KR101373222B1 - Apparatus for measuring thickness - Google Patents

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Abstract

The thickness measuring apparatus for curved surfaces according to the present invention comprises; a base to secure measured objects on one face; a measuring assembly to measure thicknesses of the measured object. The measuring assembly further comprises; a probe arranged on one side in a first direction of the base and rotated in the thickness direction according to a thickness of the measured object with one end touching one face of the measured object; a measuring unit including the measuring unit main body that supports the probe; and a dial gauge fixed in the measuring unit main body to measure displacements in the thickness direction of the probe while one end is in contact with one side of the probe. According to the embodiments of the present invention, thicknesses of a curved surface part of a display device can be accurately measured without errors, and curved surface parts of display devices having various thicknesses and shapes can be measured.In addition, according to the embodiments of the present invention, reliability for measurement stability and measurement errors can be improved by repeatedly measuring the same measurement parts even if measurements are made in a plurality of frequency, and damages to measurement parts can be prevented. Through this, quality management can be implemented easily for display devices having a curved surface shape.

Description

곡면부 두께 측정 장치{APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS}Curved thickness measuring device {APPARATUS FOR MEASURING THICKNESS}

본 발명은 곡면부 두께 측정 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 곡면을 형성된 판재의 두께를 측정할 수 있는 두께 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a curved portion thickness measuring apparatus, and more particularly, to a thickness measuring apparatus capable of measuring the thickness of a plate member having a curved surface.

최근 핸드폰, 태블릿 컴퓨터 등의 표시 장치들은 실사용자의 디자인적 요구 수준이 높아지고 제조사의 가공 기술도 발달함에 따라 다양한 형태로 구현되고 있다. Recently, display devices such as mobile phones and tablet computers have been implemented in various forms as the level of design requirements of real users increases and the processing technology of manufacturers also develops.

이러한 표시 장치들은 다양한 형상이 특징이기 때문에, 표시 장치의 외곽 치수의 관리가 타 부품보다 어렵고, 그 측정 자체도 까다로운 경우가 많다. 특히 단순한 평판 형상이 아닌 곡면부를 갖는 표시 장치는 종래의 버니어 캘리퍼스나 마이크로미터를 이용하여 두께를 측정하는 경우 곡면부의 측정 위치 설정이 모호하며 측정 오차가 크기 때문에, 정확하게 두께를 측정하기 어려웠다. 또한 측정시 표시 장치 표면에 흠집이 발생할 가능성이 있다. 곡면부를 갖는 표시 장치의 두께를 측정하는 것이 표시 장치의 치수를 측정하고 관리하는 데에 중요한 문제로 대두되고 있다.Since these display devices are characterized by various shapes, it is difficult to manage the outer dimensions of the display device than other components, and the measurement itself is often difficult. In particular, when the display device having a curved portion rather than a simple flat plate shape is measured using a conventional vernier caliper or a micrometer, the measurement position of the curved portion is ambiguous and the measurement error is large, so that it is difficult to accurately measure the thickness. In addition, scratches may occur on the surface of the display device during measurement. Measuring the thickness of the display device having the curved portion is an important problem for measuring and managing the dimensions of the display device.

본 발명의 일측면은 표시 장치 곡면부의 두께를 오차 없이 정확하게 측정하는 곡면부 두께 측정 장치를 제공하는 것이다.One aspect of the present invention is to provide a curved portion thickness measuring device for accurately measuring the thickness of the curved portion of the display device without errors.

또한 본 발명의 다양한 두께 및 형상을 갖는 표시 장치의 두께를 용이하게 측정할 수 있는 곡면부 두께 측정 장치를 제공하는 것이다.Another aspect of the present invention is to provide a curved portion thickness measuring apparatus capable of easily measuring the thickness of a display device having various thicknesses and shapes.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치는 일면에 피측정체가 안착되는 베이스 및 상기 피측정체의 두께를 측정하는 측정 어셈블리를 포함하며, 상기 측정 어셈블리는 상기 베이스의 제1 방향으로 일측에 배치되며, 상기 피측정체의 일면에 일단이 접하고 상기 피측정체의 두께에 따라 상기 두께 방향으로 회동하는 측정자와, 상기 측정자를 지지하는 측정부 몸체를 포함하는 측정부; 및 상기 측정부 몸체에 고정되고, 일단이 상기 측정자의 일측에 접하여 상기 측정자의 상기 두께 방향 변위를 측정하는 다이얼 게이지;를 포함한다. Curved part thickness measuring apparatus according to the present invention includes a base on which the measurement object is mounted on one surface and a measurement assembly for measuring the thickness of the measurement object, the measurement assembly is disposed on one side in the first direction of the base, A measuring unit including one measuring member which is in contact with one surface of the measuring object and rotates in the thickness direction according to the thickness of the measuring object, and a measuring unit body supporting the measuring member; And a dial gauge fixed to the measuring unit body, one end of which is in contact with one side of the measurer to measure the thickness displacement of the measurer.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 측정자는 상기 피측정체의 일면에 접하는 상기 일단이 구형의 팁(tip)으로 형성되는 것이 바람직하다.In the curved part thickness measuring apparatus according to the present invention, it is preferable that the measuring member is formed with a spherical tip of one end in contact with one surface of the measuring object.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 측정자는 다른 일단이 상기 측정부 몸체에 힌지 결합되는 것이 바람직하다.In the curved portion thickness measuring apparatus according to the present invention, it is preferable that the other end is hinged to the measuring unit body.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 측정부는 상기 피측정체와 거리를 조정하도록 상기 측정부 몸체가 상기 제1 방향으로 이동 가능하도록 구성된 것이 바람직하다.In the curved part thickness measuring apparatus according to the present invention, it is preferable that the measuring part is configured to be movable in the first direction so that the measuring part body adjusts a distance from the measuring object.

여기서 상기 측정부는 상기 측정부 몸체가 볼 스크류 방식 또는 LM 가이드 방식으로 이동하는 것이 바람직하다.Here, the measuring unit preferably moves the measuring unit body in a ball screw method or an LM guide method.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 베이스는, 상기 측정부 몸체에 가까운 일면에 형성되며, 상기 피측정체의 적어도 한 모서리에 접하여 상기 피측정체를 고정하는 걸림턱을 포함하는 것이 바람직하다.In the curved portion thickness measuring apparatus according to the present invention, the base is formed on one surface close to the measuring unit body, and includes a latching jaw to contact the at least one corner of the measuring object to fix the measuring object. desirable.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 측정 어셈블리는 복수개로 구비되어 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 나란히 배열되는 것이 바람직하다.In the curved part thickness measuring apparatus according to the present invention, it is preferable that a plurality of the measuring assemblies are provided and arranged side by side in a second direction perpendicular to the first direction.

여기서, 상기 복수개의 측정 어셈블리는 서로간의 간격을 조정할 수 있도록 각각 상기 제2 방향으로 가능하도록 구성된 것이 바람직하다.Here, the plurality of measurement assemblies are preferably configured to be possible in the second direction so as to adjust the distance between each other.

또한 상기 베이스는, 상기 일면에 형성되며, 상기 피측정체의 상기 제1 방향 및 제2 방향으로 형성되는 모서리와 접하여 상기 피측정체를 고정하는 걸림턱을 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the base is formed on the one surface, preferably contact with the corner formed in the first direction and the second direction of the object under test further comprises a locking step for fixing the object under measurement.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 다이얼 게이지는, 상기 측정자의 일측에 접하고 상기 측정자의 회동에 따라 회동하는 게이지 팁과, 상기 게이지 팁을 지지하며 상기 측정부 몸체에 고정되는 게이지 몸체와, 상기 게이지 몸체를 통해 상기 게이지 팁의 변위를 파악하여 표시하는 표시부를 포함하는 것이 바람직하다.In the curved portion thickness measuring apparatus according to the present invention, the dial gauge is in contact with one side of the measuring device and the gauge tip to rotate in accordance with the rotation of the measuring instrument, the gauge body supporting the gauge tip and fixed to the measuring unit body And, it is preferable to include a display unit for identifying and displaying the displacement of the gauge tip through the gauge body.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 게이지 팁은 상기 측정자와 연동하여 회동하는 것이 바람직하다.In the curved part thickness measuring apparatus according to the present invention, the gauge tip is preferably rotated in conjunction with the measuring device.

본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 있어서, 상기 게이지 팁은 다른 일단이 상기 게이지 몸체에 힌지 결합되는 것이 바람직하다.In the curved part thickness measuring apparatus according to the present invention, it is preferable that the other end of the gauge tip is hinged to the gauge body.

본 발명의 실시예들에 따르면 표시 장치 곡면부의 두께를 오차 없이 정확하게 측정할 수 있으며, 다양한 두께 및 형상을 갖는 표시 장치의 곡면부를 측정할 수있다.According to the exemplary embodiments of the present invention, the thickness of the curved portion of the display device may be accurately measured without errors, and the curved portion of the display device having various thicknesses and shapes may be measured.

또한 본 발명의 실시예들에 따르면 복수회를 측정하더라도 동일한 측정 부위를 반복적으로 측정하여 측정 안정성 및 측정 오차에 대한 신뢰도를 향상할 수 있으며, 측정 부위의 손상을 방지할 수 있다. 이를 통해 곡면부 형상을 갖는 표시 장치에 대한 품질 관리를 용이하게 할 수 있다.In addition, according to embodiments of the present invention, even if a plurality of measurements are made, the same measurement site may be repeatedly measured to improve measurement stability and reliability of measurement error, and to prevent damage to the measurement site. As a result, quality control of the display device having the curved shape may be facilitated.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 평면도이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 사용 상태도이다.
1 is a perspective view of a curved portion thickness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view of a curved portion thickness measuring apparatus according to another embodiment of the present invention.
3 and 4 is a state diagram used in the curved surface thickness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 곡면부 두께 측정 장치에 관하여 구체적으로 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, a curved portion thickness measuring apparatus according to the present invention with reference to the drawings will be described in detail. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, It is provided to let you know. Wherein like reference numerals refer to like elements throughout.

또한, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 “포함” 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서, “~상에”라 함은 대상 부분의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것이며, 반드시 중력 방향을 기준으로 상 측에 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.Also, throughout the specification, when an element is referred to as " including " an element, it is understood that the element may include other elements as well, without departing from the other elements unless specifically stated otherwise. Also, throughout the specification, the term " on " means to be located above or below a target portion, and does not necessarily mean that the target portion is located on the upper side with respect to the gravitational direction.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 사시도이다. 1 is a perspective view of a curved portion thickness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치는 베이스(10) 및 측정 어셈블리(20)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the curved part thickness measuring apparatus according to the exemplary embodiment includes a base 10 and a measuring assembly 20.

베이스(10)는 두께를 측정하고자 하는 피측정체(P)를 안착하는 부재로서, 일면에 피측정체(P)가 안착된다. 피측정체(P)는 곡면을 갖는 표시 장치일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 곡면뿐 아니라 평면을 갖는 소정 두께를 갖거나 표시 장치 외의 다양한 물체 중에서 선택될 수 있다. 베이스(10)에는 피측정체(P)의 적어도 일 모서리에 접하여 피측정체(P)를 고정하도록 측정부 몸체(110)에 가까운 일면에 돌출된 걸림턱(14)이 형성될 수 있다. 피측정체(P)의 일 모서리를 걸림턱(14)에 밀착시켜 피측정체(P)를 베이스(10)에 고정시킨다.The base 10 is a member on which the object P to be measured is to be measured, and the object P is mounted on one surface of the base 10. The object P may be a display device having a curved surface, but is not limited thereto. The object P may have a predetermined thickness having a flat surface as well as a curved surface, or may be selected from various objects other than the display device. The base 10 may have a locking projection 14 protruding from one surface close to the measurement unit body 110 so as to be in contact with at least one edge of the measurement object P to fix the measurement object P. One edge of the object P is closely attached to the locking jaw 14 to fix the object P to the base 10.

측정 어셈블리(20)는 피측정체(P)의 두께를 측정하기 위한 수단으로서, 측정부(100) 및 다이얼 게이지(200)를 포함하여 구성된다. The measuring assembly 20 is a means for measuring the thickness of the object P to be measured, and includes a measuring unit 100 and a dial gauge 200.

측정부(100)는 베이스(10)의 제 1 방향(x축 방향)으로 일측에 배치되며, 측정자(110) 및 측정부 몸체(120)를 포함하여 구성된다. 측정자(110)는 제1 방향을 따라 연장형성된 형태로 형성되며, 일단은 피측정체(P)의 일면에 접하고, 다른 일단은 측정부 몸체(120)에 힌지 결합될 수 있다. 측정자(110)는 피측정체(P)의 두께에 따라 두께 방향으로 회동한다. 측정자(110)가 피측정체(P)의 상부에 배치되는 경우, 측정자(110)는 상하 방향(z축 방향)으로 회동하여 일단이 피측정체(P)의 상면에 접할 수 있다. The measuring unit 100 is disposed at one side of the base 10 in the first direction (x-axis direction), and includes a measurer 110 and a measuring unit body 120. The measurer 110 may be formed to extend in a first direction, one end of which may be in contact with one surface of the object P, and the other end may be hinged to the measuring unit body 120. The measurer 110 rotates in the thickness direction according to the thickness of the object P. When the measurer 110 is disposed above the object P, the measurer 110 may rotate in the vertical direction (z-axis direction) so that one end may contact the upper surface of the object P.

측정부 몸체(120)는 측정자(110)를 지지하면서, 측정부(100)와 피측정체(P) 사이의 거리를 조정하도록 제1 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 측정부 몸체(120)가 제1 방향으로 이동함으로써, 두께를 측정하고자 하는 피측정체(P)의 지점을 선택할 수 있다.The measuring unit body 120 may be configured to be movable in the first direction to adjust the distance between the measuring unit 100 and the object P while supporting the measurer 110. As the measurement unit body 120 moves in the first direction, a point of the object P to be measured may be selected.

측정부 몸체(120)는 베이스(10)에 제1 방향으로 고정된 제1 이동 가이드(130)와 결합되고, 제1 이동 가이드(130)를 따라 제1 방향으로 이동할 수 있다. 이 때 측정부(100)는 볼 스크류 방식 또는 LM(Linear motion) 가이드 방식과 같은 직선 운동을 할 수 있는 장치 중에서 선택될 수 있다. 예를 들어 측정부(100)가 볼 스크류 방식이라면, 측정부 몸체(110)는 볼 스크류 베어링을, 제1 이동 가이드(130)는 볼스크류 리드와 같이 왕복운동 할 수 있는 장치를 포함하여 구성될 수 있다. 이들에 대한 구체적인 구성은 공지된 기술이므로, 당업자가 다양하게 변경하여 사용 가능하다. 또한 측정부 몸체(120) 및 제1 이동 가이드(130)는 상기 열거한 실시형태에 한정되는 것이 아니라 측정부(100) 직선 왕복 운동시킬 수 있는 장치 중에서 다양하게 변경되어 구현될 수 있을 것이다. 제1 이동 가이드(130)의 끝단에 연결된 이동 조정부(140)를 통해 측정부(100)의 제1 방향으로의 이동 거리를 조정할 수 있다. The measuring unit body 120 may be coupled to the first moving guide 130 fixed to the base 10 in the first direction and may move in the first direction along the first moving guide 130. In this case, the measuring unit 100 may be selected from devices capable of linear motion, such as a ball screw method or a linear motion (LM) guide method. For example, if the measuring unit 100 is a ball screw method, the measuring unit body 110 is configured to include a ball screw bearing, the first movement guide 130 may include a device capable of reciprocating, such as a ball screw lead. Can be. Since the specific configuration for these is a known technique, those skilled in the art can be used in various changes. In addition, the measurement unit body 120 and the first movement guide 130 is not limited to the above-listed embodiments, and may be variously modified and implemented among devices capable of linearly reciprocating the measurement unit 100. The movement distance of the measurement unit 100 in the first direction may be adjusted through the movement adjustment unit 140 connected to the end of the first movement guide 130.

다이얼 게이지(200)는 측정자(110)의 두께 방향 변위를 측정하는 장치로서, 측정부 몸체(120)에 고정된다. 따라서 측정부(100)가 제1 방향으로 이동하는 경우, 다이얼 게이지(200)도 함께 이동한다. The dial gauge 200 is a device for measuring the displacement in the thickness direction of the measurer 110 and is fixed to the measurement unit body 120. Therefore, when the measuring unit 100 moves in the first direction, the dial gauge 200 also moves together.

다이얼 게이지(200)는 일단이 측정자(110)의 일측에 접하여 측정자(110)의 두께 방향 변위를 측정하는데, 구체적으로는 일단이 측정자(110)의 일측에 접하고 측정자의 회동에 따라 회동하는 게이지 팁(210)과, 게이지 팁(210)을 지지하며 측정부 몸체(120)에 고정되는 게이지 몸체(220)와, 게이지 몸체(220)를 통해 게이지 팁(210)의 변위를 파악하여 표시하는 표시부(230)를 포함하여 구성될 수 있다. 게이지 팁(210)은 다른 일단이 게이지 몸체(220)에 힌지 결합될 수 있으며, 측정자(110)와 접하는 게이지 팁(210)의 일단은 측정자(110)와 연결되어 측정자(110)와 연동하여 회동할 수 있다. 게이지 몸체(220)에는 섹터 기어, 피니언 기어와 같은 기어 장치가 구비되어 있으며, 게이지 팁(210)의 변위를 측정하여 표시부(230)를 통해 표시한다.The dial gauge 200 measures one end of the dial 110 in contact with one side of the measurer 110 to measure the thickness displacement of the measurer 110. Specifically, one end of the dial gauge is in contact with one side of the measurer 110 and rotates according to the rotation of the measurer. (210), a gauge body (220) supporting the gauge tip (210) and fixed to the measuring unit body (120), and a display unit for grasping and displaying the displacement of the gauge tip (210) through the gauge body (220). 230). The other end of the gauge tip 210 may be hinged to the gauge body 220, and one end of the gauge tip 210 contacting the gauge 110 may be connected to the gauge 110 and rotated in conjunction with the gauge 110. can do. The gauge body 220 is provided with a gear device such as a sector gear and a pinion gear, and measures the displacement of the gauge tip 210 and displays it through the display unit 230.

도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 평면도이다.2 is a plan view of a curved portion thickness measuring apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 다른 실시예에 따른 두께 측정 장치는 하나의 베이스(10)에 복수개의 측정 어셈블리(20 : 20a, 20b, 20c)로 구비될 수 있다. 측정 어셈블리(20a, 20b, 20c)는 복수개로 구비되어 제1 방향(x축 방향)과 직교하는 제2 방향(y축 방향)으로 나란히 배열될 수 있다. 이 때 복수개의 측정 어셈블리(20a, 20b, 20c)는 서로간의 간격을 조정할 수 있도록 각각 제2 방향으로 이동 가능하게 구성될 수 있다. 각각의 측정부 몸체는 제2 방향으로 배치된 제2 이동 가이드(150)와 결합하여 제2 이동 가이드(150)를 따라 제2 방향으로 전후진 이동할 수 있다.Thickness measuring apparatus according to another embodiment of the present invention may be provided with a plurality of measuring assemblies (20: 20a, 20b, 20c) in one base (10). The measurement assemblies 20a, 20b, and 20c may be provided in plural and arranged in a second direction (y-axis direction) orthogonal to the first direction (x-axis direction). In this case, the plurality of measuring assemblies 20a, 20b, and 20c may be configured to be movable in the second direction, respectively, so as to adjust the distance therebetween. Each measurement unit body may move forward and backward in a second direction along the second movement guide 150 by being coupled to the second movement guide 150 disposed in the second direction.

베이스(10)는, 피측정체(P)의 제1 방향 및 제2 방향으로 형성되는 모서리와 접하여 피측정체(P)를 고정할 수 있도록 피측정체(P)가 안착되는 일면에 형성되는 걸림턱(14, 16)을 더 포함할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이 피측정체(P)가 제1 방향(x축 방향)으로 형성된 걸림턱(16) 및 제2 방향(y축 방향)으로 형성된 걸림턱(14)에 밀착되어 고정되도록 한다.The base 10 is formed on one surface on which the subject P is seated so as to contact the edges formed in the first and second directions of the subject P to fix the subject P. It may further comprise a locking jaw (14, 16). As shown in FIG. 2, the object P is closely attached to the locking jaw 16 formed in the first direction (x-axis direction) and the locking jaw 14 formed in the second direction (y-axis direction). do.

이하에서는 도면을 참조하면서 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 작용에 대해 설명한다.Hereinafter, the operation of the curved portion thickness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention with reference to the drawings.

도 3 및 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면부 두께 측정 장치의 사용 상태도이다.3 and 4 is a state diagram used in the curved surface thickness measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

베이스(10)의 일면에 두께를 측정하고자 하는 피측정체(P)를 안착시킨 후, 제2 방향으로 형성된 걸림턱(14)에 피측정체(P)를 밀착시킨다. 그리고나서 측정자(110) 일단이 피측정체(P)의 상면에 접하도록 한다. 도 3에 도시된 바와 같이 두께를 측정하고자 하는 지점이 A1이라면, 측정자(110)의 일단이 A1과 접할 수 있도록 이동 조정부(240)를 조정하여 측정부 몸체(120)를 이동시킨다. After mounting the measurement target P to measure the thickness on one surface of the base 10, the measurement target P is in close contact with the locking projection 14 formed in the second direction. Then, one end of the measurer 110 is in contact with the upper surface of the object P. As shown in FIG. 3, if the point where the thickness is to be measured is A1, one end of the measurer 110 adjusts the movement adjusting unit 240 to move the measuring unit body 120 so as to be in contact with A1.

측정자(110)는 피측정체(P)의 두께 t1에 해당하는 만큼 상방향으로 회동하게 된다. 측정자(110)의 회동에 의해 측정자(110)와 접한 게이지 팁(210)도 상방향으로 회동한다. 베이스(10)에 피측정체(P)가 놓이지 않았을 때와 베이스(10)에 피측정체(P)가 놓인 후에 게이지 팁(210)의 위치 차이가 게이지 몸체(220)를 통해 표시부(230)에 표시되며, 피측정체(P)의 두께 t1을 알 수 있다.The measurer 110 rotates in an upward direction corresponding to the thickness t1 of the object P. As the gauge 110 rotates, the gauge tip 210 in contact with the gauge 110 also rotates upward. The position difference of the gauge tip 210 when the object P is not placed on the base 10 and after the object P is placed on the base 10 is displayed on the display unit 230 through the gauge body 220. It is shown in the figure, and the thickness t1 of the to-be-measured object P is understood.

도 4에 도시된 바와 같이 A1과 다른 지점 A2에서의 두께를 측정하고자 하면, 이동 조정부(240)를 조정하여 측정부 몸체(120)를 이동시킴으로써 측정자(110)가 A2 지점에 접하도록 한다. 위와 같은 방법으로 A2 지점에서의 피측정체(P) 두께 t2를 측정할 수 있다.As shown in FIG. 4, if the thickness is to be measured at the point A2 different from A1, the measurer 110 is in contact with the point A2 by adjusting the movement adjusting unit 240 to move the measuring unit body 120. In the same manner as above, the thickness t2 of the target object P at the A2 point may be measured.

한편, 곡면부 두께 측정 장치가 하나의 베이스(10)에 복수개의 측정 어셈블리(20 : 20a, 20b, 20c)를 구비하는 경우, 피측정체(P)의 복수개의 지점(A, B, C)에서의 두께를 한번에 측정할 수 있다. 또한 측정 어셈블리(20 : 20a, 20b, 20c)를 제1 방향 및 제2 방향으로 자유롭게 이동시킬 수 있기 때문에, 피측정체(P)가 복잡한 형상이나 자유곡면을 갖더라도 용이하게 그 두께를 측정할 수 있다.On the other hand, when the curved portion thickness measuring apparatus includes a plurality of measuring assemblies 20: 20a, 20b, and 20c on one base 10, a plurality of points A, B, and C of the object P to be measured. The thickness at can be measured at once. In addition, since the measurement assemblies 20: 20a, 20b, and 20c can be freely moved in the first direction and the second direction, even if the object P has a complicated shape or a free curved surface, its thickness can be easily measured. Can be.

본 실시예 및 본 명세서에 첨부된 도면은 본 발명에 포함되는 기술적 사상의 일부를 명확하게 나타내고 있는 것에 불과하며, 본 발명의 명세서 및 도면에 포함된 기술적 사상의 범위 내에서 당업자가 용이하게 유추할 수 있는 다양한 변형 예와 구체적인 실시 예는 모두 본 발명의 권리범위에 포함되는 것이 자명하다고 할 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description of the present invention are exemplary and explanatory and are intended to provide further explanation of the invention as claimed. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the scope of the present invention.

10 : 베이스 20 : 측정 어셈블리
100 : 측정부 110 : 측정자
120 : 측정부 몸체 200 : 다이얼 게이지
210 : 게이지 팁 220 : 게이지 몸체
230 : 표시부
10: base 20: measuring assembly
100: measuring unit 110: measurer
120: measuring unit body 200: dial gauge
210: gauge tip 220: gauge body
230: display unit

Claims (12)

일면에 피측정체가 안착되는 베이스 및 상기 피측정체의 두께를 측정하는 측정 어셈블리를 포함하며,
상기 측정 어셈블리는,
상기 베이스의 제1 방향으로 일측에 배치되며, 상기 피측정체의 일면에 일단이 접하고 상기 피측정체의 두께에 따라 상기 두께 방향으로 회동하는 측정자와, 상기 측정자를 지지하는 측정부 몸체를 포함하는 측정부; 및
상기 측정부 몸체에 고정되고, 일단이 상기 측정자의 일측에 접하여 상기 측정자의 상기 두께 방향 변위를 측정하는 다이얼 게이지;
를 포함하고,
상기 베이스는, 상기 측정부 몸체에 가까운 일면에 형성되며, 상기 피측정체의 적어도 한 모서리에 접하여 상기 피측정체를 고정하는 걸림턱을 포함하는 곡면부 두께 측정 장치.
It includes a base on which the measurement object is seated on one surface and a measurement assembly for measuring the thickness of the measurement object,
The measuring assembly,
It is disposed on one side of the base in the first direction, one end is in contact with one surface of the object to be measured and rotated in the thickness direction according to the thickness of the object to be measured, and including a measuring unit body for supporting the meter Measuring unit; And
A dial gauge fixed to the measuring unit body, one end of which is in contact with one side of the measurer to measure the thickness displacement of the measurer;
Lt; / RTI >
The base is formed on one surface close to the measuring unit body, the curved surface thickness measuring apparatus including a locking step to contact the at least one corner of the measuring object to fix the measuring object.
제1항에 있어서,
상기 측정자는 상기 피측정체의 일면에 접하는 상기 일단이 구형의 팁(tip)으로 형성되는 곡면부 두께 측정 장치.
The method of claim 1,
The measuring device is a curved portion thickness measuring device wherein the one end in contact with one surface of the object to be measured is formed as a spherical tip (tip).
제1항에 있어서,
상기 측정자는 다른 일단이 상기 측정부 몸체에 힌지 결합되는 곡면부 두께 측정 장치.
The method of claim 1,
The measuring device has a curved surface thickness measuring device is hinged to the other end of the measuring unit body.
제1항에 있어서,
상기 측정부는
상기 피측정체와 거리를 조정하도록 상기 측정부 몸체가 상기 제1 방향으로 이동 가능하게 구성되는 곡면부 두께 측정 장치.
The method of claim 1,
The measuring unit
The curved portion thickness measuring device is configured to be movable in the first direction so that the measuring unit body to adjust the distance to the object to be measured.
제4항에 있어서,
상기 측정부는
상기 측정부 몸체가 볼 스크류 방식 또는 LM(Linear motion) 가이드 방식으로 이동하는 곡면부 두께 측정 장치.
5. The method of claim 4,
The measuring unit
Curved part thickness measuring device that the measuring unit body is moved in a ball screw method or a linear motion (LM) guide method.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 측정 어셈블리는 복수개로 구비되어 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 나란히 배열되는 곡면부 두께 측정 장치.
The method of claim 1,
The measuring assembly is provided with a plurality of curved portion thickness measuring apparatus arranged side by side in a second direction perpendicular to the first direction.
제7항에 있어서,
상기 복수개의 측정 어셈블리는 서로간의 간격을 조정할 수 있도록 각각 상기 제2 방향으로 이동 가능하게 구성되는 곡면부 두께 측정 장치.
8. The method of claim 7,
And the plurality of measurement assemblies are configured to be movable in the second direction so as to adjust the distance therebetween.
제7항에 있어서,
상기 베이스는,
상기 일면에 형성되며, 상기 피측정체의 상기 제1 방향 및 제2 방향으로 형성되는 모서리와 접하여 상기 피측정체를 고정하는 걸림턱을 더 포함하는 곡면부 두께 측정 장치.
8. The method of claim 7,
The base includes:
The curved portion thickness measuring apparatus is formed on the one surface, and further comprising a locking jaw to contact the corner formed in the first direction and the second direction of the object to be measured.
제1항에 있어서,
상기 다이얼 게이지는,
일단이 상기 측정자의 일측에 접하고 상기 측정자의 회동에 의해 회동하는 게이지 팁과, 상기 게이지 팁을 지지하며 상기 측정부 몸체에 고정되는 게이지 몸체와, 상기 게이지 몸체를 통해 상기 게이지 팁의 변위를 파악하여 표시하는 표시부를 포함하는 곡면부 두께 측정 장치.
The method of claim 1,
The dial gauge is,
One end is in contact with one side of the measuring member and the gauge tip rotated by the rotation of the measuring member, the gauge body supporting the gauge tip and fixed to the measuring unit body, and grasping the displacement of the gauge tip through the gauge body Curved part thickness measuring apparatus including a display part to display.
제10항에 있어서,
상기 게이지 팁은 상기 일단이 상기 측정자와 연결되어 상기 측정자와 연동하여 회동하는 곡면부 두께 측정 장치.
11. The method of claim 10,
The gauge tip is a curved surface thickness measuring device is rotated in conjunction with the measuring end is connected to the measuring device.
제10항에 있어서,
상기 게이지 팁은 다른 일단이 상기 게이지 몸체에 힌지 결합되는 곡면부 두께 측정 장치.
11. The method of claim 10,
The gauge tip is a curved surface thickness measuring device is hinged to the other end of the gauge body.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106441016A (en) * 2016-09-30 2017-02-22 浙江德福精密驱动制造有限公司 Three-pin shaft fork wall thickness detection device
CN113959298A (en) * 2021-10-22 2022-01-21 国网天津市电力公司 Method and device for measuring thickness/eccentricity of cable

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107036504B (en) * 2017-06-13 2023-04-18 江南工业集团有限公司 Wall thickness measuring device and measuring method
CN108225245B (en) * 2018-01-29 2020-04-28 中国工程物理研究院化工材料研究所 Automatic thickness measuring device for flexible porous thin sheet
CN111623829B (en) * 2020-06-10 2021-12-10 无锡市凯悦电源配件有限公司 Five metals stamping workpiece multiple function detection device
CN113203334B (en) * 2021-04-22 2022-11-04 安徽工程大学 Detection tool for automobile front-end anti-collision beam

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288502A (en) * 1992-04-07 1993-11-02 Sekisui Chem Co Ltd Boundary point detecting method for rounded boundary portion
JPH0719804A (en) * 1993-07-01 1995-01-20 Asahi Glass Co Ltd Method and device for measuring curve depth of plate-like material
JP3406044B2 (en) * 1994-02-17 2003-05-12 大昭和精機株式会社 Dial gauge centering device
KR20050071824A (en) * 2004-01-03 2005-07-08 주식회사 대경에스앤씨티 Thickness deviation measuring apparatus for brick panel and the measuring method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288502A (en) * 1992-04-07 1993-11-02 Sekisui Chem Co Ltd Boundary point detecting method for rounded boundary portion
JPH0719804A (en) * 1993-07-01 1995-01-20 Asahi Glass Co Ltd Method and device for measuring curve depth of plate-like material
JP3406044B2 (en) * 1994-02-17 2003-05-12 大昭和精機株式会社 Dial gauge centering device
KR20050071824A (en) * 2004-01-03 2005-07-08 주식회사 대경에스앤씨티 Thickness deviation measuring apparatus for brick panel and the measuring method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106441016A (en) * 2016-09-30 2017-02-22 浙江德福精密驱动制造有限公司 Three-pin shaft fork wall thickness detection device
CN113959298A (en) * 2021-10-22 2022-01-21 国网天津市电力公司 Method and device for measuring thickness/eccentricity of cable
CN113959298B (en) * 2021-10-22 2023-11-03 国网天津市电力公司 Cable thickness/eccentricity measuring method and measuring device

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