KR101508722B1 - Apparatus for inspecting - Google Patents

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KR101508722B1
KR101508722B1 KR20130122091A KR20130122091A KR101508722B1 KR 101508722 B1 KR101508722 B1 KR 101508722B1 KR 20130122091 A KR20130122091 A KR 20130122091A KR 20130122091 A KR20130122091 A KR 20130122091A KR 101508722 B1 KR101508722 B1 KR 101508722B1
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light
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light source
inspected
inspection
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KR20130122091A
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정진은
나준선
이재화
서기호
장충희
최동호
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한국기술교육대학교 산학협력단
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    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61H—PHYSICAL THERAPY APPARATUS, e.g. DEVICES FOR LOCATING OR STIMULATING REFLEX POINTS IN THE BODY; ARTIFICIAL RESPIRATION; MASSAGE; BATHING DEVICES FOR SPECIAL THERAPEUTIC OR HYGIENIC PURPOSES OR SPECIFIC PARTS OF THE BODY
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Abstract

An inspecting apparatus of the present invention automatizes a defect inspection of a micro needle roller. By automatizing the defect inspection which is originally performed with the naked eye, productivity may be increased. The inspecting apparatus of the present invention comprises: a light source unit projecting light onto an object to be inspected; a blind unit blocking some of the light projected onto the object to be inspected from the light source unit; a mounting unit fixating the object to be inspected on an optical path; and a camera unit detecting light reflected from the object to be inspected.

Description

검사 장치{Apparatus for inspecting}Apparatus for inspecting

본 발명은 마이크로니들 롤러(Microneedle roller)의 바늘을 검사하는 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an apparatus for inspecting needles of a microneedle roller.

마이크로니들 테라피 시스템(MTS : Microneedle Therapy System)은 마이크로니들 롤러(Microneedle roller)를 사용하여, 피부 자극과 영양분 공급을 동시에 함으로써, 피부의 진피층에 콜라겐 재생성을 효과적으로 만들어 주는 것이다.The Microneedle Therapy System (MTS: Microneedle Therapy System) uses a microneedle roller to effectively stimulate collagen regeneration in the dermal layer of the skin by simultaneously stimulating skin and supplying nutrients.

마이크로니들 롤러는 마이크로니들 테라피 시스템의 주요 장치이고, 피부에 삽입되는 마이크로니들 롤러의 바늘들은 동일한 피부층에 영양분을 공급하기 위해서 동일한 길이로 통일되어야 한다. 현재 마이크로니들 롤러의 바늘의 길이에 대한 불량 검사는 육안으로 이루어지고 있고, 검사 속도의 향상을 위하여 자동화가 필요하다.The microneedle roller is the main device of the microneedle therapy system and the needles of the microneedle roller inserted into the skin must be unified to the same length in order to feed the same skin layer. At present, the defect inspection on the length of the needle of the microneedle roller is performed by the naked eye, and automation is required to improve the inspection speed.

한국등록특허공보 제10-0878955호에는 광학계를 이용한 이물 검사 장치가 개시되고 있지만, 마이크로니들 롤러의 바늘 검사에는 비효율적이다.
Korean Patent Registration No. 10-0878955 discloses a foreign body inspection apparatus using an optical system, but it is ineffective for a needle inspection of a micro needle roller.

한국등록특허공보 제10-0878955호Korean Patent Registration No. 10-0878955

본 발명은 마이크로니들 롤러(Microneedle roller)의 바늘을 검사하는 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.The present invention is to provide an inspection apparatus for inspecting needles of a microneedle roller.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not intended to limit the invention to the precise forms disclosed. Other objects, which will be apparent to those skilled in the art, It will be possible.

본 발명의 검사 장치는 검사 대상에 빛을 투사하는 광원 유니트와 광원 유니트로부터 검사 대상으로 투사되는 빛의 일부를 차단하는 가림 유니트를 포함할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention may include a light source unit for projecting light to an object to be inspected and a clipping unit for blocking a part of light projected from the light source unit to the object to be inspected.

본 발명의 검사 장치는 검사 대상의 일부에 빛을 투사하는 광원 유니트와 검사 대상에서 반사된 빛을 검출하는 카메라 유니트를 포함할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention may include a light source unit for projecting light onto a part of an object to be inspected and a camera unit for detecting light reflected from the object to be inspected.

본 발명의 검사 장치는 검사 대상에 빛을 투사하는 광원 유니트와 광원 유니트로부터 검사 대상으로 투사되는 빛의 일부를 차단하는 가림 유니트와 검사 대상을 광경로 상에 고정시키는 거치 유니트와 검사 대상에서 반사된 빛을 검출하는 카메라 유니트를 포함할 수 있다.
The inspection apparatus of the present invention includes a light source unit for projecting light onto an object to be inspected, a clipping unit for blocking a part of light projected from the light source unit to the object to be inspected, a mounting unit for fixing the object to be examined on the optical path, And a camera unit for detecting light.

본 발명의 검사 장치는 마이크로니들 롤러의 불량 검사를 자동화를 한다. 종래에 육안으로 불량 검사를 하는 것을 자동화를 함으로써, 생산성을 증대시킬 수 있다.The inspection apparatus of the present invention automates defective inspection of the micro needle roller. The productivity can be increased by automating the defect inspection in the prior art with the naked eye.

본 발명의 검사 장치는 광학계를 이용하여 검사함으로써, 검사 대상에 물리적인 충격이 없이 검사를 할 수 있다.The inspection apparatus of the present invention can inspect an object to be inspected without a physical impact by inspecting it with an optical system.

본 발명의 검사 장치는 'v'형 홈부를 포함하는 거치 유니트에 검사 대상을 안착 시킴으로써, 검사 대상의 교체를 빠르고 정확하게 할 수 있다.
The inspection apparatus of the present invention can quickly and accurately replace the inspection object by placing the inspection object on a mounting unit including a 'v' -shaped groove portion.

도 1은 본 발명의 검사 장치를 나타내는 개략도이다.
도 2는 본 발명의 빛의 투사를 나타내는 개략도이다.
도 3은 본 발명의 가림 유니트와 검사 대상을 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에서 빛의 투사 영역을 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 거치 유니트를 나타내는 개략도이다.1 is a schematic view showing a testing apparatus of the present invention.
2 is a schematic view showing the projection of light of the present invention.
FIG. 3 is a schematic view showing a screening unit and an inspection object of the present invention. FIG.
4 is a schematic view showing a projection area of light in another embodiment of the present invention.
5 is a schematic view showing the mounting unit of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The sizes and shapes of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience. In addition, terms defined in consideration of the configuration and operation of the present invention may be changed according to the intention or custom of the user, the operator. Definitions of these terms should be based on the content of this specification.

마이크로니들 롤러는 원기둥의 몸체를 포함하고, 몸체의 옆면에 피부에 주입되는 영양분을 주사할 수 있는 동일한 길이의 다수의 바늘이 규칙적으로 배열된 형상을 갖는다. 바늘은 일반적으로 용도에 따라 그 길이가 1mm, 1.5mm 또는 2mm의 규격으로 제작된다. 하나의 마이크로니들 롤러에는 동일한 규격의 바늘이 배열되어 있어야 되고, 규격 외의 돌출된 바늘이 있으면 불량 제품이 된다. 현재는 마이크로니들 롤러의 불량 검사는 육안으로 이루어지기 때문에 작업 능률이 떨어진다. 이 때문에 불량 검사의 자동화가 필요하다. 본 발명에서는 광학계를 사용하여 검사 자동화를 구현한다.The microneedle roller includes a cylindrical body and has a shape in which a plurality of needles of the same length are regularly arranged on the side surface of the body so as to inject nutrients injected into the skin. The needles are generally manufactured to a length of 1 mm, 1.5 mm or 2 mm, depending on the application. One microneedle roller must have needles of the same specification, and if there is a protruding needle outside the specification, it becomes a defective product. At present, the defect inspection of the microneedle roller is performed visually, so the working efficiency is lowered. Because of this, automation of defect inspection is necessary. In the present invention, inspection automation is implemented using an optical system.

도 1은 본 발명의 검사 장치를 나타내는 개략도이다. 도 2는 본 발명의 빛의 투사를 나타내는 개략도이다. 도 3은 본 발명의 가림 유니트(200)와 검사 대상(10)을 나타내는 개략도이다. 도 4는 본 발명의 다른 실시예에서 빛의 투사 영역을 나타내는 개략도이다. 도 5는 본 발명의 거치 유니트(300)를 나타내는 개략도이다.1 is a schematic view showing a testing apparatus of the present invention. 2 is a schematic view showing the projection of light of the present invention. FIG. 3 is a schematic view showing a blinding unit 200 and an inspection target 10 according to the present invention. 4 is a schematic view showing a projection area of light in another embodiment of the present invention. 5 is a schematic view showing the mounting unit 300 of the present invention.

이하 도 1 내지 도 5를 함께 참조하여 본 발명의 검사 장치의 구성 및 작용을 상세히 설명한다.Hereinafter, the configuration and operation of the inspection apparatus of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 5. FIG.

도 1에 도시된 검사 장치는 검사 대상(10)에 빛을 투사하는 광원 유니트(100), 광원 유니트(100)로부터 검사 대상(10)으로 투사되는 빛의 일부를 차단하는 가림 유니트(200), 검사 대상(10)을 광경로 상에 고정시키는 거치 유니트(300) 및 검사 대상(10)에서 반사된 상기 빛을 검출하는 카메라 유니트(400)를 포함할 수 있다.The inspection apparatus shown in FIG. 1 includes a light source unit 100 for projecting light onto an object 10 to be inspected, a clipping unit 200 for blocking a part of light projected from the light source unit 100 to the object 10 to be inspected, A mounting unit 300 for fixing the object 10 to be inspected on the optical path and a camera unit 400 for detecting the light reflected from the object 10 to be inspected.

검사 대상은 마이크로니들 롤러일 수 있다.The object to be inspected may be a micro needle roller.

광원 유니트(100)는 타깃이 되는 검사 대상(10)에 직진성의 빛을 투사할 수 있다.The light source unit 100 can project the light of directivity to the target 10 to be inspected.

광원 유니트(100)는 검사 대상(10)에 평면파의 빛을 투사할 수 있다. 평면파 빛의 파면은 도 2에 도시된 B의 면과 같이 형성될 수 있다. 파면은 빛의 동일 위상이 모여 이루는 면을 의미한다. 직진성의 평면파의 빛을 이용함으로써, 가림 유니트(200)가 가리는 면적으로부터 벗어난 검사 대상(10)의 돌출부(13)를 정확하게 감지할 수 있다. 만약 광원 유니트(100)로부터 방사되는 구면파의 빛이 투사된다면 정규 규격에서 돌출되는 돌출부(13)를 가림 유니트(200)를 이용하여 정확하게 측정할 수 없다. The light source unit 100 is capable of projecting light of a plane wave to the object 10 to be inspected. The wavefront of plane wave light can be formed as the plane of B shown in Fig. A wavefront means a plane formed by collecting the same phase of light. By using the light of the plane wave of the direct-acting type, it is possible to accurately detect the protruding portion 13 of the inspection object 10 deviating from the area covered by the screening unit 200. If light of a spherical wave radiated from the light source unit 100 is projected, the protruding portion 13 protruding from the regular standard can not be accurately measured using the blind unit 200.

광원 유니트(100)는 검사 대상(10)에 레이저 광을 투사할 수 있다. 레이저와 같이 단색성의 빛은 가간섭거리(coherence length)가 길다. 이 때문에 레이저 광원을 사용함으로써, 광원 유니트(100)는 검사 대상(10)까지 직진성의 빛을 투사할 수 있다.The light source unit 100 is capable of projecting laser light to the inspection target 10. Monochromatic light, such as a laser, has a long coherence length. Therefore, by using the laser light source, the light source unit 100 can project the light of the directivity to the object 10 to be inspected.

비교 실시예로 레이저 광원 대신에 방전등과 같은 혼합광의 광원을 사용하게 되면 빛은 방사하게 되고 정확한 측정을 할 수 없게 된다.As a comparative example, if a light source of mixed light such as a discharge lamp is used in place of the laser light source, the light is emitted and accurate measurement can not be performed.

가림 유니트(200)는 검사 대상의 규격(11) 내에 투사되는 빛을 차단할 수 있다.The blurring unit 200 can block the light projected in the standard 11 to be inspected.

본 발명은 검사 대상의 규격(11) 외의 돌출부(13)를 감지하고, 이를 통해 제품의 불량을 찾아내는 것이다. 그렇기 때문에 검사 대상의 규격(11) 내에는 빛이 투사되지 않고, 규격 외의 돌출부(13)에 투사되어 반사된 빛을 감지해야된다. 이와 같은 작용을 하기 위해서 가림 유니트(200)는 검사 대상의 규격 크기로 제작되어 검사 대상의 규격(11) 내에 투사되는 빛을 차단한다.The present invention detects protrusions (13) other than the specimen (11) to be inspected, thereby detecting defective products. Therefore, light is not projected in the specimen 11 to be inspected, and the reflected light projected on the protruding portion 13 other than the standard should be sensed. In order to perform such an operation, the blurring unit 200 is fabricated to a standard size to be inspected, and blocks the light projected in the specimen 11 to be inspected.

가림 유니트(200)는 상기 검사 대상(10)의 형상과 크기에 따라 변경될 수 있다.The blinding unit 200 may be changed depending on the shape and size of the inspection target 10.

마이크로니들 롤러의 바늘은 용도에 따라 다른 크기로 제작되고, 검사 대상의 규격(11) 크기는 달라질 수 있다. 검사 대상의 규격(11) 크기가 달라짐에 따라 가림 유니트(200)는 그 규격에 맞게 형성되어 본 발명의 검사 장치에서 교체될 수 있다.The needles of the microneedle roller are manufactured in different sizes depending on the application, and the size of the specimen 11 to be inspected may vary. As the size of the specimen 11 to be inspected varies, the blinding unit 200 can be formed in accordance with the standard and can be replaced in the inspection apparatus of the present invention.

가림 유니트(200)는 빛을 반사하지 않는 흡광 재질일 수 있다. 카메라 유니트(400)는 검사 대상의 규격(11)을 벗어난 돌출부(13)에서 반사된 빛만을 수광해야 한다. 가림 유니트(200)에 투사되는 빛은 카메라 유니트(400)로 반사되지 않아야 되고, 이 때문에 가림 유니트(200)는 빛을 반사하지 않은 흡광 재질로 제작될 수 있다.The blinding unit 200 may be a light absorbing material that does not reflect light. The camera unit 400 should receive only the light reflected from the protruding portion 13 which is outside the standard 11 to be inspected. The light projected onto the screening unit 200 should not be reflected by the camera unit 400. Therefore, the screening unit 200 can be made of a light absorbing material that does not reflect light.

카메라 유니트(400)는 광원 유니트(100)와 검사 대상(10)이 이루는 광축에 이격되어 설치되며, 카메라의 수광 부분의 광축 방향은 검사 대상(10)을 향한다. 카메라 유니트(400)가 광원 유니트(100)와 검사 대상(10)이 형성하는 광축 상에 위치하지 않고 이격되어 위치함으로써, 검사 대상(10)에서 광원 유니트(100)에 대면하는 정면 부위뿐만 아니라 윗면의 돌출부(13)도 파악이 가능해진다.The camera unit 400 is installed to be spaced apart from the optical axis formed by the light source unit 100 and the inspection target 10 and the optical axis direction of the light receiving portion of the camera faces the inspection target 10. The camera unit 400 is located apart from the optical axis formed by the light source unit 100 and the inspection target 10 so that the camera unit 400 is positioned not only on the front surface portion facing the light source unit 100, It is possible to grasp the protruding portion 13 of the protruding portion.

결과적으로 광원 유니트(100)에서 검사 대상(10)에 투사한 빛은 검사 대상의 규격(11) 외의 돌출부(13)에서 반사되고, 반사된 빛은 카메라 유니트(400)로 수광되며, 돌출부(13)의 유무에 따라 사용자에게 불량 여부를 판단할 수 있는 정보를 제공할 수 있다.As a result, the light projected from the light source unit 100 to the inspection target 10 is reflected by the projections 13 outside the standard 11 to be inspected, the reflected light is received by the camera unit 400, The information can be provided to the user to determine whether or not there is a defect.

거치 유니트(300)는 'V' 자 형태의 홈부를 포함한다. 홈부는 검사가 이루어지는 상기 광경로로 상기 검사 대상(10)을 가이드 할 수 있다. The mounting unit 300 includes a V-shaped groove. The groove portion can guide the inspection target 10 to the optical path through which the inspection is performed.

도 5의 (a)에 검사 대상(10)이 안착된 상태를 나타내는 개략도이다.Fig. 5 (a) is a schematic view showing a state in which the inspection target 10 is seated.

도 5의 (b)에 도시된 바와 같이, 사용자가 검사 대상(10)을 거치 유니트(300)에서 광경로에 정확하게 위치시키지 않고, D와 같은 임의의 위치에 사용자가 검사 대상(10)을 놓더라도 거치 유니트(300)에 의해 정확한 검사 위치 C로 검사 대상(10)이 이동할 수 있다.5 (b), when the user does not accurately place the inspection target 10 on the optical path in the mounting unit 300 and the user places the inspection target 10 at an arbitrary position such as D The inspection target 10 can be moved to the correct inspection position C by the mounting unit 300.

거치 유니트(300)에는 검사 대상(10)을 회전시키는 모터 및 컨베이어 벨트와 같은 장치가 구비될 수 있다. 가림 유니트(200)를 사용함으로써, 가림 유니트(200)를 고정하는 구조물이 빛을 차단하기 때문에, 검사 대상(10)의 모든 외주에 빛을 동시에 투사할 수 없다. 이와 같은 이유로 검사 대상(10)을 광축을 중심으로 회전하며 검사하는 것이 필요하다. 컨베이어 벨트에 의하면 검사 대상(10)을 신뢰성 있게 돌릴 수 있으며 이에 따라 검사 대상(10)의 측면에 형성된 모든 돌출부에 대한 불량 검사를 수행할 수 있다.The mounting unit 300 may be provided with a device such as a motor and a conveyor belt for rotating the inspection target 10. Since the structure for fixing the blind unit 200 blocks light by using the blind unit 200, light can not be projected to all the outer peripheries of the to-be-tested object 10 at the same time. For this reason, it is necessary to rotate the inspection target 10 around the optical axis. According to the conveyor belt, the inspection object 10 can be reliably rotated, and accordingly, a defect inspection on all the protrusions formed on the side surface of the inspection target 10 can be performed.

가림 유니트(200)와 거치 유니트(300)는 밀착될 수 있다.The blinding unit 200 and the mounting unit 300 may be in close contact with each other.

다른 실시예로, 가림판이 없이 광원 유니트(100)의 투사 영역을 직접적으로 조절하여 검사 대상(10)을 검사할 수 있다.In another embodiment, the inspection target 10 can be inspected by directly adjusting the projection area of the light source unit 100 without a covering plate.

도 4에 도시된 바와 같이, 광원 유니트(100)는 광경로에 수직한 면에 투영되는 검사 대상의 규격(11) 크기 외의 부분에만 빛을 레이저 광원으로 투사할 수 있다. 단색성이 좋은 레이저 광원을 사용함으로써, 빛의 가간섭성(coherence)를 극대화시켜 빛을 원하는 영역에만 투사하는 것이 가능하다.As shown in FIG. 4, the light source unit 100 can project light to the laser light source only at a portion of the inspection object, which is projected on a plane perpendicular to the optical path, except for the size of the standard (11). By using a laser light source having a good monochromaticity, it is possible to maximize the coherence of light and project the light only in a desired region.

도 4의 (b)에 도시된 바와 같이 빛을 검사 대상의 규격(11) 외의 영역인 F의 영역에만 투사하는 것이 가능하고, 이를 이용해서 규격 외의 돌출부(13)에서 반사된 빛을 감지함으로써, 불량 여부를 판단할 수 있다.4 (b), it is possible to project the light only to the region F other than the standard 11 to be inspected. By sensing the light reflected by the protruding portion 13 other than the standard using the region, It is possible to judge whether or not it is defective.

검사 대상(10)의 불량 검사는 암실에서 이루어질 수 있다. 일예로 니들의 지름이 0.8cm이고 돌출부의 길이가 0.2cm가 규격인 경우, 0.8cm+0.2cm=1cm 지름의 가림 유니트가 검사 대상과 광원 유니트의 사이에 배치될 수 있다. 물론 이때 니들과 가림 유니트의 중심은 모두 광원 유니트의 광축 상에 위치해야 할 것이다.The defect inspection of the inspection target 10 can be performed in the dark room. For example, when the diameter of the needle is 0.8 cm and the length of the projection is 0.2 cm, a blind unit having a diameter of 0.8 cm + 0.2 cm = 1 cm can be disposed between the object to be inspected and the light source unit. Of course, both the needle and the center of the blind unit should be located on the optical axis of the light source unit.

만약, 모든 돌출부가 0.2cm를 만족한다면 가림 유니트의 가림에 의해 광원 유니트의 빛을 받지 못할 것이다. 이 상태에서 카메라로 촬영하게 되면 까만 화면만 촬영될 것이다.If all protrusions meet 0.2 cm, they will not receive the light from the light source unit due to occlusion of the clipping unit. If you shoot with the camera in this state, only the black screen will be shot.

만약, 특정 돌출부가 0.3cm라면 광원 유니트의 광축 방향에 바라보았을 때 해당 특정 돌출부의 단부가 가림 유니트로부터 돌출될 것이다. 이 돌출된 부분이 광원 유니트의 빛을 받게 되고 암실 내에서 빛나게 된다. 이 상태에서 카메라로 촬영하면 특정 돌출부가 반짝이는 화면이 촬영될 것이다. 다시 말해 암실 상태에서 촬영된 화면에서 반짝이는 점의 개수가 곧 불량 상태의 돌출부의 개수를 나타낸다.If the specific protrusion is 0.3 cm, the end of the specific protrusion will protrude from the covering unit when viewed in the direction of the optical axis of the light source unit. This protruding part receives the light of the light source unit and becomes glow in the dark room. In this state, when shooting with the camera, a screen with a specific protrusion will flash. In other words, the number of sparkling points on the screen shot in the dark state indicates the number of protrusions in the defective state.

이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.
While the invention has been shown and described with reference to certain preferred embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the following claims.

10...검사 대상 11...검사대상의 규격
13...돌출부 100...광원 유니트
200...가림 유니트 300...거치 유니트
400...카메라 유니트10 ... subject to inspection 11 ... standard of inspection subject
13 ... protrusion 100 ... light source unit
200 ... blind unit 300 ... mounting unit
400 ... camera unit

Claims (10)

검사 대상에 빛을 투사하는 광원 유니트;
상기 광원 유니트로부터 상기 검사 대상으로 투사되는 상기 빛의 일부를 차단하는 가림 유니트;
상기 검사 대상을 광경로 상에 고정시키는 거치 유니트;
상기 검사 대상에서 반사된 상기 빛을 검출하는 카메라 유니트; 를 포함하고,
상기 검사 대상에는 상기 광경로에 수직한 방향으로 연장되는 복수의 돌출부가 마련되며,
상기 가림 유니트는 상기 광원 유니트에 대해서 설정 길이의 상기 돌출부를 가리고,
상기 광원 유니트의 빛은 상기 가림 유니트에 의해 가려진 상기 돌출부를 향해 투사되며,
상기 카메라 유니트는 복수의 상기 돌출부 중에서 상기 설정 길이를 초과한 돌출부의 단부에 반사된 상기 빛을 촬영하는 검사 장치.
A light source unit for projecting light onto an object to be inspected;
A shielding unit for shielding a part of the light projected from the light source unit to the inspection object;
A mounting unit for fixing the inspection object on the optical path;
A camera unit for detecting the light reflected from the inspection object; Lt; / RTI >
Wherein the inspection object is provided with a plurality of protrusions extending in a direction perpendicular to the optical path,
The shielding unit covers the projecting portion of the set length with respect to the light source unit,
The light of the light source unit is projected toward the protruding portion covered by the clipping unit,
Wherein the camera unit captures the light reflected on the end of the protruding portion exceeding the set length among the plurality of protruding portions.
제1항에 있어서,
상기 광원 유니트는,
상기 검사 대상에 평면파의 빛을 투사하는 검사 장치.
The method according to claim 1,
The light source unit includes:
And projecting light of a plane wave to the object to be inspected.
제1항에 있어서,
상기 광원 유니트는,
상기 검사 대상에 레이저 광원으로 투사하는 검사 장치.
The method according to claim 1,
The light source unit includes:
And projects the inspection target onto a laser light source.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 가림 유니트는, 상기 빛을 반사하지 않는 흡광 재질인 검사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the blind unit is a light absorbing material that does not reflect the light.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 광원 유니트는,
광경로에 수직한 면에 투영되는 상기 검사 대상의 규격 크기 외의 부분에만 상기 빛을 레이저 광원으로 투사하는 검사 장치.
The method according to claim 1,
The light source unit includes:
And projecting the light to a laser light source only on a portion other than the standard size of the inspection object projected on a plane perpendicular to the optical path.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 거치 유니트는 'V' 자 형태의 홈부를 포함하고,
상기 홈부는 검사가 이루어지는 상기 광경로로 상기 검사 대상을 가이드 하는 검사 장치.The method according to claim 1,
The mounting unit may include a V-shaped groove,
Wherein the groove guides the inspection object to the optical path through which inspection is performed.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0755442A (en) * 1993-06-10 1995-03-03 Toshiba Corp Electronic device recognition unit and electronic device mounting system employing it
JPH0829133A (en) * 1994-07-11 1996-02-02 Japan Tobacco Inc Diameter measuring apparatus for cylindrical sample

Patent Citations (2)

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