KR20150125155A - Apparatus and method for brightness uniformity inspecting of display panel - Google Patents

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KR20150125155A
KR20150125155A KR1020140051931A KR20140051931A KR20150125155A KR 20150125155 A KR20150125155 A KR 20150125155A KR 1020140051931 A KR1020140051931 A KR 1020140051931A KR 20140051931 A KR20140051931 A KR 20140051931A KR 20150125155 A KR20150125155 A KR 20150125155A
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Abstract

An apparatus for inspecting the brightness uniformity of a display panel according to an embodiment may include an image photographing part which collects the image of a display panel, an image extraction part which analyzes distorted image information from the collected image, corrects the analyzed distorted image information and reconstructs an image, and a brightness compensation part which measures brightness uniformity from the reconstructed image from the image extraction part and extracts a compensation value. According to an embodiment, the distortion of an image by the insertion of foreign substance and other media into a display panel is removed. So, the brightness uniformity of the display panel can be effectively measured.

Description

표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법{APPARATUS AND METHOD FOR BRIGHTNESS UNIFORMITY INSPECTING OF DISPLAY PANEL}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an apparatus and method for checking brightness uniformity of a display panel,

실시예는 표시장치의 휘도 균일도를 검사 및 보상하기 위한 휘도 균일도 검사장치에 관한 것이다.The embodiment relates to a luminance uniformity checking apparatus for checking and compensating the luminance uniformity of a display apparatus.

최근 정보화 사회가 발전함에 따라 디스플레이 분야에 대한 요구도 다양한 형태로 증가하고 있으며, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비 전력화 등의 특징을 지닌 여러 평판표시장치(Flat Panel Display Device),예를 들어, 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel Device), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display Device) 등이 연구되고 있다.2. Description of the Related Art [0002] With the recent development of an information society, demands for the display field have been increasing in various forms, and a variety of flat panel display devices having characteristics such as thinning, light weight, and low power consumption have been developed, A liquid crystal display device, a plasma display panel device, and an organic light emitting diode display device have been studied.

표시장치의 제조공정은 표시패널을 제조하는 공정과 완성된 표시패널에 대한 휘도 균일도를 검사하는 공정 등을 포함한다. 종래 표시패널의 휘도 균일도 검사는 왜곡을 발생시킬 수 있는 매개체와 주변 환경을 배제한 상태에서 영상 촬영 장치를 이용하여 패널의 실질적인 영상을 촬영하여 휘도 균일도를 검사하고 보상을 수행한다.The manufacturing process of the display device includes a process of manufacturing the display panel and a process of checking the luminance uniformity of the completed display panel. Conventionally, the luminance uniformity inspection of a display panel is performed by taking a substantial image of a panel using a photographing apparatus in a state in which distortion and an environment are excluded, and checking luminance uniformity and performing compensation.

하지만, 패널의 전후면에 부착되는 편광필름, 보호필름 등의 매개체 또는 긁힘, 이물질에 의해 표시패널의 휘도의 왜곡이 발생되고 이로 인해 표시패널의 휘도 균일도 측정 효율을 떨어뜨리게 된다.However, the brightness of the display panel is distorted by the medium such as a polarizing film or a protective film adhered to the front and rear surfaces of the panel, scratches or foreign substances, and the efficiency of measuring the luminance uniformity of the display panel is lowered.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예는 왜곡된 휘도로 인해 휘도 균일도의 측정 효율이 떨어지는 것을 방지하기 위한 휘도 균일도 검사장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.In order to solve the above-described problems, it is an object of the present invention to provide a luminance uniformity checking apparatus for preventing a measurement efficiency of luminance uniformity from being degraded due to distorted luminance.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치는 표시패널의 영상을 수집하는 영상 촬영부와, 상기 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 분석된 왜곡된 휘영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부와, 상기 영상 추출부로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided an apparatus for checking luminance uniformity of a display panel, including: an image capturing unit for capturing an image of a display panel; and a controller for analyzing distorted image information from the collected image, An image extracting unit for reconstructing the image by correcting the image information, and a luminance compensating unit for measuring the luminance uniformity from the reconstructed image and extracting the compensation value.

또한, 상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사방법은 표시패널의 영상을 수집하는 단계와, 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하는 단계와, 상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계와, 상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 측정하는 단계와, 상기 휘도 균일도에 따른 패널의 보상 데이터를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of checking luminance uniformity of a display panel, comprising: collecting an image of a display panel; analyzing distorted image information from the collected image; A step of reconstructing an image by correcting the luminance uniformity of the reconstructed image, a step of measuring luminance uniformity of the reconstructed image, and a step of measuring compensation data of the panel according to the luminance uniformity.

실시예는 표시패널에 다른 매개체 및 이물질의 삽입에 의한 영상의 왜곡을 제거함으로써, 보다 효과적으로 표시패널의 휘도 균일도를 측정할 수 있는 효과가 있다.The embodiment has an effect that the luminance uniformity of the display panel can be measured more effectively by eliminating the distortion of the image due to the insertion of the other medium and the foreign substance into the display panel.

또한, 실시예는 표시패널의 휘도 균일도를 측정하여 보상 값을 제공함으로써, 표시패널의 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the embodiment has an effect of improving the productivity of the display panel by providing the compensation value by measuring the luminance uniformity of the display panel.

도 1은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치를 나타낸 블럭도이다.
도 2는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 나타낸 순서도이다.
도 3 내지 도 8은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법의 세부 동작을 나타낸 도면이다.1 is a block diagram showing an apparatus for checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment.
2 is a flowchart illustrating a method of checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment.
FIGS. 3 to 8 are views illustrating detailed operations of the method of checking the luminance uniformity of the display panel according to the embodiment.

이하, 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치를 나타낸 블럭도이다. 1 is a block diagram showing an apparatus for checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치는 영상 촬영부(100)와, 상기 영상 촬영부(100)로부터 수집된 영상의 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 왜곡된 영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부(200)와, 상기 영상 추출부(200)로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부(300)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, an apparatus for checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment of the present invention includes an image capturing unit 100, a display unit 120 for analyzing distorted image information of the image collected from the image capturing unit 100, And a luminance compensator 300 for measuring luminance uniformity from the image reconstructed from the image extractor 200 and extracting a compensation value from the reconstructed image.

영상 촬영부(100)는 영상이 표시되는 표시패널을 촬영할 수 있다. 이러한 영상 촬영부(100)로는 비전 카메라. CCD 카메라 또는 이미지 센서일 수도 있다. 영상 촬영부(100)는 이에 한정되지 않으며, 영상을 촬영할 수 있다면 다양한 영상 촬영 장치가 사용될 수 있다. 표시패널은 액정패널, OLED 패널 등 다양한 표시패널을 포함할 수 있다.The image capturing unit 100 can photograph a display panel on which an image is displayed. The image capturing unit 100 includes a vision camera. A CCD camera or an image sensor. The image capturing unit 100 is not limited thereto, and various image capturing apparatuses can be used as long as they can capture images. The display panel may include various display panels such as a liquid crystal panel, an OLED panel, and the like.

영상 촬영부(100)로부터 촬영된 영상에는 매채체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡이 발생된 영상, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상일 수 있다. 매개체로는 표시패널의 일측에 부착된 편광 필름, 보호 필름. 터치패널, ENI 필터 등 다양한 구성 요소일 수 있다.The image photographed by the image capturing unit 100 includes an image in which distortion caused by the refraction of light due to a hybrid body is generated, an image in which distortion due to transparency or transparency of the medium is generated, reflections of light generated by the medium, Distortion is caused by a pattern existing in the image or medium in which the distortion due to the image is generated, an image in which distortion is caused by the sensor characteristic of the image sensing unit, a foreign matter such as a touch panel, EMI filter, Lt; / RTI > The medium is a polarizing film attached to one side of the display panel, a protective film. Touch panel, ENI filter, and the like.

영상 촬영부(100)는 매개체가 부착된 상태에서 영상을 촬영하여 왜곡된 휘도 정보를 포함하는 영상을 수집할 수 있다.The image capturing unit 100 may capture an image including the distorted brightness information by capturing an image in a state where the medium is attached.

영상 추출부(200)는 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상을 감쇄시키도록 영상을 재구성하여 추출할 수 있다. 이러한 영상 추출부(200)는 영상 왜곡 분석부(230)와, 패널 영상 추출부(250)를 포함할 수 있다. 여기서, 영상 추출부(200)는 전처리부(210)와 후처리부(270)를 더 포함할 수 있다. 전처리부(210)와 후처리부(270)는 휘도 정보의 분석 및 추출한 영상으로부터 데이터를 산출하기 위해 필요한 처리를 수행할 수 있다. 여기서, 전처리부(210)와 후처리부(270)는 생략될 수 있다.The image extracting unit 200 can reconstruct an image so as to attenuate the distorted image from the collected image. The image extracting unit 200 may include an image distortion analyzing unit 230 and a panel image extracting unit 250. Here, the image extracting unit 200 may further include a pre-processing unit 210 and a post-processing unit 270. The preprocessing unit 210 and the post-processing unit 270 may perform processing necessary for analyzing the luminance information and calculating data from the extracted image. Here, the pre-processing unit 210 and the post-processing unit 270 may be omitted.

영상 왜곡 분석부(230)는 다수의 영상을 이용하여 왜곡된 영상을 분석할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 휘도 정보를 이용하여 왜곡된 영상을 분석할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 휘도 값의 측정값이 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 n개 이상 예컨대, 3개 이상의 영상을 이용하여 영상을 서로 비교할 수 있다. The image distortion analyzing unit 230 may analyze the distorted image using a plurality of images. The image distortion analyzer 230 may analyze the distorted image using the luminance information. The image distortion analyzer 230 may compare a plurality of images and determine that the image is a distorted image if the measured value of the luminance value of the specific area is equal to or greater than a threshold value. The image distortion analyzer 230 can compare images using n or more images, for example, three or more images.

패널 영상 추출부(250)는 왜곡된 영상을 감쇄시켜 영상을 재구성할 수 있다. 패널 영상 추출부(250)는 왜곡된 영상 영역의 휘도 정보를 감쇄시킬 수 있으며, 이로부터 왜곡 영상이 거의 제거된 패널 영상을 추출할 수 있게 된다.The panel image extracting unit 250 can reconstruct the image by attenuating the distorted image. The panel image extracting unit 250 can attenuate the luminance information of the distorted image region and extract the panel image from which the distorted image is almost removed.

휘도 보상부(300)는 왜곡 영상의 거의 제거된 패널 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출할 수 있다. 이러한 휘도 보상부(300)는 보상 타겟 생성부(310)와 보상 데이터 산출부(330)를 포함할 수 있다.The luminance compensation unit 300 can measure the luminance uniformity from the almost eliminated panel image and extract the compensation value. The luminance compensation unit 300 may include a compensation target generating unit 310 and a compensation data calculating unit 330. [

보상 타겟 생성부(310)는 왜곡 영상이 거의 제거된 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정할 수 있다. 보상 데이터 산출부(330)는 휘도 차이가 나는 영역 해당하는 휘도 값을 보상할 수 있도록 보상값을 산출할 수 있다.The compensation target generation unit 310 can measure the luminance uniformity from the reconstructed image in which the distortion image is almost eliminated. The compensation data calculation unit 330 may calculate the compensation value to compensate for the luminance value corresponding to the area where the luminance difference is generated.

따라서, 휘도 보상부(300)로부터 산출된 휘도 보상값은 표시패널을 구동하는 티콘(T-con)에 공급되어 표시패널의 휘도를 균일하게 할 수 있다.
Accordingly, the luminance compensation value calculated from the luminance compensator 300 is supplied to the T-con driving the display panel, so that the luminance of the display panel can be made uniform.

이하에서는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 보다 상세하게 설명하기로 한다. 도 2는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 나타낸 순서도이고, 도 3 내지 도 8은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법의 세부 동작을 나타낸 도면이다.Hereinafter, a method of checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment will be described in more detail. FIG. 2 is a flowchart illustrating a method of checking luminance uniformity of a display panel according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 to 8 are detailed operations of a method of checking a luminance uniformity of a display panel according to an embodiment.

도 2를 참조하면, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사방법은 표시패널의 영상을 수집하는 단계(S100)와, 수집된 영상으로부터 왜곡된 휘도 정보를 분석하는 단계(S110)와, 상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계(S120)와, 상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 검사하는 단계(S130)와, 상기 휘도 균일도에 따른 패널 보상 데이터를 측정하는 단계(S140)와, 패널 보상 데이터를 적용하는 단계(S150)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, a method of checking brightness uniformity of a display panel according to an exemplary embodiment includes a step S100 of collecting an image of a display panel, a step S110 of analyzing distorted luminance information from the collected image, (S140) of adjusting the luminance uniformity of the reconstructed image (S140), measuring the luminance uniformity of the reconstructed image (S140) And applying data (S150).

도 3에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부(100)는 표시패널(400)의 일측을 촬영하여 영상을 수집할 수 있다. 표시패널(400)의 전면 및 후면에는 각각 별도의 매개체(410,420)가 더 배치될 수 있다. 매개체(410,420)는 편광 필름, 보호필름, 터치패널, EMI 필터 등을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 3, the image capturing unit 100 may capture one side of the display panel 400 and collect images. Further, separate media 410 and 420 may be disposed on the front and rear surfaces of the display panel 400, respectively. The mediums 410 and 420 may include polarizing films, protective films, touch panels, EMI filters, and the like.

도 4에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부(100)로부터 수집된 영상은 휘도 왜곡(112)이 발생된 영상일 수 있다. 왜곡(112)이 발생한 영상은 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡을 포함한 영상(110)일 수 있다.As shown in FIG. 4, the image collected from the image capturing unit 100 may be an image in which the luminance distortion 112 is generated. The image in which the distortion 112 is generated may be the image 110 including the distortion due to polarization and opacity of the medium.

이와 다르게, 도 5에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부로부터 수집된 영상은 매개체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상(120)이거나, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상(130)이거나, 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상(140) 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상(150)일 수 있다.Alternatively, as shown in FIG. 5, the image collected from the image capturing unit may be an image 120 in which distortion caused by the refraction of light by the medium is generated, or reflected or refracted by the medium A distorted image 130 or an image 140 or a display panel on which distortions are generated due to a pattern existing in the medium and sensor characteristics of the image sensing unit, a touch panel attached to the display panel, an EMI filter, The image 150 may be distorted.

상기에서와 같이, 왜곡이 발생한 영상(110)이 수집되면, 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상을 분석하는 단계(S110)를 수행할 수 있다. 왜곡 영상은 동일한 조건으로 여러 장의 왜곡이 발생한 영상을 더 수집하고, 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 차이값에 의해 왜곡 영상을 판단할 수 있다. 보다 상세하게는 특정 영역의 휘도 값의 차이가 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단할 수 있다.As described above, when the distorted image 110 is collected, the distorted image may be analyzed (S110) from the collected image. The distorted image may further include an image in which a plurality of distorted images are generated under the same condition, and a plurality of images may be compared to determine a distorted image by a difference value of a specific area. More specifically, if the difference in the luminance value of the specific region is equal to or greater than the threshold value, it can be determined that the image is distorted.

수집된 영상으로부터 왜곡 영상의 분석을 마치면, 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계(S120)를 수행할 수 있다.After analyzing the distorted image from the collected image, a step of reconstructing the image by correcting the distorted image (S120) may be performed.

왜곡 영상의 보정은 왜곡 영상이 발생한 영역의 휘도 값을 감쇄시켜 보정할 수 있으며, 도 6에 도시된 바와 같이, 왜곡된 영상이 거의 제거된 상태의 표시패널의 영상(110)을 수집할 수 있게 된다.The correction of the distorted image can be performed by attenuating the brightness value of the area where the distorted image is generated. As shown in FIG. 6, the image 110 of the display panel in which the distorted image is almost removed can be collected do.

왜곡 영상이 거의 제거된 표시패널의 영상(110)이 수집되면 표시패널의 휘도 균일도를 측정하는 단계(S130)를 수행할 수 있다.When the image 110 of the display panel in which the distorted image is almost removed is collected, the luminance uniformity of the display panel may be measured (S130).

도 7에 도시된 바와 같이, 휘도 균일도는 재구성된 영상(110)의 전 영역에서의 휘도 균일도를 측정할 수 있으며, 각 영역에 따라 휘도 정보를 그래프로 나타낼 수 있다. 이로부터 영상의 휘도 균일도를 측정할 수 있게 된다.As shown in FIG. 7, the luminance uniformity can measure the luminance uniformity in the entire region of the reconstructed image 110, and the luminance information can be graphically represented according to each region. From this, it becomes possible to measure the luminance uniformity of the image.

상기와 같이, 각 영역에서의 휘도 정보가 수집되면 그래프 정보에 따라 표시패널의 보상 데이터를 계산(S140)하게 되고, 계산된 보상 데이터를 패널을 구동시키는 T-con에 전송(S150)하여 표시패널의 휘도를 보상할 수 있다.As described above, when the luminance information in each area is collected, compensation data of the display panel is calculated according to the graph information (S140), and the calculated compensation data is transmitted to the T-con driving the panel (S150) Can be compensated for.

실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치에 의해 도 8에 도시된 바와 같이, 표시패널의 실제 영상(110)은 휘도가 균일한 영상을 얻을 수 있게 된다.
8, the real image 110 of the display panel can obtain an image having a uniform brightness by the apparatus for checking the uniformity of luminance of the display panel according to the embodiment.

상기에서는 도면 및 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the following claims. It will be possible.

100: 영상 촬영부 200: 영상 추출부
230: 영상 왜곡 분석부 250: 패널 영상 추출부
300: 휘도 보상부 310: 보상 타겟 생성부
330: 보상 데이터 산출부 400: 표시 패널100: image capturing unit 200:
230: Image Distortion Analysis Unit 250: Panel Image Extraction Unit
300: luminance compensator 310: compensation target generator
330: compensation data calculation unit 400: display panel

Claims (10)

표시패널의 영상을 수집하는 영상 촬영부;
상기 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 분석된 왜곡된 휘영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부; 및
상기 영상 추출부로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부;
를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.An image capturing unit for capturing an image of a display panel;
An image extracting unit for analyzing distorted image information from the collected image and reconstructing the image by correcting the analyzed distorted image information; And
A luminance compensation unit for measuring luminance uniformity from the reconstructed image and extracting a compensation value from the reconstructed image;
And a display unit for displaying the luminance uniformity of the display panel. 제 1 항에 있어서,
상기 영상 추출부는 수집된 다수의 영상을 재배치하는 전처리부와, 상기 전처리로부터 재배치된 다수의 영상을 이용하여 왜곡된 영상을 분석하는 영상 왜곡 분석부와, 상기 영상 왜곡 분석부로부터 분석된 왜곡된 영상의 휘도 정보를 감쇄시켜 영상을 재구성하는 패널 영상 추출부를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.The method according to claim 1,
The image extracting unit may include a preprocessor for rearranging the plurality of collected images, an image distortion analyzing unit for analyzing the distorted images using the plurality of images rearranged from the preprocessing, And a panel image extracting unit for reconstructing the image by attenuating the luminance information of the display panel. 제 2 항에 있어서,
상기 전처리부는 3개 이상의 영상을 수집하여 재배치하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.3. The method of claim 2,
Wherein the preprocessing unit collects and rearranges three or more images. 제 3 항에 있어서,
상기 영상 왜곡 분석부는 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 휘도 값의 차이가 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.The method of claim 3,
Wherein the image distortion analyzer compares a plurality of images and determines that the image is a distorted image if a difference in luminance value of a specific region is equal to or greater than a threshold value. 제 2 항에 있어서,
상기 휘도 보상부는 재구성된 영상으로부터 영상의 휘도 균일도를 측정하는 보상 타겟 생성부와, 상기 추출된 휘도 균일도에 따라 보상 데이터를 산출하는 보상 데이터 산출부를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.3. The method of claim 2,
Wherein the luminance compensation unit includes a compensation target generation unit for measuring luminance uniformity of the image from the reconstructed image and a compensation data calculation unit for calculating compensation data according to the extracted luminance uniformity. 제 5 항에 있어서,
상기 영상 촬영부로부터 수집된 영상은 매채체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡이 발생된 영상, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상인 표시패널의 휘도 균일도 검사장치.6. The method of claim 5,
The images collected from the image capturing unit include images generated by distortions caused by refraction of light by a sifter, images generated by polarization of the medium, distortions caused by opacity, reflection of light caused by the medium, refraction A distorted image or a display panel, a touch panel attached to the display panel, an EMI filter, a distorted image caused by foreign matter such as dust, or the like, The luminance uniformity of the display panel. 표시패널의 영상을 수집하는 단계;
수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하는 단계;
상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계;
상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 측정하는 단계; 및
상기 휘도 균일도에 따른 패널의 보상 데이터를 측정하는 단계;를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사방법.Collecting images of the display panel;
Analyzing the distorted image information from the collected image;
Reconstructing the image by correcting the distorted image;
Measuring luminance uniformity of the reconstructed image; And
And measuring the compensation data of the panel according to the luminance uniformity. 제 7 항에 있어서,
상기 왜곡된 휘도 정보는 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 휘도값의 변화가 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단하는 표시패널의 휘도 균일도 검사방법.8. The method of claim 7,
And comparing the distorted luminance information with a plurality of images to determine that the image is a distorted image if the change in the luminance value of the specific area is equal to or greater than a threshold value. 제 8 항에 있어서,
상기 영상을 재구성하는 단계는 왜곡된 영상의 휘도 정보를 감쇄시켜 영상을 재구성하는 표시패널의 휘도 균일도 검사방법.9. The method of claim 8,
Wherein the reconstructing the image comprises reconstructing the image by attenuating the luminance information of the distorted image. 제 9 항에 있어서,
상기 휘도 균일도는 재구성된 영상으로부터 영상의 얼룩을 추출하고, 상기 추출된 얼룩으로부터 보상 데이터를 산출하는 표시패널의 휘도 균일도 검사방법10. The method of claim 9,
The luminance uniformity is determined by a luminance uniformity inspection method of a display panel for extracting a smear of an image from a reconstructed image and calculating compensation data from the extracted smear
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