KR101200787B1 - 엑스레이 검사장치에서의 영상 및 검사 파라미터 자동 조정방법 - Google Patents

엑스레이 검사장치에서의 영상 및 검사 파라미터 자동 조정방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 대상물체의 밝기 값과 이물시편의 밝기 값의 차이 값을 구하여 그 차이 값이 가장 큰 값을 나타낼 때 최적의 전압, 전류로 판단하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 영상을 자동으로 조정하고, 또한 검사 알고리즘들은 1개의 이물 시편을 검출하기 위하여 최소값부터 값을 증가시키면서 검사하여 X - RAY 검사장치의 검사 파라미터를 자동으로 조정함으로서 작업자(사용자)의 편리함을 제공하도록 한 X - RAY 검사장치에서의 영상 및 검사 파라미터 자동 조정방법에 관한 것이다.
이를 위해 본 발명은 케이스(1)내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)가 구비되어, 검사대상물체(10)를 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체(10)를 검사하는 X - RAY 검사장치에서의 영상조정방법에 있어서,
상기 X - RAY 검사장치의 전압, 전류값을 설정한 상태에서 1차 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제1 단계와, 상기 전류, 전압 소정값을 증가 또는 감소시켜 2차 이물시편(30)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제2 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제3 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)이 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 특성값을 저장하고, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)이 상기 제2 단계에서 얻어진 전압값에서 소정값을 증가 또는 감소시켜 3차 이물시편(40)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제4 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제5 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)이 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 수치값을 저장하고 종료하는 제6 단계로 이루어진다.

Description

엑스레이 검사장치에서의 영상 및 검사 파라미터 자동 조정방법{Method of automatic adjust inspection parameter and images in X-ray inspection apparatus}
본 발명은 X - RAY 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 대상물체의 밝기 값과 이물시편의 밝기 값의 차이 값을 구하여 그 차이 값이 가장 큰 값을 나타낼 때 최적의 전압, 전류로 판단하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 영상을 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공하도록 한 X - RAY 검사장치에서의 자동 영상조정방법과, 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 알고리즘들은 1개의 이물 시편을 검출하기 위하여 최소값부터 값을 증가시키면서 검사하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 검사 파라미터를 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공하도록 한 X - RAY 검사장치에서의 검사 파라미터 자동 조정방법에 관한 것이다.
종래의 X - RAY 검사장치는 엑스레이의 물질 투과성, 즉 피투과물질의 두께와 밀도에 반비례하는 특성을 가지는 투과 엑스레이 강도에 의한 영상형성을 이용한 것으로서, 결합상태의 양/불량을 쉽게 파악할 수 있다.
도 1은 본 발명의 자동영상 조정방법과 관련된 X - RAY 검사장치의 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 X - RAY 검사장치의 정단면도이며, 도 3은 X - RAY 검사장치의 측단면도이다.
통상적으로 X - RAY 검사장치는 도1 내지 도3에 도시된 바와 같이 케이스(1) 내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)로 구성되어, 검사대상물체(피측정물)(10)을 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체를 검사하도록 구성되어져 있으며, 그의 동작은 스테이지(100)에 검사대상물체를 올려두고서, 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 엑스레이의 조사범위 내에서 디텍터(300)를 고정시켜 검사대상물체(10)를 측정하였기 때문에, 검사부위에 대하여 입체적이고 다양한 형태의 입사각을 얻기가 어려워 검사 정밀도가 저하되는 문제점이 있었으며, 특히 자동으로 영상 및 검사 파라미터를 조정하는 수단이 구비되지 못하여 검사 작업 시 작업자에게 많은 불편함을 주게 되는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하고자 제안된 것으로서, 본 발명의 목적은 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 부착하여 X - RAY 검사장치에 투입하고 최대 전압, 전류 값을 설정하고, 단계적으로 전압값 만을 감소시키면서 검사 대상물체의 밝기 값과 이물시편의 밝기 값의 차이(Gray) 값을 구하여 그 차이 값이 가장 큰 값을 나타낼 때 최적의 전압, 전류로 판단하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용, 부착하여 X - RAY 검사장치의 영상을 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공하도록 한 X - RAY 검사장치에서의 자동 영상조정방법을 제공함에 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 알고리즘들은 1개의 이물 시편을 검출하기 위하여 최 소값부터 값을 증가시키면서 검사하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 검사 파 라미터를 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공하도록 한 X - RAY 검 사장치에서의 검사 파라미터 자동 조정방법을 제공함에 있다.
또한, 상기 이물시편으로는 스테인레스(SUS), 알루미늄(AL), 세라믹(Ceramic), 유리 등을 이용한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 스테이지와, 엑스레이튜브와, 디텍터가 구비된 X - RAY 검사장치에서의 영상조정방법에 있어서, 상기 X - RAY 검사장치의 전압, 전류값을 설정한 상태에서 1차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제1 단계와, 상기 전류, 전압 소정값을 증가 또는 감소시켜 2차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제2 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값의 크기를 비교 판단하는 제3 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스에 해당 프로그램의 특성값을 저장하고, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)은 상기 제2 단계에서 얻어진 전압값에서 소정값을 증가 또는 감소시켜 3차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제4 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값의 크기를 비교 판단하는 제5 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스에 해당 프로그램의 수치값을 저장하고 종료하는 제6 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압, 전류 소정값을 증가 또는 감소시켜 4차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제7 단계와, 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값과 상기 제7 단계에서 얻어진 영상의 특성값의 크기를 비교 판단하여 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값 크기가 상기 제7단계에서 얻어진 영상의 특성값 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스에 해당 영상의 특성값을 저장하고 종료하는 제8 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제1 단계에서 설정된 전압, 전류값은 80%인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제2 단계에서 감소된 전압값은 70%인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제4 단계에서 감소된 전압값은 60%인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 이물시편은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 제7 단계에서 감소된 전압값은 65%인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 엑스레이튜브와, 디텍터가 구비된 X - RAY 검사장치에서의 검사 파라미터 조정방법에 있어서, 상기 X - RAY 검사장치를 구동시킨 상태에서 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제1 단계와, 각각의 검사 알고리즘들은 1개의 이물시편을 검출하기 위하여 파라미터의 최소 또는 최대값부터 순차적으로 값을 증가/감소 또는 비순차적으로 증가/또는 감소시키면서 검사를 실행하여 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편의 검출여부를 판단하는 제2 단계와, 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편이 검출되면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스에 해당 parameter값을 저장하고 종료하는 제3 단계와, 상기 제2 단계에서 이물시편이 검출되지 않으면 상기 검사 알고리즘을 오프시키는 제4 단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편의 검출여부를 판단하는 제2 단계는 순차적 또는 비순차적으로 실행되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 각각의 검사 알고리즘은 각각의 검사 알고리즘마다 순차적 또는 비순차적으로 증가/감소시키는 값이 다른 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 상기 이물시편은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것을 특징으로 한다.
이와 같이 이루어진 본 발명에 따른 X - RAY 검사장치에서의 자동 영상조정방법에 의하면, 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 부착하여 X - RAY 검사장치에 투입하고 전압, 전류 값을 단계적으로 감소시키면서 검사 대상물체의 밝기 값과 이물시편의 밝기 값의 차이(Gray) 값을 구하여 그 차이 값이 가장 큰 값을 나타낼 때 최적의 전압, 전류로 판단하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용, 부착하여 X - RAY 검사장치의 영상을 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 X - RAY 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법에 의하면, 검사 대상물체에 선택된 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 알고리즘들은 1개의 이물 시편을 검출하기 위하여 최소값부터 값을 증가시키면서 검사하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 검사 파라미터를 자동으로 조정하여 작업자(사용자)의 편리함을 제공할 수 있는 효과가 있다.
도1은 본 발명의 자동영상 조정방법 및 검사 파라미터 자동조정방법과 관련된 X - RAY 검사장치의 개략적으로 나타낸 사시도.
도2는 X - RAY 검사장치의 정단면도.
도3은 X - RAY 검사장치의 측단면도.
도4a 내지 도4c는 검사대상물체에 이물시편을 부착한 실시예의 도면.
도5는 본 발명에 따른 자동영상 조정방법을 설명하는 동작 흐름도.
도6은 본 발명에서 실행중인 모델의 데이터베이스 구성 예시도.
도7은 본 발명에 따른 검사 파라미터 자동조정방법을 설명하는 동작 흐름도이다.
본 발명을 첨부된 실시 예의 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 자동영상 조정방법과 관련된 엑스레이검사장치는 도1 내지 도3에 도시된 바와 같이 케이스(1)내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)가 구비되어, 검사대상물체(10)를 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체(10)를 검사하도록 구성된다.
상기와 같이 구성된 X - RAY 검사장치와 관련된 본 발명의 자동 영상조정방법은 도4 및 도5에 도시된 바와 같이 상기 X - RAY 검사장치의 전압, 전류값을 설정한 상태에서 1차 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제1 단계와, 상기 전류, 전압 소정값을 증가 또는 감소시켜 2차 이물시편(30)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제2 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제3 단계와, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 특성값을 저장하고, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)은 상기 제2 단계에서 얻어진 전압값에서 소정값을 증가 또는 감소시켜 3차 이물시편(40)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제4 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제5 단계와, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 수치값을 저장하고 종료하는 제6 단계로 이루어진다.
또한, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압, 전류 소정값을 증가 또는 감소시켜 4차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제7 단계와, 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)과 상기 제7 단계에서 얻어진 영상의 특성값(D)의 크기를 비교 판단하여 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기가 상기 제7단계에서 얻어진 영상의 특성값(D) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 영상의 특성값을 저장하고 종료하는 제8 단계를 더 포함하여 이루어진다.
이 경우, 각각 상기 제1 단계에서 설정된 전압, 전류값은 80%이고, 상기 제2 단계에서 감소된 전압값(전류값은 80% 고정임)은 70%이며, 상기 제4 단계에서 감소된 전압값(전류값은 80% 고정임)은 60%이다.
또한, 상기 이물시편(20,30,40)은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것으로서, 스테인레스(SUS), 알루미늄(AL), 세라믹(Ceramic), 또는 유리인 것이 바람직하다.
또한, 상기 제7 단계에서 감소된 전압값(전류값은 80% 고정임)은 65%이다.
또한, 상기와 같이 구성된 X - RAY 검사장치와 관련된 본 발명의 검사 파라미터 자동조정방법은 도4 및 도7에 도시된 바와 같이 상기 X - RAY 검사장치를 구동시킨 상태에서 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제1 단계와, 각각의 검사 알고리즘들은 1개의 이물시편(20)을 검출하기 위하여 파라미터의 최소 또는 최대값부터 순차적으로 값을 증가/감소 또는 비순차적으로 증가/또는 감소시키면서 검사를 실행하여 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)의 검출여부를 판단하는 제2 단계와, 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)이 검출되면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 parameter값을 저장하고 종료하는 제3 단계와, 상기 제2 단계에서 이물시편이 검출되지 않으면 상기 검사 알고리즘을 오프시키는 제4 단계로 이루어진다.
이 경우, 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)의 검출여부를 판단하는 제2 단계는 순차적 또는 비순차적으로 실행된다.
또한, 상기 각각의 검사 알고리즘은 각각의 검사 알고리즘마다 순차적 또는 비순차적으로 증가/감소시키는 값이 다른 것이 바람직하다.
상기 이물시편(20)은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것으로서, 스테인레스(SUS), 알루미늄(AL), 세라믹(Ceramic), 또는 유리인 것이 바람직하다.
이와 같이 이루어진 본 발명에 따른 자동 영상조정방법 및 검사 파라미터 자동조정 방법의 동작을 첨부된 도1 내지 도7을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 본 발명에 따른 자동 영상조정방법에 관하여 설명한다.
본 발명에 따른 자동 영상조정방법을 실행하는데 관련된 X-RAY 검사장치는 상기한 바와 같이 케이스(1)내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)로 구성되어, 검사대상물체(10)를 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체(10)를 검사하도록 구성되어져 있다.
상기 스테이지(100)는 회전 가능하도록 구성되는 회전스테이지(110)이거나 또는 일측으로 치우쳐서 통공되고 통공된 부분에 원형의 회전스테이지(110)가 회전 가능하도록 구성되고, 상기 회전스테이지(110)의 하부에 연결봉(510)이 구성되고, 상기 연결봉(510)의 하단에 회전모터(520)가 구성되며 고정프레임(530)에 의하여 상기 스테이지(100)에 고정되어 상기 회전모터(520)의 회전에 의하여 상기 회전스테이지(110)가 회전되도록 구성된다.
상기 스테이지(100)는 다각형, 원형 등의 다양한 형상으로 구성될 수 있다.
작업자가 도1 내지 도3에 도시된 X-RAY 검사장치가 구동되기 전에 자동 X-RAY 검사버튼을 클릭한 후 검사 시작 버튼을 누르면, 도4 및 도5에 도시된 바와 같이 X-RAY 검사장치의 전압, 전류값의 80% 설정값으로부터 검사를 시작하게 된다(S1).
이후 도4a와 같이 1차로 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입한다(S2).
상기 최대 전압(80%)값(전류값은 80% 고정임)에서 소정값(10%)을 감소시켜 2차 이물시편(30)을 부착(S3)하고 검사대상물체(10)를 투입한다(S4).
다음에, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단한다(S5).
상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)의 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 도6에 도시된 바와 같이 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 영상의 특성값을 저장한다(S9).
만일, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압(70%)값에서 소정값(10%)을 감소시켜 3차 이물시편(40)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입한다(S7).
이어서, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단한다.(S8).
판단 결과, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)의 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 영상의 특성값을 저장(S9)하고 종료한다.
만일, 상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)의 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압(70%)값에서 소정값(5%)을 감소시켜 4차 이물시편을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입한다.
상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)과 상기 제7 단계에서 얻어진 영상의 특성값(D)의 크기를 비교 판단하여 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기가 상기 제7단계에서 얻어진 영상의 특성값(D) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 영상의 특성값을 저장(S9)하고 종료한다.
만일, 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기가 상기 제7단계에서 얻어진 영상의 특성값(D) 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압(70%)값(전류값은 80% 고정임)에서 소정값(5%)을 감소시키는 단계 이전으로 리턴한다.
즉, 본 발명은 X - RAY 검사장치의 스테이지(100)에 위치시키는 검사대상물체(10)에 이물시편(20,30,40) 1개를 부착하고, 설정된 전압, 전류값(80%)으로부터 검사를 시작하여 전류값은 80%로 고정시킨 상태에서 전압 값만을 10%씩 감소시켜 검사하면서 검사대상물체(10)와 이물 시편(20,30,40)의 Gray 레벨 차이가 가장 큰 전압, 전류값에 대하여 최적의 검사 조건으로 자동 선택하여 검사대상물체(10)의 영상을 자동으로 조정함으로서, 작업자의 편리를 도모하게 되는 것이다.
다음에, 본 발명에 따른 검사 파라미터 자동조정방법에 관하여 설명한다.
본 발명에 따른 검사 파라미터 자동조정방법을 실행하는데 관련된 X-RAY 검사장치에 대한 동작은 전술한 바와 같으므로 생략한다.
작업자가 도1 내지 도3에 도시된 상기 X-RAY 검사장치가 구동되기 전에 자동 검사 파라미터 자동조정버튼을 클릭한 후 X-RAY 검사장치가 구동(S101)되면, 도4 및 도7에 도시된 바와 같이 이물시편(20)을 1개 부착한 후 검사대상물체(10)를 투입한다(S102).
이후 알고리즘 1에서 이물시편(20)의 검출여부를 판단한다(S103).
이 경우, 예로서 알고리즘 1에서 검사 파라미터값을 3 조정하고, 이미지 검사 후 이물시편(20)을 4개 검출하고, 검사 파라미터값을 7 조정하고, 이미지 검사 후 이물시편(20)을 3개 검출하며, 검사 파라미터값을 11 조정하고, 이미지 검사 후 이물시편(20)을 1개 검출한다.
또한, 다른 예로서, 검사 알고리즘 1에서 이물시편(20)인 스테인레스(SUS) 1mm를 검출하는데 90~115의 값을 갖는다고 가정하면 제품의 스테인레스(SUS) 1mm를 부착하여 자동으로 파라미터를 구할 경우 최소값을 60에서부터 시작하여 5씩 증가시키면서 검사할 경우 90까지 도달할 때까지 다른 부분도 이물시편으로 판단(Over kill)할 수 있다.
상기 검사 알고리즘은 검사 알고리즘마다 증가시키는 값을 각각 다르게 해야 하며, 바람직하기로는 최소1 ~ 최대5의 파라미터 값을 증가시킬 수 있다.
즉, 60에서는 7개 검출(6개 Over kill, 1개 실불량), 65(3개 Over kill, 1개 실불량), 90(1개 실불량)으로 최종적으로는 1개를 검출하게 된다.
알고리즘 1에서 이물시편(20)을 검출하면, X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 parameter 값을 저장한다(S104).
다음에, 알고리즘 2,3,4에서 알고리즘 1과 같은 방법으로 이물시편(20)의 검출여부 판단을 각각 개별적이고 순차적 또는 비순차적으로 반복하여 실행(S5,S6,S7)하고, 각각 알고리즘 2,3,4에서 이물시편(20)을 검출하면 상기와 같이 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 parameter 값을 저장한다(S104).
만일, 알고리즘 1, 2, 3, 4에서 이물시편(20)이 검출되지 않으면, 알고리즘을 오프(S108)시키고 종료한다.
즉, 본 발명은 X - RAY 검사장치의 스테이지(100)에 위치시키는 검사 대상물체(10)에 선택된 이물시편(20)을 이용하여 X - RAY 검사장치에 투입하여 검사 알고리즘들은 1개의 이물 시편을 검출하기 위하여 최소값부터 값을 증가시키면서 검사하여 실행중인 모델의 데이터 베이스(Data base)에 자동으로 저장함으로서 간편하게 이물시편을 이용하여 X - RAY 검사장치의 검사 파라미터를 자동으로 조정함으로서, 작업자의 편리를 도모하게 되는 것이다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시 예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위 및 그와 균등한 것들에 의하여 정해져야 한다.
1: 케이스 10: 검사대상물체
20,30,40: 이물 시편 50: 데이터베이스(DB)
100: 스테이지 110: 회전스테이지
200: 엑스레이 튜브 300: 디텍터
510: 연결봉 520: 회전모터
530: 고정프레임

Claims (11)

  1. 케이스(1)내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)가 구비되어, 검사대상물체(10)를 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체(10)를 검사하는 X - RAY 검사장치에서의 영상조정방법에 있어서,
    상기 X - RAY 검사장치의 전압, 전류값을 설정한 상태에서 1차 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제1 단계와,
    상기 전류, 전압 소정값을 증가 또는 감소시켜 2차 이물시편(30)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제2 단계와,
    상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제3 단계와,
    상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 특성값을 저장하고, 상기 제1 단계에서 얻어진 영상의 특성값(A)은 상기 제2 단계에서 얻어진 전압값에서 소정값을 증가 또는 감소시켜 3차 이물시편(40)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제4 단계와,
    상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C)과 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기를 비교 판단하는 제5 단계와,
    상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 프로그램의 수치값을 저장하고 종료하는 제6 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제4 단계에서 얻어진 영상의 특성값(C) 크기가 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B) 크기보다 작으면 상기 제2 단계에서 얻어진 전압, 전류 소정값을 증가 또는 감소시켜 4차 이물시편을 부착하고 검사대상물체를 투입하는 제7 단계와, 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)과 상기 제7 단계에서 얻어진 영상의 특성값(D)의 크기를 비교 판단하여 상기 제2 단계에서 얻어진 영상의 특성값(B)의 크기가 상기 제7단계에서 얻어진 영상의 특성값(D) 크기보다 크면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 영상의 특성값을 저장하고 종료하는 제8 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 단계에서 설정된 전압, 전류값은 80%인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제2 단계에서 감소된 전압값은 70%인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제4 단계에서 감소된 전압값은 60%인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 이물시편(20,30,40)은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 제7 단계에서 감소된 전압값은 65%인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 자동 영상조정방법.
  8. 케이스(1)내부에 스테이지(100)와, 엑스레이튜브(200)와, 디텍터(300)가 구비되어, 검사대상물체(10)를 상기 스테이지(100)에 위치시키고 상기 엑스레이튜브(200)에서 엑스레이를 조사하여 상기 디텍터(300)로 촬상하여 검사대상물체(10)를 검사하는 X - RAY 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법에 있어서,
    상기 X - RAY 검사장치를 구동시킨 상태에서 이물시편(20)을 부착하고 검사대상물체(10)를 투입하는 제1 단계와, 각각의 검사 알고리즘들은 1개의 이물시편(20)을 검출하기 위하여 파라미터의 최소 또는 최대값부터 순차적으로 값을 증가/감소 또는 비순차적으로 증가/또는 감소시키면서 검사를 실행하여 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)의 검출여부를 판단하는 제2 단계와, 상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)이 검출되면 X - RAY 검사장치의 실행중인 모델의 데이터베이스(50)에 해당 parameter값을 저장하고 종료하는 제3 단계와, 상기 제2 단계에서 이물시편이 검출되지 않으면 상기 검사 알고리즘을 오프시키는 제4 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 각각의 검사 알고리즘에서 이물시편(20)의 검출여부를 판단하는 제2 단계는 순차적 또는 비순차적으로 실행되는 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 각각의 검사 알고리즘은 각각의 검사 알고리즘마다 순차적 또는 비순차적으로 증가/감소시키는 값이 다른 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 이물시편(20)은 선택적으로 검사 제품 이외의 물질인 것을 특징으로 하는 엑스레이 검사장치에서의 검사 파라미터 자동조정방법.
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