KR101211839B1 - Pressure-sensitive adhesive compositions, pressure-sensitive adhesive films, dicing die-bonding films and semiconductor wafers comprising the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 베이스 수지; 및 광변색성 화합물을 포함하는 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼에 관한 것이다. 본 발명에 따른 점착제 조성물은 자외선 등의 조사에 의해 색이 변화함으로써, 반도체 패키징 공정에서 다이싱 필름에 대한 자외선 조사 여부를 용이하게 파악할 수 있다. 이에 따라 본 발명에서는 반도체 패키징 공정에서 자외선의 조사 여부가 불투명하여 발생할 수 있는 불량을 감소시킬 수 있는 점착제 조성물, 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼를 제공할 수 있다. The present invention is a base resin; And a pressure-sensitive adhesive composition comprising a photochromic compound, a pressure-sensitive adhesive film, a dicing die-bonding film, and a semiconductor wafer produced using the same. The pressure-sensitive adhesive composition according to the present invention can be easily grasped whether or not the ultraviolet irradiation to the dicing film in the semiconductor packaging step by changing the color by irradiation such as ultraviolet rays. Accordingly, in the present invention, it is possible to provide an adhesive composition, an adhesive film, a dicing die bonding film, and a semiconductor wafer capable of reducing defects that may occur due to opacity of ultraviolet irradiation in a semiconductor packaging process.

점착제, 점착제 조성물, 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름, 광변색성 화합물, 광개시제, 융해점 Pressure-sensitive adhesive, pressure-sensitive adhesive composition, pressure-sensitive adhesive film, dicing die-bonding film, photochromic compound, photoinitiator, melting point

Description

점착제 조성물, 상기를 포함하는 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼{Pressure-sensitive adhesive compositions, pressure-sensitive adhesive films, dicing die-bonding films and semiconductor wafers comprising the same}Pressure-sensitive adhesive compositions, pressure-sensitive adhesive films, dicing die-bonding films and semiconductor wafers comprising the same

본 발명은 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼에 관한 것이다.The present invention relates to an adhesive composition, an adhesive film produced using the above, a dicing die bonding film, and a semiconductor wafer.

반도체 패키징 공정은 크게 전 공정과 후 공정으로 나누어지는데, 이 중 전 공정은 웨이퍼의 후면을 원하는 두께로 연삭하고, 회로를 형성하는 과정이고, 후 공정은 회로 패턴이 형성된 웨이퍼를 낱개의 칩으로 분할한 후, 칩을 반도체 기판(ex. 리드프레임)에 접착 및 와이어 본딩한 다음, 봉지재로 몰딩하는 과정이다. The semiconductor packaging process is largely divided into a pre-process and a post-process, in which the pre-process is the process of grinding the back surface of the wafer to a desired thickness and forming a circuit, and the post-process divides the wafer on which the circuit pattern is formed into single chips. Then, the chip is bonded and wire bonded to the semiconductor substrate (ex. Lead frame) and then molded into an encapsulant.

후 공정에서 웨이퍼를 개개의 칩으로 분할하는 과정을 다이싱 공정이라고 하는데, 이 때에 웨이퍼 및 칩의 지지를 위해 사용되는 점착 필름을 다이싱 필름이라 한다. The process of dividing the wafer into individual chips in a later step is referred to as a dicing step. At this time, an adhesive film used for supporting the wafer and the chip is called a dicing film.

이러한 다이싱 필름에 요구되는 물성은 다음과 같다. 즉, 다이싱 필름은 다이싱 시에는 다이싱 링에 잘 부착되어 칩이 비산되지 않도록 박리력이 높아야 하고, 다이싱 후에는 다이싱 필름에서 칩이 잘 박리될 수 있도록 박리력이 낮아야 한다. 다이싱 필름에서 칩을 박리하는 공정을 픽업 공정이라고 하는데, 통상 이러한 공정에 사용되는 다이싱 필름은 자외선의 조사에 의해 박리력이 감소하는 자외선 경화형 점착제를 포함한다. 즉, 다이싱 필름은 통상 베이스 수지 및 분자 내에 탄소-탄소 이중결합을 포함하는 광경화성 화합물을 포함하는 점착제 조성물을 자외선에 대해 투과성을 가지는 기재 필름에 도포하여 제조된다.Physical properties required for such a dicing film are as follows. That is, the dicing film should have a high peeling force so as to adhere well to the dicing ring during dicing so that chips do not scatter, and have a low peeling force so that the chip can be peeled off from the dicing film after dicing. The process of peeling a chip from a dicing film is called a pick-up process. Usually, the dicing film used in such a process includes an ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive whose peeling force is reduced by irradiation of ultraviolet rays. That is, a dicing film is normally manufactured by apply | coating the adhesive composition containing a base resin and the photocurable compound containing a carbon-carbon double bond in a molecule | numerator to the base film which is transparent to an ultraviolet-ray.

이러한 다이싱 필름은 다이싱 공정에서 이용되는 블레이드에 의한 절단 충격을 견딜 수 있어야 하고, 또한 블레이드 냉각 및 버(burr)의 제거를 목적으로 사용되는 2kg/cm2 정도의 수압을 견딜 수 있어야 하므로, 자외선 조사 전에는 강한 접착력이 요구되지만, 다이싱 후에는 자외선 조사에 의해 박리력이 감소되어야 한다. Since the dicing film must be able to withstand the cutting impact by the blade used in the dicing process, and also withstand the water pressure of about 2kg / cm 2 used for the purpose of cooling the blade and removal of the burr, Strong adhesion is required before ultraviolet irradiation, but peeling force should be reduced by ultraviolet irradiation after dicing.

즉, 다이싱 필름에 자외선이 조사되었는지 여부는 픽업성, 즉 반도체 칩의 생산성과 높은 관련성을 가진다. 그러나, 실제 공정 상에서는 자외선이 조사되었는지 여부를 육안으로 판별하기 어렵다. 또한, 웨이퍼가 부착된 부분에서는 점착제 박리력이 감소하지만, 그 외 점착제가 노출된 부분에서 산소 등의 방해로 박리력이 감소하지 않는 경우가 있기 때문에, 칩을 박리하지 않고는 자외선의 조사 여부를 쉽게 판별할 수 없는 단점이 있다. That is, whether or not the dicing film is irradiated with ultraviolet rays has a high correlation with the pickup property, that is, the productivity of the semiconductor chip. However, it is difficult to visually determine whether ultraviolet rays are irradiated in the actual process. In addition, although the adhesive peeling force decreases at the portion where the wafer is attached, the peeling force may not decrease at the portion where the adhesive is exposed due to the interference of oxygen, etc. There is a disadvantage that cannot be easily determined.

본 발명은 전술한 문제점을 고려하여 된 것으로서, 반도체 패키징 공정 시에 다이싱 필름으로의 자외선 조사 여부를 용이하게 판별할 수 있는 점착제 조성물, 상기를 사용하여 제조된 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in consideration of the above-described problems, the pressure-sensitive adhesive composition, pressure-sensitive adhesive film prepared using the above, a dicing die-bonding film and It is an object to provide a semiconductor wafer.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 베이스 수지 및 광변색성 화합물을 포함하는 점착제 조성물을 제공한다.The present invention provides a pressure-sensitive adhesive composition containing a base resin and a photochromic compound as a means for solving the above problems.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 다른 수단으로서, 기재 필름; 및 The present invention is another means for solving the above problems, a base film; And

상기 기재 필름 상에 형성되고, 상기 점착제 조성물을 함유하는 점착 필름을 제공한다.It is provided on the said base film, and provides the adhesive film containing the said adhesive composition.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 또 다른 수단으로서, 상기 본 발명의 점착 필름; 및 The present invention is another means for solving the above problems, the pressure-sensitive adhesive film of the present invention; And

상기 점착 필름 상에 형성된 접착부를 포함하는 다이싱 다이본딩 필름을 제공한다.It provides a dicing die-bonding film comprising an adhesive portion formed on the adhesive film.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위한 또 다른 수단으로서, 상기 본 발명의 다이싱 다이본딩 필름의 접착부가 웨이퍼의 일면에 부착되어 있고,The present invention is another means for solving the above problems, the adhesive portion of the dicing die bonding film of the present invention is attached to one surface of the wafer,

상기 점착 필름이 웨이퍼 링 프레임에 고정되어 있는 반도체 웨이퍼를 제공한다.Provided is a semiconductor wafer in which the adhesive film is fixed to a wafer ring frame.

본 발명에 따른 점착제 조성물을 자외선 조사에 의해 색이 변화함으로써, 반도체 패키징 공정에서 다이싱 필름에 대한 자외선 조사 여부를 용이하게 파악할 수 있다. 이에 따라 본 발명에서는 반도체 패키징 공정에서 자외선의 조사 여부가 불투명하여 발생할 수 있는 불량을 감소시킬 수 있는 점착제 조성물, 점착 필름, 다이싱 다이본딩 필름 및 반도체 웨이퍼를 제공할 수 있다.By changing the color of the pressure-sensitive adhesive composition according to the invention by ultraviolet irradiation, it is possible to easily grasp whether or not ultraviolet irradiation to the dicing film in the semiconductor packaging process. Accordingly, in the present invention, it is possible to provide an adhesive composition, an adhesive film, a dicing die bonding film, and a semiconductor wafer capable of reducing defects that may occur due to opacity of ultraviolet irradiation in a semiconductor packaging process.

본 발명은 베이스 수지; 및The present invention is a base resin; And

광변색성 화합물을 포함하는 점착제 조성물에 관한 것이다.It relates to a pressure-sensitive adhesive composition containing a photochromic compound.

이하 본 발명의 점착제 조성물에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the pressure-sensitive adhesive composition of the present invention will be described in detail.

본 발명에서 사용될 수 있는 상기 베이스 수지의 종류는 특별히 제한되지 않으며, 이 분야에서 공지된 일반적인 점착성 수지를 사용할 수 있다. 본 발명에서는 예를 들면, 중량평균분자량이 20만 내지 150만인 아크릴계 공중합체를 사용할 수 있다. 상기 중량평균분자량이 20만 미만이면, 다이싱 공정에서 칩의 비산 현상(chip flying)이 발생할 우려가 있으며, 150만을 초과하면, 자외선 조사 후에 박리력 감소가 일어나지 않아 픽업이 용이하게 이루어지지 않을 우려가 있다.The type of the base resin that can be used in the present invention is not particularly limited, and a general adhesive resin known in the art may be used. In the present invention, for example, an acrylic copolymer having a weight average molecular weight of 200,000 to 1.5 million can be used. If the weight average molecular weight is less than 200,000, chip flying may occur in the dicing process. If the weight average molecular weight is more than 1.5 million, the peeling force may not decrease after ultraviolet irradiation, and pick-up may not be easily performed. There is.

상기와 같은 아크릴계 공중합체는, 예를 들면, (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 및 가교성 관능기 함유 단량체를 포함할 수 있다.The acrylic copolymer as described above may include, for example, a (meth) acrylic acid ester monomer and a crosslinkable functional group-containing monomer.

상기에서 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 알킬 (메타)아크릴레이트를 사용할 수 있다. 이 때 단량체에 포함되는 알킬기가 지나치게 장쇄가 되면, 점착제의 응집력이 저하되고, 유리전이온도 및 점착성의 조절이 어려워질 우려가 있으므로, 탄소수 1 내지 12의 알킬기를 가지는 단량체를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 단량체의 예로는 메틸 (메타)아크릴레이트, 에틸 (메타)아크릴레이트, 프로필 (메타)아크릴레이트, n-부틸 (메타)아크릴레이트, 펜틸 (메타)아크릴레이트, 헥실 (메타)아크릴레이트, n-옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소옥틸 (메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실 (메타)아크릴레이트, 도데실 (메타)아크릴레이트 및 데실 (메타)아크릴레이트의 일종 또는 이종 이상의 혼합을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 상기와 같은 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체는 아크릴계 공중합체내에 70 내지 99 중량부의 양으로 포함되는 것이 바람직하다. 상기 함량이 70 중량부 미만이면, 점착제의 초기 접착력이 저하될 우려가 있고, 99중량부를 초과하면, 응집력이 저하되고 박리력의 조절이 어려워 질 수 있다. The kind of the (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly limited, and alkyl (meth) acrylate can be used, for example. At this time, when the alkyl group contained in the monomer is too long, the cohesive force of the pressure-sensitive adhesive may be lowered, and the glass transition temperature and the adhesiveness may be difficult to control. Therefore, it is preferable to use a monomer having an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms. Examples of such monomers include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, or a mixture of one or more of n-octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate and decyl (meth) acrylate. However, it is not limited thereto. The (meth) acrylic acid ester monomer as described above is preferably included in the acrylic copolymer in an amount of 70 to 99 parts by weight. If the content is less than 70 parts by weight, there is a risk that the initial adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive is lowered, if it exceeds 99 parts by weight, cohesive force may be lowered and it is difficult to control the peeling force.

공중합체에 포함되는 가교성 관능기 함유 단량체는 가교제 또는 후술하는 자 외선 경화형 화합물과 반응할 수 있는 관능기를 공중합체에 부여하여, 점착제의 내구신뢰성, 점착력 및 응집력을 조절하는 역할을 한다.The crosslinkable functional group-containing monomer included in the copolymer imparts a functional group capable of reacting with a crosslinking agent or an ultraviolet curable compound to be described later to the copolymer, thereby controlling durability, adhesiveness, and cohesion of the pressure-sensitive adhesive.

가교성 관능기 함유 단량체의 예로는 히드록시기 함유 단량체 및 카복실기 함유 단량체를 들 수 있다. 상기에서 히드록시기 함유 단량체의 예로는, 2-히드록시에틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메타)아크릴레이트, 4-히드록시부틸 (메타)아크릴레이트, 6-히드록시헥실 (메타)아크릴레이트, 8-히드록시옥틸 (메타)아크릴레이트, 2-히드록시에틸렌글리콜 (메타)아크릴레이트 또는 2-히드록시프로필렌글리콜 (메타)아크릴레이트를 들 수 있고, 카복실기 함유 단량체의 예로는 (메타)아크릴산, 2-(메타)아크릴로일옥시 아세트산, 3-(메타)아크릴로일옥시 프로필산, 4-(메타)아크릴로일옥시 부틸산, 아크릴산 이중체, 이타콘산, 말레산 및 말레산 무수물을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 본 발명에서는 상기 중 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다.Examples of the crosslinkable functional group-containing monomers include hydroxy group-containing monomers and carboxyl group-containing monomers. Examples of the hydroxy group-containing monomers above include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 6-hydroxyhexyl (meth) Acrylate, 8-hydroxyoctyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethylene glycol (meth) acrylate or 2-hydroxypropylene glycol (meth) acrylate, and examples of the carboxyl group-containing monomer include ( Meta) acrylic acid, 2- (meth) acryloyloxy acetic acid, 3- (meth) acryloyloxy propyl acid, 4- (meth) acryloyloxy butyl acid, acrylic acid duplex, itaconic acid, maleic acid and male Acid anhydrides, but is not limited thereto. In the present invention, a mixture of one or more of the above can be used.

상기 가교성 관능기 함유 단량체는 아크릴계 공중합체 내에 1 중량부 내지 30 중량부의 양으로 포함되는 것이 바람직하다. 상기 함량이 1 중량부 미만이면, 접착제와의 박리 또는 자외선 경화형 화합물의 첨가가 어려워질 우려가 있고, 30 중량부를 초과하면, 점착제 제조시 겔이 형성되거나, 점착 수지의 저장안정성이 악화될 우려가 있다. The crosslinkable functional group-containing monomer is preferably included in an amount of 1 to 30 parts by weight in the acrylic copolymer. When the content is less than 1 part by weight, it may be difficult to peel off the adhesive or add an ultraviolet curable compound, and when it exceeds 30 parts by weight, a gel may be formed when the pressure-sensitive adhesive is manufactured or the storage stability of the pressure-sensitive adhesive may deteriorate. have.

상기 아크릴계 공중합체는 또한 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 및 가교성 관능기 함유 단량체를 포함하는 주사슬의 측쇄에 결합된 자외선 경화형 화합물 을 추가로 포함할 수 있다. The acrylic copolymer may further include an ultraviolet curable compound bonded to the side chain of the main chain comprising a (meth) acrylic acid ester monomer and a crosslinkable functional group-containing monomer.

상기와 같은 화합물의 종류는, 광경화성 관능기(ex. 자외선 중합성 탄소-탄소 이중 결합)를 한 분자당 1 내지 5개, 바람직하게는 1 내지 2개 포함하고, 또한 상기 주사슬에 포함되는 가교성 관능기와 반응할 수 있는 관능기를 가지는 한, 특별히 제한되지 않는다. 이 때 주사슬의 가교성 관능기와 반응할 수 있는 관능기의 예로는, 이소시아네이트기 또는 에폭시기 등을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.The kind of the above compound contains 1 to 5, preferably 1 to 2, photocurable functional groups (ex. Ultraviolet polymerizable carbon-carbon double bonds) per molecule, and is also included in the main chain. It does not restrict | limit especially as long as it has a functional group which can react with a functional group. In this case, examples of the functional group capable of reacting with the crosslinkable functional group of the main chain include an isocyanate group or an epoxy group, but are not limited thereto.

상기 자외선 중합성기 함유 화합물의 구체적인 예로는, 주사슬에 포함된 히드록시기와 반응할 수 있는 관능기를 포함하는 것으로서, (메타)아크릴로일옥시 이소시아네이트, (메타)아크릴로일옥시 메틸 이소시아네이트, 2-(메타)아크릴로일옥시 에틸 이소시아네이트, 3-(메타)아크릴로일옥시 프로필 이소시아네이트, 4-(메타)아크릴로일옥시 부틸 이소시아네이트, m-프로페닐-α,α-디메틸벤질이소시아네이트, 메타크릴로일이소시아네이트 또는 알릴 이소시아네이트; 디이소시아네이트 화합물 또는 폴리이소시아네이트 화합물을 (메타)아크릴산 2-히드록시에틸과 반응시켜 얻어지는 아크릴로일 모노이소시아네이트 화합물; 디이소시아네이트 화합물 또는 폴리이소시아네이트 화합물, 폴리올화합물 및 (메타)아크릴산 2-히드록시에틸을 반응시켜 얻어지는 아크릴로일 모노이소시아네이트 화합물; 또는 주사슬에 포함되는 카복실기와 반응할 수 있는 관능기를 포함하는 것으로서, 글리시딜 (메타)아크릴레이트 또는 알릴 글리시딜 에테르 등의 일종 또는 이종 이상을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.Specific examples of the ultraviolet polymerizable group-containing compound include a functional group capable of reacting with a hydroxyl group included in the main chain, and include (meth) acryloyloxy isocyanate, (meth) acryloyloxy methyl isocyanate, and 2- ( Meta) acryloyloxy ethyl isocyanate, 3- (meth) acryloyloxy propyl isocyanate, 4- (meth) acryloyloxy butyl isocyanate, m-propenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate, methacryloyl Isocyanates or allyl isocyanates; An acryloyl monoisocyanate compound obtained by reacting a diisocyanate compound or a polyisocyanate compound with 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; An acryloyl monoisocyanate compound obtained by reacting a diisocyanate compound or polyisocyanate compound, a polyol compound and 2-hydroxyethyl (meth) acrylate; Or a functional group capable of reacting with a carboxyl group included in the main chain, but may be one kind or two or more kinds such as glycidyl (meth) acrylate or allyl glycidyl ether, but is not limited thereto.

상기와 같은 자외선 경화형 화합물은 주사슬에 포함된 가교성 관능기의 5 몰% 내지 90 몰%를 치환하여 베이스 수지의 측쇄에 포함될 수 있다. 상기 치환량이 5 몰% 미만이면, 자외선 조사에 의한 박리력 저하가 충분하지 않을 우려가 있고, 90 몰%를 초과하면, 자외선 조사 전의 점착제의 응집력이 저하될 우려가 있다.The ultraviolet curable compound as described above may be included in the side chain of the base resin by substituting 5 mol% to 90 mol% of the crosslinkable functional groups included in the main chain. When the amount of substitution is less than 5 mol%, there is a concern that the peeling force decrease due to ultraviolet irradiation may not be sufficient, and when the amount of substitution exceeds 90 mol%, the cohesion force of the pressure-sensitive adhesive before ultraviolet irradiation may decrease.

이상과 같은 아크릴계 공중합체를 제조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 용액 중합, 광중합, 벌크 중합, 서스펜션 중합 또는 에멀션 중합과 같은 일반적인 중합법을 통하여 제조할 수 있다. 본 발명에서는 특히 용액 중합법을 사용하는 것이 바람직하며, 용액 중합은 각각의 단량체가 균일하게 혼합된 상태에서 개시제를 혼합하여, 50℃ 내지 140℃의 중합 온도로 수행하는 것이 바람직하다. 사용될 수 있는 개시제의 예로는 아조비스 이소부티로니트릴 또는 아조비스시클로헥산 카르보니트릴과 같은 아조계 중합 개시제; 및/또는 과산화 벤조일 또는 과산화 아세틸과 같은 과산화물 등의 통상의 개시제를 들 수 있고, 상기 중 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다.The method for producing the acrylic copolymer as described above is not particularly limited and can be prepared, for example, through a general polymerization method such as solution polymerization, photopolymerization, bulk polymerization, suspension polymerization or emulsion polymerization. In the present invention, it is particularly preferable to use a solution polymerization method, and solution polymerization is preferably performed at a polymerization temperature of 50 ° C to 140 ° C by mixing an initiator in a state where each monomer is uniformly mixed. Examples of initiators that can be used include azo polymerization initiators such as azobis isobutyronitrile or azobiscyclohexane carbonitrile; And / or conventional initiators such as peroxides such as benzoyl peroxide or acetyl peroxide, and one or a mixture of two or more of them may be used.

또한, 상기와 같이 제조된 아크릴계 공중합체(주사슬)의 측쇄에 자외선 경화형 관능기를 도입하는 방법 역시 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 상기 제조된 주사슬을 이루는 아크릴계 공중합체 및 자외선 경화형 화합물을 실온 내지 40℃의 온도의 상압에서 4 시간 내지 48 시간 동안 반응시켜 제조할 수 있다. 이 때 상기 반응은 아세트산 에틸 등의 용매 내에서 유기 주석 등의 촉매를 사용하여 수행할 수 있다.In addition, a method of introducing an ultraviolet curable functional group into the side chain of the acrylic copolymer (main chain) prepared as described above is also not particularly limited. For example, the acrylic copolymer and the ultraviolet curable compound forming the main chain may be prepared at room temperature. It can be prepared by reacting for 4 hours to 48 hours at an atmospheric pressure of the temperature of 40 to 40 ℃. At this time, the reaction may be carried out using a catalyst such as organic tin in a solvent such as ethyl acetate.

본 발명의 점착제 조성물은 상기와 같은 베이스 수지와 함께 광변색성 화합물을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에서 사용하는 용어 『광변색성 화합물(photochromic compound)』은 자외선 조사에 의해 변색되어, 그 변색 상태가 일정 시간 동안 유지될 수 있는 화합물을 지칭한다. 본 발명에서는 특히 공정 시간을 고려하여, 자외선 조사에 의한 변색 상태가 8 시간 이상, 바람직하게는 12 시간 이상, 보다 바람직하게는 영구적으로 유지되는 화합물을 사용할 수 있다. 상기 화합물의 변화색은 노란색 및 파란색 등을 포함하여 다양할 수 있는데, 공정 시 작업자의 육안으로 구별 가능한 색이라면, 특별히 한정되지 않는다.The pressure-sensitive adhesive composition of the present invention is characterized by including a photochromic compound together with the base resin as described above. The term "photochromic compound" used in the present invention refers to a compound that is discolored by ultraviolet irradiation, so that the discoloration state can be maintained for a certain time. In the present invention, in particular, in consideration of the process time, it is possible to use a compound in which the discoloration state by ultraviolet irradiation is maintained for at least 8 hours, preferably at least 12 hours, more preferably permanently. The changing color of the compound may be varied, including yellow and blue, and the like, as long as the color can be distinguished by the human eye during the process, it is not particularly limited.

본 발명에서 사용할 수 있는 광변색성 화합물의 종류는, 위와 같은 물성을 가지는 한 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 본 발명에서는 스피로피란(spiropyrans), 스피록사진(spirooxazines), 스피로나프톡사진(spironapthoxazine), 나프토피란(naphtopyrane), 크로먼(chromenes), 풀자이드(fulgides), 풀기미드(fulgimides), 디아릴에텐(diarylenthenes), 스피로 디히드로인돌리진(spirodihydroindolizines), 아조계 화합물, 폴리시클릭 방향족 화합물(polycyclic aromatic compounds), 아닐계 화합물(anils), 폴리시클릭 퀴논(polycyclic quinones), 비오로젠(viologens), 트리아릴메탄(triarylmethanes) 또는 퍼이미딘스피로시클로헤자디에논(perimidinespirocyclohezadienones)의 일종 또는 이종 이상, 또는 상기 중 하나 이상의 유도체 화합물 등을 사용할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.The kind of photochromic compound that can be used in the present invention is not particularly limited as long as it has the above physical properties. For example, in the present invention, spiropyrans, spirooxazines, spironapthoxazine, naphtopyrane, chromone, chromenes, fulgides, fulgimid (fulgides) fulgimides, diarylenthenes, spirodihydroindolizines, azo compounds, polycyclic aromatic compounds, anils, polycyclic quinones, bio One kind or two or more kinds of lozenges (viologens), triarylmethanes or perimidinespirocyclohezadienones, or one or more derivative compounds thereof may be used, but is not limited thereto.

상기와 같은 광변색성 화합물은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 0.1 중량 부 내지 10 중량부로 조성물에 포함되는 것이 바람직하다. 상기 함량이 0.1 중량부 미만이면, 자외선 조사 후에 변색 현상이 육안으로 관찰되지 않을 우려가 있고, 10 중량부를 초과하면, 점착제와의 상용성이 떨어져 점착 물성 또는 박리력에 영향을 줄 우려가 있다.The photochromic compound as described above is preferably included in the composition in an amount of 0.1 parts by weight to 10 parts by weight based on 100 parts by weight of the base resin. If the content is less than 0.1 part by weight, there is a fear that the discoloration phenomenon after the ultraviolet irradiation is not observed visually, if more than 10 parts by weight, the compatibility with the pressure-sensitive adhesive is poor, there is a risk of affecting the adhesive properties or peeling force.

본 발명의 점착제 조성물은 또한 상기 베이스 수지 100 중량부에 대하여 900 중량부 이하, 바람직하게는 5 중량부 내지 400 중량부의 자외선 경화형 화합물을 추가로 포함할 수 있다. 이 때 사용될 수 있는 자외선 경화형 화합물의 종류는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 중량평균분자량이 500 내지 300,000 정도인 다관능성 화합물(ex. 우레탄 아크릴레이트, 다관능성 아크릴레이트 모노머 또는 올리고머 등)을 사용할 수 있다. 이 분야의 평균적 기술자는 목적하는 용도에 따른 적절한 화합물을 용이하게 선택할 수 있다.The pressure-sensitive adhesive composition of the present invention may further include 900 parts by weight or less, preferably 5 parts by weight to 400 parts by weight of an ultraviolet curable compound, based on 100 parts by weight of the base resin. The type of ultraviolet curable compound that can be used at this time is not particularly limited, and for example, a polyfunctional compound (eg, urethane acrylate, polyfunctional acrylate monomer or oligomer, etc.) having a weight average molecular weight of about 500 to 300,000 may be used. Can be. The average person skilled in the art can easily select the appropriate compound according to the intended use.

상기 자외선 경화형 화합물의 함량이 900 중량부를 초과하면, 자외선 조사 전의 점착제의 응집력이 지나치게 떨어지거나, 또는 이형 필름 등과의 박리가 용이하게 이루어지지 않을 우려가 있다.When content of the said ultraviolet curable compound exceeds 900 weight part, there exists a possibility that the cohesion force of the adhesive before ultraviolet irradiation may fall too much, or peeling with a release film etc. may not become easy.

본 발명의 점착제 조성물은 상기와 같은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 0.05 중량부 내지 20 중량부의 광개시제를 추가로 포함할 수 있다. 이와 같은 광개시제는 자외선의 조사에 의해 반응하여 점착제의 박리력을 감소시키는 역할을 한다. 본 발명에서 사용할 수 있는 광개시제의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예 를 들면, 벤조인, 벤조인 메틸에테르, 벤조인 에틸에테르, 벤조인 이소프로필에테르, 벤조인 n-부틸에테르, 벤조인 이소부틸에테르, 아세토페논, 디메틸아니노 아세토페논, 2,2-디메톡시-2-페닐아세토페논, 2,2-디에톡시-2-페닐아세토페논, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1온, 1-히드록시시클로헥실페닐케톤, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-몰포리노-프로판-1-온, 4-(2-히드록시에톡시)페닐-2-(히드록시-2-프로필)케톤, 벤조페논, p-페닐벤조페논, 4,4'-디에틸아미노벤조페논, 디클로로벤조페논, 2-메틸안트라퀴논, 2-에틸안트라퀴논, 2-t-부틸안트라퀴논, 2-아미노안트라퀴논, 2-메틸티오잔톤(thioxanthone), 2-에틸티오잔톤, 2-클로로티오잔톤, 2,4-디메틸티오잔톤, 2,4-디에틸티오잔톤, 벤질디메틸케탈, 아세토페논 디메틸케탈, p-디메틸아미노 안식향산 에스테르, 올리고[2-히드록시-2-메틸-1-[4-(1-메틸비닐)페닐]프로판논] 및 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥시드 등의 일종 또는 이종 이상을 들 수 있다. The pressure-sensitive adhesive composition of the present invention may further include 0.05 parts by weight to 20 parts by weight of a photoinitiator based on 100 parts by weight of the base resin as described above. Such photoinitiator reacts by irradiation of ultraviolet rays and serves to reduce the peeling force of the pressure-sensitive adhesive. The kind of photoinitiator which can be used by this invention is not specifically limited, For example, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin n-butyl ether, benzoin isobutyl ether , Acetophenone, dimethylanino acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy-2-phenylacetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropane- 1-one, 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propane-1-one, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl 2- (hydroxy-2-propyl) ketone, benzophenone, p-phenylbenzophenone, 4,4'-diethylaminobenzophenone, dichlorobenzophenone, 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2 t-butyl anthraquinone, 2-aminoanthraquinone, 2-methylthioxanthone, 2-ethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone Benzyldimethyl Dea, acetophenone dimethyl ketal, p-dimethylamino benzoic acid ester, oligo [2-hydroxy-2-methyl-1- [4- (1-methylvinyl) phenyl] propanone] and 2,4,6-trimethylbenzoyl Or one or more kinds of diphenyl-phosphine oxide and the like.

본 발명에서는 특히 상기와 같은 광개시제로서 융해점이 70℃ 이상인 광개시제를 사용하는 것이 바람직하다. 즉, 통상 다이싱 다이본딩 필름은 상온 이상의 온도에서 장기간 보관 시에, 다이싱 필름 및 다이본딩 필름의 계면에서 박리력의 변화가 발생하여, 패키징 공정에서 픽업성이 떨어지게 되는 문제점이 있다. 그러나, 위와 같은 특징적인 융해점을 가지는 광개시제를 사용함으로 해서, 점착제를 상온에서 보관 시에도 피착체와의 박리력 변화가 억제될 수 있는 조성물이 제공될 수 있다. 상기에서 광개시제의 융해점의 상한은 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들면 약 300℃일 수 있다.In this invention, it is especially preferable to use the photoinitiator whose melting point is 70 degreeC or more as said photoinitiator. That is, in general, the dicing die-bonding film has a problem in that the peeling force is changed at the interface between the dicing film and the die-bonding film when stored for a long time at a temperature higher than room temperature, so that the pick-up property is poor in the packaging process. However, by using the photoinitiator having the characteristic melting point as described above, even when the pressure-sensitive adhesive is stored at room temperature can be provided a composition that can be suppressed the change in peel force with the adherend. The upper limit of the melting point of the photoinitiator is not particularly limited, for example, may be about 300 ℃.

상기와 같이 융해점이 70℃ 이상인 광개시제의 종류로는 α-아민케톤, 모노아실 포스핀(monoacyl phosphine), 비스아실 포스핀(bisacyl phosphine) 또는 메탈로센(metallocene) 등의 일종 또는 이종 이상을 들 수 있는데, 이와 같은 광개시제는 이가큐어(Igacure) 369, 이가큐어 907, 이카큐어 2959, 이카큐어 1173, 이가큐어 819, 이카큐어 784, 다로커(Darocur) TPO 또는 다로커 MBF 등의 상품명으로 시판되어 있다.As the type of photoinitiator having a melting point of 70 ° C. or higher as described above, a kind or heterologous compound such as α-amine ketone, monoacyl phosphine, bisacyl phosphine, or metallocene may be used. Such photoinitiators are commercially available under the trade names Igacure 369, Igacure 907, Icacure 2959, Icacure 1173, Igacure 819, Icacure 784, Darocur TPO or Darroque MBF. have.

상기와 같은 광개시제의 함량은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 0.05 중량부 내지 20 중량부인 것이 바람직하다. 상기 함량이 0.05 중량부 미만이면, 자외선 조사에 의한 경화 반응이 원활히 이루어지지 않아, 픽업성이 저하될 우려가 있다. 또한 상기 함량이 20 중량부를 초과하면, 경화 시 가교 반응이 짧은 단위로 진행되고, 분자량이 낮은 자외선 경화형 화합물이 점착제 중에 잔존하여 피착체의 잔사의 원인이 되거나, 경화 후 박리력이 지나치게 저하되어 픽업 시에 칩의 포지션닝이 어려워질 우려가 있다.The content of the photoinitiator is preferably 0.05 part by weight to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the base resin. If the content is less than 0.05 part by weight, the curing reaction by ultraviolet irradiation is not performed smoothly, there is a fear that the pickup properties. In addition, when the content exceeds 20 parts by weight, the crosslinking reaction proceeds in a short unit during curing, and the ultraviolet curable compound having a low molecular weight remains in the adhesive to cause residue of the adherend, or the peeling force after curing is excessively lowered, thereby picking up. There is a fear that the positioning of the chip becomes difficult.

본 발명의 점착제 조성물은 또한 상기 베이스 수지 100 중량부에 대하여 2 중량부 내지 40 중량부, 바람직하게는 2 중량부 내지 20 중량부의 가교제를 추가로 포함할 수 있다. 상기 가교제의 함량이 2 중량부 미만이면, 점착제의 응집력이 떨어지거나, 픽업성이 저하될 우려가 있고, 40 중량부를 초과하면, 방사선 조사 전의 박리력이 부족하여 칩의 비산 현상이 일어날 우려가 있다.The pressure-sensitive adhesive composition of the present invention may further include 2 to 40 parts by weight, preferably 2 to 20 parts by weight of a crosslinking agent, based on 100 parts by weight of the base resin. If the content of the crosslinking agent is less than 2 parts by weight, the cohesive force of the pressure-sensitive adhesive may be reduced or the pick-up property may be lowered. If the content of the crosslinking agent is more than 40 parts by weight, the peeling force before irradiation may be insufficient and chip scattering may occur. .

본 발명에서 사용할 수 있는 가교제의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 이소시아네이트계 화합물, 아지리딘계 화합물, 에폭시계 화합물 또는 금속 킬레이트계 화합물 등의 통상의 가교제를 사용할 수 있다.The kind of crosslinking agent which can be used by this invention is not specifically limited, For example, normal crosslinking agents, such as an isocyanate type compound, an aziridine type compound, an epoxy type compound, or a metal chelate type compound, can be used.

이 때 이소시아네이트계 화합물의 예로는 톨리렌 디이소시아네이트, 크실렌 디이소시아네이트, 디페닐메탄 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트, 이소포름 디이소시아네이트, 테트라메틸크실렌 디이소시아네이트, 나프탈렌 디이소시아네이트 및 상기 중 어느 하나의 폴리올(ex. 트리메틸롤 프로판)과의 반응물로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있고; 에폭시계 화합물의 예로는 에틸렌글리콜 디글리시딜에테르, 트리글리시딜에테르, 트리메틸올프로판 트리글리시딜에테르, N,N,N',N'-테트라글리시딜 에틸렌디아민 및 글리세린 디글리시딜에테르로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있으며; 아지리딘계 화합물의 예로는 N,N'-톨루엔-2,4-비스(1-아지리딘카르복사미드), N,N'-디페닐메탄-4,4'-비스(1-아지리딘카르복사미드), 트리에틸렌 멜라민, 비스이소프로탈로일-1-(2-메틸아지리딘) 및 트리-1-아지리디닐포스핀옥시드로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있다. 또한, 상기 금속 킬레이트계 화합물의 예로는, 알루미늄, 철, 아연, 주석, 티탄, 안티몬, 마그네슘 및/또는 바나듐과 같은 다가 금속이 아세틸 아세톤 또는 아세토초산 에틸 등에 배위하고 있는 화합물을 사용할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.At this time, examples of the isocyanate compound include tolylene diisocyanate, xylene diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isoform diisocyanate, tetramethylxylene diisocyanate, naphthalene diisocyanate and any one of the above polyols ( ex. trimethylol propane); Examples of epoxy compounds include ethylene glycol diglycidyl ether, triglycidyl ether, trimethylolpropane triglycidyl ether, N, N, N ', N'-tetraglycidyl ethylenediamine and glycerin diglycidyl ether. One or more selected from the group consisting of; Examples of aziridine compounds include N, N'-toluene-2,4-bis (1-aziridinecarboxamide), N, N'-diphenylmethane-4,4'-bis (1-aziridinecarboxes) Mid), triethylene melamine, bisisoprotaloyl-1- (2-methylaziridine), and tri-1-aziridinylphosphine oxide. In addition, examples of the metal chelate-based compound may be a compound in which a polyvalent metal such as aluminum, iron, zinc, tin, titanium, antimony, magnesium, and / or vanadium is coordinated with acetyl acetone, ethyl acetoacetate, or the like. It is not limited.

본 발명의 점착제 조성물은 또한, 필요에 따라서, 로진 수지, 테르펜 수지, 페놀 수지, 스티렌 수지, 지방족계 석유 수지, 방향족계 석유 수지 또는 지방족 방 향족 공중합계 석유 수지 등의 일종 또는 이종 이상의 점착성 부여제를 추가로 포함할 수 있으며, 그 외에도, 발명의 효과에 영향을 미치지 않는 범위에서, 에폭시 수지, 경화제, 자외선 안정제, 산화 방지제, 조색제, 보강제, 충진제, 소포제, 계면 활성제 및 가소제로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 첨가제를 추가로 추가로 포함할 수 있다.The pressure-sensitive adhesive composition of the present invention may further contain, if necessary, one or more tackifiers such as rosin resin, terpene resin, phenol resin, styrene resin, aliphatic petroleum resin, aromatic petroleum resin or aliphatic aromatic copolymer based petroleum resin. It may further include, in addition, selected from the group consisting of epoxy resins, curing agents, ultraviolet stabilizers, antioxidants, colorants, reinforcing agents, fillers, antifoaming agents, surfactants and plasticizers in a range that does not affect the effects of the invention It may further comprise one or more additives.

본 발명은 또한, 기재 필름; 및The present invention also provides a base film; And

상기 기재 필름 상에 형성되고, 전술한 본 발명의 따른 점착제 조성물을 함유하는 점착제층을 포함하는 점착 필름에 관한 것이다. 이와 같은 본 발명의 점착 필름은 반도체 패키징 공정에서 다이싱 테이프로 효과적으로 사용될 수 있다.It is related with the adhesive film formed on the said base film, and containing the adhesive layer containing the adhesive composition which concerns on this invention mentioned above. Such an adhesive film of the present invention can be effectively used as a dicing tape in the semiconductor packaging process.

상기에서 사용될 수 있는 기재 필름의 종류는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 저밀도 폴리에틸렌 필름, 선형 폴리에틸렌 필름, 중밀도 폴리에틸렌 필름, 고밀도 폴리에틸렌 필름, 초저밀도 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌의 랜덤 공중합체 필름, 폴리프로필렌의 블록 공중합체 필름, 호모폴리프로필렌, 폴리메틸펜텐(polymethylpentene), 에틸렌-초산비닐 공중합체 필름, 에틸렌-메타크릴산 공중합체 필름, 에틸렌-메틸메타크릴레이트 공중합체 필름, 에틸렌-아이오노머 공중합체 필름, 에틸렌-비닐알코올 공중합체 필름, 폴리부텐 필름, 스틸렌의 공중합체 또는 일래스토머 등의 일종 또는 이종 이상의 필름을 들 수 있다. 상기에서 이종 이상의 기재 필름은, 전술한 각 기재 필름이 2층 이상 적층된 구조의 필름 또는 전술 한 수지의 2종 이상의 블렌드물로부터 제조된 필름을 의미한다.The kind of base film which can be used above is not specifically limited, For example, a low density polyethylene film, a linear polyethylene film, a medium density polyethylene film, a high density polyethylene film, an ultra low density polyethylene film, the random copolymer film of polypropylene, poly Block copolymer film of propylene, homopolypropylene, polymethylpentene, ethylene-vinyl acetate copolymer film, ethylene-methacrylic acid copolymer film, ethylene-methyl methacrylate copolymer film, ethylene-ionomer aerial And a film of one or more kinds such as a copolymer film, an ethylene-vinyl alcohol copolymer film, a polybutene film, a copolymer of styrene or an elastomer, and the like. The heterogeneous base film in the above means a film of a structure in which each base film is laminated in two or more layers or a film prepared from two or more kinds of blends of the above resins.

이러한 기재 필름에는 또한 필요에 따라 매트 처리, 코로나 방전처리, 프라이머 처리 또는 가교 처리 등의 관용적인 물리적 또는 화학적 처리를 가할 수 있다. Such base films may also be subjected to conventional physical or chemical treatments, such as matt treatment, corona discharge treatment, primer treatment or crosslinking treatment, as necessary.

본 발명에서는 또한 상기 기재 필름으로서, 2축 연신 특성이 유사한 필름을 사용할 수 있으며, 보다 구체적으로는 길이 방향(MD) 및 폭 방향(TD)의 연신률의 차이가 길이 방향(MD) 연신률의 10% 이내, 바람직하게는 5% 이내인 필름을 사용할 수 있다.In the present invention, a film having similar biaxial stretching characteristics may also be used as the base film, and more specifically, the difference in elongation in the longitudinal direction (MD) and the width direction (TD) is 10% of the longitudinal direction (MD) elongation. Film, preferably within 5%, can be used.

상기와 같은 기재 필름의 두께는, 전술한 관계를 만족하는 한 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 30 ㎛ 내지 300 ㎛, 바람직하게는 50 ㎛ 내지 200 ㎛일 수 있다. 상기 두께가 30 ㎛ 미만이면, 다이싱 공정에서 절단 깊이(cut depth)의 조절이 불안해질 우려가 있고, 300 ㎛를 초과하면, 다이싱 공정에서 버(burr)가 다량 발생하게 되거나, 연신률이 떨어져서 익스펜딩 공정이 정확하게 이루어지지 않을 우려가 있다.The thickness of the base film as described above is not particularly limited as long as it satisfies the above relationship, and may be, for example, 30 μm to 300 μm, preferably 50 μm to 200 μm. If the thickness is less than 30 μm, the cutting depth may become unstable in the dicing process. If the thickness exceeds 300 μm, a large amount of burrs may be generated or the elongation is lowered in the dicing process. There is a fear that the expansion process may not be performed correctly.

또한, 상기 기재 필름은 자외선 투과율이 우수한 것이 바람직하며, 예를 들면, 70% 이상, 바람직하게는 90% 이상의 자외선 투과율을 가질 수 있다. In addition, the base film is preferably excellent in UV transmittance, for example, may have a UV transmittance of 70% or more, preferably 90% or more.

본 발명의 점착 필름에 포함되는 상기 점착제층은 자외선 조사 전에는 높은 박리력을 나타내고, 자외선 조사 후에는 박리력이 효과적으로 감소되는 것이 바람직하다. 이에 따라 본 발명의 점착제층은 자외선 조사 전에는 100 gf/in 이상, 바 람직하게는 150 gf/in 이상의 박리력을 가지고, 자외선 조사 후에는 박리력이 10 gf/in 이하로 감소될 수 있다.It is preferable that the said adhesive layer contained in the adhesive film of this invention shows high peeling force before ultraviolet irradiation, and peeling force is effectively reduced after ultraviolet irradiation. Accordingly, the pressure-sensitive adhesive layer of the present invention has a peeling force of 100 gf / in or more, preferably 150 gf / in or more before ultraviolet irradiation, and the peeling force may be reduced to 10 gf / in or less after ultraviolet irradiation.

상기와 같은 점착제층의 두께는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 1 ㎛ 내지 50 ㎛, 바람직하게는 5 ㎛ 내지 40 ㎛일 수 있다. 점착층의 두께가 1 ㎛ 미만이면, 박리력이 떨어져 칩의 비산 현상이 발생할 우려가 있고, 50 ㎛를 초과하면, 코팅이 용이하게 이루어지지 않을 우려가 있다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer as described above is not particularly limited, and may be, for example, 1 μm to 50 μm, preferably 5 μm to 40 μm. If the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is less than 1 µm, the peeling force may be inferior, and scattering of chips may occur.

상기와 같은 점착제층을 형성하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 기재 필름 상에 직접 본 발명의 점착제 조성물을 도포한 후, 건조하는 방법 또는 박리성 기재 상에 일단 점착제 조성물을 도포, 건조한 후, 상기 박리성 기재를 사용하여 점착제층을 기재 필름 상에 전사하는 방법 등을 사용할 수 있다.The method for forming the pressure-sensitive adhesive layer as described above is not particularly limited, and for example, after applying the pressure-sensitive adhesive composition of the present invention directly on a base film, and then applying or drying the pressure-sensitive adhesive composition on a peelable base material once And the method of transferring an adhesive layer onto a base film using the said peelable base material can be used.

이 때 점착제 조성물을 도포 및 건조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 상기 조성물을 그대로, 또는 적당한 유기용제와 희석하여 콤마 코터, 그라비아 코터, 다이 코터 또는 리버스 코터 등의 공지의 수단으로 도포한 후, 60℃ 내지 200℃의 온도에서 10초 내지 30분 동안 용제를 건조시키는 방법을 사용할 수 있다. 또한, 상기 과정에서는 점착제의 충분한 가교 반응을 진행시키기 위한 에이징(aging) 공정을 추가적으로 수행할 수도 있다.At this time, the method of coating and drying the pressure-sensitive adhesive composition is not particularly limited, and for example, the composition is diluted as it is or diluted with a suitable organic solvent, and applied by a known means such as a comma coater, gravure coater, die coater or reverse coater. Then, a method of drying the solvent for 10 seconds to 30 minutes at a temperature of 60 ℃ to 200 ℃ can be used. In addition, in the above process, an aging process for advancing a sufficient crosslinking reaction of the pressure-sensitive adhesive may be further performed.

본 발명은 또한, 상기 본 발명에 따른 점착 필름; 및 The present invention also, the adhesive film according to the present invention; And

상기 점착 필름 상에 형성된 접착부를 포함하는 다이싱 다이본딩 필름에 관한 것이다.It relates to a dicing die-bonding film comprising an adhesive portion formed on the adhesive film.

상기 다이싱 다이본딩 필름에 포함되는 접착부는 350 내지 390 nm의 파장 영역에서 반사율이 0.02% 내지 50%인 것이 바람직하다. 이와 같이 반사율을 제어함으로 해서, 공정 시 적은 양의 자외선을 단시간 조사하여도 큰 박리력 감소가 일어나, 칩의 픽업성을 향상시킬 수 있다. 상기 반사율이 0.02% 미만이면, 자외선 조사에 의한 점착제층의 박리력의 감소가 용이하게 일어나지 않을 우려가 있고, 50%를 초과하면, 자외선 조사에 의한 점착층의 박리력 감소가 지나치게 커져 다이본딩 필름과의 밀착력이 낮아져 익스팬딩시 칩이 비산하거나, 이송 시 칩이 날아갈 우려가 있다.The adhesive part included in the dicing die bonding film preferably has a reflectance of 0.02% to 50% in a wavelength region of 350 to 390 nm. By controlling the reflectance in this manner, even when a small amount of ultraviolet light is irradiated for a short time during the process, a large peel force decreases, and the pick-up property of the chip can be improved. When the said reflectance is less than 0.02%, there exists a possibility that the reduction of the peeling force of the adhesive layer by ultraviolet irradiation may not arise easily, and when it exceeds 50%, the reduction of the peeling force of the adhesive layer by ultraviolet irradiation will become large too much, and a die bonding film The adhesion between the chip and the chip may be lowered, causing the chip to scatter during expansion or chipping during transportation.

이와 같은 본 발명의 접착제층을 구성하는 성분은 특별히 한정되지 않는다. 다만, 다이본딩용으로 사용되는 상기 접착제층은 패키지 내에서 칩 및 반도체 기판의 휘어짐 및 응력 완화라는 두 가지 특성을 모두 만족시킬 수 있는 것이 바람직하다. 통상 반도체 칩의 열팽창 계수(CTE)는 4 ppm/℃ 정도이며, 반도체 기판의 열팽창 계수(CTE)는 10 내지 15 ppm/℃ 정도인데, 이와 같은 열팽창 계수의 차이로 인해 공정 시에 제품의 휘어짐 또는 크렉 등이 발생하게 될 우려가 있다. 따라서 본 발명에서 사용하는 접착제층은 상기 제품의 휘어짐 등을 방지하면서, 접착력 및 내열성 등의 물성이 우수하고, 고온에서의 응력 완화 특성 등이 탁월하게 제어되는 것이 바람직하다.The component which comprises such an adhesive bond layer of this invention is not specifically limited. However, the adhesive layer used for die bonding preferably satisfies both characteristics such as bending and stress relaxation of the chip and the semiconductor substrate in the package. Generally, the thermal expansion coefficient (CTE) of a semiconductor chip is about 4 ppm / ° C, and the thermal expansion coefficient (CTE) of a semiconductor substrate is about 10 to 15 ppm / ° C. There is a risk of cracking and the like. Therefore, it is preferable that the adhesive bond layer used by this invention is excellent in physical properties, such as adhesive force and heat resistance, preventing the bending of the said product, etc., and excellently controlling stress relaxation characteristics etc. at high temperature.

본 발명에서는 접착제층이 전술한 바와 같은 특성을 만족하는 한, 포함되는 성분은 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 본 발명에서는 서로 상이한 탄성을 가지는 2종 이상의 수지를 혼합하여, 접착제 내에 소프트 세그먼트 및 하드 세그먼트가 공존하도록 한 조성물을 사용할 수 있으며, 이를 통하여, 반도체 칩 및 기판의 열팽창 계수의 차이에 따른 휨 현상을 방지할 수 있는 응력완화특성을 가지면서도, 접착력 및 내열성 등의 물성이 우수한 접착제를 제공할 수 있다.In the present invention, the component included is not particularly limited as long as the adhesive layer satisfies the above characteristics. For example, in the present invention, a composition in which two or more kinds of resins having different elasticities are mixed to coexist with soft segments and hard segments can be used, and as a result, a difference in thermal expansion coefficients of a semiconductor chip and a substrate can be used. It is possible to provide an adhesive having excellent physical properties such as adhesive strength and heat resistance while having stress relaxation characteristics that can prevent warpage.

즉, 본 발명에서는 상기 접착제층으로서, 고분자량의 플렉서블 에폭시 수지 및 저분자량의 리지드 에폭시 수지를 포함하는 것을 사용할 수 있다.That is, in this invention, the thing containing a high molecular weight flexible epoxy resin and a low molecular weight rigid epoxy resin can be used as said adhesive bond layer.

본 발명의 접착제층에 포함되는 고분자량 플렉서블 에폭시 수지는 분자 내에 2 이상의 에폭시기를 함유하고, 유리전이온도가 50℃ 이하인 수지를 의미한다. 본 발명에서 사용되는 고분자량 플렉서블 에폭시 수지의 종류는, 상기 조건을 만족하면 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 에폭시의 골격을 이루는 주쇄 내에 지방족 반복단위를 포함하는 에폭시 수지를 사용할 수 있다. 상기에서 주쇄 내에 지방족 반복단위를 포함한다는 것은, 주쇄가 지방족 반복단위만으로 이루어지거나, 또는 주쇄 내에 장쇄의 지방족 반복단위가 포함되는 경우를 의미한다. 상기에서 장쇄의 지방족 반복단위는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌 또는 폴리부타디엔과 같은 장쇄의 알킬; 폴리에틸렌 글리콜(PEG) 또는 폴리프로필렌 글리콜(PPG)와 같은 장쇄의 알킬 글리콜; 에틸헥실 (메타)아크릴레이트, 부틸 (메타)아크릴레이트, n-옥틸 (메타)아크릴레이트 또는 n-도데실 (메타)아크릴레이트와 같은 (메타)아크릴산 에스테르; 비닐 아세테이트 및 스티렌으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상의 폴리머 구조를 포함하는 것이 바람직하지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 상기와 같은 에폭시 수지는 경화 후 상온 또는 저온에서 부서짐 등이 발생하지 않는다. 따라서, 플렉서블 에폭시 수지는 고분자량으로 경화 전에 부서짐 등이 없이 필름상으로 유지할 수 있고, 경화 공정 중에 가교구조를 형성하며, 가교체가 된 이 후에도 점탄성을 갖는다.The high molecular weight flexible epoxy resin included in the adhesive layer of the present invention means a resin containing two or more epoxy groups in a molecule and having a glass transition temperature of 50 ° C or lower. The kind of high molecular weight flexible epoxy resin used in the present invention is not particularly limited as long as the above conditions are satisfied. For example, an epoxy resin containing an aliphatic repeating unit in the main chain forming the skeleton of the epoxy can be used. In the above, the inclusion of an aliphatic repeating unit in the main chain means that the main chain is composed of only aliphatic repeating units, or the long chain aliphatic repeating unit is included in the main chain. The long chain aliphatic repeating unit may be a long chain alkyl such as polyethylene, polypropylene, or polybutadiene; Long chain alkyl glycols such as polyethylene glycol (PEG) or polypropylene glycol (PPG); (Meth) acrylic acid esters such as ethylhexyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, n-octyl (meth) acrylate or n-dodecyl (meth) acrylate; It is preferred to include, but is not limited to, one or more polymer structures selected from the group consisting of vinyl acetate and styrene. The epoxy resin as described above does not occur at room temperature or low temperature after curing. Therefore, the flexible epoxy resin can be maintained in a film form without breaking before curing at high molecular weight, forms a crosslinked structure during the curing process, and has viscoelasticity even after the crosslinked product is formed.

상기와 같은 고분자량 플렉서블 에폭시 수지는 경화전 자체 유리전이온도가 -30℃ 내지 50℃, 바람직하게는 -20℃ 내지 40℃, 보다 바람직하게는 0℃ 내지 30℃이다. 상기 유리전이온도가 -30℃보다 작으면, 필름 형성 시에 흐름성이 커져 취급성이 악화될 우려가 있고, 50℃를 초과하면, 저온에서의 웨이퍼와 부착력이 낮아져, 다이싱 공정 중에 칩이 비산하거나, 접착제와 칩 사이에 세척수가 침투할 우려가 있다.The high molecular weight flexible epoxy resin as described above has its own glass transition temperature of -30 ° C to 50 ° C, preferably -20 ° C to 40 ° C, more preferably 0 ° C to 30 ° C, before curing. If the glass transition temperature is less than -30 ° C, the flowability may be increased at the time of film formation, and the handleability may deteriorate. If the glass transition temperature is higher than 50 ° C, the adhesion force with the wafer at low temperature may be low, and the chip may be removed during the dicing process. There is a fear of scattering or penetration of the wash water between the adhesive and the chip.

상기 고분자량 플렉서블 에폭시 수지는 또한 중량평균분자량이 10만 내지 100만, 바람직하게는 10만 내지 80만, 보다 바람직하게는 10만 내지 30만이다. 상기 중량평균분자량이 10만보다 작으면, 필름의 강도가 떨어져, 취급성 및 내열성이 떨어지거나, 회로 충진 시 흐름성을 제어할 수 없게 될 우려가 있다. 또한 상기 중량평균분자량이 100만을 초과하면, 탄성률 및/또는 다이본딩 시 흐름성 억제 효과가 지나치게 커져, 필름의 회로 충진성 및 신뢰성을 감소시킬 우려가 있다.The high molecular weight flexible epoxy resin also has a weight average molecular weight of 100,000 to 1 million, preferably 100,000 to 800,000, more preferably 100,000 to 300,000. If the weight average molecular weight is less than 100,000, the film may be inferior in strength, poor in handleability and heat resistance, or may not be able to control flowability during circuit filling. In addition, when the weight average molecular weight exceeds 1 million, the elastic modulus and / or the flow inhibitory effect at the time of die bonding is too large, there is a fear to reduce the circuit filling and reliability of the film.

상기와 같이 경화 전 자체 유리전이온도가 -30 내지 50℃이고, 중량평균분자량이 10만 내지 100만인 고분자량 플렉서블 에폭시 수지의 예로는 고분자량 지방족 에폭시 또는 고무 변성 에폭시 등을 들 수 있으며, 본 발명에서는 주쇄 내에 에테 르기를 포함하여, 자체 탄성이 우수한 구조를 사용하는 것이 바람직하다.As described above, examples of the high molecular weight flexible epoxy resin having a glass transition temperature of −30 to 50 ° C. and a weight average molecular weight of 100,000 to 1 million before curing may include high molecular weight aliphatic epoxy or rubber modified epoxy, and the present invention. It is preferable to use a structure having excellent self-elasticity, including ether groups in the main chain.

본 발명에서 사용되는 저분자량 리지드 에폭시 수지는 경화 후 유리전이온도가 50℃를 초과하는 에폭시 수지를 의미한다. 상기 저분자량 리지드 에폭시 수지는 주쇄 내에 2 이상의 에폭시기를 함유하고, 유리전이온도가 50℃를 초과하는 수지라면 제한 없이 사용할 수 있으며, 예를 들면, 에폭시 골격을 이루는 주쇄 내에 방향족 구조의 반복 단위를 포함하는 에폭시 수지를 사용할 수 있다. 이러한 에폭시 수지는 경화 공정에서 가교 구조를 형성하여 딱딱해지며, 우수한 접착력, 내열성 및 기계적 강도 등을 갖는다.The low molecular weight rigid epoxy resin used in the present invention means an epoxy resin having a glass transition temperature of more than 50 ° C. after curing. The low molecular weight rigid epoxy resin may be used without limitation as long as it contains two or more epoxy groups in the main chain and has a glass transition temperature exceeding 50 ° C. For example, a repeating unit having an aromatic structure in the main chain constituting the epoxy skeleton may be included. An epoxy resin can be used. Such epoxy resins form a crosslinked structure in the curing process and become hard, and have excellent adhesion, heat resistance and mechanical strength.

본 발명에서는 상기 저분자량 리지드 에폭시 수지로서 평균 에폭시 당량이 180 내지 1000인 다관능 에폭시 수지를 사용하는 것이 바람직하다. 상기 당량이 180보다 작으면, 가교 밀도가 지나치게 높아져, 접착 필름 전체가 딱딱한 성질을 나타내기 쉽고, 1000을 초과하면, 높은 내열특성이 요구되는 본 발명의 특성에 반하여 유리전이온도가 낮아질 우려가 있다. 상기 저분자량 리지드 에폭시 수지는 또한 경화 전 자체 연화점이 50 내지 100℃인 것이 바람직하다. 상기 연화점이 50℃보다 작으면, 필름의 A-스테이지 상태의 모듈러스가 떨어지고, 택(tack)이 커져 취급성이 악화될 우려가 있고, 100℃를 초과하면, 웨이퍼와의 부착성이 저하되어 다이싱 시 칩이 비산하는 등의 문제가 발생할 우려가 있다. 상기에서 사용된 용어 『A-스테이지』는 열경화성 수지의 경화 정도를 나타내는 용어이다. 에폭시 수지와 같은 열경화성 수지의 경우 경화 상태에 따라 A, B 및 C-스테이지로 구분할 수 있는데, A-스테이지의 경우 통상적으로 미경화 상태이며, FT-IR로 에폭시기의 경화반응에 의한 전환율을 측정하였을 때 약 0% 내지 20%의 진행을 보이는 상태이고, B-스테이지의 경우 약 20 내지 60%, C-스테이지의 경우 약 60% 내지 100%의 전환율을 보이는 상태를 의미한다.In this invention, it is preferable to use the polyfunctional epoxy resin whose average epoxy equivalent is 180-1000 as said low molecular weight rigid epoxy resin. If the equivalent is less than 180, the crosslinking density becomes too high, and the entire adhesive film tends to exhibit rigid properties. If the equivalent weight exceeds 1000, the glass transition temperature may be lowered as opposed to the characteristics of the present invention requiring high heat resistance. . It is preferable that the low molecular weight rigid epoxy resin also has a self-softening point of 50 to 100 ° C before curing. If the softening point is smaller than 50 ° C., the modulus of the A-stage state of the film may drop, the tack may increase, and the handleability may deteriorate. There may be a problem such as chip scattering. The term "A-stage" used above is a term indicating the degree of curing of the thermosetting resin. Thermosetting resins, such as epoxy resins, can be classified into A, B, and C-stages according to their curing conditions. In the case of A-stages, they are typically uncured, and FT-IR was used to measure the conversion rate due to curing of epoxy groups. When the progression of about 0% to 20%, the B-stage is about 20 to 60%, the C-stage is about 60% to 100% of the transition state.

상기와 같은 다관능 에폭시 수지의 예로는 크레졸 노볼락 에폭시 수지, 비스페놀 A형 노볼락 에폭시 수지, 페놀 노볼락 에폭시 수지, 4 관능성 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 트리페놀 메탄형 에폭시 수지, 알킬 변성 트리페놀 메탄 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지 및 디시클로펜타디엔 변성 페놀형 에폭시 수지로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.Examples of such polyfunctional epoxy resins include cresol novolac epoxy resins, bisphenol A novolac epoxy resins, phenol novolac epoxy resins, tetrafunctional epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, triphenol methane type epoxy resins, and alkyls. One or more selected from the group consisting of a modified triphenol methane epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, and a dicyclopentadiene modified phenol type epoxy resin, but is not limited thereto.

본 발명의 접착제층에 포함되는 저분자량 리지드 에폭시 수지의 함유량은 고분자량 플렉서블 에폭시 수지 100 중량부에 대하여 10 중량부 내지 200 중량부가 바람직하고, 20 중량부 내지 100 중량부가 더욱 바람직하다. 상기 함량이 10 중량부보다 작으면, 내열성 및 취급성이 저하될 우려가 있고, 200 중량부를 초과하면, 필름의 강성이 지나치게 높아져, 작업성 및 신뢰성이 저하될 우려가 있다.10 weight part-200 weight part are preferable with respect to 100 weight part of high molecular weight flexible epoxy resin, and, as for content of the low molecular weight rigid epoxy resin contained in the adhesive bond layer of this invention, 20 weight part-100 weight part are more preferable. If the content is less than 10 parts by weight, the heat resistance and handleability may be lowered. If the content is more than 200 parts by weight, the rigidity of the film may be too high, and workability and reliability may be reduced.

상기 접착제층은 또한 첨가제의 형태로 중량평균분자량이 5만 이상인 탄성 보강 수지가 추가로 포함될 수 있다. 상기 탄성 보강 수지의 구체적인 예로는 폴리에스테르, 폴리비닐알코올, 폴리비닐부티랄, 폴리염화비닐, 폴리스티렌, 폴리아미드, 폴리이미드, 페녹시, 폴리비닐에테르 및/또는 폴리에틸렌 등을 들 수 있고, 리지드 에폭시 수지와의 상용성 관점에서 페녹시 수지가 바람직하다. 또한, 부타디엔 고무(BR), 아크릴로니트릴 부타디엔 고무(NBR), 아크릴 고무(AR) 및/또는 스 티렌부타디엔 고무(SBR)와 같은 합성 고무 등도 사용할 수 있으며, 특히 카복실기 변성 아크릴로니트릴 부타디엔 고무(CTBN)를 사용하는 것이 바람직하다. 상기와 같은 탄성 보강 수지의 함량은 고분자량 플렉서블 에폭시 수지 100 중량부에 대하여 50 내지 1000 중량부의 범위가 바람직하나, 이에 제한되는 것은 아니다.The adhesive layer may further include an elastic reinforcing resin having a weight average molecular weight of 50,000 or more in the form of an additive. Specific examples of the elastic reinforcing resin include polyester, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, polyvinyl chloride, polystyrene, polyamide, polyimide, phenoxy, polyvinyl ether and / or polyethylene, and a rigid epoxy Phenoxy resins are preferred from the viewpoint of compatibility with the resins. In addition, synthetic rubbers such as butadiene rubber (BR), acrylonitrile butadiene rubber (NBR), acrylic rubber (AR) and / or styrene butadiene rubber (SBR) can also be used, in particular carboxyl group-modified acrylonitrile butadiene rubber Preference is given to using (CTBN). The content of the elastic reinforcement resin is preferably in the range of 50 to 1000 parts by weight based on 100 parts by weight of the high molecular weight flexible epoxy resin, but is not limited thereto.

본 발명의 접착제층은 경화제를 추가로 포함할 수 있다. 상기 경화제의 종류는 전술한 고분자량 플렉서블 에폭시 수지 및/또는 저분자량 리지드 에폭시 수지와 반응하여 가교 구조를 형성할 수 있는 것이라면 특별히 제한되지는 않으나, 상기 두 성분 모두와 반응하여 가교 구조를 형성할 수 있는 것이 바람직하다. 이와 같은 경화제는, 소프트 세그먼트를 이루는 고분자량 플렉서블 에폭시 수지와 하드 세그먼트를 이루는 저분자량 리지드 에폭시 수지와 각각 가교구조를 이루어, 접착제층의 내열성을 향상시키는 동시에, 상기 두 종류의 에폭시 수지의 계면에서 상기 두 수지간의 연결고리 역할을 하여 반도체 패키지의 신뢰성을 향상시킬 수 있다는 측면에서 바람직하다.The adhesive layer of the present invention may further comprise a curing agent. The type of the curing agent is not particularly limited as long as it can react with the high molecular weight flexible epoxy resin and / or the low molecular weight rigid epoxy resin to form a crosslinked structure, but may react with both components to form a crosslinked structure. It is desirable to have. Such a curing agent has a crosslinked structure with a high molecular weight flexible epoxy resin constituting a soft segment and a low molecular weight rigid epoxy resin constituting a hard segment, respectively, to improve heat resistance of the adhesive layer and at the interface of the two types of epoxy resins. It is preferable in that it can improve the reliability of the semiconductor package by acting as a link between the two resins.

본 발명에서 사용되는 경화제는 상기와 같은 역할을 수행할 수 있다면 특별히 한정되는 것은 아니나, 내열성 측면에서 다관능 페놀 수지가 바람직하고, 수산기 당량이 100 내지 1000인 다관능 페놀 수지가 보다 바람직하다. 상기 수산기 당량이 100보다 작으면, 경화물의 경도가 높고, 흡습 특성이 저하될 우려가 있으며, 1000을 초과하면, 유리전이온도가 저하되고, 내열성이 취약해질 우려가 있다. 상기와 같은 다관능 페놀 수지의 예로는 비스페놀 A 수지, 페놀 노볼락 수지, 크레졸 노볼락 수지, 비스페놀 A 노볼락 수지, 페놀 아랄킬 수지, 다관능 노볼락, 디시클로펜타디엔 페놀 노볼락 수지, 아미노 트리아진 페놀 노볼락 수지, 폴리부타디엔 페놀 노볼락 수지, 비페놀 타입 수지, 또는 기타 다관능 수지를 들 수 있고, 이들은 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다. The curing agent used in the present invention is not particularly limited as long as it can play such a role, but in terms of heat resistance, a polyfunctional phenol resin is preferable, and a polyfunctional phenol resin having a hydroxyl equivalent of 100 to 1000 is more preferable. If the hydroxyl equivalent is less than 100, the hardness of the cured product may be high, and the hygroscopic property may be lowered. If the hydroxyl equivalent is more than 1000, the glass transition temperature may be lowered and the heat resistance may be weak. Examples of such polyfunctional phenol resins include bisphenol A resin, phenol novolak resin, cresol novolak resin, bisphenol A novolak resin, phenol aralkyl resin, polyfunctional novolak, dicyclopentadiene phenol novolak resin, amino Triazine phenol novolak resin, polybutadiene phenol novolak resin, biphenol type resin, or other polyfunctional resin is mentioned, These can be used individually or in mixture of 2 or more types.

상기와 같은 경화제의 함량은 전체 에폭시 수지 대비 0.4 당량비 내지 2.4 당량비가 바람직하고, 0.8 당량비 내지 1.2 당량비가 더욱 바람직하다. 또한 경화제의 함량은 중량부로는 전체 에폭시 수지 100 중량부에 대하여 50 중량부 내지 150 중량부가 바람직하다. 상기 함량이 50 중량부보다 작으면, 미반응 에폭시기가 많이 잔존하여 유리전이온도의 확보 및 잔존 에폭시기의 반응을 위해 고온 또는 장시간의 열을 가해주어야 할 우려가 있고, 150 중량부를 초과할 경우, 미반응 수산기 등에 의해 흡습율, 저장 안정성 및 유전 특성 등이 악화될 우려가 있다.The amount of the curing agent as described above is preferably 0.4 equivalent to 2.4 equivalents, more preferably 0.8 to 1.2 equivalents, relative to the total epoxy resin. In addition, the content of the curing agent is preferably 50 parts by weight to 150 parts by weight based on 100 parts by weight of the total epoxy resin. If the content is less than 50 parts by weight, a large amount of unreacted epoxy group remains, there is a concern that a high temperature or a long time of heat is applied to secure the glass transition temperature and the reaction of the remaining epoxy groups, if it exceeds 150 parts by weight There exists a possibility that a moisture absorption rate, storage stability, a dielectric characteristic, etc. may deteriorate by reaction hydroxyl group.

본 발명의 접착제층은 또한 전체 에폭시 수지 100 중량부에 대하여, 0.1 중량부 내지 10 중량부, 바람직하게는 0.5 중량부 내지 3 중량부의 경화 촉진제를 추가로 포함할 수 있다. 상기 함량이 0.1 중량부보다 작으면, 반응 속도 저하에 의해 에폭시 수지의 가교가 불충분하게 되어 내열성이 저하될 우려가 있고, 10 중량부를 초과하면, 경화 반응이 급격하게 일어나고, 보존 안정성이 저하될 우려가 있다. 본 발명에서 사용할 수 있는 경화 촉진제의 예로는 이미다졸계, 트리페닐포스핀(TPP) 또는 3급 아민류를 들 수 있다. 본 발명에서는 상기 중 이미다졸계 경화 촉진제를 사용하는 것이 바람직하며, 이러한 이미다졸계 경화 촉진제의 예로는 2- 메틸 이미다졸(2MZ), 2-에틸-4-메틸 이미다졸(2E4MZ), 2-페닐 이미다졸(2PZ), 1-시아노에틸-2-페닐 이미다졸(2PZ-CN), 2-운데실 이미다졸(C11Z), 2-헵타데실 이미다졸 (C17Z) 또는 1-시아노에틸-2-페닐 이미다졸 트리메탈레이트(2PZ-CNS)를 들 수 있다. 본 발명에서는 상기 나열된 경화 촉진제의 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.The adhesive layer of the present invention may further include 0.1 to 10 parts by weight, preferably 0.5 to 3 parts by weight of a curing accelerator, based on 100 parts by weight of the total epoxy resin. When the content is less than 0.1 part by weight, crosslinking of the epoxy resin may be insufficient due to a decrease in reaction rate, resulting in a decrease in heat resistance. When it exceeds 10 parts by weight, a curing reaction may occur rapidly and storage stability may decrease. There is. Examples of the curing accelerator usable in the present invention include imidazole series, triphenylphosphine (TPP) or tertiary amines. In the present invention, it is preferable to use the above-mentioned imidazole series curing accelerator, and examples of such imidazole series curing accelerator are 2-methyl imidazole (2MZ), 2-ethyl-4-methyl imidazole (2E4MZ), 2- Phenyl imidazole (2PZ), 1-cyanoethyl-2-phenyl imidazole (2PZ-CN), 2-undecyl imidazole (C11Z), 2-heptadecyl imidazole (C17Z) or 1-cyanoethyl- 2-phenyl imidazole trimetalate (2PZ-CNS) is mentioned. In the present invention, one or two or more kinds of the above-mentioned curing accelerators can be used.

본 발명의 접착제층은 또한 반사율 조절의 관점에서 일정량의 유색 재료(유색의 충진제 또는 안료)를 추가로 포함할 수 있다. 이와 같은 유색 재료가 포함됨으로 해서, 접착제층의 반사율을 제어할 수 있게 되며, 또한 접착제층에 색상을 부여하여, 다이본딩 및 다이싱 필름의 구분이 용이해짐으로써, 공정 시간의 단축, 불량률의 감소 및 작업효율의 향상을 도모할 수 있는 장점을 가진다. The adhesive layer of the present invention may also further contain a certain amount of colored material (colored filler or pigment) in view of reflectance control. By including such colored materials, it is possible to control the reflectance of the adhesive layer, and also to give a color to the adhesive layer, to facilitate the separation of the die bonding and dicing film, shortening the process time and reducing the defective rate And it has the advantage that can improve the work efficiency.

사용될 수 있는 유색 재료의 종류는 특별히 한정되지 않으나, CIE 좌표계에서 L*의 값이 30 이상인 유색재료를 사용하는 것이 바람직하다. 상기 CIE 좌표계는 국제 조명 기구(CIE)에서 규정한 색상 값으로 CIE 색 공간이라고도 호칭된다. 상기 좌표계는 균일한 색 공간 좌표로서, 눈과 매우 근사한 차이를 보여주기 때문에 현재 세계적으로 표준화되어 있는 좌표계이다. 상기 좌표계에서 색 좌표는 L*, a* 및 b*의 수치로 표시되며, 이 중 L*는 명도(lightness)를 나타내는 입체 좌표이다. 상기 수치에서 L*=100은 완전한 흰색(보다 구체적으로는 광원의 색)이며, L*=0은 완전한 검은 색이다. 상기 L*의 값이 30 미만이면, 유색 재료 자체의 반사율이 너무 낮아서, 목적하는 반사율이 얻어지지 않을 우려가 있다. The type of colored material that can be used is not particularly limited, but it is preferable to use colored materials having an L * value of 30 or more in the CIE coordinate system. The CIE coordinate system is a color value defined by the International Lighting Institution (CIE), also called a CIE color space. The coordinate system is a uniform color space coordinate and is a coordinate system that is currently standardized worldwide because it shows a very close difference with the eyes. In the coordinate system, color coordinates are represented by numerical values of L *, a *, and b *, of which L * is a three-dimensional coordinate representing lightness. L * = 100 is completely white (more specifically the color of the light source) and L * = 0 is completely black. If the value of L * is less than 30, the reflectance of the colored material itself is too low, and there is a fear that the desired reflectance may not be obtained.

상기와 같은 유색 재료의 예로는, 백색 계열로서 화이트 카본, 탄산칼슘, 알루미나, 알루미늄 수화물, 산화마그네슘, 수산화마그네슘, 염기성 탄산마그네슘, 천연규산염, 합성 규산염, 이산화규소, 황산바륨, 산화티탄(TiO2), 리토폰(ZnS+BaSO4), 아연화(ZnO) 또는 연백(2PbCO3?Pb(OH)2); 적색 계열로서 산화철(Fe2O3) 또는 카드뮴 레드(CdS+CdSe); 황색 계열로서 카드뮴 옐로우 (CdS 또는 CdS+ZnS), 크롬 옐로우(PbCrO4) 또는 티탄 옐로우(TiO2?NiO?Sb2O3); 녹색 계열로서 산화크롬(Cr2O3); 청색 계열로서 군청안료(3NaAl?SiO4?Na2S3), 감청안료(F24[Fe(CN)6]3?nH2O), 코발트 블루(CoO?nAl2O3) 또는 코발트 자색(CoO?MgO?B2O3); 갈색 계열로서 갈색 안료(FeO3?MnO2?Mn3O4) 등을 들 수 있다. 본 발명에서는 상기와 같은 유색 재료를 1종 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Examples of such colored materials include white carbon, calcium carbonate, alumina, aluminum hydrate, magnesium oxide, magnesium hydroxide, basic magnesium carbonate, natural silicate, synthetic silicate, silicon dioxide, barium sulfate, titanium oxide (TiO 2). ), Lithopone (ZnS + BaSO 4 ), zincation (ZnO) or lead white (2PbCO 3 Pb (OH) 2 ); Iron oxide (Fe 2 O 3 ) or cadmium red (CdS + CdSe) as a red series; Cadmium yellow (CdS or CdS + ZnS), chromium yellow (PbCrO 4 ) or titanium yellow (TiO 2 ? NiO? Sb 2 O 3 ) as a yellow series; Chromium oxide (Cr 2 O 3 ) as a green series; Blue-based blue pigments (3NaAl? SiO 4 ? Na 2 S 3 ), blue pigment (F24 [Fe (CN) 6 ] 3 ? NH 2 O), cobalt blue (CoO? NAl 2 O 3 ), or cobalt purple (CoO MgO B 2 O 3 ); Brown pigments (FeO 3- MnO 2- Mn 3 O 4 ) and the like. In the present invention, one or two or more kinds of the above-described colored materials can be used.

본 발명에서 상기와 같은 유색재료는 1 nm 내지 10 ㎛, 바람직하게는 1 nm 내지 1 ㎛의 평균 입경을 갖는다. 상기 입경이 1 nm 보다 작으면, 접착제층 내에서 재료가 응집될 우려가 있고, 반사율이 균일하지 않게 되며 오히려 저하될 우려가 있다. 또한, 10 ㎛를 초과하면, 접착제층 내에서 유색재료가 표면으로 돌출되어, 웨이퍼와의 열압착 시에 칩에 손상으로 주거나, 접착성 향상 효과를 저해할 우려가 있다.In the present invention, the colored material as described above has an average particle diameter of 1 nm to 10 μm, preferably 1 nm to 1 μm. If the particle diameter is smaller than 1 nm, there is a fear that the material may aggregate in the adhesive layer, and the reflectance may not be uniform, but may be lowered. On the other hand, when the thickness exceeds 10 µm, the colored material protrudes from the surface of the adhesive layer, which may cause damage to the chip during thermocompression bonding with the wafer or inhibit the adhesion improving effect.

본 발명에서는 상기 유색 재료가 에폭시 수지 100 중량부에 대하여 0.1 중량부 내지 100중량부로 포함되는 것이 바람직하다. 그러나, 상기 함량은 본 발명의 일례에 불과하며, 본 발명에서는 유색 재료의 색상, 명도 및 목적하는 접착제층의 반사율에 따라 유색 재료의 함량을 자유롭게 변경할 수 있다.In the present invention, the colored material is preferably included in 0.1 part by weight to 100 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin. However, the content is only one example of the present invention, in the present invention can be freely changed the content of the colored material according to the color, brightness and reflectance of the desired adhesive layer.

본 발명의 접착제층은 또한 커플링제를 추가로 포함할 수 있다. 포함된 커플링제는 접착부와 웨이퍼와의 밀착성을 향상시킬 수 있다. 또한 상기 커플링제는 경화 반응시에 유기 관능기가 수지 성분과 반응함으로써 경화물의 내열성을 손상시키지 않고, 접착성 및 밀착성을 향상시킬 수 있으며, 내습열 특성도 향상시킬 수 있다. 사용할 수 있는 커플링제의 예로는 실란계, 티탄계 또는 알루미늄계 커플링제를 들 수 있으며, 비용 대비 효과가 높다는 점에서 실란계 커플링제가 바람직하다. 이러한 실란계 커플링제의 예로는 아미노 실란, 에폭시 실란, 머캅토 실란, 우레이도 실란, 메타크릴록시 실란, 비닐 실란 및 설파이도 실란으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상을 들 수 있다.The adhesive layer of the present invention may also further comprise a coupling agent. The included coupling agent may improve the adhesion between the adhesive portion and the wafer. Moreover, the said coupling agent can improve adhesiveness and adhesiveness, and can also improve moisture-heat-resistant characteristics, without impairing the heat resistance of hardened | cured material by the organic functional group reacting with a resin component at the time of hardening reaction. Examples of the coupling agent that can be used include a silane-based, titanium-based or aluminum-based coupling agent, and a silane-based coupling agent is preferable in view of high cost-effectiveness. Examples of such silane coupling agents include one or more selected from the group consisting of amino silanes, epoxy silanes, mercapto silanes, ureido silanes, methacryloxy silanes, vinyl silanes and sulfido silanes.

이상과 같은 접착제층을 포함하는 접착부를 제조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면, 전술한 성분을 포함하는 조성물을 용제에 용해 또는 분산시켜 수지 바니쉬를 제조하는 제 1 단계; 상기 수지 바니쉬를 기재 필름 또는 이형 필름에 도포하는 제 2 단계; 및 The method for producing the adhesive part including the adhesive layer as described above is not particularly limited, and includes, for example, a first step of preparing a resin varnish by dissolving or dispersing a composition containing the above-described components in a solvent; A second step of applying the resin varnish to a base film or a release film; And

상기 수지 바니쉬가 도포된 기재 필름 또는 이형 필름을 가열하여 용제를 제거하는 제 3 단계를 포함하는 방법으로 제조될 수 있다.The resin varnish may be prepared by a method comprising a third step of removing the solvent by heating the base film or the release film is applied.

상기 제 1 단계는 본 발명에 따른 접착 수지 조성물을 사용하여 수지 바니쉬 를 제조하는 단계로서, 용제로는 통상 메틸에틸케톤(MEK), 아세톤(Acetone), 톨루엔(Toluene), 디메틸포름아미드(DMF), 메틸셀로솔브(MCS), 테트라히드로퓨란(THF), N-메틸피롤리돈(NMP) 또는 에틸 아세테이트 등의 일종 또는 이종 이상의 혼합을 사용할 수 있다. 이 때 기재 필름의 내열성을 고려하여 저비점 용제를 사용하거나, 또는 도막성을 향상을 위하여 고비점 용제를 사용할 수도 있다.The first step is to prepare a resin varnish using the adhesive resin composition according to the present invention, the solvent is usually methyl ethyl ketone (MEK), acetone (Acetone), toluene (Toluene), dimethylformamide (DMF) Or a mixture of one or more kinds of methyl cellosolve (MCS), tetrahydrofuran (THF), N-methylpyrrolidone (NMP) or ethyl acetate can be used. In this case, in consideration of the heat resistance of the base film, a low boiling point solvent may be used, or a high boiling point solvent may be used in order to improve coating properties.

상기 제 1 단계에서는 또한 공정 시간의 단축 및 분산성 향상의 관점에서 충진제를 사용할 수 있으며, 이 경우 제 1 단계는, (1) 용제, 유색재료 및 커플링제를 혼합하는 단계; (2) 상기 (1) 단계의 혼합물에 저분자량 리지드 에폭시 수지 및 경화제를 첨가하여 혼합하는 단계; 및In the first step, a filler may also be used in view of shortening the process time and improving dispersibility, and in this case, the first step may include: (1) mixing a solvent, a colorant, and a coupling agent; (2) adding and mixing a low molecular weight rigid epoxy resin and a curing agent to the mixture of step (1); And

(3) 상기 (2) 단계의 혼합물에 고분자량 플렉서블 에폭시 수지 및 경화 촉진제를 혼합하는 단계를 포함할 수 있다.(3) may comprise mixing a high molecular weight flexible epoxy resin and a curing accelerator in the mixture of step (2).

이 때 사용될 수 있는 충진제의 예로는 볼 밀(Ball Mill), 비드 밀(Bead Mill), 3개 롤(roll) 또는 고속 분산기의 단독 또는 이종 이상의 조합을 사용할 수 있으며, 볼 또는 비드의 재질로는 글래스, 알루미나 또는 지르코늄 등을 들 수 있고, 특히 입자의 분산성 측면에서는 지르코늄 재질의 볼 또는 비드가 바람직하다.Examples of the filler that may be used at this time may be a ball mill, bead mill, three rolls, or a combination of two or more kinds of high speed dispersers, or a material of the balls or beads. Glass, alumina or zirconium, and the like, and in particular, in view of dispersibility of particles, zirconium balls or beads are preferred.

접착 필름의 제조의 제 2 단계는 제조된 수지 바니쉬를 기재필름(또는 이형 필름)에 도포하는 단계로서, 도포 방법은 특별히 한정되지는 않고, 예를 들면, 나이프 코트법, 롤 코트법, 스프레이 코트법, 그라비아 코트법, 커튼 코트법, 콤마 코트법 또는 립 코트법 등을 사용할 수 있다.The second step of the production of the adhesive film is a step of applying the prepared resin varnish to the base film (or release film), the coating method is not particularly limited, for example, knife coating method, roll coating method, spray coating The method, the gravure coat method, the curtain coat method, the comma coat method, the lip coat method, etc. can be used.

접착 필름의 제조의 제 3 단계는 수지 바니쉬가 도포된 기재필름(또는 이형 필름)을 가열하여 용제를 제거하는 단계이다. 이 공정은 70℃ 내지 250℃의 온도에서 1분 내지 20분 동안 수행하는 것이 바람직하나, 이에 제한되는 것은 아니다. The third step of the production of the adhesive film is a step of removing the solvent by heating the base film (or release film) to which the resin varnish is applied. This process is preferably performed for 1 to 20 minutes at a temperature of 70 ℃ to 250 ℃, but is not limited thereto.

위와 같이 제조된 접착부를 사용하여 다이싱 다이본딩 필름을 제조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 상기 점착 필름 및 접착부를 라미네이션하여 제조할 수 있다. 이 때 라미네이션 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 핫 롤 라미네이트 또는 적층 프레스법을 사용할 수 있다. 상기 중 연속 공정 가능성 및 효율성 측면에서 핫 롤 라미네이트법이 바람직하다. 핫 롤 라미네이트법은 10℃ 내지 100℃의 온도에서 0.1 Kgf/cm2 내지 10 Kgf/cm2의 압력으로 수행될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.The method for producing a dicing die-bonding film using the adhesive prepared as described above is not particularly limited, and for example, may be prepared by laminating the adhesive film and the adhesive. At this time, a lamination method is not specifically limited, For example, a hot roll lamination or a lamination press method can be used. Among the above, the hot roll lamination method is preferable in terms of continuous processability and efficiency. The hot roll lamination method may be performed at a pressure of 0.1 Kg f / cm 2 to 10 Kg f / cm 2 at a temperature of 10 ° C to 100 ° C, but is not limited thereto.

본 발명은 또한, 상기 본 발명에 따른 다이싱 다이본딩 필름의 접착부가 웨이퍼 일면에 부착되어 있고, In the present invention, the adhesive portion of the dicing die-bonding film according to the present invention is attached to one side of the wafer,

상기 다이싱 다이본딩 필름의 점착 필름이 웨이퍼 링 프레임에 고정되어 있는 반도체 웨이퍼에 관한 것이다.The adhesive film of the said dicing die-bonding film relates to the semiconductor wafer which is fixed to the wafer ring frame.

상기와 같은 반도체 웨이퍼는 반도체 웨이퍼의 이면에 다이싱 다이본딩 필름의 접착부를 온도 0℃ 내지 180℃ 조건에서 웨이퍼 이면에 부착(라미네이션)하고, 상기 기재 필름을 웨이퍼 링 프레임에 고정시켜 제조할 수 있다.The semiconductor wafer as described above may be manufactured by attaching (laminating) the adhesive portion of the dicing die bonding film to the back surface of the wafer at a temperature of 0 ° C to 180 ° C and fixing the base film to the wafer ring frame. .

상기와 같은 반도체 웨이퍼를 사용하여 반도체 장치를 제조하는 과정의 일례는 이하와 같다. 즉, 전술한 다이싱 다이본딩 필름이 부착된 반도체 웨이퍼를 다이싱 기기를 이용하여 완전히 절단하여 개개의 칩으로 분할한다. 그 후, 자외선 조사를 통해 점착제를 경화시킨다. 상기와 같이 자외선에 의해 경화된 점착제는 접착제의 밀착력이 저하되어서 후 공정에서 칩의 픽업이 쉬워지게 된다. 이 때 필요에 따라서, 다이싱 다이본딩 필름을 인장하는 익스펜딩 공정을 실시하여, 칩간의 간격이 확정시키고, 접착부 및 점착부 계면에 어긋남을 발생시켜 픽업을 용이하게 할 수 있다.An example of the process of manufacturing a semiconductor device using such a semiconductor wafer is as follows. That is, the semiconductor wafer with the dicing die-bonding film described above is completely cut using a dicing apparatus and divided into individual chips. Thereafter, the pressure-sensitive adhesive is cured through ultraviolet irradiation. As mentioned above, the adhesive hardened | cured by the ultraviolet-ray reduces the adhesive force of an adhesive agent, and it becomes easy to pick up a chip in a post process. At this time, if necessary, an expanding process of tensioning the dicing die-bonding film may be performed to determine the spacing between the chips, and the pick-up may be facilitated by causing misalignment at the interface between the adhesive portion and the adhesive portion.

위와 같은 상태에서 칩의 픽업을 실시하면, 반도체 웨이퍼 및 접착부가 점착부로부터 박리되어 접착층만이 부착된 칩을 얻을 수 있다. 수득한 상기 접착제층이 부착된 칩을 반도체용 기판에 부착한다. 칩의 부착 온도는 통상 100℃ 내지 180℃이며, 부착 시간은 0.5초 내지 3초, 부착 압력은 0.5 kgf/cm2 내지 2 kgf/cm2이다. When the chip is picked up in the above state, the semiconductor wafer and the adhesive portion are peeled off from the adhesive portion, thereby obtaining a chip having only the adhesive layer. The obtained chip | tip with the said adhesive bond layer is affixed on the board | substrate for semiconductors. The adhesion temperature of the chip is usually 100 ° C to 180 ° C, the adhesion time is 0.5 seconds to 3 seconds, and the adhesion pressure is 0.5 kgf / cm 2 to 2 kgf / cm 2 .

상기 공정을 진행한 후에 와이어 본딩과 몰딩 공정을 거쳐 반도체 장치가 얻어진다. After the above process, a semiconductor device is obtained through a wire bonding and molding process.

반도체 장치의 제조방법은 상기 공정에 한정되는 것이 아니고, 임의의 공정을 포함시킬 수도 있고, 공정의 순서를 바꿀 수도 있다. 예컨대, 자외선 경화 → 다이싱 → 익스팬딩 공정으로 진행할 수도 있고, 다이싱 → 익스팬딩 → 자외선 경화 공정으로도 진행할 수 있다. 칩 부착 공정 이후에 추가로 가열 또는 냉각 공정 을 포함할 수도 있다.The manufacturing method of a semiconductor device is not limited to the said process, Arbitrary process may be included and the order of a process may be changed. For example, the process may proceed to an ultraviolet curing → dicing → expanding process, or may proceed to a dicing → expanding → ultraviolet curing process. It may further comprise a heating or cooling process after the chip attach process.

이하에서 본 발명에 따르는 실시예 및 본 발명에 따르지 않는 비교예를 통하여 본 발명을 보다 상세히 설명하나, 본 발명의 범위가 하기 제시된 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail through examples according to the present invention and comparative examples not according to the present invention, but the scope of the present invention is not limited to the examples given below.

실시예Example 1. One.

점착 필름(Adhesive film ( 다이싱Dicing 필름)의 제조 Film production)

2-에틸헥실 아크릴레이트, 메틸 아크릴레이트, 메틸 메타크릴레이트 및 히드록시 에틸 아크릴레이트를 공중합하여 아크릴계 공중합체(중량평균분자량: 80만, 유리전이온도: -40℃)를 제조하였다. 이어서 제조된 공중합체 100 중량부에 대하여 Coronate L (Nippon polyurethane(제)) 5 중량부, 중량평균분자량이 2만인 PSY-750 (신나까무라(제)) 10 중량부 및 상기 다관능성 올리고머 대비 7 중량부의 광개시제(Darocur TPO, Ciba사(제))를 혼합하여 점착제 조성물을 제조하였다. 그 후, 베이스 수지 대비 0.1 중량부의 광변색성 화합물(Reversacol Solar Yellow(SY), JAMES ROBINSON(제))을 혼합한 후, 조성물을 이형 처리된 폴리에스테르 필름(두께: 38 ㎛) 상에 건조 후의 두께가 10 ㎛가 되도록 도포하고, 110℃에서 3분 동안 건조하여 점착제층을 제조하였다. 이어서 제조된 점착제층을 두께가 100 ㎛인 폴리올레핀 필름에 라미네이션시켜 점착 필름(다이싱 테이프)을 제조하였다. 2-ethylhexyl acrylate, methyl acrylate, methyl methacrylate and hydroxy ethyl acrylate were copolymerized to prepare an acrylic copolymer (weight average molecular weight: 800,000, glass transition temperature: -40 ° C). Subsequently, 5 parts by weight of Coronate L (manufactured by Nippon polyurethane), 10 parts by weight of PSY-750 (manufactured by Shinna Kamura) with a weight average molecular weight of 20,000, and 7 parts by weight of the multifunctional oligomer, based on 100 parts by weight of the copolymer prepared A negative photoinitiator (Darocur TPO, Ciba Co., Ltd.) was mixed to prepare an adhesive composition. Thereafter, 0.1 part by weight of the photochromic compound (Reversacol Solar Yellow (SY), JAMES ROBINSON (manufactured)) was mixed with respect to the base resin, and then the composition was dried on a release-treated polyester film (thickness: 38 μm). The coating was applied to a thickness of 10 μm, and dried at 110 ° C. for 3 minutes to prepare an adhesive layer. Subsequently, the prepared pressure-sensitive adhesive layer was laminated on a polyolefin film having a thickness of 100 μm to prepare an adhesive film (dicing tape).

다이싱Dicing 다이본딩Die bonding 필름의 제조 Manufacture of film

접착부의 제조를 위해, 고분자량 지방족 에폭시(분자량: 85만, SG-P3, 나가세 켐텍스(제)) 75 중량부 및 크레졸 노볼락 에폭시(연화점 70℃, EOCN-1020, 일본 화약(제)) 25 중량부를 혼합한 후, 제조된 혼합물에 경화제로서 페놀 노볼락 수지(수산기 당량 = 106, KPH-F2001, 코오롱(제))를 상기 크레졸 노볼락 에폭시 수지 중량 대비 15 중량부의 양으로 혼합하였다. 이어서, 상기 혼합물 100 중량부를 기준으로 이미다졸 경화 촉진제(2P4MHZ)를 0.5 중량부 투입하여 약 1 시간 교반하였다. 이어서, 유색 충진제로서 입경이 16 nm인 실리카를 전체 혼합물 100 중량부 기준으로 10 중량부를 혼합하여 3 시간 정도 교반한 다음, 건조 후 두께 20 ㎛가 되도록 기재 상에 코팅하여 접착 필름을 제조하였다. 이어서 제조된 접착 필름을 상기 점착 필름과 라미롤 가온에 의해 합판하여 다이싱 다이본딩 필름을 제조하였다.75 parts by weight of high molecular weight aliphatic epoxy (molecular weight: 850,000, SG-P3, Nagase Chemtex) and cresol novolac epoxy (softening point 70 ° C, EOCN-1020, Japanese gunpowder) After mixing 25 parts by weight, phenol novolak resin (hydroxyl equivalent = 106, KPH-F2001, Kolon (manufacturer)) was mixed in the amount of 15 parts by weight based on the weight of the cresol novolak epoxy resin as a curing agent. Subsequently, 0.5 parts by weight of imidazole cure accelerator (2P4MHZ) was added based on 100 parts by weight of the mixture, followed by stirring for about 1 hour. Subsequently, as a colored filler, 10 parts by weight of silica having a particle size of 16 nm was mixed based on 100 parts by weight of the total mixture, stirred for about 3 hours, and then coated on a substrate to have a thickness of 20 μm after drying to prepare an adhesive film. Subsequently, the prepared adhesive film was laminated by the pressure-sensitive adhesive film and laminol heating to prepare a dicing die-bonding film.

실시예Example 2. 2.

동일한 광변색성 화합물을 10 중량부의 양으로 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 다이싱 다이본딩 필름을 제조하였다.A dicing die-bonding film was prepared in the same manner as in Example 1 except that the same photochromic compound was used in an amount of 10 parts by weight.

비교예Comparative example 1. One.

광변색성 화합물을 사용하지 않은 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법 으로 다이싱 다이본딩 필름을 제조하였다.Dicing die-bonding film was prepared in the same manner as in Example 1 except that no photochromic compound was used.

상기 제조된 실시예 및 비교예의 다이싱 다이본딩 필름에 대하여 하기 방법으로 물성을 평가하고, 그 결과를 하기 표 1에 기재하였다.The physical properties of the dicing die-bonding films of Examples and Comparative Examples prepared above were evaluated by the following methods, and the results are shown in Table 1 below.

1. One. 박리력Peel force 평가 evaluation

제조된 점착 필름을 1인치 폭으로 준비한 후, 다이본딩 필름을 피착체로 하여 2kg 롤러로 2회 왕복하여 부착시켰다. 부착 후 30분 경과 뒤에 자외선을 조사한 후, 인장시험기(Texture Analyzer)를 사용하여 180° 박리력(박리속도: 300 mm/min)을 측정하였다. 상기 측정은 하나의 샘플 당 3회 이상 수행하여, 그 평균값을 하기 표 1에 기재하였으며, 이 때 자외선 조사 조건은 하기와 같았다.After preparing the prepared adhesive film in 1 inch width, it adhered by reciprocating twice with a 2 kg roller using the die-bonding film as a to-be-adhered body. After 30 minutes after the application of ultraviolet light was irradiated, 180 ° peel force (peel rate: 300 mm / min) was measured by using a tensile analyzer (Texture Analyzer). The measurement was performed three times or more per one sample, the average value is shown in Table 1, wherein the ultraviolet irradiation conditions were as follows.

자외선 조사 조건UV irradiation condition

자외선 조사장치: Dymax model 5000 floodUltraviolet Irradiation Device: Dymax model 5000 flood

램프: 400 watt, metal halide typeLamp: 400 watt, metal halide type

조사 거리: 20 cmProbe distance: 20 cm

조사 시간: 0.1초 내지 3초Irradiation time: 0.1 second to 3 seconds

조사량: 100 mJ/cm2 이하Dose: 100 mJ / cm 2 Below

2. 칩 2. Chip 비산율Scattering rate 측정 Measure

제조된 다이싱 필름을 60℃의 라미네이터에서 미러 웨이퍼에 기포가 없도록 라미네이션하였다. 이어서, 다이싱 장비(NEON사(제))를 사용하여 하기와 같은 조건으로 다이싱 공정을 수행한 후, 전체 칩에 대하여 비산된 칩의 수를 백분율로 계산하여 칩비산율을 나타내었다. The prepared dicing film was laminated so that there was no bubble in the mirror wafer in a laminator at 60 ° C. Subsequently, the dicing process was performed using dicing equipment (NEON Co., Ltd.) under the following conditions, and the chip scattering rate was shown by calculating the number of chips scattered with respect to the whole chips as a percentage.

다이싱Dicing 조건 Condition

블레이드: 27HDDDBlade: 27HDDD

블레이드 회전 속도: 40,000 rpmBlade Rotation Speed: 40,000 rpm

속도: 20 mm/sSpeed: 20 mm / s

칩 사이즈: 10 mm × 10 mmChip size: 10 mm × 10 mm

Cut depth: 70 ㎛Cut depth: 70 μm

상기 방법으로 측정한 결과를 하기 표 1에 정리하여 기재하였다.The results measured by the above method are summarized in Table 1 below.

[표 1][Table 1]

실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 비교예 1Comparative Example 1 UV 조사 후 변색 상태Discoloration after UV irradiation 노란색yellow 노란색yellow -- 방사선 조사 후 박리력(gf/in)Peel force after irradiation (gf / in) UV 조사 전Before UV irradiation 224224 156156 275275 UV 조사 후After UV irradiation 8.98.9 9.99.9 8.68.6 칩 비산율(%)Chip scattering rate (%) 22 33 1One

상기 표 1의 결과로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 실시예 1 및 2의 경우, 자외선 조사 후에 점착제층의 색깔이 변색되어 작업 용이성을 확보할 수 있음을 확인할 수 있었다. 또한, 본 발명의 실시예의 경우, 광변색성 화합물을 포함하지 않는, 비교예 1 대비 UV 조사 전후의 박리력이 공정 상에 문제가 없을 정도(UV 조사 전: 100 gf/in 이상, UV 조사 후: 10 gf/in)로 유지되고, 칩의 비산 현상 등 불량을 유발할 수 있는 현상도 탁월하게 억제될 수 있음을 확인할 수 있었다.As can be seen from the results of Table 1, in Examples 1 and 2 according to the present invention, it was confirmed that the color of the pressure-sensitive adhesive layer after the ultraviolet irradiation is discolored to ensure the ease of operation. In addition, in the embodiment of the present invention, the peeling force before and after UV irradiation compared to Comparative Example 1, which does not include a photochromic compound, does not have a problem in the process (before UV irradiation: 100 gf / in or more, after UV irradiation : 10 gf / in), it could be confirmed that the phenomenon that can cause defects such as chip scattering can be excellently suppressed.

Claims (23)

기재 필름; 및 상기 기재 필름 상에 형성되고, 베이스 수지; 및 광변색성 화합물을 포함하는 점착제 조성물을 함유하는 점착제층을 포함하는 점착 필름; 및 상기 점착 필름상에 형성된 접착부를 포함하는 다이싱 다이본딩 필름.A base film; And a base resin formed on the base film; And a pressure-sensitive adhesive layer containing a pressure-sensitive adhesive composition containing a photochromic compound; And an adhesive part formed on the pressure-sensitive adhesive film. 제 1 항에 있어서, 베이스 수지가 중량평균분자량이 20만 내지 150만인 아크릴계 공중합체인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 1, wherein the base resin is an acrylic copolymer having a weight average molecular weight of 200,000 to 1.50,000. 제 2 항에 있어서, 아크릴계 공중합체는 (메타)아크릴산 에스테르계 단량체 및 가교성 관능기 함유 단량체를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 2, wherein the acrylic copolymer comprises a (meth) acrylic acid ester monomer and a crosslinkable functional group-containing monomer. 제 3 항에 있어서, (메타)아크릴산 에스테르계 단량체는 메틸 (메타)아크릴레이트, 에틸 (메타)아크릴레이트, 프로필 (메타)아크릴레이트, n-부틸 (메타)아크릴레이트, 펜틸 (메타)아크릴레이트, 헥실 (메타)아크릴레이트, n-옥틸 (메타)아크릴레이트, 이소옥틸 (메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실 (메타)아크릴레이트, 도데실 (메타)아크릴레이트 및 데실 (메타)아크릴레이트로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The (meth) acrylic acid ester monomer is methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate. With hexyl (meth) acrylate, n-octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate and decyl (meth) acrylate Dicing die-bonding film, characterized in that at least one selected from the group consisting of. 제 3 항에 있어서, 가교성 관능기 함유 단량체가 히드록시기 함유 단량체 또는 카복실기 함유 단량체인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 3, wherein the crosslinkable functional group-containing monomer is a hydroxy group-containing monomer or a carboxyl group-containing monomer. 제 3 항에 있어서, 아크릴계 공중합체는 주사슬의 측쇄에 결합된 자외선 경화형 화합물을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 3, wherein the acrylic copolymer further comprises an ultraviolet curable compound bonded to the side chain of the main chain. 제 6 항에 있어서, 자외선 경화형 화합물은 (메타)아크릴로일옥시 이소시아네이트, (메타)아크릴로일옥시 메틸 이소시아네이트, 2-(메타)아크릴로일옥시 에틸 이소시아네이트, 3-(메타)아크릴로일옥시 프로필 이소시아네이트, 4-(메타)아크릴로일옥시 부틸 이소시아네이트, m-프로페닐-α,α-디메틸벤질이소시아네이트, 메타크릴로일 이소시아네이트, 알릴 이소시아네이트, 아크릴로일 모노이소시아네이트 화합물, 글리시딜 (메타)아크릴레이트 및 알릴 글리시딜 에테르로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The ultraviolet curable compound according to claim 6, wherein the ultraviolet curable compound is (meth) acryloyloxy isocyanate, (meth) acryloyloxy methyl isocyanate, 2- (meth) acryloyloxy ethyl isocyanate, 3- (meth) acryloyloxy Propyl isocyanate, 4- (meth) acryloyloxy butyl isocyanate, m-propenyl-α, α-dimethylbenzyl isocyanate, methacryloyl isocyanate, allyl isocyanate, acryloyl monoisocyanate compound, glycidyl (meth) Dicing die-bonding film, characterized in that at least one selected from the group consisting of acrylate and allyl glycidyl ether. 제 1 항에 있어서, 광변색성 화합물이 스피로피란, 스피록사진, 스피로나프톡사진, 나프토피란, 크로먼, 풀자이드, 풀기미드, 디아릴에텐, 스피로 디히드로인돌리진, 아조계 화합물, 폴리시클릭 방향족 화합물, 아닐계 화합물, 폴리시클릭 퀴논, 비오로젠, 트리아릴메탄 또는 퍼이미딘스피로시클로헤자디에논으로 이루어진 군으로부터 선택된 하나 이상인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The photochromic compound according to claim 1, wherein the photochromic compound is selected from the group consisting of spiropyran, spiroxazine, spironaphthoxazine, naphthopyran, croman, fulzide, fulgimid, diarylethene, spirodihydroindolizine and azo compounds A dicing die-bonding film, characterized in that at least one selected from the group consisting of a polycyclic aromatic compound, an anionic compound, polycyclic quinone, biorogen, triarylmethane or perimidinespirocyclohezadienone. 제 1 항에 있어서, 점착제 조성물은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 0.1 중량부 내지 10 중량부의 광변색성 화합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film of claim 1, wherein the pressure-sensitive adhesive composition comprises 0.1 parts by weight to 10 parts by weight of a photochromic compound based on 100 parts by weight of the base resin. 제 1 항에 있어서, 점착제 조성물은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 900 중량부 이하의 양으로 자외선 경화형 화합물을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 1, wherein the pressure-sensitive adhesive composition further comprises an ultraviolet curable compound in an amount of 900 parts by weight or less based on 100 parts by weight of the base resin. 제 10 항에 있어서, 자외선 경화형 화합물은 중량평균분자량이 500 내지 300,000인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 10, wherein the ultraviolet curable compound has a weight average molecular weight of 500 to 300,000. 제 1 항에 있어서, 점착제 조성물은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 0.05 중량부 내지 20 중량부의 광개시제를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film of claim 1, wherein the pressure-sensitive adhesive composition further comprises 0.05 part by weight to 20 parts by weight of a photoinitiator based on 100 parts by weight of the base resin. 제 12 항에 있어서, 광개시제는 융해점이 70℃ 이상인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 12, wherein the photoinitiator has a melting point of 70 ° C or higher. 제 1 항에 있어서, 점착제 조성물은 베이스 수지 100 중량부에 대하여 2 중량부 내지 40 중량부의 양으로 가교제를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film of claim 1, wherein the pressure-sensitive adhesive composition further comprises a crosslinking agent in an amount of 2 to 40 parts by weight based on 100 parts by weight of the base resin. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 기재 필름은 길이 방향 및 폭 방향의 연신률의 차이가 길이 방향 연신률의 10% 이하인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film according to claim 1, wherein the base film has a difference in elongation in the longitudinal direction and in the width direction of 10% or less of the elongation in the longitudinal direction. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 접착부는 350 내지 390 nm의 파장 영역에서의 반사율이 0.02% 내지 50%인 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The dicing die-bonding film of claim 1, wherein the adhesive portion has a reflectance of 0.02% to 50% in the wavelength region of 350 to 390 nm. 제 1 항에 있어서, 접착부는 경화전 자체 유리전이온도가 -30℃ 내지 50℃이며, 중량평균분자량이 10만 내지 100만인 에폭시 수지 및 경화 후 유리전이온도가 50℃를 초과하는 에폭시 수지를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.The method of claim 1, wherein the adhesive portion comprises an epoxy resin having a glass transition temperature of −30 ° C. to 50 ° C. before curing, a weight average molecular weight of 100,000 to 1 million, and an epoxy resin having a glass transition temperature of 50 ° C. or higher after curing. Dicing die-bonding film, characterized in that. 제 19 항에 있어서, 접착부는 경화제를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.20. The dicing die-bonding film of claim 19, wherein the adhesive portion further comprises a curing agent. 제 19 항에 있어서, 접착부는 경화 촉진제를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.20. The dicing die-bonding film of claim 19, wherein the adhesive portion further comprises a curing accelerator. 제 19 항에 있어서, 접착부는 CIE 좌표계에서 L*의 값이 30 이상인 유색재료를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 다이싱 다이본딩 필름.20. The dicing die-bonding film of claim 19, wherein the adhesive part further comprises a colored material having a value of L * of 30 or more in a CIE coordinate system. 제 1 항에 따른 다이싱 다이본딩 필름의 접착부가 웨이퍼 일면에 부착되어 있고, 상기 다이싱 다이본딩 필름의 점착 필름이 웨이퍼 링 프레임에 고정되어 있는 반도체 웨이퍼.A semiconductor wafer, wherein an adhesive portion of the dicing die bonding film according to claim 1 is attached to one side of the wafer, and the adhesive film of the dicing die bonding film is fixed to the wafer ring frame.
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