KR101236509B1 - Liquid crystal display and method for repairing the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 점 결함, 라인 결함, 단락 결함을 효율적으로 리페어하기 위한 것으로, 투명 절연 기판과, 투명 절연 기판 상에 수평 및 수직 방향으로 교차 형성되어 복수 개의 화소들을 정의하는 게이트 라인들 및 데이터 라인들과, 게이트 라인들과 데이터 라인들 각각의 교차 부위에 배치되고, 게이트 라인에서 연장된 게이트 전극, 게이트 전극 상의 반도체층, 데이터 라인에서 분기된 소스 전극, 반도체층을 사이에 두고 소스 전극과 마주보는 드레인 전극이 구비된 박막 트랜지스터와, 드레인 전극에 연결되도록 형성되는 화소 전극과, 일부 영역이 데이터 라인이나 화소 전극에 겹쳐지도록 구성된 리페어 패턴을 포함하는 액정 표시 장치 및 그의 리페어 방법을 제공한다.The present invention is to efficiently repair point defects, line defects and short-circuit defects, and includes a transparent insulating substrate and gate lines and data lines intersecting in a horizontal and vertical direction on the transparent insulating substrate to define a plurality of pixels. A gate electrode extending from the gate line, a semiconductor layer on the gate electrode, a source electrode branched from the data line, and facing the source electrode with the semiconductor layer interposed therebetween. A liquid crystal display including a thin film transistor having a drain electrode, a pixel electrode formed to be connected to the drain electrode, and a repair pattern configured to overlap a portion of the data line with the pixel electrode, and a repair method thereof.
액정 표시 장치, 리페어 공정, 점 결함, 라인 결함, 단락 결함 Liquid crystal display, repair process, point defects, line defects, short circuit defects
Description
도 1은 일반적으로 액정 표시 장치의 어레이 기판 완성 후 진행되는 검사 과정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a diagram for describing an inspection process that is generally performed after completing an array substrate of a liquid crystal display.
도 2는 종래 기술에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도이다.2 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display device according to the prior art.
도 3 및 도 4는 종래 기술에 따른 리페어 공정을 설명하기 위한 일부 평면도이다.3 and 4 are some plan views for explaining a repair process according to the prior art.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 어레이 기판을 나타낸 평면도이다.5 is a plan view illustrating an array substrate in a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 6은 도 5에 나타난 링크 리페어 패턴 및 라인 리페어 패턴의 구체적인 구성을 설명하기 위한 일부 평면도이다.FIG. 6 is a partial plan view illustrating a specific configuration of the link repair pattern and the line repair pattern shown in FIG. 5.
도 7a는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이다.7A is a plan view of a portion of an array substrate for explaining a repairing method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment.
도 7b는 도 7a의 Ι-Ι'라인을 나타낸 단면도이다.FIG. 7B is a cross-sectional view illustrating the line II-VII of FIG. 7A.
도 8a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이다.8A is a plan view of a portion of an array substrate for explaining a repairing method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment.
도 8b는 도 8a의 Ⅱ-Ⅱ'라인을 나타낸 단면도이다.FIG. 8B is a cross-sectional view illustrating the II-II ′ line of FIG. 8A.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이다.9 is a partial plan view of an array substrate for explaining a repairing method of a liquid crystal display according to still another exemplary embodiment of the present invention.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이다.10 is a partial plan view of an array substrate for explaining a repairing method of a liquid crystal display according to still another exemplary embodiment of the present invention.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS (S)
100: 투명 절연 기판 P1, P2, P3, P4, …: 화소100: transparent insulating substrates P1, P2, P3, P4,... Pixel
110: 게이트 라인 111: 게이트 전극110: gate line 111: gate electrode
120: 데이터 라인 121: 소스 전극120: data line 121: source electrode
22: 드레인 전극 130: 화소 전극22: drain electrode 130: pixel electrode
210: 라인 리페어 패턴 220: 링크 리페어 패턴210: line repair pattern 220: link repair pattern
본 발명은 액정 표시 장치 및 그의 리페어 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 리던던시 패턴(redundancy pattern)을 이용한 액정 표시 장치 및 그의 리페어 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device and a repair method thereof, and more particularly, to a liquid crystal display device using a redundancy pattern and a repair method thereof.
액정 표시 장치는 상하부의 투명 절연 기판인 컬러 필터 기판과 어레이 기판 사이에 이방성 유전율을 갖는 액정층을 형성한 후, 액정층에 형성되는 전계의 세기를 조정하여 액정 물질의 분자 배열을 변경시키고, 이를 통하여 컬러 필터 기판에 투과되는 빛의 양을 조절함으로써 원하는 화상을 표현하는 표시 장치이다. 액정 표 시 장치로는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)를 스위칭 소자로 이용하는 박막 트랜지스터 액정 표시 장치(TFT LCD)가 주로 사용되고 있다.The liquid crystal display device forms a liquid crystal layer having anisotropic dielectric constant between the color filter substrate, which is the upper and lower transparent insulating substrates, and the array substrate, and then adjusts the intensity of the electric field formed in the liquid crystal layer to change the molecular arrangement of the liquid crystal material. The display device expresses a desired image by adjusting the amount of light transmitted through the color filter substrate. As a liquid crystal display device, a thin film transistor liquid crystal display device (TFT LCD) using a thin film transistor (TFT) as a switching element is mainly used.
도 1은 일반적으로 액정 표시 장치의 어레이 기판 완성 후 진행되는 검사 과정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a diagram for describing an inspection process that is generally performed after completing an array substrate of a liquid crystal display.
TFT 어레이 공정(S10)을 거쳐 어레이 기판이 완성된 후, 어레이 기판과 컬러 필터 기판과의 합착 및 액정층 형성이 이루어지는 액정 셀 공정을 진행하여 액정 패널을 제조하기 이전에 어레이 테스트 공정(S11)을 통하여 완성된 어레이 기판의 불량 여부를 검사하게 된다.After the array substrate is completed through the TFT array process (S10), the array test process (S11) is performed before manufacturing the liquid crystal panel by performing the liquid crystal cell process in which the array substrate and the color filter substrate are bonded and the liquid crystal layer is formed. Through the inspection of the defective array substrate is completed.
어레이 테스트 공정(S11)에서는, 완성된 어레이 기판 상의 게이트 패드 및 데이터 패드로 일정한 테스트 신호를 인가하여 어레이 기판 상에 형성되어 있는 박막 트랜지스터들의 온/오프(ON/OFF) 상태를 검사한다. 그리고, 박막 트랜지스터들이 온 상태일 때, 데이터 패드 상의 데이터 라인들을 통해 테스트 신호를 인가하여 화소 점등 상태를 검사한다.In the array test process S11, a constant test signal is applied to the gate pad and the data pad on the completed array substrate to check the on / off state of the thin film transistors formed on the array substrate. When the thin film transistors are in the on state, the test signal is applied through the data lines on the data pad to check the pixel lighting state.
이러한 어레이 테스트 공정(S11)을 거쳐 불량품이 발견되면, 육안이나 광학 기구를 이용하여 불량의 형태, 리페어(repair) 가능 여부 등을 판단하기 위한 불량품 검사 작업(S12)을 진행한다.If a defective product is found through such an array test process (S11), the defective product inspection operation (S12) is performed to determine the form of the defect, whether repair is possible, etc. using the naked eye or an optical apparatus.
불량품 검사 결과, 불량 정도가 심하고, 불량 화소의 수가 기준치 이상인 경우에는 리페어 공정을 수행하지 않고, 불량 화소의 수가 기준치 영역에 있는 경우에는 각각의 불량 화소들에 대한 리페어 공정(S13)을 진행하게 된다.As a result of the defective product inspection, when the degree of defect is severe and the number of the defective pixels is greater than the reference value, the repair process is not performed. When the number of the defective pixels is in the reference value region, the repair process S13 is performed for each defective pixel. .
화소 불량인 경우, 해당 화소가 항상 온 상태가 되어 액정 패널 상에 휘점으 로 나타나거나, 항상 다크(dark) 상태가 되어 액정 패널 상에 암점으로 나타나게 되며, 항상 온 상태가 되는 화소는 레이저를 이용한 리페어 공정(S13)을 수행하여 구동 신호인 데이터 전압이 화소 전극으로 인가되지 않도록 암점화한다.In the case of a defective pixel, the pixel is always turned on and appears as a bright point on the liquid crystal panel, or it is always dark and appears as a dark spot on the liquid crystal panel. The repair process (S13) is performed to darken the data voltage as the driving signal so that the driving voltage is not applied to the pixel electrode.
도 2는 종래 기술에 따른 액정 표시 장치용 어레이 기판의 평면도로서, TN(Twisted Nematic) 구조에 쓰이는 어레이 기판을 각각 도시하고 있다.FIG. 2 is a plan view of an array substrate for a liquid crystal display according to the related art, and illustrates an array substrate used in a twisted nematic (TN) structure, respectively.
종래의 어레이 기판은 도 2에 도시된 것처럼, 서로 직교하는 게이트 라인(10) 및 데이터 라인(20)에 의해 영역이 정의되는 복수 개의 화소들로 이루어지고, 게이트 라인(10)으로부터 연장된 게이트 전극(11), 게이트 전극(11) 상의 반도체층(미도시), 반도체층(미도시)을 사이에 두고 서로 마주보는 소스 전극(21) 및 드레인 전극(22)이 형성되어 박막 트랜지스터를 이룬다.A conventional array substrate is composed of a plurality of pixels whose regions are defined by
박막 트랜지스터의 게이트 전극(11)으로는 게이트 전압이 인가되고, 소스 및 드레인 전극(21, 22)으로는 데이터 전압이 인가되며, 반도체층(미도시) 상에 채널(channel)이 게이트 전압과 데이터 전압의 차전압에 의해 전압의 온/오프를 조절하게 된다.A gate voltage is applied to the
TN 구조의 경우에는 도 1과 같이, 드레인 전극(22)에 연결되도록 화소 전극(30)이 형성되어 컬러 필터 기판 상의 공통 전극(미도시)과 수직 방향의 전계를 발생시킴으로써 화상을 표시하게 된다.In the case of the TN structure, as illustrated in FIG. 1, the
도시되지는 않았지만, 어레이 기판과 마주보는 컬러 필터 기판 상에는 컬러 필터층과, 공통 전극이 차례대로 형성되어 있다.Although not shown, a color filter layer and a common electrode are sequentially formed on the color filter substrate facing the array substrate.
컬러 필터층은 특정한 파장대의 빛만을 투과시키는 컬러 필터와, 컬러 필터 의 경계부에 위치하여 액정의 배열이 제어되지 않는 영역 상의 빛을 차단하는 블랙 매트릭스로 구성된다.The color filter layer is composed of a color filter for transmitting only light of a specific wavelength band and a black matrix positioned at a boundary of the color filter to block light on an area where the arrangement of liquid crystals is not controlled.
그리고, 컬러 필터 기판과 어레이 기판의 각 외부면에는 편광 축과 평행한 빛만을 투과시키는 상부 및 하부 편광판이 각각 위치하고, 하부 편광판의 하부에는 별도의 광원인 백라이트(back light)가 배치되어 있다.In addition, upper and lower polarizing plates for transmitting only light parallel to the polarization axis are disposed on each outer surface of the color filter substrate and the array substrate, and a back light, which is a separate light source, is disposed below the lower polarizing plate.
도 3 및 도 4는 종래 기술에 따른 리페어 공정을 설명하기 위한 일부 평면도로서, 도 2의 어레이 기판을 이용한 리페어 공정(S13)을 나타내고 있다.3 and 4 are partial plan views illustrating a repair process according to the related art, and show a repair process S13 using the array substrate of FIG. 2.
리페어 공정(S13)에서는 항상 온 상태가 되는 불량 화소가 있는 점 결함(dot defect)의 경우(휘점 불량), 도 3과 같이 레이저 용접(laser welding)을 하여 화소 전극(30)과 게이트 라인(10)을 접촉시켜 암점화 시키거나, 라인 결함(data line defect)이 발생한 경우 도 4와 같이 레이저를 이용해 데이터 라인(20)의 일부를 다시 패터닝하는 W-CVD 용접을 실시하여 리페어하게 된다.In the repair process (S13), in the case of a dot defect in which there is a defective pixel that is always on (brightness defect), the
그런데, 도 3과 같은 방식으로 리페어 공정(S13)을 수행하게 되면, 복구된 화소가 항상 암점으로만 존재하게 되며, 암점화된 불량 지점의 화소는 휘점에 비하여 인지 정도가 떨어질 뿐이지 마찬가지로 사용자에게 쉽게 인지된다는 문제점이 있었다.However, when the repair process (S13) is performed in the same manner as in FIG. 3, the repaired pixel always exists only as a dark spot, and the pixel of the dark spot that is darkened is not as easy to recognize as compared to the bright spot. There was a problem of being recognized.
그리고, 화소 전극(30)을 리페어하기 위하여 화소 전극(30)에 연결된 박막 트랜지스터의 드레인 전극(22) 부분을 절단하여야 하는데 이때, 인접한 소스 전극(21) 및 드레인 전극(22)과 게이트 전극(11) 간의 단락(short)이 쉽게 발생되는 문제점이 있었다.In order to repair the
또한, 도 4와 같은 방식의 리페어 공정(S13)은 패턴을 추가로 형성하는 공정이 실시되어야 하므로, 어레이 기판 상태에서만 리페어가 가능하고, 액정 셀 공정으로 진행되어 액정 패널로 제조된 상태에서는 리페어가 불가능하다는 단점이 있었다.In addition, in the repair process S13 of FIG. 4, since a process of additionally forming a pattern is to be performed, the repair process may be performed only in an array substrate state, and the repair process may be performed in a liquid crystal panel state by proceeding to a liquid crystal cell process. The disadvantage was that it was impossible.
따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 점 결함(dot defect)이 발생한 불량 화소를 인접한 정상 화소와 연동 구동하여 시각적 무결점화함으로써, 일반적인 화상에서 쉽게 불량 지점이 인지되지 않는 액정 표시 장치를 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device in which a defect point in which a dot defect has occurred is visually defectless by cooperatively driving the adjacent defective pixel with an adjacent normal pixel, so that a defect point is not easily recognized in a general image. .
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 점 결함(dot defect) 뿐만 아니라, 라인 결함(data open defect), 게이트 및 데이터 라인 간의 단락 결함(GD short defect) 발생 시에도 손쉽게 리페어 가능한 액정 표시 장치를 제공하는 것이다.Another technical problem to be solved by the present invention is to provide a liquid crystal display device which can be easily repaired in the event of not only a dot defect but also a data open defect and a GD short defect between the gate and the data line. will be.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 액정 패널로 합착되기 전의 어레이 기판 상태에서뿐만 아니라 합착된 이후의 액정 패널 상태에서도 손쉽게 리페어 공정을 수행할 수 있는 액정 표시 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which can easily perform a repair process not only in an array substrate state before bonding to a liquid crystal panel but also in a liquid crystal panel state after bonding.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 이와 같은 액정 표시 장치를 효율적으로 리페어할 수 있는 액정 표시 장치의 리페어 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method for repairing a liquid crystal display device capable of efficiently repairing such a liquid crystal display device.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Technical problems to be achieved by the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems not mentioned above will be clearly understood by those skilled in the art from the following description. Could be.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치는, 투명 절연 기판과, 상기 투명 절연 기판 상에 수평 및 수직 방향으로 교차 형성되어 복수 개의 화소들을 정의하는 게이트 라인들 및 데이터 라인들과, 상기 게이트 라인들과 상기 데이터 라인들 각각의 교차 부위에 배치되고, 상기 게이트 라인에서 연장된 게이트 전극, 상기 게이트 전극 상의 반도체층, 상기 데이터 라인에서 분기된 소스 전극, 상기 반도체층을 사이에 두고 상기 소스 전극과 마주보는 드레인 전극이 구비된 박막 트랜지스터와, 상기 드레인 전극에 연결되도록 형성되는 화소 전극과, 일부 영역이 상기 데이터 라인이나 상기 화소 전극에 겹쳐지도록 구성된 리페어 패턴을 포함하는 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display device includes a transparent insulating substrate and gate lines and data defining a plurality of pixels by crossing the horizontal and vertical directions on the transparent insulating substrate. A gate electrode extending from the gate line, a semiconductor layer on the gate electrode, a source electrode branched from the data line, and the semiconductor layer disposed at an intersection of each of the lines, the gate lines, and the data lines. And a thin film transistor having a drain electrode facing the source electrode, a pixel electrode formed to be connected to the drain electrode, and a repair pattern configured to overlap a portion of the data line or the pixel electrode. It features.
상기 리페어 패턴은, 상기 게이트 라인을 사이에 두고 인접하는 두 화소 간에 형성되며, 양측 끝단의 일부가 상기 인접하는 두 화소의 상기 화소 전극에 각각 오버랩 되도록 구성되는 링크 리페어 패턴으로 구성할 수 있다.The repair pattern may be formed between two adjacent pixels with the gate line interposed therebetween, and the link repair pattern may be configured such that portions of both ends thereof overlap the pixel electrodes of the two adjacent pixels, respectively.
상기 링크 리페어 패턴은, 상기 데이터 라인, 상기 소스 및 드레인 전극과 동일 층(layer) 상에, 동일한 종류의 금속 물질로 구성되는 것이 바람직하다.The link repair pattern may be formed of the same kind of metal material on the same layer as the data line, the source and the drain electrode.
상기 리페어 패턴은, 상기 복수 개의 화소 각각에 형성되며, 일측은 상기 화소 전극과 오버랩 되어 있고, 다른 측은 상기 데이터 라인과 이격되어 있으며, 상 하부에 상기 데이터 라인 방향으로 연장된 한 쌍의 돌출부가 형성되어 상기 한 쌍의 돌출부가 데이터 라인과 오버랩 되도록 구성된 라인 리페어 패턴으로 구성할 수 있다.The repair pattern may be formed on each of the plurality of pixels, one side of which is overlapped with the pixel electrode, the other side of the repair pattern is spaced apart from the data line, and a pair of protrusions extending in the upper and lower directions thereof are formed. Thus, the pair of protrusions may be configured as a line repair pattern configured to overlap the data line.
상기 라인 리페어 패턴은, 상기 게이트 라인 및 상기 게이트 전극과 동일 층(layer) 상에, 동일한 종류의 금속 물질로 구성되는 것이 바람직하다.The line repair pattern is preferably made of the same kind of metal material on the same layer as the gate line and the gate electrode.
상기 리페어 패턴은 상기 링크 리페어 패턴 및 상기 라인 리페어 패턴의 두 가지 종류로 형성되며, 상기 링크 리페어 패턴의 일측 끝단에서 상기 링크 리페어 패턴, 상기 라인 리페어 패턴, 상기 화소 전극이 모두 겹쳐지는 영역이 형성되도록 구성할 수 있다.The repair pattern is formed of two types, the link repair pattern and the line repair pattern, and a region where the link repair pattern, the line repair pattern, and the pixel electrode overlap at one end of the link repair pattern is formed. Can be configured.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법은 서로 교차되는 게이트 및 데이터 라인으로 구분되며 박막 트랜지스터에 의해 스위칭되는 제 1 및 제 2 화소를 포함하고, 화소 단위로 박막 트랜지스터에 연결되는 화소 전극이 형성되며, 인접하는 상기 제 1 및 제 2 화소 간에 링크 리페어 패턴이 형성된 어레이 기판을 제조하는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 화소에 테스트 신호를 인가하여 상기 제 1 화소의 점 결함을 검출하는 단계와, 상기 제 1 화소의 박막 트랜지스터를 단선(cutting)시키는 단계와, 양측 끝단의 일부가 상기 제 1 및 제 2 화소의 상기 화소 전극에 겹쳐진 상기 링크 리페어 패턴의 양측 끝단을 상기 제 1 및 제 2 화소의 상기 화소 전극에 전기적으로 접촉시키는 단계를 포함하며, 상기 링크 리페어 패턴은 인접하는 상기 제 1 및 제 2 화소 간에 형성되면서 양측 끝단의 일부가 상기 제 1 및 제 2의 화소 전극에 각각 오버랩 되도록 구성되는 것을 특징으로 한다.A repair method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes first and second pixels which are divided into gates and data lines that cross each other and are switched by thin film transistors, and are connected to the thin film transistors on a pixel-by-pixel basis. Manufacturing an array substrate having an electrode formed thereon and having a link repair pattern formed between the adjacent first and second pixels, and applying a test signal to the first and second pixels to detect a point defect of the first pixel Cutting the thin film transistors of the first pixel, cutting both thin film transistors of the first pixel, and connecting both ends of the link repair pattern having a part of both ends overlapped with the pixel electrodes of the first and second pixels. Electrically contacting the pixel electrode of a second pixel, wherein the link repair pattern is adjacent to the first and second adjacent pixels; As formed between the small characterized in that the part of the both ends adapted to be respectively overlapped with the pixel electrode of the first and second.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법은 서로 교차되는 게이트 및 데이터 라인으로 구분되며 박막 트랜지스터에 의해 스위칭되는 제 1 및 제 2 화소를 포함하고, 화소 단위로 박막 트랜지스터에 연결되는 화소 전극과 라인 리페어 패턴이 형성되며, 인접하는 상기 제 1 및 제 2 화소 간에 링크 리페어 패턴이 형성된 어레이 기판을 제조하는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 화소에 테스트 신호를 인가하여 상기 제 1 화소의 라인 결함을 검출하는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 화소 간의 상기 링크 리페어 패턴과, 상기 제 1 및 제 2 화소에 각각 형성되어 있는 상기 라인 리페어 패턴을 거치도록 상기 데이터 라인을 전기적으로 접촉시키는 단계를 포함하며, 상기 링크 리페어 패턴은 양측 끝단의 일부가 상기 제 1 및 제 2 화소의 상기 화소 전극에 각각 오버랩 되며, 상기 라인 리페어 패턴은 일측이 상기 제 1 및 제 2 화소의 상기 화소 전극에 각각 오버랩 되면서, 다른 측이 상기 데이터 라인과 이격되고, 상하부에 형성된 한 쌍의 돌출부를 통해 상기 데이터 라인과 오버랩 되도록 구성되며, 상기 링크 및 라인 리페어 패턴, 상기 화소 전극이 모두 겹쳐지는 영역이 형성되는 것을 특징으로 한다.A repair method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment of the present invention includes first and second pixels, which are divided into gates and data lines that cross each other and are switched by thin film transistors, and are connected to the thin film transistors on a pixel-by-pixel basis. Forming an array substrate having an electrode and a line repair pattern and having a link repair pattern formed between the adjacent first and second pixels, and applying a test signal to the first and second pixels to Detecting a line defect, and electrically contacting the data line to pass through the link repair pattern between the first and second pixels and the line repair pattern formed on the first and second pixels, respectively. The link repair pattern may include portions of both ends of the link repair pattern on the pixel electrodes of the first and second pixels. The line repair patterns overlap each other, and one side of the line repair pattern overlaps the pixel electrodes of the first and second pixels, and the other side of the line repair pattern is spaced apart from the data line. It is configured to overlap, characterized in that the region in which the link, the line repair pattern, and the pixel electrode all overlap.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법은 서로 교차되는 게이트 및 데이터 라인으로 구분되며 박막 트랜지스터에 의해 스위칭되는 제 1 및 제 2 화소를 포함하고, 화소 단위로 박막 트랜지스터에 연결되는 화소 전극과, 라인 리페어 패턴이 형성된 어레이 기판을 제조하는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 화소에 테스트 신호를 인가하여 상기 제 1 화소의 라인 결함을 검출하는 단계와, 상기 제 1 화소에 구비된 상기 라인 리페어 패턴의 상하부에 형성된 한 쌍의 돌출부를 상기 제 1 화소의 상기 화소 전극에 전기적으로 접촉시키는 단계를 포함하며, 상기 라인 리페어 패턴은, 일측이 상기 제 1 화소의 상기 화소 전극과 오버랩 되고, 다른 측이 상기 데이터 라인과 이격되며, 상하부에 형성된 상기 한 쌍의 돌출부를 통해 상기 데이터 라인과 오버랩 되도록 구성되는 것을 특징으로 한다.A repair method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment of the present invention includes first and second pixels which are divided into gates and data lines that cross each other and are switched by thin film transistors, and are connected to the thin film transistors on a pixel basis. Manufacturing a pixel electrode and an array substrate on which a line repair pattern is formed, detecting a line defect of the first pixel by applying a test signal to the first and second pixels, and Electrically contacting the pair of protrusions formed on the upper and lower portions of the line repair pattern with the pixel electrode of the first pixel, wherein the line repair pattern has one side overlapping with the pixel electrode of the first pixel. The other side is spaced apart from the data line, and the data line is formed through the pair of protrusions formed on upper and lower portions thereof. Characterized in that it is configured to overlap with.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법은 서로 교차되는 게이트 및 데이터 라인으로 구분되며 박막 트랜지스터에 의해 스위칭되는 제 1 내지 제 4 화소를 포함하고, 화소 단위로 박막 트랜지스터에 연결되는 화소 전극과, 라인 리페어 패턴이 형성되며, 상기 게이트 라인을 사이에 두고 서로 인접한 상기 제 1 및 제 3 화소, 상기 제 2 및 제 4 화소 간에 링크 리페어 패턴이 각각 형성된 어레이 기판을 제조하는 단계와, 상기 제 1 내지 제 4 화소에 테스트 신호를 인가하여 상기 게이트 및 데이터 라인의 단락 결함을 검출하는 단계와, 상기 데이터 라인에 연결된 상기 박막 트랜지스터의 양측을 단선하는 단계와, 상기 제 1 및 제 3 화소 간의 상기 링크 리페어 패턴과, 상기 제 1 및 제 3 화소에 각각 형성되어 있는 상기 라인 리페어 패턴을 거치도록 상기 데이터 라인을 전기적으로 접촉시키는 단계를 포함하며, 상기 링크 리페어 패턴은 양측 끝단의 일부가 서로 인접한 상기 제 1 및 제 3 화소, 상기 제 2 및 제 4 화소 간에 각각 오버랩 되고, 상기 라인 리페어 패턴은 일측이 상기 제 1 및 제 3 화소의 상기 화소 전극에 오버랩 되고, 다른 측이 상기 데이터 라인과 이격되며, 상하부에 형성된 한 쌍의 돌출부를 통해 상기 데이터 라인과 오버랩 되도록 구성되고, 상기 링크 및 라인 리페어 패턴, 상기 화소 전극이 모두 겹쳐지는 영역이 형성되는 것을 특징으로 한다.A repair method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment of the present invention includes first to fourth pixels which are divided into gates and data lines that cross each other and are switched by thin film transistors, and connected to the thin film transistors on a pixel basis. Manufacturing an array substrate having a pixel electrode, a line repair pattern formed thereon, and a link repair pattern formed between the first and third pixels adjacent to each other with the gate line interposed therebetween, and the second and fourth pixels; Applying a test signal to the first to fourth pixels to detect short-circuit defects in the gate and data lines, disconnecting both sides of the thin film transistor connected to the data lines, and first and third pixels The link repair pattern therebetween and the line repair pattern formed in the first and third pixels, respectively. And electrically contacting the data line to pass through the data line, wherein the link repair pattern overlaps the first and third pixels, the second and fourth pixels, respectively, wherein portions of both ends thereof are adjacent to each other. The repair pattern is configured such that one side overlaps the pixel electrodes of the first and third pixels, the other side is spaced apart from the data line, and overlaps the data line through a pair of protrusions formed on upper and lower portions thereof. And an area in which both the line repair pattern and the pixel electrode overlap.
여기에서, 서로 인접한 상기 제 2 및 제 4 화소 간에 형성된 상기 링크 리페어 패턴의 양측 끝단과, 상기 링크 리페어 패턴의 양측 끝단에 겹쳐진 상기 제 2 및 제 4 화소의 상기 화소 전극을 전기적으로 접촉시키는 단계를 더 포함할 수 있다.Here, the step of electrically contacting both ends of the link repair pattern formed between the second and fourth pixels adjacent to each other, and the pixel electrode of the second and fourth pixels overlapping both ends of the link repair pattern It may further include.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. Like reference numerals refer to like elements throughout.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시 장치 및 그의 리페어 방법에 대하여 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a liquid crystal display and a repair method thereof according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치에서 어레이 기판을 나타낸 평면도로서, 어레이 기판의 일부 화소를 도시하고 있다.5 is a plan view illustrating an array substrate in a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and illustrates some pixels of the array substrate.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치는 도 5에 도시된 P1이나 P2와 같은 복수 개의 화소들로 이루어지며, 서로 교차하는 수평 방향의 게이트 라인(110)들과 수직 방향의 데이터 라인(120)들에 의해 각 화소의 영역이 구분된다.The liquid crystal display according to the exemplary embodiment of the present invention includes a plurality of pixels, such as P1 and P2 illustrated in FIG. 5, in which the
게이트 라인(110)과 데이터 라인(120)의 교차 부위에는 박막 트랜지스터가 형성된다. 박막 트랜지스터는 게이트 라인(110)으로부터 연장 형성된 게이트 전극(111), 게이트 전극(111) 상의 반도체층(미도시), 데이터 라인(120)에서 드레인 전극(122) 측으로 분기된 소스 전극(121), 반도체층(미도시)을 사이에 두고 소스 전극(121)과 서로 마주보도록 배치되는 드레인 전극(122)을 포함하도록 구성된다.The thin film transistor is formed at the intersection of the
도 5에 도시된 것처럼, 박막 트랜지스터의 드레인 전극(122)은 I자 모양으로 형성되어 화소 전극(130)에 연결되어 있고, 소스 전극(121)은 드레인 전극(122)을 둘러싸는 U자 모양으로 형성되어 데이터 라인(120)과 연결되어 있다. 즉, 오목 형상의 홈을 가진 U자 모양의 소스 전극(121)이 형성되고, 드레인 전극(122)이 소스 전극(121)의 홈 내부에서 소스 전극(121)과 일정한 간격을 두고 위치하도록 형성되는 것이다.As illustrated in FIG. 5, the
이러한 드레인 전극(122) 및 소스 전극(121)은 게이트 라인(110)으로부터 연장 형성된 게이트 전극(111)과 일정한 면적만큼 오버랩 되며, 드레인 전극(122)과 연결되도록 구성된 화소 전극(130)이 화소 단위로 형성된다.The
각 화소에는 일부 영역이 데이터 라인(120)이나 화소 전극(130)에 겹쳐지는 리페어 패턴이 형성되며, 리페어 패턴으로는 링크 리페어 패턴(220)과 라인 리페어 패턴(210)의 두 종류가 구성된다.Each pixel is provided with a repair pattern in which a partial region overlaps the
도 5에서, 하부에 위치하는 화소인 P2를 중심으로 설명하면, 링크 리페어 패턴(220)은 게이트 라인(110)을 사이에 두고 인접하는 상부 화소인 P1과의 사이에 형성되며, 링크 리페어 패턴(220)의 양측 끝단은 일부가 상하부 화소, P1과 P2의 화소 전극(130) 간에 각각 오버랩 되도록 구성된다. 이러한 링크 리페어 패턴(220)은 데이터 라인(120), 소스 및 드레인 전극(121, 122)과 동일 층(layer) 상에, 동일한 종류의 금속 물질(S/D metal)로 형성함으로써, 별도의 마스크 공정을 추가할 필요 없이 손쉽게 구성할 수 있다.In FIG. 5, the
라인 리페어 패턴(210)은 도 5에 도시된 바와 같이, 일측에서는 화소 전극 (130)과 오버랩 되고, 다른 측에서는 데이터 라인과 일정한 간격을 두고 이격되도록 형성한다. 이러한 라인 리페어 패턴(210)은 화소 전극(130)의 일측 또는 양측에 형성할 수 있으며, 도 5의 우측에 있는 라인 리페어 패턴(210)과 같이 상하부에 데이터 라인(120) 방향으로 연장된 한 쌍의 돌출부를 형성하여 이러한 돌출부를 통해 데이터 라인과 오버랩 되는 영역을 갖도록 구성할 수 있다.As shown in FIG. 5, the
또한, 게이트 라인(110) 및 게이트 전극(111)을 형성할 때, 동일 층(layer) 상에, 동일한 종류의 금속 물질인 게이트 금속(gate metal)으로 라인 리페어 패턴(210)을 함께 구성함으로써, 마스크 공정의 추가 없이 라인 리페어 패턴(210)을 구현할 수 있다.In addition, when forming the
P1이나 P2와 같은 각 화소에는, 액정 셀에 충전되는 구동 전압, 즉, 화소 전극(130)으로 인가되는 데이터 전압과 공통 전압의 차전압을 다음 전압이 충전될 때까지 유지하기 위한 스토리지 커패시터(Cst)가 구성된다. 이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 한 층이나 그 이상의 절연막을 사이에 두고 중첩되는 게이트 라인(110)과 화소 전극(130)의 구조를 통하여 구현할 수 있다.Each pixel such as P1 or P2 includes a storage capacitor Cst for maintaining a driving voltage charged in the liquid crystal cell, that is, a difference voltage between the data voltage applied to the
이러한 어레이 기판은 컬러 필터 기판과, 두 기판 사이에 형성된 액정층을 포함하는 액정 패널로 제조되어 사용된다. 어레이 기판 상의 화소 전극(130)은 컬러 필터 기판 상의 공통 전극(미도시)과 함께 수직 방향의 전계를 형성하도록 구동되어 액정층의 배향을 화소 별로 제어하고, 컬러 필터 기판은 적색, 녹색, 청색의 컬러 필터 등을 구비하여, 액정 물질의 배향에 따라 파장별로 빛을 투과시켜 화상을 표시하게 된다.This array substrate is manufactured and used as a liquid crystal panel including a color filter substrate and a liquid crystal layer formed between the two substrates. The
도 6은 도 5에 나타난 링크 리페어 패턴 및 라인 리페어 패턴의 구체적인 구성을 설명하기 위한 일부 평면도이다.FIG. 6 is a partial plan view illustrating a specific configuration of the link repair pattern and the line repair pattern shown in FIG. 5.
데이터 라인(120)의 측면 하부에 리던던시 패턴(redundancy pattern)으로서 게이트 금속을 이용한 라인 리페어 패턴(210)을 형성하고, 라인 리페어 패턴(210)의 일부분이 R1 영역에서와 같이 데이터 라인(120)과 중첩되는 구조를 갖도록 한다. 또한, 게이트 라인(110)을 가로지르는 상부 영역인 R2 영역에는 리던던시 패턴(redundancy pattern)으로서 소스 및 드레인 전극(121, 122)과 같은 종류의 금속 물질(S/D metal)을 형성함으로써, 인접하는 두 화소, P1과 P2의 화소 전극(130)을 연결하는 링크 리페어 패턴(220)을 구성한다.A
P2를 중심으로 설명하면, P1 및 P2의 화소 전극(130)에 각각 오버랩되는 링크 리페어 패턴(220)의 양측 끝단은 P1 및 P2에 각각 형성된 링크 리페어 패턴(220)들과 연결되며, 링크 리페어 패턴(220)의 일측은 R3 영역과 같이, P1 및 P2의 화소 전극(130)들을 연결하는 링크 리페어 패턴(220)과, P1의 라인 리페어 패턴(210) 및 화소 전극(130)이 모두 중첩되는 영역이 존재하도록 구성된다.Referring to P2, both ends of the
또한, 각 화소에서 링크 리페어 패턴(220)과 라인 리페어 패턴(210)은, R4 영역과 같이, 링크 리페어 패턴(220)을 제외하고, 라인 리페어 패턴(210)과 데이터 라인(120)만 중첩되는 부분과, 라인 리페어 패턴(210)을 제외하고, 링크 리페어 패턴(220)과 화소 전극(130)만 중첩되는 부분이 모두 존재하도록 구성된다.In addition, in each pixel, the
도 7a는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법으로, 점 결함 발생 시의 리페어 공정을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이고, 도 7b는 도 7a의 Ι-Ι'라인을 나타낸 단면도이다.FIG. 7A is a plan view of an array substrate for explaining a repair process when a point defect occurs, in a repairing method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 7B illustrates a line of FIG. 7A. It is a cross section.
어레이 기판 상에 점 결함(dot defect)이 발생한 불량 화소 수가 기준치 범위 내에 있는 경우, 링크 리페어 패턴(220)의 구조를 이용하여 불량 화소를 시각적 무결점화하는 리페어 공정을 수행한다.When the number of defective pixels in which a dot defect occurs on the array substrate is within a reference value range, a repair process for visually defecting the defective pixels is performed using the structure of the
예를 들어, 도 5의 구조에서, P1이 불량 화소이고, P1과 인접해 있는 P2가 정상 화소인 경우를 가정하면, (S21) 및 (S22)의 레이저 용접(laser welding)을 통해 P1 및 P2의 화소 전극(130)들과, 그에 겹쳐진 링크 리페어 패턴(220)의 오버랩 영역을 단락(short) 시켜 불량 화소인 P1을 리페어한다.For example, in the structure of FIG. 5, assuming that P1 is a bad pixel and P2 adjacent to P1 is a normal pixel, P1 and P2 through laser welding of (S21) and (S22). The defective pixel P1 is repaired by shorting the overlapping regions of the
그러면, 도 7b에 도시된 것처럼, 서로 떨어져 있던 P1과 P2의 화소 전극(130)들이 링크 리페어 패턴(220)을 통해 서로 연결되면서 정상 화소인 P2로 인가되는 데이터 전압이 불량 화소인 P1도 함께 구동하여 P1과 P2가 동일한 그레이 레벨(gray level)을 표시하게 되면서 시각적 무결점화가 가능해지는 것이다.Then, as illustrated in FIG. 7B, the
이러한 리페어 공정을 수행하기 이전의 상태에서는, 투명 절연 기판(100)에 증착된 게이트 절연막(101) 상에 고립(isolation) 상태의 링크 리페어 패턴(220)이 형성되고, 보호막(102)을 사이에 두고 P1과 P2의 화소 전극(140)들이 각각 형성되어 있어, P1과 P2의 화소 전극(130)들로 각각의 데이터 전압이 인가된다.In the state before the repair process, the
리페어 공정 이후의 상태에서는 도 7b에 도시된 것처럼, 레이저 용접이 수행되는 (S21) 및 (S22) 지점을 통해 P1, P2의 화소 전극(130)들이 서로 전기적으로 접촉되어 P2의 화소 전극(130)으로 인가된 데이터 전압이 P1의 화소 전극(130)으로 전달된다.In the state after the repair process, as shown in FIG. 7B, the
이와 같이, 서로 인접하는 두 개의 화소들, P1과 P2 중 한 화소인 P1이 단선 및 패턴 불량에 의해 휘점 불량화 되었을 때, (S21) 및 (S22) 부분, 즉, 화소 전극(130)과 링크 리페어 패턴(220)이 상하로 겹쳐지는 곳을 레이저로 용접하면 두 개의 화소들이 전기적으로 링크된다. 그에 따라, 불량 화소인 P1이 정상 화소인 P2로부터 데이터 전압을 인가 받아 정상 구동된다.As such, when two pixels adjacent to each other, P1, which is one of P1 and P2, are deteriorated due to disconnection and pattern defect, the (S21) and (S22) portions, that is, the
P1에 구비된 박막 트랜지스터의 반도체층(미도시) 상에서 채널 불량이 발생한 경우에는, (S20)의 레이저 커팅(laser cutting)을 통해 P1에 구비된 박막 트랜지스터의 드레인 전극(122)을 P1의 화소 전극(130)으로부터 단선시키고, (S21) 및 (S22) 부분을 용접하여 리페어 한다.If a channel defect occurs on the semiconductor layer (not shown) of the thin film transistor provided in P1, the
도 7a 및 도 7b에 나타난 점 결함 발생 시의 리페어 공정을 보다 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.The repair process at the time of occurrence of a point defect shown in FIGS. 7A and 7B will be described in more detail as follows.
먼저, 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)에 의해 영역이 구분되는 복수 개의 화소들(P1, P2, …)로 이루어지고, 스위칭 소자로 동작하는 박막 트랜지스터를 포함하며, 인접하는 두 화소 간에 링크 리페어 패턴(220)이 형성된 어레이 기판을 제조한다. 그리고, 어레이 기판의 각 화소에 테스트 신호를 인가하여 불량 화소인 P1의 점 결함을 인지한다.First, a plurality of pixels P1, P2,..., Which are divided by regions of the
다음으로, (S20) 단계에서, 레이저 커팅(laser cutting)을 통해 불량 화소인 P1에 구비된 박막 트랜지스터의 드레인 전극을 단선시킨다.Next, in step S20, the drain electrode of the thin film transistor provided in P1, which is a bad pixel, is disconnected through laser cutting.
다음으로, (S21) 및 (S22) 단계에서, 레이저 용접(laser welding)을 통해 불량 화소인 P1과, 그에 인접한 정상 화소인 P2 간에 형성된 링크 리페어 패턴(220) 을 P1 및 P2의 화소 전극(130)에 각각 전기적으로 접촉시킨다.Next, in steps S21 and S22, the
도 8a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법으로, 라인 결함 발생 시의 리페어 공정을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이고, 도 8b는 도 8a의 Ⅱ-Ⅱ'라인을 나타낸 단면도이다.FIG. 8A is a plan view of an array substrate for explaining a repair process when a line defect occurs, in a repairing method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment. FIG. 8B is a line II-II ′ of FIG. 8A. It is a cross section.
Ⅱ-Ⅱ'라인 사이에서 라인 결함(data open defect)이 발생하였을 때, 레이저 용접을 통해 (S30), (S31), (S32), (S33), (S34) 부분을 전기적으로 접촉시켜, Ⅱ-Ⅱ'라인과 같은 경로로 데이터 전압이 전달되도록 함으로써, 라인 결함을 리페어할 수 있다.When a line open defect occurs between II-II 'lines, the parts (S30), (S31), (S32), (S33) and (S34) are electrically contacted by laser welding, and By repairing the data voltage along the same path as the -II 'line, a line fault can be repaired.
링크 리페어 패턴(220)을 거쳐 데이터 라인(120)이 링크되는 것을 단면으로 도시하면 도 8b와 같다.8B illustrates that the
도 8a 및 도 8b에 나타난 라인 결함 발생 시의 리페어 공정을 보다 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.The repair process at the time of generating a line defect shown in FIGS. 8A and 8B will be described in more detail as follows.
먼저, 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)에 의해 영역이 구분되는 복수 개의 화소들(P1, P2, …)로 이루어지고, 스위칭 소자로 동작하는 박막 트랜지스터를 포함하며, 각 화소 별로 라인 리페어 패턴(210)이 형성되고, 인접하는 두 화소 간에 링크 리페어 패턴(220)이 형성된 어레이 기판을 제조한다. 그리고, 어레이 기판의 각 화소에 테스트 신호를 인가하여 불량 화소인 P1의 라인 결함을 인지한다. 여기서, P1의 라인 결함은 게이트 라인(110)이 형성된 단차부 영역에서 검출되는 경우에 해당한다.First, a plurality of pixels P1, P2,..., Which are divided by regions of the
다음으로, 도 6의 R1, R3, R4, R1에 해당하는 각 지점 별로 레이저 용접을 수행하는 (S30) 단계 내지 (S33) 단계를 통해 P1 및 P2 간의 링크 리페어 패턴(220)과 P1 및 P2에 각각 형성되어 있는 라인 리페어 패턴(210)을 거치도록 데이터 라인(120)을 전기적으로 접촉시키게 된다.Next, the
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법으로, 라인 결함 발생 시의 다른 리페어 공정을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도로서, D1과 같이 단차가 없는 데이터 라인(120) 상의 영역에서 라인 결함(data open defect)이 발생하였을 때 (S40) 및 (S41) 부분을 레이저로 용접함으로써, 라인 결함을 리페어하는 경우를 도시하고 있다.FIG. 9 is a plan view of an array substrate for explaining another repair process when a line defect occurs in a repairing method of a liquid crystal display according to another exemplary embodiment. The
도 9에 나타난 라인 결함 발생 시의 리페어 공정을 보다 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.The repair process at the time of generating a line defect shown in FIG. 9 will be described in more detail as follows.
먼저, 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)에 의해 영역이 구분되는 복수 개의 화소들(P1, P2, …)로 이루어지고, 스위칭 소자로 동작하는 박막 트랜지스터를 포함하며, 각 화소 별로 라인 리페어 패턴(210)이 형성된 어레이 기판을 제조한다. 그리고, 어레이 기판의 각 화소에 테스트 신호를 인가하여 불량 화소인 P1의 라인 결함을 인지한다. 여기서, P1의 라인 결함은 D1과 같이 단차가 형성되지 않는 비단차부 영역에서 검출되는 경우에 해당한다.First, a plurality of pixels P1, P2,..., Which are divided by regions of the
다음으로, (S40) 및 (S41) 단계에서의 레이저 용접을 통해 라인 리페어 패턴(210)의 상하부에 형성된 한 쌍의 돌출부와, 그에 오버랩되어 있는 데이터 라인(120)의 일부를 전기적으로 접촉시켜, 라인 결함을 리페어한다.Next, the pair of protrusions formed on the upper and lower portions of the
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법으 로, 게이트 및 데이터 라인 간 단락 결함 발생 시의 리페어 공정을 설명하기 위한 어레이 기판의 일부 평면도이다.FIG. 10 is a plan view of an array substrate for explaining a repair process when a short circuit defect occurs between a gate and a data line in a repair method of a liquid crystal display according to still another exemplary embodiment of the present invention.
게이트 및 데이터 라인 간 단락 결함(GD short defect)가 D2와 같은 위치에서 발생하면, 데이터 라인(120)과 게이트 라인(110)의 신호가 섞여 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)이 모두 결함을 일으키게 되므로, P1, P2, P3, P4와 같이 그에 연결된 모든 화소들이 불량 화소가 된다. 종래에는, 이러한 경우, 리페어할 수 있는 방법이 없어 해당 어레이 기판이 불량품으로 처리되었다.If a GD short defect occurs at the same position as D2, the signals of the
본 발명에서는, 레이저를 이용하여 (S34) 및 (S35) 부분을 단선시키고, (S30), (S31), (S32), (S33) 부분을 레이저 용접함으로써, 단락 결함에 의한 게이트 라인(110) 및 데이터 라인(120)의 결점을 완전히 리페어할 수 있다. 이때, P2 화소에 신호가 인가되지 않아 휘점 불량이 되므로, (S21) 및 (S22) 부분을 레이저 용접하여 서로 인접하는 P2과 P4가 연동되도록 한다.In the present invention, the (S34) and (S35) portions are disconnected using a laser, and the (S30), (S31), (S32), and (S33) portions are laser welded to form a
본 발명의 리페어 공정에 따르면, 어레이 기판 상태와 액정 패널 상태 모두에서 리페어가 가능하고, 데이터 라인(120) 상의 라인 결함 발생 시에도 추가 패터닝 없이 레이저 용접만으로 리페어가 가능하다.According to the repair process of the present invention, repair is possible in both the array substrate state and the liquid crystal panel state, and repair is possible only by laser welding without additional patterning even when a line defect occurs on the
또한, 화소 별 비단차부 영역의 리페어는 물론(도 9 참조), 종래에 불가능하였던 게이트 라인(110)이 형성된 단차부 영역에서 데이터 라인(120)이 라인 결함을 일으킨 경우에도 리페어가 가능하며(도 8a 및 도 8b 참조), 휘점 불량을 일으키는 점 결함 발생 시 인접한 두 화소들을 연동 구동하여 정상화(시각적 무결점화)할 수 있고(도 7a 및 도 7b 참조), 종래에 불가능하였던 게이트 및 데이터 라인(110, 120) 간 단락 결함 발생 시에도 리페어가 가능하다(도 10 참조).In addition, the repair can be performed even when the
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, You will understand.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are provided so that those skilled in the art can fully understand the scope of the present invention. Therefore, it should be understood that the embodiments are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive, The invention is only defined by the scope of the claims.
상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시 장치는 점 결함(dot defect)이 발생한 불량 화소를 인접한 정상 화소와 연동 구동하여 시각적 무결점화함으로써, 일반적인 화상에서 쉽게 불량 지점이 인지되지 않도록 할 수 있다.The liquid crystal display according to the preferred embodiment of the present invention, which is configured as described above, visually defects by driving a defective pixel having a dot defect with an adjacent normal pixel, so that a defect point is not easily recognized in a general image. can do.
또한, 점 결함(dot defect) 뿐만 아니라, 라인 결함(data open defect), 게이트 및 데이터 라인 간의 단락 결함(GD short defect) 발생 시에도 손쉽게 리페어 공정을 수행할 수 있다.In addition to repairing point defects as well as data open defects and GD short defects between gate and data lines, the repair process can be easily performed.
또한, 액정 패널로 합착되기 전의 어레이 기판 상태에서뿐만 아니라 합착된 이후의 액정 패널 상태에서도 손쉽게 리페어 공정을 수행할 수 있다.In addition, the repair process may be easily performed not only in the array substrate state before bonding to the liquid crystal panel but also in the liquid crystal panel state after the bonding.
또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 리페어 방법은 이와 같은 액정 표시 장치에 효율적으로 적용될 수 있다.In addition, the repair method of the liquid crystal display according to the preferred embodiment of the present invention can be efficiently applied to such a liquid crystal display.
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