KR101440974B1 - Automatic inspection method for stain in the polarizing plate using color difference analysis - Google Patents

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Abstract

본 발명은 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩자동 검사 방법에 관한 것으로, (a) 적어도 1장의 기준 편광판에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계; (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계; (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a method of automatically inspecting a polarizing plate stain using color difference analysis, comprising the steps of: (a) mounting an inspection polarizing plate or a polarizing element on at least one reference polarizing plate; (b) irradiating light to the subject polarizing plate or the polarizing element; (c) photographing the subject polarizing plate or the polarizing element; And (d) calculating a chrominance of each pixel using the data extracted from the image photographed in the step (c), and quantifying the degree of the smudge using the calculated chrominance data .

Description

색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법{Automatic inspection method for stain in the polarizing plate using color difference analysis}[0001] The present invention relates to an automatic inspection method for stain in polarizing plate using color difference analysis,

본 발명은 편광판 얼룩 자동 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 색차 분석을 이용하여 편광판의 얼룩 정도를 객관적으로 판별할 수 있고, 생산 라인에서 편광판 불량 여부를 실시간으로 모니터링할 수 있을 뿐 아니라, 재단 후 편광판 품질 검사가 자동으로 실시될 수 있도록 고안된 편광판 얼룩 자동 검사 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method of automatically inspecting a polarizer unevenness, more specifically, it is possible to objectively determine the degree of unevenness of a polarizer using a color difference analysis, monitor whether a polarizer is defective in a production line in real time, And an automatic inspection method of a polarizing plate unevenness designed to automatically perform the quality inspection of the polarizing plate after the inspection.

편광판은 액정 표시 소자에 특정 편광방향을 갖는 빛을 투과시키기 위해 사용되는 광학 소자를 말한다. 일반적으로 편광판은 PVA(폴리비닐알코올, Polyvinyl alcohol)필름을 염색, 가교, 연신하여 제조된다.
The polarizing plate refers to an optical element used for transmitting light having a specific polarization direction to a liquid crystal display element. Generally, a polarizing plate is manufactured by dyeing, crosslinking, or stretching a PVA (polyvinyl alcohol) film.

종래의 일반적인 편광판 공정은 PVA 필름을 요오드 또는 염료로 염착하는 단계, 붕산 등을 첨가하여 요오드 또는 염료를 PVA 필름에 가교시키는 단계, PVA 필름을 연신시키는 단계로 이루어지며, 이때 상기 염착, 가교, 연신 단계는 개별적으로 진행될 수도 있고, 동시에 진행될 수도 있을 뿐 아니라, 이들 각각의 단계들의 순서 역시 고정적이지 않다. PVA 필름의 염착, 가교, 연신 단계가 완료된 다음, 이를 건조시킴으로써 PVA 소자가 만들어진다. 이와 같이 제조된 PVA 소자의 일면 또는 양면에 PVA 접착제 등을 이용하여, TAC (트리아세틸 셀루로오스, Triacetyl Cellulose) 필름과 같은 보호 필름을 접착시킴으로써 편광판이 완성된다.
Conventional general polarizing plate processes include a step of ion-plating a PVA film with iodine or a dye, a step of adding boric acid or the like to crosslink iodine or a dye to a PVA film, and a step of stretching a PVA film. The stretching step may be performed separately or simultaneously, and the order of each of these steps is not fixed. After completion of the step of dyeing, crosslinking and stretching of the PVA film, the PVA element is made by drying it. A polarizing plate is completed by adhering a protective film such as TAC (triacetyl cellulose) film to one side or both sides of the thus-produced PVA element using a PVA adhesive or the like.

그런데 이와 같이 제조된 편광판은 제조 공정에서의 불균일한 염착 또는 접착불량 등의 여러 가지 원인에 의해 편광판의 연신 방향(MD: machine direction)으로 줄무늬 얼룩이 발생하는 경우가 존재하게 되며, 이러한 얼룩이 심하면 화면의 밝기가 불균일하여, 최종 제품의 불량이 야기되는 문제가 발생한다. 따라서, 편광판의 얼룩 정도를 측정하고, 불량품을 선별하는 선별 작업이 요구된다. 일반적으로 편광판의 얼룩 검사는 검사자의 육안 관찰에 의해 이루어지는데, 이러한 방법은 검사자의 주관에 따라 제품의 불량 정도가 판별되므로 균일한 품질의 제품을 생산해내기 어렵다는 문제점이 있다.
However, the polarizing plate thus produced may have uneven streaks in the machine direction (MD) due to various causes such as uneven dyeing or adhesion failure in the manufacturing process. If such unevenness occurs, There arises a problem that the brightness is uneven and the final product is defective. Therefore, screening work for measuring the level of unevenness of the polarizing plate and selecting defective products is required. In general, the inspection of the stain of the polarizing plate is performed by visual inspection of the inspector. This method has a problem that it is difficult to produce a uniform quality product because the degree of defective product is determined according to the subject of the inspector.

따라서, 최근 편광판의 얼룩 정도를 수치화하는 방법이 모색되고 있으며, 그 모색의 결과 a) 흡수축이 평행한 기준 편광판 사이에 피검사 편광판의 흡수축이 기준편광판의 흡수축과 직교하도록 피검사 편광판을 장착하고, b) 상기 피검사 편광판을 향하여 광을 조사한 상태에서 피검사 편광판을 촬영하여 얻은 데이터 중 명암데이터를 활용하여 편광판 얼룩을 수치적으로 정량화하고, 이를 통해 편광판의 얼룩을 객관적으로 검사할 수 있도록 개발된 편광판 얼룩 검사방법을 제시한 바 있다.
Recently, a method of quantifying the level of unevenness of the polarizing plate has been sought. The results of the search are as follows: a) between the reference polarizing plates whose absorption axes are parallel to each other so that the absorption axis of the polarizing plate to be inspected is orthogonal to the absorption axis of the reference polarizing plate B) polarizing plate unevenness is quantitatively quantified by using brightness data among data obtained by photographing the polarizing plate to be inspected in the state that light is irradiated toward the polarizing plate to be inspected, and thereby the stain of the polarizing plate can be objectively inspected And a polarizing plate stain test method was developed.

그러나, 이러한 기술의 경우, 기준 편광판과 피검사 편광판의 흡수축이 직교하므로 피검사 편광판을 투과하는 광량이 극히 작아 분석 가능한 영상 데이터를 얻기 위해서는 촬상장치의 노출시간이 상대적으로 길어지며, 과한 노출 시간으로 인해 촬영 화상으로부터 추출한 RGB 데이터를 이용하여 얻어진 얼룩 형태와 육안에 의해 관찰되는 얼룩 형태 사이에 차이가 생기는 문제가 있었다. 또한, 종래 기술의 경우 촬영한 화상으로부터 추출한 데이터 중 명암데이터를 계산하여 얼룩을 수치화하므로, 미세한 색상차이로 인한 얼룩은 확인하기 어렵다는 한계가 있었다.
However, in this technique, since the absorption axis of the reference polarizing plate and the polarizing plate to be inspected are orthogonal to each other, the amount of light transmitted through the polarizing plate to be inspected is extremely small, so that the exposure time of the imaging device becomes relatively long in order to obtain analytical image data, There is a problem in that there is a difference between the form of the smudge obtained by using the RGB data extracted from the shot image and the smudge form observed by the naked eye. In addition, in the related art, there has been a limit in that it is difficult to identify a stain due to a minute color difference because the stain is numerically calculated by calculating the intensity data from the data extracted from the photographed image.

따라서, 상술한 문제점을 해결할 수 있는, 편광판의 얼룩 정량화 및 자동 검사 방법의 개발이 요구되었다. Therefore, there has been a demand for development of a stain quantification and automatic inspection method of a polarizing plate capable of solving the above-mentioned problems.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 피검사 편광판을 촬영한 영상을 분석가능한 영상 데이터로 처리하는 공정이 필요 없고, 촬영된 영상 데이터를 분석하여 실제 얼룩 형태와 차이가 없는 결과를 얻을 수 있는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for analyzing an image of a polarized plate to be analyzed, And a method for automatically checking the unevenness of the polarizer using the color difference analysis.

이를 위해 본 발명은, 일 측면에서, (a) 흡수축이 평행한 적어도 2장 이상의 기준 편광판 사이에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계; (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계; (b-1) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광 소자를 회전시키는 회전단계; (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방을 제공한다.
To this end, the present invention provides, in one aspect, (a) a method comprising: (a) mounting a polarizing plate or polarizing element to be inspected between at least two reference polarizing plates having parallel absorption axes; (b) irradiating light to the subject polarizing plate or the polarizing element; (b-1) rotating the to-be-tested polarizing plate or the polarizing element such that a brightness of the target polarizing plate or the polarizing element is 5 to 10 nit; (c) photographing the subject polarizing plate or the polarizing element; And (d) calculating a chrominance of each pixel by using the data extracted from the image photographed in the step (c), and quantifying the degree of the stain using the calculated chrominance data. Provides an automatic inspection room for polarizer stains.

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한편, 상기 (d) 단계는 (d-1) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출하는 단계; (d-2) 상기 (d-1) 단계에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사영역을 설정하는 단계; (d-3) 상기 (d-2) 단계에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 (d-1)에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산하는 단계; (d-4) 상기 (d-3) 단계에서 측정된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대하여 평균화하는 단계; (d-5) 상기 (d-4) 단계에서 평균화된 값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭 값을 계산하는 단계; 및 (d-6) 상기 (d-5) 단계에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 대비하여 얼룩의 정도를 정량화하는 단계를 포함한다.
The step (d) includes the steps of: (d-1) extracting data of each pixel constituting the image from the image photographed in the step (c); (d-2) setting an inspection region by grasping the position of each pixel from the data extracted in the step (d-1); (d-3) calculating chrominance of each pixel by grasping the color coordinates of each pixel from the data extracted in (d-1) in the inspection region set in the step (d-2); (d-4) averaging chrominance data of each pixel measured in the step (d-3) with respect to a machine direction (MD); (d-5) calculating a maximum color difference amplitude value by analyzing a value averaged in the step (d-4) in a transverse direction (TD); And (d-6) comparing the maximum color difference amplitude value calculated in the step (d-5) with the numerical data indicating the degree of the predetermined blob to quantify the degree of blob.

여기서, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터는 RGB 데이터와 위치데이터를 포함함이 바람직하다.
Here, the data of each pixel extracted in the step (d-1) preferably includes RGB data and position data.

한편, 상기 (d-1) 단계와 상기 (d-2) 단계 사이에, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 포함할 수 있다.
Meanwhile, a data processing step is performed between the step (d-1) and the step (d-2) so that the contrast ratio of the RGB data among the data of each pixel extracted in the step (d-1) can do.

여기서, 상기 데이터 가공단계는, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암 데이터로 변환하는 데이터 변환 단계; 상기 변환된 데이터로부터 명암데이터를 분리하여 히스토그램 균등화 처리를 하는 데이터 처리 단계; 및 상기 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와, 상기 색상 및 채도 데이터를 RGB 데이터로 재변환하는 데이터 재변환 단계를 포함한다.
The data processing step may include: a data conversion step of converting the RGB data among the data of each pixel extracted in the step (d-1) into color, saturation, and contrast data; A data processing step of separating the contrast data from the converted data and performing a histogram equalization process; And a data re-conversion step of re-converting the contrast data subjected to the histogram equalization processing and the hue and saturation data into RGB data.

한편, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 상기 (d) 단계 이후에 상기 (d) 단계에서 수치화된 얼룩의 정도를 가시화하는 단계를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the method for automatically checking the unevenness of the polarizer using the color difference analysis may further include visualizing the degree of the unevenness quantified in the step (d) after the step (d).

본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 이용하면, 사람이 일일이 편광판을 검사하지 않고, 생산 라인에서 실시간으로 편광판의 얼룩 정도를 모니터할 수 있으므로, 품질 관리 능력이 향상되고, 생산 시간이 단축되며, 생산 효율이 향상된다는 장점이 있다.
Using the automatic inspection method of polarizing plate stain using the color difference analysis of the present invention, it is possible to monitor the degree of stain of the polarizing plate in real time on a production line without human inspection of the polarizing plate, And the production efficiency is improved.

또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은, 촬영시 피검사 편광판의 휘도가 일정 범위 확보되어, 얼룩을 분석하기에 적합한 영상을 용이하게 얻을 수 있다는 장점이 있다.
In addition, the automatic inspection method of polarizing plate unevenness using the color difference analysis of the present invention has an advantage that an image suitable for analyzing the unevenness can be easily obtained because the brightness of the polarizing plate to be inspected is kept within a certain range during photographing.

또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 촬영된 영상으로부터 추출한 데이터를 명암비가 높아지도록 처리함으로써, 보다 정확하게 미세 얼룩을 검출할 수 있다는 장점이 있다.
In addition, the method for automatically checking the polarizer plate using the color difference analysis of the present invention is advantageous in that fine speckles can be detected more accurately by processing the data extracted from the photographed image to have a high contrast ratio.

또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 객관적인 기준을 통해 편광판의 얼룩 정도를 수치화하므로, 제품의 품질이 일정하게 유지된다는 장점이 있다.In addition, the method of automatically checking the unevenness of the polarizer using the color difference analysis of the present invention is advantageous in that the quality of the product is kept constant since the degree of stain of the polarizer is numerically evaluated through objective criteria.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 있어서 설정된 검사영역의 일례를 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 연산된 횡방향(TD, transverse direction)에 따른 색차의 변화를 보여주는 그래프이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 적용한 장치의 일례를 보여주는 도면이다.
FIG. 1 is a flowchart illustrating a method for automatically checking polarizer stains using color difference analysis according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG.
FIG. 2 is a view illustrating an example of an inspection area set in the automatic inspection method of a polarizing plate stain using color difference analysis according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a graph showing a change in chrominance according to a transverse direction (TD) calculated by a method for automatically checking a polarizing plate stain using a color difference analysis according to an embodiment of the present invention.
4 is a view showing an example of an apparatus to which a polarizing plate unevenness automatic inspection method using a color difference analysis according to an embodiment of the present invention is applied.

이하, 도면을 참조하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to the drawings.

다만, 하기 도면들은 본 발명을 보다 잘 이해할 수 있도록 하기 위해 작성된 것으로, 본 발명의 일 실시예에 불과하며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 하기 도면에서 동일한 도면 부호는 동일한 구성요소를 나타내며, 원활한 설명을 위해 도면 상에 나타난 구성요소들은 과장, 축소 또는 생략될 수 있음을 밝힌다.It is to be understood, however, that the following description is made in order to provide a better understanding of the present invention, and is not to be construed as limiting the present invention. Also, in the following drawings, like reference numerals refer to like elements, and it is to be understood that elements shown in the drawings may be exaggerated, reduced or omitted for clarity.

도 1은 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법의 흐름을 보여주는 플로우 차트이며, 도 2는 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에서 설정된 검사영역의 일례를 보여주는 도면이고, 도 3은 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 연산된 횡방향(TD, transverse direction)에 따른 색차의 변화를 보여주는 그래프이며, 도 4는 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 적용한 장치의 일례이다.
FIG. 1 is a flowchart showing a flow of a method for automatically checking a polarizing plate stain using a color difference analysis according to the present invention, FIG. 2 is a view showing an example of an inspection area set in a polarizing plate stain automatic inspection method using a color difference analysis of the present invention, 3 is a graph showing a change in color difference according to a transverse direction (TD) calculated by a polarizing plate unevenness automatic inspection method using the color difference analysis of the present invention. FIG. 4 is a graph Is an example of a device to which the method is applied.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 피검사 편광판 장착 단계(S100), 광 조사 단계(S200), 촬영 단계(S300), 얼룩 정량화 단계(S400)를 포함한다.
Referring to FIGS. 1 to 4, a polarizing plate unevenness inspection method using the color difference analysis according to the present invention includes a step S100 of mounting a polarizing plate to be inspected, a light irradiation step S200, a photographing step S300, a smear quantification step S400, .

상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)는, 적어도 1장의 기준 편광판(20)에 피검사 편광판 또는 편광소자(30)를 장착하는 단계이다.
The step S100 of inserting the polarizing plate to be inspected is a step of mounting the polarizing plate or the polarizing element 30 on the at least one reference polarizing plate 20.

여기서, 상기 기준 편광판(20)은 당해 기술분야에서 일반적으로 사용되는 편광판 또는 편광판 반제품 또는 편광소자 등이 사용될 수 있으며, 예를 들면, 표면코팅이 되어있지 않은 클리어 TAC(Clear TAC) (예를 들면 주식회사 후지필름의 UZ TAC)이 사용된 단체 투과도 41.0~42.5% 사이의 편광판 반제품 등이 사용될 수 있다.Here, the reference polarizing plate 20 may be a polarizing plate, a polarizing plate, a polarizing element or the like commonly used in the related art. For example, a transparent TAC (Clear TAC) A UZ TAC of FUJIFILM CO., LTD.) Is used and a polarizing plate semi-finished product having a transmittance of 41.0 to 42.5% is used.

또한, 상기 기준 편광판(20)은 적어도 1장일 수 있으나, 적어도 2장인 것이 보다 바람직하며, 이는, 일반적으로 여러 요인에 의해 편광이 변화될 수 있으므로, 1장의 편광판만으로 흡수축과 평행한 편광성분을 완전히 흡수할 수 없기 때문이다.
The reference polarizing plate 20 may be at least one, but it is more preferable that at least two reference polarizing plates 20 are used. In general, since the polarization can be changed by various factors, a polarizing component parallel to the absorption axis Because it can not absorb completely.

여기서, 상기 기준 편광판(20)이 적어도 2장인 경우, 적어도 2장의 기준 편광판(20)의 흡수축은 서로 평행함이 바람직하다. 이는 흡수축이 평행한 적어도 2장의 기준 편광판을 이용하여 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수를 최대화하고, 피검사 편광판 또는 편광소자의 투과축과 평행한 편광 성분 이외의 성분을 최소화하여 얼룩의 시인성을 향상시킬 수 있기 때문이다.
Here, when the reference polarizer 20 is at least two, it is preferable that the absorption axes of at least two reference polarizers 20 are parallel to each other. This makes it possible to maximize the absorption of the polarization component parallel to the absorption axis of the reference polarizing plate by using at least two reference polarizing plates whose absorption axes are parallel to minimize the components other than the polarization component parallel to the transmission axis of the polarized light component or the polarizing element This is because the visibility of the stain can be improved.

한편, 상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)는, 적어도 1장의 기준 편광판(20) 상에 장착될 수 있으나, 적어도 2장의 기준 편광판(20) 사이에 장착됨이 보다 바람직하다. 이는, 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수율을 증가시켜 얼룩의 시인성을 향상시키기 위함이다. 일반적으로, 편광은 여러 요인에 의해 변화될 수 있으므로, 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분이더라도 편광판을 투과할 수 있기 때문에 1장의 편광판만으로는 흡수축과 평행한 편광성분을 완전히 흡수할 수 없다. 따라서, 적어도 2장의 기준 편광판 사이에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하여, 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수를 최대화하고, 피검사 편광판 또는 편광소자의 투과축과 평행한 편광 성분 이외의 성분을 최소화하여 얼룩의 시인성을 향상시키는 것이다.
Meanwhile, the step of inserting the polarized light to be measured (S100) may be mounted on at least one reference polarizing plate (20), but it is more preferably mounted between at least two reference polarizing plates (20). This is to improve the visibility of the stain by increasing the absorption rate of the polarized component parallel to the absorption axis of the reference polarizing plate. Generally, polarized light can be changed by various factors, so even if a polarized component parallel to the absorption axis of the polarizing plate is able to transmit through the polarizing plate, a single polarizing plate can not completely absorb the polarized component parallel to the absorption axis. Therefore, by inserting a polarizing plate or polarizing element to be inspected between at least two reference polarizing plates, it is possible to maximize the absorption of the polarizing component parallel to the absorption axis of the reference polarizing plate and to provide a polarizing component other than the polarizing component parallel to the transmitting axis of the polarizing plate or polarizing element Thereby improving the visibility of the stain.

한편, 피검사 편광판 또는 편광소자(30)는, 광 조사시 그 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)에서 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 흡수축이 상기 기준 편광판(20)의 흡수축과 기울어져 배치되도록 장착할 수 있다. 또는, 상기 광조사 단계(S200)와 상기 촬영단계(300) 사이에, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 단계를 더 포함함으로써, 상기 장착된 피검사 편광판에 대한 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)를 회전시켜 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 흡수축이 상기 기준 편광판(20)의 흡수축과 기울어지도록 할 수 있다. On the other hand, the polarizing plate or polarizing element 30 to be inspected is preferably such that the brightness thereof is preferably 2.5 to 20 nits (nit), more preferably 2.5 to 15 nits (nit) The absorption axis of the polarizing plate or the polarizing element 30 to be inspected is arranged so as to be inclined with respect to the absorption axis of the reference polarizing plate 20 in the inspection polarizing plate mounting step S100 so that the absorption axis of the polarizing plate 30 or the polarizing element 30 becomes 5 to 10 nit . Alternatively, the step of rotating the polarizer or the polarizing element to be inspected may further include, between the light irradiation step (S200) and the photographing step (300), the brightness of the mounted polarizer The test subject polarizing plate or the polarizing element 30 is rotated so as to be 20 nits (nit), more preferably 2.5 to 15 nits (nit), most preferably 5 to 10 nits (nit) The absorption axis of the inspection polarizing plate or the polarizing element 30 may be inclined with respect to the absorption axis of the reference polarizing plate 20. [

여기서, 니트(nit)란 휘도의 단위로서 1cd/m2 또는 0.00001sb의 광도를 가지는 표면 밝기를 말하며, 소정의 휘도 범위를 갖도록 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축과 기준 편광판의 흡수축을 기울어져 배치시킴은 얼룩 분석이 가능한 화상을 용이하게 얻게 하기 위함이다. 구체적으로 광 조사시 상기 장착된 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 니트(nit) 미만인 경우 피검사 편광판 또는 편광소자를 통과하는 광량이 극히 작아 얼룩 분석이 가능한 화상을 얻기 위해서 상당한 시간이 필요하며, 20 니트(nit)를 초과하는 경우 피검사 편광판 또는 편광소자를 통과하는 광량이 너무 많아져 편광판의 얼룩 형태를 정밀하게 촬영하기 어려워지며, 그 결과 편광판의 얼룩을 정확히 검출하기 어려워지기 때문이다. 또한, 종래와 같이 기준 편광판의 흡수축과 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 직교하여 배치되는 경우 광원으로부터 피검사 편광판을 향해 광을 조사하여도 피검사 편광판을 통과하는 광량이 극히 작아 얼룩 분석하기 위한 화상을 얻는 과정이 오래 걸리게 되기 때문에, 일정한 광량을 확보하도록 기준 편광판의 흡수축과 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 기울어짐이 바람직하다.
Here, the term "nit" refers to the surface brightness having a luminance of 1 cd / m 2 or 0.00001 sb as a unit of luminance, and is inclined to the absorption axis of the subject polarizing plate or the polarizing element and the absorption axis of the reference polarizing plate so as to have a predetermined luminance range The arrangement is to easily obtain an image capable of analyzing the stain. Specifically, when the luminance of the mounted polarizer or polarizer is less than 2.5 nits (liters), the amount of light passing through the polarizer or the polarizer is extremely small, so it takes a considerable time to obtain an image capable of analyzing the blur And when it exceeds 20 nits (nit), the amount of light passing through the polarizing plate or the polarizing element to be inspected becomes too large, and it becomes difficult to precisely photograph the shape of the polarizing plate. As a result, it becomes difficult to accurately detect the unevenness of the polarizing plate . Further, when the absorption axis of the reference polarizing plate is orthogonally arranged with respect to the absorption axis of the target polarizing plate or the polarizing element as in the prior art, even when the light is irradiated from the light source toward the target polarizing plate, the amount of light passing through the target polarizing plate is extremely small, It is preferable that the absorption axis of the reference polarizing plate and the absorption axis of the polarizing plate or the polarizing plate to be inspected are inclined so as to secure a constant amount of light.

다음으로, 상기 광 조사 단계(S200)는, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)에 광을 조사하는 단계이다. 이 때, 광 조사에 이용하는 광원 수단(10)은 일반적으로 디스플레이 장치에 사용되는 백라이트 유닛 또는 LED 광원 등이 이용될 수 있으며, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 하부 즉 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 후면에 위치한다. 또한, 상기 광원 수단(10)의 세기는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자의 광 조사 시 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록 설정함이 바람직하다.
Next, the light irradiation step (S200) is a step of irradiating light to the subject polarizing plate or the polarizing element (30). In this case, the light source unit 10 used for the light irradiation may be a backlight unit or an LED light source generally used in a display device, and the lower part of the polarized light or polarized light 30 to be inspected, that is, Is located on the rear surface of the element (30). It is preferable that the intensity of the light source means 10 is set to be 2.5 to 20 nits (nits) upon irradiation of the polarizing plate or polarizing element to be inspected.

다음으로, 상기 촬영 단계(S300)는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계이다. 이 때, 촬영수단(50)은 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 상부 즉 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 전면에 위치하며, 일반 디지털 카메라, CCD 카메라, 고속 카메라 등일 수 있다.
Next, the photographing step S300 is a step of photographing the polarizing plate or the polarizing element to be inspected. At this time, the photographing means 50 is located at the front of the subject polarizing plate or the polarizing element 30, that is, the front face of the subject polarizing plate or the polarizing element 30, and may be a general digital camera, a CCD camera,

다음으로, 상기 얼룩 정량화 단계(S400)는 상기 촬영단계(S300)에서 촬영된 화상으로부터 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터를 이용하여 색차를 연산하며, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화한다. 이러한 과정은, 일반적으로 컴퓨터 등의 연산수단(60)에서 수행되어진다.
Next, the smear quantification step S400 extracts data from the photographed image in the photographing step S300, calculates a color difference using the extracted data, and calculates a degree of smear using the calculated color difference data . This process is generally performed by a computing means 60 such as a computer.

여기서, 상기 얼룩 정량화 단계(S400)는 구체적으로 다음과 같은 순서로 진행된다. 우선, 상기 촬영 단계(S300)에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출한다. 여기서, 상기 각 화소의 데이터는 위치 데이터 및 RGB 데이터를 포함한다(S410).
Here, the smear quantification step (S400) proceeds in the following order. First, data of each pixel constituting the image is extracted from the image photographed in the photographing step S300. Here, the data of each pixel includes position data and RGB data (S410).

다음으로, 상기 단계 S410에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 필요에 따라 포함할 수 있다(S420).
Next, in step S420, a data processing step of processing the data of each pixel extracted in step S410 so that the contrast ratio of the RGB data is high may be included.

여기서, 상기 데이터 가공단계(S420)는 데이터 변환단계(S421), 데이터 처리단계(S422), 데이터 재변환 단계(S423)로 이루어진다.
The data processing step S420 includes a data conversion step S421, a data processing step S422, and a data re-conversion step S423.

상기 데이터 변환단계(S421)는 상기 단계 S410에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암데이터(HSI 데이터)로 변환하는 단계로서 이는 RGB 데이터에 비해 HSI 데이터가 가공이 용이하기 때문이다.
The data conversion step S421 is a step of converting the RGB data among the data of each pixel extracted in step S410 into hue, saturation, and contrast data (HSI data) Because.

한편, 상기 데이터 처리 단계(S422)는 상기 데이터 변환단계(S421)에서 변환된 데이터로부터 명암데이터를 추출하여 히스토그램 균등화 처리하는 단계이다. 여기서, 히스토그램 균등화는 어둡게 촬영된 영상의 히스토그램을 조절하여 명암분포가 빈약한 영상을 균일하게 만들어 주는 프로세스로서, 영상의 밝기 분포를 재분배하여 명암대비를 최대화하는 역할을 하며, 히스토그램 균등화 처리는 종래 알려진 방법에 따라 진행된다.
Meanwhile, the data processing step S422 extracts the contrast data from the data converted in the data conversion step S421 and performs histogram equalization processing. Here, the histogram equalization is a process of uniformly rendering an image having a poor contrast distribution by adjusting the histogram of the darkly photographed image, maximizing the contrast by redistributing the brightness distribution of the image, and the histogram equalization process is known It proceeds according to the method.

한편, 상기 데이터 재변환 단계(S423)는 상기 명암데이터 추출단계(S422)에서 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와 상기 색상 및 채도 데이터를 결합하여 RGB 데이터로 재변환하는 단계이다.
Meanwhile, the data re-conversion step S423 is a step of combining the lightness and darkness data obtained by performing the histogram equalization in the lightness data extraction step S422 and combining the color and saturation data into RGB data.

다음으로, 상기 단계 S410에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사 영역을 설정한다(S430). 즉, 각 화소의 위치데이터를 이용하여 검사 영역을 설정한다.
Next, the position of each pixel is determined from the data extracted in step S410, and an inspection area is set (S430). That is, the inspection area is set using the position data of each pixel.

여기서, 검사 영역은 도 2에 도시된 바와 같이 촬영된 화상의 기계방향(MD, machine direction)에 대한 화소수의 1/10 이하의 화소들이 포함되는 것이 바람직하다. 이는 미세한 부분에 있는 얼룩(A)까지도 검출하여 정량화하기 위함이다. 만약 검사영역이 피검사 편광판 또는 편광소자의 기계방향(MD, machine direction)에 대한 화소수의 1/10을 초과하는 경우, 미세 얼룩에 대한 유효한 값을 얻기 어려워진다.
Here, as shown in FIG. 2, it is preferable that the inspection area includes pixels of 1/10 or less of the number of pixels for the machine direction (MD) of the photographed image. This is to detect and quantify even the minute spot A. If the inspection area exceeds 1/10 of the number of pixels for the machine direction (MD, machine direction) of the polarizing plate or the polarizing element to be inspected, it becomes difficult to obtain a valid value for fine stain.

또한, 상기 촬영된 화상의 기계방향(MD, machine direction)으로 적어도 10개의 화소, 바람직하게는 100 개 이상의 화소를 포함한다. 이는 미세 얼룩의 정량화에 있어서 효율성을 확보하기 위함이다.
In addition, it includes at least 10 pixels, preferably 100 or more pixels in the machine direction (MD) of the photographed image. This is to ensure efficiency in quantifying fine stains.

다음으로, 상기 단계 S430에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 단계 S410에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 측정한다(S440). 즉, 검사 영역 내 각 화소의 RGB 데이터로부터 색좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산한다.
Next, in step S430, the color coordinates of each pixel are obtained from the data extracted in step S410, and the color difference of each pixel is measured in step S440. In other words, the color coordinates of each pixel are calculated by grasping the color coordinates from the RGB data of each pixel in the inspection region.

구체적으로 색차 연산 과정은, 촬영된 화상의 전체 영역에서 모든 화소의 색좌표(예를 들면, CIELAB's 색좌표 (L*,a*,b*))를 확인하여 최빈값을 기준값으로 설정하고(기준값의 색좌표 (L1 *, a1 *, b1 *)), 상기 설정된 검사 영역 내의 모든 화소(각 화소의 색좌표 (L2 *, a2 *, b2 *)) 에 대해 하기 식 1에 따라 색차를 연산한다. Specifically, the color difference calculation process checks the color coordinates (e.g., CIELAB's color coordinates (L * , a * , b * )) of all the pixels in the entire area of the photographed image, sets the mode as the reference value L 1 *, a 1 *, b 1 *)), the set all of the pixels (color coordinates of the pixels (L 2 in the inspection area *, a 2 *, b 2 *)) calculates the color difference according to the following formula 1 for do.

[식 1][Formula 1]

Figure 112011031808556-pat00001
Figure 112011031808556-pat00001

여기서, 기준값의 색좌표는 (L1 *, a1 *, b1 *)이며, 각 화소의 색좌표 (L2 *, a2 *, b2 *)이고, △Eab *는 각 화소에서의 색차이다.
Here, the color coordinates of the reference value are (L 1 * , a 1 * , b 1 * ), the color coordinates (L 2 * , a 2 * , b 2 * ) of each pixel, and ΔE ab * to be.

다음으로, 상기 단계 S440에서 연산된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대해 평균화한다(S450). 이는, 검사 영역의 각 열의 색차값을 평균화하는 것을 말한다.
Next, the chrominance data of each pixel calculated in step S440 is averaged with respect to the machine direction (MD) (S450). This means that the color difference values of the respective columns in the inspection region are averaged.

다음으로, 상기 단계 S450에서 평균화된 색차의 평균값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭값을 계산한다(S460). 이 때, 횡방향(TD, transverse direction)으로 색차의 평균값을 확인하면서 국부적인 최대 및 최소 값을 확인하고, 국부적인 색차의 진폭값이 기 설정된 임계값보다 큰 경우에 그 값을 저장하고, 저장된 값을 이용하여 최대 색차 진폭 값을 계산한다. 여기서, 기 설정된 임계값은 임의의 값일 수 있으나, 일반적으로 노이즈로 판단되어질 수 있는 최대의 진폭값을 말한다.
Next, in step S460, the maximum color difference amplitude value is calculated by analyzing the average value of the chrominance averaged in step S450 in the transverse direction (TD). At this time, the local maximum and minimum values are checked while checking the average value of the chrominance in the transverse direction (TD), and when the amplitude value of the local chrominance is larger than the predetermined threshold value, the value is stored and stored Value is used to calculate the maximum color difference amplitude value. Here, the predetermined threshold value may be any value, but generally refers to a maximum amplitude value that can be judged as noise.

다음으로, 상기 단계 S460에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 비교하여 매칭함으로써, 피검사 편광판 또는 편광소자의 얼룩 정도를 정량화한다(S470). 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터의 일례로서, 최대 색차 진폭값의 크기가 0~4인 경우 수치데이터를 5, 5~8인 경우 4, 9~12인 경우 3, 13~16인 경우 2, 17 이상인 경우는 수치데이터를 1로 할 수 있다. 여기서, 상기 수치데이터 중 5는 육안으로 관찰 시 얼룩이 보이지 않는 경우와 일치하며, 1은 육안으로 관찰시 얼룩이 가장 심한 경우와 일치한다.
Next, the maximum color difference amplitude value calculated in step S460 is compared with the numerical data indicating the degree of the predetermined smear to match the degree of smear of the polarizing plate or polarizing element to be inspected (S470). As an example of numerical data representing the degree of the predetermined smudge, numerical data is 5, 5 to 8, 3, 9 to 12, 3, 13 to 16 when the size of the maximum color difference amplitude value is 0 to 4 , And when the number is 17 or more, the numerical data can be set to 1. Here, 5 of the numerical data corresponds to a case where no unevenness is observed when viewed with naked eyes, and 1 corresponds to a case where unevenness is most severe when observed with naked eyes.

한편, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 상기 단계 S470 이후에, 상기 단계 S470에서 정량화된 수치 데이터를 가시화할 수도 있다. 여기서, 수치 데이터를 가시화하는 수단은 모니터 등의 디스플레이 등이 이용될 수 있다.
Meanwhile, in the method for automatically checking the unevenness of the polarizer using the color difference analysis of the present invention, after the step S470, the numerical data quantified in the step S470 may be visualized. Here, the means for visualizing the numerical data may be a display such as a monitor or the like.

상술한 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 따르면, 촬영시 피검사 편광판의 휘도가 일정 범위 확보되어, 얼룩을 분석하기에 적합한 영상을 용이하게 얻을 수 있고, 촬영된 영상으로부터 추출한 데이터를 명암비가 높아지도록 처리함으로써, 보다 정확하게 미세 얼룩을 검출할 수 있으며, 객관적인 기준을 통해 편광판의 얼룩 정도를 수치화하므로, 제품의 품질을 일정하게 유지할 수 있다는 장점이 있다.
According to the above-described automatic method for checking the unevenness of the polarizer using the color difference analysis of the present invention, the brightness of the polarizing plate to be inspected can be secured within a certain range at the time of photographing so that an image suitable for analyzing the stain can be easily obtained, The fine stain can be detected more accurately, and the degree of staining of the polarizing plate is numerically quantified through objective criteria, so that the quality of the product can be kept constant.

이하, 구체적인 실시예를 통해 본 발명에 대해 보다 상세히 설명한다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to specific examples.

[실시예 1][Example 1]

미연신 PVA 필름을 염착조 온도를 25~30℃, 체류 시간 1~5분으로 하여 염색한 후, 5~6배로 연신하여 편광 소자를 제조하였다. 편광소자의 보호필름은 UZ Grade에 두께는 80㎛이고, 헤이즈(Haze)가 존재하는 보호필름을 사용하였다.
The unstretched PVA film was dyed at a salt-bath temperature of 25 to 30 ° C and a residence time of 1 to 5 minutes, and then stretched to 5 to 6 times to prepare a polarizing element. The protective film of the polarizing element was a protective film having a thickness of 80 mu m and haze in UZ Grade.

이렇게 제조된 편광판을 기준 편광판(LG화학 제조, RB60SR10, 단체투과도 39.7%)위에 장착한 후, 42인치 백라이트(LG Display, 색온도 10,000K)로 광조사한다. 광 조사시, 상기 제조된 편광판의 휘도가 5 nit가 되도록, 그 흡수축을 상기 기준 편광판의 흡수축에 기울여 배치시킨다. 그 후 상기 백라이트 위에서 디지털 카메라(Nikon, D3100 Zoom lens)로 촬영한 후, 상기 촬영된 화상을 컴퓨터로 전송하였다. 상기 컴퓨터는 전송된 화상으로부터 각 화소의 데이터들을 추출하고, 그 추출된 데이터 중 RGB 데이터를 색상, 명암 및 채도 데이터(HSI 데이터)로 변환하고, 그 변환된 HSI 데이터로부터 명암데이터를 추출하여 히스토그램 균등화처리를 한 후, 균등화 처리된 명암데이터와 색상 및 채도 데이터를 결합하여 HSI 데이터를 RGB 데이터로 재변환하였다. 4608X3000의 화소수를 가지는 화상 전체를 10개의 영역으로 분할한 다음, 각각의 검사 영역 내에서 4608X300개의 모든 화소의 색차를 계산하고 기계방향으로 300개의 화소의 색차값을 평균화한 다음, 횡방향으로 4608개의 평균 색차값을 분석하여 검사영역에서의 최대 진폭값을 계산, 저장하고, 저장된 값들을 가시화하도록 프로그램을 수행하였다. 여기서 사용된 프로그램은 Image J와 C++로 만들어진 소스를 활용하였다. 또한, 저장된 최대 진폭값과 기 설정된 얼룩 정도를 나타내는 수치데이터를 대비하여 얼룩 정도를 정량화하였다. 기설정된 수치데이터는 색차의 진폭값의 크기가 0~4인 경우 5, 5~8인 경우 4, 9~12인 경우 3, 13~16인 경우 2, 17 이상인 경우는 1로 하였다. 상기 수치데이터 중 5는 육안으로 관찰 시 얼룩이 보이지 않는 경우와 일치하며, 1은 육안으로 관찰시 얼룩이 가장 심한 경우와 일치한다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
The thus prepared polarizing plate was mounted on a reference polarizing plate (manufactured by LG Chemical, RB60SR10, unit permeability: 39.7%), and then irradiated with a 42-inch backlight (LG Display, color temperature 10,000K). At the time of light irradiation, the absorption axis of the prepared polarizing plate is inclined to the absorption axis of the reference polarizing plate such that the brightness of the polarizing plate is 5 nit. Thereafter, the image was photographed by a digital camera (Nikon, D3100 Zoom lens) on the backlight, and the photographed image was transferred to a computer. The computer extracts data of each pixel from the transmitted image, converts RGB data among the extracted data into hue, contrast, and saturation data (HSI data), extracts contrast data from the converted HSI data, After the processing, the HSI data was converted back to RGB data by combining the equalized lightness data and the hue and saturation data. The entire image having the number of pixels of 4608X3000 is divided into ten regions, the chrominance of all 4608X300 pixels in each inspection region is calculated, the chrominance values of 300 pixels in the machine direction are averaged, The average color difference value of each pixel is analyzed to calculate and store the maximum amplitude value in the inspection region, and the stored values are visualized. The program used here was based on a source made with Image J and C ++. In addition, the degree of staining was quantified by comparing the stored maximum amplitude value with numerical data indicating the degree of predetermined staining. The preset numerical data were set to 5, 5 to 8, 4 to 9 to 12, 2 to 13 to 16, and 1 to 17, respectively. 5 of the numerical data corresponds to a case in which no unevenness is observed in the naked eye, and 1 corresponds to a case in which unevenness in the naked eye is most severe. Table 1 shows the maximum amplitude value and the degree of staining of the polarizing plate to be inspected.

[실시예 2][Example 2]

WVEA(제조사: 주식회사 후지필름)와 UZ Clear TAC(제조사: 주식회사 후지필름)으로 이루어지며 두께는 60㎛인 보상필름이 추가된 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
A polarizing plate was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a compensating film made of WVEA (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) and UZ Clear TAC (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) The polarizer was calculated in the same manner as in Example 1, and the degree of staining was quantified. Table 1 shows the maximum amplitude value and the degree of staining of the polarizing plate to be inspected.

[실시예 3][Example 3]

편광소자를 보호하는 필름의 종류를 UZ 와 UZ Clear 60㎛으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
A polarizing plate was prepared in the same manner as in Example 1 except that the type of the film for protecting the polarizing element was changed to UZ and UZ Clear 60 탆. The polarizing plate thus prepared was subjected to the same calculation as in Example 1, The degree of staining was quantified. Table 1 shows the maximum amplitude value and the degree of staining of the polarizing plate to be inspected.

[실시예 4][Example 4]

편광소자를 보호하는 필름의 종류를 Hard Coating Grade(제조사: 주식회사 코니카)와 UZ Clear 40㎛(제조사: 주식회사 코니카)으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
A polarizing plate was prepared in the same manner as in Example 1, except that the type of the film for protecting the polarizing element was changed to Hard Coating Grade (Konica Co., Ltd.) and UZ Clear 40 μm (manufacturer: Konica Corp.) The polarizer was calculated in the same manner as in Example 1, and the degree of staining was quantified. Table 1 shows the maximum amplitude value and the degree of staining of the polarizing plate to be inspected.

[실시예 5][Example 5]

미연신 PVA 필름을 염착조 온도를 25~30℃, 체류 시간 1~5분으로 하여 염색한 후, 5~6배로 연신하여 편광 소자를 제조하였다. 편광소자의 보호필름을 WVEA와 UZ Haze로 이루어지며 두께는 60㎛인 필름을 사용하였다. 이렇게 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩의 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.The unstretched PVA film was dyed at a salt-bath temperature of 25 to 30 ° C and a residence time of 1 to 5 minutes, and then stretched to 5 to 6 times to prepare a polarizing element. The protective film of the polarizing element was made of WVEA and UZ haze, and a film having a thickness of 60 μm was used. The thus-prepared polarizing plate was subjected to calculation of the amplitude in the same manner as in Example 1, and the degree of staining was quantified. Table 1 shows the maximum amplitude value and the degree of staining of the polarizing plate to be inspected.

색차 최대 진폭값Color difference maximum amplitude value 얼룩의 정도를 나타내는 수치A number indicating the degree of staining 실시예 1Example 1 9.289.28 33 실시예 2Example 2 6.326.32 44 실시예 3Example 3 3.823.82 55 실시예 4Example 4 23.6323.63 1One 실시예 5Example 5 12.7812.78 22

상기 표 1에 따르면, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 계산된 최대 진폭 값을 이용하여 얼룩의 정도를 정량화하였음을 확인할 수 있다. 또한, 이렇게 정량화된 얼룩의 정도는 육안으로 관찰한 경우의 얼룩 정도와 일치하므로, 본 발명의 방법으로 측정된 최대 진폭 값이 편광판 얼룩(줄무늬)의 시인성을 대변할 수 있는 효과를 갖는다. According to Table 1, it can be confirmed that the degree of the smear is quantified by using the maximum amplitude value calculated by the polarizing plate automatic smear check method using the color difference analysis of the present invention. In addition, since the degree of staining thus quantified corresponds to the degree of staining observed with the naked eye, the maximum amplitude value measured by the method of the present invention has an effect that it can represent the visibility of the polarizing plate unevenness (stripe).

10 광원
20 기준 편광판
30 피검사 편광판 또는 편광소자
50 촬영 장치
60 연산 수단
70 디스플레이
A 얼룩
10 light sources
20 reference polarizer
30 Inspection Polarizer or Polarizer
50 photographing device
60 operating means
70 display
A stain

Claims (16)

(a) 흡수축이 평행한 적어도 2장 이상의 기준 편광판 사이에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계;
(b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계;
(b-1) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광 소자를 회전시키는 회전단계;
(c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및
(d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
(a) mounting a polarizing plate or polarizing element to be inspected between at least two reference polarizing plates whose absorption axes are parallel;
(b) irradiating light to the subject polarizing plate or the polarizing element;
(b-1) rotating the to-be-tested polarizing plate or the polarizing element such that a brightness of the target polarizing plate or the polarizing element is 5 to 10 nit;
(c) photographing the subject polarizing plate or the polarizing element; And
(d) calculating a chrominance of each pixel by using the data extracted from the image photographed in the step (c), and quantifying the degree of the stain using the calculated chrominance data, Automatic inspection method of stains.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 상기 (d) 단계는,
(d-1) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출하는 단계;
(d-2) 상기 (d-1) 단계에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사영역을 설정하는 단계;
(d-3) 상기 (d-2) 단계에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 (d-1)에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산하는 단계;
(d-4) 상기 (d-3) 단계에서 연산된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대하여 평균화하는 단계;
(d-5) 상기 (d-4) 단계에서 평균화된 값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭값을 계산하는 단계; 및
(d-6) 상기 (d-5) 단계에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 대비하여 얼룩의 정도를 정량화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
The method of claim 1, wherein the step (d)
(d-1) extracting data of each pixel constituting the image from the image photographed in the step (c);
(d-2) setting an inspection region by grasping the position of each pixel from the data extracted in the step (d-1);
(d-3) calculating chrominance of each pixel by grasping the color coordinates of each pixel from the data extracted in (d-1) in the inspection region set in the step (d-2);
(d-4) averaging the chrominance data of each pixel calculated in the step (d-3) with respect to the machine direction (MD);
(d-5) calculating a maximum color difference amplitude value by analyzing a value averaged in the step (d-4) in a transverse direction (TD); And
(d-6) quantifying the degree of smear by comparing the maximum color difference amplitude value calculated in the step (d-5) with numerical data representing the degree of predetermined smear, Way.
제12항에 있어서, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터는 RGB 데이터와 위치데이터를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.
The method of claim 12, wherein the data of each pixel extracted in step (d-1) is subjected to color difference analysis including RGB data and position data.
제13항에 있어서, 상기 (d-1) 단계와 상기 (d-2) 단계 사이에,
상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.
14. The method of claim 13, further comprising, between (d-1) and (d-2)
And a data processing step of processing the data of each pixel extracted in the step (d-1) so that the contrast ratio of the RGB data is high.
제14항에 있어서, 상기 데이터 가공단계는,
상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암 데이터로 변환하는 데이터 변환 단계;
상기 변환된 데이터로부터 명암데이터를 분리하여 히스토그램 균등화 처리를 하는 데이터 처리 단계; 및
상기 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와, 상기 색상 및 채도 데이터를 RGB 데이터로 재변환하는 데이터 재변환 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
15. The method according to claim 14,
A data conversion step of converting the RGB data among the data of each pixel extracted in the step (d-1) into color, saturation, and contrast data;
A data processing step of separating the contrast data from the converted data and performing a histogram equalization process; And
And a data re-conversion step of re-converting the histogram equalized lightness data and the hue and saturation data into RGB data.
제1항에 있어서, 상기 (d) 단계 이후에 상기 (d) 단계에서 수치화된 얼룩의 정도를 가시화하는 단계를 더 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.The method of claim 1, further comprising the step of visualizing the degree of staining quantified in the step (d) after the step (d).
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