KR101619108B1 - General purpose tray with durability - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체, 전자부품 또는 사출, 압출식 부속품들을 포함한 각종 부품류들의 정렬과 수납을 도모하면서 보관과 이송 및 출하시 틀 형태를 제공하도록 하는 범용 트레이에 있어서, 상기 범용 트레이는 수납통 외주면에 형성된 플러스 비딩리브에 의해 트레이 자체가 쉽게 가라 앉거나 눌리지 않도록 형성되어 수납된 부품류들의 훼손을 방지하도록 함은 물론 수납통의 내주면에는 마이너스 비딩리브가 형성되어 적층 구조로 트레이가 대기 상태일 경우 분리가 용이하게 이루어져 작업성과 생산성이 크게 향상되는 것을 특징으로 하는 지지 내구성과 적층 후 분리 용이성이 향상된 범용 트레이에 관한 것이다.
The present invention provides a general-purpose tray for providing storage, transfer, and shipment frame forms while aligning and accommodating various kinds of parts including semiconductors, electronic parts, and injection and extrusion accessories, and the universal tray is formed on the outer peripheral surface of the receiving cylinder The tray itself is prevented from being easily sunk or depressed by the beading ribs, thereby preventing damage to the housed parts. In addition, since the negative bending ribs are formed on the inner circumferential surface of the receiving tube, The present invention relates to a general purpose tray having improved durability in support and ease of separation after lamination, which is characterized in that workability and productivity are greatly improved.
예컨데, 반도체 장치 등의 제조과정에 있어서는 최종적으로 제조된 IC 칩 등의 전자부품을 시험하는 시험장치가 필요해진다. For example, in the manufacturing process of a semiconductor device or the like, a test apparatus for testing an electronic component such as an IC chip finally manufactured is required.
이와같은 시험장치에 있어서는 트레이에 수납된 다수의 IC 칩을, 부품 흡착장치에 의해 흡착하여 시험장치의 테스트 헤드상으로 반송하고, 각 IC 칩을 테스트 헤드에 전기적으로 접촉시켜, IC 칩의 시험을 행한다. In such a testing apparatus, a plurality of IC chips housed in a tray are sucked by a component adsorbing device and conveyed onto a test head of a testing apparatus, and each IC chip is brought into electrical contact with a test head, I do.
그리고, 시험이 종료되면 각 IC 칩을, 흡착 패드를 가지는 부품 흡착장치에 의해 테스트 헤드로부터 반출하고, 시험결과에 따라 트레이로 옮겨 실어 양품이나 불량품이라는 범주의 분류가 행해진다.When the test is completed, each IC chip is taken out of the test head by the component adsorption device having the adsorption pad, and transferred to the tray according to the test result to classify the category of the good product or the defective product.
이러한 종류의 시험장치는 시험 전의 IC 칩을 수납하거나 시험이 끝난 IC 칩을 수납하기 위한 트레이(이하 커스터머 트레이라고도 한다) 외에, 시험장치 내를 순환 반송시키는 트레이(이하, 테스트 트레이라고도 한다)를 구비한 타입의 것이 있다. This kind of testing apparatus is provided with a tray (hereinafter, also referred to as a test tray) for circulating and conveying the test apparatus in addition to a tray for accommodating the IC chips before the test or for storing the tested IC chips (hereinafter referred to as a customer tray) There is one type.
이러한 종류의 시험장치는 시험의 전후에 있어서 커스터머 트레이와 테스트 트레이 사이에서 IC 칩이 옮겨 실어져, 다수의 IC 칩은 테스트 트레이에 탑재된 상태에서 시험장치내에서 반송되며, 반송중에 IC 칩의 보호를 도모하고 있다.In this type of testing apparatus, before and after the test, the IC chip is transferred between the customer tray and the test tray, and a plurality of IC chips are carried in the test apparatus while being mounted on the test tray. .
이러한 종류의 시험장치에서는 다수의 IC 칩은 테스트 트레이에 탑재된 상태에서 시험장치내에 반송되므로, 반송시의 진동이나 충격에 의해 테스트 트레이로부터 튀어나가지 않도록 각각 돌출(튀어나감) 방지기구가 설치되어 있다.In this type of testing apparatus, a plurality of IC chips are carried in the test apparatus while being mounted on the test tray. Therefore, the IC chip is provided with a protrusion preventing mechanism so as not to protrude from the test tray due to vibration or impact during transportation .
그런데, 종래의 시험장치에 사용되는 테스트 트레이로는 돌출 방지 기구를 설치함으로써 IC 칩을 한개씩 지지하고 있었으므로, 상기 돌출 방지 기구가 IC 칩의 탑재수만큼 필요해져 비용적으로 문제가 있을뿐만 아니라, IC 칩의 형상이 다르면 부품의 공통화가 곤란하고, 그 의미에 있어서도 돌출 방지 기구를 전용품으로 하지 않을 수 없었다.However, since the test tray used in the conventional testing apparatus is provided with the protrusion preventing mechanism to support the IC chips one by one, not only is the protrusion preventing mechanism necessary for the number of IC chips mounted, If the shapes of the IC chips are different, it is difficult to standardize components, and in this sense, it is necessary to provide a protrusion preventing mechanism in advance.
또한, 테스트 헤드의 상부를 챔버로 덮고, 내부를 밀폐공간으로 하며, IC 칩이 테스트 헤드상으로 반송되고, 거기서 IC 칩을 테스트 헤드에 가압하여 접속하며, 챔버 내부를 고온 또는 저온상태로 하면서 시험을 행하는 시험장치도 알려져 있다.Further, the upper part of the test head is covered with a chamber, the inside is made into a closed space, the IC chip is transported onto the test head, and the IC chip is pressurized and connected to the test head. Is also known.
이와 같은 시험장치에서는 챔버의 내부에 있어서 테스트 트레이를 대략 수직방향으로 순차 이동시켜 테스트 트레이에 장착되어 있는 IC 칩에 서서히 열 스트레스를 인가시킨다. In such a testing apparatus, the test tray is sequentially moved in the substantially vertical direction in the chamber, and the thermal stress is gradually applied to the IC chip mounted on the test tray.
이러한 열 스트레스를 IC 칩에 서서히 인가하기 위해서 테스트 트레이를 대략 수직방향으로 이동시키는 것은 다수의 테스트 트레이를 대략 수직방향으로 배치함으로써 챔버의 콤팩트화를 도모하기 위함이다.In order to gradually apply the thermal stress to the IC chip, the test tray is moved in the substantially vertical direction in order to make the chamber compact by disposing a plurality of test trays in a substantially vertical direction.
다시 말해 종래의 시험장치에서는 이와같이 테스트 트레이를 대략 수직방향으로 이동시키기 위한 트레이 반송장치로서, 대략 수직방향으로 배치된 모든 트레이를 각각 개별로 지지부재에 의해 탈착 자유롭게 지지하고, 수직방향으로 일단씩 순차 하강 이동시키는 수직 반송장치가 사용되고 있다.In other words, in the conventional test apparatus, a tray transport apparatus for moving the test tray in the substantially vertical direction in this way is characterized in that all of the trays arranged in a substantially vertical direction are individually detachably supported by the respective support members, The vertical transporting device is used.
그런데, 이와같은 종래의 시험장치에 있어서의 트레이 수직 반송장치에서는 트레이를 수직방향으로 일단씩 지지부재에 의해 지지하여 순차 하강 이동시키는 기구이므로, 기구가 번잡하다는 과제를 가진다. However, in the tray vertical conveying apparatus in such a conventional testing apparatus, since the tray is supported by the supporting members in the vertical direction one by one and supported by the supporting members, the mechanism is complicated.
또한 최상단의 지지부재로 부터 최하단의 지지부재로 트레이가 이동되기 까지 사이에, 단수에 상당하는 시간이 항상 걸리고, 수직방향으로 배치되는 트레이 수가 적은 경우에도, 트레이수가 많은 경우와 같은 시간이 걸리는 과제를 가진다.Further, even when the number of trays arranged in the vertical direction is small, there is a problem in that it takes time as long as the number of trays is large between the time when the trays are moved from the uppermost support member to the lowermost support member, .
또한 이와같은 종래의 트레이 수직 반송장치의 구조상, 그 기구의 동작 스피드를 빠르게 할 수 없는 과제도 있다.In addition, there is a problem that the operating speed of the mechanism can not be increased because of the structure of such a conventional tray vertical conveying device.
또한, 시험장치의 챔버 내부에서는 테스트 트레이를 대략 수직방향으로 이동시킬뿐만 아니라, 대략 수평방향으로도 이동시킬 필요가 있어 트레이 수평 반송장치도 챔버 내에 구비되어 있다.Further, in the chamber of the test apparatus, not only the test tray is moved in the substantially vertical direction but also in the substantially horizontal direction, and the tray horizontal conveying apparatus is also provided in the chamber.
그런데, 종래의 트레이 수평 반송장치는 벨트 콘베이어 방식으로 트레이를 수평방향으로 이동시켰으므로, 트레이를 소정위치에서 정지시키기 위한 기구에 과제가 있었다. However, since the conventional tray horizontal conveying apparatus moves the tray horizontally by the belt conveyor system, there is a problem in the mechanism for stopping the tray at a predetermined position.
예를 들면, 종래의 벨트 콘베이어 방식의 트레이 수평 반송장치에 있어서는, 트레이를 소정위치에서 정지시키기 위해 벨트 콘베이어에 의해 반송된 트레이에 스토퍼 부재를 부딪치게 해 트레이를 정지시키고, 정지된 트레이를 위치 센서 등으로 검출하고, 그 후 벨트 콘베이어를 정지시키고 있다. For example, in a conventional belt conveyor type tray horizontal conveying apparatus, a stopper member is struck against a tray conveyed by a belt conveyor to stop the tray at a predetermined position to stop the tray, And then the belt conveyor is stopped.
그 후, 트레이를 다른 위치로 이동시킬 경우에는, 스토퍼 부재를 후퇴 이동시킨 후, 벨트 콘베이어를 구동하고, 전술한 바와 마찬가지로 다른 정지위치에서 스토퍼 부재에 의해 트레이를 정지시킨다.Thereafter, when the tray is moved to another position, the stopper member is retracted, and then the belt conveyor is driven, and the tray is stopped by the stopper member at another stop position as described above.
이 때문에 다수의 정지위치마다 스토퍼 부재와 센서가 필요해지고, 또한 스토퍼 부재를 구동하기 위한 액츄에이터도 필요해져, 그 기구가 번잡하게 된다. Therefore, a stopper member and a sensor are required for each of a plurality of stop positions, and an actuator for driving the stopper member is also required, and the mechanism becomes complicated.
또한, 트레이를 정지시키기 위해, 스토퍼 부재에 트레이를 부딪치게 하고 있으므로, 트레이에는 충돌에 의한 충격이 가해짐과 동시에, 콘베이어가 정지하기 까지 사이에 트레이와 트레이가 미끄러지고, 트레이 및 벨트의 마모 등의 문제가 발생한다.In addition, since the tray is struck against the stopper member in order to stop the tray, impact due to the impact is applied to the tray, and the tray and the tray are slipped between the stoppers until the conveyor is stopped. A problem arises.
또한, 스토퍼 부재에 트레이를 부딪치게 해 정지시키므로, 정지위치가 밀리기 쉬워 트레이의 위치 결정을 위한 기구를 별도로 장착할 필요가 있다.
In addition, since the stopper member strikes the tray by stopping it, the stop position can be easily pushed, and it is necessary to separately mount a mechanism for positioning the tray.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 기술적 요지는 반도체, 전자부품 또는 사출, 압출식 부속품들을 포함한 각종 부품류들의 정렬과 수납을 도모하면서 보관과 이송 및 출하시 틀 형태를 제공하도록 하는 범용 트레이에 있어서, 상기 범용 트레이는 수납통 외주면에 형성된 플러스 비딩리브에 의해 트레이 자체가 쉽게 가라 앉거나 눌리지 않도록 형성되어 수납된 부품류들의 훼손을 방지하도록 함은 물론 수납통의 내주면에는 마이너스 비딩리브가 형성되어 적층 구조로 트레이가 대기 상태일 경우 분리가 용이하게 이루어져 작업성과 생산성이 크게 향상되는 것을 특징으로 하는 지지 내구성과 적층 후 분리 용이성이 향상된 범용 트레이를 제공함에 그 목적이 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a general-purpose device for providing sorting and storing of various kinds of parts including semiconductors, electronic parts or injection and extrusion accessories, In the tray, the universal tray is formed so that the tray itself is not easily sunk or pressed by the positive beading ribs formed on the outer circumferential surface of the receiving cylinder to prevent damage to the housed parts, and a negative bending rib is formed on the inner circumferential surface of the receiving cylinder And a separator is easily separated when the tray is in a standby state in a stacked structure, thereby greatly improving workability and productivity. The object of the present invention is to provide a universal tray having enhanced support durability and ease of separation after lamination.
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명은 설정된 간격과 갯수를 가지면서 등간격 배열된 다수개의 수납통(100)이 형성되도록 하되, 상기 수납통(100)의 외주면에는 높이(H) 구간을 따라 성형된 다수개의 플러스 비딩리브(200)가 형성되고, 상기 플러스 비딩리브(200)와 간섭없는 수납통(100)의 내주면에는 트레이의 다단 적층 후 용이한 분리를 위해 마이너스 비딩리브(300)가 성형되도록 형성된다.In order to achieve the above object, the present invention provides a plurality of receiving tubes (100) having a predetermined interval and a number of equidistantly arranged receptacles (100), wherein the outer peripheral surface of the receiving tube (100) A plurality of
이에, 상기 플러스 비딩리브(200)는 단면 형상이 삼각형, 사각형을 포함한 다각형상 또는 반구 형태 중 어느 하나로 형성되도록 하되, 수납통(100)의 넓은 면상측에는 4~6개가 성형되고, 좁은 면상측에는 3~5개가 성형되도록 구성된다.The
이때, 상기 수납통(100)은 상측 개구부가 넓고, 하측 바닥부가 좁은 형태의 상광하협의 함체 형상을 갖도록 하되, 상기 마이너스 비딩리브(300)는 단면 형상이 삼각형, 사각형을 포함한 다각형상 또는 반구 형태 중 어느 하나로 형성되도록 하는 것이 바람직하다.At this time, the
또한, 상기 마이너스 비딩리브(300)는 성형된 위치가 삽입되는 상측 수납통의 외주면이 수용하는 하측 수납통의 내주면과 밀착되지 않도록 경사각(a)에 의한 갭(G) 구간에 성형되도록 형성된다.The
이에, 상기 수납통(100)은 바닥면 외주측에 보강용 지지띠(110)가 더 구비되도록 형성된다.
Accordingly, the
이와 같이, 본 발명은 반도체, 전자부품 또는 사출, 압출식 부속품들을 포함한 각종 부품류들의 정렬과 수납을 도모하면서 보관과 이송 및 출하시 틀 형태를 제공하도록 하는 범용 트레이에 있어서, 상기 범용 트레이는 수납통 외주면에 형성된 플러스 비딩리브에 의해 트레이 자체가 쉽게 가라 앉거나 눌리지 않도록 형성되어 수납된 부품류들의 훼손을 방지하도록 함은 물론 수납통의 내주면에는 마이너스 비딩리브가 형성되어 적층 구조로 트레이가 대기 상태일 경우 분리가 용이하게 이루어져 작업성과 생산성이 크게 향상되는 효과가 있다.
As described above, the present invention provides a general-purpose tray for providing storage, transfer, and shipping frame shapes while aligning and accommodating various kinds of parts including semiconductors, electronic parts, and injection and extrusion accessories, The tray itself is prevented from being easily sunk or pressed by the positive beading ribs formed on the outer circumferential surface, thereby preventing damage to the housed parts. In addition, since the negative bending rib is formed on the inner circumferential surface of the receiving tube, So that workability and productivity can be greatly improved.
도 1은 본 발명에 따른 범용 트레이의 일측면도,
도 2는 도 1의 타측면도,
도 3은 본 발명에 따른 요부 확대 측면도이다.1 is a side view of a general purpose tray according to the present invention,
Fig. 2 is a side view of Fig. 1,
3 is an enlarged side view of the main part according to the present invention.
다음은 첨부된 도면을 참조하며 본 발명을 보다 상세히 설명하겠다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
먼저, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명은 설정된 간격과 갯수를 가지면서 등간격 배열된 다수개의 수납통(100)이 형성되도록 이루어진다.First, as shown in FIGS. 1 to 3, the present invention is configured to form a plurality of accommodating
이때, 상기 수납통(100)의 외주면에는 높이(H) 구간을 따라 성형된 다수개의 플러스 비딩리브(200)가 형성된다.At this time, a plurality of
즉, 상기 플러스 비딩리브는 수납통 틀 자체가 무너지거나 주저앉지 않도록 하는 보강 구조를 이루도록 하되, 절단된 단면 형상은 반구 형상을 이루는 것이 바람직하다.That is, it is preferable that the positive bead rib has a reinforcement structure for preventing the receiving cylinder itself from collapsing or collapsing, and the cross-sectional shape cut out is preferably hemispherical.
이에, 상기 플러스 비딩리브(200)와 간섭없는 수납통(100)의 내주면에는 트레이의 다단 적층 후 용이한 분리를 위해 마이너스 비딩리브(300)가 성형되도록 형성된다.A
즉, 상기 마이너스 비딩리브는 위 아래 차례대로 적층되는 트레이의 걸침턱 역할을 수행하도록 하는 것으로, 삽입되는 면과 수용하는 면이 서로 닿지 않도록 함으로써, 신속하고 용이한 분리가 확보되도록 하는 것이 바람직하다.That is, the minus beading ribs serve as a latching force for the trays stacked one above the other in order to ensure quick and easy separation by preventing the inserted surface from contacting with the receiving surface.
다시 말해, 상기 마이너스 비딩리브 상단에는 삽입되는 측 수납통의 하단부가 걸쳐지도록 하면서 밀착에 의한 추후 들어 올림시 딸려 올라가지 않도록 형성된다.In other words, the upper end of the negative bending rib is formed so that the lower end portion of the side receiving barrel is inserted so as not to come up when it is later lifted by close contact.
이때, 상기 마이너스 비딩리브의 면상 어느 일측에는 내외측이 관통된 진공 방지용 통기공(1mm 이내)이 형성되어 밀착시 공기 압축에 따른 진공 상태를 방지하여 이웃한 트레이와 분리시 용이하게 탈거되도록 하는 것이 바람직하다.At this time, a vacuum ventilation hole (within 1 mm) through which the inside and the outside are penetrated is formed on one side of the negative beading rib, so that a vacuum state due to air compression during the close contact is prevented, desirable.
이에, 상기 플러스 비딩리브(200)는 단면 형상이 삼각형, 사각형을 포함한 다각형상 또는 반구 형태 중 어느 하나로 형성되도록 하되, 수납통(100)의 넓은 면상측에는 4~6개가 성형되고, 좁은 면상측에는 3~5개가 성형되도록 구성된다.The
이때, 상기 수납통(100)은 상측 개구부가 넓고, 하측 바닥부가 좁은 형태의 상광하협의 함체 형상을 갖도록 하되, 상기 마이너스 비딩리브(300)는 단면 형상이 삼각형, 사각형을 포함한 다각형상 또는 반구 형태 중 어느 하나로 형성되도록 하는 것이 바람직하다.At this time, the
또한, 상기 마이너스 비딩리브(300)는 도 3에 도시된 바와 같이, 성형된 위치가 삽입되는 상측 수납통의 외주면이 수용하는 하측 수납통의 내주면과 밀착되지 않도록 경사각(a)에 의한 갭(G) 구간에 성형되도록 형성된다.3, the
이에, 상기 수납통(100)은 바닥면 외주측에 보강용 지지띠(110)가 더 구비되도록 형성된다.Accordingly, the
이러한 지지띠는 일종의 돌기식 띠로서, 부품류가 수납된 하부 형틀이 찌그러지지 않고 형태를 유지하도록 하기 위함이다.
Such a support band is a kind of protruding band so as to maintain the form without collapsing the lower form frame in which the parts are housed.
본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 고안이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the present invention as defined by the appended claims and their equivalents. Of course, such modifications are within the scope of the claims.
100 ... 수납통 200 ... 플러스 비딩리브
300 ... 마이너스 비딩리브100 ... Receiving
300 ... minus beading rib
Claims (5)
상기 마이너스 비딩리브의 면상 어느 일측에는 내외측이 관통된 진공 방지용 통기공(1mm 이내)이 형성되어 밀착시 공기 압축에 따른 진공 상태를 방지하여 이웃한 트레이와 분리시 용이하게 탈거되도록 하는 것을 특징으로 하는 지지 내구성과 적층 후 분리 용이성이 향상된 범용 트레이.A plurality of positive bead ribs 200 formed along the height H section are formed on the outer circumferential surface of the receiving cylinder 100 so that the plurality of positive bead ribs 200 having a predetermined interval and number are arranged at equal intervals, And the positive bending rib 200 is formed on the inner circumferential surface of the receiving tube 100 without interference with the positive boding rib 200 so that the negative bending rib 300 is formed for easy separation after multi- 4 to 6 are formed on the wide surface side of the receiving cylinder 100 and 3 to 5 are formed on the narrow side of the receiving cylinder 100. In the case where the receiving cylinder 100 is formed in a shape of a polygonal shape or a hemispherical shape including a triangle, The negative bending rib 300 may have a triangular shape, a polygonal shape including a quadrangle, or a rectangular shape having a rectangular cross section. The negative bending rib 300 may be formed in any one of the gaps G formed by the inclined angle a so that the outer peripheral surface of the upper receiving tube into which the molded position is inserted is not in close contact with the inner peripheral surface of the lower receiving tube, And the reinforcing support strip (110) is further provided on the outer circumferential side of the bottom surface of the receiving cylinder (100)
(Not more than 1 mm) is formed at one side of the negative bending rib so as to penetrate inside and outside of the negative bending rib so that a vacuum state due to air compression is prevented during adhering, A universal tray with improved durability and ease of separation after lamination.
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