KR101029070B1 - 신호 품질 결정 장치 및 그 방법 - Google Patents

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Abstract

신호의 품질 결정 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명에 의한 신호 품질 결정 장치는, RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하는 신호 추정부; 상기 선택신호에 따라 상기 각각의 샘플 값을 상기 레벨별로 분류한 후 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 채널 식별부; 및 상기 채널 식별부로부터 출력된 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 출력하는 품질 연산부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, RF 신호의 품질을 보다 정확하게 결정할 수 있고, 결정된 신호 품질을 이용하여 포커스 보정, 틸트 보정, detrack 및 기록 신호 최적화 등을 수행할 수 있다.

Description

신호 품질 결정 장치 및 그 방법{Apparatus and method of determining quality of signal}
도 1은 종래 기술의 일 실시예에 따른 이치화 장치의 블록도,
도 2a 및 2b는 종래 기술에 따른 지터를 나타내는 그래프,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 품질 결정 장치의 블록도,
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 품질 결정 장치의 블록도,
도 5는 FIR 필터의 일 실시예를 나타내는 도면,
도 6은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(590)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 일 실시 예를 나타내는 도면,
도 7은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(690)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 다른 실시 예를 나타내는 도면,
도 8은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(790)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 또 다른 실시 예를 나타내는 도면이다.
본 발명은 신호의 품질을 결정하기 위한 방법 및 장치에 관한 것으로, 특히 광 디스크로부터 얻은 RF 신호의 품질을 결정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
광 디스크로부터 반사된 광을 전기적 신호로 변환시킨 후 소정의 신호 처리 과정을 통해 광 디스크에 기록된 이진 데이터가 재생된다. 이 때 광 디스크로부터 반사된 광을 전기적 신호로 변환함으로써 얻은 신호를 RF(Radio Frequency)신호라고 한다. 광 디스크에는 이진 신호가 기록되어 있다고 하더라도 광 디스크로부터 얻은 RF 신호는 광 디스크 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있다. 따라서 아날로그 신호를 이진 신호로 바꾸기 위해서는 이치화(bibarization) 과정이 필요하다.
도 1은 종래 기술의 일 실시예에 따른 이치화 장치의 블록도이다. 도 1에 도시된 종래의 이치화 장치는 비교기(comparator)(110)와 저역통과필터(lowpass filter)(130)를 포함한다. 비교기(110)는 저역통과필터(130)로부터 제공받은 기준값을 기준으로 입력된 RF 신호를 이치화하여 이진 신호를 출력한다. 비교기(110)로부터 출력된 이진 신호는 시스템 클럭을 생성하기 위해 위상제어루프(PLL)(도시되지 않음)에 제공된다. 이 때 RF 신호와 시스템 클럭은 정확히 동기가 맞지 않고 약간의 위상차가 존재하는데 이를 지터(jitter)라고 한다.
도 2a 및 2b는 종래 기술에 따른 지터를 나타내는 그래프를 나타낸다. 이상적인 경우는 도 2a에 도시한 바와 같이, 시스템 클럭의 에지(edge) 부분과 입력 신호의 영점 교차점이 정확히 일치한다. 그러나 실제로는 교차점이 정확히 일치하지 않고 도 2b에 도시한 바와 같이 지터가 발생함이 일반적이다.
종래 기술에 의하면 RF 신호와 시스템 클럭간의 위상차인 지터 값을 RF 신호 의 품질을 평가하기 위한 척도로 사용한다. 즉, RF 신호에 잡음이 많이 포함된 경우에는 지터 값이 커지게 되므로 지터 값을 측정함으로써 RF 신호의 품질을 확인할 수 있다.
그러나, 광 디스크의 데이터 기록 밀도가 증가함에 따라 RF 신호의 크기가 점점 작아지게 된다. 이러한 경우에는 약간의 잡음이 첨가되는 경우에도 신호의 왜곡이 상대적으로 크게 작용하기 때문에 큰 지터 값이 나오는 문제가 있다. 또한 더욱 더 기록 밀도를 증가시키는 경우에는 RF 신호에 영점 교차점이 많이 포함되어 지터 회로가 오동작하는 문제가 발생될 수도 있다.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 데이터 기록 밀도가 높은 고밀도 광 디스크에서도 보다 정확하게, 보다 효율적으로 신호의 품질을 결정할 수 있는 방법 및 그 장치를 제공하는 데 있다.
상기 과제를 이루기 위한 본 발명의 일 측면에 의한 RF 신호 품질 결정 장치는,
상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하는 신호 추정부; 상기 선택신호에 따라 상기 각각의 샘플 값을 상기 레벨별로 분류한 후 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 채널 식별부; 및 상기 채널 식별부로부터 출력된 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이 용하여 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 출력하는 품질 연산부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 과제를 이루기 위한 본 발명의 다른 측면에 의한 RF 신호 품질 결정 장치는,
상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 입력받아 상기 RF 신호의 추정치를 구하는 신호 추정부; 및 상기 RF 신호의 추정치 및 상기 RF 신호를 입력받아, 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 품질 연산부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 과제를 이루기 위한 본 발명의 일 측면에 의한 RF 신호 품질 결정 방법은,
상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하는 단계; 상기 선택신호에 따라 상기 각각의 샘플 값을 상기 레벨별로 분류한 후 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 단계; 및 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 과제를 이루기 위한 본 발명의 다른 측면에 의한 RF 신호 품질 결정 방법은,
상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 추정치를 구하는 단계; 및 상기 RF 신호의 추정치 및 상기 RF 신호를 이용하여, 상기 RF 신 호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 품질 결정 장치의 블록도를 나타내는 도면이다. 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 신호 품질 결정 장치는 신호 추정부(Signal estimator)(310), 채널 식별부(Channel Identifier)(330) 및 품질 연산부(Quality calculator)(350)를 포함한다.
신호 추정부(310)는 RF 신호를 소정 방식에 따라 이치화함으로써 얻은 이진 데이터를 입력받는다. 높은 신뢰도의 이진 데이터를 얻기 위해 도 6에 도시한 바와 같이 비터비 디코더(570)의 출력을 이용할 수 있다. 즉, RF 신호를 비터비 디코딩함으로써 얻은 이진 데이터를 다시 신호 추정부(310)의 입력으로 이용한다. 그러나 도 8에 도시한 바와 같이 slicer(77)의 출력을 신호 추정부(310)의 입력으로 이용하는 등 다양한 이치화 수단을 이용하여 신호 추정부(310)의 입력으로 이용하기 위한 이진 데이터를 얻을 수도 있다.
신호 추정부(310)는 입력 이진 데이터의 시간 간격 즉, RF 신호의 샘플링 주기에 상당하는 시간만큼 이진 데이터를 지연시키는 다수의 지연기(311 내지 315) 및 채널 식별부(330)를 제어하기 위한 선택신호를 발생시키는 선택신호 생성부(317)를 포함한다.
RF 신호의 샘플 값은 몇 가지 레벨로 분리된다. 채널 식별부(330)는 신호 추정부(310)로부터 출력된 선택 신호에 따라 RF 신호의 각 샘플 값을 대응하는 레벨 로 분류한다. 채널 식별부(330)는 레벨별로 분류된 RF 신호의 각 샘플 값의 평균값인 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m을 출력한다.
선택신호 생성부(317)는 다수의 지연기(311 내지 315)의 각각의 출력인 이진 값들을 입력받아 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하여 채널 식별부(330)로 제공한다. 즉, 신호 추정부(310)는 지연기(333)의 출력인 RF 신호의 샘플값이 속하는 레벨을 결정한 후 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 발생시킨다. 발생된 선택신호에 따라 스위치(339)는 다수의 평균치 필터(334 내지 338) 중 하나의 필터로 지연기(333)의 출력인 RF 신호의 샘플값을 출력한다.
각각의 평균치 필터(334 내지 338)는 레벨 별 RF 신호의 샘플 값들의 평균값인 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m을 각각 출력한다. 각각의 평균치 필터(334 내지 338)는 저역 통과 필터를 이용하여 구현될 수 있다.
아래 수학식 1은 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m을 구하기 위한 일 예를 나타낸다.
갱신된 레벨=이전 레벨+(지연된 입력 신호-이전레벨)/상수
상기 수학식 1의 상수 값을 크게 하면 할수록 갱신된 레벨은 적은 값이 변하기 때문에 전체적으로 느리게 추종을 하게 된다. 또한 이렇게 얻어진 레벨 값을 경우 비터비 디코더와 함께 사용해 선택된 레벨이 비터비 디코더에 사용될 경우 최적 조건으로 신호를 디코딩 할 수 있게 된다.
선택신호생성부(317)로부터 출력된 상기 선택신호에 따라 스위치(340)는 각각의 평균치 필터(334 내지 338)의 출력인 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m 중 하나의 출력을 품질 연산부(350)로 출력한다. Level Ouput 0 내지 Level Ouput m 은 잡음이 제거된 RF 신호의 레벨별 평균 값이라고 볼 수 있기 때문에 이상적인 신호의 추정치로 생각할 수 있다.
따라서 품질 연산부(350)는 RF 신호의 샘플 값들 및 상기 RF 신호의 샘플 값들의 추정 값, 즉 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m 중 하나의 값을 입력받아 RF 신호의 품질을 연산한다.
품질 연산부(350)에 의해 수행되는 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값의 연산은 다양한 방법에 의해 구현될 수 있다. 일 예로 다음 수학식 2에 나타낸 바와 같이 이상적인 신호와 잡음 간의 파워 비를 나타낸 SNR(Signal to Noise Ratio)로 신호 품질 값을 나타낼 수 있다.
SNR=Σ(이상적인 신호)2/Σ(잡음 신호)2
상기 수학식 2에서 이상적인 신호는 신호의 추정치, 즉 Level Ouput 0 내지 Level Ouput m을 나타낸다. 잡음 신호는 신호의 추정치와 실제 RF 신호의 샘플값의 차이에 대응한다.
한편, 수학식2에는 제곱 연산을 포함하고 있기 때문에 하드웨어 구현 시 하드웨어의 크기가 커지고 복잡해진다는 단점이 있다. 따라서 이상적인 신호 대신 신 호의 최대 진폭을 사용할 수도 있다. 최대 진폭 값은 거의 변하지 않는 값이기 때문에 매 샘플마다 연산할 필요가 없어 하드웨어 크기나 시간 면에서 부담이 적어지게 된다. 따라서 신호 품질 값으로 PSNR(Peak Signal to Noise Ratio)을 이용할 수 있다. 다음 수학식 3은 PSNR을 나타낸다.
PSNR=Σ(입력 신호의 최대 진폭)2/Σ(잡음 신호)2
여기서, 입력 신호는 RF 신호를 의미하고, 입력 신호의 최대 진폭을 구하기 위해 입력 신호의 최대 값과 최소 값이 추가로 품질 연산부(350)로 제공된다. 도 3에 도시된 실시예의 경우, level 0으로 지정된 값이 최소 값이고 level m으로 지정된 값이 최대 값이다.
또한, 이상적인 신호와 잡음 신호의 절대 값만을 사용해 신호 품질 값을 연산하는 ASNR(Absolute Signal to Noise Ratio) 및 PASNR(Peak Absolute Signal to Noise Ratio)를 신호 품질 값으로 이용할 수도 있다. 이 경우에는 곱하기 연산이 필요하지 않기 때문에 상대적으로 적은 하드웨어 양과 연산 시간이 단축된다는 장점이 있다.
아래 수학식4 및 수학식5는 각각 ASNR 및 PASNR을 나타낸다.
ASNR=Σ|이상적인 신호|/Σ|잡음 신호|
PASNR=Σ|입력 신호의 최대 진폭|/Σ|잡음 신호|
한편, SNR을 표현하는 일반적인 방법으로 log를 사용한 dB 단위를 많이 사용한다. 큰 수치가 나오는 경우에는 dB 단위로 환산해 사용함이 일반적이다. 따라서 상기 수학식2 내지 5를 dB 단위를 사용할 경우, 다음의 수학식 6 내지 9로 표현된다.
SNR=10log10(Σ(이상적인 신호)2/Σ(잡음 신호)2)
PSNR=10log10(Σ(입력 신호의 최대 진폭)2/Σ(잡음 신호)2)
ASNR=10log10(Σ|이상적인 신호|/Σ|잡음 신호|)
PASNR=10log10(Σ|입력 신호의 최대 진폭|/Σ|잡음 신호|)
한편 상기 수학식 3, 5, 7 및 9를 보면, 입력 신호의 최대 진폭을 먼저 얻을 것이 요구된다. 도 3에 도시한 실시예의 경우, 입력 신호의 최대 진폭 계산을 위해 level 0 및 level m이 추가로 품질 연산부(350)로 제공된다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 품질 결정 장치의 블록도이다. 도 4에 도시된 신호 품질 결정 장치는 최대/최소값 연산부(410), RF 신호와 신호 추정부(450)의 다수의 지연기(420 내지 440), 신호 추정부(450) 및 품질 연산부(460)를 포함한다.
신호 추정부(450)는 RF 신호를 소정 방식에 따라 이치화함으로써 얻은 이진 데이터를 입력받는다. 높은 신뢰도의 이진 데이터를 얻기 위해 도 6에 도시한 바와 같이 비터비 디코더(570)의 출력을 이용할 수 있다. 즉, RF 신호를 비터비 디코딩함으로써 얻은 이진 데이터를 다시 신호 추정부(310)의 입력으로 이용한다. 그러나 도 8에 도시한 바와 같이 slicer(77)의 출력을 신호 추정부(310)의 입력으로 이용하는 등 다양한 이치화 수단을 이용하여 신호 추정부(310)의 입력으로 이용하기 위한 이진 데이터를 얻을 수도 있다.
신호 추정부(450)는 이진 데이터를 이용하여 추정된 RF 신호를 품질 연산부(460)로 출력한다. 신호 추정부(450)는 FIR 필터를 이용하여 구현될 수 있다. RF 신호의 코드 유형 등을 고려한 소정 유형의 FIR 필터에 이진 데이터를 입력함으로써 몇 가지 레벨 값을 가지는 추정된 RF 신호를 얻을 수 있음은 널리 알려져 있다.
도 5는 FIR 필터의 일 실시예를 나타내는 도면이다. 도 5를 참조하면, FIR 필터는 입력된 이진 데이터를 시스템 클럭 단위로 지연시키는 다수의 지연기(451 내지 453), 다수의 곱셈기(454 내지 457) 및 다수의 곱셈기(454 내지 457)의 출력들을 더하는 가산기(458)를 포함한다. 다수의 곱셈기(454 내지 457)의 상수 a1 내지 an은 0을 포함한 실수의 범위를 가진다. 지연기 및 곱셈기의 개수, 다수의 곱셈기(454 내지 457)의 상수 a1 내지 an은 값은 RF 신호의 코드 유형 등을 고려하여 결정된다.
다시 도 4를 참조하면, 다수의 지연기(420 내지 440)는 신호 추정부(450)의 출력인 추정된 RF 신호와 실제 RF 신호와의 동기를 맞추는 기능을 수행한다.
품질 연산부(460)는 전술한 수학식2 내지 9 중 하나에 따라, 신호 추정부(450)의 출력인 추정된 RF 신호와, 상기 추정된 RF 신호와 동기가 맞추어진 실제 RF 신호를 이용하여 RF 신호의 품질 값을 연산한다.
한편 상기 수학식 3, 5, 7 및 9를 보면, 입력 신호의 최대 진폭을 먼저 얻을 것이 요구된다. 도 4에 도시된 실시예에 따른 신호 품질 결정 장치의 경우에는 최대/최소값 연산부(410)가 RF 신호의 최대값 및 최소 값을 구해 품질 연산부(460)로 제공한다. 물론, 상기 수학식 3, 5, 7 및 9 이외 방법에 따라 RF 신호의 품질 값을 연산하는 경우에는 최대/최소값 연산부(410)가 필요하지 않다.
도 6은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(590)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 일 실시 예를 나타내는 도면이다. 도 6에 도시된 이진 데이터 검출 장치는 아날로그/디지털 변환기(ADC)(510), DC 옵셋 제거부(DC offset canceller)(530), 적응형 FIR 필터(550), 비터비 디코더(viterbi decoder)(570) 및 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(590)를 포함한다.
ADC(510)는 RF 신호를 소정 주기로 샘플링하여 샘플링된 RF 신호를 출력한다. DC 옵셋 제거부(530)는 ADC(510)의 출력인 샘플링된 RF 신호를 입력받아 DC 옵셋 값을 제거한다. 일반적으로 비터비 디코더(570)는 채널의 특성이 일정하다는 가정 하에 설계되기 때문에 비터비 디코더(570)로 입력되는 신호의 채널 특성을 조정하기 위해서 적응형 FIR 필터(550)를 사용한다.
비터비 디코더(570)는 RF 신호의 레벨 값들을 이용하여 RF 신호의 통계적 특성을 고려하여 오류가 적은 이진 데이터를 얻는다.
도 6에 도시된 본 발명에 따른 신호 품질 결정 장치(590)는 도 3 또는 도 4에 도시된 바와 같은 장치이다. 그러나 재생 신호의 품질을 높이기 위해 비터비 디코더(570)에 최적의 레벨 값을 제공할 것이 요구되므로 도 3에 도시한 바와 같은 신호 품질 결정 장치를 사용함이 더 바람직하다.
도 7은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(690)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 다른 실시 예를 나타내는 도면이다. 도 7에 도시한 이진 데이터 검출 장치의 경우, 적응형 FIR 필터(650)의 출력 신호의 채널 특성이 고정되어 있다고 보기 때문에 신호품질 결정 장치(690)는 도 3에 도시된 신호품질 결정 장치보다는 도 4에 도시된 신호품질 결정 장치를 사용함이 바람직하다. 그러나 최적의 성능을 얻기 위해서는 도 3에 도시된 신호품질 결정 장치를 사용해서 최적의 레벨을 구한 다음 그 레벨을 비터비 디코더(670)에 입력함으로써 좀 더 나은 성능을 얻을 수 있다.
도 8은 본 발명에 따른 신호품질 결정 장치(790)를 구비한 이진 데이터 검출 장치의 블록도의 또 다른 실시 예를 나타내는 도면이다. 도 8에 도시한 이진 데이터 검출 장치는 최종적인 이진 데이터를 검출하기 위한 수단으로서 비터비 디코더가 아닌 다른 이치화 수단을 사용한다. 이치화 수단으로는 RF 신호의 부호를 판별하는 단순 slicer나 이진신호의 코드 조건을 고려하여 코드 조건에 맞지 않는 이진 신호는 제거하는 구조를 가진 run length corrector를 사용할 수 있다. 도 8에 도 시한 이진 데이터 검출 장치는 단순 slicer(770)를 채용하였다.
도 7에 도시한 이진 데이터 검출 장치의 경우, 보다 정확하게 RF 신호를 추정할 것이 요구되므로 도 3에 도시된 신호 품질 결정 장치를 사용하는 것이 바람직하다. 그러나 도 4에 도시된 신호 품질 결정 장치 역시 사용할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 고밀도 광 디스크로부터 재생된 RF 신호의 품질을 정확하게 결정할 수 있다. 나아가, RF 신호의 품질을 나타내는 품질 연산 값을 이용하여 포커스 보정, 틸트 보정, detrack 및 기록 신호 최적화 등을 수행할 수 있다. 포커스 보정은 마이컴을 이용해 포커싱 위치를 바꾸어 가며 얻은 신호의 품질을 측정한 다음에 최적의 품질을 나타내는 위치로 포커스를 맞춤으로서 수행된다. 틸트(tilt) 보정, 디트랙(detrack) 보정 및 기록 신호 최적화 역시 유사하게 수행될 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따라 RF 신호 및 그 추정 신호의 절대 값을 이용하여 RF 신호의 품질을 결정하는 방법을 이용하는 경우, 하드웨어의 크기를 소형화하고 연산 과정을 단순화할 수 있다.

Claims (24)

  1. RF 신호의 품질을 결정하는 장치에 있어서,
    상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하는 신호 추정부;
    상기 선택신호에 따라 상기 각각의 샘플 값을 상기 레벨별로 분류한 후 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 채널 식별부; 및
    상기 채널 식별부로부터 출력된 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 출력하는 품질 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 채널 식별부는 상기 레벨별 샘플 값들을 입력받아 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 복수의 평균치 필터들을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 평균치 필터는 저역통과필터인 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 SNR(Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 ASNR(Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 PASNR(Peak Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 이진 데이터는 상기 RF 신호를 비터비 디코딩하여 얻은 것을 특징으로 하는 장치.
  8. RF 신호의 품질을 결정하는 방법에 있어서,
    상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 각각의 샘플 값에 대응하는 레벨을 결정한 후 상기 결정된 레벨에 대응하는 선택신호를 생성하는 단계;
    상기 선택신호에 따라 상기 각각의 샘플 값을 상기 레벨별로 분류한 후 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 구하는 단계; 및
    상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 상 기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 SNR(Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 ASNR(Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 방법.
  11. 제8 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 각각의 샘플 값과, 상기 각 레벨별 샘플 값들의 평균값을 이용하여 연산된 PASNR(Peak Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 방법.
  12. 제8 항에 있어서,
    상기 이진 데이터는 상기 RF 신호를 비터비 디코딩하여 얻은 것을 특징으로 하는 방법.
  13. RF 신호의 품질을 결정하는 장치에 있어서,
    상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 수신하여 상기 RF 신호의 추정치를 구하는 신호 추정부;
    상기 RF 신호를 수신하여 상기 RF 신호의 최대 값과 최소 값을 연산하는 최대/최소값 연산부; 및
    상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 수신하여 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 품질 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 신호 추정부는 소정 유형의 FIR 필터인 것을 특징으로 하는 장치.
  15. 제13 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 이용하여 연산된 PSNR(Peak Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 장치.
  16. 삭제
  17. 제13 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 이용하여 연산된 PASNR(Peak Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 장치.
  18. 제13 항에 있어서,
    상기 이진 데이터는 상기 RF 신호를 비터비 디코딩하여 얻은 것을 특징으로 하는 장치.
  19. RF 신호의 품질을 결정하는 방법에 있어서,
    상기 RF 신호로부터 얻은 이진 데이터를 이용하여 상기 RF 신호의 추정치를 구하는 단계;
    상기 RF 신호의 최대 값 및 상기 RF 신호의 최소 값을 연산하는 단계; 및
    상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 이용하여, 상기 RF 신호의 품질을 나타내는 신호 품질 값을 연산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 RF 신호의 추정치를 구하는 단계는 소정 유형의 FIR 필터를 이용하여 상기 RF 신호의 추정치를 구하는 것을 특징으로 하는 방법.
  21. 제19 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 이용하여 연산된 PSNR(Peak Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 방법.
  22. 삭제
  23. 제19 항에 있어서,
    상기 신호 품질 값은 상기 RF 신호의 추정치, 상기 RF 신호의 최대 값, 상기 RF 신호의 최소 값, 및 상기 RF 신호를 이용하여 연산된 PASNR(Peak Absolute Signal to Noise Ratio)인 것을 특징으로 하는 방법.
  24. 제19 항에 있어서,
    상기 이진 데이터는 상기 RF 신호를 비터비 디코딩하여 얻은 것을 특징으로 하는 방법.
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