KR101128146B1 - Printed Circuit Board - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판은, 인쇄회로기판의 소정의 영역에 다수의 패턴부가 구비되며, 상기 패턴부는 다수의 전극 패턴 및 상기 전극 패턴과 동일한 중심을 갖는 다수의 관통비아가 포함되며, 상기 전극 패턴 및 상기 전극 패턴에 대응되는 관통비아가 각각 하나의 패턴 심볼을 구성하고, 상기 패턴부를 구성하는 다수의 패턴 심볼은 납땜 특성 중 젖음성을 평가하는 젖음성 평가 영역 및 납 차오름성을 평가 하기 위한 납 차오름성 평가 영역으로 구성 됨을 특징으로 한다.In a printed circuit board according to an embodiment of the present invention, a plurality of pattern portions are provided in a predetermined region of the printed circuit board, and the pattern portion includes a plurality of electrode patterns and a plurality of through vias having the same center as the electrode pattern. The electrode patterns and the through vias corresponding to the electrode patterns each constitute one pattern symbol, and the plurality of pattern symbols constituting the pattern part evaluate the wettability evaluation region and lead filling resistance to evaluate wettability among soldering properties. It is characterized by consisting of a lead filling assessment area for.

이와 같은 본 발명에 의하면, 삽입실장 납땜 공정 상태 및 납땜 특성을 보다 정량적으로 판단할 수 있으며, 기존의 납땜 공정에서의 플럭스 도포, 예열, 납땜 등의 부분적인 공정 불안 요인을 판단하고, 상기 공정 불안 요인에 대해 인쇄회로기판 상의 위치에 따는 정도를 확인할 수 있다는 장점이 있다.According to the present invention as described above, it is possible to more quantitatively determine the soldering process state and the soldering characteristics of the insert-mount soldering process, and to determine the partial process anxiety factors such as flux coating, preheating, and soldering in the conventional soldering process, and the process anxiety. There is an advantage in that the degree to which the factor depends on the position on the printed circuit board can be confirmed.

Description

인쇄회로기판{Printed Circuit Board}Printed Circuit Board

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판에 대한 사시도.1 is a perspective view of a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 인쇄회로기판의 패턴부에 대한 정면도.FIG. 2 is a front view of a pattern portion of the printed circuit board shown in FIG. 1.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판의 패턴부의 정면도 및 단면도.3A and 3B are front and cross-sectional views of a pattern portion of a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 인쇄회로기판 110, 210 : 패턴부100: printed circuit board 110, 210: pattern portion

112, 212 : 전극 패턴 114, 214 : 관통비아112, 212: electrode patterns 114, 214: through vias

116, 216 : 패턴 심볼 120, 220 : 젖음성 평가 영역116, 216: pattern symbol 120, 220: wettability evaluation area

130, 230 : 납 차오름성 평가 영역130, 230: lead filling evaluation area

본 발명은 인쇄회로기판에 관한 것으로, 인쇄회로기판의 납땜 특성을 검사하기 위해 패턴부가 구비된 인쇄회로기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board, and more particularly, to a printed circuit board having a pattern portion for inspecting soldering characteristics of the printed circuit board.

인쇄회로기판(Printed Circuit Board, PCB)은 집적회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 납땜되는 얇은 판을 말하는 것으로, 상기 인쇄회로기판 상에 는 다양한 전기적 부품들이 양면 또는 다층으로 실장된다.A printed circuit board (PCB) refers to a thin plate on which electrical components such as integrated circuits, resistors, or switches are soldered, and various electrical components are mounted on both sides of the printed circuit board.

여기서, 상기 인쇄회로기판에 전기적 부품들이 실장되는 공정은 표면 실장과 삽입 실장으로 구분되는데, 이 중 상기 삽입 실장은 인쇄회로기판의 관통비아(via)에 삽입 실장용 부품을 삽입 장착하고, 상기 부품이 삽입 장착된 인쇄회로기판에 플럭스(flux)를 도포하며, 이후 납땜 장비(wave 장비)의 예열 구간을 지나 납땜 구간에서 부품과 인쇄회로기판은 솔더에 의해 접합되어, 전기회로적으로 특성을 갖게 되는 공정을 거치게 된다.Here, the process of mounting the electrical components on the printed circuit board is divided into a surface mount and an insertion mount, wherein the insertion mount inserts and inserts the component for mounting mounting in the through-via of the printed circuit board, the component Flux is applied to the inserted printed circuit board, and then, after preheating of the wave equipment, the parts and the printed circuit board are joined by solder, and have electrical characteristics. It goes through the process.

여기서, 상기 납땜 공정은 인쇄회로기판과 부품을 전기적으로 접속시켜 주는 공정으로, 부품이 실장된 인쇄회로기판의 신뢰성에 큰 영향을 준다.Here, the soldering process is a process for electrically connecting the printed circuit board and the component, and has a great influence on the reliability of the printed circuit board on which the component is mounted.

상기 납땜 공정에 의해 형성되는 납땜부의 형태는 전체적으로 전자회로의 신뢰성을 좌우하는 중요한 요소로서, 납땜부의 형태에 대한 검사는 제품의 성능, 신뢰성 및 품질향상 측면에서 매우 중요한 역할을 한다.The shape of the soldering portion formed by the soldering process is an important factor in determining the reliability of the electronic circuit as a whole, the inspection of the shape of the soldering portion plays a very important role in terms of improving the performance, reliability and quality of the product.

또한, 상기 납땜 공정에서 솔더의 납땜 특성 중 신뢰성은 솔더의 차오름성과 퍼짐성(젖음성) 등으로 판단할 수 있는데, 솔더의 차오름성과 퍼짐성을 정량적으로 판단할 수 있게 됨에 의해, 상기 삽입 실장 공정의 공정 조건 최적화 및 납땜 공정 이후의 인쇄회로기판 제품의 품질 및 신뢰성을 판단할 수 있다.In addition, the reliability of the soldering characteristics of the solder in the soldering process can be determined by the solder filling and spreading (wetting), etc., the process conditions of the insertion mounting process by being able to quantitatively determine the filling and spreading of the solder The quality and reliability of printed circuit board products after optimization and soldering processes can be determined.

상기 솔더의 차오름성은 관통비아에 솔더가 차오른 정도에 의해 판단하고, 퍼짐성은 관통비아를 통해 차오른 솔더가 전극 패턴의 납땜 정도로 판단한다.The filling of the solder is determined by the degree of solder filling in the through via, and the spreading of the solder is determined by the soldering degree of the electrode pattern through the through via.

종래의 경우 납땜 공정에 사용되는 솔더가 납(Pb)을 포함한 솔더를 사용하였으며, 이와 같이 납을 포함한 솔더의 경우 납땜 공정에서 솔더의 차오름성, 퍼짐성 등과 같은 납땜 특성이 우수하여 공정 제어가 용이하였다.In the conventional case, the solder used in the soldering process used a solder containing lead (Pb), and in the case of the solder containing lead, the soldering process such as the filling properties and spreadability of the solder was excellent in the soldering process, so that the process control was easy. .

그러나, 최근 환경 규약으로 상기 솔더에 납을 사용할 수 없게 되면서 무납 솔더를 적용해야 하는데, 상기 무납 솔더는 기존의 솔더에 비해 납땜 공정 조건의 완충영역이 매우 적어 공정 조건 설정이 어렵고, 공정을 설정한 이후에도 지속적인 관리가 필요하다는 단점이 있다. However, due to the recent environmental regulations, lead-free solder has to be applied to the solder and lead-free solder has to be applied. There is a disadvantage that it requires continuous management afterwards.

특히, 무납 솔더를 사용할 경우 납의 차오름성 및 퍼짐성이 중요한 삽입 실장 공정에서 문제가 된다.In particular, the use of lead-free solder is a problem in the insertion and mounting process where lead filling and spreading are important.

다시 말하면, 상기 무납 솔더는 기존의 솔더에 비해 납땜 특성이 취약하여, 납땜 공정에서의 여러가지 인자들을 매우 정확히 제어해야 하고, 수치적인 평가를 위해서는 납땜 부위의 파괴 강도를 측정하여야 하는데, 이 경우 강도 측정 장비가 고가라는 단점 뿐 아니라, 제작된 인쇄회로기판 부품이 파괴될 수 있다는 단점이 있다.In other words, the lead-free solder has a weak soldering property compared to the conventional solder, so that the various factors in the soldering process must be controlled very accurately, and the breakdown strength of the soldering site must be measured for the numerical evaluation. In addition to the disadvantages of expensive equipment, there are disadvantages in that the manufactured printed circuit board parts may be destroyed.

본 발명은 인쇄회로기판의 가장자리 영역에 납땜 특성 평가를 위한 소정의 패턴부가 형성됨으로써, 양면 또는 다층 인쇄회로기판의 삽입 실장에서의 납땜 특성 중 차오름성, 퍼짐성을 평가하여 삽입 실장 공정의 적정성 및 납땜 특성을 판정할 수 있는 인쇄회로기판을 제공함에 그 목적이 있다.According to the present invention, a predetermined pattern portion for evaluating soldering characteristics is formed in an edge region of a printed circuit board, thereby evaluating riseability and spreadability of soldering characteristics in an insert mounting of a double-sided or multi-layered printed circuit board, thereby determining the appropriateness and soldering of an insert mounting process. It is an object of the present invention to provide a printed circuit board capable of determining characteristics.

본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판은, 인쇄회로기판의 소정의 영역에 다수의 패턴부가 구비되며, 상기 패턴부는 다수의 전극 패턴 및 상기 전극 패턴과 동 일한 중심을 갖는 다수의 관통비아가 포함되어 구성됨을 특징으로 한다.In a printed circuit board according to an embodiment of the present invention, a plurality of pattern portions are provided in a predetermined region of the printed circuit board, and the pattern portion includes a plurality of electrode patterns and a plurality of through vias having the same center as the electrode patterns. It is characterized in that the configuration.

여기서, 상기 소정의 영역은 인쇄회로기판의 가장자리 영역이고, 상기 전극 패턴 및 상기 전극 패턴에 대응되는 관통비아가 각각 하나의 패턴 심볼을 구성함을 특징으로 한다.Here, the predetermined area is an edge area of the printed circuit board, and the electrode pattern and the through via corresponding to the electrode pattern each constitute one pattern symbol.

또한, 상기 전극패턴은 대응되는 관통비아의 외곽부에 형성되며, 상기 전극 패턴 및 이에 대응하는 관통비아의 중심이 동일하고, 상기 패턴부를 구성하는 다수의 패턴 심볼은 납땜 특성 중 젖음성을 평가하는 젖음성 평가 영역 및 납 차오름성을 평가 하기 위한 납 차오름성 평가 영역으로 구성 됨을 특징으로 한다.In addition, the electrode pattern is formed on the outer periphery of the corresponding through via, the center of the electrode pattern and the corresponding through via is the same, and a plurality of pattern symbols constituting the pattern portion wettability to evaluate the wettability of the soldering characteristics It is characterized by consisting of an evaluation area and a lead filling evaluation area for evaluating lead filling properties.

또한, 상기 젖음성 평가 영역의 패턴 심볼을 구성하는 전극 패턴은 적어도 두 가지 크기 이상으로 구성되며, 상기 전극 패턴에 대응되는 관통비아는 동일한 크기로 구성됨을 특징으로 한다.In addition, the electrode pattern constituting the pattern symbol of the wettability evaluation region is characterized in that at least two sizes or more, the through via corresponding to the electrode pattern is characterized in that the same size.

또한, 상기 납 차오름성 평가 영역의 패턴 심볼을 구성하는 관통비아는 적어도 두 가지 크기 이상으로 구성되며, 상기 관통비아에 대응되는 전극 패턴은 상기 관통비아 보다 큰 지름 크기로 구성됨을 특징으로 한다.The through vias constituting the pattern symbol of the lead filling evaluation region may have at least two sizes, and an electrode pattern corresponding to the through vias may have a diameter larger than that of the through vias.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판에 대한 사시도이다.1 is a perspective view of a printed circuit board according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판(100)은 인쇄회로기판의 가장자리 영역에 납땜 특성 평가를 위한 패턴부(110)가 형성되어 있음을 특징으로 하며, 상기 패턴부(110)는 도 1의 경우 4개가 구비된 것이 도시되어 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. As shown in FIG. 1, the printed circuit board 100 according to the embodiment of the present invention is characterized in that a pattern portion 110 for evaluating soldering characteristics is formed in an edge region of the printed circuit board. In the case of FIG. 1, four 110 are illustrated, but the present disclosure is not limited thereto.

일반적으로 인쇄회로기판에 대한 납땜 공정은 플럭스 도포, 예열, 납땜 등의 공정이 장비적인 문제 또는 기타 환경적인 문제로 인해 하나의 인쇄회로기판에 공정 조건을 일정하게 유지하기 어렵기 때문에 인쇄회로기판 제품의 전반적인 품질에 부정적인 영향을 미치게 된다.In general, the soldering process for printed circuit boards is difficult because the process such as flux application, preheating, soldering, etc. is difficult to maintain the process conditions on one printed circuit board due to equipment problems or other environmental problems. This will negatively affect the overall quality of the product.

본 발명은 상기 문제점을 극복하기 위해 인쇄회로기판(100)의 가장자리 영역에 도시된 바와 같은 패턴부(110)가 형성되어 있으며, 상기 패턴부(110)가 인쇄회로기판(100)의 여러 영역에 다수 구비됨으로써 각 위치에서의 납땜 공정 특성을 판단할 수 있고, 부분적인 공정 조절이 가능하여 최종적으로 인쇄회로기판의 품질을 향상시킬 수 있게 되는 것이다.In order to overcome the above problem, the present invention provides a pattern portion 110 as shown in the edge region of the printed circuit board 100, and the pattern portion 110 is formed in various regions of the printed circuit board 100. It is possible to determine the soldering process characteristics at each position by providing a plurality, it is possible to partially control the process to finally improve the quality of the printed circuit board.

즉, 본 발명은 양면 또는 다층 인쇄회로 기판의 삽입실장에서의 납땜 특성을 평가하기 위한 것으로, 특히 젖음성과 차오름성을 평가하기 위함이다. 일반적인 삽입 실장 공정에서 사용되는 양산용 인쇄회로기판(100)을 사용하여 추가로 납땜특성평가를 위한 패턴부(110)를 형성함에 의해 삽입실장 공정의 적정성 및 납땜특성을 판정할 수 있게 되는 것이다.That is, the present invention is for evaluating the soldering characteristics of the double-sided or multi-layer printed circuit board in the mounting of the mounting, in particular to evaluate the wettability and the filling properties. It is possible to determine the adequacy and soldering characteristics of the insertion-mounting process by further forming the pattern portion 110 for the evaluation of the soldering characteristics using the mass-produced printed circuit board 100 used in the general insertion-mounting process.

여기서, 상기 패턴부(110)는 다수의 전극 패턴 및 상기 전극 패턴과 동일한 중심을 갖는 다수의 관통비아가 포함되어 구성된다.The pattern unit 110 includes a plurality of electrode patterns and a plurality of through vias having the same center as the electrode patterns.

상기 패턴부의 구체적인 구성 및 동작에 대해서는 도 2 및 도 3을 통해 설명하도록 한다.A detailed configuration and operation of the pattern unit will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

도 2는 도 1에 도시된 인쇄회로기판의 패턴부에 대한 정면도이다.FIG. 2 is a front view of a pattern portion of the printed circuit board shown in FIG. 1.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 패턴부(110)는 인쇄회로기판의 가장자리 영역에 형성되는 것으로, 전극 패턴(112) 및 관통비아(114)로 구성 된다. As shown in FIG. 2, the pattern unit 110 is formed at an edge region of the printed circuit board and includes an electrode pattern 112 and a through via 114.

상기 전극패턴(112)은 원형으로 관통비아(114) 보다 크게 형성되고, 상기 관통비아(114)은 원형으로 전극 패턴(112) 보다 작게 형성되며, 상기 각각의 전극 패턴(112)과 관통비아(114)은 그 중심이 동일하다.The electrode pattern 112 is formed to be larger than the through via 114 in a circular shape, and the through via 114 is formed to be smaller than the electrode pattern 112 in a circular shape, and each of the electrode patterns 112 and the through via ( 114 is identical in center.

여기서, 상기 각각의 전극패턴(112) 및 이에 대응하는 관통비아(114)를 패턴 심볼(116)이라 칭한다. Here, each of the electrode patterns 112 and corresponding through vias 114 is called a pattern symbol 116.

또한, 상기 납땜특성 평가를 위한 패턴부(110)는 납땜 특성 중 젖음성을 평가하기 위한 젖음성 평가 영역(120) 및 납 차오름성을 평가 하기 위한 납 차오름성 평가 영역(130)으로 구성 된다.  In addition, the pattern unit 110 for evaluating the soldering characteristics is composed of a wettability evaluation region 120 for evaluating the wettability of the soldering properties and a lead filling evaluation region 130 for evaluating lead filling properties.

단, 상기 젖음성 평가 영역(120)과 납 차오름성 평가 영역(130)의 전극패턴(112)과 관통비아(114) 즉, 패턴 심볼(116)은 따로 구분되어 있는 것은 아니다.However, the electrode pattern 112 and the through via 114, that is, the pattern symbol 116 of the wettability evaluation region 120 and the lead filling evaluation region 130, are not separated.

상기 젖음성 평가 영역(120)의 전극 패턴(112)은 젖음성을 평가하기 위해 적어도 두 가지 크기 이상으로 구성되며, 이에 반해 상기 전극 패턴(112)에 대응되는 상기 관통비아(114)는 동일한 크기로 구성된다. The electrode pattern 112 of the wettability evaluation region 120 has at least two sizes to evaluate the wettability, whereas the through vias 114 corresponding to the electrode pattern 112 have the same size. do.

또한, 납 차오름성 평가 영역(130)의 관통비아(114)은 납 차오름 성을 평가 하기 위해 적어도 두 가지 크기 이상으로 관통비아(114)가 구성되고, 상기 관통비아(114)에 대응되는 전극 패턴은(112) 상기 관통비아(114) 보다 큰 크기로 구성된다.In addition, the through vias 114 of the lead filling evaluation region 130 have at least two through vias 114 formed in order to evaluate the lead filling properties, and the electrode patterns corresponding to the through vias 114. Silver 112 has a larger size than the through via 114.

여기서, 납 차오름성 평가 영역(130)에서 관통비아(114)의 지름 크기는 일 예로가장 작은 관통비아(114)을 0.1㎜로 하고 필요에 따라 0.05㎜, 또는 0.1㎜ 단위로 최대 지름 0.5㎜로 하여 적어도 두개 이상을 구성한다. Here, the diameter of the through via 114 in the lead filling evaluation region 130 is, for example, the smallest through via 114 is 0.1 mm, and if necessary, the diameter is 0.05 mm, or 0.1 mm units, with a maximum diameter of 0.5 mm. To configure at least two.

또한, 전극패턴(112)의 지름 크기는 납 차오름성 평가 영역(130)의 가장 큰 관통비아(114)의 지름보다 0.4㎜ 크게 동일한 크기로 각 관통비아(114)의 외부에 구성된다.In addition, the size of the diameter of the electrode pattern 112 is 0.4 mm larger than the diameter of the largest through via 114 of the lead filling evaluation region 130 is configured on the outside of each through via 114.

상기 납 차오름성 평가 영역(130)이 형성된 인쇄회로기판의 패턴부(110)는 납땜 실장 공정에서 상기 관통비아(114)의 지름 크기에 따라 납의 차오름 성을 수치적으로 판단 할 수 있게 된다.The pattern portion 110 of the printed circuit board on which the lead filling evaluation region 130 is formed may be numerically determined according to the diameter of the lead via 114 in the soldering mounting process.

또한, 젖음성 평가 영역(120)에서 관통비아(114)의 지름 크기는 가장 작은 관통비아(114)를 0.1㎜ 이상으로 동일한 크기로 적어도 두개 이상 구성하고, 전극패턴(112)의 지름 크기는 상기 관통비아(114)의 지름 보다 적어도 0.2㎜크게 하여, 0.1㎜ 단위로 적어도 두개 이상을 구성한다.  In addition, the diameter of the through via 114 in the wettability evaluation region 120 is configured by at least two of the smallest through vias 114 having the same size as 0.1 mm or more, and the diameter size of the electrode pattern 112 is the through size. It is made at least 0.2 mm larger than the diameter of the via 114, and comprises at least 2 or more in 0.1 mm units.

상기 젖음성 평가 영역(120)이 형성된 인쇄회로기판의 패턴부(110)는 납땜 실장 공정에서 전극 패턴(112)의 크기에 따라 납의 젖음 특성을 수치적으로 판단 할 수 있게 된다.The pattern part 110 of the printed circuit board on which the wettability evaluation region 120 is formed may numerically determine the wettability characteristic of lead according to the size of the electrode pattern 112 in the soldering mounting process.

솔더의 젖음성은 삽입실장 공정의 납땜 공정 이후, 솔더와 직접 접촉한 인쇄회로기판 면의 반대면, 즉 솔더와 직접 접촉하지 않은 면에서의 전극패턴(112) 상의 솔더 퍼짐 면적으로 판단하며, 납 차오름 성은 관통비아(114)에 솔더가 차오른 정도로 판단 한다.The wettability of the solder is determined by the solder spreading area on the electrode pattern 112 on the opposite side of the printed circuit board surface that is in direct contact with the solder, that is, the surface that is not in direct contact with the solder, after the soldering process of the insert mounting process. It is determined that the solder fills the through via 114.

이러한 납땜 특성은 재료, 공정 조건 등에 영향을 받으며, 재료는 인쇄회로 기판 및 부품의 도금 특성 및 형상, 플럭스 및 솔더 특성 등이 있고, 공정 조건은 플럭스 도포 방법, 예비 가열 조건, 솔더 온도 및 솔더 분사 속도, 솔더와의 실제 접촉 시간 및 각도 등 여러 가지 인자 들에 의해 결정된다.  These soldering characteristics are influenced by materials, process conditions, etc., and materials include plating characteristics and shapes, fluxes and solder characteristics of printed circuit boards and components, and process conditions include flux coating method, preheating conditions, solder temperature, and solder spraying. It depends on several factors, including speed, actual contact time and angle with the solder.

최종 납땜 공정의 평가는 인쇄회로기판에서 솔더의 젖음성 및 납 차오름성, 그리고 납량, 솔더 접합부의 형상, 아웃한 전극과의 브릿지(bridge - 전기적 기계적 연결상태) 유무 등이 있다. Evaluation of the final soldering process includes the wettability and lead filling of the solder on the printed circuit board, and the amount of lead, the shape of the solder joint, and the presence of a bridge (electro-mechanical connection) to the out electrode.

본 발명은 납땜 공정 이후의 인쇄회로기판 제품의 신뢰성에 크게 영향을 주는 솔더의 젖음성과 차오름성을 정량적으로 판단하여, 납땜 공정 중 공정의 품질을 지속적으로 제어하기 위한 것으로, 이를 위해 도시된 바와 같이 인쇄회로기판의 가장자리 영역에 납땜특성평가를 위한 다수의 패턴부(110)가 구비됨을 특징으로 한다. The present invention is to quantitatively determine the wetting and filling of solder, which greatly affects the reliability of a printed circuit board product after the soldering process, and to continuously control the quality of the soldering process. A plurality of pattern parts 110 for evaluating soldering characteristics are provided in the edge region of the printed circuit board.

단, 도 2에 도시된 패턴부의 경우 그 내부에 각각 4개의 전극패턴(112) 및 관통비아(114)가 구비되어 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 상기 전극패턴(112) 및 관통비아(114)의 수를 늘려 납땜특성에 대한 보다 세밀한 평가를 가능하도록 할 수도 있다.However, in the case of the pattern unit illustrated in FIG. 2, four electrode patterns 112 and through vias 114 are provided therein, but are not limited thereto. The electrode pattern 112 and the through vias 114 are not limited thereto. Increasing the number of can also allow a more detailed assessment of the soldering properties.

도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 의한 인쇄회로기판의 패턴부에 대한 정면도 및 단면도이다.3A and 3B are front and cross-sectional views of a pattern portion of a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

도 3a 및 도 3b를 참조하여 본 발명의 실시예에 의한 패턴부의 동작을 설명하도록 한다. An operation of the pattern unit according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3A and 3B.

납땜 특성 중 젖음성은 삽입실장 공정의 납땜 공정 이후, 솔더와 직접 접촉 한 인쇄회로기판 면의 반대면, 즉 솔더와 직접 접촉하지 않은 면에서의 전극패턴(212) 상의 솔더 퍼짐 면적으로 판단하며, 납땜 특성 중 차오름 성은 관통비아(214)의 크기에 따른 솔더의 차오름 성으로 판단 한다. The wettability of the soldering characteristics is determined by the solder spreading area on the electrode pattern 212 on the opposite side of the printed circuit board surface that is in direct contact with the solder, that is, the surface that is not in direct contact with the solder, after the soldering process of the soldering process. Among the characteristics, the filling property is determined as the filling property of the solder according to the size of the through via 214.

이를 위해 본 발명에서는 도시된 바와 같이 삽입 실장 공정에 사용되는 기존 인쇄회로기판에 추가적으로 납땜특성평가를 위한 패턴부(210)를 형성한다. To this end, in the present invention, as shown in the drawing, a pattern portion 210 for soldering property evaluation is additionally formed on an existing printed circuit board used in an insertion process.

상기 패턴부는 젖음성 평가 영역(220)과 납 차오름성 평가 영역(230)으로 구성되며, 상기 젖음성 평가 영역(220)과 납 차오름성 평가 영역(230)에 관통비아(214)의 지름을 200㎛, 300㎛, 400㎛ 크기로 각 3개씩 형성하고, 전극패턴(212)의 지름을 400㎛ ~700㎛ 까지 100㎛로 형성한다.The pattern part may include a wettability evaluation region 220 and a lead filling evaluation region 230. The diameter of the through-via 214 may be 200 μm in the wettability evaluation region 220 and the lead filling evaluation region 230. Three pieces each having a size of 300 µm and 400 µm are formed, and the diameters of the electrode patterns 212 are formed to 100 µm up to 400 µm to 700 µm.

납땜공정의 젖음성 평가 영역(220)은 도시된 바와 같이 각각 다른 지름을 가지고 구성된 관통비아(214) 및 전극패턴(212)으로 이루어진 패턴 심볼(216) (가)(나)(다)와 패턴 심볼(라)(마)(바), 패턴 심볼(사)(아)(자) 를 통해 이루어진다.  The wettability evaluation region 220 of the soldering process includes a pattern symbol 216 (a) (b) and a pattern symbol composed of a through via 214 and an electrode pattern 212 each having a different diameter as shown. (D) through e) and f) through pattern symbols (h) and (h).

솔더의 젖음성은 전극패턴(212)과 관통비아(214)의 차이, 즉 관통비아(214) 외곽에 구비된 전극 패턴(212)의 크기가 작을 수록 유리하다. The wettability of the solder is advantageous as the difference between the electrode pattern 212 and the through via 214, that is, the smaller the size of the electrode pattern 212 provided outside the through via 214.

패턴 심볼(가)는 관통비아의 지름 200㎛, 전극 패턴의 지름 600㎛로 관통비아 주변의 전극 패턴은 200㎛로 형성된다. 패턴 심볼 (나)은 관통비아 지름 200㎛, 전극 패턴 500㎛로 관통비아 주변의 전극 패턴은 150㎛형성된다. 패턴 심볼 (다)은 관통비아 지름 200㎛, 전극 패턴 400㎛로 관통비아 주변의 전극 패턴은 100㎛형성된다. The pattern symbol (a) has a diameter of 200 mu m of the through via and 600 mu m of the electrode pattern. The electrode pattern around the through via is 200 mu m. The pattern symbol (b) has a through via diameter of 200 mu m and an electrode pattern 500 mu m, and an electrode pattern around the through via is 150 mu m. The pattern symbol (C) has a through via diameter of 200 mu m and an electrode pattern of 400 mu m, and an electrode pattern around the through via is formed at 100 mu m.

신뢰성 있는 고 품질의 납땜 공정이 진행되었다면, 패턴 심볼(가)에서 패턴 심 볼(다)의 100㎛, 150㎛, 200㎛의 전극 패턴이 솔더로 완전히 납땜이 이루어 진다. If a reliable high quality soldering process is performed, the electrode pattern of 100 µm, 150 µm and 200 µm of the pattern symbol (a) is completely soldered with the solder at the pattern symbol (a).

여기서 납땜 공정의 젖음성 평가는 패턴 심볼 (가), (나), (다)의 순서로 평가된다. 패턴 심볼(가)의 전극에 솔더가 완전히 납땜이 되었다면, 납땜 공정에서의 젖음성은 200㎛의 젖음 특성을 갖는다고 판단 할 수 있으며, 패턴 심볼 (가)의 전극에는 솔더가 완전히 납땜 되지 않고, 패턴 심볼 (나)의 전극은 완전히 납땜 되었을 경우, 젖음성은 150㎛~200㎛의 젖음 특성을 갖는다고 판단 할 수 있다. 만약 높은 신뢰성을 갖는 인쇄회로기판 납땜 공정이 필요하다면 패턴 심볼(가)의 전극 패턴이 솔더로 완전히 납땜 되는 납땜 공정 조건을 설정해야 한다.Here, the wettability evaluation of the soldering process is evaluated in the order of pattern symbols (a), (b) and (c). If the solder is completely soldered to the electrode of the pattern symbol (a), the wettability in the soldering process may be determined to have a wetting characteristic of 200㎛, the solder is not completely soldered to the electrode of the pattern symbol (a), the pattern When the electrode of the symbol (b) is completely soldered, the wettability may be determined to have a wettability of 150 μm to 200 μm. If a highly reliable printed circuit board soldering process is required, the soldering process conditions for the electrode pattern of the pattern symbol (a) are completely soldered with solder should be set.

상기의 내용에서와 동일하게 패턴 심볼 (라), (마), (바)를 젖음성 평가에 사용하며, 패턴 심볼(사), (아), (자)도 상기 내용과 같이 젖음성 평가에 사용한다.  As in the above description, the pattern symbols (D), (E) and (F) are used for the wettability evaluation, and the pattern symbols (G), (H) and (I) are also used for the wettability evaluation as described above. .

또한, 납땜공정의 납 차오름성 평가 영역(5)은 패턴 심볼(가), (라), (사)와, 패턴 심볼(나)(마)(아), 패턴 심볼(다)(바)(차)로 구성된다.  In addition, the lead filling evaluation region 5 of the soldering step includes pattern symbols (a), (d), (g), pattern symbols (b) (e) (h), and pattern symbols (c) (f) ( Tea).

상기 패턴 심볼(가), (라), (사)에서 납땜공정의 조건은 패턴 심볼(가), (라), (사)의 관통비아에 납 차오름성을 확인하여 판단한다. In the pattern symbols (a), (d), and (g), the conditions of the soldering process are determined by checking lead filling properties in the through vias of the pattern symbols (a), (d) and (d).

패턴 심볼(가)의 관통비아에 완전히 납이 차오른 경우 Φ200㎛의 납 차오름 특성을 갖는다고 할 수 있으며, 패턴 심볼(가)는 완전히 납이 차오르지 않고 패턴 심볼(라)의 관통비아에 납이 완전히 차오른 경우, 납 차오름 특성은 Φ200㎛~Φ300㎛의 수준을 갖는다고 할 수 있다. When lead is completely filled in the through via of the pattern symbol (a), it can be said to have a lead filling characteristic of Φ200㎛. The pattern symbol (a) is not completely filled in lead and lead is formed in the through via of the pattern symbol (d). When fully loaded, the lead filling properties can be said to have a level of Φ 200 μm to Φ 300 μm.

상기의 내용과 동일하게 패턴 심볼(나)(마)(아)와, 패턴 심볼(다)(바)(자) 을 사용하여 납 차오름 특성을 평가한다. In the same manner as described above, the lead-carrying characteristics are evaluated by using the pattern symbols b) e) and the pattern symbols c) f).

납의 젖음 특성은 납이 관통비아를 통해 충분히 차오른 후, 전극 패턴으로 젖음이 시작되는 관계로 솔더의 젖음성 특성과 납 차오름성 특성은 독립적인 특성은 아니다. The wettability of lead is not independent because the wettability and the lead filling properties of the solder are not independent since lead is sufficiently filled through the through-via and then wetting begins with the electrode pattern.

상기 납 차오름성은 일반적으로 관통비아의 크기가 클 경우 유리하다. 따라서, 납 차오름이 가장 어려운 패턴 심볼 (가), (나), (다)에서 패턴 심볼 (사), (아), (자) 보다 솔더의 젖음이 완전히 일어나기 어렵다. The lead fillability is generally advantageous when the size of the through via is large. Therefore, in the pattern symbols (a), (b) and (c), where lead filling is most difficult, wetting of the solder is less likely to occur than the pattern symbols (a), (a) and (c).

만약 납 차오름성이 패턴 심볼(나)를 만족하나 관통 비아 크기가 패턴 심볼(나)보다 큰 패턴 심볼(라)를 만족하지 못한 경우는 플럭스 도포 공정에 문제가 있다고 판단할 수 있다. If the lead filling degree satisfies the pattern symbol (B) but does not satisfy the pattern symbol (D) having a larger through-via size than the pattern symbol (B), it may be determined that there is a problem in the flux coating process.

따라서, 플럭스 도포 공정의 조정으로 납땜 공정을 개선 할 수 있다. Therefore, the soldering process can be improved by adjusting the flux coating process.

또한, 젖음 특성이 패턴 심볼(가), (나), (라), (다), (마), (사), (바), (아), (자)의 순서로 평가되고, 높은 신뢰도를 요구 한다면 솔더의 젖음성과 차오름성이 패턴 심볼(가)를 완전히 만족해야 하며, 패턴 심볼(자)를 만족하지 못한 경우 심각한 신뢰성의 문제를 야기한다. In addition, the wettability characteristics are evaluated in the order of pattern symbols (a), (b), (d), (c), (e), (4), (f), (h), and (c). If wetting is required, the wettability and the filling of the solder must fully satisfy the pattern symbol. If the pattern symbol is not satisfied, serious reliability problems may occur.

또한, 젖음 특성은 동일한 전극패턴 크기를 갖는 패턴 심볼(라)와 패턴 심볼(가)에서 다를 수 있다. 이는 패턴 심볼(가)의 경우 관통비아 크기가 200㎛로 패턴 심볼(라)의 300㎛ 보다 작기 때문에 납 차오름성에 의한 영향이다. In addition, the wettability may be different between the pattern symbol D and the pattern symbol A having the same electrode pattern size. This is due to the lead filling ability since the through via size is 200 μm in the case of the pattern symbol A, which is smaller than 300 μm of the pattern symbol D.

이러한 특성은 패턴 심볼(나)와 패턴 심볼(마), 그러고 패턴 심볼(다)와 패턴심볼(바) 등에서도 발생한다. 그러나, 만약 패턴 심볼(가)의 젖음 특성이 패턴 심볼(라)의 젖음 특성 보다 좋다면, 이는 플럭스의 도포 상태 및 전극패턴 상의 이물질 또는, 예열부족 현상에 의한 영향으로, 지속적으로 패턴 심볼(가)(나)(다) 군이 패턴 심볼(라)(마)(바) 군보다 젖음 특성이 좋은 경우, 플럭스 도포 공정 및 예열 구간과 납땜 온도와 시간을 확인하여 납땜 공정을 개선 할 수 있다.This characteristic also occurs in the pattern symbol (b) and the pattern symbol (e), and also in the pattern symbol (c) and the pattern symbol (bar). However, if the wettability characteristic of the pattern symbol (a) is better than the wettability characteristic of the pattern symbol (d), the pattern symbol (a) is continuously affected by the application state of the flux and foreign matter on the electrode pattern or the effect of the preheating phenomenon. If the) (b) (c) group has better wettability than the pattern symbol (d) (d) (e) group, it is possible to improve the soldering process by checking the flux coating process, preheating section, soldering temperature and time.

상기에 설명한 바와 같이 납땜 공정의 특성 평가는 최종 인쇄회로기판 제품의 납땜공정 신뢰수준을 정하고, 원하는 패턴 심볼의 젖음성과 납 차오름성을 만족하는지를 판단하여 납땜공정을 지속적으로 관리 할 수 있다.   As described above, the evaluation of the characteristics of the soldering process can continuously manage the soldering process by determining the reliability level of the soldering process of the final printed circuit board product and determining whether the desired pattern symbol satisfies the wettability and lead filling resistance.

또한, 상기 관통비아 크기를 50㎛ 단위로 제공하는 경우에는, 납 차오름성 특성을 보다 세분화하여 정량적 평가를 진행 할 수도 있다. In addition, when the through via size is provided in a unit of 50 μm, the lead filling property may be further subdivided to quantitatively evaluate.

이와 같은 본 발명에 의하면, 삽입실장 납땜 공정 상태 및 납땜 특성을 보다 정량적으로 판단할 수 있으며, 기존의 납땜 공정에서의 플럭스 도포, 예열, 납땜 등의 부분적인 공정 불안 요인을 판단하고, 상기 공정 불안 요인에 대해 인쇄회로기판 상의 위치에 따는 정도를 확인할 수 있다는 장점이 있다.According to the present invention as described above, it is possible to more quantitatively determine the soldering process state and the soldering characteristics of the insert-mount soldering process, and to determine the partial process anxiety factors such as flux coating, preheating, and soldering in the conventional soldering process, and the process anxiety. There is an advantage in that the degree to which the factor depends on the position on the printed circuit board can be confirmed.

Claims (7)

인쇄회로기판의 소정의 영역에 다수의 패턴부가 구비되며,A plurality of pattern parts are provided in a predetermined area of the printed circuit board, 상기 패턴부는 다수의 전극 패턴 및 상기 전극 패턴과 동일한 중심을 갖는 다수의 관통비아를 포함하고,The pattern portion includes a plurality of electrode patterns and a plurality of through vias having the same center as the electrode pattern. 상기 전극 패턴 및 상기 전극 패턴에 대응되는 관통비아가 각각 하나의 패턴 심볼을 구성하며,Each of the electrode pattern and the through via corresponding to the electrode pattern constitutes one pattern symbol, 상기 패턴부를 구성하는 다수의 패턴 심볼은 납땜 특성 중 젖음성을 평가하는 젖음성 평가 영역 및 납 차오름성을 평가 하기 위한 납 차오름성 평가 영역으로 구성되며,A plurality of pattern symbols constituting the pattern portion is composed of a wetness evaluation region for evaluating the wettability of the soldering properties and a lead charge evaluation region for evaluating the lead filling properties, 상기 젖음성 평가 영역의 패턴 심볼을 구성하는 전극 패턴은 적어도 두 가지 크기 이상으로 구성되고, 상기 전극 패턴에 대응되는 관통비아는 동일한 크기로 구성되며,The electrode pattern constituting the pattern symbol of the wettability evaluation region is formed of at least two sizes, the through vias corresponding to the electrode pattern are configured of the same size, 상기 납 차오름성 평가 영역의 패턴 심볼을 구성하는 관통비아는 적어도 두 가지 크기 이상으로 구성되며, 상기 관통비아에 대응되는 전극 패턴은 상기 관통비아 보다 큰 지름 크기로구성됨을 특징으로 하는 인쇄회로기판.The through via constituting the pattern symbol of the lead filling evaluation region is formed of at least two sizes, and the electrode pattern corresponding to the through via has a larger diameter size than the through via. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소정의 영역은 인쇄회로기판의 가장자리 영역임을 특징으로 하는 인쇄회로기판.The predetermined area is a printed circuit board, characterized in that the edge area of the printed circuit board. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전극패턴은 상기 전극패턴에 대응되는 관통비아의 외곽부에 형성되며, 상기 전극 패턴 및 이에 대응하는 관통비아의 중심이 동일함을 특징으로 하는 인쇄회로기판.The electrode pattern is formed on the outer periphery of the through via corresponding to the electrode pattern, the printed circuit board, characterized in that the center of the electrode pattern and the corresponding through via is the same. 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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