KR20000046767A - Checking device of liquid crystal display module - Google Patents

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KR20000046767A
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류득현
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구자홍
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Abstract

PURPOSE: A checking device of a liquid crystal display module is provided to easily measure the product reliability by automatically carrying out the check of the test pattern displayed on a TFT-LCD module. CONSTITUTION: A transmitter(300) outputs video signals for displaying a test pattern on plural TFT-LCD modules. Plural receivers(200) receives video signals outputted from the transmitter(300) and transmits the received video signals to each TFT-LCD module. An interface unit(400) transmits the signals of the receivers(200) to corresponding TFT-LCD modules. A computer measures the current and voltage when driving the plural TFT-LCD modules, judges the defects of the TFT-LCD modules, and controls the operations of the system.

Description

액정 디스플레이 모듈의 검사장치Inspection device of liquid crystal display module

본 발명은 박막트랜지스터로 구성된 액정 디스플레이 모듈(이하 TFT-LCD 라 함.)의 검사장치에 관한 것으로서 특히, TFT-LCD의 성능 검사와 동시에 수명 검사를 수행할 수 있는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for a liquid crystal display module (hereinafter referred to as TFT-LCD) composed of a thin film transistor, and more particularly, to an inspection apparatus for a liquid crystal display module capable of performing a life test simultaneously with the performance inspection of a TFT-LCD. will be.

일반적으로 TFT-LCD 모듈의 생산라인에서는 최종 단계로서 제품의 품질을 검사하여 불량품이 소비자에게 판매되는 것을 방지한다. 특히, 특정 테스트 패턴을 구동시켜 디스플레이 품질을 확인하는 과정과, 과부하 또는 쇼트 등의 불량을 검사하는 과정 및 제품의 수명을 확인하는 과정은 제품의 신뢰성을 향상시키는데 절대적으로 필요하다.In general, as a final step in the production line of the TFT-LCD module, the quality of the product is inspected to prevent defective products from being sold to consumers. In particular, a process of checking a display quality by driving a specific test pattern, a process of inspecting a defect such as an overload or a short, and a process of checking the life of a product are absolutely necessary to improve the reliability of the product.

이때, TFT-LCD 모듈의 검사는 항온항습조에서 이루어지는데 하나씩 검사하는 것은 작업시간이 많이 소요되기 때문에 생산성을 저하시키는 문제점이 발생하게 된다. 따라서, 다수의 TFT-LCD 모듈의 검사를 동시에 수행할 수 있도록 하는 장비가 제공되고 있다.At this time, the inspection of the TFT-LCD module is made in a constant temperature and humidity chamber, and the inspection one by one takes a lot of work time, which causes a problem of lowering productivity. Therefore, equipment for enabling the inspection of multiple TFT-LCD modules at the same time is provided.

도 1은 종래 기술에 의한 TFT-LCD 모듈 검사 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a TFT-LCD module inspection system according to the prior art.

도 1을 참조하면, 12개의 TFT-LCD 모듈(1)이 동시에 고정 장착되는 지그(2)와, 사용자에 의해 조작되는 PC의 제어에 따라 상기 각각의 TFT-LCD 모듈(1)에 28개의 테스트 패턴을 디스플레이 시키기 위한 구동신호를 출력하는 VGA 카드(3)와, 상기 TFT-LCD 모듈(1)에서 테스트 패턴이 디스플레이 되는 동안 테스트 패턴을 모니터링하는 패턴 표시수단(4)과, 상기 VGA 카드(3)에서 출력되는 테스트 패턴에 대한 디지털 영상신호를 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨의 신호에서 ECL(Emitter Coupled Logic) 레벨의 신호로 변환시키는 전송부(5)와, 상기 VGA 카드(3)에서 출력되어 상기 전송부(5)에서 변환된 신호들을 12개의 TFT-LCD 모듈(1)에 입력시키기 위하여 12개의 신호로 분배하는 분배부(6)와, 상기 분배부(6)에서 송신된 28개의 디지털 영상신호들을 수신하여 각각의 TFT-LCD 모듈(1)로 입력시켜 모든 TFT-LCD 모듈(1)에 동일한 테스트 패턴이 디스플레이 되도록 하는 수신부(7)와, 상기 분배부(6)와 수신부(7)를 연결하는 인터페이스부(8)와, 상기 12개의 TFT-LCD 모듈(1)의 구동시 전체 전류 및 전압을 표시하는 전류표시창(9) 및 전압표시창(10)과, 시스템 전체의 각 부분으로 구동 전원을 공급하는 파워 서플라이(11)를 포함하여 구성된다.Referring to Fig. 1, twelve tests are carried out on a jig 2 in which twelve TFT-LCD modules 1 are fixedly mounted at the same time, and on each of the TFT-LCD modules 1 under the control of a PC operated by a user. VGA card 3 for outputting a drive signal for displaying a pattern, pattern display means 4 for monitoring a test pattern while a test pattern is displayed in the TFT-LCD module 1, and the VGA card 3 Transmitter 5 for converting the digital image signal for the test pattern output from the TTL (Transistor-Transistor Logic) level signal to the signal of the ECL (Emitter Coupled Logic) level, and output from the VGA card (3) Distribution unit 6 for distributing the signals converted by the transmission unit 5 into 12 signals for input to the 12 TFT-LCD modules 1, and 28 digital signals transmitted from the distribution unit 6; Receive image signals and input them to each TFT-LCD module 1 A receiving unit 7 for displaying the same test pattern on all the TFT-LCD modules 1, an interface unit 8 connecting the distribution unit 6 and the receiving unit 7, and the 12 TFT-LCD modules And a power supply 11 for supplying driving power to each part of the system as a whole.

이때, 상기 전송부(5), 분배부(6) 및 수신부(7)가 TTL IC 또는 CMOS IC 로 이루어지고, 상기 지그(2) 및 수신부(7)는 동작의 정확성을 위하여 항온항습조(12) 내에 배치되고, VGA 카드(3), 패턴 표시수단(4), 전송부(5), 분배부(6), 전류표시창(9), 전압표시창(10) 및 파워 서플라이(11)는 컨트롤 랙(control rack)(13)에 배치된다.At this time, the transmitter 5, the distribution unit 6 and the receiver 7 is made of a TTL IC or CMOS IC, the jig 2 and the receiver 7 is a constant temperature and humidity chamber 12 for the accuracy of operation ), The VGA card 3, the pattern display means 4, the transmission section 5, the distribution section 6, the current display window 9, the voltage display window 10 and the power supply 11 are control racks. (control rack) (13).

상기와 같은 구성을 갖는 종래 기술의 동작은 도 2의 흐름도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the prior art having the above configuration will be described with reference to the flowchart of FIG. 2.

먼저, 12장의 TFT-LCD 모듈(1)을 지그(2)에 장착하여 수신부(7)와 연결하고(S1), 컨트롤 랙(13)의 파워 서플라이(11)를 온시켜 시스템의 동작에 필요한 구동전원을 인가하고(S2), PC(미도시)를 동작시켜 각각의 TFT-LCD 모듈(1)에 테스트 패턴을 디스플레이 시키기 위한 소프트웨어를 실행(S3)시킨다.First, the twelve TFT-LCD modules 1 are mounted on the jig 2 to be connected to the receiver 7 (S1), and the power supply 11 of the control rack 13 is turned on to drive necessary for operation of the system. Power is applied (S2), and a PC (not shown) is operated to execute software for displaying a test pattern on each TFT-LCD module 1 (S3).

상기 소프트웨어의 실행에 따라 상기 VGA 카드(3)에서는 TFT-LCD 모듈(1)에 28개의 테스트 패턴에 대한 디지털 영상신호가 발생(S4)된다. 이때, 상기 디지털 영상신호는 RGB의 수평 및 수직 동기신호 등으로 이루어진다.According to the execution of the software, in the VGA card 3, digital image signals for 28 test patterns are generated in the TFT-LCD module 1 (S4). In this case, the digital video signal includes RGB horizontal and vertical synchronization signals.

그후, 상기 디지털 영상신호는 전송부(5)로 입력되는데, 상기 전송부(5)에서 TTL 레벨의 신호가 ECL 레벨의 신호로 변환(S5)된다. 상기 변환된 ECL 레벨의 신호는 12장의 TFT-LCD 모듈(1)로 각각 입력될 수 있도록 상기 분배부(5)에서 12개의 신호로 분배(S6)된다. 즉, 28개의 테스트 패턴신호를 각각 12개로 분배한다.Thereafter, the digital video signal is inputted to the transmitter 5, in which the TTL level signal is converted into an ECL level signal (S5). The converted ECL level signals are distributed (S6) into twelve signals in the distribution section 5 so as to be input to the twelve TFT-LCD modules 1, respectively. That is, 28 test pattern signals are distributed to 12 each.

상기 분배된 신호는 인터페이스부(12) 및 수신부(8)를 거쳐서(S7), 상기 TFT-LCD 모듈(1)로 입력되어 테스트 패턴으로 디스플레이 된다(S8), 이때, 모든 TFT-LCD 모듈(1)에는 동일한 테스트 패턴이 디스플레이 되는데, 28개의 테스트 패턴이 순차적으로 디스플레이 된다.The divided signal is inputted to the TFT-LCD module 1 via the interface unit 12 and the receiving unit 8 (S7) and displayed in a test pattern (S8). In this case, all the TFT-LCD modules 1 ), The same test pattern is displayed, and 28 test patterns are sequentially displayed.

상기 테스트 패턴이 디스플레이 되는 동안 상기 전류표시창(9)과 전압표시창(10)에는 12개의 TFT-LCD 모듈(1)에 흐르는 전체 전류 및 전압이 표시된다. 이때, 사용자는 전류표시창(9)과 전압표시창(10)의 전류와 전압의 수치로 12개의 TFT-LCD 모듈(1)의 불량을 체크한다(S9). 즉, 상기 표시되는 전류와 전압이 소정의 범위에 속하는지를 판단한다.While the test pattern is displayed, the total current and voltage flowing through the twelve TFT-LCD modules 1 are displayed on the current display window 9 and the voltage display window 10. At this time, the user checks the defects of the twelve TFT-LCD modules 1 by the values of the current and the voltage of the current display window 9 and the voltage display window 10 (S9). That is, it is determined whether the displayed current and voltage are within a predetermined range.

이때, 불량이 발생하는지 판단하고(S10), 불량이 발생하면 12개의 TFT-LCD 모듈(1)을 모두 불량으로 처리한다(S11). 이때, 상기 12개의 TFT-LCD 모듈(1)에 대하여는 별도의 재검사를 수행하여 어느 TFT-LCD 모듈에서 불량이 발생하였는지를 확인한다. 상기에서 불량이 발생되지 않으면 사용자는 2000시간 수명에 대한 테스트를 수행한다(S12).At this time, it is determined whether a failure occurs (S10), and if a failure occurs, all 12 TFT-LCD modules 1 are treated as a failure (S11). At this time, the twelve TFT-LCD modules 1 are separately retested to determine which TFT-LCD module has a failure. If the failure does not occur in the above, the user performs a test for a life of 2000 hours (S12).

상기와 같은 종래의 기술은 작업자가 항온항습조(12)에 들어가 TFT-LCD 모듈(1)에 디스플레이 되는 테스트 패턴을 확인하는 목시검사에 의해 이루어지기 때문에 시스템 적으로 확인할 수 없어서 제품의 신뢰성을 측정하기 어렵게 되는 문제점이 있으며, TFT-LCD 모듈(1) 각각의 소비전류 및 전압표시가 이루어지지 않기 때문에 각 모듈의 상태 파악이 어렵게 되는 문제점이 있다.The prior art as described above is performed by visual inspection to check the test pattern displayed on the TFT-LCD module 1 by the operator entering the constant temperature and humidity chamber 12, so that the reliability of the product cannot be determined systematically. There is a problem that it is difficult to do, because the current consumption and voltage display of each TFT-LCD module 1 is not made, there is a problem that it is difficult to determine the state of each module.

또한, 항온항습조(12)와 컨트롤 랙(13)은 통상적으로 2 내지 3미터 떨어져 있는데 전송부(5), 분배부(6) 및 수신부(7)가 TTL IC 또는 CMOS IC로 이루어지기 때문에 고주파 전송 및 원거리 전송시 시간지연 및 노이즈가 발생되는 문제점이 있다.In addition, the thermo-hygrostat 12 and the control rack 13 are usually two to three meters apart, but the transmission part 5, the distribution part 6 and the receiving part 7 are made of a TTL IC or a CMOS IC. There is a problem that time delay and noise occur during transmission and remote transmission.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 다수의 TFT-LCD 모듈에 대응되도록 다수의 수신부와 인터페이스부를 구비함으로써 디지털 영상신호의 분배 및 전송이 개별적으로 이루어지도록 하여 제품의 품질을 평가하는데 신뢰성을 높일 수 있는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and its object is to provide a plurality of receivers and interface units to correspond to a plurality of TFT-LCD modules so that the distribution and transmission of digital video signals are made separately. An object of the present invention is to provide an inspection apparatus for a liquid crystal display module capable of increasing reliability in evaluating quality.

또한, 본 발명의 다른 목적은 전송부, 분배부 및 수신부를 ECL(Emitter Coupled Logic) IC를 사용하여 구성함으로써 고주파 전송에 따른 신호지연과 노이즈의 유입을 방지하여 제품 불량의 감지가 용이하게 이루어질 수 있는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치를 제공하는데 있다.In addition, another object of the present invention is to configure the transmitter, the distribution unit and the receiver using an ECL (Emitter Coupled Logic) IC to prevent signal delay and noise inflow due to high frequency transmission to facilitate the detection of product defects The present invention provides an inspection apparatus for a liquid crystal display module.

도 1은 종래 기술에 의한 액정 디스플레이 모듈의 검사시스템의 구성을 나타내는 도면,1 is a view showing the configuration of an inspection system of a liquid crystal display module according to the prior art;

도 2는 종래 기술에 의한 검사 동작을 나타내는 흐름도,2 is a flowchart showing an inspection operation according to the prior art;

도 3은 본 발명에 의한 액정 디스플레이 모듈의 검사 시스템의 구성을 나타내는 도면,3 is a view showing the configuration of an inspection system for a liquid crystal display module according to the present invention;

도 4는 본 발명에 의한 검사 동작을 나타내는 흐름도.4 is a flowchart showing an inspection operation according to the present invention;

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 주된 특징은, 다수의 TFT-LCD 모듈에 테스트 패턴을 디스플레이 시키기 위한 영상신호를 각각 개별적으로 출력하는 송신부와, 상기 송신부에서 출력된 영상신호들을 수신하여 각각의 TFT-LCD 모듈로 개별적으로 입력시키는 다수의 수신부와, 상기 각각의 수신부의 신호를 그에 대응되는 각각의 TFT-LCD 모듈로 전달하는 인터페이스부와, 상기 다수의 TFT-LCD 모듈의 구동시 개별적으로 전류 및 전압을 측정하여 각 TFT-LCD 모듈의 불량을 판단하고 시스템의 동작을 제어하는 컴퓨터와, 다수의 TFT-LCD 모듈에서 불량이 발생된 경우에 상기 컴퓨터의 제어신호에 따라 사용자에게 알려주는 경고표시부를 포함하는데 있다.A main feature of the present invention for achieving the above object is a transmitter for separately outputting a video signal for displaying a test pattern on a plurality of TFT-LCD modules, and receiving the video signals output from the transmitter, respectively A plurality of receivers for individually inputting to a TFT-LCD module, an interface unit for transmitting signals of the respective receivers to respective TFT-LCD modules corresponding thereto, and individually when driving the plurality of TFT-LCD modules A computer that determines the failure of each TFT-LCD module by measuring current and voltage and controls the operation of the system, and a warning that informs the user according to the control signal of the computer when a failure occurs in a plurality of TFT-LCD modules. It includes a display unit.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 부가적인 특징으로 상기 송신부는 다수의 테스트 패턴에 대한 영상신호를 출력하는 패턴 발생수단과, 상기 패턴 발생수단에서 출력되는 영상신호를 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨에서 ECL(Emitter Coupled Logic) 레벨로 변환시키는 레벨 변환수단과, 상기 레벨 변환수단에서 변환된 신호들을 다수의 TFT-LCD 모듈에 입력시키기 위하여 다수의 신호로 분배하는 분배수단으로 이루어지는데 있다.As an additional feature of the present invention for achieving the above object, the transmitter is a pattern generating means for outputting a video signal for a plurality of test patterns, and the image signal output from the pattern generating means TTL (Transistor-Transistor Logic) Level conversion means for converting the ECL (Emitter Coupled Logic) level to the ECL level, and distribution means for distributing the signals converted by the level conversion means into a plurality of signals for input to the plurality of TFT-LCD modules.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 부가적인 특징으로 상기 레벨 변환수단, 분배수단 및 수신부는 ECL(Emitter Coupled Logic) IC를 사용하여 구성되는데 있다.Another additional feature of the present invention for achieving the above object is that the level converting means, distribution means and the receiving unit is configured using an ECL (Emitter Coupled Logic) IC.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 부가적인 특징으로 상기 송신부와 수신부의 연결은 거리에 의한 신호의 감쇄 및 노이즈의 유입을 차단할 수 있도록 실드 트위스트 페어 케이블(shielded & twisted pair cable)을 사용하여 이루어지는데 있다.Another additional feature of the present invention for achieving the above object is a shielded twisted pair cable (shielded & twisted pair cable) so that the connection between the transmitter and the receiver can block the signal attenuation by the distance and the inflow of noise It is done using.

이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 의한 액정 디스플레이 모듈의 검사 시스템의 구성을 나타내는 도면으로서, 측정부(200)와, 검사부(300) 및 인터페이스부(400)로 구성되어 있다.3 is a view showing the configuration of an inspection system of a liquid crystal display module according to the present invention, and is composed of a measurement unit 200, an inspection unit 300, and an interface unit 400.

상기 검사부(300)는 컴퓨터를 사용하며, 컴퓨터 내부에는 LCD모듈의 디지털 영상신호를 발생시키는 VGA카드(310)와 항온항습조 내의 LCD모듈을 원격제어하기 위한 디지털 입출력 보드(330), 모듈불량이 발생할 때 모듈별 전원제어 및 측정부에서 표시된 값들을 얻을 수 있는 AD보드(320)로 만들어져 있다.The inspection unit 300 uses a computer, inside the computer, a VGA card 310 for generating a digital video signal of the LCD module and a digital input / output board 330 for remote control of the LCD module in the constant temperature and humidity chamber, module failure When it occurs is made of AD board 320 to obtain the values displayed in the module power control and measurement unit.

그리고, 상기 AD보드(320)에 나오는 값들을 컴퓨터의 소프트웨어에서 검사하여 디지털 입출력 보드(330)를 통하여 신호를 내보내서 사용자가 쉽게 불량을 감지할 수 있게 경광등도 선반의 상단에 구비되어 있다.In addition, a warning light is also provided at the top of the shelf so that the user can easily detect a defect by sending a signal through the digital input / output board 330 by inspecting the values of the AD board 320 in the software of the computer.

또한, 상기 측정부(200)는 12개의 LCD모듈 각각에 대하여 1:1로 모듈별 전원 제어 및 측정의 기능을 수행하는데, 각각의 모듈에 대한 전류 및 전압값들을 표시해주고 그것의 한계도 사용자가 설정하여서 만약 수치가 설정치 보다 커지는 경우 구비되어 있는 경광등과 부저가 발광 및 경고음을 발생시키며, 컴퓨터에 해당 메시지가 표시되어지도록 구성되어 있다.In addition, the measurement unit 200 performs a function of power control and measurement for each module in a 1: 1 manner for each of the 12 LCD modules. The measurement unit 200 displays current and voltage values for each module, and the user can limit the limits thereof. By setting, if the value is larger than the setting value, the warning light and the buzzer are provided to emit light and warning sound, and the corresponding message is displayed on the computer.

또한, 테스트 패턴의 전체 시간제어와 특정 패턴의 타이머 기능 및 원격제어기능을 소프트웨어에서 제어할 수 있다. 더욱이, 고주파에 대응하기 위해서 ECL(Emitter Coupled Logic) IC를 사용함으로써 신호의 안정적 분배가 가능하고 Shielded & twisted pair cable을 사용함으로써 거리에 의한 신호의 감쇄 및 노이즈의 유입도 차단시켰다.In addition, the total time control of the test pattern, the timer function of the specific pattern, and the remote control function can be controlled from the software. In addition, by using ECL (Emitter Coupled Logic) IC to cope with high frequency, stable distribution of signal is possible, and shielded & twisted pair cable is used to block attenuation of signal and distance of noise by distance.

상술한 바와 같이 구성되는 본 발명에 따른 액정 디스플레이 모듈의 검사장치의 바람직한 동작예를 첨부한 도 4를 참조하여 살펴보면 다음과 같다.Referring to Figure 4 attached to the preferred operation example of the inspection apparatus of the liquid crystal display module according to the present invention configured as described above are as follows.

도 4는 본 발명에 따른 액정 디스플레이 모듈의 검사장치의 운영과정 예시도이다.4 is a view illustrating an operation process of the inspection apparatus of the liquid crystal display module according to the present invention.

우선, 스텝 S101에서 TFT-LCD모듈을 지그에 올려놓기 전에 운용준비를 하는데, 그 운용준비의 과정을 살펴보면, 먼저 모든 전원이 오프상태인가를 확인하고 시스템의 각 콘넥터가 제대로 연결되었는지를 확인한다.First, in step S101, the operation preparation is made before placing the TFT-LCD module on the jig. Looking at the operation preparation process, first of all, check that all the power supplies are off and that each connector of the system is properly connected.

이후, 스텝 S102로 진행하여 인터페이스부(도 3b의 항온항습조 내부의 I/F부)의 모든 스위치를 오프상태로 하고 나서 LCD모듈을 지그에 장착하고서, 스텝 S103에서는 메인 전원 공급부를 온(on)동작시키고 또한, 스텝 S104의 과정을 통해 컨트롤 선반에 부착된 모듈 스위치, 분배 스위치, 수신 스위치를 모두 온동작시킨다.Subsequently, the process proceeds to step S102, all the switches of the interface unit (the I / F unit inside the constant temperature and humidity chamber of FIG. 3B) are turned off, and then the LCD module is mounted on the jig, and in step S103, the main power supply is turned on. In addition, the module switch, the distribution switch, and the reception switch attached to the control shelf are all turned on by the process of step S104.

상술한 스텝 S104의 과정을 통해 각 LCD모듈이 접속되어 있는 각 모듈별 전원제어 및 측정부의 전원을 온시키고 인터페이스부의 백라이트 전원 스위치, 로직 전원 스위치, 신호 전원 스위치를 순서대로 온동작시킨 후 각 모듈별 전원 제어 및 측정부에서의 전압과 전류의 한계치를 조정한 후 구동할 12개의 LCD모듈의 로직과 신호 전압을 선택한 후 전원을 온동작시킨 후에는 스텝 S105로 진행하여 측정치 즉, 전압과 전류에 이상이 없는가를 확인한다.Through the process of step S104 described above, turn on the power supply for each module to which each LCD module is connected and the power of the measurement unit, and turn on the backlight power switch, logic power switch, and signal power switch of the interface unit in order, and then for each module. After adjusting the voltage and current limits in the power supply control and measurement unit, select the logic and signal voltages of the 12 LCD modules to be driven, and after the power is turned on, proceed to step S105 to determine the measured value, that is, the voltage and current. Check if there is any.

만약, 상기 스텝 S105에서 과전류와 과전압이 표시될 경우는 LCD모듈을 교체한다거나 아니면 콘넥터 연결을 재확인하는데, 상술한 일련의 과정을 통하여 하드웨어의 수행준비가 완료되면 스텝 S106으로 진행하여 PC에서 소프트웨어를 시작해서 사용자가 테스트 패턴의 순서 및 시간과 전체 구동시간을 입력하고 테스트 패턴을 구동시킨다.If the overcurrent and overvoltage are displayed in step S105, the LCD module is replaced or the connector is re-checked. If the execution of the hardware is completed through the above-described process, the process proceeds to step S106 to start the software on the PC. The user inputs the sequence and time of the test pattern and the total driving time to drive the test pattern.

그러면 VGA카드에서는 스텝 S107의 과정을 통해 28개의 디지털 영상신호(R,G,B, 수평동기, 수직동기)를 발생시키고 VGA카드 출력인 TTL레벨을 ECL레벨로 변환한 후 분배부로 전송한다.Then, the VGA card generates 28 digital video signals (R, G, B, horizontal synchronization, vertical synchronization) through the process of step S107, converts the TTL level, which is the VGA card output, into the ECL level, and transmits it to the distribution unit.

분배부에서는 스텝 S108의 과정을 통해 입력받은 28개의 디지털 신호를 구동할 12개의 LCD 모듈에 분배하기 위해서 전송받은 신호를 12개의 신호로 분배한다. 여기서 ECL 레벨로 변환하는 이유는 컨트롤 선반과 항온항습조의 거리가 2∼3m 가량 떨어져 있기 때문에 거리에 따른 위상 지연과 노이즈가 발생함에 기인하는 것이다.The distribution unit distributes the received signals into 12 signals to distribute 28 digital signals input through the process of step S108 to 12 LCD modules to be driven. The reason for the conversion to the ECL level is that the distance between the control shelf and the constant temperature / humidity chamber is 2 to 3m away, resulting in phase delay and noise depending on the distance.

따라서, 본 시스템은 고주파 신호에 대응하기 위해 ECL IC를 사용함으로써 신호의 안전적인 분배가 가능하고 Shielded & twisted pair cable을 사용함으로써 거리에 의한 신호의 감쇄 및 노이즈의 유입도 차단시켰다.Therefore, the system uses ECL ICs to cope with high frequency signals, enabling safe distribution of signals, and shielded & twisted pair cables to block signal attenuation and distance from noise.

또한, ECL IC는 TTL이나 CMOS 타입과 같은 로직을 제공하면서도 매우 빠른 스위칭 타임을 가지기 때문에 고속의 디지털 신호를 다루기가 용이하고 클럭과 같은 신호를 장거리 전송 할 때에는 서로 위상이 180고 차이가 나는 신호 즉, 차동(Differential) 신호를 동시에 전송하는 것이 용이하다. 이는 소오스에서부터 부하까지 스위칭 한계 정보를 운반하기 때문에 전송라인에서의 손실과 전원공급단에서의 변화에 둔감하게 된다.In addition, ECL ICs provide logic such as TTL and CMOS types, but have very fast switching times, making it easy to handle high-speed digital signals, and when the signals such as clocks are transmitted over long distances, they are out of phase with each other. It is easy to transmit differential signals at the same time. It carries switching limit information from the source to the load, making it insensitive to losses in the transmission line and changes in the power supply.

이후, 상기 스텝 S108의 과정을 통해 분배된 각각의 동일한 신호 12개에는 LCD모듈의 구동에 필요한 28개 신호가 존재하며, 이러한 각각의 신호는 수신부에서 전달되어 스텝 S109와 스텝 S110의 과정을 통해 LCD모듈에 테스트 패턴이 구동하게 된다.Thereafter, there are 28 signals required for driving the LCD module in each of the 12 identical signals distributed through the process of step S108, and each of these signals is transmitted from the receiving unit to the LCD through the process of steps S109 and S110. The test pattern is driven to the module.

이때, 상기 구동중인 LCD모듈에서 사용자가 모듈별 전원제어 및 측정부에서 설정한 전압, 전류보다 높거나 낮게 검출되면 즉, 스텝 S111의 정상동작 확인단계에서 에러발생으로 판단되면 검사부(300)내의 AD보드(320)에서 데이터를 얻어서 디지털 입출력 보드(330)를 통해 경광등의 부저를 울리게 된다.At this time, if the user detects higher or lower than the voltage and current set by the power control and measurement unit for each module in the driving LCD module, that is, it is determined that an error has occurred in the normal operation checking step of Step S111, the AD in the inspection unit 300. The buzzer, such as a warning light, sounds through the digital input / output board 330 by obtaining data from the board 320.

이후, 소프트웨어에서 설정한 백라이트/로직/시그널 전압의 온/오프 시간에 따라 PC내의 디지털 입출력 보드를 통해 자동으로 원격 온/오프를 수행하게 된다.After that, the on / off time of the backlight / logic / signal voltage set by software is automatically performed through the digital input / output board in the PC.

상술한 바와 같이 동작하는 본 발명에 따른 액정 디스플레이 모듈의 검사장치를 제공하여 종래 기술에서 작업자가 항온항습조에 들어가 TFT-LCD 모듈에 디스플레이 되는 테스트 패턴을 확인하는 목시검사에 의해 이루어지는 검사방식을 자동으로 수행함에 따라 제품의 신뢰성을 측정하기에 용이함을 제공하는 효과가 있다.By providing an inspection apparatus of the liquid crystal display module according to the present invention operating as described above, the operator automatically enters the constant temperature and humidity chamber and checks the inspection method made by visual inspection to check the test pattern displayed on the TFT-LCD module. The performance has the effect of providing ease for measuring the reliability of the product.

또한, TFT-LCD 모듈(1) 각각의 소비전류 및 전압을 표시할 수 있어 각 모듈별의 상태 파악이 용이하다는 효과가 있다.In addition, since the current consumption and voltage of each TFT-LCD module 1 can be displayed, it is easy to grasp the state of each module.

Claims (4)

다수의 TFT-LCD 모듈에 테스트 패턴을 디스플레이 시키기 위한 영상신호를 각각 개별적으로 출력하는 송신부와, 상기 송신부에서 출력된 영상신호들을 수신하여 각각의 TFT-LCD 모듈로 개별적으로 입력시키는 다수의 수신부와, 상기 각각의 수신부의 신호를 그에 대응되는 각각의 TFT-LCD 모듈로 전달하는 인터페이스부와, 상기 다수의 TFT-LCD 모듈의 구동시 개별적으로 전류 및 전압을 측정하여 각 TFT-LCD 모듈의 불량을 판단하고 시스템의 동작을 제어하는 컴퓨터와, 다수의 TFT-LCD 모듈에서 불량이 발생된 경우에 상기 컴퓨터의 제어신호에 따라 사용자에게 알려주는 경고표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치.A transmitter for separately outputting video signals for displaying a test pattern on a plurality of TFT-LCD modules, a plurality of receivers for receiving the video signals output from the transmitter and inputting them individually to each TFT-LCD module; Determining the failure of each TFT-LCD module by measuring the current and voltage separately when the interface unit for transmitting the signal of each receiving unit to each TFT-LCD module corresponding to each of the plurality of TFT-LCD modules And a computer for controlling the operation of the system, and a warning display unit for informing a user according to a control signal of the computer when a failure occurs in a plurality of TFT-LCD modules. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 송신부는 다수의 테스트 패턴에 대한 영상신호를 출력하는 패턴 발생수단과, 상기 패턴 발생수단에서 출력되는 영상신호를 TTL(Transistor-Transistor Logic) 레벨에서 ECL(Emitter Coupled Logic) 레벨로 변환시키는 레벨 변환수단과, 상기 레벨 변환수단에서 변환된 신호들을 다수의 TFT-LCD 모듈에 입력시키기 위하여 다수의 신호로 분배하는 분배수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치.The transmitter generates a pattern generating means for outputting video signals for a plurality of test patterns, and a level conversion for converting the video signal output from the pattern generating means from a TTL (Transistor-Transistor Logic) level to an ECL (Emitter Coupled Logic) level. Means and distribution means for distributing the signals converted by the level converting means into a plurality of signals for input to the plurality of TFT-LCD modules. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레벨 변환수단, 분배수단 및 수신부는 ECL(Emitter Coupled Logic) IC를 사용하여 구성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치.And said level converting means, distributing means and receiving portion are configured by using an ECL (Emitter Coupled Logic) IC. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 송신부와 수신부의 연결은 거리에 의한 신호의 감쇄 및 노이즈의 유입을 차단할 수 있도록 실드 트위스트 페어 케이블(shielded & twisted pair cable)을 사용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈의 검사장치.The transmitter and the receiver are connected to each other using a shielded twisted pair cable to shield a signal from a distance and influx of noise.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100732617B1 (en) * 2004-11-18 2007-06-27 (주)동아엘텍 TFT-LCD Module multi tester and test method of using dual pattern mode
KR100832468B1 (en) * 2001-07-31 2008-05-26 에스펙 가부시키가이샤 Inspection apparatus for display apparatus, and inspection system for display apparatus
KR101237405B1 (en) * 2011-07-20 2013-02-26 (주)나이시스 Quality Inspection Appartus of TFT LCD Module
KR101382037B1 (en) * 2012-12-03 2014-04-17 이피네트시스템즈 주식회사 Method for processing diagonosis of monitoring apparatus and the monitoring apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100832468B1 (en) * 2001-07-31 2008-05-26 에스펙 가부시키가이샤 Inspection apparatus for display apparatus, and inspection system for display apparatus
KR100732617B1 (en) * 2004-11-18 2007-06-27 (주)동아엘텍 TFT-LCD Module multi tester and test method of using dual pattern mode
KR101237405B1 (en) * 2011-07-20 2013-02-26 (주)나이시스 Quality Inspection Appartus of TFT LCD Module
KR101382037B1 (en) * 2012-12-03 2014-04-17 이피네트시스템즈 주식회사 Method for processing diagonosis of monitoring apparatus and the monitoring apparatus

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