KR101376272B1 - Vision apparatus for inspecting object and inspecting method thereof - Google Patents

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KR101376272B1 KR1020130088150A KR20130088150A KR101376272B1 KR 101376272 B1 KR101376272 B1 KR 101376272B1 KR 1020130088150 A KR1020130088150 A KR 1020130088150A KR 20130088150 A KR20130088150 A KR 20130088150A KR 101376272 B1 KR101376272 B1 KR 101376272B1
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Abstract

Provided is a vision inspection apparatus for an object comprising: a supply unit formed to supply an object; a transport unit formed to allow the object supplied from the supply unit to slip by weight so as to roll when transporting; a camera unit acquiring an image of the object when the object reaches to an inspection region by the transport unit; and a signal inspection unit installed in the transport unit so as to touch the object, applying current to the object, and detecting an output signal outputted from the object by the applied current so as to determine defects in the object. [Reference numerals] (163) Input unit; (165) Detection unit; (170) Good or bad determination unit

Description

대상물 비전 검사 장치 및 방법{VISION APPARATUS FOR INSPECTING OBJECT AND INSPECTING METHOD THEREOF}VISION APPARATUS FOR INSPECTING OBJECT AND INSPECTING METHOD THEREOF

본 발명은 대상물을 검사하기 위한 비전 검사 장치 및 비전 검사 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a vision inspection apparatus and a vision inspection method for inspecting an object.

기계 장치 산업의 발전 및 수요 증대에 힘입어 핀과 같은 소형 샤프트 부품도 완제품의 고품질화 트렌드를 뒷받침하기 위해 미세화·정밀화되고 있다. 이러한 제품의 고품질화에는 부품의 품질 신뢰도 향상도 수반하게 된다. 그에 따라, 부품의 검사는 품질관리의 중요한 부분으로 정착되고 있다.Thanks to the development and increasing demand of the machinery industry, small shaft parts such as pins are also being miniaturized and refined to support the trend of high quality of finished products. Higher quality of these products also entails improved quality reliability of the components. Accordingly, inspection of parts is becoming an important part of quality control.

이러한 부품의 품질 관리를 위해, 최근에는 비전 검사 장치가 주로 사용되고 있다. 일반적으로 비전 검사 장치는 검사할 대상물을 이송시키기 위한 회전판과, 이 회전판을 회전 구동시키기 위한 회전 모터를 포함하고 있다. For quality control of these parts, vision inspection apparatuses are mainly used in recent years. Generally, the vision inspection apparatus includes a rotating plate for conveying an object to be inspected and a rotating motor for rotating the rotating plate.

여기서, 회전판은 대상물을 원주 방향을 따라 회전 이송시킬 수 있도록 주로 원판의 형태로 구성된다. 이에 따라, 비전 검사 장치는 전체 사이즈가 커지게 되어 공간 효율성이 떨어지게 된다. 또한, 이러한 비전 검사 장치는 대상물의 어느 하나의 면에 대해서만 검사가 가능하고 다른 면에 대해서는 검사가 어려워 검사 결과의 신뢰도가 높지 않다.
Here, the rotating plate is mainly configured in the form of a disk to rotate the object in the circumferential direction. As a result, the vision inspection apparatus becomes larger in overall size, thereby reducing space efficiency. In addition, such a vision inspection apparatus is capable of inspecting only one side of the object and difficult to inspect on the other side, so that the reliability of the test result is not high.

본 발명의 목적은, 대상물의 복수의 면에 대한 검사를 가능하게 하면서도 공간 효율성이 우수한, 대상물 비전 검사 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an object vision inspection apparatus that enables inspection of a plurality of surfaces of an object and is excellent in space efficiency.

본 발명의 다른 목적은, 대상물에 대한 고신뢰도의 검사 결과를 획득할 수 있도록 하는, 대상물 비전 검사 방법을 제공하는 것이다.
It is another object of the present invention to provide an object vision inspection method, which enables to obtain a highly reliable test result for an object.

상기 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 실시예와 관련된 대상물 비전 검사 장치는, 대상물을 공급하도록 형성되는 공급 유닛; 상기 공급 유닛으로부터 공급된 대상물을 자중에 의해 미끄러뜨려 이송하며 굴릴 수 있게 형성되는 이송 유닛; 상기 대상물이 상기 이송 유닛에 의해 검사 영역 내에 도달하면 상기 대상물의 이미지를 획득하는 카메라 유닛; 및 상기 대상물과 접촉할 수 있도록 상기 이송 유닛에 형성되어, 상기 대상물에 전류를 인가하고 상기 인가된 전류에 의해 상기 대상물로부터 출력되는 출력 신호를 검출하여 상기 대상물의 내부에 존재하는 결함을 판단할 수 있게 형성되는 신호 검사 유닛을 포함할 수 있다.Object vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention for realizing the above object, the supply unit is formed to supply an object; A conveying unit which is formed to slide and convey the object supplied from the supply unit by its own weight; A camera unit for acquiring an image of the object when the object reaches the inspection area by the transfer unit; And a transfer unit formed in the transfer unit to be in contact with the object, to apply a current to the object, and detect an output signal output from the object by the applied current to determine a defect present in the object. It may include a signal inspection unit that is formed to be.

여기서, 상기 이송 유닛은, 상기 대상물의 이송 방향을 따라 기울어져 설치되며, 상기 대상물을 사이에 두고 굴릴 수 있게 형성되는 한 쌍의 회전 롤러를 포함할 수 있다.Here, the conveying unit may be installed inclined along the conveying direction of the object, and may include a pair of rotating rollers formed to be rolled with the object interposed therebetween.

여기서, 상기 카메라 유닛이 상기 대상물의 외주면의 전영역을 촬영할 수 있도록 상기 회전 롤러의 회전수를 조절하는 구동 제어부를 더 포함할 수 있다.Here, the camera unit may further include a drive control unit for adjusting the rotational speed of the rotating roller so that the entire area of the outer peripheral surface of the object can be photographed.

삭제delete

여기서, 상기 신호 검사 유닛은, 상기 대상물과 접촉할 수 있도록 상기 회전 롤러에 형성되는 전도 영역부; 상기 전도 영역부에 전류를 공급하는 입력부; 및 성기 전도 영역부와 접속되어 상기 대상물로부터 상기 인가된 전류에 의한 출력 신호를 검출하는 검출부를 포함할 수 있다.Here, the signal inspection unit, the conductive region formed on the rotating roller to be in contact with the object; An input unit supplying a current to the conductive region unit; And a detection unit connected to the genital conduction region unit to detect an output signal by the applied current from the object.

여기서, 상기 전도 영역부는, 상기 회전 롤러에서 상기 검사 영역에 대응하는 구간에 형성될 수 있다.Here, the conductive area portion may be formed in a section corresponding to the inspection area on the rotating roller.

여기서, 상기 카메라 유닛으로부터 상기 이미지를 입력 받고 상기 신호 검사 유닛으로부터 상기 출력 신호를 입력 받아, 상기 이미지 및 상기 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 상기 대상물의 양부를 판단하는 양부 판단 유닛이 더 구비될 수 있다.Here, there may be further provided with a determination unit for receiving the image from the camera unit and the output signal from the signal inspection unit to determine whether the object of the object based on at least one of the image and the output signal. Can be.

본 발명의 다른 실시예에 따른 대상물 비전 검사 방법은, 이송 유닛을 가동하여 대상물을 검사 영역 내로 이송하는 단계; 상기 대상물이 상기 검사 영역 내에 도달하면, 카메라 유닛을 작동하여 상기 대상물의 이미지를 획득하는 단계; 신호 검사 유닛을 가동하여, 상기 검사 영역 내에서 상기 대상물에 전류를 인가하고 상기 인가된 전류에 의해 상기 대상물로부터 출력되는 출력 신호를 검출하는 단계; 양부 판단 유닛을 작동하여, 상기 이미지 및 상기 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 상기 대상물의 양부를 판단하는 단계; 및 상기 이미지가 정상으로 판단되고 상기 출력 신호가 불량으로 판단되면, 상기 대상물을 불량품으로 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
An object vision inspection method according to another embodiment of the present invention comprises the steps of: operating a conveying unit to convey an object into an inspection region; When the object reaches within the inspection area, operating a camera unit to obtain an image of the object; Operating a signal inspection unit to apply a current to the object in the inspection area and to detect an output signal output from the object by the applied current; Operating a good judgment unit, and determining whether the target object is good or not based on at least one of the image and the output signal; And when the image is determined to be normal and the output signal is determined to be defective, determining the object as a defective product.

삭제delete

상기와 같이 구성되는 본 발명에 관련된 대상물 비전 검사 장치에 의하면, 대상물의 복수의 면에 대한 검사가 가능하므로 신뢰도가 높은 검사 결과를 획득할 수 있다. 이에 더해, 원형의 이송판을 가진 비전 검사 장치보다 구조가 간단할 뿐만 아니라 사이즈가 작아 공간 효율성이 우수하다.According to the object vision inspection apparatus according to the present invention configured as described above, it is possible to inspect a plurality of surfaces of the object, thereby obtaining a highly reliable inspection result. In addition, the structure is simpler than the vision inspection apparatus having a circular transfer plate, and the size is small, so the space efficiency is excellent.

또한, 본 발명에 관련된 대상물 비전 검사 방법에 의하면, 대상물을 카메라 유닛은 물론 신호 검사 유닛으로도 함께 검사할 수 있어, 대상물에 대한 고신뢰도의 검사 결과를 획득할 수 있다.
In addition, according to the object vision inspection method according to the present invention, the object can be inspected together with the signal inspection unit as well as the camera unit, it is possible to obtain a high reliability test results for the object.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 대상물 비전 검사 장치(100)의 평면도이다.
도 2는 도 1의 대상물 비전 검사 장치(100)의 개념적인 사시도이다.
도 3은 도 1의 대상물 비전 검사 장치(100)의 신호 검사 유닛(160)에 의해 검출되는 출력 신호의 그래프이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 대상물 비전 검사 방법의 순서도이다.1 is a plan view of an object vision inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a conceptual perspective view of the object vision inspection apparatus 100 of FIG. 1.
3 is a graph of an output signal detected by the signal inspection unit 160 of the object vision inspection apparatus 100 of FIG. 1.
4 is a flowchart of an object vision inspection method according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 대상물 비전 검사 장치 및 대상물 비전 검사 방법에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다.Hereinafter, an object vision inspection apparatus and an object vision inspection method according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the present specification, the same or similar reference numerals are given to different embodiments in the same or similar configurations.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 대상물 비전 검사 장치(100)의 평면도이다. 본 도면을 참조하면, 대상물 비전 검사 장치(100)는, 공급 유닛(110), 이송 유닛(120), 대상물 감지 유닛(130), 카메라 유닛(140), 및 배출 유닛(150)을 포함할 수 있다.1 is a plan view of an object vision inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to this drawing, the object vision inspection apparatus 100 may include a supply unit 110, a transfer unit 120, an object detection unit 130, a camera unit 140, and an discharge unit 150. have.

공급 유닛(110)은 대상물(P)을 공급하는 요소이다. 공급 유닛(110)은 공급 부재(111), 및 정렬 부재(113)를 포함할 수 있다. 공급 부재(111)는 호퍼(hopper)의 형태로 이루어질 수 있으며, 대상물(P)을 시간당 일정 양만큼 정렬 부재(113)로 공급하도록 형성될 수 있다. The supply unit 110 is an element for supplying the object P. The supply unit 110 may include a supply member 111 and an alignment member 113. The supply member 111 may be formed in the form of a hopper and may be formed to supply the object P to the alignment member 113 by a predetermined amount per hour.

정렬 부재(113)는 서로 모여져 있는 대상물(P)을 겹치지 않게 낱개 단위로 분리하고 일정한 자세로 정렬시킨다. 구성적인 측면에 있어서, 정렬 부재(113)는 볼(bowl) 피더(115), 및 직선 피더(117)를 포함할 수 있다.Alignment member 113 separates the objects (P) gathered from each other in units so as not to overlap each other and align in a predetermined posture. In an aspect of construction, the alignment member 113 may include a bowl feeder 115, and a straight feeder 117.

볼 피더(115)는 대상물(P)이 모여져 있는 상태에서 진동에 의하여 상호 분리되면서 특정 방향을 따라 안내되도록 구성된다. 볼 피더(115)는 대상물(P)을 이송하는 중에 대상물(P)이 특정 자세를 갖도록 유도하거나 특정된 자세를 갖지 않는 대상물(P)을 탈락시킨다. 종류에 있어서 볼 피더(115)는 계단형, 원추형, 원통형, 접시형, 단종형 등 알려져 있는 다양한 타입으로 형성될 수 있다.The ball feeder 115 is configured to be guided along a specific direction while being separated from each other by vibration in a state in which the object P is collected. The ball feeder 115 induces the object P to have a specific posture or drops the object P that does not have a specific posture while transferring the object P. FIG. The ball feeder 115 may be formed in various types, such as a stepped shape, a conical shape, a cylindrical shape, a saucer shape, a discontinuous shape, and the like.

볼 피더(115)에 의해 일정 자세로 공급된 대상물(P)은 직선 피더(117)에 의해 이송 유닛(120)에 일렬로 공급된다. 직선 피더(117)는 대상물(P)을 먼저 진행된 대상물(P)에 밀착시킬 수 있다. 공급 속도를 증대시키고 상호 간의 간격을 일정하게 유지하기 위해 직선 피더(117)에는 공기압 노즐과 같은 푸셔(pusher)가 구비될 수 있다. 직선 피더(117)의 끝단에는 한꺼번에 대상물(P)이 복수 개가 공급되는 것(잼)을 방지하기 위한 기계적 또는 전자적 장치를 포함할 수 있다. 그러한 잼 방지 장치는 스프링에 의해 젖혀질 수 있는 암(arm) 또는 게이트(gate)나 롤러(roller) 등이 채택될 수 있다.The objects P supplied in a predetermined posture by the ball feeder 115 are supplied in a row to the transfer unit 120 by the straight feeder 117. The straight feeder 117 may bring the object P into close contact with the object P previously advanced. The straight feeder 117 may be equipped with a pusher, such as a pneumatic nozzle, to increase the feed rate and to maintain a constant gap therebetween. The end of the straight feeder 117 may include a mechanical or electronic device for preventing the supply (jam) of a plurality of objects (P) at one time. Such an anti-jamming device may be an arm or a gate or a roller that can be tilted by a spring.

이송 유닛(120)은 직선 피더(117)로부터 공급된 대상물(P)을 이송하는 요소이다. 대상물(P)은 이송 유닛(120)에 의해 이송 방향(T)을 따라 이송될 수 있다. 이송 유닛(120)의 구체적인 구성에 대해서는 도 2를 참조하여 후술한다.The transfer unit 120 is an element for transferring the object P supplied from the straight feeder 117. The object P may be conveyed along the conveying direction T by the conveying unit 120. A detailed configuration of the transfer unit 120 will be described later with reference to FIG. 2.

다시 도 1을 참조하면, 대상물 감지 유닛(130)은 이송 유닛(120)으로 공급된 대상물(P)의 위치 또는 존재 여부를 확인하는 요소이다. 대상물 감지 유닛(130)은 대상물(P)이 대상물 감지 유닛(130)을 지나치는지를 감지하여 위치 및 대상물(P) 간의 간격에 관한 정보를 테이터 처리부에 전송한다. 대상물(P)의 감지를 위하여 광센서, 근접센서 등이 사용될 수 있다. 이외에도 대상물 감지 유닛(130)은 엔코더 형태로 구현될 수 있다.Referring back to FIG. 1, the object detecting unit 130 is an element for checking the position or existence of the object P supplied to the transfer unit 120. The object detecting unit 130 detects whether the object P passes the object detecting unit 130 and transmits information about the position and the distance between the object P to the data processing unit. An optical sensor, a proximity sensor, or the like may be used to detect the object P. In addition, the object sensing unit 130 may be implemented in an encoder form.

카메라 유닛(140)은 대상물(P)을 촬영하는 요소이다. 카메라 유닛(140)은 이송 중인 대상물(P)을 촬영하여 대상물(P)의 표면에 대한 정보를 획득할 수 있다. 카메라 유닛(140)의 구체적인 구성 및 작동 방식에 대해서는 도 2를 참조하여 후술한다.The camera unit 140 is an element for photographing the object P. FIG. The camera unit 140 may acquire information on the surface of the object P by photographing the object P being transferred. A detailed configuration and operation method of the camera unit 140 will be described later with reference to FIG. 2.

다시 도 1을 참조하면, 배출 유닛(150)은 검사가 완료된 대상물(P)을 분류하여 배출시키는 요소이다. 배출 유닛(150)은 적어도 하나의 양품 배출부(151), 및 불량품 배출부(153)를 포함할 수 있다. 정확한 배출을 위하여 배출 유닛(150)은 공압으로 대상물(P)을 이동시키는 공압 노즐(155)을 포함할 수 있다.Referring back to FIG. 1, the discharge unit 150 is an element for classifying and discharging the object P for which the inspection is completed. Discharge unit 150 may include at least one good product discharge unit 151, and defective product discharge unit 153. The discharge unit 150 may include a pneumatic nozzle 155 for moving the object (P) at pneumatic pressure for accurate discharge.

이외에도 대상물 비전 검사 장치(100)는 각 전자 부품들을 제어하거나 감지 또는 측정된 결과를 받는 데이터 처리부와, 검사 상태를 시각적으로 표시하기 위한 디스플레이를 포함할 수 있다. 데이터 처리부는 양품과 불량품을 구별하기 위한 알고리즘이 포함된 소프트웨어를 내장하고, 또한 사용자의 조작 또는 알림을 용이하게 하기 위한 시각적 사용자 인터페이스(graphic user interface: GUI)를 갖출 수 있다. In addition, the object vision inspection apparatus 100 may include a data processor that controls each electronic component or receives a detected or measured result, and a display for visually displaying an inspection state. The data processing unit may embed software including an algorithm for distinguishing good and bad parts, and may also have a graphical user interface (GUI) for facilitating a user's operation or notification.

도 2는 도 1의 대상물 비전 검사 장치(100)의 개념적인 사시도이다. 본 도면(및 도 1)을 참조하면, 대상물 비전 검사 장치(100)는, 공급 유닛(110), 이송 유닛(120), 대상물 감지 유닛(130), 카메라 유닛(140), 배출 유닛(150), 신호 검사 유닛(160), 및 양부 판단 유닛(170)을 포함할 수 있다. 이하에서는, 전술한 공급 유닛(110), 대상물 감지 유닛(130), 및 배출 유닛(150) 이외에, 이송 유닛(120), 카메라 유닛(140), 신호 검사 유닛(160), 및 양부 판단 유닛(170)에 대하여 구체적으로 설명한다.FIG. 2 is a conceptual perspective view of the object vision inspection apparatus 100 of FIG. 1. Referring to this drawing (and FIG. 1), the object vision inspection apparatus 100 includes a supply unit 110, a transfer unit 120, an object detection unit 130, a camera unit 140, and an discharge unit 150. , The signal inspection unit 160, and the determination unit 170 may be included. Hereinafter, in addition to the supply unit 110, the object detection unit 130, and the discharge unit 150 described above, the transfer unit 120, the camera unit 140, the signal inspection unit 160, and the quantity determination unit ( 170 will be described in detail.

이송 유닛(120)은 한 쌍의 회전 롤러(121), 및 구동 제어부(123)를 포함할 수 있다. The transfer unit 120 may include a pair of rotating rollers 121 and a driving controller 123.

회전 롤러(121)는 대상물(P)을 이송하는 요소이다. 회전 롤러(121)는 대상물(P)이 자중에 의해 미끄러져 이송될 수 있도록 대상물(P)의 이송 방향(T)을 따라 기울어져 설치될 수 있다. 회전 롤러(121)는 제1 회전 롤러(121a), 및 제2 회전 롤러(121b)를 포함할 수 있다. 제1 회전 롤러(121a) 및 제2 회전 롤러(121b)는 상호 이격되어 배치될 수 있고, 대상물(P)을 그 사이에 두고 굴릴 수 있게 상호 동일한 회전 방향(R)을 따라 회전될 수 있다.The rotary roller 121 is an element which conveys the object P. As shown in FIG. The rotary roller 121 may be installed to be inclined along the conveying direction T of the object P so that the object P may be slid and conveyed by its own weight. The rotary roller 121 may include a first rotary roller 121a and a second rotary roller 121b. The first rotating roller 121a and the second rotating roller 121b may be disposed to be spaced apart from each other, and may be rotated along the same rotational direction R to be rolled with the object P therebetween.

구동 제어부(123)는 회전 롤러(121)의 회전수를 조절하는 요소이다. 구동 제어부(123)는 대상물(P)이 검사 영역(Z) 내에서 일회전 이상 구르도록 회전 롤러(121)의 회전수를 조절할 수 있다.The drive controller 123 is an element for adjusting the rotation speed of the rotating roller 121. The driving controller 123 may adjust the rotation speed of the rotating roller 121 so that the object P rolls one or more rotations in the inspection area Z. FIG.

카메라 유닛(140)은 대상물(P)의 이미지를 획득하는 요소이다. 카메라 유닛(140)은 회전 롤러(121)의 상측에 배치되어, 대상물(P)이 검사 영역(Z) 내에서 구를 때에 대상물(P)을 복수회 촬영할 수 있다. 여기서, 카메라 유닛(140)은 에어리어 카메라(area camera)일 수 있다.The camera unit 140 is an element for obtaining an image of the object P. The camera unit 140 is disposed above the rotating roller 121, and can photograph the object P multiple times when the object P is rolled in the inspection area Z. FIG. Here, the camera unit 140 may be an area camera.

신호 검사 유닛(160)은 전기를 이용하여 대상물(P)로부터 출력 신호를 검출하는 요소이다. 신호 검사 유닛(160)은, 전도 영역부(161), 입력부(163), 및 검출부(165)를 포함할 수 있다.The signal inspection unit 160 is an element that detects an output signal from the object P using electricity. The signal inspecting unit 160 may include a conductive region 161, an input unit 163, and a detector 165.

전도 영역부(161)는 대상물(P)과 전기적으로 접속되는 요소이다. 전도 영역부(161)는 제1 회전 롤러(121a)에 형성되는 제1 전도 영역부(161a), 및 제2 회전 롤러(121b)에 형성되는 제2 전도 영역부(161b)를 포함할 수 있다. 전도 영역부(161)는 회전 롤러(121)에서 검사 영역(Z)에 대응하는 구간에 형성될 수 있다. 전도 영역부(161)는 회전 롤러(121)의 외면에 코팅되는 방식으로 형성될 수도 있다.The conductive region portion 161 is an element electrically connected to the object P. FIG. The conductive region portion 161 may include a first conductive region portion 161a formed on the first rotating roller 121a and a second conductive region portion 161b formed on the second rotating roller 121b. . The conductive region 161 may be formed in a section corresponding to the inspection region Z in the rotating roller 121. The conductive region 161 may be formed in a manner that is coated on the outer surface of the rotary roller 121.

입력부(163)는 전도 영역부(161)에 전류를 인가하는 요소이다. 이를 위해, 입력부(163)는 제1 전도 영역부(161a) 및 제2 전도 영역부(161b) 중 적어도 어느 하나와 전기적으로 접속될 수 있다.The input unit 163 is an element that applies a current to the conductive region unit 161. To this end, the input unit 163 may be electrically connected to at least one of the first conductive region 161a and the second conductive region 161b.

검출부(165)는 대상물(P)에 인가된 전류에 의해 대상물(P)로부터 출력되는 출력 신호를 검출하는 요소이다. 이를 위해, 검출부(165)는 제1 전도 영역부(161a) 및 제2 전도 영역부(161b) 중 적어도 어느 하나와 전기적으로 접속될 수 있다.The detector 165 is an element that detects an output signal output from the object P by the current applied to the object P. FIG. To this end, the detector 165 may be electrically connected to at least one of the first conductive region 161a and the second conductive region 161b.

양부 판단 유닛(170)은 대상물(P)의 양부를 판단하는 요소이다. 양부 판단 유닛(170)은 카메라 유닛(140)로부터 대상물(P)의 이미지를 입력 받고, 신호 검사 유닛(160)으로부터 대상물(P)에 관한 출력 신호를 입력 받을 수 있다. 양부 판단 유닛(170)은 입력 받은 이미지 및 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 대상물(P)의 양부를 판단할 수 있다.The acceptance determination unit 170 is an element that determines the acceptance of the object P. FIG. The fitness determination unit 170 may receive an image of the object P from the camera unit 140, and may receive an output signal of the object P from the signal inspection unit 160. The determination unit 170 may determine whether the object P is based on at least one of the input image and the output signal.

이하에서는, 상술한 대상물 비전 검사 장치(100)의 작동 방식에 대하여 구체적으로 설명한다. 본 실시예에서, 대상물(P)은 핀(pin)과 같이 일정한 지름을 갖는 소형 샤프트일 수 있다. 이러한 대상물(P)은 공급 유닛(110)으로부터 이송 유닛(120)에 일렬로 공급될 수 있다. 이송 유닛(120)에 공급된 대상물(P)은 한 쌍의 회전 롤러(121)의 사이에 놓이게 되고, 자중에 의해 미끄러져 이송될 수 있다. 여기서, 대상물(P)의 이송 속도는 회전 롤러(121)의 기울기에 따라 조절될 수 있다. 또한, 한 쌍의 회전 롤러(121)는 상호 동일한 방향(R)으로 회전할 수 있고 대상물(P)의 외주면과 접하게 되므로, 대상물(P)은 회전 롤러(121)의 회전 방향(R)과 반대 방향(R')을 따라 회전하면서 이송될 수 있다.Hereinafter, an operation method of the object vision inspection apparatus 100 described above will be described in detail. In this embodiment, the object P may be a small shaft having a constant diameter, such as a pin. These objects P may be supplied in a row from the supply unit 110 to the transfer unit 120. The object P supplied to the conveying unit 120 is placed between the pair of rotating rollers 121 and may be conveyed by sliding by its own weight. Here, the feed speed of the object P may be adjusted according to the inclination of the rotary roller 121. In addition, the pair of rotating rollers 121 can rotate in the same direction (R) and contact with the outer circumferential surface of the object (P), the object (P) is opposite to the rotation direction (R) of the rotating roller (121) It may be conveyed while rotating along the direction R '.

이송 중인 대상물(P)은 대상물 감지 유닛(130)에 의해 그 위치가 감지될 수 있다. 이에 의해, 카메라 유닛(140)은 대상물(P) 촬영 대기 상태에 놓일 수 있다. 이에 따라, 대상물(P)이 이송되어 검사 영역(Z)에 도달하면, 카메라 유닛(140)은 대상물(P)의 외면을 촬영할 수 있다. 여기서, 카메라 유닛(140)은 에어리어 카메라일 수 있으므로, 검사 영역(Z)의 전범위에서 대상물(P)의 이미지를 촬영할 수 있다.The position of the object P being transferred may be detected by the object detecting unit 130. As a result, the camera unit 140 may be placed in the standby state for photographing the object P. FIG. Accordingly, when the object P is transferred to reach the inspection area Z, the camera unit 140 may photograph the outer surface of the object P. FIG. Here, since the camera unit 140 may be an area camera, the camera unit 140 may capture an image of the object P in the entire range of the inspection area Z.

한 쌍의 회전 롤러(121)는 구동 제어부(123)에 의해 회전수가 조절되어, 대상물(P)이 검사 영역(Z) 내에서 일회전 이상 구르도록 할 수 있다. 이러한 구성과 함께, 에어리어 카메라는 대상물(P)을 복수회 촬영함으로써 대상물(P)의 외면 전체에 관한 이미지를 획득할 수 있다.The rotational speed of the pair of rotating rollers 121 is controlled by the drive control unit 123, so that the object P can be rolled more than one rotation in the inspection area Z. With this configuration, the area camera can acquire an image of the entire outer surface of the object P by photographing the object P a plurality of times.

한편, 대상물(P)은 검사 영역(Z) 내에서 회전 롤러(121)에 형성된 전도 영역부(161)와 접촉될 수 있다. 여기서, 전도 영역부(161)는 상술한 것과 같이 입력부(163) 및 검출부(165)와 전기적으로 접속될 수 있다. 예컨대, 제1 전도 영역부(161a)는 입력부(163)와 접속될 수 있고, 제2 전도 영역부(161b)는 검출부(165)와 접속될 수 있다.On the other hand, the object P may be in contact with the conductive region portion 161 formed on the rotating roller 121 in the inspection region (Z). Herein, the conductive region 161 may be electrically connected to the input unit 163 and the detector 165 as described above. For example, the first conductive region 161a may be connected to the input unit 163, and the second conductive region 161b may be connected to the detector 165.

여기서, 제1 회전 롤러(121a)와 제2 회전 롤러(121b)는 상호 이격되어 배치될 수 있으므로, 대상물(P)이 검사 영역(Z)에 도달하면 도체인 대상물(P)에 의해 제1 전도 영역부(161a)와 제2 전도 영역부(161b)는 상호 전기적으로 접속될 수 있다. 이에 따라, 입력부(163)는 제1 전도 영역부(161a)에 전류를 공급하여 대상물(P)에 이 입력 전류를 인가할 수 있고, 검출부(165)는 인가된 전류에 의해 대상물(P)로부터 출력되는 출력 신호를 제2 전도 영역부(161b)를 통해 검출할 수 있다. 검출되는 출력 신호에 대해서는 도 3을 참조하여 후술한다.In this case, since the first rotating roller 121a and the second rotating roller 121b may be spaced apart from each other, when the object P reaches the inspection region Z, the first conductive roller 121a conducts first conduction by the object P, which is a conductor. The region portion 161a and the second conductive region portion 161b may be electrically connected to each other. Accordingly, the input unit 163 may supply a current to the first conductive region portion 161a to apply the input current to the object P, and the detection unit 165 may remove the current from the object P by the applied current. The output signal may be detected through the second conductive region 161b. The detected output signal will be described later with reference to FIG. 3.

다시 도 2를 참조하면, 양부 판단 유닛(170)은 카메라 유닛(140) 및 신호 검사 유닛(160)으로부터 각각 대상물(P)의 이미지 및 출력 신호를 입력 받아 이를 근거로 하여 대상물(P)의 불량 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 대상물(P)의 이미지에서 결함 또는 이물질이 발견되거나, 출력 신호로부터 정상 범위(N)를 넘어서는 이상 신호가 발견되는 경우, 양부 판단 유닛(170)은 해당 대상물(P)을 불량품으로 판정할 수 있다. 양부 판단 유닛(170)의 작동 방식에 대해서는 도 4를 참조하여 후술한다.Referring back to FIG. 2, the determination unit 170 receives an image and an output signal of the object P from the camera unit 140 and the signal inspection unit 160, respectively, and based on this, the object P is defective. It can be determined. For example, when a defect or foreign matter is found in the image of the object P, or when an abnormal signal is found beyond the normal range N from the output signal, the delivery judgment unit 170 determines the object P as a defective product. It can be determined. The operation method of the determination unit 170 will be described later with reference to FIG. 4.

본 실시예에서, 대상물 비전 검사 장치(100)는 와전류 검사 유닛을 더 포함할 수도 있다. 와전류 검사 유닛은 대상물(P)의 이송 방향(T)을 따라 배치되는 와이어형 와전류 검사기, 회전 롤러(121)의 일 영역에 대상물(P)이 통과할 수 있게 배치되는 터널형 와전류 검사기, 또는 기타의 와전류 센서 등으로 구성될 수 있다.In the present embodiment, the object vision inspection apparatus 100 may further include an eddy current inspection unit. The eddy current inspection unit may be a wire type eddy current inspector disposed along the conveying direction T of the object P, a tunnel type eddy current inspector arranged to allow the object P to pass through a region of the rotating roller 121, or the like. Eddy current sensor and the like.

도 3은 도 1의 대상물 비전 검사 장치(100)의 신호 검사 유닛(160)에 의해 검출되는 출력 신호의 그래프이다. 구체적으로, 도 3(a)는 양품 대상물(P)에 대한 출력 신호의 그래프이고, 도 3(b)는 불량품 대상물(P)에 대한 출력 신호의 그래프이다.3 is a graph of an output signal detected by the signal inspection unit 160 of the object vision inspection apparatus 100 of FIG. 1. Specifically, Figure 3 (a) is a graph of the output signal for the non-defective object (P), Figure 3 (b) is a graph of the output signal for the defective object (P).

도 3(a)(및 도 2)를 참조하면, 출력 신호는 제1 구간(I1) 내지 제5 구간(I5)으로 구분될 수 있다. 여기서, 전도 영역부(161)는 상술한 것과 같이 검사 영역(Z)과 동일한 영역에 형성될 수 있다.Referring to FIG. 3A (and FIG. 2), the output signal may be divided into a first section I1 to a fifth section I5. Herein, the conductive region 161 may be formed in the same region as the inspection region Z as described above.

제1 구간(I1)은 대상물(P)이 검사 영역(Z)에 도달하기 전의 출력 신호를 나타내는 구간이다. 상술한 것과 같이, 제1 전도 영역부(161a)와 제2 전도 영역부(161b)는 상호 이격 배치된 한 쌍의 회전 롤러(121)에 의해 상호 분리되어 있으므로, 제1 구간(I1)에서 출력 신호는 검출되지 않을 수 있다.The first section I1 is a section representing an output signal before the object P reaches the inspection region Z. FIG. As described above, since the first conductive region portion 161a and the second conductive region portion 161b are separated from each other by a pair of rotating rollers 121 spaced apart from each other, the first conductive region portion 161a and the second conductive region portion 161b are outputted in the first section I1. The signal may not be detected.

제2 구간(I2)은 대상물(P)이 검사 영역(Z)에 진입하는 구간이다. 대상물(P)은 검사 영역(Z)에 진입함에 따라 전도 영역부(161)와 접하는 외주면 영역이 증가하게 되므로, 출력 신호도 이와 함께 증가하는 양상을 보일 수 있다.The second section I2 is a section in which the object P enters the inspection region Z. As the object P enters the inspection region Z, an area of the outer circumferential surface of the conductive region 161 that is in contact with the conductive region 161 increases, so that the output signal may increase.

제3 구간(I3)은 대상물(P)이 검사 영역(Z) 내에 완전히 들어선 구간이다. 이 구간에서 대상물(P)은 그 외주면 전체가 전도 영역부(161)와 접촉하게 되므로, 출력 신호도 일정한 양상을 보일 수 있다.The third section I3 is a section in which the object P completely enters the inspection region Z. In this section, since the entire outer circumferential surface of the object P comes into contact with the conductive region 161, the output signal may also exhibit a certain aspect.

제4 구간(I4)은 대상물(P)이 검사 영역(Z)으로부터 빠져 나가는 구간이다. 대상물(P)은 검사 영역(Z)으로부터 빠져 나감에 따라 전도 영역부(161)와 접촉하게 되는 외주면 영역도 감소하게 되므로, 출력 신호도 이와 함께 감소하는 양상을 보일 수 있다.The fourth section I4 is a section in which the object P exits from the inspection area Z. FIG. As the object P exits from the inspection region Z, the area of the outer circumferential surface that comes into contact with the conductive region 161 also decreases, and thus, the output signal may also decrease.

제5 구간(I5)은 대상물(P)이 검사 영역(Z)에서 완전히 빠져나간 구간이다. 이 구간에서 제1 전도 영역부(161a)와 제2 전도 영역부(161b)는 상호 분리되므로, 출력 신호도 검출되지 않을 수 있다.The fifth section I5 is a section in which the object P completely exits the inspection area Z. FIG. In this section, since the first conductive region 161a and the second conductive region 161b are separated from each other, an output signal may not be detected.

도 3(b)를 참조하면, 출력 신호는 제3 구간(I3)에서 이상 파형을 보일 수 있다. 이러한 이상 파형은 본 도면에 도시된 것과 같이 신호 튐 현상을 보이는 형태로 나타날 수 있다. Referring to FIG. 3B, the output signal may show an abnormal waveform in the third section I3. Such an abnormal waveform may be in the form of showing a signal shock phenomenon as shown in this figure.

이러한 이상 파형을 이용한 대상물(P)의 양부 판단은 출력 신호의 정상 범위(N)를 설정함으로써 이루어질 수 있다. 출력 신호의 정상 범위(N)는 복수의 대상물(P)에 대한 반복 테스트를 통해 얻어지는 통계치를 이용하여 획득될 수 있다. 이하에서는, 이러한 출력 신호를 이용하여 대상물(P)을 검사하는 방법에 대해 구체적으로 설명한다.The determination of whether the object P is using the abnormal waveform can be made by setting the normal range N of the output signal. The normal range N of the output signal may be obtained using statistics obtained through repeated tests on the plurality of objects P. FIG. Hereinafter, a method of inspecting the object P using this output signal will be described in detail.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 대상물 비전 검사 방법의 순서도이다. 본 도면(및 도 2)을 참조하면, 대상물 비전 검사 방법은 이송 유닛(120)을 가동하여 대상물(P)을 검사 영역(Z) 내로 이송하는 것으로 시작된다(S1). 대상물(P)이 검사 영역(Z) 내에 도달하면, 카메라 유닛(140)은 대상물(P)의 이미지를 획득할 수 있다(S3). 여기서, 대상물(P)은 회전 롤러(121)의 회전에 의해 구를 수 있으므로, 카메라 유닛(140)은 대상물(P)의 전둘레 영역에 대한 이미지를 획득할 수 있다.4 is a flowchart of an object vision inspection method according to another embodiment of the present invention. With reference to this figure (and FIG. 2), the object vision inspection method begins by operating the transfer unit 120 to transfer the object P into the inspection region Z (S1). When the object P reaches the inspection area Z, the camera unit 140 may acquire an image of the object P (S3). Here, since the object P may be rolled by the rotation of the rotating roller 121, the camera unit 140 may acquire an image of the entire circumference area of the object P. FIG.

카메라 유닛(140)이 이미지를 획득할 때, 신호 검사 유닛(160)은 대상물(P)에 전류를 인가하고 이 인가된 전류에 의해 대상물(P)로부터 출력되는 출력 신호를 검출할 수 있다(S5). 이러한 출력 신호 및 상술한 이미지는 양부 판단 유닛(170)에 입력될 수 있다(S7).When the camera unit 140 acquires an image, the signal inspecting unit 160 may apply a current to the object P and detect an output signal output from the object P by the applied current (S5). ). Such an output signal and the above-described image may be input to the positive determination unit 170 (S7).

양부 판단 유닛(170)은 대상물(P)의 이미지 및 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 대상물(P)의 양부를 판단할 수 있다. 구체적으로, 양부 판단 유닛(170)은 출력 신호가 정상으로 판단되면(S9), 대상물(P)을 양품으로 판정할 수 있다(S11).The fitness determination unit 170 may determine whether the fitness of the object P is based on at least one of an image of the object P and an output signal. Specifically, when the output determination unit 170 determines that the output signal is normal (S9), it is possible to determine the object (P) as good (S11).

이와 달리, 출력 신호가 불량으로 판단되면, 양부 판단 유닛(170)은 대상물(P)의 이미지가 정상인지 별도로 판단할 수 있다(S13). 판단 결과, 이미지가 정상이면, 양부 판단 유닛(170)은 해당 대상물(P)을 내부 결함이 존재하는 것으로 판정할 수 있다(S15). 또한, 이미지가 불량이면, 양부 판단 유닛(170)은 해당 대상물(P)을 표면 결함이 존재하는 것으로 판정할 수 있다(S17). 여기서, 내부 결함 또는 표면 결함이 있는 것으로 판정된 대상물(P)은 불량품으로 판정될 수 있다(S19).On the contrary, if it is determined that the output signal is bad, the fitness determination unit 170 may separately determine whether the image of the object P is normal (S13). As a result of the determination, if the image is normal, the affirmation determination unit 170 may determine that the target object P has an internal defect (S15). In addition, if the image is defective, the acceptance determination unit 170 may determine that the object P exists as a surface defect (S17). Here, the object P, which is determined to have an internal defect or surface defect, may be determined to be a defective product (S19).

이후, 양품으로 판정된 대상물(P)은 양품 배출부(151)로 수집되고(S21), 불량품으로 판정된 대상물(P)은 불량품 배출부(153)로 각각 수집될 수 있다(S23).Subsequently, the object P determined as good quality is collected by the good quality discharge unit 151 (S21), and the object P determined as defective quality may be collected by the defective product discharge unit 153 (S23).

상기와 같은 대상물 비전 검사 장치 및 대상물 비전 검사 방법은 위에서 설명된 실시예들의 구성과 작동 방식에 한정되는 것이 아니다. 상기 실시예들은 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 구성될 수도 있다.
The object vision inspection apparatus and the object vision inspection method as described above are not limited to the configuration and operation of the embodiments described above. The embodiments may be configured so that all or some of the embodiments may be selectively combined so that various modifications may be made.

100: 대상물 비전 검사 장치 110: 공급 유닛
120: 이송 유닛 130: 대상물 감지 유닛
140: 카메라 유닛 150: 배출 유닛
160: 신호 검사 유닛 170: 양부 판단 유닛100: object vision inspection device 110: supply unit
120: transfer unit 130: object detection unit
140: camera unit 150: discharge unit
160: signal inspection unit 170: acceptance determination unit

Claims (9)

대상물을 공급하도록 형성되는 공급 유닛;
상기 공급 유닛으로부터 공급된 대상물을 자중에 의해 미끄러뜨려 이송하며 굴릴 수 있게 형성되는 이송 유닛;
상기 대상물이 상기 이송 유닛에 의해 검사 영역 내에 도달하면 상기 대상물의 이미지를 획득하는 카메라 유닛; 및
상기 대상물과 접촉할 수 있도록 상기 이송 유닛에 형성되어, 상기 대상물에 전류를 인가하고 상기 인가된 전류에 의해 상기 대상물로부터 출력되는 출력 신호를 검출하여 상기 대상물의 내부에 존재하는 결함을 판단할 수 있게 형성되는 신호 검사 유닛을 포함하는, 대상물 비전 검사 장치.
A supply unit configured to supply an object;
A conveying unit which is formed to slide and convey the object supplied from the supply unit by its own weight;
A camera unit for acquiring an image of the object when the object reaches the inspection area by the transfer unit; And
It is formed in the transfer unit to be in contact with the object, to apply a current to the object and to detect the output signal output from the object by the applied current to determine the defect present in the object An object vision inspection device comprising a signal inspection unit is formed.
제1항에 있어서,
상기 이송 유닛은,
상기 대상물의 이송 방향을 따라 기울어져 설치되며, 상기 대상물을 사이에 두고 굴릴 수 있게 형성되는 한 쌍의 회전 롤러를 포함하는, 대상물 비전 검사 장치.
The method of claim 1,
The transfer unit
It is installed inclined along the conveying direction of the object, comprising a pair of rotating rollers are formed to be able to roll the object therebetween, the object vision inspection apparatus.
제2항에 있어서,
상기 이송 유닛은,
상기 카메라 유닛이 상기 대상물의 외주면의 전영역을 촬영할 수 있도록 상기 회전 롤러의 회전수를 조절하는 구동 제어부를 더 포함하는, 대상물 비전 검사 장치.
3. The method of claim 2,
The transfer unit
And a drive controller for adjusting the rotational speed of the rotating roller so that the camera unit can photograph the entire area of the outer circumferential surface of the object.
삭제delete 제2항에 있어서,
상기 신호 검사 유닛은,
상기 대상물과 접촉할 수 있도록 상기 회전 롤러에 형성되는 전도 영역부;
상기 전도 영역부에 전류를 공급하는 입력부; 및
성기 전도 영역부와 접속되어 상기 대상물로부터 상기 인가된 전류에 의한 출력 신호를 검출하는 검출부를 포함하는, 대상물 비전 검사 장치.
3. The method of claim 2,
The signal inspection unit,
A conductive region formed in the rotating roller so as to be in contact with the object;
An input unit supplying a current to the conductive region unit; And
And a detection unit connected to the genital conduction region unit for detecting an output signal by the applied current from the object.
제5항에 있어서,
상기 전도 영역부는,
상기 회전 롤러에서 상기 검사 영역에 대응하는 구간에 형성되는, 대상물 비전 검사 장치.
6. The method of claim 5,
The conductive region portion,
The object vision inspection apparatus is formed in the section corresponding to the inspection region in the rotating roller.
제1항에 있어서,
상기 카메라 유닛으로부터 상기 이미지를 입력 받고 상기 신호 검사 유닛으로부터 상기 출력 신호를 입력 받아, 상기 이미지 및 상기 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 상기 대상물의 양부를 판단하는 양부 판단 유닛을 더 포함하는, 대상물 비전 검사 장치.
The method of claim 1,
The object further comprises a determination unit for receiving the image from the camera unit and the output signal from the signal inspection unit, and determines whether the object of the object based on at least one of the image and the output signal. Vision inspection device.
이송 유닛을 가동하여 대상물을 검사 영역 내로 이송하는 단계;
상기 대상물이 상기 검사 영역 내에 도달하면, 카메라 유닛을 작동하여 상기 대상물의 이미지를 획득하는 단계;
신호 검사 유닛을 가동하여, 상기 검사 영역 내에서 상기 대상물에 전류를 인가하고 상기 인가된 전류에 의해 상기 대상물로부터 출력되는 출력 신호를 검출하는 단계;
양부 판단 유닛을 작동하여, 상기 이미지 및 상기 출력 신호 중 적어도 어느 하나에 근거하여 상기 대상물의 양부를 판단하는 단계; 및
상기 이미지가 정상으로 판단되고 상기 출력 신호가 불량으로 판단되면, 상기 대상물을 불량품으로 판정하는 단계를 포함하는, 대상물 비전 검사 방법.
Operating the transfer unit to transfer the object into the inspection area;
When the object reaches within the inspection area, operating a camera unit to obtain an image of the object;
Operating a signal inspection unit to apply a current to the object in the inspection area and to detect an output signal output from the object by the applied current;
Operating a good judgment unit, and determining whether the target object is good or not based on at least one of the image and the output signal; And
If the image is determined to be normal and the output signal is determined to be defective, determining the object as defective.
삭제delete
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110346379A (en) * 2019-08-22 2019-10-18 合肥工业大学 A kind of bearing defect failure detector and bearing defect method of detection
KR20240059078A (en) 2022-10-27 2024-05-07 주식회사 코드기어 AI-based automation system for identifying and classifying defective products

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100206365B1 (en) 1996-12-20 1999-07-01 전주범 Automatic badness discriminator for screw
JP2931867B2 (en) * 1988-11-16 1999-08-09 三菱原子燃料株式会社 Pellet handling device and pellet appearance inspection device
JP2006003248A (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Rasuko:Kk Surface characteristic inspection device of cylindrical component and its inspection method
KR101091502B1 (en) 2009-08-28 2011-12-08 김복종 Medical examination stick sweeping appratus and method using the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2931867B2 (en) * 1988-11-16 1999-08-09 三菱原子燃料株式会社 Pellet handling device and pellet appearance inspection device
KR100206365B1 (en) 1996-12-20 1999-07-01 전주범 Automatic badness discriminator for screw
JP2006003248A (en) * 2004-06-18 2006-01-05 Rasuko:Kk Surface characteristic inspection device of cylindrical component and its inspection method
KR101091502B1 (en) 2009-08-28 2011-12-08 김복종 Medical examination stick sweeping appratus and method using the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110346379A (en) * 2019-08-22 2019-10-18 合肥工业大学 A kind of bearing defect failure detector and bearing defect method of detection
CN110346379B (en) * 2019-08-22 2022-07-01 合肥工业大学 Bearing defect flaw detection device and bearing defect flaw detection method
KR20240059078A (en) 2022-10-27 2024-05-07 주식회사 코드기어 AI-based automation system for identifying and classifying defective products

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