KR101208006B1 - 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치 - Google Patents

서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101208006B1
KR101208006B1 KR1020100117180A KR20100117180A KR101208006B1 KR 101208006 B1 KR101208006 B1 KR 101208006B1 KR 1020100117180 A KR1020100117180 A KR 1020100117180A KR 20100117180 A KR20100117180 A KR 20100117180A KR 101208006 B1 KR101208006 B1 KR 101208006B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
susceptor
substrate
loaded
chamber
vapor deposition
Prior art date
Application number
KR1020100117180A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120055786A (ko
Inventor
정진열
이창엽
Original Assignee
엘아이지에이디피 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지에이디피 주식회사 filed Critical 엘아이지에이디피 주식회사
Priority to KR1020100117180A priority Critical patent/KR101208006B1/ko
Publication of KR20120055786A publication Critical patent/KR20120055786A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101208006B1 publication Critical patent/KR101208006B1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68735Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by edge profile or support profile

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Abstract

본 발명의 실시예에 따른 화학기상증착장치는 공정이 수행되는 반응실과 상기 반응실로부터 외부로 가스를 배기하기 위한 가스 배출구를 구비하는 챔버; 상기 기판으로 공정가스를 공급하는 공정 가스 공급부; 상기 반응실 내부에 구비되어 기판이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부를 구비하는 서셉터를 포함하는바 상기와 같은 구성의 본 발명에 따르면 다양크기의 기판을 처리할 수 있어 생산효율이 증가되는 효과가 있다.

Description

서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치{SUSCEPTOR AND CHEMICAL VAPOR DEPOSITION DEVICE HAVING A THEREOF}
본 발명은 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 크기의 기판을 로딩하여 공정을 진행하여 생산효율이 증가되는 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치에 관한 것이다.
유기금속화학기상증착법(MOCVD: Metal Organic Chemical Vapor deposition)은 예컨대 III족 유기 금속을 기화시켜, 그것을 기판 표면에서 열분해시키고 V족 가스와 반응시켜 박막을 형성하는 방법이다. 이 방법은 막 두께나 조성의 제어가 가능하고, 또한 생산성이 우수하기 때문에 반도체 등을 제조할 때 이용되고 있다.
이러한 유기금속화학기상증착장치에는 기판이 로딩되어 공정을 진행하기 위한 서셉터가 구비된다. 서셉터에는 다수개의 기판을 로딩시킨 후 동시에 증착공정을 실시하여 생산성을 높이고 있다.
그러나 상기와 같은 종래의 유기금속화학기상증착장치는 예를 들어, 2인치 기판이 로딩되는 서셉터를 구비한 형태로 제작된 장치일 경우 다른 크기의 기판을 로딩하여 증착공정을 실시하지 못하는 문제가 있다.
본 발명은 전술한 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 다양한 기판을 로딩하여 공정을 진행할 수 있는 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치를 제공하는데 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 화학기상증착장치는, 공정이 수행되는 반응실과 상기 반응실로부터 외부로 가스를 배기하기 위한 가스 배출구를 구비하는 챔버; 상기 기판으로 공정가스를 공급하는 공정 가스 공급부; 상기 반응실 내부에 구비되어 기판이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부를 구비하는 서셉터를 포함한다.
상기 로딩부에 형성된 상기 복수개의 단차에는 상이한 크기의 기판이 로딩된다.
상기 로딩부의 상기 단차들 중 높은 위치의 단차에 상기 기판이 로딩되면 낮은 위치의 단차를 채우기 위한 캡이 구비된다.
한편 본 발명에 따른 서셉터는 베이스 플레이트; 상기 베이스 플레이트에 구비되어 기판이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부를 포함한다.
상기 로딩부에 형성된 상기 복수개의 단차에는 상이한 크기의 기판이 로딩되고, 상기 로딩부의 상기 단차들 중 높은 위치의 단차에 상기 기판이 로딩되면 낮은 위치의 단차를 채우기 위한 캡이 구비된다.
상기와 같은 구성의 본 발명에 따르면 다양크기의 기판을 처리할 수 있어 생산효율이 증가되는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 화학기상증착장치의 개략적인 단면도로서, 가스의 흐름을 나타낸다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 화학기상증착장치에 구비된 서셉터의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시에에 따른 화학기상증착장치에 구비된 서셉터의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 화학기상증착장치에 구비된 서셉터에 기판이 로딩된 상태의 단면도이다.
도 5는 본발명의 실시예에 따른 화학기상증착장치에 구비된 섭셉터의 사용상태도이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 하며, 도면상에서 동일 부호로 표시된 요소는 동일 요소를 의미한다.
본 실시예는 일반적인 유기금속화학기상증착(MOCVD)장치 등을 비롯하여 기타 다양한 화학기상증착장치에 적용가능하다.
그리고 본 발명에 따른 서셉터는 화학기상증착장치에 포함되는 구성이므로 별도의 설명은 생략한다.
도 1 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치의 챔버는 상부에 위치하는 제 1 챔버(100) 및 하부에 위치하여 제 1 챔버(100)와 결합되는 제 2 챔버(200)를 구비한다. 제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)의 결합에 의해 내부에는 공정이 수행되는 반응실(800)이 형성된다.
제 1 챔버(100)에는 공정가스(G1)와 비활성가스(G2)를 공급하기 위한 공정가스 공급부(300)가 구비되어, 중앙 부분에서는 기판(S)에 박막 형성을 위한 공정가스(G1)가 공급되고, 외곽부분인 비활성가스커튼부(400)에서는 배기를 활성화하기 위한 비활성가스가 공급된다. 공정가스 공급부(300)는 중앙부분으로 공정가스(G1)가 공급되도록 공정가스 유입구(101)를 구비하고, 외곽부분에는 비활성가스(G2)를 공급하는 비활성가스유입구(102)가 각각 구획된 상태로 구비된다.
공정가스 공급부(300)는 본 실시예에서 설명하는 바와 같이 샤워헤드(SHOWERHEAD)와 같은 형태일 수 있으며, 도시 되지는 않은 형태로 노즐(NOZZLE)형태일 수도 있다.
제 2 챔버(200)에는 공정가스 공급부(300)에서 공급되는 공정가스(G1)에 의해 기판(S) 상에 박막형성이 진행되도록 기판(S)이 로딩되는 서셉터(500)가 구비된다.
서셉터(500)에는 다양한 크기의 기판(S1~S4))이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부(502)가 구비된다. 로딩부(502)는 서셉터 또는 베이스 플레이트(500)에 형성되는 로딩홈(504)과 로딩홈(504)을 기준으로 로딩홈(504)의 주위에 복수개의 단차(506)(508)(510)가 형성된다.
예를 들어, 로딩홈(504)에는 2인치의 웨이퍼(S1)가 로딩되고, 로딩홈(504)에 가장 근접하게 형성된 단차(506)에는 4인치 웨이퍼(S2), 그 다음 단차(508)에는 6인치 웨이퍼(S3) 그리고 마지막 단차(510)에는 8인치 웨이퍼(S4)가 로딩된다.
이러한 로딩홈(540)과 단차(506)(508)(510)에 다양한 크기의 기판(S1)(S2)(S3)(S4)이 로딩되어 증착공정을 실시할 수 있어 생산효율이 향상되는 것이다. 상술한 형태의 단차(506)(508)(510) 이외에 추가적인 단차를 더 형성할 경우 더 큰 크기 또는 작은 크기의 기판을 선택적으로 처리할 수 있게 된다.
만약 큰 크기의 웨이퍼(S4)를 로딩시켜 증착할 경우 제일 위쪽의 단차(510) 이외의 아래부분(504)(506)(508)에는 그라파이트(GRAPHITE) 재질의 서셉터(500)와 동일한 재질로 형성된 캡(514)을 위치시킨다. 나머지 부분(504)(506)(508)을 캡(514)으로 채우는 것은 히터(미도시) 등에 의해 가열할 경우 해당 웨이퍼(S4)에 열 전달이 전체적으로 균일하게 되도록 하기 위한 것이다. 또한, 서셉터(500)가 회전할 경우 웨이퍼(S4)의 중심부분이 쳐지는 것을 방지하기 위한 것이다.
그리고 제 2 챔버(200)에는 공정가스(G1) 및 비활성가스(G2)가 배출되는 가스 배출구(201)가 형성된다.
또한 제 2 챔버(200)에는 제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)의 결합에 의해 형성되는 반응실(800)의 내벽과 기판(S)이 로딩되는 서섭터(500) 사이에 설치되는 가이드 부재(610)가 구비된다.
가이드부재(610)는 외주벽(611), 곡면부(612), 내주벽(613) 및 배출구(615)를 포함한다.
가이드부재(610)는 석영으로 제작될 수 있다.
곡면부(612)는 서셉터(500)측으로 소정의 곡률을 가지도록 굴곡된 부분이다.
가이드 부재(610)에는 가스 배출구(201)와 연통되는 배출구(615)가 형성되어 가스(G1)(G2)가 배출된다. 가이드 부재(610)는 박막형성 과정에서 발생하는 파티클이 챔버(100)(200)에 부착되는 것을 방지하고, 공정가스(G1) 및 비활성가스(G2)의 흐름을 안내한다. 이러한 가이드 부재(610)는 일정 회수의 박막형성 공정 후에 교체된다.
제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)는 도시된 바와 같이 제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)를 상하로 분리되는 형태로 구성하거나 제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)를 힌지(미도시) 결합 형태가 되도록 할 수 있다. 이러한 제 1 챔버(100)와 제 2 챔버(200)의 분리는 유지 보수를 위한 것이다.
서셉터(500) 상부에는 기판(S)이 로딩되어 그 상부에 박막이 형성된다. 서셉터(500) 내측에는 히터(미도시)가 마련될 수 있다.
균일한 박막형성을 위하여 서셉터(500)의 하부에는 기판(S)을 회전시킬 수 있는 회전부재(501)가 마련될 수 있다. 본 실시예에서는 기판(S)과 서셉터(500)가 일체로 회전하는 구성을 예시하였다.
100 : 제 1 챔버 200 : 제 2 챔버
300 : 공정가스 공급부 500 : 서셉터
514 : 캡 506, 508, 510 : 단차
610 : 가이드 부재

Claims (6)

  1. 공정이 수행되는 반응실과 상기 반응실로부터 외부로 가스를 배기하기 위한 가스 배출구를 구비하는 챔버;
    상기 반응실로 공정가스를 공급하는 공정 가스 공급부;
    상기 반응실 내부에 구비되어 기판이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부를 구비하는 서셉터; 및
    상기 복수개의 단차 중의 어느 하나에 상기 기판이 로딩될 경우 상기 기판이 로딩된 단차에 비해 아래에 위치하는 단차를 채워서 상기 공정이 균일하게 되도록 하는 캡을 포함하는 것을 특징으로 하는 화학기상증착장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 로딩부에 형성된 상기 복수개의 단차에는 상이한 크기의 기판이 로딩되는 것을 특징으로 하는 화학기상증착장치.
  3. 삭제
  4. 베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트에 구비되어 기판이 로딩되도록 복수개의 단차가 형성된 로딩부; 및
    상기 복수개의 단차 중의 어느 하나에 상기 기판이 로딩될 경우 상기 기판이 로딩된 단차에 비해 아래에 위치하는 단차를 채워서 공정이 균일하게 되도록 하는 캡을 포함하는 것을 특징으로 하는 서셉터.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 로딩부에 형성된 상기 복수개의 단차에는 상이한 크기의 기판이 로딩되는 것을 특징으로 하는 서셉터.
  6. 삭제
KR1020100117180A 2010-11-24 2010-11-24 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치 KR101208006B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100117180A KR101208006B1 (ko) 2010-11-24 2010-11-24 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100117180A KR101208006B1 (ko) 2010-11-24 2010-11-24 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120055786A KR20120055786A (ko) 2012-06-01
KR101208006B1 true KR101208006B1 (ko) 2012-12-04

Family

ID=46608086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100117180A KR101208006B1 (ko) 2010-11-24 2010-11-24 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101208006B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11848218B2 (en) * 2020-10-22 2023-12-19 Applied Materials, Inc. Semiconductor chamber component cleaning systems

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100790729B1 (ko) * 2006-12-11 2008-01-02 삼성전기주식회사 화학 기상 증착 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100790729B1 (ko) * 2006-12-11 2008-01-02 삼성전기주식회사 화학 기상 증착 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120055786A (ko) 2012-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11377730B2 (en) Substrate processing apparatus and furnace opening cover
JP2018107255A (ja) 成膜装置、成膜方法及び断熱部材
US20150270125A1 (en) Reaction tube, substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor device
JP5780062B2 (ja) 基板処理装置及び成膜装置
JP6231167B2 (ja) 基板処理装置
TW201044484A (en) Substrate processing apparatus
JP2011174170A (ja) 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
CN109671611B (zh) 半导体器件的制造方法、衬底处理装置及记录介质
US20180138031A1 (en) Process chamber having separate process gas and purge gas regions
TW201940248A (zh) 基板處理裝置,半導體裝置的製造方法及程式
CN117810127A (zh) 基板处理装置、半导体装置的制造方法、基板处理方法、容器及存储介质
JP6462161B2 (ja) 基板処理装置および半導体装置の製造方法
US20170137938A1 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method using the same
CN108220920B (zh) 基板处理装置及基板处理方法
US20180171467A1 (en) Method of Manufacturing Semiconductor Device, Substrate Processing Apparatus and Non-Transitory Computer-Readable Recording Medium
KR101398949B1 (ko) 기판처리장치
KR20070098104A (ko) 가스커튼을 구비한 박막증착장치
JP6226677B2 (ja) 半導体製造装置および半導体製造方法
JP2011058031A (ja) 半導体装置の製造方法及び基板処理装置
KR101139692B1 (ko) 화학기상증착장치
KR101208006B1 (ko) 서셉터 및 이를 가지는 화학기상증착장치
CN107924829B (zh) 半导体器件的制造方法、衬底处理装置及记录介质
CN110629199A (zh) 外延硅晶圆的制造方法
TW201725280A (zh) 原子層沉積設備和半導體製程
KR101232899B1 (ko) 서셉터, 이를 포함하는 화학기상증착장치 및 화학기상증착방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee