KR101388110B1 - Wet station and operating method thereof - Google Patents

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Abstract

세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정하기 위한 측정수단의 유지 및 관리를 용이하게 할 수 있는 습식세정장치 및 그 운용방법이 개시된다. 습식세정장치는 세정액이 수용되는 세정조, 세정조에 연결되어 세정액을 순환시키는 순환라인, 순환라인에 연결되어 순환라인을 통해 순환되는 세정액 중 일부를 세정조로 바이패스시키는 바이패스라인, 바이패스라인 상에 장착되어 바이패스라인을 따라 유동되는 세정액의 특성을 측정하는 측정수단, 측정수단의 입구측에 배치되도록 바이패스라인에 연결되어 선택적으로 희석액을 공급하는 희석액 공급부를 포함한다.Disclosed are a wet cleaning apparatus and a method of operating the same, which can facilitate maintenance and management of measuring means for measuring physical or chemical properties of a cleaning liquid. The wet cleaning device includes a cleaning tank containing a cleaning liquid, a circulation line connected to the cleaning tank to circulate the cleaning liquid, and a bypass line and bypass line connected to the circulation line to bypass some of the cleaning liquid circulated through the circulation line to the cleaning tank. It is attached to the measuring means for measuring the characteristics of the cleaning liquid flowing along the bypass line, it is connected to the bypass line so as to be disposed on the inlet side of the measuring means comprises a diluent supply for supplying a diluent.

세정조, 순환라인, 바이패스라인, 측정수단, 희석액 공급부 Cleaning tank, circulation line, bypass line, measuring means, diluent supply part

Description

습식세정장치 및 그 운용방법{WET STATION AND OPERATING METHOD THEREOF}WET STATION AND OPERATING METHOD THEREOF}

본 발명은 습식세정장치 및 그 운용방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정하기 위한 측정수단의 유지 및 관리를 용이하게 할 수 있는 습식세정장치 및 그 운용방법에 관한 것이다.The present invention relates to a wet cleaning apparatus and a method of operating the same, and more particularly, to a wet cleaning apparatus and a method of operating the same, which can facilitate maintenance and management of measuring means for measuring physical or chemical properties of a cleaning liquid. .

일반적으로 반도체 소자를 제조하기 위해서는 리소그래피, 증착 및 에칭 등의 공정을 반복적으로 수행한다. 이러한 공정들을 거치는 동안 기판(예를 들어 실리콘 웨이퍼) 상에는 각종 파티클, 금속 불순물, 유기물 등이 잔존하게 된다. 이와 같은 오염 물질은 제품의 수율 및 신뢰성에 악영향을 미치기 때문에 반도체 제조 공정에서는 기판에 잔존된 오염 물질을 제거하기 위한 세정 공정이 수행되고, 세정 공정 후에는 웨이퍼에 대한 건조 공정이 수행된다.In general, in order to manufacture a semiconductor device, lithography, deposition, and etching are repeatedly performed. During these processes, various particles, metal impurities, organic substances, and the like remain on the substrate (e.g., a silicon wafer). Since such contaminants adversely affect the yield and reliability of the product, a cleaning process for removing contaminants remaining on the substrate is performed in the semiconductor manufacturing process, and a drying process for the wafer is performed after the cleaning process.

이와 같이 기판을 세정하는 방식은 처리 방식에 따라 크게 건식(Dry)세정방식과, 습식(Wet)세정방식으로 구분될 수 있다. 그 중 습식세정방식은 여러 가지 약액이 일정 비율로 혼합된 세정액이 수용된 세정조 내부에 기판을 일정시간 침지시켜 기판을 세정하는 방식을 말한다.The method of cleaning the substrate may be divided into a dry cleaning method and a wet cleaning method according to a treatment method. Among them, the wet cleaning method refers to a method of cleaning a substrate by immersing the substrate for a predetermined time in a cleaning tank containing a cleaning liquid mixed with various chemical liquids at a predetermined ratio.

한편, 습식세정장치에 사용되는 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성은 기 판의 세정 효율에 많은 영향을 미친다. 일반적으로 습식세정장치에는 세정 공정 중 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성을 측정하기 위한 측정수단이 구비되어 있으며, 측정수단을 통해 실시간으로 측정된 측정값에 의해 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성을 조절하기 위한 조치가 이루어질 수 있다. 예를 들어, 세정액의 농도는 기판의 세정 효율에 많은 영향을 미친다. 따라서, 세정 공정 중에는 세정액의 농도 변화가 실시간으로 측정될 수 있으며, 세정액의 농도 변화에 따라 약액의 추가적인 공급이 이루어질 수 있다.On the other hand, the physical and chemical properties of the cleaning liquid used in the wet cleaning apparatus has a great influence on the cleaning efficiency of the substrate. In general, the wet cleaning apparatus includes measuring means for measuring physical and chemical properties of the cleaning liquid during the cleaning process, and for adjusting physical and chemical properties of the cleaning liquid by measuring values measured in real time through the measuring means. Action may be taken. For example, the concentration of the cleaning liquid greatly affects the cleaning efficiency of the substrate. Therefore, during the cleaning process, the change in the concentration of the washing liquid may be measured in real time, and additional supply of the chemical liquid may be performed according to the change in the concentration of the washing liquid.

아울러, 상기 측정수단의 측정 신뢰성을 유지하기 위해서는 일정 주기로 측정수단이 유지 및 관리될 수 있어야 한다. 그런데, 종래에는 측정수단의 유지 및 관리가 매우 번거롭고 불편한 문제점이 있다.In addition, in order to maintain the measurement reliability of the measuring means, the measuring means must be able to be maintained and managed at regular intervals. However, in the related art, maintenance and management of the measuring means are very troublesome and inconvenient.

즉, 상기 측정수단을 통해서는 강한 약액을 포함하는 세정액이 통과되기 때문에 측정수단은 세정장치로부터 분리되기 전에 먼저 희석액에 의해 희석될 수 있어야 한다. 그러나, 종래에는 측정수단의 희석에 필요한 희석액을 별도로 공급하기 위한 별도의 공급수단 없이 단순히 세정 처리가 이루어지는 세정조에 공급되는 희석액에 의해 측정수단이 희석되도록 구성됨에 따라, 불가피하게 세정조에 여러 차례 반복적으로 희석액이 공급 및 배출되어야 했다. 이에 따라 측정수단의 희석에 필요한 처리 시간이 길어지는 문제점이 있으며, 측정수단의 유지 및 관리가 매우 번거롭고 불편한 문제점이 있다.That is, since the cleaning liquid containing the strong chemical liquid passes through the measuring means, the measuring means must first be able to be diluted by the diluent before being separated from the cleaning apparatus. However, in the related art, since the measuring means is diluted by a diluent supplied to a washing tank in which a washing treatment is simply performed without a separate supply means for separately supplying a diluent required for diluting the measuring means, it is inevitably repeated several times in the washing tank. Dilutions had to be supplied and discharged. Accordingly, there is a problem that the processing time required for dilution of the measuring means is long, and maintenance and management of the measuring means are very troublesome and inconvenient.

또한, 습식세정장치에 사용되는 세정액은 일정 시간 사용 후 교체될 수 있어야 한다. 그러나, 종래에는 세정액이 새로 교체될 경우 측정수단 내에 잔존된 세정 액이 새로 교체된 세정액과 섞이게 되는 문제점이 있으며, 이에 따라 새로 교체된 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성을 정확하게 측정하기 어려운 문제점이 있다.In addition, the cleaning liquid used in the wet cleaning apparatus should be replaceable after a certain period of time. However, conventionally, when the cleaning solution is newly replaced, there is a problem in that the cleaning solution remaining in the measuring means is mixed with the newly replaced cleaning solution. Therefore, it is difficult to accurately measure the physical and chemical properties of the newly replaced cleaning solution.

본 발명은 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정하기 위한 측정수단의 유지 및 관리를 용이하게 할 수 있는 습식세정장치 및 그 운용방법을 제공한다.The present invention provides a wet cleaning apparatus and a method of operating the same, which can facilitate the maintenance and management of the measuring means for measuring the physical or chemical properties of the cleaning liquid.

또한, 본 발명은 측정수단의 측정 신뢰성을 향상 시킬 수 있는 습식세정장치 및 그 운용방법을 제공한다.In addition, the present invention provides a wet cleaning apparatus and its operating method which can improve the measurement reliability of the measuring means.

상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 습식세정장치는 세정액이 수용되는 세정조, 세정조에 연결되어 세정액을 순환시키는 순환라인, 순환라인에 연결되어 순환라인을 통해 순환되는 세정액 중 일부를 세정조로 바이패스시키는 바이패스라인, 바이패스라인 상에 장착되어 바이패스라인을 따라 유동되는 세정액의 특성을 측정하는 측정수단, 측정수단의 입구측에 배치되도록 바이패스라인에 연결되어 선택적으로 희석액을 공급하는 희석액 공급부를 포함한다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving the above object of the present invention, the wet cleaning device is connected to the cleaning tank containing the cleaning liquid, the circulation tank for circulating the cleaning liquid, the circulation line is connected to the circulation line through the circulation line A bypass line for bypassing some of the circulating cleaning liquid to the cleaning tank, measuring means for measuring characteristics of the cleaning liquid flowing along the bypass line, and being arranged at the inlet side of the measuring means. And a diluent supply for connecting and optionally supplying a diluent.

세정조의 형태 및 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로 세정조는 내조 및 외조를 포함하여 구성될 수 있다. 내조에는 세정액이 수용되며 실질적으로 세정 작업이 수행될 수 있고, 외조는 내조로부터 오 버플로우된 세정액을 수용한다. 또한, 순환라인은 세정조의 외측에서 내조와 외조를 연결하며 외조의 세정액이 내조로 순환될 수 있게 한다.The shape and structure of the cleaning bath can be varied in various ways depending on the required conditions and design specifications. As an example, the cleaning tank may include an inner tank and an outer tank. The inner tank contains the cleaning liquid and substantially cleaning operation can be performed, and the outer tank contains the cleaning liquid overflowed from the inner tank. In addition, the circulation line connects the inner tank and the outer tank at the outside of the washing tank and allows the washing liquid of the outer tank to be circulated to the inner tank.

바이패스라인은 순환라인을 따라 순환되는 세정액 중 일부가 외조로 바이패스될 수 있게 하는 바, 바이패스라인의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 아울러, 순환라인에 연결되는 바이패스라인의 연결 지점은 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.The bypass line allows a portion of the cleaning liquid circulated along the circulation line to be bypassed to the outer tank, and the structure of the bypass line may be variously changed according to the required conditions and design specifications. In addition, the connection point of the bypass line connected to the circulation line may be changed in various ways depending on the required conditions and design specifications.

측정수단은 바이패스라인 상에 장착되어 바이패스라인을 따라 유동되는 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정할 수 있다. 일 예로, 상기 측정수단은 세정액의 농도를 측정하기 위한 농도계(concentration meter)를 포함할 수 있다.The measuring means may be mounted on the bypass line to measure physical or chemical properties of the cleaning liquid flowing along the bypass line. For example, the measuring means may include a concentration meter for measuring the concentration of the cleaning liquid.

희석액 공급부는 희석액의 공급량 및 희석액의 공급 여부를 조절하기 위한 희석액 조절밸브를 포함할 수 있으며, 이러한 희석액 공급부의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.The diluent supply unit may include a diluent control valve for adjusting the supply amount of the diluent and whether or not the diluent is supplied, and the structure of the diluent supply unit may be variously changed according to required conditions and design specifications.

바이패스라인 상에는 선택적으로 가스를 공급하기 위한 가스공급부가 연결될 수 있으며, 가스공급부를 통해 공급된 가스는 측정수단을 통과하며 측정수단 및 그 연결부위를 통과하며 건조시킨 후 배출될 수 있다. 또한, 가스공급부는 가스의 공급량 및 가스의 공급 여부를 조절하기 위한 가스조절밸브를 포함할 수 있으며, 이러한 가스공급부의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.A gas supply unit for selectively supplying gas may be connected to the bypass line, and the gas supplied through the gas supply unit may pass through the measuring unit and may be dried after passing through the measuring unit and its connecting portion, and then discharged. In addition, the gas supply unit may include a gas control valve for adjusting the supply amount of gas and whether the gas is supplied, the structure of such a gas supply unit may be variously changed according to the required conditions and design specifications.

본 발명에 따른 습식세정장치 및 그 운용방법에 의하면, 측정수단의 희석에 필요한 처리 시간을 단축할 수 있으며, 측정수단의 유지 및 관리를 보다 용이하게 할 수 있게 한다.According to the wet cleaning apparatus and the operating method thereof according to the present invention, it is possible to shorten the processing time required for dilution of the measuring means, and to facilitate the maintenance and management of the measuring means.

더욱이 본 발명에 의하면, 측정수단이 희석된 후 가스공급부로부터 공급되는 가스에 의해 건조될 수 있기 때문에 측정수단이 분리될 시 내부에 잔존된 희석액이 외부로 유출됨을 미연에 방지할 수 있다.Further, according to the present invention, since the measuring means can be dried by the gas supplied from the gas supply unit after dilution, it is possible to prevent the dilution liquid remaining inside when the measuring means is separated out.

또한, 본 발명에 의하면 세정액이 교체되기 전에 측정수단이 먼저 희석 및 건조될 수 있게 하며, 측정수단이 새로 교체된 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성을 보다 정확하게 측정할 수 있게 한다.In addition, according to the present invention, the measuring means can be diluted and dried before the cleaning solution is replaced, and the measuring means can more accurately measure the physical and chemical properties of the newly replaced cleaning solution.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 고안이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 참고로, 본 설명에서 동일한 번호는 실질적으로 동일한 요소를 지칭하며, 상기 규칙 하에서 다른 도면에 기재된 내용을 인용하여 설명할 수 있고, 당업자에게 자명하다고 판단되거나 반복되는 내용은 생략될 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to these embodiments. For reference, the same numbers in this description refer to substantially the same elements and can be described with reference to the contents described in the other drawings under the above-mentioned rules, and the contents which are judged to be obvious to the person skilled in the art or repeated can be omitted.

도 1은 본 발명에 따른 습식세정장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining a wet cleaning apparatus according to the present invention.

도 1에서 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 습식세정장치는 세정조(110), 순환라인(200), 바이패스라인(300), 측정수단(310), 희석액 공급부(410)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the wet cleaning apparatus according to the present invention includes a washing tank 110, a circulation line 200, a bypass line 300, a measuring unit 310, and a diluent supply unit 410.

상기 세정조(110)는 세정액이 수용되는 용기로서 세정하기 위한 기판을 수용 가능한 크기로 형성되며, 세정조(110)의 형태 및 구조는 요구되는 조건 및 설계 사 양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 세정조(110)는 세정액과 반응하지 않는 재질로 형성되며, 이러한 세정조(110)의 재질은 요구되는 조건에 따라 적절히 변경될 수 있다. 예를 들어 상기 세정조(110)는 통상의 석영(quartz)으로 형성될 수 있으며, 그외 다른 재질이 사용될 수 있다.The cleaning tank 110 is formed in a size that can accommodate a substrate for cleaning as a container containing the cleaning liquid, the shape and structure of the cleaning tank 110 may be variously changed according to the requirements and design specifications. . In addition, the cleaning tank 110 is formed of a material that does not react with the cleaning liquid, the material of the cleaning tank 110 may be appropriately changed according to the required conditions. For example, the cleaning tank 110 may be formed of ordinary quartz, and other materials may be used.

본 발명에서 세정액이라 함은 기판에 잔존하는 오염물질을 세정하기 위한 화학 용액으로서 단일 또는 복수개의 화학 용액을 포함하여 구성될 수 있다.In the present invention, the cleaning liquid may include a single or a plurality of chemical solutions as a chemical solution for cleaning contaminants remaining on the substrate.

이하에서는 상기 세정조(110)가 내조(120) 및 외조(130)를 포함하여 구성된 예를 들어 설명하기로 한다. 상기 내조(120)에는 세정액이 수용되며, 상기 내조(120)에서는 실질적으로 세정 작업이 수행된다. 상기 외조(130)는 내조(120)로부터 오버플로우(overflow)된 세정액이 수용될 수 있도록 내조(120)의 둘레를 따라 형성된다.Hereinafter, the cleaning tank 110 will be described with an example including the inner tank 120 and the outer tank 130. The cleaning solution is accommodated in the inner tank 120, and the cleaning operation is substantially performed in the inner tank 120. The outer tub 130 is formed along the circumference of the inner tub 120 to accommodate the washing liquid overflowed from the inner tub 120.

아울러, 상기 세정조(110) 상에는 세정액공급라인(미도시) 및 세정액배출라인(미도시)이 연결될 수 있으며, 이 세정액공급라인 및 세정액배출라인을 통해 선택적으로 세정액이 세정조로 공급되거나 세정조 외부로 배출될 수 있다.In addition, a cleaning liquid supply line (not shown) and a cleaning liquid discharge line (not shown) may be connected to the cleaning tank 110, and the cleaning liquid may be selectively supplied to the cleaning tank through the cleaning liquid supply line and the cleaning liquid discharge line or may be outside the cleaning tank. Can be discharged.

상기 순환라인(200)은 세정조(110)의 외측에서 내조(120)와 외조(130)를 연결하며 외조(130)의 세정액이 내조(120)로 순환될 수 있게 한다. 이러한 순환라인(200)은 통상의 순환유로(210) 및 순환펌프(220)를 포함하여 구성될 수 있으며, 순환라인(200)의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 아울러 상기 순환라인(200) 상에는 필터(230) 및 히터(240) 등과 같은 각종 부가 장치가 제공될 수 있으며, 이와 같은 부가 장치를 통해 순환라인(200)을 따라 순환되는 세정액은 혼합, 여과 및 가열될 수 있다.The circulation line 200 connects the inner tank 120 and the outer tank 130 at the outside of the cleaning tank 110 and allows the cleaning solution of the outer tank 130 to be circulated to the inner tank 120. The circulation line 200 may include a conventional circulation passage 210 and a circulation pump 220, the structure of the circulation line 200 may be changed in various ways depending on the required conditions and design specifications. . In addition, various additional devices such as a filter 230 and a heater 240 may be provided on the circulation line 200. The cleaning solution circulated along the circulation line 200 through such an additional device may be mixed, filtered, and heated. Can be.

상기 바이패스라인(300)은 일단은 순환라인(200)에 연결되고 다른 일단은 외조(130)에 연결되어 순환라인(200)을 따라 순환되는 세정액 중 일부가 외조(130)로 바이패스될 수 있게 한다. 이러한 바이패스라인(300)은 통상의 바이패스유로를 포함하여 구성될 수 있으며, 경우에 따라서는 별도의 펌프가 함께 제공될 수도 있다. 여기서, 상기 순환라인(200)에 연결되는 바이패스라인(300)의 연결 지점은 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.The bypass line 300 is one end is connected to the circulation line 200 and the other end is connected to the outer tank 130, some of the cleaning liquid circulated along the circulation line 200 may be bypassed to the outer tank 130. To be. The bypass line 300 may include a general bypass flow path, and in some cases, a separate pump may be provided. Here, the connection point of the bypass line 300 connected to the circulation line 200 may be changed in various ways according to the required conditions and design specifications.

상기 측정수단(310)은 바이패스라인(300) 상에 장착되어 바이패스라인(300)을 따라 유동되는 세정액의 특성을 측정할 수 있다. 즉, 상기 측정수단(310)은 바이패스라인(300)을 따라 유동되는 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정할 수 있다. 일 예로, 상기 측정수단(310)은 세정액의 농도를 측정하기 위한 농도계(concentration meter)를 포함할 수 있다.The measuring means 310 may be mounted on the bypass line 300 to measure characteristics of the cleaning liquid flowing along the bypass line 300. That is, the measuring means 310 may measure the physical characteristics or chemical characteristics of the cleaning liquid flowing along the bypass line 300. For example, the measuring unit 310 may include a concentration meter for measuring the concentration of the cleaning liquid.

상기 희석액 공급부(410)는 측정수단(310)의 입구측에 배치되도록 바이패스라인(300)에 연결되어 선택적으로 희석액을 공급한다. 이때, 상기 희석액 공급부(410)는 순환라인(200)을 통해 순환되는 세정액이 측정수단(310)으로 유입되지 않도록 바이패스라인(300)이 차단밸브(302)에 의해 차단된 상태에서 희석액을 공급한다.The diluent supply unit 410 is connected to the bypass line 300 to be disposed at the inlet side of the measuring means 310 to selectively supply a diluent. At this time, the diluent supply unit 410 supplies the diluent in a state in which the bypass line 300 is blocked by the shutoff valve 302 so that the washing solution circulated through the circulation line 200 does not flow into the measuring unit 310. do.

이와 같이 희석액 공급부(410)를 통해 공급된 희석액은 측정수단(310)을 통과하며 측정수단(310)을 희석시킨 후 바이패스라인(300)을 거쳐 외조(130)로 배출될 수 있다.As such, the diluent supplied through the diluent supply unit 410 may pass through the measuring unit 310 and dilute the measuring unit 310, and then be discharged to the outer tank 130 through the bypass line 300.

상기 희석액으로서는 세정 조건에 따라 다양한 종류의 희석액이 사용될 수 있다. 이하에서는 희석액으로서 순수(DIW : Deionized Water)가 사용된 예를 들어 설명하기로 한다. 아울러 상기 희석액 공급부(410)는 희석액의 공급량 및 희석액의 공급 여부를 조절하기 위한 희석액 조절밸브(412)를 포함할 수 있으며, 이러한 희석액 공급부(410)의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.As the diluent, various kinds of diluents may be used depending on washing conditions. Hereinafter, an example in which pure water (DIW: Deionized Water) is used as the diluent will be described. In addition, the diluent supply unit 410 may include a diluent control valve 412 for adjusting the supply amount of the diluent and whether or not the diluent is supplied, and the structure of the diluent supply unit 410 may vary according to required conditions and design specifications. Can be changed.

한편, 상기 바이패스라인(300) 상에는 선택적으로 가스를 공급하기 위한 가스공급부(420)가 연결될 수 있다. 즉, 상기 가스공급부(420)는 배치되도록 상기 바이패스라인(300)에 연결되어 선택적으로 가스를 공급할 수 있다. 이와 같이 상기 가스공급부(420)를 통해 공급된 가스는 측정수단(310)을 통과하며 측정수단(310) 및 그 연결부위를 건조시킨 후 바이패스라인(300)을 거쳐 배출될 수 있다. 경우에 따라서는 희석액 공급부(410)를 통해 희석액이 공급됨과 동시에 가스공급부(420)를 통해 가스가 함께 공급될 수도 있다.Meanwhile, a gas supply unit 420 for selectively supplying gas may be connected to the bypass line 300. That is, the gas supply unit 420 may be connected to the bypass line 300 so as to be arranged to selectively supply gas. As described above, the gas supplied through the gas supply unit 420 passes through the measuring unit 310 and may be discharged through the bypass line 300 after drying the measuring unit 310 and its connection part. In some cases, the diluent may be supplied through the diluent supply unit 410 and the gas may be supplied together through the gas supply unit 420.

상기 가스공급부(420)를 통해 공급되는 가스로서는 요구되는 조건에 따라 다양한 종류의 가스가 사용될 수 있다. 이하에서는 가스로서 질소(N2)가 사용된 예를 들어 설명하기로 한다. 아울러 상기 가스공급부(420)는 가스의 공급량 및 가스의 공급 여부를 조절하기 위한 가스조절밸브(422)를 포함할 수 있으며, 이러한 가스공급부(420)의 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.As the gas supplied through the gas supply unit 420, various kinds of gases may be used according to required conditions. Hereinafter, an example in which nitrogen (N 2 ) is used as the gas will be described. In addition, the gas supply unit 420 may include a gas control valve 422 for adjusting the supply amount of gas and whether the gas is supplied, and the structure of the gas supply unit 420 varies according to required conditions and design specifications. Can be changed.

본 발명의 실시예에서는 희석액 공급부(410) 및 가스공급부(420)로부터 공급 되는 희석액 및 가스가 통합된 하나의 유로를 통해 측정수단(310)의 입구측에 유입되도록 구성된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 희석액 및 가스가 각각 독립적인 유로를 통해 유입되도록 구성할 수도 있다.In the embodiment of the present invention has been described with an example configured to flow into the inlet side of the measuring means 310 through a single flow path in which the diluent and gas supplied from the diluent supply unit 410 and the gas supply unit 420 are integrated, In some cases, the diluent and the gas may be configured to flow through independent channels.

이하에서는 본 발명에 따른 습식처리장치의 기판운용방법을 설명하기로 한다. 아울러, 전술한 구성과 동일 및 동일 상당 부분에 대해서는 동일 또는 동일 상당한 참조 부호를 부여하고, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, the substrate operating method of the wet processing apparatus according to the present invention will be described. In addition, the same or equivalent portions as those in the above-described configuration are denoted by the same or equivalent reference numerals, and a detailed description thereof will be omitted.

본 발명에 따른 습식처리장치의 기판운용방법은 세정액이 수용되는 세정조(110), 상기 세정조(110)에 연결되어 세정액을 순환시키는 순환라인(200), 상기 순환라인(200)에 연결되어 순환라인(200)을 통해 순환되는 세정액 중 일부를 세정조(110)로 바이패스시키는 바이패스라인(300), 상기 바이패스라인(300) 상에 장착되어 바이패스라인(300)을 따라 유동되는 세정액의 특성을 측정하는 측정수단(310)을 포함하는 습식세정장치의 운영방법으로서, 상기 순환라인(200)을 통해 순환되는 세정액이 측정수단(310)으로 유입되지 않도록 바이패스라인(300)을 차단하는 단계, 상기 측정수단(310)의 입구측에 해당되는 바이패스라인(300) 상에 희석액을 공급하여 측정수단(310)을 희석하는 단계, 희석된 측정수단(310)을 바이패스라인(300)으로부터 분리하는 단계를 포함한다.Substrate operation method of the wet processing apparatus according to the present invention is connected to the cleaning tank 110, the cleaning line 110 is connected to the cleaning tank 110 to circulate the cleaning solution, the circulation line 200, the circulation line 200 The bypass line 300 for bypassing a portion of the cleaning liquid circulated through the circulation line 200 to the cleaning tank 110, mounted on the bypass line 300 flows along the bypass line 300 As a method of operating a wet cleaning apparatus including a measuring means 310 for measuring a characteristic of a cleaning liquid, the bypass line 300 is disposed so that the cleaning liquid circulated through the circulation line 200 does not flow into the measuring means 310. Blocking, diluting the measuring means 310 by supplying a diluent on the bypass line 300 corresponding to the inlet side of the measuring means 310, diluting the diluted measuring means 310, bypass line ( 300).

상기 세정조(110)는 세정 작업을 수행하는 내조(120) 및 상기 내조(120)로부터 오버플로우된 세정액을 수용하는 외조(130)를 포함하여 구성될 수 있으며, 외조(130)의 세정액은 순환라인(200)을 통해 내조(120)로 순환될 수 있다.The cleaning tank 110 may include an inner tank 120 for performing a cleaning operation and an outer tank 130 containing a washing liquid overflowed from the inner tank 120, and the washing liquid of the outer tank 130 is circulated. It may be circulated through the line 200 to the inner tank 120.

측정수단(310)을 유지 및 관리하기 위해서는 먼저, 순환라인(200)을 통해 순 환되는 세정액이 측정수단(310)으로 유입되지 않도록 바이패스라인(300)을 차단한다. 이 단계에서, 상기 바이패스라인(300)은 차단밸브(302)에 의해 차단될 수 있다.In order to maintain and manage the measuring means 310, first, the bypass line 300 is blocked so that the washing liquid circulated through the circulation line 200 does not flow into the measuring means 310. In this step, the bypass line 300 may be blocked by the shutoff valve 302.

다음, 측정수단(310)의 입구측에 해당되는 바이패스라인(300) 상에 희석액을 공급하여 측정수단(310)을 희석한다. 이 단계에서는 측정수단(310)의 입구측에 배치되도록 바이패스라인(300)에 연결되는 희석액 공급부(410)를 통해 희석액이 공급될 수 있으며, 공급된 희석액은 측정수단(310)을 통과하며 측정수단(310)을 희석시킨 후 바이패스라인(300)을 거쳐 외조(130)로 배출될 수 있다.Next, the diluent is supplied onto the bypass line 300 corresponding to the inlet side of the measuring means 310 to dilute the measuring means 310. In this step, the diluent may be supplied through the diluent supply unit 410 connected to the bypass line 300 to be disposed at the inlet side of the measuring unit 310, and the supplied diluent passes through the measuring unit 310 and is measured. After diluting the means 310 may be discharged to the outer tank 130 via the bypass line (300).

그 후, 희석된 측정수단(310)을 바이패스라인(300)으로부터 분리할 수 있으며, 분리된 측정수단(310)의 이상 유무를 확인할 수 있다. 필요에 따라서는 분리된 측정수단(310) 대신 새로운 측정수단을 교체 장착할 수도 있다.Thereafter, the diluted measuring means 310 may be separated from the bypass line 300, and the presence or absence of the separated measuring means 310 may be confirmed. If necessary, a new measuring means may be replaced instead of the separated measuring means 310.

한편, 상기와 같이 측정수단(310)은 희석된 상태로 바이패스라인(300)으로부터 분리될 수 있으나, 상기 측정수단(310)이 바이패스라인(300)으로부터 분리될 시 내부에 잔존된 희석액이 외부로 유출될 수 있다. 이를 방지할 수 있도록 상기 측정수단(310)을 분리하기 전에는 측정수단(310)의 입구측에 해당되는 바이패스라인(300) 상에 가스를 공급하는 단계가 추가될 수 있다.Meanwhile, as described above, the measuring means 310 may be separated from the bypass line 300 in a diluted state, but when the measuring means 310 is separated from the bypass line 300, the diluent remaining therein is It may spill out. In order to prevent this, before the separation of the measuring means 310, a step of supplying a gas to the bypass line 300 corresponding to the inlet side of the measuring means 310 may be added.

즉, 측정수단(310)의 입구측에 배치되도록 바이패스라인(300)에 연결되는 가스공급부(420)를 통해 가스가 공급될 수 있으며, 공급된 가스는 측정수단(310)을 통과하며 측정수단(310) 및 그 연결부위를 건조시킨 후 바이패스라인(300)을 거쳐 배출될 수 있다. 전술한 본 발명의 실시예에서는 측정수단(310)의 건조를 위해 가 스가 공급되는 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 측정수단(310)의 희석이 보다 효과적으로 이루어질 수 있도록 희석액이 공급됨과 동시에 가스가 함께 공급될 수도 있다.That is, gas may be supplied through the gas supply unit 420 connected to the bypass line 300 to be disposed at the inlet side of the measuring unit 310, and the supplied gas passes through the measuring unit 310 and is measured. After drying the 310 and the connection portion may be discharged through the bypass line (300). In the above-described embodiment of the present invention, for example, the gas is supplied for drying the measuring means 310. However, in some cases, the diluent is supplied so that the dilution of the measuring means 310 can be performed more effectively. The gas may be supplied together.

이와 같이 본 발명에 의하면, 세정조(110)에 순수를 공급한 후, 순환라인(200)을 거쳐 바이패스라인(300)으로 바이패스되는 순수를 통해 측정수단(310)을 희석시켜야 하는 번거로움 없이, 측정수단(310)의 희석에 필요한 처리 시간을 현저하게 단축할 수 있으며, 측정수단(310)의 유지 및 관리를 보다 용이하게 할 수 있게 한다.Thus, according to the present invention, after supplying pure water to the cleaning tank 110, the hassle to dilute the measuring means 310 through the pure water bypassed to the bypass line 300 via the circulation line (200) Without this, the processing time required for dilution of the measuring means 310 can be significantly shortened, and the maintenance and management of the measuring means 310 can be made easier.

더욱이 본 발명에 의하면, 측정수단(310)이 희석된 후 가스공급부(420)로부터 공급되는 가스에 의해 건조될 수 있기 때문에 측정수단(310)이 바이패스라인(300)으로부터 분리될 시 내부에 잔존된 희석액이 외부로 유출됨을 미연에 방지할 수 있다.Furthermore, according to the present invention, since the measuring means 310 can be dried by the gas supplied from the gas supply part 420 after dilution, the measuring means 310 remains therein when separated from the bypass line 300. The diluted solution can be prevented from leaking to the outside.

뿐만 아니라, 본 발명에 의하면 교체 주기를 따라 세정액이 새로 교체될 경우에도 세정액이 교체되기 전에 측정수단(310)이 먼저 희석 및 건조될 수 있게 하며, 측정수단(310)이 새로 교체된 세정액의 물리적 특성 및 화학적 특성을 보다 정확하게 측정할 수 있게 한다.In addition, according to the present invention, even when the cleaning solution is newly replaced along the replacement cycle, the measuring means 310 may be first diluted and dried before the cleaning solution is replaced, and the measuring means 310 may physically change the cleaning solution. Allows more accurate measurement of properties and chemical properties.

상술한 바와 같이, 본 고안의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 고안의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 고안을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those of ordinary skill in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the following claims It can be understood that

도 1은 본 발명에 따른 습식세정장치를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining a wet cleaning apparatus according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art

110 : 세정조 120 : 내조110: washing tank 120: inner tank

130 : 외조 200 : 순환라인130: outer tank 200: circulation line

300 : 바이패스라인 310 : 측정수단300: bypass line 310: measuring means

410 : 희석액 공급부 420 : 가스공급부410: diluent supply unit 420: gas supply unit

Claims (9)

세정액이 수용되는 세정조;A washing tank in which a washing liquid is accommodated; 상기 세정조에 연결되어 상기 세정액을 순환시키는 순환라인;A circulation line connected to the cleaning tank to circulate the cleaning liquid; 상기 순환라인에 연결되어 상기 순환라인을 통해 순환되는 세정액 중 일부를 상기 세정조로 바이패스시키는 바이패스라인;A bypass line connected to the circulation line to bypass a portion of the cleaning liquid circulated through the circulation line to the cleaning tank; 상기 바이패스라인 상에 장착되어 상기 바이패스라인을 따라 유동되는 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정하는 측정수단; 및Measurement means mounted on the bypass line and measuring physical or chemical properties of the cleaning liquid flowing along the bypass line; And 상기 측정수단의 입구측에 배치되도록 상기 바이패스라인에 연결되어 선택적으로 희석액을 상기 측정수단으로 공급하여 상기 측정수단을 희석시키는 희석액 공급부;A diluent supply unit connected to the bypass line so as to be disposed at an inlet side of the measuring unit and selectively supplying a diluting liquid to the measuring unit to dilute the measuring unit; 를 포함하고,Including, 상기 바이패스라인을 차단한 후에 희석된 상기 측정수단이 상기 바이패스라인으로부터 분리될 수 있는 습식세정장치.A wet cleaning device in which the diluted measuring means can be separated from the bypass line after shutting off the bypass line. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 측정수단의 입구측에 배치되도록 상기 바이패스라인에 연결되어 선택적으로 가스를 공급하는 가스공급부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.And a gas supply unit connected to the bypass line so as to be disposed at an inlet side of the measuring means and selectively supplying gas. 제2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 가스공급부는 상기 가스의 공급을 조절하기 위한 가스조절밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.The gas supply unit is a wet cleaning device, characterized in that it comprises a gas control valve for regulating the supply of the gas. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 희석액 공급부는 상기 희석액의 공급을 조절하기 위한 희석액 조절밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.Wet cleaning device, characterized in that the diluent supply unit comprises a diluent control valve for adjusting the supply of the diluent. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 측정수단은 상기 세정액의 농도를 측정하는 농도계를 포함하는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.And the measuring means includes a densitometer for measuring the concentration of the cleaning liquid. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 세정조는 내조 및 상기 내조로부터 오버플로우된 세정액을 수용하는 외조를 포함하고,The washing tank includes an inner tank and an outer tank for receiving a washing liquid overflowed from the inner tank, 상기 순환라인은 내조 및 외조를 연결하며 상기 외조의 세정액을 상기 내조로 순환시키는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.The circulation line is connected to the inner tank and the outer tank and the wet cleaning apparatus, characterized in that for circulating the cleaning liquid of the outer tank to the inner tank. 제6항에 있어서,The method according to claim 6, 상기 바이패스라인은 상기 순환라인과 상기 외조를 연결하며 상기 순환라인으로부터의 세정액을 상기 외조로 바이패스시키는 것을 특징으로 하는 습식세정장치.And the bypass line connects the circulation line and the outer tub and bypasses the cleaning liquid from the circulation line to the outer tub. 세정액이 수용되는 세정조, 상기 세정조에 연결되어 상기 세정액을 순환시키는 순환라인, 상기 순환라인에 연결되어 상기 순환라인을 통해 순환되는 세정액 중 일부를 상기 세정조로 바이패스시키는 바이패스라인, 상기 바이패스라인 상에 장착되어 상기 바이패스라인을 따라 유동되는 세정액의 물리적 특성 또는 화학적 특성을 측정하는 측정수단을 포함하는 습식세정장치의 운영방법으로서,A cleaning tank containing a cleaning liquid, a circulation line connected to the cleaning tank for circulating the cleaning liquid, a bypass line for bypassing some of the cleaning liquid connected to the circulation line and circulated through the circulation line to the cleaning tank, the bypass A method of operating a wet cleaning apparatus comprising measuring means mounted on a line and measuring means for measuring physical or chemical properties of a cleaning liquid flowing along the bypass line, 상기 순환라인을 통해 순환되는 세정액이 상기 측정수단으로 유입되지 않도록 상기 바이패스라인을 차단하는 단계;Blocking the bypass line so that the cleaning liquid circulated through the circulation line does not flow into the measuring means; 상기 측정수단의 입구측에 해당되는 바이패스라인 상에 희석액을 공급하여 상기 측정수단을 희석하는 단계; 및Diluting the measuring means by supplying a diluent on the bypass line corresponding to the inlet side of the measuring means; And 희석된 상기 측정수단을 상기 바이패스라인으로부터 분리하는 단계;Separating the diluted measuring means from the bypass line; 를 포함하는 습식세정장치의 운영방법.Operating method of a wet cleaning device comprising a. 제8항에 있어서,9. The method of claim 8, 상기 측정수단을 분리하기 전에 상기 측정수단의 입구측에 해당되는 바이패스라인 상에 가스를 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 습식세정장치의 운영방법.And supplying gas onto a bypass line corresponding to an inlet side of the measuring means before separating the measuring means.
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