KR101237405B1 - Quality Inspection Appartus of TFT LCD Module - Google Patents
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Abstract
본 발명은 TFT-LCD 모듈의 생산품에 대해 출력 영상 화질을 장시간 동안 검사하는 화질검사장치에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 TFT-LCD 모듈의 공급 전원단에 발생되는 전류검출 데이터의 이상 유무를 통해 화질의 이상유무를 판단함으로써 설치비용 등의 작업비용과 전수검사가 가능해지는 TFT-LCD 모듈의 화질검사장치에 관한 것이다.
이를 위해 본 발명은 TFT-LCD 모듈에 싱크 신호 및 R,G,B 데이터 형태의 패턴 신호를 포함한 구동신호를 전송하여 영상이 출력되도록 하며 TFT-LCD 모듈의 구동 전원을 공급하는 영상제어부와, 상기 영상제어부에서 TFT-LCD 모듈로 인가되는 전원단에 설치되어 인가되는 전류를 측정하는 전류계측기와, 상기 영상제어부로부터 상기 TFT-LCD 모듈에 전송하는 싱크 신호를 함께 전송받으며, 상기 전류계측기로부터 측정된 전류검출 데이터를 전송받아 이를 조합함에 따라 출력되는 영상의 이상이 발생된 경우 이상유무를 판단하여 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 전류체크보드를 포함하여 이루어진다.The present invention relates to an image quality inspection device for inspecting the output image quality for a long time for the product of the TFT-LCD module. More particularly, the present invention relates to image quality through abnormality of current detection data generated at the power supply terminal of the TFT-LCD module. The present invention relates to an image quality inspection apparatus for a TFT-LCD module, which enables operation costs such as installation costs and total inspection by determining whether there is an abnormality.
To this end, the present invention transmits a drive signal including a sink signal and a pattern signal in the form of R, G, B data to the TFT-LCD module to output the image and to supply the driving power of the TFT-LCD module, and The current meter is installed at the power supply terminal applied to the TFT-LCD module in the image control unit, and receives the sink signal transmitted from the image controller to the TFT-LCD module together. When the current detection data is received and combined with the combination of the detection of the output image is generated, it is determined to include the current check board for outputting a normal or abnormal trigger signal.
Description
본 발명은 TFT-LCD 모듈의 생산품에 대해 출력 영상 화질을 장시간 동안 검사하는 화질검사장치에 관한 것으로서 더욱 상세하게는 TFT-LCD 모듈의 공급 전원단에 발생되는 전류검출 데이터의 이상 유무를 통해 화질의 이상유무를 판단함으로써 설치비용 등의 작업비용과 전수검사가 가능해지는 TFT-LCD 모듈의 화질검사장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an image quality inspection device for inspecting the output image quality for a long time for the product of the TFT-LCD module. More particularly, the present invention relates to image quality through abnormality of current detection data generated at the power supply terminal of the TFT-LCD module. The present invention relates to an image quality inspection apparatus for a TFT-LCD module, which enables operation costs such as installation costs and total inspection by determining whether there is an abnormality.
현재 TFT-LCD를 양산하기 전 개발품에 대해 품질 파트에서 모델에 따라 900시간 동안 온도/습도를 다양하게 인가하여 장시간 동안 제품의 신뢰도를 검증하는 공정을 수행한다. Before mass production of TFT-LCD, the process of verifying the reliability of the product for a long time by applying various temperature / humidity for 900 hours depending on the model in the quality part for the developed product.
이러한 상기 신뢰도 평가는 작업자를 통한 육안 검사로 이루어지거나 고가의 촬영 검사 장비를 통한 검사방식으로 이루어지는데, 검사 장비를 통한 검사방식의 경우 장비 설치 공간, 설치 비용 등의 부담이 발생되며 촬영 검사 장비가 신뢰도 검사시간 동안 전체를 저장하는 것이 아니라 TFT-LCD의 패턴 변화 시간(2초)에 따라 각 패턴별 1장의 이미지만 저장하여 판단하는 경우가 많아 전수 검사가 불가능한 문제점이 발생 된다.The reliability evaluation is made by visual inspection by an operator or by an inspection method using expensive photographing inspection equipment. In the case of the inspection method through inspection equipment, a burden such as equipment installation space and installation cost is generated and the photographing inspection equipment is Instead of storing the whole during the reliability test time, only one image for each pattern is judged according to the pattern change time (2 seconds) of the TFT-LCD.
아울러 육안 검사방식의 경우 대부분 작업자가 신뢰도 평가 시간 중 일정 시간 동안만 검사할 수 밖에 없어 작업자가 검시하고 있지 않은 시간에 이상 동작이 발생되어 곧 정상으로 원복된 경우에는 작업자가 TFT-LCD의 이상을 발견할 수 없어 양품판정을 받을 수 있는 가능성이 발생 된다.In addition, in the case of the visual inspection method, most of the workers can only inspect for a certain period of time during the evaluation of reliability, and abnormal operation occurs at a time when the operator is not inspecting. There is a possibility of finding a good decision without being found.
따라서, TFT-LCD 검사 시스템의 구축 비용 감소와 전수 검사가 가능한 화질 평가장치의 제안이 요구된다.
Therefore, there is a need to reduce the construction cost of the TFT-LCD inspection system and to propose an image quality evaluation apparatus capable of full inspection.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서 TFT-LCD 모듈의 패턴 신호에 따른 영상 출력의 화질 이상 발생시에 전원 공급단으로 인가되는 전류도 함께 변화되는 점을 착안하여 TFT-LCD 모듈의 전원 공급단에 전류 데이터를 검출하는 전류계측기와 이를 통해 화질이상 유무를 판단하는 전류체크보드를 구성함으로써 기존의 육안 검사 및 고가의 촬영 장비를 통한 화질검사 방식과 달리 작업비용이 대폭 감소되며 전수 검사가 가능해지는 TFT-LCD 모듈의 화질검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.
The present invention has been made to solve the above problems, and focuses on the fact that the current applied to the power supply terminal also changes when the image output abnormality occurs according to the pattern signal of the TFT-LCD module. By constructing a current meter to detect current data at the supply stage and a current check board to determine whether there is an image quality abnormality, work costs are greatly reduced, compared to conventional visual inspection and expensive imaging equipment. It is an object of the present invention to provide an image quality inspection apparatus for a TFT-LCD module.
본 발명은 상기의 목적을 달성하기 위해 아래와 같은 특징을 갖는다.The present invention has the following features to achieve the above object.
본 발명은 TFT-LCD 모듈(50)에 싱크 신호와 R,G,B 데이터 형태의 패턴 신호를 포함한 구동신호를 전송하여 영상이 출력되도록 하고, TFT-LCD 모듈(50)의 구동 전원을 공급하며, 상기 TFT-LCD 모듈(50)로 패턴 신호 수량만큼 입력 후 상기 수량의 패턴신호를 재반복하여 입력하는 영상제어부(10)와, 상기 영상제어부(10)에서 TFT-LCD 모듈(50)로 인가되는 전원단에 연결되어 인가되는 전류를 측정하는 전류계측기(20)와, 상기 영상제어부(10)로부터 상기 TFT-LCD 모듈(50)에 전송하는 싱크 신호를 함께 전송받으며, 상기 전류계측기(20)로부터 측정된 전류검출 데이터를 전송받아 상기 싱크 신호와 전류 검출 데이터를 조합한 조합 전류 데이터와 레퍼런스 데이터 간의 차이를 이용하여 이상유무를 판단하여 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 전류체크보드(30)를 포함하되, 상기 전류체크보드는 상기 영상제어부(10)의 최초 패턴 신호 수량 만큼의 입력에 따른 상기 조합 전류 데이터를 레퍼런스 데이터로 저장하고, 이후의 패턴 신호 재반복 입력시에는 상기 레퍼런스 데이터를 기준으로 상기 이후 패턴 신호 재반복 입력시에 생성되는 조합 전류 데이터의 이상 유무를 판단하는 것을 특징으로 한다.The present invention transmits a driving signal including a sync signal and a pattern signal in the form of R, G, and B data to the TFT-
여기서 상기 전류체크보드는 전류계측기(20)로부터 전송받은 전류검출 데이터를 증폭하는 전류증폭부(31)와, 상기 증폭된 아날로그 형태의 전류검출 데이터를 디지털 형태의 데이터로 변환하는 A/D컨버터(32)와, 상기 A/D컨버터(32)로부터 전류검출 데이터를 전달받고 영상제어부(10)로부터 싱크 신호를 전달받아 상기 싱크 신호와 전류검출 데이터를 조합하여 생성되는 조합 전류 데이터를 저장하며 조합 전류 데이터와 상기 레퍼런스 데이터를 비교하여 차이가 있는 경우 그 차이를 감지하여 화질이상유무를 판단하고 이상유무에 따른 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 에러판단부(33)와, 레퍼런스 데이터를 저장하여 상기 에러판단부(33)로 레퍼런스 데이터를 전송하고 상기 에러판단부(33)의 초기화 또는 동작 제어를 수행하는 마이크로프로세서(34)와, 상기 에러판단부(33)로 입력되는 데이터의 래치 기준 클럭 신호를 에러판단부(33)로 전송하는 오실로코프(35)를 포함하여 이루어진다.
Here, the current check board includes a
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본 발명에 따르면 기존의 육안 검사 방식 또는 고가의 촬영 장비를 통한 검사 방식에서 불가능하였던 전수 검사가 가능해져 화질검사 결과의 신뢰도가 대폭 향상되는 효과가 있다. According to the present invention, it is possible to perform the whole inspection, which was impossible in the conventional visual inspection method or the inspection method through expensive photographing equipment, and thus, the reliability of the image quality inspection result is greatly improved.
아울러 본 발명에 따른 화질검사장치의 경우 구성이 비교적 간단하여 화질검사시 요구되는 작업비용이 기존의 육안 검사 또는 촬영 검사 방식보다 현저하게 절감되는 효과가 있어 생산자의 생산 효율을 증대시키는 효과가 있다.
In addition, the image quality inspection apparatus according to the present invention has a relatively simple configuration, the operation cost required for image quality inspection is significantly reduced than the conventional visual inspection or photographing inspection method has the effect of increasing the production efficiency of the producer.
도 1은 본 발명에 따른 화질검사장치의 개략적인 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 전류체크보드의 개략적인 구성도이다.
도 3은 본 발명에 따른 이상 전류 데이터의 산출과정을 나타내는 도면이다.1 is a schematic configuration diagram of an image quality inspection apparatus according to the present invention.
2 is a schematic configuration diagram of a current check board according to the present invention.
3 is a diagram illustrating a process of calculating abnormal current data according to the present invention.
이하에서는 본 발명에 따른 화질검사장치에 대해 첨부되는 도면과 함께 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, the image quality inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 화질검사장치의 개략적인 구성도이며, 도 2는 본 발명에 따른 전류체크보드의 개략적인 구성도이고, 도 3은 본 발명에 따른 이상 전류 데이터의 산출과정을 나타내는 도면이다.1 is a schematic configuration diagram of an image quality inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a current check board according to the present invention, and FIG. 3 is a view illustrating a process of calculating abnormal current data according to the present invention. to be.
도면을 참조하면, 본 발명에 따른 화질평가장치는 크게 TFT-LCD 모듈(50)에 싱크 신호 및 R,G,B 데이터 형태의 패턴 신호를 포함한 구동신호를 전송하여 영상이 출력되도록 하며 TFT-LCD 모듈(50)의 구동 전원을 공급하는 영상제어부(10)와, 상기 영상제어부(10)에서 TFT-LCD 모듈(50)로 인가되는 전원단에 설치되어 인가되는 전류를 측정하는 전류계측기(20)와, 상기 영상제어부(10)로부터 상기 TFT-LCD 모듈(50)에 전송하는 싱크 신호를 함께 전송받으며, 상기 전류계측기로부터 측정된 전류검출 데이터를 전송받아 이를 조합함에 따라 출력되는 영상의 이상이 발생된 경우 이상유무를 판단하여 트리거 신호를 출력하는 전류체크보드(30)로 이루어진다.Referring to the drawings, the image quality evaluation apparatus according to the present invention transmits a driving signal including a sink signal and a pattern signal in the form of R, G, and B data to the TFT-
여기서 상기 영상제어부(10)는 상기 TFT-LCD 모듈(50)에 화질 검사를 위한 다수의 패턴 신호를 공급하여 TFT-LCD 모듈(50) 화면에 영상출력되도록 하며 싱크 신호를 TFT-LCD 모듈(50) 및 전류체크보드(30)로 전송하도록 구비된다. Here, the
상기 패턴 신호는 R,G,B 데이터 형태의 표준시험 구동신호로 패턴 신호의 수량은 20개 내지 100개 정도인 것이 바람직하며, 패턴 신호의 수량이 40개인 경우 1부터 40까지 전송 후 다시 1부터 40으로 반복 전송하게 된다. The pattern signal is a standard test drive signal in the form of R, G, B data, and the quantity of the pattern signal is preferably 20 to about 100, and when the quantity of the pattern signal is 40, the data is transmitted from 1 to 40 and then from 1 again. Repeated transmission to 40.
아울러 상기 영상제어부(10)는 TFT-LCD 모듈(50)을 구동시키기 위한 구동 전원을 공급하는데, 전원 공급단에 후술할 전류계측기(20)가 설치되게 된다. In addition, the
본 발명의 가장 큰 특징 중 하나가 이러한 전원 공급단의 전류값을 계측하여 화질이상유무를 판단하도록 한 것인데, TFT-LCD 모듈(50) 상에 화질 이상이 발생될 경우 전원 공급단에도 이상 발생 시간 동안 기존의 레퍼런스 전류값과 다른 이상 전류값을 나타내게 된다.One of the greatest features of the present invention is to determine whether there is an image quality abnormality by measuring the current value of the power supply terminal. When an image quality abnormality occurs on the TFT-
이러한 이상 전류값을 후술할 전류체크보드(30)에서 저장하게 되면 시험 검수자가 이상 발생시 검수중이 아니더라도 이상 발생 여부를 알 수 있게 되어 전수 검사가 가능해지는 것이다. When the abnormal current value is stored in the
이와 같은 전원 공급단의 이상 전류값 검출 구성은 기존의 고가 영상 검출 장비보다 훨씬 간단한 구성이므로 설치 비용이 간단할 뿐만 아니라 전수검사가 가능하게 되어 화질검사의 신뢰도 및 비용절감을 유도할 수 있다.Since the abnormal current value detection configuration of the power supply stage is much simpler than the existing expensive image detection equipment, not only the installation cost is simple, but also a full inspection can be performed, thereby inducing the reliability and cost reduction of the image quality inspection.
아울러 상기 영상제어부(10)를 통한 TFT-LCD 모듈(50)로의 구동전원 공급은 영상제어부(10)가 아닌 별도의 전원공급장치를 구비하여 TFT-LCD 모듈(50)로 인가할 수 있음은 물론이며 이 경우 전류계측기(20)는 상기 전원공급장치와 TFT-LCD 모듈(50) 간의 공급 전원단에 연결되어 인가 전류를 검출하게 될 것이다.In addition, the driving power supply to the TFT-
한편 상기 전류계측기(20)는 상기 영상제어부(10)에서 TFT-LCD 모듈(50)로 인가되는 전원단에 설치되어 인가되는 전류를 측정하도록 구비되는데, 이때 측정되는 전류검출 데이터는 아날로그 형태의 데이터로서 전류체크보드(30)의 에러판단부(33)에서 이를 전송받아 디지털 형태의 데이터로 변환하게 된다. On the other hand, the
아울러 상기 전류체크보드(30)는 상기 영상제어부(10)와 전류계측기(20)로부터 각각 싱크 신호 및 전류검출 데이터를 전송받아 이를 조합한 전류 데이터를 생성하고 이를 레퍼런스 데이터와 비교하여 이상유무를 판단하도록 구비된다.In addition, the
이는 정상 상태의 영상 출력인 경우 전류계측기(20)로부터 전달받는 전류검출 데이터에 이상전류 발생구간이 발생되지 않으나, 영상 출력이 비정상적인 경우 전류검출 데이터에 이상전류 발생구간이 발생되고 이는 레퍼런스 데이터와 상이하므로 이상전류 발생구간만큼 비정상 트리거 신호를 출력하게 된다. This means that the abnormal current generation section is not generated in the current detection data received from the
이러한 상기 전류체크보드(30)는 전류계측기(20)로부터 전송받은 전류검출 데이터를 증폭하는 전류증폭부(31)와, 상기 증폭된 아날로그 형태의 전류검출 데이터를 디지털 형태의 데이터로 변환하는 A/D컨버터(32)와, 상기 A/D컨버터(32)로부터 전류검출 데이터를 전달받고 영상제어부(10)로부터 싱크 신호를 전달받아 이를 조합하여 전류 데이터를 저장하며 조합된 전류 데이터와 레퍼런스 데이터를 비교하여 차이가 있는 경우 이를 감지하여 화질이상유무를 판단하고 이상유무에 따른 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 에러판단부(33)와, 레퍼런스 데이터를 저장하여 상기 에러판단부(33)로 레퍼런스 데이터를 전송하고 상기 에러판단부(33)의 초기화 또는 동작 제어를 수행하는 마이크로프로세서(34)와, 상기 에러판단부(33)로 입력되는 데이터의 래치 기준 클럭 신호를 에러판단부(33)로 전송하는 오실로코프(35)로 구성된다.The
여기서 상기 전류증폭부(31)는 도 2에서 도시된 바와 같이 전류계측기(20)로부터 입력되는 전류검출값을 증폭하여 A/D컨버터(32)로 전달하고, A/D컨버터(32)는 이를 디지털 형태의 데이터 값으로 변환하여 에러판단부(33)로 전송한다. Here, the
또한 상기 에러판단부(33)는 영상제어부(10)로부터 전송받은 싱크 신호와 상기 A/D컨버터(32)로부터 전송받은 디지털 형태의 전류검출 데이터를 Add하여 전류 데이터(Read data)를 생성한다. In addition, the
이에 따라 생성된 전류 데이터(리드 데이터)는 에러판단부(33)에 의해 미리 사전에 생성된 레퍼런스 데이터 즉, 정상상태에서의 표준 전류 데이터와 비교하여 패턴이 상이한 구간을 검출한다. The current data (lead data) generated in this way is compared with reference data generated in advance by the
이때 상이한 구간이 검출되면 상기 에러판단부(33)는 외부로 비정상 트리거(Trigger) 신호를 출력하게 되며 상이한 구간이 아닌 경우에는 정상 트리거 신호를 출력하게 된다. In this case, when a different section is detected, the
필요에 따라 별도의 제어수단을 설치하여 상기 에러판단부(33)로부터 비정상 트리거 신호를 전송받는 경우 부저 또는 경광등과 같은 호출수단으로 구동 신호를 보내도록 구성할 수 있다.If necessary, by installing a separate control means may be configured to send a drive signal to a call means such as a buzzer or a warning light when receiving the abnormal trigger signal from the
한편 상기 에러판단부(33)로의 전송되어 이상유무를 판단하기 위한 레퍼런스 데이터는 다양하게 생성될 수 있는데, 본 발명의 일실시예에 따른 레퍼런스 데이터는 영상제어부(10)에서 패턴 신호 입력시 패턴 신호 수량만큼 인가한 후 재반복하여 인가하게 되는데, 이때 최초 패턴 신호 수량 만큼의 입력에 따른 에러판단부(33)의 조합 전류 데이터를 에러판단부(33)로부터 마이크로프로세서(34)가 전달받아 저장하고 이후 패턴 신호 재반복 입력시 에러판단부(33)가 마이크로프로세서(34)로부터 레퍼런스 데이터를 전달받게 된다.Meanwhile, reference data for determining whether an abnormality is transmitted to the
예를 들어 패턴 신호 수량이 40개인 경우 최초 40개의 패턴 신호 입력시에는 에러판단부(33)에서 생성된 조합 전류 데이터를 마이크로프로세서(34)가 전달받아 레퍼런스 데이터로 저장하고 이후 패턴 신호 입력시에 해당 패턴 신호 입력에 따른 전류 데이터와 레퍼런스 데이터를 비교하여 이상구간이 있는지 판단하게 되는 것이다. For example, when the number of pattern signals is 40, when the first 40 pattern signals are input, the combined current data generated by the
한편 본 발명의 다른 실시예에 따른 레퍼런스 데이터는 도 2에 도시된 바와 같이 별도의 관리단말기(40)를 두어 관리단말기에 TFT-LCD 모듈(50)의 모델별, 패턴별 레퍼런스 데이터 값이 미리 저장되도록 함으로써 화질검사시 에러판단부(33)가 마이크로프로세서(34)를 통해 레퍼런스 데이터를 전달받도록 한다. Meanwhile, as reference data according to another embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2, a
아울러 도 3에 도시된 바와 같이 에러판단부(33)는 싱크 신호에 따른 전류검출 데이터 값을 Add하여 최종 조합 전류 데이터 값을 생성하고 이를 통해 레퍼런스 데이터와 비교한 다음 이상 여부를 판단하는데, 이러한 조합 전류 데이터 값을 산출하여 이상 여부를 판단하는데는 여러 형태로 구성할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 3, the
본 발명의 일실시예에서는 싱크 신호와 다음 싱크 신호 간의 한 주기에서 나타나는 전류검출 데이터를 10회 또는 50회 구간으로 분할하고 분할된 구간에서의 전류검출 데이터를 모두 합산한 최종 값을 조합 전류 데이터로 산출한 다음 미리 산출된 레퍼런스 데이터와 조합 전류 데이터를 비교하게 된다. In one embodiment of the present invention, the current detection data appearing in one period between the sink signal and the next sink signal is divided into 10 or 50 sections, and the final value obtained by adding up the current detection data in the divided sections as the combined current data. After the calculation, the combined current data is compared with the previously calculated reference data.
따라서 설정에 따라 레퍼런스 데이터 값에서 1~5% 범위 밖으로 벗어나면 이를 이상이 발생된 구간으로 판단하여 비정상 트리거 신호를 출력하게 된다. Therefore, if it is out of the range of 1 ~ 5% of the reference data value according to the setting, it is determined that this is the section in which an abnormality occurs and outputs an abnormal trigger signal.
이외에도 조합 전류 데이터를 분할된 구간 별로 테이블화하여 보다 상세하게 비교할 수 있도록 할 수 있으며, 조합 전류 데이터의 수치 그래프를 통해 그래프 비교 방식으로 이상여부를 판단할 수도 있을 것이다. In addition, the combination current data may be tabulated for each divided section to be compared in more detail, and the graph may be used to determine whether there is an abnormality through a numerical graph of the combination current data.
도 3에서 도시된 조합 전류 데이터는 상기 하나의 싱크 구간 내 분할 구간을 나타낸 것으로 각 분할 구간별로 산출되는 전류검출 데이터를 한 구간 동안 합산한 데이터가 최종 조합 전류 데이터 값이 된다. The combined current data shown in FIG. 3 represents a divided section in the one sink section, and the sum of the current detection data calculated for each divided section for one section is the final combined current data value.
또한 상기의 조합 전류 데이터에서 조합의 의미는 각 싱크 구간에 따른 전류검출 데이터를 동기화하여 산출하게 됨을 의미한다. In addition, in the combination current data, the combination means that the current detection data for each sync section is calculated in synchronization.
아울러 상기 관리단말기(40)는 이외에 원격에서 마이크로프로세서(34)를 통해 에러판단부(33)의 동작 제어를 할 수 있다. In addition, the
또한 상기 마이크로프로세서(34)는 레퍼런스 데이터를 저장하여 상기 에러판단부(33)로 레퍼런스 데이터를 전송하고 상기 에러판단부(33)의 초기화 또는 동작 제어를 수행하도록 구비된다. In addition, the
아울러 오실로코프(35)는 에러판단부(33)로 입력되는 데이터의 래치 기준 클럭 신호를 생성하여 에러판단부(33)로 전송하도록 구비되는데, 이러한 클럭 신호는 10Mhz 내외로 구성됨이 바람직하다.
In addition, the
이와 같이 본 발명은 도면에 도시된 일실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to those precise embodiments, and many alternatives, modifications, and variations will be apparent to those skilled in the art. I will understand.
따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
10 : 영상제어부 20 : 전류계측기
30 : 전류체크보드 31 : 전류증폭부
32 : A/D컨버터 33 : 에러판단부
34 : 마이크로프로세서 35 : 오실로코프
40 : 관리단말기 50 : TFT-LCD 모듈10: image control unit 20: current measuring instrument
30: current check board 31: current amplifier
32: A / D converter 33: Error judging unit
34
40: management terminal 50: TFT-LCD module
Claims (4)
상기 영상제어부(10)로부터 상기 TFT-LCD 모듈(50)에 전송하는 싱크 신호를 함께 전송받으며, 상기 전류계측기(20)로부터 측정된 전류검출 데이터를 전송받아 상기 싱크 신호와 전류 검출 데이터를 조합한 조합 전류 데이터와 레퍼런스 데이터 간의 차이를 이용하여 이상유무를 판단하여 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 전류체크보드(30)를 포함하되,
상기 전류체크보드는 상기 영상제어부(10)의 최초 패턴 신호 수량 만큼의 입력에 따른 상기 조합 전류 데이터를 레퍼런스 데이터로 저장하고, 이후의 패턴 신호 재반복 입력시에는 상기 레퍼런스 데이터를 기준으로 상기 이후 패턴 신호 재반복 입력시에 생성되는 조합 전류 데이터의 이상 유무를 판단하는 것을 특징으로 하는 TFT-LCD 모듈의 화질검사장치.
Transmit a driving signal including a sync signal and a pattern signal in the form of R, G, and B data to the TFT-LCD module 50 to output an image, supply driving power of the TFT-LCD module 50, and provide the TFT. An image controller 10 inputting the number of pattern signals to the LCD module 50 and repeating and inputting the pattern signals of the quantity; and a power stage applied from the image controller 10 to the TFT-LCD module 50. An ammeter 20 for measuring a current applied to the
Receives a sync signal transmitted from the image controller 10 to the TFT-LCD module 50 together, and receives the current detection data measured by the current meter 20 combined with the sync signal and the current detection data Including a current check board 30 for determining whether there is an abnormality using the difference between the combination current data and the reference data to output a normal or abnormal trigger signal,
The current check board stores the combined current data according to the input amount of the first pattern signal of the image controller 10 as reference data, and in the subsequent pattern signal repetition input, the subsequent pattern based on the reference data. An image quality inspection apparatus of a TFT-LCD module, characterized in that it is determined whether or not the combined current data generated at the time of signal repetition input is abnormal.
상기 전류체크보드(30)는
전류계측기(20)로부터 전송받은 전류검출 데이터를 증폭하는 전류증폭부(31)와, 상기 증폭된 아날로그 형태의 전류검출 데이터를 디지털 형태의 데이터로 변환하는 A/D컨버터(32)와, 상기 A/D컨버터(32)로부터 전류검출 데이터를 전달받고 영상제어부(10)로부터 싱크 신호를 전달받아 상기 싱크 신호와 전류검출 데이터를 조합하여 생성되는 조합 전류 데이터를 저장하며 조합 전류 데이터와 상기 레퍼런스 데이터를 비교하여 차이가 있는 경우 그 차이를 감지하여 화질이상유무를 판단하고 이상유무에 따른 정상 또는 비정상 트리거 신호를 출력하는 에러판단부(33)와, 레퍼런스 데이터를 저장하여 상기 에러판단부(33)로 레퍼런스 데이터를 전송하고 상기 에러판단부(33)의 초기화 또는 동작 제어를 수행하는 마이크로프로세서(34)와, 상기 에러판단부(33)로 입력되는 데이터의 래치 기준 클럭 신호를 에러판단부(33)로 전송하는 오실로코프(35)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 TFT-LCD 모듈의 화질검사장치.
The method of claim 1,
The current check board 30 is
A current amplifier 31 for amplifying the current detection data received from the current meter 20, an A / D converter 32 for converting the amplified analog current detection data into digital data, and the A Receives the current detection data from the / D converter 32, receives the sink signal from the image control unit 10 and stores the combined current data generated by combining the sink signal and the current detection data, and stores the combined current data and the reference data If there is a difference by comparing the error determination unit 33 to detect the difference to determine whether there is an image quality abnormality and output a normal or abnormal trigger signal according to the abnormality, and to store the reference data to the error determination unit 33 A microprocessor 34 which transmits reference data and performs initialization or operation control of the error determining unit 33 and enters the error determining unit 33. Oscilloscope 35, the image quality inspection apparatus of the TFT-LCD module, comprising the sending of data latches the reference clock signal as an error determination unit (33).
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960024434A (en) * | 1994-12-30 | 1996-07-20 | 구자홍 | LCD performance tester |
KR20000046767A (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-25 | 구자홍 | Checking device of liquid crystal display module |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960024434A (en) * | 1994-12-30 | 1996-07-20 | 구자홍 | LCD performance tester |
KR20000046767A (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-25 | 구자홍 | Checking device of liquid crystal display module |
KR20010045148A (en) * | 1999-11-03 | 2001-06-05 | 김종환 | An expression module with error checking ability for electric light board |
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