KR101318366B1 - 엘이디 테스트 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 다수의 엘이디를 일시에 간편하게 테스트 할 수 있도록 함으로써 엘이디 테스트 작업의 효율을 높일 수 있도록 하는 엘이디 테스트 장치에 관한 것이다.
본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치는,
테스트 대상 엘이디가 횡과 열을 이뤄 안착되는 트레이;
일면의 개방구를 통해 트레이를 수용하는 본체;
상기 본체 내부에서 레버 작동에 따라 본체 내에 수용된 트레이를 승하강시키는 지지편;
상기 지지편에 의해 승강하는 트레이의 각 엘이디에 전류를 인가하는 메인기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다.

Description

엘이디 테스트 장치{testing apparatus for led}

본 발명은 엘이디 테스트 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다수의 엘이디를 일시에 간편하게 테스트 할 수 있도록 함으로써 엘이디 테스트 작업의 효율을 높일 수 있도록 하는 엘이디 테스트 장치에 관한 것이다.

제작 완료된 엘이디는 신뢰성 테스트를 거친 이후 출고가 이루어지게 된다.

즉, 제작 완료된 엘이디 중에는 정상 작동이 이루어지지 않는 불량품이 포함되어 있을 수 있으므로 전기적인 특성 시험인 테스트를 거쳐 양품으로 판정된 것들에 한해 출고가 이루어지게 된다.

이와 같은 엘이디의 테스트 장치는 이전에 다양한 종류로 제안된바 있다.

그러나, 종래 제안된 엘이디 테스트 장치는 구조가 복잡하여 제작 및 사용에 번거로움이 따르는 문제가 있었다.

또한, 종래 제안된 엘이디 테스트 장치는 일시에 검사할 수 있는 엘이디의 수가 적어 엘이디 테스트에 상당한 시간과 인력이 소요되므로 작업 효율이 떨어지는 문제가 있었다.

상기의 이유로 해당분야에서는 간단한 구조로 이루어짐으로써 제작 및 사용이 간편하게 이루어질 수 있도록 할 뿐만 아니라 일시에 다수의 엘이디를 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 작업의 효율을 높일 수 있도록 하는 엘이디 테스트 장치의 개발을 시도하고 있으나, 현재까지는 만족할만한 결과를 얻지 못하고 있는 실정이다.

본 발명은 상기와 같은 실정을 감안하여 제안된 것으로, 간단한 구조로 이루어짐으로써 제작 및 사용이 간편하게 이루어질 수 있도록 할 뿐만 아니라 일시에 다수의 엘이디를 간편하게 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 작업의 효율을 높일 수 있도록 하는 엘이디 테스트 장치를 제공하는데 그 목적이 있는 것이다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치는,

테스트 대상 엘이디가 횡과 열을 이뤄 안착되는 트레이;

일면의 개방구를 통해 트레이를 수용하는 본체;

상기 본체 내부에서 레버 작동에 따라 본체 내에 수용된 트레이를 승하강시키는 지지편;

상기 지지편에 의해 승강하는 트레이의 각 엘이디에 전류를 인가하는 메인기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 것이다.

여기서, 상기 트레이는 저면이 방열판 형태로 되어 자체로 히트싱크가 되는 것을 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 트레이는 상면에 횡과 열을 이루는 수용홈이 마련되어 수용홈을 통해 엘이디의 안착이 이루어지는 것을 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 본체는 저면의 사방 모서리부에 받침부재가 마련되어 받침부재에 의해 본체 저면이 바닥으로부터 유격을 두고 위치하는 것을 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 지지편은 레버에 편심 결합된 샤프트의 편심 회전에 의해 승하강하는 것을 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 지지편은 샤프트의 길이 방향을 따라 간격을 두고 설치되어 트레이를 치우침 없이 승하강시키는 것을 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 메인기판은 저면에 하부로 돌출된 포고핀이 횡과 열을 이뤄 마련되어 각 포고핀이 엘이디의 접점에 접함에 따라 엘이디에 전류가 인가되고, 상면에 각 엘이디 상면으로 이어지는 개방홀이 마련되어 개방홀을 통해 각 엘이디의 발광 상태가 확인되는 특징으로 하는 것이다.

그리고 상기 메인기판은 저면의 사방 모서리부에 가이드가 마련되어 가이드에 의해 메인기판과 트레이 사이에 간격이 유지되는 것을 특징으로 하는 것이다.

본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치는, 트레이에 다수의 엘이디가 안착되는 것인바, 트레이를 본체 내에 수용시킨 후 지지편의 승강을 통해 트레이를 승강시키고 메인기판으로써 각 엘이디에 전류를 인가하여 엘이디의 발광이 이루어지도록 하면 일시에 다수 엘이디의 불량 여부를 간편하게 확인할 수 있게 되므로 엘이디 테스트 작업의 효율을 극대화할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치의 외형을 보인 사시도
도 2는 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치의 구조를 설명하기 위한 단면도
도 3은 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치에서 지지편을 통한 트레이 승강을 보인 작동상태도
도 4는 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치에서 메인기판을 통한 엘이디로의 전류 인가를 설명하기 위한 작동상태도
도 5는 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치에서 발광 여부 확인을 통한 엘이디를 불량 여부 판단을 설명하기 위한 예시도

이하, 첨부 도면에 의거 본 발명에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치(A)는 트레이(10)와, 본체(20)와, 지지편(30)과, 메인기판(40)을 포함한다.

상기 트레이(10)는 테스트 대상 엘이디(100)가 횡과 열을 이뤄 안착되는 것이다.

이와 같은 트레이(10)는 저면이 방열판 형태로 되는 것이 바람직하다.

트레이(10)의 저면이 방열판 형태로 됨으로써 트레이(10) 자체가 히트싱크 역할을 하게 되므로 트레이(10)에 안착되는 엘이디(100)가 발광할 때 발생하는 열의 방출이 원활하게 이루어질 수 있게 된다.

그리고 트레이(10)의 상면에는 횡과 열을 이루는 수용홈(11)이 마련되는 것이 바람직하다.

트레이(10)의 상면에 횡과 열을 이루는 수용홈(11)이 마련됨으로써 각 수용홈(11)에 엘이디(100)를 삽입함에 따라 트레이(10)상에 엘이디(100)의 안착이 안정적으로 이루어질 수 있게 될 뿐만 아니라 엘이디(100)의 정렬이 이루어질 수 있게 된다.

상기 본체(20)는 일면의 개방구(21)를 통해 트레이(10)를 수용하는 것이다.

이와 같은 본체(20)는 저면의 사방 모서리부에 받침부재(22)가 마련되는 것이 바람직하다.

본체(20) 저면의 사방 모서리부에 받침부재(22)가 마련됨으로써 본체(20) 저면이 바닥으로부터 유격될 수 있게 되므로 본체(20)로의 통기가 원활하게 이루어질 수 있게 될 뿐만 아니라 후술하는 레버(31) 작동시 바닥으로 인한 간섭을 피할 수 있게 된다.

상기 지지편(30)은 본체(20) 내부에서 레버(31) 작동에 따라 본체(20) 내에 수용된 트레이(10)를 승하강시키는 것이다.

이와 같은 지지편(30)은 레버(31)에 편심 결합된 샤프트(32)상에 결합되는 것이 바람직하다.

지지편(30)이 레버(31)에 편심 결합된 샤프트(32)상에 결합됨으로써 레버(31) 작동시 샤프트(32)의 편심 회전에 의해 지지편(30)의 승하강이 이루어질 수 있게 된다.

이때, 지지편(30)은 샤프트(32)의 길이 방향을 따라 간격을 두고 설치되는 것이 바람직하다.

지지편(30)이 샤프트(32)의 길이 방향을 따라 간격을 두고 설치됨으로써 지지편(30)을 통해 지지되는 트레이(10)가 일측으로 치우치지 않고 수평 상태로 안정적으로 승하강될 수 있게 된다.

상기 메인기판(40)은 지지편(30)에 의해 승강하는 트레이(10)의 각 엘이디(100)에 전류를 인가하는 것이다.

이와 같은 메인기판(40)은 저면에 하부로 돌출된 포고핀(41)이 횡과 열을 이뤄 마련되는 것이 바람직하다.

메인기판(40)의 저면에 하부로 돌출된 포고핀(41)이 횡과 열을 이뤄 마련됨으로써 트레이(10)가 승강될 때 포고핀(41) 하단이 각 엘이디(100)의 접점(110)에 접하여 엘이디(100)에 전류 인가가 이루어질 수 있게 된다.

그리고 메인기판(40)은 상면에 각 엘이디(100) 상면으로 이어지는 개방홀(42)이 마련되는 것이 바람직하다.

메인기판(40)의 상면에 각 엘이디(100) 상면으로 이어지는 개방홀(42)이 마련됨으로써 개방홀(42)을 통해 각 엘이디(100)의 발광 상태 확인이 용이하게 이루어질 수 있게 된다.

그리고 메인기판(40)은 저면의 사방 모서리부에 가이드(43)가 마련되는 것이 바람직하다.

메인기판(40)의 저면 사방 모서리부에 가이드(43)가 마련됨으로써 가이드(43) 하단이 승강이 이루어지는 트레이(10) 상면에 접하게 되므로 트레이(10)가 승강하더라도 메인기판(40)과 트레이(10) 사이에 간격이 유지될 수 있게 된다.

한편, 메인기판(40)은 제어기(도면상 미도시)에 의해 제어되는 전류 공급장치(도면상 미도시)와 연결되는 것은 물론이다.

메인기판(40)이 제어기에 의해 제어되는 전류 공급장치와 연결됨으로써 메인기판(40)을 통해 엘이디(100)에 전류 인가가 이루어질 수 있게 된다.

상기와 같은 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치(A)를 통한 엘이디(100) 테스트 과정에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 트레이(10)에 테스트 대상 엘이디(100)가 안착된다.

본 발명에서 트레이(10)의 상면에는 횡과 열을 이루는 수용홈(11)이 마련되어 있는바, 각 수용홈(11)에 엘이디(100)를 끼워 넣음으로써 엘이디(100)이 트레이에 안정적으로 안착될 수 있게 될 뿐만 아니라 엘이디(100)의 정렬이 이루어질 수 있게 된다.

다음으로, 엘이디(100)가 안착된 트레이(10)가 본체(20) 내에 수용된다.

본 발명에서 본체(10)의 일면에는 개방구(21)가 마련되어 있는바, 개방구(21)를 통해 트레이(10) 선단을 밀어 넣음으로써 트레이(10)가 본체(20) 내에 수용될 수 있게 된다.

이때, 본체(10) 내에는 지지편(30)이 마련되어 있는바, 본체(10) 내부로 수용되는 트레이(10)는 지지편(30)에 의해 수평 상태로 지지될 수 있게 된다.

다음으로, 트레이(10)가 승강된다.

본 발명에서 지지편(30)은 레버(31)에 편심 결합된 샤프트(32)상에 결합된 것인바, 레버(31)를 일정 각도 회전시키게 되면 도 3에 도시된 바와 같이 샤프트(32)가 편심 회전하며 지지편(30)의 승강이 이루어지게 되므로 지지편(30)에 의해 지지되는 트레이(10)의 승강이 이루어질 수 있게 된다.

다음으로, 각 엘이디(100)에 전류가 인가된다.

본 발명에서 메인기판(40)의 저면에는 포고핀(41)이 마련되어 있는바, 도 4에 도시된 바와 같이 트레이(10)가 최대 승강하였을 때 각 포고핀(41)의 하단이 각 엘이디(100)의 접점(110)과 접촉하게 되므로 포고핀(41)을 통해 각 엘이디(100)에 전류가 인가될 수 있게 된다.

이때, 트레이(10)가 과도하게 상승하는 경우 포고핀(41)에 과중한 압력이 미치게 되므로 자칫 포고핀(41)의 손상이 유발될 수 있다.

그러나, 본 발명에서 메인기판(40) 저면의 사방 모서리부에는 가이드(43)가 마련되어 있어 가이드(43) 하단에 트레이(10) 상면이 접하는 경우 트레이(10)는 더 이상 상승할 수 없게 되므로 메인기판(40)과 트레이(10) 사이에 간격이 유지될 수 있어 포고핀(41)의 손상을 방지할 수 있게 된다.

다음으로, 각 엘이디(100)의 불량 여부가 판단된다.

본 발명에서 메인기판(40) 상면에는 각 엘이디(100)의 상면으로 이어지는 개방홀(42)이 마련되어 있는바, 각 엘이디(100)에 전류가 인가되어 각 엘이디(100)가 발광하게 되면 개방홀(42)을 통해 각 엘이디(100)의 발광을 확인할 수 있게 된다.

이때, 엘이디(100)가 양품인 경우 전류 인가에 따라 정상적으로 작동하여 발광하게 되고, 엘이디(100)가 불량품인 경우 전류가 인가되더라도 미작동하거나 오작동하여 발광하지 않거나 광도가 떨어지게 되므로 도 5에 도시된 바와 같이 개방홀(42)을 통해 각 엘이디의 발광을 확인함으로써 엘이디(100)의 불량 여부를 판단할 수 있게 된다.

여기서, 불량으로 판단된 엘이디(100)는 별도 수거되는 것은 물론이다.

한편, 엘이디(100)의 불량 여부 판단 과정에서 엘이디(100)가 발광하면 열이 발생하게 된다.

이때, 본 발명의 트레이(10)는 저면이 방열판 형태로 되어 자체가 히트싱크 역할을 하는 것인바, 트레이(10)를 통해 엘이디(100) 발광에 따른 열 방출이 원활하게 이루어질 수 있게 되므로 고열로 인한 엘이디(100) 및 메인기판(40)의 손상을 방지할 수 있게 된다.

또한, 본 발명에서 본체(20)의 저면 사방 모서리부에는 받침부재(22)가 마련되어 있어 본체(20) 저면이 바닥으로부터 상부에 위치할 수 있게 되므로 본체(20) 내부로 통기가 원활히 이루어질 수 있어 트레이(10)를 통한 방열이 더욱 원활히 이루어질 수 있게 되므로 고열로 인한 엘이디(100) 및 메인기판(40)의 손상을 방지할 수 있게 된다.

상기에서와 같이 본 발명에 의한 엘이디 테스트 장치(A)는, 트레이(10)에 다수의 엘이디(100)가 안착되는 것인바, 트레이(10)를 본체(20) 내에 수용시킨 후 지지편(30)의 승강을 통해 트레이(10)를 승강시키고 메인기판(40)으로써 각 엘이디(100)에 전류를 인가하여 엘이디(100)의 발광이 이루어지도록 하면 일시에 다수 엘이디(100)의 불량 여부를 간단히 확인할 수 있게 되므로 엘이디 테스트 작업의 효율을 극대화할 수 있게 된다.

이상에서 설명한 바와 같은 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하므로 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 안에서 변경 가능한 것이며, 그와 같은 변경은 기재된 청구범위 내에 있게 된다.

10 : 트레이 11 : 수용홈
20 : 본체 21 : 개방구
22 : 받침부재 30 : 지지편
31 : 레버 32 : 샤프트
40 : 메인기판 41 : 포고핀
42 : 개방홀 43 : 가이드
100 : 엘이디 110 : 접점
A : 테스트 장치

Claims (8)

1. 테스트 대상 엘이디가 횡과 열을 이뤄 안착되는 트레이;
   일면의 개방구를 통해 트레이를 수용하는 본체;
   상기 본체 내부에서 레버 작동에 따라 본체 내에 수용된 트레이를 승하강시키는 지지편;
   상기 지지편에 의해 승강하는 트레이의 각 엘이디에 전류를 인가하는 메인기판;을 포함하고,
   상기 메인기판은 저면에 하부로 돌출된 포고핀이 횡과 열을 이뤄 마련되어 각 포고핀이 엘이디의 접점에 접함에 따라 엘이디에 전류가 인가되고, 상면에 각 엘이디 상면으로 이어지는 개방홀이 마련되어 개방홀을 통해 각 엘이디의 발광 상태가 확인되는 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 트레이는 저면이 방열판 형태로 되어 자체로 히트싱크가 되는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
3. 제2항에 있어서,
   상기 트레이는 상면에 횡과 열을 이루는 수용홈이 마련되어 수용홈을 통해 엘이디의 안착이 이루어지는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
4. 제1항에 있어서,
   상기 본체는 저면의 사방 모서리부에 받침부재가 마련되어 받침부재에 의해 본체 저면이 바닥으로부터 유격을 두고 위치하는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
5. 제1항에 있어서,
   상기 지지편은 레버에 편심 결합된 샤프트상에 결합되어 샤프트의 편심 회전에 의해 승하강하는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
6. 제5항에 있어서,
   상기 지지편은 샤프트의 길이 방향을 따라 간격을 두고 설치되어 트레이를 치우침 없이 승강시키는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.
7. 삭제
8. 제1항에 있어서,
   상기 메인기판은 저면의 사방 모서리부에 가이드가 마련되어 가이드에 의해 메인기판과 트레이 사이에 간격이 유지되는 것을 특징으로 하는 엘이디 테스트 장치.

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