KR101677579B1 - 방사선 측정기 시험 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명은 방사선 측정기 시험 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 방사선 측정기의 교정 및 성능 검증을 위한 360도 전방향으로 유출되는 방사선의 측정 효율의 극대화가 제공되는 방사선 측정기 시험 시스템에 관한 것이다.
본 발명의 상기 목적은, 중앙의 방사선 시료받침대(10)와, 상기 방사선 시료받침대(10)를 중심으로 일정간격으로 방사상으로 배치되어 방사선측정기(20)가 장착되는 시험용 지그(30) 및 상기 시험용 지그(30) 설치되는 베이스받침대(40)를 포함하고, 상기 시험용 지그(30)는 상기 시료받침대(20)와 거리조절이 가능한 것을 특징으로 하는 방사선측정기 시험 시스템에 의해 달성된다.

Description

방사선 측정기 시험 시스템{Test system of radiation measurement device}

본 발명은 방사선 측정기 시험 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 방사선 측정기의 교정 및 성능 검증을 위한 360도 전방향으로 유출되는 방사선의 측정 효율의 극대화가 제공되는 방사선 측정기 시험 시스템에 관한 것이다.

일반적으로 방사선계측기(방사선측정기)로 방사선 시료의 방사선량(율)을 측정하고자 할 때 원자력법이나 국제권고에서 정하는 일정한 거리에서 측정을 해야 한다.

따라서 방사서 시료에서 방사선량의 측정거리를 확인함에 있어서 종래에는 눈으로 어림하거나 거리를 재는 자로서 거리를 재어서 측정함으로써 매우 번잡하고 거리조절의 정확성이 보장되지 못하였다.

이러한 단점을 해결하기 위해 최근에는 방사선 시료와 방사선측정기는 단일방향에 대한 거리를 조절하여 방사선 측정기의 성능을 검증하는 기술이 개시되어 있다.

그러나 이러한 시스템은 방사선측정기의 성능검증에 시간이 많이 소요되는 단점이 있다.

그리하여 방사선 측정기의 성능검증이 신속하고 편리한 시스템이 요구되었다.

한국 등록실용 제20-0288820호 한국 등록실용 제20-0381419호 한국 등록실용 제20-0320954호

본 발명은 상기와 같은 종래기술에서 문제된 단점을 해소하고자 개발된 것으로서,

본 발명은 중앙의 방사선 시료을 중심으로 방사선 측정기의 시험용 지그를 등간격이나 부등간격의 방사상으로 같은 거리 또는 다른 거리에 설치하여 방사선 시료에서 유출되는 방사선에 대해 전방향 측정으로 방사선 측정기의 성능 검증을 위해 2이상의 복수개로 최소 2개이상의 설치가 가능하여 성능 검증 효율을 극대화할 수 있는 방사선측정기 시험 시스템을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방사선 측정기 시험 시스템은,

중앙의 방사선 시료받침대;

상기 방사선 시료받침대를 중심으로 일정간격으로 방사상으로 배치되어 방사선측정기가 장착되는 시험용 지그; 및,

상기 시험용 지그가 설치되는 베이스받침대; 를 포함하고,

상기 시험용 지그는 상기 시료받침대와 거리조절이 가능한 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 시험용 지그는 등간격이나 부등간격으로 같은 거리 또는 다른 거리에 2이상의 복수개로 최소 2개이상의 설치되는 것을 특징으로 한다.

또한, 상기 시험용 지그는 클램핑받침대와 상기 클램핑받침대를 슬라이드 이동하도록 조립된 LM가이드를 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 클램핑받침대는 고정스토퍼지지대와 상기 고정스토퍼지지대에서 슬라이드이동가능케 조립되되, 인장스프링에 의해 폭방향으로 탄력적인 확장이 가능케 조립되는 가동스토퍼지지대와, 상기 고정스토퍼지지대의 하부에 조립되어 상기 인장스프링을 매립상태로 커버하는 하부커버받침대로 구성되고, 상기 하부커버받침대에는 상기 LM가이드를 구성하는 LM블록이 조립되고 상기 LM블록이 슬라이이드 이동하는 LM레일은 상기 베이스받침대에 조립된 것을 특징으로 한다.

본 발명에 의하면, 방사선 측정기의 성능 검증을 단일시스템에서 2이상의 복수개로 최소 2개이상의 설치가 가능하여 장치의 신뢰성이 보장되는 효과가 있다.

또한, 본 발명에 의하면 방사선 측정기의 성능검증에 따른 방사선 측정기의 장비가 간단하게 제공됨으로써 장치 사용의 편리성이 보장되는 효과가 있다.

또한, 본 발명은 간소한 구조로 제공되어 공업적으로도 양산(量産) 효과를 기대할 수 있으며, 염가로 제공하는 것이 가능해진다.

도 1은 본 발명의 전체적인 구성을 보여주는 평면도이다.
도 2는 도 1의 일부 발췌 측단면도이다.
도 3은 본 발명의 구성하는 방사선 측정기가 장착되는 시험용 지그의 분해사시도이다.
도 4는 본 발명을 구성하는 시험용 지그의 조립상태 사시도로서, 방사선측정기의 결합전 상태의 사시도이다.
도 5는 본 발명의 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.

본 발명은 단일 시스템에서 다수의 방사선 측정기가 장착된 상태에서 방사선 시료와 거리조절로 성능 검증이 효과적으로 제공되는 방사선측정기 시험 시스템을 제공하는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부되는 도면과 참조하여 본 발명에 대하여 상세히 설명한다.

본 발명의 설명에 있어, 도면 제시된 구성요소의 구조 및 크기는 발명의 설명에 문제되지 않는 한 단순화되거나 간략화될 수 있다.

도 1은 본 발명의 구성을 보여주는 평면도이고, 이 도면을 참조하면,

본 발명은 중앙의 방사선 시료받침대(10)와, 상기 방사선 시료받침대(10)를 중심으로 일정간격으로 방사상으로 배치되어 방사선 측정기(20)가 장착되는 시험용 지그(30)와, 상기 시험용 지그(30)가 설치되는 베이스받침대(40)를 포함한다.

상기 시험용 지그(30)는 상기 베이스받침대(40)에서 등간격이나 부등간격으로 같은 거리 또는 다른 거리에 2이상의 복수개로 최소 2개이상 배치된다.

바람직하게는 30도 간격으로 12개 배치되는 것이 좋다.

이러한 시험용지그(30)는 개별적인 동작에 의해 중앙의 상기 시료받침대(10)와의 거리 조절이 가능하도록 구성된다.

도 2는 도 1의 일부 발췌 측단면도이고, 도 3은 본 발명의 구성하는 방사선 측정기가 장착되는 시험용 지그의 분해사시도이다.

이들 도면을 참조하면, 상기 시험용 지그(30)는 클램핑받침대(31)와, 상기 클램핑받침대(31)를 슬라이드 이동하도록 조립된 LM가이드(35)로 구성된다.

여기서, 상기 클램핑받침대(31)는 고정스토퍼지지대(32)와, 상기 고정스토퍼지지대(32)에서 슬라이드이동가능케 조립되는 가동스토퍼지지대(33)로 구성된다.

상기 가동스토퍼지지대(33)는 상기 고정스토퍼지지대(32)에서 인장스프링(P)에 의해 폭방향으로 탄력적인 확장이 가능케 조립된다.

상기 인장스프링(P)은 상기 고정스토퍼지지대(32)의 하부에 가공된 가이드홈(32 a)에 삽입된 상태에서 일단이 고정되고, 다른 한단은 상기 가이드홈(32a)에 슬라이드 이동가능케 조립되는 상기 가동스토퍼지지대(33)에 고정되어 상기 가동스토퍼지지대(33)는 상기 고정스토퍼지지대(32)의 일측면에서 강제적인 벌림이 제공되고 상기 인장스프링(P)에 의해 복원이 가능케 구성된다.

이때, 상기 고정스토퍼지지대(32)의 하부에는 상기 가이드홈(32a)에 설치된 인장스프링(P)을 매립상태로 커버하는 하부커버받침대(34)가 구성되고, 상기 하부커버받침대(34)에는 상기 LM가이드(35)를 구성하는 LM블록(36)이 볼트 조립되고 상기 LM블록(36)이 슬라이드 이동하는 LM레일(37)이 상기 베이스받침대(40)에 볼트 조립되어 상기 클램핑받침대(31) 전체가 이동가능케 구성된다.

도 4는 본 발명을 구성하는 시험용 지그의 조립상태 사시도로서, 방사선측정기의 결합전 상태의 사시도로서 이 도면을 참조하면,

상기 가동스토퍼지지대(33)를 상기 고정스토퍼지지대(32)에서 측면방향으로 벌려서 확장시킨 후에 상기 방사선 측정기(20)을 상기 고정스토퍼지지대(32)에 안착한 상태에서 다시 벌려진 가동스토퍼지지대(33)를 놓게 되면, 상기 인장스프링(P)의 인장력에 의해 원상태로 복귀하면서 상기 방사선 측정기(20)를 클램핑하여 간편하게 설치할 수 있다.

이렇게 각각의 상기 시험용 지그(30)에 방사선 측정기(20)을 설치한 상태에서 도 5에 도시된 것과 같이, 상기 클램핑받침대(31)의 하부에 설치된 LM가이드(35)를 이용하여 중앙의 방사선 시료받침대(10)와 상기 방사선 측정기(20) 간의 측정에 적정한 거리를 상기 베이스 받침대(40)의 상부에 설치된 CCD카메라(50)와 상기 CCD카메라(50)와 전기적으로 연결된 모니터(60)에 의해 확인하면서 거리를 설정하여 세팅한 상태에서 중앙의 방사선 시료받침대(10)에 방사선시료(B)에서 유출되는 방사선량에 대해 단일시스템에서 측정을 행할 수 있다.

이상으로 본 발명에 따른 실시 예를 설명하였다. 그러나 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 개념을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형시켜 실시할 수 있다.

예를 들어 상술한 실시 예에 있어서는 상기 시험용 지그(30)가 30도 간격(등간격)으로 12개로 설치된 것을 설명하였지만, 필요에 따라서는 상기 베이스받침대(40)에서 부등간격이나 같은 거리 또는 다른 거리에 2이상의 복수개로 최소 2개이상의 설치가 가능하다.

또한, 상술한 실시예에서 상기 시험용 지그(30)을 구성하는 LM가이드(35)로 구성되었지만, 전기적 제어가 가능한 리니어실린더로 구성하여 전기적 제어에 따른 방사선 시료받침대(10)과의 거리 조절에 의해 방사선 측정기(20)의 성능 측정에 따른 거리조절이 자동으로 제공할 수도 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 그 권리요지로 청구된 특허청구범위의 사상 및 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능하다.

본 발명은 의료분야에서 방사선 시료의 방사선량 측정에 사용되는 방사선 측정기의 성능 검증을 단일 시스템에서 한 번에 다량으로 검증할 수 있어 산업상 매우 유용하게 이용될 수 있다.

10 : 방사선 시료받침대 20 : 방사선 측정기
30 : 시험용 지그 31 : 클램핑받침대
32 : 고정스토러지지대 33 : 가동스토퍼지지대
34 : 하부커버받침대 35 : LM가이드
36 : LM블록 37 : LM레일
40 : 베이스 받침대 50 : CCD카메라
60 : 모니터 B : 방사선 시료
P : 인장스프링

Claims (12)

1. 중앙의 방사선 시료받침대(10)와, 상기 방사선 시료받침대(10)를 중심으로 일정 간격으로 방사상으로 배치되어 방사선측정기(20)가 장착되는 복수개 이상의 시험용 지그(30) 및 상기 각 시험용 지그(30)가 설치되는 베이스받침대(40)를 포함하되, 각각의 상기 시험용 지그(30)는 상기 시료받침대(10)와 거리조절이 가능한 방사선 측정기 시험 시스템에 있어서,
   상기 시험용 지그(30)는 클램핑받침대(31)와 상기 클램핑받침대(31)를 슬라이드 이동하도록 조립된 LM가이드(35)로 구성되고,
   상기 클램핑받침대(31)는 고정스토퍼지지대(32)와 상기 고정스토퍼지지대(32)에서 슬라이드이동가능케 조립되되, 인장스프링(P)에 의해 폭방향으로 탄력적인 확장이 가능케 조립되는 가동스토퍼지지대(33)와, 상기 고정스토퍼지지대(32)의 하부에 조립되어 상기 인장스프링(P)을 매립상태로 커버하는 하부커버받침대(34)로 구성되고, 상기 하부커버받침대(34)에는 상기 LM가이드(35)를 구성하는 LM블록(36)이 조립되고 상기 LM블록(36)이 슬라이이드 이동하는 LM레일(37)은 상기 베이스받침대(40)에 조립된 것을 특징으로 하는 방사선 측정기 시험 시스템.
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