KR101165730B1 - Data retention circuit - Google Patents
Data retention circuit Download PDFInfo
- Publication number
- KR101165730B1 KR101165730B1 KR1020090135163A KR20090135163A KR101165730B1 KR 101165730 B1 KR101165730 B1 KR 101165730B1 KR 1020090135163 A KR1020090135163 A KR 1020090135163A KR 20090135163 A KR20090135163 A KR 20090135163A KR 101165730 B1 KR101165730 B1 KR 101165730B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- node
- voltage
- inverter
- signal
- latch
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/037—Bistable circuits
- H03K3/0372—Bistable circuits of the master-slave type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/01—Details
- H03K3/012—Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/3562—Bistable circuits of the master-slave type
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 슬립 모드(Sleep Mode) 이전 상태의 데이터를 저장하는 기능을 가지는 데이터 리텐션 회로에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로는 제 1 노드 및 제 2 노드에 연결되는 마스터 래치, 제 3 노드 및 제 4 노드에 연결되는 슬래이브 래치, 상기 제 2 노드의 전압이 하이(high)인 경우에 상기 제 1 노드와 상기 제3 노드 사이에 전류 통로를 형성하는 제 1 스위치 및 상기 제 1 노드의 전압이 하이인 경우에 상기 제 2 노드와 상기 제 4 노드 사이에 전류 통로를 형성하는 제 2 스위치를 포함한다.
The present invention relates to a data retention circuit having a function of storing data in a sleep mode pre-sleep state. A data latch circuit according to an embodiment of the present invention includes a master latch connected to a first node and a second node, a slave latch connected to a third node and a fourth node, a voltage of the second node is high, A first switch that forms a current path between the first node and the third node when the voltage of the first node is high and a second switch that forms a current path between the second node and the fourth node when the voltage of the first node is high And a second switch.
Description
본 발명은 마스터-슬래이브 래치(Master-Slave latch)에 대한 것이다.The present invention is directed to a master-slave latch.
최근 들어, 반도체 회로의 집적도가 증가됨에 따라, 누설전류(leakage current)의 증가와 동작 주파수의 상승으로 인해 전력소모가 급격히 증가하였다. 따라서 전력소모를 최소화하기 위한 저전력 회로기술이 요구된다. 저 전력 설계로 가장 많이 사용되는 것이 MTCMOS(Multi-Threshold CMOS)기술이다. 그러나 MTCMOS 기술은 슬립모드에서 전원이 오프 되어 래치에 저장된 내용이 지워진다. 따라서 다시 엑티브 모드로 전환 시 데이터가 복원되지 않는 문제점이 있다.In recent years, as the degree of integration of semiconductor circuits has increased, power consumption has increased sharply due to an increase in leakage current and an increase in operating frequency. Therefore, low power circuit technology is required to minimize power consumption. The most commonly used low power design is MTCMOS (Multi-Threshold CMOS) technology. However, the MTCMOS technology is powered off in sleep mode and the contents stored in the latch are cleared. Therefore, there is a problem that data is not restored when switching to the active mode again.
따라서 슬립모드 전의 데이터를 저장하는 기능을 갖는 리텐션 래치가 별도로 구비되어 슬립모드 전의 데이터를 복원한다. 상기 리텐션 래치에는 슬립모드 시에도 항상 전원이 공급된다.Therefore, a retention latch having a function of storing data before the sleep mode is additionally provided to recover data before the sleep mode. The retention latch is always supplied with power even in the sleep mode.
본 발명의 목적은 집적도를 높이고, 전력 소모를 감소시키는 데이터 리텐션 회로를 제공함에 있다. An object of the present invention is to provide a data retention circuit that increases the degree of integration and reduces power consumption.
본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로는 제 1 노드 및 제 2 노드에 연결되는 마스터 래치; 제 3 노드 및 제 4 노드에 연결되는 슬래이브 래치; 상기 제 2 노드의 전압이 하이(high)인 경우에 상기 제 1 노드와 상기 제3 노드 사이에 전류 통로를 형성하는 제 1 스위치; 및 상기 제 1 노드의 전압이 하이인 경우에 상기 제 2 노드와 상기 제 4 노드 사이에 전류 통로를 형성하는 제 2 스위치를 포함한다.A data retention circuit according to an embodiment of the present invention includes: a master latch connected to a first node and a second node; A slave latch connected to the third node and the fourth node; A first switch forming a current path between the first node and the third node when the voltage of the second node is high; And a second switch that forms a current path between the second node and the fourth node when the voltage at the first node is high.
실시 예로서, 상기 데이터 리텐션 회로는 상기 제 1 노드 및 상기 제 3 노드 사이에 연결되고 상기 제 1 스위치와 직렬 연결되며, 클럭신호에 따라 전류 통로를 형성하는 제 3 스위치; 및 상기 제 2 노드 및 상기 제 4 노드 사이에 연결되고 상기 제 2 스위치와 직렬연결되며, 상기 클럭신호에 따라 전류 통로를 형성하는 제 4 스위치를 더 포함한다.In an embodiment, the data retention circuit includes a third switch connected between the first node and the third node and serially connected with the first switch, the third switch forming a current path in accordance with the clock signal; And a fourth switch connected between the second node and the fourth node and serially connected with the second switch, and forming a current path in accordance with the clock signal.
실시 예로서, 상기 제 1 내지 4 스위치는 MOS 트랜지스터로 구성할 수 있다.As an embodiment, the first to fourth switches may be composed of MOS transistors.
실시 예로서, 상기 데이터 리텐션 회로는 상기 제 3 노드와 연결되며, 입력신호를 반전하여 전달하는 제 1 논리 게이트; 및 상기 제 4 노드와 연결되며, 입력신호를 반전하여 전달하는 제 2 논리 게이트를 포함하는 출력회로를 더 포함할 수 있다.In an embodiment, the data retention circuit includes: a first logic gate connected to the third node for inverting and transmitting an input signal; And an output circuit connected to the fourth node and including a second logic gate inverting and transmitting the input signal.
실시 예로서, 상기 마스터 래치, 상기 제 1 내지 4 스위치 및 상기 출력회로는 제 1 전압을 동작 전압으로 사용하며, 상기 슬래이브 래치는 제 2 전압을 동작 전압으로 사용할 수 있다.As an embodiment, the master latch, the first to fourth switches, and the output circuit may use a first voltage as an operation voltage, and the slave latch may use a second voltage as an operation voltage.
실시 예로서, 상기 제 1 전압의 상태는 엑티브 모드(Active mode) 및 슬립 모드(Sleep Mode) 중 어느 하나이며, 상기 제 2 전압의 상태는 엑티브 모드로 할 수 있다.In an embodiment, the state of the first voltage may be one of an active mode and a sleep mode, and the state of the second voltage may be an active mode.
실시 예로서, 상기 슬래이브 래치 및 상기 출력회로의 상기 제 1 및 2 논리 게이트는 고전압 인버터로 구성할 수 있다.In an embodiment, the slave latch and the first and second logic gates of the output circuit may comprise a high voltage inverter.
본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로에 의하면, 로우 및 하이 신호 중 어떤 신호가 입력되어도 마스터 래치에서 슬래이브 래치로 항상 로우(low)신호가 전달된다. 따라서 전압 차에 의한 전류 형성이 방지되어 전력소모가 감소한다. 더불어 별도의 리텐션 래치를 구비하지 않고도 데이터 저장 및 복원 기능이 제공된다. 따라서 집적도가 향상된다. 또한 상기 별도의 리텐션 래치를 위한 추가적인 신호가 요구되지 않으므로 집적도가 향상된다.According to the data retention circuit according to the embodiment of the present invention, a low signal is always transmitted from the master latch to the slave latch regardless of which of the low and high signals is input. Therefore, current formation due to the voltage difference is prevented and power consumption is reduced. In addition, a data storage and restoration function is provided without a separate retention latch. Therefore, the degree of integration is improved. Further, since no additional signal is required for the separate retention latch, the degree of integration is improved.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, so that those skilled in the art can easily carry out the technical idea of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로(400)를 포함하는 시스템(100)의 블록도이다.1 is a block diagram of a
시스템(100)은 외부 인터페이스를 위한 입출력 전원(Input-Output Power)전압과, 시스템 목적에 맞는 연산 등을 수행하는 로직(logic)을 위한 코어 전원(Core Power)전압을 포함하는 적어도 2개의 전원전압을 사용한다. 그러나 모바일 시스템과 같이 높은 집적도를 요하는 시스템에서는 외부 인터페이스의 핀(pin)의 개수가 적어야 한다. 따라서 외부에서 받을 수 있는 전력은 단일 파워로 제한될 수도 있다. 즉, 제한된 외부 인터페이스 핀의 개수(예를 들면 1개)로 입출력 전원 전압(이하, VDDH 라고 한다.) 및 코어 전원 전압(이하, VDDL 이라고 한다.)을 모두 제공해야 한다.The
상기 시스템(100)은 입출력 전원(IO Power, 110), 전압 조정기(130), 로직(Logic, 140)을 포함한다. The
로직(140)은 복수의 데이터 리텐션 회로(400)을 포함한다.The
입출력 전원(110)은 데이터 리텐션 회로(400)의 슬래이브 래치(220A) 및 전압 조정기(130)에 전력을 공급한다. 전압 조정기(130)를 통해 로직(140)에 공급되는 전원을 코어 전원(Core Power)으로 정의한다. 이때 코어 전원 전압은 VDDL이다.The input /
전압 조정기(130)가 사용되어 입출력 전원(110)으로부터 공급받은 입출력 전원 전압(VDDH)를 코어 전원 전압(VDDL)으로 변환한다. 변환된 코어 전원 전압(VDDL)은 로직(140)에 공급된다. The
로직(140)은 코어 전원 전압(VDDL)을 공급받는다. 로직(140)은 슬립모 드(Sleep Mode, 전원을 공급받지 않는 상태) 또는 엑티브 모드(Active Mode, 전원이 공급받는 상태)를 가질 수 있다. 로직(140)이 동작하는 엑티브 모드 시에, 로직(140)에 코어전원 전압(VDDL)이 공급된다. 로직(140)이 동작하지 않는 슬립모드 시에, 로직(140)에 코어 전원 전압(VDDL)이 공급되지 않는다.
슬래이브 래치(220A)를 제외한 데이터 리텐션 회로(400)는 코어 전원 전압(VDDL)을 공급받는다.The
데이터 리텐션 회로(400)의 슬래이브 래치(220A)는 입출력 전원 전압(VDDH)을 공급받는다. 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로(400)는 슬래이브 래치(220A)에 데이터 리텐션 기능을 제공할 것이다. 슬래이브 래치(220A)는 로직(140)이 슬립 모드로 전환할 때, 로직(140)의 마스터 래치(210)의 데이터를 백업하도록 구성된다. 따라서, 로직(140)이 슬립 모드인 경우에도 슬래이브 래치(220A)에 입출력 전원 전압(VDDH)이 공급되어야 한다. 즉, 슬래이브 래치(220A)는 로직(140)이 엑티브 모드 인지 또는 슬립 모드 인지에 관계없이 엑티브 모드이다.The
슬래이브 래치(220A)가 코어 전원 전압(VDDL)을 공급받는다면, 로직(140)이 슬립 모드일 때 전압조정기(130)가 사용되어야 한다. 따라서 전압조정기(130)에서 추가적인 전력손실이 발생한다. 그러나 도 1 과 같이 슬래이브 래치(220A)가 입출력 전원 전압(VDDH)을 공급받는 경우, 로직(140)이 슬립모드일 때 전압 조정기(130)가 소모하는 추가적인 전력의 손실은 방지된다.If the
도 2 는 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로(200)를 보여주는 회로도이다.2 is a circuit diagram showing a
도 2를 참조하면, 데이터 리텐션 회로(200)는 마스터 래치(210), 슬래이브 래치(220), 연결회로(230)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the
마스터 래치(210)는 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213) 및 제 2 인버터(214)를 구비한다. 슬래이브 래치(220)는 슬래이브 래치(220)의 제 3 인버터(221) 및 제 4 인버터(222)를 구비한다.The
마스터 래치(210)는 입력신호(D)를 슬래이브 래치(220)에 전달한다. 마스터 래치(210)는 피드백(feedback) 구조로 되어 있다. 즉, 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)의 출력신호는 마스터 래치(210)의 제 2 인버터(214)의 입력신호이며, 마스터 래치(210)의 제 2 인버터(214)의 출력신호는 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)의 입력신호이다.The
마스터 래치(210)와 연결된 제 2 노드(212)는 연결회로(230)의 제 1 MOS 트랜지스터(231)의 게이트와 연결된다. 마스터 래치(210)와 연결된 제 1 노드(211)는 연결회로(230)의 제 2 MOS 트랜지스터(232)의 게이트와 연결된다.The
슬래이브 래치(220)는 마스터 래치(210)로부터 신호를 수신한다. 슬래이브 래치(220)는 피드백(feedback) 구조로 되어 있다. 슬래이브 래치(220)의 제 3 인버터(221)의 출력신호는 슬래이브 래치(220)의 제 4 인버터(222)의 입력신호이며, 슬래이브 래치(220)의 제 4 인버터(222)의 출력신호는 슬래이브 래치(220)의 제 3 인버터(221)의 입력신호이다. 슬래이브 래치(220)는 제 3 노드(223) 및 제 4 노드(224)에 연결된다.The
연결회로(230)는 제 1 내지 제 4 MOS 트랜지스터들(231 내지 234)을 포함하 며, 마스터 래치(210)와 슬래이브 래치(220)를 연결한다. 제 1 및 제 3 MOS 트랜지스터(231, 233)는 제 1 노드(211)와 제 3 노드(223) 사이에 연결된다. 예시적으로, 제 1 및 제 3 MOS 트랜지스터(231, 233)는 직렬 연결되어 있다. 제 2 및 제 4 MOS 트랜지스터(232, 234)는 제 2 노드(212)와 제 4 노드(224) 사이에 연결된다. 예시적으로, 제 2 및 제 4 MOS 트랜지스터(232, 234)는 직렬 연결되어 있다.The
따라서 제 1 MOS 트랜지스터(231)는 제 2 노드(212)의 신호가 하이(high)일 때 턴-온 된다. 제 2 MOS 트랜지스터(232)는 제 1 노드(211)의 신호가 하이(high)일 때 턴-온 된다. Therefore, the
제 1 MOS 트랜지스터(231)와 제 3 MOS 트랜지스터(233)가 모두 턴-온 될 때 제 1 노드(211)와 제 3 노드(223)가 연결된다. 그리고 제 2 MOS 트랜지스터(232)와 제 4 MOS 트랜지스터(234)가 모두 턴-온 될 때 제 2 노드(212)와 제 4 노드(224)가 연결된다.The
상기 데이터 리텐션 회로에 각각 공급되는 클럭 펄스 신호 CK1, CK2 또는 CK3와 반전 클럭 펄스 신호 nCK(201)의 위상은 반대이고, 주파수는 동일하다. nCK, CK1에 따라 전송게이트들(201, 215)의 전송경로가 온/오프 된다. nCK가 하이(high)일 때 입력신호(D)가 입력되면 제 2 노드 및 제 1 노드에 신호가 전달된다. CK1이 하이(high)일 때, 마스터 래치(210)의 제 2 인버터(214)의 출력이 마스터 래치의 제 1 인버터(213)의 입력신호로 피드백된다. CK2, CK3가 하이(high)일 때 제 3 MOS 트랜지스터(233)와 제 4 MOS 트랜지스터(234)가 턴-온 된다.The phases of the clock pulse signals CK1, CK2, and CK3 and the inverted clock
도 2의 회로에서, 입력신호(D)가 로우(low)인지 하이(high)인지에 관계없이, 마스터 래치(210)에서 슬래이브 래치(220)에 항상 로우(low) 신호가 전달된다. 이는 도 3 및 도 4 를 참조하여 더 상세하게 설명된다.In the circuit of FIG. 2, a low signal is always delivered from the
도 3 은 도 2의 데이터 리텐션 회로(200)에서 입력신호(D)가 하이(high)인 경우를 보여주는 회로도이다.3 is a circuit diagram showing a case where the input signal D is high in the
도 3을 참조하면, 입력신호(D)는 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)을 통해 제 2 노드(212)로 전달된다. 따라서 제 2 노드(212)의 신호는 하이(high)이다. 그리고 마스터 래치(210)의 제 2 인버터(214)의 출력신호가 제 1 노드(211)에 전달된다. 제 1 노드(211)의 신호는 로우(low)이다. CK1이 하이(high)일 때, 피드백 구조에 의해, 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)의 입력신호는 로우(low)이다. 3, the input signal D is transferred to the
제 1 MOS 트랜지스터(231)의 게이트는 제 2 노드(212)와 연결된다. 제 2 노드(212)의 신호가 하이(high)이므로 제 1 MOS 트랜지스터(231)가 턴-온 된다. 반면, 제 2 MOS 트랜지스터(232)의 게이트는 제 1 노드(211)와 연결된다. 제 1 노드(211)의 신호가 로우(low)이므로 제 2 MOS 트랜지스터(232)는 턴-온 되지 않는다.The gate of the
CK2가 하이(high)일 때 제 3 MOS 트랜지스터(233)가 턴-온 되고 제 1 노드(211)의 로우(low) 신호가 제 3 노드(223)로 전달된다. 제 4 노드(224)의 신호는 슬래이브 래치(220)의 제 4 인버터(222)의 출력단과 연결되므로 하이(high)이다.The
이때, CK3도 하이(high)이므로 제 4 MOS 트랜지스터(234)도 턴-온 된다. 그러나 제 2 MOS 트랜지스터(232)는 턴-온 되지 않으므로 제 2 노드(212)와 제 4 노드(224)는 연결되지 않는다. 제 2 노드(212)와 제 4 노드(224)의 신호는 모두 하 이(high)이나, 슬래이브 래치(220)의 피드백 구조에 의하여 제 4 노드(224)의 신호가 하이(high)가 된다. 마스터 래치(210)에서 슬래이브 래치(220)로 신호가 전달된 결과로 제 4 노드(224)의 신호가 하이(high)인 것은 아니다.At this time, since CK3 is also high, the
도 4 는 도 2의 데이터 리텐션 회로(200)에서 입력신호(D)가 로우(low)인 경우를 보여주는 회로도이다.4 is a circuit diagram showing a case where the input signal D is low in the
도 4 를 참조하면, 입력신호(D)는 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)를 통해 제 2 노드(212)로 전달된다. 따라서 제 2 노드(212)의 신호는 로우(low)이다. 그리고 마스터 래치(210)의 제 2 인버터(214)의 출력신호가 제 1 노드(211)에 전달된다. 제 1 노드(211)의 신호는 하이(high)이다. CK1이 하이(high)일 때, 피드백 구조에 의해, 마스터 래치(210)의 제 1 인버터(213)의 입력신호는 하이(high)이다. 4, the input signal D is transferred to the
제 2 MOS 트랜지스터(232)의 게이트는 제 1 노드(211)와 연결된다. 제 1 노드(211)의 신호가 하이(high)이므로 제 2 MOS 트랜지스터(232)가 턴-온 된다. 반면, 제 1 MOS 트랜지스터(231)의 게이트는 제 2 노드(212)와 연결된다. 제 2 노드(212)의 신호가 로우(low)이므로 제 1 MOS 트랜지스터(231)는 턴-온 되지 않는다.The gate of the
CK3가 하이(high)일 때 제 4 MOS 트랜지스터(234)가 턴-온 된다. 따라서 제 2 노드(212)의 신호 로우(low)가 제 4 노드(224)로 전달된다. When CK3 is high, the
CK2도 하이(high)이므로 제 3 MOS 트랜지스터(233)도 턴-온 된다. 그러나 제 1 MOS 트랜지스터(231)는 턴-온 되지 않으므로 제 1 노드(211)와 제 3 노드(223)는 연결되지 않는다. 제 1 노드(211)와 제 3 노드(223)의 신호는 모두 하이(high)이 나, 슬래이브 래치(220)의 피드백 구조에 의하여 제 3 노드(223)의 신호가 하이(high)가 된다. 마스터 래치(210)에서 슬래이브 래치(220)로 신호가 전달된 결과로 제 3 노드(223)의 신호가 하이(high)인 것은 아니다.Since CK2 is also high, the
도 3 및 도 4를 참조하면, 입력신호가(D) 로우(low) 인지 하이(high) 인지에 관계없이 마스터 래치(210)에서 슬래이브 래치(220)로 전달되는 신호는 항상 로우(low)이다.3 and 4, the signal transmitted from the
도 5는 도 2의 데이터 리텐션 회로(200)에 출력회로(240)가 추가된 데이터 리텐션 회로(400)를 보여주는 회로도이다.5 is a circuit diagram showing a
마스터 래치(210) 및 연결회로(230)는 도 2 를 참조하여 설명된 바와 마찬가지로 구성된다. 따라서 상세한 설명은 생략된다. 슬래이브 래치(220A)는 제 3 노드(223) 및 제 4 노드(224)와 연결되며, 피드백 구조를 갖는다. 슬래이브 래치(220A)는 제 3 고전압 인버터(225) 및 제 4 고전압 인버터(226)를 구비한다. 출력회로(240)는 제 5 고전압 인버터(241) 및 제 6 고전압 인버터(242)를 구비한다.The
따라서 마스터 래치(210), 제 1 내지 제 4 MOS 트랜지스터들(231 내지 234) 및 출력회로(240)는 도 1에 도시된 코어 전원 전압(VDDL)을 공급받는다. 슬래이브 래치(220A)는 도 1에 도시된 입출력 전원 전압(VDDH)을 공급받는다. 입출력 전원 전압(VDDH)는 코어 전원 전압(VDDL)보다 높다.Therefore, the
슬래이브 래치(220A)의 제 3 고전압 인버터(225) 및 제 4 고전압 인버터(226)는 입출력 전원 전압(VDDH)을 공급받으므로 코어 전원 전압(VDDL)보다 높은 전압에서 동작한다. The third
출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241)의 입력단은 슬래이브 래치(220A)의 제 3 고전압 인버터(225)의 출력단에 연결된다. 출력회로(240)의 제 6 고전압 인버터(242)의 입력단은 슬래이브 래치(220A)의 제 4 고전압 인버터(226)의 출력단에 연결된다. 그러므로 출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241) 및 제 6 고전압 인버터(242)의 입력신호의 전압은 입출력 전원 전압(VDDH)이다. The input terminal of the fifth
슬래이브 래치(220A)의 제 3 고전압 인버터(225) 및 제 4 고전압 인버터(226), 출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241) 및 제 6 고전압 인버터(242)는 높은 전압에 의한 스트레스에 의해서 손상되지 않도록 구성된다.The third
한편, 출력회로(240)는 로직(140)에 포함된다. 따라서 출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241) 및 제 6 고전압 인버터(242)의 동작전압은 코어 전원 전압(VDDL)이어야 한다. 도 6 을 참조하여 상세히 설명될 것이다.On the other hand, the
마스터 래치(210), 제 1 내지 4 MOS 트랜지스터(231 내지 234) 및 출력회로(240)가 슬립 모드인 경우에도 슬래이브 래치(220A)는 엑티브 모드를 유지하며 데이터를 저장한다. 코어 전원 전압(VDDL)이 공급되지 않는 경우에도 입출력 전원 전압(VDDH)은 공급된다.The
도 3, 4 와 같이 도 5의 데이터 리텐션 회로(400)는 입력신호(D)에 관계없이 마스터 래치(210)의 로우(low) 신호만 슬래이브 래치(220A)에 전달된다. 마스터 래치(210)의 하이(high) 신호가 슬래이브 래치(220A)로 전달되는 것이 방지되므로, 코어 전원 전압(VDDL)과 입출력 전원 전압(VDDH)의 전압 차에 의한 직류전류 형성을 막는다.The
도 6은 도 5의 출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241) 또는 제 6 고전압 인버터(242)의 회로도이다.FIG. 6 is a circuit diagram of the fifth
도 6 의 인버터(300)는 PMOS 트랜지스터(301) 및 NMOS 트랜지스터(302)를 포함한다. 상기 인버터(300)가 출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241)인 경우 입력신호(S)는 제 3 노드(223)로부터 제공될 것이다. 인버터(300)가 출력회로(240)의 제 6 인버터(242)인 경우 입력신호(S)는 제 4 노드(224)로부터 제공될 것이다. 따라서 입력신호(S)의 전압은 로우(low)일 때 0볼트이며, 하이(high)일 때 VDDH이다.The
출력회로(240)의 제 5 고전압 인버터(241) 및 제 6 고전압 인버터(242)는 코어 전원 전압(VDDL)을 사용한다. 따라서 입력신호(S)가 하이(high)일 때 출력신호(Out)는 접지(303)와 같은 0 볼트이다. 입력신호(S)가 로우(low)일 때 출력신호(Out)는 VDDL이다. 즉, 출력신호(Out)의 전압은 로직(140)이 공급받는 전압범위 내이다.The fifth
본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로에 의하면, 로우 또는 하이 신호 중 어떤 신호가 입력되어도 마스터 래치(210)에서 슬래이브 래치(220)로 로우(low)신호가 전달된다. 또 하이(high)신호는 전달되지 않는다. 따라서 마스터 래치와 슬래이브 래치의 전압차에 의한 전류가 형성되지 않는다. 또 로직(140)이 슬립모드인 경우, 슬래이브 래치(220A)는 입출력 전원(130)을 공급받는다. 따라서 전압 조정기(130)를 사용할 필요가 없어 전압 조정기(130)의 추가 전력손실을 줄일 수 있다. 더불어 별도의 리텐션 래치를 구비하지 않고도 데이터 저장기능이 제공되므로 집적도가 향상된다. 또한, 상기 별도의 리텐션 래치를 위한 추가적인 신호가 요구되지 않으므로 집적도가 향상된다.According to the data retention circuit according to the embodiment of the present invention, a low signal is transmitted from the
한편, 본 발명의 범위 또는 기술적 사상을 벗어나지 않고 본 발명의 구조가 다양하게 수정되거나 변경될 수 있음은 이 분야에 숙련된 자들에게 자명하다. 상술한 내용을 고려하여 볼 때, 만약 본 발명의 수정 및 변경이 아래의 청구항들 및 동등물의 범주 내에 속한다면, 본 발명이 이 발명의 변경 및 수정을 포함하는 것으로 여겨진다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the structure of the present invention without departing from the scope or spirit of the invention. In view of the foregoing, it is intended that the present invention cover the modifications and variations of this invention provided they fall within the scope of the following claims and equivalents.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로를 포함하는 시스템의 블록도이다.1 is a block diagram of a system including a data retention circuit in accordance with an embodiment of the present invention.
도 2 는 본 발명의 실시 예에 따른 데이터 리텐션 회로를 보여주는 회로도이다.2 is a circuit diagram showing a data retention circuit according to an embodiment of the present invention.
도 3 은 도 2의 데이터 리텐션 회로에서 입력신호가 하이(high)인 경우를 보여주는 회로도이다.3 is a circuit diagram showing a case where the input signal is high in the data retention circuit of FIG.
도 4 는 도 2의 데이터 리텐션 회로에서 입력신호가 로우(low)인 경우를 보여주는 회로도이다.4 is a circuit diagram showing a case where the input signal is low in the data retention circuit of FIG.
도 5는 도 2의 데이터 리텐션 회로에 출력회로가 추가된 데이터 리텐션 회로를 보여주는 회로도이다.5 is a circuit diagram showing a data retention circuit to which an output circuit is added to the data retention circuit of FIG.
도 6은 도 5의 출력회로의 제 5 고전압 인버터 또는 제 6 고전압 인버터의 회로도이다.6 is a circuit diagram of the fifth high voltage inverter or the sixth high voltage inverter of the output circuit of FIG.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090135163A KR101165730B1 (en) | 2009-12-31 | 2009-12-31 | Data retention circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090135163A KR101165730B1 (en) | 2009-12-31 | 2009-12-31 | Data retention circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110078372A KR20110078372A (en) | 2011-07-07 |
KR101165730B1 true KR101165730B1 (en) | 2012-07-18 |
Family
ID=44917845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090135163A KR101165730B1 (en) | 2009-12-31 | 2009-12-31 | Data retention circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101165730B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10404240B2 (en) | 2016-01-28 | 2019-09-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device comprising low power retention flip-flop |
US10608615B2 (en) | 2016-01-28 | 2020-03-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device including retention reset flip-flop |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101925566B1 (en) | 2012-06-13 | 2018-12-05 | 삼성전자주식회사 | I/O data retention device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009027701A (en) | 2007-06-20 | 2009-02-05 | Kawasaki Microelectronics Kk | Semiconductor integrated circuit |
-
2009
- 2009-12-31 KR KR1020090135163A patent/KR101165730B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009027701A (en) | 2007-06-20 | 2009-02-05 | Kawasaki Microelectronics Kk | Semiconductor integrated circuit |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10404240B2 (en) | 2016-01-28 | 2019-09-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device comprising low power retention flip-flop |
US10608615B2 (en) | 2016-01-28 | 2020-03-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device including retention reset flip-flop |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110078372A (en) | 2011-07-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7332949B2 (en) | High speed pulse based flip-flop with a scan function and a data retention function | |
US7576582B2 (en) | Low-power clock gating circuit | |
US7649393B2 (en) | Semiconductor integrated circuit having active and sleep modes and non-retention flip-flop that is initialized when switching from sleep mode to active mode | |
US7167017B2 (en) | Isolation cell used as an interface from a circuit portion operable in a power-down mode to a circuit portion in a power-up mode | |
US7743297B2 (en) | Electronic circuit and integrated circuit including scan testing circuit, and power consumption reducing method used for integrated circuit | |
US20080218233A1 (en) | Master-slave type flip-flop circuit and latch circuit | |
CN105191127A (en) | Flip-flop for reducing dynamic power | |
US7956662B2 (en) | Flip-flop circuit with internal level shifter | |
US7908499B2 (en) | Semiconductor integrated circuit comprising master-slave flip-flop and combinational circuit with pseudo-power supply lines | |
KR20040014160A (en) | Master slave flip-flop circuit functioning as edge trigger flip-flop | |
KR20090027042A (en) | Mtcmos flip-flop with a retention ability | |
KR100487654B1 (en) | Low power flip-flop circuit | |
US20090058486A1 (en) | Master-slave circuit and control method of the same | |
WO2014130561A1 (en) | Positive edge preset reset flip-flop with dual-port slave latch | |
US20230084175A1 (en) | Flip-flop, master-slave flip-flop, and operating method thereof | |
US6836175B2 (en) | Semiconductor integrated circuit with sleep memory | |
KR101165730B1 (en) | Data retention circuit | |
US20120114068A1 (en) | Flip-flop including keeper circuit | |
US9755622B2 (en) | Semiconductor integrated circuit, latch circuit, and flip-flop circuit | |
KR102024470B1 (en) | Low Power Flip-Flop | |
JPH1174764A (en) | Latch circuit having voltage level conversion function and flip-flop circuit | |
US9948282B2 (en) | Low-power retention flip-flops | |
JP3033719B2 (en) | Low power semiconductor integrated circuit | |
US11336271B2 (en) | Data holding circuit | |
CN110557102B (en) | Semiconductor device with a semiconductor device having a plurality of semiconductor chips |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150612 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160711 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170712 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |