KR101191880B1 - 신호측정 장치 및 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 높은 주파수의 신호를 낮은 수준의 샘플링 속도로도 정확한 위상과 진폭 왜곡을 검출할 수 있도록 하여 측정 장치의 비용을 크게 낮출 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 측정 대상 아날로그 신호의 레퍼런스 신호 파라미터를 기반으로 비교적 낮은 샘플링 속도로 얻어진 샘플 정보를 분석하여 레퍼런스 신호로부터 변화된 위상과 진폭의 차이를 정확하게 파악할 수 있도록 함으로써 신뢰성은 유지하면서도 샘플링 비용을 크게 낮출 수 있도록 하여 산업상 이용 가능성을 높이고, 해당 장치의 입수와 구성, 사용에 따른 유지 및 보수의 용이성을 크게 개선하는 효과가 있다.

Description

신호측정 장치 및 방법{SIGNAL MEASURING APPARATUS AND METHOD THEROF}

본 발명은 신호측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 높은 주파수의 신호를 낮은 수준의 샘플링 속도로도 정확한 위상과 진폭 왜곡을 검출할 수 있도록 하여 측정 장치의 비용을 크게 낮출 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법에 관한 것이다.

다양한 신호를 생성 및 활용하기 위해서는 정확한 신호 측정이 우선이다. 더불어, 정확한 신호 상태를 파악하기 위해서는 고속 신호를 수집하여 분석 및 가공하는 과정 등이 이루어져야 하므로 측정 신호를 정보로서 수집하여 관리할 수 있는 디지털 계측기가 도입되었다.

급속한 고속 통신의 발전이나 고주파 분석 장비의 발전에 따라 현재의 디지털 계측기나 다채널 신호를 양자화하여 수집하는 디지타이저(digitizer)는 높은 주파수에 대해서도 정확한 계측 결과를 제공하고 있으며, 이를 위하여 고속 샘플링이 가능한 아날로그 디지털 변환 기술을 적용하고 있다.

하지만, 아직까지 초당 십억개 이상의 샘플링을 수행하는 GS/s급으로 아날로그 신호를 계측하는 계측기나 디지타이저는 상당히 고가이고, 수백 MHz 이상의 고주파 아날로그 신호를 측정하기 위하여 한 주기당 10번 이상의 샘플링을 수행하는 5GS/s급 계측기나 디지타이저의 경우 수천만원~수억원을 호가할 정도로 고가인 상황이다.

더불어, 복수 채널에 대한 신호를 동시에 수신하여 채널별 신호를 분석하거나 비교하는 경우와 같이 복수의 디지타이저를 적용한 신호측정 장치의 경우 고속 아날로그 신호를 분석하기 위해서는 고가의 디지타이저 모듈이 복수로 설치되어야 하기 때문에 그 가격이 대단히 높아지게 된다.

도 1은 일반적인 다채널 디지타이저를 구비한 신호 측정장치(10)의 예를 보인 것으로, 도시한 바와 같이 복수의 아날로그 신호를 채널별로 마련된 인터페이스를 통해 수집하여 해당 신호를 기 설정된 속도로 샘플링한 후 그 결과를 내외장된 모니터를 통해 제공하거나 소정의 정보로 가공하여 저장, 전송할 수 있다.

한편, 이러한 아날로그 신호의 경우 위상에 대한 중요성이 크기 때문에 샘플링을 시작할 타이밍을 제공하기 위한 트리거(trigger) 신호를 별도로 입력받기도 한다.

도 2는 다채널 디지타이저의 산업적 활용예를 보인 것으로, 도시한 바와 같이 고정된 주파수와 진폭을 가지는 레퍼런스 정현파를 생성하는 펑션 제너레이터(20)로부터 발생 된 신호를 측정 대상물(30)에 적용하고, 해당 대상물(30)을 통해 전달된 소정 위치의 신호들을 신호 측정기(40)를 통해 수집하여 각 위치별로 레퍼런스 정현파의 왜곡 상태를 위상과 진폭의 차이를 통해 얻어 그 편차를 분석하는 것으로 레퍼런스 신호가 소정의 매질에 해당하는 대상물(30)을 통과하면서 발생된 왜곡의 편차에 따라 매질의 균일성을 확인할 수 있게 된다.

상기 신호 측정기(40)는 복수 채널의 디지타이저 모듈(42)과 측정된 디지털 샘플링 신호를 저장하는 저장부(43)를 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 방식은 도색이나 사출물 등에 대한 균일성을 신속하고 효과적으로 파악할 수 있는 방법의 예이며, 이러한 적용 예 외에도 고속 아날로그 신호에 대한 위상이나 진폭의 변화를 통해서 매질의 저항이나 균일성, 경로 환경 등과 같은 통신 환경을 측정하는 등 그 적용 방식은 실로 다양하다 할 수 있다.

하지만, 아날로그 신호를 디지털신호로 변환하기 위한 샘플링의 경우 주파수 카운터 등과 달리 측정 대상 신호의 주파수보다 샘플링 속도가 월등하게 고속이어야 하므로 수백 MHz 정도의 정현파를 측정하기 위해서는 5GS/s 정도의 샘플링 속도를 가지는 측정 장치나 디지타이저를 이용하게 된다. 하지만 이를 위해 고속의 아날로그 디지털 변환기(ADC)와 고속의 데이터 처리 장치 및 고속의 데이터 저장부가 요구될 뿐만 아니라 노이즈나 잡음에 대한 민감도가 높기 때문에 신뢰성 있는 검출 환경을 마련하는 것 역시 어렵다. 또한, 이러한 수준의 샘플링 속도를 가지는 측정 장치나 디지타이저는 상업적 용도로 쉽게 구하는 것도 어렵고, 이를 유지 관리하는 것도 쉽지 않다.

한편, 복수의 채널을 구비한 신호측정 장치의 경우 내부적으로 복수의 디지타이저 모듈을 포함하고 있는 경우가 많으며, 이러한 경우 각각의 모듈별로 샘플링 타이밍의 편차 즉, 스큐(Skew)가 발생할 수 있으며, 이러한 편차는 각 모듈의 입력단에 실제 측정 신호를 제공하는 프로브(probe)를 더 고려할 경우 심해질 수 있다. 예를 들어, 국내 특허 공개번호 제2005-0103506호의 '디지타이저 장치, 파형 발생 장치, 변환 방법, 파형 발생 방법 및 그 프로그램을 기록한 기록매체'를 보면, 2채널 신호를 제공하는 단일 모듈에 대해서 샘플링되는 타이밍의 스큐를 기초로 각 디지털 신호의 위상 오차를 스큐 주파수로 얻어 해당 주파수를 보정하는 별도의 회로를 추가하는 방법이 있었으나, 이는 단일 모듈에 대해서만 가능하다는 제한과 구성이 복잡하다는 문제가 있다. 결국, 복수의 디지타이저 모듈을 적용한 신호측정 장치에서 각 디지타이저 모듈 간의 스큐를 줄이는 것은 상당히 어려우며, 프로브 보정까지 고려할 경우 그 어려움은 배가된다.

하지만, 이를 무시할 경우 앞서 살펴본 바와 같은 매질을 통과한 신호를 복수 위치에서 측정하여 그 편차를 통해 매질의 균일성을 측정한다고 예를 들어 볼 때 자체적인 스큐에 의한 편차로 매질 균일성 측정 결과에 대한 정밀도 및 신뢰도는 상당히 낮아질 수밖에 없다.

따라서, 상업적으로 이용 가능한 수준의 샘플링 속도를 이용하여 고속의 신호를 측정하더라도 해당 신호에 대한 정확한 위상과 진폭 정보를 검출할 수 있는 새로운 방식의 신호측정 장치 및 방법이 요구되고 있으며, 그와 동시에 복수의 디지타이저 모듈이 적용된 다채널 신호측정 장치의 경우 효과적으로 모듈 간의 스큐를 해결하기 위한 장치 및 방법 역시 요구되고 있는 실정이다.

상기와 같은 신호측정 장치의 문제점을 해결하기 위해 새롭게 제안하는 본 발명 실시예들의 목적은 측정 대상 신호를 정확하게 복원하기 어려운 낮은 샘플링 속도로 얻어진 샘플링값과 레퍼런스 신호 정보 및 타이밍을 이용하여 얻어지는 레퍼런스 신호 함수의 연산값을 이용하여 측정 대상 신호의 위상과 진폭을 신뢰성 있게 측정할 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.

본 발명 실시예들의 다른 목적은 측정 대상 아날로그 신호의 레퍼런스 신호 파라미터를 기반으로 신호를 정확하게 복원하기 어려운 낮은 샘플링 속도로 얻어진 샘플 정보를 분석하여 레퍼런스 신호로부터 변화된 위상과 진폭의 차이를 정확하게 파악할 수 있도록 함으로써 신뢰성은 유지하면서도 샘플링 비용을 크게 낮출 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.

본 발명 실시예들의 또 다른 목적은 복수의 신호를 동시에 샘플링하기 위하여 마련된 복수 채널 구성 간에 발생되는 스큐(skew)를 효과적으로 감소시킴과 아울러 프로브(probe)에 의한 위상 변화나 진폭 감소에 대한 보상도 동시에 실시할 수 있도록 하여 측정 장치의 정밀도와 신뢰성을 높일 수 있도록 한 신호측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 신호측정 장치는 입력 신호에 대한 레퍼런스 신호 파라미터를 입력 받고, 타이밍에 관한 정보를 수신하여 제공하는 파라미터 설정부와; 상기 파라미터 설정부로부터 제공받은 파라미터와 예측 위상 편차값 및 타이밍 정보를 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값 사이의 오차를 구하는 위상 연산부와; 상기 파라미터 설정부로부터 제공받은 파라미터와 제공받은 위상 편차값, 타이밍 정보 및 예측 진폭값을 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값 사이의 오차를 구하는 진폭 연산부와; 기 설정된 기간 동안 수집된 샘플링값에 대해서 상기 위상 연산부의 오차가 최소가 되는 예측 위상 편차값을 구하여 위상 편차값을 결정하고, 상기 위상 편차값을 상기 진폭 연산부에 제공하여 상기 수집된 샘플링값에 대하여 상기 진폭 연산부의 오차가 최소가 되는 예측 진폭값으로 진폭값을 결정하여 상기 결정된 위상 편차값과 진폭값을 출력하는 최소오차 결정부를 포함하여 이루어진다.

상기 샘플링값을 수집하는 기간은 적어도 상기 레퍼런스 신호의 한 주기 이상인 것이 바람직하다.

상기 샘플링값은 상기 신호측정 장치에 구비된 하나 이상의 디지타이저 모듈에 구성된 하나 이상의 채널을 통해 수집되며, 상기 최소오차 결정부는 각 채널별 위상 편차값과 진폭값을 결정하여 출력할 수 있다.

상기 위상 연산부는 상기 파라미터 설정부를 통해 설정된 진폭을 고정값으로 간주하여 상기 레퍼런스 신호를 표현하는 함수 연산을 실시한다.

상기 파라미터 설정부는 레퍼런스 신호의 파형 종류, 주파수, 진폭 정보 중 하나 이상의 정보를 파라미터로 기 설정받는다.

상기 최소오차 결정부는 최소 자승법을 포함하여 연산을 위한 계의 함수가 어떠한 형태인지 알고 있을 경우 해당 함수의 상수값을 추정하는 임의의 방식을 적용하여 위상 편차값과 진폭값을 결정할 수 있다.

본 발명의 다른 실시예에 따른 신호측정 장치는 하나 이상의 샘플링 수단을 통해 샘플링된 신호를 레퍼런스 신호와 비교하여 위상 및 진폭의 왜곡을 측정하는 신호측정 장치로서, 측정 신호 주기별로 5개 이하가 샘플되는 샘플링 속도로 입력 신호를 샘플링하는 하나 이상의 샘플링 수단과; 상기 샘플링 수단 중 하나의 샘플링값을 기 설정된 기간 동안 수집하여, 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 상기 수집된 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하고, 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 상기 수집된 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 신호 왜곡 검출부를 포함하여 이루어진다.

상기 신호 왜곡 검출부는 상기 샘플링 수단별로 상기 위상 편차와 진폭 편차를 병렬적으로 혹은 순차적으로 구할 수 있다.

상기 레퍼런스 신호는 수백 MHz 대역의 정현파 신호이며, 상기 디지타이저의 샘플링 속도는 1GS/s 이하일 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신호측정 장치는 복수 신호를 복수 채널로 샘플링하는 디지타이저부를 포함하는 신호측정 장치로서, 상기 디지타이저부 각각의 입력신호로 기 설정된 레퍼런스 신호를 제공할 경우 얻어지는 샘플링값을 기 설정된 기간 동안 수집하여, 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하고, 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 신호 왜곡 검출부와; 상기 신호 왜곡 검출부에서 얻어진 상기 디지타이저부의 각 채널별 위상 편차값과 진폭 편차값을 디스큐(deskew)를 위한 초기 파라미터값으로 설정하는 초기 파라메터부를 포함하여 이루어진다.

상기 디지타이저부는 하나 이상의 채널을 가지는 복수의 디지타이저 모듈로 구성되고, 상기 신호 왜곡 검출부는 모듈별로 하나의 채널에 대한 위상 편차값과 진폭 편차값을 구하며, 상기 초기 파라메터부는 채널별이 아닌 각 모듈에 대한 초기 파라미터값을 설정한다.

상기 디지타이저부 각각의 입력신호로 제공되는 레퍼런스 신호는 상기 레퍼런스 신호를 상기 디지타이저부에 전달하는 프로브를 포함하는 측정 선로를 통해 상기 디지타이저부에 제공될 수 있다.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신호측정 방법은 하나 이상의 샘플링 수단이 포함된 신호측정 장치를 통해 레퍼런스 신호의 왜곡을 측정하는 신호 측정 방법으로서, 상기 레퍼런스 신호 파라미터를 설정하는 초기화 단계와; 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 상기 샘플링 수단을 통해 기 설정된 기간 동안 얻어지는 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하는 위상 편차 측정 단계와; 상기 위상 편차 측정 단계에서 얻어진 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 상기 샘플링 수단을 통해 기 설정된 기간 동안 얻어지는 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 진폭 왜곡 측정 단계와; 상기 위상 편차 측정 단계와 상기 진폭 왜곡 측정 단계를 상기 샘플링 수단의 수만큼 병렬 혹은 순차적으로 실시하는 단계를 포함하여 이루어진다.

상기 레퍼런스 신호를 상기 샘플링 수단의 입력단 혹은 입력단과 연결된 측정 선로를 통해 직접 제공하는 단계와; 상기 각 샘플링 수단별로 얻어진 위상 편차값과 진폭 편차값을 각 샘플링 수단을 디스큐(deskew)하기 위한 초기 파라미터값으로 설정하는 디스큐 설정 단계를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예에 따른 신호측정 장치 및 방법은 하나 이상의 샘플링 수단과; 샘플링 속도로 얻어진 샘플링값과 레퍼런스 신호 정보 및 타이밍을 이용하여 얻어지는 레퍼런스 신호 함수의 연산값을 이용하여 측정 대상 신호의 위상과 진폭을 신뢰성 있게 측정할 수 있도록 함으로써 신호측정 장치의 비용을 크게 낮출 수 있는 효과가 있다.

본 발명의 실시예에 따른 신호측정 장치 및 방법은 측정 대상 아날로그 신호의 레퍼런스 신호 파라미터를 기반으로 신호를 정확하게 복원하기 어려운 낮은 샘플링 속도로 얻어진 샘플 정보를 분석하여 레퍼런스 신호로부터 변화된 위상과 진폭의 차이를 정확하게 파악할 수 있도록 함으로써 신뢰성은 유지하면서도 샘플링 비용을 크게 낮출 수 있도록 하여 산업상 이용 가능성을 높이고, 해당 장치의 입수와 구성, 사용에 따른 유지 및 보수의 용이성을 크게 개선하는 효과가 있다.

본 발명의 실시예에 따른 신호측정 장치 및 방법은 복수의 신호를 동시에 샘플링하기 위하여 마련된 복수 채널 구성 간에 발생되는 스큐(skew)를 효과적으로 감소시킴과 아울러 프로브(probe)에 의한 위상 변화나 진폭 감소에 대한 보상도 동시에 실시할 수 있도록 하여 측정 장치의 정밀도와 신뢰성을 크게 높일 수 있는 효과가 있다.

도 1은 복수 채널을 구비한 일반적인 신호측정 장치.
도 2는 신호측정 장치를 이용한 산업적 이용예.
도 3은 고속 샘플링이 가능한 신호측정 장치를 통해 얻은 샘플링 결과.
도 4는 저속 샘플링을 통해 도 3과 동일한 신호를 측정한 샘플링 결과.
도 5는 신호측정 장치에서 발생되는 스큐(Skew)를 설명하기 위한 개념도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 신호측정 장치의 구성도.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 신호 측정 방법을 설명하는 순서도.
도 8은 레퍼런스 신호의 예.
도 9는 본 발명의 실시예에 따라 위상 편차를 구하는 개념을 보인 개념도.
도 10은 본 발명의 실시예에 따라 진폭 편차를 구하는 개념을 보인 개념도.
도 11은 본 발명의 실시예에 따라 저속 샘플링을 통해 얻은 신호와 일반적인 고속 샘플링을 통해 얻은 신호를 보인 예시도.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호측정 장치의 구성도.

상기한 바와 같은 본 발명을 첨부된 도면들과 실시예들을 통해 상세히 설명하도록 한다.

도 3은 고속 샘플링이 가능한 신호측정 장치를 통해 얻은 샘플링 결과를 보인 예로서, 도시한 신호는 320MHz 주파수를 가지며 그 진폭은 1인 신호를 5GS/s의 속도로 샘플링한 결과를 보인 것이다.

320MHz 주파수의 아날로그 신호를 정밀한 위상과 진폭을 측정할 수 있을 정도로 복원이 가능하게 샘플링하기 위해서는 한 주기 동안 적어도 십여개의 샘플링이 이루어져야 하는데, 320MHz의 경우 한 주기가 3.12ns 정도 되기 때문에 샘플링 간격은 0.3ns 이하여야 하며, 도시된 경우와 같이 5GS/s 샘플링 속도에서는 0.2ns 이므로 15개 이상의 샘플링이 가능하다. 특히 도 2를 통해 설명한 바와 같이 정밀한 위상의 왜곡이나 진폭의 왜곡을 파악하기 위해서는 신호를 정밀한 타이밍을 기준으로 정밀한 샘플링 속도로 샘플링해야 측정 대상 아날로그 신호를 근사치로 복원해 낼 수 있게 되므로 도시된 경우와 같이 0.2ns 간격으로 샘플링한 경우라면 그 값들로부터 측정된 아날로그 신호를 거의 근사하게 얻을 수 있다.

하지만, 5GS/s정도의 샘플링 속도를 제공한다는 것은 0.2ns 내에 입력 신호를 샘플 및 홀드(Sample & Hold)하고 해당 신호를 기 설정된 양자화 레벨(일반적으로 8~12bit)로 분석하여 양자화하는 과정이 이루어져야 한다는 것을 의미한다. 비록 반도체 소자와 미세 선로 가공 기술이 발전하였으나 실제 이러한 과정을 수행하기 위해서는 샘플링을 위한 내부적인 처리 속도는 수십 GHz 이상의 클럭 속도로 동작해야 하기 때문에 이러한 초고주파 대역에서 동작하는 회로의 설계는 대단히 복잡하고 어려울 뿐만 아니라 잡음에 취약하기 때문에 이를 감안한 초고속 고정밀 샘플링 장치의 경우 그 비용이 일반적인 산업적 목적으로 감당하기에는 벅찰 정도로 높아지게 된다.

즉, 1GS/s 샘플링 속도를 초과하는 샘플링 속도를 내기 위해서는 그 비용이 지수적으로 높아지게 되며, 해당 장비를 구하기도 쉽지 않고 각종 노이즈에 취약하기 때문에 측정 환경에 대한 신뢰성을 얻기 위한 환경 구축 비용도 높아지며 유지 보수에도 많은 비용이 소모된다.

하지만, 상기와 같은 320MHz 의 신호를 1GS/s 샘플링 속도를 가지는 측정 장치로 샘플링하는 경우 도 4와 같은 결과를 얻게 된다.

즉, 도시한 바와 같이 한 주기의 신호에 대해서 3개 혹은 4개 정도의 샘플링만 가능하기 때문에 해당 샘플링값을 통해서는 원래의 아날로그 신호를 위상과 진폭 정보를 정밀하게 분석할 수 있을 정도로 정확하게 복원할 수 없다.

하지만 이러한 1GS/s 정도의 샘플링 속도를 가지는 샘플링 장치도 상당히 높은 성능을 가진 측정 장치에 속하는 만큼 이 이상의 장치를 산업적 목적으로 이용하기는 어렵다. 따라서, 본 발명의 실시예는 레퍼런스 신호에 대한 각종 파라미터 정보를 알고 있는 상태에서 해당 레퍼런스 신호의 위상과 진폭의 왜곡 정도를 측정하기 위한 측정 장치를 제공하며, 이러한 제한적인 측정 환경에서는 도 3과 같은 수준의 샘플링만으로도 정확한 위상의 왜곡과 진폭의 왜곡을 측정할 수 있다.

한편, 복수의 채널을 가지는 대부분의 측정 장치의 경우 일부 채널별로 샘플링을 제공하는 디지타이저 모듈이 복수로 구성되게 되는데, 이러한 디지타이저 모듈 각각은 샘플링 시점이 약간씩 다르며, 그로 인하여 동일한 측정 신호 및 샘플링의 시작을 알리는 트리거 신호가 인가되는 경우라도 그 샘플링 결과마다 약간의 위상이나 진폭 편차가 발생할 수 있다. 이를 스큐(Skew)라 하며, 이러한 왜곡을 보정해야만 복수 채널을 통해 동일한 신호를 측정할 경우 측정 장치 자체의 왜곡으로 인한 편차 발생을 줄일 수 있게 된다.

도 5는 모듈 당 2개의 채널을 가진 복수의 디지타이저 모듈(60)을 포함하는 측정 장치에 대한 스큐(Skew) 발생을 설명하기 위한 것으로, 도시한 바와 같이 n개의 디지타이저 모듈 각각은 약간의 위상이나 진폭 편차를 가지며, 실제 디지타이저의 입력 단자에 측정 신호를 전달하기 위한 측정 선로, 즉 프로브(probe)에 의해서도 각각 편차가 발생하게 된다. 결국, 복수 채널에서 정밀한 측정을 실시하고자 할 경우라면 필수적으로 개별 디지타이저 모듈 간 스큐를 억제해야 하며, 프로브에 의한 왜곡을 보정해야만 한다. 이를 위해 별도의 회로를 디지타이저에 구성하거나 프로브 왜곡 보정을 위해 고가의 고속 계측 장비를 이용하는 경우, 구성이 복잡해지고 활용을 위한 사전 작업이 복잡해지게 된다.

하지만, 이러한 디지타이저 모듈 간 디스큐(De-skew)나 프로브 보정의 경우도 측정 신호의 위상이나 진폭 편차를 측정하여 이를 보상하는 것이므로 측정 신호가 디지타이저 모듈의 샘플링 속도에 비해 고속이라 하더라도 이후 설명되는 본 발명의 실시예를 활용할 경우 저속의 샘플링값과 레퍼런스 신호 파라미터를 활용하여 정밀한 위상 및 진폭 편차 측정을 통해 디스큐 및 프로브 보정을 한번에 실시할 수 있게 된다.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 신호측정 장치의 구성을 보인 블록도로서, 도시한 바와 같이 입력 신호(f_in)를 트리거 신호(trig)에 따라 샘플링하여 그 타이밍(t)과 샘플링값(f_s(t))을 출력하는 디지타이저부(70)와, 레퍼런스 신호(f_ref)에 대해 기 설정되는 파라미터와 상기 타이밍 정보를 이용하여 레퍼런스 신호에 대한 함수를 연산한 연산값과 상기 디지타이저부(70)를 통해 얻어지는 샘플링값을 비교하여 위상 편차값을 구하고 해당 위상 편차를 더 이용하여 진폭 편차값을 구하여 위상 편차값과 진폭 편차값 혹은 그에 따라 얻어지는 입력 신호 함수 혹은 정보를 출력하는 신호 왜곡 검출부(100)를 포함한다. 상기 신호 왜곡 검출부(100)의 출력은 입력 신호가 레퍼런스 신호와 비교하여 얼마의 위상 변화 및 진폭 변화가 발생했는지에 대한 편차값을 제공할 수도 있고, 이를 기반으로 입력 신호를 생성하여 출력할 수도 있으나 이들의 의미는 사실상 동일하다.

상기 신호 왜곡 검출부(100)는 본 실시예를 설명하기 위하여 복수의 블록으로 구분하였으나, 이러한 블록은 결합 혹은 분산되어 다른 형태의 블록으로 구성될 수도 있으므로 여기서는 본 발명의 구현을 위한 하나의 실시예로서만 참조되는 것이 바람직하다.

도시된 신호 왜곡 검출부(100)는 입력 신호에 대한 레퍼런스 신호(f_ref)에 대한 파라미터로 주파수, 진폭, 파형의 종류 등을 입력받아 설정하고, 타이밍(t)에 관한 정보를 수신하여 제공하는 파라미터 설정부(110)와, 상기 파라미터 설정부(110)로부터 제공받은 파라미터와 예측 위상 편차값 및 타이밍 정보를 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값(f_s(t)) 사이의 오차를 구하는 위상 연산부(120)와, 상기 파라미터 설정부(110)로부터 제공받은 파라미터와 제공받은 위상 편차값, 타이밍 정보 및 예측 진폭값을 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값 사이의 오차를 구하는 진폭 연산부(130)와, 기 설정된 기간 동안 수집된 샘플링값에 대해서 상기 위상 연산부(120)의 오차가 최소가 되는 예측 위상 편차값을 구하여 위상 편차값을 결정하고, 상기 위상 편차값을 상기 진폭 연산부에 제공하여 상기 수집된 샘플링값에 대하여 상기 진폭 연산부(130)의 오차가 최소가 되는 예측 진폭값을 진폭값을 결정하여 상기 결정된 위상 편차값과 진폭값이나 샘플링된 입력 신호의 위상과 진폭 정보를 출력하는 최소오차 결정부(140)를 포함하여 이루어진다.

상기 위상 연산부(120)는 상기 레퍼런스 신호의 파라미터로부터 얻어지는 신호의 파형 정보와 주파수 및 진폭을 통해서 레퍼런스 신호에 대한 함수를 얻을 수 있으며, 상기 최소오차 결정부(140)는 해당 함수에 위상 편차를 적용하여 실제 측정된 샘플링값과 비교하여 그 오차가 가장 작을 때의 위상 편차를 실제 입력 신호와 레퍼런스 신호 사이의 위상 편차로 결정한다. 이렇게 수학적인 계의 함수가 어떠한 형태인지 알고 있을 때 해당 함수에 적용되는 상수 값을 추정하는 방법으로 최소자승법(method of least squares)을 적용할 수 있다.

그 다음, 상기 진폭 연산부(130)가 상기 과정에서 얻어진 위상 편차를 상기 레퍼런스 신호에 대한 함수에 적용하고, 예상 진폭값을 적용하여 해당 진폭에 따라 연산된 값이 샘플링값과 가장 오차가 작을 때의 진폭을 역시 최소자승법과 같은 방법을 적용하여 얻을 수 있게 된다.

이렇게 되면 우선적으로 위상에 대한 최적 근사값을 얻고, 이를 고려하여 진폭에 대한 최적 근사값을 얻을 수 있게 되므로 샘플링값을 통해 실제 입력 신호에 근사한 함수를 얻을 수 있게 된다.

이러한 최적 근사값의 정확도를 위해서, 상기 샘플링에 따른 위상 편차값과 진폭 편차값을 구하는 과정은 누적되거나 일정한 주기 동안의 샘플링값들에 대해서 실시될 수 있다. 적어도 한주기 이상의 입력 신호에 대한 샘플링값들에 대해서 상기 과정을 수행하여 실제 입력 신호에 근사한 위상 편차와 진폭 편차를 얻어야 하며 노이즈 등을 고려할 경우 수~수십 주기 정도의 기간에 대해 상기 과정을 실시하여 더 근사한 위상 편차와 진폭 편차를 얻을 수 있다.

예를 들어, 상기 레퍼런스 신호가 정현파라면, 다음과 같은 함수를 연산에 이용할 수 있다.

여기서, A는 진폭이고 q는 위상편차이다.

따라서, f(t)가 샘플링된 값이라면, 우변의 수식을 통해서 얻어지는 값이 샘플링값과 가장 유사하도록 하는 q값을 구하면 해당 q값이 레퍼런스 신호에 비해 변형된 입력 신호의 위상 편차가 된다.

초기 단계에서는 진폭 편차를 무시하고(레퍼런스 진폭을 그대로 이용하거나 소정의 설정된 상수를 이용할 수 있음) q값을 최소자승법으로 구하여 위상 편차값을 결정한다.

그 다음, 구해진 q값, 즉 위상편차를 상기 함수에 적용하고 A값을 최소자승법으로 구하여 진폭값(진폭편차)을 결정한다.

이러한 과정은 소정 주기 동안의 샘플링값에 대해서 순차적으로 누적 진행 되거나 복수의 샘플링값에 대해 q값을 구한 후 이를 적용하여 A값을 구하는 방식으로 진행될 수 있다.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 동작 과정을 설명하기 위한 순서도로서, 도시한 바와 같이 측정하고자 하는 신호에 대한 레퍼런스 신호 파라미터(신호 파형의 종류, 주파수, 진폭, 시작 위상 등)를 신호측정 장치에 설정하는 단계와, 디지타이저 등의 샘플링 장치를 통해 입력 신호의 샘플링 값를 수신하는 단계와, 상기 레퍼런스 신호에 대한 함수를 이용하여 해당 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려(이때, 진폭은 기준 진폭을 이용)한 연산값과 상기 얻어진 샘플링 값을 비교하여 그 오차가 최저가 되는 위상 편차를 결정하는 단계와, 상기 단계에서 결정된 위상 편차를 상기 레퍼런스 신호에 대한 함수에 적용하고, 해당 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 상기 얻어진 샘플링 값을 비교하여 그 오차가 최저가 되는 진폭 편차(혹은 진폭)을 결정하는 단계와, 상기 얻어진 위상 편차와 그에 따른 진폭 편차(혹은 진폭)를 신호 측정 결과로 제공하거나 이를 통해 결정된 입력 신호 함수를 신호 측정 결과로 제공하는 단계로 이루어진다.

상기 위상 편차를 결정하는 단계나 진폭 편차를 결정하는 단계에서는 일정한 기간 동안 수집된 복수의 샘플링 값들을 이용할 수 있으며, 그 기간이 길어질수록 결정되는 위상 편차와 진폭 편차는 입력 신호에 근사하게 된다.

상기 설명한 본 발명의 실시예의 동작 예를 도 8 내지 도 9를 참조하여 설명하도록 한다.

먼저 측정 신호에 대한 레퍼런스 신호는 도 8에 도시한 바와 같이 진폭이 1이고 주파수는 320MHz인 정현파 신호이다.

해당 레퍼런스 신호가 소정의 매질을 통해 측정 장치의 입력단으로 입력되었을 때 이를 1GS/s 샘플링 속도로 샘플링하면 도 9와 같은 샘플링 값이 얻어진다.

상기와 같은 샘플링 값들로부터 입력된 신호가 레퍼런스 신호로부터 변화된 위상 편차와 진폭 편차를 얻을 수 있으면 해당 입력 신호를 비교적 정확한 형태로 재구성할 수 있게 되는데, 이를 위해서 도 9와 같이 우선적으로 입력된 신호에 대한 진폭을 기본값으로 고정(레퍼런스의 진폭이나 기 설정된 진폭)한 상태에서 위상 편차를 먼저 결정한다. 예를 들어 진폭이 1인 320MHz 정현파 신호에 대해서 위상 편차가 예측 위상 편차값일 때 얻어지는 정현파 함수의 연산값과 샘플링된 값의 오차가 가장 작을 때의 예측 위상 편차값을 위상 편차값으로 결정하게 된다. 도시한 바와 같이 예측 위상 편차값에 따른 함수 그래프(a, b, c)와 샘플링된 값들 사이의 오차가 가장 작은 경우(함수 그래프 b)를 파악하여 해당 경우의 예측 위상 편차값을 실제 입력 신호가 레퍼런스 신호를 기준으로 변화된 위상 편차로 결정할 수 있다.

도시된 경우에서는 위상 편차값으로 30도를 얻을 수 있다.

이러한 과정을 보다 수학적이고 통계적으로 수행하기 위하여 최소자승법 등을 활용할 수 있다.

이러한 위상값의 변화에 따른 연산값과 샘플링값 사이의 오차는 진폭 변화에 따른 오차에 대한 종속성이 그 반대의 경우에 비해 상대적으로 낮기 때문으로, 진폭을 고정한 상태에서 실제 샘플링값에 가장 근사한 위상 편차값을 먼저 구한 다음 해당 위상 편차값을 기준으로 진폭 편차값을 구하는 것이 바람직하다.

따라서, 상기 도 9와 같은 방식으로 얻어진 위상편차를 레퍼런스 신호에 대한 함수에 적용한 상태에서 예측 진폭값에 따른 연산값과 샘플링값들을 비교하여 그 오차가 가장 작을 때의 진폭값을 도 10과 같이 얻을 수 있게 된다.

도 10의 경우 고정된 위상에서 예측 진폭값들에 따른 함수 그래프(d,e,f)와 샘플링된 값들 사이의 오차가 가장 작은 경우(함수 그래프 e)를 파악하여 해당 경우의 예측 진폭값을 실제 입력 신호의 진폭으로 결정할 수 있으며, 이때의 진폭 편차를 실제 입력 신호가 레퍼런스 신호를 기준으로 변화된 진폭 편차로 결정할 수 있다.

그에 따라, 실제 입력 신호의 함수는 도 10의 그래프 e(위상차 30도, 진폭 편차 -0.1)가 된다.

도 11은 앞서 설명한 본 발명의 실시예에 따라 320MHz 신호를 1GS/s의 샘플링 속도로 측정하여 얻은 입력 신호의 그래프와 5GS/s의 샘플링 속도로 측정하여 얻은 입력 신호의 그래프를 동시에 나타낸 것으로, 실질적으로 얻어진 입력 신호의 그래프는 두 경우 모두 동일하게 되므로 1GS/s의 샘플링 속도로 측정한 경우와 5GS/s의 샘플링 속도로 측정한 경우의 차이는 거의 발생하지 않았다.

도 12는 본 발명의 용도를 좀 더 확장하여, 본 발명의 실시예에 사용되는 신호 왜곡 검출부를 복수의 디지타이저 모듈에 대한 디스큐(De-skew)와 프로브 보정을 한번에 실시하기 위해 적용한 경우로서, 실제 측정 신호에 대한 디스큐와 프로브 보정을 복잡한 하드웨어적 구성을 추가하지 않으면서도 정확하게 실시할 수 있으며, 심지어는 실제 측정 신호의 주파수가 높아서 측정 장치의 샘플링 속도로 입력 신호를 정확하게(즉, 위상과 진폭을 정확하게 확인할 수 있도록) 복원할 수 없을 정도라 하더라도 디스큐와 프로브 보정이 가능하다. 예를 들어, 즉 한 주기에 5개 이하(예를 들어, 1~3개도 가능) 정도의 샘플링만 되더라도 비교적 정확한 디스큐와 프로브 보정이 가능하게 된다.

도시된 경우와 같이 복수의 모듈로 이루어진 디지타이저부(80)의 입력단, 혹은 프로브가 연결된 경우라면 프로브의 입력단에 레퍼런스 신호를 인가한다.

예를 들어, 레퍼런스 신호를 제공하는 펑션 제너레이터(25)를 상기 디지타이부(80)의 모듈별 입력단 혹은 프로브 입력단에 연결하여 레퍼런스 신호를 모듈별로 적어도 한 채널 이상 제공한다.

한편, 샘플링 시점을 동기화하기 위하여 상기 디지타이저부(80)의 각 모듈에는 동기화된 트리거 신호(점선)가 제공될 수 있다.

상기 디지타이저부(80)를 통해 샘플링된 신호들은 신호 왜곡 검출부(100)를 통해 각 채널별, 혹은 모듈별 신호 왜곡 상태가 검출되어 해당 채널이나 모듈에 대한 샘플링값들로 재구성되는 입력 신호 근사값을 실제 레퍼런스 신호와 비교하는 것으로 위상의 왜곡과 진폭의 왜곡을 확인할 수 있다.

이렇게 얻어진 각 채널이나 모듈별 위상 및 진폭 왜곡 정도, 측 편차들은 실질적으로 모듈별 샘플링 동작 시점의 미세한 편차나 프로브와 디지타이저를 거치면서 발생되는 지연과 저항성분 등에 의해서 각각 다르게 나타날 수 있으므로 상기 신호 왜곡 검출부(100)가 제공하는 채널 혹은 모듈별 편차 정보를 모듈별 초기 파라미터부(150)에서 수집하여 초기 기본 파라미터로 설정함으로써, 모듈간 스큐 문제와 프로브 보정 문제까지 한번에 해결할 수 있다.

더불어, 앞서 설명한 방식과 같이 입력 신호에 비해 낮은 샘플링 속도를 가진 측정 장치에서는 상기 디스큐에 관한 기능을 대단히 간단하게 적용할 수 있기 때문에 낮은 샘플링 속도를 가지면서도 오히려 복수 채널을 이용하는 경우에서는 고속 샘플링 속도를 가진 측정 장치보다 높은 정밀도와 신뢰성을 제공할 수도 있게 된다.

이상에서는 본 발명에서 특정의 바람직한 실시예들에 대하여 도시하고 또한 설명하였다. 그러나 본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 아니하며, 특허 청구의 범위에서 첨부하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능할 것이다.

10: 신호 측정 장치 20: 펑션 제너레이터
40: 다채널 신호 측정 장치 50: 디스플레이
70: 디지타이저부 100: 신호 왜곡부
110: 파라미터 설정부 120: 위상 연산부
130: 진폭 연산부 140: 최소오차 결정부
150: 모듈별 초기 파라미터부

Claims (18)

1. 입력 신호에 대한 레퍼런스 신호 파라미터를 입력받고, 타이밍에 관한 정보를 수신하여 제공하는 파라미터 설정부와;
   상기 파라미터 설정부로부터 제공받은 파라미터와 예측 위상 편차값 및 타이밍 정보를 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값 사이의 오차를 구하는 위상 연산부와;
   상기 파라미터 설정부로부터 제공받은 파라미터와 제공받은 위상 편차값, 타이밍 정보 및 예측 진폭값을 통해 연산된 값과 실제 입력신호의 샘플링값 사이의 오차를 구하는 진폭 연산부와;
   기 설정된 기간 동안 수집된 샘플링값에 대해서 상기 위상 연산부의 오차가 최소가 되는 예측 위상 편차값을 구하여 위상 편차값을 결정하고, 상기 위상 편차값을 상기 진폭 연산부에 제공하여 상기 수집된 샘플링값에 대하여 상기 진폭 연산부의 오차가 최소가 되는 예측 진폭값으로 진폭값을 결정하여 상기 결정된 위상 편차값과 진폭값을 출력하는 최소오차 결정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
2. 청구항 1에 있어서, 상기 샘플링값을 수집하는 기간은 적어도 상기 레퍼런스 신호의 한 주기 이상인 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
3. 청구항 1에 있어서, 상기 샘플링값은 상기 신호측정 장치에 구비된 하나 이상의 디지타이저 모듈에 구성된 하나 이상의 채널을 통해 수집되며, 상기 최소오차 결정부는 각 채널별 위상 편차값과 진폭값을 결정하여 출력하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
4. 청구항 1에 있어서, 상기 위상 연산부는 상기 파라미터 설정부를 통해 설정된 진폭을 고정값으로 간주하여 상기 레퍼런스 신호를 표현하는 함수 연산을 실시하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
5. 청구항 1에 있어서, 상기 파라미터 설정부는 레퍼런스 신호의 파형 종류, 주파수, 진폭 정보 중 하나 이상의 정보를 파라미터로 기 설정받는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
6. 청구항 1에 있어서, 상기 파라미터 설정부는 상기 샘플링에 대한 트리거 시점 정보를 타이밍 정보로 수신하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
7. 청구항 1에 있어서, 상기 최소오차 결정부는 최소 자승법을 포함하여 연산을 위한 계의 함수가 어떠한 형태인지 알고 있을 경우 해당 함수의 상수값을 추정하는 임의의 방식을 적용하여 위상 편차값과 진폭값을 결정하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
8. 하나 이상의 샘플링 수단을 통해 샘플링된 신호를 레퍼런스 신호와 비교하여 위상 및 진폭의 왜곡을 측정하는 신호측정 장치로서,
   측정 신호 주기별로 5개 이하가 샘플되는 샘플링 속도로 입력 신호를 샘플링하는 하나 이상의 샘플링 수단과;
   상기 샘플링 수단 중 하나의 샘플링값을 기 설정된 기간 동안 수집하여, 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 상기 수집된 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하고, 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 상기 수집된 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 신호 왜곡 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
9. 청구항 8에 있어서, 상기 신호 왜곡 검출부는 상기 샘플링 수단별로 상기 위상 편차와 진폭 편차를 병렬적으로 혹은 순차적으로 구하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
   
10. 청구항 8에 있어서, 상기 레퍼런스 신호는 수백 MHz 대역의 정현파 신호이며, 디지타이저의 샘플링 속도는 1GS/s 이하인 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
    
11. 청구항 8에 있어서, 상기 신호 왜곡 검출부는 최소 자승법을 포함하여 연산을 위한 계의 함수가 어떠한 형태인지 알고 있을 경우 해당 함수의 상수값을 추정하는 임의의 방식을 적용하여 상기 위상 편차값과 진폭 편차값을 구하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
    
12. 복수 신호를 복수 채널로 샘플링하는 디지타이저부를 포함하는 신호측정 장치로서,
    상기 디지타이저부 각각의 입력신호로 기 설정된 레퍼런스 신호를 제공할 경우 얻어지는 샘플링값을 기 설정된 기간 동안 수집하여, 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하고, 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 신호 왜곡 검출부와;
    상기 신호 왜곡 검출부에서 얻어진 상기 디지타이저부의 각 채널별 위상 편차값과 진폭 편차값을 디스큐(De-skew)하기 위한 초기 파라미터값으로 설정하는 초기 파라메터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
    
13. 청구항 12에 있어서, 상기 디지타이저부는 하나 이상의 채널을 가지는 복수의 디지타이저 모듈로 구성되고, 상기 신호 왜곡 검출부는 모듈별로 하나의 채널에 대한 위상 편차값과 진폭 편차값을 구하며, 상기 초기 파라메터부는 채널별이 아닌 각 모듈에 대한 초기 파라미터값을 설정하는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
    
14. 청구항 12에 있어서, 상기 디지타이저부 각각의 입력신호로 제공되는 레퍼런스 신호는 상기 레퍼런스 신호를 상기 디지타이저부에 전달하는 프로브를 포함하는 측정 선로를 통해 상기 디지타이저부에 제공되는 것을 특징으로 하는 신호측정 장치.
    
15. 하나 이상의 샘플링 수단이 포함된 신호측정 장치를 통해 레퍼런스 신호의 왜곡을 측정하는 신호 측정 방법으로서,
    상기 레퍼런스 신호 파라미터를 설정하는 초기화 단계와;
    상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 위상 편차를 고려한 연산값과 상기 샘플링 수단을 통해 기 설정된 기간 동안 얻어지는 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 위상 편차값을 구하는 위상 편차 측정 단계와;
    상기 위상 편차 측정 단계에서 얻어진 상기 위상 편차값을 고정한 상태에서 상기 레퍼런스 신호에 대해 발생할 수 있는 진폭 편차를 고려한 연산값과 상기 샘플링 수단을 통해 기 설정된 기간 동안 얻어지는 샘플링값을 비교하여 오차가 최소화되는 진폭 편차값을 구하는 진폭 왜곡 측정 단계와;
    상기 위상 편차 측정 단계와 상기 진폭 왜곡 측정 단계를 상기 샘플링 수단의 수만큼 병렬 혹은 순차적으로 실시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호측정 방법.
    
16. 청구항 15에 있어서, 상기 레퍼런스 신호를 상기 샘플링 수단의 입력단 혹은 입력단과 연결된 측정 선로를 통해 직접 제공하는 단계와;
    상기 각 샘플링 수단별로 얻어진 위상 편차값과 진폭 편차값을 각 샘플링 수단을 디스큐(deskew)하기 위한 초기 파라미터값으로 설정하는 디스큐 설정 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 신호측정 방법.
    
17. 청구항 15에 있어서, 상기 위상 편차 측정 단계는 상기 레퍼런스 신호의 진폭이나 기 설정된 진폭으로 진폭값을 고정하는 것을 특징으로 하는 신호측정 방법.
    
18. 청구항 15에 있어서, 상기 위상 편차 측정 단계와 상기 진폭 왜곡 측정 단계는 최소 자승법을 포함하여 연산을 위한 계의 함수가 어떠한 형태인지 알고 있을 경우 해당 함수의 상수값을 추정하는 임의의 방식을 적용하는 것을 특징으로 하는 신호측정 방법.

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