KR101448557B1 - Apparatus for testing electronic device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 전자 소자의 테스트 신호에 매핑된 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 다양한 크기의 테스트 신호를 생성할 수 있는 저렴하며 소형화된 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus for an electronic device, and more particularly, to a test apparatus for an electronic device, which is capable of generating a test signal of various sizes with an amplification gain programmed according to variable code data mapped to a test signal of an electronic device To a test apparatus.

Description

전자 소자의 테스트 장치{Apparatus for testing electronic device }[0001] Apparatus for testing electronic device [0002]

본 발명은 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 전자 소자의 테스트 신호에 매핑된 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 다양한 크기의 테스트 신호를 생성할 수 있는 저렴하며 소형화된 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a test apparatus for an electronic device, and more particularly, to a test apparatus for an electronic device, which is capable of generating a test signal of various sizes with an amplification gain programmed according to variable code data mapped to a test signal of an electronic device To a test apparatus.

통상적으로 전자 소자의 성능을 테스트하는 테스트 장치는 테스트 전압 또는 테스트 전류를 전자 소자로 인가하고 출력되는 테스트 결과 신호를 측정하여 전자 소자의 정상/불량 여부를 판단하게 된다. In general, a test apparatus for testing the performance of an electronic device applies a test voltage or a test current to an electronic device and measures a test result signal to determine whether the electronic device is normal or defective.

전자 소자 테스트 장치에서 전자 소자로 인가되는 테스트 전압 또는 테스트 전류에 따른 테스트 결과 신호를 측정하여 전자 소자의 정상/불량 여부를 판단하기 때문에, 전자 소자로 인가되는 테스트 전압 또는 테스트 전류는 정확한 값을 가지도록 생성되어야 한다. 그리고 전자 소자의 정확한 성능 테스트를 위해 전자 소자의 종류에 따라 서로 다른 크기의 테스트 전압 또는 테스트 전류를 생성하여 전자 소자로 인가하여야 하는데, 전자 소자로 인가되는 서로 다른 크기의 테스트 전압 또는 테스트 전류를 생성하기 위하여 다수의 레인지(range) 저항을 이용한다.The test voltage or the test current applied to the electronic device has an accurate value because it is determined whether the electronic device is normal or defective by measuring the test result signal according to the test voltage or the test current applied to the electronic device in the electronic device testing apparatus . In order to accurately test the performance of the electronic device, test voltages or test currents of different sizes are generated according to the types of the electronic devices and the test voltages are applied to the electronic devices. The test voltages or the test currents A plurality of range resistors are used.

메모리 테스트 장치의 경우에는 통상적으로 4개 내지 6개의 레인지 저항을 구비하며, 인쇄회로기판 테스트 장치의 경우에는 통상적으로 10개의 레인지 저항이 사용된다. Typically, a memory test apparatus has four to six range resistors, and in the case of a printed circuit board test apparatus, typically ten range resistors are used.

도 1은 종래 전자 소자 테스트 장치에서 테스트 신호를 생성하는 다수의 레인지 저항을 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining a plurality of range resistors for generating test signals in a conventional electronic device testing apparatus.

도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 서로 다른 크기의 테스트 신호를 생성하기 위하여 각 크기에 해당하는 테스트 신호를 생성하기 위한 테스트 신호 발생 유닛(10)이 개별적으로 할당되어 있다. 각 테스트 신호 발생 유닛의 동작을 살펴보면, 테스트 신호 발생 유닛은 증폭기(AMP), 증폭기에 접속되는 입력 저항(Rin)과 출력 저항(Rout)을 구비하는데 증폭기(AMP)를 이용하여 기준 신호(Vin)로부터 생성되는 테스트 신호(Vout)은 아래의 수학식(1)과 같이 계산된다.As shown in FIG. 1, test signal generating units 10 for generating test signals corresponding to respective sizes are separately allocated to generate test signals of different sizes. The test signal generating unit includes an amplifier AMP, an input resistance Rin connected to the amplifier, and an output resistor Rout. The test signal generating unit includes an amplifier AMP, a reference signal Vin, The test signal Vout is calculated as shown in the following equation (1).

[수학식 1][Equation 1]

Figure 112013073528047-pat00001
Figure 112013073528047-pat00001

즉, 생성되는 테스트 신호의 크기는 출력 저항의 크기에 따라 이득(gain)이 상이하게 되며, 서로 다른 크기의 테스트 신호를 생성하기 위하여 종래 전자 소자 테스트 장치에는 서로 다른 출력 저항, 즉 레인지 저항을 구비하는 다수의 테스트 신호 발생 유닛이 필요하였다.That is, the magnitude of the generated test signal becomes different according to the magnitude of the output resistance. In order to generate test signals of different sizes, the conventional electronic device testing apparatus has different output resistances, i.e., A plurality of test signal generating units were required.

따라서 종래 전자 소자 테스트 장치의 경우 테스트 신호 발생 유닛의 수가 증가할수록 테스트 신호 발생 유닛을 구성하는 소자의 수가 증가하게 되며, 테스트 신호 발생 유닛을 선택하기 위한 선택 회로 또는 제어 회로도 증가하게 되어 제조 비용이 증가하고 사이즈가 커지는 문제점을 가진다. 특히 테스트 신호 발생 유닛을 구성하는 입력 저항 또는 출력 저항은 정확한 테스트 신호를 생성하기 위하여 정밀 저항을 사용하여야 하는데, 정밀 저항은 단가가 높아 전자 소자 테스트 장치를 제조하는데 소요되는 비용을 크게 증가시키는 문제점을 가진다.Therefore, in the conventional electronic device testing apparatus, as the number of test signal generating units increases, the number of elements constituting the test signal generating unit increases, and a selection circuit or a control circuit for selecting a test signal generating unit increases. And the size thereof is increased. In particular, the input resistance or the output resistance constituting the test signal generating unit must use a precision resistor in order to generate an accurate test signal. The precision resistor has a high unit cost, which causes a problem of greatly increasing the cost of manufacturing an electronic device test apparatus I have.

본 발명은 위에서 언급한 전자 소자 테스트 장치가 가지는 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명이 이루고자 하는 목적은 저렴하면서도 소형화하여 제작할 수 있는 전자 소자 테스트 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide an electronic device testing apparatus which can be manufactured at low cost and in a small size.

본 발명이 이루고자 하는 다른 목적은 레인지 저항의 수에 상관없이 다양한 값의 테스트 신호를 생성할 수 있는 전자 소자 테스트 장치를 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an electronic device test apparatus capable of generating test signals of various values regardless of the number of range resistors.

본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전자 소자 테스트 장치는 기준 신호를 발생하는 기준 신호 발생부와, 테스트하고자 하는 전자 소자에 매핑된 테스트 신호를 판단하고 테스트 신호를 생성하는데 사용되는 가변 코드를 가변 코드 데이터베이스에서 추출하는 코드 생성부와, 가변 코드에 따라 프로그램되어 기준 신호로부터 서로 상이한 크기의 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부와, 전자 소자로 테스트 입력 신호를 인가하여 전자 소자의 전기 특성 데이터를 측정하는 측정부와, 전기 특성 데이터로부터 전자 소자의 불량 상태를 검출하는 불량 검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. In order to accomplish the object of the present invention, an electronic device testing apparatus according to the present invention includes a reference signal generator for generating a reference signal, a variable code used for determining a test signal mapped to an electronic device to be tested, A test signal generator for generating a test signal programmed according to a variable code and having a size different from that of the reference signal, a test signal generator for applying a test input signal to the electronic device, A measurement unit for measuring data; and a defect detection unit for detecting a defect state of the electronic device from the electrical characteristic data.

바람직하게, 테스트 신호 생성부는 가변 코드에 따라 증폭 이득을 가변 조절하기 위한 가변 코드 데이터를 생성하는 이득 제어부와, 가변 코드 데이터를 제공받아 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 기준 신호를 증폭하여 테스트 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.Preferably, the test signal generator includes a gain controller for generating variable code data for variably controlling the amplification gain according to the variable code, and a test signal generator for receiving the variable code data and amplifying the reference signal with the amplification gain programmed according to the variable code data, And a signal generator for generating a signal.

바람직하게 신호 생성부는 가변 이득 증폭기(programmable gain amplifier)인 것을 특징으로 한다.Preferably, the signal generator is a programmable gain amplifier.

본 발명에 따른 전자 소자 테스트 장치는 1개의 테스트 신호 생성부를 이용하여 전자 소자의 테스트 신호에 매핑된 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 다양한 크기의 테스트 신호를 생성함으로써, 전자 소자 테스트 장치를 저렴하면서도 소형으로 제조할 수 있다.The electronic device testing apparatus according to the present invention generates test signals of various sizes by using the amplification gain programmed according to the variable code data mapped to the test signal of the electronic device by using one test signal generator, But can be manufactured in a small size.

한편, 본 발명에 따른 전자 소자 테스트 장치는 가변 코드 데이터의 조합으로 다양한 크기의 증폭 이득을 생성할 수 있도록 프로그램시킴으로써, 각 테스트 신호에 해당하는 레인지 저항을 각각 구비하여야 할 필요가 없으며 레인지 저항의 수 또는 종류에 한정되지 않고 다양한 크기의 테스트 신호를 생성할 수 있다.Meanwhile, the electronic device testing apparatus according to the present invention does not need to have a range resistance corresponding to each test signal by programming the amplification gain of various sizes by combining variable code data, Or a test signal of various sizes can be generated without being limited to the type.

도 1은 종래 전자 소자 테스트 장치에서 테스트 신호를 생성하는 다수의 레인지 저항을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 소자 테스트 장치를 설명하기 위한 기능 블록도이다.
도 3은 본 발명에 따른 신호 생성부의 일 예를 설명하기 위한 회로도이다.1 is a view for explaining a plurality of range resistors for generating test signals in a conventional electronic device testing apparatus.
2 is a functional block diagram illustrating an electronic device testing apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a circuit diagram for explaining an example of a signal generating unit according to the present invention.

이하 첨부한 도면을 참고로 본 발명에 따른 전자 소자 테스트 장치를 살펴보도록 한다.
Hereinafter, an electronic device testing apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 소자 테스트 장치를 설명하기 위한 기능 블록도이다.2 is a functional block diagram illustrating an electronic device testing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참고로 보다 구체적으로 살펴보면, 전자 소자를 테스트하기 위하여 코드 생성부(210)로 전자 소자를 특정하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우, 코드 생성부(210)는 사용자 명령에 포함되어 있는 전자 소자의 식별자 또는 테스트 종류에 따라 전자 소자 또는 테스트 종류에 매핑되어 있는 가변 코드를 가변 코드 데이터베이스(220)에서 검색하여 추출한다. 가변 코드 데이터베이스(220)에는 전자 소자에 따라 그리고 테스트 종류에 따라 전자 소자 및 테스트 종류에 매핑되어 있는 가변 코드가 저장되어 있다.2, when a user command for specifying an electronic device is input to the code generation unit 210 for testing an electronic device, the code generation unit 210 generates an electronic code The variable code database 220 searches for and extracts a variable code mapped to an electronic element or a test type according to an identifier of the element or a test type. The variable code database 220 stores variable codes that are mapped to electronic devices and test types according to electronic devices and test types.

테스트 신호 생성부(230)는 코드 생성부(210)로부터 가변 코드를 제공받는 경우, 기준 신호 발생부(240)에서 생성되는 기준 신호를 가변 코드에 따라 프로그램하여 가변 코드에 해당하는 테스트 신호를 생성한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 소자 테스트 장치에서 테스트 신호 생성부(230)는 이득 제어부(231)와 신호 생성부(233)을 구비하는데, 보다 구체적으로 살펴보면 이득 제어부(231)는 코드 생성부(210)로부터 제공받은 가변 코드에 따라 신호 생성부(231)의 증폭 이득을 가변 조절하기 위한 가변 코드 데이터를 생성하며, 신호 생성부(233)는 가변 코드 데이터를 제공받아 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 기준 신호를 증폭하여 테스트 신호를 생성한다.The test signal generator 230 generates a test signal corresponding to the variable code by programming the reference signal generated by the reference signal generator 240 according to the variable code when the variable code is received from the code generator 210. [ do. The test signal generator 230 includes a gain controller 231 and a signal generator 233. More specifically, the gain controller 231 includes a gain controller 231, And generates variable code data for variably controlling the amplification gain of the signal generator 231 according to the variable code provided from the variable length code generator 210. The signal generator 233 receives the variable code data, And amplifies the reference signal with the amplification gain to generate a test signal.

여기서 가변 코드 데이터는 신호 생성부(233)에서 증폭 이득에 해당하는 출력 저항을 생성하는데 이용되는 데이터로, 가변 코드에 따라 전자 소자의 테스트 신호의 종류가 서로 상이하며 가변 코드에 해당하는 테스트 신호를 생성하도록 증폭 이득의 출력 저항을 생성하는 비트 데이터이다. 신호 생성부(233)는 비트 데이터에 따라 설정된 증폭 이득의 출력 저항을 가지도록 프로그램되어 있다.The variable code data is data used for generating an output resistance corresponding to an amplification gain in the signal generator 233. The variable code data is a variable code that is different in the type of the test signal of the electronic device according to the variable code, And generates an output resistance of the amplification gain to generate the output resistance. The signal generator 233 is programmed to have the output resistance of the amplification gain set in accordance with the bit data.

측정부(250)는 신호 생성부(233)에서 생성된 테스트 신호를 전자 소자로 인가하여 전자 소자의 전기 특성 데이터를 측정하며, 불량 검출부(260)는 측정한 전기 특성 데이터로부터 전자 소자의 불량 상태를 검출한다. 예를 들어, 전자 소자가 전자 부품인 경우 테스트 신호에 따라 일정한 크기를 가지는 전압, 전류가 출력되는데 이러한 전기 특성 데이터를 측정하며, 전자 소자가 인쇄회로기판인 경우 인쇄회로기판에 형성된 제1 전극 패드로 테스트 신호를 인가하여 제2 전극 패드로 일정한 크기를 가지는 전압, 전류가 출력되는데 이러한 전기 특성 데이터를 측정한다. 불량 검출부(260)는 전기 특성 데이터와 기준 특성 데이터를 비교하며, 비교 결과에 따라 전자 부품이 정상적으로 동작하는지 아니며 인쇄회로기판이 단선 또는 단락되어 있는지 등의 품질 검사를 수행하여 불량인 전자 소자를 검출한다.
The measurement unit 250 measures the electrical characteristic data of the electronic device by applying the test signal generated by the signal generation unit 233 to the electronic device. The failure detection unit 260 detects the failure condition of the electronic device . For example, when the electronic device is an electronic device, a voltage and a current having a predetermined magnitude are output according to a test signal. The electronic device measures the electrical characteristic data. When the electronic device is a printed circuit board, A voltage and a current having a predetermined magnitude are output to the second electrode pad. The electrical characteristic data is measured. The defect detector 260 compares the electrical characteristic data with the reference characteristic data and performs a quality inspection such as whether the electronic component is not normally operated and the printed circuit board is disconnected or short-circuited according to the comparison result to detect a defective electronic element do.

도 3은 본 발명에 따른 신호 생성부의 일 예를 설명하기 위한 회로도이다.3 is a circuit diagram for explaining an example of a signal generating unit according to the present invention.

도 3을 보다 구체적으로 살펴보면, 신호 생성부(233)는 증폭기(AMP), 입력 저항(Rin), 스위치 및 스위치와 직렬로 접속되어 있는 저항으로 이루어진 다수의 단위 그룹을 구비하고 있다. 단위 그룹은 서로 병렬로 접속되어 있는데, 단위 그룹의 조합으로 출력 저항(Rout)이 결정된다.3, the signal generator 233 includes a plurality of unit groups including an amplifier AMP, an input resistor R in , and a resistor connected in series with a switch and a switch. The unit group is connected in parallel with each other, and the output resistance R out is determined by a combination of unit groups.

가변 코드 데이터(b1, b2,...bn)는 단위 그룹의 각 스위치로 제공되는데, 각 스위치는 가변 코드 데이터에 따라 온/오프 제어된다. 각 단위 그룹의 스위치의 온/오프 제어에 따라 서로 병렬로 접속되어 있는 다수의 단위 그룹을 구성하는 저항의 조합으로 출력 저항이 결정된다. 따라서 가변 코드 데이터에 따라 신호 생성부는 특정 값의 출력 저항을 가지도록 프로그램되어 증폭 이득의 크기를 조절한다. A variable code data (b 1, b 2, ... b n) is is provided with the switches of the unit groups, each switch is on / off controlled in accordance with the variable code data. The output resistance is determined by a combination of resistors constituting a plurality of unit groups connected in parallel with each other in accordance with on / off control of the switches of the unit groups. Therefore, according to the variable code data, the signal generator is programmed to have a specific value of the output resistance to adjust the magnitude of the amplification gain.

신호 생성부에서 생성할 수 있는 테스트 전원의 종류는 단위 그룹의 수에 따라 상이하며, 단위 그룹의 수에 따라 가변 코드 데이터의 길이도 변화게 된다. 즉, 가변 코드 데이터의 길이가 n 비트인 경우, 가변 코드 데이터로 생성할 수 있는 출력 저항은 2n 개이며, 신호 생성부에서 생성할 수 있는 테스트 전원의 종류도 2n개이다.
The type of the test power supply that can be generated by the signal generator varies depending on the number of unit groups, and the length of the variable code data varies according to the number of unit groups. That is, when the length of the variable code data is n bits, the output resistance that can be generated by the variable code data is 2n , and the number of types of test power supplies that can be generated by the signal generating unit is 2n .

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is evident that many alternatives, modifications and variations will be apparent to those skilled in the art. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

210: 코드 생성부
220: 가변 코드 데이터베이스
230: 테스트 신호 생성부
231: 이득 제어부
233: 신호 생성부
240: 기준 신호 생성부
250: 측정부
260: 불량 검출부210:
220: Variable code database
230: Test signal generator
231:
233:
240: Reference signal generator
250:
260:

Claims (3)

삭제delete 기준 신호를 발생하는 기준 신호 발생부;
테스트하고자 하는 전자 소자에 매핑된 테스트 신호를 판단하고, 상기 테스트 신호를 생성하는데 사용되는 가변 코드를 가변 코드 데이터베이스에서 추출하는 코드 생성부;
상기 가변 코드에 따라 프로그램되어 상기 기준 신호로부터 서로 상이한 크기의 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부;
상기 전자 소자로 테스트 입력 신호를 인가하여 상기 전자 소자의 전기 특성 데이터를 측정하는 측정부; 및
상기 전기 특성 데이터로부터 상기 전자 소자의 불량 상태를 검출하는 불량 검출부를 포함하고,
상기 테스트 신호 생성부는
상기 가변 코드에 따라 프로그램되어 증폭 이득을 가변 조절하기 위한 가변 코드 데이터를 생성하는 이득 제어부; 및
상기 가변 코드 데이터를 제공받아 상기 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 상기 기준 신호를 증폭하여 상기 테스트 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.A reference signal generator for generating a reference signal;
A code generator for determining a test signal mapped to an electronic device to be tested and extracting a variable code used for generating the test signal from a variable code database;
A test signal generator which is programmed according to the variable code and generates test signals of different sizes from the reference signal;
A measuring unit for measuring electrical characteristic data of the electronic device by applying a test input signal to the electronic device; And
And a defect detector for detecting a defect state of the electronic device from the electrical characteristic data,
The test signal generator
A gain control unit programmed according to the variable code to generate variable code data for variably controlling amplification gain; And
And a signal generator for receiving the variable code data and amplifying the reference signal with an amplification gain programmed according to the variable code data to generate the test signal. 제 2 항에 있어서, 상기 신호 생성부는
가변 이득 증폭기(programmable gain amplifier)인 것을 특징으로 하는 전자 소자 테스트 장치.3. The apparatus of claim 2, wherein the signal generator
Wherein the electronic device is a programmable gain amplifier.
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