KR101350035B1 - 전자빔 발생장치 - Google Patents
전자빔 발생장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101350035B1 KR101350035B1 KR1020120154786A KR20120154786A KR101350035B1 KR 101350035 B1 KR101350035 B1 KR 101350035B1 KR 1020120154786 A KR1020120154786 A KR 1020120154786A KR 20120154786 A KR20120154786 A KR 20120154786A KR 101350035 B1 KR101350035 B1 KR 101350035B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electron beam
- high frequency
- generator
- beam generator
- applying
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J3/00—Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J3/02—Electron guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/16—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/48—Electron guns
- H01J29/488—Schematic arrangements of the electrodes for beam forming; Place and form of the elecrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/48—Electron guns
- H01J29/50—Electron guns two or more guns in a single vacuum space, e.g. for plural-ray tube
- H01J29/503—Three or more guns, the axes of which lay in a common plane
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/06—Cathodes
- H01J35/065—Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/06—Electron sources; Electron guns
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
전자빔의 에너지를 용이하게 조절할 수 있고 듀얼 에너지 가속기의 전자빔 에너지를 용이하게 조절할 수 있는 전자빔 발생장치를 제공한다. 전자빔 발생장치는, CNT실(yarn)을 전자빔 방출 소스로 사용하여 전자빔을 발생시키는 전자빔 발생부, 상기 전자빔이 입사되어 가속되는 가속관 및 고주파를 발생시키고, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 각각 고주파를 인가하되, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 서로 다른 파워를 갖는 고주파를 인가하는 고주파 발생부를 포함하여 구성된다.
Description
본 발명은 전자빔 발생장치에 관한 것이다.
전자빔 발생장치란 전자현미경, 진행파관, 브라운관 등과 같이 전자류를 가늘게 빔 모양으로 죄어서 작동시킬 필요가 있을 경우, 그 전자빔을 발생시키는 장치를 말한다. 또한, 전자빔 발생장치는 입자가속기 등에도 사용되어 물체의 특성을 파악하는데 이용될 수도 있다.
전자빔 발생장치는 전자빔을 방출시키기 위해서 레이저빔을 캐소드에 입사시킬 수 있다. 이 때, 방출된 전자빔을 가속하는 수단으로는 고주파가 입사되는 공진공동을 이용하는 방법이 있다.
열전자총을 사용하는 복수(dual) 에너지 전자 가속기는 전자빔 발생을 위해서 필라멘트 파워가 별도로 필요할 뿐만 아니라, 가속관 입력 전자의 에너지를 조절에 불편함이 있었다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 전자빔 에너지를 용이하게 조절할 수 있는 전자빔 발생장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 본 발명의 실시예들에 따른 전자빔 발생장치는, CNT실(yarn)을 전자빔 방출 소스로 사용하여 전자빔을 발생시키는 전자빔 발생부, 상기 전자빔이 입사되어 가속되는 가속관 및 고주파를 발생시키고, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 각각 고주파를 인가하되, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 서로 다른 파워를 갖는 고주파를 인가하는 고주파 발생부를 포함하여 구성된다.
일 측에 따르면, 상기 고주파 발생부는, 상기 고주파 발생부에 전원을 인가하는 고주파 구동부, 상기 고주파 발생부에 고전압을 인가하는 고전압 모듈레이터(high power modulator) 및 상기 고주파 발생부에 저전압을 인가하는 저전압 모듈레이터(low power modulator)를 포함하여 구성된다. 예를 들어, 상기 고주파 구동부는 상기 고전압 모듈레이터와 상기 저전압 모듈레이터를 동조시키도록 구성된다. 또한, 상기 저전압 모듈레이터는 상기 전자빔 발생부와 상기 고주파 발생부 사이에 구비되어 상기 전자빔 발생부에 고주파를 인가하도록 구비될 수 있다. 또한, 상기 고전압 모듈레이터는 상기 고주파 발생부에 연결되고, 상기 고주파 발생부는 상기 가속관에 듀얼 에너지를 인가할 수 있다.
일 측에 따르면, 상기 고주파 발생부는 상기 전자빔의 집속을 위한 자석부를 더 구비할 수 있다.
이상에서 본 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따르면, 하나의 전자빔 발생장치(전자총)에서 방출되는 에너지를 용이하게 조절할 수 있는 전자빔 발생장치를 이용하여, 열전자총 듀얼 에너지 가속기의 전자빔 에너지를 용이하게 조절할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자빔 발생장치의 모식도이다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 대해 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략될 수 있다.
이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 전자빔 발생장치(10)에 대해 상세하게 설명한다. 전자빔 발생장치(10)는 전자빔 발생부(11)와 RF 발생부(12) 및 가속관(13)을 포함하여 구성된다.
전자빔 발생부(11)는 전자빔(e)을 발생시킨다. 전자빔 발생부(11)는 전자(e)를 생성시키기 위한 전자빔 방출 소스로 CNT실(yarn)(111)을 구비한다. 여기서, 'CNT실'이라 명명하였으나, 본 발명이 이로 인해 한정되는 것은 아니며, CNT실(111)의 형상은 실질적으로 다양하게 변경될 수 있다.
고주파 발생부(12)는 고주파를 발생시키고, 전자빔 발생부(11)와 가속관(13)에 각각 고주파를 인가한다. 여기서, 고주파 발생부(12)는 전자빔 발생부(11)와 가속관(13)에 서로 다른 주파수대역의 고주파를 인가한다. 예를 들어, 고주파 발생부(12)는 전자빔 발생부(11)에 소정 주파수대의 고주파를 인가하고, 가속관(13)에는 전자빔 발생부(11)보다 높은 주파수대의 고주파를 인가하도록 구성된다.
또한, 고주파 발생부(12)는 전원을 인가하는 고주파 구동부(121)와 고전압을 인가하는 고전압 모듈레이터(high power modulator)(123) 및 저전압을 인가하는 저전압 모듈레이터(low power modulator)(122)를 포함하여 구성된다. 예를 들어, 저전압 모듈레이터(122)는 전자빔 발생부(11)에 연결되고, 고전압 모듈레이터(123)는 고주파 발생부(12)에 연결되도록 구비될 수 있다. 그리고 고주파 발생부(12)는 가속관(13)에 듀얼 에너지를 인가할 수 있도록 저전압 모듈레이터(122)와 고전압 모듈레이터(123)를 동조시키도록 구성된다.
가속관(13)은 전자빔 발생부(11)에서 발생한 전자빔(e)은 가속관(13)으로 입사되어 가속되는 공간을 제공한다.
또한, 가속관(13)의 일측에는 전자빔(e)의 집속을 위한 자석부(미도시)가 더 구비될 수 있다.
여기서, 싱글(single) 에너지 전자 가속기와는 달리, 듀얼(dual) 에너지 전자 가속기는 입력 고주파의 출력을 조절하여, 서로 다른 에너지를 갖는 가속 전자빔(e)을 얻을 수 있다. 그리고, 전자빔 발생장치(10)는 고주파의 출력만을 조절하는 것이 아니라, 각 입력 고주파의 출력에 따라 전자빔(e)의 사양(전류, 에너지) 또한 바꾸어 주어야 된다. 그런데, 열전자총과는 달리 CNT실(111)을 사용할 경우, 전자빔(e)의 발생은 입력 전압에만 의존한다. 따라서, 본 실시예들에 따르면, 듀얼 에너지를 발생시키기 위해서 CNT실(111)에 입력되는 전압을 조절하는 것 만으로, 필요한 전자빔(e)의 전류 및 에너지를 조절하는 것이 가능하다.
또한, 본 실시예들에 따르면, CNT실(field emitter)(111)을 사용하는 듀얼 에너지 가속기용 전자빔 발생장치는 가속기 장치를 간단하게 할 수 있을 뿐만 아니라, CNT실(111)에서 방출되는 전자빔(e)의 질을 향상시킬 수 있다.
이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것이다. 또한, 본 발명이 상술한 실시예들에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 그러므로, 본 발명의 사상은 상술한 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
10: 전자빔 발생장치
11: 전자빔 발생부
111: CNT실(yarn)
12: 고주파 발생부(RF source)
121: 고주파 구동부(RF driving source)
122: 저전압 모듈레이터(low power modulator)
123: 고전압 모듈레이터(high power modulator)
13: 가속관
e: 전자빔
11: 전자빔 발생부
111: CNT실(yarn)
12: 고주파 발생부(RF source)
121: 고주파 구동부(RF driving source)
122: 저전압 모듈레이터(low power modulator)
123: 고전압 모듈레이터(high power modulator)
13: 가속관
e: 전자빔
Claims (6)
- CNT실(yarn)을 전자빔 방출 소스로 사용하여 전자빔을 발생시키는 전자빔 발생부;
상기 전자빔이 입사되어 가속되는 가속관; 및
고주파를 발생시키고, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 각각 고주파를 인가하되, 상기 전자빔 발생부와 상기 가속관에 서로 다른 파워를 갖는 고주파를 인가하는 고주파 발생부;
를 포함하는 전자빔 발생장치.
- 제1항에 있어서,
상기 고주파 발생부는,
상기 고주파 발생부에 전원을 인가하는 고주파 구동부;
상기 고주파 발생부에 고전압을 인가하는 고전압 모듈레이터(high power modulator); 및
상기 고주파 발생부에 저전압을 인가하는 저전압 모듈레이터(low power modulator);
를 포함하는 전자빔 발생장치.
- 제2항에 있어서,
상기 고주파 구동부는 상기 고전압 모듈레이터와 상기 저전압 모듈레이터를 동조시키는 전자빔 발생장치.
- 제2항에 있어서,
상기 저전압 모듈레이터는 상기 전자빔 발생부와 상기 고주파 발생부 사이에 구비되어 상기 전자빔 발생부에 고주파를 인가하도록 구비되는 전자빔 발생장치.
- 제2항에 있어서,
상기 고전압 모듈레이터는 상기 고주파 발생부에 연결되고,
상기 고주파 발생부는 상기 가속관에 듀얼 에너지를 인가하는 전자빔 발생장치.
- 제1항에 있어서,
상기 고주파 발생부는 상기 전자빔의 집속을 위한 자석부를 더 포함하는 전자빔 발생장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120054045 | 2012-05-21 | ||
KR20120054045 | 2012-05-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130129815A KR20130129815A (ko) | 2013-11-29 |
KR101350035B1 true KR101350035B1 (ko) | 2014-01-16 |
Family
ID=49856337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120154786A KR101350035B1 (ko) | 2012-05-21 | 2012-12-27 | 전자빔 발생장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101350035B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2736419C1 (ru) * | 2019-12-17 | 2020-11-17 | Акционерное Общество "Научно-Исследовательский Институт Приборов" | Обостритель импульса ускорителя электронов |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102191159B1 (ko) | 2018-09-28 | 2020-12-15 | 강동원 | 가속기용 단위 셀의 가공 툴 및 그에 의한 가속기용 단위 셀의 제조 방법 |
KR20190031464A (ko) | 2019-03-18 | 2019-03-26 | (주)뉴젠텍 | 가속기용 단위 셀의 제조 방법 및 그에 의하여 제조된 단위 셀 |
KR20190032327A (ko) | 2019-03-18 | 2019-03-27 | (주)뉴젠텍 | 가속기용 단위 셀 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010056641A (ko) * | 1999-12-16 | 2001-07-04 | 김덕중 | 저전압 클라이스트로드 형태의 초고주파 발생장치를이용한 플라즈마 방전시스템 |
JP2004171846A (ja) | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Hitachi Instruments Service Co Ltd | 外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 |
JP2007273158A (ja) | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | 電子管及び進行波管 |
-
2012
- 2012-12-27 KR KR1020120154786A patent/KR101350035B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010056641A (ko) * | 1999-12-16 | 2001-07-04 | 김덕중 | 저전압 클라이스트로드 형태의 초고주파 발생장치를이용한 플라즈마 방전시스템 |
KR100368182B1 (ko) | 1999-12-16 | 2003-01-24 | 사단법인 고등기술연구원 연구조합 | 저전압 클라이스트로드 발진관을 이용한 플라즈마 방전장치 |
JP2004171846A (ja) | 2002-11-19 | 2004-06-17 | Hitachi Instruments Service Co Ltd | 外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 |
JP2007273158A (ja) | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | 電子管及び進行波管 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2736419C1 (ru) * | 2019-12-17 | 2020-11-17 | Акционерное Общество "Научно-Исследовательский Институт Приборов" | Обостритель импульса ускорителя электронов |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130129815A (ko) | 2013-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108781501B (zh) | 用于提供加速带电粒子或辐射束的混合驻波/行波线性加速器 | |
US10015874B2 (en) | Hybrid standing wave linear accelerators providing accelerated charged particles or radiation beams | |
KR101350035B1 (ko) | 전자빔 발생장치 | |
US9053833B2 (en) | DC high-voltage super-radiant free-electron based EUV source | |
CN108369885B (zh) | 在透射电子显微镜设备中产生电子束的方法 | |
RU2014137978A (ru) | Способы регулировки ускорителя на стоячей волне и систем ускорения | |
Sadler et al. | Overcoming the dephasing limit in multiple-pulse laser wakefield acceleration | |
KR101689361B1 (ko) | 의료용 전자가속기의 삼극관 전자총 전원공급장치 | |
KR101564680B1 (ko) | 전자총 전원공급장치 | |
JP2012195391A (ja) | イオントラップ構造、イオントラップ型周波数標準器及び出力周波数安定化方法 | |
JP4756283B2 (ja) | 電子ビーム発生装置、x線発生装置及びx線利用装置 | |
JP6007133B2 (ja) | シンクロトロンおよびそれを用いた粒子線治療システム | |
KR20130130614A (ko) | 전자빔 발생장치 | |
KR101938641B1 (ko) | 초소형 의료용 전자가속기 | |
KR101665997B1 (ko) | 전자총 전원공급장치 | |
US12002646B2 (en) | Ion generation device, ion generation method, and ion generation program | |
KR20130130612A (ko) | 전자빔 발생장치 | |
KR101564683B1 (ko) | 의료용 전자가속기의 전자총 전원공급장치 | |
Fukuda et al. | Generation of multi-bunch beam with beam loading compensation by using rf amplitude modulation in laser undulator compact x-ray (LUCX) | |
KR101297074B1 (ko) | 마그네트론 주입 총의 애노드 구조 | |
KR101665994B1 (ko) | 전자총 전원공급장치 | |
KR20160091218A (ko) | 의료용 전자가속기의 이극관 전자총 전원공급장치 | |
KR101642089B1 (ko) | 의료용 전자가속기의 전자총 전원공급장치 | |
KR20130130613A (ko) | 전자빔 발생장치 | |
Esarey et al. | High Quality Electron Bunches up to 1 GeV from Laser Wakefield Acceleration at LBNL |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170102 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171207 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190102 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200103 Year of fee payment: 7 |