KR101119834B1 - Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 그리고, 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 변화에 따른 적응방법에 대한 것이다. 보다 상세하게는 렌즈부, 이미지 센서부, 연성인쇄회로기판부(FPCB) 및 전장부를 구비한 카메라모듈을 테스트하는 상부몸체과 하부몸체를 포함하고 검사장비의 접점부와 연결해 카메라모듈을 테스트하는 테스트소켓에 있어서, 이미지 센서부의 형상에 따라 제작되어 이미지 센서부를 안착시키는 이미지센서 안착부; 전장부의 위치 또는 형태 변화에 따라 교체가능한 인쇄회로기판부; 전장부의 위치에 따라 배치되며 전장부의 형태에 따라 결정되고 인쇄회로기판부와 연결되는 포고핀블럭; 및 뚜껑 또는 하부몸체에 결합되고, 전장부의 위치 및 종류에 따라 결정된 인쇄회로기판부에 상응하여 결정되는 푸셔;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓이다.The present invention relates to a test socket of a model adaptive camera module and an adaptation method according to a change of a camera module using a test socket of a model adaptive camera module. More specifically, a test socket including an upper body and a lower body for testing a camera module including a lens unit, an image sensor unit, a flexible printed circuit board unit (FPCB), and an electronic device unit, and a test socket for connecting the contact unit of the inspection equipment to test the camera module. An image sensor seating part manufactured according to a shape of an image sensor part to seat an image sensor part; A printed circuit board portion replaceable according to a change in position or shape of the electric component; A pogo pin block arranged according to the position of the electronic component and determined according to the shape of the electronic component and connected to the printed circuit board; And a pusher coupled to the lid or the lower body and determined to correspond to the printed circuit board portion determined according to the position and type of the electrical equipment.

카메라모듈, 테스트소켓, 포고핀블럭, 인쇄회로기판부, 이미지센서 안착부, 검사장비 Camera module, test socket, pogo pin block, printed circuit board, image sensor seat, inspection equipment

Description

모델 적응형 카메라모듈 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법{Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method}Model adaptive camera module test socket and adaptation method according to camera module change using the test socket {Model Adaptable Camera Module Test Socket and Model Adaptable Method}

본 발명은 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 그리고, 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 변화에 따른 적응방법에 대한 것이다. 보다 상세하게는 카메라모듈의 모델의 변화에 따라 다른 테스트소켓을 사용하는 것이 아닌 동일한 테스트소켓에 일부 부품만을 교체하여 다양한 모델의 카메라모듈을 테스트할 수 있는 모델 적응형 카메라모듈의 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법이다.The present invention relates to a test socket of a model adaptive camera module and an adaptation method according to a change of a camera module using a test socket of a model adaptive camera module. More specifically, the test socket and the test of the model adaptive camera module that can test a variety of models of the camera module by replacing only a few parts in the same test socket rather than using a different test socket according to the change of the camera module model It is an adaptation method according to the change of camera module using socket.

휴대폰용 폰 카메라모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 된다. 모듈의 성능 평가시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하여야함으로 커넥터의 위치 및 카메라모듈의 핀수, 연성인쇄회로기판(FPCB)의 길이 등의 정보가 필요하다. 또한, 현재 생산되고 있는 폰 카메라모듈의 생산주기가 6개월 미만임을 감안할 때 자동화 로봇 개발 및 설계 및 모델 변경을 고려하여 최소한의 장비 수정 혹은 지그(JIG)를 사용하는 방법으로 새로운 모델에 대응 가능하도록 유연성 있는 설계가 필요하다. After completing the assembly of each part, the mobile phone camera module for mobile phones undergoes an inspection process for any abnormality of the module such as open-short test, color test and pixel test. When evaluating the performance of the module, it is necessary to evaluate the characteristics of the signal received from the image sensor. Therefore, information such as the position of the connector, the number of pins of the camera module, and the length of the flexible printed circuit board (FPCB) is necessary. In addition, considering that the production cycle of the currently produced phone camera module is less than six months, it is possible to cope with the new model by using minimal equipment modification or JIG in consideration of the development of an automated robot, design and model change. Flexible design is needed.

폰 카메라모듈을 검사하기 위해 모듈을 로딩(loading)하는 방법은 검사장비에 지그가 있어 직접 모듈을 로딩하는 방법과 모듈을 테스트소켓에 넣은 후 그 테스트소켓을 검사장비에 로딩하는 방법이 있다. 이렇게 로딩된 모듈의 렌즈부는 검사장비의 상부에 부착된 테스트 차트의 이미지를 받는다. 또한, 모듈의 전장부의 각 핀은 검사장비와 연결되어 전원공급과 렌즈부에서 받은 이미지를 장비에 이송하여 모듈의 이상 유무를 검사하게 된다.The method of loading the module to inspect the phone camera module is to load the module directly because there is a jig in the inspection equipment, and to load the test socket into the inspection equipment after putting the module in the test socket. The lens portion of the loaded module receives an image of a test chart attached to the upper portion of the inspection equipment. In addition, each pin of the electronic parts of the module is connected to the inspection equipment to check the abnormality of the module by transferring the image from the power supply and the lens unit to the equipment.

따라서, 검사가 진행되는 동안 모듈의 렌즈부의 중심축은 테스트차트(test chart)의 중심축과 일치해야 하며, 모듈의 전장부와 검사장비가 전기적으로 연결되어야 한다. Therefore, the central axis of the lens portion of the module should coincide with the central axis of the test chart during the inspection, and the electrical parts of the module and the inspection equipment should be electrically connected.

기존의 검사장비에 고정된 지그에 모듈을 로딩하는 기존의 방법은 모델의 변화에 따라 광축의 위치 및 전장부의 위치가 바뀌어 장비를 바뀐 위치에 맞게 교체하거나 장비를 다시 셋팅해야하는 문제가 있다. 또한, 전장부가 모듈의 후면에 부착된 경우(이하 후면부)에는 기존의 장비를 그대로 이용할 수 없어 후면형에 맞는 새로운 장비를 제작해야하는 문제점이 있다. 또한, 기존의 테스트소켓을 이용하여 검사장비에 로딩하는 방법은 하나의 카메라모듈 모델에만 적용된다. 따라서, 그 대상 모델이 생산을 중단할 경우 테스트소켓을 더 이상 사용할 수 없게 되는 문제가 있다.The existing method of loading a module on a jig fixed to the existing inspection equipment has a problem in that the position of the optical axis and the length of the electric field are changed according to the change of the model, so that the equipment must be replaced or reset according to the changed position. In addition, when the electronic parts are attached to the rear of the module (hereinafter referred to as the rear part), existing equipment cannot be used as it is, there is a problem that a new equipment must be manufactured for the rear type. In addition, the method of loading the inspection equipment using the existing test socket is applied to only one camera module model. Therefore, there is a problem that the test socket can no longer be used when the target model stops production.

따라서, 카메라모듈의 모델변경 즉, 이미지 센서부의 형태, 연성인쇄회로기 판부의 길이, 전장부의 위치, 전장부의 형태가 변경되더라도 새로운 테스트소켓의 제작없이 다양한 모델을 적용가능한 테스트소켓이 필요하게 되었다. Accordingly, even if the model of the camera module is changed, that is, the shape of the image sensor, the length of the flexible printed circuit board, the location of the electric part, and the shape of the electric part are changed, a test socket capable of applying various models without producing a new test socket is needed.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 폰카메라모듈의 모델변경에 대응하기 위한 테스트소켓을 제공하게 된다. 카메라모듈의 모델변경 시에 새로운 테스트소켓을 사용하지 않고 테스트소켓의 일부부품의 교체로 대응할 수 있도록 새로운 개념의 테스트소켓 및 그 테스트소켓을 이용한 카메라모듈의 모델변화에 따른 적응방법을 제공한다. Accordingly, the present invention provides a test socket for coping with the model change of the phone camera module to solve the above problems. It provides a new concept of test socket and adaptation method according to model change of camera module using the test socket so that it can cope with the replacement of some parts of the test socket without using a new test socket when changing the model of the camera module.

즉, 카메라모듈에서 이미지 센서부의 형상, 전장부의 위치, 전장부 핀의 개수, 전장부 핀의 피치 크기, 카메라모듈의 분류형태(후면형/전면형)에 따라 테스트소켓 자체를 교체하지 않고, 테스트소켓에서 이미지 센서부를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부를 교체하고, 전장부의 핀의 수 및 피치크기에 맞는 포그핀블럭을 선택하고, 전장부의 위치 또는 형태에 따라 인쇄회로기판부(PCB) 및 푸셔를 설치함으로써 변화된 카메라모듈에 적응가능한 카메라모듈을 제공하게 된다. In other words, according to the shape of the image sensor part, the location of the front part, the number of front part pins, the pitch size of the front part pins, and the classification type of the camera module (rear type / front type) in the camera module, the test socket itself is not replaced. Replace the image sensor seat that can seat the image sensor in the socket, select the fog pin block that matches the number and pitch of the pins on the electrical part, and adjust the PCB and the pusher according to the position or shape of the electrical part. The installation provides a camera module adaptable to the changed camera module.

또한, 본 발명은 카메라모듈의 모델변경 시에 테스트소켓이 검사장비에 연결되었을 때 검사장비의 광축과 검사장비의 전기적 접점 부분에 추가적인 이송장치 없이 고정된 위치에서 검사가 진행될 수 있는 방법을 제공한다. 그리고, 테스트소켓이 검사장비에 대해 반복적인 로딩 또는 언로딩 과정에서 항상 같은 위치에 놓일 수 있는 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides a method in which the inspection can be performed in a fixed position without an additional transfer device to the optical axis of the inspection equipment and the electrical contact portion of the inspection equipment when the test socket is connected to the inspection equipment when the model of the camera module is changed. . It also provides a way for test sockets to be always in the same position during repeated loading or unloading of inspection equipment.

본 발명의 그 밖에 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 관련되어 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예로부터 더욱 명확해질 것이다. Other objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and preferred embodiments in conjunction with the accompanying drawings.

상기와 같은 본 발명의 목적은, 렌즈부, 이미지 센서부, 연성인쇄회로기판부 및 전장부를 구비한 카메라모듈을 테스트하는 상부몸체과 하부몸체를 포함하고 검사장비의 접점부와 연결해 카메라모듈을 테스트하는 테스트 소켓에 있어서, 이미지 센서부의 형태에 따라 제작되어 이미지 센서부를 안착시키는 이미지센서 안착부; 전장부의 위치 또는 형태 변화에 따라 교체가능하고 상부몸체 또는 하부몸체에 결합되는 인쇄회로기판부; 전장부의 위치에 따라 배치되며 전장부의 종류에 따라 결정되고 인쇄회로기판부와 연결되는 포고핀블럭; 및 상부몸체 또는 하부몸체에 결합되고, 전장부의 위치 및 종류에 따라 결정된 인쇄회로기판부에 상응하여 결정되는 푸셔;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓으로 달성될 수 있다.An object of the present invention as described above, including the upper body and the lower body for testing the camera module having a lens unit, an image sensor unit, a flexible printed circuit board unit and the electric field unit and connected to the contact portion of the inspection equipment to test the camera module A test socket comprising: an image sensor seating part manufactured according to a shape of an image sensor part to seat an image sensor part; A printed circuit board that is replaceable according to a change in position or shape of the electronic parts and coupled to an upper body or a lower body; A pogo pin block arranged according to the position of the electronic component and determined according to the type of the electronic component and connected to the printed circuit board; And a pusher coupled to the upper body or the lower body, and determined to correspond to the printed circuit board part determined according to the position and type of the electrical equipment. The model adaptable camera module test socket may include a pusher.

상부몸체과 하부몸체는, 전장부의 위치 또는 전장부의 형태변화에 따라, 인쇄회로기판부, 포고핀블럭 또는 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 결합 위치 가 변경될 수 있을 정도의 내부공간을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.The upper body and the lower body, the printed circuit board portion, pogo pin block or pogo pin block having an internal space such that the coupling position of the printed circuit board portion can be changed according to the position of the electrical component or the shape change of the electrical component. It can be characterized.

전장부의 위치는, 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 테스트소켓이 적응하는 것을 특징으로 할 수 있다.The location of the electronic parts is classified into an I-type model and an L-type model according to the shape of the flexible printed circuit board, and the test socket is adapted to the model that is changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the printed circuit board. You can do

전장부의 형태는, 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되며, 테스트소켓이 전면형과 후면형에 모두 적용하기 위해서, 상부몸체과 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 내부공간을 가지고, 상부몸체과 하부몸체 각각에 포고핀블럭을 연결할 수 있는 인쇄회로기판부가 결합 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The form of the electric part is classified into the front type where the pogo pin block to which the electric part is coupled is connected to the upper body and the rear type where the pogo pin block to which the electric part is coupled is connected to the lower body. In order to apply, the printed circuit board may be coupled to the upper body and the lower body having an inner space spaced at a predetermined interval, and to connect the pogo pin block to each of the upper body and the lower body.

상부몸체 및 하부몸체 각각에 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.Each of the upper body and the lower body may be provided with a predetermined space to be inserted into the printed circuit board portion connected to the pogo pin block.

포고핀블럭은, 전장부 핀의 개수 또는 전장부 핀의 피치크기에 따라 결정되며 결정된 포고핀블럭으로 교체하여 테스트소켓이 카메라모듈에 적응 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The pogo pin block may be characterized in that the test socket is adapted to the camera module by replacing the determined pogo pin block according to the number of pins or the pitch size of the length pins.

카메라모듈의 모델이 변화하더라도 검사장비의 광축은 유지되고, 카메라모듈의 모델변화에 따라 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써, 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 전장부에서부터 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 할 수 있다. Even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, and the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block is changed according to the model change of the camera module, so that the position of the inspection equipment contact portion is fixed so that the pogo pin block is The electrical connection to the contact portion of the printed circuit board portion and the inspection equipment can be maintained.

하부몸체의 하부면에 동적기저부를 더 구비하여, 테스트소켓이 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, 테스트소켓은 상대적으로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 할 수 있다.Further comprising a dynamic base on the lower surface of the lower body, when the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, the test socket may be characterized in that it maintains a relatively constant position.

동적기저부는, 각각이 일정한 간격을 갖고 중심점을 기준으로 각각이 120도(°)의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 것을 특징으로 할 수 있다.The dynamic base portion may be characterized by having three positioning grooves each having a constant interval and spaced apart at intervals of 120 degrees with respect to the center point.

또 다른 카테고리로서 본 발명의 목적은, 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법에 있어서, 이미지 센서부의 형태가 변하는 경우, 카메라모듈의 이미지 센서의 형태에 따른 이미지센서 안착부를 설치하는 단계; 전장부의 핀이 달라지는 경우, 전장부와 전기적연결이 가능한 포고핀블럭을 결정하는 단계; 결정된 포고핀블럭을 연결할 수 있는 인쇄회로기판부를 결정하는 단계; 전장부의 형태가 변화하는 경우, 전장부의 형태에 따라 결정된 인쇄회로기판부(PCB)를 테스트소켓의 상부몸체 또는 하부몸체에 설치하는 단계; 후에 장착될 카메라묘듈의 전장부의 위치를 고려하여 인쇄회로기판부에 포고핀블럭을 연결하는 단계; 카메라모듈의 이미지센서를 이미지 센서부에 안착하고 전장부 핀을 포고핀블럭에 결합하여 카메라모듈이 테스트소켓에 장착되는 단계; 및 테스트소켓을 검사장비와 연결하여 카메라모듈의 이미지 센서부에 테스트 차트의 이미지를 투사하여 카메라모듈을 검사하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법으로 달성될 수 있다.Another object of the present invention as an object of the present invention, in the adaptation method according to the change of the camera module using the test socket, if the shape of the image sensor unit is changed, providing an image sensor seating unit according to the shape of the image sensor of the camera module; Determining a pogo pin block that is electrically connected to the electric part when the pin of the electric part is changed; Determining a printed circuit board unit to which the determined pogo pin blocks can be connected; When the shape of the electric parts is changed, installing a printed circuit board part (PCB) determined according to the shape of the electric parts on the upper body or the lower body of the test socket; Connecting the pogo pin block to the printed circuit board in consideration of the position of the electric component of the camera module to be mounted later; Mounting an image sensor of the camera module to the image sensor unit and coupling the electric field pin to the pogo pin block to mount the camera module to the test socket; And inspecting the camera module by projecting an image of a test chart to the image sensor unit of the camera module by connecting the test socket to the inspection equipment. It can be achieved by the adaptation method accordingly.

하부몸체에 설치 단계에서, 전장부의 형태에 따라 몸체 또는 하부몸체에 푸셔가 설치되는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the installing step on the lower body, the pusher is installed on the body or the lower body according to the shape of the electric portion; may be characterized in that it further comprises.

포고핀블럭 결정 단계에서, 포고핀블럭은 전장부 핀의 개수 또는 전장부 핀의 피치크기에 따라 결정되는 것을 특징으로 할 수 있다.In the pogo pin block determining step, the pogo pin blocks may be determined according to the number of full length pins or the pitch size of the full length pins.

전장부 형태는, 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되는 것을 특징으로 할 수 있다.The full length part may be characterized in that the pogo pin block to which the full length is coupled is classified into a front type connected to the upper body side and a pogo pin block to which the full length is coupled to the rear type connected to the lower body.

포고핀블럭 연결단계에서, 전장부의 위치는 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며, 포고핀블럭이 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 테스트소켓이 적응하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the pogo pin block connecting step, the position of the electric component is classified into an I-type model and an L-type model according to the shape of the flexible printed circuit board, and the pogo pin block is changed according to the model changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the PCB. The test socket may be characterized by adaptation.

상부몸체과 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 내부공간을 가지고, 상부몸체 및 하부몸체 각각에 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 구비하여 테스트소켓이 전면형과 후면형에 모두 적용가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The upper and lower bodies have internal spaces spaced at predetermined intervals, and each of the upper and lower bodies has a predetermined space for inserting a printed circuit board portion connected to the pogo pin block. All may be characterized as applicable.

카메라모듈 검사단계에서, 카메라모듈의 모델이 변화하더라도 검사장비의 광축은 유지되고, 카메라모듈의 모델변화에 따라 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써, 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 전장부에서부터 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 할 수 있다.In the camera module inspection step, even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, and the position of the inspection equipment contact portion is fixed by changing the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block according to the model change of the camera module. It may be characterized in that the electrical connection is maintained from the electrical parts to the pogo pin block, the printed circuit board part and the contact part of the inspection equipment.

테스트소켓이 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, 하부몸체의 하부면에 중심점을 기준으로 각각이 120도(°)의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 동적기저부에 의해 테스트소켓은 상대적으로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 할 수 있다.When the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, the bottom of the lower body is tested by a dynamic base having three positioning grooves, each spaced at an interval of 120 degrees with respect to the center point. The socket may be characterized as maintaining a relatively constant position.

따라서, 상기 설명한 바와 같은 본 발명의 일실시예에 의하면, 카메라모듈 테스트소켓은 폰카메라모듈의 모델변경에 대응할 수 있는 효과를 가진다. 카메라 모듈의 모델변경 시에 새로운 테스트소켓을 사용하지 않고 테스트소켓의 일부 부품의 교체만로 모델변경을 적응할 수 있는 장점이 있다. Therefore, according to one embodiment of the present invention as described above, the camera module test socket has an effect that can respond to the model change of the phone camera module. When changing the model of the camera module, it is possible to adapt the model change only by replacing some parts of the test socket without using a new test socket.

즉, 테스트소켓 자체를 교체하지 않고, 변경된 테스트소켓의 이미지 센서부 형상에 대해 이미지 센서부를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부를 교체하고, 전장부의 핀의 수 및 피치크기에 맞는 포고핀블럭을 선택하고, 전장부의 위치(I형 또는 L형), 전장부의 형태(후면형 또는 전면형)에 상관없이 모두 적용 가능하도록 뚜껑과 하부몸체의 내부공간을 구비하고, 인쇄회로기판부 및 푸셔를 뚜껑 또는 하부몸체에 설치함으로써 변화된 카메라모듈에 적응 가능한 효과를 갖는다.That is, without replacing the test socket itself, replace the image sensor seat that can seat the image sensor for the shape of the image sensor of the changed test socket, select the pogo pin block according to the number of pins and pitch size of the overall length , The lid and the lower body inner space to be applicable regardless of the position (I type or L type), the shape (rear or front type) of the overall length, and the printed circuit board portion and the pusher Installation on the body has an effect that can be adapted to the changed camera module.

또한, 본 발명은 카메라모듈의 모델변경 시에 테스트소켓이 검사장비에 연결되었을 때 검사장비의 광축과 검사장비의 전기적 접점 부분에 추가적인 이송장치 없이 고정된 위치에서 검사가 진행될 수 있어 전장부, 포고핀블럭, 인쇄회로기판부 및 장비의 접점부의 일련의 전기적연결이 유지 가능한 효과를 가진다. 또한, 이송장비가 필요없어 신속하고, 경제적인 장점이 있다. In addition, the present invention, when the test socket is connected to the inspection equipment when changing the model of the camera module, the inspection can be carried out in a fixed position without an additional transport device on the optical axis of the inspection equipment and the electrical contact portion of the inspection equipment, the electrical equipment, pogo A series of electrical connections of the pin block, the printed circuit board unit, and the contact portion of the equipment can be maintained. In addition, there is no need for the transfer equipment, there is a fast, economic advantage.

그리고, 테스트소켓이 검사장비에 대해 반복적인 로딩 또는 언로딩 과정에서 동적기저부(kinematic base)를 사용하여 검사 장비와 폰 카메라모듈 테스트소켓과 상대적인 위치에 대한 반복정밀도가 보장되는 효과가 있다.In addition, the test socket uses a kinematic base during the repetitive loading or unloading of the inspection equipment, thereby ensuring the repeatability of the inspection equipment and the phone camera module test socket relative to the test socket.

비록 본 발명이 상기에서 언급한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어 졌지만, 본 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다른 다양한 수정 및 변형이 가능한 것은 당업자라면 용이하게 인식할 수 있을 것이며, 이러한 변경 및 수정은 모두 첨부된 특허 청구 범위에 속함은 자명하다.Although the present invention has been described in connection with the above-mentioned preferred embodiments, it will be readily apparent to those skilled in the art that various other modifications and variations are possible without departing from the spirit and scope of the present invention. Are all within the scope of the appended claims.

(모델적응형 카메라모듈 테스트소켓의 구성과 기능)(Configuration and Function of Model Adaptive Camera Module Test Socket)

이하에서는 첨부된 도면을 참고하여 본 발명인 모델적응형 카메라모듈 테스 트소켓의 구성과 기능에 대해 설명하도록 한다. 우선, 도 1은 카메라모듈의 사시도를 도시한 것이고, 도 2a는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 위에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 2b는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 옆에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 2c는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓에서 상부몸체를 닫은 모습의 사시도를 도시한 것이다. 도 2d는 테스트소켓의 상부몸체의 사시도를 도시한 것이다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration and function of the present invention model adaptive camera module test socket. First, Figure 1 shows a perspective view of the camera module, Figure 2a shows a perspective view from above of a test socket equipped with a camera module. Figure 2b shows a perspective view from the side of the test socket equipped with a camera module. Figure 2c shows a perspective view of the upper body closed in a test socket equipped with a camera module. Figure 2d shows a perspective view of the upper body of the test socket.

도 1에 도시된 바와 같이, 카메라모듈은 다양한 부가적 구성을 가지지만 대부분 렌즈부(110)와 이미지 센서부(120), 연성인쇄회로기판부(130) 및 전장부(140)로 구성된다. 따라서, 검사과정에서 테스트 차트의 이미지를 이미지 센서부(120)에 투사하여 전장부(140)와 테스트소켓 검사장비가 전기적 접점을 이루게 된다. 이 때 테스트 차트의 중심, 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120)의 중심이 일치하여야 한다(광축 일치). As shown in FIG. 1, the camera module has various additional configurations, but is mainly composed of a lens unit 110, an image sensor unit 120, a flexible printed circuit board unit 130, and an electric component 140. Therefore, in the inspection process, the image of the test chart is projected on the image sensor unit 120 to form an electrical contact between the electrical unit 140 and the test socket inspection equipment. At this time, the center of the test chart, the center of the lens unit 110 and the image sensor unit 120 should match (optical axis coincidence).

도 2a 내지 도 2c에 도시된 바와 같이, 테스트소켓은 카메라모듈이 장착되었을 때 이미지 센서부(120)가 안착되는 이미지센서 안착부(200)를 구비하고 있다. 그리고, 카메라모듈(100)의 전장부(140) 핀(150)에 연결되는 포고핀블럭(210)과 포고핀블럭(210)과 결합되는 인쇄회로기판(PCB)부(220)를 포함하고 있다. 이러한 인쇄회로기판부(220)가 검사장비의 접점부에 연결되어 로딩 또는 언로딩을 하며 검사공정을 수행하게 된다. 그리고, 테스트소켓은 상부몸체(240)과 하부몸체(250)를 구비하고 상부몸체(240)를 닫았을 때 상부몸체(240)과 하부몸체(250) 사이에 내부공간을 가지게 된다. 상부몸체(240) 또는 하부몸체(250)의 내면에는 푸셔(230)가 설 치된다.As illustrated in FIGS. 2A to 2C, the test socket includes an image sensor seating part 200 in which the image sensor part 120 is seated when the camera module is mounted. In addition, it includes a pogo pin block 210 and a printed circuit board (PCB) unit 220 coupled to the pogo pin block 210 connected to the electrical component 140 pin 150 of the camera module 100. . The printed circuit board 220 is connected to the contact portion of the inspection equipment to perform the loading or unloading and inspection process. In addition, the test socket includes an upper body 240 and a lower body 250 and has an inner space between the upper body 240 and the lower body 250 when the upper body 240 is closed. The pusher 230 is installed on the inner surface of the upper body 240 or the lower body 250.

카메라모듈(100)의 모델변화에 따라 테스트소켓 자체를 바꾸지 않고 이미지센서 안착부(200), 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 또는 푸셔(230)만을 재배치 또는 교환하여 모델변화에 적응할 수 있다. 즉, 카메라모듈(100)의 모델 변화는 이미지 센서부(120)의 형상, 연성인쇄회로기판부(130)의 길이, 전장부(140)의 위치(I형 또는 L형), 전장부(140)의 형태(후면형 또는 전면형), 전장부 핀(150)의 개수 또는 전장부 핀(150)의 피치크기에 따라 달라지게 된다. According to the model change of the camera module 100, the model is changed by relocating or replacing only the image sensor seat 200, the pogo pin block 210, the printed circuit board 220 or the pusher 230 without changing the test socket itself. Can adapt to That is, the model change of the camera module 100 may include the shape of the image sensor unit 120, the length of the flexible printed circuit board unit 130, the position (type I or L) of the electric component 140, and the electric component 140. ) Shape (rear or front), the number of full length pins 150 or the pitch size of the full length pins 150 will vary.

변화된 카메라모듈(100) 모델에 대해 먼저 이미지 센서부(120)를 안착시킬 수 있는 구조를 가지는 이미지센서 안착부(200)를 결정해 테스트 소켓에 설치하게 된다. 그리고, 전장부(140)와 연결되는 포고핀블럭(210)을 전장부의 핀(150)의 개수와 핀(150)의 피치크기와 부합되는 것으로 결정하게 된다. 도 3a 전장부(140)의 위치 형태가 I형인 경우의 테스트소켓의 평면도를 도시한 것이고, 도 3b는 전장부(140)의 위치 형태가 L형인 경우의 테스트소켓의 평면도를 도시한 것이다. For the changed camera module 100 model, first, the image sensor seating unit 200 having a structure capable of mounting the image sensor unit 120 may be determined and installed in the test socket. In addition, the pogo pin block 210 connected to the electric component 140 is determined to match the number of the pins 150 and the pitch size of the pin 150. FIG. 3A illustrates a plan view of a test socket when the position shape of the electronic device 140 is type I, and FIG. 3B illustrates a plan view of the test socket when the location type of the electronic device 140 is L type.

도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 전장부(140)와 연결한 포고핀블럭(210)이 인쇄회로기판부(220)에 결합 배치되는 것은 전장부(140)의 위치에 따라 달라진다. I형의 경우 인쇄회로기판부(220)의 중간 부분에 포고핀블럭(210)이 연결됨을 알 수 있고, L형의 경우 오른쪽으로 치우친 지점에 연결되어 있다. 이렇게 다양한 전장부(140)에 위치에 적용이 가능하도록 인쇄회로기판부(220)가 설계된다. As shown in FIGS. 3A and 3B, the arrangement of the pogo pin blocks 210 connected to the electrical component 140 to the printed circuit board 220 may vary depending on the position of the electrical component 140. In the case of type I, it can be seen that the pogo pin block 210 is connected to the middle portion of the printed circuit board 220, and in the case of the L type, the pogo pin block 210 is connected to the right side. Thus, the printed circuit board 220 is designed to be applicable to various electrical parts 140 in position.

도 4a는 전장부(140)의 형태가 전면형인 경우 카메라모듈(100)과 결합된 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)에 측면도를 도시한 것이고, 도 4b는 전장부(140)의 형태가 후면형인 경우 카메라모듈(100)과 결합된 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)에 측면도를 도시한 것이다. 이러한 전장부(140)의 형태에 따라 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)가 상부몸체(240)에 설치되는지 하부몸체(250)에 설치되는 지가 결정된다. 4A is a side view of the pogo pin block 210, the printed circuit board unit 220, the upper body 240, and the lower body 250 that are coupled to the camera module 100 when the shape of the electrical component 140 is the front type. 4B is a pogo pin block 210, a printed circuit board 220, an upper body 240, and a lower body coupled to the camera module 100 when the shape of the electrical component 140 is a rear type. A side view is shown at 250. According to the shape of the electric component 140, it is determined whether the printed circuit board 220 to which the pogo pin block 210 is coupled is installed on the upper body 240 or the lower body 250.

도 4a에 도시된 바와 같이, 전면형의 경우 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)를 상부몸체(240)에 설치하게 된다. 따라서, 상부몸체(240)의 내부면에 인쇄회로기판부(220)를 설치할 수 있는 소정공간(246)을 확보하고 있어야 한다. 또한, 도 4b에 도시된 바와 같이, 후면형의 경우는 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)가 하부몸체(250)에 설치된다. 따라서, 하부몸체(250) 내부에도 인쇄회로기판부(220)를 설치할 소정공간(246)을 구비하게 된다.As shown in Figure 4a, in the case of the front-type pogo pin block 210 is coupled to the printed circuit board 220 is installed on the upper body 240. Therefore, a predetermined space 246 for installing the printed circuit board 220 on the inner surface of the upper body 240 should be secured. In addition, as shown in Figure 4b, in the case of the back-type printed circuit board 220, the pogo pin block 210 is coupled to the lower body 250 is installed. Therefore, the inside of the lower body 250 is provided with a predetermined space 246 to install the printed circuit board 220.

본 발명의 테스트소켓은 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 후면형 및 전면형 모두에 적용될 수 있다. 두껑을 닫은 경우, 상부몸체(240)과 하부몸체(250) 사이에 내부공간을 가지고 있으며 이러한 내부공간은 전면형과 후면형이 모두 적용될 정도의 크기를 가지고 있다. 바람직하게는 테스트소켓의 크기가 커지면 장비의 크기도 그에 따라 커지기 때문에 상부몸체(240) 및 하부몸체(250)의 크기는 모델변화에 적응할 수 있을 크기로 최소화하여 설계되는 것이 적합하다.The test socket of the present invention can be applied to both the rear type and the front type, as shown in FIGS. 4A and 4B. When the lid is closed, it has an inner space between the upper body 240 and the lower body 250 and this inner space has a size enough to be applied to both the front type and the rear type. Preferably, as the size of the test socket increases, the size of the equipment increases accordingly, so that the size of the upper body 240 and the lower body 250 is designed to be minimized to a size that can adapt to the model change.

그리고, 전면형의 경우 인쇄회로기판부(220)가 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치됨으로 푸셔(230)는 하부몸체(250)의 소정공간(246)에 설치되며 후면형의 경우는 인쇄회로기판부(220)가 하부몸체(250) 소정공간(246)에 설치됨으로 푸셔(230)가 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치된다. 이렇게 카메라모듈(100)의 다양한 모델에 대해 테스트소켓은 모델에 부합하는 이미지센서 안착부(200), 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220), 푸셔(230)를 결정하고 설치하여 다양한 모델에 적용 가능하게 된다. In addition, since the front circuit board 220 is installed in the predetermined space 246 of the upper body 240, the pusher 230 is installed in the predetermined space 246 of the lower body 250, In this case, since the printed circuit board 220 is installed in the predetermined space 246 of the lower body 250, the pusher 230 is installed in the predetermined space 246 of the upper body 240. In this way, the test socket for the various models of the camera module 100 determines and installs the image sensor seating part 200, the pogo pin block 210, the printed circuit board part 220, and the pusher 230 corresponding to the model. Applicable to various models.

또한, 테스트소켓이 검사장비에 결합되었을 때 카메라모듈(100)의 모델이 변화하여도 렌즈부(110)와 이미지 센서부(120) 및 이미지센서 안착부(200)의 위치가 변하는 것은 아니므로 검사장비의 광축과 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120) 중심과 일치되게 된다. 즉, 광축일치가 유지된다. 그리고, 카메라모듈(100)의 모델이 변화함에 따라 인쇄회로기판부(220)에 결합되는 포고핀블럭(210)의 위치 및 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)의 위치변화로 적응함으로써 카메라모듈(100)의 전장부(140)에서부터, 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 및 장비의 접점부까지 일련의 전기적 연결이 유지되게 된다. 따라서, 장비의 광축을 일치시키거나 일련의 전기적 연결을 위해 별도의 이송장치가 필요없다. In addition, even when the model of the camera module 100 is changed when the test socket is coupled to the inspection equipment, the positions of the lens unit 110, the image sensor unit 120, and the image sensor seating unit 200 do not change. The optical axis of the equipment and the center of the lens unit 110 and the image sensor unit 120 will be matched. That is, optical axis agreement is maintained. As the model of the camera module 100 changes, the position of the pogo pin block 210 coupled to the printed circuit board 220 and the position of the printed circuit board 220 to which the pogo pin block 210 is coupled. By adapting to the change, a series of electrical connections are maintained from the electrical component 140 of the camera module 100 to the pogo pin block 210, the printed circuit board 220, and the contact portion of the equipment. Thus, there is no need for a separate transfer device to match the optical axis of the equipment or for a series of electrical connections.

또한, 테스트소켓 하부몸체(250)의 하부면에 동적기저부(260)를 더 포함하고 있다. 도 5는 동적기저부(260)가 보이도록 테스트소켓을 밑에서 바라본 사시도를 도시한 것이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 이러한 동적기저부(260)에는 일정한 간격을 유지하고, 중심점(261)을 기준으로 각각 120°로 이격된 위치결정 홈(265)을 구비하고 있다. 이러한 위치결정 홈(265)은 검사장비에 구비된 위치결정 핀에 결합된다. 따라서, 동적기저부(260)에 의해 테스트소켓이 검사장비에 연결되어 검사되는 과정 중에 반복적인 로딩 또는 언로딩 시, 테스트소켓과 검사장비 사이의 상대 적인 위치가 변하지 않고 유지되게 된다.In addition, the lower surface of the test socket lower body 250 further includes a dynamic base 260. 5 shows a perspective view from below of the test socket so that the dynamic base 260 is visible. As shown in FIG. 5, the dynamic base portion 260 is provided with positioning grooves 265 spaced at 120 ° with respect to the center point 261 and maintained at regular intervals. This positioning groove 265 is coupled to the positioning pin provided in the inspection equipment. Therefore, when the test socket is connected to the inspection equipment by the dynamic base 260 and repeatedly loaded or unloaded during the inspection process, the relative position between the test socket and the inspection equipment remains unchanged.

(카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법)(Adaptation method of test socket according to model change of camera module)

이하에서는 첨부된 도면을 참고하여 본 발명인 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법에 대해 설명하도록 한다. 우선, 도 6은 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법의 흐름도를 도시한 것이다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a test socket adaptation method according to the model change of the present invention camera module. 6 shows a flowchart of a test socket adaptation method according to a model change of a camera module.

카메라모듈(100)의 모델이 변경된 경우, 먼저 모델변경으로 이미지 센서부(120)의 형태가 바뀌었는지 결정하여(S10) 형태가 바뀐 경우 변화된 이미지 센서부(120)를 안착시킬 수 있는 이미지센서 안착부(200)로 교체하게 된다(S20). 그리고 변화된 카메라모듈(100)의 전장부 핀(150)의 개수 또는 핀(150)의 피치 크기가 변하였는지를 결정하고(S30) 변한 경우, 그러한 전장부의 핀(150)에 결합되어 전기적 연결이 가능한 포고핀블럭(210)을 결정하게 된다(S40). When the model of the camera module 100 is changed, first, it is determined whether the shape of the image sensor unit 120 is changed by changing the model (S10). When the shape is changed, the image sensor may be seated to seat the changed image sensor unit 120. It will be replaced with the unit 200 (S20). In addition, if the number of changed lengths of the pin 150 of the camera module 100 or the pitch size of the pin 150 is changed (S30), and if it is changed, the pogo is coupled to the pin 150 of such a length of the electric pore capable of electrical connection. The pin block 210 is determined (S40).

결정된 포고핀블럭(210)이 연결될 수 있는 인쇄회로기판부(220)인지를 결정하고(S50) 아닌 경우 포고핀블럭(210)을 전기적으로 연결할 수 있는 인쇄회로기판부(220)를 결정한다(S60). 그리고, 카메라모듈(100)의 전장부(140) 형태가 바뀌었는지를 판단한다(S70). 즉, 전장부(140)의 형태가 전면형에서 후면형으로 또는 후면형에서 전면형을 바뀐 것인지를 판단한다. 형태가 바뀐 경우, 전면형인 경우 인쇄회로기판부(220)를 상부몸체(240)의 소정공간(246)에 설치하고 푸셔(230)를 하부몸체(250)의 소정공간(246)에 설치하게 된다. 반면, 후면형인 경우는 인쇄회로기판부(220)를 하부몸체(250)에 설치하고, 푸셔(230)를 상부몸체(240)에 설치하게 된 다(S80). Determine whether the determined pogo pin block 210 is a printed circuit board unit 220 that can be connected (S50), and if not, determines the printed circuit board unit 220 that can electrically connect the pogo pin block 210 ( S60). In operation S70, it is determined whether the shape of the electric component 140 of the camera module 100 is changed. That is, it is determined whether the shape of the electric parts 140 is changed from the front type to the rear type or the rear type to the front type. When the shape is changed, in the case of the front type, the printed circuit board 220 is installed in the predetermined space 246 of the upper body 240 and the pusher 230 is installed in the predetermined space 246 of the lower body 250. . On the other hand, in the case of the back type, the printed circuit board 220 is installed on the lower body 250, and the pusher 230 is installed on the upper body 240 (S80).

그리고, 전장부(140)의 위치에 따라 포고핀블럭(210)을 인쇄회로기판부(220)에 연결하게 된다(S90). 즉, 전장부(140)가 I형인지 또는 L형인지에 따라 후에 카메라모듈(100)이 테스트소켓에 설치되었을 때 전장부(140)가 포고핀블럭(210)에 결합될 수 있는 위치에 포고핀블럭(210)을 인쇄회로기판부(220)에 연결하게 된다.Then, the pogo pin block 210 is connected to the printed circuit board unit 220 according to the position of the electric component 140 (S90). That is, depending on whether the electronic device 140 is I type or L type, when the camera module 100 is installed in the test socket, the electronic device 140 is poised at a position that can be coupled to the pogo pin block 210. The pin block 210 is connected to the printed circuit board 220.

이렇게 되면 변화된 카메라모듈(100)을 적용할 수 있는 테스트소켓이 되고 카메라모듈(100)의 이미지 센서부(120)를 테스트소켓의 이미지센서 안착부(200)에 안착하고, 전장부(140)를 포고핀블럭(210)에 연결하여 카메라모듈(100)을 테스트소켓에 설치하게 된다(S100). 그리고, 테스트소켓을 검사장비에 연결하여 테스트 차트 이미지를 이미지 센서부(120)에 투사하여 로딩, 언로딩을 하며 카메라모듈(100)을 검사하게 된다(S110). This becomes a test socket to which the changed camera module 100 can be applied, and the image sensor unit 120 of the camera module 100 is seated on the image sensor seating unit 200 of the test socket, and the electrical unit 140 is mounted. The camera module 100 is installed in the test socket by connecting to the pogo pin block 210 (S100). Then, the test socket is connected to the inspection equipment to test, load and unload the test chart image onto the image sensor unit 120 to inspect the camera module 100 (S110).

이때에 앞서 설명한 것과 같이, 테스트소켓이 검사장비에 결합되었을 때 카메라모듈(100)의 모델이 변화하여도 렌즈부(110)와 이미지센서 및 이미지센서 안착부(200)의 위치가 변하는 것은 아니므로 검사장비의 광축이 렌즈부(110) 및 이미지 센서부(120) 중심과 일치되게 된다. 그리고, 카메라모듈(100)의 모델이 변화함에 따라 인쇄회로기판부(220)에 결합되는 포고핀블럭(210)의 위치 및 포고핀블럭(210)이 결합된 인쇄회로기판부(220)의 위치변화로 적응함으로 카메라모듈(100)의 전장부(140)에서부터, 포고핀블럭(210), 인쇄회로기판부(220) 및 장비의 접점부까지 일련의 전기적 연결이 유지되게 된다. 따라서, 장비의 광축을 일치시키거나 일련의 전기적 연결을 위해 별도의 이송장치가 필요없다. As described above, even when the model of the camera module 100 is changed when the test socket is coupled to the inspection equipment, the positions of the lens unit 110, the image sensor, and the image sensor seating unit 200 do not change. The optical axis of the inspection equipment is coincident with the center of the lens unit 110 and the image sensor unit 120. As the model of the camera module 100 changes, the position of the pogo pin block 210 coupled to the printed circuit board 220 and the position of the printed circuit board 220 to which the pogo pin block 210 is coupled. By adapting to the change, a series of electrical connections are maintained from the electrical parts 140 of the camera module 100 to the pogo pin block 210, the printed circuit board part 220, and the contact parts of the equipment. Thus, there is no need for a separate transfer device to match the optical axis of the equipment or for a series of electrical connections.

또한, 테스트소켓 하부몸체(250)의 하부면에 동적기저부(260)를 더 포함하고 있다. 이러한 동적기저부(260)에는 일정한 간격을 유지하고, 중심점(261)을 기준으로 각각 120°로 이격된 위치결정 홈(265)을 구비하고 있다. 이러한 위치결정 홈(265)은 검사장비에 구비된 각각 120°로 이격된 위치결정 핀에 결합된다. 따라서, 동적기저부(260)에 의해 테스트소켓이 검사장비에 연결되어 검사되는 과정 중에 반복적인 로딩 또는 언로딩 시, 테스트소켓과 검사장비 사이의 상대적인 위치가 변하지 않고 유지되게 된다.In addition, the lower surface of the test socket lower body 250 further includes a dynamic base 260. The dynamic base 260 is provided with positioning grooves 265 spaced at 120 ° with respect to the center point 261 at regular intervals. These positioning grooves 265 are coupled to the positioning pins spaced 120 degrees each of the inspection equipment. Therefore, when the test socket is connected to the inspection equipment by the dynamic base 260 and repeatedly loaded or unloaded during the inspection process, the relative position between the test socket and the inspection equipment remains unchanged.

도 1은 카메라모듈의 사시도,1 is a perspective view of a camera module,

도 2a는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 위에서 본 사시도,Figure 2a is a perspective view from above of a test socket equipped with a camera module,

도 2b는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 옆에서 본 사시도,Figure 2b is a perspective view of the test socket equipped with a camera module from the side,

도 2c는 상부몸체가 닫혀있는 상태의 테스트소켓의 사시도,Figure 2c is a perspective view of the test socket with the upper body closed;

도 2d는 테스크소켓 상부몸체의 사시도,2d is a perspective view of the desk socket upper body,

도 3a는 I형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 평면도, 3A is a plan view of a test socket equipped with a camera module having an I-type electric section;

도 3b는 L형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 평면도,3B is a plan view of a test socket equipped with a camera module having an L-shaped electric section;

도 4a는 전면형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 측면도,Figure 4a is a side view of a test socket equipped with a camera module having a front electronic parts,

도 4b는 후면형 전장부를 구비한 카메라모듈이 장착된 테스트소켓의 측면도,Figure 4b is a side view of the test socket equipped with a camera module having a back-type electric part,

도 5는 카메라모듈이 장착된 테스트소켓을 밑에서 본 사시도,5 is a perspective view from below of a test socket equipped with a camera module;

도 6은 카메라모듈의 모델변화에 따른 테스트소켓 적응방법의 흐름도를 도시한 것이다.6 is a flowchart illustrating a test socket adaptation method according to a model change of a camera module.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100:카메라모듈100: camera module

110:렌즈부110: lens unit

120:이미지 센서부120: image sensor

130:연성인쇄회로기판부130: flexible printed circuit board

140:전장부140: overall length

150:전장부의 핀150: overall length of the pin

200:이미지센서 안착부200: image sensor seat

210:포고핀블럭210: pogo pin block

220:인쇄회로기판부220: printed circuit board

225:검사장비의 접접부와 연결부225: contact and connection of the inspection equipment

230:푸셔230: Pusher

240:상부몸체240: upper body

245:상부몸체의 홀245: Hall of the upper body

246:상부몸체의 소정공간246: predetermined space of the upper body

250:하부몸체250: lower body

260:동적기저부260: Dynamic base

261:중심점261: center point

265:위치결정 홈265: positioning groove

Claims (17)

렌즈부, 이미지 센서부, 연성인쇄회로기판부 및 전장부를 구비한 카메라모듈을 테스트하는 상부몸체과 하부몸체를 포함하고 검사장비의 접점부와 연결해 상기 카메라모듈을 테스트하는 테스트소켓에 있어서,In the test socket for testing the camera module including an upper body and a lower body for testing the camera module having a lens unit, an image sensor unit, a flexible printed circuit board unit and the electrical component, and connected to the contact portion of the inspection equipment, 상기 이미지 센서부의 형태에 따라 제작되어 상기 이미지 센서부를 안착시키는 이미지센서 안착부;An image sensor seating part manufactured according to the shape of the image sensor part to seat the image sensor part; 상기 전장부의 위치 또는 형태 변화에 따라 교체가능하고 상기 상부몸체 또는 상기 하부몸체에 결합되는 인쇄회로기판부;A printed circuit board that is replaceable according to a change in position or shape of the electric component and coupled to the upper body or the lower body; 상기 전장부의 위치에 따라 배치되며 상기 전장부의 종류에 따라 결정되고 상기 인쇄회로기판부와 연결되는 포고핀블럭; 및A pogo pin block disposed according to the position of the electric component and determined according to the type of the electric component and connected to the printed circuit board; And 상기 상부몸체 또는 상기 하부몸체에 결합되고, 상기 전장부의 위치 및 종류에 따라 결정된 인쇄회로기판부에 상응하여 결정되는 푸셔;를 포함하고,And a pusher coupled to the upper body or the lower body and determined to correspond to the printed circuit board part determined according to the position and type of the electric component. 상기 상부몸체와 상기 하부몸체는,The upper body and the lower body, 상기 전장부의 위치 또는 상기 전장부의 형태변화에 따라, 상기 인쇄회로기판부, 상기 포고핀블럭 또는 상기 포고핀블럭이 상기 인쇄회로기판부에 결합 위치가 변경될 수 있도록 내부공간을 구비하며,In accordance with the position of the electronic part or the shape change of the electronic part, the printed circuit board unit, the pogo pin block or the pogo pin block is provided with an inner space so that the coupling position of the printed circuit board can be changed, 상기 전장부의 위치는,The position of the electric part, 상기 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며 According to the shape of the flexible printed circuit board portion is classified into I type model and L type model 상기 포고핀블럭이 상기 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 상기 테스트소켓이 적응하고,The test socket is adapted according to a model that is changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the printed circuit board. 상기 전장부의 형태는,The form of the electric part, 상기 전장부가 결합되는 상기 포고핀블럭이 상기 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 상기 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상기 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되며, 상기 테스트소켓이 상기 전면형과 상기 후면형에 모두 적용하기 위해서, 상기 상부몸체과 상기 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 상기 내부공간을 가지고, 상기 상부몸체과 상기 하부몸체 각각에 상기 포고핀블럭을 연결할 수 있는 상기 인쇄회로기판부가 결합 가능한 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. The pogo pin block to which the full length is coupled is classified into a front type connected to the upper body side and the pogo pin block to which the full length is coupled to the rear type connected to the lower body, and the test socket is the front type and the rear side. In order to apply to all of the mold, the printed circuit board portion having the inner space spaced at a predetermined interval between the upper body and the lower body, and can connect the pogo pin block to each of the upper body and the lower body can be coupled Model adaptable camera module test socket, characterized in that. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 상부몸체 및 상기 하부몸체 각각에 상기 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 형성하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. Modeled camera module test socket, characterized in that to form a predetermined space in each of the upper body and the lower body to be inserted into the printed circuit board portion connected to the pogo pin block. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 포고핀블럭은,The pogo pin block, 상기 전장부 핀의 개수 또는 상기 전장부 핀의 피치크기에 따라 결정되며It is determined according to the number of the full length pins or the pitch size of the full length pins 결정된 상기 포고핀블럭으로 교체하여 상기 테스트소켓이 상기 카메라모듈에 적응 가능한 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. And a test socket can be adapted to the camera module by replacing the determined pogo pin block. 제 6항에 있어서,The method of claim 6, 상기 카메라모듈의 모델이 변화하더라도 상기 검사장비의 광축은 유지되고,Even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, 상기 카메라모듈의 모델변화에 따라 상기 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써,By changing the model of the camera module by changing the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block, 상기 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 상기 전장부에서부터 상기 포고핀블럭, 상기 인쇄회로기판부 및 상기 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. The position of the inspection equipment contact portion is fixed, the model adaptable camera module test socket, characterized in that the electrical connection from the electrical equipment to the pogo pin block, the printed circuit board portion and the contact portion of the inspection equipment is maintained. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하부몸체의 하부면에 동적기저부를 더 구비하여,Further provided with a dynamic base on the lower surface of the lower body, 상기 테스트소켓이 상기 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, When the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, 상기 테스트소켓은 상대적으로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. The test socket is a model adaptable camera module test socket, characterized in that to maintain a relatively constant position. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 동적기저부는,The dynamic base portion, 각각이 일정한 간격을 갖고 중심점을 기준으로 각각이 120도의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓. A model-adaptive camera module test socket, characterized in that each of the three positioning grooves spaced at intervals of 120 degrees with respect to the center point at regular intervals. 제 1항, 제 5항, 제 6항, 제7항, 제 8항 또는 제 9항 중 어느 한 항의 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법에 있어서,In the adaptation method according to the camera module change using the test socket of any one of claims 1, 5, 6, 7, 8, or 9. 이미지 센서부의 형태가 변하는 경우, 카메라 모듈의 이미지 센서의 형태에 따른 이미지센서 안착부를 설치하는 단계;When the shape of the image sensor unit is changed, installing an image sensor seating unit according to the shape of the image sensor of the camera module; 전장부의 핀이 달라지는 경우, 상기 전장부와 전기적 연결이 가능한 포고핀블럭을 결정하는 단계;Determining a pogo pin block that is electrically connected to the electrical component when the pin of the electrical component is changed; 상기 결정된 포고핀블럭을 연결할 수 있는 인쇄회로기판부를 결정하는 단계;Determining a printed circuit board unit to which the determined pogo pin blocks can be connected; 상기 전장부의 형태가 변화하는 경우, 상기 전장부의 형태에 따라 결정된 상기 인쇄회로기판부를 상기 테스트소켓의 상부몸체 또는 하부몸체에 설치하는 단계;Installing the printed circuit board part on the upper body or the lower body of the test socket when the shape of the electronic part is changed; 추후에 장착될 카메라모듈의 상기 전장부의 위치를 고려하여 상기 인쇄회로기판부에 포고핀블럭을 연결하는 단계;Connecting a pogo pin block to the printed circuit board in consideration of a position of the electric component of a camera module to be mounted later; 상기 카메라모듈의 이미지센서를 상기 이미지 센서부에 안착하고 상기 전장부 핀을 상기 포고핀블럭에 결합하여 상기 카메라모듈이 상기 테스트소켓에 장착되는 단계; 및Mounting the image sensor of the camera module to the image sensor unit and coupling the electric component pin to the pogo pin block to mount the camera module to the test socket; And 상기 테스트소켓을 검사장비와 연결하여 상기 카메라모듈의 이미지 센서부에 테스트 차트의 이미지를 투사하여 상기 카메라모듈을 검사하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법.Connecting the test socket to an inspection apparatus and projecting an image of a test chart on the image sensor unit of the camera module to inspect the camera module; How to adapt to change. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 하부몸체에 설치 단계에서,In the installation step on the lower body, 상기 전장부의 형태에 따라 상기 몸체 또는 상기 하부몸체에 푸셔가 설치되는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법. The pusher is installed on the body or the lower body in accordance with the shape of the electric part; Adaptive method according to the camera module change using a model-adaptive camera module test socket, characterized in that it further comprises. 제 11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 포고핀블럭 결정 단계에서,In the pogo pin block determination step, 상기 포고핀블럭은 상기 전장부 핀의 개수 또는 상기 전장부 핀의 피치크기 에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법.The pogo pin block is an adaptation method according to the change of the camera module using a model-adaptive camera module test socket, characterized in that determined according to the number of the length of the electric field pin or the pitch size of the electric pole pin. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 전장부 형태는,The full length form is, 상기 전장부가 결합되는 상기 포고핀블럭이 상기 상부몸체 쪽에 연결되는 전면형과 상기 전장부가 결합되는 포고핀블럭이 상기 하부몸체에 연결되는 후면형으로 분류되는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법. The model adaptable camera module test socket, characterized in that the pogo pin block coupled to the full length is classified into a front type connected to the upper body side and a pogo pin block coupled to the full length is connected to the lower body. Adaptive method according to the change of camera module. 제 10항에 있어서,The method of claim 10, 상기 포고핀블럭 연결단계에서,In the pogo pin block connection step, 상기 전장부의 위치는 연성인쇄회로기판부의 형태에 따라 I형 모델과 L형 모델로 분류되며, The location of the electric component is classified into an I-type model and an L-type model according to the shape of the flexible printed circuit board. 상기 포고핀블럭이 상기 인쇄회로기판부에 연결되는 위치가 변함으로써 변화되는 모델에 따라 상기 테스트소켓이 적응하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법. The method according to the camera module change using a model adaptable camera module test socket, characterized in that the test socket is adapted to the model that is changed by changing the position where the pogo pin block is connected to the printed circuit board. 제 13항에 있어서,The method of claim 13, 상기 상부몸체과 상기 하부몸체 사이에 소정의 간격으로 이격된 내부공간을 가지고,Has an inner space spaced at a predetermined interval between the upper body and the lower body, 상기 상부몸체 및 상기 하부몸체 각각에 상기 포고핀블럭과 연결되는 인쇄회로기판부가 삽입될 소정공간을 구비하여 상기 테스트소켓이 상기 전면형과 상기 후면형에 모두 적용가능한 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법. Each of the upper body and the lower body has a predetermined space to be inserted into the printed circuit board portion is connected to the pogo pin block model test camera, characterized in that the test socket is applicable to both the front type and the rear type Adaptive method according to the change of camera module using module test socket. 제 15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 카메라모듈 검사단계에서,In the camera module inspection step, 상기 카메라 모듈의 모델이 변화하더라도 상기 검사장비의 광축은 유지되고,Even if the model of the camera module changes, the optical axis of the inspection equipment is maintained, 상기 카메라모듈의 모델변화에 따라 상기 포고핀블럭이 연결된 인쇄회로기판부의 위치가 변화됨으로써,By changing the model of the camera module by changing the position of the printed circuit board connected to the pogo pin block, 상기 검사장비 접점부의 위치가 고정되어 상기 전장부에서부터 상기 포고핀블럭, 상기 인쇄회로기판부 및 상기 검사장비의 접점부까지의 전기적 연결이 유지되는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법. The position of the inspection equipment contact portion is fixed so that the electrical connection from the electrical equipment to the pogo pin block, the printed circuit board portion and the contact portion of the inspection equipment is maintained using a model adaptable camera module test socket Adaptation method according to camera module change. 제16항에 있어서,The method of claim 16, 상기 테스트소켓이 상기 검사장비와 반복적인 로딩 또는 언로딩시에, When the test socket is repeatedly loaded or unloaded with the inspection equipment, 상기 하부몸체의 하부면에 중심점을 기준으로 각각이 120°의 간격으로 이격된 3개의 위치결정 홈을 구비하는 동적기저부에 의해 상기 테스트소켓은 상대적으 로 일정한 위치를 유지하는 것을 특징으로 하는 모델적응형 카메라모듈 테스트소켓을 이용한 카메라모듈 변화에 따른 적응방법.The test socket maintains a relatively constant position by a dynamic base having three positioning grooves each spaced at intervals of 120 ° from the lower surface of the lower body. Method according to the change of camera module using a standard camera module test socket.
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