KR101270754B1 - Clock generator - Google Patents
Clock generator Download PDFInfo
- Publication number
- KR101270754B1 KR101270754B1 KR1020110048664A KR20110048664A KR101270754B1 KR 101270754 B1 KR101270754 B1 KR 101270754B1 KR 1020110048664 A KR1020110048664 A KR 1020110048664A KR 20110048664 A KR20110048664 A KR 20110048664A KR 101270754 B1 KR101270754 B1 KR 101270754B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- mos transistors
- differential amplifier
- power supply
- supply voltage
- terminal
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/354—Astable circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/01—Details
- H03K3/011—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. voltage, temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/133—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K2005/00013—Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
- H03K2005/0015—Layout of the delay element
- H03K2005/00195—Layout of the delay element using FET's
- H03K2005/00208—Layout of the delay element using FET's using differential stages
Abstract
본 발명은 클럭 발생기에서 입력 전원의 변동에 관계없이 항상 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생할 수 있도록 한 기술에 관한 것이다.
본 발명에 따른 클럭발생기는 다단으로 접속된 지연셀들을 구비한 상기 지연셀부; 상기 지연셀부에 바이어스전압을 공급하는 레플리카 바이어스부;를 포함하는 클럭 발생기를 구비하되, 상기 지연셀은 전원전압의 변동에 따라 커런트 소스 또는 커런트 로드의 개방되는 채널수를 제어하여 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생한다.The present invention relates to a technique for allowing a clock generator to generate a clock of a desired frequency at all times regardless of variations in input power.
The clock generator according to the present invention comprises: a delay cell unit having delay cells connected in multiple stages; And a replica generator for supplying a bias voltage to the delay cell unit, wherein the delay cell controls the number of channels of a current source or a current load according to a change in the power supply voltage to control the change in the power supply voltage. Regardless of the target frequency, the clock is generated.
Description
본 발명은 클럭 발생기에 관한 것으로, 특히 입력 전원의 변동에 관계없이 항상 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생할 수 있도록 한 클럭 발생기에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE
도 1은 종래기술에 의한 인버터 타입의 클럭 발생기의 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 직렬접속된 다수의 인버터(I1-I5)를 포함하는 인버터 지연셀부(11), 저항(R) 및 커패시터(C)를 포함한다. 1 is a circuit diagram of a clock generator of the inverter type according to the prior art, as shown therein, an inverter
인버터 지연셀부(11)는 직렬접속된 다수의 인버터 예를 들어, 5단의 인버터(I1-I5)를 이용하여 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생한다. The inverter
이때, 저항(R) 및 커패시터(C)의 값을 조절하여 상기 인버터 지연셀부(11)에서의 공진 포인트(Q-Point) 및 출력 주파수를 조절할 수 있다. In this case, the resonance point Q-point and the output frequency of the inverter
종래 기술에 의한 또 다른 클럭 발생기로서 인턱터와 커패시터를 사용한 인덕터-커패시터 타입의 클럭 발생기가 있다.Another clock generator according to the related art is an inductor-capacitor type clock generator using an inductor and a capacitor.
그러나, 종래의 인버터 타입의 클럭 발생기에 있어서는 전원 전압이 변동되는 경우 각 인버터 단을 통하는 전류와 각 인버터 단의 지연시간이 쉽게 변화되어 출력 주파수의 오차를 유발하게 되고, 이렇게 발생되는 오차를 보상하는데 어려움이 있다. 또한, 클럭 발생기를 집적화 하는 경우, 커패시터가 넓은 면적을 차지하고, 생산비용이 높은 문제점이 있다. 또한, 잡음 특성이 나쁜 큰 크기의 저항을 사용하므로 출력신호에 높은 잡음이 포함될 수 있는 문제점이 있다. However, in the conventional inverter type clock generator, when the power supply voltage fluctuates, the current through each inverter stage and the delay time of each inverter stage are easily changed, causing an error in the output frequency. There is difficulty. In addition, when integrating a clock generator, a capacitor occupies a large area and there is a problem in that the production cost is high. In addition, there is a problem that a high noise may be included in the output signal because a large size resistor having a bad noise characteristic is used.
그리고, 종래 기술에 의한 인덕터-커패시터 타입의 클럭 발생기에 있어서는 집적화 하는 경우, 인덕터가 무척 넓은 면적을 차지하는 문제점이 있고, 나쁜 잡음 특성으로 인하여 출력 잡음이 많이 발생되는 문제점이 있다. In the integrator-capacitor type clock generator according to the related art, when integrating, the inductor occupies a very large area, and there is a problem in that a lot of output noise is generated due to bad noise characteristics.
따라서, 본 발명의 목적은 입력 전원의 변동에 따라 지연 셀 내의 커런트 소스나 커런트 로드를 조절하여 입력 전원의 변동에 관계없이 항상 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생할 수 있도록 하는데 있다. Accordingly, an object of the present invention is to adjust a current source or current load in a delay cell according to a change in input power so that a clock of a target frequency can be generated at all times regardless of the change in input power.
본 발명의 목적들은 앞에서 언급한 목적으로 제한되지 않는다. 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 아래 설명에 의해 더욱 분명하게 이해될 것이다.
The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects. Other objects and advantages of the invention will be more clearly understood by the following description.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 다단으로 접속된 지연셀들을 구비한 지연셀부; 상기 지연셀부에 바이어스전압을 공급하는 레플리카 바이어스부;를 포함하되, 상기 지연셀은 전원전압의 변동에 따라 커런트 소스 또는 커런트 로드의 개방되는 채널수를 제어하여 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생한다.The present invention for achieving the above object, the delay cell unit having delay cells connected in multiple stages; And a replica bias unit configured to supply a bias voltage to the delay cell unit, wherein the delay cell controls the number of channels of the current source or the current load to be opened according to a change in the power supply voltage, thereby controlling the target voltage regardless of the change in the power supply voltage. Generate a clock of frequency.
상기 지연셀은, 전류미러부를 통해 구동전류를 공급받고, 입력단자 및 반전입력단자에 공급되는 입력전압을 차동증폭하여 그에 따른 주파수의 클럭신호를 발생하는 차동증폭부; 전원전압의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트소스제어신호를 출력하는 커런트소스 제어부 및, 상기 커런트소스제어신호에 따라 개방되는 커런트소스의 채널수가 제어되어 상기 차동증폭부(412)로 하여금 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생하도록 하는 커런트 소스를 포함한다.The delay cell may include: a differential amplifier configured to receive a driving current through a current mirror unit, differentially amplify an input voltage supplied to an input terminal and an inverting input terminal, and generate a clock signal having a frequency corresponding thereto; A current source control unit which detects a change in the level of the power supply voltage and outputs a current source control signal according thereto, and the number of channels of the current source opened according to the current source control signal is controlled to cause the
상기 지연셀은, 전원전압의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트로드제어신호를 출력하는 커런트소스 제어부 및, 상기 커런트로드제어신호에 따라 개방되는 커런트로드의 채널수가 제어되어 차동증폭부로 하여금 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생하도록 하는 커런트 로드를 포함한다.
The delay cell may include: a current source controller for detecting a change in the level of the power supply voltage and outputting a current load control signal according to the present invention; and controlling the number of channels of the current load opened according to the current load control signal to control the power supply. It includes a current load that generates a clock at a target frequency regardless of voltage variations.
본 발명은 입력 전원의 변동에 따라 지연 셀 내의 커런트 소스나 커런트 로드를 조절하여 입력 전원의 변동에 관계없이 항상 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생할 수 있도록 함으로써, 제품의 신뢰성을 보장할 수 있고 집적화 면적을 축소할 수 있는 효과가 있다. 또한, 발진기의 출력잡음을 저감할 수 있을 뿐만 아니라 공정오차에 의한 출력 오차가 개선할 수 있는 효과가 있다.
The present invention adjusts the current source or current load in the delay cell according to the variation of the input power so that the clock of the target frequency can be generated at all times regardless of the variation of the input power, thereby ensuring the reliability of the product and the integration area. There is an effect that can be reduced. In addition, the output noise of the oscillator can be reduced as well as the output error due to the process error can be improved.
도 1은 종래기술에 의한 인버터 타입의 클럭 발생기의 회로도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 클럭 발생기의 블록도이다.
도 3은 도 2에서 레플리카 바이어스부에 대한 상세 회로도이다.
도 4는 도 2에서 지연셀부의 지연셀에 대한 제1실시예의 회로도이다.
도 5는 도 2에서 지연셀부의 지연셀에 대한 제2실시예의 회로도이다.
도 6은 도 4에서 커런트 소스의 구현예를 나타낸 회로도이다.
도 7은 도 5에서 커런트 로드의 구현예를 나타낸 회로도이다.1 is a circuit diagram of a clock generator of the inverter type according to the prior art.
2 is a block diagram of a clock generator according to an embodiment of the present invention.
3 is a detailed circuit diagram illustrating a replica bias unit in FIG. 2.
FIG. 4 is a circuit diagram of a first embodiment of a delay cell of the delay cell unit in FIG. 2.
FIG. 5 is a circuit diagram of a second embodiment of a delay cell of the delay cell unit in FIG. 2.
FIG. 6 is a circuit diagram illustrating an implementation of the current source in FIG. 4.
FIG. 7 is a circuit diagram illustrating an implementation of the current load in FIG. 5.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 일실시예에 의한 클럭 발생기의 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 레플리카(REPLICA) 바이어스부(210) 및 지연셀부(220)를 포함한다.FIG. 2 is a block diagram of a clock generator according to an exemplary embodiment of the present invention, which includes a replica (REPLICA)
도 2를 참조하면, 레플리카 바이어스부(210)는 지연셀부(220)의 각각의 지연셀(DL1-DL5)에 바이어스전압을 공급한다. Referring to FIG. 2, the
도 3은 상기 레플리카 바이어스부(210)의 상세 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 전류미러부(311), 차동증폭부(312), 인에이블부(313) 및 연산증폭기(OP)를 포함한다.FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the
상기 전류미러부(311)는 소스가 전원전압(VDD)의 단자에 공통으로 접속되고, 게이트가 공통으로 후술할 연산증폭기(OP)의 출력단자에 접속된 모스트랜지스터(PM311),(PM312)를 포함한다. 차동증폭부(312)는 드레인이 상기 모스트랜지스터(PM311)의 드레인에 접속되고, 게이트가 피바이어스전압(PBIAS)의 단자에 접속된 모스트랜지스터(NM311) 및, 드레인이 상기 모스트랜지스터(PM312)의 드레인에 접속되고, 게이트가 전원전압(VDD)의 단자에 접속되며, 소스가 상기 모스트랜지스터(NM311)의 소스와 공통 접속된 모스트랜지스터(NM312)를 포함한다. 인에이블부(313)는 드레인이 상기 모스트랜지스터(NM311),(NM312)의 소스 공통접속점에 접속되고 게이트가 제어전압(FCONT)의 단자에 접속된 모스트랜지스터(NM313) 및, 드레인이 상기 모스트랜지스터(NM313)의 소스에 접속되고, 게이트가 엔바이어스전압(NBIAS)의 단자에 접속되며, 소스가 접지단자에 접속된 모스트랜지스터(NM314)를 포함한다. 상기 연산증폭기(OP)의 반전입력단자는 상기 피바이어스전압(PBIAS)의 단자에 접속되고, 반전입력단자는 상기 모스트랜지스터(PM312),(NM312)의 드레인 공통접속노드인 노드(N1)에 접속되며, 출력단자는 상기 모스트랜지스터(PM311),(PM312)의 게이트에 공통접속된다. The
도 3을 참조하면, 엔바이어스전압(NBIAS)이'하이'로 공급되어 인에이블부(313)의 모스트랜지스터(NM314)가 턴온되고, 제어전압(FCONT)이 소정의 레벨로 공급되면 이에 의해 모스트랜지스터(NM313)가 구동된다. 이에 따라, 차동증폭부(312)의 모스트랜지스터(NM311),(NM312)가 동작하게 되므로, 상기 차동증폭부(312)가 활성화 모드로 전환된다.Referring to FIG. 3, when the bias voltage NBIAS is supplied 'high', the MOS transistor NM314 of the enable
이때, 연산증폭기(OP)는 모스트랜지스터(PM312),(NM312)의 드레인 공통접속노드인 노드(N1)의 전압과 피바이어스전압(PBIAS)을 비교하여 그에 따른 출력전압을 발생한다. In this case, the operational amplifier OP compares the voltage of the node N1, which is the drain common connection node of the MOS transistors PM312 and NM312, with the Pbias voltage, and generates an output voltage accordingly.
전류미러부(311)의 모스트랜지스터(PM311),(PM312)는 상기 연산증폭기(OP)의 출력전압에 의해 구동되고, 이렇게 구동되는 상기 모스트랜지스터(PM311),(PM312)를 통해 상기 차동증폭부(312)의 모스트랜지스터(NM311),(NM312)에 구동전류가 공급된다. The MOS transistors PM311 and PM312 of the
이에 따라, 레플리카 바이어스부(210)로부터 지연셀부(220)의 각각의 지연셀(DL1-DL5)에 바이어스전압이 공급된다. Accordingly, the bias voltage is supplied from the
여기서, 상기 피바이어스전압(PBIAS)은 P 채널의 모스트랜지스터(NM311)의 바이어스전압을 의미하는 것이고, 엔바이어스전압(NBIAS)은 N채널의 모스트랜지스터(NM314)의 바이어스전압을 의미한다.Here, the P-bias voltage PBIAS refers to a bias voltage of the MOS transistor NM311 of the P channel, and the n-bias voltage NBAIAS refers to a bias voltage of the MOS transistor NM314 of the N channel.
지연셀부(220)에서 각각의 지연셀(DL1-DL5)은 전원전압의 변동에 따라 커런트 소스(Current Source) 또는 커런트 로드(Current Load) 또는 커런트 소스 및 커런트 로드를 제어한다. 따라서, 상기 지연셀부(220)에서 각각의 지연셀(DL1-DL5)은 전원전압의 변동에 관계없이 출력단자(OUT),(OUTB)를 통해 목표로하는 주파수의 클럭을 발생할 수 있게 된다.
In the
도 4는 상기 지연셀부(220)의 지연셀(DL1-DL5)에 대한 제1실시예를 나타낸 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 전류미러부(411), 차동증폭부(412), 커런트소스 제어부(413) 및 커런트소스(414)를 구비한다.FIG. 4 is a circuit diagram showing a first embodiment of the delay cells DL1 to DL5 of the
상기 전류미러부(411)는 소스가 전원전압(VDD)의 단자에 공통으로 접속되고, 게이트가 공통으로 피바이어스전압(PBIAS)의 단자에 접속된 모스트랜지스터(PM411),(PM412)를 구비한다. 차동증폭부(412)는 드레인이 상기 모스트랜지스터(PM411)의 드레인 및 반전출력단자(OUTB)에 공통접속되고, 게이트가 입력단자(IN)에 접속된 모스트랜지스터(NM411) 및, 드레인이 상기 모스트랜지스터(PM412)의 드레인 및 출력단자(OUT)에 공통접속되고, 게이트가 반전입력단자(INB)에 접속되며, 소스가 상기 모스트랜지스터(NM411)의 소스와 공통 접속된 모스트랜지스터(NM412)를 구비한다. 상기 커런트소스 제어부(413)의 입력단자는 전원전압(VDD)의 단자에 접속되고, 출력단자는 커런트소스(414)의 타측단자에 접속된다. 상기 커런트소스(414)의 일측단자는 상기 모스트랜지스터(NM411),(NM412)의 소스에 공통접속된다. The
도 4를 참조하면, 커런트 소스(414)가 구동되는 상태에서 피바이어스전압(PBIAS)이 공급되면, 이에 의해 전류미러부(411)의 모스트랜지스터(PM411), (PM412)가 구동된다. 이에 따라, 상기 모스트랜지스터(PM411),(PM412)를 통해 차동증폭부(412)에 구동전류가 공급된다.Referring to FIG. 4, when the PBIAS voltage is supplied while the
이와 같은 상태에서, 상기 차동증폭부(412)의 입력단자(IN) 및 반전입력단자(INB)에 입력전압이 공급되면 이에 의해 상기 차동증폭부(412)의 모스트랜지스터(NM411),(NM412)가 구동되어 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 해당 주파수의 클럭신호가 출력된다. In this state, when an input voltage is supplied to the input terminal IN and the inverting input terminal INB of the
이때, 커런트소스 제어부(413)는 전원전압(VDD)의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트소스제어신호(CS)를 상기 커런트 소스(414)에 출력한다. At this time, the
상기 커런트소스 제어부(413)로부터 공급되는 커런트소스제어신호(CS)에 따라 상기 커런트 소스(414)에서 개방되는 커런트소스의 채널수가 변화되고, 이에 의해 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 출력되는 클럭신호의 주파수가 변화된다. 예를 들어, 상기 커런트소스제어신호(CS)에 의해 상기 개방되는 커런트소스의 채널수가 증가되면, 지연 소자로 사용되는 상기 차동증폭부(412)에 흐르는 전류량 및 상호컨덕턴스(Gm)가 증가되고, 이에 의해 그 차동증폭부(412)의 지연시간이 줄어들게 된다. 이에 따라, 상기 차동증폭부(412)의 천이(transition) 시간이 변화(감소)되어 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 출력되는 클럭신호의 주파수가 상승된다.According to the current source control signal CS supplied from the current
따라서, 상기 차동증폭부(412)는 상기 전원전압(VDD)의 레벨이 변동되는 것에 관계없이 항상 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다.
Accordingly, the
도 5는 상기 지연셀부(220)의 지연셀(DL1-DL5)에 대한 제2실시예를 나타낸 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 커런트로드 제어부(511), 커런트로드(512), 차동증폭부(513), 인에이블부(514)를 구비한다.FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a second embodiment of the delay cells DL1 to DL5 of the
상기 커런트로드 제어부(511)의 입력단자는 전원전압(VDD)의 단자에 접속되고, 출력단자는 커런트로드(512)의 타측단자에 접속된다. 상기 커런트로드(512)의 제1측은 전원전압(VDD)의 단자에 접속되고, 제2측은 커런트로드(512)의 타측단자에 접속된다. 차동증폭부(513)는 드레인이 상기 커런트 로드(512)의 제3측의 제1,2단자에 접속된 출력단자(OUT), 반전출력단자(OUTB)에 각기 접속되고, 게이트는 입력단자(IN),반전입력단자(INB)에 각기 접속된 모스트랜지스터(NM511),(NM512)를 구비한다. 인에이블부(514)는 드레인이 상기 모스트랜지스터(NM511),(NM512)의 소스에 공통접속되고, 게이트는 엔바이어스전압(NBIAS)의 단자에 접속되며, 소스는 접지단자에 접속된 모스트랜지스터(NM513)를 구비한다. The input terminal of the current
도 5를 참조하면, 커런트로드(512) 및 인에이블부(514)가 구동되는 상태에서, 상기 차동증폭부(513)의 입력단자(IN) 및 반전입력단자(INB)에 입력전압이 공급되면 이에 의해 상기 차동증폭부(513)의 모스트랜지스터(NM511),(NM512)가 구동되어 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 해당 주파수의 클럭신호가 출력된다. Referring to FIG. 5, when an input voltage is supplied to an input terminal IN and an inverting input terminal INB of the
이때, 커런트로드 제어부(511)는 전원전압(VDD)의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트로드제어신호(CL)를 상기 커런트 로드(512)에 출력한다. At this time, the
상기 커런트로드 제어부(511)로부터 공급되는 커런트로드제어신호(CL)에 따라 상기 커런트 로드(512)에서 개방되는 커런트 로드의 채널수가 변화되고, 이에 의해 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 출력되는 클럭신호의 주파수가 변화된다. 예를 들어, 상기 커런트로드제어신호(CL)에 의해 개방되는 커런트 로드의 채널수가 증가되면, 지연 소자로 사용되는 상기 차동증폭부(513)에 흐르는 전류량 및 상호컨덕턴스(Gm)가 증가되고, 이에 의해 그 차동증폭부(513)의 지연시간이 줄어들게 된다. 이에 따라, 상기 차동증폭부(513)의 천이(transition) 시간이 변화(감소)되어 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 출력되는 클럭신호의 주파수가 상승된다.According to the current load control signal CL supplied from the current
따라서, 상기 차동증폭부(513)는 상기 전원전압(VDD)의 레벨이 변동되는 것에 관계없이 항상 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다.
Therefore, the
한편, 도 6은 상기 도 4에서 커런트 소스(414)의 구현예를 나타낸 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 고정구동부(414_1)와 보상구동부(414_2)를 구비한다. FIG. 6 is a circuit diagram illustrating an implementation of the
상기 고정구동부(414_1)는 상기 차동증폭부(412)의 모스트랜지스터(NM411), (NM412)의 소스 공통접속점과 접지단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 모스트랜지스터(NM611,NM621),(NM612,NM622),(NM613,NM623),(NM614,NM624)를 구비한다. 상기 보상구동부(414_2)는 상기 차동증폭부(412)의 모스트랜지스터(NM411), (NM412)의 소스 공통접속점과 접지단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 모스트랜지스터(NM615,NM625),(NM616, NM626),(NM617,NM627),(NM618,NM628)를 구비한다.The fixed driving unit 414_1 is connected in parallel between the source common connection point of the MOS transistors NM411 and NM412 of the
도 6을 참조하면, 상기 모스트랜지스터(NM611-NM614)의 게이트에는 상기 커런트소스 제어부(412)로부터 커런트소스 제어신호(CS_FC1-CS_FC4)가 상시 '하이'로 공급되고, 상기 모스트랜지스터(NM621-NM624)의 게이트에도 엔바이어스전압(NBIAS)이 상시 '하이'로 공급된다. Referring to FIG. 6, a current source control signal CS_FC1-CS_FC4 is always supplied to the gates of the MOS transistors NM611-NM614 from the
따라서, 전원전압(VDD)의 레벨 변동에 관계없이 상기 고정구동부(414_1)의 모스트랜지스터(NM611,NM621),(NM612,NM622),(NM613,NM623),(NM614,NM624)가 상시 구동된다. 이에 따라, 상기 차동증폭부(412)의 모스트랜지스터(NM411),(NM412)가 구동되어 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 소정 주파수의 클럭신호가 출력된다. Therefore, the MOS transistors NM611, NM621, NM612, NM622, NM613, NM623, and NM614, NM624 of the fixed drive unit 414_1 are always driven regardless of the level variation of the power supply voltage VDD. Accordingly, the MOS transistors NM411 and NM412 of the
상기 전원전압(VDD)의 레벨이 하강되지 않고 정상적으로 공급되는 경우, 상기 모스트랜지스터(NM611,NM621),(NM612,NM622),(NM613,NM623),(NM614,NM624)가 구동되는 것에 의해 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호가 출력된다. When the level of the power supply voltage VDD is supplied normally without being lowered, the output is driven by driving the MOS transistors NM611, NM621, NM612, NM622, NM613, NM623, and NM614, NM624. The clock signal of the target frequency is output to the terminal OUT and the inverting output terminal OUTB.
그런데, 상기 전원전압(VDD)의 레벨이 하강되는 경우, 상기와 같이 고정구동부(414_1)의 모스트랜지스터(NM611,NM621),(NM612,NM622),(NM613,NM623),(NM614, NM624)만 구동시키면 해당 지연셀에 공급되는 구동전류량이 부족하게 되어 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 없게 된다. However, when the level of the power supply voltage VDD falls, only the MOS transistors NM611, NM621, NM612, NM622, NM613, NM623, NM614, NM624 of the fixed drive unit 414_1 as described above. When driven, the amount of driving current supplied to the corresponding delay cell is insufficient, so that a clock signal having a target frequency cannot be output to the output terminal OUT and the inverting output terminal OUTB.
하지만, 이때 상기 커런트소스 제어부(413)의 제어에 의해 상기 보상구동부(414_2)의 모스트랜지스터(NM615-NM618)가 아래의 설명에서와 같이 선택적으로 구동되어 부족되는 만큼의 구동전류가 보상되므로, 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다. However, at this time, since the MOS transistors NM615-NM618 of the compensation driving unit 414_2 are selectively driven by the control of the
상기 보상구동부(414_2)의 모스트랜지스터(NM625-NM628)의 게이트에는 상기 엔바이어스전압(NBIAS)이 '하이'로 공급되어 그 모스트랜지스터(NM625-NM628)가 구동 가능상태로 있게 된다. 이와 같은 상태에서, 상기 커런트소스 제어부(413)는 전원전압(VDD)의 레벨변동을 검출하여 하강 정도에 상응하는 커런트소스 제어신호(CS_LV1-CS_LV4)를 출력한다. The bias voltage NBIAS is supplied to the gate of the MOS transistors NM625-NM628 of the compensation driver 414_2 so that the MOS transistors NM625-NM628 can be driven. In this state, the
예를 들어, 전원전압(VDD)의 하강범위를 제1-4레벨이라 할때 제일 낮은 제1레벨 만큼 하강된 경우 상기 커런트소스 제어부(413)는 상기 커런트소스 제어신호(CS_LV1)를 '하이'로 출력한다. 이에 따라, 상기 모스트랜지스터(NM615-NM618) 중에서 모스트랜지스터(NM615)가 추가로 구동된다. 이로 인하여, 상기 모스트랜지스터(NM615,NM625)를 통해 추가로 전류가 흐르게 되므로 그만큼 해당 지연셀에 공급되는 구동전류가 보상된다. 따라서, 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다. For example, when the falling range of the power supply voltage VDD is lowered by the lowest first level when the falling range is 1-4 levels, the
본 발명이 상기 도 6의 실시예로 한정되는 것이 아니라, 동일한 원리를 적용하여 다양하게 커런트소스의 전류를 보상할 수 있다. 예를 들어, 상기 고정구동부(414_1) 및 보상구동부(414_2)의 모스트랜지스터들을 상기와 같이 분리하여 제어하지 않고 통합적으로 관리하여 해당 트랜지스터들을 온오프시킬 수 있다. 그리고, 상기 도 6에서는 전원전압(VDD)이 하강되는 경우에 대한 커런트소스의 전류 보상을 예로 하여 설명하였으나, 동일한 원리를 적용하여 상승되는 경우에도 보상할 수 있는 것은 자명한 것이다.
The present invention is not limited to the embodiment of FIG. 6, but the same principle may be applied to compensate current of the current source in various ways. For example, the transistors of the fixed driver 414_1 and the compensation driver 414_2 may be integrated and managed without being separated and controlled as described above. In FIG. 6, the current compensation of the current source for the case where the power supply voltage VDD falls is described as an example. However, it is obvious that the compensation can be performed even when the power source voltage VDD is increased.
한편, 도 7은 상기 도 5에서 커런트 로드(512)의 구현예를 나타낸 회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 상시구동부(512_1)와 간헐구동부(512_2)를 구비한다. FIG. 7 is a circuit diagram illustrating an embodiment of the
상기 상시구동부(512_1)는 상기 차동증폭부(513)의 모스트랜지스터(NM511)의 드레인과 전원전압(VDD)의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 모스트랜지스터(PM711,PM731),(PM712,PM732)와, 상기 차동증폭부(513)의 모스트랜지스터(NM512)의 드레인과 전원전압(VDD)의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 모스트랜지스터(PM721,PM741),(PM722,PM742)를 구비한다. 상기 간헐구동부(512_2)는 상기 모스트랜지스터(PM711,PM731),(PM712,PM732)에 동일 구조로 추가로 병렬접속되는 모스트랜지스터(PM713,PM733),(PM714,PM734)와, 상기 모스트랜지스터(PM721,PM741),(PM722,PM742)에 동일 구조로 추가로 병렬접속되는 모스트랜지스터(PM723,PM743),(PM724,PM744)를 구비한다. The constant driving units 512_1 are connected in series between the drain of the MOS transistor NM511 of the
도 7을 참조하면, 상기 모스트랜지스터(PM711,PM712),(PM721,PM722)의 게이트에는 상기 커런트로드 제어부(511)로부터 커런트로드 제어신호(CS_FC11, CS_FC12),(CS_FC21, CS_FC2)가 상시 '로우'로 공급되고, 상기 모스트랜지스터(PM731,PM732),(PM741,PM742)의 게이트에는 피바이어스전압(PBIAS)이 상시 '로우'로 공급된다. Referring to FIG. 7, current load control signals CS_FC11, CS_FC12, and CS_FC21 and CS_FC2 are always 'low' from the
따라서, 전원전압(VDD)의 레벨 변동에 관계없이 상기 상시구동부(512_1)의 모스트랜지스터(PM711,PM731),(PM712,PM732),(PM721,PM741),(PM722,PM742)가 상시 구동된다. 이에 따라, 상기 차동증폭부(513)의 모스트랜지스터(PM511),(PM512)가 구동되어 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 소정 주파수의 클럭신호가 출력된다. Therefore, the MOS transistors PM711, PM731, PM712, PM732, PM721, PM741, and PM722, PM742 of the driving unit 512_1 are always driven regardless of the level variation of the power supply voltage VDD. Accordingly, the MOS transistors PM511 and PM512 of the
상기 전원전압(VDD)의 레벨이 하강되지 않고 정상적으로 공급되는 경우, 상기 모스트랜지스터(PM711,PM731),(PM712,PM732),(PM721,PM741),(PM722,PM742)가 구동되는 것에 의해 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호가 출력된다. When the level of the power supply voltage VDD is supplied normally without being lowered, the output is driven by driving the MOS transistors PM711, PM731, PM712, PM732, PM721, PM741, and PM722, PM742. The clock signal of the target frequency is output to the terminal OUT and the inverting output terminal OUTB.
그런데, 상기 전원전압(VDD)의 레벨이 하강되는 경우, 상기와 같이 상시구동부(512_1)의 모스트랜지스터(PM711,PM731),(PM712,PM732),(PM721,PM741),(PM722, PM742)만 구동시키면 해당 지연셀에 공급되는 전류량이 부족하게 되어 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 없게 된다. However, when the level of the power supply voltage VDD is lowered, only the MOS transistors PM711, PM731, PM712, PM732, PM721, PM741, and PM722 and PM742 of the normally driving unit 512_1 as described above. When driven, the amount of current supplied to the corresponding delay cell is insufficient, so that a clock signal having a target frequency cannot be output to the output terminal OUT and the inverted output terminal OUTB.
하지만, 이때 상기 커런트로드 제어부(511)의 제어에 의해 상기 간헐구동부(512_2)의 모스트랜지스터(PM713,PM733),(PM714,PM734),(PM723,PM743),(PM724, PM744)가 아래의 설명에서와 같이 선택적으로 구동되어 부족되는 만큼의 공급전류가 보상되므로, 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다. However, at this time, the MOS transistors PM713, PM733, PM714, PM734, PM723, PM743, and PM724 and PM744 of the intermittent drive unit 512_2 are controlled below by the
상기 간헐구동부(512_2)의 모스트랜지스터(PM733),(PM734),(PM743),(PM744)의 게이트에는 상기 피바이어스전압(PBIAS)이'로우'로 공급되어 그 모스트랜지스터(PM733), (PM734),(PM743),(PM744)는 구동 가능상태로 있게 된다. 이와 같은 상태에서, 상기 커런트로드 제어부(511)는 전원전압(VDD)의 레벨변동을 검출하여 하강 정도에 상응하는 커런트로드 제어신호(CL_LV11,CL_LV12),(CL_LV21,CL_LV22)를 '로우'로 출력한다. The PBIAS voltage is supplied to the gates of the MOS transistors PM733, PM734, PM743, and PM744 of the intermittent driver 512_2 to low, and the MOS transistors PM733 and PM734. ), PM743, and PM744 are in a driveable state. In this state, the current
예를 들어, 전원전압(VDD)의 하강범위를 제1-4레벨이라 할때 제일 낮은 제1레벨 만큼 하강된 경우 상기 커런트노드 제어부(511)는 상기 커런트노드 제어신호(CL_LV11),(CL_LV21)를 '로우'로 출력한다. 이에 따라, 상기 모스트랜지스터(PM713),(PM714),(PM723),(PM724)중에서 모스트랜지스터(PM713),(PM723)가 추가로 구동된다. 이로 인하여, 상기 모스트랜지스터(PM713,PM733),(PM723,PM743)를 통해 추가로 전류가 흐르게 되므로 그만큼 해당 지연셀에 공급되는 구동전류가 보상된다. 따라서, 상기 출력단자(OUT) 및 반전출력단자(OUTB)에 목표로 하는 주파수의 클럭신호를 출력할 수 있게 된다. For example, when the falling range of the power supply voltage VDD is lowered by the lowest first level when the falling range is the first to fourth levels, the current
본 발명이 상기 도 7의 실시예로 한정되는 것이 아니라, 동일한 원리를 적용하여 다양하게 커런트로드의 전류를 보상할 수 있다. 예를 들어, 상기 상시구동부(512_1) 및 간헐구동부(512_2)의 모스트랜지스터들을 상기와 같이 분리하여 제어하지 않고 통합적으로 관리하여 해당 트랜지스터들을 온오프시킬 수 있다. 그리고, 상기 도 7에서는 전원전압(VDD)이 하강되는 경우에 대한 커런트소스의 전류 보상을 예로 하여 설명하였으나, 동일한 원리를 적용하여 상승되는 경우에도 보상할 수 있는 것은 자명한 것이다. The present invention is not limited to the embodiment of FIG. 7, but the same principle may be applied to compensate current of the current load in various ways. For example, the transistors of the normally driving part 512_1 and the intermittent driving part 512_2 may be integrated and managed without being separated and controlled as described above. In FIG. 7, the current compensation of the current source for the case where the power supply voltage VDD falls is described as an example. However, it is obvious that the compensation can be performed even when the power source voltage VDD is increased.
상기 설명에서 트랜지스터의 인용부호가 'NM'으로 표기된 것은 N채널 모스트랜지스터를 의미하고, 'PM'으로 표기된 것은 P채널 모스트랜지스터를 의미한다.In the above description, the reference numeral 'NM' of the transistor denotes an N-channel morph transistor, and the reference “PM” denotes a P-channel morph transistor.
상기의 설명에서는 차동증폭부를 기준으로 하단에 위치한 커런트 소스의 구동을 제어하여 전원전압의 변화에 따른 주파수 오차를 보상하거나, 상단에 위치한 커런트 로드의 구동을 제어하여 전원전압이 변화에 따른 주파수 오차를 보상하는 것을 예로 하였으나, 본 발명이 이에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 차동증폭부를 기준으로 상단에 위치한 커런트 로드와 하단에 위치한 커런트 소스를 모두 제어하여 전원전압의 변화에 따른 주파수 오차를 보상할 수 있다.
In the above description, the frequency error according to the change of the power supply voltage is compensated by controlling the driving of the current source located at the bottom based on the differential amplifier, or the frequency error according to the change of the power supply voltage is controlled by controlling the driving of the current load located at the top. Compensation is taken as an example, but the present invention is not limited thereto. For example, the current load located at the top and the current source located at the bottom of the differential amplifier are controlled to compensate for the frequency error caused by the change in the supply voltage.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 권리범위가 이에 한정되는 것이 아니라 다음의 청구범위에서 정의하는 본 발명의 기본 개념을 바탕으로 보다 다양한 실시예로 구현될 수 있으며, 이러한 실시예들 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
Although the preferred embodiment of the present invention has been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and may be implemented in various embodiments based on the basic concept of the present invention defined in the following claims. Such embodiments are also within the scope of the present invention.
210 : 레플리카 바이어스부 220 :지연셀부
311,411 : 전류미러부 312,412,513 : 차동증폭부
313,514 : 인에이블부 413 : 커런트소스 제어부
414 : 커런트소스 511 : 커런트로드 제어부
512 : 커런트로드 210: replica bias portion 220: delay cell portion
311,411: current mirror 312,412,513: differential amplifier
313,514: enable unit 413: current source control unit
414
512: current load
Claims (15)
상기 지연셀부에 바이어스전압을 공급하는 레플리카 바이어스부;를 포함하는 클럭 발생기에 있어서,
상기 지연셀은 전원전압의 변동에 따라 커런트 소스 또는 커런트 로드의 개방되는 채널수를 제어하여 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기. A delay cell unit having delay cells connected in multiple stages;
In the clock generator comprising a; replica bias unit for supplying a bias voltage to the delay cell unit,
And the delay cell controls the number of open channels of the current source or the current load according to a change in the power supply voltage to generate a clock having a target frequency regardless of the change in the power supply voltage.
전류미러부를 통해 구동전류를 공급받고, 비반전입력력단자 및 반전입력단자에 공급되는 입력전압을 차동증폭하여 그에 따른 주파수의 클럭신호를 발생하는 차동증폭부;
전원전압의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트소스제어신호를 출력하는 커런트소스 제어부; 및,
상기 커런트소스제어신호에 따라 개방되는 커런트소스의 채널수가 제어되어 상기 차동증폭부로 하여금 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생하도록 하는 커런트 소스;를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The method of claim 1, wherein the delay cell
A differential amplifier for receiving a driving current through the current mirror unit, differentially amplifying an input voltage supplied to the non-inverting input force terminal and the inverting input terminal, and generating a clock signal having a frequency corresponding thereto;
A current source controller configured to detect a change in the level of the power supply voltage and output a current source control signal according to the change; And
And a current source for controlling the number of channels of the current source opened according to the current source control signal to cause the differential amplifier to generate a clock having a target frequency irrespective of fluctuations in the power supply voltage. .
상기 차동증폭부의 두 개의 모스트랜지스터의 소스 공통접속점과 접지단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터를 구비하는 고정구동부; 및,
상기 차동증폭부의 두 개의 모스트랜지스터의 소스 공통접속점과 접지단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터를 구비하는 보상구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The method of claim 2, wherein the current source is
A fixed driving unit having a plurality of MOS transistors connected in parallel between the source common connection point of the two MOS transistors of the differential amplifier and the ground terminal in parallel; And
And a compensation driver including a plurality of MOS transistors connected in parallel between the source common connection point and the ground terminal of the two MOS transistors of the differential amplifier and connected in parallel with each other.
The plurality of MOS transistors of claim 3, wherein the plurality of MOS transistors NM611 and NM621 are connected in parallel between the source common connection point of the two MOS transistors of the differential amplifier and the ground terminal. , (NM612, NM622), (NM613, NM623), (NM614, NM624).
The method of claim 4, wherein the plurality of MOS transistors (NM611, NM621), (NM612, NM622), (NM613, NM623), (NM614, NM624) is always driven regardless of the level fluctuation of the power supply voltage. Clock generator.
4. The plurality of MOS transistors of claim 3, wherein the plurality of MOS transistors of the compensation driving unit are connected in parallel between the source common connection point of the two MOS transistors of the differential amplifier and the ground terminal of the plurality of MOS transistors NM615 and NM625. And (NM616, NM626), (NM617, NM627), and (NM618, NM628).
The clock generator of claim 6, wherein an anti-bias voltage NBAIAS is supplied to the gates of the MOS transistors NM625, NM626, NM627, and NM628.
7. The clock generator of claim 6, wherein the MOS transistors (NM615), (NM616), (NM617), and (NM618) are selectively turned on by the current source control signal.
전원전압의 레벨이 변동되는 것을 감지하여 그에 따른 커런트로드제어신호를 출력하는 커런트로드 제어부;
드레인이 상기 커런트 로드의 제3측의 제1,2단자에 접속된 출력단자, 반전출력단자에 각기 접속되고, 게이트는 입력단자, 반전입력단자에 각기 접속된 두 개의 모스 트랜지스터를 구비한 차동증폭부; 및,
상기 커런트로드제어신호에 따라 개방되는 커런트로드의 채널수가 제어되어 상기 차동증폭부로 하여금 전원전압의 변동에 관계없이 목표로 하는 주파수의 클럭을 발생하도록 하는 커런트 로드를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The method of claim 1, wherein the delay cell
A current load controller configured to detect a change in the level of the power supply voltage and output a current load control signal according thereto;
A differential amplifier having two MOS transistors each having a drain connected to an output terminal and an inverting output terminal connected to the first and second terminals on the third side of the current rod, and a gate connected to an input terminal and an inverting input terminal, respectively. part; And
And a current load for controlling the number of channels of the current load opened according to the current load control signal to cause the differential amplifier to generate a clock having a target frequency regardless of a change in power supply voltage.
상기 차동증폭부의 일측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터 및 상기 차동증폭부의 타측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터를 구비하는 상시구동부; 및,
상기 차동증폭부의 일측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터 및 상기 차동증폭부의 타측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터를 구비하는 간헐구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The method of claim 9, wherein the current rod is
A plurality of MOS transistors connected in series between the drain of the MOS transistor on one side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage, and connected in series between the drain of the MOS transistor on the other side of the differential amplifier and the terminal of the power voltage A constant driving unit having a plurality of MOS transistors connected in parallel with each other; And
A plurality of MOS transistors connected in series between the drain of the MOS transistor on one side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage, and connected in series between the drain of the MOS transistor on the other side of the differential amplifier and the terminal of the power voltage And an intermittent driver including a plurality of morph transistors connected in parallel to each other.
상기 차동증폭부의 타측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터(PM721,PM741),(PM722, PM742)를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The plurality of MOS transistors (PM711, PM731), (PM712, PM732) of claim 10, wherein the constant driving part is connected in series between the drain of the MOS transistor on one side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage. ; And
And a plurality of MOS transistors (PM721, PM741) and (PM722, PM742) connected in parallel between the drain of the MOS transistor on the other side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage.
12. The clock generator of claim 11, wherein the MOS transistors PM711, PM731, PM712, PM732, PM721, PM741, and PM722, PM742 are driven at all times regardless of power level variations. .
상기 차동증폭부의 타측의 모스트랜지스터의 드레인과 전원전압의 단자의 사이에 직렬접속되어 서로 병렬접속된 복수의 모스트랜지스터(PM723,PM743), (PM724,PM744)를 포함하는 것을 특징으로 하는 클럭 발생기.
The plurality of MOS transistors (PM713, PM733) and (PM714, PM734) according to claim 10, wherein the intermittent driver is connected in series between the drain of the MOS transistor on one side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage. ; And
And a plurality of MOS transistors (PM723, PM743) and (PM724, PM744) connected in series between the drain of the MOS transistor on the other side of the differential amplifier and the terminal of the power supply voltage.
The clock generator of claim 13, wherein a feed-bias voltage is supplied to the gates of the MOS transistors (PM733), (PM734), (PM743), and (PM744).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110048664A KR101270754B1 (en) | 2011-05-23 | 2011-05-23 | Clock generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110048664A KR101270754B1 (en) | 2011-05-23 | 2011-05-23 | Clock generator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120130600A KR20120130600A (en) | 2012-12-03 |
KR101270754B1 true KR101270754B1 (en) | 2013-06-03 |
Family
ID=47514644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110048664A KR101270754B1 (en) | 2011-05-23 | 2011-05-23 | Clock generator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101270754B1 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6252467B1 (en) | 1999-02-23 | 2001-06-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Voltage controlled oscillator including a plurality of differential amplifiers |
KR20100121096A (en) * | 2009-05-08 | 2010-11-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Delay apparatus in semiconductor integrated circuit and method of controlling the same |
-
2011
- 2011-05-23 KR KR1020110048664A patent/KR101270754B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6252467B1 (en) | 1999-02-23 | 2001-06-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Voltage controlled oscillator including a plurality of differential amplifiers |
KR20100121096A (en) * | 2009-05-08 | 2010-11-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Delay apparatus in semiconductor integrated circuit and method of controlling the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20120130600A (en) | 2012-12-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7521971B2 (en) | Buffer circuit | |
US9190969B2 (en) | Regulator with low dropout voltage and improved stability | |
US7183852B2 (en) | Differential amplifying method and apparatus operable with a wide range input voltage | |
US8274331B2 (en) | Differential receiver | |
US9467109B2 (en) | Differential amplifier with high-speed common mode feedback | |
US20080191673A1 (en) | Series regulator circuit | |
KR20100047226A (en) | Bias generator providing for low power, self-biased delay element and delay line | |
JPH09145804A (en) | Electric potential detecting circuit and semiconductor integrated circuit | |
WO2006134175A2 (en) | Cmos integrated circuit for correction of duty cycle of clock signal | |
US7646234B2 (en) | Integrated circuit and method of generating a bias signal for a data signal receiver | |
US8878609B2 (en) | Differential amplifier circuit | |
KR20160028382A (en) | Crystal oscillation circuit and electronic timepiece | |
US8471635B2 (en) | Bias circuit and amplifier providing constant output current for a range of common mode inputs | |
KR101270754B1 (en) | Clock generator | |
US8362844B2 (en) | Delay circuit and voltage controlled oscillation circuit | |
US20060001446A1 (en) | Duty cycle controlled CML-CMOS converter | |
US10270392B1 (en) | Low-power differential amplifier with improved unity gain frequency | |
CN113452332B (en) | Differential Amplifier | |
US8395437B2 (en) | Charge pump circuit and semiconductor integrated circuit | |
US7030696B2 (en) | Differential amplifier and semiconductor device | |
US8035455B1 (en) | Oscillator amplitude control network | |
JP2005318376A (en) | Signal amplifier circuit | |
JP4854626B2 (en) | Low conductor amplifier | |
US9621022B1 (en) | Method and apparatus for generating complementary signals | |
KR102518864B1 (en) | Amplification circuit with sprit-length compensation scheme |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
X091 | Application refused [patent] | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160526 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170308 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200309 Year of fee payment: 8 |