KR101231859B1 - 스테레오 χ-선 검색장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 스테레오 X-선 검색장치에 관한 것으로서, 상세하게는 하나의 X-선발생장치와 2개의 검출기로 구성되어 2개의 영상을 획득해 이를 조합하여 입체영상을 얻을 수 있도록 하되, 상기 X-선발생장치와 제1검출기는 수직으로 대면되도록 고정설치하고, 제2검출기는 대상의 크기에 따라 이동 및 회전이 가능하도록 하는 직각삼각형으로 배치함으로써 회득한 영상의 수학전 전개와 해석을 용이하게 할 수 있고, 대상물의 크기에 따라 1개 검출기만 이동시켜 영상을 획득함으로 장치의 제어를 단순화해 고속으로 이동하는 대상물로부터 보다 정밀하게 영상을 얻을 수 있는 스테레오 X-선 검색장치에 관한 것이다.

Description

스테레오 Χ-선 검색장치{Stereo X-ray Scanning Equipment}
본 발명은 스테레오 X-선 검색장치에 관한 것으로서, 상세하게는 하나의 X-선발생장치와 2개의 검출기로 구성되어 2개의 영상을 획득해 이를 조합하여 입체영상을 얻을 수 있도록 하되, 상기 X-선발생장치와 제1검출기는 수직으로 대면되도록 고정설치하고, 제2검출기는 대상의 크기에 따라 이동 및 회전이 가능하도록 하는 직각삼각형으로 배치함으로써 획득한 영상의 수학전 전개와 해석을 용이하게 할 수 있고, 대상물의 크기에 따라 1개 검출기만 이동시켜 영상을 획득함으로 장치의 제어를 단순화해 고속으로 이동하는 대상물로부터 보다 정밀하게 영상을 얻을 수 있는 스테레오 X-선 검색장치에 관한 것이다.
방사선은 의료분야 뿐만 아니라 국방, 신소재, 농업, 환경, 식품 등의 매우 넒은 분야에서 이용되고 있으며, X-선 영상검사를 비롯한 암치료, 동위원소, 농수산물의 수출입 검역, 합성 고분자 제조, 난분해성 폐수 등 폐기물의 처리 등에 적용되는 등 갈수록 활용 범위가 넓어지는 추세에 있다.
이러한 방사선은 주로 비파괴검사에 응용으로 널리 이용되고 있으며, 공항 출입국관리소의 X-선검색장치가 있다.
이러한 X-선검색장치는 이송장치를 통해 검색수단을 통과하는 대상물을 검색하는 장치로서, 검색수단은 X-선발생장치와 검출기로 구성되어 있으며, X-선발생장치에서 조사되어 검색 대상물을 투과한 X-선을 검출기에서 검출하여 대상물의 형상을 파악하고 있다.
그러나 이러한 종래의 X-선검색장치는 단일의 X-선발생장치와 단일의 검출기로 구성되어 있어 2차원 영상만을 얻을 수 있어 빠르게 이동하는 검색 대상물의 정확한 형상을 파악할 수 없으므로 검색장치를 통과한 물품을 다시 검색자가 육안으로 검사하여야 하는 불편이 있었다.
즉, 현재 개발된 검색장치는 주로 이차원의 방사선 스켄 영상정보를 제공함에 따라 정보가 절대적으로 부족하고 검사자의 경험에 의존하여 검사가 이루어지고 있는 실정이어서 기술의 개선 요구가 꾸준히 제기되고 있다.
또한, 방사선을 이용한 검사장치로는 CT(Computed Tomography)나 MRI(Magnetic Resonance Image) 등 3차원 비파괴 영상을 제공하지만 이들은 고속을 요구하지 않는 의료용 등으로는 사용이 가능하나, 연속적으로 이동하는 대형 물체를 고속으로 검사해야 하는 물류시스템에서는 검색 속도에 한계가 있어 사용할 수 없는 문제가 있었다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 개발된 것으로서, 하나의 X-선발생장치와 2개의 검출기를 직각삼각형으로 배치 구성하여 2개의 영상을 획득하고, 대상물의 크기에 따라서는 하나의 검출기만 이동 및 회전시켜 영상정보를 획득하되 검출기의 이동시에도 X-선발생장치와 2개의 검출기가 항상 직각삼각형으로 배치되게 함으로써 획득한 영상의 수학적 전개와 해석을 용이하게 하고 장치 제어를 단순화해 고속으로 이동하는 대상물의 영상을 보다 정밀하게 얻을 수 있는 스테레오 X-선 검색장치를 제공하는 것이다.
이러한 본 발명의 스테레오 X-선 검색장치는,
X-선을 이용한 검색장치에 있어서, 검색 대상물이 이송되는 이송장치와; 상기 이송장치의 일측에 설치되어 대상물에 X-선을 조사하는 X-선발생장치와; 상기 X-선발생장치에서 조사되어 대상물을 투과한 X-선을 검출하는 2개의 제1,2검출기를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 X-선발생장치와 제1검출기는 수직으로 대향되게 설치하고, 제2검출기는 제1검출기와 수평선상에 배치하여 X-선발생장치와 제1검출기 및 제2검출기가 직각삼각형으로 배치되게 한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 스테레오 X-선 검색장치는,
이동되는 검색 대상물에 서로 다른 각도에서 X-선을 투과시켜 획득한 2개의 영상을 조합하여 스테레오 영상을 구현함으로써 보다 정확한 검색대상물의 영상을 얻을 수 있어 검색을 보다 용이하게 할 수 있다.
특히 2개의 영상을 획득하기 위해 구동되는 장치 구성에서 고가의 X-선발생장치를 한 대로 구성하고, 조사된 X-선을 입사받는 검출기를 2대로 구성하여 장치 비용과 제어가 용이하게 하였다.
또한, X-선발생장치와 제1,2검출기를 항상 직각삼각형으로 배치함으로써 획득한 영상의 수학적 전개와 해석을 용이하게 하여 보다 신속하고 정밀한 영상을 제공할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 스테레오 X-선 검색장치의 일예를 도시한 사시도이고,
도 2는 도 1에 도시한 스테레오 X-선 검색장치의 평면도이고,
도 3은 도 1에 도시한 스테레오 X-선 검색장치의 측면도이고,
도 4는 도 1내지 도 3에 도시한 장치를 이용한 검색 방법을 설명하기 위한 평면도이고,
도 5는 본 발명에 따른 스테레오 X-선 검색장치를 이용하여 검색하는 과정을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하, 본 발명에 따른 스테레오 X-선 검색장치를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
본 발명의 스테레오 X-선 검색장치는 서로 다른 각도에서 검색 대상물의 2차원 영상을 검출하고 검출된 영상으로부터 스테레오 영상을 형성하여 이로부터 보다 정확하고 신속한 검색 대상물의 영상을 얻어 검색 대상물을 용이하게 검색할 수 있게 한 것이다.
이러한 본 발명의 스테레오 X-선 검색장치는 X-선을 이용한 검색장치에 있어서, 검색 대상물이 이송되는 이송장치(1)와; 상기 이송장치(1)의 일측에 설치되어 대상물에 X-선을 조사하는 X-선발생장치(2)와; 상기 X-선발생장치에서 조사되어 대상물을 투과한 X-선을 검출하는 2개의 제1,2검출기(3, 4)를 포함하여 구성된다.
상기 이송장치(1)는 통상적으로 물건의 이송에 사용되는 컨베이어 장치의 하나로 모터 등의 구동수단에 의해 회전하는 두 개의 롤러 사이 벨트를 설치하여 구성된 것으로 이송되는 물건이 상하로 움직이지 않고 수평으로 이동될 수 있게 하기 위해 벨트의 안쪽에는 평평한 판 들을 설치할 수 있다.
상기 X-선발생장치(2)와 제1,2검출기(3, 4)는 출입국 관리소 등에 설치된 기존의 X-선발생장치와 검출기와 동일 유사한 구조 및 작용을 하는 것으로 X-선발생장치(2)는 X-선을 제1,2검출기(3, 4)측으로 조사하고, 제1,2검출기(3, 4)는 대상물을 통과하여 입사되는 X-선을 검출한다.
상기 X-선발생장치(2)는 관전압이 40kV에서 최대 120kV까지 인가할 수 있고, 전류는 250uA에서 7500uA 범위내에서 조절이 가능하며, X-선 발생 기준위치는 X-선발생장치(2)의 전면부로부터 81.75㎜ 안쪽에, 밑면으로 부터 101.6㎜ 위쪽, 그리고 왼쪽 모서리를 기준으로 367.05㎜에 위치한다.
X-선의 방출부위에는 0.4㎜ 두께의 알루미늄이 놓여 있어 필터기능을 부가하였고, X-선 방출 빔의 각도는 상하 80ㅀ를 이루며 좌우 각도는 최대 10ㅀ로 설계하였다. 본 실험에서 설정하여 사용한 에너지는 129keV이다.
상기 X-선발생장치(2)에서 조사된 X-선은 도 4에 도시한 바와 같이, 제1, 2 검출기(3, 4)를 향해 조사되며, 이렇게 X-선발생장치(2)로부터 제1, 2검출기(3, 4)로 조사되는 X-선은 검색 대상물을 투과하여 제1, 2 검출기(3, 4)로 입사되고, 제1, 2검출기로 각각 입사된 2차원 영상은 대상물을 서로 다른 각도에서 바라본 것과 같은 영상이 된다.
이렇게 2개의 제1, 2검출기(3, 4)에서 얻은 2차원 영상을 사로 조합함에 의해 대상물의 스테레오 영상을 얻을 수 있어 보다 정확한 대상물의 연상을 얻을 수 있는 것이다.
이와같이 하나의 X-선발생장치(2)로부터 조사된 X-선 영상이 제1, 2 검출기(3, 4)에 각각 입사되고, 대상물의 크기에 따라서는 입사되는 X-선 영상으로부터 보다 정확한 대상물의 스테레오 영상을 얻기 위해서 제1, 2검출기(3, 4) 사이의 거리와 X-선발생장치(2)의 방향이 조절될 수 있어야 한다.
이에 따라 상기 제1, 2검출기(3, 4) 중 어느 하나인 제2검출기(4)는 수평이송장치(41)에 의해 수평으로 이동 가능하게 설치될 뿐만 아니라, 회전장치(42)에 의해 회전 가능하게 설치된다.
이렇게 제2검출기(4)를 수평으로 이동 가능하게 설치됨으로써, 제1검출기(3)와의 거리가 조절될 수 있고, 상기 제2검출기(4)를 회전 가능하게 설치함으로써, 제2검출기(4)가 X-선발생기를 향하도록 조절하여 조사되는 X-선의 입사가 이루어지도록 할 수 있다.
이 때 상기 제2검출기(4)는 이동거리에 따라 자동으로 회전이 이루어지게 함으로써 항상 X-선발생기(2)를 향하도록 하는 것이 바람직하다. 예컨대 상기 제2검출기의 수평이송장치의 이동거리를 센서에 의해 측정하고 측정된 값을 기준값과 대비하여 수취한 회전각도 만큼 제2검출기를 회전시키게 함으로써 가능하다. 또한, 수평이송장치가 LM가이드일 경우 축의 회전수에 따라 제2검출기의 회전각도를 설정하여 적용하는 등 다양한 방법으로 수평이송장치(41)와 연동되어 제2검출기의 회전장치(42)를 구동시킬 수 있는 등 다양한 방법에 의해 제2검출기의 이동거리와 연동되어 회전이 이루어지도록 할 수 있다.
아울러 이동되는 제2검출기(4)가 X-선발생장치(2)의 조사범위를 벗어날 경우 상기 X-선발생장치(2)를 회전시켜 제2검출기로의 X-선 조사가 가능하도록 할 수 있다. 즉, 상기 X-선발생장치(2)로부터 조사된 X-선은 제1,2 검출기(3, 4)로 모두 입사될 수 있어야 하고, 이에 따라 X-선발생장치(2)의 방향을 바꿀 수 있게 설치되어 있어야 한다. 따라서, 상기 X-선발생장치(2)에는 회전장치(21)가 설치되어 있어 X-선발생장치가 회전되어 조사되는 X-선 방향을 조절할 수 있는 것이다.
예컨대 제2검출기가 X-선발생장치의 조사각을 벗어날 경우 도 4를 참조한 바와같이 X-선발생장치를 회전시키게 되는데, 이때 X-선발생장치는 제1검출기과 X-선발생장치와 제2검출기가 형성하는 각도의 등분된 중앙부분을 향하도록 회전시키는 것이 바람직하다. 이는 일정한 조사각을 갖는 X-선발생장치를 상기 제1검출기와 제2검출기의 이격된 중앙부분으로 향하게 함으로써 조사각 범위 내에서 제1검출기와 제2검출기를 최대한 이격시킬 수 있기 때문이다.
또한, 미도시되었지만 상기 제1, 2검출기 사이의 거리가 멀 경우에는 X-선발생장치의 방향만을 바꾸는 것으로는 X-선발생장치에서 조사된 X-선이 두 검출기에 모두 조사되게 할 수 없으므로 X-선발생장치를 수평으로 이동시키도록 할 수 있다.
한편, 본 발명은 X-선발생장치(2)와 제1검출기(3)는 수직으로 대면되게 설치하고, 제2검출기(4)는 제1검출기와 수평선상에 배치하여 X-선발생장치와 제1검출기 및 제2검출기가 직각삼각형으로 배치되도록 설치할 수 있다.
즉, 본 발명과 같이 X-선발생장치(2)와 제1검출기(3)를 수직선상으로 고정시키고 제2검출기(4)를 수평상으로 이동하게 하면 제2검출기의 이동과 무관하게 X-선발생장치와 제1검출기가 이루는 각도가 항상 직각(정수직)을 이루기 때문에 수학적 전개와 해석을 이용한 알고리즘을 단순화시켜 신속한 영상을 획득할 수 있는 것이다.
예컨대 본 발명은 하나의 X-선발생장치로부터 조사되는 X-선이 서로 다른 각도에서 검색 대상물을 투과하여 제1, 2 검출기에 각각 입사되고, 이에 따라 획득한 2개의 2차원 영상을 조합하여 스테레오 영상을 최종적으로 획득하여 제공한다. 이와같은 과정으로 획득한 2개의 2차원 영상은 기존에 공지되고 있는 수학적 전개와 해석 알고리즘에 의해 조합되어 스테레오 입체영상을 제공하는 것이다.
이러한 과정에서의 변수 중 하나가 X-선발생장치와 2개의 검출기가 이루는 각도이다. 즉, 계산과정에는 X-선발생장치와 제1검출기가 이루는 각도와, X-선발생장치와 제2검출기가 이루는 각도 및 이로부터 획득한 2차원영상을 조합하여 계산하는데 상기 과정에서 X-선발생장치와 제1검출기가 이루는 각도를 단순화하여 고정시킴으로써 전체적인 과정이 보다 신속하게 이루어지고 스테레오영상의 정밀도를 증가시킬 수 있는 것이다.
이러한 수학적 전개와 해석에 의한 2개의 2차원 영상을 스테레오 영상으로 변환하는 장치는 영상 편집 수단을 구비한 컴퓨터 장치 등의 제어장치에 설치됨으로 본 명세서에서는 그 구체적인 설명은 생략한다.
이하에서는 상기와 같이 구성된 본 발명의 스테레오 X-선 검색장치를 이용하여 검색 대상물을 검색하는 과정을 간략하게 설명한다.
도 5에 이러한 검색 과정을 순서도로 표시하였다.
먼저, 대상물을 검색하기 전에 장치 운용을 위한 초기화(Initialization) 과정(S1)에서 X-선 발생장치, 검출기, 이송장치에 대한 값을 설정하는데 선명한 영상을 얻기 위해서는 대상물의 특징에 맞는 최적의 X-선발생장치 관전압, 관전류값을 설정해야 하며, 정밀 스테레오 영상 획득을 위해서 검출기의 스캔속도와 이송장치의 이동속도간의 동기화가 필요하다.
장치보정(Calibration)(S2)은 검색장치 간의 위치, 간격등 3차원 공간좌표와 스켄되어 획득될 두 장의 2차원 방사선 영상좌표간의 상관관계 매트릭스 정보를 얻는 과정이다.
제작된 장치와 구현된 프로그램으로 대상물의 방사선 스캔된 스테레오(L,R) 영상을 획득(Acquisition) 획득(S3)은 X-선발생장치와 동일 광축상의 기준 검출기에서 한 프레임의 2D 영상을 설정된 시차각을 갖는 두 번째 검출기에서 두 번째 프레임의 이차원 영상을 얻는 과정이다.
획득된 두 영상은 영상 전처리 및 특징점 추출을 통해 영상개선(Enhancement)(S4)을 작업을 거친 후 스테레오 정합(Matching)(S5)을 수행하게 된다.
정합과정(S5)은 일반 가시광 스테레오 정합과정 보다 복잡한 알고리즘이 요구되는데 물체의 표면 반사광 정보를 다루는 일반 스테레오 정합과는 달리 방사광 스켄정보는 물체의 투과는 밀도정보만을 통해 물체의 정보를 판단해야 하므로 오차발생이 커서 매우 복잡하고 정교한 알고리즘이 요구되기 때문이다.
정합을 통해 나타난 검색체의 3차원 정보는 초기의 3차원 검색체 정보를 복원(Reconstruction)하는 과정(S6)을 거쳐 다양한 툴을 통한 3차원 영상가시화(Visualization)(S8)를 통해 관찰자에게 최종 3차원 정보의 결과를 보여주게 된다.
물론, 위의 과정에서 3차원 검색체 정보를 복원(Reconstruction)하는 과정(S6)에서 복원된 영상은 검증과정(S7)을 통해 검증된 후 정상적일 때는 영상을 가지화(S8)하고, 비정상일 때는 장치보정(S2) 후 후속 과정을 다시 반복하게 된다.
1 : 이송장치
2 : X-선발생장치
3 : 제1검출기
4 : 제2검출기

Claims (5)

  1. 검색 대상물이 이송되는 이송장치(1)와; 상기 이송장치(1)의 일측에 설치되어 대상물에 X-선을 조사하는 X-선발생장치(2)와; 상기 X-선발생장치에서 조사되어 대상물을 투과한 X-선을 검출하는 2개의 제1,2검출기(3, 4)를 포함하여 구성되는 스테레오 X-선 검색장치에 있어서,
    상기 제1검출기(3)는 상기 X-선발생장치(2)와 수직으로 대향되게 고정 설치하고, 상기 제2검출기(4)는 상기 제1검출기(3)와 수평선상에 배치함과 아울러 수평이송장치(41)에 의해 수평으로 이동 가능하게 설치하며, 상기 X-선발생장치(2)를 회전장치(21)에 의하여 회전가능하게 설치함으로써, 상기 X-선발생장치(2)와 상기 제1검출기(3) 및 상기 제2검출기(4)이 직각삼각형을 이루도록 배치하고,
    상기 회전장치(21)는 상기 제1검출기(3) 및 제2검출기(4) 사이로 X-선이 조사되도록 상기 X-선발생장치(2)의 X-선 조사 방향을 조절하는 것을 특징으로 하는 스테레오 X-선 검색장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제2검출기(4)는 회전장치(42)를 더 장착하여 수평이송장치에 의해 이동되는 위치에 따라 제2검출기(4)를 회전시켜 항상 X-선발생장치를 향하도록 한 것을 특징으로 하는 스테레오 X-선 검색장치.
  5. 삭제
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JPH0933450A (ja) * 1995-07-20 1997-02-07 Hitachi Medical Corp Ｘ線透視像取込用枠体及び可搬形ｘ線検査装置
JPH10318943A (ja) * 1997-05-20 1998-12-04 Shimadzu Corp 異物検査装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0933450A (ja) * 1995-07-20 1997-02-07 Hitachi Medical Corp Ｘ線透視像取込用枠体及び可搬形ｘ線検査装置
JPH10318943A (ja) * 1997-05-20 1998-12-04 Shimadzu Corp 異物検査装置
KR20070101458A (ko) * 2006-04-10 2007-10-17 한국원자력연구원 두 대의 ｃｃｄ카메라를 이용한 방사선원 3차원 위치탐지방법 및 그 장치

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