KR101077277B1 - Probe apparatus used for testing lighting of a display panel - Google Patents

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Abstract

본 발명은 탄성력 및 연성인쇄회로기판을 이용하여 점등 검사를 수행하는 프로브 장치에 관한 것이다. 상기 프로브 장치는 평판 형상의 전극 바디부 및 상기 전극 바디부의 일종단으로부터 돌출된 적어도 하나의 프로브 전극을 가지는 전극 구조물 및 상기 전극 구조물 위에 배열되며, 탄성력을 가지는 탄성 구조물을 포함한다. 여기서, 상기 프로브 전극은 상기 디스플레이 패널의 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 전극 구조물은 연성인쇄회로기판(FPCB)이다.The present invention relates to a probe device for performing a lighting test using an elastic force and a flexible printed circuit board. The probe device includes an electrode structure having a plate-shaped electrode body portion and at least one probe electrode protruding from one end of the electrode body portion, and an elastic structure arranged on the electrode structure and having an elastic force. The probe electrode is electrically connected to an electrode of the display panel, and the electrode structure is a flexible printed circuit board (FPCB).

프로브, Probe, 탄성, FPCB, 점등 Probe, Probe, Elastic, FPCB, Lights Up

Description

디스플레이 패널의 점등 검사용으로 사용되는 프로브 장치{PROBE APPARATUS USED FOR TESTING LIGHTING OF A DISPLAY PANEL}PROBE APPARATUS USED FOR TESTING LIGHTING OF A DISPLAY PANEL}

본 발명은 프로브 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 탄성력 및 연성인쇄회로기판을 이용하여 디스플레이 패널의 점등 검사를 수행하는 프로브 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a probe device, and more particularly, to a probe device for performing a lighting test of a display panel using an elastic force and a flexible printed circuit board.

액정 표시 소자(Liquid Crystal Display, LCD)의 점등 검사시 프로브 장치가 사용되며, 상기 프로브 장치는 아래의 도 1에 도시된 구조를 가진다. A probe device is used to check lighting of a liquid crystal display (LCD), and the probe device has a structure shown in FIG. 1 below.

도 1은 일반적인 프로브 장치를 도시한 사시도이다. 1 is a perspective view showing a general probe device.

도 1을 참조하면, 프로브 장치(104)는 바디부(110), 탄성체(112), 절연 부재(114), 프로브 전극들(116) 및 슬릿들(118)을 포함한다. Referring to FIG. 1, the probe device 104 includes a body portion 110, an elastic body 112, an insulating member 114, probe electrodes 116, and slits 118.

프로브 전극들(116)은 도 1에 도시된 바와 같이 바디부(110)의 형상을 따라서 감아 올려져서 고정된 구조로 구현되며, LCD 패널(100)의 패널 전극들(102)과 연결된다. As shown in FIG. 1, the probe electrodes 116 are wound up along the shape of the body 110 to be fixed and connected to the panel electrodes 102 of the LCD panel 100.

이러한 구조의 프로브 장치(104)가 반복적으로 사용되면, 프로브 전극들(116) 중 패널 전극들(102)과 접촉되는 부분과 감아 올려져 고정된 부분의 얼라인이 어긋나거나 변형되는 경우가 자주 발생하였다. When the probe device 104 having such a structure is repeatedly used, a case where the alignment of the fixed part is often misaligned or deformed due to the portion of the probe electrodes 116 contacting the panel electrodes 102. It was.

또한, 프로브 전극들(116) 및 절연 부재(114)을 포함하는 절연 시트가 바디부(110)에 접착되는데, 상기 절연 시트를 별도로 제조하여야 하므로 프로브 장치(104)의 제조 단가가 상승하였다. In addition, the insulating sheet including the probe electrodes 116 and the insulating member 114 is bonded to the body portion 110. Since the insulating sheet has to be manufactured separately, the manufacturing cost of the probe device 104 has increased.

게다가, 도 1에 도시된 바와 같이 프로브 장치(104)의 구조가 복잡하여 제조하기가 어려웠다. In addition, as shown in FIG. 1, the structure of the probe device 104 is complicated and difficult to manufacture.

본 발명의 목적은 간단한 구조를 가지면서 제조 비용을 감소시킬 수 있는 프로브 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a probe device which can reduce the manufacturing cost while having a simple structure.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 전극들과 전기적으로 연결되는 프로브 장치는 평판 형상의 전극 바디부 및 상기 전극 바디부의 일면 위에 배열된 적어도 하나의 프로브 전극을 가지는 전극 구조물; 및 상기 전극 구조물 위에 배열되며, 탄성력을 가지는 탄성 구조물을 포함한다. 여기서, 상기 프로브 전극은 상기 디스플레이 패널의 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 전극 구조물은 연성인쇄회로기판(FPCB)이다.In order to achieve the above object, a probe device electrically connected to the electrodes of the display panel according to an embodiment of the present invention is a flat electrode body and at least one probe arranged on one surface of the electrode body portion An electrode structure having an electrode; And an elastic structure arranged on the electrode structure and having an elastic force. The probe electrode is electrically connected to an electrode of the display panel, and the electrode structure is a flexible printed circuit board (FPCB).

본 발명에 따른 프로브 장치는 전극 구조물을 탄성 구조물에 평면으로 접착시키고 프로브 전극들이 상기 전극 구조물 위에 선형적으로 배열되므로, 그의 구조가 간단하고 반복적인 점등 검사가 이루어진 후에도 상기 전극 구조물의 프로브 전극들의 얼라인이 어긋나거나 변형이 가능성이 적다. The probe device according to the present invention adheres the electrode structure to the elastic structure in a plane and the probe electrodes are arranged linearly on the electrode structure, so that the structure of the probe electrodes of the electrode structure may be frozen even after a simple and repeated lighting test. Phosphorous shift or deformation is less likely.

또한, 상기 프로브 장치의 전극 구조물로서 점등 검사가 완료된 후 수행되는 공정에서 사용되는 FPCB를 사용할 수 있으므로, 상기 전극 구조물을 별도로 제조할 필요가 없어서 상기 프로브 장치의 제조 단가가 낮아질 수 있다. In addition, since the FPCB used in the process performed after the lighting test is completed as the electrode structure of the probe device can be used, there is no need to manufacture the electrode structure separately, the manufacturing cost of the probe device can be lowered.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. As the invention allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the written description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. When a component is said to be "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that another component may exist in between. Should be. On the other hand, when a component is said to be "directly connected" or "directly connected" to another component, it should be understood that there is no other component in between.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, components, or a combination thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art, and are not construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.

이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 자세히 설명하도록 한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 프로브 장치를 사용하여 디스플레이 패널의 점등 검사를 수행하는 과정을 도시한 도면이다. 2 is a view illustrating a process of performing a lighting test of a display panel using the probe device of the present invention.

도 2(A)를 참조하면, 디스플레이 패널(200), 예를 들어 액정 표시 소자(Liquid Crystal Display, LCD) 패널은 디스플레이 모듈(210) 및 패널 전극부들(212)로 이루어진다. Referring to FIG. 2A, the display panel 200, for example, a liquid crystal display (LCD) panel, includes a display module 210 and panel electrode parts 212.

이러한 구조의 디스플레이 패널(200)은 예를 들어 점등 검사를 위하여 프로브 베이스(220)의 내측 공간(222) 위에 놓여진다. The display panel 200 having such a structure is, for example, placed on the inner space 222 of the probe base 220 for the lighting test.

이어서, 프로브 장치들(224)이 도 2(B)에 도시된 바와 같이 디스플레이 패널(200)의 전극부들(212)에 전기적으로 연결된다. 구체적으로는, 프로브 장치들(224)의 프로브 전극들이 전극부들(212)의 패널 전극들에 전기적으로 연결된다. 이에 대한 자세한 설명은 첨부된 도면을 참조하여 후술하겠다. Subsequently, the probe devices 224 are electrically connected to the electrode portions 212 of the display panel 200 as shown in FIG. 2B. Specifically, probe electrodes of the probe devices 224 are electrically connected to panel electrodes of the electrode parts 212. Detailed description thereof will be described later with reference to the accompanying drawings.

계속하여, 점등 검사가 완료된 후 정상적으로 동작하는 디스플레이 패널(200)의 전극부들(212)에는 각기 연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuits Board, 230, FPCB)이 결합된다. Subsequently, flexible printed circuit boards 230 and FPCBs are coupled to the electrode parts 212 of the display panel 200 which normally operate after the lighting test is completed.

이하, 점등 검사에 사용되는 프로브 장치(224)의 상세 구조 및 동작 방법을 첨부된 도면들을 참조하여 상술하겠다. Hereinafter, the detailed structure and operation method of the probe device 224 used for the lighting test will be described with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구조를 도시한 사시도이다. 3 is a perspective view showing the structure of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 실시예의 프로브 장치(224)는 탄성 구조물(300), 전극 구조물(302) 및 구동 회로부(304)를 포함한다. Referring to FIG. 3, the probe device 224 of the present embodiment includes an elastic structure 300, an electrode structure 302, and a driving circuit unit 304.

전극 구조물(302)은 디스플레이 패널(200)의 전극부(212)에 전기적으로 연결되며, 예를 들어 점등 검사를 수행하기 위하여 구동 회로부(304)로부터 입력된 신호를 전극부(212)를 통하여 디스플레이 패널(200)의 신호 라인들에 제공한다. The electrode structure 302 is electrically connected to the electrode portion 212 of the display panel 200. For example, the electrode structure 302 displays a signal input from the driving circuit portion 304 through the electrode portion 212 to perform a lighting test. The signal lines of the panel 200.

이러한 전극 구조물(302)은 전극 바디부(310) 및 프로브 전극들(312)을 포함한다.The electrode structure 302 includes an electrode body 310 and probe electrodes 312.

전극 바디부(310)는 탄성 구조물(300)의 하부면에 결합된다. The electrode body 310 is coupled to the lower surface of the elastic structure 300.

프로브 전극들(312)은 도체로서 전극 바디부(310)의 일면 위에 형성되며, 예를 들어 전극 바디부(310) 중 탄성 구조물(300)이 배열된 면과 반대되는 면에 형성되며, 후술하는 바와 같이 디스플레이 패널(200)의 전극부(212)의 패널 전극들에 연결된다. 도시하지는 않았지만, 프로브 전극들(312)은 구동 회로부(304)에 전기적으로 연결된다. The probe electrodes 312 are formed on one surface of the electrode body 310 as a conductor, and are formed on, for example, a surface opposite to the surface on which the elastic structure 300 is arranged in the electrode body 310. As described above, the display panel 200 is connected to the panel electrodes of the electrode unit 212 of the display panel 200. Although not shown, the probe electrodes 312 are electrically connected to the driving circuit unit 304.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 전극 구조물(302)은 연성인쇄회로기판(FPCB)일 수 있다. 특히, 전극 구조물(302)은 점등 검사가 완료된 후에 디스플레이 패 널(200)의 전극부(212)에 연결되는 FPCB와 동일한 소자일 수 있으며, 즉 후공정의 FPCB가 전극 구조물(302)로서 활용될 수 있다. 따라서, 검사자는 점등 검사를 위한 별도의 전극 구조물(302)을 제조하지 않고 후공정에 사용되는 FPCB를 활용할 수 있으므로, 프로브 장치(224)의 제조 단가가 감소할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, the electrode structure 302 may be a flexible printed circuit board (FPCB). In particular, the electrode structure 302 may be the same element as the FPCB connected to the electrode portion 212 of the display panel 200 after the lighting test is completed, that is, the FPCB of the post process may be utilized as the electrode structure 302. Can be. Therefore, the inspector can utilize the FPCB used in the post process without manufacturing a separate electrode structure 302 for the lighting test, the manufacturing cost of the probe device 224 can be reduced.

도 3을 다시 참조하면, 전극 구조물(302)의 전극 바디부(310)의 일면에는 구동 회로부(304)가 배열될 수 있으며, 바람직하게는 구동 회로부(304)는 전극 바디부(310) 중 후단의 일면 위에 배열된다. 즉, 전극 구조물(302)은 COF(Chip on Film) 구조를 가질 수 있다. Referring back to FIG. 3, a driving circuit 304 may be arranged on one surface of the electrode body 310 of the electrode structure 302, and preferably, the driving circuit 304 is a rear end of the electrode body 310. It is arranged on one side of. That is, the electrode structure 302 may have a chip on film (COF) structure.

구동 회로부(304)는 예를 들어 칩 형태로 제조되며, 점등 검사를 위한 신호를 관리자의 제어하에 프로브 전극들(312)을 통하여 디스플레이 패널(200)에 제공할 수 있다. The driving circuit unit 304 may be manufactured in the form of a chip, for example, and may provide a signal for lighting inspection to the display panel 200 through the probe electrodes 312 under the control of a manager.

탄성 구조물(300)은 소정 탄성력을 가지는 재질로 이루어지며, 그의 하부면에는 전극 구조물(302)이 접착되어 결합될 수 있다. The elastic structure 300 is made of a material having a predetermined elastic force, and the electrode structure 302 may be bonded and bonded to the lower surface thereof.

이러한 탄성 구조물(300)은 전극 구조물(302)에 힘을 가하는 역할을 수행하며, 그 결과 후술하는 바와 같이 프로브 전극들(312) 사이의 간격이 증가될 수 있다. 구체적으로는, 외부에서 탄성 구조물(300)에 힘을 가하면, 탄성 구조물(300)에 가해진 힘은 전극 구조물(302)에 전달된다. 결과적으로, 프로브 전극들(312) 사이의 간격, 즉 피치(pitch)가 증가되어서 프로브 전극들(312)이 디스플레이 패널(200)의 패널 전극들과 일대일 매칭(matching)된다. 이런 상태로 하여 프로브 전극들(312)과 상기 패널 전극들이 전기적으로 연결되며, 그런 후 점등 검사가 수행 된다. 이에 대한 자세한 설명은 후술하겠다. The elastic structure 300 serves to apply a force to the electrode structure 302, and as a result, the interval between the probe electrodes 312 can be increased as described later. Specifically, when a force is applied to the elastic structure 300 from the outside, the force applied to the elastic structure 300 is transmitted to the electrode structure 302. As a result, the interval between the probe electrodes 312, that is, the pitch, is increased so that the probe electrodes 312 are matched one-to-one with the panel electrodes of the display panel 200. In this state, the probe electrodes 312 and the panel electrodes are electrically connected, and then a lighting test is performed. Detailed description thereof will be described later.

요컨대, 본 실시예의 프로브 장치(224)는 예를 들어 후공정의 FPCB를 활용하므로, 별도의 전극 구조물(302)을 제조할 필요가 없어서 프로브 장치(224)의 제조 단가가 감소할 수 있다. In other words, since the probe device 224 of the present embodiment utilizes, for example, an FPCB in a post-process, the manufacturing cost of the probe device 224 can be reduced since it is not necessary to manufacture a separate electrode structure 302.

또한, 전극들을 감아올렸던 종래의 프로브 장치의 경우 상기 프로브 장치의 구조가 복잡하고 반복적인 점등 검사시 얼라인(align)이 어긋나거나 변형될 가능성이 높았으나, 본 실시예의 프로브 장치(224)에서는 구조가 간단하고 반복적인 점등 검사를 하더라도 프로브 전극들(312)의 얼라인이 어긋나거나 변형될 가능성이 낮다. In addition, in the case of the conventional probe device in which the electrodes are wound up, the structure of the probe device is complicated and there is a high possibility of misalignment or deformation during repeated lighting checks. However, in the probe device 224 of the present embodiment, Even if the simple and repeated lighting test is performed, the possibility of misalignment or deformation of the probe electrodes 312 is low.

이하. 본 실시예의 프로브 장치(224)를 이용하여 디스플레이 패널(200)의 점등 검사를 수행하는 과정을 자세히 살펴보겠다.Below. The process of performing a lighting test of the display panel 200 using the probe device 224 of the present embodiment will be described in detail.

도 4는 본 발명의 프로브 장치를 이용한 디스플레이 패널의 점등 검사 과정을 도시한 도면이다. 4 is a diagram illustrating a lighting test process of the display panel using the probe device of the present invention.

도 4에 도시된 바와 같이, 디스플레이 패널(200)의 전극부(212)에는 복수의 패널 전극들(400)이 존재하며, 프로브 장치(224)가 점등 검사를 위하여 디스플레이 패널(200)에 대향적으로 위치된다. As shown in FIG. 4, a plurality of panel electrodes 400 are present in the electrode portion 212 of the display panel 200, and the probe device 224 is opposed to the display panel 200 for the lighting test. Is located.

이어서, 프로브 장치(224)의 프로브 전극들(312)이 전극부(212)의 해당 패널 전극들(400) 위로 놓여지며, 즉 프로브 전극들(312)이 패널 전극들(400)에 전기적으로 연결된다. 여기서, 도시하지는 않았지만 프로브 전극들(312)은 구동 회로부(304)와 전기적으로 연결되어 있다. Subsequently, the probe electrodes 312 of the probe device 224 are placed over the corresponding panel electrodes 400 of the electrode portion 212, that is, the probe electrodes 312 are electrically connected to the panel electrodes 400. do. Although not shown, the probe electrodes 312 are electrically connected to the driving circuit unit 304.

계속하여, 프로브 전극들(312)이 패널 전극들(400)에 전기적으로 연결된 상태에서, 구동 회로부(304)는 기설정된 조건에 따라 점등 검사를 위한 신호들을 프로브 전극들(312) 및 패널 전극들(400)을 통하여 신호 라인들에 제공한다. 결과적으로, 디스플레이 패널(200)의 픽셀들이 발광하며, 즉 점등한다. Subsequently, in a state in which the probe electrodes 312 are electrically connected to the panel electrodes 400, the driving circuit unit 304 sends signals for the lighting test according to a predetermined condition to the probe electrodes 312 and the panel electrodes. To signal lines through 400. As a result, the pixels of the display panel 200 emit light, i.e., light up.

검사자는 이러한 점등 상태를 관찰하여 디스플레이 패널(200)이 정상적으로 동작하는 지의 여부를 판단한다. 일반적으로는, 디스플레이 패널(200)의 전체 픽셀들의 점등을 기초로 점등 검사를 수행하지만 픽셀들을 블록으로 구분한 후 블록별로 점등시켜 점등 검사를 수행할 수도 있다. The inspector observes the lighting state to determine whether the display panel 200 operates normally. In general, the lighting test is performed based on the lighting of all pixels of the display panel 200. However, the lighting test may be performed by dividing the pixels into blocks and lighting the blocks by blocks.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구조를 도시한 단면도이다. 5 is a cross-sectional view showing the structure of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 5(A)를 참조하면, 본 실시예의 프로브 장치(224)는 탄성 구조물(300) 및 전극 구조물(302)을 포함한다.Referring to FIG. 5A, the probe device 224 of this embodiment includes an elastic structure 300 and an electrode structure 302.

탄성 구조물(302)은 탄성부(500), 제 1 접착부(502), 가압부(504) 및 제 2 접착부(506)로 이루어질 수 있다. The elastic structure 302 may include an elastic part 500, a first adhesive part 502, a pressing part 504, and a second adhesive part 506.

탄성부(500)는 소정 탄성력을 가지는 재질로 이루어질 수 있으며, 예를 들어 고무로 이루어진다. The elastic part 500 may be made of a material having a predetermined elastic force, for example, made of rubber.

제 1 접착부(502)는 전극 구조물(302)을 탄성부(500)의 하부면에 접착시킨다. The first adhesive part 502 adheres the electrode structure 302 to the lower surface of the elastic part 500.

가압부(504)는 탄성부(500)에 소정 힘을 가하는 부분으로서, 탄성부(500)에 힘을 가할 수 있는 한 구조는 다양하게 변형될 수 있다. The pressing portion 504 is a portion that applies a predetermined force to the elastic portion 500, the structure can be variously modified as long as it can apply a force to the elastic portion 500.

제 2 접착부(506)는 탄성부(500)와 가압부(504)를 접착시킨다. The second adhesive part 506 bonds the elastic part 500 and the pressing part 504.

요컨대, 프로브 장치(224)는 탄성력을 가지는 탄성부(500), 후공정의 FPCB와 동일한 전극 구조물(302) 및 탄성부(500)에 힘을 가할 수 있는 가압부(504)로 구성된다.In other words, the probe device 224 is composed of an elastic portion 500 having an elastic force, the same electrode structure 302 as the FPCB in a later step, and a pressing portion 504 capable of applying a force to the elastic portion 500.

다만, 프로브 장치(224)가 탄성부(500), 전극 구조물(302) 및 가압부(504)로 이루어지는 한 도 5(B)에 도시된 바와 같이 다른 구조로 변형될 수도 있다. However, as long as the probe device 224 includes the elastic part 500, the electrode structure 302, and the pressing part 504, the probe device 224 may be modified to another structure as shown in FIG. 5B.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 전극들과 프로브 전극들의 연결 과정을 도시한 도면이다. 6 is a view illustrating a process of connecting panel electrodes and probe electrodes according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6(A)를 참조하면, 디스플레이 패널(200)의 패널 전극들(400a 내지 400n)과 마주보도록 전극 구조물(302)의 프로브 전극들(312a 내지 312n)이 배열된다. 여기서, 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 수가 패널 전극들(400a 내지 400n)의 수와 동일한 것으로 도시하였으나, 다를 수 있다. Referring to FIG. 6A, the probe electrodes 312a to 312n of the electrode structure 302 are arranged to face the panel electrodes 400a to 400n of the display panel 200. Here, although the number of probe electrodes 312a to 312n is shown to be the same as the number of panel electrodes 400a to 400n, the number may be different.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 패널 전극들(400a 내지 400n)의 전체 폭, 즉 패널 전극들(400a 및 400n)의 외곽 라인들 사이의 간격은 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 전체 폭, 즉 프로브 전극들(312a 및 312n)의 외곽 라인들 사이의 간격과 다를 수 있다. 바람직하게는, 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 전체 폭은 도 6(A)에 도시된 바와 같이 패널 전극들(400a 내지 400n)의 전체 폭보다 좁게 형성된다. 즉, 프로브 전극들(312a 내지 312n) 사이의 간격, 즉 피치 및 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 자체 폭은 패널 전극들(400a 내지 400n) 사이의 피치 및 패널 전극들(400a 내지 400n)의 폭보다 작을 수 있다. 결과적으로, 프로브 전극들(312a 내지 312n)을 패널 전극들(400a 내지 400n) 위에 위치시키면 프로브 전극들(312a 내지 312n)과 패널 전극들(400a 내지 400n)의 얼라인이 맞지 않게 된다. 여기서, 프로브 장치(224)는 도 6(B)에 도시된 구조를 가진다. According to an embodiment of the present invention, the overall width of the panel electrodes 400a to 400n, that is, the spacing between the outer lines of the panel electrodes 400a and 400n, may be the total width of the probe electrodes 312a to 312n, That is, the distance between the outer lines of the probe electrodes 312a and 312n may be different. Preferably, the overall width of the probe electrodes 312a to 312n is formed to be narrower than the overall width of the panel electrodes 400a to 400n as shown in FIG. 6A. That is, the spacing between the probe electrodes 312a through 312n, i.e., the pitch and its own width of the probe electrodes 312a through 312n, is determined by the pitch between the panel electrodes 400a through 400n and the pitch of the panel electrodes 400a through 400n. It may be less than the width. As a result, when the probe electrodes 312a to 312n are positioned on the panel electrodes 400a to 400n, the probe electrodes 312a to 312n are not aligned with the panel electrodes 400a to 400n. Here, the probe device 224 has the structure shown in Fig. 6B.

이어서, 점등 검사를 위해 가압부(504)를 통하여 탄성부(500)에 힘을 가한다. 결과적으로, 탄성부(500)를 통하여 전극 바디부(310)에 힘이 전달되며, 그 결과 프로브 전극들(312a 내지 400n) 사이의 피치가 증가되고 프로브 전극들(312a 내지 400n)의 전체 폭이 도 6(C)에 도시된 바와 같이 넓어진다. 바람직하게는, 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 전체 폭은 패널 전극들(400a 내지 400n)의 폭과 동일하여지고, 도 6(C)에 도시된 바와 같이 프로브 전극들(312a 내지 312n)과 패널 전극들(400a 내지 400n)의 얼라인이 일치하게 된다. 다른 관점으로, 프로브 전극들(312a 내지 312n) 사이의 피치가 패널 전극들(400a 내지 400n) 사이의 피치와 동일하여지고 프로브 전극들(312a 내지 312n)의 폭이 패널 전극들(400a 내지 400n)의 폭과 동일하여질 수 있다. 따라서, 프로브 전극들(312a 내지 312n)과 패널 전극들(400a 내지 400n)이 일대일로 전기적으로 연결되게 된다. 여기서, 프로브 장치(224)는 도 6(D)에 도시된 구조를 가진다. 구체적으로는, 탄성부(500)가 가압부(504)에 의해 가해진 힘에 의해 수축되어 측면이 볼록 튀어나오게 된다. Subsequently, a force is applied to the elastic part 500 through the pressing part 504 for the lighting test. As a result, a force is transmitted to the electrode body 310 through the elastic part 500, so that the pitch between the probe electrodes 312a to 400n is increased and the overall width of the probe electrodes 312a to 400n is increased. It is widened as shown in Fig. 6C. Preferably, the total width of the probe electrodes 312a through 312n is equal to the width of the panel electrodes 400a through 400n, and as shown in FIG. 6C, the probe electrodes 312a through 312n may be separated from each other. The alignment of the panel electrodes 400a to 400n is matched. In another aspect, the pitch between the probe electrodes 312a through 312n is equal to the pitch between the panel electrodes 400a through 400n and the width of the probe electrodes 312a through 312n is equal to the panel electrodes 400a through 400n. It can be equal to the width of. Thus, the probe electrodes 312a to 312n and the panel electrodes 400a to 400n are electrically connected one to one. Here, the probe device 224 has the structure shown in Fig. 6D. Specifically, the elastic part 500 is contracted by the force applied by the pressing part 504, so that the side surface protrudes.

요컨대, 본 발명의 프로브 장치(224)는 전극 구조물(302)이 FPCB인 점을 이용하여 탄성부(500)의 재질 및 탄성부(500)로 가해지는 힘의 세기를 조정하여 프로브 전극들(312)을 패널 전극들(400)에 전기적으로 연결시킨다. That is, the probe device 224 of the present invention adjusts the strength of the material applied to the elastic part 500 and the strength of the elastic part 500 by using the point that the electrode structure 302 is FPCB. ) Is electrically connected to the panel electrodes 400.

상기한 본 발명의 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다. The embodiments of the present invention described above are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art having ordinary knowledge of the present invention may make various modifications, changes, and additions within the spirit and scope of the present invention. Should be considered to be within the scope of the following claims.

도 1은 일반적인 프로브 장치를 도시한 사시도이다. 1 is a perspective view showing a general probe device.

도 2는 본 발명의 프로브 장치를 사용하여 디스플레이 패널의 점등 검사를 수행하는 과정을 도시한 도면이다. 2 is a view illustrating a process of performing a lighting test of a display panel using the probe device of the present invention.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구조를 도시한 사시도이다. 3 is a perspective view showing the structure of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 프로브 장치를 이용한 디스플레이 패널의 점등 검사 과정을 도시한 도면이다. 4 is a diagram illustrating a lighting test process of the display panel using the probe device of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 장치의 구조를 도시한 단면도이다. 5 is a cross-sectional view showing the structure of a probe device according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 패널 전극들과 프로브 전극들의 연결 과정을 도시한 도면이다. 6 is a view illustrating a process of connecting panel electrodes and probe electrodes according to an exemplary embodiment of the present invention.

Claims (6)

디스플레이 패널의 전극들과 전기적으로 연결되는 프로브 장치에 있어서, In the probe device electrically connected to the electrodes of the display panel, 평판 형상의 전극 바디부 및 상기 전극 바디부의 일면 위에 배열된 적어도 하나의 프로브 전극을 가지는 전극 구조물; 및An electrode structure having a plate-shaped electrode body portion and at least one probe electrode arranged on one surface of the electrode body portion; And 상기 전극 구조물 위에 배열되며, 탄성력을 가지는 탄성 구조물을 포함하되,An elastic structure arranged on the electrode structure and having an elastic force, 상기 프로브 전극은 상기 디스플레이 패널의 전극과 전기적으로 연결되며, 상기 전극 구조물은 연성인쇄회로기판(FPCB)인 것을 특징으로 하는 프로브 장치. And the probe electrode is electrically connected to an electrode of the display panel, and the electrode structure is a flexible printed circuit board (FPCB). 제 1 항에 있어서, 상기 프로브 장치는 상기 디스플레이 패널의 점등 검사를 위해 사용되고, 상기 전극 구조물의 일측면 위에는 구동 회로부가 형성된 것을 특징으로 하는 프로브 장치. The probe device of claim 1, wherein the probe device is used to check a lighting of the display panel, and a driving circuit part is formed on one side of the electrode structure. 제 2 항에 있어서, 상기 전극 구조물은 점등 검사후 상기 디스플레이 패널의 패널 전극들에 연결되는 연성인쇄회로기판과 동일한 소자인 것을 특징으로 하는 프로브 장치. The probe device of claim 2, wherein the electrode structure is the same element as a flexible printed circuit board connected to panel electrodes of the display panel after a lighting test. 제 1 항에 있어서, 상기 전극 구조물은,The method of claim 1, wherein the electrode structure, 소정 탄성체로 이루어진 탄성부;An elastic portion made of a predetermined elastic body; 상기 탄성부와 상기 전극 구조물을 접착시키는 제 1 접착부;A first adhesive part for bonding the elastic part and the electrode structure; 상기 탄성체로 소정 힘을 가하는 가압부; 및A pressing unit for applying a predetermined force to the elastic body; And 상기 가압부와 상기 탄성부를 접착시키는 제 2 접착부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 장치. And a second adhesive part for adhering the pressing part and the elastic part. 제 4 항에 있어서, 점등 검사 전에는 상기 프로브 전극들의 전체 폭이 상기 패널 전극들의 전체 폭보다 작으나, 점등 검사시에는 상기 가압부가 상기 탄성부에 힘을 가함에 의해 상기 프로브 전극들의 전체 폭이 상기 패널 전극들의 전체 폭과 동일하여지는 것을 특징으로 하는 프로브 장치. 5. The method of claim 4, wherein the entire width of the probe electrodes is smaller than the total width of the panel electrodes before the lighting test, but the entire width of the probe electrodes is increased by the pressing unit applying force to the elastic part during the lighting test. Probe device, characterized in that equal to the overall width of the electrodes. 제 4 항에 있어서, 점등 검사 전에는 상기 프로브 전극들 사이의 피치가 상기 패널 전극들 사이의 피치와 다르나, 점등 검사시에는 상기 가압부가 상기 탄성부에 힘을 가함에 의해 상기 프로브 전극들의 피치가 상기 패널 전극들의 피치가 동일하게 되는 것을 특징으로 하는 프로브 장치. 5. The pitch of the probe electrodes of claim 4, wherein the pitch between the probe electrodes is different from the pitch between the panel electrodes before the lighting test, but the pressing part exerts a force on the elastic part during the lighting test. Probe device, characterized in that the pitch of the panel electrodes are equal.
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