolet light by controlling the doping concentration of silicon (Si). It is preferable that 50% or more ultraviolet light is emitted for ultraviolet curing. Further, when the blue-violet light can give an uncomfortable feeling to the user, it is possible to emit various colors by using a wavelength conversion material of red, yellow, or green series. Is substantially the same as the semiconductor light emitting element described in Fig. 6, except for that described in Fig.

이하 본 개시의 다양한 실시 형태에 대하여 설명한다. Various embodiments of the present disclosure will be described below.

(1) 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에 있어서, 활성층을 포함하는 반도체 발광소자 칩;으로서, 활성층에서 자외선을 포함하는 광을 발광하는 반도체 발광소자 칩; 그리고, 반도체 발광소자 칩의 적어도 일부를 덮고 있는 봉지재;로서, 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광과 다른 색을 발광하게 하는 파장 변환재를 포함하는 봉지재;를 포함하며, 반도체 발광소자 칩에서 발광하는 광 중에서 50% 이상은 자외선 경화에 사용되는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(1) A semiconductor light emitting device for ultraviolet curing, comprising: an active layer; a semiconductor light emitting device chip for emitting light including ultraviolet light in the active layer; An encapsulant covering at least a part of the semiconductor light-emitting device chip, the encapsulant including a wavelength conversion material that emits light of a color different from light emitted from the semiconductor light-emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light-emitting device chip; Wherein at least 50% of light emitted from the semiconductor light emitting device chip is used for ultraviolet curing.

(2) 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자는 백색광을 발광하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(2) A semiconductor light emitting device for ultraviolet curing, characterized in that the semiconductor light emitting device for ultraviolet curing emits white light.

(3) 백색광의 색순도가 50% 이상 60%이하인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(3) The semiconductor light-emitting device for ultraviolet curing, wherein the color purity of the white light is 50% or more and 60% or less.

(4) 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자는 유색광을 발광하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(4) A semiconductor light emitting device for ultraviolet curing, characterized in that the semiconductor light emitting device for ultraviolet curing emits colored light.

(5) 반도체 발광소자 칩은 380nm 이상 410nm 이하 파장대의 광을 발광하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(5) The semiconductor light-emitting device for ultraviolet curing, wherein the semiconductor light-emitting device chip emits light in a wavelength range of 380 nm to 410 nm.

(6) 반도체 발광소자 칩은 385nm 파장의 광을 발광하며, 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자는 백색광을 발광하며, 백색광의 색순도는 10% 이상 40% 이하인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(6) The semiconductor light-emitting device chip emits light with a wavelength of 385 nm, the semiconductor light-emitting device for ultraviolet curing emits white light, and the color purity of the white light is 10% or more and 40% or less. .

(7) 파장 변환재는 황색 파장 변환재, 녹색 파장 변환재 및 적색 파장 변환재 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(7) The semiconductor light emitting device for ultraviolet curing according to (7), wherein the wavelength conversion material is at least one of a yellow wavelength conversion material, a green wavelength conversion material and a red wavelength conversion material.

(8) 파장 변환재는 양자점 파장 변환재인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(8) The semiconductor light emitting device for ultraviolet curing, wherein the wavelength conversion material is a quantum dot wavelength conversion material.

(9) 반도체 발광소자 칩은 청색 발광 양자우물; 자외선 발광 양자우물; 그리고, 청색 발광 양자우물과 자외선 발광 양자우물 사이에 위치하는 조절 장벽층;을 포함하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(9) The semiconductor light emitting device chip is a blue light emitting quantum well; Ultraviolet light emitting quantum well; And a control barrier layer positioned between the blue light emitting quantum well and the ultraviolet light emitting quantum well.

(10) 조절 장벽층은 실리콘(Si) 도핑 농도를 통해 조절 장벽층을 넘어가는 정공의 수를 조절하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.(10) The semiconductor light emitting device for ultraviolet curing as set forth in claim 1, wherein the control barrier layer controls the number of holes passing through the control barrier layer through the silicon (Si) doping concentration.

본 개시에 따른 반도체 발광소자에 의하면, 손톱 등 경화에 사용되는 미용을 위한 자외선 경화 장치에서 제조 원가를 최소화하면서도 사용자에게 일정한 색감을 제공하여 호감도를 높이면서 더 나아가 경화를 위한 자외선의 손실을 최소화한 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자를 얻을 수 있다.According to the semiconductor light emitting device of the present disclosure, in the ultraviolet curing apparatus for beauty used in curing such as nails, a manufacturing cost is minimized, while a uniform color is provided to the user to increase the likelihood, and further, the loss of ultraviolet rays for curing is minimized A semiconductor light emitting element for ultraviolet curing can be obtained.

반도체 발광소자 칩 : 150, 310
반도체 발광소자 : 100, 300
Semiconductor light-emitting device chip: 150, 310
Semiconductor light emitting device: 100, 300

Claims (10)

자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에 있어서,
활성층을 포함하는 반도체 발광소자 칩;으로서, 활성층에서 자외선을 포함하는 광을 발광하는 반도체 발광소자 칩; 그리고,
반도체 발광소자 칩의 적어도 일부를 덮고 있는 봉지재;로서, 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광과 다른 피크 파장을 가지는 광을 발광하는 파장 변환재를 포함하는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩에서 발광하는 자외선 중에서 50% 이상은 파장 변환재에 반응하지 않고 봉지재를 통과하여 자외선 경화에 사용되고,
자외선 경화를 위한 반도체 발광소자는 다른 피크 파장을 가지는 광을 발광하는 파장 변환재로부터 백색광을 발광하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
A semiconductor light emitting device for ultraviolet curing,
A semiconductor light emitting device chip comprising an active layer, comprising: a semiconductor light emitting device chip for emitting light including ultraviolet light in an active layer; And,
An encapsulant covering at least a part of the semiconductor light emitting device chip, wherein the encapsulant comprises a wavelength conversion material which emits light having a peak wavelength different from light emitted from the semiconductor light emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip ≪ / RTI >
50% or more of the ultraviolet rays emitted from the semiconductor light-emitting device chip are used for ultraviolet curing through the encapsulant without reacting with the wavelength converting material,
Wherein the semiconductor light emitting element for ultraviolet curing emits white light from a wavelength converting material that emits light having another peak wavelength.
삭제delete 청구항 1에 있어서,
백색광의 색순도가 50% 이상 60%이하인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the color purity of the white light is 50% or more and 60% or less.
삭제delete 청구항 1에 있어서,
반도체 발광소자 칩은 380nm 이상 410nm 이하 파장대의 광을 발광하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein the semiconductor light emitting device chip emits light in a wavelength range of 380 nm or more and 410 nm or less.
청구항 5에 있어서,
반도체 발광소자 칩은 385nm 파장의 광을 발광하며,
자외선 경화를 위한 반도체 발광소자는 백색광을 발광하며, 백색광의 색순도는 10% 이상 40% 이하인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
The method of claim 5,
The semiconductor light emitting device chip emits light having a wavelength of 385 nm,
Wherein the semiconductor light emitting element for ultraviolet curing emits white light and the color purity of the white light is 10% or more and 40% or less.
청구항 1에 있어서,
파장 변환재는 황색 파장 변환재인 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
The method according to claim 1,
And the wavelength conversion material is a yellow wavelength conversion material.
삭제delete 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자에 있어서,
활성층을 포함하는 반도체 발광소자 칩;으로서, 활성층에서 자외선을 포함하는 광을 발광하는 반도체 발광소자 칩; 그리고,
반도체 발광소자 칩의 적어도 일부를 덮고 있는 봉지재;로서, 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광에 반응하여 반도체 발광소자 칩에서 나오는 광과 다른 색을 발광하게 하는 파장 변환재를 포함하는 봉지재;를 포함하며,
반도체 발광소자 칩에서 발광하는 자외선 중에서 50% 이상은 파장 변환재에 반응하지 않고 봉지재를 통과하여 자외선 경화에 사용되고,
반도체 발광소자 칩은
청색 발광 양자우물;
자외선 발광 양자우물; 그리고,
청색 발광 양자우물과 자외선 발광 양자우물 사이에 위치하는 조절 장벽층;을 포함하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.
A semiconductor light emitting device for ultraviolet curing,
A semiconductor light emitting device chip comprising an active layer, comprising: a semiconductor light emitting device chip for emitting light including ultraviolet light in an active layer; And,
An encapsulant covering at least a part of the semiconductor light emitting device chip and including a wavelength converting material which emits light of a color different from light emitted from the semiconductor light emitting device chip in response to light emitted from the semiconductor light emitting device chip In addition,
50% or more of the ultraviolet rays emitted from the semiconductor light-emitting device chip are used for ultraviolet curing through the encapsulant without reacting with the wavelength converting material,
The semiconductor light-
Blue light emitting quantum well;
Ultraviolet light emitting quantum well; And,
And a control barrier layer positioned between the blue light emitting quantum well and the ultraviolet light emitting quantum well.
청구항 9에 있어서,
조절 장벽층은 실리콘(Si) 도핑 농도를 통해 조절 장벽층을 넘어가는 정공의 수를 조절하는 것을 특징으로 하는 자외선 경화를 위한 반도체 발광소자.




The method of claim 9,
Wherein the controllable barrier layer controls the number of holes passing through the control barrier layer through the silicon (Si) doping concentration.




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