KR20140020737A - Apparatus to provide beam by using near infrared light source - Google Patents
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Abstract
Description
근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치가 개시된다. 보다 상세하게는, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 배치될 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치가 개시된다.
Disclosed is a beam irradiation apparatus using a near infrared light source. More specifically, near-infrared light, which can be placed at the edge of an objective lens close to the measurement object, for example, the eye, can simplify the optical system of the near-infrared microscope, and reduce the loss of light reflected back from the irradiated light or the eye. Disclosed is a beam irradiation apparatus using a light source.
일반적으로 안과 현미경에 광원을 입사시키기 위해서는 현미경 내부 양쪽 릴레이 렌즈와 접안렌즈 사이에 빔 스플리터를 배치하는 방식과 양쪽 릴레이 렌즈 중앙에 거울을 배치하는 방식이 있다. Generally, in order to inject a light source into an ophthalmic microscope, there are a method of disposing a beam splitter between both the relay lens and the eyepiece in the microscope and a mirror at the center of both relay lenses.
일반적인 안과 현미경에서 광원을 입사시키기 위해 배치하는 광학계들 때문에 공간적으로 차지하는 부피가 커지게 되며 광손실 역시 발생을 하게 된다. 또한 조사되는 광원빔의 면적이 고정되어 있기 때문에 필요 이상의 광이 집속되어 안구에 피로를 주며 현미경 촬영 후 회복하는 시간이 길어지는 단점이 있다.
In general ophthalmic microscopes, the optical systems arranged for incidence of light sources increase the volume occupied spatially and cause optical loss. In addition, since the area of the light source beam to be irradiated is fixed, more than necessary light is focused to give fatigue to the eye and has a long recovery time after microscopic examination.
본 발명의 실시예에 따른 목적은, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치를 제공하는 것이다. An object according to an embodiment of the present invention, it is possible to arrange a device for irradiating near-infrared light on the edge of the objective lens in close proximity to the measurement object, for example, the eye can simplify the optical system of the near-infrared microscope, the light or eye irradiated It is to provide a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source, which can reduce the loss of light reflected back from the.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 다른 목적은, 장치본체 내부에서 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있어 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치를 제공하는 것이다.
In addition, another object according to an embodiment of the present invention, the beam using a near-infrared light source, which can implement a near-infrared microscope that can adjust the irradiation angle of the beam inside the apparatus body to adjust the amount of light and the irradiation area according to the microscope magnification. It is to provide an irradiation device.
본 발명의 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치는, 측정 대상체의 영상 정보를 획득하는 현미경의 대물 렌즈에 인접하게 장착되는 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치로서, 근적외선의 광을 발생시키는 광원; 상기 광원과 광섬유에 의해 연결되며, 상기 광을 복수 개의 광으로 분배하는 광 분배기; 및 상기 광 분배기로부터 분배된 상기 광을 제공 받아 상기 측정 대상체를 향하여 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며, 상기 복수 개의 조사부로부터 상기 측정 대상체로 조사된 상기 빔은 상기 측정 대상체로부터 반사되어 상기 대물 렌즈로 향할 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. A beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to an embodiment of the present invention, a beam irradiation apparatus using a near infrared light source mounted adjacent to the objective lens of the microscope for obtaining the image information of the measurement object, the light source for generating light of the near infrared; A light splitter connected by the light source and the optical fiber and distributing the light into a plurality of lights; And a plurality of irradiation units receiving the light distributed from the light distributor and irradiating a beam of near infrared rays toward the measurement object, wherein the beams irradiated from the plurality of irradiation units to the measurement object are reflected from the measurement object. It can be directed to the objective lens, by this configuration, it is possible to arrange a device for irradiating near-infrared light at the edge of the objective lens close to the measurement object, for example, the eye can simplify the optical system of the near infrared microscope, It is possible to reduce the loss of light reflected back from the light or the eye.
일측에 의하면, 상기 복수 개의 조사부가 원주 방향으로 내장되며, 중공의 원기둥 형상을 갖는 장치본체를 더 포함하며, 상기 장치본체의 중공 부분의 상부에 상기 대물 렌즈가 인접하게 배치될 수 있다.According to one side, the plurality of irradiation unit is built in the circumferential direction, and further comprises a device body having a hollow cylindrical shape, the objective lens may be disposed adjacent to the upper portion of the hollow portion of the device body.
일측에 의하면, 상기 조사부는, 시준기; 및 상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며, 상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능하다.According to one side, the irradiation unit, collimator; And a beam irradiation lens for condensing the beam passing through the collimator, wherein the beam irradiation lens is mounted on an angle adjusting element to selectively adjust the angle.
일측에 의하면, 상기 광원은 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 중 어느 하나의 근적외선 광원일 수 있다.According to one side, the light source is a superluminescent diode (SLD), light emitting diode (LED), laser diode (LD), semiconductor optical amplifier (SOA), titanium sapphire laser (Ti: Saphire laser) may be a near-infrared light source of any one of a supercontinuum source.
일측에 의하면, 상기 광 분배기는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기이며, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 중 어느 하나의 광 분배기일 수 있다.According to one side, the optical splitter is a 1 × n optical splitter having one input and a plurality of outputs, the optical fiber based optical coupler, optical fiber based optical power splitter, flat optical waveguide optical coupler, flat optical waveguide power splitter, optical wavelength It may be an optical splitter of any one of the splitters.
일측에 의하면, 상기 빔 조사 장치는 상기 측정 대상체로서 안구를 촬영하는 안구용 근적외선 현미경에 적용되는 장치일 수 있다.According to one side, the beam irradiation apparatus may be a device applied to an eye near-infrared microscope for photographing the eye as the measurement object.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치는, 측정 대상체의 영상 정보를 획득하는 현미경의 대물 렌즈에 인접하게 장착되는 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치로서, 장치본체; 및 상기 장치본체에 장착되어 상기 측정 대상체를 향해 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며, 상기 복수 개의 조사부는, 근적외선의 빔을 제공하는 광원을 개별적으로 구비할 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. On the other hand, a beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to an embodiment of the present invention, the beam irradiation apparatus using a near infrared light source mounted adjacent to the objective lens of the microscope for obtaining the image information of the measurement object, the apparatus main body; And a plurality of irradiation units mounted on the apparatus main body to irradiate a beam of near infrared rays toward the measurement object, wherein the plurality of irradiation units may separately include a light source that provides a beam of near infrared rays. In addition, a device for irradiating near-infrared light at the edge of the objective lens close to the eye can be arranged to simplify the optical system of the near-infrared microscope, and to reduce the loss of light reflected from the irradiated light or the eye.
일측에 의하면, 상기 조사부는, 상기 광원으로부터 발생되는 광을 시준시키는 시준기; 및 상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며, 상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절될 수 있다.
According to one side, the irradiation unit, a collimator for collimating the light generated from the light source; And a beam irradiation lens for focusing the beam passing through the collimator, and the beam irradiation lens may be mounted on an angle adjusting element and may be selectively adjusted.
본 발명의 실시예에 따르면, 측정 대상체, 예를 들면 안구에 근접한 대물 렌즈 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 장치를 배치할 수 있어 근적외선 현미경의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있다. According to an embodiment of the present invention, a device for irradiating near-infrared light can be arranged on the edge of an objective lens close to a measurement object, for example, an eye, thereby simplifying an optical system of a near-infrared microscope, and reflecting from the irradiated light or eye. This can reduce the loss of light coming back.
또한 본 발명의 실시예에 따르면, 장치본체 내부에서 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있어 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있다.In addition, according to an embodiment of the present invention, it is possible to adjust the irradiation angle of the beam inside the device body can implement a near-infrared microscope that can adjust the amount of light and the irradiation area according to the microscope magnification.
또한, 본 발명의 실시예에 따르면, 안과용 근적외선 현미경뿐만 아니라 다른 파장을 사용하는 광학 현미경에서도 광을 제공하는 장치로서 다양하게 사용될 수 있다.
Further, according to the embodiment of the present invention, it can be used in various ways as an apparatus for providing light not only in the ophthalmic near infrared microscope but also in an optical microscope using a different wavelength.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1을 측 방향으로 바라본 도면이다.
도 3은 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 중앙으로 향하는 상태를 도시한 도면이다.
도 4는 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 안구에 평행하게 제공되는 상태를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치가 적용된 현미경의 개략적인 구성을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 7은 도 6을 측 방향으로 바라본 도면이다.
1 is a view schematically showing the configuration of a beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a side view of FIG. 1.
3 is a diagram illustrating a state in which a beam generated by the beam irradiation apparatus of FIG. 1 is directed toward the center.
4 is a diagram illustrating a state in which a beam generated by the beam irradiation apparatus of FIG. 1 is provided in parallel to an eyeball.
5 is a view showing a schematic configuration of a microscope to which the beam irradiation apparatus according to an embodiment of the present invention is applied.
FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a configuration of a beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to another embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a side view of FIG. 6.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 구성 및 적용에 관하여 상세히 설명한다. 이하의 설명은 특허 청구 가능한 본 발명의 여러 태양(aspects) 중 하나이며, 하기의 기술(description)은 본 발명에 대한 상세한 기술(detailed description)의 일부를 이룬다. Hereinafter, configurations and applications according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The following description is one of many aspects of the claimed invention and the following description forms part of a detailed description of the present invention.
다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 관한 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail for the sake of clarity and conciseness.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 2는 도 1을 측 방향으로 바라본 도면이고, 도 3은 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 중앙으로 향하는 상태를 도시한 도면이고, 도 4는 도 1의 빔 조사 장치에 의해 발생되는 빔이 안구에 평행하게 제공되는 상태를 도시한 도면이다.1 is a view schematically showing the configuration of a beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a side view of Figure 1, Figure 3 is a beam irradiation apparatus of FIG. FIG. 4 is a view showing a state in which a beam generated by the beam is directed toward the center, and FIG. 4 is a view showing a state in which a beam generated by the beam irradiation apparatus of FIG. 1 is provided in parallel to the eyeball.
이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치(100)는, 근적외선 파장의 광을 발생시키는 광원(110)과, 광원(110)으로부터 발생된 근적외선의 광을 분배시키는 광 분배기(130)와, 광 분배기(130)로부터 분배된 광을 안구(101) 방향으로 조사하는 복수 개의 조사부(160)를 포함할 수 있다.As shown in these figures, the
여기서, 복수 개의 조사부(160)가 원주 방향을 따라 이격되게 내장되는 장치본체(150)는 전체적으로 중공의 원통 형상을 갖는다. 장치본체(150)의 바로 상부에는 현미경(200, 도 5 참조)에 구비되는 대물 렌즈(210)가 위치될 수 있으며, 이러한 구성에 의해서, 조사부(160)로부터 안구(101) 방향으로 조사된 빔(103, 도 2 참조)이 안구(101)에 반사되는데 이 때 안구(101)에 반사되어 돌아오는 빔이 장치본체(150)의 중공 부분(150S)을 거쳐 대물 렌즈에 도달할 수 있다.Here, the
각각의 구성에 대해 설명하면, 먼저 본 실시예의 장치본체(150)는, 대물 렌즈(210)에 가장 가까운 위치에 배치될 수 있다. 따라서, 별도의 광학계 배치를 위한 공간을 마련하지 않아도 되기 때문에 본 실시예의 빔 조사 장치(100)가 적용되는 현미경(200)의 부피를 줄일 수 있다.Referring to each configuration, first, the apparatus
한편, 본 실시예의 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치(100)는, 하나의 광원(110)을 구비하며, 이 광원(110)으로부터 발생된 광이 광 분배기(130)를 통해 분배되어 복수 개의 조사부(160)로 제공될 수 있다.On the other hand, the
본 실시예의 광원(110)은, 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 등과 같은 다양한 근적외선 광원이 사용될 수 있다. 다만, 광원(110)의 종류가 이에 한정되는 것은 아니다.The
이러한 광원(110)과 광 분배기(130)는 광섬유(120)에 의해 연결되어 광원(110)으로부터 발생된 근적외선의 광은 광섬유(120)를 통해 광 분배기(130)로 제공될 수 있다. 본 실시예의 광 분배기(130)는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기가 적용될 수 있다.The
또한, 본 실시예의 광 분배기(130)로는, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 등과 같은 다양한 광 분배기가 적용될 수 있다. 단, 광 분배기(130)의 종류가 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, as the
한편, 본 실시예의 광 분배기(130)는 광섬유 또는 평판형 광도파로 기반으로 되어 있기 때문에 소형으로 마련될 수 있어 일반 광학계와 같이 충격에 따라 정렬이 틀어질 수 있다.On the other hand, since the
이에 본 실시예의 복수 개의 조사부(160)는, 시준기(161)와 빔 조사용 렌즈(163)를 포함할 수 있다. 여기서, 빔 조사용 렌즈(163)는 각도 조절소자(165)에 결합되어 빔 조사용 렌즈(163)의 각도 조절이 가능하며, 이를 통해 안구(101)에 대한 빔의 각도를 필요에 따라 선택적으로 조절할 수 있다.Accordingly, the plurality of
부연하면, 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔 조사용 렌즈(163)를 대물 렌즈(210) 중심 방향 또는 측정하고자 하는 안구(101)의 직교 방향으로 각도 조절할 수 있다. In other words, the
여기서, 대물 렌즈(210) 중심으로 빔 조사용 렌즈(163)를 정렬하는 경우, 도 3에 도시된 것처럼, 보다 좁은 면적(S1)에 빔(103)이 조사되며 또한 같은 광량이 좁은 면적에 조사되기 때문에 보다 높은 광량을 조사시킬 수 있다. Here, when the
반면에, 안구(101)에 직교하는 방향으로 빔 조사용 렌즈(163)가 정렬되는 경우, 도 4에 도시된 것처럼, 보다 넓은 면적(S2)에 빔(103)이 조사되며 또한 같은 광량이 넓은 면적에 조사되기 때문에 보다 낮은 광량을 조사 시킬 수 있다. On the other hand, when the
일반적으로 현미경(200)을 이용하여 고배율을 촬영할 시 좁은 영역에 높은 광량을 조사시켜야 선명한 현미경 이미지를 촬영할 수 있기 때문에 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔을 대물 렌즈(210) 중심으로 조사시킬 수 있도록 빔 조사용 렌즈(163)를 조절시킨다. 반대로, 저배율을 촬영할 시 넓은 영역에 광량을 분산시켜 선명한 현미경 이미지를 촬영할 수 있도록, 각도 조절소자(165)를 이용하여 빔을 안구(101)에 직교하는 방향으로 조사시킬 수 있도록 빔 조사용 렌즈(165)를 조절시킬 수 있다. In general, when a high magnification is photographed using the
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 안구(101)에 근접한 대물 렌즈(210) 가장자리에 근적외선의 광을 조사하는 본 실시예의 빔 조사 장치(100)를 배치할 수 있어 근적외선 현미경(200)의 광학계를 간소화시킬 수 있으며, 조사되는 광 또는 안구(101)에서 반사되어 돌아오는 광의 손실을 줄일 수 있는 장점이 있다.As described above, according to the exemplary embodiment of the present invention, the
또한, 장치본체(150) 내부에서 각도 조절소자(165)에 의해 빔 조사용 렌즈(163)의 각도를 조절할 수 있어 빔의 조사 각도를 조절 할 수 있으며, 이로 인해 현미경 배율에 맞는 광량과 조사 면적을 조절할 수 있는 근적외선 현미경을 구현할 수 있는 장점이 있다. In addition, the angle of the
한편, 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치(100)는 전술한 것처럼, 안구(101)의 영상 정보를 획득하는 근적외선 현미경(200)에 적용될 수 있다.Meanwhile, as described above, the
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 빔 조사 장치가 적용된 현미경의 개략적인 구성을 도시한 도면이다. 5 is a view showing a schematic configuration of a microscope to which the beam irradiation apparatus according to an embodiment of the present invention is applied.
이에 도시된 것처럼, 현미경(200)의 구성 중 안구(101)에서 가장 가까운 대물 렌즈(210)와 본 실시예의 빔 조사 장치(100)는 부착된다. As shown therein, the
이러한 구성에 의해서, 빔 조사 장치(100)로부터 조사되는 빔(103)이 안구(101) 표면에서 반사되어 돌아오는데, 이 때 반사되는 빔(103a)이 대물 렌즈(210)로 유도된다. 반사되는 근적외선의 빔(103a)은 릴레이 렌즈(211, 212)와 접안 렌즈(213)를 거치며 집속되고 CCD 카메라(220)에 도달됨으로써 영상 정보를 획득할 수 있다. 아울러, CCD 카메라(200)로 획득된 영상 정보는 디스플레이(미도시)를 통해 확인할 수 있다.By this configuration, the
한편, 이하에서는 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치에 대해서 설명하되 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치와 실질적으로 동일한 부분에 대해서는 그 설명을 생략하기로 한다.In the following description, a beam irradiation apparatus using a near-infrared light source according to another embodiment of the present invention will be described, but a description thereof will be omitted for parts substantially the same as the beam irradiation apparatus of the above-described embodiment.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 7은 도 6을 측 방향으로 바라본 도면이다.6 is a view schematically showing the configuration of a beam irradiation apparatus using a near infrared light source according to another embodiment of the present invention, Figure 7 is a side view of FIG.
이들 도면에 도시된 것처럼, 본 실시예의 빔 조사 장치(300)는 대물 렌즈(410)에 인접하게 배치된다는 점에서 전술한 일 실시예의 빔 조사 장치(100, 도 1 참조)와 유사한 구성을 갖되, 광원(310)에 있어서 차이가 있다.As shown in these figures, the
본 실시예의 경우, 근적외선의 광을 발생시키는 광원(310)은 복수 개의 조사부(360)의 대응되는 수로 마련되어 각 조사부(360)에 구비될 수 있다. 즉, 도 7에 도시된 것처럼, 각 조사부(360)는, 광원(310)과, 시준기(361)와, 각도 조절소자(365)에 결합되는 빔 조사용 렌즈(363)를 구비할 수 있으며, 이에 따라 빔의 조사 방향 및 광량 등을 선택적으로 조절할 수 있다.In the present embodiment, the light source 310 for generating the light of the near infrared ray may be provided in each of the
전술한 실시예들에서는, 빔 조사 장치가 안과용 현미경에 적용되는 경우에 대해 상술하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 파장을 사용하는 광학 현미경 등에도 적용 가능함은 당연하다.In the above-described embodiments, the case where the beam irradiation apparatus is applied to an ophthalmic microscope has been described above, but is not limited thereto, and it is obvious that the beam irradiation apparatus may be applied to an optical microscope using a different wavelength.
한편, 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, such modifications or variations are intended to fall within the scope of the appended claims.
100 : 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치
101 : 안구
110 : 광원
120 : 광섬유
130 : 광 분배기
150 : 장치본체
160 : 조사부
161 : 시준기
163 : 빔 조사용 렌즈
165 : 각도 조절소자
200 : 현미경
210 : 대물 렌즈100: beam irradiation apparatus using a near infrared light source
101: eyeball
110: Light source
120: optical fiber
130: optical splitter
150: device body
160: research unit
161: collimator
163: lens for beam irradiation
165: angle adjusting element
200: microscope
210: objective lens
Claims (8)
근적외선의 광을 발생시키는 광원;
상기 광원과 광섬유에 의해 연결되며, 상기 광을 복수 개의 광으로 분배하는 광 분배기; 및
상기 광 분배기로부터 분배된 상기 광을 제공 받아 상기 측정 대상체를 향하여 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며,
상기 복수 개의 조사부로부터 상기 측정 대상체로 조사된 상기 빔은 상기 측정 대상체로부터 반사되어 상기 대물 렌즈로 향하는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치.
A beam irradiation apparatus using a near infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for obtaining image information of a measurement object,
A light source for generating light of near infrared rays;
A light splitter connected by the light source and the optical fiber and distributing the light into a plurality of lights; And
A plurality of irradiation units receiving the light distributed from the light splitter and irradiating a beam of near infrared rays toward the measurement object,
And a beam irradiated from the plurality of radiators to the measurement object to be reflected from the measurement object to the objective lens.
상기 복수 개의 조사부가 원주 방향으로 내장되며, 중공의 원기둥 형상을 갖는 장치본체를 더 포함하며,
상기 장치본체의 중공 부분의 상부에 상기 대물 렌즈가 인접하게 배치되는 빔 조사 장치.
The method of claim 1,
The plurality of irradiation unit is built in the circumferential direction, further comprises a device body having a hollow cylindrical shape,
And an objective lens adjacent to an upper portion of a hollow portion of the apparatus body.
상기 조사부는,
시준기; 및
상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며,
상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능한 빔 조사 장치.
3. The method of claim 2,
The irradiation unit,
Collimator; And
It includes a beam irradiation lens for condensing the beam passing through the collimator,
The beam irradiation lens is mounted on the angle adjusting element is selectively adjustable beam irradiation device.
상기 광원은 초발광 다이오드 (superluminescent diode: SLD), 발광다이오드 (light emitting diode: LED), 레이저 다이오드 (laser diode: LD), 반도체 광증폭기 (semiconductor optical amplifier: SOA), 티타늄 사파이어 레이저(Ti:Saphire laser), 초연속 광원(supercontinuum source) 중 어느 하나의 근적외선 광원인 빔 조사 장치.
The method of claim 1,
The light source may be a superluminescent diode (SLD), a light emitting diode (LED), a laser diode (LD), a semiconductor optical amplifier (SOA), a titanium sapphire laser (Ti: Saphire). A beam irradiation apparatus which is a near-infrared light source of any one of a laser) and a supercontinuum source.
상기 광 분배기는 하나의 입력 및 복수 개의 출력을 갖는 1×n 광 분배기이며, 광섬유 기반 광 커플러, 광섬유 기반 광 파워 분배기, 평판형 광도파로 광 커플러, 평판형 광도파로 파워 분배기, 광파장 분배기 중 어느 하나의 광 분배기인 빔 조사 장치.
The method of claim 1,
The optical splitter is a 1 × n optical splitter having one input and a plurality of outputs, and is any one of an optical fiber based optical coupler, an optical fiber based optical power splitter, a flat optical waveguide optical coupler, a flat optical waveguide power splitter, and an optical wavelength splitter. A beam irradiation device that is a light splitter.
상기 빔 조사 장치는 상기 측정 대상체로서 안구를 촬영하는 안구용 근적외선 현미경에 적용되는 장치인 빔 조사 장치.
The method of claim 1,
The beam irradiation apparatus is a beam irradiation apparatus which is a device applied to an eye near-infrared microscope for photographing the eye as the measurement object.
장치본체; 및
상기 장치본체에 장착되어 상기 측정 대상체를 향해 근적외선의 빔을 조사하는 복수 개의 조사부를 포함하며,
상기 복수 개의 조사부는, 근적외선의 빔을 제공하는 광원을 개별적으로 구비하는, 근적외선 광원을 이용한 빔 조사 장치.
A beam irradiation apparatus using a near infrared light source mounted adjacent to an objective lens of a microscope for obtaining image information of a measurement object,
A device body; And
It is mounted to the device body includes a plurality of irradiation unit for irradiating a near-infrared beam toward the measurement object,
The plurality of irradiation units, the beam irradiation apparatus using a near infrared light source, which is provided separately with a light source for providing a beam of near infrared rays.
상기 조사부는,
상기 광원으로부터 발생되는 광을 시준시키는 시준기; 및
상기 시준기를 통과한 빔을 집광시키는 빔 조사용 렌즈를 포함하며,
상기 빔 조사용 렌즈는 각도 조절소자에 장착되어 선택적으로 각도 조절 가능한 빔 조사 장치.The method of claim 7, wherein
The irradiation unit,
A collimator for collimating light generated from the light source; And
It includes a beam irradiation lens for condensing the beam passing through the collimator,
The beam irradiation lens is mounted on the angle adjusting element is selectively adjustable beam irradiation device.
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-
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- 2013-07-02 KR KR20130077118A patent/KR101494535B1/en active IP Right Grant
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