KR101119834B1 - Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method - Google Patents
Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method Download PDFInfo
- Publication number
- KR101119834B1 KR101119834B1 KR1020080122985A KR20080122985A KR101119834B1 KR 101119834 B1 KR101119834 B1 KR 101119834B1 KR 1020080122985 A KR1020080122985 A KR 1020080122985A KR 20080122985 A KR20080122985 A KR 20080122985A KR 101119834 B1 KR101119834 B1 KR 101119834B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- camera module
- test socket
- circuit board
- printed circuit
- pogo pin
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
본 발명은 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 그리고, 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 변화에 따른 적응방법에 대한 것이다. 보다 상세하게는 렌즈부, 이미지 센서부, 연성인쇄회로기판부(FPCB) 및 전장부를 구비한 카메라모듈을 테스트하는 상부몸체과 하부몸체를 포함하고 검사장비의 접점부와 연결해 카메라모듈을 테스트하는 테스트소켓에 있어서, 이미지 센서부의 형상에 따라 제작되어 이미지 센서부를 안착시키는 이미지센서 안착부; 전장부의 위치 또는 형태 변화에 따라 교체가능한 인쇄회로기판부; 전장부의 위치에 따라 배치되며 전장부의 형태에 따라 결정되고 인쇄회로기판부와 연결되는 포고핀블럭; 및 뚜껑 또는 하부몸체에 결합되고, 전장부의 위치 및 종류에 따라 결정된 인쇄회로기판부에 상응하여 결정되는 푸셔;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓이다.The present invention relates to a test socket of a model adaptive camera module and an adaptation method according to a change of a camera module using a test socket of a model adaptive camera module. More specifically, a test socket including an upper body and a lower body for testing a camera module including a lens unit, an image sensor unit, a flexible printed circuit board unit (FPCB), and an electronic device unit, and a test socket for connecting the contact unit of the inspection equipment to test the camera module. An image sensor seating part manufactured according to a shape of an image sensor part to seat an image sensor part; A printed circuit board portion replaceable according to a change in position or shape of the electric component; A pogo pin block arranged according to the position of the electronic component and determined according to the shape of the electronic component and connected to the printed circuit board; And a pusher coupled to the lid or the lower body and determined to correspond to the printed circuit board portion determined according to the position and type of the electrical equipment.
카메라모듈, 테스트소켓, 포고핀블럭, 인쇄회로기판부, 이미지센서 안착부, 검사장비 Camera module, test socket, pogo pin block, printed circuit board, image sensor seat, inspection equipment
Description
본 발명은 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 그리고, 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 변화에 따른 적응방법에 대한 것이다. 보다 상세하게는 카메라모듈의 모델의 변화에 따라 다른 테스트소켓을 사용하는 것이 아닌 동일한 테스트소켓에 일부 부품만을 교체하여 다양한 모델의 카메라모듈을 테스트할 수 있는 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법이다.The present invention relates to a test socket of a model adaptive camera module and an adaptation method according to a change of a camera module using a test socket of a model adaptive camera module. More specifically, the test socket and the test of the model adaptive camera module that can test a variety of models of the camera module by replacing only a few parts in the same test socket rather than using a different test socket according to the change of the camera module model It is an adaptation method according to the change of camera module using socket.
휴대폰용 폰 카메라모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 된다. 모듈의 성능 평가시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하여야함으로 커넥터의 위치 및 카메라모듈의 핀수, 연성인쇄회로기판(FPCB)의 길이 등의 정보가 필요하다. 또한, 현재 생산되고 있는 폰 카메라모듈의 생산주기가 6개월 미만임을 감안할 때 자동화 로봇 개발 및 설계 및 모델 변경을 고려하여 최소한의 장비 수정 혹은 지그(JIG)를 사용하는 방법으로 새로운 모델에 대응 가능하도록 유연성 있는 설계가 필요하다. After completing the assembly of each part, the mobile phone camera module for mobile phones undergoes an inspection process for any abnormality of the module such as open-short test, color test and pixel test. When evaluating the performance of the module, it is necessary to evaluate the characteristics of the signal received from the image sensor. Therefore, information such as the position of the connector, the number of pins of the camera module, and the length of the flexible printed circuit board (FPCB) is necessary. In addition, considering that the production cycle of the currently produced phone camera module is less than six months, it is possible to cope with the new model by using minimal equipment modification or JIG in consideration of the development of an automated robot, design and model change. Flexible design is needed.
폰 카메라모듈을 검사하기 위해 모듈을 로딩(loading)하는 방법은 검사장비에 지그가 있어 직접 모듈을 로딩하는 방법과 모듈을 테스트소켓에 넣은 후 그 테스트소켓을 검사장비에 로딩하는 방법이 있다. 이렇게 로딩된 모듈의 렌즈부는 검사장비의 상부에 부착된 테스트 차트의 이미지를 받는다. 또한, 모듈의 전장부의 각 핀은 검사장비와 연결되어 전원공급과 렌즈부에서 받은 이미지를 장비에 이송하여 모듈의 이상 유무를 검사하게 된다.The method of loading the module to inspect the phone camera module is to load the module directly because there is a jig in the inspection equipment, and to load the test socket into the inspection equipment after putting the module in the test socket. The lens portion of the loaded module receives an image of a test chart attached to the upper portion of the inspection equipment. In addition, each pin of the electronic parts of the module is connected to the inspection equipment to check the abnormality of the module by transferring the image from the power supply and the lens unit to the equipment.
따라서, 검사가 진행되는 동안 모듈의 렌즈부의 중심축은 테스트차트(test chart)의 중심축과 일치해야 하며, 모듈의 전장부와 검사장비가 전기적으로 연결되어야 한다. Therefore, the central axis of the lens portion of the module should coincide with the central axis of the test chart during the inspection, and the electrical parts of the module and the inspection equipment should be electrically connected.
기존의 검사장비에 고정된 지그에 모듈을 로딩하는 기존의 방법은 모델의 변화에 따라 광축의 위치 및 전장부의 위치가 바뀌어 장비를 바뀐 위치에 맞게 교체하거나 장비를 다시 셋팅해야하는 문제가 있다. 또한, 전장부가 모듈의 후면에 부착된 경우(이하 후면부)에는 기존의 장비를 그대로 이용할 수 없어 후면형에 맞는 새로운 장비를 제작해야하는 문제점이 있다. 또한, 기존의 테스트소켓을 이용하여 검사장비에 로딩하는 방법은 하나의 카메라모듈 모델에만 적용된다. 따라서, 그 대상 모델이 생산을 중단할 경우 테스트소켓을 더 이상 사용할 수 없게 되는 문제가 있다.The existing method of loading a module on a jig fixed to the existing inspection equipment has a problem in that the position of the optical axis and the length of the electric field are changed according to the change of the model, so that the equipment must be replaced or reset according to the changed position. In addition, when the electronic parts are attached to the rear of the module (hereinafter referred to as the rear part), existing equipment cannot be used as it is, there is a problem that a new equipment must be manufactured for the rear type. In addition, the method of loading the inspection equipment using the existing test socket is applied to only one camera module model. Therefore, there is a problem that the test socket can no longer be used when the target model stops production.
따라서, 카메라모듈의 모델변경 즉, 이미지 센서부의 형태, 연성인쇄회로기 판부의 길이, 전장부의 위치, 전장부의 형태가 변경되더라도 새로운 테스트소켓의 제작없이 다양한 모델을 적용가능한 테스트소켓이 필요하게 되었다. Accordingly, even if the model of the camera module is changed, that is, the shape of the image sensor, the length of the flexible printed circuit board, the location of the electric part, and the shape of the electric part are changed, a test socket capable of applying various models without producing a new test socket is needed.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 폰카메라모듈의 모델변경에 대응하기 위한 테스트소켓을 제공하게 된다. 카메라모듈의 모델변경 시에 새로운 테스트소켓을 사용하지 않고 테스트소켓의 일부부품의 교체로 대응할 수 있도록 새로운 개념의 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 모델변화에 따른 적응방법을 제공한다. Accordingly, the present invention provides a test socket for coping with the model change of the phone camera module to solve the above problems. It provides a new concept of test socket and adaptation method according to model change of camera module using the test socket so that it can cope with the replacement of some parts of the test socket without using a new test socket when changing the model of the camera module.
즉, 카메라모듈에서 이미지 센서부의 형상, 전장부의 위치, 전장부 핀의 개수, 전장부 핀의 피치 크기, 카메라모듈의 분류형태(후면형/전면형)에 따라 테스트소켓 자체를 교체하지 않고, 테스트소켓에서 이미지 센서부를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부를 교체하고, 전장부의 핀의 수 및 피치크기에 맞는 포그핀블럭을 선택하고, 전장부의 위치 또는 형태에 따라 인쇄회로기판부(PCB) 및 푸셔를 설치함으로써 변화된 카메라모듈에 적응가능한 카메라모듈을 제공하게 된다. In other words, according to the shape of the image sensor part, the location of the front part, the number of front part pins, the pitch size of the front part pins, and the classification type of the camera module (rear type / front type) in the camera module, the test socket itself is not replaced. Replace the image sensor seat that can seat the image sensor in the socket, select the fog pin block that matches the number and pitch of the pins on the electrical part, and adjust the PCB and the pusher according to the position or shape of the electrical part. The installation provides a camera module adaptable to the changed camera module.
또한, 본 발명은 카메라모듈의 모델변경 시에 테스트소켓이 검사장비에 연결되었을 때 검사장비의 광축과 검사장비의 전기적 접점 부분에 추가적인 이송장치 없이 고정된 위치에서 검사가 진행될 수 있는 방법을 제공한다. 그리고, 테스트소켓이 검사장비에 대해 반복적인 로딩 또는 언로딩 과정에서 항상 같은 위치에 놓일 수 있는 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides a method in which the inspection can be performed in a fixed position without an additional transfer device to the optical axis of the inspection equipment and the electrical contact portion of the inspection equipment when the test socket is connected to the inspection equipment when the model of the camera module is changed. . It also provides a way for test sockets to be always in the same position during repeated loading or unloading of inspection equipment.
본 발명의 그 밖에 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 관련되어 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예로부터 더욱 명확해질 것이다. Other objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and preferred embodiments in conjunction with the accompanying drawings.
상기와 같은 본 발명의 목적은, 렌즈부, 이미지 센서부, 연성인쇄회로기판부 및 전장부를 구비한 카메라모듈을 테스트하는 상부몸체과 하부몸체를 포함하고 검사장비의 접점부와 연결해 카메라모듈을 테스트하는 테스트 소켓에 있어서, 이미지 센서부의 형태에 따라 제작되어 이미지 센서부를 안착시키는 이미지센서 안착부; 전장부의 위치 또는 형태 변화에 따라 교체가능하고 상부몸체 또는 하부몸체에 결합되는 인쇄회로기판부; 전장부의 위치에 따라 배치되며 전장부의 종류에 따라 결정되고 인쇄회로기판부와 연결되는 포고핀블럭; 및 상부몸체 또는 하부몸체에 결합되고, 전장부의 위치 및 종류에 따라 결정된 인쇄회로기판부에 상응하여 결정되는 푸셔;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓으로 달성될 수 있다.An object of the present invention as described above, including the upper body and the lower body for testing the camera module having a lens unit, an image sensor unit, a flexible printed circuit board unit and the electric field unit and connected to the contact portion of the inspection equipment to test the camera module A test socket comprising: an image sensor seating part manufactured according to a shape of an image sensor part to seat an image sensor part; A printed circuit board that is replaceable according to a change in position or shape of the electronic parts and coupled to an upper body or a lower body; A pogo pin block arranged according to the position of the electronic component and determined according to the type of the electronic component and connected to the printed circuit board; And a pusher coupled to the upper body or the lower body, and determined to correspond to the printed circuit board part determined according to the position and type of the electrical equipment. The model adaptable camera module test socket may include a pusher.
상부몸체과 하부몸체는, 전장부의 위치 또는 전장부의 형태변화에 따라, 인쇄회로기판부, 포고핀블럭 또는 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 결합 위치 가 변경될 수 있을 정도의 내부공간을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.The upper body and the lower body, the printed circuit board portion, pogo pin block or pogo pin block having an internal space such that the coupling position of the printed circuit board portion can be changed according to the position of the electrical component or the shape change of the electrical component. It can be characterized.
전장부의 위치는, 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 테스트소켓이 적응하는 것을 특징으로 할 수 있다.The location of the electronic parts is classified into an I-type model and an L-type model according to the shape of the flexible printed circuit board, and the test socket is adapted to the model that is changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the printed circuit board. You can do
전장부의 형태는, 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되며, 테스트소켓이 전면형과 후면형에 모두 적용하기 위해서, 상부몸체과 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 내부공간을 가지고, 상부몸체과 하부몸체 각각에 포고핀블럭을 연결할 수 있는 인쇄회로기판부가 결합 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The form of the electric part is classified into the front type where the pogo pin block to which the electric part is coupled is connected to the upper body and the rear type where the pogo pin block to which the electric part is coupled is connected to the lower body. In order to apply, the printed circuit board may be coupled to the upper body and the lower body having an inner space spaced at a predetermined interval, and to connect the pogo pin block to each of the upper body and the lower body.
상부몸체 및 하부몸체 각각에 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.Each of the upper body and the lower body may be provided with a predetermined space to be inserted into the printed circuit board portion connected to the pogo pin block.
포고핀블럭은, 전장부 핀의 개수 또는 전장부 핀의 피치크기에 따라 결정되며 결정된 포고핀블럭으로 교체하여 테스트소켓이 카메라모듈에 적응 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The pogo pin block may be characterized in that the test socket is adapted to the camera module by replacing the determined pogo pin block according to the number of pins or the pitch size of the length pins.
카메라모듈의 모델이 변화하더라도 검사장비의 광축은 유지되고, 카메라모듈의 모델변화에 따라 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써, 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 전장부에서부터 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 할 수 있다. Even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, and the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block is changed according to the model change of the camera module, so that the position of the inspection equipment contact portion is fixed so that the pogo pin block is The electrical connection to the contact portion of the printed circuit board portion and the inspection equipment can be maintained.
하부몸체의 하부면에 동적기저부를 더 구비하여, 테스트소켓이 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, 테스트소켓은 상대적으로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 할 수 있다.Further comprising a dynamic base on the lower surface of the lower body, when the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, the test socket may be characterized in that it maintains a relatively constant position.
동적기저부는, 각각이 일정한 간격을 갖고 중심점을 기준으로 각각이 120도(°)의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.The dynamic base portion may be characterized by having three positioning grooves each having a constant interval and spaced apart at intervals of 120 degrees with respect to the center point.
또 다른 카테고리로서 본 발명의 목적은, 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법에 있어서, 이미지 센서부의 형태가 변하는 경우, 카메라모듈의 이미지 센서의 형태에 따른 이미지센서 안착부를 설치하는 단계; 전장부의 핀이 달라지는 경우, 전장부와 전기적연결이 가능한 포고핀블럭을 결정하는 단계; 결정된 포고핀블럭을 연결할 수 있는 인쇄회로기판부를 결정하는 단계; 전장부의 형태가 변화하는 경우, 전장부의 형태에 따라 결정된 인쇄회로기판부(PCB)를 테스트소켓의 상부몸체 또는 하부몸체에 설치하는 단계; 후에 장착될 카메라묘듈의 전장부의 위치를 고려하여 인쇄회로기판부에 포고핀블럭을 연결하는 단계; 카메라모듈의 이미지센서를 이미지 센서부에 안착하고 전장부 핀을 포고핀블럭에 결합하여 카메라모듈이 테스트소켓에 장착되는 단계; 및 테스트소켓을 검사장비와 연결하여 카메라모듈의 이미지 센서부에 테스트 차트의 이미지를 투사하여 카메라모듈을 검사하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법으로 달성될 수 있다.Another object of the present invention as an object of the present invention, in the adaptation method according to the change of the camera module using the test socket, if the shape of the image sensor unit is changed, providing an image sensor seating unit according to the shape of the image sensor of the camera module; Determining a pogo pin block that is electrically connected to the electric part when the pin of the electric part is changed; Determining a printed circuit board unit to which the determined pogo pin blocks can be connected; When the shape of the electric parts is changed, installing a printed circuit board part (PCB) determined according to the shape of the electric parts on the upper body or the lower body of the test socket; Connecting the pogo pin block to the printed circuit board in consideration of the position of the electric component of the camera module to be mounted later; Mounting an image sensor of the camera module to the image sensor unit and coupling the electric field pin to the pogo pin block to mount the camera module to the test socket; And inspecting the camera module by projecting an image of a test chart to the image sensor unit of the camera module by connecting the test socket to the inspection equipment. It can be achieved by the adaptation method accordingly.
하부몸체에 설치 단계에서, 전장부의 형태에 따라 몸체 또는 하부몸체에 푸셔가 설치되는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the installing step on the lower body, the pusher is installed on the body or the lower body according to the shape of the electric portion; may be characterized in that it further comprises.
포고핀블럭 결정 단계에서, 포고핀블럭은 전장부 핀의 개수 또는 전장부 핀의 피치크기에 따라 결정되는 것을 특징으로 할 수 있다.In the pogo pin block determining step, the pogo pin blocks may be determined according to the number of full length pins or the pitch size of the full length pins.
전장부 형태는, 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되는 것을 특징으로 할 수 있다.The full length part may be characterized in that the pogo pin block to which the full length is coupled is classified into a front type connected to the upper body side and a pogo pin block to which the full length is coupled to the rear type connected to the lower body.
포고핀블럭 연결단계에서, 전장부의 위치는 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며, 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 테스트소켓이 적응하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the pogo pin block connecting step, the position of the electric component is classified into an I-type model and an L-type model according to the shape of the flexible printed circuit board, and the pogo pin block is changed according to the model changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the PCB. The test socket may be characterized by adaptation.
상부몸체과 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 내부공간을 가지고, 상부몸체 및 하부몸체 각각에 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 구비하여 테스트소켓이 전면형과 후면형에 모두 적용가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The upper and lower bodies have internal spaces spaced at predetermined intervals, and each of the upper and lower bodies has a predetermined space for inserting a printed circuit board portion connected to the pogo pin block. All may be characterized as applicable.
카메라모듈 검사단계에서, 카메라모듈의 모델이 변화하더라도 검사장비의 광축은 유지되고, 카메라모듈의 모델변화에 따라 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써, 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 전장부에서부터 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 할 수 있다.In the camera module inspection step, even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, and the position of the inspection equipment contact portion is fixed by changing the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block according to the model change of the camera module. It may be characterized in that the electrical connection is maintained from the electrical parts to the pogo pin block, the printed circuit board part and the contact part of the inspection equipment.
테스트소켓이 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, 하부몸체의 하부면에 중심점을 기준으로 각각이 120도(°)의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 동적기저부에 의해 테스트소켓은 상대적으로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 할 수 있다.When the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, the bottom of the lower body is tested by a dynamic base having three positioning grooves, each spaced at an interval of 120 degrees with respect to the center point. The socket may be characterized as maintaining a relatively constant position.
따라서, 상기 설명한 바와 같은 본 발명의 일실시예에 의하면, 카메라모듈 테스트소켓은 폰카메라모듈의 모델변경에 대응할 수 있는 효과를 가진다. 카메라 모듈의 모델변경 시에 새로운 테스트소켓을 사용하지 않고 테스트소켓의 일부 부품의 교체만로 모델변경을 적응할 수 있는 장점이 있다. Therefore, according to one embodiment of the present invention as described above, the camera module test socket has an effect that can respond to the model change of the phone camera module. When changing the model of the camera module, it is possible to adapt the model change only by replacing some parts of the test socket without using a new test socket.
즉, 테스트소켓 자체를 교체하지 않고, 변경된 테스트소켓의 이미지 센서부 형상에 대해 이미지 센서부를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부를 교체하고, 전장부의 핀의 수 및 피치크기에 맞는 포고핀블럭을 선택하고, 전장부의 위치(I형 또는 L형), 전장부의 형태(후면형 또는 전면형)에 상관없이 모두 적용 가능하도록 뚜껑과 하부몸체의 내부공간을 구비하고, 인쇄회로기판부 및 푸셔를 뚜껑 또는 하부몸체에 설치함으로써 변화된 카메라모듈에 적응 가능한 효과를 갖는다.That is, without replacing the test socket itself, replace the image sensor seat that can seat the image sensor for the shape of the image sensor of the changed test socket, select the pogo pin block according to the number of pins and pitch size of the overall length , The lid and the lower body inner space to be applicable regardless of the position (I type or L type), the shape (rear or front type) of the overall length, and the printed circuit board portion and the pusher Installation on the body has an effect that can be adapted to the changed camera module.
또한, 본 발명은 카메라모듈의 모델변경 시에 테스트소켓이 검사장비에 연결되었을 때 검사장비의 광축과 검사장비의 전기적 접점 부분에 추가적인 이송장치 없이 고정된 위치에서 검사가 진행될 수 있어 전장부, 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 장비의 접점부의 일련의 전기적연결이 유지 가능한 효과를 가진다. 또한, 이송장비가 필요없어 신속하고, 경제적인 장점이 있다. In addition, the present invention, when the test socket is connected to the inspection equipment when changing the model of the camera module, the inspection can be carried out in a fixed position without an additional transport device on the optical axis of the inspection equipment and the electrical contact portion of the inspection equipment, the electrical equipment, pogo A series of electrical connections of the pin block, the printed circuit board unit, and the contact portion of the equipment can be maintained. In addition, there is no need for the transfer equipment, there is a fast, economic advantage.
그리고, 테스트소켓이 검사장비에 대해 반복적인 로딩 또는 언로딩 과정에서 동적기저부(kinematic base)를 사용하여 검사 장비와 폰 카메라모듈 테스트소켓과 상대적인 위치에 대한 반복정밀도가 보장되는 효과가 있다.In addition, the test socket uses a kinematic base during the repetitive loading or unloading of the inspection equipment, thereby ensuring the repeatability of the inspection equipment and the phone camera module test socket relative to the test socket.
비록 본 발명이 상기에서 언급한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어 졌지만, 본 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다른 다양한 수정 및 변형이 가능한 것은 당업자라면 용이하게 인식할 수 있을 것이며, 이러한 변경 및 수정은 모두 첨부된 특허 청구 범위에 속함은 자명하다.Although the present invention has been described in connection with the above-mentioned preferred embodiments, it will be readily apparent to those skilled in the art that various other modifications and variations are possible without departing from the spirit and scope of the present invention. Are all within the scope of the appended claims.
(모델적응형 카메라모듈 테스트소켓의 구성과 기능)(Configuration and Function of Model Adaptive Camera Module Test Socket)
이하에서는 첨부된 도면을 참고하여 본 발명인 모델적응형 카메라모듈 테스 트소켓의 구성과 기능에 대해 설명하도록 한다. 우선, 도 1은 카메라모듈의 사시도를 도시한 것이고, 도 2a는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 위에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 2b는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 옆에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 2c는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓에서 상부몸체를 닫은 모습의 사시도를 도시한 것이다. 도 2d는 테스트소켓의 상부몸체의 사시도를 도시한 것이다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration and function of the present invention model adaptive camera module test socket. First, Figure 1 shows a perspective view of the camera module, Figure 2a shows a perspective view from above of a test socket equipped with a camera module. Figure 2b shows a perspective view from the side of the test socket equipped with a camera module. Figure 2c shows a perspective view of the upper body closed in a test socket equipped with a camera module. Figure 2d shows a perspective view of the upper body of the test socket.
도 1에 도시된 바와 같이, 카메라모듈은 다양한 부가적 구성을 가지지만 대부분 렌즈부(110)와 이미지 센서부(120), 연성인쇄회로기판부(130) 및 전장부(140)로 구성된다. 따라서, 검사과정에서 테스트 차트의 이미지를 이미지 센서부(120)에 투사하여 전장부(140)와 테스트소켓 검사장비가 전기적 접점을 이루게 된다. 이 때 테스트 차트의 중심, 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120)의 중심이 일치하여야 한다(광축 일치). As shown in FIG. 1, the camera module has various additional configurations, but is mainly composed of a
도 2a 내지 도 2c에 도시된 바와 같이, 테스트소켓은 카메라모듈이 장착되었을 때 이미지 센서부(120)가 안착되는 이미지센서 안착부(200)를 구비하고 있다. 그리고, 카메라모듈(100)의 전장부(140) 핀(150)에 연결되는 포고핀블럭(210)과 포고핀블럭(210)과 결합되는 인쇄회로기판(PCB)부(220)를 포함하고 있다. 이러한 인쇄회로기판부(220)가 검사장비의 접점부에 연결되어 로딩 또는 언로딩을 하며 검사공정을 수행하게 된다. 그리고, 테스트소켓은 상부몸체(240)과 하부몸체(250)를 구비하고 상부몸체(240)를 닫았을 때 상부몸체(240)과 하부몸체(250) 사이에 내부공간을 가지게 된다. 상부몸체(240) 또는 하부몸체(250)의 내면에는 푸셔(230)가 설 치된다.As illustrated in FIGS. 2A to 2C, the test socket includes an image
카메라모듈(100)의 모델변화에 따라 테스트소켓 자체를 바꾸지 않고 이미지센서 안착부(200), 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 또는 푸셔(230)만을 재배치 또는 교환하여 모델변화에 적응할 수 있다. 즉, 카메라모듈(100)의 모델 변화는 이미지 센서부(120)의 형상, 연성인쇄회로기판부(130)의 길이, 전장부(140)의 위치(I형 또는 L형), 전장부(140)의 형태(후면형 또는 전면형), 전장부 핀(150)의 개수 또는 전장부 핀(150)의 피치크기에 따라 달라지게 된다. According to the model change of the camera module 100, the model is changed by relocating or replacing only the
변화된 카메라모듈(100) 모델에 대해 먼저 이미지 센서부(120)를 안착시킬 수 있는 구조를 가지는 이미지센서 안착부(200)를 결정해 테스트 소켓에 설치하게 된다. 그리고, 전장부(140)와 연결되는 포고핀블럭(210)을 전장부의 핀(150)의 개수와 핀(150)의 피치크기와 부합되는 것으로 결정하게 된다. 도 3a 전장부(140)의 위치 형태가 I형인 경우의 테스트소켓의 평면도를 도시한 것이고, 도 3b는 전장부(140)의 위치 형태가 L형인 경우의 테스트소켓의 평면도를 도시한 것이다. For the changed camera module 100 model, first, the image
도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 전장부(140)와 연결한 포고핀블럭(210)이 인쇄회로기판부(220)에 결합 배치되는 것은 전장부(140)의 위치에 따라 달라진다. I형의 경우 인쇄회로기판부(220)의 중간 부분에 포고핀블럭(210)이 연결됨을 알 수 있고, L형의 경우 오른쪽으로 치우친 지점에 연결되어 있다. 이렇게 다양한 전장부(140)에 위치에 적용이 가능하도록 인쇄회로기판부(220)가 설계된다. As shown in FIGS. 3A and 3B, the arrangement of the pogo pin blocks 210 connected to the
도 4a는 전장부(140)의 형태가 전면형인 경우 카메라모듈(100)과 결합된 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)에 측면도를 도시한 것이고, 도 4b는 전장부(140)의 형태가 후면형인 경우 카메라모듈(100)과 결합된 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)에 측면도를 도시한 것이다. 이러한 전장부(140)의 형태에 따라 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)가 상부몸체(240)에 설치되는지 하부몸체(250)에 설치되는 지가 결정된다. 4A is a side view of the
도 4a에 도시된 바와 같이, 전면형의 경우 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)를 상부몸체(240)에 설치하게 된다. 따라서, 상부몸체(240)의 내부면에 인쇄회로기판부(220)를 설치할 수 있는 소정공간(246)을 확보하고 있어야 한다. 또한, 도 4b에 도시된 바와 같이, 후면형의 경우는 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)가 하부몸체(250)에 설치된다. 따라서, 하부몸체(250) 내부에도 인쇄회로기판부(220)를 설치할 소정공간(246)을 구비하게 된다.As shown in Figure 4a, in the case of the front-type
본 발명의 테스트소켓은 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 후면형 및 전면형 모두에 적용될 수 있다. 두껑을 닫은 경우, 상부몸체(240)과 하부몸체(250) 사이에 내부공간을 가지고 있으며 이러한 내부공간은 전면형과 후면형이 모두 적용될 정도의 크기를 가지고 있다. 바람직하게는 테스트소켓의 크기가 커지면 장비의 크기도 그에 따라 커지기 때문에 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)의 크기는 모델변화에 적응할 수 있을 크기로 최소화하여 설계되는 것이 적합하다.The test socket of the present invention can be applied to both the rear type and the front type, as shown in FIGS. 4A and 4B. When the lid is closed, it has an inner space between the
그리고, 전면형의 경우 인쇄회로기판부(220)가 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치됨으로 푸셔(230)는 하부몸체(250)의 소정공간(246)에 설치되며 후면형의 경우는 인쇄회로기판부(220)가 하부몸체(250) 소정공간(246)에 설치됨으로 푸셔(230)가 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치된다. 이렇게 카메라모듈(100)의 다양한 모델에 대해 테스트소켓은 모델에 부합하는 이미지센서 안착부(200), 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 푸셔(230)를 결정하고 설치하여 다양한 모델에 적용 가능하게 된다. In addition, since the
또한, 테스트소켓이 검사장비에 결합되었을 때 카메라모듈(100)의 모델이 변화하여도 렌즈부(110)와 이미지 센서부(120) 및 이미지센서 안착부(200)의 위치가 변하는 것은 아니므로 검사장비의 광축과 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120) 중심과 일치되게 된다. 즉, 광축일치가 유지된다. 그리고, 카메라모듈(100)의 모델이 변화함에 따라 인쇄회로기판부(220)에 결합되는 포고핀블럭(210)의 위치 및 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)의 위치변화로 적응함으로써 카메라모듈(100)의 전장부(140)에서부터, 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 및 장비의 접점부까지 일련의 전기적 연결이 유지되게 된다. 따라서, 장비의 광축을 일치시키거나 일련의 전기적 연결을 위해 별도의 이송장치가 필요없다. In addition, even when the model of the camera module 100 is changed when the test socket is coupled to the inspection equipment, the positions of the
또한, 테스트소켓 하부몸체(250)의 하부면에 동적기저부(260)를 더 포함하고 있다. 도 5는 동적기저부(260)가 보이도록 테스트소켓을 밑에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 이러한 동적기저부(260)에는 일정한 간격을 유지하고, 중심점(261)을 기준으로 각각 120°로 이격된 위치결정 홈(265)을 구비하고 있다. 이러한 위치결정 홈(265)은 검사장비에 구비된 위치결정 핀에 결합된다. 따라서, 동적기저부(260)에 의해 테스트소켓이 검사장비에 연결되어 검사되는 과정 중에 반복적인 로딩 또는 언로딩 시, 테스트소켓과 검사장비 사이의 상대 적인 위치가 변하지 않고 유지되게 된다.In addition, the lower surface of the test socket
(카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법)(Adaptation method of test socket according to model change of camera module)
이하에서는 첨부된 도면을 참고하여 본 발명인 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법에 대해 설명하도록 한다. 우선, 도 6은 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법의 흐름도를 도시한 것이다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a test socket adaptation method according to the model change of the present invention camera module. 6 shows a flowchart of a test socket adaptation method according to a model change of a camera module.
카메라모듈(100)의 모델이 변경된 경우, 먼저 모델변경으로 이미지 센서부(120)의 형태가 바뀌었는지 결정하여(S10) 형태가 바뀐 경우 변화된 이미지 센서부(120)를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부(200)로 교체하게 된다(S20). 그리고 변화된 카메라모듈(100)의 전장부 핀(150)의 개수 또는 핀(150)의 피치 크기가 변하였는지를 결정하고(S30) 변한 경우, 그러한 전장부의 핀(150)에 결합되어 전기적 연결이 가능한 포고핀블럭(210)을 결정하게 된다(S40). When the model of the camera module 100 is changed, first, it is determined whether the shape of the
결정된 포고핀블럭(210)이 연결될 수 있는 인쇄회로기판부(220)인지를 결정하고(S50) 아닌 경우 포고핀블럭(210)을 전기적으로 연결할 수 있는 인쇄회로기판부(220)를 결정한다(S60). 그리고, 카메라모듈(100)의 전장부(140) 형태가 바뀌었는지를 판단한다(S70). 즉, 전장부(140)의 형태가 전면형에서 후면형으로 또는 후면형에서 전면형을 바뀐 것인지를 판단한다. 형태가 바뀐 경우, 전면형인 경우 인쇄회로기판부(220)를 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치하고 푸셔(230)를 하부몸체(250)의 소정공간(246)에 설치하게 된다. 반면, 후면형인 경우는 인쇄회로기판부(220)를 하부몸체(250)에 설치하고, 푸셔(230)를 상부몸체(240)에 설치하게 된 다(S80). Determine whether the determined
그리고, 전장부(140)의 위치에 따라 포고핀블럭(210)을 인쇄회로기판부(220)에 연결하게 된다(S90). 즉, 전장부(140)가 I형인지 또는 L형인지에 따라 후에 카메라모듈(100)이 테스트소켓에 설치되었을 때 전장부(140)가 포고핀블럭(210)에 결합될 수 있는 위치에 포고핀블럭(210)을 인쇄회로기판부(220)에 연결하게 된다.Then, the
이렇게 되면 변화된 카메라모듈(100)을 적용할 수 있는 테스트소켓이 되고 카메라모듈(100)의 이미지 센서부(120)를 테스트소켓의 이미지센서 안착부(200)에 안착하고, 전장부(140)를 포고핀블럭(210)에 연결하여 카메라모듈(100)을 테스트소켓에 설치하게 된다(S100). 그리고, 테스트소켓을 검사장비에 연결하여 테스트 차트 이미지를 이미지 센서부(120)에 투사하여 로딩, 언로딩을 하며 카메라모듈(100)을 검사하게 된다(S110). This becomes a test socket to which the changed camera module 100 can be applied, and the
이때에 앞서 설명한 것과 같이, 테스트소켓이 검사장비에 결합되었을 때 카메라모듈(100)의 모델이 변화하여도 렌즈부(110)와 이미지센서 및 이미지센서 안착부(200)의 위치가 변하는 것은 아니므로 검사장비의 광축이 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120) 중심과 일치되게 된다. 그리고, 카메라모듈(100)의 모델이 변화함에 따라 인쇄회로기판부(220)에 결합되는 포고핀블럭(210)의 위치 및 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)의 위치변화로 적응함으로 카메라모듈(100)의 전장부(140)에서부터, 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 및 장비의 접점부까지 일련의 전기적 연결이 유지되게 된다. 따라서, 장비의 광축을 일치시키거나 일련의 전기적 연결을 위해 별도의 이송장치가 필요없다. As described above, even when the model of the camera module 100 is changed when the test socket is coupled to the inspection equipment, the positions of the
또한, 테스트소켓 하부몸체(250)의 하부면에 동적기저부(260)를 더 포함하고 있다. 이러한 동적기저부(260)에는 일정한 간격을 유지하고, 중심점(261)을 기준으로 각각 120°로 이격된 위치결정 홈(265)을 구비하고 있다. 이러한 위치결정 홈(265)은 검사장비에 구비된 각각 120°로 이격된 위치결정 핀에 결합된다. 따라서, 동적기저부(260)에 의해 테스트소켓이 검사장비에 연결되어 검사되는 과정 중에 반복적인 로딩 또는 언로딩 시, 테스트소켓과 검사장비 사이의 상대적인 위치가 변하지 않고 유지되게 된다.In addition, the lower surface of the test socket
도 1은 카메라모듈의 사시도,1 is a perspective view of a camera module,
도 2a는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 위에서 본 사시도,Figure 2a is a perspective view from above of a test socket equipped with a camera module,
도 2b는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 옆에서 본 사시도,Figure 2b is a perspective view of the test socket equipped with a camera module from the side,
도 2c는 상부몸체가 닫혀있는 상태의 테스트소켓의 사시도,Figure 2c is a perspective view of the test socket with the upper body closed;
도 2d는 테스크소켓 상부몸체의 사시도,2d is a perspective view of the desk socket upper body,
도 3a는 I형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 평면도, 3A is a plan view of a test socket equipped with a camera module having an I-type electric section;
도 3b는 L형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 평면도,3B is a plan view of a test socket equipped with a camera module having an L-shaped electric section;
도 4a는 전면형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 측면도,Figure 4a is a side view of a test socket equipped with a camera module having a front electronic parts,
도 4b는 후면형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 측면도,Figure 4b is a side view of the test socket equipped with a camera module having a back-type electric part,
도 5는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 밑에서 본 사시도,5 is a perspective view from below of a test socket equipped with a camera module;
도 6은 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법의 흐름도를 도시한 것이다.6 is a flowchart illustrating a test socket adaptation method according to a model change of a camera module.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100:카메라모듈100: camera module
110:렌즈부110: lens unit
120:이미지 센서부120: image sensor
130:연성인쇄회로기판부130: flexible printed circuit board
140:전장부140: overall length
150:전장부의 핀150: overall length of the pin
200:이미지센서 안착부200: image sensor seat
210:포고핀블럭210: pogo pin block
220:인쇄회로기판부220: printed circuit board
225:검사장비의 접접부와 연결부225: contact and connection of the inspection equipment
230:푸셔230: Pusher
240:상부몸체240: upper body
245:상부몸체의 홀245: Hall of the upper body
246:상부몸체의 소정공간246: predetermined space of the upper body
250:하부몸체250: lower body
260:동적기저부260: Dynamic base
261:중심점261: center point
265:위치결정 홈265: positioning groove
Claims (17)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080122985A KR101119834B1 (en) | 2008-12-05 | 2008-12-05 | Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080122985A KR101119834B1 (en) | 2008-12-05 | 2008-12-05 | Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100064510A KR20100064510A (en) | 2010-06-15 |
KR101119834B1 true KR101119834B1 (en) | 2012-02-28 |
Family
ID=42364125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080122985A KR101119834B1 (en) | 2008-12-05 | 2008-12-05 | Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101119834B1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102527100B1 (en) * | 2017-09-18 | 2023-05-02 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Socket for camera module |
KR102165483B1 (en) * | 2019-12-06 | 2020-10-14 | 디플러스(주) | Apparatus for testing product |
KR102416190B1 (en) * | 2022-05-06 | 2022-07-05 | 주식회사 코아시스 | Rolling core block unit and apparatus for testing electonic camera module having the same |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060022194A (en) * | 2004-09-06 | 2006-03-09 | 이즈텍코리아 주식회사 | Image test apparatus for camera module |
KR100799984B1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-01-31 | 옵토팩 주식회사 | Apparatus and method for testing image sensor package |
KR20100027848A (en) * | 2008-09-03 | 2010-03-11 | 주식회사 엔티에스 | A socket for testing electonic camera module |
KR20100059092A (en) * | 2008-11-25 | 2010-06-04 | 주식회사 엔티에스 | Socket for testing image sensor of camera module |
-
2008
- 2008-12-05 KR KR1020080122985A patent/KR101119834B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060022194A (en) * | 2004-09-06 | 2006-03-09 | 이즈텍코리아 주식회사 | Image test apparatus for camera module |
KR100799984B1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-01-31 | 옵토팩 주식회사 | Apparatus and method for testing image sensor package |
KR20100027848A (en) * | 2008-09-03 | 2010-03-11 | 주식회사 엔티에스 | A socket for testing electonic camera module |
KR20100059092A (en) * | 2008-11-25 | 2010-06-04 | 주식회사 엔티에스 | Socket for testing image sensor of camera module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100064510A (en) | 2010-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI714332B (en) | Environmental control device and chip testing system | |
US7800391B2 (en) | Apparatus for testing a chip and methods of making and using the same | |
KR100984806B1 (en) | Jig for measuring of camera module | |
US8368416B2 (en) | In-process system level test before surface mount | |
US11327110B2 (en) | Chip testing system for testing chips | |
KR101804373B1 (en) | Camera module test socket having replaceable block | |
US11183265B2 (en) | Environment control apparatus | |
US20210018557A1 (en) | Chip testing device | |
KR101119834B1 (en) | Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method | |
KR20170024650A (en) | Test socket for camera module | |
KR101504948B1 (en) | Auto socket for inspectinon of camera module | |
KR101722403B1 (en) | the pin block with adjustable pitch control | |
CN101388517B (en) | Test socket | |
KR100898043B1 (en) | Camera module test socket | |
KR100770030B1 (en) | Device test socket | |
KR101041219B1 (en) | Test contact module | |
KR200471077Y1 (en) | Socket for testing electronics | |
US8487642B2 (en) | Burn-in socket and testing fixture using the same | |
KR100633451B1 (en) | Test fixture for application test and semiconductor device application tester having thereof | |
CN112798922A (en) | Environment control equipment and chip test system | |
KR101493045B1 (en) | Connecting unit for testing semiconductor chip and apparatus for testing semiconductor having the same | |
KR102162813B1 (en) | Flexible support type test device for flexible printed circuit board and test method using that | |
CN210427645U (en) | Inspection unit and inspection system | |
KR100782169B1 (en) | A socket for testing electonic module | |
KR101923634B1 (en) | Camera Module Test System |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141230 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151208 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161207 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171204 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181211 Year of fee payment: 8 |