KR101282324B1 - Probe pin - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 칩 등의 전자부품들을 검사하기 위한 프로브 핀에 관한 것으로, 원통 형상의 바렐(110)과; 상기 바렐(110) 내측과 일체로 고정된 고정부(121)를 갖는 스프링(122)(123)과; 상기 스프링(122)(123)에 탄성 지지되어 상기 바렐(110) 내에 삽입 위치하는 플런저부(130)(140)로 구성되어, 작동 시에 접촉저항 발생을 최소화하여 내구성을 높이며, 작은 직경의 프로브 핀 제작에서도 제작이 용이한 효과가 있다.The present invention relates to a probe pin for inspecting electronic components such as semiconductor chips, and includes a barrel barrel (110); A spring (122) (123) having a fixing part (121) fixed integrally with the barrel (110) inside; It is composed of a plunger 130, 140 is elastically supported by the spring 122, 123 is inserted into the barrel 110, to minimize the contact resistance during operation to increase the durability, and probes of small diameter It is also easy to manufacture pins.
Description
본 발명은 프로브 핀에 관한 것으로, 작동 시에 접촉저항 발생을 방지하여 내구성을 높이며, 작은 직경의 프로브 핀 제작에서도 제작이 용이한 프로브 핀에 관한 것이다.
The present invention relates to a probe pin, to increase the durability by preventing the generation of contact resistance during operation, and to a probe pin that is easy to manufacture even in the manufacture of a small diameter probe pin.
일반적으로 마이크로 칩은 회로 기판 상에 전자회로가 고밀도로 집적되어 제작되므로, 제품에 조립하기 전에 마이크로 칩이 올바로 동작하는 지를 검사하는 과정을 필요로 한다.In general, microchips are fabricated with high density integrated electronic circuits on a circuit board, and thus require a process of verifying that the microchips work properly before being assembled into a product.
이러한 검사작업은 칩을 검사용 소켓장치에 조립하여 실시하게 되며, 소켓장치에는 칩 단자와 접촉되는 다수의 프로브 핀이 마련되어, 칩 단자와 프로브 핀이 접촉하여 통전이 이루어져 칩을 테스트하게 된다.This inspection operation is carried out by assembling the chip into the inspection socket device, the socket device is provided with a plurality of probe pins in contact with the chip terminal, the chip terminal and the probe pin is in contact with the electricity is conducted to test the chip.
일반적으로 프로브 핀은 형상에 따라서 바렐의 편측에 플런저가 배치되어 가동하는 편측 가동 타입이 있으며, 바렐의 양측에 모두 플런저가 배치되어 가동하는 양측 가동 타입이 있다.In general, the probe pin has a one-side movable type in which a plunger is arranged and operated on one side of the barrel according to the shape, and there is a two-side movable type in which both plungers are arranged and movable on both sides of the barrel.
도 1은 종래의 프로브 핀의 단면 구성을 보여주는 도면으로, 양측 가동 타입의 프로브 핀을 보여주고 있다.1 is a cross-sectional view of a conventional probe pin, showing a probe pin of both movable types.
도 1을 참고하면, 종래의 프로브 핀은 바렐(10), 스프링(20) 및 바렐의 양측에 마련되는 제1,2플런저(30)(40)로 구성된다.Referring to FIG. 1, the conventional probe pin includes a
바렐(10)은 양측이 개구된 원통 형상을 가지며, 바렐(10) 내에는 스프링(20)이 삽입된 상태에서 양측에 각각 제1플런저(30)와 제2플런저(40)가 삽입된다.
바렐(10)의 양측 선단부는 삽입된 플런저가 이탈하는 것을 방지하도록 안쪽으로 절곡된 코킹부(11)가 마련되어 플런저가 이탈하지 않으면서 바렐(10) 내에서 탄성 지지되도록 한다.Both ends of the
제1,2플런저(30)(40)에는 각각 걸림턱(31)(41)이 형성되며, 이 걸림턱(31)(41)이 코킹부(11)와 접하여 제1,2플런저(30)(40)는 바렐(10) 내에서 빠지지 않는다.Each of the first and
따라서, 외력이 작용하지 않은 상태에서 제1,2플런저(30)(40)는 스프링(20)에 의해 탄성 지지되어 각각의 걸림턱(31)(41)이 코킹부(11)에 맞닿는 위치에서 제1,2플런저(30)(40)의 위치는 고정된다.Accordingly, the first and
또한, 제1,2플런저(30)(40)는 선단부에 각각 단자와 접촉하게 되는 탐침돌기(32)(42)가 마련된다.In addition, the first and
이와 같은 종래의 프로브 핀은 칩 테스트과정에서 측정이나 전원을 위하여 전류가 흐르게 되며, 통상 플런저의 탐침돌기(32)(42)가 단자와 접촉하여 가동하게 되면 바렐(10)의 내벽과 제1,2플런저(30)(40)가 직접 접촉하거나 스프링(20)을 통하여 통전 경로가 형성된다.Such a conventional probe pin is a current flow for the measurement or power supply during the chip test process, when the probe protrusions (32, 42) of the plunger is normally operated in contact with the terminal and the inner wall of the
그러나 이러한 통전 경로는 접촉 부분의 접촉마모로 인하여 작동 횟수의 누적과 함께 접촉저항이 커지는 원인이 된다. 이러한 현상은 칩 테스트 과정에서 필요한 계측 정확도를 저하시키게 되며, 테스트 결과에 대한 신뢰도에 부정적인 영향을 줄 수가 있다.However, this conduction path causes the contact resistance to increase with the accumulation of the number of operations due to the contact wear of the contact portion. This can degrade the measurement accuracy required during the chip test process and can negatively affect the reliability of the test results.
이러한 문제점을 해결하기 위하여 접촉부분에 금도금의 두께를 두껍게 하는 방법 등이 있을 수 있지만, 이 역시 작동 횟수를 증가시킬 수만 있을 뿐 근본적인 해결이 될 수는 없으며 코스트 상승의 원인이 된다.In order to solve this problem, there may be a method of thickening the thickness of the gold plating on the contact portion, but this also can only increase the number of operations, but cannot be a fundamental solution and causes a cost increase.
또한, 종래기술의 프로브 핀은 각각의 부품을 별도로 제작하여 조립되기 때문에 가공부터 조립까지의 제작 공정에 많은 시간이 소요되며, 그에 따른 인건비와 제작비 상승으로 인하여 제품 가격이 상승하는 원인이 된다.In addition, the probe pin of the prior art takes a lot of time in the manufacturing process from processing to assembly because it is manufactured by assembling each component separately, resulting in a rise in product prices due to labor and manufacturing costs increase accordingly.
또한, 종래기술의 프로브 핀은 플런저에 탄성력을 제공하기 위하여 단면이 원형인 선재를 이용한 코일스프링이 사용되고 있으며, 통상적으로 사용되는 원형 선재는 메이커에서 제공하는 규격화된 선재가 사용되기 때문에 프로브 핀의 외경을 작게 제작하고자 할 경우에 스프링 외경도 같이 작게 설정하여야 하지만 이러한 경우에 필요한 하중을 얻기 어려운 문제점이 있다.In addition, the probe pin of the prior art has a coil spring using a wire rod having a circular cross section in order to provide elastic force to the plunger, and the outer diameter of the probe pin is generally used because a standard wire rod provided by a manufacturer is used. If you want to make a small, the outer diameter of the spring should be set as small, but in this case there is a problem difficult to obtain the required load.
예를 들어, 공개특허공보 제10-2011-0083866호(공개일자: 2011.07.21)는 통전전류가 안정적으로 흐를 수 있는 구조를 갖는 탐침 프로브를 제안하고 있으나, 앞서 설명한 종래기술과 동일한 구조를 가짐으로써, 전기적 저항을 줄이는데 근본적인 한계가 있으며, 원형 단면의 코일스프링을 채용하고 있어서 탐침 프로브의 사이즈를 작게 제작하고자 하는 경우에 많은 제한이 발생하게 된다.
For example, Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-2011-0083866 (published date: 2011.07.21) proposes a probe probe having a structure in which energized current can stably flow, but has the same structure as that of the related art described above. As a result, there is a fundamental limitation in reducing the electrical resistance, and since a coil spring having a circular cross section is adopted, many limitations occur when the size of the probe probe is to be made small.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 해소하기 위한 것으로, 작동 시에 접촉저항의 발생을 최소화하여 내구성을 높이며, 작은 직경의 프로브 핀 제작에서도 제작이 용이한 프로브 핀을 제공하고자 하는 것이다.
The present invention is to solve the problems of the prior art, to minimize the occurrence of contact resistance during operation to increase the durability, and to provide a probe pin that is easy to manufacture even in the manufacture of a small diameter probe pin.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 핀은 원통 형상의 바렐과; 상기 바렐 내측과 일체로 고정된 고정부를 갖는 스프링과; 상기 스프링에 탄성 지지되어 상기 바렐 내에 삽입 위치하는 플런저부에 의해 달성될 수 있다.Probe pin according to the present invention for achieving this object is a cylindrical barrel; A spring having a fixing part integrally fixed to the inner side of the barrel; It can be achieved by a plunger portion elastically supported by the spring and inserted into the barrel.
특히, 본 발명에 있어서, 상기 바렐과 상기 스프링은 금속 판재를 일정 패턴으로 프레스 타발하고 벤딩하여 마련되는 것을 특징으로 하며, 또한, 본 발명에 있어서, 상기 스프링은 사각형의 단면을 갖는 것을 특징으로 한다.In particular, in the present invention, the barrel and the spring is characterized in that the metal plate is pressed and punched in a predetermined pattern is provided, and furthermore, in the present invention, the spring has a rectangular cross section .
바람직하게는 본 발명에 있어서, 상기 스프링은 상기 고정부를 중심으로 양 방향으로 마련되는 제1,2스프링으로 이루어지며, 상기 플런저부는 상기 제1,2스프링에 각각 탄성 지지되어 상기 바렐 내에 삽입 위치하는 제1,2플런저로 이루어지는 것을 특징으로 한다.Preferably, in the present invention, the spring is composed of first and second springs provided in both directions about the fixing part, and the plunger part is elastically supported by the first and second springs, respectively, and is inserted into the barrel. It characterized in that the first and second plunger.
다음으로, 본 발명에 있어서, 상기 플런저부는 인입 형성된 요홈부를 가지며, 상기 바렐을 관통하여 상기 요홈부 내에 위치하는 핀포인트 조임부가 추가로 구비될 수가 있다.Next, in the present invention, the plunger portion has a recessed recessed portion, and may be further provided with a pinpoint tightening portion which penetrates the barrel and is located in the recessed portion.
또한 본 발명에 있어서, 상기 플런저부는 인입 형성된 요홈부를 가지며, 상기 바렐은 상기 요홈부에 인입되도록 롤조임부가 형성될 수 있다.In addition, in the present invention, the plunger portion has a recessed groove portion formed, the barrel may be formed with a roll tightening portion to be inserted into the groove portion.
또한 본 발명에 있어서, 상기 플런저부는 걸림턱을 가지며, 상기 바렐의 양선단부는 상기 걸림턱과 맞닿도록 내측으로 절곡된 코킹부가 형성될 수가 있다.
In addition, in the present invention, the plunger portion may have a locking jaw, and both ends of the barrel may have a caulking portion bent inwardly so as to contact the locking jaw.
본 발명에 따른 프로브 핀은 바렐과, 이 바렐 내측에 삽입되어 플런저부를 탄성 지지하기 위한 스프링이 바렐과 일체로 마련된 고정부를 가지며, 플런저는 스프링과 밀착 고정되어 가동되므로 접동하는 접촉부가 없기 때문에 사용횟수의 증가에 따라서 접촉저항에 의한 전기적인 저항의 증가가 발생되지 않으며, 따라서 종래와 같이 접촉저항을 고려하여 고가의 금도금을 두껍게 설정할 필요가 없으며, 더 나아가서는 금도금 이외에 도금만으로도 충분한 내구성을 얻을 수 있는 효과가 있다.The probe pin according to the present invention has a barrel and a fixing part which is inserted into the barrel and the spring for elastically supporting the plunger part is provided integrally with the barrel, and since the plunger is operated in close contact with the spring, there is no sliding contact part. Increasing the number of times does not increase the electrical resistance due to the contact resistance, therefore, it is not necessary to set the expensive gold plating thick in consideration of the contact resistance as in the prior art, and furthermore, sufficient plating can obtain sufficient durability in addition to the gold plating. It has an effect.
또한, 본 발명의 프로브 핀은 바렐과 스프링이 금속 판재를 일정 패턴으로 프레스 타발하고 벤딩하여 제작이 가능하므로, 직경이 작은 바렐을 제작하고자 하는 경우에도 스프링의 (단면)사이즈 설정에 대한 설계 자유도가 높으므로 필요한 하중을 쉽게 얻을 수 있으며, 또한 조립 부품수를 줄일 수가 있어서 제작 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.
In addition, the probe pin of the present invention can be produced by press-bending and bending a metal plate in a predetermined pattern with the barrel and the spring, so even when a barrel with a small diameter is desired, the degree of freedom in designing the (section) size of the spring is set. Since it is high, the required load can be easily obtained, and the number of assembly parts can be reduced, thereby reducing the manufacturing cost.
도 1은 종래의 프로브 핀의 단면 구성을 보여주는 도면,
도 2는 본 발명에 따른 프로브 핀의 바람직한 실시예를 보여주는 도면,
도 3은 도 2의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면,
도 4는 본 발명에 따른 프로브 핀의 다른 실시예를 보여주는 도면,
도 5는 도 4의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면,
도 6은 본 발명에 따른 프로브 핀의 또 다른 실시예를 보여주는 도면,
도 7은 도 6의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면.1 is a view showing a cross-sectional configuration of a conventional probe pin,
2 shows a preferred embodiment of a probe pin according to the invention,
3 is a view showing an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of FIG.
4 shows another embodiment of a probe pin according to the invention,
5 is a view showing an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of Figure 4,
6 shows another embodiment of a probe pin according to the invention,
FIG. 7 is a view showing an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of FIG. 6. FIG.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부 도면을 참고하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 특히, 본 발명의 실시예에서는 바렐의 양측 모두에 플런저가 배치되어 가동하는 양측 가동 타입만을 보여주고 있으나, 바렐에 하나의 플런저가 배치되어 가동하는 편측 가동 타입에서도 동일하게 적용될 수 있음은 이 기술분야에 종사하는 당업자라면 자명하게 이해될 수가 있다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Particularly, in the embodiment of the present invention, only the two-side movable type in which the plunger is arranged and operated on both sides of the barrel is shown, but the same may be applied to the one-side movable type in which one plunger is arranged and operated in the barrel. Those skilled in the art will readily understand.
도 2는 본 발명에 따른 프로브 핀의 바람직한 실시예를 보여주는 도면으로, (a)는 분해된 단면도이며, (b)는 조립된 상태를 보여주는 단면도이다.2 is a view showing a preferred embodiment of the probe pin according to the present invention, (a) is an exploded cross-sectional view, (b) is a cross-sectional view showing an assembled state.
도 2를 참고하면, 본 발명에 따른 프로브 핀은 원통 형상의 바렐(110)과; 상기 바렐(110) 내측에 V자 형태로 고정된 고정부(121)를 가지며, 상기 고정부(121)를 중심으로 양 방향으로 대칭적으로 마련되는 제1,2스프링(122)(123)과; 상기 제1,2스프링(122)(123) 각각에 탄성 지지되어 상기 바렐(110) 내에 삽입 위치하는 제1,2플런저(130)(140)로 구성될 수 있다.2, the probe pin according to the present invention is a
고정부(121)는 바렐(110)과 제1,2스프링(122)(123)을 일체로 고정하는 것으로, 고정부(121)의 위치를 기준으로 제1,2스프링(122)(123)은 제1,2플런저(130)(140)를 탄성 지지한다.The
따라서, 제1,2플런저(130)(140)가 단자와 접촉 시에 통전전류는 탄성력에 의해 밀착 고정된 제1,2스프링(122)(123)과 고정부(121)를 통하여 통전이 이루어진다. 따라서 종래와 비교하여 플런저의 가동에 따른 접촉저항의 증가가 발생하지 않는다.Therefore, when the first and
한편, 본 발명에 있어서, 바렐(110)에 삽입되는 제1,2플런저(130)(140)의 빠짐을 방지하기 위한 수단은 다양하게 제공될 수 있다. 예를 들어, 제1,2플런저 각각에 단차 형성된 걸림턱이 형성되며, 제1,2플런저를 바렐에 삽입한 후에 바렐의 양측 선단부를 내측으로 절곡하는 코킹 가공에 의해 코킹부를 형성하여, 제1,2플런저의 걸림턱이 코킹부에 맞닿아서 바렐에서 빠지지 않도록 할 수 있다. 이에 대한 다른 실시예는 도면을 참고하여 다시 설명하도록 한다.
Meanwhile, in the present invention, means for preventing the first and
다음으로 본 발명에 있어서, 바렐과 스프링은 금속 판재를 일정 패턴으로 프레스 타발하고 벤딩하여 마련되는 것을 특징으로 한다.Next, in the present invention, the barrel and the spring is characterized in that it is provided by press-bending and bending the metal plate in a predetermined pattern.
도 3은 도 2 실시예의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면이다.3 is a view showing an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of the embodiment of FIG.
도 3을 참고하면, 프레스 타발작업에 의해 일정한 패턴을 갖는 하나의 금속 판재(100)를 제작할 수 있으며, 구체적으로는 대략 사각형상의 바렐 형성부(101)와, 바렐 형성부(101)에서 서로 대칭되게 대략 삼각 형상의 스트립으로 이루어진 스프링 형성부(102)(103)를 갖는다. Referring to FIG. 3, one
도면부호 104는 바렐 형성부(101)에서 스프링 형성부(102)(103)가 연장 형성되는 부위로서, 금속 판재(100)를 벤딩하여 프로브 핀으로 제작하게 되면 고정부(121)(도 2 참고)의 기능을 한다.
두 개의 스프링 형성부(102)(103)는 각각 제1스프링(120)과 제2스프링(130)으로 기능하게 된다.The two
이와 같이 일정한 패턴을 갖도록 프레스 타발하여 제작된 금속 판재는 도금 처리 공정과, 스프링 형성부(102)(103)가 안쪽에 위치하도록 금속 판재(100)를 롤(roll) 형태로 벤딩(bending) 가공함으로써, 바렐과 스프링이 일체형으로 제작될 수 있다.The metal plate produced by press punching to have a predetermined pattern as described above is subjected to a plating process and bending the
한편, 이와 같이 제작되는 바렐 내 스프링은 사각형의 단면을 갖게 되며, 프레스 타발 작업을 통하여 스프링의 형상이나 사이즈를 다양하게 변경이 가능하므로 사이즈가 작은 프로프 핀을 제작하더라도 요구되는 하중을 만족시키기 위한 스프링 설계에 대한 자유도가 높은 장점이 있다.
On the other hand, the spring produced in this barrel has a rectangular cross section, and the shape and size of the spring can be variously changed through the press-punching operation, so that even if a small size of the prop pin is manufactured, it is necessary to satisfy the required load. It has the advantage of high degree of freedom for spring design.
도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 프로브 핀의 다른 실시예를 보여주는 도면으로, 도 4의 (a)(b)는 각각 본 발명에 따른 프로브 핀의 다른 실시예에 대한 분해된 상태와 조립된 상태를 보여주는 단면도이다. 도 5는 도 4의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면이다.4 and 5 show another embodiment of the probe pin according to the present invention, Figure 4 (a) (b) is assembled with the disassembled state for another embodiment of the probe pin according to the present invention, respectively It is a cross-sectional view showing the status. FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of FIG. 4.
도 4를 참고하면, 본 발명에 있어서, 제1,2플런저(230)(240)는 인입 형성된 요홈부(231)(241)를 가지며, 상기 바렐(210)은 상기 요홈부(231)(241) 내에 인입 위치하도록 핀포인트 조임부(211)가 추가로 구비될 수 있다.Referring to FIG. 4, in the present invention, the first and
제1,2플런저(230)(240)에 인입 형성된 요홈부(231)(241)에는 바렐(210)에 마련된 핀포인트 조임부(211)가 위치하게 되므로, 제1,2플런저(230)(240)는 핀포인트 조임부(211)에 대해 가동 가능한 범위인 요홈부(231)(241)의 길이에 따라서 결정된 가동 스트로크 범위 내에서 바렐(210)에서 빠지지 않으면서 제1,2플런저(230)(240)는 동작한다.Since the
도 5는 도 4의 프로브 핀을 제작하기 위하여 타발 프레스 작업에 의해 제작된 금속 판재(200)를 보여주고 있으며, 기본적인 구성은 도 3의 실시예와 동일하며, 바렐 형성부(201) 양측부에 각각 핀포인트 조임부(202)가 마련된다.FIG. 5 illustrates a
이러한 금속 판재(200)는 스프링 형성부가 안쪽에 위치하도록 금속 판재(200)를 롤 형태로 벤딩 가공하여 일체형의 바렐과 스프링을 제작할 수 있다.
The
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 프로브 핀의 다른 실시예를 보여주는 도면으로, 도 6의 (a)(b)는 각각 본 발명에 따른 프로브 핀의 또 다른 실시예에 대한 분해된 상태와 조립된 상태를 보여주는 단면도이다. 도 7은 도 6의 프로브 핀을 제작하기 위한 금속 판재 패턴의 일례를 보여주는 도면이다.6 and 7 show another embodiment of the probe pin according to the present invention, Figure 6 (a) (b) is an exploded state and assembly of yet another embodiment of the probe pin according to the present invention, respectively It is sectional drawing which shows the state. FIG. 7 illustrates an example of a metal plate pattern for manufacturing the probe pin of FIG. 6.
도 6을 참고하면, 본 발명에 있어서, 제1,2플런저(330)(340)는 인입 형성된 요홈부(331)(341)를 가지며, 바렐(310)은 요홈부(331)(341) 내에 인입 위치하도록 롤조임부(311)가 추가로 구비될 수 있다.Referring to FIG. 6, in the present invention, the first and
제1,2플런저(330)(340)에 인입 형성된 요홈부(331)(341)에는 바렐(310)의 외주면을 따라서 인입 형성된 롤조임부(311)가 위치하게 되므로, 제1,2플런저(330)(340)는 롤조임부(311)에 대해 가동 가능한 범위인 요홈부(331)(341)의 길이에 따라서 결정된 가동 스트로크 범위 내에서 바렐(310)에서 빠지지 않으면서 제1,2플런저(330)(340)의 동작이 이루어진다.The first and
도 7은 도 6의 프로브 핀을 제작하기 위하여 타발 프레스 작업에 의해 제작된 금속 판재(300)를 보여주고 있으며, 기본적인 구성은 도 3의 실시예와 동일하며, 제1,2스프링 형성부(302)(303)의 선단부와 연결되어 바렐의 개구부 측에 위치하게 되는 개구부 형성부에 (도 3의 실시예와 비교하여) 일정 간격(D) 더 연장된 연장부(304)(305)가 마련된다.FIG. 7 illustrates a
이러한 금속 판재(300)는 연장부(304)(305)를 먼저 롤 형태로 벤딩하면서 스프링 형성부(302)(303)가 안쪽에 위치하도록 금속 판재(300)를 롤 형태로 벤딩 가공하여 일체형의 바렐과 스프링을 제작할 수 있으며, 제1,2플런저(330)(340)를 바렐(310)에 삽입시킨 후에 연장부의 외주면 테두리를 따라 가압하여 롤조임부(311)를 마련할 수 있다.The
이러한 롤조임부(311)는 제1,2플런저(330)(340)가 바렐(310)에서 빠지지 않으면서 일정 스트로크 범위 내에서 가동이 이루어질 수 있다.
The
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이다.
The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be evident to those who have knowledge of.
110 : 바렐 121 : 고정부
122 : 제1스프링 123 : 제2스프링
130 : 제1플런저 140 : 제2플런저110
122: first spring 123: second spring
130: first plunger 140: second plunger
Claims (7)
상기 바렐 내측에 마련되되, 금속 판재를 일정 패턴으로 프레스 타발하고 벤딩하여 상기 바렐과 함께 제작되며, 상기 바렐의 중앙 부분에서 상기 바렐과 일체로 연결되어 V자 형태로 고정된 고정부를 갖는 스프링과;
상기 스프링에 탄성 지지되어 상기 바렐 내에 삽입 위치하는 플런저부로 구성되고,
상기 스프링은 상기 고정부를 중심으로 양 방향으로 대칭적인 구조를 가지며, 상기 V자의 양 끝단으로부터 각각 연장하여 형성된 제1 및 제2 스프링을 구비하며,
상기 플런저부는 상기 제1 및 제2 스프링에 각각 탄성 지지되어 상기 바렐 내에 삽입 위치하는 제1 및 제2 플런저를 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브 핀.One barrel of cylindrical shape;
It is provided inside the barrel, and presses and punches a metal plate in a predetermined pattern to be manufactured together with the barrel. A spring having a fixed fixing portion;
And a plunger portion elastically supported by the spring and inserted into the barrel,
The spring has a symmetrical structure in both directions about the fixing portion, and has first and second springs extending from both ends of the V-shape, respectively,
And the plunger portion includes first and second plungers elastically supported by the first and second springs to be inserted into the barrel.
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