KR101104897B1 - 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템 - Google Patents

펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템 Download PDF

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Abstract

초음파 센서의 결함 검출에 필수적인 충격파를 초음파 센서에 제공하여 초음파 탐상검사의 신뢰도를 향상시키는 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템이 개시된다. 본 발명에 따르면, 저전압의 트리거 신호를 입력받아 고전압의 TTL 신호로 변환시켜, 펄스 폭 조정, 임피던스 매칭 및 고속 스위칭을 수행하여 고전압의 직사각형 충격파 신호를 생성하여 펄서/리시버용 초음파 센서에 인가하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치가 제공된다.
이에, 본 발명은 펄서/리시버용 초음파 센서에 직사각형의 고전압을 제공하여 탐지되는 결함의 검출 감도를 높이고, 형상이 우수한 결함신호를 발생시켜 초음파탐상검사 결과의 신뢰도를 향상시키는 효과가 달성된다.
펄서/리시버, 초음파 센서, 초음파 검사, 결함 검출, 충격파, 고전압

Description

펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템{SHOCK WAVE GENERATION APPARATUS AND ULTRASONIC TESTING SYSTEM FOR PULSAR/RECEIVER}
본 발명은 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 고전압의 직사각형 충격파 신호를 생성하여 펄서/리시버용 초음파 센서에 인가하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 이를 이용한 초음파 검사 시스템에 관한 것이다.
종래의 초음파 펄서/리시버용 충격파 발생장치는 톱니파 형태의 고전압 신호를 발생시켜 펄서/리시버용 초음파 센서에 공급하여 왔다. 통상, 펄서(pulsar)라 함은 초음파 진동자로 펄스를 가해주는 장치를 지칭하며, 리시버는 검출 대상물을 대상으로 검출된 검출 신호를 증폭하는 장치를 총칭한다.
그러나, 톱니파 형태는 순간적인 피크 부분만이 고전압을 갖고 나머지 부분에서는 낮은 전압을 갖는다는 특성이 있으며, 이러한 특성으로 인하여 이와 같은 톱니파 신호가 초음파 센서에 공급될 경우, 초음파 센서에서 생성되는 결함 신호의 형상이 상대적으로 불량하여 결함 검출의 감도가 매우 약하였다. 이런 관계로, 초음파탐상 검사에 대한 신뢰도가 매우 낮다는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 펄서/리시버용 초음파 센서에 고전압의 직사각형 충격파 신호를 제공하여 탐지되는 결함의 검출 감도를 높이고, 형상이 우수한 결함신호를 발생시켜 초음파탐상검사 결과의 신뢰도를 향상시키는 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 초음파 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 바와 같은 본 발명의 목적을 달성하고, 후술하는 본 발명의 특징적인 기능을 수행하기 위한, 본 발명의 특징은 다음과 같다.
본 발명의 일 태양에 따르면, 저전압의 트리거 신호를 입력받아 고전압의 TTL(Transistor Transistor Logic) 신호로 변환시켜, 펄스 폭 조정, 임피던스 매칭 및 고속 스위칭을 수행하여 고전압의 직사각형 충격파 신호를 생성하여 펄서/리시버용 초음파 센서에 인가하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치가 제공된다.
여기서, 상기 충격파 발생장치는, CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 레벨이 미약한 입력 트리거 신호를 펄서/리시버에서 작동 가능한 TTL의 신호 레벨로 변환시키고, 저항을 버퍼 앞단에 병렬로 배치하여 초음파 신호를 아날로그-디지털 변환하는 보드 및 펄서/리시버 보드에서 발생하는 트리거 신호 간 임피던스를 매칭시켜 제1 직사각형 트리거 신호를 생성하는 제1 버퍼 회로부, 에너지 가변이 이루어지도록 상기 제1 직사각형 트리거 신호의 펄스 폭을 조정하여 제2 직사각형 트리거 신호를 생성하는 멀티바이브레터 회로부, 상기 직사각형 제2 트리거 신호를 전압이 높은 TTL 신호 레벨로 증폭하여 제3 직사각형 트리거 신호를 생성하는 MOSFET 드라이버 회로부, 전계 효과 트랜지스터를 이용하여 상기 제3 직사각형 트리거 신호에 대하여 고전압으로 고속 스위칭하여 그라운드로 드롭(drop) 시키는 기능을 수행하여 제4 직사각형 트리거 신호를 생성하는 MOSFET 회로부, 및 상기 제4 직사각형 트리거 신호를 입력받아 초음파 센서에서 출력되는 트리거 신호 간에 출력 임피던스를 매칭시켜 제5 직사각형 트리거 신호를 생성하는 다이오드/부하저항 회로부를 포함하는 장치가 제공된다.
또한, 상기 충격파 발생장치는, 상기 아날로그-디지털 변환 보드 또는 오실로스코프(oscilloscope)와 같은 외부 디스플레이 장치에서 발생되는 트리거 신호와 상기 제2 직사각형 트리거 신호간에 동기화를 수행하는 동기화 회로부 및 상기 MOSFET 회로부의 고속 스위칭에 따른 고전압을 안정화하는 전압 안정화 회로부를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 MOSFET 드라이버 회로부는, 12V 전압을 갖는 TTL 신호 레벨로 증폭하고, 상기 멀티바이브레터 회로부는, 10 내지 40nS의 범위 내로 에너지를 가변시키는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 다른 일 태양에 따르면, 이상에서 설명된 충격파 발생장치 및 상기 충격파 발생장치에서 발생된 제5 직사각형 트리거 신호를 이용하여 탐지 대상물을 대상으로 결함을 검출하는 초음파 센서를 포함하는 초음파 검사 시스템이 제공된다.
본 발명에 따르면, 펄서/리시버용 초음파 센서에 고전압의 직사각형 충격파 신호를 제공하여 탐지되는 결함의 검출 감도를 높이고, 형상이 우수한 결함신호를 발생시켜 초음파탐상검사 결과의 신뢰도를 향상시키는 효과가 달성되며, 하기와 같은 특유의 효과를 더 얻을 수 있다.
첫 번째, 본 발명은 주파수 대역폭이 톱니파 트리거 펄스에 비하여 좁은 관계로 5MHz 이하의 저주파 대역에서 초음파 센서를 구동시킬 수 있어 결함의 탐지 능력이 탁월한 장점을 갖는다.
두 번째, 본 발명은 발생되는 초음파가 탐지 대상물의 매질에 대해 관통력이 우수하여, 감쇄가 심한 복합제나 두께가 두꺼운 피검체의 탐지 대상물에 대해서도 결함을 탐지하는데 유리한 장점을 갖는다.
세 번째, 트리거 펄스 폭을 가변시켜 에너지를 조정함으로써 충격파 발생장치의 회로 구성이 간단하게 되고, 부품수가 최소화되어 제조 비용을 절감하는 장점을 갖는다.
네 번째, 본 발명은 초음파 센서가 갖는 공진 주파수에 가장 근접한 직사각형 트리거 펄스를 생성함으로써, 초음파 센서에서 최적의 결함 신호를 추출하는 장점을 갖는다.
다섯 번째, 본 발명은 기존의 톱니파 트리거 펄스보다 에너지의 가변 폭이 넓고, 톱니파 트리거 펄스을 사용할 때 보다 결함 진폭이 12dB 이상으로 더 큰 장점을 갖는다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시 예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시 예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시 예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시 예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시 예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시 예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
초음파 검사 시스템의 예
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 초음파 검사 시스템(100)을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 초음파 검사 시스템(100)은 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110), 초음파 센서(120) 등을 포함한다.
본 발명의 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110)는 저전압의 트리거 신호를 입력받아 펄스 폭 조정, 임피던스 매칭 및 고속 스위칭 등을 수행하여 고전압의 TTL 신호로 변환된 고전압의 직사각형 충격파 신호를 생성하는 역할을 하게 된다.
본 발명의 초음파 센서(120)는 충격파 발생 장치(110)로부터 고전압 직사각형 충격파 신호를 수신하여 결함 검출 대상물에 대하여 결함을 검출하는데 이용한다. 고전압의 직사각형 충격파 신호는 급격한 고전압이 일정 기간 유지하게 되는 특성을 가짐으로 결함 검출의 감도를 높이는데 크게 도움이 된다.
이하에서는, 고전압의 직사각형 충격파 신호를 발생시키는 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110)에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.
펄서/리시버용 충격파 발생장치의 예
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 펄서/리시버용 충격파 발생 장치(110)를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110)는 제1 버퍼 회로부(111), 멀티바이브레터 회로부(112), MOSFET 드라이버 회로부(114), MOSFET 회로부(115) 및 다이오드/부하저항 회로부(117)를 포함한다.
먼저, 제1 버퍼 회로부(111)에 대하여 살펴보면, 본 발명의 제1 버퍼 회로부(111)는 메인 컨트롤 보드(미도시)의 출력단과 연결되는 버퍼 회로(111a), 상기 버퍼 회로(111a)의 출력단과 연결되는 R2 저항, 상기 버퍼 회로(111a)와 R2 저항의 사이에 병렬로 연결되는 R1 저항, 일단이 R2의 출력단에 연결되고, 타단이 버퍼 회로(111a)의 입력단에 연결되는 R3 저항 및 메인 컨트롤 보드와 버퍼 회로 (111a) 사이에 병렬로 연결되는 R4 저항으로 이루어질 수 있다.
이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 제1 버퍼 회로부(111)는 펄서/리시버용 메인 컨트롤 보드에서 발생하는 CMOS 레벨(+3.3V)의 미약한 트리거 신호를 제공받아 펄서/리시버에서 작동 가능한 TTL 레벨로의 신호 레벨로 변환시킬 수 있으며, 예컨대 ＋5V의 TTL 신호 레벨로 변환시키는 것이 바람직하다. 특히, 본 발명의 제1 버퍼 회로부(111)는 R4 저항이 버퍼의 앞 단에 병렬로 배치되는 구성을 구비하므로, 초음파 신호를 아날로그에서 디지털로 변환하는 아날로그-디지털 보드(미도시) 및 펄서/리시버 보드에서 발생하는 트리거 신호와 비교를 수행하게 되는데, 그 결과로 트리거 신호의 임피던스를 매칭시켜 제1 직사각형 트리거 신호를 생성하게 된다.
다음으로, 본 발명의 멀티바이브레터 회로부(112)는 제1 버퍼 회로부(111)의 R2 저항과 연결되는 제1 멀티바이브레터 회로(112a), 상기 제1 멀티바이브레터 회로(112a)의 입력단 일부와 연결되는 제2 멀티바이브레터 회로(112b)를 구비하고, 아울러, 도시된 바와 같이 R5, R6 저항 및 C1, C2 캐패시터를 더 구비하는데, 상기 R5, R6 저항 및 C1, C2 캐패시터는 해당하는 제1 멀티바이브레터 회로(112a)와 제2 멀티바이브레터 회로(112b)와 관계하여 형성된다. 상기 제1 멀티바이브레터 회로(112a)와 제2 멀티바이브레터 회로(112b)는 IC 형태로 이루어질 수 있다.
이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 멀티바이브레터 회로부(112)는 에너지 가변이 이루어지도록 제1 버퍼 회로부(111)로부터 수신된 제1 직사각형 트리거 신 호에 대하여 증폭시켜 상기 제1 트리거 신호의 펄스 폭을 조정하는 역할을 수행하고, 그 결과로 제2 직사각형 트리거 신호를 생성하게 된다. 여기서, 에너지 가변은 스파이크(spike) 펄스 회로와 같이 댐핑(damping) 저항 및 캐패시터 용량에 의하여 결정한 것이 아니라, 트리거 펄스의 펄스 폭에 의해 결정됨으로, 사각형의 펄스 폭에 의한 에너지 가변을 수행하게 된다. 이때, 가변된 트리거 펄스는 10 내지 40nS의 범위 내로 에너지가 가변될 수 있다.
다음으로, 본 발명의 MOSFET 드라이버 회로부(114)는 제2 멀티바이브레터 회로(112b)의 출력단과 연결된 R8 저항 및 제1 멀티바이브레터 회로(112a)의 입력단과 연결된 R9 저항을 통하여 연결된 MOSFET 드라이버 회로(114a)와 MOSFET 드라이버 회로(114a)의 입력단 측에 연결된 C4 캐패시터 및 MOSFET 드라이버 회로(114a)의 출력단 측에 연결된 C5 캐패시터를 포함하여 구성된다. 여기서, MOSFET 드라이버는 IC 형태로 이루어질 수 있다.
이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 MOSFET 드라이버 회로부(114)는 멀티바이브레터 회로부(112)에서 출력된 직사각형 제2 트리거 신호를 R8 저항 및 R9 저항을 통하여 입력받아 전압이 높은 TTL 신호 레벨로 증폭하는 역할을 수행하게 되고, 그 결과로 제3 직사각형 트리거 신호를 생성하게 된다.
보다 구체적으로 설명하면, 본 발명의 MOSFET 드라이버 회로부(114)는 멀티바이브레터 회로부(112)로부터 입력받은 제1 직사각형 트리거 신호가 TTL 레벨(+5V)의 소신호이기 때문에 MOSFET 드라이버 회로(114a)가 충분히 스위칭 할수 없어 고속 상승 및 하강시간을 가진 MOSFET 드라이버 회로(114a)와 C4 캐패시터 및 C5 캐패시터를 이용하여 높은 전압, 예컨대 12V의 높은 고전압 TTL 레벨로 증폭하고, 그 결과로 4A 이상의 전류가 흐르는 제3 직사각형 트리거 신호를 생성할 수 있게 되는 것이다.
다음으로, 본 발명의 MOSFET 회로부(115)는 MOSFET 드라이버 회로부(114)의 출력단과 연결된 전계 효과 트랜지스터(115a)와 상기 전계 효과 트랜지스터(115a)의 출력단과 차례로 연결된 R11, R12, R13 저항과 병렬로 연결된 C6 캐패시터를 포함하여 구성된다. 이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 MOSFET 회로부(115)는 전계 효과 트랜지스터를 이용하여 MOSFET 드라이버 회로부(114)로부터 수신된 제3 직사각형 트리거 신호에 대하여 고전압으로 고속 스위칭하는 역할을 수행하게 되는데, 예컨대, DC 400V 이상의 고전압으로 고속 스위칭하고, 그 결과를 그라운드로 드롭(drop)시켜, 제4 직사각형 트리거 신호를 생성하게 된다.
마지막으로, 본 발명의 다이오드/부하저항 회로부(117)는 MOSFET 드라이버 회로부(114)의 출력단과 병렬 연결된 R15, R16 및 R17 저항과, 상기 R15, R16 및 R17 저항에 각각 대응하여 직렬 연결된 D1, D2, 및 D3 다이오드를 구비하고, 아울러 도시된 바와 같이 R18 및 R19를 포함하여 구성된다. 이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 다이오드/부하저항 회로부(117)는 MOSFET 회로부(115)로부터 제4 직사각형 트리거 신호를 입력받아 초음파 센서에서 출력되는 트리거 신호 간에 출력 임피던스를 매칭시켜 제5 직사각형 트리거 신호를 생성하는 기능을 수행하게 된다.
보다 구체적으로 설명하면, 본 발명의 다이오드/부하저항 회로부(117)는 다수의 D1, D2, 및 D3 다이오드를 각각 R15, R16 및 R17 부하 저항에 직렬로 연결함으로써, MOSFET 회로부(115)의 전계 효과 트랜지스터(115a)가 non-active 되었을 때는 고압의 DC 전압으로부터 초음파 센서를 보호할 수 있게 되고, 네커티브 스파이크 파(negative spike wave)만을 출력되도록 제한 할 수 있으며, 부하 저항 R15, R16 및 R17을 MOSFET 드라이버 회로부(114)의 출력단과 병렬로 연결함으로써, 초음파 센서에 충분한 전압을 인가하여 초음파 센서와의 출력 임피던스를 효율적으로 매칭할 수 있게 되는 것이다.
이에 따라, 본 발명의 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110)는 최종단에 배치된 다이오드/부하저항 회로부(117)에 의하여 고전압의 직사각형 트리거 신호인 제5 직사각형 트리거 신호를 출력단(117a)을 통해 초음파 센서(120)에 인가할 수 있게 되어 초음파 센서(120)에서는 고전압의 직사각형 트리거 신호를 결함 검출에 활용할 수 있게 되는 것이다.
이와 같은 본 발명의 펄서/리시버용 충격파 발생장치(110)는 동기화 회로부 및 전압 안정화 회로부를 더 포함할 수 있는데, 각 구성요소에 대하여 이후의 도 3 및 4를 참조하여 후술하기로 한다.
동기화 회로부의 예
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동기화 회로부(113)를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 동기화 회로부(113)는 도 2에서 설명한 R8 및 R9 저항과 연결된 제1 비교회로(118), 상기 제1 비교회로(118)와 각각 병렬로 연결된 다수의 제2 비교회로(113a) 및 상기 제2 비교회 로(113a)의 출력단과 연결된 R10 저항을 포함하여 구성된다. 이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 동기화 회로부(113)는 도 2에서 설명한 멀티바이브레터 회로부(112)의 제2 직사각형 트리거 신호를 수신하고, 아날로그-디지털 변환 보드 또는 오실로스코프(oscilloscope)와 같은 펄서/리시버용 외부 디스플레이 장치(미도시)에서 발생되는 트리거 신호를 비교하는 제2 비교회로(113a)를 통하여 동기화를 수행하게 되고, 그 결과를 출력단(113b)를 통하여 외부로 송신한다.
여기서, 동기화 회로부(113)가 동기화를 수행하는 이유는 탐지된 결함 신호를 디스플레이하기 위하여 oscilloscope 또는 모듈형 아날로그-디지털 보드의 사용이 필수적인 관계로, 디스플레이상에서 좌,우 흔들림이 발생하기 때문에 초음파 센서에서 탐지된 결함 신호를 제대로 평가하는 것이 불가능 하기 때문이다.
전압 안정화 회로부의 예
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전압 안정화 회로부(116)를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전압 안정화 회로부(116)는 MOSFET 회로부(115)의 전계 효과 트랜지스터(115a) 출력단과 연결된 D4 다이오드, 상기 D4 다이오드와 직렬 연결된 R14 저항 및 접지 상태로 연결된 C7, C8 및C9 캐패시터를 포함하여 구성된다. 이와 같은 회로 구성으로, 본 발명의 전압 안정화 회로부(116)는 MOSFET 회로부(115)의 고속 스위칭에 따른 고전압을 안정화하는 시키는 역할을 수행하게 된다. 다시 말해, MOSFET 회로부(115)의 전계 효과 트랜지스터(115a)가 DC 400V 이상의 범위를 갖는 최대 허용전압 범위 내에서 본래 의 기능을 수행하게 됨으로써, 전계 효과 트랜지스터(115a)가 스위칭하는데 안정화될 필요성이 있기 때문에 전압 안정화 회로부(116)는 디커플링 캐패시터(C7, C8, C9), D4 다이오드 및 R14 저항을 구비하여 전계 효과 트랜지스터(115a)의 고속 스위칭을 대상으로 전압 안정화를 꾀할 수 있게 되는 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 오실로스코프 XSC 측정장비(200)에서 측정된 고전압 직사각형 트리거 신호 및 영역 설정 메뉴를 나타낸 도면으로서, 오실로스코프 XSC 측정장비(200)는 펄서/리시버용 충격파 발생장치(100)에서 출력된 고전압 직사각형 트리거 신호를 측정하기 위하여 Timebase 영역, Channel 영역 등을 설정할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 초음파 검사 시스템(100)을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 펄서/리시버용 충격파 발생 장치(110)을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 동기화 회로부(113)를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전압 안정화 회로부(116)를 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 오실로스코프 XSC 측정장비(200)에서 측정된 고전압 직사각형 트리거 신호 및 영역 설정 메뉴를 나타낸 도면이다.

Claims (6)

  1. 삭제
  2. 저전압의 트리거 신호를 입력받아 고전압의 TTL 신호로 변환시켜, 펄스 폭 조정, 임피던스 매칭 및 고속 스위칭을 수행하여 고전압의 직사각형 충격파 신호를 생성하여 펄서/리시버용 초음파 센서에 인가하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치에 있어서,
    상기 충격파 발생장치는,
    CMOS 레벨이 미약한 입력 트리거 신호를 펄서/리시버에서 작동 가능한 TTL 의 신호 레벨로 변환시키고, 저항을 버퍼 앞단에 병렬로 배치하여 초음파 신호를 아날로그-디지털 변환하는 보드 및 펄서/리시버 보드에서 발생하는 트리거 신호 간 임피던스를 매칭시켜 제1 직사각형 트리거 신호를 생성하는 제1 버퍼 회로부,
    에너지 가변이 이루어지도록 상기 제1 직사각형 트리거 신호의 펄스 폭을 조정하여 제2 직사각형 트리거 신호를 생성하는 멀티바이브레터 회로부,
    상기 직사각형 제2 트리거 신호를 전압이 높은 TTL 신호 레벨로 증폭하여 제3 직사각형 트리거 신호를 생성하는 MOSFET 드라이버 회로부,
    전계 효과 트랜지스터를 이용하여 상기 제3 직사각형 트리거 신호에 대하여 고전압으로 고속 스위칭하여 그라운드로 드롭(drop) 시키는 기능을 수행하여 제4 직사각형 트리거 신호를 생성하는 MOSFET 회로부, 및
    상기 제4 직사각형 트리거 신호를 입력받아 초음파 센서에서 출력되는 트리거 신호 간에 출력 임피던스를 매칭시켜 제5 직사각형 트리거 신호를 생성하는 다이오드/부하저항 회로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 충격파 발생장치는,
    상기 아날로그-디지털 변환 보드 또는 오실로스코프(oscilloscope)와 같은 외부 디스플레이 장치에서 발생되는 트리거 신호와 상기 제2 직사각형 트리거 신호간에 동기화를 수행하는 동기화 회로부 및
    상기 MOSFET 회로부의 고속 스위칭에 따른 고전압을 안정화하는 전압 안정화 회로부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 MOSFET 드라이버 회로부는,
    12V 전압을 갖는 TTL 신호 레벨로 증폭하는 것을 특징으로 하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 멀티바이브레터 회로부는,
    10 내지 40nS의 범위 내로 에너지를 가변시키는 것을 특징으로 하는 펄서/리시버용 충격파 발생장치.
  6. 상기 청구항 제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 펄서/리시버용 충격파 발생장치 및 상기 펄서/리시버용 충격파 발생장치에서 발생된 제5 직사각형 트리거 신호를 이용하여 탐지 대상물을 대상으로 결함을 검출하는 초음파 센서를 포함하는 것인 초음파 검사 시스템.
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