KR101337043B1 - Optical film chip cutting device and method for cutting optical film chip - Google Patents

Optical film chip cutting device and method for cutting optical film chip Download PDF

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Abstract

광학 필름 칩의 커팅 장치는, 광학 필름을 절단하는 절단 장치와, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 취득하고, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 절단 장치에 의한 상기 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하는 제어 장치를 포함한다. The cutting device of an optical film chip acquires the data of the cutting device which cuts an optical film, and the in-plane distribution of the optical axis of the said optical film, and based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the said optical film, And a control device for varying the cutting direction of the optical film in the plane of the optical film.

Figure R1020137021339
Figure R1020137021339

Description

광학 필름 칩의 커팅 장치 및 광학 필름 칩의 커팅 방법 {OPTICAL FILM CHIP CUTTING DEVICE AND METHOD FOR CUTTING OPTICAL FILM CHIP}Cutting device of optical film chip and cutting method of optical film chip {OPTICAL FILM CHIP CUTTING DEVICE AND METHOD FOR CUTTING OPTICAL FILM CHIP}

본 발명은, 광학 필름 칩의 커팅 장치 및 광학 필름 칩의 커팅 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a cutting device for an optical film chip and a cutting method for an optical film chip.

본원은, 2011년 11월 11일에 일본에 출원된 특원 2011-248060호에 기초하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.
This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2011-248060 for which it applied to Japan on November 11, 2011, and uses the content here.

편광 필름, 위상차 필름 등의 광학 필름은, 액정 표시 장치를 구성하는 중요한 광학 부품이다. 예를 들면, 액정 표시 장치에서는, 편광 필름이 직사각형상의 광학 필름 칩으로서 액정 패널의 상하면에 1매씩 접합되어 있다. 광학 필름 칩은, 길이가 긴 모양의 광학 필름을 원재료로 하고, 이것을 커터로 직사각형상으로 절단하는 것에 의해 얻어진다(예를 들면, 특허 문헌 1을 참조). Optical films, such as a polarizing film and retardation film, are important optical components which comprise a liquid crystal display device. For example, in a liquid crystal display device, a polarizing film is bonded one by one to the upper and lower surfaces of a liquid crystal panel as a rectangular optical film chip. An optical film chip is obtained by using a long optical film as a raw material and cutting this into a rectangular shape with a cutter (see Patent Document 1, for example).

도 13은, 종래의 광학 필름 칩의 커팅 방법을 나타내는 모식도이다. It is a schematic diagram which shows the cutting method of the conventional optical film chip.

먼저, 도 13의 (a)에 나타내는 바와 같이, 광학 필름(101)이 반송 장치(搬送 裝置, 100)에 의해 송출된다. First, as shown to Fig.13 (a), the optical film 101 is sent out by the conveying apparatus 100. As shown to FIG.

다음으로, 도 13의 (b)에 나타내는 바와 같이, 반송 장치(100)에 의해 송출된 광학 필름(101)은, 미도시의 절단 장치에 의해 사각 컷(斜角 cut)이 된다. 이것에 의해 광학 필름 중간체(제1 중간 필름, 102)가 잘려진다. 이 사각 컷의 공정에서는, 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향이 목적의 액정 표시 장치에 적합한 방향이 되도록, 광학 필름(101)으로부터 제1 중간 필름(102)이 소정의 각도로 잘려진다. Next, as shown to FIG. 13 (b), the optical film 101 sent out by the conveying apparatus 100 turns into a square cut with the cutting device not shown. Thereby, the optical film intermediate (1st intermediate film) 102 is cut off. In this square cut process, the first intermediate film 102 is cut from the optical film 101 at a predetermined angle so that the direction of the optical axis targeted by the optical film chip is a direction suitable for the target liquid crystal display device.

다음으로, 도 13의 (c)에 나타내는 바와 같이, 필름 적층 장치(110)에 의해 제1 중간 필름(102)에 시트(sheet) 모양 부재를 적층한다. 필름 적층 장치(110)는, 한 쌍의 롤러(111, 112)와 시트 모양 부재를 송출하는 릴(113)을 가진다. 릴(113)로부터 송출되는 시트 모양 부재, 소정의 각도로 잘려진 제1 중간 필름(102)은, 한 쌍의 롤러(111, 112)의 사이를 지나 적층되어, 다음 공정으로 송출된다. Next, as shown to Fig.13 (c), the sheet-like member is laminated | stacked on the 1st intermediate film 102 by the film lamination apparatus 110. Then, as shown to FIG. The film lamination apparatus 110 has the pair of rollers 111 and 112 and the reel 113 which sends out a sheet-like member. The sheet-like member sent out from the reel 113 and the first intermediate film 102 cut at a predetermined angle are laminated between the pair of rollers 111 and 112 and then sent out in the next step.

다음으로, 도 13의 (d)에 나타내는 바와 같이, 릴(113)로부터 송출되는 시트 모양의 부재와, 소정의 각도로 잘려진 제1 중간 필름(102)이 적층된 적층 필름은, 미도시의 절단 장치에 의해 반(半)으로 잘려진다. 이것에 의해, 제2 중간 필름(103)이 잘려진다. Next, as shown to Fig.13 (d), the laminated | multilayer film by which the sheet-like member sent out from the reel 113 and the 1st intermediate film 102 cut | disconnected at the predetermined angle were laminated | stacked is not shown in figure. It is cut in half by the device. As a result, the second intermediate film 103 is cut off.

다음으로, 도 13의 (e)에 나타내는 바와 같이, 잘려진 제2 중간 필름(103)의 품질을 육안으로 검사한다. Next, as shown in FIG. 13E, the quality of the cut second intermediate film 103 is visually inspected.

다음으로, 도 13의 (f)에 나타내는 바와 같이, 제2 중간 필름(103)을 스테이지(120)에 세팅한다. 스테이지(120)에는, 제2 중간 필름(103)을 위치 결정하기 위한 마킹(marking,, 121)이 실시되어 있다. 제2 중간 필름(103)을 스테이지(120)에 세팅할 때에는, 도 13의 (d)에 나타내는 공정에서 사각 컷이 된 변(邊)을 기준으로하여 마킹(121)에 위치 결정한다. Next, as shown to FIG. 13 (f), the 2nd intermediate film 103 is set to the stage 120. FIG. On the stage 120, a marking 121 for positioning the second intermediate film 103 is provided. When setting the 2nd intermediate film 103 to the stage 120, it positions on the marking 121 with respect to the edge | corner which became a square cut in the process shown in FIG.13 (d).

그리고, 미도시의 절단 장치에 의해 제2 중간 필름(103)으로부터 복수의 광학 필름 칩(104)을 자른다. 절단 장치에는, 광학 필름 칩(104)의 장변(長邊)의 길이에 대응한 간격으로 늘어서는 복수의 커터와, 광학 필름 칩(104)의 단변(短邊)의 길이에 대응한 간격으로 늘어서는 복수의 커터가 평면에서 볼 때 격자 모양으로 배치되어 있고, 4개의 커터에 의해 직사각형상으로 잘려지는 영역이 1개의 광학 필름 칩(104)의 커팅 영역으로 되어 있다. And the some optical film chip | tip 104 is cut from the 2nd intermediate film 103 by the cutting device not shown. In the cutting device, a plurality of cutters are arranged at intervals corresponding to the lengths of the long sides of the optical film chip 104, and at intervals corresponding to the lengths of the short sides of the optical film chips 104, The plurality of cutters are arranged in a lattice shape in plan view, and the region cut into the rectangular shape by the four cutters is the cutting region of one optical film chip 104.

절단 장치에 의한 제2 중간 필름(103)의 절단 방향(예를 들면, 광학 필름 칩(104)의 장변의 길이에 대응한 간격으로 늘어서는 커터의 배치 방향)은, 광학 필름(101)의 길이 방향에 대해서 목적의 각도(설계 사양에 따라서 정해진 각도)를 이루도록 배치된다. 예를 들면, 광학 필름 칩(104)의 광학축이 광학 필름 칩(104)의 장변에 대해서 7°를 이루도록 설계되어 있는 경우에는, 광학 필름(101)의 길이 방향에 대해서 절단 장치의 절단 방향을 7°로 설정한다. The cutting direction of the second intermediate film 103 by the cutting device (for example, the arrangement direction of the cutters arranged at intervals corresponding to the length of the long side of the optical film chip 104) is the length of the optical film 101. It is arrange | positioned so that the objective angle (an angle determined according to design specification) may be made with respect to a direction. For example, in the case where the optical axis of the optical film chip 104 is designed to form 7 degrees with respect to the long side of the optical film chip 104, 7 °.

특허 문헌 1 : 일본특허공개 2003-255132호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Publication No. 2003-255132

도 13의 (f)의 공정에서, 제2 중간 필름(103)의 절단 방향을 광학 필름(101)의 길이 방향을 기준으로 하여 설정하는 것은, 일반적으로, 길이가 긴 모양의 광학 필름(101)이 2색성(色性) 색소로 염색한 수지 필름을 1축 연신시켜 제조되어 있고, 광학 필름(101)의 광학축의 방향이 수지 필름의 연신 방향과 대체로 일치하기 때문이다. 그러나, 광학 필름(101)의 광학축은, 광학 필름(101) 전체에서 균일하지 않고, 광학 필름(101)의 폭 방향에서 약간 어긋나 있다. 예를 들면, 2색성 색소로 염색한 수지 필름을 1축 연신하여 광학 필름(101)을 제조하는 경우, 수지 필름의 두께의 불균일이나 2색성 색소의 염색 불균일 등에 기인하여, 광학 필름(101)의 중앙 부분의 광학축의 방향과, 광학 필름(101)의 단부에 가까운 부분(엣지 부분)의 광학축의 방향과의 사이에 어긋남이 발생하는 경향이 있다. 이 때문에, 광학 필름(101)으로부터 복수의 광학 필름 칩(104)을 자르는 경우에는, 이 광학축의 편차를 반영하여, 광학 필름 칩(104) 사이에도 광학축의 편차가 발생한다. In the process of FIG. 13F, setting the cutting direction of the second intermediate film 103 based on the longitudinal direction of the optical film 101 is generally a long optical film 101. This is because the resin film dyed with this dichroic dye is produced by uniaxial stretching, and the direction of the optical axis of the optical film 101 generally coincides with the stretching direction of the resin film. However, the optical axis of the optical film 101 is not uniform in the whole optical film 101, but is shifted slightly in the width direction of the optical film 101. FIG. For example, when uniaxially stretching the resin film dyed with a dichroic dye to produce the optical film 101, the optical film 101 may be formed due to unevenness of the thickness of the resin film, dyeing unevenness of the dichroic dye, or the like. There exists a tendency for the shift | offset | difference to arise between the direction of the optical axis of a center part, and the direction of the optical axis of the part (edge part) near the edge part of the optical film 101. For this reason, when cut | disconnecting the some optical film chip | tip 104 from the optical film 101, the dispersion | variation of an optical axis also arises between the optical film chip | tips 104 reflecting the deviation of this optical axis.

또, 종래의 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 광학 필름 칩(104)에서 목적이 되는 광학축의 정밀도에 영향을 주는 공정이 존재한다. 예를 들면, 도 13의 (b)에 나타내는 사각 컷의 공정에서는, 절단 장치의 컷 정밀도가, 위치 결정의 기준이 되는 사각 컷 변의 정밀도에 영향을 준다. 또, 도 13의 (f)에 나타내는 칩 컷(chip cut)의 공정에서는, 제2 중간 필름(103)의 위치 결정 정밀도, 세팅 정밀도, 절단 장치의 컷 정밀도가, 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 정밀도에 영향을 준다. Moreover, in the conventional method of cutting an optical film chip, there exists a process which affects the precision of the optical axis made into the objective in the optical film chip 104. FIG. For example, in the process of the square cut shown in FIG. 13B, the cutting precision of the cutting device affects the precision of the square cut edge serving as a reference for positioning. Moreover, in the process of the chip cut shown to FIG. 13 (f), the positioning precision of a 2nd intermediate film 103, the setting precision, and the cutting precision of a cutting device are the optical which the objective is an optical film chip. This affects the precision of the axis.

이상과 같이, 종래의 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 잘려지는 복수의 광학 필름 칩의 사이에서 광학축의 방향에 편차가 발생한다고 하는 문제가 있다. 최근에는, 표시 장치의 고콘트라스트화(高contrast化)가 진행되고 있으며, 종래 보다도 엄격한 광학축의 정밀도가 요구되도록 되어 있다. 예를 들면, 종래의 휴대 전화에서는, 광학축의 공차(公差)는 ±1°이었지만, 스마트폰이나 태블릿형의 정보 단말에서는, ±0.25°의 광학축의 공차가 요구되고 있고, 향후 요구 정밀도가 더 엄격하게 될 것으로 예상된다. As mentioned above, in the conventional cutting method of an optical film chip, there exists a problem that a deviation generate | occur | produces in the direction of an optical axis between the some optical film chip cut off. In recent years, the high contrast of a display apparatus is advanced, and the precision of the optical axis which is stricter than before is calculated | required. For example, in a conventional mobile phone, the tolerance of the optical axis was ± 1 °, but the tolerance of the optical axis of ± 0.25 ° is required in a smartphone or tablet type information terminal, and the required accuracy is more stringent in the future. It is expected to be.

본 발명은, 복수의 광학 필름 칩의 사이에서 광학축의 편차가 발생하는 것을 억제하는 것이 가능한 광학 필름 칩의 커팅 장치 및 광학 필름 칩의 커팅 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. An object of this invention is to provide the cutting device of an optical film chip, and the cutting method of an optical film chip which can suppress that the deviation of an optical axis generate | occur | produces among some optical film chip | tips.

상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 관한 일 형태의 광학 필름 칩의 커팅 장치는, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 장치로서, 상기 광학 필름을 절단하는 절단 장치와;상기 광학 필름의 광학축의 면내분포(面內分布)의 데이터를 취득하고, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 절단 장치에 의한 상기 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하는 제어 장치를 포함한다. In order to achieve the above object, a cutting device for an optical film chip of one embodiment according to the present invention is a cutting device for cutting an optical film as a cutting device for cutting a plurality of optical film chips from an optical film, and The data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film is acquired, and the cutting direction of the optical film by the cutting device is determined based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film. It includes a control device that differs in surface.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 절단 장치가, 상기 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자르는 제1 절단 장치와, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제2 절단 장치를 포함하며; 상기 제어 장치가, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향을 산출하고, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향을 제어하고; 상기 절단 장치가, 상기 제어 장치에 의해서 제어된 절단 방향으로 상기 광학 필름 중간체를 절단하는 것에 의해, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자른다. In the cutting device for the optical film chip, the cutting device includes a first cutting device for cutting a plurality of optical film intermediates from the optical film, and a second cutting device for cutting a plurality of the optical film chips from the optical film intermediate. To; The control device calculates the direction of the average in-plane average optical axis of the optical film intermediate body based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film, and the direction of the average in-plane average optical axis of the optical film intermediate body is the second. Controlling the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device to achieve a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the cutting device; The cutting device cuts the plurality of optical film chips from the optical film intermediate by cutting the optical film intermediate in the cutting direction controlled by the control device.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 광학 필름 중간체를 재치(載置)하는 회전 스테이지를 구비하며; 상기 제어 장치가, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시킨다. In the cutting apparatus of the said optical film chip, it comprises the rotating stage which mounts the said optical film intermediate body; The control device rotates the rotating stage such that the direction of the average optical axis in the plane of the optical film chip forms a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 제어 장치가, 상기 광학 필름 중간체의 면내에서 가장 큰 각도로 교차하는 2개의 광학축을 검출하고, 상기 2개의 광학축이 이루는 각을 2등분 하는 축을 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축으로 하여 산출한다. In the cutting apparatus of the said optical film chip, the said control apparatus detects the two optical axes which cross | intersect at the largest angle in the plane of the said optical film intermediate body, and divides the axis | shaft which divides the angle which the said two optical axes make into 2 said optical film It calculates as an average optical axis in the plane of an intermediate body.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 회전 스테이지와 상기 제2 절단 장치와의 사이에, 상기 광학 필름 중간체의 상기 회전 스테이지 상에서의 설치 상태를 촬상(撮像)하는 촬상 장치가 마련되어 있으며; 상기 제어 장치가, 상기 촬상 장치의 촬상 결과에 기초하여, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시킨다. In the cutting device of the said optical film chip, the imaging device which image | photographs the installation state on the said rotation stage of the said optical film intermediate body is provided between the said rotation stage and the said 2nd cutting device; The control device is configured such that the direction of the average optical axis in the plane of the optical film intermediate body forms a target angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate body by the second cutting device based on the imaging result of the imaging device. Rotate the rotating stage.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치는, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 기억하는 기억 장치를 구비한다. The cutting device of the said optical film chip is equipped with the memory | storage device which stores the data of in-plane distribution of the optical axis of the said optical film.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 광학 필름의 광학축을 상기 광학 필름의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사하는 검사 장치를 구비한다. The cutting device of the said optical film chip is equipped with the inspection apparatus which examines the optical axis of the said optical film in the some inspection position of the width direction of the said optical film.

상기 광학 필름 칩의 커팅 장치에서는, 상기 검사 장치가, 상기 광학 필름의 폭 방향으로 이동 가능한 검광자(檢光子)를 구비하며; 상기 검사 장치가, 상기 검광자를 상기 광학 필름의 폭 방향으로 이동시키면서 상기 검광자에 의해서 상기 광학 필름의 광학축을 검출하는 것에 의해, 상기 광학 필름의 광학축을 상기 광학 필름의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사한다. In the cutting apparatus of the said optical film chip, the said inspection apparatus is equipped with the analyzer which can move to the width direction of the said optical film; The inspection apparatus detects the optical axis of the optical film by the analyzer while moving the analyzer in the width direction of the optical film, the plurality of inspection positions of the optical axis of the optical film in the width direction of the optical film Check in

본 발명에 관한 다른 형태의 광학 필름 칩의 커팅 방법은, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 방법으로서, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 취득하는 제1 스텝과; 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하면서, 상기 광학 필름으로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제2 스텝을 포함한다. The cutting method of the optical film chip of another aspect which concerns on this invention is a cutting method of the optical film chip which cuts several optical film chips from an optical film, Comprising: The 1st step of acquiring the data of in-plane distribution of the optical axis of the said optical film, ; And a second step of cutting the plurality of optical film chips from the optical film while varying the cutting direction of the optical film in the plane of the optical film based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film.

상기 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 상기 제2 스텝이, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자르는 제3 스텝과, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제4 스텝을 포함하며; 상기 제4 스텝에서는, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향을 산출하고, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향을 조정하고, 조정된 상기 절단 방향으로 상기 광학 필름 중간체를 절단하는 것에 의해, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자른다. In the cutting method of the optical film chip, the second step includes a third step of cutting the plurality of optical film intermediates from the optical film and a fourth step of cutting the plurality of the optical film chips from the optical film intermediate; In the fourth step, the direction of the average optical axis in the plane of the optical film intermediate is calculated based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film, and the direction of the average in-plane average of the optical film intermediate in the plane is By adjusting the cutting direction of the optical film intermediate to achieve the desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate, and cutting the optical film intermediate in the adjusted cutting direction, a plurality of the optical film from the optical film intermediate Cut the chip.

상기 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 상기 제4 스텝에서, 상기 광학 필름 중간체를 회전 스테이지에 재치하고, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시킨다. In the cutting method of the said optical film chip | tip, in the said 4th step, the said optical film intermediate body is mounted on a rotating stage, and the direction of the average optical axis in the plane of the said optical film chip is a target with respect to the cutting direction of the said optical film intermediate body. Rotate the rotating stage to achieve an angle.

상기 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 상기 광학 필름 중간체의 면내에서 가장 큰 각도로 교차하는 2개의 광학축을 검출하고, 상기 2개의 광학축이 이루는 각도를 2등분 하는 축을 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축으로 하여 산출한다. In the cutting method of the said optical film chip | tip, it detects the two optical axes which cross | intersect with the largest angle in the plane of the said optical film intermediate body, and makes the axis | shaft which divides the angle which the said two optical axes make into 2 equals in-plane average of the said optical film intermediate body It calculates with an optical axis.

상기 광학 필름 칩의 커팅 방법에서는, 상기 제4 스텝에서, 상기 광학 필름 중간체의 상기 회전 스테이지 상에서의 설치 상태를 촬상하고, 촬상 결과에 기초하여, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시킨다. In the cutting method of the said optical film chip, in the 4th step, the installation state of the said optical film intermediate body on the said rotation stage is imaged, and the direction of the average in-plane average optical axis of the said optical film chip is based on the imaging result. The rotating stage is rotated to achieve a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device.

본 발명의 형태에 의하면, 복수의 광학 필름 칩의 사이에서 광학축의 편차가 발생하는 것을 억제하는 것이 가능한 광학 필름 칩의 커팅 장치 및 광학 필름 칩의 커팅 방법을 제공할 수 있다. According to the aspect of the present invention, it is possible to provide a cutting device for an optical film chip and a cutting method for an optical film chip which can suppress the occurrence of variations in the optical axis between a plurality of optical film chips.

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 관한 광학 필름 칩의 제조 시스템을 나타내는 모식도이다.
도 2는 광학 필름의 제조 장치의 평면도이다.
도 3은 광학 필름 칩의 커팅 장치의 요부(要部)를 나타내는 평면도이다.
도 4a는 광학 필름의 광학축의 면내분포를 나타내는 도면이다.
도 4b는 광학 필름의 광학축의 면내분포를 나타내는 도면이다.
도 4c는 광학 필름의 광학축의 면내분포를 나타내는 도면이다.
도 5는 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자를 때의 설명도이다.
도 6a는 회전 스테이지에서 광학 필름 중간체를 회전시킬 때의 설명도이다.
도 6b는 회전 스테이지에서 광학 필름 중간체를 회전시킬 때의 설명도이다.
도 7은 광학 필름 중간체로부터 복수의 광학 필름 칩을 자를 때의 설명도이다.
도 8은 광학 필름 칩의 커팅 방법을 나타내는 플로우 차트이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시 형태의 광학 필름 칩의 커팅 장치의 요부를 나타내는 평면도이다.
도 10은 광학 필름의 각 검사 위치에서, 광학축의 방향과 제2 절단 장치에 의한 광학 필름의 절단 방향이 이루는 각도가, 설계 사양으로 정해진 각도에 대해서 어느 정도 어긋나 있는지를 나타내는 그래프이다.
도 11은 종래예에서의 광학 필름 중간체로부터 잘려진 광학 필름 칩의 광학축의 편차를 나타내는 그래프이다.
도 12는 실시예에서의 광학 필름 중간체로부터 잘려진 광학 필름 칩의 광학축의 편차를 나타내는 그래프이다.
도 13은 종래예의 광학 필름 칩의 커팅 방법을 나타내는 모식도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic diagram which shows the manufacturing system of the optical film chip which concerns on 1st Embodiment of this invention.
2 is a plan view of a manufacturing apparatus of an optical film.
It is a top view which shows the principal part of the cutting device of an optical film chip.
It is a figure which shows in-plane distribution of the optical axis of an optical film.
It is a figure which shows in-plane distribution of the optical axis of an optical film.
It is a figure which shows in-plane distribution of the optical axis of an optical film.
It is explanatory drawing at the time of cutting several optical film intermediate bodies from an optical film.
It is explanatory drawing at the time of rotating an optical film intermediate in a rotating stage.
It is explanatory drawing at the time of rotating an optical film intermediate in a rotating stage.
It is explanatory drawing at the time of cutting several optical film chip | tips from the optical film intermediate body.
8 is a flowchart illustrating a cutting method of an optical film chip.
It is a top view which shows the principal part of the cutting device of the optical film chip of 2nd Embodiment of this invention.
It is a graph which shows how much the angle | corner which the direction of the optical axis and the cutting direction of the optical film with a 2nd cutting device makes at the each inspection position of an optical film shifts with respect to the angle determined by design specification.
It is a graph which shows the deviation of the optical axis of the optical film chip cut | disconnected from the optical film intermediate in the prior art example.
It is a graph which shows the deviation of the optical axis of the optical film chip cut | disconnected from the optical film intermediate in the Example.
It is a schematic diagram which shows the cutting method of the optical film chip of a prior art example.

이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시 형태를 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시 형태에만 한정되는 것은 아니다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, although embodiment of this invention is described referring drawings, this invention is not limited only to the following embodiment.

또한, 이하의 모든 도면에서는, 도면을 보기 쉽게 하기 위해, 각 구성요소의 치수나 비율 등은 적절히 다르게 하고 있다. 또, 이하의 설명 및 도면 중, 동일 또는 상당하는 요소에는 동일한 부호를 부여하여, 중복하는 설명은 생략한다.In addition, in all the following drawings, in order to make drawing clear, a dimension, a ratio, etc. of each component are changed suitably. In addition, in the following description and drawings, the same code | symbol is attached | subjected to the same or corresponding element, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

이하의 설명에서는, 필요에 따라서 XYZ 직교좌표계를 설정하고, 이 XYZ 직교좌표계를 참조하면서 각 부재의 위치 관계에 대해서 설명한다. 본 실시 형태에서는, 길이가 긴 광학 필름의 폭 방향을 X 방향으로 하고 있고, 광학 필름의 면내에서 X 방향에 직교하는 방향(길이가 긴 광학 필름의 반송 방향)을 Y 방향, X 방향 및 Y 방향에 직교하는 방향을 Z 방향으로 하고 있다. In the following description, the positional relationship of each member is demonstrated, setting an XYZ rectangular coordinate system as needed and referring this XYZ rectangular coordinate system. In this embodiment, the width direction of the long optical film is made into the X direction, and the Y direction, the X direction, and the Y direction are the directions (or conveyance direction of a long optical film) orthogonal to the X direction in surface inside of an optical film. The direction orthogonal to is made into the Z direction.

[제1 실시 형태][First Embodiment]

도 1은, 본 발명의 제1 실시 형태의 광학 필름 칩의 제조 시스템을 나타내는 모식도이다. 이하, 광학 필름 칩으로서 편광판을 제조하는 예를 설명하지만, 광학 필름 칩은, 편광판 외에, 위상차 필름이나 휘도 향상 필름 등이라도 좋고, 위상차 필름이나 편광판 등의 복수의 광학 소자를 적층한 것이라도 좋다. 1: is a schematic diagram which shows the manufacturing system of the optical film chip of 1st Embodiment of this invention. Hereinafter, although the example which manufactures a polarizing plate as an optical film chip is demonstrated, an optical film chip may be a retardation film, a brightness improving film, etc. other than a polarizing plate, and may laminate | stack several optical elements, such as a retardation film and a polarizing plate.

광학 필름 칩의 제조 시스템(1)은, 길이가 긴 모양의 광학 필름(이하, 단지 '광학 필름'이라고 칭함, F)을 제조하는 광학 필름의 제조 장치(11)와, 광학 필름의 제조 장치(11)에서 제조한 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 장치(12)를 구비하고 있다. The manufacturing system 1 of an optical film chip is an optical film manufacturing apparatus 11 which manufactures an optical film (henceforth only called an "optical film", F) of long shape, and the manufacturing apparatus of an optical film ( The cutting device 12 of the optical film chip | tip which cuts several optical film chips from the optical film F manufactured by 11) is provided.

광학 필름의 제조 장치(11)는, 복수의 광학층(F1, F2, F3)을 적층하여 1매의 광학 필름(F)을 제조하는 필름 적층 장치(2)와, 필름 적층 장치(2)에서 제조된 광학 필름(F)의 광학축을 광학 필름의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사하는 검사 장치(3)를 구비하고 있다. The manufacturing apparatus 11 of an optical film is a film lamination apparatus 2 and the film lamination apparatus 2 which laminated | stack several optical layers F1, F2, F3, and manufacture one optical film F, The inspection apparatus 3 which examines the optical axis of the manufactured optical film F in the some inspection position of the width direction of an optical film is provided.

필름 적층 장치(2)는, 3개의 광학층(F1, F2, F3)을 적층하여 1매의 광학 필름(F)을 제조하는 장치이다. 본 실시 형태에서 사용되는 광학 필름(F)은, 예를 들면, PVA(폴리비닐알코올) 등으로 이루어지는 편광자 필름(F1)이, 2매의 셀룰로오스 계 필름인 TAC(트리아세틸셀룰로오스) 필름(F2, F3)에 의해서 사이에 끼워진 구조이다. 또한, 편광자 필름(F1)은, 일정 방향으로 진동하는 광 이외의 광을 차단하기 위해, 예를 들면 요오드, 2색성 염료 등에 의해 염색되어 있다. The film lamination apparatus 2 is an apparatus which laminates three optical layers F1, F2, F3, and manufactures one optical film F. FIG. As for the optical film F used by this embodiment, the polarizer film F1 which consists of PVA (polyvinyl alcohol) etc. is TAC (triacetyl cellulose) film (F2) which is two cellulose films, for example. It is a structure sandwiched by F3). In addition, the polarizer film F1 is dyed with, for example, iodine, a dichroic dye, or the like, in order to block light other than light vibrating in a constant direction.

필름 적층 장치(2)에는, 한 쌍의 롤러(21, 22)가 상하에 마련되어 있다. 이 양 롤러(21, 22)의 사이에 복수의 광학층(F1, F2, F3)이 서로 겹쳐져 공급된다. In the film lamination apparatus 2, a pair of rollers 21 and 22 are provided up and down. The plurality of optical layers F1, F2, and F3 overlap each other and are supplied between the rollers 21 and 22.

그리고, 양 롤러(21, 22)에 의해서 가압되는 것에 의해, 복수의 광학층(F1, F2, F3)이 접합되어, 1매의 광학 필름(F)이 제조된다. 또한, 제1 필름(F2) 및 제2 필름(F3)의 표면에 박리 필름이나 보호 필름 등이 더 적층되어 있어도 괜찮다. 이 광학 필름(F)은, 반송 롤러(23)에 의해서, 검사 장치(3)를 향해서 반송된다. And by pressing by both rollers 21 and 22, some optical layer F1, F2, F3 is bonded together, and one optical film F is manufactured. Moreover, a peeling film, a protective film, etc. may further be laminated | stacked on the surface of the 1st film F2 and the 2nd film F3. This optical film F is conveyed toward the inspection apparatus 3 by the conveyance roller 23.

검사 장치(3)는, 광학 필름(F)의 상부에 배치된 광원(31)과, 광학 필름(F)의 하부에 배치된 검광자(32)를 구비하고 있다. 검광자(32)는, 광원(31)으로부터 사출(射出)되며, 광학 필름(F)을 투과한 광을 수광하는 도시를 생략한 수광 소자를 구비하고 있다. 검사 장치(3)에서는, 광학 필름(F) 및 검광자(32)를 투과한 광의 강도를 수광 소자로 검출하는 것에 의해, 광학 필름(F)의 광학축을 검출한다. 검광자(32)는, 광학 필름(F)의 폭 방향으로 이동 가능하게 구성되어 있다. 검사 장치(3)는, 검광자(32)를 광학 필름(F)의 폭 방향으로 이동시키면서 검광자(32)에 의해서 광학 필름(F)의 광학축을 검출하는 것에 의해, 광학 필름(F)의 광학축을 광학 필름(F)의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사한다. The inspection apparatus 3 is equipped with the light source 31 arrange | positioned above the optical film F, and the analyzer 32 arrange | positioned under the optical film F. As shown in FIG. The analyzer 32 is provided with the light receiving element which abbreviate | omits illustration which is emitted from the light source 31, and receives the light which permeate | transmitted the optical film F. As shown in FIG. In the inspection apparatus 3, the optical axis of the optical film F is detected by detecting the intensity | strength of the light which permeate | transmitted the optical film F and the analyzer 32 with a light receiving element. The analyzer 32 is comprised so that a movement to the width direction of the optical film F is possible. The inspection apparatus 3 detects the optical axis of the optical film F by the analyzer 32 while moving the analyzer 32 in the width direction of the optical film F. The optical axis is inspected at a plurality of inspection positions in the width direction of the optical film F. FIG.

또한, 검사 장치(3)로서는, 검광자(32)를 광학 필름(F)의 폭 방향으로 이동시키는 구성에 한정하지 않고, 광학 필름(F)의 폭 방향에서 복수의 검광자를 구비한 구성이라도 괜찮다. In addition, as the inspection apparatus 3, it is not limited to the structure which moves the analyzer 32 to the width direction of the optical film F, The structure provided with several analyzer in the width direction of the optical film F may be sufficient. .

도 2는 광학 필름의 제조 장치(11)의 평면도이다. 2 is a plan view of the manufacturing apparatus 11 of the optical film.

도 2에 나타내는 바와 같이, 광학 필름(F)의 폭 방향(X축 방향)에는 복수의 검사 영역(CP)이 마련되어 있다. 검광자(32)는, 이들 복수의 검사 영역(CP)의 배열 방향을 따라서 이동 가능하게 되어 있다. 이것에 의해, 광학 필름(F)의 폭 방향에서의 각 검사 영역(CP)에서 광학축의 방향이 검출된다. As shown in FIG. 2, some test | inspection area | region CP is provided in the width direction (X-axis direction) of optical film F. As shown in FIG. The analyzer 32 is movable along the arrangement direction of these some inspection area | region CP. Thereby, the direction of an optical axis is detected in each test | inspection area | region CP in the width direction of the optical film F. As shown in FIG.

검사 장치(3)에서 검출된 광학 필름(F)의 광학축의 데이터는, 광학 필름(F)의 위치(광학 필름(F)의 길이 방향의 위치 및 폭 방향의 위치)와 관련지어져 기억 장치(9)에 기억된다. 검사 장치(3)에서 검사된 광학 필름은, 반송 롤러(24)에 의해서, 권취부(25)를 향해서 반송된다. 그리고, 권취부(25)에서 롤 모양으로 권취되어, 광학 필름(F)의 롤 원반(原反, R)이 제조된다. The data of the optical axis of the optical film F detected by the inspection apparatus 3 is associated with the position of the optical film F (position in the longitudinal direction of the optical film F and the position in the width direction) of the storage device 9 Remembered). The optical film examined by the inspection apparatus 3 is conveyed toward the winding-up part 25 by the conveyance roller 24. And it winds up in roll shape by the winding-up part 25, and the roll original fabric R of the optical film F is manufactured.

도 1로 되돌아와서, 광학 필름 칩의 커팅 장치(12)는, 롤 원반(R)으로부터 광학 필름(F)을 인출하여 반송하는 반송 장치(4)와, 반송 장치(4)에 의해서 반송된 광학 필름(F)으로부터 복수의 중간 사이즈의 광학 필름 중간체를 자르는 제1 절단 장치(5)와, 제1 절단 장치(5)에 의해 잘려진 광학 필름 중간체를 재치하는 회전 스테이지(6)와, 광학 필름 중간체의 회전 스테이지(6) 상에서의 설치 상태를 촬상하는 촬상 장치(7)와, 회전 스테이지(6) 상에 재치된 광학 필름 중간체로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 제2 절단 장치(8)와, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터를 기억하는 기억 장치(9)와, 필름 적층 장치(2), 검사 장치(3), 반송 장치(4), 제1 절단 장치(5), 회전 스테이지(6), 촬상 장치(7), 제2 절단 장치(8), 및 기억 장치(9)를 통괄 제어하는 제어 장치(10)를 구비하고 있다. 제1 절단 장치(5)와 제2 절단 장치(8)에 의해, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 절단 장치가 구성되어 있다. Returning to FIG. 1, the cutting device 12 of the optical film chip is conveyed by the conveying apparatus 4 and the conveying apparatus 4 which take out and convey the optical film F from the roll disk R, and the conveying apparatus 4 The 1st cutting device 5 which cuts several intermediate-size optical film intermediates from the film F, The rotating stage 6 which mounts the optical film intermediate cut | disconnected by the 1st cutting device 5, And an optical film intermediate An imaging device 7 for imaging the installation state on the rotary stage 6, a second cutting device 8 for cutting a plurality of optical film chips from an optical film intermediate placed on the rotary stage 6, and optical Memory device 9 for storing data of in-plane distribution of the optical axis of film F, film laminating device 2, inspection device 3, conveying device 4, first cutting device 5, rotation stage (6) The control device 10 which controls the imaging device 7, the 2nd cutting device 8, and the storage device 9 collectively is calculated | required. It is not. By the 1st cutting device 5 and the 2nd cutting device 8, the cutting device which cut | disconnects several optical film chips from the optical film F is comprised.

반송 장치(4)는, 롤 원반(R)을 장전(裝塡)하는 장전부(41)를 구비하고 있다. 장전부(41)에는, 광학 필름의 제조 장치(11)에서 제조되고, 검사 장치(3)에 의해 광학축이 검사된 광학 필름(F)의 롤 원반(R)이 장전된다. 장전부(41)에 장전된 광학 필름(F)은, 반송 롤러(42, 43)에 의해서 하류측으로 반송되고, 제1 절단 장치(5) 및 제2 절단 장치(8)에 의해 절단되어, 광학 필름 칩이 제조된다. The conveying apparatus 4 is equipped with the loading part 41 which loads the roll disk R. As shown in FIG. The roll disk R of the optical film F manufactured by the manufacturing apparatus 11 of the optical film, and the optical axis was inspected by the inspection apparatus 3 is loaded in the loading part 41. The optical film F loaded in the loading part 41 is conveyed downstream by the conveyance rollers 42 and 43, is cut | disconnected by the 1st cutting device 5 and the 2nd cutting device 8, and is optical Film chips are made.

회전 스테이지(6)는, 제어 장치(10)의 제어 신호에 의해 회전한다. The rotation stage 6 rotates by the control signal of the control apparatus 10.

도 3은, 광학 필름 칩의 커팅 장치(12)의 요부(要部) 구성을 나타내는 평면도이다. 도 3에서는, 광학 필름 칩의 커팅 장치(12)의 구성부품 중, 회전 스테이지(6), 제2 절단 장치(8), 기억 장치(9), 및 제어 장치(10)를 도시하고, 그 외의 도시를 생략하고 있다. FIG. 3: is a top view which shows the principal part structure of the cutting device 12 of an optical film chip. In FIG. 3, the rotating stage 6, the 2nd cutting device 8, the memory | storage device 9, and the control apparatus 10 among the components of the cutting device 12 of the optical film chip are shown, The illustration is omitted.

회전 스테이지(6)는, 받침대(60)와, 받침대(60) 상에 회전 가능하게 마련된 원형의 회전대(61)를 구비하고 있다. 회전대(61)의 상면에는, 광학 필름 중간체(Fa)를 위치 결정하기 위한 마킹(62)이 실시되어 있다. 또, 회전대(61)의 상면에는, 광학 필름 중간체(Fa)를 고정하기 위한 고정 부재(63)가 마련되어 있다. 고정 부재(63)는, 예를 들면 접착 테이프이다. The rotating stage 6 is equipped with the base 60 and the circular rotating base 61 provided so that rotation on the base 60 is possible. The marking 62 for positioning the optical film intermediate body Fa is given to the upper surface of the swivel base 61. Moreover, the fixing member 63 for fixing the optical film intermediate body Fa is provided in the upper surface of the rotating table 61. As shown in FIG. The fixing member 63 is an adhesive tape, for example.

본 실시 형태에서는, 광학 필름(F)으로부터 직접 복수의 광학 필름 칩을 자르는 것은 아니고, 일단 광학 필름(F)으로부터 복수의 중간 사이즈의 광학 필름 중간체(Fa)를 자르고, 그 후, 각 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 것으로 하고 있다(도 7 참조). 길이가 긴 광학 필름(F)으로부터 광학 필름 칩(Fc)을 직접 자르는 것으로 하면, 광학 필름 칩(Fc)의 크기는 길이가 긴 광학 필름(F)에 비해서 훨씬 작은 경우가 많기 때문에, 커팅 조작이 곤란하게 될 가능성이 있기 때문이다. In this embodiment, rather than cutting several optical film chips directly from the optical film F, the optical film intermediate body Fa of several intermediate sizes is cut out from the optical film F once, and after that, each optical film intermediate body is A plurality of optical film chips Fc are cut from (Fa) (refer FIG. 7). When the optical film chip Fc is cut directly from the long optical film F, the size of the optical film chip Fc is often much smaller than that of the long optical film F. This is because there is a possibility of becoming difficult.

광학 필름 중간체(Fa)의 크기나 형상은, 광학 필름 칩(Fc)의 형상이나 광학 필름 칩(Fc)에서의 광학축의 설정 방향 등에 따라서, 임의로 설정할 수 있다. The magnitude | size and shape of an optical film intermediate body Fa can be arbitrarily set according to the shape of the optical film chip Fc, the setting direction of the optical axis in the optical film chip Fc, etc.

본 실시 형태에서는, 광학 필름(F)을 그 길이 방향과 교차하는 방향으로 절단하여(사각 컷), 평행사변형의 필름체를 자른 후, 이것을 반으로 절단하는 것에 의해, 광학 필름 중간체(Fa)를 얻고 있다. 필름체를 반으로 절단하는 것은, 일방을 검사 공정으로 보내어, 이 필름체에 결점(필름체의 내부에서 고체와 액체와 기체 중 적어도 1개로 이루어지는 이물이 존재하는 부분이나, 필름체의 표면에서 요철이나 흠이 존재하는 부분, 필름체의 변형이나 재질의 편향 등에 의해서 휘점(輝點)이 되는 부분 등)이 없는지 아닌지를 검사하기 위함이다. In this embodiment, the optical film F is cut in the direction crossing the longitudinal direction (square cut), and after cutting the parallelogram-shaped film body, the optical film intermediate body Fa is cut by cutting it in half. Getting Cutting the film in half cuts one side into the inspection step, and causes defects in the film (parts in which at least one of solid, liquid, and gas exists inside the film, or irregularities on the surface of the film). This is to check whether or not there are a part where a flaw exists, a part which becomes a bright point due to deformation of the film body, material deflection or the like.

광학 필름 중간체(Fa)의 광학축의 면내분포의 데이터는, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여 제어 장치(10)에 의해 제작되고, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터와 함께, 기억 장치(9)에 기억되어 있다. Data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film intermediate body Fa is produced by the control apparatus 10 based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F, and the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F The data is stored in the storage device 9 together with the data.

제2 절단 장치(8)는, 회전 스테이지(6)에 서로 이웃하는 위치에 배치되어 있다. 제2 절단 장치(8)에는, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르기 위한 커터(8a, 8b, 예를 들면, 가열조각(加熱彫刻) 칼날)가 마련되어 있다. 커터(8a, 8b)는, X 방향으로 일정 간격으로 늘어서는 복수개의 제1 커터(8a)와 Y 방향으로 일정 간격으로 늘어서는 복수개의 제2 커터(8b)가 Z 방향으로부터 봐서 격자 모양으로 배치된 구성을 가진다. 제1 커터(8a)와 제2 커터(8b)에 의해서 잘려지는 직사각형의 영역이 1개의 광학 필름 칩(Fc)이 된다. 또한, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 구성으로서는, 커터에 한정하지 않고, 레이저를 이용해도 괜찮다. The 2nd cutting device 8 is arrange | positioned in the position which adjoins each other to the rotation stage 6. The 2nd cutting device 8 is provided with cutters 8a and 8b (for example, a heating engraving blade) for cutting the some optical film chip | tip Fc from the optical film intermediate body Fa. The cutters 8a and 8b are arranged in a lattice form with a plurality of first cutters 8a arranged at regular intervals in the X direction and a plurality of second cutters 8b arranged at regular intervals in the Y direction as viewed from the Z direction. Has a configured configuration. The rectangular area cut by the 1st cutter 8a and the 2nd cutter 8b becomes one optical film chip Fc. In addition, as a structure which cuts several optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa, you may use a laser, not only a cutter.

도 4a ~ 도 4c는, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포를 나타내는 도면이다. 또한, 도 4a ~ 도 4c에서는, 반송 장치(4)로부터 광학 필름(F)이 이 광학 필름(F)의 길이 방향(+Y축 방향)으로 반송되는 모습을 나타내고 있다. 4C are figures which show in-plane distribution of the optical axis of the optical film F. FIG. In addition, in FIG. 4A-FIG. 4C, the optical film F is conveyed from the conveying apparatus 4 in the longitudinal direction (+ Y-axis direction) of this optical film F. As shown in FIG.

도 4a ~ 도 4c에 나타내는 바와 같이, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포에는 여러 가지 분포가 존재한다. 광학 필름(F)의 광학축은, 대체로 광학 필름(F)의 길이 방향을 따라서 배치되어 있다. As shown to FIG. 4A-FIG. 4C, various distribution exists in the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F. As shown to FIG. The optical axis of the optical film F is arrange | positioned along the longitudinal direction of the optical film F generally.

그러나, 도 4a에 나타내는 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포를 보면, 광학 필름(F)의 길이 방향에 대해서 광학축의 방향이 약간 XY 방향(우하향)으로 경사져 있다. 도 4b에 나타내는 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포를 보면, 광학 필름(F)의 길이 방향에 대해서 광학축의 방향이 약간 XY 방향(우하향)으로 경사져 있는 것과 약간 -XY 방향(우상향)으로 경사져 있는 것이 광학 필름(F)의 폭 방향을 따라서 교대로 배치되어 있다. 도 4c에 나타내는 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포를 보면, 광학 필름(F)의 폭 방향 양단부에서는, 광학 필름(F)의 중앙부에 비해 광학축의 방향이 약간 내측으로 어긋나 있다. However, looking at the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F shown in FIG. 4A, the direction of an optical axis is inclined a little in the XY direction (rightward direction) with respect to the longitudinal direction of the optical film F. As shown in FIG. In the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F shown in FIG. 4B, the direction of the optical axis is slightly inclined in the XY direction (rightward direction) with respect to the longitudinal direction of the optical film F and slightly inclined in the -XY direction (rightward direction). The ones are alternately arranged along the width direction of the optical film F. When the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F shown to FIG. 4C is looked at, the direction of an optical axis shifts inward slightly compared with the center part of the optical film F in the width direction both ends of the optical film F. FIG.

도 4c와 같은 광학축의 면내분포가 되는 것은, 광학 필름(F)을 구성하는 편광자 필름은, 예를 들면, 2색성 색소로 염색한 PVA 필름을 1축 연신하여 형성되지만, 연신할 때의 PVA 필름의 두께의 불균일이나 2색성 색소의 염색 불균일 등에 기인하여, 광학 필름(F)의 중앙 부분의 광학축의 방향과, 광학 필름(F)의 단부에 가까운 부분(엣지 부분)의 광학축의 방향과의 사이에는 어긋남이 발생하는 경향이 있기 때문이다. 이하, 일례로서 도 4c에 나타내는 광학축의 면내분포를 가지는 광학 필름(F)을 들어 설명한다. The polarizer film constituting the optical film F is formed by uniaxially stretching a PVA film dyed with a dichroic dye, for example, as the in-plane distribution of the optical axis as shown in FIG. 4C, but when the stretching is a PVA film Between the direction of the optical axis of the center part of the optical film F, and the direction of the optical axis of the part (edge part) near the edge part of the optical film F, due to the nonuniformity of the thickness of the film, or the dyeing unevenness of the dichroic dye. This is because a deviation tends to occur. Hereinafter, the optical film F which has in-plane distribution of the optical axis shown to FIG. 4C as an example is given and demonstrated.

이와 같은 광학 필름(F)으로부터 복수의 소형의 광학 필름 칩을 자르면, 광학 필름(F)의 중앙부로부터 잘려진 광학 필름 칩과, 광학 필름(F)의 단부에 가까운 부분으로부터 잘려진 광학 필름 칩의 사이에서, 광학축의 방향에 편차가 발생한다. 그 편차가 큰 경우에는, 단부에 가까운 부분으로부터 잘려진 광학 필름 칩을 불량품으로서 사용할 수 없어, 광학 필름 칩의 취득 개수가 감소한다. When cutting several small optical film chips from such an optical film F, between the optical film chip cut from the center part of the optical film F, and the optical film chip cut from the part near the edge part of the optical film F. FIG. , Deviation occurs in the direction of the optical axis. In the case where the deviation is large, the optical film chip cut from the portion close to the end cannot be used as a defective product, and the number of acquisitions of the optical film chip is reduced.

이에, 본 실시 형태에서는, 기억 장치(9)에 미리 기억된 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름(F)의 절단 방향을 광학 필름(F)의 면내에서 다르게 하고 있다. 이것에 의해, 각 광학 필름 칩(Fc)의 사이에서 발생하는 광학축의 편차를 저감하는 것을 가능하게 하고 있다. Therefore, in this embodiment, the cutting direction of the optical film F by the 2nd cutting device 8 is based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F previously memorize | stored in the memory | storage device 9. The inside of the optical film F is made different. Thereby, it is possible to reduce the dispersion | variation in the optical axis which arises between each optical film chip | tip Fc.

도 5는, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 중간체(Fa, Fb)를 자를 때의 설명도이다. FIG. 5: is explanatory drawing at the time of cutting some optical film intermediates Fa and Fb from the optical film F. FIG.

본 실시 형태에서는, 반송 장치(4)에 의해 반송된 광학 필름(F)은, 제1 절단 장치(도시 생략)에 의해 사각 컷이 된다. 이것에 의해, 2매의 광학 필름 중간체(Fa, Fb)가 잘려진다. 도시는 하지 않지만, 각 광학 필름 중간체(Fa, Fb)는, 각각 광학축의 면내분포를 가지고 있다. 이하, 일례로서 2매의 광학 필름 중간체(Fa, Fb) 중 광학 필름 중간체(Fa)를 이용하고, 이 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 방법에 대해서 설명한다. In this embodiment, the optical film F conveyed by the conveying apparatus 4 becomes a square cut by a 1st cutting device (not shown). Thereby, two optical film intermediates Fa and Fb are cut off. Although not shown, each optical film intermediate body (Fa, Fb) has in-plane distribution of an optical axis, respectively. Hereinafter, a method of cutting the plurality of optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa by using the optical film intermediate body Fa among the two optical film intermediates Fa and Fb as an example will be described.

도 6a 및 도 6b는, 회전대(61)에서 광학 필름 중간체(Fa)를 회전시킬 때의 설명도이다. 도 6a는, 회전대(61)를 회전시키기 전의 광학 필름 중간체(Fa)의 설치 상태를 나타내는 도면이고, 도 6b는 회전대(61)를 회전시킨 후의 광학 필름 중간체(Fa)의 설치 상태를 나타내는 도면이다. FIG. 6: A and 6B are explanatory drawing at the time of rotating the optical film intermediate body Fa in the rotating table 61. FIG. 6: A is a figure which shows the installation state of the optical film intermediate body Fa before rotating the rotating table 61, and FIG. 6B is a figure which shows the installation state of the optical film intermediate body Fa after rotating the rotating table 61. FIG. .

또한, 도 6a 및 도 6b에서, 부호 L1는 소정의 축(사각 컷이 되어 있지 않은 변을 따르는 축, 환언하면, 광학 필름(F, 예를 들면 PVA 필름(F1))의 폭 방향 단부를 따르는 축), L2, L3는 축(L1)에 대해서 평행한 축이다. 부호 V1은 축(L1)으로부터의 어긋남각이 가장 큰 광학축(이하, '제1 광학축'이라고 칭함), 부호 V2는 축(L2)으로부터의 어긋남각이 가장 작은 광학축(이하, '제2 광학축'이라고 칭함), 부호 V3는 제1 광학축(V1)과 제2 광학축(V2)이 이루는 각을 2등분 하는 축(이하, '평균 광학축'이라고 칭함)이다. θmax는 소정의 축(L1)과 제1 광학축(V1)이 이루는 각(이하, '최대 어긋남각'이라고 칭함), θmin는 소정의 축(L2)과 제2 광학축(V2)이 이루는 각(이하, '최소 어긋남각'이라고 칭함), θmid는 소정의 축(L3)과 평균 광학축(V3)이 이루는 각(이하, '평균 어긋남각'이라고 칭함)이다. In addition, in FIG. 6A and 6B, the code | symbol L1 is along the width direction edge part of the predetermined axis | shaft (axis | shaft along the side which is not a square cut, in other words, optical film F, for example PVA film F1). Axis), L2 and L3 are axes parallel to the axis L1. The symbol V1 denotes the optical axis having the largest deviation angle from the axis L1 (hereinafter referred to as' first optical axis'), and the symbol V2 denotes the optical axis having the smallest deviation angle from the axis L2 (hereinafter referred to as' 2 optical axis'), and code | symbol V3 is an axis | shaft (henceforth "an average optical axis") which divides the angle which the 1st optical axis V1 and the 2nd optical axis V2 make into 2 parts. θ max is an angle formed by a predetermined axis L1 and the first optical axis V1 (hereinafter referred to as a 'maximum shift angle'), and θ min is a predetermined axis L2 and the second optical axis V2. The angle to form (hereinafter, referred to as 'minimum deviation angle') and θ mid are angles (hereinafter, referred to as 'average deviation angle') formed by the predetermined axis L3 and the average optical axis V3.

여기서, 도 6a 및 도 6b에서의「어긋남각」은, 소정의 축에 대해서 좌회전의 방향을 정(正)으로 하고, 소정의 축에 대해서 우회전의 방향을 부(負)로 했을 때의 각도이다. Here, the "deviation angle" in FIGS. 6A and 6B is an angle when the direction of left rotation is positive about a predetermined axis and the direction of right rotation with respect to a predetermined axis is negative. .

본 실시 형태에서, 제어 장치(10)는, 광학 필름 중간체(Fa)의 면내에서 서로 가장 큰 각도로 교차하는 제1 광학축(V1), 제2 광학축(V2)을 검출하고, 제1 광학축(V1)과 제2 광학축(V2)이 이루는 각을 2등분 하는 축을 광학 필름 중간체(Fa)의 면내의 평균적인 광학축(평균 광학축(V3))으로 하여 산출한다. In this embodiment, the control apparatus 10 detects the 1st optical axis V1 and the 2nd optical axis V2 which cross | intersect with the largest angle mutually in the surface of the optical film intermediate body Fa, and 1st optical The axis | shaft which divides the angle which the axis | shaft V1 and the 2nd optical axis V2 make into 2 is made into the average optical axis (average optical axis V3) in surface inside of optical film intermediate body Fa.

본 실시 형태에서는, 최소 어긋남각(θmin)을 0으로 하고, 최대 어긋남각(θmax)과 최소 어긋남각(θmin)과의 각도차를 Δα로 한다. 이 경우, 도 6a에 나타내는 바와 같이, 최대 어긋남각(θmax)은 각도(Δα)로 나타낸다. 또, 평균 어긋남각(θmid)은 각도(Δα/2)로 나타낸다. In this embodiment, the minimum deviation angle θ min is 0, and the angle difference between the maximum deviation angle θ max and the minimum deviation angle θ min is Δα. In this case, as shown in FIG. 6A, the maximum deviation angle θ max is represented by the angle Δα. In addition, the average shift angle θ mid is represented by an angle Δα / 2.

예를 들면, 광학 필름 칩을 제조하려면, 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 목적의 액정 표시 장치에 적합한 방향이 되도록, 소정의 각도로 잘려진다. 예를 들면, 편광판의 흡수축의 경우, 소정의 각도는 7°이다. For example, in order to manufacture an optical film chip | tip, it cuts at a predetermined angle so that the direction of the average optical axis in surface inside of an optical film chip may become a direction suitable for the target liquid crystal display device. For example, in the case of the absorption axis of the polarizing plate, the predetermined angle is 7 deg.

여기서, 사각 컷이 되어 있지 않은 변을 따르는 축(L1)을 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향으로 한 경우를 생각한다. 이 경우, 제2 광학축(V2)은, 축(L2)으로부터의 어긋남각이 가장 작기 때문에, 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향에 대체로 맞추어진다. 한편, 제1 광학축(V1)은, 축(L1)으로부터의 어긋남각이 가장 크기 때문에, 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향으로부터 크게 어긋난다. 제1 광학축(V1)은, 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향으로부터 각도(Δα)만큼 어긋나게 된다. Here, the case where the axis L1 along the side which does not become square cut is made into the direction of the optical axis made into the objective by an optical film chip is considered. In this case, since the shift angle from the axis L2 is the smallest in the second optical axis V2, the second optical axis V2 is generally aligned with the direction of the optical axis targeted for the optical film chip. On the other hand, since the shift angle from the axis L1 is the largest, the 1st optical axis V1 is largely shift | deviated from the direction of the optical axis made into the objective in an optical film chip. The first optical axis V1 is shifted by the angle Δα from the direction of the optical axis of interest in the optical film chip.

이것에 대해, 본 실시 형태에서, 제어 장치(10)는, 광학 필름 칩(Fc)의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름 중간체(Fa)의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 회전 스테이지(6)를 회전시키는 구성으로 되어 있다. 본 실시 형태에서는, 도 6b에 나타내는 바와 같이, 평균 광학축(V3)에 대해서 소정의 각도(γ)를 이루는 축(축(L3))이 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자를 때의 기준이 되도록 회전대(61)를 회전시켜, 광학 필름 중간체(Fa)의 자세를 조정하고 있다. On the other hand, in this embodiment, in the control apparatus 10, the direction of the average optical axis in surface inside of the optical film chip Fc is the cutting direction of the optical film intermediate body Fa by the 2nd cutting device 8. The rotating stage 6 is rotated so as to achieve the desired angle with respect to the. In this embodiment, as shown to FIG. 6B, the axis | shaft (axis L3) which forms the predetermined angle (gamma) with respect to the average optical axis V3 is several film chips Fc from the optical film intermediate body Fa. The rotation table 61 is rotated so that it becomes a reference | standard at the time of cutting | disconnecting, and the attitude | position of the optical film intermediate body Fa is adjusted.

예를 들면, 회전대(61)를 좌회전으로 (γ-Δα/2)만큼 회전시킨다. 이것에 의해, 평균 광학축(V3)은, 축(L3)에 대해서 각도(γ)를 이룬다. 이것에 의해, 축(L3)이 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자를 때의 기준이 된다. 또, 평균 광학축(V3)이 광학 필름 칩(Fc)에서 목적이 되는 광학축의 방향에 대응한다. 이 경우, 제2 광학축(V2)은, 축(L2)에 대해서 (γ-Δα/2)만큼 어긋난다. 한편, 제1 광학축(V1)은, 축(L1)에 대해서 (γ+Δα/2)만큼 어긋난다. For example, the turntable 61 is rotated leftward by (γ-Δα / 2). As a result, the average optical axis V3 forms an angle γ with respect to the axis L3. Thereby, the axis | shaft L3 becomes a reference | standard when cutting the some film chip | tip Fc from the optical film intermediate body Fa. Moreover, the average optical axis V3 respond | corresponds to the direction of the optical axis made into the objective in the optical film chip Fc. In this case, the second optical axis V2 is shifted by (γ-Δα / 2) with respect to the axis L2. On the other hand, the first optical axis V1 is shifted by (γ + Δα / 2) with respect to the axis L1.

즉, 제2 광학축(V2)은, 광학 필름 칩(Fc)에서 목적이 되는 광학축의 방향에 대해서 (-Δα/2)만큼 어긋나게 된다. 한편, 제1 광학축(V1)은, 광학 필름 칩(Fc)에서 목적이 되는 광학축의 방향에 대해서 (Δα/2)만큼 어긋나게 된다. That is, the second optical axis V2 is shifted by (−Δα / 2) with respect to the direction of the optical axis of interest in the optical film chip Fc. On the other hand, the 1st optical axis V1 is shifted | deviated by ((DELTA) (alpha) / 2) with respect to the direction of the optical axis made into the objective in the optical film chip Fc.

이와 같이, 본 실시 형태에 의하면, 평균 광학축(V3)을 광학 필름 칩(Fc)에서 목적이 되는 광학축의 방향에 대응시키고 있기 때문에, 사각 컷을 한 변에 대해서 소정의 각도를 이루는 축(L1)을 광학 필름 칩에서 목적이 되는 광학축의 방향으로 한 경우에 비해, 제1 광학축(V1) 및 제2 광학축(V2)의 쌍방의 어긋남각을 반으로 저감시킬 수 있다(어긋남각 Δα→Δα/2). Thus, according to this embodiment, since the average optical axis V3 is made to correspond to the direction of the optical axis made into the objective in the optical film chip Fc, the axis | shaft L1 which forms a predetermined angle with respect to the side which made square cut. ), The shift angle between both the first optical axis V1 and the second optical axis V2 can be reduced in half compared to the case where the optical film chip is in the direction of the target optical axis (shift angle? Α → Δα / 2).

도 7은, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자를 때의 설명도이다. FIG. 7: is explanatory drawing at the time of cutting some optical film chip | tip Fc from the optical film intermediate body Fa.

또한, 도 7에서, 부호 Lc1은, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자를 때의 커팅선(X축 방향을 따르는 커팅선, Y축 방향을 따르는 커팅선) 중 X축 방향을 따르는 커팅선과 겹치는 축이다. 축(Lc1)은, 도 6b에 나타내는 축(L3)에 대응한다. In addition, in FIG. 7, the code | symbol Lc1 is X among the cutting lines (cutting line along the X-axis direction, cutting line along the Y-axis direction) when cutting several optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa. The axis overlaps the cutting line along the axial direction. The axis Lc1 corresponds to the axis L3 shown in FIG. 6B.

제2 절단 장치(8)는, 제어 장치(10)의 제어 신호에 의해, 축(Lc1)에 기초하여, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자른다. 본 실시 형태에서는, 평균 광학축(V3)에 대해서 소정의 각도(γ)를 이루는 축(축(L3))이 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자를 때의 기준이 된다. 즉, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자를 때에, 광학 필름 칩(Fc)에서 목적이 되는 광학축을 맞추기 위한 방향을, 축(L3)으로부터의 각도 γ로 설정하고 있다. 이것에 의해, 복수의 광학 필름 칩(Fc)의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 목적의 방향에 배치되도록 하고 있다. The 2nd cutting device 8 cuts several optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa based on the axis Lc1 by the control signal of the control apparatus 10. FIG. In this embodiment, the axis | shaft (axis L3) which forms the predetermined angle (gamma) with respect to average optical axis V3 becomes a reference | standard when cutting some film chips Fc from optical film intermediate body Fa. . That is, when cutting the some film chip Fc from the optical film intermediate body Fa, the direction for aligning the optical axis made into the objective in the optical film chip Fc is set to the angle (gamma) from the axis L3. Thereby, the direction of the average optical axis in surface inside of several optical film chip | tip Fc is arrange | positioned at the target direction.

(광학 필름 칩의 커팅 방법) (Cutting Method of Optical Film Chip)

본 실시 형태에서의 광학 필름 칩의 커팅 방법은, 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 취득하는 제1 스텝과, 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하면서, 광학 필름으로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제2 스텝을 포함한다. The cutting method of the optical film chip in this embodiment is based on the 1st step of acquiring the data of the in-plane distribution of the optical axis of an optical film, and the cutting direction of an optical film based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of an optical film. And a second step of cutting a plurality of said optical film chips from the optical film while varying in-plane of the optical film.

제2 스텝은, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자르는 제3 스텝과, 광학 필름 중간체로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 제4 스텝을 포함한다. 이하, 도 8을 이용하여 구체적으로 설명한다. The second step includes a third step of cutting the plurality of optical film intermediates from the optical film and a fourth step of cutting the plurality of optical film chips from the optical film intermediate. Hereinafter, it demonstrates concretely using FIG.

도 8은, 광학 필름 칩의 커팅 방법을 나타내는 플로우 차트이다. 8 is a flowchart illustrating a cutting method of an optical film chip.

우선, 제1 스텝으로서, 제어 장치(10)가 기억 장치(9)에 기억된 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터를 취득한다. 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터는, 광학 필름 중간체(Fa, Fb)의 광학축의 면내분포를 검출하기 위해서 이용된다. 광학 필름 중간체(Fa, Fb)의 광학축의 면내분포의 데이터는 기억 장치(9)에 기억된다. First, as a 1st step, the control apparatus 10 acquires the data of in-plane distribution of the optical axis of the optical film F memorize | stored in the memory | storage device 9. As shown in FIG. Data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F is used in order to detect the in-plane distribution of the optical axis of the optical film intermediates Fa and Fb. Data of the in-plane distribution of the optical axes of the optical film intermediates Fa and Fb is stored in the storage device 9.

다음으로, 제2 스텝으로서, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자른다. 구체적으로는, 먼저, 제3 스텝으로서, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 중간체(Fa, Fb)를 자르고, 그 후, 제4 스텝으로서, 광학 필름 중간체(Fa, Fb)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자른다. Next, as a 2nd step, the some optical film chip | tip Fc is cut out from the optical film F. FIG. Specifically, first, as a third step, a plurality of optical film intermediates (Fa, Fb) are cut from the optical film (F), and then, as a fourth step, a plurality of optical from the optical film intermediates (Fa, Fb) The film chip Fc is cut off.

제4 스텝에서는, 먼저, 광학 필름 중간체(Fa)를 회전 스테이지(6)에 설치한다(도 8에 나타내는 스텝 S1). 예를 들면, 광학 필름 중간체(Fa)를 회전대(61)에 설치할 때에는, 도 3에 나타내는 바와 같이, 광학 필름 중간체(Fa)의 사각 컷이 되어 있지 않은 변을 마킹(62)에 맞추어 위치 결정한다. 또, 광학 필름 중간체(Fa)를 고정 부재(63)에 의해 고정한다. 이와 같이 광학 필름 중간체(Fa)의 사각 컷이 되어 있지 않은 변을 기준으로 하여 위치 결정하는 것에 의해, 사각 컷 변을 기준으로 하여 위치 결정하는 경우에 비해, 컷 정밀도에 의한 광학축의 편차를 회피할 수 있다. In a 4th step, first, the optical film intermediate body Fa is provided in the rotating stage 6 (step S1 shown in FIG. 8). For example, when attaching the optical film intermediate body Fa to the swivel base 61, as shown in FIG. 3, the side which does not become the square cut of the optical film intermediate body Fa is aligned with the marking 62. FIG. . Moreover, the optical film intermediate body Fa is fixed by the fixing member 63. FIG. Thus, by positioning on the side of the optical film intermediate body Fa that is not square cut, the deviation of the optical axis due to the cutting precision can be avoided compared with the case of positioning on the basis of the square cut edge. Can be.

또한, 여기서 말하는 광학 필름 중간체(Fa)는, 반송 장치(4)에 의해 송출된 광학 필름(F)이 제1 절단 장치(5)에 의해 사각 컷이 되어 잘려진 2매의 광학 필름 중간체(Fa, Fb) 중 일방의 광학 필름 중간체(광학 필름 중간체(Fa))로 한다. In addition, as for the optical film intermediate body Fa here, the two optical film intermediate bodies Fa, in which the optical film F sent out by the conveying apparatus 4 was cut into square cuts by the 1st cutting device 5, Let Fb) be one optical film intermediate (optical film intermediate (Fa)).

다음으로, 기억 장치(9)에 기억된 광학 필름 중간체(Fa)의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 회전 스테이지(6)를 회전시킨다(도 8에 나타내는 스텝 S2). 예를 들면, 도 6b에 나타내는 바와 같이, 평균 광학축(V3)에 대해서 소정의 각도(γ)를 이루는 축(축(L3))이 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자를 때의 기준이 되도록 회전 스테이지(6)를 회전시켜, 광학 필름 중간체(Fa)의 자세를 조정한다. 예를 들면, 광학 필름 중간체(Fa)의 회전 스테이지(6) 상에서의 설치 상태를 카메라로 촬상하고, 촬상 결과에 기초하여 회전 스테이지(6)를 회전시킨다. 이것에 의해, 광학 필름 중간체(Fa)의 세팅(setting) 어긋남을 보정한다. Next, the rotation stage 6 is rotated based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film intermediate body Fa stored in the storage device 9 (step S2 shown in FIG. 8). For example, as shown to FIG. 6B, the axis | shaft (axis L3) which makes | forms predetermined angle (gamma) with respect to the average optical axis V3, has several film chips Fc from the optical film intermediate body Fa. The rotation stage 6 is rotated so that it becomes a reference | standard at the time of cutting, and the attitude | position of the optical film intermediate body Fa is adjusted. For example, the installation state on the rotation stage 6 of the optical film intermediate body Fa is imaged with a camera, and the rotation stage 6 is rotated based on an imaging result. This corrects the setting deviation of the optical film intermediate body Fa.

그리고, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 필름 칩(Fc)을 자른다(도 8에 나타내는 스텝 S3). 예를 들면, 도 7에 나타내는 바와 같이, 축(Lc1)에 기초하여, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자른다. And the some film chip Fc is cut out from the optical film intermediate body Fa (step S3 shown in FIG. 8). For example, as shown in FIG. 7, the some optical film chip | tip Fc is cut out from the optical film intermediate body Fa based on the axis | shaft Lc1.

이상의 공정에 의해, 복수의 광학 필름 칩(Fc)이 얻어진다. By the above process, the some optical film chip | tip Fc is obtained.

본 실시 형태의 광학 필름 칩의 커팅 장치(12), 광학 필름 칩의 커팅 방법에 의하면, 기억 장치(9)에 미리 기억된 광학 필름 중간체(Fa)의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름 중간체(Fa)의 절단 방향이 제어된다. 이 제어에서는, 광학 필름 중간체(Fa)의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름 중간체(Fa)의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름 중간체(Fa)의 절단 방향이 제어된다. 그리고, 절단 방향이 이와 같이 제어된 제2 절단 장치(8)에 의해서 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)이 잘려진다. 따라서, 각 광학 필름 칩(Fc)의 사이에서 발생하는 광학축의 편차를 저감할 수 있다. According to the cutting device 12 of the optical film chip of this embodiment and the cutting method of the optical film chip, based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film intermediate body Fa previously memorize | stored in the memory | storage device 9, The cutting direction of the optical film intermediate body Fa by the 2 cutting devices 8 is controlled. In this control, the 2nd cutting device 8 so that the direction of the average optical axis in surface inside of the optical film intermediate body Fa may make the target angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate body Fa by the 2nd cutting device 8. ), The cutting direction of the optical film intermediate body Fa is controlled. And the some optical film chip Fc is cut out from the optical film intermediate body Fa by the 2nd cutting device 8 in which the cutting direction was controlled in this way. Therefore, the dispersion | variation in the optical axis which arises between each optical film chip Fc can be reduced.

또한, 본 실시 형태에서는, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 중간체(Fa)를 자르고, 그 후, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 예를 설명했다. 그러나, 본 발명은 이것에 한정되지 않고, 예를 들면, 광학 필름(F)으로부터 직접 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 경우에도 적용할 수 있다. 이 경우, 광학 필름(F)의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 광학 필름(F)의 절단 방향을 광학 필름(F)의 면내에서 다르게 하면서, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르게 된다. In addition, in this embodiment, the example which cut | disconnected some optical film intermediate body Fa from the optical film F, and cuts several optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa was demonstrated. However, this invention is not limited to this, For example, it is applicable also when cutting several optical film chips Fc directly from the optical film F. As shown in FIG. In this case, based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film F, the cutting direction of the optical film F is changed in surface inside of the optical film F, and it is several optical film chips from the optical film F. (Fc) will be cut.

또, 본 실시 형태에서는, 광학 필름(F)으로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르고, 자른 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 포장하여 외부로 출하하는 것을 생각하고 있지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 광학 필름(F)을 롤 원반으로부터 인출하고, 액정 패널 등의 광학 표시 패널에 접합한 후, 광학 필름(F)을 광학 표시 패널의 크기로 자르는 경우에도 적용할 수 있다. 이 경우도, 광학 표시 패널에 접합되는 위치의 광학 필름(F)의 광학축을 기억 장치로부터 취득하고, 그 위치의 광학축의 방향에 맞추어 광학 표시 패널의 접합 자세 및 광학 필름(F)의 절단 방향을 조정하면, 광학축이 목적으로 하는 방향(설계 사양으로 정해진 방향)으로부터 크게 어긋나지 않고, 광학 필름 칩(Fc)을 자를 수 있다. In addition, in this embodiment, although the some optical film chip | tip Fc is cut out from the optical film F, the several optical film chip Fc which cut | disconnected is considered, and it ships to the outside, but this invention is based on this. It is not limited. For example, it can apply also when the optical film F is pulled out from a roll disk and bonded to optical display panels, such as a liquid crystal panel, and the optical film F is cut to the magnitude | size of an optical display panel. Also in this case, the optical axis of the optical film F of the position bonded to an optical display panel is acquired from a memory | storage device, and the bonding attitude | position of an optical display panel and the cutting direction of the optical film F are matched with the direction of the optical axis of the position. When it adjusts, the optical film chip Fc can be cut | disconnected, without large shift | deviating from the direction (direction determined by a design specification) made into the optical axis.

또, 본 실시 형태에서는, 제1 절단 장치(5)에 의해 사각 컷이 되어 잘려진 2매의 광학 필름 중간체(Fa, Fb)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 방법에 대해서 설명했지만, 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 제1 절단 장치(5)에 의해 3매 이상의 광학 필름 중간체를 자르고, 이 3매 이상의 광학 필름 중간체의 각각으로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르는 경우에도 본 발명을 적용할 수 있다. 즉, 제1 절단 장치(5)에 의해 잘려지는 광학 필름 중간체의 매수가 3매 이상의 매수인 경우에도 본 발명을 적용할 수 있다. Moreover, in this embodiment, although the method of cutting the some optical film chip | tip Fc from the two optical film intermediate bodies Fa and Fb cut into the rectangular cut by the 1st cutting device 5 was demonstrated, It is not limited to. For example, this invention can be applied also when cutting 3 or more optical film intermediates with the 1st cutting device 5, and cutting several optical film chips Fc from each of these 3 or more optical film intermediates. have. That is, this invention can be applied also when the number of sheets of the optical film intermediate cut by the 1st cutting device 5 is 3 or more sheets.

[제2 실시 형태][Second Embodiment]

이하, 도 9를 이용하여, 본 발명의 제2 실시 형태의 광학 필름 칩의 커팅 장치로서, 광학 필름 중간체의 회전 스테이지(6) 상에서의 설치 상태를 촬상하는 촬상 장치(7)가 복수의 카메라를 구비한 예를 설명한다. Hereinafter, the imaging device 7 which picks up the installation state on the rotating stage 6 of the optical film intermediate body as a cutting device of the optical film chip of 2nd Embodiment of this invention using FIG. The example provided is demonstrated.

도 9에 나타내는 바와 같이, 촬상 장치(7)는, 반송 스테이지(70)와, 제1 카메라(71)와, 제2 카메라(72)를 구비하고 있다. 촬상 장치(7)는, 회전 스테이지(6)와 제2 절단 장치(8)와의 사이에 배치되어 있다. As shown in FIG. 9, the imaging device 7 includes a transfer stage 70, a first camera 71, and a second camera 72. The imaging device 7 is disposed between the rotation stage 6 and the second cutting device 8.

광학 필름 중간체(Fa)는, 회전 스테이지(6)에 재치된 상태로, 반송 스테이지(70)에 의해, 제1 카메라(71) 및 제2 카메라(72)의 촬상 영역으로 반송된다. The optical film intermediate body Fa is conveyed to the imaging area of the 1st camera 71 and the 2nd camera 72 by the conveyance stage 70 in the state mounted on the rotating stage 6.

제1 카메라(71)는, 반송 스테이지(70)에 대해서 -X축 방향 근처에 배치되어 있다. 제1 카메라(71)는, 광학 필름 중간체(Fa)의 -X축 방향측의 엣지부(+Y축 방향측의 단부)를 촬상한다. 제2 카메라(72)는, 반송 스테이지(70)에 대해서 +X축 방향 근처에 배치되어 있다. 제2 카메라(72)는, 광학 필름 중간체(Fa)의 +X축 방향측의 엣지부(+Y축 방향측의 단부)를 촬상한다. The first camera 71 is disposed near the -X axis direction with respect to the transport stage 70. The 1st camera 71 image | photographs the edge part (edge part of + Y-axis direction side) of the optical film intermediate body Fa on the -X-axis direction side. The second camera 72 is disposed near the + X axis direction with respect to the transfer stage 70. The 2nd camera 72 image | photographs the edge part (edge part of + Y-axis direction side) of the optical film intermediate body Fa on the + X-axis direction side.

-X축 방향측의 엣지부 및 +X축 방향측의 엣지부의 양 엣지부가 촬상된 광학 필름 중간체(Fa)는, 회전 스테이지(6)에 재치된 상태로, 제2 절단 장치(8)를 향해서 반송된다. The optical film intermediate body (Fa) which the edge part of the -X axis direction side, and the edge part of the edge part of the + X axis direction side imaged is conveyed toward the 2nd cutting device 8 in the state mounted on the rotating stage 6. do.

본 실시 형태에서는, 복수의 카메라(71, 72)를 가지는 촬상 장치(7)의 촬상 결과에 기초하여, 광학 필름 중간체(Fa)의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 제2 절단 장치(8)에 의한 광학 필름 중간체(Fa)의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 회전 스테이지(6)를 회전시킨다. In this embodiment, based on the imaging result of the imaging device 7 which has some camera 71 and 72, the direction of the average optical axis in surface inside of the optical film intermediate body Fa is made to the 2nd cutting device 8. The rotating stage 6 is rotated so as to achieve the desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate body Fa.

예를 들면, 제어 장치(10)는, 촬상 장치(7)의 촬상 결과에 기초하여, 광학 필름 중간체(Fa)의 -X축 방향측의 엣지부의 위치와 +X축 방향측의 엣지부의 위치와의 어긋남량을 산출한다. 제어 장치(10)는, 이 산출 데이터에 기초하여 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자르기 전에, 회전 스테이지(6)를 회전시켜 커팅 위치의 보정을 행한다. For example, the control apparatus 10 is based on the position of the edge part of the optical film intermediate body Fa on the -X-axis direction side, and the position of the edge part of the + X-axis direction based on the imaging result of the imaging device 7. The amount of deviation is calculated. The control apparatus 10 rotates the rotation stage 6, and correct | amends a cutting position before cutting the some optical film chip Fc from the optical film intermediate body Fa based on this calculation data.

이하, 상기 실시 형태와 마찬가지로, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)이 잘려진다. Hereinafter, similarly to the said embodiment, the some optical film chip | tip Fc is cut out from the optical film intermediate body Fa.

이상의 공정에 의해, 복수의 필름 칩(Fc)이 얻어진다. By the above process, the some film chip | tip Fc is obtained.

본 실시 형태에서는, 복수의 카메라(71, 72)를 가지는 촬상 장치(7)의 촬상 결과에 기초하여, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자를 때의 커팅 위치의 보정이 행해진다. 따라서, 광학 필름 중간체(Fa)로부터 복수의 광학 필름 칩(Fc)을 자를 때의 광학 필름 중간체(Fa)의 위치 정밀도를 향상시킬 수 있다. In this embodiment, correction | amendment of the cutting position at the time of cut | disconnecting the some optical film chip Fc from the optical film intermediate body Fa based on the imaging result of the imaging device 7 which has some camera 71, 72 is carried out. This is done. Therefore, the positional accuracy of the optical film intermediate body Fa when cutting several optical film chips Fc from the optical film intermediate body Fa can be improved.

이상, 첨부 도면을 참조하면서 본 발명에 관한 바람직한 실시의 형태예에 대해서 설명했지만, 본 발명은 관련되는 예에 한정되지 않는 것은 말할 필요도 없다. 상술한 예에서 나타낸 각 구성 부재의 모든 형상이나 조합 등은 일례로서, 본 발명의 주지로부터 일탈하지 않는 범위에서 설계 요구 등에 기초하여 여러 가지 변경 가능하다. As mentioned above, although the example of preferable embodiment which concerns on this invention was described referring an accompanying drawing, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to the example which concerns. All shapes, combinations, and the like of each component shown in the above-described example are merely examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.

실시예 Example

이하, 실시예 및 종래예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example and a prior art example, this invention is not limited to a following example.

도 10은, 광학 필름의 각 검사 위치에서, 광학축의 방향과 제2 절단 장치에 의한 광학 필름(광학 필름 중간체)의 절단 방향이 이루는 각도가, 설계 사양으로 정해진 각도(목적의 각도)에 대해서 어느 정도 어긋나 있는지를 나타내는 그래프이다. FIG. 10 shows the angle formed between the direction of the optical axis and the cutting direction of the optical film (optical film intermediate) by the second cutting device at each inspection position of the optical film. It is a graph that shows the degree of deviation.

도 10에서, 가로축은 광학 필름의 폭 방향에서의 검사 위치를 나타내고 있고, 세로축은 각 검사 위치에서의 광학 필름의 광학축의 방향과 제2 절단 장치에 의한 광학 필름의 절단 방향이 이루는 각도가 목적의 각도에 대해서 어느 정도 어긋나 있는지를 나타내고 있다. In FIG. 10, the horizontal axis represents the inspection position in the width direction of the optical film, and the vertical axis represents the angle between the direction of the optical axis of the optical film at each inspection position and the cutting direction of the optical film by the second cutting device. It shows how much shift is made with respect to the angle.

도 10에서,「+X 방향측」은, 도 4c에 나타내는 광학 필름의 +X 방향측 부분의 면내분포이다.「-X 방향측」은, 도 4c에 나타내는 광학 필름의 -X 방향측 부분의 면내분포이다.「-X 방향측」에 나타내는 1 ~ 9의 숫자는, 광학 필름의 -X 방향측의 엣지로부터의 검사 위치를 순서대로 나타낸 것이다. 예를 들면, 광학 필름의 -X 방향측의 엣지에 가장 가까운 검사 위치가 숫자 1에 대응하고, 광학 필름의 중앙 부분에 가장 가까운 검사 위치가 숫자 9에 대응한다.「+X 방향측」에 나타내는 1 ~ 9의 숫자는, 광학 필름의 +X 방향측의 엣지로부터의 검사 위치를 순서대로 나타낸 것이다. 예를 들면, 광학 필름의 +X 방향측의 엣지에 가장 가까운 검사 위치가 숫자 1에 대응하고, 광학 필름의 중앙 부분에 가장 가까운 검사 위치가 숫자 9에 대응한다. 즉, 본 실시예에서는, 광학 필름의 폭 방향으로 18개소의 검사 위치를 마련하여 광학 필름의 광학축의 면내분포를 검출하고 있다. In FIG. 10, "+ X direction side" is in-plane distribution of the + X direction side part of the optical film shown in FIG. 4C. "-X direction side" is in-plane distribution of the -X direction side part of the optical film shown in FIG. 4C. The number of 1-9 shown to the "-X direction side" shows the inspection position from the edge of the -X direction side of an optical film in order. For example, the inspection position closest to the edge on the -X direction side of the optical film corresponds to the number 1, and the inspection position closest to the center portion of the optical film corresponds to the number 9. 1 shown in the "+ X direction side" The number of -9 shows the inspection position from the edge of the + X direction side of an optical film in order. For example, the inspection position closest to the edge on the + X direction side of the optical film corresponds to the number 1, and the inspection position closest to the center portion of the optical film corresponds to the number 9. That is, in the present Example, 18 inspection positions are provided in the width direction of an optical film, and the in-plane distribution of the optical axis of an optical film is detected.

도 10에서,「종래예」는, 광학 필름의 길이 방향이 제2 절단 장치에 의한 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 광학 필름 중간체를 배치하여 칩을 자른 예이며,「실시예」는, 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 제2 절단 장치에 의한 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 광학 필름 중간체를 회전시켜 칩을 자른 예이다. In FIG. 10, a "conventional example" is an example which arrange | positioned the optical film intermediate body and cut | disconnected the chip | tip so that the longitudinal direction of an optical film may make the objective angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate body by a 2nd cutting device. Is an example in which the optical film intermediate is rotated so that the direction of the average in-plane average optical axis of the optical film intermediate reaches the desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device.

도 10에 나타내는 바와 같이, 종래예의 그래프는, 광학 필름의 광학축의 면내분포를 그대로 반영한 것으로 되어 있다. 즉, 광학 필름의 중앙부에서는, 목적의 각도로부터의 어긋남이 작지만, 광학 필름의 단부에서는, 목적의 각도로부터의 어긋남이 크게 되어 있다. 종래예의 그래프를 보면, 광학 필름의 -X 방향측에서는 4번의 검사 위치에서 큰 어긋남각을 가지고, 광학 필름의 +X 방향측에서는 1번의 검사 위치에서 큰 어긋남각을 가지는 것을 알 수 있다. As shown in FIG. 10, the graph of a prior art example reflects the in-plane distribution of the optical axis of an optical film as it is. That is, although the shift | offset | difference from a target angle is small in the center part of an optical film, the shift | offset | difference from a target angle is large in the edge part of an optical film. Looking at the graph of a prior art example, it turns out that it has a big shift angle at the 4th inspection position in the -X direction side of an optical film, and has a big shift angle at the 1st inspection position in the + X direction side of an optical film.

이것에 대해, 실시예의 그래프는, 광학 필름의 중앙부에서 목적의 각도로부터의 어긋남이 발생하고 있지만, 광학 필름의 단부에서의 목적의 각도로부터의 어긋남은 작게 되어 있다. 광학 필름의 중앙부와 단부에서의 목적의 각도로부터의 어긋남의 크기는, 종래예에서의 광학 필름의 단부에서의 목적의 각도로부터의 어긋남의 크기 보다도 작게 되어 있다. 실시예의 그래프를 보면, 광학 필름의 -X 방향측에서는 4번의 검사 위치와 7번째의 검사 위치에서 큰 어긋남각을 가지고, 광학 필름의 +X 방향측에서는 8번의 검사 위치와 3번째의 검사 위치에서 큰 어긋남각을 가지는 것을 알 수 있다. On the other hand, in the graph of an Example, the shift | offset | difference from the objective angle has generate | occur | produced in the center part of an optical film, but the shift | offset | difference from the objective angle in the edge part of an optical film is small. The magnitude | size of the shift | offset | difference from the objective angle in the center part and the edge part of an optical film is smaller than the magnitude | size of the shift | offset | difference from the objective angle in the edge part of the optical film in a prior art example. Looking at the graph of the example, it has a large shift angle at the 4th inspection position and the 7th inspection position in the -X direction side of an optical film, and a big shift angle at the 8th inspection position and a 3rd inspection position in the + X direction side of an optical film It can be seen that it has.

이와 같이, 실시예에서는, 광학 필름 중간체의 절단 방향을 광학 필름 중간체의 광학축의 면내분포에 기초하여 조정하고 있기 때문에, 목적의 각도로부터의 어긋남의 크기가 광학 필름 중간체의 면내에서 대체로 균일화된다. 이 때문에, 종래예와 같이 목적의 각도로부터의 어긋남이 광학 필름의 중앙부와 단부에서 크게 다르다고 하는 문제는 발생하지 않는다. 따라서, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 경우에도, 잘려지는 복수의 광학 필름 칩의 사이에서 광학축이 크게 벗어나는 것이 억제된다. Thus, in the Example, since the cutting direction of an optical film intermediate body is adjusted based on the in-plane distribution of the optical axis of an optical film intermediate body, the magnitude | size of the shift | offset | difference from the objective angle is substantially uniform in the surface of an optical film intermediate body. For this reason, like the conventional example, the problem that the shift | offset | difference from the objective angle differs significantly in the center part and the edge part of an optical film does not arise. Therefore, even when cutting a some optical film chip | tip from an optical film, it is suppressed that the optical axis largely shifts among the some optical film chip | tips cut | disconnected.

도 11 및 도 12는, 광학 필름 중간체로부터 잘려진 광학 필름 칩의 광학축의 편차를 나타내는 그래프이다. 도 11은 종래예의 결과를 나타내고 있고, 도 12는 실시예의 결과를 나타내고 있다. 도 11 및 도 12에서, 가로축은 광학 필름 칩의 광학축이 설계 사양으로 정해진 광학축에 대해 어느 정도 어긋나 있는지(광학축의 어긋남각)를 나타내고 있고, 세로축은 광학 필름 칩의 매수(빈도)를 나타내고 있다. 11 and 12 are graphs showing the deviation of the optical axis of the optical film chip cut from the optical film intermediate. 11 shows the results of the conventional example, and FIG. 12 shows the results of the example. In FIG. 11 and FIG. 12, the horizontal axis shows how much the optical axis of the optical film chip is shifted with respect to the optical axis determined by the design specification (deviation angle of the optical axis), and the vertical axis shows the number (frequency) of the optical film chip. have.

도 11에 나타내는 바와 같이, 종래예에서는, 표준 편차(σ): 0.10°의 값이 얻어졌다. 각 어긋남각에서의 광학 필름 칩의 빈도는 대체로 균일하다. As shown in FIG. 11, in the conventional example, the value of standard deviation ((sigma)): 0.10 degree was obtained. The frequency of the optical film chip at each shift angle is substantially uniform.

도 12에 나타내는 바와 같이, 실시예에서는, 표준 편차(σ): 0.06°의 값이 얻어졌다. 각 어긋남각에서의 광학 필름 칩의 빈도는, 어긋남각이 작은 영역이 크고, 어긋남각이 큰 영역이 작은 산형(山形)의 분포를 나타내고 있다. 향후 요구 정밀도가 엄격하게 된 경우에도, 이 요구 정밀도를 만족시킬 수 있는 광학 필름 칩의 비율(우량품률)이 크게 떨어지지는 않는다. As shown in FIG. 12, in the Example, the value of standard deviation (sigma): 0.06 degrees was obtained. The frequency of the optical film chip in each shift | offset | difference angle has shown the distribution of the mountain shape where the area | region with a small shift angle is large, and the area | region with a big shift angle is small. Even if the required precision becomes strict in the future, the ratio (excellent product rate) of the optical film chip that can satisfy the required precision does not drop significantly.

이와 같이, 종래예에서는, 각 어긋남각에서의 광학 필름 칩의 빈도는 대체로 균일하기 때문에, 향후 요구 정밀도가 엄격하게 된 경우에, 요구 정밀도를 만족시킬 수 있는 광학 필름 칩의 비율(우량품률)이 크게 떨어지는 것이 예상된다. 한편, 실시예에서는, 어긋남각이 작은 광학 필름 칩의 비율이 어긋남각이 큰 광학 필름 칩의 비율에 비해 크게 되어 있기 때문에, 향후 요구 정밀도가 엄격하게 된 경우에도, 이 요구 정밀도를 만족시킬 수 있는 광학 필름 칩의 비율이 크게 떨어지지는 않는다. 따라서, 종래예에 비해, 1매의 광학 필름으로부터 많은 광학 필름 칩을 자르는 것이 가능해져, 광학 필름 칩의 생산 효율을 향상시킬 수 있다. Thus, in the conventional example, since the frequency of the optical film chip in each shift angle is substantially uniform, when the required precision becomes strict in the future, the ratio (excellent product rate) of the optical film chip which can satisfy | fill the required precision is It is expected to fall significantly. On the other hand, in the Example, since the ratio of the optical film chip with a small displacement angle is larger than the ratio of the optical film chip with a large displacement angle, even if the required precision becomes strict in the future, this required precision can be satisfied. The proportion of the optical film chip does not drop significantly. Therefore, compared with the conventional example, many optical film chips can be cut from one optical film, and the production efficiency of an optical film chip can be improved.

3 … 검사 장치 5 … 제1 절단 장치
6 … 회전 스테이지 7 … 촬상 장치
8 … 제2 절단 장치 9 … 기억 장치
10 … 제어 장치 12 … 광학 필름 칩의 커팅 장치
32 … 검광자 F … 광학 필름
Fa, Fb … 광학 필름 중간체 Fc … 광학 필름 칩
V1 … 제1 광학축 V2 … 제2 광학축
V3 … 평균 광학축(광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축)
3…. Inspection device 5. First cutting device
6 ... Rotation stage 7... Imaging device
8 … Second cutting device 9... store
10 ... Control device 12. Cutting device of optical film chip
32 ... Analyzer F… Optical film
Fa, Fb… Optical film intermediate Fc... Optical film chip
V1 ... First optical axis V2... Second optical axis
V3... Average optical axis (average optical axis in plane of the optical film intermediate)

Claims (13)

광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 장치로서,
상기 광학 필름을 절단하는 절단 장치와;
상기 광학 필름의 광학축의 면내분포(面內分布)의 데이터를 취득하고, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 절단 장치에 의한 상기 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하는 제어 장치를 포함하는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
As a cutting device of an optical film chip to cut a plurality of optical film chips from an optical film,
A cutting device for cutting the optical film;
Data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film is acquired, and the cutting direction of the optical film by the cutting device is determined in-plane based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film. Cutting device of an optical film chip comprising a control device to be different in.
청구항 1에 있어서,
상기 절단 장치는, 상기 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자르는 제1 절단 장치와, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제2 절단 장치를 포함하고;
상기 제어 장치는, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향을 산출하고, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향을 제어하고;
상기 절단 장치는, 상기 제어 장치에 의해서 제어된 절단 방향으로 상기 광학 필름 중간체를 절단하는 것에 의해, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to claim 1,
The cutting device includes a first cutting device for cutting a plurality of optical film intermediates from the optical film, and a second cutting device for cutting a plurality of the optical film chips from the optical film intermediate;
The said control apparatus calculates the direction of the average in-plane average optical axis of the said optical film intermediate body based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the said optical film, The direction of the average in-plane average of the optical film intermediate of the said optical film is said 2nd Controlling the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device to achieve a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the cutting device;
The said cutting device cut | disconnects the said optical film intermediate body in the cutting direction controlled by the said control apparatus, The cutting device of the optical film chip which cut | disconnects the some optical film chip | tips from the said optical film intermediate body.
청구항 2에 있어서,
상기 광학 필름 중간체를 재치(載置)하는 회전 스테이지를 더 구비하며;
상기 제어 장치는, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시키는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to claim 2,
Further comprising a rotating stage for mounting said optical film intermediate;
The control device is a cutting of the optical film chip which rotates the rotating stage such that the direction of the average optical axis in the plane of the optical film chip forms a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate by the second cutting device. Device.
청구항 3에 있어서,
상기 제어 장치는, 상기 광학 필름 중간체의 면내에서 가장 큰 각도로 교차하는 2개의 광학축을 검출하고, 상기 2개의 광학축이 이루는 각을 2등분 하는 축을 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축으로 하여 산출하는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to claim 3,
The control device detects two optical axes intersecting at the largest angle in the plane of the optical film intermediate, and divides the axis formed by the two optical axes into two equally average optical axes in the plane of the optical film intermediate. Cutting device for optical film chips to be calculated.
청구항 2 내지 청구항 4 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 회전 스테이지와 상기 제2 절단 장치와의 사이에는, 상기 광학 필름 중간체의 상기 회전 스테이지 상에서의 설치 상태를 촬상(撮像)하는 촬상 장치가 마련되어 있으며;
상기 제어 장치는, 상기 촬상 장치의 촬상 결과에 기초하여, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시키는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to any one of claims 2 to 4,
An imaging device for imaging an installation state of the optical film intermediate on the rotation stage between the rotation stage and the second cutting device;
The control device is configured such that the direction of the average optical axis in the plane of the optical film intermediate body forms a target angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate body by the second cutting device, based on the imaging result of the imaging device. Cutting device for optical film chips for rotating the rotating stage.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 기억하는 기억 장치를 더 구비하는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
And a storage device for storing data of in-plane distribution of the optical axis of the optical film.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 광학 필름의 광학축을 상기 광학 필름의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사하는 검사 장치를 더 구비하는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
And an inspection device for inspecting the optical axis of the optical film at a plurality of inspection positions in the width direction of the optical film.
청구항 7에 있어서,
상기 검사 장치는, 상기 광학 필름의 폭 방향으로 이동 가능한 검광자(檢光子)를 구비하며;
상기 검사 장치는, 상기 검광자를 상기 광학 필름의 폭 방향으로 이동시키면서 상기 검광자에 의해서 상기 광학 필름의 광학축을 검출하는 것에 의해, 상기 광학 필름의 광학축을 상기 광학 필름의 폭 방향의 복수의 검사 위치에서 검사하는 광학 필름 칩의 커팅 장치.
The method of claim 7,
The inspection apparatus includes an analyzer movable in the width direction of the optical film;
The said inspection apparatus detects the optical axis of the said optical film with the said analyzer while moving the said analyzer in the width direction of the said optical film, The optical axis of the said optical film is the several inspection position of the width direction of the said optical film. Device for cutting optical film chips inspected by
광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 방법 으로서,
상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터를 취득하는 제1 스텝과;
상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름의 절단 방향을 상기 광학 필름의 면내에서 다르게 하면서, 상기 광학 필름으로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제2 스텝을 포함하는 광학 필름 칩의 커팅 방법.
As a cutting method of an optical film chip which cuts a plurality of optical film chips from an optical film,
A first step of acquiring data of in-plane distribution of the optical axis of the optical film;
An optical film including a second step of cutting the plurality of optical film chips from the optical film while varying the cutting direction of the optical film in the plane of the optical film based on data of in-plane distribution of the optical axis of the optical film Cutting method of chips.
청구항 9에 있어서,
상기 제2 스텝은, 광학 필름으로부터 복수의 광학 필름 중간체를 자르는 제3 스텝과, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 제4 스텝을 포함하고;
상기 제4 스텝에서는, 상기 광학 필름의 광학축의 면내분포의 데이터에 기초하여, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향을 산출하고, 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향을 조정하며, 조정된 상기 절단 방향으로 상기 광학 필름 중간체를 절단하는 것에 의해, 상기 광학 필름 중간체로부터 복수의 상기 광학 필름 칩을 자르는 광학 필름 칩의 커팅 방법.
The method of claim 9,
The second step includes a third step of cutting the plurality of optical film intermediates from the optical film and a fourth step of cutting the plurality of the optical film chips from the optical film intermediate;
In the fourth step, the direction of the average optical axis in the plane of the optical film intermediate is calculated based on the data of the in-plane distribution of the optical axis of the optical film, and the direction of the average in-plane average of the optical film intermediate in the plane is By adjusting the cutting direction of the optical film intermediate to achieve the desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate, by cutting the optical film intermediate in the adjusted cutting direction, a plurality of the optical film from the optical film intermediate Method of cutting an optical film chip to cut the chip.
청구항 10에 있어서,
상기 제4 스텝에서는, 상기 광학 필름 중간체를 회전 스테이지에 재치하고, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시키는 광학 필름 칩의 커팅 방법.
The method of claim 10,
In the fourth step, the optical film intermediate is placed on the rotating stage, and the rotating stage is rotated so that the direction of the average optical axis in the plane of the optical film chip forms a desired angle with respect to the cutting direction of the optical film intermediate. Method of cutting optical film chips.
청구항 11에 있어서,
상기 광학 필름 중간체의 면내에서 가장 큰 각도로 교차하는 2개의 광학축을 검출하고, 상기 2개의 광학축이 이루는 각도를 2등분 하는 축을 상기 광학 필름 중간체의 면내의 평균적인 광학축으로 하여 산출하는 광학 필름 칩의 커팅 방법.
The method of claim 11,
An optical film that detects two optical axes intersecting at the largest angle in the plane of the optical film intermediate and calculates an axis that bisects the angle formed by the two optical axes as an average optical axis in the plane of the optical film intermediate. Cutting method of chips.
청구항 10 내지 청구항 12 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 제4 스텝에서는, 상기 광학 필름 중간체의 상기 회전 스테이지 상에서의 설치 상태를 촬상하고, 촬상 결과에 기초하여, 상기 광학 필름 칩의 면내의 평균적인 광학축의 방향이 상기 제2 절단 장치에 의한 상기 광학 필름 중간체의 절단 방향에 대해서 목적의 각도를 이루도록 상기 회전 스테이지를 회전시키는 광학 필름 칩의 커팅 방법.
The method according to any one of claims 10 to 12,
In said 4th step, the installation state of the said optical film intermediate body on the said rotation stage is imaged, and the direction of the average optical axis in surface inside of the said optical film chip | tip is based on the imaging result, The said optical by the said 2nd cutting device A method for cutting an optical film chip, by rotating the rotating stage to achieve a desired angle with respect to the cutting direction of the film intermediate.
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