KR101040217B1 - 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 - Google Patents
전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101040217B1 KR101040217B1 KR1020100011198A KR20100011198A KR101040217B1 KR 101040217 B1 KR101040217 B1 KR 101040217B1 KR 1020100011198 A KR1020100011198 A KR 1020100011198A KR 20100011198 A KR20100011198 A KR 20100011198A KR 101040217 B1 KR101040217 B1 KR 101040217B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electromagnetic wave
- signal
- searcher
- housing
- transmission unit
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0821—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning rooms and test sites therefor, e.g. anechoic chambers, open field sites or TEM cells
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
- G01R29/0835—Testing shielding, e.g. for efficiency
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0871—Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
Abstract
본 발명은 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템에 관한 것으로, 상기 시험장치는, 내부에 전자기파 탐색기가 배치되도록 형성되며 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구가 구비되는 하우징, 및 상기 개구와 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지고 외부로부터 공급되는 전자기파를 상기 복수의 도파관들을 통하여 상기 개구로 전달하고 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키는 신호전달부를 포함한다. 이에 의하여 본 발명은 무반향 챔버를 사용할 수 없는 장소에서 전자기파 탐색기의 성능을 점검할 수 있는 시험장치를 제공한다.
Description
본 발명은 전자기파 탐색기의 성능 검사를 위한 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템에 관한 것이다.
최근 유도무기의 명중률을 높이기 위하여 전자기파 탐색기에 관한 연구가 활발히 진행되고 있다. 예를 들어, 전자기파 탐색기는 전파를 표적물에 내보내어 되돌아오는 전파에 의해 비행하는 유도무기의 위치를 인식한다.
전자기파 탐색기 중 하나인 마이크로파 탐색기는 가장 복잡한 구성품 중의 하나로서 점검 및 성능측정의 중요도가 매우 높다. 일반적으로 마이크로파 탐색기 점검을 위하여 무반향 챔버(Anechoic Chamber)에서 성능 시험이 시행된다. 그러나 고정된 장소 이외에서 실시되는 환경시험, 야외시험 등은 무반향 챔버를 사용할 수 없는 시험조건이 된다.
따라서, 고정된 장소 이외에서도 마이크로파 탐색기의 분석/평가를 위한 성능 점검을 수행할 수 있는 방안이 고려될 수 있다.
본 발명은 전자기파 탐색기의 성능을 시험하도록 이동이 가능한 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템을 제공하기 위한 것이다.
이와 같은 본 발명의 해결 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따르는 전자기파 탐색기의 시험장치는, 내부에 전자기파 탐색기가 배치되도록 형성되며 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구가 구비되는 하우징, 및 상기 개구와 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지고 외부로부터 공급되는 전자기파를 상기 복수의 도파관들을 통하여 상기 개구로 전달하고 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키는 신호전달부를 포함한다.
본 발명과 관련한 일 예에 따르면, 상기 신호전달부는 신호 결합기 및 신호 격리기를 포함한다. 신호 결합기는 유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치된다. 상기 신호 격리기는 상기 신호 결합기와 연결되며, 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키고, 상기 일 방향과 반대 방향의 진행을 차단하도록 형성된다.
본 발명과 관련한 다른 예에 따르면, 상기 신호 결합기는 서로 연결되는 제1 및 제2 신호 결합기를 포함하고, 상기 제1 및 제2 신호 결합기는 서로 연결되는 부분을 중심으로 대칭되도록 배치된다. 상기 신호전달부는 상기 하우징의 일단에 장착되며, 상기 개구와 연통하도록 형성된다.
본 발명과 관련한 다른 일 예에 따르면, 상기 신호전달부의 일단은 상기 신호 결합기와 연결되며, 타단은 상기 전자기파의 출력을 측정하는 측정기기와 연결된다. 상기 신호전달부는 상기 전자기파를 상기 측정기기에서 측정되는 신호와 대응하도록 변환시키는 신호 변환기를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련한 다른 일 예에 따르면, 상기 하우징은 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 내부를 외부에 대하여 차폐시키도록 이루어진다. 상기 하우징의 내면에는 전자기파를 흡수하도록 이루어지는 전자기파 흡수체가 배치될 수 있다.
또한 상기한 과제를 실현하기 위하여 본 발명은, 내부에 전자기파 탐색기가 배치되며 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 부분과 인접하게 형성되는 개구를 구비하며 상기 개구를 통하여 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과되도록 이루어지는 하우징, 및 복수의 도파관으로 이루어지며 일단은 상기 개구와 연결되고 타단은 측정기기와 연결되며 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 측정기기로 전달시키는 신호전달부를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치를 개시한다. 상기 측정기기에서 측정되는 데이터는 보다 원거리의 측정 결과에 대응하도록 보정될 수 있다.
또한 상기한 과제를 실현하기 위하여 본 발명은, 내부에 전자기파 탐색기가 배치되는 하우징과, 상기 하우징과 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지는 신호전달부를 구비하는 상기 시험장치, 및 상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기에서 송신되는 전자기파를 특성을 측정하는 측정기기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험 시스템을 개시한다. 상기 시험 시스템은 전자기파 공급장치를 포함할 수 있다. 전자기파 공급장치는 상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기가 전자기파를 수신하도록 상기 신호전달부에 상기 수신되는 전자기파를 공급하도록 형성된다.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 관련된 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템은 하우징 및 신호전달부를 통하여, 이동이 가능하면서도 신뢰도 높은 데이터가 측정될 수 있는 시험장치를 구현한다. 또한 이를 통하여 전자기파 탐색기의 야외 성능 점검, 환경시험 등이 가능케 되며, 무반향 챔버를 사용할 수 없는 각종 시험 현장에서 무반향 챔버와 동일 또는 유사한 점검 결과가 도출될 수 있다.
본 발명은 도파관 조립체로 이루어지는 신호전달부를 통하여 전자기파의 송수신 점검이 모두 용이하게 이루어질 수 있다. 또한 전자기파를 흡수하는 하우징을 통하여 시험에 대한 신뢰도가 향상된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따르는 전자기파 탐색기의 시험 시스템의 구성도.
도 2a 및 도 2b는 각각 도 1의 시험장치의 사시도 및 단면도.
도 3은 도 1의 시험장치에 전자기파 탐색기가 장착된 일 실시예를 나타내는 개념도.
도 4는 도 2의 신호전달부의 확대도.
도 5는 본 발명과 관련한 신호전달부의 변형례를 나타내는 확대도.
도 2a 및 도 2b는 각각 도 1의 시험장치의 사시도 및 단면도.
도 3은 도 1의 시험장치에 전자기파 탐색기가 장착된 일 실시예를 나타내는 개념도.
도 4는 도 2의 신호전달부의 확대도.
도 5는 본 발명과 관련한 신호전달부의 변형례를 나타내는 확대도.
이하, 본 발명에 관련된 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다. 본 명세서에서 사용되는 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험 시스템(S)의 구성도이다.
시험 시스템(S)은 시험장치(100)와 측정기기(200, 300)를 포함한다.
도시한 바와 같이, 시험장치(100)는 내부에 전자기파 탐색기(101)가 배치되는 하우징(110)과, 상기 하우징(110)과 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지는 신호전달부(120)를 구비한다.
하우징(110)은 전자기파 탐색기(101)를 외부로부터 차폐시키도록 이루어진다. 하우징(110)은 전자기파가 외부로 방출되는 것을 제한하기 위하여 금속 또는 유사 재질로 형성된다. 이를 통하여 전자기파 탐색기(101)에서 송신되는 전자기파 중 신호전달부(120)를 향하는 전자기파만이 하우징(110)의 외부로 방출된다.
신호전달부(120)는 전자기파 탐색기(101)에서 송신되는 전자기파를 도파관들의 조합을 통하여 외부로 전달시킨다.
시험장치(100)는 소형으로 이루어진다. 예를 들어 하우징(110)은 유도 무기 등에서 전자기파 탐색기(101)가 장착된 부분이 삽입될 수 있는 크기로 형성된다. 이를 통하여 시험장치(100)는 이동이 가능하도록 이루어진다.
측정기기(200, 300)는 전자기파 탐색기(101)에서 송신되는 전자기파를 특성을 측정하도록 신호전달부(120)와 연결된다. 측정기기(200, 300)는 예를 들어, 오실로스코프(200, oscilloscope), 피크 파워(peak power) 측정기(300) 등이 될 수 있다.
본 도면을 참조하면, 신호전달부(120)는 전자기파 공급장치(400)와 연결될 수 있다. 전자기파 공급장치(400)는 전자기파 탐색기(101)가 전자기파를 수신하도록 상기 신호전달부(120)에 전자기파를 공급하도록 형성된다.
신호전달부(120)는 도파관들의 조합을 통하여 전자기파 공급장치(400)로부터 공급되는 전자기파를 상기 하우징(110)의 내부로 전달하도록 이루어진다. 전자기파 탐색기(101)는 공급된 전자기파를 수신하고, 이를 통하여 전자기파 탐색기(101)의 수신 성능이 시험될 수 있다.
무반향 챔버이외의 장소에서 탐색기의 송신기능을 점검하기 위해 탐색기내 센서를 이용한 공간방사시험이 가능하나 환경시험 등이 수행되는 실내에서는 점검할 수 없다. 야외에서도 고출력 전자파의 영향을 줄이기 위해 탐색기의 방향을 하늘로 향하도록 하여야 하는 단점이 있다. 또한, 탐색기의 수신기능 점검을 위해 탐색기 전방에 혼 안테나를 탐색기와 정렬되는 위치에 설치하고, 모의표적 신호를 발생시키는 방법을 사용하였으나, 이는 단지 수신가능 여부만 판단할 수 있을 뿐, 정확한 수신기능을 점검할 수 없었다. 또한, 점검을 수행하기 위해 장비설치, 안테나 정렬, 점검장비 설치 등에 많은 시간이 소요되었다.
이에 반해, 본 발명과 관련한 시험 시스템(S)은 상기 구성에 의하여 고정형 무반향 챔버를 사용할 수 없는 실내 또는 야외에서 송신기능 점검을 위한 공간방사시험과 속도추적과 같은 정밀 수신기능을 측정할 수 있는 메커니즘을 제공한다.
이하, 상기 시험 시스템(S)에 사용되는 시험장치(100)에 대하여 도 2a 내지 도 4를 참조하여 보다 상세히 설명한다. 도 2a 및 도 2b는 각각 도 1의 시험장치(100)의 사시도 및 단면도이고, 도 3는 도 1의 시험장치(100)에 전자기파 탐색기(101)가 장착된 일 실시예를 나타내는 개념도이며, 도 4는 도 2의 신호전달부(120)의 확대도이다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 하우징(110)은 예를 들어 원통형 몸체(111)와, 원추형 전단부(112)로 이루어진다. 다만, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며 하우징(110)은 내부에 전자기파 탐색기가 배치될 수 있는 다양한 형태로 변형될 수 있다.
하우징(110)의 후단부에는 시험대상체, 예를 들어 유도무기 또는 전자기파 탐색기가 삽입가능하도록 삽입개구(114)가 형성되고, 삽입개구(114)와 인접하게 삽입된 시험대상체를 고정시키도록 고정클립(115)이 장착된다.
하우징(110)은 내부에 전자기파 탐색기(101, 도 3 참조)가 배치되도록 형성된다. 전자기파 탐색기는, 예를 들어 유도무기 등에 주로 사용되는 마이크로파 탐색기가 될 수 있다.
하우징(110)에는 상기 전자기파 탐색기(101)에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구(116)가 구비된다. 도시한 바와 같이, 하우징(110)은 전자기파 탐색기(101)가 배치되는 내부를 외부에 대하여 차폐시키도록 이루어진다. 보다 구체적으로, 하우징(110)은 시험대상체의 전단부를 감싸도록 형성되며, 전자기파가 외부로 방출되는 것을 방지하도록 이루어진다.
하우징(110)의 내면에는 전자기파를 흡수하도록 이루어지는 전자기파 흡수체(117)가 배치된다. 전자파 흡수체(117)는 하우징(110)의 내면을 덮도록 형성되며, 전자기파 탐색기(101)의 전자기파 송수신에 있어서 하우징(110)의 반사에 의해 탐색기(101)에 미치는 전자기파의 영향을 차단한다.
도 2b 및 도 3에 도시된 바와 같이, 하우징(110)의 내부에는 시험대상체를 고정시키도록 지지부재(118)가 배치될 수 있다. 지지부재(118)는 예를 들어, 하우징(110)의 전단부에 배치되며, 시험대상체를 지지하도록 이루어진다. 보다 구체적으로, 시험대상체가 전자기파 탐색기(101)가 포함된 유도무기(102)인 경우에 지지부재(118)는 유도무기(102)의 전단부를 지지하도록 이루어진다. 지지부재(118)는 고정클립(115)과 함께 점검대상인 전자기파 탐색기 또는 전자기파 탐색기가 포함된 구조물의 모양에 따라 크기와 그 형상이 변형될 수 있다.
도 2a 내지 도 4를 참조하면, 신호전달부(120)는 복수의 도파관들이 서로 조합되는 도파관 조립체로 이루어진다. 신호전달부(120)는 하우징(110)의 일단에 장착되며, 하우징(110)의 개구(116)와 연통하도록 형성된다. 신호전달부(120)는 고정된 전자기파 탐색기의 안테나(103)로부터 특정 거리에 배치되며, 안테나(103)로부터 방사되는 특정 주파수의 전자기파(즉, 전파신호)를 연결된 케이블을 통하여 외부의 측정기기로 전달시킨다.
신호전달부(120)는 외부로부터 공급되는 전자기파를 복수의 도파관들을 통하여 하우징(110)의 개구(116)로 전달하고, 상기 개구(116)로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키도록 이루어진다.
신호전달부(120)는 신호 격리기(121) 및 신호 결합기(122)를 포함한다.
신호 격리기(121)는 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키고, 상기 일 방향과 반대 방향의 진행을 차단하도록 형성된다. 또한, 신호 격리기(121)에는 막힌 구조로 이루어지는 로드(124)가 연결될 수 있다.
신호 결합기(122)는 상기 신호 격리기(121) 및 상기 개구(116)와 각각 연결된다. 도시에 의하면, 신호 결합기(122)는 유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치되도록 형성된다.
신호 결합기(122)는 몸체가 십자 형태로 이루어지고, 입력단과 교차하는 방향으로 배치되는 출력단, 입력단과 반대 방향을 바라보는 연결단을 구비할 수 있다. 본 도면들을 참조하면, 신호 결합기는 서로 연결되는 제1 및 제2 신호 결합기(122a, 122b)를 포함하고, 상기 제1 및 제2 신호 결합기(122a, 122b)는 서로 연결되는 부분을 중심으로 대칭되도록 배치된다. 보다 구체적으로 제1 신호 결합기(122a)는 입력단이 하우징(110)의 개구(116)와 연결되고, 연결단이 제2 신호 결합기(122b)의 입력단과 연결된다.
전자기파 탐색기(101)로부터 전자기파를 수신하도록 제1 및 제2 신호 결합기(122a, 122b)의 출력단에는 각각 신호 변환기들(123a, 123b)이 연결된다.
신호 변환기(123a, 123b)들은 각각 일단이 상기 신호 결합기들(122a, 122b)와 연결되며, 타단은 전자기파의 출력을 측정하는 측정기기와 연결되도록 형성되며, 상기 전자기파를 측정기기에서 측정되는 신호와 대응하도록 변환시킨다. 예를 들어, 신호 변환기들(123a, 123b)에는 SMA 단자가 구비되며, 전자기파 탐색기(101)에서 송출되는 전파신호를 전기신호로 전환시킨다. 측정기기(200, 300, 도 1 참조)는 전기신호로부터 상기 전파신호의 특성을 디스플레이하도록 이루어진다.
도 3을 참조하면, 전자기파 탐색기(101)에서 송수신되는 전자기파가 통과되는 하우징(110)의 개구(116)는 전자기파 탐색기(101)가 배치되는 부분과 인접하게 형성된다. 신호전달부의 일단은 하우징(110)의 개구(116)와 연결되고, 타단은 측정기기(200, 300)와 연결된다. 보다 구체적으로, 시험장치(100)는 탐색기(101)에 밀착 체결되어 탐색기(101)의 송수신 점검을 하도록 이루어진다.
측정기기(200, 300)에서 측정되는 데이터는 보다 원거리의 측정 결과에 대응하도록 보정되어진다. 즉, 시험장치(100)는 컴택트한 크기를 가지므로, 정상적인 안테나의 Far field 에서 전자기파를 수신할 수 있는 안테나 이격이 어렵다. 따라서 보정을 통하여 탐색기와 안테나간의 거리가 짧은 상태에서도 Far field의 평면파에 대한 탐색기 점검이 가능하게 된다. 보정은, 예를 들어 기준용 안테나를 유도무기 내의 탐색기 안테나 위치에 설치하고 시험장치를 장착 후 네트워크 분석기를 사용하여 손실을 측정함에 의하여 이루어질 수 있다.
도 5는 본 발명과 관련한 신호전달부의 변형례를 나타내는 확대도이다.
신호전달부(520)는 서로 연결되는 제1 및 제2 신호 결합기(522a, 522b)를 구비한다. 제1 신호 결합기(522a)는 입력단이 하우징의 개구와 연결되고, 연결단이 제2 신호 결합기(522b)의 입력단과 연결된다. 제1 및 제2 신호 결합기(522a, 522b)의 각 출력단에는 신호 변환기들(523a, 523b)이 장착된다.
도시에 의하면, 제2 신호 결합기(522b)의 연결단에는 신호 격리기(521)가 장착되고, 신호 격리기(521)에는 제1 및 제2 신호 결합기(522a, 522b)의 출력단에 연결된 신호 변환기들(523a, 523b)과 다른 신호 변환기(523c)가 장착된다.
전자기파 탐색기(101)로 전자기파를 공급하도록 신호 변환기(523c)에는 전자기파 공급장치(400, 도 1 참조)가 연결될 수 있으며, 신호 격리기(521)는 전자기파 공급장치(400)의 회로를 안테나(103)로부터 방사된 전파신호로부터 보호한다.
도 5의 구성에 의하면, 신호전달부(520)는 탐색기(101, 도 3 참조)에서 방출되는 전자기파의 서로 다른 특성을 2개의 신호 결합기(522a, 522b)를 이용하여 측정하고, 이에 더하여 전자기파 탐색기(101)는 수신성능을 측정하도록 전자기파 공급장치(400)에서 공급되는 전자기파를 수신할 수 있게 된다.
상기와 같은 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템은 위에서 설명된 실시예들의 구성과 방법에 한정되는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
Claims (13)
- 내부에 전자기파 탐색기가 배치되도록 형성되며, 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구가 구비되는 하우징; 및
상기 개구와 연결되며, 복수의 도파관으로 이루어지고, 외부로부터 공급되는 전자기파를 상기 복수의 도파관들을 통하여 상기 개구로 전달하고, 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키는 신호전달부를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제1항에 있어서,
상기 신호전달부는,
유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치되는 신호 결합기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제2항에 있어서,
상기 신호전달부는,
상기 신호 결합기와 연결되며, 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키고, 상기 일 방향과 반대 방향의 진행을 차단하도록 형성되는 신호 격리기를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제2항에 있어서,
상기 신호 결합기는 서로 연결되는 제1 및 제2 신호 결합기를 포함하고,
상기 제1 및 제2 신호 결합기는 서로 연결되는 부분을 중심으로 대칭되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제2항에 있어서,
상기 신호전달부는,
일단은 상기 신호 결합기와 연결되며, 타단은 상기 전자기파의 출력을 측정하는 측정기기와 연결되도록 형성되며, 상기 전자기파를 상기 측정기기에서 측정되는 신호와 대응하도록 변환시키는 신호 변환기를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제1항에 있어서,
상기 신호전달부는 상기 하우징의 일단에 장착되며, 상기 개구와 연통하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제1항에 있어서,
상기 하우징은 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 내부를 외부에 대하여 차폐시키도록 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제7항에 있어서,
상기 하우징의 내면에는 전자기파를 흡수하도록 이루어지는 전자기파 흡수체가 배치되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 내부에 전자기파 탐색기가 배치되며, 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 부분과 인접하게 형성되는 개구를 구비하며, 상기 개구를 통하여 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과되도록 이루어지는 하우징; 및
복수의 도파관으로 이루어지며, 일단은 상기 개구와 연결되고, 타단은 측정기기와 연결되며, 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 측정기기로 전달시키는 신호전달부를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제9항에 있어서,
상기 측정기기에서 측정되는 측정데이터는 보다 원거리의 측정 결과에 대응하도록 보정되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 제10항에 있어서,
상기 신호전달부는,
유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치되는 신호 결합기; 및
상기 신호 결합기와 연결되며, 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키도록 형성되는 신호 격리기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치. - 내부에 전자기파 탐색기가 배치되는 하우징과, 상기 하우징과 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지는 신호전달부를 구비하며, 상기 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따르는 시험장치; 및
상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기에서 송신되는 전자기파를 특성을 측정하는 측정기기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험 시스템. - 제12항에 있어서,
상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기가 전자기파를 수신하도록 상기 신호전달부에 상기 수신되는 전자기파를 공급하도록 형성되는 전자기파 공급장치를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험 시스템.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011198A KR101040217B1 (ko) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100011198A KR101040217B1 (ko) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101040217B1 true KR101040217B1 (ko) | 2011-06-16 |
Family
ID=44405305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100011198A KR101040217B1 (ko) | 2010-02-05 | 2010-02-05 | 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101040217B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105676003A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-15 | 韩国标准科学硏究院 | 电磁波功率感应装置及包括该电磁波功率感应装置的系统 |
KR101793347B1 (ko) | 2015-12-30 | 2017-11-20 | 주식회사 한화 | 유도 무기용 탐색 장치 및 이의 동작 방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4423623A (en) | 1981-08-24 | 1984-01-03 | Rockwell International Corporation | Microwave meter for fluid mixtures |
JPH05312870A (ja) * | 1992-05-14 | 1993-11-26 | Kobe Steel Ltd | ジョセフソン素子による電磁波検出装置 |
JPH06235744A (ja) * | 1993-02-10 | 1994-08-23 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波電力検出器 |
US6100703A (en) | 1998-07-08 | 2000-08-08 | Yissum Research Development Company Of The University Of Jerusalum | Polarization-sensitive near-field microwave microscope |
-
2010
- 2010-02-05 KR KR1020100011198A patent/KR101040217B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4423623A (en) | 1981-08-24 | 1984-01-03 | Rockwell International Corporation | Microwave meter for fluid mixtures |
JPH05312870A (ja) * | 1992-05-14 | 1993-11-26 | Kobe Steel Ltd | ジョセフソン素子による電磁波検出装置 |
JPH06235744A (ja) * | 1993-02-10 | 1994-08-23 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波電力検出器 |
US6100703A (en) | 1998-07-08 | 2000-08-08 | Yissum Research Development Company Of The University Of Jerusalum | Polarization-sensitive near-field microwave microscope |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105676003A (zh) * | 2014-12-05 | 2016-06-15 | 韩国标准科学硏究院 | 电磁波功率感应装置及包括该电磁波功率感应装置的系统 |
KR20160069036A (ko) * | 2014-12-05 | 2016-06-16 | 한국표준과학연구원 | 전자파 전력 감지 장치 및 그것을 포함한 시스템 |
KR101700875B1 (ko) * | 2014-12-05 | 2017-02-02 | 한국표준과학연구원 | 전자파 전력 감지 장치 및 그것을 포함한 시스템 |
US10145876B2 (en) | 2014-12-05 | 2018-12-04 | Korea Research Institute Of Standards And Science | Electromagnetic wave power sensing apparatus and system comprising thereof |
KR101793347B1 (ko) | 2015-12-30 | 2017-11-20 | 주식회사 한화 | 유도 무기용 탐색 장치 및 이의 동작 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20150048980A1 (en) | Millimeter wave test fixture for an integrated circuit device under test | |
CN112558001B (zh) | 一种脉冲高功率现场校准装置和方法 | |
US10429423B2 (en) | Passive intermodulation (PIM) probe | |
KR102085038B1 (ko) | 전자파 차폐용 콘크리트 블록의 차폐성능 시험장치 | |
CN107884655B (zh) | 一种微波暗箱空间衰减校准装置及校准方法 | |
KR101040217B1 (ko) | 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템 | |
CN110297131B (zh) | 射频测试探头、射频测试系统及方法 | |
TW201619619A (zh) | 具有改變反射路徑吸收體之微波暗室 | |
US6188365B1 (en) | Testing device and method | |
KR101045845B1 (ko) | 렌즈를 이용한 부착형 레이다 성능측정 장치 | |
CN109254207B (zh) | 一种线缆电磁辐射分析方法及系统 | |
CN111141964A (zh) | 一种基于透波舱的离子推力器的电磁辐射测量方法 | |
CN117272442A (zh) | 用于确定空中测试室的部件布置的计算机实现方法和系统 | |
CN210835076U (zh) | 一种用于大功率辐射设备性能测试的系统 | |
KR101054733B1 (ko) | 발사체의 전파 통신시험을 위한 안테나 햇 장치 | |
CN102955086A (zh) | 一种波导转换开关屏蔽效能测试方法 | |
Su et al. | A novel equivalent construction method applying to radar EMS threshold test under multi-source heterogeneous electromagnetic environment | |
CN109301508B (zh) | 一种用于紧缩场校准的天线装置 | |
CN102955085A (zh) | 一种射频泄漏测试方法 | |
JP2008034761A (ja) | 2重構造の電磁シールド材を用いた電磁シールドルームシステム | |
JP2012163444A (ja) | 無線端末送受信性能測定方法および装置 | |
Dybdal | Communication satellite antenna testing | |
CN202916359U (zh) | 一种射频泄漏测试装置 | |
CN115128366B (zh) | 一种高功率微波系统等效全向辐射功率测试系统及方法 | |
KR102053914B1 (ko) | 무선통신 시스템 성능의 실내 실험장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |