KR101125008B1 - Downward type deposition source and deposition apparatus having the same - Google Patents
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- 230000008021 deposition Effects 0.000 title claims description 59
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 89
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 82
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 82
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 33
- 230000006698 induction Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 17
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 17
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 20
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 52
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 7
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 3
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/243—Crucibles for source material
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/26—Vacuum evaporation by resistance or inductive heating of the source
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
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- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
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- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
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- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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Abstract
본 발명은, 본체와, 이 본체 내에 구비되고 증착물질을 수용하되 개구된 상부에는 밀폐를 위한 커버가 결합되고 하부에는 다공판으로 된 분사구가 형성된 도가니와, 이 도가니의 중간높이에서 도가니를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되는 제1코일 및, 이 제1코일의 아래에서 상기 도가니의 분사구를 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되는 제2코일을 포함하는 하향식 증발원과 이를 구비한 증착장치에 관한 것으로, 본 발명에 의하면 적어도 하나의 증발원을 증착장치의 챔버의 상부에 배치하여 분자선이 아래로 공급될 수 있도록 하고서 고주파 유도가열을 이용함으로써, 대면적 기판에 형성되는 박막의 균일도를 확보하고 소스의 가열시간을 단축할 수 있어 저비용의 박막제조가 가능하게 되는 효과가 있게 된다. The present invention includes a main body, a crucible provided in the main body and containing a vapor deposition material in the upper part of the upper part of which has a cover for sealing and an opening made of a porous plate at the lower part thereof, and surrounding the crucible at a middle height of the crucible. A top-down evaporation source comprising a first coil disposed therein and a second coil under which the high frequency induction current is applied, and a second coil under which the high frequency induction current is applied. According to the present invention, by placing at least one evaporation source on the upper part of the chamber of the vapor deposition apparatus so that the molecular beams can be supplied downward, by using high frequency induction heating to ensure the uniformity of the thin film formed on the large area substrate Since the heating time of the source can be shortened, there is an effect of enabling a low-cost thin film production.
Description
본 발명은 고주파 유도가열을 이용하는 하향식 증발원과 이를 구비한 증착장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 증발원을 챔버의 상부에 배치하여 분자선이 아래로 공급될 수 있도록 하고서 고주파 유도가열을 이용함으로써, 대면적 기판에 형성되는 박막의 균일도를 확보하고 소스(source)의 가열시간을 단축할 수 있어 저비용의 박막제조가 가능하게 되는 하향식 증발원과 이를 구비한 증착장치에 관한 것이다. The present invention relates to a top-down evaporation source using high frequency induction heating and a deposition apparatus having the same, and more particularly, by placing the evaporation source on the upper part of the chamber so that molecular beams can be supplied downward, and using high frequency induction heating, a large area The present invention relates to a top-down evaporation source and a deposition apparatus having the same, which enables securing a uniformity of a thin film formed on a substrate and shortening a heating time of a source, thereby enabling a low cost thin film production.
일반적으로, 증발원이란 물리적 증착을 위해 물질을 증기화시키는 소스를 뜻하는 것으로, 크게 가열을 이용한 열 증발원과 운동량 전달에 의해 증기화시키는 스퍼터링 증발원 그리고 아크에 의해 증기를 발생시키는 아크 증발원으로 나눌 수 있다. 또, 이들 중 열 증발원에는 대표적으로 저항가열 증발원과 전자빔 증발원이 있는데, 저항가열 증발원이란 저항이 비교적 큰 가열원에 전류를 흘려 가열시킴으로써 그 안에 담긴 증발물을 증기화시키는 것으로, 이를 이용하면 융점이 낮고 반응이 낮은 금속의 경우는 비교적 용이하게 증발이 가능하며 높은 순도를 가진 박막 을 손쉽게 형성시킬 수 있다.In general, an evaporation source refers to a source for vaporizing a material for physical vapor deposition, and can be broadly divided into a thermal evaporation source using heating, a sputtering evaporation source vaporizing by momentum transfer, and an arc evaporation source generating steam by an arc. Among these, the thermal evaporation source typically includes a resistance heating evaporation source and an electron beam evaporation source. A resistance heating evaporation source is a vaporization of evaporates contained therein by flowing a current through a heating source having a relatively high resistance, and using it, has a low melting point. Low-reaction metals can be evaporated relatively easily and can easily form thin films with high purity.
이러한 증발원을 이용한 증착장치는 각종 전자부품의 박막 증착에 사용되고 있으며, 특히 반도체, 엘씨디(LCD), 유기전계발광소자표시장치, 태양전지 등의 박막 형성에 주로 사용되고 있다. A vapor deposition apparatus using such an evaporation source is used for thin film deposition of various electronic components, and is particularly used for thin film formation of semiconductors, LCDs, organic light emitting display devices, and solar cells.
한편, 태양광을 이용하는 태양전지는 결정질 실리콘 태양전지, 비정질 실리콘 태양전지, CIGS 태양전지, GaAs 태양전지, CdTe 태양전지 등이 있으며, 이 중 CIGS 태양전지에 형성되는 화합물 반도체인 CIGS는 1eV 이상의 직접 천이형 에너지 밴드 갭을 가지고 있으며, 반도체 중에서 가장 높은 광흡수계수를 가질 뿐만 아니라, 전기 광학적으로 매우 안정하여 태양전지의 광흡수층으로 매우 이상적인 소재이기 때문에 다른 종류의 태양 전지의 비해 고효율성 및 내구성의 장점을 가지고 있다.On the other hand, photovoltaic solar cells include crystalline silicon solar cells, amorphous silicon solar cells, CIGS solar cells, GaAs solar cells, and CdTe solar cells. Among them, CIGS, a compound semiconductor formed in CIGS solar cells, is directly above 1 eV. It has a transition type energy band gap, has the highest light absorption coefficient among semiconductors, and is very optically stable, making it an ideal material for the light absorption layer of solar cells. Have
이와 같은, CIGS 태양전지는 일반적으로 몰리브덴(Mo)으로 코팅된 유리기판 상에 CIGS 즉 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga), 셀레늄(Se)의 화합물을 혼합하여 증착하고, 그 위에 황화카드뮴(CdS), 산화아연(ZnO), 플루오르화마그네슘(MgF2)을 순차적으로 형성한 후, 알루미늄(Al) 전극을 플루오르화마그네슘의 상부에 마지막으로 형성함으로써 구성된다. 여기서, CIGS 태양전지의 효율을 결정하는 가장 중요한 인자는 CIGS 막의 품질이며, 고효율을 가지는 CIGS 막을 형성하기 위해서는 통상적으로 증착이 사용되게 된다.Such a CIGS solar cell is generally deposited by mixing a compound of CIGS, that is, copper (Cu), indium (In), gallium (Ga), selenium (Se) on a glass substrate coated with molybdenum (Mo), and Cadmium sulfide (CdS), zinc oxide (ZnO), and magnesium fluoride (MgF 2) are sequentially formed thereon, and then aluminum (Al) electrodes are finally formed on top of magnesium fluoride. Here, the most important factor for determining the efficiency of the CIGS solar cell is the quality of the CIGS film, and deposition is generally used to form a CIGS film having high efficiency.
종래의 증착장치에 의하면, CIGS 막을 형성하는 경우에 구리, 인듐, 갈륨 및 셀레늄을 동시에 증발원을 이용하여 증발시키고, 증발된 가스를 기판의 하부에서 기판을 향해 분사함으로써, CIGS 막을 기판에 형성시키도록 되어 있다. According to the conventional vapor deposition apparatus, when forming a CIGS film, copper, indium, gallium and selenium are simultaneously evaporated using an evaporation source, and the evaporated gas is sprayed from the bottom of the substrate toward the substrate to form the CIGS film on the substrate. It is.
도 1은 종래의 상향식 증착장치를 개략적으로 도시한 단면도로서, 이에 도시된 바와 같이 진공의 챔버(10) 내 상부에는 기판(40)이 설치되고 하부에는 증발원(30)이 설치되어, 이 증발원(30)에 담긴 증착물질을 가열하여 증착물질이 증발되도록 함으로써, 기체가 고진공에서 상승하여 기판(40)에 닿아 응고되면서 기판(40) 상에 박막을 형성하게 되어 있다. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating a conventional bottom-up deposition apparatus. As shown therein, a
최근 들어 대면적 기판에 대한 증착이 널리 사용되고 있는데, 이러한 경우에 종래의 상향식 증착장치를 사용하게 되면 기판이 증발원의 위에 고정됨에 따라 기판의 무게에 의해 처지는 현상이 발생하여 균일한 박막을 형성시킬 수 없다고 하는 치명적인 문제점이 있었다. Recently, deposition on large-area substrates has been widely used. In this case, if a conventional bottom-up deposition apparatus is used, a phenomenon that sagging by the weight of the substrate may occur as the substrate is fixed on an evaporation source, thereby forming a uniform thin film. There was a fatal problem.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 증발원을 챔버의 상부에 배치하여 분자선이 아래로 공급될 수 있도록 하고서 고주파 유도가열을 이용함으로써, 대면적 기판에 형성되는 박막의 균일도를 확보하고 소스의 가열시간을 단축할 수 있어 저비용의 박막제조가 가능하게 되는 하향식 증발원과 이를 구비한 증착장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다. Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, by arranging the evaporation source in the upper portion of the chamber so that the molecular beam can be supplied down, by using high frequency induction heating, to ensure the uniformity of the thin film formed on the large-area substrate And it is an object of the present invention to provide a top-down evaporation source and a deposition apparatus having the same that can reduce the heating time of the source to enable a low-cost thin film production.
상기와 같은 목적을 성취하기 위해 본 발명에 따른 하향식 증발원은, 본체와, 이 본체 내에 구비되고 증착물질을 수용하되 개구된 상부에는 밀폐를 위한 커버가 결합되고 하부에는 다공판으로 된 분사구가 형성된 도가니와, 이 도가니의 중간높이에서 도가니를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되는 제1코일 및, 이 제1코일의 아래에서 상기 도가니의 분사구를 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되는 제2코일을 포함하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, the top-down evaporation source according to the present invention includes a main body, a crucible having an injection hole formed in the main body and receiving the deposition material, and having a cover for sealing at the upper part of the opening and a porous plate at the lower part thereof. And a first coil disposed to surround the crucible at a middle height of the crucible and to which a high frequency induction current is applied, and a second coil disposed below the first coil to surround the injection port of the crucible and to which a high frequency induction current is applied. It characterized in that it comprises a coil.
또한, 본 발명에 따른 증착장치는, 진공의 챔버와, 이 챔버 내의 하부에 마련되어 기판을 지지하는 기판지지대와, 상기 챔버 내 상부에 적어도 일부가 삽입되어 챔버 내에 증착가스를 제공하는 적어도 하나의 증발원을 포함하는 증착장치에 있어서, 상기 증발원은, 본체와, 이 본체 내에 구비되고 증착물질을 수용하되 개구된 상부에는 밀폐를 위한 커버가 결합되고 하부에는 다공판으로 된 분사구가 형성된 도가니와, 이 도가니의 중간높이에서 도가니를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되는 제1코일 및, 이 제1코일의 아래에서 상기 도가니의 분사구를 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되는 제2코일을 포함하는 것을 특징으 로 한다. In addition, the deposition apparatus according to the present invention includes a vacuum chamber, a substrate support provided at a lower portion of the chamber to support a substrate, and at least one evaporation source for inserting a deposition gas into the chamber by inserting at least a portion thereof into an upper portion of the chamber. In the evaporation apparatus comprising a, the evaporation source, the crucible is provided in the main body, the crucible is formed in the main body and the injection opening is formed in the upper part is coupled to the cover for sealing and the lower part of the porous plate, A first coil disposed to surround the crucible at an intermediate height of the first coil to which a high frequency induction current is applied, and a second coil disposed below the first coil to surround the injection port of the crucible and to which a high frequency induction current is applied. It is characterized by.
이상과 같이 본 발명에 의하면, 적어도 하나의 증발원을 증착장치의 챔버의 상부에 배치하여 분자선이 아래로 공급될 수 있도록 하고서 고주파 유도가열을 이용함으로써, 대면적 기판에 형성되는 박막의 균일도를 확보하고 소스의 가열시간을 단축할 수 있어 저비용의 박막제조가 가능하게 되는 효과가 있게 된다. As described above, according to the present invention, at least one evaporation source is disposed on the upper part of the chamber of the deposition apparatus so that molecular beams can be supplied downward, and by using high frequency induction heating, the uniformity of the thin film formed on the large-area substrate is ensured. Since the heating time of the source can be shortened, there is an effect of enabling a low-cost thin film production.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 당업자에게 자명하거나 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. First of all, in adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same reference numerals are used as much as possible even if displayed on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention unclear.
도 2는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 도시한 개략적인 단면도이다. 이에 도시된 바와 같이 증발원(30)은 본체(31)와, 이 본체(31) 내에 구비되고 증착물질을 수용하되 개구된 상부에는 밀폐를 위한 커버(32)가 결합되고 하부에는 다공판으로 된 분사구(34)가 형성된 도가니(33)와, 이 도가니(33)의 중간높이에서 도가니(33)를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되는 제1코일(35) 및, 이 제1코일(35)의 아래에서 상기 도가니(33)의 분사구(34)를 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되는 제2코일(37)을 포함하는 것을 특징으로 한다. Figure 2 is a schematic cross-sectional view showing a top down evaporation source according to the present invention. As shown therein, the
본체(31)는 원통형 또는 다각의 박스형상으로 형성되며, 본체(31)의 하부에 는 방출구가 형성되어 있다. 이 본체(31)는 후술하는 도가니(33)와 코일들(35,37) 등을 지지하고 보호하는 역할과 더불어, 코일들(35,37)로부터 발생한 열이 원하지 않는 방향으로 발산하는 것을 차폐하는 역할을 한다.The
또한, 상기 본체(31)의 내부에는 증착물질이 수용 및 저장되는 도가니(33)가 구비되어 있다. 이 도가니(33)의 상부는 개구되어 있으며, 그 내부에는 소정 크기의 증착물질 수용공간이 마련된다. 따라서, 기판(40)에 증착될 증착물질은 이 증착물질 수용공간에 있게 되는데, 증착물질로는 무기물이나 금속 중 어느 하나로 될 수 있으며, 펠릿(pellet) 형태로 도가니(33) 내에 수용된다. In addition, the inside of the
도가니(33)는 흑연이나, PBN(Pyrolytic Boron Nitride) 또는 알루미나와 같은 전기절연성 세라믹 등으로 형성될 수 있다. 여기서, PBN은 부식성 가스에 불활성이며 가공성이 우수하고 소결 후 고온에서도 안정하며, 전기적으로는 높은 저항성을 띠게 되고 열 전도성은 매우 좋기 때문에, 도가니(33)를 PBN으로 형성하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 후술하는 코일들을 이용하여 도가니(33)를 가열하면, 도가니(33)는 매우 빠르게 가열되는 것이다. The
개구된 도가니(33)의 상부에는 도가니(33)를 밀폐하기 위한 커버(32)가 결합되게 되어 있으며, 도가니(33)의 하부에는 다공판으로 된 분사구(34)가 형성되어 있어서, 도가니(33) 내부의 증착물질이 증발되어 분사구(34)를 통해 외부로 유출되게 된다. A
상기 본체(31)와 상기 도가니(33) 사이에는 도가니(33)의 외측을 따라 제1코일(35) 및 제2코일(37)이 구비되는바, 제1코일(35)은 도가니(33)의 중간높이에서 도가니(33)를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되도록 되어 있으며, 제2코일(37)은 제1코일(35)의 아래에서 상기 도가니(33)의 분사구(34) 및 하부선단을 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되게 되어 있다. 외부 전원에 연결된 이들 코일(35,37)에 대략 10kHz 이상의 고주파 전류가 인가되면, 이들 고주파 전류가 흐르는 코일 속에 위치하는 금속 등의 도전체는 와전류(eddy current) 손실과 히스테리시스(hysteresis) 손실의 저항에 의하여 급속히 가열되게 된다. 이러한 가열은 가급적 단시간에 기화온도에 도달하도록 전류공급량을 제어하여 이루어질 수 있다. Between the
이때, 제1코일(35)은 도가니(33)의 중간높이에 있는 증착물질을 가열하게 되며, 분사구(34) 주위에 있는 제2코일(37)은, 그 상부에 있는 제1코일(35)에서 가열된 증착물질이 아래로 유출되면서 다시 응축되는 것을 방지하도록, 지속적으로 증착물질에 열을 가하게 된다. 상기 제1코일(35)과 상기 제2코일(37)은 온도가 동일하여도 무방하나, 제1코일(35)보다 제2코일(37)의 온도를 높게 하는 것이 바람직하며, 이에 따라 증착물질이 도가니(33) 내에서 응축 없이 직선이동을 하면서 본체(31)의 방출구로 원활히 나오게 되고, 이어서 분자선이 기판 쪽으로 나아가게 된다. 이때, 도가니(33)의 하부에 수용되어 있는 예컨대 금속과 같은 증착물질이 용융되면서 상부의 증착물질이 그 무게로 인해 아래로 계속 공급될 수 있게 되며, 분사구(34) 주위에서 용융된 증착물질은 표면장력에 의해 분사구(34)에서 떨어지지 않고 증발하게 된다. At this time, the
상기 증발원(30)에는 상기 도가니(33)에 수용된 증착물질이 기화되는 온도를 측정하기 위한 온도센서(도시되지 않음)가 더 구비될 수 있어서, 승온속도나 설정온도를 소정의 범위로 유지하는 온도제어를 수행할 수 있다. 또, 상기 도가니(33)에서 발생된 열이 본체(31)에 전달되는 것을 방지하기 위한 냉각수단(도시되지 않음)을 본체(31) 내에 더 마련할 수 있다.The
도 3은 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제1실시예를 개략적으로 나타낸 단면도이다. 이에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 증착장치는, 진공의 챔버(10)와, 이 챔버(10) 내의 하부에 마련되어 기판(40)을 지지하는 기판지지대(20)와, 상기 챔버(10) 내 상부에 적어도 일부가 삽입되어 챔버(10) 내에 증착가스를 제공하는 적어도 하나의 증발원(30)을 포함하고 있다. 3 is a cross-sectional view schematically showing a first embodiment of a deposition apparatus having a top-down evaporation source according to the present invention. As shown therein, the deposition apparatus according to the first embodiment of the present invention includes a
더구나, 상기 증발원은 도 2에 도시되고 전술한 바와 같이, 본체(31)와, 이 본체(31) 내에 구비되고 증착물질을 수용하되 개구된 상부에는 밀폐를 위한 커버(32)가 결합되고 하부에는 다공판으로 된 분사구(34)가 형성된 도가니(33)와, 이 도가니(33)의 중간높이에서 도가니(33)를 둘러싸도록 배치되고서 고주파 유도전류가 인가되는 제1코일(35) 및, 이 제1코일(35)의 아래에서 상기 도가니(33)의 분사구(34)를 둘러싸도록 배치되며 고주파 유도전류가 인가되는 제2코일(37)을 포함하고 있다. In addition, the evaporation source is shown in Figure 2 and as described above, the
챔버(10)는 원통형 또는 다각의 박스형상으로 형성되고, 내부에는 기판(40)을 처리할 수 있도록 된 공간이 마련된다. 챔버(10)의 형상은 한정되지 않으며, 기판(40)의 형상에 대응되게 형성되는 것이 바람직하다. 예를 들어, 전술한 바와 같이 CIGS 태양전지를 위해 CIGS 막을 형성하는 경우에 사각형의 유리기판이 사용되 는데, 이에 따라 챔버(10)의 형상은 유리기판에 대응하는 형상인 사각의 박스형상으로 형성되면 된다. 챔버(10)의 일측벽에는 기판(40)이 출입할 수 있는 기판출입구(11)가 형성될 수 있으며, 챔버(10)의 바닥면에는 증착공정시 챔버(10) 내에 진공을 형성하기 위해 터보분자펌프(도시되지 않음)가 연결될 수 있다. 도면에는 챔버(10)를 일체형으로 나타냈지만, 챔버(10)를 상하분리형으로 구성할 수도 있다. The
기판지지대(20)는 챔버(10) 내 하부에 위치하고, 챔버(10) 내로 인입된 기판(40)을 안착시키는 역할을 한다. 통상 기판지지대(20)의 형상은 기판(40)의 형상과 대응되게 형성되는 것이 좋다. 예를 들어, CIGS 태양전지를 위해 CIGS 막을 형성하는 경우에 사각형의 유리기판의 형상에 대응되게 사각형으로 형성되면 된다. 이와 같이 기판(40)이 챔버(10)의 하부에 위치되게 되고 그 밑은 기판지지대(20)에 의해 지지되기 때문에 기판(40)의 무게에 따른 처짐현상을 없앨 수 있게 된다. The
상기 기판지지대(20)의 하부에는 기판지지대(20)를 회전시키도록 모터를 갖춘 구동수단(21)이 설치될 수 있다. 또, 상기 기판지지대(20)에는 상기 기판(40)을 소정의 온도로 가열시키기 위한 가열수단(도시되지 않음)이 마련될 수 있으며, 상기 기판(40)의 상부면에 소정의 패턴이 형성된 마스크(45)가 위치될 수 있다. The lower portion of the
증발원(30)은 상기 챔버(10) 내 상부에 적어도 일부가 삽입되어 기판(40)을 향하도록 적어도 하나가 설치될 수 있다. 이 증발원(30)의 상세한 구조는 전술한 바와 같다. 여기서, 상기 증발원(30)은 설치되는 개수 및 증착물질이 분사되는 방향은 변경될 수 있는바, 단일 증발원(30)을 사용할 수도 있으며, 다수의 증발원(30)이 증착물질을 균일하게 분사하도록 동심원 상에서 집합적으로 또는 간격을 두고서 배열될 수 있음은 물론이다. 증발원(30)은 대략 수직하게 위치하는 것이 바람직하지만, 수평으로 놓인 기판(40)에 대해 대략 70도 내지 110도의 경사를 갖도록 할 수도 있다. 결론적으로 기판(40) 전체에 걸쳐 박막 균일도를 높일 수 있는 다양한 형태로 하나의 증발원(30) 또는 다수의 증발원(30)이 적절한 기울기 및 간격으로 배치될 수 있다. At least one
다수의 증발원(30)이 사용되는 경우에는 동일하거나 서로 기화온도가 상이한 증착물질이 각각 공급될 수 있다. 예를 들어, 전술한 바와 같이 CIGS 태양전지를 위해 CIGS 막을 형성하는 경우에 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga), 셀레늄(Se)을 4개의 증발원(30)에 각각 공급하여 기판(10) 상에 증착할 수 있다. 이와 같이, 기화온도가 상이한 다양한 종류의 증착물질을 동시에 기판(10) 상에 증착할 수 있게 됨으로써, 새로운 기능성 박막을 제작할 수 있는 효과가 있게 되는 것이다. When a plurality of
도 4는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제2실시예를 개략적으로 나타낸 단면도로서, 이 제2실시예는 전술한 제1실시예에 대해 증발원(30)의 배치 및 기판지지대(20)의 구성만 상이할 뿐 다른 구성요소는 상기 제1실시예와 동일하므로, 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. Figure 4 is a cross-sectional view schematically showing a second embodiment of the deposition apparatus with a top-down evaporation source according to the present invention, the second embodiment is the arrangement and substrate support of the
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 증착장치는, 진공의 챔버(10)와, 이 챔버(10) 내의 하부에 마련되어 기판(40)을 지지하는 기판지지대(20)와, 상기 챔버(10) 내 상부에 설치되어 챔버(10) 내에 증착가스를 제공하는 적어도 하나의 증발원(30)을 포함하고 있다. As shown in FIG. 4, the deposition apparatus according to the second embodiment of the present invention includes a
기판지지대(20)는 챔버(10) 내 하부에 위치하고, 챔버(10) 내로 인입된 기 판(40)을 수평으로 이동시키도록 된 이송수단(22)을 구비하는데, 이 이송수단(22)은 롤러나 벨트 또는 이들을 조합하여 구성될 수 있다. 이때, 상기 챔버(10)의 양측벽에는 기판(40)을 인입 및 인출하기 위한 기판출입구(11)가 형성되어 있다. The
또한, 증발원(30)은 상기 챔버(10) 내 상부에서 기판(40)을 향하도록 적어도 하나가 설치될 수 있다. 이에 따라, 기판지지대(20)에 안착된 기판(40)이 이동하는 동안 증발원(30)으로부터 분사되는 증착물질이 기판(40)의 상부면에 증착되게 된다. 공정에 따라 다수의 증발원(30)이 일렬로 배치되고 다수의 증발원(30)에 동일하거나 서로 기화온도가 상이한 증착물질이 각각 공급될 수 있다. 예를 들어, 전술한 바와 같이 CIGS 태양전지를 위해 CIGS 막을 형성하는 경우에 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga), 셀레늄(Se)을 4개의 증발원(30)에 각각 공급하여 기판(10) 상에 순차적으로 증착할 수 있다.In addition, at least one
이와 같은 구성으로 인해 대면적의 기판(40)을 처리하는 속도가 빨라지게 됨과 동시에 박막의 증착효율을 높일 수 있는 효과가 있다. Due to such a configuration, the processing speed of the large-
도 5는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제3실시예를 개략적으로 나타낸 단면도로서, 이 제3실시예는 전술한 제1실시예에 대해 증발원(30)의 구성 및 기판지지대(20)의 구성만 상이할 뿐 다른 구성요소는 상기 제1실시예와 동일하므로, 동일한 구성요소에 대한 설명은 생략하기로 한다. 5 is a cross-sectional view schematically showing a third embodiment of a deposition apparatus having a top-down evaporation source according to the present invention, the third embodiment of the above-described first embodiment of the
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 증착장치는, 챔버(10) 내 상부에 본 발명에 따른 증발원(30)을 수평으로 이동시킬 수 있는 증발원이송장치(50)가 설치되어 있다. 이때, 증발원이송장치(50)는 진공으로 유지되는 챔 버(10) 내에서 사용하기 적합한 장치로서, 공정 조건에 따라 증발원(50)의 이동속도를 조절할 수 있도록 되어 있다. 예컨대, 증발원이송장치(50)는 볼스크류(51)와, 이 볼스크류(51)를 회전시키는 모터(52) 및, 증발원(30)을 안내하는 가이드(53)를 구비할 수 있다. As shown in FIG. 5, in the deposition apparatus according to the third embodiment of the present invention, an evaporation
적어도 하나의 증발원(30)은 대략 수직하게 배치되는 것이 바람직하지만, 수평으로 놓인 기판(40)에 대해 대략 70도 내지 110도의 경사를 갖도록 할 수도 있다. 이 증발원(30)의 상세한 구조는 전술한 바와 같다.The at least one
그리고 상기 기판(40)의 상부면에는 소정의 패턴이 형성된 마스크(45)가 위치될 수 있다.In addition, a
기판지지대(20)는 챔버(10) 내 하부에 위치하고, 챔버(10) 내로 인입된 기판(40)을 안착시키는 역할을 한다. 이 경우, 기판지지대(20)를 회전시키기 위한 구동수단 또는 기판(40)을 수평으로 이동시키기 위한 이송수단이 생략될 수 있다.The
이하에서는, 본 발명에 따른 하향식 증발원이 구비된 증착장치의 작동에 대해 설명한다. Hereinafter, the operation of the deposition apparatus with a top-down evaporation source according to the present invention will be described.
먼저, 기판(40)을 챔버(10)의 측벽에 형성된 기판출입구(11)를 통해 인입되어 기판지지대(20)의 상면에 위치시킨 후에 기판(10)의 상면에 소정의 패턴이 형성된 마스크(45)를 부착하고, 상기 기판지지대(20)를 가열하여 일정한 온도로 유지시킨다.First, the
이어서, 챔버(10)의 내부를 진공상태로 전환하여 공정 분위기를 조성하고, 증발원(30)에다 상기 기판(10)에 증착될 증착물질을 공급한다. 만일 다수의 증발 원(30)이 사용되는 경우에는 동일하거나 서로 기화온도가 상이한 증착물질이 각각 공급될 수 있다. Subsequently, the inside of the
상기 증발원(30)의 증착물질은 증발원(30)의 내부에 마련된 도가니(33)에 저장되고, 상기 도가니(33)를 둘러싸는 코일들(35,37)에 의한 유도가열에 의해 상기 도가니(33) 내에 있는 증착물질이 기화된다. The deposition material of the
기화된 증착물질은 상기 도가니(33)의 하부에 형성된 분사구(34)를 거쳐 챔버(10) 내에서 기판(40)의 상부를 향해 분사되고, 분사된 증착물질은 기판(40)을 향해 이동함으로써, 기판(40)에 균일한 박막이 증착된다. The vaporized deposition material is injected toward the upper portion of the
증발원(30)이 기판(40)을 향해 고정되거나 이동될 수 있으며, 기판지지대(20)가 회전하거나 이동되거나 고정될 수 있다. 또, 증발원(30)의 분사방향이 조정될 수 있다. The
또한, 마스크(45)의 패턴을 통해 노출되는 기판(40)의 상부면에 증착되어 소정의 박막 패턴을 형성할 수 있다. In addition, it may be deposited on the upper surface of the
상기와 같이 본 발명에 따른 증발원(30)이 장착된 증착장치는 대면적의 기판(40)을 처리하더라도 적어도 하나의 증발원(30)을 사용하여 기판(40) 전체에 균일한 박막을 형성할 수 있는 효과가 있다. 더구나, 상기 증착장치는 다양한 종류의 증착물질을 사용할 수 있고, 특히 기화온도가 상이한 증착물질을 동시에 증착할 수 있어 새로운 기능성 박막을 제작할 수 있는 효과가 있다.As described above, the deposition apparatus equipped with the
더불어, 본 발명에 따른 증발원(30)이 고주파 유도가열을 이용하기 때문에, 전류공급량의 제어를 통해 온도 및 시간을 간단히 조절할 수 있어서 신속하고 균일 한 증착이 이루어질 수 있으며, 소스의 가열시간을 단축할 수 있어 저렴한 비용으로 박막제조가 가능하게 되는 효과가 있게 된다. In addition, since the
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예들에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The foregoing description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the scope of the present invention but to limit the scope of the technical idea of the present invention by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
도 1은 종래의 상향식 증착장치를 개략적으로 도시한 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a conventional bottom-up deposition apparatus.
도 2는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 도시한 개략적인 단면도이다.Figure 2 is a schematic cross-sectional view showing a top down evaporation source according to the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제1실시예를 개략적으로 나타낸 단면도이다.3 is a cross-sectional view schematically showing a first embodiment of a deposition apparatus having a top-down evaporation source according to the present invention.
도 4는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제2실시예를 개략적으로 나타낸 단면도이다.4 is a cross-sectional view schematically showing a second embodiment of a deposition apparatus having a top-down evaporation source according to the present invention.
도 5는 본 발명에 따른 하향식 증발원을 구비한 증착장치의 제3실시예를 개략적으로 나타낸 단면도이다.5 is a schematic cross-sectional view of a third embodiment of a deposition apparatus having a top-down evaporation source according to the present invention.
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090076790A KR101125008B1 (en) | 2009-08-19 | 2009-08-19 | Downward type deposition source and deposition apparatus having the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090076790A KR101125008B1 (en) | 2009-08-19 | 2009-08-19 | Downward type deposition source and deposition apparatus having the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110019180A KR20110019180A (en) | 2011-02-25 |
KR101125008B1 true KR101125008B1 (en) | 2012-03-27 |
Family
ID=43776588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090076790A KR101125008B1 (en) | 2009-08-19 | 2009-08-19 | Downward type deposition source and deposition apparatus having the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101125008B1 (en) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101104745B1 (en) * | 2011-05-16 | 2012-01-11 | 김용기 | The downward thermal gas phase deposition apparatus to use powder |
KR101104747B1 (en) * | 2011-05-16 | 2012-01-11 | 김용기 | The downward thermal gas phase deposition apparatus to use liquid material |
KR101295725B1 (en) * | 2011-10-11 | 2013-08-16 | 주식회사 아바코 | Apparatus and method for manufacturing light absorbing layer of cigs-based compound solar cell |
KR101328589B1 (en) * | 2011-10-31 | 2013-11-12 | 한국과학기술원 | Multi-source and apparatus for depositing thin films using the same |
KR101473345B1 (en) * | 2012-08-13 | 2014-12-16 | 한국표준과학연구원 | Evaporation Deposition Apparatus |
KR101465615B1 (en) * | 2013-04-11 | 2014-11-27 | 한국표준과학연구원 | Evaporation Deposition Apparatus |
KR101539624B1 (en) * | 2013-08-08 | 2015-07-27 | 바코스 주식회사 | Apparatus For Continuous Evaporation Material Feeding, and Apparatus and In-line Equipment For Anti-fingerprint Coating By Top-down Type Using The Same |
KR102195281B1 (en) | 2018-05-14 | 2020-12-28 | 재단법인대구경북과학기술원 | Chalcogenide evaporation apparatus comprising porous member and chacogenization method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020092296A (en) * | 2002-11-07 | 2002-12-11 | 정세영 | apparatus for vapor deposition of organic layers |
KR20080102081A (en) * | 2007-05-18 | 2008-11-24 | 윤종만 | Downward type linear deposition source |
-
2009
- 2009-08-19 KR KR1020090076790A patent/KR101125008B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020092296A (en) * | 2002-11-07 | 2002-12-11 | 정세영 | apparatus for vapor deposition of organic layers |
KR20080102081A (en) * | 2007-05-18 | 2008-11-24 | 윤종만 | Downward type linear deposition source |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110019180A (en) | 2011-02-25 |
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A201 | Request for examination | ||
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|
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