KR101147497B1 - 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법 - Google Patents
위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법에 관한것으로 상세하게는 광원부와, 광원안정기, 필터부, 검출부, 앰프, A/D컨버터, 조작버튼부, 센서부, 제1 연결부 및 프로브 제어부로 구성되어지는 프로브부와, 제2 연결부와 메인 제어부, 정보표시부, 전원부 및 통신부로 구성되는 메인 장치부로 구성되어 상기 프로브부에서 측정된 인쇄물상의 시료에서 발광되는 특수 스펙트럼을 검출하여 메인 장치부를 통해 측정값과 기준값을 비교하여 표시하고, 상기 프로브부와 메인 장치부의 구성을 이용하여 인쇄물 상의 시료에서 발광되는 특수 파장 스펙트럼을 측정하는 방법으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법에 관한것이다.
발광체, 인쇄물, 특수파장, 근적외선, 측정
Description
본 발명은 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법에 관한것으로 상세하게는 광원부와, 광원안정기, 필터부, 검출부, 앰프, A/D컨버터, 조작버튼부, 센서부, 제1 연결부 및 프로브 제어부로 구성되어지는 프로브부와, 제2 연결부와 메인 제어부, 정보표시부, 전원부 및 통신부로 구성되는 메인 장치부로 구성되어 상기 프로브부에서 측정된 인쇄물상의 시료에서 발광되는 특수 스펙트럼을 검출하여 메인 장치부를 통해 측정값과 기준값을 비교하여 표시하고, 상기 프로브부와 메인 장치부의 구성을 이용하여 인쇄물 상의 시료에서 발광되는 특수 파장 스펙트럼을 측정하는 방법으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법에 관한것이다.
발광체의 특성에 따라 우선 이러한 특수 물질의 여기, 발광 특성을 파장별로 분류하면 자외선 여기-자외선 발광, 자외선 여기-가시광 발광, 자외선 여기-근적외 선 발광, 가시광 여기-가시광 발광, 가시광 여기-근적외선 발광 및 상향전이를 일으키는 근적외선 여기-가시광 발광의 안티 스토크(anti-stokes) 계열로 나눌 수 있으며, 이러한 특수 발광체의 여기, 발광 특성을 보여주는 특성 스펙트럼은 형광광도계라는 분석 장비를 통해서 정확한 측정이 가능하다.
보다 자세하게 형광광도계는 광원으로 제논 램프를 사용하고 검출기에 가시영역에는 광전자증배관을, 근적외선 영역에는 인듐/갈륨/비소 포토다이오드를 사용하여 분광특성을 측정하는 장비이며, 추가적으로 단색화 장치와 구동부, 이들을 제어하는 프로브 제어부가 필요하다.
상기에서 언급한 다양한 특수 발광체는 크게 디스플레이, 조명, 위조방지 등의 분야에서 사용되고 있는데, 이들 중 자외선 여기-가시광 발광, 가시광 여기-근적외선 발광, 근적외선 여기-가시광 발광 물질이 위조방지 분야에서 진위 확인용으로 폭넓게 사용되고 있다. 이중 본 발명에서 제작하여 확인하고자 하는 발광체는 가시광 여기-근적외선 발광 특성을 나타내는 발광체이다.
일반적인 광학분야에서의 근적외선의 범위는 750nm에서 1400nm를 말하지만 학문분야에 그 범위는 달라질 수 있다. 한편 근적외선의 정확한 발광 특성은 앞서 언급한 대로 형광광도계로 측정하는데, 그 규모가 큰 문제로 특수 발광체가 적용되는 제품의 생산단계, 소비단계에서 그 특성 측정이 용이 하지 않은 문제가 있다. 따라서 간편하게 비가시 특수 발광체의 확인이 가능한 소형 장치가 필요한 실정이다.
종래에는 근적외선의 정확한 발광 특성은 앞서 언급한 대로 형광광도계로 측 정하는데, 그 규모가 큰 문제로 특수 발광체가 적용되는 제품의 생산단계, 소비단계에서 그 특성 측정이 용이 하지 않는 문제가 있다.
그리고, 일반적으로 가시광을 발광하는 물질은 자외선 또는 근적외선의 여기 광원만 있으면 육안판단이 가능하며 이것은 곧 휴대용 확인 장치의 제작이 간단함을 의미한다. 하지만 근적외선 발광체의 확인은 정확한 스펙트럼 정보에 기반한 설계, 즉 정확한 여기 스펙트럼과 발광 스펙트럼을 기본으로 광원부와 센서부 그리고 효과적인 적외선 노이즈의 차단을 거친 정확한 설계가 필요한 문제점이 있다.
상기의 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 광원부와, 광원안정기, 필터부, 검출부, 앰프, A/D컨버터, 조작버튼부, 센서부, 제1 연결부 및 프로브 제어부로 구성되어지는 프로브부와, 제2 연결부와 메인 제어부, 정보표시부, 전원부 및 통신부로 구성되는 메인 장치부로 구성되어 상기 프로브부에서 측정된 인쇄물상의 시료에서 발광되는 특수 스펙트럼을 검출하여 메인 장치부를 통해 측정값과 기준값을 비교하여 표시함으로서 결과 재현성을 향상하고 상기 프로브부의 측정감도를 향상시키기 위하여 광원부의 광원이 설치되는 홀을 하측 중심부측으로 집적시켜 다수개의 광원을 이용하여 높은 감도로 시료의 특수 파장 스펙트럼을 검출하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 과제를 해결하기 위하여 본 발명은 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치와 이를 이용한 측정방법에 관한 것으로서 광원부와, 광원안정기, 필터부, 검출부, 앰프, A/D컨버터, 조작버튼부, 센서부, 제1 연결부 및 프로브 제어부로 구성되어지는 프로브부와, 제2 연결부와 메인 제어부, 정보표시부, 전원부 및 통신부로 구성되는 메인 장치부로 구성되어 상기 프로브부에서 측정된 인쇄물상의 시료에서 발광되는 특수 스펙트럼을 검출하여 메인 장치부를 통해 측정값과 기준값을 비교하여 표시하고, 상기 프로브부와 메인 장치부의 구성을 이용하여 인쇄물 상의 시료에서 발광되는 특수 파장 스펙트럼을 측정하는 방법으로 이루어진다.
본 발명은 프로브부와 메인 장치부로 구성되어지고, 시료가 인쇄된 인쇄물의 표면에 프로브부로 빛을 조사하여 인쇄물의 시료에서 발광되어지는 특수파장의 스펙트럼을 검출하므로 시료의 발광체 존재유무의 정확한 검출이 가능하며, 광원부의 구조가 중심측으로 빛을 집중적으로 조사하여 감도를 높여 시료의 스펙트럼을 높은 감도로 측정하여 정확하게 관측할 수 있으며, 고감도 이므로 적은 함량의 시료도 검출 할 수 있는 효과가 있다.
또한, 프로브부의 필터와 발광체 및 검출부의 교체가 쉽도록 구성되어 고장 및 파손등이 일어나면 교체가 쉬운 효과가 있다.
그리고, 광원 개별 제어와 필터 교체의 조합으로 발광 파장의 특성, 즉 파장범위에 대한 정보를 간접적으로 확인할 수 있다.
도 1내지 도 2에 도시된 바와같이 본 발명은 특수파장으로 발광되어지는 시료가 포함된 인쇄물에 특수파장을 송출하여 반송되는 파장을 검출하는 파장검출 장치에 있어서, 외부에서 입력되어지는 시료의 정보를 기존 정보와 비교 분석하여 외부의 장치로 정보를 전송하는 프로브 제어부(11)와, 상기 프로브 제어부와 연결되어 특수 파장의 빛을 발광하여 상기 인쇄물(30)상의 시료에 빛을 조사하는 광원부(12)와, 상기 광원부(12)와 프로브 제어부(11)에 연결되어 광원부(12)의 출력을 일정하게 조절하는 광원안정기(14)와, 상기 광원부(12)에서 발광되어진 빛이 조사되면 상기 인쇄물(30)의 시료에서 발광되어지는 특수파장의 빛을 일정파장 범위만 통과되도록 필터링하는 필터부(40)와, 상기 필터부(40)에서 필터링되어진 파장의 빛을 수신받아 신호를 증폭시키는 앰프(19)로 전송시키는 검출부(13)와, 상기 검출부(13)에서 전송된 신호를 증폭시켜 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D컨버터(18)로 전송하는 앰프(19)와, 상기 앰프(19)와 연결되어 증폭된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 프로브 제어부(11)로 전송하는 A/D컨버터(18)와, 상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 사용자가 사용환경을 조작하는 조작버튼부(16)와, 상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 시료가 인쇄된 인쇄물(30)의 근접여부를 측정하는 센서부(17)와, 상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 외부의 장치에 프로브 제어부(11)의 정보를 전송하는 제1 연결부(15)를 포함하여 구성되는 프로브부(10)와; 상기 프로브부(10)의 제1 연결부(15)와 연결되어지는 제2 연결부(23)와, 상기 제2 연결부(23)와 연결되어 상기 프로브부(10)에서 전송되어지는 정보를 처리하는 메인 제어부(21)와, 상기 메인 제어부(21)와 연결되어 상기 프로브부(10)의 정보를 표시하는 정보표시부(22)와, 상기 메인 제어부(21)에 연결되어 전원을 공급하는 전원부(24)와, 상기 메인 제어부(21)와 연결되어지며, 메인 제어부(21)의 정보신호를 외부의 컴퓨터로 전송하고, 외부의 컴퓨터에서 전송되는 신호를 메인 제어부(21)로 전송하는 통신부(25)를 포함하여 구성되는 메인 장치부(20);를 포함하여 구성되어진다.
이러한 상기 광원부(12)는 발광다이오드 또는 레이저다이오드중 어느 한가지를 사용한다.
그리고, 상기 검출부(13)는 인듐 포토다이오드 또는 갈륨 포토다이오드 또는 비소 포토다이오드중 어느 한가지를 사용한다.
도 3에 도시된 바와같이 또한, 상기 광원부(12)와 검출부(13) 간에는 상단부에서 하단부까지 수직방향으로 투명재질의 관측판(50)이 설치되어 사용자가 인쇄물(30)의 거치위치를 확인 할 수 있다.
그리고, 상기 필터부(40)는 롱패스필터 또는 로우패스필터 또는 밴드패스필터 또는 프리셀렉터 중 어느 한가지를 사용하여 필터링한다.
또한, 상기 검출부(13)에는 검출센서의 열로 인한 노이즈를 제거하기 위한 열전냉각기(17)가 설치한다.
그리고, 상기 광원부(12)에서 발광되어지는 빛은 가시광 또는 적외선 또는 자외선 중 어느 하나가 발광되어진다.
도 4에 도시된 바와같이 또한, 상기 광원부(12)는 평면상 원형의 형상으로 형성되어지며, 하측면 중심을 향해 대각선 방향으로 다수개의 홀(a)이 형성되어 광원(b)이 각각의 홀(a)에 하측면 방향으로 설치되고, 상기 광원(b)에서 조사되어지는 빛이 인쇄부에서 반사되어 중심에 설치된 검출부(13)에서 측정하게된다.
그리고, 상기 홀(a)은 광원(b)의 집적도를 높이기 위하여 백색 아노다이징 또는 백색도장중 어느 한가지 처리가 되어 형성되어진다.
도 6에 도시된 바와같이 본 발명을 이용한 방법은 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용하여 시료를 측정하는 방법에 있어서, 시료가 인쇄되어진 인쇄물(30)의 표면에 프로브부(10)를 근접시켜 센서부(17)를 통해 인쇄물(30)상의 시료 유무 여부를 측정하고, 시료가 감지되면 광원부(12)와 검출부(13)를 동작시키는 감 지단계(S10)와; 상기 감지단계(S10)를 통해 감지되어진 시료상에 광원부(12)를 통해 빛을 조사하는 조사단계(S20)와; 상기 조사단계(S20)를 통해 조사된 빛으로 인해 시료에서 발광되어지는 시료의 특수 파장 스펙트럼을 특수 파장의 신호를 필터부(40)에서 필터링하여 검출부(13)를 통해 검출하는 검출단계(S30)와; 상기 검출단계(S30)에서 측정되어지는 시료의 특수 파장신호를 상기 메인 장치부(20)의 메인 제어부(21)에서 저장되어진 기준시료의 파장과 비교하여 분석하는 비교분석단계(S40)와; 상기 비교분석단계(S40)를 통해 분석되어진 정보를 상기 메인 장치부(20)의 정보표시부(22)로 표시하는 정보표시단계(S50);를 포함하여 이루어진다.
도 7에 도시된 바와같이 이때, 상기 감지단계(S10)에서는 광원부(12)에서 발광되어지는 빛의 보정을 위하여 프로브부(10)의 프로브 제어부(11)에 저장된 
(B1= 시료의 발광신호가 없는 기준값, S= 측정되어진 시료의 발광신호)(식 1)을 통해 기준이 되는 NS값을 계산하고, 광원부(12)에서 발광되어지는 빛의 강도가 변화되면 
(B2'= 시료의 발광신호가 있는 변화값, B2= 시료의 발광신호가 있는 기준값)(식 2)로 보정값(C)을 구하고, 상기 보정값을 이용하여 B1값이 고정되고, B2값이 변동되어질때 NS1값(
(NS1= B1값이 고정되고, B2값이 변동되어질때) (식 3))을 구하고, B1값과 B2값이 변동되어질때에는 NS2값(
(NS2= B1값과 B2값이 변동되어질때)(식 4))을 구하게 된다.
즉 본 발명을 좀더 상세하게 설명하면 다음과 같다.
도 1 내지 도2에 도시된 바와같이 본 발명은 크게 인쇄물(30)과 프로브부(10) 및 메인 장치부(20)로 구성되고, 상기 프로브부(10)에서 시료를 측정하여 메인 장치부(20)로 전송하고, 정보를 메인 장치부(20)에서 표시하도록 이루어진다.
이러한 상기 프로브부(10)는 광원부(12)와, 광원안정기(14), 필터부(40), 검출부(13), 앰프(19), A/D컨버터(18), 조작버튼부(16), 센서부(17), 제1 연결부(15) 및 프로브 제어부(11)로 구성되어진다.
이러한 상기 프로브 제어부(11)는 외부에서 입력되어지는 시료의 정보를 기존 정보와 비교 분석하여 외부의 장치로 정보를 전송하게된다.
도 4에 도시된 바와같이 상기 광원부(12)는 특수 파장의 빛을 발광하여 상기 인쇄물(30)상의 시료에 빛을 조사하도록 구성되어지며, 평면상 원형의 형상으로 형성되어지며, 하측면 중심을 향해 대각선 방향으로 다수개의 홀(a)이 형성되어 광원(b)이 각각의 홀(a)에 하측면 방향으로 설치되고, 광원(b)으로는 발광다이오드 또는 레이저 다이오드중 어느 한가지를 사용하고, 상기 홀(a)의 표면에는 백색 아노다이징 또는 백색도장 중 어느 한가지 처리가 되어진다,
상기 광원안정기(14)는 상기 광원부(12)와 프로브 제어부(11)에 연결되어 광원부(12)의 출력을 일정하게 조절한다.
상기 필터부(40)는 광원부(12)에서 발광되어진 빛이 조사되면 상기 인쇄물의 시료에서 발광되어지는 특수파장의 빛을 일정파장 범위만 통과되도록 필터링하며, 롱패스필터 또는 로우패스필터 또는 밴드패스필터 또는 프리셀렉터 중 어느 한가지를 사용하여 필터링을 하게된다.
상기 검출부는 필터부(40)에서 필터링되어진 파장의 빛을 수신받아 신호를 증폭시키는 앰프(19)로 전송시키며, 인듐 포토다이오드 또는 갈륨 포토다이오드 또는 비소 포토다이오드중 어느 한가지를 검출센서로 사용하고, 검출센서의 열로 인한 노이즈를 제거하기 위해 검출부(13)에 열전냉각기(17)를 설치하게 된다.
상기 앰프는 상기 검출부(13)에서 전송된 신호를 증폭시켜 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D컨버터(18)로 전송하게된다.
상기 A/D컨버터는 앰프(19)와 연결되어 증폭된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 프로브 제어부(11)로 전송하게된다.
상기 조작버튼부(16)는 상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 사용자가 사용환경을 조작하게된다.
상기 센서부(17)는 상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 시료가 인쇄된 인쇄물(30)의 근접여부를 측정한다.
상기 제1 연결부(15)는 프로브 제어부(11)에 연결되어 외부의 장치에 프로브 제어부(11)의 정보를 전송하게 된다.
그리고, 상기 메인 장치부(20)는 제2 연결부(23)와 메인 제어부(21), 정보표시부(22), 전원부(24) 및 통신부(25)로 구성되어진다.
상기 제2 연결부(23)는 상기 프로브부(10)의 제1 연결부(15)와 연결되어 정보를 전송받으며, 상기 메인 제어부는 상기 제2 연결부와 연결되어 상기 프로브 부(10)에서 전송되어지는 정보를 처리한다.
상기 정보표시부(22)는 상기 메인 제어부(21)와 연결되어 메인 제어부(21)에서 전송되어지는 프로브부(10)의 정보를 표시한다.
상기 전원부(24)는 상기 메인 제어부(21)에 연결되어 전원을 공급한다.
상기 통신부(25)는 상기 메인 제어부(21)와 연결되어지며, 메인 제어부(21)의 정보신호를 외부의 컴퓨터로 전송하고, 외부의 컴퓨터에서 전송되는 신호를 메인 제어부(21)로 전송 하게된다.
도 6내지 도 7에 도시된 바와같이 상기의 본 발명을 이용하여 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용하여 시료를 측정하는 방법은 감지단계(S10)를 통해 시료가 인쇄되어진 인쇄물(30)의 표면에 프로브부(10)를 근접시켜 센서부(17)를 통해 인쇄물(30)상의 시료 유무 여부를 측정하고, 시료가 감지되면 광원부(12)와 검출부(13)를 동작시키게 되며, 조사단계(S20)를 통해 상기 감지단계(S10)에서 감지되어진 시료상에 광원부(12)를 통해 빛을 조사하며, 검출단계(S30)를 통해 상기 조사단계(S20)를 통해 조사된 빛으로 인해 시료에서 발광되어지는 특수 파장의 신호를 필터부(40)에서 필터링하여 검출부(13)를 통해 시료의 특수 파장 신호를 감지하고, 비교분석단계(S40)를 통해 상기 검출단계(S30)에서 측정되어지는 시료의 특수 파장신호를 상기 메인 장치부(20)의 메인 제어부(21)에서 저장되어진 기준시료의 파장과 비교하여 분석하며, 정보표시단계(S50)를 통해 상기 비교분석단계(S40)에서 분석되어진 정보를 상기 메인 장치부(20)의 정보표시부(22)로 표시게된다.
이때, 감지단계(S10)에서는 프로브 제어부(11)에 보정식이 내장되어 광원 부(12)의 광원(b)이 작동되어짐에 따라 광원의 휘도가 감소되는 현상을 보정하게된다.
도 7에 도시된 바와같이 이러한 보정방법을 예를 들어 설명하면 B1값(시료의 발광신호가 없는 기준값)이 210이고, B2값(시료의 발광신호가 있는 기준값)이 500이고, 프로브부로 측정한 인쇄물 시료의 측정값이 400이면 B2값이 정상적으로 500이 나올경우 
(식 1)을 통해 계산하여 
이라는 결과식에 의해 190이라는 결과값을 얻게된다.
그러나 광원부(12)의 광원(b)에서 발광되어지는 빛이 감쇄현상이 발생하게 되면 검출부(13)에서 검출되어지는 B1값 또는 B2값이 변화되어지므로 이러한 경우에는 기준값보다 B1값과 B2값이 낮아지게 된다.
이로인해 결과값이 달라지게 되는데 이러한 경우 보정식 
(식 2)를 이용하여 변화되어지는 B2값을 B2'값으로 설정하고, 계산하면, 
(식 2)라는 보정 값을 얻게된다.
이 보정값을 통해 B1값이 고정되고, B2값이 변동되어질때의 NS1값과 B1값과 B2값이 변동되어질때의 NS2값을 계산할수 있다.
이러한 NS1값은 
(식 3)을 이용하여 계산하게되며, 이 는, 
으로 계산결과가 나타나게 된다.
상기 NS2값은 
(식 4)를 이용하여 계산하게 되며, 이는 
이라는 결과가 나타나게된다.
이처럼 광원부(12) 광원(b)의 빛이 감쇄되어지는 현상을 상기 보정값 C를 통해 보정하여 출력 결과값은 감쇄되기 이전의 결과값과 동일하게 표시되어지도록 한다.
도 1은 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치의 프로브부 구성도,
도 2는 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치의 메인 장치부 구성도,
도 3은 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치의 프로브부를 나타낸 사시도,
도 4는 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치의 광원부의 광원의 구성을 나타낸 절개 사시도,
도 5는 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치의 메인 장치부의 구성을 나타낸 사시도,
도 6은 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용한 측정방법의 순서도,
도 7은 본 발명에 따른 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용한 측정방법의 관원의 보정을 하는 방법을 나타낸 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10 : 프로브부 20 : 메인 장치부
30 : 인쇄물 40 : 필터부
50 : 관측판
Claims (11)
- 특수파장으로 발광되어지는 시료가 포함된 인쇄물에 특수파장을 송출하여 반송되는 파장을 인식하여 위조여부를 검출하는 발광체 인식 장치에 있어서,외부에서 입력되어지는 시료의 정보를 기존 정보와 비교 분석하여 외부의 장치로 정보를 전송하는 프로브 제어부(11)와,상기 프로브 제어부와 연결되어 특수 파장의 빛을 발광하여 상기 인쇄물(30)상의 시료에 빛을 조사하는 광원부(12)와,상기 광원부(12)와 프로브 제어부(11)에 연결되어 광원부(12)의 출력을 일정하게 조절하는 광원안정기(14)와,상기 광원부(12)에서 발광되어진 빛이 조사되면 상기 인쇄물(30)의 시료에서 발광되어지는 특수파장의 빛을 일정파장 범위만 통과되도록 필터링하는 필터부(40)와,상기 필터부(40)에서 필터링되어진 파장의 빛을 수신받아 신호를 증폭시키는 앰프(19)로 전송시키는 검출부(13)와,상기 검출부(13)에서 전송된 신호를 증폭시켜 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D컨버터(18)로 전송하는 앰프(19)와,상기 앰프(19)와 연결되어 증폭된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 프로브 제어부(11)로 전송하는 A/D컨버터(18)와,상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 사용자가 사용환경을 조작하는 조 작버튼부(16)와,상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 시료가 인쇄된 인쇄물(30)의 근접여부를 측정하는 센서부(17)와,상기 프로브 제어부(11)에 연결되어 외부의 장치에 프로브 제어부(11)의 정보를 전송하는 제1 연결부(15)를 포함하여 구성되는 프로브부(10)와;상기 프로브부(10)의 제1 연결부(15)와 연결되어지는 제2 연결부(23)와,상기 제2 연결부(23)와 연결되어 상기 프로브부(10)에서 전송되어지는 정보를 처리하는 메인 제어부(21)와,상기 메인 제어부(21)와 연결되어 상기 프로브부(10)의 정보를 표시하는 정보표시부(22)와,상기 메인 제어부(21)에 연결되어 전원을 공급하는 전원부(24)와,상기 메인 제어부(21)와 연결되어지며, 메인 제어부(21)의 정보신호를 외부의 컴퓨터로 전송하고, 외부의 컴퓨터에서 전송되는 신호를 메인 제어부(21)로 전송하는 통신부(25)를 포함하여 구성되는 메인 장치부(20);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 광원부(12)는 발광다이오드 또는 레이저다이오드 중 어느 한가지를 사용하는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 검출부(13)는 인듐 포토다이오드 또는 갈륨 포토다이오드 또는 비소 포토다이오드 중 어느 한가지를 검출센서로 사용하는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 광원부(12)와 검출부(13) 간에는 상단부에서 하단부까지 수직방향으로 투명재질의 관측판(50)이 설치되어 사용자가 인쇄물(30)의 거치위치를 확인 할 수 있는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 필터부(40)는 롱패스필터, 로우패스필터, 밴드패스필터 또는 프리셀렉터 중 어느 한가지를 사용하여 필터링하는 것을 특징으로 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 검출부(13)에는 검출센서의 열로 인한 노이즈를 제거하기 위한 열전냉각기(17)가 설치되는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 광원부(12)에서 발광되어지는 빛은 가시광 또는 적외선 또는 자외선 중 어느 하나가 발광되어지는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 광원부(12)는 평면상 원형의 형상으로 형성되어지며, 하측면 중심을 향해 대각선 방향으로 다수개의 홀(a)이 형성되어 광원이 각각의 홀(a)에 하측면 방향으로 설치되고, 상기 광원에서 조사되어지는 빛이 인쇄부에서 반사되어 중심에 설치된 검출부에서 측정하는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 제 8항에 있어서,상기 홀(a)은 광원의 집적도를 높이기 위하여 백색 아노다이징 또는 백색도장 중 어느 한가지 처리가 되어 형성되어지는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치.
- 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용하여 시료를 측정하는 방법에 있어서,시료가 인쇄되어진 인쇄물(30)의 표면에 프로브부(10)를 근접시켜 센서부(17)를 통해 인쇄물(30)상의 시료 유무 여부를 측정하고, 시료가 감지되면 광원부(12)와 검출부(13)를 동작시키는 감지단계(S10)와;상기 감지단계(S10)를 통해 감지되어진 시료상에 광원부(12)를 통해 빛을 조사하는 조사단계(S20)와;상기 조사단계(S20)를 통해 조사된 빛으로 인해 시료에서 발광되어지는 시료의 특수 파장 스펙트럼을 특수 파장의 신호를 필터부(40)에서 필터링하여 검출부(13)를 통해 검출하는 검출단계(S30)와;상기 검출단계(S30)에서 측정되어지는 시료의 특수 파장신호를 메인 장치부(20)의 메인 제어부(21)에서 저장되어진 기준시료의 파장과 비교하여 분석하는 비교분석단계(S40)와;상기 비교분석단계(S40)를 통해 분석되어진 정보를 상기 메인 장치부(20)의 정보표시부(22)로 표시하는 정보표시단계(S50);를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용한 측정방법.
- 제 10항에 있어서,상기 감지단계(S10)에서는 광원부(12)에서 발광되어지는 빛의 보정을 위하여 프로브부(10)의 프로브 제어부(11)에 저장된(B1= 시료의 발광신호가 없는 기준값, S= 측정되어진 시료의 발광신호)(식 1)을 통해 기준이 되는 NS값을 계산하고, 광원부(12)에서 발광되어지는 빛의 강도가 변화되면
(B2'= 시료의 발광신호가 있는 변화값, B2= 시료의 발광신호가 있는 기준값)(식 2)로 보정값(C)을 구하고, 상기 보정값을 이용하여 B1값이 고정되고, B2값이 변동되어질때 NS1값(
(NS1= B1값이 고정되고, B2값이 변동되어질때) (식 3))을 구하고, B1값과 B2값이 변동되어질때에는 NS2값(
(NS2= B1값과 B2값이 변동되어질때)(식 4))을 구하는 것을 특징으로 하는 위조감별용 근적외선 발광체 인식 장치를 이용한 측정방법.
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