KR101248798B1 - 석탄성분 분석장치 센서의 표준판 및 이 표준판을 사용한계기오차 보정방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 석탄성분 분석장치 센서간의 계기오차 보정에 적합한 표준판을 제공한다.
본 발명의 석탄성분 분석장치 센서의 표준판은 석탄성분 분석용의 응집된 표준시료를 수용할 수 있는 수용 영역(2)을 구비하는 동시에 측면(1b)측에 표준시료 투입용의 투입용 개구부(1a)를 설치한 케이스 본체(1)와, 이 케이스 본체(1)의 수용 영역(2)의 상면측 개구부(1c)에 장착한 투명 뚜껑부(3)와, 케이스 본체(1)의 측면측에 설치한 투입용 개구부(1a)를 덮는 시료용 뚜껑(4)을 갖고, 상기 투입용 개구부(1a)로부터 표준시료(S)를 수용 영역(2)에 투입하고, 상기 투명 뚜껑부(3) 및 시료용 뚜껑(4)의 전체 둘레를 밀봉부재(12)에 의해 밀봉하여 표준시료(S)를 케이스 본체(1)내에 밀봉 상태로 한 것이다.
석탄, 센서, 분석장치, 표준시료, 밀봉, 표준판, 계기오차, 보정.
Description
도 1은 본 발명의 실시예 1의 표준판을 도시하는 평면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예 1의 표준판을 도시하는 측면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예 1의 표준판을 도시하는 분해 단면도이다.
도 4는 본 발명의 실시예 1의 표준판을 사용한 실시예 2의 계기오차 보정방법의 처리과정을 도시하는 설명도이다.
(부호의 설명)
1 케이스 본체 1a 표준시료 투입용의 투입용 개구부
1b 케이스 본체(1)의 측면
1c 케이스 본체(1)의 상면측 개구부
1d 받이단차부 2 수용 영역
3 투명 뚜껑부 4 시료용 뚜껑
5 고무 실 6 광학유리
7 상면 뚜껑 9 나사
10 석탄성분 분석장치 센서의 표준판
11 나사 구멍 12 밀봉부재
20 기준 석탄성분 분석장치 센서(기준계기 센서)
21 다른 석탄성분 분석장치 센서(일반계기 센서)
30 석탄 S 표준시료
본 발명은 석탄성분 분석장치 센서의 표준판 및 표준판을 사용한 계기오차(각 분석장치간의 측정값차) 보정방법에 관한 것이다.
종래, 예를 들면 석탄을 사용하는 화력 발전소 등에서는, 석탄의 발열분, 탄소분, 회분 등의 각 성분을 미리 측정해 둘 필요가 있었다.
이러한 석탄성분의 측정에는, 다파장형 근적외선 분광광도계의 일종인 석탄성분 분석장치 센서가 사용되고 있다.
종래의 석탄성분 분석장치 센서를 사용한 석탄성분의 측정시에는, 석탄성분 분석장치 센서의 개개의 제품마다 성분 기지의 시료를 몇 검체분 측정하여 검량선(성분을 예지하는 함수)을 각각 구하지 않으면 안되었다.
즉, 신규로 석탄성분 분석장치 센서를 도입할 때는, 그때마다 검량선을 작성하기 위한 시험을 행하지 않으면 안되었다. 이것은, 각 제품마다 광학계에 약간의 계기오차가 있기 때문이며, 만약에 제품마다 검량선을 작성하고 작성한 검량선을 사용하지 않으면, 각 석탄성분 분석장치 센서 본래의 예측성능을 얻을 수 없다는 문제가 있었다.
특허문헌 1에는, 광학 헤드로부터 컨베이어상의 석탄에 적외선을 조사하고, 그 반사광을 수광하여 흡광도 변환값을 구하고, 또한 구한 흡광도 변환값과 미리 설정한 검량선에 기초하여 탄종 성상 판별값을 산출하도록 구성한 탄종 성상 판별방법이 제안되어 있다.
그러나, 이 탄종 성상판별 방법의 경우도 복수의 석탄성분 분석장치 센서간의 계기오차 보정에 언급한 것은 아니다.
(특허문헌 1) 일본 특개평 09-292338호 공보
복수의 석탄성분 분석장치 센서간에 온도조건을 포함시키고 동일 조건에서 표준시료를 측정하는 것을 가능하게 하여, 석탄성분 분석장치 센서간의 계기오차 보정을 효율적으로 행하는 것을 가능하게 하는 표준판이 존재하지 않는 점이다.
본 발명의 석탄성분 분석장치 센서의 표준판은 석탄성분 분석용의 응집된 표준시료를 수용할 수 있는 수용 영역을 구비함과 동시에 측면측에 표준시료 투입용의 개구부를 설치한 케이스 본체와, 이 케이스 본체의 수용 영역의 상면측 개구부에 장착한 투명 뚜껑부와, 케이스 본체의 측면측에 설치한 투입용 개구부를 덮는 시료용 뚜껑을 갖고, 상기 투입용 개구부로부터 표준시료를 수용 영역에 투입하고, 상기 투명 뚜껑부 및 시료용 뚜껑의 전체 둘레를 밀봉하여 표준시료를 케이스 본체내에 밀봉 상태로 한 것을 가장 주요한 특징으로 한다.
(발명을 실시하기 위한 최량의 형태)
본 발명은 복수의 석탄성분 분석장치 센서간에 동일한 조건에서 표준시료를 측정하는 것을 가능하게 하여, 석탄성분 분석장치 센서간의 계기오차 보정을 효율적으로 행하는 것을 가능하게 한다는 목적을, 석탄성분 분석용의 응집된 미분탄으로 이루어지는 표준시료를 수용할 수 있는 수용 영역을 구비함과 동시에 측면측에 표준시료 투입용의 개구부를 설치한 케이스 본체와, 이 케이스 본체의 수용 영역에서의 상면측 개구부에 장착한 투명 뚜껑부와, 케이스 본체의 측면측에 설치한 투입용 개구부를 덮는 시료용 뚜껑을 갖고, 상기 투입용 개구부로부터 표준시료를 수용 영역에 질소분위기하에서 투입하고, 상기 투명 뚜껑부 및 시료용 뚜껑의 전체 둘레를 밀봉부재에 의해 밀봉하여 표준시료를 케이스 본체내에 밀봉 상태로 한 구성에 의해 실현했다.
(실시예)
이하, 본 발명에 따른 석탄성분 분석장치 센서의 표준판 및 이 표준판을 사용한 계기오차 보정방법의 실시예를 설명한다.
(실시예 1)
도 1 내지 도 3을 참조하여 실시예 1의 석탄성분 분석장치 센서의 표준판(10)에 대해 설명한다.
첨부하는 도 1 내지 도 3에 도시하는 본 실시예 1의 석탄성분 분석장치 센서의 표준판(10)은 석탄성분 분석용의 예를 들면 비교적 석탄성상과 비슷한 미분탄과 같은 표준시료(S)를 수용할 수 있는 수용 영역(2)을 구비함과 동시에 측면(1b)측에 표준시료 투입용의 투입용 개구부(1a)를 설치한 케이스 본체(1)와, 이 케이스 본체(1)의 수용 영역(2)의 상면측 개구부(1c)에 장착한 투명 뚜껑부(3)와, 케이스 본체(1)의 측면(1b)측에 설치한 투입용 개구부(1a)를 덮는 시료용 뚜껑(4)을 갖고, 상기 투입용 개구부(1a)로부터 표준시료(S)를 수용 영역(2)에 투입하고, 상기 투명 뚜껑부(3) 및 시료용 뚜껑(4)의 전체 둘레를 예를 들면 퍼티, 접착제 등의 밀봉부재(12)로 밀봉하여 표준시료(S)를 케이스 본체(1)내에 밀봉 상태로 함으로써 구성하고 있다.
상기 표준시료(S)는 예를 들면 미분탄의 미분을 압접 등의 방법에 의해 응집된 상태로 하고 있다. 또한 상기 표준시료(S)의 표준판(10)에 있어서의 수용 영역(2)에의 투입은 질소분위기하에서 행한다.
즉, 투명 뚜껑부(3)는 직사각형 형상의 고무 실(5)과, 광학유리(6)와, 직사각형 형상으로 광학유리(6)의 외주부만을 덮는 상면 뚜껑(7)을 구비하고, 상기 케이스 본체(1)의 상면측 개구부(1c)의 주위에 설치한 받이단차부(1d)에 고무 실(5), 광학유리(6)의 순으로 장착하고, 또한 광학유리(6)상에 상면 뚜껑(7)을 올려놓고 나사(9)로 고정함과 동시에 퍼티, 접착제 등의 밀봉부재(12)에 의해 전체 둘레를 밀봉 상태가 되도록 밀봉하고 있다.
또, 상기 투입용 개구부(1a)로부터 표준시료(S)를 케이스 본체(1)내에 질소분위기하에서 투입한 후, 측면(1b)측의 투입용 개구부(1a)에 직사각형 형상의 고무 실(5), 시료용 뚜껑(4)의 순으로 장착하고, 나사(9)로 고정함과 동시에 퍼티, 접착제 등의 밀봉부재(12)로 상기 투입용 개구부(1a)의 전체 둘레를 밀봉 상태가 되도 록 밀봉하고 있다. 또한, 도 3중에서의 부호(11)은 나사 구멍이다.
이와 같이 구성한 실시예 1의 표준판(10)에 의하면, 응집된 표준시료(S)를 케이스 본체(1)내에 밀봉 상태로 봉입하고 있으므로, 상기 표준시료(S)의 광학특성의 변화가 사라지고, 또, 상기 표준시료(S)가 케이스 본체(1)내로 이동하는 일도 사라진다.
이 결과, 복수의 석탄성분 분석장치 센서, 예를 들면 다파장형(바람직하게는 4파장형 또는 7파장형중 어느 하나의 파장형)중, 후술하는 4파장형의 기준 석탄성분 분석장치 센서인 기준계기 센서(20)와, 4파장형의 다른 석탄성분 분석장치 센서인 일반계기 센서(21)로 온도조건을 포함시키고 동일 조건에서 상기 표준시료(S)를 정밀도 좋게 측정하는 것이 가능하게 되어, 기준 석탄성분 분석장치 센서인 기준계기 센서(20), 다른 석탄성분 분석장치 센서인 일반계기 센서(21)간의 계기오차 보정에 적합하게 된다.
본 발명에서의 기준 석탄성분 분석장치 센서 및 다른 석탄성분 분석장치 센서는 다파장형의 것이고, 바람직하게는 4파장형 또는 7파장형중 어느 하나의 파장형의 석탄성분 분석장치 센서이다.
(실시예 2)
다음에 도 4를 참조하여 실시예 2인 상기 표준판(10)을 사용한 기준 석탄성분 분석장치 센서(이하 「기준계기 센서」라고 함)(20)와, 다른 석탄성분 분석장치 센서(이하 「일반계기 센서」라고 함)(21)간의 계기오차 보정방법에 대하여 설명한다.
또한, 기준계기 센서(20)에 대해서는 검량선이 작성 완료이고, 일반계기 센서(21)에 대해서는 검량선은 미작성이라고 하고 이하의 설명을 행한다. 또, 상기 응집된 표준판(10)을 사용하여, 이 표준시료(S)를 기준계기 센서(20)와 일반계기 센서(21)로 온도조건을 포함시키고 동일 조건에서 정밀도 좋게 측정한다. 온도조건을 동일하게 함으로써 기준계기 센서(20)와, 일반계기 센서(21)에서 온도의 차이에 의한 측정오차가 발생하는 것을 피할 수 있다.
그리고, 기준계기 센서(20)와, 일반계기 센서(21)간의 측정값의 차인 흡광도차(일반계기 센서(21)의 흡광도)-(기준계기 센서(20)의 흡광도)를 도시하지 않은 연산수단에 의해 구한다. 이 흡광도차는 4파장에 대해 각각 구한다(파장 1 보정값 내지 파장 4 보정값).
한편, 일반계기 센서(21)에 의해 석탄(30)의 파장 1 내지 파장 4에 대한 각 실측 흡광도를 측정하고, 또, 일반계기 센서(21)에 대해 상기 각 흡광도차의 값이 도시하지 않은 입력수단에 의해 이식(입력))되고, 각 실측 흡광도에 대해 상기 각 흡광도차를 사용하여 도시하지 않은 연산수단에 의해 (실측 흡광도)-(흡광도차)의 수식에 의한 계기오차 보정을 행한다.
이것에 의해, 일반기기 센서(21)의 파장 1 내지 파장 4에 대한 각 실측 흡광도는 계기오차 보정후의 파장 1' 내지 파장 4'에 대한 흡광도로 변환된다.
이후, 보정후의 파장 1' 내지 파장 4'에 대한 흡광도에 관하여 상기 기준계기 센서(20)의 기준계기 검량선 데이터를 사용한 중회귀연산이 도시하지 않은 연산수단에 의해 실행되어, 석탄(30)의 성상예측값이 고정밀도로 구해진다.
이 계기오차 보정방법에 의하면, 전술한 바와 같이 하여 상기 실시예 1의 표준판(10)을 사용하여 기준계기 센서(20)와, 일반계기 센서(21) 사이의 흡광도차를 정밀도 좋게 구하고, 구한 흡광도차를 일반계기 센서(21)에 이식하고, 이 일반계기 센서(21)에 의한 측정시에, (실측 흡광도)-(흡광도차)의 수식에 의한 계기오차 보정을 행하는 것이므로, 일반계기 센서(21)에 있어서도 기준계기 센서(20)의 검량선을 사용하여 석탄성분 분석을 실행할 수 있고, 이것에 의해 새롭게 일반계기 센서(21)를 도입할 때마다 검량선을 작성하는 번잡함이 없어져, 석탄성분 분석의 작업능률의 향상을 도모할 수 있게 된다.
또, 상기 표준판(10)을 사용한 계기오차 보정시험은 간편하고, 검량선 작성 시험에 비해 소규모인 시험으로도 가능하다는 이점도 있다.
(산업상의 이용가능성)
본 발명은, 전술한 바와 같은 석탄성분 분석에 적용하는 경우 이외에, 쌀, 보리 등 각종 곡류의 입상물을 수용한 표준판을 작성하여 곡류의 성분 분석을 행하는 경우 등에 폭넓게 적용가능하다.
청구항 1 기재의 발명에 의하면, 상기 케이스 본체에 대해 투명 뚜껑부 및 시료용 뚜껑의 전체 둘레를 밀봉하여 상기 석탄성분 분석용의 응집된 표준시료를 케이스 본체내에 밀봉 상태로 한 것이기 때문에, 표준시료의 광학특성의 변화가 없어져, 복수의 석탄성분 분석장치 센서, 예를 들면 기준 석탄성분 분석장치 센서와, 다른 석탄성분 분석장치 센서로 동일한 조건에서 표준시료를 측정하는 것이 가능하 게 되어, 석탄성분 분석장치 센서간의 계기오차 보정에 매우 적합한 표준판을 제공할 수 있다.
또, 상기 표준시료는 응집된 상태로 하고 있으므로, 상기 표준시료가 케이스 본체내에서 이동하지 않아, 이것에 의해 측정정밀도를 향상할 수 있다.
청구항 2 기재의 발명에 의하면, 응집된 미분탄으로 이루어지는 표준시료를 투입용 개구부로부터 수용 영역에 질소분위기하에서 투입하고, 상기 투명 뚜껑부 및 시료용 뚜껑의 전체 둘레를 밀봉부재로 밀봉하여 표준시료를 케이스 본체내에 밀봉상태로 한 구성으로, 상기 청구항 1 기재의 발명과 동일한 효과를 이루는 표준판을 제공할 수 있다.
청구항 3 내지 5 기재의 발명에 의하면, 상기한 표준판을 사용하여 각 석탄성분 분석장치 센서간의 측정값의 차인 흡광도차를, 온도조건을 포함시키고 동일조건에서의 측정에 의해 정밀도 좋게 구하고, 구한 흡광도차를 다른 석탄성분 분석장치 센서에 이식하고, 이밖의 석탄성분 분석장치 센서에 의한 측정시에, (실측 흡광도)-(흡광도차)의 수식에 의한 계기오차 보정을 행하고, 석탄성분 분석을 실행하는 것이다.
따라서, 다른 석탄성분 분석장치 센서에서도 기준 석탄성분 분석장치 센서의 검량선을 사용하여 석탄성분 분석을 실행할 수 있고, 이것에 의해 다른 석탄성분 분석장치 센서를 도입할 때마다 검량선을 작성하는 번잡함이 없어져, 석탄성분 분석의 작업능률의 향상을 도모할 수 있는 표준판을 사용한 계기오차 보정방법을 제공할 수 있다. 또, 상기 기준 석탄성분 분석장치 센서 및 다른 석탄성분 분석장 치 센서를, 다파장형, 바람직하게는 4파장형 또는 7파장형중 어느 하나의 파장형의 석탄성분 분석장치 센서로 함으로써 고정밀도로 석탄성분 분석을 행할 수 있다.
Claims (5)
- 석탄성분 분석용의 미분탄의 미분을 압접 방법에 의해 응집한 상태로 한 표준시료를 수용할 수 있는 수용 영역을 구비함과 동시에 측면측에 표준시료 투입용의 개구부를 설치한 케이스 본체와,직사각형 형상의 고무 실과, 광학유리와, 직사각형 형상으로 광학유리의 외주부만을 덮는 상면 뚜껑을 구비하고, 상기 케이스 본체의 상면측 개구부의 주위에 설치한 받이단차부에 고무 실, 광학유리의 순으로 장착하고, 또한 광학유리상에 상면 뚜껑을 올려놓고 나사로 고정함과 동시에 퍼티 또는 접착제의 밀봉부재에 의해 전체 둘레를 밀봉 상태가 되도록 밀봉하여 구성하고, 상기 케이스 본체의 수용 영역의 상면측 개구부에 장착한 투명 뚜껑부와,케이스 본체의 측면측에 설치한 투입용 개구부를 덮는 시료용 뚜껑을 갖고,상기 투입용 개구부로부터 미분탄의 미분을 압접 방법에 의해 응집한 상태로 한 표준시료를 질소분위기 하에서 수용 영역에 투입하고, 상기 응집 표준시료가 상기 케이스 내에서 이동하지 않도록 구성하여 측정 정밀도를 향상시킬 수 있도록 함과 동시에, 상기 투명 뚜껑부 및 시료용 뚜껑의 전체 둘레를 퍼티 또는 접착제의 밀봉부재로 밀봉하여 표준시료를 케이스 본체내에 밀봉 상태로 구성하여 상기 응집 표준시료의 광학특성의 변화가 사라지도록 한 것을 특징으로 하는, 석탄성분 분석장치 센서의 표준판.
- 삭제
- 미분탄의 미분을 압접 방법에 의해 응집한 상태로 한 표준시료를 케이스 본체내에 질소분위기 하에서 수용하고 밀봉 상태로 하여 제 1 항의 표준판을 작성하고,이 표준판의 미분탄의 미분을 압접 방법에 의해 응집한 상태로 한 표준시료를, 4파장형 또는 7파장형 중 어느 하나의 파장형의 기준 석탄성분 분석장치 센서와, 4파장형 또는 7파장형 중 어느 하나의 파장형의 다른 석탄성분 분석장치 센서로 온도조건을 포함하는 동일 조건에서 측정하여, 각 석탄성분 분석장치 센서간의 측정값의 차인 흡광도차를 구하고,이 구한 흡광도차를 다른 석탄성분 분석장치 센서에 이식하고,다른 석탄성분 분석장치 센서에 의한 측정시에, (실측 흡광도)-(흡광도차)의 계기오차 보정을 행하여 상기 기준 석탄성분 분석장치 센서의 검량선의 사용을 가능하게 하는 것을 특징으로 하는, 표준판을 사용한 계기오차 보정방법.
- 삭제
- 삭제
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| KR1020050072429A KR101248798B1 (ko) | 2005-08-08 | 2005-08-08 | 석탄성분 분석장치 센서의 표준판 및 이 표준판을 사용한계기오차 보정방법 |
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| KR20070017822A KR20070017822A (ko) | 2007-02-13 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2001215189A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Tohoku Electric Power Co Inc | 石炭成分分析装置センサーの標準板及び該標準板を用いた器差補正方法 |
-
2005
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Patent Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| JP2001215189A (ja) * | 2000-02-02 | 2001-08-10 | Tohoku Electric Power Co Inc | 石炭成分分析装置センサーの標準板及び該標準板を用いた器差補正方法 |
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