KR101328036B1 - Microscope assembly with vibrational isolation structure - Google Patents

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KR101328036B1 KR1020110087649A KR20110087649A KR101328036B1 KR 101328036 B1 KR101328036 B1 KR 101328036B1 KR 1020110087649 A KR1020110087649 A KR 1020110087649A KR 20110087649 A KR20110087649 A KR 20110087649A KR 101328036 B1 KR101328036 B1 KR 101328036B1
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Abstract

진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리가 개시된다. 본 발명의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리는, 시료를 관찰할 수 있도록 마련되는 현미경 모듈; 및 현미경 모듈을 지지하며, 외부에서 발생하는 진동이 현미경 모듈 측으로 전달되는 것을 방지하는 진동방지 모듈을 포함하되, 진동방지 모듈은, 현미경 모듈이 안착되며 둘레를 따라 상호 일정 간격 이격되는 다수의 결합공이 관통형성되는 지지프레임; 및 현미경 모듈 전체의 무게 또는 현미경 모듈이 안착된 지지프레임 무게의 편심(偏心)을 고려하여 다수의 결합공을 따라 선택적으로 결합되며, 바닥으로부터 지지프레임을 지지하되 자력(磁力)을 이용하여 지지프레임을 고립시키는 다수의 자기력발생 지지체를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 현미경 모듈의 전체 무게 또는 현미경 모듈이 안착된 프레임 무게의 편심에 따라 간편하게 조절할 수 있도록 마련된 진동방지 모듈을 포함하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리를 제공할 수 있게 된다.A microscope assembly having an antivibration structure is disclosed. Microscope assembly having an anti-vibration structure of the present invention, the microscope module is provided to observe the sample; And an anti-vibration module that supports the microscope module and prevents externally generated vibrations from being transmitted to the microscope module, wherein the anti-vibration module includes a plurality of coupling holes spaced apart from each other by a predetermined distance along the circumference of the microscope module. A support frame formed through; And selectively coupled along a plurality of coupling holes in consideration of the weight of the entire microscope module or the weight of the support frame on which the microscope module is seated, supporting the support frame from the bottom, but using the support frame using magnetic force. It characterized in that it comprises a plurality of magnetic force generating support to isolate the. According to the present invention, it is possible to provide a microscope assembly having an anti-vibration structure including an anti-vibration module provided to be easily adjusted according to the total weight of the microscope module or the eccentricity of the frame weight on which the microscope module is seated.

Description

진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리{Microscope assembly with vibrational isolation structure}Microscope assembly with vibrational isolation structure

본 발명은 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 시료를 장시간 관찰하고자 할 때 진동에 의한 초점거리 변화를 줄일 수 있는 진동방지 모듈을 포함하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리에 관한 것이다.The present invention relates to a microscope assembly having an anti-vibration structure, and more particularly, to a microscope assembly having an anti-vibration structure including an anti-vibration module that can reduce the focal length change due to vibration when a sample is to be observed for a long time. It is about.

형광현미경(Fluorescence Microscope, 螢光顯微鏡)은, 형광체가 특정 파장의 빛을 흡수하면 형광을 발하는 원리를 이용하여 시료에 형광 물질(형광색소)을 처리한 후, 시료에 형광 물질의 흡수 파장의 광을 조사하여 시료로부터 발산되는 방사광을 통해 시료를 관찰하는 장치를 말한다. 형광현미경은 일반적인 광학현미경에 비해 선명한 영상을 얻을 수 있으므로 바이오 칩과 같은 시료를 관찰하는 경우 널리 이용된다.Fluorescence microscopes use a principle that fluoresces when a phosphor absorbs light of a particular wavelength, and then treats the sample with a fluorescent material (fluorescent dye), and then applies the light to the sample at the wavelength of absorption of the fluorescent substance. Refers to a device for observing a sample through irradiation with radiated light emitted from the sample. Fluorescence microscopy is widely used when observing a sample such as a biochip because a clearer image can be obtained than a general optical microscope.

한편, 형광현미경을 이용하여 배양상태에 있는 시료의 이미지를 지속적으로 관찰하는 경우가 있는데, 이때 배양상태에 있는 시료에 진동이 가해지는 것은 시료 관찰부위가 이동하거나 초점이 달라질 수 있어 장시간 관찰을 어렵게 하는바 이를 방지할 필요성이 생긴다.On the other hand, the fluorescence microscope is used to continuously observe the image of the sample in the culture state, when the vibration is applied to the sample in the culture state, it is difficult to observe for a long time because the sample observation site may be moved or the focus may be changed. There is a need to prevent this.

도 1은 진동방지 장치를 갖는 종래의 전자현미경의 개략적인 모식도이다.1 is a schematic diagram of a conventional electron microscope having an anti-vibration device.

도 1을 참조하면, 종래의 전자현미경(1)은 현미경 모듈(2)과, 바닥(4)으로부터 전달되는 진동이 현미경 모듈(2) 측으로 재 전달되는 것을 막기 위한 진동방지 장치(3)를 포함한다. 또한, 바닥(4)을 관통하여서는 각종 진공라인(5)이 배치되어 현미경 모듈(2) 측으로 연결된다.Referring to FIG. 1, a conventional electron microscope 1 includes a microscope module 2 and an anti-vibration device 3 for preventing vibrations transmitted from the bottom 4 from being transferred back to the microscope module 2 side. do. In addition, through the bottom 4, various vacuum lines 5 are arranged and connected to the microscope module 2 side.

한편, 종래의 전자현미경(1)의 진동방지 장치(3)는 내부가 빈 금속 프레임을 절곡하여 그 상측은 현미경 모듈(2)을 지지하도록 하고 그 하측은 바닥(4)에 지지되도록 함으로써, 바닥(4)으로부터 전달되는 진동이 진동방지 장치(3) 내부의 공기에 의해 일정 정도 흡수하도록 하고 있다.On the other hand, the anti-vibration device 3 of the conventional electron microscope (1) is bent by the inner metal frame bent so that the upper side to support the microscope module (2) and the lower side to be supported by the bottom (4), The vibration transmitted from (4) is made to be absorbed to some extent by the air inside the vibration damping device 3.

하지만, 이와 같은 종래의 진동방지 장치(3)는 단지 진동을 흡수할 수 있는 구조만을 가지고 있을 뿐, 현미경 모듈(2) 자체의 무게 중심의 편심에 대응될 수 있는 어떠한 구성도 가지고 있지 못함에 따라 현미경 모듈(2)의 무게 중심이 편심된 경우 진동을 효율적으로 방지하지 못하게 되는 문제점이 존재한다.However, such a conventional anti-vibration device 3 has only a structure capable of absorbing vibration, and does not have any configuration that can cope with the eccentricity of the center of gravity of the microscope module 2 itself. If the center of gravity of the microscope module 2 is eccentric, there is a problem that does not effectively prevent vibration.

즉, 현미경 모듈(2)의 내부에는 다양한 광학적 장치가 포함되어 있게 되는바 그 무게 중심이 정확하게 중심에 위치하게 되기 어려운데 이러한 현미경 모듈(2)의 무게 중심의 편심을 무시하고 이를 그대로 진동방지 장치(3)를 통해 지지하도록 하게 되면 바닥(4)으로부터 전달되는 진동이 진동방지 장치(3)에 의해 효율적으로 흡수되지 못하게 되고 결국 현미경 모듈(2) 측으로 대부분 그대로 전달되는 문제가 생길 수 있게 되는 것이다.That is, the inside of the microscope module (2) includes a variety of optical devices that the center of gravity of the center of gravity is difficult to be accurately located in the center of the center of gravity of the microscope module (2) ignores the eccentricity of the device as it is If the support through 3) the vibration transmitted from the bottom (4) will not be efficiently absorbed by the vibration damping device (3) will eventually be a problem that is transmitted to most of the microscope module 2 as it is.

한편, 세포라는 시료의 측면에서도 편심이 있어 광학부가 기울어져 있을 경우 배양 용기 내 배양액의 수위가 위치에 따라 달라지므로 세포가 자라는 환경이 일정하지 못하게 되는 문제점을 발생시킬 수 있다.On the other hand, there is an eccentricity in the side of the sample called cells, so when the optical portion is inclined, the level of the culture solution in the culture vessel varies depending on the location, which may cause a problem that the environment in which the cells grow is not constant.

또한, 종래의 진동방지 장치(3)는 현미경 모듈(2) 및 바닥(4)을 그대로 연결하고 있음에 따라 바닥(4)으로부터 전달되는 진동을 효율적으로 차단하기 어려운 문제가 있다.In addition, the conventional anti-vibration device 3 has a problem that it is difficult to effectively block the vibration transmitted from the floor 4 as the microscope module 2 and the bottom 4 are connected as it is.

한국 공개특허공보 제1998-026109호Korean Laid-Open Patent Publication No. 1998-026109

본 발명의 목적은, 시료를 장시간 관찰하고자 할 때 진동에 의한 초점거리 변화를 줄일 수 있는 진동방지 모듈을 포함하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a microscope assembly having an anti-vibration structure including an anti-vibration module that can reduce the focal length change due to vibration when the sample is to be observed for a long time.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 시료를 관찰할 수 있도록 마련되는 현미경 모듈; 및 상기 현미경 모듈을 지지하며, 외부에서 발생하는 진동이 상기 현미경 모듈 측으로 전달되는 것을 방지하는 진동방지 모듈을 포함하되, 상기 진동방지 모듈은, 상기 현미경 모듈이 안착되며 둘레를 따라 상호 일정 간격 이격되는 다수의 결합공이 관통형성되는 지지프레임; 및 상기 현미경 모듈 전체의 무게 또는 상기 현미경 모듈이 안착된 상기 지지프레임 무게의 편심(偏心)을 고려하여 상기 다수의 결합공을 따라 선택적으로 결합되며, 바닥으로부터 상기 지지프레임을 지지하되 자력(磁力)을 이용하여 상기 지지프레임을 고립시키는 다수의 자기력발생 지지체를 포함하는 것을 특징으로 하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리에 의하여 달성된다.According to the present invention, the object is provided with a microscope module provided to observe the sample; And an anti-vibration module that supports the microscope module and prevents vibration generated from the outside from being transmitted to the microscope module side, wherein the anti-vibration module is spaced apart from each other by a predetermined distance along the circumference of the microscope module. A support frame through which a plurality of coupling holes are formed; And selectively coupled along the plurality of coupling holes in consideration of the total weight of the microscope module or the eccentricity of the weight of the support frame on which the microscope module is seated, and supporting the support frame from the bottom, but with magnetic force. It is achieved by a microscope assembly having an anti-vibration structure, characterized in that it comprises a plurality of magnetic force generating support to isolate the support frame using.

상기 자기력발생 지지체는, 제1 마그넷이 내부에 수용되는 지지바디; 및 상단부가 상기 결합공에 결합되고 하단부가 상기 지지바디의 내부를 따라 상하방향으로 상대 선형운동할 수 있도록 상기 지지바디에 삽입되며 하측에 제2 마그넷이 장착되는 결합바디를 포함하되, 상기 제2 마그넷은, 상기 제1 마그넷에 대향되는 면이 상기 제1 마그넷과 같은 극성을 같도록 마련되어 상기 결합바디가 항상 상측으로 향하도록 하는 척력(斥力)을 발생시킬 수 있다.The magnetic force generating support, the support body is accommodated therein the first magnet; And a coupling body having an upper end coupled to the coupling hole and inserted into the support body such that the lower end is linearly moved up and down along the inside of the support body, and a second magnet is mounted on the lower side. The magnet may be provided with a surface opposite to the first magnet to have the same polarity as that of the first magnet to generate a repulsive force so that the coupling body always faces upward.

상기 지지바디는, 중공 원통 형상의 메인바디; 제1 플랜지와, 상기 제1 플랜지의 직경보다 작은 직경을 갖도록 상기 제1 플랜지의 상면으로부터 돌출되어 상기 메인바디의 하측에 끼움결합되며 내부에 상기 제1 마그넷이 수용되기 위한 제1 마그넷 수용홈이 형성되는 제1 수용부를 구비하는 지지부; 및 제2 플랜지와, 상기 제2 플랜지의 직경보다 작은 직경을 갖도록 상기 제2 플랜지의 하면으로부터 돌출되어 상기 메인바디의 상측에 끼움결합되는 제2 수용부를 구비하되 내부에 상기 결합바디가 관통 수용되기 위한 관통공이 형성되는 덮개부를 포함할 수 있다.The support body, the main body of the hollow cylindrical shape; A first magnet and a first magnet receiving groove protruding from the upper surface of the first flange to be smaller than the diameter of the first flange and fitted to the lower side of the main body, the first magnet is accommodated therein A support having a first accommodation part formed; And a second receiving portion protruding from a lower surface of the second flange and fitted to the upper side of the main body so as to have a second flange and a diameter smaller than the diameter of the second flange, wherein the coupling body is penetrated therein. It may include a cover portion is formed through holes for.

상기 결합바디는, 상기 결합공에 결합되는 결합구; 상기 결합구의 하단부로부터 하측방향으로 연장되되 상기 관통공에 삽입되어 상하방향으로 움직일 수 있도록 상기 관통공의 직경보다 작은 직경을 갖도록 마련되는 연결부; 및 상기 연결부의 상측방향 이동범위를 제한할 수 있도록 상기 연결부의 하단부로부터 외측방향으로 단차지게 돌출 연장되며, 내부에 상기 제2 마그넷이 수용되기 위한 제2 마그넷 수용홈이 형성되는 플랜지부를 포함할 수 있다.The coupling body, the coupling sphere coupled to the coupling hole; A connection part extending downward from the lower end of the coupler and having a diameter smaller than the diameter of the through hole so as to be inserted into the through hole and move upward and downward; And a flange portion protruding stepped outwardly from the lower end portion of the connection portion to limit an upward movement range of the connection portion, and having a second magnet receiving groove formed therein for receiving the second magnet therein. Can be.

상기 결합공의 내주면에는 암 나사산이 형성되며, 상기 결합구의 외주면에는 상기 암 나사산에 대응되는 수 나사산이 형성되어 상기 결합바디 및 상기 지지프레임은 나사결합 방식으로 상호 결합될 수 있다.Female threads are formed on the inner circumferential surface of the coupling hole, and male threads corresponding to the female threads are formed on the outer circumferential surface of the coupling hole so that the coupling body and the support frame may be mutually coupled in a screwing manner.

상기 현미경 모듈은, 상기 시료가 담긴 배양기가 수용되며 X축 및 Y축 방향으로 각각 이동가능하게 마련되는 인큐베이션 챔버; 상기 시료 측으로 광(光)을 조사하는 적어도 하나의 광원부; 및 상기 시료의 이미지를 관찰할 수 있도록 마련되는 관찰부를 포함할 수 있다.The microscope module, the incubation chamber accommodates the incubator containing the sample is provided to be movable in the X-axis and Y-axis direction, respectively; At least one light source unit irradiating light to the sample side; And it may include an observation unit provided to observe the image of the sample.

상기 인큐베이션 챔버에는, 상기 배양기에 공급되는 이산화탄소의 양을 조절하는 이산화탄소농도 조절부에 연결되기 위해 형성되는 한 쌍의 배기구 및 흡기구; 및 상기 인큐베이션 챔버의 내부온도를 조절하는 온도 조절부에 연결되기 위해 형성되는 한 쌍의 센서 연결구 및 히터 연결구가 각각 마련될 수 있다.The incubation chamber includes a pair of exhaust ports and an inlet formed to be connected to the carbon dioxide concentration control unit for controlling the amount of carbon dioxide supplied to the incubator; And a pair of sensor connector and a heater connector respectively formed to be connected to a temperature control part for controlling the internal temperature of the incubation chamber.

본 발명에 의하면, 현미경 모듈의 전체 무게 또는 현미경 모듈이 안착된 지지프레임 무게의 편심을 고려하여 지지프레임의 수평을 간편하게 조절할 수 있는 자기력발생 지지체를 포함함으로써 시료를 장시간 관찰하고자 할 때 진동에 의한 초점거리 변화를 줄일 수 있는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리를 제공할 수 있게 된다.According to the present invention, in consideration of the total weight of the microscope module or the eccentricity of the weight of the support frame on which the microscope module is mounted, a magnetic force generating support which can easily adjust the horizontality of the support frame is focused by vibration when the sample is to be observed for a long time. It is possible to provide a microscope assembly having an anti-vibration structure that can reduce the distance change.

도 1은 진동방지 장치를 갖는 종래의 전자현미경의 개략적인 모식도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이다.
도 3은 도 2의 반대 측면에서 바라본 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이다.
도 4는 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 진동방지 모듈의 사시도이다.
도 5는 도 4의 진동방지 모듈의 자기력발생 지지체의 분해사시도이다.
도 6은 도 5의 자기력발생 지지체의 단면도이다.
도 7은 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사용방법을 나타낸 사시도이다.
도 8은 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 제2 광원부를 이용하여 형광 이미지를 관찰하는 원리를 나타낸 개략적인 모식도이다.
도 9는 가벼운 무게를 갖는 현미경 모듈에 적용되는 본 발명의 다른 실시예에 따른 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이다.
1 is a schematic diagram of a conventional electron microscope having an anti-vibration device.
2 is a perspective view of a microscope assembly having an anti-vibration structure according to an embodiment of the present invention.
3 is a perspective view of the microscope assembly having the antivibration structure of FIG. 2 viewed from the opposite side of FIG. 2.
4 is a perspective view of an anti-vibration module of the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2.
FIG. 5 is an exploded perspective view of the magnetic force generating support of the anti-vibration module of FIG. 4.
6 is a cross-sectional view of the magnetic force generating support of FIG.
7 is a perspective view illustrating a method of using the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2.
FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a principle of observing a fluorescence image by using a second light source unit of the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2.
9 is a perspective view of a microscope assembly having an anti-vibration structure according to another embodiment of the present invention applied to a light weight microscope module.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하면 다음과 같다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, the well-known functions or constructions are not described in order to simplify the gist of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이며, 도 3은 도 2의 반대 측면에서 바라본 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이고, 도 4는 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 진동방지 모듈의 사시도이며, 도 5는 도 4의 진동방지 모듈의 자기력발생 지지체의 분해사시도이고, 도 6은 도 5의 자기력발생 지지체의 단면도이다.2 is a perspective view of a microscope assembly having an anti-vibration structure according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a perspective view of the microscope assembly having the anti-vibration structure of Figure 2 seen from the opposite side of Figure 2, Figure 4 2 is a perspective view of the anti-vibration module of the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2, FIG. 5 is an exploded perspective view of the magnetic force generating support of the anti-vibration module of FIG. 4, and FIG. 6 is a cross-sectional view of the magnetic force generating support of FIG. 5.

이들 도면을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리(100, 이하 '현미경 어셈블리(100)'이라 함)는 시료를 관찰할 수 있도록 마련되는 현미경 모듈(110)과, 현미경 모듈(110)을 지지하는 진동방지 모듈(170)을 포함한다.Referring to these drawings, the microscope assembly (100, hereinafter referred to as "microscope assembly 100") having a vibration preventing structure according to an embodiment of the present invention and the microscope module 110 is provided to observe the sample; , Anti-vibration module 170 for supporting the microscope module 110.

현미경 모듈(110)은 세포 등의 관찰객체(이하 '시료'라고 함)를 관찰할 수 있도록 마련되는 것으로, 시료가 담긴 배양기(CD, Culture Dish)가 수용되는 인큐베이션 챔버(120)와, 시료 측으로 광(光)을 조사할 수 있도록 마련되는 광원부(130)와, 시료의 이미지를 관찰할 수 있도록 마련되는 관찰부(160)를 포함한다.The microscope module 110 is provided to observe an observation object such as cells (hereinafter referred to as a 'sample'), and includes an incubation chamber 120 in which a culture dish (CD) containing a sample is accommodated, and a sample side. The light source unit 130 is provided to irradiate light and the observation unit 160 is provided to observe an image of the sample.

인큐베이션 챔버(120)는 시료가 담긴 배양기(CD)가 수용되기 위한 공간을 제공하기 위한 구성이다. 인큐베이션 챔버(120)에는, 도 2에 도시된 바와 같이, 원형 단면 형상을 갖는 배양기(CD)가 수용되기 위한 배양기 수용홈(H1)과, 배양기 수용홈(H1)을 쉽게 넣거나 뺄 수 있도록 배양기 수용홈(H1)의 양측에 마련되는 그립홈(H2)이 형성된다.The incubation chamber 120 is configured to provide a space for accommodating the incubator (CD) containing the sample. As shown in FIG. 2, the incubation chamber 120 accommodates an incubator accommodating groove H1 for accommodating the incubator CD having a circular cross-sectional shape and an incubator accommodating groove H1 for easy insertion or removal. Grip grooves H2 provided on both sides of the groove H1 are formed.

이에 작업자는 배양기(CD)를 파지한 상태에서 이를 그대로 배양기 수용홈(H1)에 배치할 수 있게 되므로 작업의 편의가 도모될 수 있게 된다. 즉, 배양기 수용홈(H1)의 양측에 형성된 그립홈(H2)을 통해 특별한 도구를 사용하지 않더라도 배양기(CD)를 간편하에 인큐베이션 챔버(120)에 배치하거나 인큐베이션 챔버(120)로부터 분리시킬 수 있게 되는 것이다.The worker can be placed in the incubator accommodating groove (H1) as it is, while holding the incubator (CD) can be facilitated for work. That is, through the grip grooves (H2) formed on both sides of the incubator receiving groove (H1) so that the incubator (CD) can be easily placed in the incubation chamber (120) or separated from the incubation chamber (120) without using a special tool. Will be.

한편, 본 실시예의 인큐베이션 챔버(120)는 X 및 Y축 방향으로 그 위치를 조금씩 이동할 수 있도록 구성된다. 즉, 도 2에 도시된 X축 핸들(120a)을 조정하여 인큐베이션 챔버(120)를 X축 방향 또는 -X축 방향으로 이동시키거나, Y축 핸들(120b)을 조정하여 인큐베이션 챔버(120)를 Y축 방향 또는 -Y축 방향으로 이동시킬 수 있게 되는 것이다.On the other hand, the incubation chamber 120 of the present embodiment is configured to move the position little by little in the X and Y-axis direction. That is, the incubation chamber 120 is moved by adjusting the X-axis handle 120a shown in FIG. 2 to move the incubation chamber 120 in the X-axis direction or the -X-axis direction, or by adjusting the Y-axis handle 120b. It can be moved in the Y-axis direction or the -Y axis direction.

이와 같은 X 및 Y축 방향의 미세조정을 통해 광원부(130)로부터 조사되는 광(光)이 시료 측으로 정확하게 전달될 수 있도록 한다.Through such fine adjustment in the X and Y-axis directions, the light emitted from the light source unit 130 can be accurately transmitted to the sample side.

한편, 대물렌즈(OR)는 Z축 핸들(120c)에 연결되어 있고, 이를 조정하여 Z축 방향 또는 -Z축 방향으로 이동시켜 시료에 초점을 맞추도록 한다.On the other hand, the objective lens (OR) is connected to the Z-axis handle (120c), by adjusting it to move in the Z-axis direction or -Z axis direction to focus on the sample.

한편 본 실시예의 현미경 어셈블리(100)는 시료를 효율적으로 배양할 수 있도록 외부에 마련되는 이산화탄소농도 조절부(미도시) 및 온도 조절부(미도시)에 연결되는데, 이를 위해 인큐베이션 챔버(120)의 일측면에는 한 쌍의 배기구(121) 및 흡기구(122)와, 한 쌍의 센서 연결구(123) 및 히터 연결구(124)가 각각 형성된다.On the other hand, the microscope assembly 100 of the present embodiment is connected to the carbon dioxide concentration control unit (not shown) and the temperature control unit (not shown) provided to the outside to cultivate the sample efficiently, for this purpose of the incubation chamber 120 On one side, a pair of exhaust port 121 and inlet 122, a pair of sensor connector 123 and a heater connector 124 are formed, respectively.

배기구(121) 및 흡기구(122)는 각각 이산화탄소농도 조절부에 연결되어 이산화탄소농도 조절부를 통해 전달되는 이산화탄소(CO2)가 인큐베이션 챔버(120)의 내부로 공급되거나 외부로 배출될 수 있도록 하며, 센서 연결구(123)에는 온도 센서(미도시)가 연결되어 인큐베이션 챔버(120) 내부의 온도를 주기적으로 파악하고 인큐베이션 챔버(120) 내부의 온도가 낮을 경우에는 히터 연결구(124)를 통해 연결된 온도 조절부가 가동되어 인큐베이션 챔버(120)의 내부 온도를 높이게 된다.The exhaust port 121 and the inlet 122 are connected to the carbon dioxide concentration control unit, respectively, so that carbon dioxide (CO 2 ) delivered through the carbon dioxide concentration control unit may be supplied into the incubation chamber 120 or discharged to the outside. A temperature sensor (not shown) is connected to the connector 123 to periodically check the temperature inside the incubation chamber 120, and when the temperature inside the incubation chamber 120 is low, a temperature controller connected through the heater connector 124 is provided. It is operated to increase the internal temperature of the incubation chamber 120.

한편, 광원부(130)는 시료 측으로 일정한 광(光)을 조사함으로써 관찰부(160)를 통해 시료의 이미지를 관찰할 수 있도록 마련되는 것으로, 인큐베이션 챔버(120)의 상측에 마련되는 제1 광원부(140)와, 인큐베이션 챔버(120)의 측부에 마련되는 제2 광원부(150)를 포함한다.On the other hand, the light source unit 130 is provided to observe the image of the sample through the observation unit 160 by irradiating a constant light (light) toward the sample side, the first light source unit 140 provided above the incubation chamber 120 ) And a second light source unit 150 provided on the side of the incubation chamber 120.

제1 광원부(140)는 시료의 명시야 이미지(明視野 이미지, Bright Field Image)를 관찰하기 위해 마련되는 구성으로, 인큐베이션 챔버(120)와 평행하도록 그 상측에 배치되는 제1 광원프레임(141)과, 제1 광원프레임(141)의 일단부에 결합되는 제1 광원(142)과, 제1 광원(142)으로부터 조사되는 제1 광(光)을 시료 측으로 반사시킬 수 있도록 제1 광원프레임(141)의 타단부에 결합되는 제1 반사미러(143)와, 제1 광원(142) 및 제1 반사미러(143) 사이에 개재되는 제1 집광렌즈(144)와, 제1 광원(142) 및 제1 집광렌즈(144) 사이에 개재되는 확산필터(145)를 포함한다.The first light source unit 140 is configured to observe a bright field image of a sample, and the first light source frame 141 disposed above the incubation chamber 120 to be parallel to the incubation chamber 120. And a first light source 142 coupled to one end of the first light source frame 141 and a first light source frame to reflect the first light emitted from the first light source 142 to the sample side. The first reflecting mirror 143 coupled to the other end of the first side 141, the first condensing lens 144 interposed between the first light source 142 and the first reflecting mirror 143, and the first light source 142. And a diffusion filter 145 interposed between the first condenser lens 144.

제1 광원프레임(141)은 제1 광원(142) 등의 구성이 결합될 수 있는 판면을 제공하는 구성이다. 제1 광원프레임(141)의 길이방향을 따라서는 일정한 폭을 갖는 슬릿(141a)이 형성되며, 이러한 슬릿(141a)을 따라 제1 광원(142) 등의 구성이 제1 광원프레임(141)을 따라 상대이동 가능하게 결합된다.The first light source frame 141 is a configuration that provides a plate surface to which the configuration of the first light source 142 and the like may be coupled. A slit 141a having a predetermined width is formed along the longitudinal direction of the first light source frame 141, and a configuration of the first light source 142 or the like along the slit 141a forms the first light source frame 141. Therefore, the relative movement is combined.

제1 광원(142)은 시료 측으로 백색 광(光)인 제1 광(光)을 조사할 수 있도록 백색 광원으로 마련되어 제1 광원프레임(141)의 일단부에 결합되는 구성이다. 본 실시예의 경우 제1 광원(142)은 백색 광원 중에서 특히 백색 발광다이오드(LED)를 사용하여 마련된다. 물론 본 발명의 다른 실시예에 따라 제1 광원(142)은 일반적인 텅스텐 할로겐 램프 등을 사용하여 마련될 수도 있다.The first light source 142 is configured as a white light source so as to irradiate the first light, which is white light, to the sample side and is coupled to one end of the first light source frame 141. In the present embodiment, the first light source 142 is provided using a white light emitting diode (LED), among other white light sources. Of course, according to another embodiment of the present invention, the first light source 142 may be provided using a general tungsten halogen lamp.

제1 반사미러(143)는 제1 광원(142)으로부터 조사되는 제1 광(光)이 시료 측으로 전달될 수 있도록 제1 광(光)의 조사 방향을 시료 측으로 전환하기 위한 구성이다. 종래의 현미경은 시료의 상측에 광원, 집광렌즈 및 확산필터를 수직 배치하는 구조를 따르고 있는바 현미경의 전체 높이가 높아질 수밖에 없게 되어 이를 배치하는 공간상의 제약이 따르는 문제점이 있다.The first reflection mirror 143 is configured to switch the irradiation direction of the first light to the sample side so that the first light irradiated from the first light source 142 can be transmitted to the sample side. The conventional microscope has a structure in which a light source, a condenser lens, and a diffusion filter are vertically disposed on an upper side of a sample, and thus the overall height of the microscope is inevitably increased, resulting in a space constraint for disposing the microscope.

이에 본 실시예의 현미경 모듈(110)은 제1 광원(142)을 인큐베이션 챔버(120)와 평행하게 배치하고, 제1 반사미러(143)를 통해 제1 광(光)의 조사 방향을 전환시키도록 함으로써 높이의 제약이 있는 곳에서도 간편하게 사용될 수 있는 장점을 가진다.Accordingly, the microscope module 110 of the present exemplary embodiment arranges the first light source 142 in parallel with the incubation chamber 120 and changes the irradiation direction of the first light through the first reflecting mirror 143. By doing so, it has the advantage that it can be used easily even in places where the height is limited.

제1 집광렌즈(144)는 제1 광원(142)으로부터 조사되는 제1 광(光)을 한 군데로 모음으로써 이를 집중시키기 위한 구성이며, 확산필터(145)는 관찰부(160)를 통해 관찰되는 시료의 이미지가 균일하게 보일 수 있도록 제1 광(光)을 일정 정도 확산시키는 구성이다. 즉, 제1 광원(142)으로부터 조사되는 제1 광(光)은 확산필터(145)를 거쳐 일정 정도 확산된 후 제1 집광렌즈(144)를 거쳐 한 군데로 집중되게 됨으로써 관찰부(160)를 통해 관찰되는 시료의 명시야 이미지가 분명하고 정확하게 파악될 수 있도록 한다.The first condensing lens 144 is a configuration for concentrating the first light emitted from the first light source 142 by collecting them in one place, and the diffusion filter 145 is observed through the observation unit 160. The first light is diffused to a certain degree so that the image of the sample can be seen uniformly. That is, the first light irradiated from the first light source 142 is diffused to some extent through the diffusion filter 145 and then concentrated through a first condensing lens 144 in one place, thereby providing the observation unit 160. This ensures that bright field images of samples observed are clearly and accurately identified.

한편, 제2 광원부(150)는 시료의 형광 이미지(Fluorescent Image)를 관찰하기 위해 마련되는 구성으로, 인큐베이션 챔버(120)의 측부에 결합되는 제2 광원프레임(151)과, 제2 광원프레임(151)의 일단부에 결합되는 제2 광원(152)과, 제2 광원(152)으로부터 조사되는 제2 광(光)을 시료 측으로 반사시키는 필터큐브(153)를 포함한다.On the other hand, the second light source unit 150 is configured to observe the fluorescent image (Fluorescent Image) of the sample, the second light source frame 151 coupled to the side of the incubation chamber 120, and the second light source frame ( A second light source 152 coupled to one end of the 151, and a filter cube 153 for reflecting the second light emitted from the second light source 152 to the sample side.

제2 광원프레임(151)은 인큐베이션 챔버(120)의 측부에 4개의 바(Bar)를 고정시킴으로써 마련된다. 물론, 본 발명의 권리범위는 제2 광원프레임(151)의 실시 형식에 의해 제한되지 않으며 제2 광원프레임(151)은 제1 광원프레임(141)과 마찬가지로 판재형 금속을 이용하여 마련될 수도 있다.The second light source frame 151 is provided by fixing four bars on the side of the incubation chamber 120. Of course, the scope of the present invention is not limited by the embodiment of the second light source frame 151 and the second light source frame 151 may be provided using a plate-like metal like the first light source frame 141. .

제2 광원(152)은 시료로부터 청색 광(光) 또는 녹색 광(光) 또는 적색 광(光) 등의 형광을 발생시킬 수 있도록 자외선(UV) 또는 유색(有色) 광원으로 마련되어 제2 광원프레임(151)의 일단부에 결합되는 구성이다.The second light source 152 is provided as an ultraviolet (UV) or colored light source so as to generate fluorescence such as blue light, green light, or red light from the sample, and the second light source frame It is a structure coupled to one end of 151.

즉, 관찰의 대상이 되는 시료에 따라 청색 형광이미지 또는 녹색 형광 이미지 또는 적색 형광이미지를 선택하여 관찰할 수 있도록 제2 광원(152)은 이에 대응되는 UV 광원 또는 청색 광원 또는 황색 광원으로 마련되는 것이다.That is, the second light source 152 is provided with a UV light source or a blue light source or a yellow light source corresponding to the blue fluorescent image or the green fluorescent image or the red fluorescent image according to the sample to be observed. .

필터큐브(153)는 제2 광원(152)으로부터 조사되는 제2 광(光)이 시료 측으로 반사될 수 있도록 함과 동시에 제2 광(光)에 뒤섞여 있는 불필요한 특정 파장의 빛을 여과시킴으로써 관찰부(160)를 통해 관찰되는 시료의 형광 이미지를 명확하게 하는 구성이다. 필터큐브(153)를 통해 시료 측으로 제2 광(光)이 전달되는 원리는 본 발명의 사용예에서 상술하기로 한다.The filter cube 153 allows the second light emitted from the second light source 152 to be reflected to the sample side, and at the same time, filters the unnecessary wavelength of light mixed with the second light to observe the observation unit ( 160 to clarify the fluorescence image of the sample observed through. The principle that the second light is transmitted to the sample side through the filter cube 153 will be described in detail in the use example of the present invention.

관찰부(160)는 광원부(130)를 통해 조사된 광(光)을 이용하여 시료의 명시야 이미지 또는 형광이미지를 관찰하기 위한 구성이다.The observation unit 160 is a configuration for observing a bright field image or a fluorescent image of a sample using light emitted through the light source unit 130.

본 실시예의 관찰부(160)는 CCD (Charge-coupled device) 이미지 센서(카메라) 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서로 마련된다.Observation unit 160 of the present embodiment is provided with a charge-coupled device (CCD) image sensor (camera) or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) image sensor.

여기서, CCD 이미지 센서는 CCD가 빛에 노출된 후 각각의 포토사이트(Photosite)에 저장된 충전 전하량(Charge)을 읽기 위해 CCD의 맨 아래 행(row)부터 한 줄씩 리드 아웃 레지스터(Read Out Register)로 정보를 복사하고, 복사된 값을 다시 증폭기(Amplifier)와 아날로그-디지탈 변환기(Alog-to-Digital Converter)를 통해 숫자로 변환함으로써 맨 아래 행부터 맨 위쪽의 행까지 차례로 읽는 방식의 이미지 센서를 말한다.Here, the CCD image sensor is read-out register line by line from the bottom row of the CCD to read the charge stored in each photosite after the CCD is exposed to light. It is an image sensor that reads information from the bottom row to the top row by copying the information and converting the copied value back to a number through an amplifier and an analog-to-digital converter. .

또한, CMOS 이미지 센서는 CCD 이미지 센서와 동일하게 광 다이오드를 사용하지만 제조 과정과 신호를 읽는 방법이 서로 다른 상보성 금속산화막 반도체(CMOS)를 이용한 고체 촬상 소자를 의미한다.In addition, the CMOS image sensor refers to a solid-state imaging device using a complementary metal oxide semiconductor (CMOS), which uses a photodiode in the same way as a CCD image sensor, but differs in manufacturing process and signal reading method.

본 실시예의 관찰부(160)는 집적화의 향상 및 전력 소모 등을 고려하여 CMOS 이미지 센서를 사용하여 마련되거나, 노이즈 레벨 및 노이즈 처리과정과, 이미지 자체의 품질을 고려하여 CCD 이미지 센서를 사용하여 마련될 수 있다. 즉, 본 실시예의 관찰부(160)는 요구되는 현미경 모듈(110)의 사양을 고려하여 적절한 이미지 센서를 채택하여 사전에 마련되며, 본 발명의 권리범위는 이미지 센서의 유형에 의해 제한되지 않는다.Observation unit 160 of the present embodiment may be provided using a CMOS image sensor in consideration of the improvement of integration and power consumption, or may be provided using a CCD image sensor in consideration of the noise level and noise processing process and the quality of the image itself. Can be. That is, the observation unit 160 of the present embodiment is prepared in advance by adopting an appropriate image sensor in consideration of the specifications of the microscope module 110 required, the scope of the present invention is not limited by the type of the image sensor.

한편, 진동방지 모듈(170)은 전술한 현미경 모듈(110)이 안착됨과 동시에 외부에서 발생하는 진동이 현미경 모듈(110) 측으로 전달되지 않도록 일정한 진동방지 구조를 갖도록 마련되는 구성이다.On the other hand, the anti-vibration module 170 is configured to have a constant anti-vibration structure so that the above-described microscope module 110 is seated and at the same time the vibration generated from the outside is not transmitted to the microscope module 110 side.

진동방지 모듈(170)은 현미경 모듈(110)이 안착되는 지지프레임(180)과, 지지프레임(180)의 둘레를 따라 형성된 결합공(180a)에 선택적으로 결합되는 자기력발생 지지체(190)를 포함한다.The anti-vibration module 170 includes a support frame 180 on which the microscope module 110 is seated, and a magnetic force generating support 190 selectively coupled to a coupling hole 180a formed along the circumference of the support frame 180. do.

여기서, '선택적'이라 함은 현미경 모듈(110)의 전체 무게 또는 현미경 모듈(110)이 안착된 지지프레임(180) 무게의 편심(偏心)을 고려하여 지지프레임(180)에 형성된 다수의 결합공(180a) 중 일부 결합공(180a)에만 결합되거나 전체 결합공(180a)에 모두 결합될 수 있음을 의미하며 이하에서 동일하다.Here, the term "selective" means a plurality of coupling holes formed in the support frame 180 in consideration of the total weight of the microscope module 110 or the eccentricity of the weight of the support frame 180 on which the microscope module 110 is seated. It means that it can be coupled to only some of the coupling holes (180a) or all of the coupling holes (180a) (180a) and is the same below.

지지프레임(180)은 현미경 모듈(110)이 안착되며 둘레를 따라 상호 일정 간격 이격되는 다수의 결합공(180a)이 각각 관통형성되는 판재 형상의 금속성 부재이다. 지지프레임(180)의 상면에는 현미경 모듈(110)이 안착된 후 볼팅 등의 방법에 따라 일체로 고정된다.The support frame 180 is a plate-shaped metallic member on which the microscope module 110 is seated and through which a plurality of coupling holes 180a spaced apart from each other at regular intervals are formed therethrough. After the microscope module 110 is seated on the upper surface of the support frame 180 is fixed integrally by a method such as bolting.

자기력발생 지지체(190)는 지지프레임(180)의 둘레를 따라 관통형성된 다수의 결합공(180a)에 선택적으로 결합됨으로써 현미경 모듈(110)의 무게를 지지하고, 외부로부터 전달되는 진동이 현미경 모듈(110) 측으로 다시 전달되지 않도록 지지프레임(180)을 고립시키는 구성이다.The magnetic force generating support 190 is selectively coupled to a plurality of coupling holes 180a penetrating along the circumference of the support frame 180 to support the weight of the microscope module 110, and the vibration transmitted from the outside is a microscope module ( 110 is to isolate the support frame 180 so as not to be transmitted back to the side.

도 4 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 자기력발생 지지체(190)는 바닥으로부터 지지프레임(180)을 지지하는 지지바디(191)와, 지지바디(191)의 내부를 따라 상하방향으로 상대 선형운동할 수 있도록 결합되는 결합바디(196)를 포함한다.4 to 6, the magnetic force generating support 190 is a support body 191 for supporting the support frame 180 from the bottom, and the relative linear motion in the vertical direction along the interior of the support body 191 The coupling body 196 is coupled to be able to.

지지바디(191)는 현미경 모듈(110)이 배치되는 지지프레임(180)을 바닥으로부터 지지하기 위한 구성으로, 중공 원통 형상의 메인바디(192)와, 메인바디(192)의 하측에 결합되는 지지부(193)와, 메인바디(192)의 상측에 결합되는 덮개부(195)를 포함한다.The support body 191 is configured to support the support frame 180 on which the microscope module 110 is disposed from the bottom, and has a hollow cylindrical main body 192 and a support coupled to the lower side of the main body 192. 193 and a cover 195 coupled to the upper side of the main body 192.

메인바디(192)는 덮개부(195)를 관통하여 삽입된 결합바디(196)가 상하방향으로 선형운동할 수 있도록 중공 원통 형상을 갖는 구성이다.The main body 192 is a configuration having a hollow cylindrical shape so that the coupling body 196 inserted through the cover 195 can linearly move in the vertical direction.

지지부(193)는 바닥에 직접 접촉하여 지지프레임(180)을 지지하는 구성으로 원형 단면형상을 갖는 제1 플랜지(193a)와, 제1 플랜지(193a)의 직경보다 작은 직경을 갖도록 제1 플랜지(193a)의 상면으로부터 돌출되어 메인바디(192)의 하측에 끼움 결합되는 제1 수용부(193b)를 포함한다.The support unit 193 is configured to directly support the support frame 180 in direct contact with the bottom, and has a first flange 193a having a circular cross-sectional shape and a first flange (193a) having a diameter smaller than the diameter of the first flange 193a. It includes a first receiving portion (193b) protruding from the upper surface of the 193a is fitted to the lower side of the main body (192).

제1 플랜지(193a)는 메인바디(192)의 직경과 실질적으로 동일한 직경을 갖도록 마련되며, 제1 수용부(193b)는 그 내부에 제1 마그넷 수용홈(193c)이 형성되어 제1 마그넷(M1)이 결합된 상태에서 메인바디(192)의 하측에 끼움결합된다.The first flange 193a is provided to have a diameter substantially the same as the diameter of the main body 192, and the first accommodating part 193b has a first magnet accommodating groove 193c formed therein to form a first magnet ( M1) is fitted to the lower side of the main body 192 in a coupled state.

덮개부(195)는 결합바디(196)가 관통 수용될 수 있도록 관통공(191a)이 형성되는 구성으로, 원형 단면형상을 갖는 제2 플랜지(195a)와, 제2 플랜지(195a)의 직경보다 작은 직경을 갖도록 제2 플랜지(195a)의 하면으로부터 돌출되어 메인바디(192)의 상측에 끼움결합되는 제2 수용부(195b)를 포함한다.The cover 195 has a configuration in which a through hole 191a is formed to allow the coupling body 196 to be penetrated therein, and has a diameter larger than that of the second flange 195a having a circular cross-sectional shape and the diameter of the second flange 195a. It includes a second receiving portion (195b) protruding from the lower surface of the second flange (195a) to have a small diameter and fitted to the upper side of the main body (192).

이러한 구성에 따라 지지부(193) 및 덮개부(195)는 각각 메인바디(192)의 하측 및 상측에서 간단히 끼움결합될 수 있게 되며, 지지부(193)에는 제1 마그넷(M1)이 고정된 상태로 준비될 수 있게 된다.According to this configuration, the support unit 193 and the cover unit 195 can be simply fitted at the lower side and the upper side of the main body 192, respectively, and the first magnet M1 is fixed to the support unit 193. Be prepared.

한편, 결합바디(196)는 상단부가 지지프레임(180)의 결합공(180a)에 결합되고 하단부가 지지바디(191)의 내측에 삽입되는 구성으로, 결합공(180a)에 결합되는 결합구(197)와, 결합구(197)의 하단부로부터 하측방향으로 연장되는 연결부(198)와, 연결부의 하단부로부터 외측방향으로 단차지게 돌출 연장되는 플랜지부(199)를 포함한다.On the other hand, the coupling body 196 has a configuration in which the upper end is coupled to the coupling hole 180a of the support frame 180 and the lower end is inserted into the support body 191, and the coupling sphere coupled to the coupling hole 180a ( 197, a connecting portion 198 extending downward from the lower end of the coupler 197, and a flange portion 199 protruded outwardly outward from the lower end of the connecting portion.

결합구(197)는 지지프레임(180)의 결합공(180a)에 삽입 결합되는 돌기형 구성으로 그 외주면을 따라서는 결합공(180a)의 내주면을 따라 형성된 암 나사산에 대응되는 수 나사산이 형성된다. 이에 따라 결합구(197)는 지지프레임(180)에 나사결합방식으로 결합됨으로써 양자간의 견고한 결합을 도모할 수 있게 된다. 물론, 본 발명의 다른 실시예에 따라 결합구(197)는 결합공(180a)에 억지끼움 형식으로 결합될 수도 있다.Coupling member 197 is a protrusion configuration that is inserted into the coupling hole (180a) of the support frame 180 is a male thread corresponding to the female thread formed along the inner peripheral surface of the coupling hole (180a) along the outer peripheral surface is formed. . Accordingly, the coupling sphere 197 is coupled to the support frame 180 by the screw coupling method can achieve a firm coupling between the two. Of course, according to another embodiment of the present invention, the coupler 197 may be coupled to the coupling hole 180a in an interference fit type.

연결부(198)는 결합구(197)의 하단부로부터 하측방향으로 연장되되 지지바디(191)를 구성하는 덮개부(195)의 관통공(191a)과 메인바디(192)의 중공 부분에 상하방향으로 선형운동할 수 있도록 삽입되는 구성이다. 이를 위해 연결부(198)의 직경은 관통공(191a)의 직경보다 약간 작은 크기로 마련된다.The connecting portion 198 extends downward from the lower end of the coupler 197 and vertically extends through the hollow portion of the through hole 191a and the main body 192 of the cover portion 195 constituting the support body 191. It is a component inserted to allow linear movement. To this end, the diameter of the connecting portion 198 is provided to be slightly smaller than the diameter of the through hole 191a.

플랜지부(199)는 연결부(198)의 하단부로부터 외측방향으로 단차지게 돌출 연장되는 구성이다.The flange portion 199 is configured to protrude stepwise outward from the lower end of the connecting portion 198.

플랜지부(199)에 의해 연결부(198)의 운동범위는 일정한 제한을 받게 된다. 즉, 결합바디(196)는 후술하는 바와 같이 항상 상측으로 향하는 일정한 자기력을 받게 되는데 그 상측 운동범위의 한계는 플랜지부(199)가 덮개부(195)의 제2 수용부(195b)에 의해 걸림되는 지점이 되는 것이다. 또한, 플랜지부(199)의 하측에는 제2 마그넷(M2)이 삽입되기 위한 제2 마그넷 수용홈(199a)이 형성된다.The flange 199 is subject to a certain range of motion of the connection 198. That is, the coupling body 196 is always subjected to a constant magnetic force directed upward as described below, the limit of the upper movement range is the flange portion 199 is caught by the second receiving portion 195b of the cover portion 195 To become a point. In addition, a second magnet receiving groove 199a for inserting the second magnet M2 is formed below the flange portion 199.

제2 마그넷(M2)은 제1 마그넷(M1)에 대향되는 면이 제1 마그넷(M1)과 같은 극성을 갖도록 마련됨으로써 결합바디(196)가 항상 상측으로 향하도록 하는 척력(斥力)을 발생시키도록 한다.The second magnet M2 is provided such that the surface opposite to the first magnet M1 has the same polarity as that of the first magnet M1, thereby generating a repulsive force for the coupling body 196 to always face upward. To do that.

이제 이하에서는 본 실시예의 현미경 어셈블리(100)의 사용방법을 간략히 살펴보기로 한다.Now, the method of using the microscope assembly 100 of the present embodiment will be briefly described.

도 7은 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사용방법을 나타낸 사시도이며, 도 8은 도 2의 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 제2 광원부를 이용하여 형광 이미지를 관찰하는 원리를 나타낸 개략적인 모식도이고, 도 9는 가벼운 무게를 갖는 현미경 모듈에 적용되는 본 발명의 다른 실시예에 따른 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리의 사시도이다.7 is a perspective view illustrating a method of using the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2, and FIG. 8 is a schematic view illustrating a principle of observing a fluorescence image using the second light source unit of the microscope assembly having the anti-vibration structure of FIG. 2. 9 is a perspective view of a microscope assembly having an anti-vibration structure according to another embodiment of the present invention applied to a microscope module having a light weight.

먼저, 도 7에 도시된 바와 같이, 시료의 관찰에 적합한 현미경 모듈(110)을 지지프레임(180)에 배치 고정시킨 후에 작업자는 지지프레임(180)의 수평을 판단하기 위한 수평기(HD)를 지지프레임(180)에 장착한다. 이때, 지지프레임(180)이 정확히 수평을 이루고 있다면 특별한 조치를 취하지 않아도 되나, 현미경 모듈(110)이 장착된 지지프레임(180)이 정확하게 수평을 이루지 못하고 그 무게 중심이 일측으로 편심된 경우에는 이를 조정하기 위한 별도의 작업을 거치게 된다.First, as shown in Figure 7, after fixing the microscope module 110 suitable for observation of the sample to the support frame 180, the operator supports the leveler (HD) for determining the horizontality of the support frame 180 It is mounted on the frame 180. At this time, if the support frame 180 is exactly horizontal, no special measures need to be taken, but if the support frame 180 on which the microscope module 110 is mounted is not exactly horizontal and its center of gravity is eccentric to one side, There is a separate task to make adjustments.

즉, 도 7에 도시된 바와 같이 현미경 모듈(110)이 장착된 지지프레임(180)의 전체 무게 중심이 X측으로 편심된 경우 작업자는 X측 모서리 부분(T)에 배치된 자기력발생 지지체(190)를 하나 빼냄으로써 전체 무게 중심의 균형을 맞추는 것이다.That is, as shown in FIG. 7, when the entire center of gravity of the support frame 180 on which the microscope module 110 is mounted is eccentric to the X side, the operator may have the magnetic force generating support 190 disposed at the X side corner portion T. By subtracting one we balance the entire center of gravity.

자기력발생 지지체(190)는 제1 마그넷(M1)과 제2 마그넷(M2)의 상호 작용에 따라 결합바디(196)가 항상 상측으로 향하는 척력을 받도록 고안되어 있는바, X측 모서리 부분(T)에 배치된 자기력발생 지지체(190)를 하나 빼게 되면 그만큼의 척력이 줄어들게 되어 지지프레임(180)의 수평을 간단히 맞출 수 있는 것이다.The magnetic force generating support 190 is designed to receive the repulsive force of the coupling body 196 always upwards according to the interaction of the first magnet M1 and the second magnet M2, the X-side edge portion T Subtracting one of the magnetic force generating support 190 disposed in the retraction force is reduced that much can be simply leveling the support frame 180.

물론, 본 실시예의 현미경 어셈블리(100)는 자기력발생 지지체(190)가 X, Y방향으로 각 5개씩 배열된 경우를 가정하여 설명되었으나 그 개수를 늘림으로써 보다 정확한 수평조절이 가능하게 할 수 있음은 자명하다 할 것이다.Of course, the microscope assembly 100 of the present embodiment has been described on the assumption that the magnetic force generating support 190 is arranged in each of the X, Y direction by five, but by increasing the number it is possible to enable more accurate horizontal adjustment It will be self explanatory.

이와 같이 지지프레임(180)의 수평을 맞춘 후에는 광원부(130)를 이용하여 시료에 광(光)을 조사하고 관찰부(160)를 통해 시료의 이미지를 지속적으로 관찰하게 된다.After leveling the support frame 180 as described above, the light is irradiated onto the sample using the light source unit 130, and the image of the sample is continuously observed through the observation unit 160.

시료의 명시야 이미지를 관찰하고자 하는 경우에는 제1 광원부(140)를 이용하여 시료 측으로 백색광을 조사하게 되는데, 제1 광원(142)으로부터 조사되는 백색광은 확산필터(145), 제1 집광렌즈(144)를 거쳐 제1 반사미러(143) 측으로 전달되고, 제1 반사미러(143)에 의해 그 경로가 직각으로 꺾여 시료를 투과하게 된다. 물론 이때 필터큐브(153)는 도 2의 -Y방향으로 사전에 분리된다.When the bright field image of the sample is to be observed, white light is irradiated to the sample side by using the first light source unit 140. The white light emitted from the first light source 142 is a diffusion filter 145 and a first condensing lens ( 144 is transmitted to the first reflective mirror 143, and the path is bent at a right angle by the first reflective mirror 143 to pass through the sample. Of course, the filter cube 153 is previously separated in the -Y direction of FIG.

시료를 투과한 백색광은 대물렌즈(OR)를 거쳐 현미경 모듈(110)의 제2 반사미러(RM) 측으로 전달되고, 제2 반사미러(RM)에 의해 그 경로가 직각으로 꺾여 튜브렌즈(TR)를 거쳐 초점거리가 맞춰진 후 관찰부(160)를 통해 관찰될 수 있게 된다.The white light transmitted through the sample is transmitted to the second reflecting mirror RM side of the microscope module 110 through the objective lens OR, and the path is bent at a right angle by the second reflecting mirror RM, so that the tube lens TR After the focal length is adjusted through the observation unit 160 can be observed.

한편, 시료의 형광 이미지를 관찰하고자 하는 경우에는 제2 광원부(150)를 이용하여 시료 측으로 UV 또는 청색 또는 황색광을 조사하게 되는데, 제2 광원(152)으로부터 조사되는 UV 또는 청색 또는 황색광은 제2 집광렌즈(F)를 거쳐 필터큐브(153) 측으로 전달된다(이하 '청색광'을 일예로 하여 설명함).On the other hand, if you want to observe the fluorescent image of the sample is to irradiate UV or blue or yellow light to the sample side using the second light source unit 150, UV or blue or yellow light irradiated from the second light source 152 The light is transferred to the filter cube 153 through the second condensing lens F (hereinafter, 'blue light' is described as an example).

필터큐브(153)의 내부로 전달된 청색광은 여기필터(E1, Excitation Filter, 도 8 참조)를 거쳐 광학적 잡음(Noise)가 제거된 상태로 그대로 진행하게 되며, 이러한 청색광은 여기필터(E1)에 인접하도록 경사지게 배치된 이색성 미러(D, Dichroic mirror, 도 8 참조)를 통해 반사되어 대물렌즈(OR)를 거쳐 시료 측으로 전달된다.The blue light transmitted to the inside of the filter cube 153 passes through the excitation filter E1 (see FIG. 8) with the optical noise removed, and the blue light passes through the excitation filter E1. It is reflected through a dichroic mirror (D, dichroic mirror (see FIG. 8)) disposed obliquely to be adjacent to and transmitted to the sample side through the objective lens (OR).

시료 측으로 전달된 청색광은 시료의 에너지를 일시적으로 들뜬 상태로 만들게 되는데, 이후 시료는 다시 흡수한 에너지를 방출하면서 안정한 상태로 돌아감과 동시에 녹색의 형광(Fluorescent Light)을 내게 된다.The blue light transmitted to the sample side temporarily excites the energy of the sample, and then the sample emits absorbed energy and returns to a stable state, and emits green fluorescence light.

즉 주지된 바와 같이, 청색광을 받은 시료는 들뜬 상태의 에너지를 방출하면서 약간 '녹색 방향으로' 이동된 파장(청색광에 비해 상대적으로 긴 파장)의 형광을 내게 되는 것이다. 이러한 소위 스토크 쉬프트(Stokes Shift) 현상은 이미 널리 알려진 것이므로 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.That is, as is well known, a sample that receives blue light emits fluorescence at a wavelength (relatively longer than blue light) shifted slightly 'green' while emitting excited energy. This so-called Stokes Shift phenomenon is already well known and thus a detailed description thereof will be omitted.

시료가 방출하는 형광은 다시 대물렌즈(OR)를 거쳐 제2 반사미러(RM) 측으로 전달되고, 제2 반사미러(RM)에 의해 그 경로가 직각으로 꺾인 후 필터큐브(153)의 내부로 재 전달된다. 필터큐브(153)의 내부로 전달된 형광은 다시 이색성 미러(D)를 그대로 통과한 후 이색성 미러(D)에 인접하게 배치된 방사필터(E2, Emission Filter, 도 8 참조)를 통해 광학적 잡음이 한번 더 제거된 후 관찰부(160)로 전달된다.The fluorescence emitted by the sample is again transferred to the second reflection mirror RM through the objective lens OR, and the path is bent at a right angle by the second reflection mirror RM and then returned to the interior of the filter cube 153. Delivered. The fluorescence transmitted to the inside of the filter cube 153 passes through the dichroic mirror D as it is, and then optically through an emission filter E2 (Emission Filter, FIG. 8) disposed adjacent to the dichroic mirror D. FIG. After the noise is removed once more, it is transmitted to the observer 160.

이에 관찰부(160)에서는 시료의 형광 이미지를 정확하게 관찰할 수 있게 된다.Thus, the observation unit 160 can accurately observe the fluorescent image of the sample.

한편, 본 실시예의 현미경 어셈블리(100)는 외부에서 진동이 발생하여 그 진동이 현미경 모듈(110) 측으로 전달되더라도 지지바디(191)와 결합바디(196)가 일체로 결합되지 않고 자력에 의해 어느 정도 이격되어 결합되도록 구성됨에 따라 진동의 흡수가 가능해 진다.On the other hand, the microscope assembly 100 of the present embodiment, even if the vibration is generated from the outside is transmitted to the microscope module 110 side, the support body 191 and the coupling body 196 is not integrally coupled to some extent by magnetic force As it is configured to be spaced apart and coupled, the vibration can be absorbed.

즉, 본 실시예의 현미경 어셈블리(100)는 자력을 이용하여 지지프레임(180)을 바닥으로부터 고립(Isolation)시킴으로써 외부로부터 전달되는 진동을 최소화시킬 수 있게 되고, 이에 따라 진동에 따라 시료에 가해지는 영향을 최소화시킬 수 있게 되는 것이다.That is, the microscope assembly 100 of the present embodiment can minimize the vibration transmitted from the outside by isolating the support frame 180 from the floor by using a magnetic force, thereby affecting the sample according to the vibration Will be minimized.

본 실시예의 현미경 어셈블리(100)는 현미경 모듈(110)의 전체 무게 또는 현미경 모듈(110)이 안착된 지지프레임(180) 무게의 편심을 고려하여 지지프레임(180)의 수평을 간편하게 조절할 수 있는 자기력발생 지지체(190)를 포함함으로써 외부에서 발생되어 현미경 모듈(110) 측으로 전달되는 진동을 효율적으로 방지할 수 있는 장점을 가진다.The microscope assembly 100 of the present embodiment is a magnetic force capable of easily adjusting the horizontal of the support frame 180 in consideration of the total weight of the microscope module 110 or the eccentricity of the weight of the support frame 180 on which the microscope module 110 is seated. By including the generating support 190 has an advantage that can effectively prevent the vibration generated from the outside and transmitted to the microscope module 110 side.

또한, 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 현미경 어셈블리(110a)는 가벼운 현미경 모듈(110a)이 지지프레임(180)에 안착되는 경우 자기력발생 지지체(190)의 개수를 간편히 줄일 수 있도록 함으로써 구성품의 개수를 간편하게 조절할 수 있는 장점을 가진다.In addition, as shown in Figure 9, the microscope assembly (110a) according to another embodiment of the present invention, when the light microscope module (110a) is seated on the support frame 180, the number of the magnetic force generating support 190 easily By reducing the number of components can be easily adjusted.

앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 일이다. 따라서, 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안되며, 변형된 실시예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is obvious to those who have. Accordingly, it should be understood that such modifications or alterations should not be understood individually from the technical spirit and viewpoint of the present invention, and that modified embodiments fall within the scope of the claims of the present invention.

100 : 현미경 어셈블리 110 : 현미경 모듈
120 : 인큐베이션 챔버 130 : 광원부
140 : 제1 광원부 150 : 제2 광원부
160 : 관찰부 170 : 진동방지 모듈
180 : 지지프레임 190 : 자기력발생 지지체
191 : 지지바디 196 : 결합바디
M1 : 제1 마그넷 M2 : 제2 마그넷
100: microscope assembly 110: microscope module
120: incubation chamber 130: light source unit
140: first light source unit 150: second light source unit
160: observation unit 170: vibration prevention module
180: support frame 190: magnetic force generating support
191: support body 196: combined body
M1: first magnet M2: second magnet

Claims (7)

시료를 관찰할 수 있도록 마련되는 현미경 모듈 및 상기 현미경 모듈을 지지하며 외부에서 발생하는 진동이 상기 현미경 모듈 측으로 전달되는 것을 방지하는 진동방지 모듈을 포함하되,
상기 현미경 모듈은,
상기 시료가 담긴 배양기가 수용되며 X 축 및 Y축 방향으로 각각 이동가능하게 마련되는 인큐베이션 챔버;
상기 시료 측으로 광(光)을 조사하는 적어도 하나의 광원부; 및
상기 시료의 이미지를 관찰할 수 있도록 마련되는 관찰부를 포함하고,
상기 인큐베이션 챔버에는, 상기 배양기가 수용되는 배양기 수용홈 및 상기 배양기 수용홈의 양측에 형성되는 그립홈이 구비되고,
상기 광원부에는 상기 인큐베이션 챔버의 상측에서 상기 시료의 명시야 이미지를 관찰하기 위해 마련되는 제1 광원부가 포함되고,
상기 제1 광원부는, 상기 인큐베이션 챔버와 평행하도록 그 상측에 배치되는 제1 광원프레임, 상기 제1 광원프레임의 일단부에 결합되는 제1 광원 및 상기 제1 광원으로부터 조사되는 제1 광(光)을 상기 시료 측으로 반사시킬 수 있도록 상기 제1 광원프레임의 타단부에 결합되는 제1 반사미러를 포함하고,
상기 진동방지 모듈은,
상기 현미경 모듈이 안착되며 둘레를 따라 상호 일정 간격 이격되는 다수의 결합공이 관통형성되는 지지프레임; 및
상기 현미경 모듈 전체의 무게 또는 상기 현미경 모듈이 안착된 상기 지지프레임 무게의 편심(偏心)을 고려하여 상기 다수의 결합공을 따라 선택적으로 결합되며, 바닥으로부터 상기 지지프레임을 지지하되 자력(磁力)을 이용하여 상기 지지프레임을 고립시키는 다수의 자기력발생 지지체를 포함하고,
상기 자기력발생 지지체는,
제1 마그넷이 내부에 수용되는 지지바디; 및
상단부가 상기 결합공에 결합되고 하단부가 상기 지지바디의 내부를 따라 상하방향으로 상대 선형운동할 수 있도록 상기 지지바디에 삽입되며 하측에 제2 마그넷이 장착되는 결합바디를 포함하되,
상기 제2 마그넷은, 상기 제1 마그넷에 대향되는 면이 상기 제1 마그넷과 같은 극성을 같도록 마련되어 상기 결합바디가 항상 상측으로 향하도록 하는 척력(斥力)을 발생시키며,
상기 지지바디는,
중공 원통 형상의 메인바디;
제1 플랜지와, 상기 제1 플랜지의 직경보다 작은 직경을 갖도록 상기 제1 플랜지의 상면으로부터 돌출되어 상기 메인바디의 하측에 끼움결합되며 내부에 상기 제1 마그넷이 수용되기 위한 제1 마그넷 수용홈이 형성되는 제1 수용부를 구비하는 지지부; 및
제2 플랜지와, 상기 제2 플랜지의 직경보다 작은 직경을 갖도록 상기 제2 플랜지의 하면으로부터 돌출되어 상기 메인바디의 상측에 끼움결합되는 제2 수용부를 구비하되 내부에 상기 결합바디가 관통 수용되기 위한 관통공이 형성되는 덮개부를 포함하는 것을 특징으로 하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리.
It includes a microscope module that is provided to observe the sample and the vibration preventing module for supporting the microscope module and preventing the vibration generated from the outside to be transmitted to the microscope module side,
The microscope module,
An incubation chamber which accommodates the incubator containing the sample and is provided to be movable in the X-axis and Y-axis directions, respectively;
At least one light source unit irradiating light to the sample side; And
It includes an observation unit provided to observe the image of the sample,
The incubation chamber is provided with an incubator accommodation groove in which the incubator is accommodated and grip grooves formed on both sides of the incubator accommodation groove,
The light source unit includes a first light source unit provided to observe a bright field image of the sample from an upper side of the incubation chamber,
The first light source unit may include a first light source frame disposed above and parallel to the incubation chamber, a first light source coupled to one end of the first light source frame, and first light irradiated from the first light source. A first reflection mirror coupled to the other end of the first light source frame to reflect the light toward the specimen;
The anti-vibration module,
A support frame on which the microscope module is seated and formed with a plurality of coupling holes spaced apart from each other by a predetermined distance along a circumference; And
It is selectively coupled along the plurality of coupling holes in consideration of the weight of the entirety of the microscope module or the weight of the support frame on which the microscope module is seated, and supports the support frame from the bottom but maintains the magnetic force. It includes a plurality of magnetic force generating support to isolate the support frame,
The magnetic force generating support,
A support body having a first magnet housed therein; And
An upper end is coupled to the coupling hole and the lower end includes a coupling body inserted into the support body so that the relative linear movement in the vertical direction along the inside of the support body and the second magnet is mounted on the lower side,
The second magnet is provided with a surface opposite to the first magnet to have the same polarity as the first magnet to generate a repulsive force so that the coupling body always faces upwards,
The support body,
A hollow cylindrical main body;
A first magnet and a first magnet receiving groove protruding from the upper surface of the first flange to be smaller than the diameter of the first flange and fitted to the lower side of the main body, the first magnet is accommodated therein A support having a first accommodation part formed; And
A second flange and a second receiving portion protruding from the lower surface of the second flange so as to have a diameter smaller than the diameter of the second flange is fitted to the upper side of the main body for receiving the coupling body therein Microscope assembly having an anti-vibration structure, characterized in that it comprises a cover portion is formed through holes.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 결합바디는,
상기 결합공에 결합되는 결합구;
상기 결합구의 하단부로부터 하측방향으로 연장되되 상기 관통공에 삽입되어 상하방향으로 움직일 수 있도록 상기 관통공의 직경보다 작은 직경을 갖도록 마련되는 연결부; 및
상기 연결부의 상측방향 이동범위를 제한할 수 있도록 상기 연결부의 하단부로부터 외측방향으로 단차지게 돌출 연장되며, 내부에 상기 제2 마그넷이 수용되기 위한 제2 마그넷 수용홈이 형성되는 플랜지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리.
The method of claim 1,
The coupling body,
A coupling member coupled to the coupling hole;
A connection part extending downward from the lower end of the coupler and having a diameter smaller than the diameter of the through hole so as to be inserted into the through hole and move upward and downward; And
It includes a flange portion protruding stepped outwardly from the lower end of the connecting portion to limit the upward movement range of the connecting portion, the second magnet receiving groove is formed therein for receiving the second magnet therein. Microscope assembly having an anti-vibration structure characterized in that.
제4항에 있어서,
상기 결합공의 내주면에는 암 나사산이 형성되며, 상기 결합구의 외주면에는 상기 암 나사산에 대응되는 수 나사산이 형성되어 상기 결합바디 및 상기 지지프레임은 나사결합 방식으로 상호 결합되는 것을 특징으로 하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리.
5. The method of claim 4,
A female thread is formed on the inner circumferential surface of the coupling hole, and a male thread corresponding to the female thread is formed on the outer circumferential surface of the coupling hole such that the coupling body and the support frame are mutually coupled in a screwing manner. Microscope assembly having a.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 인큐베이션 챔버에는,
상기 배양기에 공급되는 이산화탄소의 양을 조절하는 이산화탄소농도 조절부에 연결되기 위해 형성되는 한 쌍의 배기구 및 흡기구; 및
상기 인큐베이션 챔버의 내부온도를 조절하는 온도 조절부에 연결되기 위해 형성되는 한 쌍의 센서 연결구 및 히터 연결구가 각각 마련되는 것을 특징으로 하는 진동방지 구조를 갖는 현미경 어셈블리.
The method of claim 1,
The incubation chamber,
A pair of exhaust ports and inlets formed to be connected to the carbon dioxide concentration control unit for controlling the amount of carbon dioxide supplied to the incubator; And
And a pair of sensor connectors and heater connectors each formed to be connected to a temperature control unit for controlling the internal temperature of the incubation chamber.
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