KR101460917B1 - 보상 광원을 가진 광전 측정 장치 - Google Patents

보상 광원을 가진 광전 측정 장치 Download PDF

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메카레스 시스템스 게엠베하
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Abstract

본 발명은, 시간순으로 순차적으로 클로킹되는 방식으로 위상조정하여 광을 방출하는 적어도 2개의 송신 광원들 (101, 102), 및 송신 광원들 (101, 102) 과 독립적으로 제어되고 방출하지 않는 보상 광원 (500) 을 포함하는 광전 측정 장치 (1) 에 관한 것이다. 또한, 이 측정 장치 (1) 는, 송신 광원들 (101, 102) 및 보상 광원 (500) 에 의해 방사된 광, 특히, 그 광원의 교번 광 부분을 수신하고 그 광을 전기적 수신 신호 (9) 로 변환하기 위한 수신기 (3), 및 수신 신호 (9) 를 평가하고 하나의 제어 신호 (311, 312) 를 각각 발생시키기 위한 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202) 을 포함한다. 적어도 2개의 송신 경로들 (301, 302) 각각은 송신 광원 (101, 102), 평가 유닛 (201, 202) 및 클록 발생기 (221, 222) 를 포함하고, 클록 발생기 (221, 222) 는 송신 경로 (301, 302) 의 평가 유닛 (201, 202) 및 송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 클록 사이클을 발생시킨다. 평가 유닛들 (201, 202) 각각은 제어 신호 (311, 312) 를 발생시킨다. 제어 유닛 (400) 은 제어 신호들 (311, 312) 로부터 보상 제어 신호 (411) 를 발생시킨다. 보상 제어 신호 (411) 가 보상 광원 (500) 을 제어하고 피딩하는데 사용된다. 송신 경로 (301, 302) 의 평가 유닛 (201, 202) 은 수신 신호 (9) 로부터 송신 경로 (301, 302) 의 송신 광원 (101, 102) 에 대한 클록-사이클-동기 제어 신호 (311, 312) 를 발생시킨다.

Description

보상 광원을 가진 광전 측정 장치{OPTOELECTRONIC MEASURING ARRANGEMENT HAVING A COMPENSATION LIGHT SOURCE}
본 발명은 적어도 2개의 송신 광원들, 보상 광원, 송신 광원들 및 보상 광원에 의해 방사된 광을 수신하고 그 수신된 광 신호를 전기적 수신 신호로 변환하기 위한 수신기, 및 제어 및 평가 유닛을 포함하는 광전 측정 시스템 (optoelectronic measuring system) 에 관한 것이다. 보상 광원을 제어하기 위한 보상 제어 신호의 발생은 산란 광을 보상하도록 기능하여, 오브젝트를 검출하도록 수행되는, 오브젝트에 의해 반사된 광의 측정이, 산란 광을 고려할 필요 없이 완료될 수 있도록 한다.
산란 광 보상을 이용하는 광학 측정 시스템들은, 예를 들어, 오브젝트로부터의 반사 변화를 검출하기 위한 광학 시스템을 기술하는 EP 0 706 648 B1 로부터 알려져 있다. 이 시스템에 의하면, 산란 광의 존재시에 측정들이 행해질 수 있고 산란 광 또는 주변 광의 변화들이 측정 값에 영향을 미치지 않는다. 이러한 시스템은, 윈드실드 (windshield) 상에 떨어지는 빗방울들이 검출되는 윈드실드 와이퍼 센서의 예를 이용하여 기술된다. 이러한 종류의 시스템들은 또한, 광 결합들을 평가하는 다른 광학 측정 장치들을 생성하기 위한 기초로서 기능할 수도 있다. 이 예로는 반사 광 배리어들 또는 송신된 광 배리어들이다.
이러한 측정 시스템은 각각의 측정 경로가 송신 광원 및 공유 수신기를 포함하는 2개의 측정 경로들을 포함한다. 이후, 2개의 초기 등가의 송신 광원들 중 하나를 보상 광원이라고도 또한 나타낸다. 각각의 측정 경로는 수신된 에너지 대 송신된 에너지의 비율로부터 유도되는 광 결합을 갖고 있다. 양쪽의 광원들이 방사선, 특히, 광을 가시적 및 비가시적 범위에서 방출하는 동안, 수신기는, 측정 경로들에서 오브젝트들 또는 다른 표면들에 의해 반사되거나 또는 각각의 매체에 의해 송신되는, 양쪽의 측정 경로들을 통해 결합된 광 및 방사선을 검출한다. 그 2개의 측정 경로들을 비교함으로써, 주변 광 및 수신기에 작용하는 다른 간섭 인자들의 영향들에 독립적인 측정 신호가 획득될 수도 있다.
2개의 송신 광원들 및 수신기를 포함하는 측정 장치는, 송신 광원들이 공유 클록 발생기의 주파수에서 교번적으로 송신하도록 하는 방식으로 관련 제어 및 평가 유닛을 통해 동작된다. 이러한 방식으로 변조된 양쪽의 송신 광원들의 광 성분들이 그 후에 수신 신호에 포함되고, 각각의 측정 경로들의 결합 인자들에 의해 가중된다. 평가 유닛은 수신된 신호를 다시, 클록 발생기와 동기하여 측정 경로들에 할당된 2개의 신호 성분들로 복조한다. 2개의 신호 성분들 사이의 차이는, 송신 광원들로부터의 제어 신호들의 진폭을 조정하는 것에 의한 보상 측정 방법을 이용하여, 지금은 제로로 밸런싱된다. 보상된 상태, 즉, 조정된 상태에서, 수신된 방사선의 양이 양쪽의 측정 경로들에 대해 동일하여, 클록-동기 교번 성분도 또한 제로이다. 2개의 송신 광원들에 대한 제어 신호들 사이의 비율은 측정 디바이스의 실제 유용한 신호를 형성한다.
2개보다 상당히 많은 측정 경로들이 필요한 경우, 또 다른 송신 광원이 각각의 측정 경로마다 설치되어야 한다는 것은 관련 분야로부터 알려진 것이다. 측정 장치가 그 후에 순차 다중 모드에서 평가되어, 정확히 2개의 측정 경로들이 일련의 연속 동작들에서 서로 조정될 수 있도록 한다. 그러나, 더욱 더 많은 측정 경로들이 필요함에 따라, 프로세싱 사이클들도 또한 더욱 더 길어져서, 측정 시스템의 속도를 감소시킨다.
아날로그 조정 시스템을 이용하는 EP 0 706 648 B1 에 기술된 시스템은 EP 1 671 160 B1 에서 향상된 것으로, 기술적으로 더 단순한 장치를 생성하고 고도 (high degree) 의 감도를 달성하기 위한 디지털 시스템으로 구성된다.
DE 103 00 223 B3 에서는, 송신 광원들 뿐만 아니라 보상 광원이 사용된다. 보상 광원만이 조정되는 반면, 광학 측정 경로를 모니터링하는데 사용되는 송신 광원은 조정되지 않거나, 또는 상당히 더 단순한 수단에 의해 제어된다.
관련 분야에 의해 제기된 문제는, 다수의 광학 측정 경로들을 갖는 측정 시스템들에서 동시 측정을 수행하는 것이 가능하지 않다는 점이다. 따라서, 본 발명의 목적은, 다수의 측정 경로들의 동시 평가를 고도의 감도로 가능하게 하면서 또한 여전히 가능한 한 저비용이고 효율적으로 기능하는 광학 측정 시스템을 생성해내는 것이다.
본 발명의 목적은 청구항 제 1 항의 특징들을 갖는 광전 측정 시스템 및 청구항 제 10 항의 특징들을 갖는 방법으로 해결된다.
본 발명에 따른 광전 측정 장치 또는 시스템은, 시간순으로 순차적으로 클로킹되는 (clocked) 방식으로 위상조정하여 광을 방출하는 적어도 2개의 송신 광원들, 광을 또한 방출하는 보상 광원, 수신기를 갖는 수신기 유닛, 적어도 2개의 평가 유닛들, 적어도 2개의 측정 경로들, 및 제어 유닛을 포함하고, 각각의 측정 경로는 송신 광원, 평가 유닛 및 클록 발생기를 포함한다.
이에 따라, 광전 측정 시스템은 적어도 3개의 광원들을 가지며, 보상 광원은 수신기와의 광 결합에 적절한 광원이고 다른 광원들과 독립적으로 제어된다. 보통, 보상 광원과 수신기 사이의 광학 경로는 오브젝트들을 검출하는데 이용되지 않는다. 다른 적어도 2개의 송신 광원들 중 하나의 송신 광원과 수신기 사이에 형성되는 광학 경로들이 이 목적으로 이용된다.
수신기는 송신 광원들과 보상 광원에 의해 방사된 광을 수신하도록 기능한다. 수신기에서는, 모든 송신 광원들로부터의 광 신호에 비례하는 전기적 수신 신호가, 수신된 광 신호로부터 발생된다. 그의 교번 광 성분이 특히 수신된다. 광원들로부터 방사된 광은 가시광선 또는 비가시광선, 이를테면, 예를 들어, 레이더 방사선과 같은, 비가시적 주파수 범위의 전자기 방사선 또는 적외선일 수도 있다.
또한, 수신기 엘리먼트는 주변환경으로부터의 광을 수신한다. 이 광은 자연적 주변 광 및/또는 인공 (인조) 적 외래 광 또는 인공적 주변 광일 수도 있다. 이 신호는 적절한 필터들의 도움으로 송신 광원들에 의해 이용되는 주파수 대역폭으로 제한된다. 적절한 증폭 후에, 이 신호는 수신된 신호로서 증폭기 출력부에 존재한다. 수신된 신호로부터, 적어도 2개의 평가 유닛들 각각은 관련 송신 광원 및 보상 광원에 대한 제어 신호를 발생시키고, 이 제어 신호는 평가 유닛들에 의해 공유되는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 측정 장치는 적어도 2개의 측정 경로들을 포함한다. 각각의 측정 경로는, 센서들에 의해 이용되는 수신기에 대한 광학 경로를 갖는 적어도 하나의 송신 광원, 평가 유닛, 및 그 평가 유닛에 위치되는 것이 바람직한 클록 발생기를 포함한다. 수신기 및 보상 광원은 모든 측정 경로들에 대해 동시에 작동되는 것이 바람직하다.
클록 발생기는 각각의 측정 경로를 제어하기 위한 클록을 발생시킨다. 이러한 방식으로, 각각의 송신 광원 및 각각의 평가 유닛은 전용 클록 발생기에 의해 서빙된다. 요점은 측정 경로에 대한 송신 광원 및 평가 유닛이 동일한 클록 발생기에 의해 서빙된다는 점이다.
수신 신호는 모든 송신 광원들 및 보상 광원으로부터 방출된 광을 포함한다. 측정 경로 각각의 평가 유닛에서, 관련 측정 경로에 대한 클록 발생기로부터의 클록-동기 성분만이 수신 신호로부터 복조된다. 이에 따라, 제어 신호는, 보상 광원 및 측정 경로의 송신 광원에 의해 발생된 수신 신호의 성분에 단지 기초한다.
제어 유닛은 모든 측정 경로들의 제어 신호들로부터 보상 제어 신호를 발생시킨다. 따라서, 제어 유닛은 보상 제어 유닛이라고도 또한 나타낸다. 이에 의해, 제어 신호들이 측정 경로들에 대한 평가 유닛들에 의해 발생된다. 보상 제어 신호는 보상 광원을 제어하고 피딩한다 (feed). 증폭기 또는 전류 구동 유닛은 보상 제어 신호를 변경 또는 증폭하기 위해 제어 유닛과 보상 광원 사이에 옵션적으로 위치될 수도 있다.
보상 광원 및 신호 프로세싱 능력을 갖는 수신기가 함께 사용되기 때문에, 추가의 광학 측정 경로들이 본 발명에 따른 광전 측정 장치에 거의 노력하지 않고 부가될 수 있다. 모든 행해져야 할 것은 송신 광원, 및 평가 유닛 및 클록 발생기를 포함하는 신규의 측정 경로를 부가하는 것이다. 이들 컴포넌트들은 저비용이고 기존의 측정 장치에 쉽게 일체화될 수 있다.
지금까지는, 측정 경로에서의 광 간섭의 영향을 보상하기 위해, 송신 광원으로부터의 신호와 보상 신호 사이에서 직접 할당이 이루어져야 하는 것으로 관련 분야에서 생각되었다. 이것은, 복수의 송신 광원들이 사용된 경우, 신호들이 순차적으로 프로세싱되거나 또는 광이 개개의 송신 광원들에 의해 순차적으로 송신된 이유이다. 그러나, 이것은 프로세싱 사이클을 길어지게 하고 측정 시스템을 느려지게 한다. 개개의 측정 경로들 사이에서 높은 스위칭 주파수를 이용하는 해결책은 단지, 측정 경로들의 평가를 간섭하는 더 많은 측정 노이즈를 야기시킬 뿐이다.
예를 들어, 낮은 광 결합만이 달성될 수 있는, 몇 미터의 거리에서의 오브젝트들을 검출하기 위해, 보다 적은 고감도 측정 경로들이 이용되는 경우에도, 순차 다중 모드에서 하나의 수신기로 충분히 빨리 측정 경로들을 평가하는 것은 종종 가능하지 않다. 한편, 대개의 경우, 사용되는 옵틱스 (optics) 는 측정 장치들에 대한 복수의 수신기들의 등가 장치를 완전 병렬 모드에서 동작시키는 것을 허용하지 않는다.
이후, 본 발명의 문맥에서는, 보상 광원에 의해 송신되는 보상 광 신호가 복수의 송신 광원들로부터의 복수의 바람직하게는 상이한 광 신호들을 보상하기 위해서도 사용될 수도 있다는 것을 발견하였다. 클록-동기 교번 광 성분들이 없는 조정된 제로 신호가, 상술된 바와 같이, 측정 경로 각각에 대한 수신기에서 발생되기 때문에, 개개의 측정 경로들이 동시 동작시에도 서로 간섭하지 않는다. 동시에, 변조 주파수 (클록 발생기의 주파수) 가 상이하다는 것 및/또는 상이한 변조 방식이 각각의 측정 경로에 대해 이용된다는 것이 중요하다. 직교 변조가 이용되는 경우, 2개의 측정 경로들이 단일 (동일) 한 주파수에서 동작될 수도 있다. 이를 위해, 2개의 캐리어 신호들이 90 도의 위상 시프트로 위상-고정된 후에 코히어런트 복조에 의해 분리된다. 이러한 방식으로, 수신기의 가용 신호 대역폭을 더 양호하게 이용하는 것이 가능하다. 상이한 변조 주파수들이 사용되는 경우, 이러한 주파수들, 즉, 개개의 클록 발생기들의 클록 주파수들은, 예를 들어, 서로 충분히 상이하여, 송신 경로의 송신 광원으로부터 유래한 대응하는 광 신호가 측정 장치의 다양한 측정 경로들에 대한 개개의 평가 유닛들에서 분리되도록 해야 한다. 동기식 복조 (코히어런트 복조라고도 지칭된다) 에서는 송신 경로 각각의 주파수만이 고려되기 때문에, 각각의 송신 경로에 속하는 신호 성분이 전기적 수신 신호 중에서 필터링된다. 또한, 이것은 동일한 클록 발생기로 송신 광원 및 평가 유닛을 제어하고 그 송신 광원 및 평가 유닛에 동일한 클록 주파수를 피딩함으로써 달성된다.
록-인 방법 (lock-in method) 에 따라 바람직하게 기능하는 평가 유닛에서 수행된 복조에 의해 생성된 밴드패스 효과 때문에, 예를 들어, 클록 주파수의 0.1% 내지 10% 의, 비교적 작은 주파수 분리로도 단순 주파수 변조에 충분하다. 그 결과, 개개의 송신 광원들을 제어하기 위한 클록 발생기들의 클록 주파수들은 서로 충분히 상이하여 그 클록 주파수들이 복조 동안 다시 분리될 수 있게 해야 한다. 2개의 클록 주파수들 사이의 주파수 차이는 적어도 1 kHz 이다.
바람직한 실시형태에서, 송신 광원들을 제어하기 위한 클록 발생기들에 의해 발생된 클록 주파수들은 적어도 20 kHz 이다. 이것은 공급 주파수가 또한 적어도 20 kHz 임을 의미한다.
2개의 클록 발생기들 각각의 클록 주파수가 서로 정수배가 아닌 것이 바람직하다는 것이 입증되었다. 이것은 전체 측정 장치의 유효성을 상당히 개선시킨다.
바람직한 실시형태에서, 보상 광원을 제어하기 위한 제어 유닛은 가산기이다. 이것을 이용하여, 측정 장치는 단순하고 저비용으로 설계될 수 있다. 가산기에서는, 개개의 송신 경로들로부터의 인버팅된 제어 신호들이 병합되어, 대응하는 보상 제어 신호가 발생된다. 보상 제어 신호는 그 후에 개개의 평가 유닛들로부터의 제어 신호들의 주파수 성분들을 포함한다. 물론, 2개 이상의 보상 광원들을 사용하는 것도 또한 가능하다.
본 발명에 따른 광전 측정 장치의 하나의 이점은, 개개의 측정 경로들, 즉, 개개의 송신 광 경로들에 의해 방출된 광 신호들을 동시에 평가하는 것을 가능하게 한다는 점이다. 따라서, 동일한 수의 송신기 유닛들 및 동일한 측정 값 캡처 레이트에 비해 송신 광원들의 수가 상당히 증가될 수도 있다. 예를 들어, 10개, 20개, 50개, 70개 또는 100개의 송신 광원들이 사용될 수도 있고, 하나의 수신기만이 요구된다. 이러한 방식으로, 예를 들어, 도어들 또는 다른 통로들을 통한 승인 제어를 수행하기 위해 광 스트립들이 형성될 수도 있다. 동시에, 다수의 송신 광원들은, 밀접한 메시형의 모니터링 그리드가 형성될 수 있도록, 몇 미터 길이의 섹션들을 따라 서로 가까이 포지셔닝될 수도 있다.
본 발명은 광학 센서의 일부 리소스가 공유될 수도 있다는 것을 특징으로 한다. 한편, 복수의 송신 광원들로부터 방출된 광 신호들을 동시에 보상하기 위해 하나의 보상 광원만이 사용되어야 한다. 또한, 수신기 및 옵션적인 수신기 증폭기가 또한 공유될 수도 있다. 수신기 유닛에 할당될 수도 있는 다른 컴포넌트들, 이를테면, 필터들 (로우 패스, 하이 패스, 밴드 패스) 이 공유될 수도 있다. 정밀하게는, 이것은, 보통 포함하고 있는 수신기 및 전치 증폭기 (preamplifier) 인데 고비용의 컴포넌트들이다.
측정 장치들 또는 센서 시스템들이 구현되는 경우, 회로 및 로컬 조건들의 제약들로 인해, 비제한된 수의 이러한 컴포넌트들을 포지셔닝하고 설치하는 것은 종종 가능하지 않다.
따라서, 개개의 (고비용의) 컴포넌트들의 효율적인 사용이 저비용의 측정 장치를 발생시킨다. 본 발명에 따른 측정 장치에 다수의 평가 유닛들 및 클록 발생기들이 포함된다는 것은 사실이다. 각각의 송신 경로가 그 자신의 평가 유닛 및 클록 발생기를 갖고 있다. 그러나, 이러한 컴포넌트들은 전자 컴포넌트들의 형태로 저비용으로 입수가능하다. 예를 들어, IC 또는 ASIC 에 일체화될 수도 있어서, 이러한 컴포넌트들의 중복이 상당한 비용 증가를 초래하지 않는다.
그 결과, 다수의 송신 광원들이 사용되고 모든 송신 광원들이 변조 방식 (바람직하게는 주파수 변조) 을 이용하여 동시에 평가되더라도, 본 발명은 외래 광의 독립성의 손실 없이 동작하는 것을 허용한다. 이런 이유로, 이러한 측정 장치는 또한 작업 현장 또는 데이라이트 룸 (daylight room) 에 대해 큰 비용을 들이지 않고 구현될 수도 있다. 개개의 측정 경로들 또는 송신 경로들이 차폐될 필요가 없다.
예를 들어, 매우 큰 광 그리드들을 구성할 때 복수의 광원들이 더 큰 공간을 커버하도록 요구되는 경우, 물론 복수의 측정 장치들이 또한 조합되어 사용될 수 있다. 그 후에, 측정 장치들은 다중화 동작에서 프로세싱 및 평가될 수도 있다. 종종, 2개 또는 3개의 입력 변수들만이 다중화 동작에서 프로세싱되도록 하기 위해, 앞서 기술된 측정 장치들 중 2개 또는 3개의 측정 장치들로도 충분하여, 전체 시스템의 응답 시간이 또한 매우 짧게 유지된다.
도입부에 기술된 문제는 또한, 광전 측정 장치에 의해 외래 광 보상과 함께 복수의 광학 송신 경로들이 동시에 평가되는 본 발명에 따른 방법으로 해결된다. 이러한 문맥에서, 이 측정 장치는, 시간-순차적으로 클로킹된 광을 위상조정하여 방출하는 적어도 2개의 송신 광원들, 송신 광원들과 독립적으로 제어되고 보상 광을 방출하는 보상 광원, 및 그 송신 광원들 및 보상 광원에 의해 방출된 광을 수신하기 위한, 특히, 광의 교번 성분을 수신하기 위한 수신기를 포함한다. 또한, 수신기는 주위에 또한 퍼져 있는 외래 광 및/또는 주변 광을 수신한다.
측정 장치는 적어도 2개의 평가 유닛들을 더 포함하고, 그 평가 유닛들 각각은 송신 광원에 할당된다. 평가 유닛들은 송신 광원들 및 보상 광원에 의해 방출된 수신된 광 신호들의 교번 광 성분들의 클록-동기 평가를 수행한다. 각각의 평가 유닛에서는 수신된 광 신호로부터 제어 신호가 발생된다. 이 측정 장치의 제어 유닛은, 평가 유닛들에 의해 발생된 제어 신호들 모두를 병합하여 보상 신호를 생성한다.
본 발명에 따른 방법은 다음의 단계들을 포함한다:
적어도 2개의 송신 광원들 및 보상 광원으로부터의 광을 포함하는 교번 광 성분을 포함하는 광 신호를 수신하는 단계. 다음 단계에서, 교번 광 성분은 전기적 수신 신호로 변환된다. 수신 신호가 적어도 2개의 평가 유닛들에 피딩된다. 병렬로, 그에 의해 동시에, 피딩되는 것이 바람직하다. 추가의 단계에서, 수신된 신호의 클록-동기의 주파수-선택적 평가가 평가 유닛들 각각에서 수행된다. 그 평가는, 각각의 경우에, 할당된 클록 발생기에 의해 설정되는 변조 주파수에 기초한다. 송신 광원 (동위상) 과 보상 광원 (역위상) 의 2개의 성분들이 먼저 복조된다. 시스템이 조정된 후에, 수신 신호는 이러한 변조 주파수에 대한 어떠한 클록-동기 교번 성분들도 더 이상 포함하지 않아서, 그 결과 2개의 복조된 위상들이 동일한 값을 갖게 된다. 그러나, 어떠한 조정된 송신 경로도 존재하지 않는 경우, 그 결과는 복조된 신호 성분들 간에 차이가 있다. 그 후에, 평가 유닛으로부터의 대응하는 제어 신호들을 통해 수신 신호의 2개의 성분들이 서로 정확히 다시 소거되도록 송신 광원과 보상 광원을 규제하는 보상기에 의해 이러한 차이가 제로로 보상된다.
추가의 단계는, 제어 신호를, 평가 유닛에 할당된 송신 광원에 피딩하여, 송신 광원이 프로세싱을 위해 평가 유닛에 제공된 것과 동일한 주파수로 공급되도록 하는 것을 포함한다. 제어 신호 또는 신호들이 인버팅되고 그 인버팅된 제어 신호로서 제어 유닛에 피딩된다. 추가의 단계에서, 평가 유닛들의 모든 인버팅된 제어 신호들이 병합되어, 제어 신호들 모두의 주파수 성분들을 포함하는 보상 제어 신호를 형성한다. 인버팅된 제어 신호들은 가산기에 의해 병합되는 것이 바람직하다. 보상 제어 신호가 보상 광원에 피딩된다. 보상 광원을 공급하기 위해, 보상 제어 신호는, 예를 들어, 전류 드라이버 또는 증폭기를 통해 증폭될 수도 있다. 또한, 전류 드라이버 또는 증폭기는 송신 광원들에 공급하기 위한 제어 신호 및 송신 신호를 증폭하기 위해 사용될 수도 있다.
다음에, 본 발명을 도면들에 도시된 특정 실시형태들을 참조하여 더욱 상세히 설명한다. 도면들에 도시된 특수한 특징들이 단독으로 또는 조합하여 구현되어 본 발명의 바람직한 실시형태들을 생성할 수도 있다. 기술된 실시형태들은 특허청구범위의 보편성으로 정의되는 본 발명에 대해 어떠한 제한도 나타내지 않는다. 도면들에 있어서:
도 1 은 외래 광에 대한 보상과 함께 복수의 광학 측정 경로들의 동시 평가를 위한 본 발명에 따른 회로 장치의 개략도를 도시한 것이다.
도 2 는 광원들에 대한 제어 신호들의 신호 플롯 (signal plot) 들을 도시한 것이다.
도 3 은 라이트 커튼의 형태의 도 1 의 측정 장치의 적용예를 도시한 것이다.
도 4 는 장애물 인식 유닛으로서의 측정 장치의 추가의 적용예를 도시한 것이다.
도 1 은 외래 광 보상과 함께 복수의 광학 측정 경로들의 동시 평가를 위한 광전 측정 장치 (optoelectronic measuring arrangement; 1) 를 도시한 것이다. 수신기 유닛 (2) 은 광을 수신하는 포토다이오드 (4) 인 것이 바람직한 수신기 (3), 광전류 보상 디바이스 (5), 하이 패스 필터 (6) 및 전치 증폭기 (7) 를 포함한다. 광전류 보상 디바이스 (5) 는, 예를 들어, 로우 패스 필터 (8) 일 수도 있다. 보통 외래 광, 간섭 광 또는 주변 광의 부산물들인 저주파수 신호 성분들이 로우 패스 필터 (8) 에 의해 필터링되어 소멸된다. 한편, 하이 패스 필터 (6) 는 극히 높은 주파수 신호들만을 통과시키고 동시에 저주파수 신호들 및 공통 모드 신호들을 차단한다. 하이 패스 필터 (6) 는 광전 측정 장치 (1) 의 원하는 신호들을 통과시키도록 치수결정된다. 이들 신호들은 후속의 전치 증폭기 (7) 에서 증폭된다. 단순 변형의 측정 장치 (1) 에서, 수신기 유닛 (2) 은, 포토다이오드 (4) 에 의해 수신된 광이 전기적 수신 신호로 변환되는 수신기 (3) 만을 포함한다. 수신된 광은 측정 장치 (1) 의 광원들에 의해 방출된 광의 성분들을 포함한다.
원하는 광학 신호를 광의 형태로 송신하기 위해, 측정 장치 (1) 는 복수의 송신 광원들 (101, 102) 을 포함하고 그 둘이 도시되어 있다. 광원들 (101, 102) 은 발광 다이오드 (LED; 111, 112) 들인 것이 바람직하다. 물론, 다른 광원들도 또한 가능하다. 광원들의 구성 및 선택은 측정 장치 (1) 의 사용 의도에 의해 결정된다.
송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 신호는 옵션적으로 증폭기에 의해 증폭될 수 있다. 바람직하게는, 전류 드라이버 (121, 122) 는, 도 1 에 도시된 바와 같이, 대응하는 송신 광원 (101, 102) 에 대한 각 경로에 위치될 수도 있다. 이러한 방식으로, 송신 광원들 (101, 102) 에 대한 제어 신호의 진폭이 조정될 수 있다.
수신기 유닛 (2) 에 의해 제공된 전기적 수신 신호 (9) 는 복수의 평가 유닛들 (201, 202) 과 병렬로 라우팅된다. 평가 유닛들 (201, 202) 은 수신 신호 (9) 중에서 소정의 미리 결정된 주파수에 대한 신호 성분을 필터링하기 위한 복조기들 (211, 212) 의 형태를 갖는 것이 바람직하다. 이를 위해, 복조기들 (211, 212) 각각은 전용 클록 발생기 (221, 222) 에 의해 개별적으로 제어된다. 복조기 (211, 212) 는 수신 신호 (9) 로부터의 클록 발생기 (221, 222) 의 주파수와 클록-동기하는 교번 신호를 2개의 신호 성분들로 분해한다. 이들 신호 부분들은 클록 발생기 (221, 222) 에 대한 동위상 및 역위상 성분들을 형성한다. 2개의 성분들은, 보상기 또는 제어기에 의해 수행되는 것이 바람직한, 제로로의 실제 보상을 위해 이용된다. 또한, 제어기는 평가 유닛 (201, 202) 의 일부이다. 그 후에, 보상기의 출력 신호가 클록 발생기 (221, 222) 의 주파수로 다시 변조되고, 평가 유닛 (201, 202) 으로부터의 출력부에서의 제어 신호 (311, 312) 또는 인버팅된 제어 신호 (321, 322) 로서 이용가능하게 된다.
클록 발생기들 (221, 222) 및 송신 광원들 (101, 102) 과 함께, 평가 유닛들 (201, 202) 각각은 개별 송신 경로 (301, 302) 를 형성한다. 송신 경로 (301) 의 클록 발생기 (221) 는 평가 유닛 (201) 에 대한 클록 및 송신 광원 (101) 에 대한 클록 양쪽과 그에 대한 제어를 제공하여, 송신 광원 (101) 이 시간-순차적으로 클로킹된 광을 위상조정하여 방출할 수 있도록 한다.
개개의 송신 경로들 (301, 302) 이 병렬로 연결되기 때문에, 수신 신호 (9) 가 (관련) 평가 유닛들 (201, 202) 의 입력부들에 동시에 존재한다. 이러한 방식으로, 병렬-연결된 송신 광원들 (101, 102) 에 의해 송신된 신호 성분들이 동시에 프로세싱된다.
송신 경로들 (301, 302) 개개의 평가 유닛들 (201, 202) 은, 송신 광원들 (101, 102) 에 피딩되는 제어 신호 (311, 312) 를 방출한다. 동시에, 평가 유닛들 (201, 202) 은 인버팅된 제어 신호 (321, 322) 를 방출한다. 이 목적을 위해, 평가 유닛들 (201, 202) 은 제어 신호들 (311, 312) 을 인버팅시키기 위한 인버터가 구비되는 것이 바람직하다. 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 은 제어 신호들 (311, 312) 에 대해 180 도만큼 위상-오프셋되는 것이 바람직하다. 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 이 제어 유닛 (400) 에 피딩되고, 이 제어 유닛 (400) 은 가산기 (401) 인 것이 바람직하다. 각각의 송신 경로들 (301, 302) 로부터의 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 이 제어 유닛 (400) 에 대한 입력부들에 존재한다. 제어 유닛 (400) 은 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 로부터 보상 제어 신호 (411) 를 발생시킨다. 제어 유닛 (400) 은 가산기인 것이 바람직하다. 이에 따라, 보상 제어 신호 (411) 는 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 의 합산으로부터 생성된다.
보상 제어 신호 (411) 는 보상 광원 (500) 으로 피딩된다. 이 광원 (500) 은 송신 광원들 (101, 102) 과 독립적이고, 또한, 모든 클록 발생기들 (221, 222) 의 주파수 성분들을 포함하는, 시간-순차적으로 클로킹된 광을 위상조정하여 방사시킨다. 제어 유닛 (400) 과 보상 광원 (500) 사이에 컨버터 유닛 (510) 이 제공되는 것이 바람직하고, 그에 의해 보상 제어 신호 (411) 가 보상 광원 (500) 에 대해 조정될 수도 있다. 컨버터 유닛 (510) 은, 전류 신호가 보상 제어 신호 (411) 로부터 발생되는 전압-제어식 전류 드라이버 (511) 인 것이 바람직하다. 보상 제어 신호 (411) 는 보상 광원에 대한 제어 신호의 진폭을 변경하기 위해 전류 드라이버 (511) 에 대한 입력 값으로서 기능할 수도 있다. 그 결과, 외래 광 보상에 대한 공지된 방법에서와 같이, 수신기 (3) 에서 발생된 신호 성분들의 진폭들이 동일한 사이즈여서, 수신 신호의 수신 신호 성분들 (전류 성분) 이 180 도만큼 위상-오프셋되기 때문에 신호 성분들을 서로 정확히 소거하도록 하는 것이 가능하다.
따라서, 도 1 의 측정 장치 (1) 는 복수의 광학 측정 경로들이 병렬로 연결되는 원리에 기초한다. 이러한 문맥에서, 광학 측정 경로는 송신 경로 (301, 302), 보상 광원 (500) 및 수신기 유닛 (2) 을 포함한다. 수신기 유닛 (2) 및 보상 광원 (500) 의 사용이 광학 측정 경로들 모두에 의해 공유된다. 이것은 공유된 수신기 유닛의 사용으로 인해 측정 장치 (1) 가 전체적으로 저비용이라는 이점을 갖는다. 제어 유닛 (400) 및 전류 드라이버들 (121, 122, 511) 뿐만 아니라 평가 유닛들 (201, 202) 및 클록 발생기들 (221, 222) 중 적어도 일부가 집적 회로 (IC 또는 ASIC) 의 형태로 있을 수도 있기 때문에, 측정 장치의 사이즈가 콤팩트하게 유지되는 것도 또한 가능하다. 이들 컴포넌트들은 저렴하고 소형으로 생성될 수 있다.
관련 분야에 비해 본 발명에 따른 측정 장치 (1) 의 하나의 이점은, 개개의 측정 경로들을 평가할 때, 다음 측정 경로가 활성화될 수 있기 전에 최소 기간 동안 기다릴 필요가 없다는 점에 있다. 모든 측정 경로들 및 송신 경로들이 병렬로 동작한다.
각각의 송신 경로가 전용 클록 발생기 (221, 222) 를 포함하는 상이한 송신 경로들 (301, 302) 의 실현으로 인해, 송신 광원들 (101, 102) 로부터의 개개의 신호들이 수신 신호 (9), 즉, 모든 송신 광원들로부터의 조합된 신호로부터 판독될 수도 있다. 병렬로 연결된 복수의 평가 유닛들 (201, 202) 에 의한 병렬 장치 및 구성은 진정한 병렬 프로세싱을 발생시켜서, 완전한 동기 평가를 가능하게 한다. 부가적으로, 이러한 복수의 측정 장치들은 또한 추가의 다중 모드에서, 즉, 개개의 측정 장치들 (1) 의 순차적인 프로세싱에서 일체화될 수도 있다. 이러한 방식으로, m개의 측정 장치들이 다중 모드에서 기능할 수도 있고, 그 각각의 측정 장치 (1) 는 n개의 측정 경로들을 포함한다. 이러한 방식으로, 몇 미터의 비교적 넓은 공간 영역을 모니터링하는 라이트 커튼들을 생성하는 것이 가능하다. 이러한 방식으로 조합된 장치는, n개의 측정 경로들이 항상 병렬로 프로세싱되고 평가되기 때문에, 시간 측면에서 순전히 순차적인 동작에 비해 상당한 이점을 갖는다. n 에 대한 통상적인 값들은 4 에서 16 까지의 범위에 있고, 바람직하게는 4 와 10 사이의 범위에 있다. 가능한 값들은 예를 들어 n = 4; 5; 8 또는 10 이다.
도 1 에서, 측정 장치 (1) 는 병렬로 동작하는 2개의 송신 경로들 (301, 302) 의 예를 이용하여 예시되고 설명된다. 그러나, 측정 장치 (1) 의 실시형태들은 적어도 5개의 송신 경로들 (301 내지 305), 특히 바람직하게는 적어도 10개의 송신 경로들이 구성되는 것이 바람직하다. 병렬로 연결된 송신 경로들의 상한은, 병렬로 연결되어야 하는 평가 회로들 측면에서 수용가능한 개발 노력에 의해, 그리고, 특히 어떠한 대안도 존재하지 않는 경우, 각각의 애플리케이션에 대한 필요성에 의해 결정된다. 이러한 상한은 예를 들어 대략 100 일 수도 있다. 종래의 순차적인 시스템들에 비해 측정 장치 (1) 의 이점들은, 송신 경로들의 수가 증가함에 따라, 그리고 적은 수의 송신 경로들이 사용되는 경우에는 신호 대 잡음비가 더 작아짐에 따라, 더욱 더 확연해진다.
도 2 는 송신 광원들 (101, 102) 에 대한 공급 신호들 및 보상 광원 (500) 에 대한 공급 신호의 주파수 범위에서의 신호 플롯들을 도시한 것이다. 도 2 에서는, 5개의 송신 경로들이 병렬로 연결된 것으로 가정한다.
개개의 송신 광원들 (101 내지 105) 에 대한 공급 신호들 각각은 하나의 베이스 주파수만을 갖는 반면, 보상 광원 (500) 에 대한 신호는 송신 광원들에 대한 5개의 공급 신호들의 모든 베이스 주파수들을 보여주고 있는 것으로 분명히 도시될 수도 있다.
도 3 은 도 1 의 원리에 따라 측정 장치 (1) 를 사용하여 구성하는 라이트 커튼 (20) 을 도시한 것이다. 이 경우, LED들 (111 내지 118) 의 형태의 8개의 송신 광원들 (101 내지 108) 이 예시적인 목적으로 사용된다. 포토다이오드 (4) 는 이들 광원들에 대향하게 위치되고 수신기 (3) 로서 기능한다. 이 수신기 (3) 는 수신기 유닛 (2) 의 일부이다. 포토다이오드 (4) 를 수신 광 가이드 (60) 에 결합시키는 것이 가능하여, LED들 (111, ..., 118) 에 의해 방사된 광이 포토다이오드 (4) 에 가이드된다. LED들 (111 내지 118) 이외에도 보상 LED (501) 가 또한 포지셔닝되고, 이 보상 LED (501) 는 보상 광원 (500) 으로서 기능한다. 보상 LED (501) 는 포토다이오드 (4) 와의 광 결합이 직접적인 영향을 주어서 그 결과 모니터링될 공간 체적을 스캐닝하지 않도록 포지셔닝되는 것이 바람직하다. 보상 LED (501) 를 포토다이오드 (4) 바로 옆에 포지셔닝하거나, 또는 보상 LED (501) 를 수신 광 가이드 (60) 에 결합하여, 수신 광 가이드 (60) 에 또한 결합되는 포토다이오드 (4) 가 적절하게 조명되도록 하는 것이 특히 바람직하다.
이러한 라이트 커튼 (20) 을 이용하면, 형성된 모든 8개의 측정 경로들이 병렬로 프로세싱되고 평가되기 때문에, 라이트 커튼의 총 사이즈에 비해 작고 연달아 상이한 장소들을 통과하는 다수의 오브젝트들을 검출하는 것이 또한 가능하다.
도 4 는 본 발명에 따른 광전 측정 장치로부터 구성되는 장애물 검출 유닛 (91) 을 갖는 차량 (90) 을 도시한 것이다. 장애물 검출 유닛 (91) 을 구성하는 포토다이오드 (4) 및 그 아래의 6개의 송신 광원들 (101, ..., 106) 이 차량 (90) 의 범퍼에 가깝게 포지셔닝된다. 보상 광원 (500) 도 또한 존재하지만, 도 4 에서는, 이 보상 광원 (500) 이, 또한 도시되지 않은 수신기 유닛 (2) 의 일부인 포토다이오드 (4) 에서의 커버 아래에 배치되기 때문에 도시되어 있지 않다.
송신 광원들 (101, ..., 106) 각각은 광 빔 (71, 72, ..., 76) 을 방출하고 이들 빔들은 함께 총 광 빔 (80) 을 형성한다. 동시에, 이 광 빔 (80) 은 또한 장애물 검출 유닛 (91) 의 모니터링 영역을 나타낸다. 특히, 외측 광원들 (101 및 106) 을 정렬시킴으로써, 차량 후방의 거의 180 도의 영역을 조명하는 것이 가능하다는 것을 발견하였다. 이러한 방식으로, 단지 하나의 매우 콤팩트한 측정 장치로 차량 후방의 전체 영역을 모니터링하는 것이 가능하다.
물론, 6개보다 많은 송신 광원들 (101, 102, ..., 106) 을 이용하여 개개의 광 빔들 (71, 72, ..., 76) 사이의 어떠한 갭 없이 영역을 커버하는 것도 또한 가능하다.
장애물 검출 유닛 (91) 의 콤팩트한 구성은, 차량 (90) 에서 요구되는 설치 공간이 작다는 이점을 갖는다. 따라서, 특히, 측정 장치가 범퍼 후방에 비가시적으로 또한 장착될 수도 있기 때문에, 차량의 광학적 외관이 손상되지 않는다. 범퍼 재료는, 광원들 (101, 102, ..., 106) 에 의해 방출된 전자기 방사선 (예를 들어, 적외 방사선) 으로 부분적으로 또는 전체적으로 침투가능하면 된다. 장애물 검출 유닛 (91) 의 저비용 및 이들 광학적 이점들 이외에도, 1 내지 2 미터 범위에서의 더 긴 거리에서 뿐만 아니라 더 짧은 거리 (근거리장) 에서도 매우 양호한 분해능을 또한 제공한다. 또한, 모든 송신 경로들의 동시 프로세싱이 신속한 반응을 야기하여 신뢰성 높은 기능적 시스템을 또한 발생시킨다.

Claims (16)

  1. - 클로킹된, 위상조정된 광 (clocked, phased light) 을 방출하는 적어도 2개의 송신 광원들 (101, 102),
    - 광을 방사하는 보상 광원 (500),
    - 상기 송신 광원들 (101, 102) 및 상기 보상 광원 (500) 에 의해 방사된 광을 수신하고, 상기 광을 전기적 수신 신호 (9) 로 변환하기 위한 수신기 (3) 를 갖는 수신기 유닛 (2),
    - 상기 전기적 수신 신호 (9) 를 평가하고 제어 신호 (311, 312) 를 각각 발생시키기 위한 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202),
    - 각각의 송신 경로가 송신 광원 (101, 102), 평가 유닛 (201, 202) 및 클록 발생기 (221, 222) 를 포함하는 적어도 2개의 송신 경로들 (301, 302) 로서, 상기 클록 발생기 (221, 222) 는 상기 송신 경로 (301, 302) 의 상기 평가 유닛 (201, 202) 에 대한 클록을 발생시키는, 상기 적어도 2개의 송신 경로들 (301, 302), 및
    - 상기 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202) 에 의해 발생된 적어도 2개의 제어 신호들 (311, 312) 로부터 보상 제어 신호 (411) 를 발생시키는 제어 유닛 (400) 으로서, 상기 보상 광원 (500) 은 상기 보상 제어 신호 (411) 에 의해 제어되고 공급되는, 상기 제어 유닛 (400)
    을 포함하고,
    상기 송신 경로 (301, 302) 의 상기 평가 유닛 (201, 202) 은 상기 전기적 수신 신호 (9) 로부터 상기 송신 경로 (301, 302) 의 상기 송신 광원 (101, 102) 에 대한 클록-동기 제어 신호 (311, 312) 를 발생시키는, 광전 측정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 송신 경로 (301, 302) 의 상기 평가 유닛 (201, 202) 은, 상기 전기적 수신 신호 (9) 로부터 클록-동기 제어 신호 (321, 322) 를 발생시켜서, 상기 전기적 수신 신호 (9) 의 클록 (221, 222) 동기 교번 광 성분들을 보상하는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제어 유닛 (400) 은 가산기 (401) 를 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 보상 제어 신호 (411) 는 상기 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202) 의 상기 제어 신호들 (311, 312) 의 주파수 성분들을 포함하는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 평가 유닛들 (201, 202) 은 관련 송신 광원들 (101, 102) 을 클록-동기식으로 제어하는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 클록 주파수들은 서로 상이한 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    2개의 클록 주파수들 사이의 주파수 차이는 적어도 1 kHz 인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    2개의 클록 주파수들 사이의 주파수 차이는 적어도 2 kHz 인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  9. 제 6 항에 있어서,
    2개의 클록 주파수들 사이의 주파수 차이는 10 kHz 이하인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  10. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 클록 주파수들은 적어도 1 kHz 인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  11. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 클록 주파수들은 적어도 10 kHz 인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  12. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 송신 광원들 (101, 102) 을 제어하기 위한 클록 주파수들은 적어도 100 kHz 인 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  13. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 보상 제어 신호 (411) 는 상기 평가 유닛들 (201, 202) 의 상기 제어 신호들 (311, 312) 을 포함하고, 상기 제어 신호들 (311, 312) 은 180°만큼 위상-시프트되는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  14. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 수신기 (3) 는, 상기 송신 광원들 (101, 102) 및 상기 보상 광원 (500) 에 의해 방사된 광의 클록 동기 교번 광 성분을 수신하는 것을 특징으로 하는 광전 측정 장치.
  15. 광전 측정 장치 (1) 를 이용하여 외래 광 보상과 함께 복수의 광학 송신 경로들 (301, 302) 의 동시 평가를 위한 방법으로서,
    상기 광전 측정 장치 (1) 는,
    - 시간-순차적으로 클로킹된 광을 위상조정하여 방출하는 적어도 2개의 송신 광원들 (101, 102),
    - 상기 송신 광원들 (101, 102) 과 독립적으로 제어되고 보상 광을 방출하는 보상 광원 (500),
    - 상기 송신 광원들 (101, 102) 및 상기 보상 광원 (500) 에 의해 방사된 광을 수신하기 위한 수신기 (3),
    - 상기 송신 광원들 (101, 102) 에 의해 방출된, 수신된 광 신호들의 교번 광 성분들의 클록-동기 평가를 위해 평가 유닛 각각이 송신 광원 (101, 102) 에 할당되는 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202) 로서, 상기 수신된 광 신호들로부터 제어 신호 (311, 312) 가 발생되는, 상기 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202), 및
    - 상기 발생된 제어 신호들 (311, 312) 을 병합하여 보상 제어 신호 (411) 를 형성하는 제어 유닛 (400) 을 포함하고,
    상기 동시 평가를 위한 방법은,
    - 교번 광 성분을 갖는 광 신호를 수신하는 단계,
    - 상기 교번 광 성분을 전기적 수신 신호 (9) 로 변환하는 단계,
    - 상기 전기적 수신 신호 (9) 를 상기 적어도 2개의 평가 유닛들 (201, 202) 에 피딩 (feeding) 하는 단계,
    - 미리 설정된 주파수를 이용한, 상기 전기적 수신 신호 (9) 의 클록-동기의 주파수-선택적 평가 및 제어 신호 (311, 312) 의 발생 단계,
    - 상기 평가 유닛 (201, 202) 에 할당된 상기 송신 광원 (101, 102) 에 상기 제어 신호 (311, 312) 를 피딩하는 단계,
    - 상기 제어 신호 (311, 312) 를 인버팅하고 상기 인버팅된 제어 신호 (321, 322) 를 상기 제어 유닛 (400) 에 피딩하는 단계,
    - 상기 평가 유닛들 (201, 202) 의 모든 인버팅된 제어 신호들 (321, 322) 을 병합하여, 모든 제어 신호들 (311, 312) 의 주파수 성분들을 포함하는 보상 제어 신호 (411) 를 형성하는 단계, 및
    - 상기 보상 광원 (500) 에 상기 보상 제어 신호 (411) 를 공급하는 단계를 포함하는, 복수의 광학 송신 경로들 (301, 302) 의 동시 평가를 위한 방법.
  16. 청구항 제 15 항에 있어서,
    상기 수신기 (3) 는, 상기 송신 광원들 (101, 102) 및 상기 보상 광원 (500) 에 의해 방사된 광의 클록 동기 교번 광 성분을 수신하는 것을 특징으로 하는, 복수의 광학 송신 경로들 (301, 302) 의 동시 평가를 위한 방법.
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