KR101494535B1 - Apparatus to provide beam by using near infrared light source - Google Patents
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Abstract
본 발명의 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치는, 근적외선의 광을 발생시키는 광원; 상기 광원과 광섬유에 의해 연결되며, 광을 복수 개의 광으로 분배하는 광 분배기; 및 광 분배기로부터 분배된 광을 제공 받아 측정 대상체를 향하여 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며, 복수 개의 조사부로부터 측정 대상체로 조사된 빔은 측정 대상체로부터 반사되어 대물 렌즈로 향할 수 있다. 본 발명의 실시예에 따르면, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. A beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to an embodiment of the present invention includes: a light source for generating near-infrared light; An optical splitter connected to the light source by an optical fiber and distributing the light to a plurality of lights; And a plurality of irradiating units for receiving the light distributed from the optical distributor and irradiating a beam of near-infrared rays toward the measurement object, wherein the beam irradiated from the plurality of irradiation units to the measurement object can be reflected from the measurement object and directed toward the objective lens. According to the embodiment of the present invention, it is possible to dispose an apparatus for irradiating near-infrared light to the measurement target object, for example, the edge of the objective lens close to the eyeball, thereby simplifying the optical system of the near-infrared microscope, Thereby reducing the loss of returned light.
Description
근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치가 개시된다. 보다 상세하게는, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 배치될 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치가 개시된다.
A beam irradiation apparatus using a near-infrared light source is disclosed. More specifically, it is possible to reduce the loss of light reflected or reflected by the irradiated light or the eyeball, which can be disposed at the measurement target object, for example, at the edge of the objective lens close to the eyeball, thereby simplifying the optical system of the near- A beam irradiation apparatus using a light source is disclosed.
일반적으로 안과 현미경에 광원을 입사시키기 위해서는 현미경 내부 양쪽 릴레이 렌즈와 접안렌즈 사이에 빔 스플리터를 배치하는 방식과 양쪽 릴레이 렌즈 중앙에 거울을 배치하는 방식이 있다. Generally, in order to make a light source enter an ophthalmologic microscope, there is a method of arranging a beam splitter between a relay lens and an eyepiece inside a microscope, and a method of arranging a mirror at the center of both relay lenses.
일반적인 안과 현미경에서 광원을 입사시키기 위해 배치하는 광학계들 때문에 공간적으로 차지하는 부피가 커지게 되며 광손실 역시 발생을 하게 된다. 또한 조사되는 광원빔의 면적이 고정되어 있기 때문에 필요 이상의 광이 집속되어 안구에 피로를 주며 현미경 촬영 후 회복하는 시간이 길어지는 단점이 있다.
Because of the optical systems that are placed in order to enter the light source in a general ophthalmologic microscope, the volume occupying the space becomes large and the optical loss also occurs. In addition, since the area of the irradiated light beam is fixed, more light than necessary is focused, giving fatigue to the eyeball, and there is a disadvantage that the recovery time after taking a microscope is prolonged.
본 발명의 실시예에 따른 목적은, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치를 제공하는 것이다. An object of an embodiment of the present invention is to provide an apparatus for irradiating a near infrared ray light to an object to be measured, for example, an edge of an objective lens close to an eyeball, thereby simplifying an optical system of a near-infrared microscope, Which can reduce the loss of light reflected by the light source and returned to the light source.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 다른 목적은, 장치본체 내부에서 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있어 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치를 제공하는 것이다.
It is another object of the present invention to provide a near-infrared microscope capable of controlling the irradiation angle of the beam in the main body of the apparatus and adjusting the amount of light and the irradiation area according to the microscope magnification, And to provide an irradiation device.
본 발명의 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치는, 측정 대상체의 영상 정보를 획득하는 현미경의 대물 렌즈에 인접하게 장착되는 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치로서, 근적외선의 광을 발생시키는 광원; 상기 광원과 광섬유에 의해 연결되며, 상기 광을 복수 개의 광으로 분배하는 광 분배기; 및 상기 광 분배기로부터 분배된 상기 광을 제공 받아 상기 측정 대상체를 향하여 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며, 상기 복수 개의 조사부로부터 상기 측정 대상체로 조사된 상기 빔은 상기 측정 대상체로부터 반사되어 상기 대물 렌즈로 향할 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. A beam irradiating apparatus using a near-infrared light source according to an embodiment of the present invention is a beam irradiating apparatus using a near-infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for acquiring image information of a measurement object, comprising: a light source for generating near- An optical splitter connected to the light source by an optical fiber and distributing the light to a plurality of lights; And a plurality of irradiating units for receiving the light distributed from the optical distributor and irradiating a beam of near-infrared rays toward the measurement object, wherein the beam irradiated from the plurality of irradiation units to the measurement object is reflected from the measurement object It is possible to dispose an apparatus for irradiating near-infrared light to the measurement target object, for example, the edge of the objective lens close to the eyeball, thereby simplifying the optical system of the near-infrared microscope, The loss of light reflected from the light or the eyeball can be reduced.
일측에 의하면, 상기 복수 개의 조사부가 원주 방향으로 내장되며, 중공의 원기둥 형상을 갖는 장치본체를 더 포함하며, 상기 장치본체의 중공 부분의 상부에 상기 대물 렌즈가 인접하게 배치될 수 있다.According to one aspect of the present invention, the plurality of irradiation units are installed in a circumferential direction and further include a device body having a hollow cylindrical shape, and the objective lens may be disposed adjacent to an upper portion of the hollow portion of the device body.
일측에 의하면, 상기 조사부는, 시준기; 및 상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며, 상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능하다.According to one aspect, the irradiation unit includes a collimator; And a beam collimating lens for condensing the beam passing through the collimator, wherein the beam collimating lens is mounted on the angle adjusting element and is selectively adjustable in angle.
일측에 의하면, 상기 광원은 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 중 어느 하나의 근적외선 광원일 수 있다.According to one aspect, the light source may be a superluminescent diode (SLD), a light emitting diode (LED), a laser diode (LD), a semiconductor optical amplifier (SOA), a titanium sapphire laser (Ti: Saphire laser), and a supercontinuum source (near-infrared light source).
일측에 의하면, 상기 광 분배기는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기이며, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 중 어느 하나의 광 분배기일 수 있다.According to one aspect of the present invention, the optical splitter is a 1 × n optical splitter having one input and a plurality of outputs, and includes a fiber optic based optical coupler, an optical fiber based optical power splitter, a planar optical waveguide optical coupler, a planar optical waveguide power splitter, Or an optical splitter.
일측에 의하면, 상기 빔 조사 장치는 상기 측정 대상체로서 안구를 촬영하는 안구용 근적외선 현미경에 적용되는 장치일 수 있다.According to one aspect, the beam irradiating device may be an apparatus applied to an ocular near-infrared microscope for photographing an eyeball as the measurement object.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치는, 측정 대상체의 영상 정보를 획득하는 현미경의 대물 렌즈에 인접하게 장착되는 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치로서, 장치본체; 및 상기 장치본체에 장착되어 상기 측정 대상체를 향해 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며, 상기 복수 개의 조사부는, 근적외선의 빔을 제공하는 광원을 개별적으로 구비할 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. Meanwhile, a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to an embodiment of the present invention is a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for acquiring image information of a measurement object, And a plurality of irradiation units mounted on the apparatus main body and irradiating a beam of near-infrared rays toward the measurement object, wherein the plurality of irradiation units can individually include a light source for providing a beam of near-infrared rays, It is possible to dispose an apparatus for irradiating near-infrared light to the edge of the objective lens close to the eyeball, thereby simplifying the optical system of the near-infrared microscope and reducing the loss of light to be irradiated or returning from the eyeball.
일측에 의하면, 상기 조사부는, 상기 광원으로부터 발생되는 광을 시준시키는 시준기; 및 상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며, 상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절될 수 있다.
According to one aspect, the irradiating unit includes: a collimator for collimating light emitted from the light source; And a beam collimating lens for converging the beam passing through the collimator, wherein the beam collimating lens is mounted on the angle adjusting element and can be selectively angularly adjusted.
본 발명의 실시예에 따르면, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. According to the embodiment of the present invention, it is possible to dispose an apparatus for irradiating near-infrared light to the measurement target object, for example, the edge of the objective lens close to the eyeball, thereby simplifying the optical system of the near-infrared microscope, Thereby reducing the loss of returned light.
또한 본 발명의 실시예에 따르면, 장치본체 내부에서 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있어 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있다.Also, according to the embodiment of the present invention, the irradiation angle of the beam can be adjusted within the apparatus main body, and a near-infrared microscope capable of adjusting the light amount and the irradiation area according to the microscope magnification can be realized.
또한, 본 발명의 실시예에 따르면, 안과용 근적외선 현미경뿐만 아니라 다른 파장을 사용하는 광학 현미경에서도 광을 제공하는 장치로서 다양하게 사용될 수 있다.
Further, according to the embodiment of the present invention, it can be variously used as an apparatus for providing light in an optical microscope using different wavelengths as well as an ophthalmic near-infrared microscope.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1을 측 방향으로 바라본 도면이다.
도 3은 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 중앙으로 향하는 상태를 도시한 도면이다.
도 4는 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 안구에 평행하게 제공되는 상태를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치가 적용된 현미경의 개략적인 구성을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 7은 도 6을 측 방향으로 바라본 도면이다.
FIG. 1 is a view schematically showing a configuration of a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is a side view of Fig. 1. Fig.
FIG. 3 is a view showing a state in which the beam generated by the beam irradiation device of FIG. 1 is directed to the center. FIG.
Fig. 4 is a view showing a state in which a beam generated by the beam irradiation device of Fig. 1 is provided in parallel to the eyeball. Fig.
FIG. 5 is a view showing a schematic configuration of a microscope to which a beam irradiation apparatus according to an embodiment of the present invention is applied.
6 is a view schematically showing a configuration of a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to another embodiment of the present invention.
Fig. 7 is a side view of Fig. 6. Fig.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 구성 및 적용에 관하여 상세히 설명한다. 이하의 설명은 특허 청구 가능한 본 발명의 여러 태양(aspects) 중 하나이며, 하기의 기술(description)은 본 발명에 대한 상세한 기술(detailed description)의 일부를 이룬다. Hereinafter, configurations and applications according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The following description is one of many aspects of the claimed invention and the following description forms part of a detailed description of the present invention.
다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 관한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail for the sake of clarity and conciseness.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 도 1을 측 방향으로 바라본 도면이고, 도 3은 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 중앙으로 향하는 상태를 도시한 도면이고, 도 4는 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 안구에 평행하게 제공되는 상태를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a view schematically showing a configuration of a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a side view of FIG. 1, and FIG. 3 is a cross- FIG. 4 is a view showing a state in which a beam generated by the beam irradiation device of FIG. 1 is provided in parallel to the eyeball. FIG.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치(100)는, 근적외선 파장의 광을 발생시키는 광원(110)과, 광원(110)으로부터 발생된 근적외선의 광을 분배시키는 광 분배기(130)와, 광 분배기(130)로부터 분배된 광을 안구(101) 방향으로 조사하는 복수 개의 조사부(160)를 포함할 수 있다.As shown in these drawings, the
여기서, 복수 개의 조사부(160)가 원주 방향을 따라 이격되게 내장되는 장치본체(150)는 전체적으로 중공의 원통 형상을 갖는다. 장치본체(150)의 바로 상부에는 현미경(200, 도 5 참조)에 구비되는 대물 렌즈(210)가 위치될 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 조사부(160)로부터 안구(101) 방향으로 조사된 빔(103, 도 2 참조)이 안구(101)에 반사되는데 이 때 안구(101)에 반사되어 돌아오는 빔이 장치본체(150)의 중공 부분(150S)을 거쳐 대물 렌즈에 도달할 수 있다.Here, the apparatus
각각의 구성에 대해 설명하면, 먼저 본 실시예의 장치본체(150)는, 대물 렌즈(210)에 가장 가까운 위치에 배치될 수 있다. 따라서, 별도의 광학계 배치를 위한 공간을 마련하지 않아도 되기 때문에 본 실시예의 빔 조사 장치(100)가 적용되는 현미경(200)의 부피를 줄일 수 있다.First, the apparatus
한편, 본 실시예의 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치(100)는, 하나의 광원(110)을 구비하며, 이 광원(110)으로부터 발생된 광이 광 분배기(130)를 통해 분배되어 복수 개의 조사부(160)로 제공될 수 있다.The
본 실시예의 광원(110)은, 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 등과 같은 다양한 근적외선 광원이 사용될 수 있다. 다만, 광원(110)의 종류가 이에 한정되는 것은 아니다.The
이러한 광원(110)과 광 분배기(130)는 광섬유(120)에 의해 연결되어 광원(110)으로부터 발생된 근적외선의 광은 광섬유(120)를 통해 광 분배기(130)로 제공될 수 있다. 본 실시예의 광 분배기(130)는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기가 적용될 수 있다.The
또한, 본 실시예의 광 분배기(130)로는, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 등과 같은 다양한 광 분배기가 적용될 수 있다. 단, 광 분배기(130)의 종류가 이에 한정되는 것은 아니다.Various optical distributors such as optical fiber based optical couplers, optical fiber based optical power distributors, flat plate type optical waveguide optical couplers, flat plate type optical waveguide power dividers, and optical waveguide dividers can be applied to the
한편, 본 실시예의 광 분배기(130)는 광섬유 또는 평판형 광도파로 기반으로 되어 있기 때문에 소형으로 마련될 수 있어 일반 광학계와 같이 충격에 따라 정렬이 틀어질 수 있다.Meanwhile, since the
이에 본 실시예의 복수 개의 조사부(160)는, 시준기(161)와 빔 조사용 렌즈(163)를 포함할 수 있다. 여기서, 빔 조사용 렌즈(163)는 각도 조절소자(165)에 결합되어 빔 조사용 렌즈(163)의 각도 조절이 가능하며, 이를 통해 안구(101)에 대한 빔의 각도를 필요에 따라 선택적으로 조절할 수 있다.Accordingly, the plurality of
부연하면, 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔 조사용 렌즈(163)를 대물 렌즈(210) 중심 방향 또는 측정하고자 하는 안구(101)의 직교 방향으로 각도 조절할 수 있다. The
여기서, 대물 렌즈(210) 중심으로 빔 조사용 렌즈(163)를 정렬하는 경우, 도 3에 도시된 것처럼, 보다 좁은 면적(S1)에 빔(103)이 조사되며 또한 같은 광량이 좁은 면적에 조사되기 때문에 보다 높은 광량을 조사시킬 수 있다. Here, when the
반면에, 안구(101)에 직교하는 방향으로 빔 조사용 렌즈(163)가 정렬되는 경우, 도 4에 도시된 것처럼, 보다 넓은 면적(S2)에 빔(103)이 조사되며 또한 같은 광량이 넓은 면적에 조사되기 때문에 보다 낮은 광량을 조사 시킬 수 있다. On the other hand, when the
일반적으로 현미경(200)을 이용하여 고배율을 촬영할 시 좁은 영역에 높은 광량을 조사시켜야 선명한 현미경 이미지를 촬영할 수 있기 때문에 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔을 대물 렌즈(210) 중심으로 조사시킬 수 있도록 빔 조사용 렌즈(163)를 조절시킨다. 반대로, 저배율을 촬영할 시 넓은 영역에 광량을 분산시켜 선명한 현미경 이미지를 촬영할 수 있도록, 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔을 안구(101)에 직교하는 방향으로 조사시킬 수 있도록 빔 조사용 렌즈(165)를 조절시킬 수 있다. In general, when a high magnification is photographed using the
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 안구(101)에 근접한 대물 렌즈(210) 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 본 실시예의 빔 조사 장치(100)를 배치할 수 있어 근적외선 현미경(200)의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구(101)에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는 장점이 있다.As described above, according to the embodiment of the present invention, the
또한, 장치본체(150) 내부에서 각도 조절소자(165)에 의해 빔 조사용 렌즈(163)의 각도를 조절할 수 있어 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있으며, 이로 인해 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있는 장점이 있다. Further, the angle of the
한편, 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치(100)는 전술한 것처럼, 안구(101)의 영상 정보를 획득하는 근적외선 현미경(200)에 적용될 수 있다.Meanwhile, the
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치가 적용된 현미경의 개략적인 구성을 도시한 도면이다. FIG. 5 is a view showing a schematic configuration of a microscope to which a beam irradiation apparatus according to an embodiment of the present invention is applied.
이에 도시된 것처럼, 현미경(200)의 구성 중 안구(101)에서 가장 가까운 대물 렌즈(210)와 본 실시예의 빔 조사 장치(100)는 부착된다. As shown in the figure, the
이러한 구성에 의해서, 빔 조사 장치(100)로부터 조사되는 빔(103)이 안구(101) 표면에서 반사되어 돌아오는데, 이 때 반사되는 빔(103a)이 대물 렌즈(210)로 유도된다. 반사되는 근적외선의 빔(103a)은 릴레이 렌즈(211, 212)와 접안 렌즈(213)를 거치며 집속되고 CCD 카메라(220)에 도달됨으로써 영상 정보를 획득할 수 있다. 아울러, CCD 카메라(200)로 획득된 영상 정보는 디스플레이(미도시)를 통해 확인할 수 있다.With this configuration, the
한편, 이하에서는 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치에 대해서 설명하되 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치와 실질적으로 동일한 부분에 대해서는 그 설명을 생략하기로 한다.Hereinafter, a beam irradiating apparatus using a near-infrared light source according to another embodiment of the present invention will be described, but a description of the same parts as those of the beam irradiating apparatus of the above embodiment will be omitted.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 7은 도 6을 측 방향으로 바라본 도면이다.FIG. 6 is a view schematically showing a configuration of a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a side view of FIG.
이들 도면에 도시된 것처럼, 본 실시예의 빔 조사 장치(300)는 대물 렌즈(410)에 인접하게 배치된다는 점에서 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치(100, 도 1 참조)와 유사한 구성을 갖되, 광원(310)에 있어서 차이가 있다.As shown in these drawings, the
본 실시예의 경우, 근적외선의 광을 발생시키는 광원(310)은 복수 개의 조사부(360)의 대응되는 수로 마련되어 각 조사부(360)에 구비될 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 것처럼, 각 조사부(360)는, 광원(310)과, 시준기(361)와, 각도 조절소자(365)에 결합되는 빔 조사용 렌즈(363)를 구비할 수 있으며, 이에 따라 빔의 조사 방향 및 광량 등을 선택적으로 조절할 수 있다.In this embodiment, the
전술한 실시예들에서는, 빔 조사 장치가 안과용 현미경에 적용되는 경우에 대해 상술하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 파장을 사용하는 광학 현미경 등에도 적용 가능함은 당연하다.In the embodiments described above, the case where the beam irradiating apparatus is applied to the ophthalmic microscope has been described above, but the present invention is not limited thereto, and it is obvious that the present invention is also applicable to optical microscopes using different wavelengths.
한편, 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, such modifications or variations are intended to fall within the scope of the appended claims.
100 : 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치
101 : 안구
110 : 광원
120 : 광섬유
130 : 광 분배기
150 : 장치본체
160 : 조사부
161 : 시준기
163 : 빔 조사용 렌즈
165 : 각도 조절소자
200 : 현미경
210 : 대물 렌즈100: Beam irradiation device using a near-infrared light source
101: eyeball
110: Light source
120: Optical fiber
130: optical distributor
150:
160:
161: Collimator
163: Lens for beam adjustment
165: Angle adjustment element
200: Microscope
210: Objective lens
Claims (8)
근적외선의 광을 발생시키는 광원;
상기 광원과 광섬유에 의해 연결되며, 상기 광을 복수 개의 광으로 분배하는 광 분배기; 및
상기 광 분배기로부터 분배된 상기 광을 제공 받아 상기 측정 대상체를 향하여 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며,
상기 복수 개의 조사부로부터 상기 측정 대상체로 조사된 상기 빔은 상기 측정 대상체로부터 반사되어 상기 대물 렌즈로 향하며,
상기 조사부는,
시준기; 및
상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며,
상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능한, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치.
A beam irradiation apparatus using a near-infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for acquiring image information of a measurement target,
A light source for generating near-infrared light;
An optical splitter connected to the light source by an optical fiber and distributing the light to a plurality of lights; And
And a plurality of irradiating units for receiving the light distributed from the optical distributor and irradiating a beam of near infrared rays toward the object to be measured,
Wherein the beam irradiated from the plurality of irradiation units to the measurement target object is reflected from the measurement target object and is directed to the objective lens,
The irradiation unit
Collimator; And
And a beam collimating lens for converging the beam passing through the collimator,
Wherein the beam adjusting lens is mounted on the angle adjusting element and is selectively adjustable in angle, using a near-infrared light source.
상기 복수 개의 조사부가 원주 방향으로 내장되며, 중공의 원기둥 형상을 갖는 장치본체를 더 포함하며,
상기 장치본체의 중공 부분의 상부에 상기 대물 렌즈가 인접하게 배치되는 빔 조사 장치.
The method according to claim 1,
Further comprising a device main body having a plurality of irradiation portions embedded in a circumferential direction and having a hollow cylindrical shape,
And the objective lens is disposed adjacent to an upper portion of the hollow portion of the apparatus main body.
상기 광원은 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 중 어느 하나의 근적외선 광원인 빔 조사 장치.
The method according to claim 1,
The light source may be a superluminescent diode (SLD), a light emitting diode (LED), a laser diode (LD), a semiconductor optical amplifier (SOA), a titanium sapphire laser (Ti: laser, and a supercontinuum source.
상기 광 분배기는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기이며, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 중 어느 하나의 광 분배기인 빔 조사 장치.
The method according to claim 1,
The optical splitter is a 1 × n optical splitter having one input and a plurality of outputs, and is a 1 × n optical splitter having any one of an optical fiber based optical coupler, an optical fiber based optical power splitter, a planar optical waveguide optical coupler, a planar optical waveguide power splitter, Which is an optical distributor of the beam splitter.
상기 빔 조사 장치는 상기 측정 대상체로서 안구를 촬영하는 안구용 근적외선 현미경에 적용되는 장치인 빔 조사 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the beam irradiating device is a device applied to an ocular near-infrared microscope for photographing an eyeball as the measurement object.
장치본체; 및
상기 장치본체에 장착되어 상기 측정 대상체를 향해 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며,
상기 복수 개의 조사부는, 근적외선의 빔을 제공하는 광원을 개별적으로 구비하며,
상기 조사부는,
상기 광원으로부터 발생되는 광을 시준시키는 시준기; 및
상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며,
상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능한, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치.A beam irradiation apparatus using a near-infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for acquiring image information of a measurement target,
A device body; And
And a plurality of irradiation units mounted on the apparatus main body and irradiating a beam of near-infrared rays toward the measurement target body,
The plurality of irradiation units individually include a light source for providing a near-infrared beam,
The irradiation unit
A collimator for collimating light emitted from the light source; And
And a beam collimating lens for converging the beam passing through the collimator,
Wherein the beam adjusting lens is mounted on the angle adjusting element and is selectively adjustable in angle, using a near-infrared light source.
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